TW514652B - Polyorganosiloxazane and method of preparing the same - Google Patents

Polyorganosiloxazane and method of preparing the same Download PDF

Info

Publication number
TW514652B
TW514652B TW086119781A TW86119781A TW514652B TW 514652 B TW514652 B TW 514652B TW 086119781 A TW086119781 A TW 086119781A TW 86119781 A TW86119781 A TW 86119781A TW 514652 B TW514652 B TW 514652B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
group
carbon atoms
polyorganosiloxazane
water
ceramic
Prior art date
Application number
TW086119781A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuuji Tashiro
Osamu Funayama
Original Assignee
Tonen Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tonen Corp filed Critical Tonen Corp
Application granted granted Critical
Publication of TW514652B publication Critical patent/TW514652B/zh

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G77/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
    • C08G77/60Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule in which all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms
    • C08G77/62Nitrogen atoms
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/515Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics
    • C04B35/58Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on borides, nitrides, i.e. nitrides, oxynitrides, carbonitrides or oxycarbonitrides or silicides
    • C04B35/584Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on borides, nitrides, i.e. nitrides, oxynitrides, carbonitrides or oxycarbonitrides or silicides based on silicon nitride
    • C04B35/589Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on borides, nitrides, i.e. nitrides, oxynitrides, carbonitrides or oxycarbonitrides or silicides based on silicon nitride obtained from Si-containing polymer precursors or organosilicon monomers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G77/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
    • C08G77/48Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule in which at least two but not all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms
    • C08G77/54Nitrogen-containing linkages

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Silicon Polymers (AREA)

Description

經濟部中央標準局員工消費合作社印製 514652 A7 B7 五、發明説明(1 ) 本發明係有關於一種聚有機矽氧氮烷及其製造方法, 以及由該聚有機矽氧氮烷轉化而得之陶瓷材料。本發明之 此聚有機矽氧氮烷,耐熱性優異,且特別在一定之溫度下 焙燒可轉化成前述之陶瓷材料,比介電率非常低,與前述 之耐熱性相輔相成,在電子材料之領域中乃顯得特別有用 〇 迄今,為賦與金屬材料或無機材料、電子材料基板予 耐熱性、财#性、電學特性(絕緣性、低介電性)等所為之 被覆材料,係以聚有機矽氧烷樹脂(矽氧樹脂)為主流。 又,最近,針對半導體層間絕緣膜用之低介電材,有 一項研究正在進行中,即一種源自聚有機矽氧烷而經控制 其構造的薄膜。 過去,源自聚有機矽氧烷之陶瓷薄膜,固然有一些具 有2.7〜3.0之低比介電率者,但一旦焙燒處理溫度較高時 9比介電率即有偏高之傾向。例如,在側鏈具有甲基之聚 有機矽氧烷中,Si-Me基之熱裂解會在35(TC附近發生,若 溫度達到400°C以上之高溫,Si02化之進行則甚為顯著, 薄膜密度上昇,致介電率提高。又,由於Si02化之進行導 致薄膜之收縮而易發生龜裂之現象。 由於在半導體之製造程序中最高須承受450°C左右之 熱,因此迄今所用之矽氧烷系聚合物亦有耐熱性上的問題 存在。 近年來隨著1C之高積體化率與高速化,此等被覆材料 乃被要求具有更進一步的低介電率化,尤其是對半導體層 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
514652 A7 B7 五、發明説明(2 ) 間絕緣膜而言。 申請人所獲之專利特公平6-18885號(特許第1897366 號)中揭示有一種使用i化矽烷及氨而以錯體法製得之聚 矽氧氮烷,但實際上並未揭示所有有關在反復單位中具有 有機基之聚有機矽氧氮烷,且該聚矽氧氮烷是一種用來製 造氧氮化矽纖維之聚合物,對將之陶瓷化所形成之物的介 電率亦未加討論。 而,本發明之目的則在提供一種前驅體聚合物,藉該 前驅體聚合物,就是在高溫(例如400°C以上之溫度)下處 理時,亦可獲得比介電率甚低(例如2.7以下)之陶瓷材料 。本發明之另一目的則在提供一種前驅體聚合物,該前驅 體聚合物可控制如前述般之比介電率。 發明人等,為解決上述課題,乃經銳意研究,結果發 現,將具一定構造之聚有機矽氧氮烷置於特定條件下陶瓷 化時,可顯示低至2.7以下之比介電率。進而,發明人等 並發現,藉改變該聚有機矽氧氮烷中之結合組成可控制陶 瓷化後之比介電率。 依據本發明,提供了: 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) [1] 一種聚有機矽氧氮烷,其特徵在於含有-(RSiN3)-、-(RSiN20)-、-(RSiN02)-及-(RSi03)-〔式中,R為烷基、 烯基、環烷基、芳基、烷胺基或烷矽烷基〕之主要反復單 位,且數平均分子量為300〜100000。 又,依據本發明並提供了: [2] —種聚有機矽氧氮烷之製造方法,其特徵在於以 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(3 ) 通式RnSiX4_n〔式中,R為烷基、烯基、環烷基、芳基、 烷胺基或烷矽烷基,\為_素原子,而11為1或2〕所示有 機鹵化矽烷與氨及水反應。 進而,依據本發明並提供了·· [3]—種陶瓷材料,其特徵在於:將含有·(RSiK)-、 -(RSiNe)-、_(RSiN〇2)-及_(RSi〇3)_〔式中,r為烷基、烯 基、環烧基、芳基、烷胺基或烷矽烷基〕之主要反復單位 且數平均分子量為300〜1〇〇〇〇〇的聚有機矽氧氮烷陶瓷化 而件’且比介電率在2.7以下者。 依本發明所構成之聚有機矽氧氮烷,縱 然是在南溫( 4如400 c以上)下焙燒亦可獲得比介電率甚低(例如2·7以 下,有時可達到2.5〜2·2的程度)之陶瓷材料,因此適合使 用作為高積體電子裝置等之電子材料所用的被覆,尤其是 作為半導體層間絕緣膜之前驅體。 妹乂下僅為一種理論上之推縯,當不能拘束本發明實際 果即,依本發明所構成之聚有機石夕氧氮烧據理論分 斤^於主鏈中具有對熱甚為安定之Si-N結合,且侧鏈 有機基構成(尤其苯基時,含有對熱 _安定找册結合),目此縱然於40(TC以上之高溫熱處 六仍:維持聚合物之骨架結構,同時並能抑制陶竟之緻 人疋故配向分極小,因之在喊化後乃能展現甚低之 姓電率#外’若為聚石夕氧燒時,縱然是側鍵僅為仏 σ者聚合物之父聯將繼續進行,而在彻。c以上熱 夺將發生Si-Ο之裂解以及構造之緻密化,因此陶究 本紙張尺賴财 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) :裝·
、1T 514652 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(4 ) 化後之介電率將高達3.2的程度。 又,比介電率也會受到聚合物中電子分極的影響,尤 其是具有苯基等之雙鍵結合的基更容易發生電子分極,因 此會促使比介電率增加。但,依本發明所構成之聚矽氧氮 烷中,能引起此等電子分極之基並不在主鏈上,而是以側 基之形態存在,同時並由於含於主鏈中之N-Si_〇結合而使 此等電子分極性基近旁之電子狀態改變,因此此等基之電 子分極乃被抑制,而抑制了依本發明所構成之聚有機矽氧 氮烷的比介電率,使其不致增加。 如上所述’在本發明之聚有機矽氧氮烷中,si_N結合 在熱處理時抑制了陶瓷之緻密化,而促使配向分極下降, 且,N-Si-Ο結合並促進了對電子分極性基之電子分極的抑 制作用。因此,欲使個別具體材料之比介電率最適化時, 依此觀點’只要將依本發明所構成之聚有機矽氧氮烷的結 合加以設計即可。 〔圖式之簡單說明〕 第1圖為實施例1所得聚有機矽氧氮烷之傅立葉變換紅 外線(FT-IR)分光分析光譜; 第2圖為實施例1所得聚苯基矽氧氮烷之29siNMR分析 圖譜; 第3圖為聚有機矽氧氮烷中Si-〇結合量與將之焙燒所 得陶瓷材料之比介電率的關係圖; 第4圖為實施例3所得聚甲基矽氧氮烷之FT-IR分光分 析圖譜。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、\stj 丁 --. 本纸張尺/乂.適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X297公釐) 514652 A7 五、發明説明( 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 人等迄今所知實施本發明時之最佳形態。 所成之聚_夕氧氮貌係以通式H =機㈣院與氛及水反應而得者。 稀基,基、芳基,基魏錢基,X為 鹵素原子,其次η為1或2。 烷基,指碳原子數為卜7者,其中以卜 以1〜2者為佳,具體言之可舉例如下,即:甲基:乙基、 丙基T基、戊基、己基、庚基等,其中以甲基為佳。 一烯基’指碳原子數為卜7者,尤以2〜5者為佳,具體 :之可舉乙烯基 '烯丙基等為例,其中尤以乙烯基為佳。 環烧基,指碳原子數5〜7者,具體言之可舉環戊基、環己 基、環庚基為例。 芳基,指碳原子數6〜18者,尤以6〜9者為佳,具體 言之可舉例如下,#:苯基、甲苯基、二甲苯基、異^苯 基、苯甲基、苯乙基、聯苯基、萘基等,其中尤以苯基為 佳。 土 ” 烷胺基(一個或二個取代基)及烷矽烷基(一個、二個 或三個取代基)以碳原子數1〜5者為佳。 以X表示之鹵素可舉F、C卜Br及I為例,尤以C1為佳。 n為1或2,尤以N=1為佳。 而以RnSiX4_nK示之有機矽烷,其具體例可舉如下, 即·甲基三氯矽烷、三氯矽烷、乙烯基三氣矽烷、環己美 三氣矽烷、苯基三氯矽烷等,尤以甲基三氣矽烷、苯基= 氣矽烷及乙烯基三氯矽烷為佳。 本紙張尺度適用中國國家檩準(CNS )六4規格(2l〇X29?公釐)
(請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} :裝- 、11 — .?- n, ! i · A7 ~—__ B7 五、發明説明(6 ) — ~~ ^ 可用上述之有機鹵化石夕烧,必要時並將之置於反應溶 劑中,與氨及水反應。使用時,反應溶劑並無特別之限制 ,可使用路鹼、非反應性㈣或其等之混合物中任_ 種。 路易士鹼可舉例如下,即:第三胺(三甲胺、二甲基 乙基胺、二乙基甲基胺、三乙胺等之三烧基胺、口比咬、甲 料、二甲基苯胺及其等之衍生物)、具有立體障礙性之 第二胺類、膦、氫化銻、三氫化砷及其等之衍生物。較佳 之路易士鹼為沸點低且鹼性低於氨之鹼、三甲膦、三乙膦 ,尤以吡啶、甲吡啶最易處理。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 非反應性溶劑可舉例如下,即:脂肪族烴、芳香族烴 之烴系溶劑;_化甲烷、_化乙烷、齒化苯等之鹵化烴; 脂肪族醚、脂環式醚等之醚類。較佳非反應性溶劑之具體 例可舉如下’即:氯甲院、氯仿、四氣化碳、氯乙燒、氣 亞乙基、二氣乙烧、四氣乙烧等之齒化烴、乙轉、異丙喊 、乙基丙基醚、丁醚、1,2-二氧乙烷、二氧雜環、二甲基 二氧雜環、四氫呋喃等之醚類、戊烷、己烷、異己烷、甲 基己烧、庚烧、異庚烧、辛烧、異辛烧、環戊烧、甲基環 戊烧、環己烧、曱基環己烧、苯、甲苯、二甲苯、乙笨、 N-甲基-2_吡咯啶酮、雙(2-甲氧乙)醚等之烴。就安全性 之角度而言,以使用二氣甲烷、二甲苯為佳。 必要時,在上述溶存在下,使上述有機_化碎燒單體 RnSiX4-n與氨及水反應。氨有助於形成以…結合,而水有 助於形成Si-Ο結合。該單體和氨及水的反應順序係無特 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 9 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 514652 A7 ____ B7 五、發明説明(7 ) 一一— 限定。亦即’使該單體和氨反應後再於該反應混合物中加 入水’或使該單體和水反應後再於該反應混合物中加入氨 ’或使氨及水同時和該單體反應均可。 水係以單獨滴下而反應為宜,或預先溶解或分散於上 述溶劑再反應亦佳。而氨者,係令其擴散於氮氣等不活性 氣體中’再將其注入含有有機鹵化石夕燒之反應溶劑中,進 而反應之。 與氨和水之反應溫度通常在-80°C〜50°C之範圍,以 20°C〜i〇°c為佳。當該反應溫度低於-80。〇時,可以達到 溶劑之溶點而供使用之溶劑乃多所限制。且,_8(rc以下 之情形其經濟性不佳。又,當該反應溫度高於50°C時,反 應激烈進行,反應生成物產生膠化,進而收率降低。 反應壓力無特別限制,而以在常壓下反應為佳。 就反應時間而言’有機齒化發烧和水的反應通常為1 〇 〜60分鐘,並以30〜180分鐘為佳;而有機鹵化石夕烧和氨 的反應通常為10〜180分鐘,並以20〜120分鐘為佳。 氣和水的相對量係以由各個有機齒化石夕烧單體之莫耳 數計算得之必要莫耳數作為基準,為10m〇le%〜9()m()ie% ,並以20mole%〜80mole%為佳,又氨和水之莫耳數合計 為lOOmole%。於此,由有機鹵化矽烧單體之莫耳數計算 得之必要莫耳數(形成Si-Ο結合及Si-N結合所需要之水及 氨的莫耳數)係隨上述通式RnSiX4-nin值而改變^亦即,n 為1時,從1莫耳之有機鹵化矽烷單體(RSiX3)係形成3莫耳 之Si-Ο結合及Si-N結合;又η為2時,從1莫耳之有機函化 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ,裝_ 、11 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 514652 Μ Β7 五、發明説明(8 ) 矽烷單體(R2SiX2)係形成2莫耳之Si-0結合及Si-N結合。進 而,由1莫耳之氨形成3莫耳之Si-N結合,1莫耳之水形成2 莫耳之Si-Ο結合,因此,當水或氨其中一者之量決定時, 另一者之需要量即可決定。例如,使0.5莫耳水在11為1之 有機鹵化矽烷(RSiX3)l莫耳中反應時,係形成1莫耳Si-0 結合,因此為形成餘留之2莫耳Si-N結合,約需要0.67莫 耳氨。此時,用以構成製得之聚有機矽氧氮烷聚合物之主 鏈的Si原子之結合中之Si-Ο結合量[全Si-O結合數/全(Si-0結合數+ Si-N結合數)]約為33mole%。 當氨或水其中一者首先和有機鹵化矽烷反應時,係對 應於該有機鹵化矽烷單體之莫耳數,在上述範圍内,使用 需要量之氨或水,然後以化學量論的過剩量使用另一者, 並令其反應,藉此可獲得所期望之聚有機矽氧氮烷。通常 ,以下述方式較便利,即:對應於反應所需之有機齒化矽 烷單體之莫耳數,使上述範圍内之水量和有機_化矽烷單 體反應後,於反應系中導入過剩量之氨。 如以下所述,本發明之聚有機矽氧氮烷係以用以構成 該聚合物主鏈之Si原子之結合的Si-Ο結合量佔有一定比例 為佳。該比例可經由和有機鹵化矽烷反應之際,適當調節 會促進Si-Ο結合之形成的水量而方便地達成。本發明較佳 之實施態樣係於和有機鹵化矽烷反應之際將水量調節至使 用以構成所得之聚有機矽氧氮烷聚合物之主鏈之Si原子結 合中之Si-Ο結合量為佔有20〜80mole%且以30〜50mole% 為佳,的量。例如,當Si-0結合量為約33mole%時,如上 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) 11 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) •裝·
、1T 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 514652 Μ Β7 五、發明説明(9 ) 所述,相對於η為1之有機_化矽烷係使0.5莫耳的水量和 有機_化矽烷反應為佳。此時,可令上述化學量論之過剩 量的氨反應,進而形成聚合物主鏈之殘部的Si-N結合約 67mole% 〇 雖然沒有會對如此合成之聚合物的物性造成影響者, 但是經由有機_化石夕烧和水的反應,可能會生成鹽酸,同 時會引起一部分氫加成之副反應,而在聚合物中生成Si-H 基。然而,此種反應並非優先引起者,因此即使生成Si-H 基,其量亦在Si基準之lOmole%以下。 如此獲得之本發明聚有機矽氧氮烷係含有-(RSiN3)-、-(RSiN20)_、-(RSiN02)_及·(RSi03)-之主要反復單位的 線狀或環狀聚合物,形成該種線狀或環狀聚合物之 複合物。式中,R如該等反復單位-(RSiN3)-、-(RSiN20)-、-(RSiN02)-及-(RSi03)-在本發明之聚有機矽氧 氮烷中係以任意比例存在,又該等配列無需規則化,實際 上是不規則的。較佳實施態樣為聚有機矽氧氮烷之上述反 復單位分別以1〜99重量部、1〜50重量部、1〜50重量部 及1〜99重量部,較佳為1〜50重量部、10〜40重量部、5 〜45重量部及1〜50重量部的比例存在。 本發明聚有機矽氧氮烷之數平均分子量為300〜 100000,以400〜10000為佳。當該數平均分子量超過100000 時,在常溫下會發生交聯反應,因此容易產生聚合物之膠 化,操作變得困難。又,當該數平均分子量不及300時, 形成低沸點之二聚物,焙燒時會飛散,以致於陶磁材料之 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公釐) 12 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) :裝_
、1T 514652 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明 物性劣化。 本發明之聚有機矽氣氮烷,其中構成聚合物主鏈之Si 原子結合中之Si-ο結合量係占20〜80rn〇le〇/〇,且以占30〜 50mok%尤佳。於此,作為構成聚合物主鏈之以原子結合 ,係於聚有機矽氧氮烷為線狀時,加入有構成該骨架之Si 原子結合,又於聚有機>5夕氧氮烧為環狀或含有環狀部時, 加入有構成該環狀或構成線狀部及環狀部的以原子結合。 本發明之聚有機矽氧氮烷,其上述Si-ο結合量為上述範圍 時,如以下所述,培燒該聚有機矽氧氮烷所得之陶磁材料 的比介電率係特別低。 將本發明之聚有機矽氧氮烷在大氣中或水蒸氣環境中 或氮等不活性氣體中,在100〜700°C(以300〜500°C為佳 ’ 350〜450°C尤佳)之溫度下焙燒,可製得耐熱性優異之 低比介電率的陶磁材料。除了焙燒之外,亦宜採用紅外線 照射、紫外線照射等陶磁化法。 通常,在700°C以下焙燒所得之陶磁,由於聚有機矽 氧氮燒無關於焙燒環境、實值上不會氧化,因此焙燒前含 於聚有機矽氧氮烷之Si_〇結合量的比率,於陶磁化後仍能 實質地保持著。然而,在大氣中或水蒸氣環境中焙燒時, 由於培燒溫度愈高,聚有機矽氧氮烷愈易氧化,si_N結合 之一部分愈易轉化成Si-Ο結合,因此製得陶磁中之Si-〇結 合量乃比含於焙燒前之聚有機矽氧氮烷之Si-ο結合量的比 率為多。自不用說,在氮等不活性氣體中,如此之si-0結 合量的比率不會有變化。 本紙張尺度適用中國ϋ家檩準(CNS) M規格(21GX 297公髮) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ;裝·
、1T 13 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 514652 A7 B7 五、發明説明(11 ) 當焙燒溫度低於100°C時,聚有機矽氧氮烷不能充分 陶磁化,相反地,高於700°c時,陶磁化加劇,形成緻密 材質,介電率上昇。又,殘留應力程度變高,龜裂容易發 生。 焙燒時間無特別限制,通常進行0.5〜2.0小時(0.5〜1.0 小時較佳)的焙燒。又,焙燒空氣在常壓下及加壓下均可 〇 焙燒聚有機矽氧氮烷時所使用的焙燒裝置,只要是可 控制上述製造條件之任何裝置均可使用。例如,使用電爐 、管狀爐等是很方便的。 此外,於提供如上述之低介電率陶磁材料作為塗料時 ,係以使用摻配本發明聚有機矽氧氮烷及溶劑所成之塗布 組成物為方便。 作為塗布組成物之溶劑,於芳香族化合物可舉例如: 苯、甲苯、二甲苯、乙苯、二乙苯、三甲苯及三乙苯、環 己烯、十氫萘、二聚戊烯,飽和碳化氫化合物可舉例如: η·戊烧、i·戊烧、η-正己烧、i·正己烧、n_庚烧、i-庚烧、 η-正辛烧、i-正辛烧、η-壬烧、i-壬烧、η·庚烧及i-庚烧、 乙環己烷、甲環己烷、P-薄荷烷,醚類可舉例如:(二)丙 醚、二丁醚及二戊醚,以及酮類可舉例如:甲基異丁基酮 。特別是以二甲苯、二丁醚等作為溶劑為佳。又為了調節 溶劑之蒸發性,可混合使用二種以上的溶劑。 溶劑之使用量,即使其後之塗布方法不同,通常相對 於聚有機矽氧氮烷/重量部為1·〇〜10000重量部,尤以1.0 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) · 14 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝_ 訂
經濟部中央標準局員工消費合作社印製 〜10重量部為佳。 本發明之塗布組成物可塗布在金屬材料、無機材料等 般任意的基板上。又亦可塗布在可經得住適用之焙燒溫 度=塑膠基板上。如上所述,將本發明之塗布組 製得之陶磁材料,即使在高溫處理情況下亦具有可維持低 比介電率(例如2.7以下)之特徵,特別是由於可作為高積體 化、高速化之下-代半導體用層間絕緣膜,所以特別被考 慮拿來塗布於電子材料基板上。 塗布手段可採用一般塗布方法,即浸潰、滾壓塗布、 棒材塗布、刷子塗布、喷霧塗布、流塗、旋轉塗布等方法 〇 塗布後跟據需要乾燥塗膜、除去溶劑,然後如以上所 述進行焙燒。 以下,以實施例具體說明本案發明。 實施例1 使設於·5°(:之恒溫槽内的1L反應容器内以乾燥氮氣置 換後,投入乾燥吡啶400m卜在溫度維持至一定後,一邊 攪拌一邊徐徐加入苯基三氣矽烷(PhSiCl3)105.75號 (〇.5mole)。 接著,確定溫度為一定後,以約30分鐘慢慢地澆淋添 加含有蒸餾水4.5g(0.25m〇le)之含水°比唆400ml。此時會看 出溫度上昇。 反應終了達到預定溫度(_5°C)後,於反應混合物中吹 入氨氣。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 15 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) :裝· 訂 514652 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(u 反應終了後約攪拌1小時,然後在氮氣環境下加壓過 濾、’得據液750m卜於該濾液中加入約1〇〇〇mwm_二甲苯 ,並在減壓下除去溶劑,可得63g的固體聚合物。 該聚合物之數平均分子量以膠濾層析術(G p c)测定為 900。又,重量平均分子量為2600。 該聚合物以傅立葉變換紅外線分光分析(FT_IR)法測 定時’可確認得:在波數(011^)3366地方有NH的吸收,在 3000附近有由苯環所引起的C-H的吸收,在1020附近有si-O-Si的吸收,在950附近有Si-N-Si的吸收,在14〇〇附近有 si-ph的吸收。又,被認為由於和鹽酸之副反應所生成的μη 基’根據該 si-H 的吸收雖然只有 一點點 ,但是仍可在2200 附近見得。該FT_IR圖譜表示於第1圖中。 進而,由29SiNMR的分析,可觀測得以TMS(四甲石夕 烧)為基準,在-Mppm附近有PhSiN3信號、在>5〇ppm有 PhSiN2〇信號、在-55 〜-65ppm有 PhSiN02信?ί、在-70 〜-80ppm有PhSi03。該NMR圖譜表示在第2圖。 由FT-IR及29SiNMR之分析結果可分定義出該聚合物 係於主鏈具有( PhSiN3)-、( PhSiN20)·、_( PhSiN02)_、-( PhSi03)-之苯基矽氧氮烷聚合物。 又,由於使〇.25mole水在〇.5mole苯基三氯矽烧中反 應,所以製得之苯基矽氧氮烷聚合物之Si-Ο結合量約為 34mole〇/〇 〇 其次,在大氣中進行該聚合物之熱重量分析(TGA)的 結果,減少5%重量的溫度為600°C,此顯示該聚合物之高 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X 297公釐) 16 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) :裝· 、\-口 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 514652 A7 B7 五、發明説明(14 ) 耐熱性。 調製所製得聚苯基矽氧氮烷之20重量%的二甲苯溶液 ,將該溶液以旋轉塗敷方式塗布於一蒸著有鋁(A1)之玻璃 基板的A1上,藉以製成膜。將此聚苯基矽氧氮烷膜在各種 條件下(變化大氣中之水分量及焙燒溫度)焙燒,而陶磁化 〇 將A1蒸著於所製得之陶磁膜上,進而製成電容器。測 定此電容器之容量的結果,由以下表1可清楚顯示出2.5〜 2.7的低值比介電率。 表1 :焙燒條件以及所製得之膜的比介電率 焙燒溫度(°C)乾燥空氣中 0.1KPaH2O 2 KPaH20 400 2.5 2.6 2.6 450 2.7 一 一 實施例2 除將水之添加量增加至6.75g(0.375mole)以外,係與 實施例1完全相同地合成聚苯基矽氧氮烷。 製得之聚合物的數平均分子量為1500,重量平均分子 量為5000。FT-IR測定之結果,在1070cm-1附近由於Si-O-Si所引起的吸收變大。又29SiNMR分析之結果,在-70〜-80ppm附近的-PhSi03-信號亦相對地增加。 製得之苯基矽氧氮烷聚合物的Si-Ο結合量,由於令 0.375mole水在0.5mole苯基三氣石夕烧中反應,係約為 50mole % 〇 該聚合物在大氣中之TGA測定結果為,減少5%重量 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 17 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) :裝- 514652 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(15) 之溫度為580°C,此顯示出優異的耐熱性。 又當以和實施例1同樣的方法測定介電率時,在40(rc 、1小時之條件下焙燒成之陶磁膜的比介電率為2.5。 营施例3 使設在-l〇°C之恒溫槽内的1L反應器内以乾燥氮氣置 換後,投入乾燥二甲苯400m卜在溫度維持至一定後, 一邊攪拌一邊加入甲基三氯矽烷(MeSiCl3)74.75g(0.5mole) 〇 接著,將預定量(4.25g,0.25mole)的氨一邊徐徐吹入 同時一邊授拌。反應終了後,在氮氣環境下加壓過滤,得 到濾、液740ml 使該滤液在減壓下除去溶劑後可得3〇,〇g的 無色高黏性液體。該高黏性液體之數平均分子量為710, 重量平均分子量為2250。 當以FT-IR測定該聚合物時,可確認得:根據NH基在 波數〇111“)3390及1178的吸收;根據Si-N-Si在1020〜820 的吸收;根據Si-0-Si在1040附近的吸數;根據C-H基在2956 、2898的吸收;根據Si-Me在1260附近的吸收。 進而,從29SiNMR的分析,和實施例1同樣地,可觀 測得根據-(MeSiN3)·、-(MeSiN20)-、-(MeSiN02)-以及-( MeSi03)-的信號,依此可定義出該聚合物係甲基矽氧氮烷 聚合物。 又,製得之甲基矽氧氮烷聚合物之Si-Ο結合量,由於 令0.25mole水及0.25mole氨於0.5mole甲基三氣石夕烧中反應 ,係約為34mole%。 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) 18 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、-ιτ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 514652 A7 B7 五、發明説明(16 ) 製得之聚合物在大氣中之TGA測定的結果,減少5% 重量之溫度為450°C。又以和實施例1同樣的方法測定介電 率時,在400°C、1小時之條件下焙燒成之陶磁膜之比介電 率為2.2。 實施例4 除了改變與苯基三氯矽烷反應的水量外,係重複進行 實施例1的步驟。用以構成製得之聚苯基矽氧氮烷之聚合 主鏈的Si原子結合中之Si-Ο結合量(mole%)係作為對苯基 三氯石夕烧lOOmole%反應之水量(mole%)。其次,與實施例 1同樣地,但在大氣中、400°C、1小時之條件下,將聚苯 基矽氧氮烷焙燒,藉以進行陶磁化。以和實施例1同樣地 測定製得之陶磁膜的介電率,將此相對於Si-Ο結合量 (mole%)繪圖,表示於第3圖之圖式中。 根據第3圖,藉著改變聚苯基矽氧氮烷之結合組成 (Si-Ο結合量),可控制焙燒後之陶磁材料的比介電率。 實施例4係顯示,就聚苯基矽氧氮烷之Si-Ο結合量為 35mole%左右時焙燒後之陶磁材料的比介電率為最低值。 產業上之利用可能性 本發明之聚有機矽氧氮烷,由於即使在高溫下處理亦 可得到顯示低介電率之陶磁材料,因此適用於作為電子材 料用之被覆,尤其是作為半導體層間絕緣膜之前驅體。又 ,藉著改變本發明聚有機矽氧氮烷之結合組成,可控制陶 磁化後之比介電率,因此可容易獲得所期望之比介電率。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 19 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) --1---r · :裝·

Claims (1)

  1. 514652
    第86119781號專利申請案申請專利範圍修正本91年8月2曰 1 ·種使用於陶瓷材料之聚有機石夕氧氮燒,其特徵在 於·含有-(RSiN3)-、-(RSiNW)-、_(RSiN〇士及 -(RSi03)-〔式中,尺為具有碳原子數1〜7之燒基、具 有石反原子數2〜7之稀基、具有碳原子數5〜7之環烧基 、具有碳原子數6〜18之芳基、具有碳原子數卜5之烷 胺基或具有碳原子數1〜5之烷矽烷基〕之主要反復單 位,且數平均分子量為4〇〇〜1〇〇〇(),且構成聚合物 主鏈之矽原子結合中,Si-Ο結合量佔20〜80莫耳% 者。 2·如申請專利範圍第1項之聚有機矽氧氮烷,其中R為 苯基或甲基。 3· —種使甩於陶瓷材料之聚有機矽氧氮烷的製造方法 ,其特徵在於:以通式RnSiX4 n [式中,R為具有碳原 子數1〜7之烧基、具有碳原子數2〜7之烯基、具有碳 原子數5〜7之環烷基、具有碳原子數6〜18之芳基、具 有石反原子數1〜5之烷胺基或具有碳原子數1〜5之烷矽 烷基,X為鹵素原子,而η為1或2]所示之有機鹵化矽 烧與氨及水起反應時,前述水的量係取可使構成所 知水有機矽氧氮烷之主鏈的矽原子結合中,Si-Ο結 合量佔20〜80莫耳%的量。. 4·如申請專利範圍第3項之製造方法,其中r為苯基或 甲基。 5·種陶竟材料’其特徵在於:將含有-(RSiN3)_、 本紙張尺細中國國家標準^ 514652
    穴、申請專利範圍 -(RSiN20)-、_(RSiN02)-及-(RSi〇3)-〔式中,r 為具 有碳原子數1〜7之烷基、具有碳原子數2〜7之烯基、 具有碳原子數5〜7之環烷基、具有碳原子數6〜18之芳 基、具有碳原子數1〜5之院胺基或具有碳原子數丨〜5 之烷矽烷基〕之主要反復單位且數平均分子量為 4〇〇〜loooo的聚有機矽氧氮烷,以1〇〇〜7〇〇它之溫 度焙燒陶瓷化而得,且比介電率在27以下者。 6.如申請專利範圍第5項之陶储料,其中r為苯基或 甲基。 21
TW086119781A 1996-12-27 1997-12-26 Polyorganosiloxazane and method of preparing the same TW514652B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35106496 1996-12-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW514652B true TW514652B (en) 2002-12-21

Family

ID=18414803

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW086119781A TW514652B (en) 1996-12-27 1997-12-26 Polyorganosiloxazane and method of preparing the same

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6011167A (zh)
EP (1) EP0890599B1 (zh)
JP (1) JP4011120B2 (zh)
KR (1) KR100285890B1 (zh)
DE (1) DE69715178T2 (zh)
TW (1) TW514652B (zh)
WO (1) WO1998029475A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI723234B (zh) * 2016-11-24 2021-04-01 盧森堡商Az電子材料盧森堡有限公司 矽氧氮烷化合物、及含其之組成物、以及使用其之二氧化矽質膜之形成方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6365266B1 (en) * 1999-12-07 2002-04-02 Air Products And Chemicals, Inc. Mesoporous films having reduced dielectric constants
US6592980B1 (en) * 1999-12-07 2003-07-15 Air Products And Chemicals, Inc. Mesoporous films having reduced dielectric constants
DE10158925A1 (de) 2001-11-23 2003-06-26 Fraunhofer Ges Forschung Oxidkeramische Faserverbundwerkstoffe und ihre Verwendung
JP4159937B2 (ja) * 2003-07-18 2008-10-01 Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 ポリシラザン組成物
DE102004027857A1 (de) * 2004-06-08 2006-01-05 Siemens Ag Verfahren zum Herstellen eines keramischen Werkstoffs, keramischer Werkstoff und Keramikkörper mit dem keramischen Werkstoff
KR101288574B1 (ko) * 2009-12-02 2013-07-22 제일모직주식회사 갭필용 충전제 및 상기 충전제를 사용한 반도체 캐패시터의 제조 방법
US8389870B2 (en) * 2010-03-09 2013-03-05 International Business Machines Corporation Coreless multi-layer circuit substrate with minimized pad capacitance
KR101387740B1 (ko) 2011-01-07 2014-04-21 제일모직주식회사 실리카계 절연층 형성용 조성물, 실리카계 절연층 형성용 조성물의 제조방법, 실리카계 절연층 및 실리카계 절연층의 제조방법
KR101432606B1 (ko) 2011-07-15 2014-08-21 제일모직주식회사 갭필용 충전제, 이의 제조 방법 및 이를 사용한 반도체 캐패시터의 제조 방법
KR101825546B1 (ko) 2014-05-26 2018-02-05 제일모직 주식회사 실리카계 막 형성용 조성물, 및 실리카계 막의 제조방법
US10927220B2 (en) * 2016-02-15 2021-02-23 Az Electronic Materials (Luxembourg) S.A.R.L. Silazane-siloxane random copolymers, their production and use

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0618885B2 (ja) * 1986-02-12 1994-03-16 東燃株式会社 ポリシロキサザンおよびその製法
FR2653131A1 (fr) * 1989-10-17 1991-04-19 Rhone Poulenc Chimie Procede de preparation de polyorganosilazane de masse moleculaire elevee.
JPH0618885A (ja) * 1992-04-13 1994-01-28 Toshiba Corp 液晶表示素子
JP3444628B2 (ja) * 1993-06-30 2003-09-08 東燃ゼネラル石油株式会社 共重合オルガノヒドロシロキサザン及びその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI723234B (zh) * 2016-11-24 2021-04-01 盧森堡商Az電子材料盧森堡有限公司 矽氧氮烷化合物、及含其之組成物、以及使用其之二氧化矽質膜之形成方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0890599A1 (en) 1999-01-13
WO1998029475A1 (fr) 1998-07-09
KR100285890B1 (ko) 2001-04-16
DE69715178D1 (de) 2002-10-10
KR19990087278A (ko) 1999-12-15
JP4011120B2 (ja) 2007-11-21
EP0890599B1 (en) 2002-09-04
US6011167A (en) 2000-01-04
EP0890599A4 (en) 2000-07-26
DE69715178T2 (de) 2003-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2813467B1 (en) Method for preparing inorganic polysilazane resin
Belot et al. Thermal redistribution reactions in crosslinked polysiloxanes
EP3135711B1 (en) Copolymerized polysilazane, manufacturing method therefor, composition comprising same, and method for forming siliceous film using same
US8658284B2 (en) Polysilane—polysilazane copolymers and methods for their preparation and use
CN100383147C (zh) 多官能环状硅氧烷化合物和由该化合物制备的硅氧烷基聚合物和用该聚合物制备介电薄膜的方法
TW514652B (en) Polyorganosiloxazane and method of preparing the same
TWI389208B (zh) 塗料組成物、使用其之二氧化矽質膜的製法、二氧化矽質膜及附有二氧化矽質膜的基板
US5436084A (en) Electronic coatings using filled borosilazanes
Weinmann et al. Boron‐modified polysilylcarbodi‐imides as precursors for Si–B–C–N ceramics: Synthesis, plastic‐forming and high‐temperature behavior
KR101757686B1 (ko) 절연막 형성용 도포액, 그것을 사용한 절연막 및 거기에 사용하는 화합물의 제조 방법
JP3904691B2 (ja) ポリシラザン含有組成物及びシリカ質膜の形成方法
KR100854254B1 (ko) 규소 함유 공중합체, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 필름
JP2014508709A (ja) ポリシランシロキサンコポリマー、及び二酸化ケイ素に変換する方法
JPH09157528A (ja) ポリシラザン組成物、ポリシラザン溶液の調製方法、該組成物を用いたコーティング用組成物及び該コーティング用組成物を用いて得られるセラミックス被膜付プラスチック
WO2015098738A1 (ja) ポリアルコキシシラザン及びその製造方法、並びに、コーティング組成物及びそれから得られるケイ素系セラミック被膜
Kim et al. An anhydrous sol–gel system derived from methyldichlorosilane
JP3638694B2 (ja) ケイ素含有共重合ポリマー及びその製造方法
Gao et al. Crosslinked organosiloxane hybrid materials prepared by condensation of silanol and modified silica: synthesis and characterization
JP4046809B2 (ja) 前駆体ポリマー組成物及び低誘電率絶縁材料
JP3477490B2 (ja) ポリボロシラザンの製造方法
JPH10182835A (ja) フェニルシリル基架橋ポリシラザン及びその製造方法
EP3545019A1 (en) Siloxazane compound and composition comprising the same, and method for producing silceous film using the same

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MK4A Expiration of patent term of an invention patent