508537 A7 _B7__五、發明説明(1 ) (技術領域) 本發明係關於一種I c卡之製造技術’特別是關於一 種適用於包含對應於I C卡之多樣化的高可靠性及通用性 之測試過程的I C卡之製造方法上有效之技術。 if: 部 十 it :;V Mj Π J >/ί (以往技術 ’ 例如, 廣受社會普 條之卡相同 用適合於高 體被期待今 管理下,經 行與外部裝 安全,以一 由於此 物前之測試 有例如記載 卡外部端子 獻的技術等 卡之資料寫 I C卡,對 器,俾可實 之回應來實 I C卡係作 作爲本發明人所檢討之技 遍之信用卡或銀行用現金 的狀之卡中,內設c P U 資訊化社會之最前端技術 後之發展。該1C卡係在 接觸型之接.觸端子或非接 置之資訊交換。又,內設 定順序控制成僅在實行處 種I C卡係兼具各種各樣 成爲很重要。例如,關於 於 I S 〇 / I E C 7 8 之I C卡,第3部··電氣 。由該文獻可想出者,例 入測試中,首先,測試器 此發送,介經I C卡係將 行寫入測試。如上所述, 行I C卡之各種測試後, 爲成品被裝出。 術,I C卡係 卡等所代表之 或記憶體者, 的攜帶用資訊 C P U之控制 觸型之天線線 之記憶體係爲 理時才存取者 之功能,因此 1 C卡之測試 6 — 3 ,具 信號及傳送協 如依測試器對 將寫入命令發 寫入終了回應 介經對於命令 除去不良品之 與現在 具有磁 作爲活 記憶媒 程式之 圈可實 了對於 〇 裝出貨 方法, 有I D 定之文 於I C 送至 於測試 之發送 良品的 讀先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) f. 氺纸张尺度述州中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X297公麓) 4- i' 508537 A7 B7 五、發明説明(2 部 十 :个 1\ >7; f A fl 然而,對 檢討之結果, (i)i 在銀行用卡等 I C卡內之記 領域之資訊等 、(2)1 使用測試器來 入器實行對於 之常用性逐漸 ' 本發明之 領域內之資訊 卡之可靠性之 又,本發 寫入器等之常 常用性的測試 本發明之 說明書之說明 (發明之揭示 在本案所 亦即,依 I C卡之多樣 晶圓或晶片之 於如上述之I C卡的測試方法,經本發明人 以下事項成爲明瞭。 C卡之應用領域變廣,隨著該多樣化,對於 特定領域所使用之I C卡,逐漸被要求之 億體之記憶領域的可靠性,以及記憶在記憶 之高可靠性。 C卡之應用領域變廣,隨著該多樣化,對於 實行I C卡之測試時,或是使用讀取器,寫 I C卡之寫入,讀取時等也可對應,I C卡 被要求。 目的,係著重於記憶體之記憶領域或該記憶 之可靠性,特別是提供一種包括可提高I C 測試過程的I C卡之製法。 明之其他目的係著重對於測試器或讀取器, 用性,特別是提供一種包括可提高I C卡之 過程的I C卡之製造方法者。 上述以及其他目的與新穎之特徵,係由本案 及所附圖式將可明瞭。 揭示之發明中,簡述代表性者之槪要如下。 本發明的I C卡之製造方法,包括對應於 化之測試過程者,具有在被切斷成一半導體 狀態下實行該晶片之電氣性特性試驗之晶片 本紙认尺度述/丨]中國國家標準((、奶)八4規格(210>< 297公麓) -5- 丨:: 蜷—丨 銘先閱讀背而之注意事項再禎寫本頁) 訂 蜱· 508537 A7 ____ B7___ 五、發明説明(3 ) 測試過程,及在編入該測試之晶片的I C卡之狀態下實行 I C卡之電氣性特性試驗的I C卡測試過程者。 又,依本發明之其他的I C卡之製造方法,在實行 I C卡之電氣性特性測試的I C卡測試過程中,具有依照 來自外部之測試資料實行I C卡之內部電路之動作測試的 過程,及實行I C卡之內部記憶體之檢證測試的過程者。 ^ 特別是,實行I C卡之內部電路的動作測試的過程, 係在I C卡之內部實行E E P R〇μ等之內部記憶體的寫 入資料與讀出資料之比較,僅將該比較結果之一致/不一 致輸出至外部,或是,比較結果不一致時,能再試資料寫 入者。 因此,依照上述I C卡之製造方法,介經適用編入依 晶片測試過程與I C卡測試過程之經測試之晶片的I C卡 之測試方法,可提高I C卡之可靠性。此乃作爲記憶體之 I C單體在I c廠商已實行測試,而也有不實行I C卡之 測試的選擇,惟鑑於I C卡之可靠性,對於I C卡仍採用 實施測試之方法者。又,依測試器之測試之同時實行I C 卡內之檢驗測試,用以採用I C卡之雙重測試方法。 又,由於僅將I C卡內部之比較結果輸出至外部,可 對應於安全,同時可提高I C卡之常用性。此乃記憶體內 之寫入資料之比較功能並不是I C卡之必需條件,惟具有 對於I C卡之測試器或讀取器,寫入器等之各種I C卡的 常用性上有效而考量者。 在本案所揭示之發明中,將藉由代表性者所得到之效 (部先閱讀背而之注意事項再填离本頁)
氺紙ίΑ尺度述州中ϋ國家標丰(CNS ) Λ4规格(210 X297公釐) ^ 508537 A7 B7 Μ 部 屮 •λ .Η _τ >Vi f: 合 印 .V: 五、發明说明(4 ) 果簡單地說明係如下。 (1 )在I C卡之製造 片之電氣性特性測試之晶片 氣性特性測試之I c卡測試 I C卡之測試方法,成爲可 (2 )在I C卡之測試 自外部之測試資料來實行I 過程,及實行I C卡之內部 I C卡的雙重測試方法,成 卡之內部記憶體的可靠性。 (3 )在實行I c卡之 中,介經實行在I C卡之內 讀取資料之比較,並僅將該 外部,成爲可提高對於安全 用性。 (4 )介經上述(1 ) 晶圓處理過程至晶片編入I 法中,成爲可實現包括對應 及常用性之測試過程的I C 本發明之上述以及其他 專利說明書之記述及所附圖 方法中,介經適用包括實行晶 測試過程,及實行I C卡之電 過程的編入經測試之晶片的 提高I C卡之可靠性。
過程中,介經採用包括依據來 C卡之內部電路之動作測試之 記憶體之檢證記憶體之過程之 爲可提高1C卡,特別是1C 內部電路之動作記憶體的過程 部的內部記憶體之寫入資料與 比較結果一致/不一致輸出至 之對應,同時提高1C卡之常 至(3 ),在從半導體晶圓之 C卡之過程的IC卡之製造方 於I C卡之多樣化之高可靠性 卡之製造技術。 目的及新穎之特徵,係由本案 式將更明瞭。 (實施發明所用的最佳形態) 以下,依照上述第1圖至第1 7圖之圖式詳述本發明 讀先閱讀背而之注意事項再填寫本頁) __ 本紙张尺度適州中阀國家標準(CNS ) Λ4規格(210X 297公釐) 508537 A7 __ _B7________ 五、發明説明(5 ) 之形態。又,用以說明實施形態之全圖中,在相同構件附 與相同記號,省略其重複說明。 首先,由第1圖說明本實施形態之I c卡之槪略構造 之一例子。第1 ( a )圖係表示與外部裝置沒有物理性接 觸而可實行資訊交換的非接觸型I C卡;第1 ( b )圖係 表示與外部裝置物理性接觸而實行資訊交換的接觸型I C 卡。非接觸型IC卡係在塑膠卡1裝進LSI晶片2與電 氣式地連接於晶片的天線線圈3。另一方面,接觸型I C 卡係在塑膠卡1裝進L S I晶片2與電氣式地連接的接觸 端子4。該I C卡之形態係形成例如縱約5 4 m m,橫約 85mm,厚度約0·25〜0·8mm之尺寸。 部 屮 $ 十) j >/] A ii (銷先閱讀背而之注意事項再填寫本頁) 該I C卡之內部構成之一例係如第2圖所示。在晶片 2之內部具備:用以操作整體晶片2之控制的C P U 1 1 ,及用以記憶程式與資料等之讀取專用之R〇Μ 1 2,可 寫入,讀取之R Α Μ 1 3,與可電氣式地淸除,重寫的 EEPROM14,及用以實行運算處理的運算單元15 ,及用以操作與外部之輸入輸出的介面電路1 6,成爲可 互相地實行資料傳送。該晶片2與外部裝置之資料傳送, 係在依C P U 1 1之控制程式之管理下,經晶片2之內部 的介面電路1 6,非接觸式地係介經來自經由調變解調電 路1 7之天線線圈3之電波實行,另一方面,接觸時係介 經接觸端子4之接觸電氣式地實行。又,R 〇 Μ 1 2, RAM13,及EEPROM14等之內部記憶體,係爲 了資料之保護,控制成僅實行一定順序實行處理時才作存 本紙张尺度適州中围國家標率(CNS ) Λ4規格(210X297公t ) .g- 508537 A7 Β7 五 -λ >/ί f Λ 、發明説明(6 ) 取。 特別是,在本實施形態之I C卡中,如後述,採用依 晶片測試過程及I C卡測試過程之裝入經測試之晶片2的 1 C卡之測試方法,以及依測試器的內設I C卡之記憶體 t '測試的同時實行上述記憶體內之檢驗測試的I C卡的雙 重測試方法。在該晶片2,I C卡之測試內容,有D C測 試及各種邊際測試。與功能動作測試(A C功能測試)。 作爲D C測試及各種邊際測試,有對電源電壓變動邊際測 試’定時變動邊際測試,輸入信號電壓位準邊際測試,輸 出電壓位準測試,各端子之開斷,短路,電源電流及漏電 測定等。作爲功能動作測試,有C P U動作測試,R A Μ 及R〇Μ資料重寫/讀取功能測試,E E P R〇Μ資料寫 入/讀取功能測試,浮控運算單元功能測試等。 以下,介經第3圖,說明本實施形態的I C卡之製法 的處理流程之一例子。第3圖係主要表示接觸型I C卡之 製造處理流程,惟對於非接觸I C卡也除了下述之C〇B 裝配過程不同之外,其他大約相同。 1·晶片處理過程(步驟100) 此晶片處理過程係對於半導體晶圓,重複薄膜形成, 氧化,摻雜,退火,光阻劑處理,曝光,蝕刻,洗淨, C Μ P等之處理,在半導體晶圓形成複數格子狀積體電路 。該積體電路之一電路對應於一個晶片2。 2 ·晶圓檢查過程(步驟2 0 0 ) 該晶圓檢查過程係如第4圖所示,對於晶圓處理後之 本紙张尺度逍州中®國家標準(CNS ) Λ4規格(210X297公犛) -9- (誚先閱讀背而之注意事項再填荇本頁) 508537 A7 B7 〉Γ. -火 (Γ -1
A 卬 五 、發明説明 ( 7 ) 1 I 半 導 體 晶 圓 藉 由 晶 圓 檢 測 器 將 探 針 接 觸 於 晶 片 2 之 墊 片 1 1 1 以 實 施 探 針 測 試 ( 步 驟 2 0 1 ) 能 識 別 晶 片 2 之 良 品 / 1 1 I 不 良 品 地 記 憶 作 爲 標 誌 或 晶 圓 標 記 ( 良 / 不 良 ) 資 料 ( 1Λ 1 步 驟 2 〇 2 ) 〇 在 該 探 針 測 試 , 以 如 上 述 之 晶 片 2 之 開 斷 閱 Ί I 讀 1 J 短 路 電 源 電 流 及 漏 電 測 定 等 之 D C 測 試 作 爲 中 心 實 行 背 ιέ 1 | 測 定 〇 又 作 爲 A C 測 試 也 同 樣 地 測 試 簡 單 之 功 能 校 驗 意 1 I ί 〇 在 半 導 體 晶 圓 施 以 切片 處 理 劃 線 處 理 之 後 ( 步 驟 事 項 再 1 1 考 2 0 3 ) 對 於下 一 裝 配 ^JBL m 程 施 以 搬 運 〇 % 本 3 暑 C 〇 B 裝 置 CJDEL 過 程 ( 步 驟 3 0 0 ) 页 1 1 該 C 〇 B 裝 配 過 程 係如 第 5 圖 所 示 , 將 晶 片 2 片 接 合 1 | 於 框 ( 板 ) 之 背 面 ( 步 驟 3 0 1 ) , 再 施 以 引 線 接 合 後 ( 1 I 步 驟 3 〇 2 ) 並 將 背面 側 施 以 塑 模 ( 步 驟 3 0 3 ) 〇 此 1 訂 I 時 y 引 線 接 合 後 之狀 態 係介 經 引 線 連 接 晶 片 2 與 框 j 又 1 塑 模 後 , 背 面 側 被 塑 模 而介 經 晶 片 2 之 樹 脂 加 以 覆 蓋 J 而 1 表 面 側 係成 爲 接 觸 上山 騎 子 露 出 之 狀 態 〇 1 1 又 J 實 行 尺 寸 檢 查 及 標 誌 ( 步 驟 3 0 4 ) > 爲 了 別 鮮 1 I 實 行 電 氣 性特性 試 驗 ( 步 驟 3 0 5 ) 0 之 後 , 將 C 〇 B 搬 運 至 下 —. 程 〇 1 1 4 • 對 於 塑 膠 卡 之 裝 入 過 程 ( 步 驟 4 〇 〇 ) 1 I 對 於 該 塑 膠 卡 之 裝 入 過 程 係如 第 6 圖 所 示 實 行 塑 膠 ' 1 卡 之 C 〇 B 裝 入 部分 之 碾 磨 ( 步 驟 4 0 1 ) 在 此部分貼 1 1 上 C 〇 Β ( 步 驟 4 0 2 ) 〇 此時 , 碾 磨 後 之 狀 態 係 該 部 分 1 1 被 開 □ j 又 , 貼 上 後 接 觸 端 子 成 爲 露 出 之 狀 態 〇 由 此 1 完 1 I 成 元 卡 〇 I 1 1 本紙張尺度過I丨]屮囤國家標準(CNS ) Λ4規格(21 OX 29*7公嫠) -10- 508537 本紙張尺度诚/丨]中國國家標卒(CNS ) Λ4規格(210X297公f ) A7 B7 五、發明説明(8) 5 · 1C卡製造處理0次發行過程(步驟500) 該I C卡製造處理0次發行過程’係實行硬體零件之 檢驗的過1程,對於I C卡,實行I C卡之正常動作之確認 ,I C卡之初期化,主檔(M F )之製作,卡識別件(製 造者,型式資訊等)之寫入’卡1 D之寫入,密碼函數寫 入,迴路測試等之處理。詳細成爲如後述之第7圖之處理 流程。 在該I C卡製造處理0次發行過程,後述之I C卡檢 查過程,一次發行處理過程,二次發行處理過程包括有 I C卡之測試過程。在該I C卡之測試,如上所述,作爲 D C測試及各種邊際測試,實行對電源電壓變動邊際測試 ,定時變動邊際測試,輸入信號電壓位準邊際測試,輸出 電壓位準,各端子之開斷,短路,電源電流及漏電測定等 ,而作爲功能動作測試,實行c P U動作測試,R a Μ及 R〇Μ資料重寫/讀取功能測試,E E P R〇Μ資料寫入 /讀取功能測試,浮控運算單元功能測試等。 6.IC卡檢查過程(步驟600) 該I C卡檢查過程係在完成製造處理之I C卡,作爲 螢光幕測試,重複實行卡I D之讀取。將在I C卡製造處 理功能之卡I D之寫入所寫入之卡I D使用於測試。詳細 成爲如後述之第8圖之處理流程。 7 · —次發行處理過程(步驟7 0 〇 ) 該一次發行處理過程係實行運用上之校驗的過程,對 於完成製造,檢查之I C卡,實行基本資訊之寫入,基本 11 - (許先閱讀背而之注意事項再楨寫本頁)
508537 A7 B7 五、發明説明(9) (1Λ先閱讀背而之注意事項再填寫本頁 資訊之確認專用檔(D F ),基本檔(E F ),鍵之製作 ,資料之寫入,寫入資料之確認,安全之設定等的處理, 詳細成爲如後述之第9回之處理流程。 8 ·二次發行處理過程(步驟8 0 0 ) 該二次發明處理過程係實行用者I D等之個別資訊之 寫入處理的過程。由此,完成I C卡而可對用者發行。 ^ 如上所述,由晶圓處理過程,介經實行晶圓檢查過程 ,COB裝配過程,編入塑膠卡之過程,I C卡製造處理 0次發行過程,I C卡檢查過程,一次發行處理過程及二 次發行處理過程,可完成接觸型I C卡。特別是,在該 I C卡之製程中,包括有步驟2 0 0之晶片2之測試過程 ,及步驟5 0 0〜8 0 0之I C卡的測試過程,介經將經 測試之晶片2予以編入之I C卡的測試方法之採用,成爲 可更提高IC卡之可靠性。 又,對於非接觸型I C卡,除了 C〇B裝配過程不同 之外大部分也同樣。亦即,在形成有天線線圏3之框模接 合晶片2後,再施以引線接合之後介經塑模,即完成非接 觸型I C卡。此時,也由於裝進特別地經測試之晶片2的 I C卡之測試方法即可提高I C卡之可靠性,以下也主要 說明接觸型I C卡之測試過程,惟對於非接觸型卡也同樣 地可適用。 ~ 以下’依第7圖至第9圖之處理流程之一例子,及第 1 0圖及第1 1圖之I C卡測試評價裝置之構成的一例子 ,詳述上述步驟5 0 0之I C卡製造處理0次發行過程, 本紙张尺度適州中國國家標率((〕NS ) Λ4規格(210X 297公f ) 12 - 經淖部屮决¾準^nc„r>/ifr合:^社印g 508537 Α7 Β7 五、發明説明(10) 上述步驟6 0 0之I C卡檢查過程。及上述步驟7 0 0之 一次發行處理過程。此等I C卡製造處理〇次發行過程, I C卡檢喳過程,一次發行處理過程,以及二次發行處理 過程,係由表示於第1 〇圖之I C卡測試評價裝置實行測 試與評價。首先,由第1 〇圖說明I C卡測試評價裝置之 構成,而由第1 1圖說明軟體構成。 ( I C卡測試評價裝置係具有測試器,寫入器讀取器, 卡發行裝置等之功能,如第1 〇圖所示,由實行測試條件 程式之開發及測試資料之管理的主C P U部2 0,及實行 測試之實行控制與測試計劃,除錯的測試本體部3 0所構 成,介經L A N被連接。在主C P U部2 0,連接有印刷 輸出用之印字器2 1及輔助記憶用之Μ〇推動器2 2等。 用者可製作測試計劃,或管理測定之結果。測試本體部 3 0係由對應於測試對象元件可獨立地動作的各計測控制 單元3 1,經由共通之接觸探針部3 2連接於對應之各I C卡3 3,由於該計測控制單元3 1係可增減(例如最大 約3 2枚),因此,可構築配合測試過程前後之能力測試 系統。 測試本體部3 0係由衛星C P U 3 4,信息處理機i / f 3 5,系統電源3 6,及安全電路3 7,及複數計測 控制單元3 1所構成。在各計測控制單元4 1設有控制器 3 8,元件電源3 9,A C測定部4 0,D c測定部4 1 ,Μ P X 4 2,測試頭4 3等,藉由在內部具有控制器 3 8分別地獨立成爲可實行並聯之測試。以下,詳述各構 I. ^ Φ------1TL--^---- (誚先閲讀背而之注意事項再楨寫本頁} 本紙張尺度通州中國囤家標率(CNS ) Λ4規格(210 X 297公釐) -13- 508537 A7 B7 五、發明説明(11) 成元件。 衛星C P U 3 4係對於複數計測控制單元3 1,實施 測試條件1之傳送,測試結果之讀取及信息處理機之控制。 又,由該衛星C P U 3 4也可實行測試計劃,除錯。 信息處理機i / f 3 5係用以實施I C卡3 3之信息 處理機,或軟體C Ο B信息處理機之控制的單元。實行並 聯通信。 控制器3 8係依照用者記述測試條件對於測試硬體實 施元件電源3 9之電壓設定,A C測定部4 0之條件設定 ,D C測定部4 1之條件設定及各種條件之梢分配,俾實 行I C卡3 3之測試。又,也實行測定結果之管理。 元件電源3 9係具有設定施加於I C卡3 3之電源端 子之電壓位準,同時測定流在I C卡3 3之電源電流之功 會g 。 A C測定部4 0係實施施加於I C卡3 3之時鐘頻率 及作用比之設定,推動器之輸出電壓位準,比較器電平之 設定等,介經與I C卡3 3之資料通信來實施I C卡3 3 之測試。 D C測定部4 1係實施I C卡3 3之輸入輸出梢之開 斷/短路校驗及漏電之測定的單元。 Μ P X 4 2係將A C測定部4 0與D C測定部4 1藉 替換器切換分配於I C卡3 3之所定梢的功能。 測試頭4 8係具有施加於I C卡3 3之信號推動器, 及輸出信號判定比較器等。又,實行將依電纜損失之測定 (1¾先閱讀背而之注意事項再項艿本頁) '0^. 4、紙if<尺度適州中國國家標缚(CNS ) Λ4規格(210X297公漦) .14 - 508537 A7 B7 五、發明説明(12) 誤差成爲最小的部分接地之供應,俾提高測定精度。 (邡先間讀背而之注意事項再項寫本頁) 該I C卡測試評價裝置之主C P u部2 0的軟體係如 第1 1圖1所示,由I C卡計劃,編輯器5 1,測試計劃’ 編譯器5 2,資料通信軟體5 3,資料輸出顯示軟體5 4 ,系統運用管理軟體5 5等所構成。又’衛星C P U 3 4 之軟體係由計測控制系統6 1,線上除錯元6 4,測試條 件及資料通信軟體6 3,梯級頻佈圖效用6 4,校準軟體 6 Y等所構成,主C P U部2 0與衛星C P U 3 4間,係 介經網路(L A N )被連接。以下,詳述各軟體。 測試計劃編輯器5 1係用以製作測試條件的編輯器, 由該測試計劃編輯器5 1可直接起動測試計劃編譯器5 2 。又,在編譯結果發生條件記載錯誤等時,移動游標至所 定之誤差發生場所,以指示記載錯誤發生場所。由此,可 有效率地製作測試計劃。 測試計劃編譯器5 2係將在測試計劃編輯器5 1所製 作之測試計劃翻譯成測試器可實行之目標。又,在該測試 計劃編譯器5 2也生成測試計劃除錯所用的詳細資訊。 資料通信軟體5 3之軟體係實施測試計劃之傳送(分 配)’測定結果之讀取,其他各種功能之設定及指示。 資料輸出顯示軟體5 4之軟體係將介經資料通信所讀 取之試驗結果輸出於C R T,印字機,Η έ等。又,可輸 出測試結果之報告(一批號碼,作業者名,測試開始時間 ’終了時間,全部測試數,良品/不良品數,測試號碼別 不良數等)。 本纸張尺度i請巾K! SU牌((:奶)/\4規格(210、乂 297公费)-- 508537 A7 五、發明説明(13) 系統運用管理軟體5 5之軟體係實施依口令等之裝置 之安全性管理。 計測1控制系統6 1係實施信息處理機之控制,控制器 3 8測試實行部之控制,測試計劃實行之控制。藉該軟體 ,複數之計測控制單元3 1之測定結果被管理,視需要被 發送至主C P U部2 0。測試狀況係被輸出至測試本體部 3 0之液晶顯示屏,可S;到至今之測試數,良品/不良品 數等。 線上除錯元6 2係測試計劃之除錯工具,作爲功能, 可實施測試計劃之每一行之實行,所定測試計劃之源線號 碼,或測試號碼之測試停止(姿勢),測試條件之變更, 來自D C測試,A C測試鍵盤之實行,測定結果之顯示等 。由此,可有效地除錯測試計劃。又,也可利用作爲不良 解析工具。 資料通信軟體6 3之軟體係將從主C P U部2 0接收 之測試計劃(測試條件)發送至控制器3 8。又,綜合從 各控制器3 8接收之測定結果發送至主C P U部2 0。 ,¾¾.部十-T,消卟合作杉印y 梯級頻佈圖效用6 4係對於所定I C卡3 3之生產批 ,取得每一各D C測試之測定資料之分布。使用此,用者 係可將該資料作爲工程管理之指標。 校準軟體6 5之軟體係使用於系統之4體之校準時。 由於該I C卡測試評價裝置係將計測控制單元3 1介經單 位交換來對應於維修,因此,實施單元交換時實行校準。 使用如以上所構成的I C卡測試評價裝置,可實行上 16- (1¾先閱讀背而之注意事項再楨寫本頁) 本紙尺度询川中國囤家標缚((,NS )八4規格(210X297公漦) 508537 Λ7 ___________ 五、發明説明(14) 述步驟5 0 0之I C卡製造處理〇次發生過程,上述步驟 6 0 0之I C卡檢查過程,上述步驟7 0 0之一次發行處 理過程,It述步驟8 0 0之二次發行處理過程。 以下’依照弟7圖之處理流程之一例子,詳述上述步 驟5 0 0之I C卡製造處理〇次發行過程。 (1)PC,寫入器,讀取器,ic卡33之動作確 認(步驟5〇1 ,5 0 2 ) 實行P C,寫入器,讀取器,I c卡3 3之動作確認 。發生錯誤時,顯示錯誤信息。例如實行以下之處理。開 啓P C之通信迴線。開啓與寫入器,讀取器之迴線。開始 與I C卡3 3之對話。終了與I C卡3 3之對話。關閉 P C之通信迴線。在本處理,爲了僅實行確認,在與I c 卡3 3之對話成功之後,終了與I C卡3 3之對話,實行 通信迴線之關閉。 (2 )卡I D之確認,設定(步驟5 0 3 ) 經消部屮次榀^^0_1·-消贽合仍杉印y 生成寫入於I C卡3 3的卡I D。卡I D之設定値不 正確時,顯示錯誤信息。在本系統,以檔案之卡I D用之 資訊區域管理卡I D。例如,卡I D係作成日期(6位元 組),製造P C號碼(3位元組),串行號碼(4位元組 )之三項目的構成。
V 曰期係用以管理製造I C卡3 3之日期者。例如在開 始卡製造功能之操作時,從P C之內設時鐘自動地取出, 以Υ Υ Μ M D D 〃之形式自動地成爲省略値。連續反複 製造處理之期間係並不特別更新。 -17- (¾先閱讀背而之注意事項再楨rcT本頁) 本紙张尺度讲中國囤家標枣((、NS ) Λ4規格(210X297公釐) 508537 Α7 Β7 五、發明説明(15) 製造PC號碼係用以分類製造I C卡3 3之PC者。 例如省略値爲'' 0 0 1 〃 ,可作手動之設定,變更。 串聯號碼係用以表示製造於製造日期中之第幾枚的卡 者。例如在開始卡製造功能之操作時,該日最初之製造時 作爲'' 000 1 〃 。不是最初之製造時,成爲來自中途之 號碼。在每一次正常地製造卡時,自動地更新後保存在檔 案。在途中發生錯誤時並不更新。又,在製造處理途中耳又 消時也不更新。 (3 )與I C卡3 3之開始對話(步驟5 0 4, 5 0 5 ) 開始與I C卡3 3之對話。發生錯誤時,顯示錯誤信 息。例如實行以下之處理。開啓P C之通信迴線,開啓與 寫入器,讀取器之迴線。開始與I C卡3 3之對話。 (4 )確認E E P R 〇 Μ領域之寫入/讀取(步驟 5 0 6,5 0 7 ) 實行記憶體之E E P R〇Μ領域之寫入/讀取之測試 。實行測試中,顯示進行狀況。發生誤差時,顯示錯誤信 息。例如實行以下之處理。將資料'' 0 0 〃施以寫入/讀 取,比較內容。而將資料'' 1 1 〃爲以寫入/讀取,並比 較內容。 (5 )格式及卡識別件,卡I D,密^處理函數之寫 入(步驟508,509) 依照卡製造佈置檔,在I C卡33生成MF,鍵盤, E F。卡製造佈置檔案名稱,係以檔案之佈置資訊區域來 木紙张尺度適川中國國家標‘「(:叫八4規格(210>< 297公釐) Tl8 - """ 508537 Λ7 B7 五、發明説明(16) 管理。發生錯誤時,則顯示錯誤信息。例如實行以下之處 理,將I C卡3 3施以格式。製作μ F。在卡製造佈置檔 案有鍵製胙之指定時,則製作鍵。而在卡製造佈置檔案有 E F製作之指定時,則製作E F。在本處理所製作之E F ,寫入卡識別件,卡I D。 卡識別件之寫入,係在以上述格式所製作之卡識別具 用的E F,寫入卡識別件。發生錯誤時,則顯示錯誤信息 。例如,實行以下之處理。在卡識別件用之E F,讀取以 格式生成的卡識別件。 卡I D之寫入係在E E P ROM領域之特定位址實行 以上述卡I D之確認,生成所生成的卡I D之寫入。以上 述格式製作卡I D用之檔案時,在該檔案也寫入卡I D。 發生錯誤時,則顯示錯誤信息。例如實行以下之處理。將 卡I D讀取在E E P R Ο Μ領域之特定位址,以上述格式 製造卡I D用E F時,則讀取寫入在該EF之卡I D。 .¾¾部中次枕肀局ρ,τ-消费合竹社印f (讀先閲讀背而之注意事項再楨寫本頁) 密碼處理函數之寫入係將以檔案之密碼函數資訊區域 所指定的密碼處理函數檔案寫入在E E P R ΟΜ領域之特 定位址。由於在轉移表檔案設有位移位址,因此,以設定 於檔案之基本位址項目的位址,來補正轉移表之數値。發 時錯誤時,則顯示錯誤信息。例如實行以下之處理。負載 轉移表檔案,讀取E E P R Ο Μ領域之時定位置。負載參 數檔案,讀取E E P R Ο Μ領域之特定位址。將卡I D變 換成8位元組之二進制形式,重寫於寫入之參數領域之隨 機數初期値參數。 I、纸張尺度诮川屮國國家標率(CNS ) Λ4規格(210X 297公釐) „ . 508537 -20- A7 B7 五、發明説明(17) (6 )迴路測試次數之設定(步驟5 1 0 ) 設定I C卡3 3之迴路測試次數。迴路測試次數係以 檔案之I (ID讀取迴路測試用之資訊對話來管理。 (7 )卡I D之讀取迴路測試(步驟5 1 1,5 1 2 ) 以上述卡I D之寫入,實行所寫入之卡I d之讀取測 倉式。所設定之迴路次數分量,實行測試。發生錯誤時,則 顯示錯誤信息。例如實行以下之處理。寫入卡I D,確認 資料。重複迴路次數分量。 (8 )測試終了確認(步驟5 1 3 ) 確認I C卡I D之寫入,迴路測試正常地終了之情事 。例如實行以下之處理。終了與I C卡3 3之對話。關閉 P C之通信迴線。將卡I D之串聯號碼加算1。 然後,依照第8圖之處理流程之一例子,詳述上述步 驟6 0 0之I C卡檢查過程。 (1)PC,讀取器,寫入器,ic卡33之確認動 作(步驟6 0 1,6 0 2 ) 與上述I C卡製造處理〇次發行,過程之情形同樣地 ,實行P C寫入器,讀取器,I C卡3 3之確認動作,發 生錯誤時,則顯示錯誤。 (2 )迴路測試次數之設定(步驟6 ί) 3 ) 與上述I C卡製造處理〇次發行過程之情形同樣地, 設定I C卡3 3之迴路I C卡次數。 (3 )卡I D之讀取迴路測試(步驟6 0 4,6〇5 本纸張尺度ffl中國國家標準((:奶)/\4規格(210父^97公釐) (1A先間讀背而之注意事項再楨寫本頁) - 508537 A7 B7 五、發明説明(18) ) 實行卡I D之讀取迴路測試。所設定之迴路次數分數 ’貫fT測(試。正吊地終了測試時’顯示讀取之卡I D。發 生錯誤時,則顯示錯誤信息。例如,實行以下之處理。開 啓P C之通信迴線。開啓與寫入器,讀取器之迴路。開始 與I C卡3 3之對話。寫入卡I D,確認資料。重複該迴 隹各次數分量。終了與I C卡3 3之對話。關閉p c之通信 迴線。顯示所寫入之卡I D。 以下,依照第9圖之處理流程之一例子,詳述上述步 驟7 0 0之一次發行處理過程。 首先,設定記錄於一次發行處理記錄表的作業者姓名 與P C號碼。例如,P C號碼係將以檔案之作業卡丨d用 之資訊區域製造P C號碼管之數値作爲省略値。作業者姓 名係以全角作爲最大2 0文字。P C號碼係以半角作爲最 大3文字。任何項目的未輸入時,顯示錯誤訊息。 (1)PC,寫入器,讀取器,1C卡33之確認動 作(步驟7 0 1 ,7〇2 ) 與上述I C卡製造處理0次發行過程之情形同樣地, 實行PC寫入器,讀取器,1C卡33之確認動作,發生 錯誤時,則顯示錯誤。又,P C,寫入器,讀取器之確認 動作,I C卡3 3之確認動作處理以後,若在處理中發生 錯誤,則不實行重試。 (2 ) I C卡3 3之開始對話(步驟7 0 3,7 0 4 -21 - (銷先閱讀背而之注意事項再瑣寫本頁) 本纸張尺度適川中國囤家;ji^T7(:NS) μ規格(2丨οχ”7公釐) 508537 A7 B7 五、發明説明(19) I :, 费II (¾先閱讀背而之注意事項再填寫本頁) 開始與I C卡3 3之對話,發生錯誤時,則顯示錯誤 信息。例如實行以下之處理。開啓P C之通信迴線。開啓 與讀取器I,寫入器之迴線。開始與I C卡3 3之對話。 (3)基本資訊之寫入(步驟705,706) 依照一次發行佈置檔案,在所製造之I C卡3 3之 M F下製作E F,寫入卡識別件,發行者資訊等之基本資 訊。一次發行佈置檔案名稱係以檔案之佈置資訊對話施以 管理。發生錯誤時,則顯示錯誤信息。例如實行以下之處 理。製作E F。從一次發行佈置檔案,生成寫入資料。寫 入製作於所製作之E F之資料。以一次發行佈置檔案所指 定之檔案數分量,並重複該分量。 (4 )基本資訊之確認(步驟7 0 7,7 0 8 ) 實行以上述基本資訊之寫入所寫入的基本資訊之確認 。發生錯誤時,則顯示錯誤信息。例如實行以外之處理。 從基本資訊檔案讀取。比較所讀取之資料與以上述基本資 訊之寫入所寫入的資料。以一次發行佈置檔案所指定之檔 案數分量,並重複該分量。 (5)1C卡33之檔案製作(步驟7〇9,710 ) 依照用者定義佈置檔案,在I C卡3 3製作D F, E F鍵等之檔案,用者定義佈置檔案名稱1係以檔案之佈 置資訊區域施以管理。發生錯誤時,則顯示錯誤信息。例 如實行以下之處理。移動至製作檔案之主D F。生成檔案 。以用者定義置檔案所指定之檔案數分量,並重複該分量 本紙张尺度適川中國國家標承((〕NS ) Λ4規格(210X297公釐) 92- 508537 A7 B7 五、發明説明(20) 〇 (6 )設定對於製作檔案之資料(步驟7 1 1, (誚先閱讀背而之注意事項再硝寫本頁) 7 12)1 依照用者定義佈置檔案,在所製作之檔案設定資料。 介經製作檔案之種別,設定資料之內容會變更。發生錯誤 時,則顯示錯誤信息。例如實行以下之處理,從用者定義 Ϊ布置檔案,生成設定資料。在所製作之檔案設定生成之資 料。以用者定義佈置檔案所指定之檔案數分量,並重複該 分量。 (7 )設定資訊之確認(步驟7 1 3,7 1 4 ) 實行以對於上述製作檔案之資料設定所設定的資料之 確認。發生錯誤時,則顯示錯誤信息。例如實行以下之處 理。從資料檔案讀取。比較讀取之資料與對於上述製作檔 案之資料設定所設定的資料。以用者定義佈置檔案所指定 之檔案分量,並重複該分量。 (8 )安全性之設定(步驟7 1 5,7 1 6 ) 依照用者定義佈置檔案,在所製作之檔案設定安全性 。發生錯誤時,顯示錯誤信息。例如實行以下之處理。移 動至設定安全性之檔案。在檔案設定安全性。以用者定義 佈置檔案所指定之檔案分量,並重複該分量。 (9 ) 一次發行終了確認(步驟7 1 7 ) 確認正常地終了一次發行處理。例如實行以下之處理 。終了與I C卡3 3之對話。關閉P C之通信迴線。 以下,依照第1 2圖,第1 3圖之處理流程之一例子 石纸尺度適州中-1¾家標冷(rNS ) Λ4規格(210X297公f ) Z, 508537 A7 __ 五、發明説明(21) ,及第1 4圖之測試器(I c卡測試評價裝置)與I C卡 3 3之連接構成之一例子,詳述上述I C卡製造處理0次 發行過程1的步驟5 0 6之E E PROM領域之讀取/寫入 確認處理的對於E E P R〇Μ 1 4之資料寫入/讀取測試 〇 在該測試過程中,作爲I C卡3 3之雙重測試方法, 包括依照來自測試器之測試資料實行I C卡3 3之內部電 路之動作測試的過程,及實行I C卡內部之E E P R〇Μ 1 4之檢驗測試的過程。第1 4圖係表示對於I C卡3 3 之資料寫入/讀取測試(一測試分量)之測試器的連接方 法。在該測試器,使用圖示於上述第1 〇圖及第1 1圖的 I C卡測試評價裝置。一般之I C卡3 3的測試,係變化 以下所說明之寫入資料及寫入位址並重複數次。 1 ·寫入測試 (1 )從測試器將E E P R 〇 Μ寫入命令及寫入資料 發送至1C卡33 (步驟521)、。一般,1C卡33之 育信協定係如Τ 1,Τ 〇等規定在I S 0 7 8 1 6,依照 此等規則發送命令及資料。 (2)藉由IC卡33之內部的CPU11來解析命 令(步驟5 2 2 )。接收資料寫入命令時,將寫入資料之 接收資料介經介面電路1 6之串聯/並聯Λ換電路轉換成 並聯資料,並將該轉換之資料藉由C P U 1 1施加於內部 之累加器A,又將該累加器A內之資料寫入在 EEPR0M14之指定位址(步驟523)。 本纸張尺度適川中國國家標肀(.rNS ) Λ4規格(2ϋ97公釐1 :24: (¾先閲讀背而之注意事項再填寫本頁)
508537 第87114074號專利案 A7 中文說明書頁 ^. :7 ;: 民ώ 80年05月修正 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明) (3 )讀取寫入在EEPROM1 4之資料(步驟 524),施加於CPU內之累加器B,實行累加器A與 累加器B之資料的比較判定(步驟5 2 5 )。亦即,在此 ,實行寫入資料與讀取資料之對照。在此時,與依測試器 之寫入測試並行地,在E E P R Ο Μ 1 4之內部,也重複 實行後述之寫入之資料的檢驗。 、 C 4 )比較判定之結果,在一致時,將正常終了之寫 入完了響應從介面電路1 6之並聯/串聯轉換電路的串聯 口串聯發送至測試器(步驟5 2 6 )。該發送格式也介經 通信協定被規定。一方面,在不一致時,視需要,在I C 卡3 3之內部,重複來自上述步驟5 2 3之處理的重試次 數分量(步驟5 2 7 ),在該重試後將錯誤響應從串聯口 發送至測試器(步驟5 2 6 )。 (5 )將自I C卡3 3所發送之響應在測試器施以良 品響應期待値與比較判定(步驟5 2 8 ),比較判定之結 果,在與期待値一致時實行下一測試(步驟5 2 9 )。一 方面,在與期待値不一致時,重複來自上述步驟5 2 3之 處理的重試次數分量(步驟5 3 0 )。在重試所定次數也 成爲錯誤時,則將該I C卡3 3成爲不良(步驟5 3 1 ) 〇 2 ·讀取測試 此乃再讀取先前寫入之資料,爲了確認寫入資料而實 施。 (6 )從測試器將E E P ROM資料讀取命令發送至 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) i------------------ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂----------線1 508537 A7 Β7 五、發明説明(23) I C 卡 3 3 (步驟 5 4 1 )。 (7)藉由I C卡3 3之內部的CPU1 1 ,解析資 料讀取命1令(步驟5 4 2 )。 t 將所定位址之E E P R〇Μ資料讀取在C P U 1 1之 累加器Α (步驟5 4 3 ),從串聯口將以所定格式所讀取 之資料發送至測試器(步驟5 4 4 )。 ' (8 )將從I C卡2 3所發送之資料在測試器與良品 響應期待値施以比較判定(步驟5 4 5 )。比較判定之結 果。與期待値一致時,將該測試作爲''良〃,實行下一測 試(步驟5 4 6 )。一方面,與期待値不一致時,則施以 重試處理(步驟5 4 7 )。從上述步驟5 4 3實行所定容 許次數重試。即使重試所定次數也成爲錯誤時,則將該寫 入器33作爲不良(步驟548)。 (9 )終了上述所有測試之後(步驟5 4 9 ),將全 部測試成爲 ''良〃 (P A S S )之I C卡3 3判定作爲良 品(步驟5 5 0 )。即使一處成爲不良時,也判定爲不良 品,將指令輸出至處理裝置,施行不良品處理。一般成爲 不良之I C卡3 3係被儲存在不良品托盤。 在依如上所述之測試之寫入測試及讀取測試,與對於 上述測試之E E P R〇Μ 1 4之寫入處理並行地,在 E E P R〇Μ 1 4之內部也實行所寫入之i料的檢驗測試 。依第1 5圖之檢驗測試的處理流程之一例子,及第1 6 圖之pEPROMl 4之構成之一例子,詳述 E E P R〇Μ 1 4之內部的檢驗測試。首先,依第1 6圖 (¾先閱讀背而之注意事項再硝寫本頁) 、11 本紙乐尺度適川中國囤家標率(rNS ) Λ4規格(210X 297公釐) -26- 508537 Λ7 ----—— __ 五、發明説明(24) '~ ’吕兌明E E P R〇μ 1 4之構成及動作之槪要。 E E P R〇μ 1 4係如第1 6圖所示,連接於字線 W L與資斛線D L之交點之複數記憶體格M C所構成記憶 體I5車列Μ — A R γ ,及選擇該記憶體陣列Μ — A R Υ內之 ίί胃&記憶體格M c所用的低位址緩衝器X a D B,行位 址緩衝器γ A D B,低位址解碼器X D C R,及行位址解 ® _ Y D c R,及用以實行資料之讀取/寫入的讀出放大 器S A ’資料輸入緩衝器D I B,及資料輸出緩衝器 D 0 β ’及用以發生各種控制信號的定時控制電路 CMTR,及用以電氣式地實行擦除動作的擦除電路 E R C等之周知構成所構成,此等藉由周知之半導體製造 技術與CPU1 1,R0M12,RAM13等一起形成 在一個晶片2上所構成。 在該EE PRO Ml 4,從外部輸入位址.信號A X, A Y,介經低位址緩衝器X A D B及行位址緩衝Y A D B 生成低位址信號及行位址信號。又分別經由低位址解碼器 X D C R及行位址解碼器Y D C R選擇記憶體陣列Μ - A R Y內之任意的記憶體格M C。又,讀取/寫入動作係成 爲介經依照從外部輸入於定時控制電路C N T R的晶片啓 動信號/ C Ε,輸出啓動信號/ 〇 Ε,寫入啓動信號/ Ν \ Ε,擦除啓動信號/Ε Ε及寫入/擦除用高電壓V ρρ所發 生的各種內部信號X Ε,Υ Ε,s c,w r,w ρ等能控 制之狀態。 讀取模態係在信號/ C E爲低電平’信號/ 〇 E爲低 J-I.-----螯一丨 (勃先閱讀背而之注意事項再楨寫本頁)
、1T 本紙張尺中國®家標卒(rNS ) Λ4規格(210 X 297公f ) . 27 - -28- 508537 Λ7 B7_ 五、發明説明(25) 電平,信號/WE爲高電平,而信號/E E爲高電平,且 在未供應局電壓V pp之狀態被設疋。此時’內部丨目號/c 1係形成1低電平,而信號DE,s c,r e係形成高電平 。在低位置解碼器X D C R,行位址解碼器Y D C R及資 料輸入緩衝器D I 0,作爲其動作電壓供應有低電壓V c c 。由此,讀取放大器S A成爲動作狀態’而可實行讀取動 .·作。 . 寫入模態係在信號/ E E爲低電平’信號/〇E爲高 電平,信號/WE爲低電平,而信號/E E爲高電平,且 在供應高電壓V p p之狀態被設定。此時’內部信號/ c 1 係形成低電平,而信號DE,WP,wr係形成高電平, 信號s c,r e,D 0 / D 0 7係形成低電平。介經信號 D E之高電平,使低位址解碼器X D C R,行位址解碼器 Y D C R被活性化,而選擇有記憶體陣列Μ - Z R Y之一 字線W L及一資料線D L。作爲低位址解碼器X D C R, 行位址解碼器Y D C R及資料輸入緩衝器D I 0,作爲該 動作電壓供應有高電壓V ρ ρ。實行寫入之字線W L,及連 接有欲將電子注入在浮控閘極之記憶體格M C的資料線D L,係各該電位成爲隨著高電壓Vpp之高電壓。由此,可 實行寫入動作。 寫入檢驗模態係在信號/ C E爲低電+,信號/〇e 爲低電平,信號/W E爲高電平,而信號/ E E爲高電平 ,且在供應高電壓V P P之狀態被設定。供應高電壓V P p以 外係成爲與上述讀取模態相同之狀態。在低位址解碼器 孓紙張尺度中國围家標準((^S )—A4規格(210X 297公漦) (邡先閱讀背而之注意事項4填寫本110
508537 A7 B7 .ν ;*.:Λ w pi a 五、發明說明p ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) XDCR,行位址解碼器YDCR及資料輸入緩衝器 D I B ’其動作電壓係從高電壓vPP轉換成低電壓vec被 供應。由此,可實行寫入檢驗動作。 擦除模態係在信號/ C E爲低電平,信號/ Ο E爲高 電平’信號/WE爲高電平,供應高電壓VPP,而信號 / E E從高電平變化成低電平時,信號/ e S從高電平變 化成低電平而被設定。隨著此,介經擦除電路ERC,記 憶體格M C之源極線C S之電位係從高電壓V p p轉換接地 電位。由此,可實行擦除動作。 以下,依照第1 5圖之處理流程之一例子,詳述該 E E P R〇μ 1 4之內部的檢驗測試。 (1 )實行用以寫入動作之位址的初期設定(步驟 5 6 1),發生用以寫入之寫入脈衝(步驟562),隨 著位址設定,在E E PROM1 4所選擇之對象位元之記 憶體格M C施加寫入電壓,俾實行資料之寫入動作(步驟 5 6 3 )。 經濟银智慧財產局員工消費合作社印製 (2 )在寫入之資料的檢驗動作,寫入對象位元判定 是否到達所定之記憶體閾値電壓(步驟5 6 4 )。該檢驗 動作係讀取動作,直至讀取資料達到閾値電壓,重複自上 述步驟5 6 2之寫入動作及寫入檢驗動作。 (3 )對象位元到達所定記憶體閾値電壓而被認爲寫 入,則實行位址增量(步驟5 6 5 )。之後,實行是否爲 最終位址之判定(步驟5 6 6 ),若不是最終位址時,從 上述步驟5 6 2之所有對象位元終了爲止重複寫入動作及 29- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 508537 Μ _________________Β7__ 五、發明説明(27) ^ 寫入檢驗動作。介經重複實行至該最終位址,可終了寫入 動作(步驟5 6 7 )。 (1¾先閱讀背而之注意事項再楨寫本頁) 以下1,依照第1 7圖之處理流程之一例子,說明從安 全性之觀點所寫入之密碼鍵等之E E P R〇Μ 1 4之資料 的測試方法。 寫入在I C卡3 3之EEP R〇M1 4之資料的測試 > ’係安全性上,無法將E E P R Ο Μ 1 4之資料讀取在 I C卡3 3之外部加以試驗。若此種測試成爲可能,則該 系統係安全性上有問題,成爲容易被僞造。以下說明考量 安全性的E E P R〇Μ 1 4之資料的測試方法。 (1 )從測試器將E E P R〇Μ 1 4之資料評價命令 發送至I C卡3 3,對於I C卡3 3通知欲做測試(步驟 5 8 1 ) ° (2 ) I C卡3 3係解析接收之命令(步驟5 8 2 ) ,可知從現在實行系統之測試,首先起動內設之安全性對 應的系統評價程式,採用接收從測試器所發送來的 E E P R〇Μ 1 4之資料的體制,實施比較錯誤標記等之 初期化(步驟5 8 3 )。 (3 )從測試器將與測試之E E P R Ο Μ 1 4之資料 相同內容的資料依順序連續地發送至I C卡3 3 (步驟 584)。一般,發送之資料係約1〇κΑ至數十ΚΒ。 (4 )從測試器所發送的E E P R〇Μ 1 4之資料, 係在I C卡3 3之內部,首先,將接收之資料經由介面電 路1 6之串聯/並聯轉換電路施加於C P U 1 1.之累加器 本紙张尺度適川中國®家摞卒(^NS ) Λ4規格(210父297公漦) .30 - " 508537
部 '1' -A A7 - ------------------------- —--— - ;-、發明説明(28) Α (步驟5 8 5 ),與施加於累加器1 3之欲評價之 EEPROM14之資料相比較(步驟586)。比較之 結果,若致時則實行下一資料之比較。另一方面,若不 一致時則豎起錯誤標記(步驟5 8 7 )。 (5 ) I C卡3 3係直到接收所有E E P R〇Μ 1 4 之資料爲止(步驟5 8 8 ),重複實行來自上述步驟 ^ 5 8 5之處理,判斷爲接收所有E E P R〇Μ 1 4之資料 時’則判定錯誤標記之狀態(步驟5 8 9 )。未設定錯誤 標記時,亦即,在E E P R Ο Μ 1 4之資料沒有異常而所 有資料一致時,對於測試器,發送一致響應(步驟5 9 0 )。另一方面,設定有錯誤標記時,亦即E E P R〇Μ 1 4之資料不一致時,或是發生異常時,對於測試器發送 不一致響應(步驟591)。 (6 )將從I C卡3 3所發送之資料在測試器與良品 之一致響應期待値比較判定(步驟5 9 2 )。比較判定之 結果,與期待値一致時,則將該I C卡3 3作爲、、良品夕 (PASS)(步驟5 9 3 )。另一方面,與期待値不一致 時,則將該I C卡3 3作爲 ''不良品〃(步驟5 9 4 )。 如此,從伎全性之觀點上,在I C卡3 3之內部實行 比較判定,可僅將該結果輸出至測試器等之外部。因此, 在測試器等之外部裝置,介經判定在不一 ^時豎立之錯誤 標記之狀態,即可判斷I C卡3 3之良品/不良品。 因此,依照本實施形態的I C卡3 3之製造方法,可 得到如以下之作用效果。 丨丨| ·· 螓—丨 (許先閱讀背而之注意事項再楨寫本頁) 、1Τ 4 本紙张尺度诮川中國围家標肀((:NS ) Μ規格(210X 297公漦) -31 508537 五、發明説明(29) (1 )由於採用步驟2 0 0之晶片2的測試過程,及 包括步驟5 0 0至8 Ο Ο I C卡3 3之測試過程的組裝經 測試之晶I片2的I C卡3 3之測試方法,可得到I C卡 3 3之可靠性。 (2 )介經與依測試器之E E P R〇Μ 1 4等之內部 記憶體的寫入測試,讀取測試並行地,在此等之內部記憶 s體的內部也實行經寫入之資料的檢驗測試,而採用I C卡 3 3的雙重測試方法,可提高I C卡3 3之記憶體的記憶 領域或該記憶領域內之資訊的可靠性。 (3 )在I C卡3 3之內部實行比較判定,介經僅將 該一致/不一致輸出至外部,成爲可對應於安全性,同時 可提高對於處理讀取器,寫入器等之各種I C卡3 3之裝 置的通用性。 以上,依照其實施形態具體地說明藉由本發明者所實 施之發明,惟本發明係並不被限定於上述實施形態者,當 然在不超越其要旨之範圍內可作各種變更。 (產業上之利用可能性) 如上所述,本發明之I C卡之製造方法係特別包括對 應於I C卡之多樣化之高可靠性及應用的測試過程的I C 卡之製造方法上有用,又,寫入測試及讀ά測試等係對於 包括構成I C卡之R〇Μ,R A Μ等之內部記憶體的測試 過程的IC卡之製造方法也同樣地適用。 本纸張尺度適州中國囤家標冷.((〕奶)/\4規格(210'乂 297公釐) -32- ¾先閱讀背而之注意事項再楨寫本頁) 、-5 508537 A7 B7 五、發明説明(30) (圖式之簡單說明) 第1 ( a ) ,( b )圖係表示本發明之一實施形態之 I C卡之I1槪略構造的說明圖。 第2圖係表示I C卡的內部構成圖。 第3圖係表示I C卡之製造方法的流程圖。 第4圖係表示I C卡之製造方法之晶片檢查過程的流 •程圖。 第5圖係表示C Ο B裝配過程的流程圖。 第6圖係表示組裝於塑膠卡之過程的流程圖。 第7圖係表示I C卡製造處理0次發行過程的流程圖 〇 第8圖係表示I C卡檢查過程的流程圖。 第9圖係表示一次發行處理過程的流程圖。 第1 0圖係表示本發明之一實施形態的I C卡測試評 價裝置的構成圖。 !: I--- ! - - - 1= —I— III -I - i » 文^ - — - 1— - - - - I—-- yv 、-t (¾先閱讀背而之注意事項再峭寫本頁) 圖 圖 程 。 流 圖的 成試 構測 的入 體寫 軟料 之資 置之 裝M 價 ο 評R 卡 P c E I E 示示 表表 係係 圖 圖 1 2 1—~ IX 第第 程 流 的 試 測 取 讀 料 資 之 Μ 〇 R Ρ Ε Ε 示 表 係 圖 3 一―! 第 圖 明 說 -的 卡 。 C 圖 I程 與流 器的 試試 I 孭 接驗 連檢 示示 表表 係係 圖圖 4 5 IX Ίχ IX IX 第第第第 程 流 的 法 方 。 試 圖測 成之 構點 的觀 Μ 之 ο 性 R 全 Ρ 安 Ε 自 Ε 來 示示 表表 係係 圖圖 6 7 木紙張尺度適川中阀因家标卒(rNS ) A4規格(210X297公f ) - 33 - 508537 A7 五、發明説明(31) 圖。 --------管_丨 1A先閲讀背而之注意事項再镇寫本頁) (記號之明) 1 塑 膠 卡 2 L S I 晶片 3 天 線 線 圈 丨4 接 觸 端 子 1 1 C Ρ U 1 2 R 〇 Μ 1 3 R A Μ 1 4 E E Ρ ROM 1 5 運 算 單 元 1 6 介 面 電 路 1 7 調 變 解 調電路 2 〇 主 C Ρ U部 2 1 印 字 器 2 2 Μ 〇 推 動器 3 0 測 試 器 本體部 3 1 計 測 控 制單元 3 2 接 觸 探 針部 3 3 I C 卡 3 6 系 統 電 源 3 7 安 全 電 路 3 8 控 制 器 本紙張尺度適州中國阀家標率(C:NS ) Λ4規格(210X 297公f ) - 34 - 508537 A7 B7 五、發明説明(32) 3 9 元 件 電 源 4 0 A C 測 定 部 4 1 1 D C 測 疋 部 4 2 Μ Ρ X 4 3 測 試 頭 5 3 資 料 通 信 軟體 5 4 資 料 輸 出 顯示軟體 5 5 系 統 運 用 管理軟體 6 1 計 測 控 制 系統 6 2 線 上 除 錯 元 5校準軟體 J--·-----―丨 (許先閱讀背而之注意事項再读寫本頁) 、11 木紙张尺度诚川中國K家標今(CNS ) Λ4規格(210X 297公漦) -35-