TWI386946B - 記憶卡測試裝置及其測試方法 - Google Patents

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Description

記憶卡測試裝置及其測試方法
本發明係有關於記憶卡測試，且特別有關於一種自動化記憶卡測試裝置及方法，用以減少測試成本及改善整體測試效能。
隨著資訊處理技術的發展，對於記憶裝置之需求顯著增加。小型之記憶裝置，例如：記憶卡，由於具備攜帶方便、高資料儲存量及易於存取之優點而廣為使用。
基於記憶卡之需求增加，於記憶卡量產前，記憶卡測試流程之重要性亦相對提升，並進一步確保記憶卡之效能及相容性。因此，對系統製造商及設計者而言，低成本及高效能之記憶卡測試成為一個重要的課題。
習知上，在進行記憶卡測試時，需測試人員手動及逐步地處理測試，用以確保記憶卡之操作。舉例來說，需透過測試人員手動地插入或拔除每一張記憶卡。進一步，於測試流程中，需要各種不同的測試裝置，用以確保記憶卡之效能及相容性。如此一來，習知所使用之記憶卡測試流程不僅費時亦昂貴。
如前所述，因此，需要一種能夠節省成本及自動化執行之記憶卡測試裝置，毋須倚賴人力且能夠提升測試效 率，從而提供一種兼具成本考量、可靠且易實現之記憶卡測試流程。
一方面，本發明提供一種記憶卡測試裝置。該記憶卡測試裝置包括一主機、一資料庫、一處理單元及一介面。該主機用於存取一記憶卡。該資料庫維護複數測試腳本檔案。該處理單元耦接於該資料庫，根據對應於一待測裝置之一裝置識別值，及與該記憶卡相關聯之一通訊協定，該處理單元從一測試腳本檔案之中，選擇一測試項目。該介面連接於該處理單元及該主機，用以根據該測試項目，使該主機對該記憶卡執行至少一記憶卡命令。
另一方面，本發明提供一種記憶卡測試方法。該記憶卡測試方法之步驟包括：確認與一主機連接之一記憶卡相關聯之一通訊協定；將具有複數測試項目之一測試腳本檔案載入一處理單元；從該等測試項目選擇一測試項目；根據該測試項目，將至少一記憶卡命令，透過一介面傳送至該主機；對應於該測試項目，於該記憶卡上執行該至少一記憶卡命令；由該記憶卡取得一測試結果；以及根據該測試結果及該測試腳本檔案，確認該測試項目是否完成。除此之外，產生該測試腳本檔案之步驟包括：記錄由該待測裝置傳送至該記憶卡之複數請求封包，以 及對應於該等請求封包，記錄由該記憶卡產生之複數回應封包。
為使本發明之上述目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖示，詳細說明如下。
下文係說明本發明之較佳實施方式，用以更容易瞭解本發明，並非用以限制本發明。本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
第1圖係顯示根據本發明實施例之一記憶卡測試裝置10方塊圖。該記憶卡測試裝置10包括一主機110、一資料庫102、一處理單元106及一介面108。該主機110用於存取一記憶卡112。當該記憶卡112電性連接至該主機110時，根據與該記憶卡112相關聯之一通訊協定，該記憶卡112接著存取儲存於該記憶卡112之資料，用以進行資料傳送。於操作上，該資料庫102維護待執行之複數測試腳本檔案，以供每次進行記憶卡測試時使用，進而提供一種方便及快速的方式，用以改善記憶卡測試之流程。於一實施例中，每一測試腳本檔案包含複數之測試項目。舉例而言，每一測試項目可為一記憶卡辨識操作、一格式化操作、一刪除操作、一錄影操作、一熱插拔操作或一檔案播放操作。根據本發明之一實施例，每一測試腳本檔案 可為包括上述至少一種操作之一測試項目。更具體地，一測試腳本檔案104之挑選，係取決於一待測裝置所對應之一裝置識別值及該記憶卡112相關聯之該通訊協定。以下將配合第2圖，進一步詳述第1圖之該測試腳本檔案104之產生方式。
第2圖係顯示根據本發明實施例之產生測試腳本檔案方塊圖。如第2圖所示，一分析單元218，用以記錄該待測裝置，例如：一數位相機214，與一記憶卡212之間所執行之處理操作。上述處理操作包括將複數之請求封包，由該數位相機214之一主機(未圖示)，發送至該記憶卡212。每一請求封包係包括一操作程式碼，用以定義於該記憶卡212上所執行之該至少一記憶卡命令。除此之外，上述處理操作包括從該記憶卡212接收對應之複數回應封包。進一步，一轉譯單元216耦接於該分析單元218，用以記錄如該數位相機214之一消費性電子裝置之操作，並提供一特定測試腳本檔案給一資料庫202，例如：如第2圖所示之一測試腳本檔案204，其中，該測試腳本檔案204係以一既定格式傳送，而該既定格式係相關於該記憶卡212及該數位相機214之一通訊協定。該測試腳本檔案204可包含一個測試項目或幾個測試項目，而測試工程師可根據該消費性電子裝置之種類，對每一測試腳本檔案加 以命名。檔案之名稱可視為一裝置識別值。
參考第1圖，該處理單元106耦接於該資料庫102，用以選擇一或多個測試項目。於本發明之一實施例中，由該測試腳本檔案104挑選出來的一第一測試項目及一第二測試項目，可依序為一格式化操作及一錄影操作。接著，根據該第一測試項目，透過連接於該處理單元106及該主機110之該介面108，使該主機110能夠對該記憶卡112執行該至少一記憶卡命令。於此實施例中，當執行該第一測試項目之該格式化操作時，該主機110依序對該記憶卡112執行一或多個記憶卡命令。同時，該記憶卡112產生一測試結果，相關於上述一或多個記憶卡命令。該處理單元106更進一步比較該測試結果與該測試腳本檔案104。根據比較之結果，用以確認該第一測試項目之執行為失敗(fail)、成功(pass)或異常中止(abort)。
舉例來說，當在一既定時間內未取得該記憶卡112之該測試結果時，將一旗標(flag)標示於該第一測試項目，用以指示一異常中止結果。除此之外，當於該既定時間內取得該測試結果時，該處理單元106比較該測試結果與該測試腳本檔案104之一期望回應封包，用以確認該第一測試項目之執行是否成功或失敗。然後，於確認完該第一測試項目之執行後，將自動執行對應於該錄影操作之該第二 測試項目。再者，於本發明之另一實施例中，對應於不同之待測裝置，該處理單元106可同時載入不同之測試腳本檔案。於此實施例中，於測試該記憶卡112時，對應於不同待測裝置(例如：一數位相機、一移動式電話及一可攜式音樂播放器等)，可產生一程式或一批次檔案，用以執行一些測試腳本檔案之流程。
因此，該記憶卡測試裝置10可有效執行許多的測試項目或測試腳本檔案，不需手動地操作該等待測裝置(如第2圖所示之該數位相機214)，進而達到節省測試時間及提升測試效能之目的。
於本發明之一實施例中，該記憶卡測試裝置10可為一個人電腦、一嵌入式系統、一個人數位助理(PDA)或一手持式行動電話。進一步，值得一提的是，上述介於該處理單元106及該主機110間之該介面108，係為一通用串列匯流排(USB)介面、一串列先進技術附件(SATA)介面、一並列先進技術附件(PATA)介面、一通用輸入/輸出(GPIO)介面、一通用介面匯流排(GPIB)介面、一內部整合電路(I2 C)介面、一週邊組件互連(PCI)介面、一高速週邊組件互連(PCI－E)介面或一RS232介面。於操作中，根據測試之需求，第1圖之該記憶卡112可為一安全數位(SD)卡、一高容量安全數位(SDHC)卡、一多 媒體卡(MMC)、一嵌入式多媒體卡(eMMC)、一小型快閃(CF)卡、一記憶條(MS)卡、一高容量記憶條(MS Pro)卡、一先端數位(XD)卡、一先進技術附件(ATA)卡、一個人電腦記憶卡國際協會(PCMCIA)卡或一固態磁碟(SSD)卡。
第3圖係顯示根據本發明實施例之一記憶卡測試方法流程圖。如前所述，該流程始於確認與一主機連接之一記憶卡相關聯之一通訊協定(步骤S302)。根據本發明之一實施例，該記憶卡可為一安全數位(SD)卡、一高容量安全數位(SDHC)卡、一多媒體卡(MMC)、一嵌入式多媒體卡(eMMC)、一小型快閃(CF)卡、一記憶條(MS)卡、一高容量記憶條(MS Pro)卡、一先端數位(XD)卡、一先進技術附件(ATA)卡、一個人電腦記憶卡國際協會(PCMCIA)卡或一固態磁碟(SSD)卡。舉例而言，當一安全數位(SD)卡插入該主機110(第1圖)時，該處理單元106便可確認/偵測出該通訊協定(安全數位協定)，並提供與安全數位卡相關之測試腳本檔案以供選擇。
之後，根據該通訊協定及一待測裝置所對應之一裝置識別值，將包括至少一測試項目之一測試腳本檔案載入至一處理單元中(步驟S304)。需注意，該處理單元可為一個人電腦、一嵌入式系統、一個人數位助理(PDA)或一 手持式行動電話。
接著，執行所選擇之該至少一測試項目(步驟S306)。於本發明之一實施例中，所挑選的兩個測試項目，例如：一第一測試項目及一第二測試項目，將依序對該記憶卡執行一格式化操作及一錄影操作。於此情況下，於選擇完該測試項目後，對應於一目前測試項目(例如：該第一測試項目)之至少一記憶卡命令，將透過一介面被傳送至該主機(步驟S308)。
因此，於該記憶卡上，將執行與該目前測試項目有關之該至少一記憶卡命令(步驟S310)。
針對該目前測試項目，當該至少一記憶卡命令之所有程序執行完畢後，隨即記錄或顯示由該記憶卡產生之一測試結果(步驟S312)。比對該測試結果與該測試腳本檔案，用以更具體地確認該第一測試項目之執行為失敗、成功或異常中止。值得注意的是，該確認之操作與前述實施例大致相同，因此，為簡化說明，於此不加以贅述。
最後，於該測試腳本檔案中，確認該處理單元是否已執行所有選擇之測試項目(步驟S314)。若所有選擇之測試項目尚未執行完畢，將重覆上述之操作，用以執行下一測試項目。若所有選擇之測試項目已執行完畢，則完成該測試腳本檔案之操作。如上所述，該處理單元可依序執行 一或多個具相同通訊協定，但各自對應不同待測裝置之測試腳本檔案。如此一來，記憶卡測試之效能得以提升。
亦需注意，根據測試之需求，於該處理單元及該主機間之該介面108，可為一通用串列匯流排(USB)介面、一串列先進技術附件(SATA)介面、一並列先進技術附件(PATA)介面、一通用輸入/輸出(GPIO)介面、一通用介面匯流排(GPIB)介面、一內部整合電路(I2 C)介面、一週邊組件互連(PCI)介面、一高速週邊組件互連(PCI－E)介面或一RS232介面。
第4圖係顯示根據本發明實施例之產生測試腳本檔案操作流程圖。首先，透過一錄製裝置，如第2圖所示之一分析單元218，記錄由一待測裝置傳送至一記憶卡之複數請求封包(步驟S402)。於前述說明中，每一請求封包係包括一操作程式碼，用以定義於該記憶卡上所執行之該至少一記憶卡命令。例如，當於一數位相機之該記憶卡上執行一格式化操作時，將於該記憶卡上，依序地執行一既定請求封包所定義之一或多個記憶卡命令。接下來，對應於該等請求封包，將由該記憶卡產生之複數回應封包記錄起來(步驟S404)。於此實施例中，該對應之回應封包係包含確認該格式化操作之資訊。最後，將產生一測試腳本檔案，並將該測試腳本檔案轉換至對應於該記憶卡及該待測 裝置之一既定格式(步骤S406)。
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟悉此項技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可做些許更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧記憶卡測試裝置
102、202‧‧‧資料庫
104、204‧‧‧測試腳本檔案
106‧‧‧處理單元
108‧‧‧介面
110‧‧‧主機
112、212‧‧‧記憶卡
214‧‧‧數位相機
216‧‧‧轉譯單元 以及
218‧‧‧分析單元
第1圖係顯示根據本發明實施例之一記憶卡測試裝置方塊圖；第2圖係顯示根據本發明實施例之產生測試腳本檔案方塊圖；第3圖係顯示根據本發明實施例之一記憶卡測試方法流程圖；以及第4圖係顯示根據本發明實施例之產生測試腳本檔案操作流程圖。
10‧‧‧記憶卡測試裝置
102‧‧‧資料庫
104‧‧‧測試腳本檔案
106‧‧‧處理單元
108‧‧‧介面
110‧‧‧主機 及
112‧‧‧記憶卡

Claims (14)

  1. 一種記憶卡測試裝置，包括：一主機，用以存取一記憶卡；一資料庫，用以維護複數測試腳本檔案，其中，每一測試腳本檔案包括至少一測試項目及一通訊協定，該測試項目取決於一待測裝置所對應的一裝置識別值，而該通訊協定與該記憶卡相關聯；一處理單元，耦接於該資料庫，用以從一測試腳本檔案之中，選擇一測試項目；以及一介面，連接於該處理單元及該主機，用以根據該測試項目，使該主機對該記憶卡執行至少一記憶卡命令，其中，該處理單元藉由比較該記憶卡之一測試結果及該測試腳本檔案，用以確認是否已完成該測試項目。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之記憶卡測試裝置，更包括：一分析單元，用以記錄該待測裝置與該記憶卡之間所執行之處理操作，其中，該處理操作包括傳送至該記憶卡之複數請求封包，以及對應於該等請求封包，由該記憶卡所接收之複數回應封包；以及一轉譯單元，耦接於該分析單元，用以產生具有一既定格式之該測試腳本檔案，以及對應於該待測裝置之該裝置識別值，其中，每一請求封包係包括一操作程式碼，用以定義於該記憶卡上所執行之該至少一記憶卡命令。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之記憶卡測試裝置，其中，該處 理單元進一步確認是否超過一既定時間而未取得該測試結果。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之記憶卡測試裝置，其中，當於該既定時間內取得該測試結果時，該處理單元更進一步確認該測試結果是否符合該測試腳本檔案之一期望回應封包。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之記憶卡測試裝置，其中，該記憶卡測試裝置係為一個人電腦、一嵌入式系統、一個人數位助理(PDA)或一手持式行動電話。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之記憶卡測試裝置，其中，介於該處理單元及該主機之間的該介面，係為一通用串列匯流排(USB)介面、一串列先進技術附件(SATA)介面、一並列先進技術附件(PATA)介面、一通用輸入/輸出(GPIO)介面、一通用介面匯流排(GPIB)介面、一內部整合電路(I2 C)介面、一週邊組件互連(PCI)介面、一高速週邊組件互連(PCI－E)介面或一RS232介面。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之記憶卡測試裝置，其中，該記憶卡係為一安全數位(SD)卡、一高容量安全數位(SDHC)卡、一多媒體卡(MMC)、一嵌入式多媒體卡(eMMC)、一小型快閃(CF)卡、一記憶條(MS)卡、一高容量記憶條(MS Pro)卡、一先端數位(XD)卡、一先進技術附件(ATA)卡、一個人電腦記憶卡國際協會(PCMCIA)卡或一固態磁碟(SSD)卡。
  8. 一種記憶卡測試方法，包括：確認與一主機連接之一記憶卡相關聯之一通訊協定； 根據該通訊協定及一裝置識別值，將具有複數測試項目之一測試腳本檔案載入一處理單元，該裝置識別值對應於一待測裝置；從該等測試項目選擇一測試項目；根據該測試項目，將至少一記憶卡命令，透過一介面傳送至該主機；對應於該測試項目，於該記憶卡上執行該至少一記憶卡命令；由該記憶卡取得一測試結果；以及根據該測試結果及該測試腳本檔案，確認該測試項目是否完成。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之記憶卡測試方法，其中，產生該測試腳本檔案之步驟包括：記錄由該待測裝置傳送至該記憶卡之複數請求封包，其中，每一請求封包係包括一操作程式碼，用以定義於該記憶卡上所執行之該至少一記憶卡命令；對應於該等請求封包，記錄由該記憶卡產生之複數回應封包；以及對應於該待測裝置，產生具有一既定格式之該測試腳本檔案。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之記憶卡測試方法，其中，確認該測試項目是否完成之步驟包括：確認是否超過一既定時間而未取得該測試結果。
  11. 如申請專利範圍第10項所述之記憶卡測試方法，更包括：當於該既定時間內取得該測試結果時，確認該測試結果是否符合 該測試腳本檔案之一期望回應封包。
  12. 如申請專利範圍第8項所述之記憶卡測試方法，其中，該記憶卡測試方法可操作於一個人電腦、一嵌入式系統、一個人數位助理(PDA)或一手持式行動電話。
  13. 如申請專利範圍第8項所述之記憶卡測試方法，其中，介於該處理單元及該主機之間的該介面，係為一通用串列匯流排(USB)介面、一串列先進技術附件(SATA)介面、一並列先進技術附件(PATA)介面、一通用輸入/輸出(GPIO)介面、一通用介面匯流排(GPIB)介面、一內部整合電路(I2 C)介面、一週邊組件互連(PCI)介面、一高速週邊組件互連(PCI－E)介面或一RS232介面。
  14. 如申請專利範圍第8項所述之記憶卡測試方法，其中，該記憶卡係為一安全數位(SD)卡、一高容量安全數位(SDHC)卡、一多媒體卡(MMC)、一嵌入式多媒體卡(eMMC)、一小型快閃(CF)卡、一記憶條(MS)卡、一高容量記憶條(MS Pro)卡、一先端數位(XD)卡、一先進技術附件(ATA)卡、一個人電腦記憶卡國際協會(PCMCIA)卡或一固態磁碟(SSD)卡。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11409452B2 (en) 2019-01-18 2022-08-09 Silicon Motion Inc. Initialization methods and associated controller, memory device and host
US11625345B2 (en) 2019-01-18 2023-04-11 Silicon Motion Inc. Methods, flash memory controller, and electronic device for SD memory card device

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101738550B (zh) * 2008-11-14 2013-03-20 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 电子装置测试装置及测试方法
CN101996116A (zh) * 2009-08-10 2011-03-30 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 测试方法
US9454325B2 (en) * 2009-11-04 2016-09-27 Broadcom Corporation Method and system for offline data access on computer systems
US8732663B2 (en) * 2010-02-24 2014-05-20 Salesforce.Com, Inc. System, method and computer program product for providing automated testing by utilizing a preconfigured point of entry in a test or by converting a test to a predefined format
US8479054B2 (en) * 2010-04-21 2013-07-02 Nintendo Of America Inc. SD card memory tool
CN103000228A (zh) * 2011-09-08 2013-03-27 上海宝信软件股份有限公司 存储设备的测试方法及系统
CN102355515A (zh) * 2011-10-13 2012-02-15 广东欧珀移动通信有限公司 一种手机文件操作的自动化测试方法
CN103077743B (zh) * 2011-10-25 2015-08-05 慧荣科技股份有限公司 内嵌闪存卡烧机方法以及测试板、以及内嵌闪存卡
CN103294577A (zh) * 2012-03-01 2013-09-11 英华达（上海）科技有限公司 调整诊断程序中测试项目顺序的检测系统及其方法
KR101922109B1 (ko) 2012-07-18 2018-11-26 삼성전자주식회사 기억 장치 테스트 시스템
CN102801583B (zh) * 2012-07-27 2016-09-28 深圳市文鼎创数据科技有限公司 移动平台key的测试方法及系统
KR102506135B1 (ko) 2015-03-16 2023-03-07 삼성전자주식회사 데이터 저장 장치와 이를 포함하는 데이터 처리 시스템
CN105068909B (zh) * 2015-08-13 2017-09-12 北京京存技术有限公司 一种内嵌式存储器的模拟测试开发平台
CN105185414A (zh) * 2015-09-15 2015-12-23 北京京存技术有限公司 一种测试方法和装置
CN106814302A (zh) * 2015-12-02 2017-06-09 北京京存技术有限公司 一种eMMC测试电路
CN107704376B (zh) * 2016-08-11 2023-07-07 福建省天奕网络科技有限公司 游戏自动化测试方法及其系统
CN108231128A (zh) * 2016-12-15 2018-06-29 北京兆易创新科技股份有限公司 一种emmc测试方法及装置
CN108231126A (zh) * 2016-12-15 2018-06-29 北京兆易创新科技股份有限公司 一种emmc测试方法及装置
CN108228400A (zh) * 2016-12-15 2018-06-29 北京兆易创新科技股份有限公司 一种emmc测试方法及装置
CN108231130B (zh) * 2016-12-15 2021-05-04 北京兆易创新科技股份有限公司 一种eMMC测试方法及装置
CN108231127A (zh) * 2016-12-15 2018-06-29 北京兆易创新科技股份有限公司 一种emmc测试方法及装置
CN106841977A (zh) * 2016-12-21 2017-06-13 广州视源电子科技股份有限公司 板卡的测试方法及系统
CN107295142A (zh) * 2017-07-25 2017-10-24 北京小米移动软件有限公司 终端处理方法、装置及服务器
CN110749813B (zh) * 2018-07-24 2022-05-13 华邦电子股份有限公司 测试系统及适应性测试制法产生方法
CN111192623B (zh) * 2018-11-14 2022-02-01 慧荣科技股份有限公司 自动化测试的方法、计算机装置以及用户接口
CN111370049B (zh) * 2018-12-25 2022-03-29 北京兆易创新科技股份有限公司 一种eMMC芯片测试方法和装置
CN209418157U (zh) * 2018-12-26 2019-09-20 深圳市江波龙电子股份有限公司 一种用于测试存储卡的测试板及测试设备
CN110781046B (zh) * 2019-11-04 2023-06-02 深圳芯邦科技股份有限公司 Usb移动存储设备质量检测系统、方法及相关组件
CN111625407B (zh) * 2020-05-22 2022-12-16 苏州浪潮智能科技有限公司 Ssd性能测试方法及相关组件
CN112363969A (zh) * 2020-11-11 2021-02-12 歌尔科技有限公司 一种接口调试方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN112799958A (zh) * 2021-02-23 2021-05-14 长鑫存储技术有限公司 设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质
CN113035267B (zh) * 2021-03-25 2022-05-13 长江存储科技有限责任公司 一种半导体测试装置、数据处理方法、设备及存储介质
CN114067901A (zh) * 2022-01-17 2022-02-18 深圳市安信达存储技术有限公司 嵌入式存储芯片的集群测试方法、测试终端及存储介质
US11966309B2 (en) * 2022-06-30 2024-04-23 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Saturation of multiple PCIe slots in a server by multiple ports in a single test card

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW508537B (en) * 1998-08-19 2002-11-01 Hitachi Ltd Manufacturing method of IC card
US6704891B2 (en) * 2000-01-18 2004-03-09 Rambus Inc. Method for verifying and improving run-time of a memory test
TW579524B (en) * 2002-09-12 2004-03-11 Samsung Electro Mech Apparatus and method for processing defects in memories
TWI263888B (en) * 2003-02-24 2006-10-11 Silicon Motion Inc Storage system and testing method thereof
US20060289659A1 (en) * 2005-06-24 2006-12-28 Nagamasa Mizushima Storage device

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6002868A (en) * 1996-12-31 1999-12-14 Compaq Computer Corporation Test definition tool
US6002871A (en) * 1997-10-27 1999-12-14 Unisys Corporation Multi-user application program testing tool
CN1156757C (zh) * 2000-05-19 2004-07-07 英业达股份有限公司 自动测试个人计算机存储卡国际协会卡的方法
US7610331B1 (en) * 2000-09-13 2009-10-27 Lightsurf Technologies, Inc. System and method for dynamic uploading and execution of applications and drivers between devices
US7225357B2 (en) * 2003-01-21 2007-05-29 Zentek Technology Japan, Inc. SDIO card development system
TW200530800A (en) * 2004-03-12 2005-09-16 Hon Hai Prec Ind Co Ltd System and method for rapidly diagnosing and testing computer hardware

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW508537B (en) * 1998-08-19 2002-11-01 Hitachi Ltd Manufacturing method of IC card
US6704891B2 (en) * 2000-01-18 2004-03-09 Rambus Inc. Method for verifying and improving run-time of a memory test
TW579524B (en) * 2002-09-12 2004-03-11 Samsung Electro Mech Apparatus and method for processing defects in memories
TWI263888B (en) * 2003-02-24 2006-10-11 Silicon Motion Inc Storage system and testing method thereof
US20060289659A1 (en) * 2005-06-24 2006-12-28 Nagamasa Mizushima Storage device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11409452B2 (en) 2019-01-18 2022-08-09 Silicon Motion Inc. Initialization methods and associated controller, memory device and host
TWI785249B (zh) * 2019-01-18 2022-12-01 慧榮科技股份有限公司 初始化方法及關聯控制器、記憶體裝置及主機
US11625345B2 (en) 2019-01-18 2023-04-11 Silicon Motion Inc. Methods, flash memory controller, and electronic device for SD memory card device
TWI812398B (zh) * 2019-01-18 2023-08-11 慧榮科技股份有限公司 初始化方法及關聯控制器、記憶體裝置及主機
US11726686B2 (en) 2019-01-18 2023-08-15 Silicon Motion Inc. Initialization methods and associated controller, memory device and host

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