CN112799958A - 设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质,所述方法包括:向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列;根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。本申请通过利用待测设备本身的设备标识作为桥梁,建立待测设备的测试结果与向该待测设备写入的测试标识的对应关系,并输出对应相应的测试标识的测试结果,测试成本低,效率高且可移植性好。
Description
技术领域
本申请涉及自动化测试技术领域,具体涉及一种设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质。
背景技术
随着半导体与集成电路技术的快速发展,市场对芯片产品的需求量越来越大,对芯片供应商生产效率的要求越来越高。为了提高芯片的供货质量,需要不断地提高对制成芯片的测试能力及测试效率。
传统的对芯片测试的方法很难实现对多个待测平台同时控制,不适用于芯片的批量化测试,测试程序移植性差;并且对主控设备与各待测平台之间的通讯能力要求很高,严重制约芯片批量化测试的能力与效率。如何实现对制成芯片的批量化高效测试,成为进一步提高芯片供应商供货能力及供货效率的关键因素之一。
发明内容
基于此,有必要针对上述背景技术中的问题,提供一种能够对设备批量化高效测试的设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质,以有效提高设备产品的供货效率及供货质量。
为实现上述目的及其他目的,本申请的第一方面提供一种设备批量测试的方法,用于批量化测试多个待测设备,所述方法包括:
向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;
获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列;
根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;
生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。
于上述实施例中的设备批量测试的方法中,通过预先设计好各待测设备的测试标识,其中,不同待测设备的测试标识不同,然后向各所述待测设备写入对应的测试标识,再获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列,以根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,使得各所述待测设备执行对应的测试用例,从而获取各所述待测设备的包括对应的测试标识的测试结果,实现对设备批量化高效测试,以有效提高设备产品的供货效率及供货质量。由于本申请通过利用待测设备本身的设备标识作为桥梁,建立待测设备的测试结果与向该待测设备写入的测试标识的对应关系,并输出对应相应的测试标识的测试结果,测试成本低,效率高且可移植性好。
在其中一个实施例中,在向各所述待测设备写入对应的测试标识之前,还包括:
获取各所述待测设备的测试标识。
在其中一个实施例中,所述测试标识为用户自定义的测试标识。
在其中一个实施例中,所述获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列包括:
获取各所述待测设备的属性数据并将所述属性数据保存至第一预设文件;
根据所述第一预设文件利用对应的解析规则获取具有各所述待测设备的设备标识序列的第二预设文件。
在其中一个实施例中,所述根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例包括:
按照所述第二预设文件中的所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例。
在其中一个实施例中,所述获取各所述待测设备的测试结果包括:
根据所述设备标识序列依次将所述待测设备的测试结果,生成以包括对应的测试标识的名称命名的标识测试结果文件。
在其中一个实施例中,所述设备批量测试的方法还包括:
以预定格式输出各所述待测设备的测试结果。
在其中一个实施例中,所述以预定格式输出各所述待测设备的测试结果包括:
输出测试结果文件夹,所述文件夹中包括各所述待测设备的标识测试结果文件。
在其中一个实施例中,各所述测试用例为在同一批量自动化测试框架下根据测试需求所编写。
在其中一个实施例中,所述待测设备包括存储芯片。
在其中一个实施例中,所述存储芯片包括动态随机存取存储器芯片。
在其中一个实施例中,至少两个所述待测设备对应的测试用例不同。
本申请的第二方面提供一种设备批量测试的装置,用于批量化测试多个待测设备,所述装置包括测试标识写入模块、设备标识序列生成模块、测试用例发送模块及测试结果生成模块,所述测试标识写入模块用于向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;所述设备标识序列生成模块用于获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列;所述测试用例发送模块用于根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;所述测试结果生成模块用于生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。
于上述实施例中的设备批量测试的装置中,通过测试标识写入模块向各所述待测设备写入对应的测试标识,并通过设备标识序列生成模块获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列,再利用测试用例发送模块根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,使得各所述待测设备执行对应的测试用例,从而基于测试结果生成模块获取各所述待测设备的包括对应的测试标识的测试结果,实现对设备批量化高效测试,以有效提高设备产品的供货效率及供货质量。由于本申请通过利用待测设备本身的设备标识作为桥梁,建立待测设备的测试结果与向该待测设备写入的测试标识的对应关系,并输出对应相应的测试标识的测试结果,测试成本低,效率高且可移植性好。
在其中一个实施例中,所述设备批量测试的装置还包括测试标识获取模块,所述测试标识获取模块用于获取各所述待测设备的测试标识,所述测试标识为用户自定义的测试标识。
在其中一个实施例中,所述测试结果生成模块包括测试结果文件生成单元,所述测试结果文件生成单元用于根据所述设备标识序列依次将所述待测设备的测试结果,生成以包括对应的测试标识的名称命名的标识测试结果文件。
在其中一个实施例中,各所述测试用例为在同一批量自动化测试框架下根据测试需求所编写,且至少两个所述待测设备对应的测试用例不同。
在其中一个实施例中,所述待测设备包括存储芯片。
本申请的第三方面提供一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现任一本申请实施例中所述的设备批量测试的方法的步骤。
本申请的第四方面提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现任一本申请实施例中所述的设备批量测试的方法的步骤。
于上述实施例中的计算机设备及计算机可读存储介质中,通过预先设计好各待测设备的测试标识,其中,不同待测设备的测试标识不同,然后向各所述待测设备写入对应的测试标识,再获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列,以根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,使得各所述待测设备执行对应的测试用例,从而获取各所述待测设备的包括对应的测试标识的测试结果,实现对设备批量化高效测试,以有效提高设备产品的供货效率及供货质量。由于本申请通过利用待测设备本身的设备标识作为桥梁,建立待测设备的测试结果与向该待测设备写入的测试标识的对应关系,并输出对应相应的测试标识的测试结果,测试成本低,效率高且可移植性好。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他实施例的附图。
图1为本申请第一实施例中提供的一种多设备批量测试的方法的应用场景示意图;
图2为本申请第二实施例中提供的一种多设备批量测试的方法的流程示意图;
图3为本申请第三实施例中提供的一种多设备批量测试的方法的流程示意图;
图4为本申请第四实施例中提供的一种多设备批量测试的方法的流程示意图;
图5为本申请第五实施例中提供的一种多设备批量测试的方法的流程示意图;
图6为本申请第六实施例中提供的一种多设备批量测试的方法的流程示意图;
图7为本申请第七实施例中提供的一种多设备批量测试的方法的流程示意图;
图8为本申请第八实施例中提供的一种多设备批量测试的方法的流程示意图;
图9为本申请第九实施例中提供的一种多设备批量测试的结构框图;
图10为本申请第十实施例中提供的一种多设备批量测试的结构框图;
图11为本申请第十一实施例中提供的一种多设备批量测试的结构框图;
图12为本申请第十二实施例中提供的一种计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
为了便于理解本申请,下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳的实施例。但是,本申请可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容的理解更加透彻全面。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本申请。在使用本文中描述的“包括”、“具有”、和“包含”的情况下,除非使用了明确的限定用语,例如“仅”、“由……组成”等,否则还可以添加另一部件。除非相反地提及,否则单数形式的术语可以包括复数形式,并不能理解为其数量为一个。
应当理解,尽管本文可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件,但是这些元件不应受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个元件和另一个元件区分开。例如,在不脱离本申请的范围的情况下,第一元件可以被称为第二元件,并且类似地,第二元件可以被称为第一元件。
以测试动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory,DRAM)芯片为例,来说明本申请的发明动机及实现原理。在对DRAM芯片测试验证的过程中,一些测试程序需要在测试平台系统层面运行,主控电脑需要发送命令给各个接入的测试平台执行测试程序。由于一台电脑会同时接入多个测试平台,需要知道命令发送给哪个测试平台,所以需要一种能识别各个测试平台的方法。传统的识别各个测试平台的方法主要包括如下两种:
1)把测试程序做成应用程序,直接在平台里面点击运行;
2)通过命令行输入命令到平台内并执行命令;
3)通过无线局域网(wifi)作为中间媒介来控制各个测试平台。
对于上述第一种方法,由于需要点击运行应用程序,需要测试平台有屏幕,并且很难同时控制多个平台,因此对平台的硬件资源要求较高且执行效率低。对于上述第二种方法,其实施需要主控电脑能识别出各测试平台作为前提条件,如果通过异步收发传输器(Universal Asynchronous Transmitter,UART)来识别出不同的平台,需要测试平台具备UART接口,且很难通过UART接口同时向多测试平台输入命令,并且不能满足大规模批量化测试的需求,测试方法移植性差。对于上述第三种方法,其实施需要平台支持wifi,需要单独编写应用程序并将应用程序安装到各测试平台内,来接收主控电脑通过wifi发送的命令,并把测试状态通过wifi反馈给主控电脑,测试准备工作量繁重,且一旦wifi信号中断,会造成主控电脑与各测试平台之间通讯信号丢失,甚至造成测试中断,因此,该测试方法仍然很难满足大规模批量化测试的需求,尤其不能满足对DRAM芯片大规模批量化测试的需求。
鉴于使用UART接口和wifi来实现设备的批量化测试的限制条件太多,很难通用,且不方便批量化操作,本申请提出采用USB接口实现主控设备与多个测试平台的信息交互。
作为示例,在本申请的一个实施例中,提供了一种设备批量测试方法,用于批量化测试多个待测设备,可以应用于如图1所示的应用环境中,例如应用于主控设备201中,主控设备201通过串行总线(Universal Serial Bus,USB)与多个待测设备10i连接,i为大于或等于2的正整数,用于实现对多个待测设备的批量化测试。其中,主控设备201可以为是主控终端,例如是笔记本、台式机或工控机等,用于控制多个待测设备10i批量化测试。待测设备10i可以为智能电子产品或存储芯片等,例如待测设备10i可以是DRAM芯片。
作为示例,请参考图2,在本申请的一个实施例中,提供了一种设备批量测试方法,用于批量化测试多个待测设备,所述方法包括以下步骤:
步骤22,向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;
步骤24,获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列;
步骤26,根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;
步骤28,生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。
具体地,请继续参考图2,通过预先设计好各待测设备的测试标识,其中,不同待测设备的测试标识不同,测试标识可以作为待测设备的测试专用名称,可以用字符、数字或字母等中的一种或多种来形成测试标识;然后向各所述待测设备写入对应的测试标识,以便于后续建立待测设备的测试结果与对应的测试标识之间的映射关系;然后获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列,以根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,使得各所述待测设备执行对应的测试用例,各所述测试用例为在同一批量自动化测试框架下根据测试需求所编写,且至少两个所述待测设备对应的测试用例不同;从而获取各所述待测设备的包括对应的测试标识的测试结果,实现对设备批量化高效测试,以有效提高设备产品的供货效率及供货质量。由于本申请通过利用待测设备本身的设备标识作为桥梁,建立待测设备的测试结果与向该待测设备写入的测试标识的对应关系,并输出对应相应的测试标识的测试结果,测试成本低,效率高且可移植性好。
进一步地,请参考图3,在本申请的一个实施例中,在向各所述待测设备写入对应的测试标识之前,还包括:
步骤21,获取各所述待测设备的测试标识。
作为示例,主控设备可以是具有可操作界面的终端,主控设备的界面可以显示输入窗口,也可以显示网页,用户可通过输入窗口输入数据,也可对网页进行浏览,获取本地存储的或者是与该主控设备通过网络连接的服务器或其他存储设备上存储的数据。该网络应用可以是浏览器或者其他可以显示页面内容的应用程序(例如工控软件应用和即时通信应用等)。在网页中可显示用于输入待测设备对应的测试标识的输入窗口,用户可以经由该输入窗口输入待测设备对应的测试标识,还可以在待测设备的本体上贴上待测设备对应的测试标识,以便于用户直观地辨识各待测设备,其中,不同待测设备的测试标识不同,所述测试标识可以为用户自定义的测试标识,测试标识可以作为待测设备的测试专用名称,可以包括字符、数字或字母等中的一种或多种。
进一步地,请参考图4,在本申请的一个实施例中,所述获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列包括:
步骤242,获取各所述待测设备的属性数据并将所述属性数据保存至第一预设文件;
步骤244,根据所述第一预设文件利用对应的解析规则获取具有各所述待测设备的设备标识序列的第二预设文件。
作为示例,请继续参考图1和图4,待测设备10i在通过USB与主控设备201通信互联时,会向主控设备201申请一个临时编号transport_id_i,可以利用第一查看命令例如是adb命令,获取与主控设备201经由USB连接的所有的待测设备10i的属性数据,并将所述属性数据保存至第一预设文件,然后根据所述第一预设文件利用对应的解析规则,将待测设备10i的属性数据中的transport_id_i解析到第二预设文件,以获取具有各所述待测设备的设备标识序列的第二预设文件。以便于后续利用待测设备本身的设备标识transport_id_i作为桥梁,建立待测设备的测试结果与向该待测设备写入的测试标识hostname_i的对应关系,并输出对应相应的测试标识hostname_i的测试结果,测试成本低,效率高且可移植性好,i为大于或等于2的正整数。
进一步地,请参考图5,在本申请的一个实施例中,所述根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例包括:
步骤262,按照所述第二预设文件中的所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例。
作为示例,请继续参考图1和图5,由于当待测设备10i断开与主控设备201的连接之后再一次与主控设备201连接时,会重新向主控设备201申请一个不同的临时编号,即,这个临时编号是不固定的,所以不能通过将待测设备10i首次获取的临时编号transport_id_i与该待测设备10i固定绑定,来获取包括待测设备10i的固定编号的测试结果,i为大于或等于2的正整数。因此,需要获取与各待测设备绑定的固定编号来获取与该固定编号对应的测试结果,避免将不同待测设备的测试结果混淆,实现对多个待测设备的批量化测试。在获取到具有各所述待测设备的设备标识序列的第二预设文件之后,按照所述第二预设文件中的所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例,便于获取与所述设备标识序列一一对应的测试结果,并获取与所述设备标识序列一一对应的测试标识,从而可以获取到包括待测设备对应的测试标识的测试结果,即,获取与各待测设备绑定的固定编号对应的测试结果,以有效避免将不同待测设备的测试结果混淆,实现对多个待测设备的批量化测试。
进一步地,请参考图6,在本申请的一个实施例中,所述获取各所述待测设备的测试结果包括:
步骤282,根据所述设备标识序列依次将所述待测设备的测试结果,生成以标识名称命名的标识测试结果文件,所述标识名称包括对应的测试标识。
作为示例,请继续参考图1与图6,在按照所述第二预设文件中的所述设备标识序列依次向各待测设备10i发送对应的测试用例后,各待测设备10i执行对应的测试用例并生成对应的测试结果;可以通过第二查看命令获取各待测设备10i的测试标识,然后根据所述设备标识序列依次将待测设备10i的测试结果,生成以标识名称命名的标识测试结果文件,所述标识名称包括对应的测试标识。对于安装有andriod系统的主控设备201来说,可以通过adb shell命令获取各待测设备10i的测试标识hostname_i,i为大于或等于2的正整数,然后根据所述设备标识序列依次将待测设备10i的测试结果,生成以标识名称命名的标识测试结果文件,所述标识名称可以包括对应的测试标识,以有效避免将不同待测设备的测试结果混淆,实现对多个待测设备的批量化测试。
进一步地,请参考图7,在本申请的一个实施例中,所述设备批量测试的方法还包括:
步骤29,以预定格式输出各所述待测设备的测试结果。
作为示例,请继续参考图7,在生成以标识名称命名的标识测试结果文件之后,其中,所述标识名称包括对应的测试标识,以预定格式输出各所述待测设备的测试结果,便于用户直接获取想要的测试结果。
作为示例,请参考图8,在本申请的一个实施例中,所述以预定格式输出各所述待测设备的测试结果包括:
步骤292,输出测试结果文件夹,所述文件夹中包括各所述待测设备的标识测试结果文件。
通过直接输出包括各所述待测设备的标识测试结果文件的测试结果文件夹,便于用户直接经由所述测试结果文件夹查看测试结果,也便于用户复制、分析、处理、转化、传播或保存测试结果。
应该理解的是,虽然图2-图8的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的依次限制,这些步骤可以以其它的依次执行。而且,虽然图2-图8中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行依次也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
进一步地,请参考图9,在本申请的一个实施例中,提供了一种设备批量测试的装置,用于批量化测试多个待测设备,所述装置包括测试标识写入模块12、设备标识序列生成模块14、测试用例发送模块16及测试结果生成模块18,测试标识写入模块12用于向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;设备标识序列生成模块14用于获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列;测试用例发送模块16用于根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;测试结果生成模块18用于生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。
具体地,请继续参考图9,通过测试标识写入模块12向各所述待测设备写入对应的测试标识,并通过设备标识序列生成模块14获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列,再利用测试用例发送模块16根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,使得各所述待测设备执行对应的测试用例,各所述测试用例为在同一批量自动化测试框架下根据测试需求所编写,且至少两个所述待测设备对应的测试用例不同,从而基于测试结果生成模块18获取各所述待测设备的包括对应的测试标识的测试结果,实现对设备批量化高效测试,以有效提高设备产品的供货效率及供货质量。由于本申请通过利用待测设备本身的设备标识作为桥梁,建立待测设备的测试结果与向该待测设备写入的测试标识的对应关系,并输出对应相应的测试标识的测试结果,测试成本低,效率高且可移植性好。
进一步地,请参考图10,在本申请的一个实施例中,所述设备批量测试的装置还包括测试标识获取模块11,测试标识获取模块11用于获取各所述待测设备的测试标识,所述测试标识为用户自定义的测试标识。其中,不同待测设备的测试标识不同,所述测试标识可以为用户自定义的测试标识,测试标识可以作为待测设备的测试专用名称,可以包括字符、数字或字母等中的一种或多种。通过向各所述待测设备写入对应的测试标识,以将写入的测试标识作为待测设备的固定编号与待测设备绑定,便于获取与各待测设备绑定的固定编号来获取与该固定编号对应的测试结果,避免将不同待测设备的测试结果混淆,实现对多个待测设备的批量化测试。
进一步地,请参考图11,在本申请的一个实施例中,测试结果生成模块18包括测试结果文件生成单元181,测试结果文件生成单元181用于根据所述设备标识序列依次将所述待测设备的测试结果,生成以标识名称命名的标识测试结果文件,所述标识名称包括对应的测试标识,以直接输出包括各所述待测设备的标识测试结果文件的测试结果文件夹,便于用户直接经由所述测试结果文件夹查看测试结果,也便于用户复制、分析、处理、转化、传播或保存测试结果。
在本申请的一个实施例中,所述待测设备包括存储芯片,例如DRAM芯片。
上述多设备批量测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
进一步地,在本申请的一个实施例中,提供了一种计算机设备,该计算机设备可以是终端,其内部结构图可以如图12所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该计算机程序被处理器执行时以实现一种设备批量测试的方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解,图12中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在本申请的一个实施例中,提供了一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,处理器执行计算机程序时实现以下步骤:
向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;
获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列;
根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;
生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。
在本申请的一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
获取各所述待测设备的测试标识;
向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;
获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列;
根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;
生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。
在本申请的一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
获取各所述待测设备的测试标识;
向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;
获取各所述待测设备的属性数据并将所述属性数据保存至第一预设文件;
根据所述第一预设文件利用对应的解析规则获取具有各所述待测设备的设备标识序列的第二预设文件;
根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;
生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。
在本申请的一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
获取各所述待测设备的测试标识;
向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;
获取各所述待测设备的属性数据并将所述属性数据保存至第一预设文件;
根据所述第一预设文件利用对应的解析规则获取具有各所述待测设备的设备标识序列的第二预设文件;
按照所述第二预设文件中的所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例;
生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。
在本申请的一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
获取各所述待测设备的测试标识;
向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;
获取各所述待测设备的属性数据并将所述属性数据保存至第一预设文件;
根据所述第一预设文件利用对应的解析规则获取具有各所述待测设备的设备标识序列的第二预设文件;
按照所述第二预设文件中的所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;
生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识;
以预定格式输出各所述待测设备的测试结果。
在本申请的一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:
获取各所述待测设备的测试标识;
向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;
获取各所述待测设备的属性数据并将所述属性数据保存至第一预设文件;
根据所述第一预设文件利用对应的解析规则获取具有各所述待测设备的设备标识序列的第二预设文件;
按照所述第二预设文件中的所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;
生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识;
输出测试结果文件夹,所述文件夹中包括各所述待测设备的标识测试结果文件。
在本申请的一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现任一本申请实施例中所述的设备批量测试的方法的步骤。
关于上述实施例中的计算机可读存储介质的具体限定可以参见上文中对于计算机设备的限定,在此不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (19)
1.一种设备批量测试的方法,其特征在于,用于批量化测试多个待测设备,所述方法包括:
向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;
获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列;
根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;
生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在向各所述待测设备写入对应的测试标识之前,还包括:
获取各所述待测设备的测试标识。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述测试标识为用户自定义的测试标识。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列包括:
获取各所述待测设备的属性数据并将所述属性数据保存至第一预设文件;
根据所述第一预设文件利用对应的解析规则获取具有各所述待测设备的设备标识序列的第二预设文件。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例包括:
按照所述第二预设文件中的所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述获取各所述待测设备的测试结果包括:
根据所述设备标识序列依次将所述待测设备的测试结果,生成以标识名称命名的标识测试结果文件,所述标识名称包括对应的测试标识。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在获取各所述待测设备的测试结果之后,还包括:
以预定格式输出各所述待测设备的测试结果。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述以预定格式输出各所述待测设备的测试结果包括:
输出测试结果文件夹,所述文件夹中包括各所述待测设备的标识测试结果文件。
9.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,各所述测试用例为在同一批量自动化测试框架下根据测试需求所编写。
10.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述待测设备包括存储芯片。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述存储芯片包括动态随机存取存储器芯片。
12.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,至少两个所述待测设备对应的测试用例不同。
13.一种设备批量测试的装置,其特征在于,用于批量化测试多个待测设备,所述装置包括:
测试标识写入模块,用于向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;
设备标识序列生成模块,用于获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列;
测试用例发送模块,用于根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;
测试结果生成模块,用于生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。
14.根据权利要求13所述的装置,其特征在于,还包括:
测试标识获取模块,用于获取各所述待测设备的测试标识,所述测试标识为用户自定义的测试标识。
15.根据权利要求13所述的装置,其特征在于,所述测试结果生成模块包括:
测试结果文件生成单元,用于根据所述设备标识序列依次将所述待测设备的测试结果,生成以标识名称命名的标识测试结果文件,所述标识名称包括对应的测试标识。
16.根据权利要求13-15任一项所述的装置,其特征在于,各所述测试用例为在同一批量自动化测试框架下根据测试需求所编写,且至少两个所述待测设备对应的测试用例不同。
17.根据权利要求13-15任一项所述的装置,其特征在于,所述待测设备包括存储芯片。
18.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-12任意一项所述方法的步骤。
19.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-12任意一项所述方法的步骤。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113468007A (zh) * | 2021-06-30 | 2021-10-01 | 完美世界(北京)软件科技发展有限公司 | 设备标识信息验证方法、装置、设备和存储介质 |
CN113567153A (zh) * | 2021-09-23 | 2021-10-29 | 深圳市星卡软件技术开发有限公司 | 一键动作测试方法、装置和计算机设备 |
WO2022179009A1 (zh) * | 2021-02-23 | 2022-09-01 | 长鑫存储技术有限公司 | 设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质 |
CN115033466A (zh) * | 2022-05-23 | 2022-09-09 | 珠海视熙科技有限公司 | 批量刷机压力测试方法及装置、存储介质、计算机设备 |
CN115357067A (zh) * | 2022-08-26 | 2022-11-18 | 上海磐启微电子有限公司 | 一种无线图传产品高低温性能全自动批量测试系统 |
CN116153384A (zh) * | 2023-04-20 | 2023-05-23 | 长鑫存储技术有限公司 | 芯片测试装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116708632B (zh) * | 2022-09-22 | 2024-04-05 | 荣耀终端有限公司 | 一种测试方法及电子设备 |
CN117234951B (zh) * | 2023-11-13 | 2024-01-30 | 建信金融科技有限责任公司 | 应用系统的功能测试方法、装置、计算机设备、存储介质 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102905034A (zh) * | 2011-07-29 | 2013-01-30 | 富泰华工业(深圳)有限公司 | 电子设备测试系统及其测试方法 |
CN103713991A (zh) * | 2012-10-08 | 2014-04-09 | 腾讯科技(深圳)有限公司 | 一种在安卓设备上测试应用程序的方法和装置 |
CN104794034A (zh) * | 2015-03-24 | 2015-07-22 | 青岛海尔智能家电科技有限公司 | 一种设备验收方法及装置 |
CN106708007A (zh) * | 2016-11-14 | 2017-05-24 | 乐视控股(北京)有限公司 | 一种电子设备批量测试方法、装置和电子设备 |
CN109800123A (zh) * | 2018-12-14 | 2019-05-24 | 深圳壹账通智能科技有限公司 | 自动化电量测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
CN111813687A (zh) * | 2020-07-20 | 2020-10-23 | 网易(杭州)网络有限公司 | 测试方法、装置、控制终端、测试设备及存储介质 |
CN111918259A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-11-10 | 厦门汉印电子技术有限公司 | 打印机蓝牙模块的批量测试方法、介质及系统 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7743292B2 (en) * | 2008-06-13 | 2010-06-22 | Silicon Motion Inc. | Apparatus and method for memory card testing |
CN106683705A (zh) * | 2016-11-11 | 2017-05-17 | 北京京存技术有限公司 | 一种eMMC测试方法和测试系统 |
CN108563538A (zh) * | 2018-03-14 | 2018-09-21 | 广州视源电子科技股份有限公司 | 板卡测试方法、系统、可读存储介质及计算机设备 |
CN108519934A (zh) * | 2018-03-15 | 2018-09-11 | 广州视源电子科技股份有限公司 | 板卡测试方法、装置、可读存储介质及计算机设备 |
CN112799958A (zh) * | 2021-02-23 | 2021-05-14 | 长鑫存储技术有限公司 | 设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质 |
-
2021
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102905034A (zh) * | 2011-07-29 | 2013-01-30 | 富泰华工业(深圳)有限公司 | 电子设备测试系统及其测试方法 |
CN103713991A (zh) * | 2012-10-08 | 2014-04-09 | 腾讯科技(深圳)有限公司 | 一种在安卓设备上测试应用程序的方法和装置 |
CN104794034A (zh) * | 2015-03-24 | 2015-07-22 | 青岛海尔智能家电科技有限公司 | 一种设备验收方法及装置 |
CN106708007A (zh) * | 2016-11-14 | 2017-05-24 | 乐视控股(北京)有限公司 | 一种电子设备批量测试方法、装置和电子设备 |
CN109800123A (zh) * | 2018-12-14 | 2019-05-24 | 深圳壹账通智能科技有限公司 | 自动化电量测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
CN111918259A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-11-10 | 厦门汉印电子技术有限公司 | 打印机蓝牙模块的批量测试方法、介质及系统 |
CN111813687A (zh) * | 2020-07-20 | 2020-10-23 | 网易(杭州)网络有限公司 | 测试方法、装置、控制终端、测试设备及存储介质 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022179009A1 (zh) * | 2021-02-23 | 2022-09-01 | 长鑫存储技术有限公司 | 设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质 |
CN113468007A (zh) * | 2021-06-30 | 2021-10-01 | 完美世界(北京)软件科技发展有限公司 | 设备标识信息验证方法、装置、设备和存储介质 |
CN113567153A (zh) * | 2021-09-23 | 2021-10-29 | 深圳市星卡软件技术开发有限公司 | 一键动作测试方法、装置和计算机设备 |
CN115033466A (zh) * | 2022-05-23 | 2022-09-09 | 珠海视熙科技有限公司 | 批量刷机压力测试方法及装置、存储介质、计算机设备 |
CN115357067A (zh) * | 2022-08-26 | 2022-11-18 | 上海磐启微电子有限公司 | 一种无线图传产品高低温性能全自动批量测试系统 |
CN115357067B (zh) * | 2022-08-26 | 2024-05-03 | 上海磐启微电子有限公司 | 一种无线图传产品高低温性能全自动批量测试系统 |
CN116153384A (zh) * | 2023-04-20 | 2023-05-23 | 长鑫存储技术有限公司 | 芯片测试装置 |
CN116153384B (zh) * | 2023-04-20 | 2023-09-12 | 长鑫存储技术有限公司 | 芯片测试装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2022179009A1 (zh) | 2022-09-01 |
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