CN106708007A - 一种电子设备批量测试方法、装置和电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子设备批量测试方法、装置和电子设备，所述方法包括：向每个待测电子设备发送对应的测试标识码；接收来自每个所述待测电子设备的测试数据及其对应的测试标识码；判断每个测试标识码对应的检测数据是否在相应的预设阈值内；当所述检测数据在所述预设阈值内时，则所述测试标识码对应的待测电子设备通过测试。该方案通过向每个待测电子设备发送测试标识码以对每个待测电子设备进行身份标记，进而根据测试标识码将接收到的检测数据区分开来与对应预设阈值进行比较，从而实现对电子设备的批量测试，提高了电子设备的测试效率，降低了测试成本。

Description

一种电子设备批量测试方法、装置和电子设备

技术领域

本发明涉及测试技术领域，具体涉及一种电子设备批量测试方法、装置和电子设备。

背景技术

汽车电子是车体汽车电子控制装置和车载汽车电子控制装置的总称，汽车电子化被认为是汽车技术发展进程中的一次革命，汽车电子化的程度被看作是衡量现代汽车水平的重要标志，是用来开发新车型、改进汽车性能最重要的技术措施。增加电子设备的数量、促进汽车电子化是夺取未来汽车市场的重要的有效手段；在电子设备的生产过程中，为保证电子设备的质量，都需要对电子设备在产线上进行测试，通过测试的电子设备才能确认合格、才能流向市场；电子设备的检测一般可归纳为四大类：1、功能/性能测试，比如车灯的光学性能、热学性能等；再比如，车载娱乐系统的使用功能、光学性能、声学功能等。2、环境与可靠性测试，比如，加速寿命测试、高低温测试、振动测试等等。3、环保与化学测试，比如，挥发性有机物检测等等。4、电磁兼容测试，目前这类测试是世界各地区管控相对最为严格的测试，对其管控的项目有辐射发射、传导发射、辐射抗扰度、传导抗扰度、传导瞬态发射、传导瞬态抗扰度等。

目前，电子设备在生产线上的测试大多采用专用测试仪，一次一台的进行测试，对于功能复杂的电子设备，每次测试一台，不仅测试效率低，而且人工成本高。

因此，如何提高电子设备的测试效率、降低测试成本成为一个亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种电子设备批量测试方法、装置和电子设备，以解决电子设备的测试效率低、测试成本高的问题。

根据第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备批量测试方法，适用于电子设备批量测试装置，包括：向每个待测电子设备发送对应的测试标识码；接收来自每个所述待测电子设备的测试数据及其对应的测试标识码；判断每个测试标识码对应的检测数据是否在相应的预设阈值内；当所述检测数据在所述预设阈值内时，则所述测试标识码对应的待测电子设备通过测试。

可选地，还包括：在所述检测数据不在所述预设阈值内时，则所述测试标识码对应的待测电子设备未通过测试。

可选地，还包括：所述待测电子设备为汽车电子设备。

根据第二方面，本发明实施例提供了一种电子设备检测方法，适用于电子设备检测装置，包括：接收来自电子设备批量测试装置的测试标识码；检测电子设备的运行状态，获取所述电子设备的检测数据；向所述电子设备批量测试装置发送所述检测数据以及所述测试标识码。

可选地，所述电子设备为汽车电子设备。

根据第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备批量测试装置，包括：第一发送模块，用于向每个待测电子设备发送对应的测试标识码；第一接收模块，用于接收来自每个所述待测电子设备的测试数据及其对应的测试标识码；判断模块，用于判断每个测试标识码对应的检测数据是否在相应的预设阈值内；测试通过模块，用于当所述检测数据在所述预设阈值内时，则所述测试标识码对应的待测电子设备通过测试。

可选地，测试未通过模块，在所述检测数据不在所述预设阈值内时，则所述测试标识码对应的待测电子设备未通过测试。

可选地，还包括：所述待测电子设备为汽车电子设备。

根据第四方面，本发明实施例提供了一种电子设备检测装置，包括：第二接收模块，用于接收来自电子设备批量测试装置的测试标识码；检测模块，用于检测电子设备的运行状态，获取所述电子设备的检测数据；第二发送模块，用于向所述电子设备批量测试装置发送所述检测数据以及所述测试标识码。

可选地，还包括：所述电子设备为汽车电子设备。

根据第五方面，本发明实施例提供了一种测试设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行第一方面或者第一方面的任意一种可选方式中所述的电子设备批量测试方法。

根据第六方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行第二方面或者第二方面的任意一种可选方式中所述的电子设备检测方法。

根据第七方面，本发明实施例提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行第一方面或者第一方面的任意一种可选方式中所述的电子设备批量测试方法。

根据第八方面，本发明实施例提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行第二方面或者第二方面的任意一种可选方式中所述的电子设备检测方法。

根据第九方面，本发明实施例提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，使所述计算机执行第一方面或者第一方面的任意一种可选方式中所述的电子设备批量测试方法。

根据第十方面，本发明实施例提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，使所述计算机执行第二方面或者第二方面的任意一种可选方式中所述的电子设备检测方法。

本发明实施例所提供的电子设备批量测试方法、装置和电子设备，通过向每个待测电子设备发送测试标识码，实现对待测设备进行身份标识，待测电子设备将该测试标识码记录，并开始检测自身的状态获取检测数据，然后将自身的检测数据和对应的测试标识码一起发送给电子设备批量测试装置，由该电子设备批量测试装置根据该检测数据确定对应的待测电子设备是否通过测试，如此，实现了一次可以批量测试多个待测电子设备，从而提高了电子设备的测试效率，降低了测试成本。

附图说明

通过参考附图会更加清楚的理解本发明的特征和优点，附图是示意性的而不应理解为对本发明进行任何限制，在附图中：

图1示出了根据本发明实施例的电子设备批量测试方法的流程图；

图2示出了根据本发明另一实施例的电子设备检测方法的流程图；

图3示出了根据本发明实施例的电子设备批量测试装置的示意图；

图4示出了根据本发明另一实施例的电子设备检测装置的示意图；

图5示出了根据本发明实施例的测试设备的示意图；

图6示出了根据本发明另一实施例的电子设备的示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例

本实施例提供一种电子设备批量测试方法，适用于电子设备批量测试装置，如图1所示，包括如下步骤：

S11：向每个待测电子设备发送对应的测试标识码，此处测试标识码是为了对待测电子设备进行身份标记，以便于区分每个待测电子设备。

S12：接收来自每个待测电子设备的检测数据及其对应的测试标识码，此处每待测电子设备对应一个测试标识码和一组检测数据，如此可以根据测试标识码将接收到的检测数据与待测电子设备一一对应起来。

S13：判断每个测试标识码对应的检测数据是否在相应的预设阈值内，具体地，分别将步骤S2中获取到的检测数据与对应的预设阈值比较，通过比较结果来确定待测电子设备是否通过测试。

S14：当检测数据在预设阈值内时，则测试标识码对应的待测电子设备通过测试，此处，如果检测数据在对应预设阈值内，说明该检测数据一切正常，该检测数据对应着一个测试标识码，则该测试标识码对应的待测电子设备通过测试。

作为一种可选地实施方式，还包括步骤S15：在检测数据不在预设阈值内时，则测试标识码对应的待测电子设备未通过测试，即如果检测数据不在对应预设阈值内，说明该检测数据出现异常，进而确定该检测数据对应着测试标识码标记的待测电子设备未通过测试。

作为一种可选地实施方式还包括：待测电子设备为汽车电子设备。

上述电子设备批量测试方法，通过向每个待测电子设备发送测试标识码以对每个待测电子设备进行身份标记，进而根据测试标识码将接收到的检测数据区分开来与对应预设阈值进行比较，从而实现对电子设备的批量测试，提高了电子设备的测试效率，降低了测试成本。

本实施例提供一种电子设备检测方法，适用于电子设备检测装置，如图2所示，包括如下步骤：

S21：接收来自电子设备批量测试装置的测试标识码，此处测试标识码来自电子设备批量测试装置，用于为电子设备进行身份标记。

S22：检测电子设备的运行状态，获取电子设备的检测数据，在收到测试标识码进行身份标记后，电子设备会自动进入测试模式，在测试模式下检测自身的状态，获取检测数据，具体地，还可以将该检测数据暂时存储在自身的缓存区。

S23：向电子设备批量测试装置发送检测数据以及测试标识码，具体地，可以首先将测试标识码的报文地址写入发送报文寄存器，然后将步骤S22中缓存区的检测数据也写入发送报文寄存器，最后一起将检测数据和测试标识码发送给电子设备批量测试装置，以供电子设备批量测试装置根据检测数据和测试标识码判别该电子设备是否通过测试。

作为一种可选地实施方式，电子设备为汽车电子设备。

上述电子设备检测方法，在根据接收到的测试标识码进行身份标记后进入测试模式，获取检测数据，进而将检测数据和测试标识码一起发送给电子设备批量测试装置进行测试，如此，通过测试标识码实现了对自身检测数据的身份标记，对于多个电子设备同时测试时，避免数据混淆。

本实施例提供一种电子设备批量测试装置，如图3所示，包括：第一发送模块310、第一接收模块320、判断模块330以及测试通过模块340，各个模块的功能如下：

第一发送模块310，用于向每个待测电子设备发送对应的测试标识码，具体参见对步骤S1的详细描述。

第一接收模块320，用于接收来自每个待测电子设备的测试数据及其对应的测试标识码，具体参见对步骤S2的详细描述。

判断模块330，用于判断每个测试标识码对应的检测数据是否在相应的预设阈值内，具体参见对步骤S3的详细描述。

测试通过模块340，用于当检测数据在预设阈值内时，则测试标识码对应的待测电子设备通过测试，具体参见对步骤S4的详细描述。

作为一种可选地实施方式，还包括：测试未通过模块350，在检测数据不在预设阈值内时，则测试标识码对应的待测电子设备未通过测试，具体参见对步骤S5的详细描述。

作为一种可选地实施方式，还包括：待测电子设备为汽车电子设备。

上述电子设备批量测试装置，通过向每个待测电子设备发送测试标识码以对每个待测电子设备进行身份标记，进而根据测试标识码将接收到的检测数据区分开来与对应预设阈值进行比较，从而实现对电子设备的批量测试，提高了电子设备的测试效率，降低了测试成本。

本实施例提供一种电子设备检测装置，如图4所示，包括：第二接收模块410、检测模块420和第二发送模块430，各个模块的功能如下：

第二接收模块410，用于接收来自电子设备批量测试装置的测试标识码，具体参见对步骤S21的详细描述。

检测模块420，用于检测电子设备的运行状态，获取电子设备的检测数据，具体参见对步骤S22的详细描述。

第二发送模块430，用于向电子设备批量测试装置发送检测数据以及测试标识码，具体参见对步骤S23的详细描述。

作为一种可选地实施方式，还包括：电子设备为汽车电子设备。

上述电子设备检测装置，在根据接收到的测试标识码进行身份标记后进入测试模式，获取检测数据，进而将检测数据和测试标识码一起发送给电子设备批量测试装置进行测试，如此，通过测试标识码实现了对自身检测数据的身份标记，对于多个电子设备同时测试时，避免数据混淆。

图5是本发明实施例提供的执行电子设备批量测试方法的测试设备的硬件结构示意图，如图5所示，该设备包括一个或多个处理器510以及存储器520，图5中以一个处理器510为例。

执行电子设备批量测试方法的设备还可以包括：输入装置530和输出装置540。

处理器510、存储器520、输入装置530和输出装置540可以通过总线或者其他方式连接，图5中以通过总线连接为例。

处理器510可以为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。处理器510还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

存储器520作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本申请实施例中的电子设备批量测试方法对应的程序指令/模块(例如，附图3所示的第一接收模块320、判断模块330、测试通过模块340和测试未通过模块350)。处理器510通过运行存储在存储器520中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行服务器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例列表项操作的处理方法。

存储器520可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储根据电子设备批量测试装置的使用所创建的数据等。此外，存储器520可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器520可选包括相对于处理器510远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至电子设备批量测试装置。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

输入装置530可接收输入的数字或字符信息，以及产生与电子设备批量测试装置的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置540可包括显示屏等显示设备。

一个或者多个模块存储在存储器520中，当被一个或者多个处理器510执行时，执行如图1所示的方法。

上述产品可执行本发明实施例所提供的方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。未在本实施例中详尽描述的技术细节，具体可参见如图1所示的实施例中的相关描述。

本发明实施例还提供了一种非暂态计算机存储介质，计算机存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令可执行上述任意方法实施例中的电子设备批量测试方法。其中，存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive，SSD)等；存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。

图6是本发明实施例提供的执行电子设备检测方法的电子设备的硬件结构示意图，如图6所示，该设备包括一个或多个处理器610以及存储器620，图6中以一个处理器610为例。

执行电子设备检测方法的设备还可以包括：输入装置630和输出装置640。

处理器610、存储器620、输入装置630和输出装置640可以通过总线或者其他方式连接，图6中以通过总线连接为例。

处理器610可以为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。处理器610还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

存储器620作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本申请实施例中的电子设备检测方法对应的程序指令/模块(例如，附图4所示的第二接收模块410、检测模块420和第二发送模块430)。处理器610通过运行存储在存储器620中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行服务器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例列表项操作的处理方法。

存储器620可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储根据电子设备检测装置的使用所创建的数据等。此外，存储器620可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器620可选包括相对于处理器610远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至电子设备检测装置。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

输入装置630可接收输入的数字或字符信息，以及产生与电子设备检测装置的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置640可包括显示屏等显示设备。

一个或者多个模块存储在存储器620中，当被一个或者多个处理器610执行时，执行如图2所示的方法。

上述产品可执行本发明实施例所提供的方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。未在本实施例中详尽描述的技术细节，具体可参见如图2所示的实施例中的相关描述。

本发明实施例还提供了一种非暂态计算机存储介质，计算机存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令可执行上述任意方法实施例中的电子设备检测方法。其中，存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive，SSD)等；存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。

本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(ROM)或随机存储记忆体(RAM)等。

虽然结合附图描述了本发明的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下作出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。

Claims (12)

1.一种电子设备批量测试方法，其特征在于，包括：

向每个待测电子设备发送对应的测试标识码；

接收来自每个所述待测电子设备的测试数据及其对应的测试标识码；

判断每个测试标识码对应的检测数据是否在相应的预设阈值内；

当所述检测数据在所述预设阈值内时，则所述测试标识码对应的待测电子设备通过测试。

2.根据权利要求1所述的电子设备批量测试方法，其特征在于，还包括：

在所述检测数据不在所述预设阈值内时，则所述测试标识码对应的待测电子设备未通过测试。

3.根据权利要求1或2所述的电子设备批量测试方法，其特征在于，还包括：所述待测电子设备为汽车电子设备。

4.一种电子设备检测方法，其特征在于，包括：

接收来自电子设备批量测试装置的测试标识码；

检测电子设备的运行状态，获取所述电子设备的检测数据；

向所述电子设备批量测试装置发送所述检测数据以及所述测试标识码。

5.根据权利要求4所述的电子设备检测方法，其特征在于，还包括：所述电子设备为汽车电子设备。

6.一种电子设备批量测试装置，其特征在于，包括：

第一发送模块，用于向每个待测电子设备发送对应的测试标识码；

第一接收模块，用于接收来自每个所述待测电子设备的测试数据及其对应的测试标识码；

判断模块，用于判断每个测试标识码对应的检测数据是否在相应的预设阈值内；

测试通过模块，用于当所述检测数据在所述预设阈值内时，则所述测试标识码对应的待测电子设备通过测试。

7.根据权利要求6所述的电子设备批量测试装置，其特征在于，还包括：

测试未通过模块，在所述检测数据不在所述预设阈值内时，则所述测试标识码对应的待测电子设备未通过测试。

8.根据权利要求6或7所述的电子设备批量测试装置，其特征在于，还包括：所述待测电子设备为汽车电子设备。

9.一种电子设备检测装置，其特征在于，包括：

第二接收模块，用于接收来自电子设备批量测试装置的测试标识码；

检测模块，用于检测电子设备的运行状态，获取所述电子设备的检测数据；

第二发送模块，用于向所述电子设备批量测试装置发送所述检测数据以及所述测试标识码。

10.根据权利要求9所述的电子设备检测装置，其特征在于，还包括：所述电子设备为汽车电子设备。

11.一种测试设备，其特征在于，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1至3中任一项所述的电子设备批量测试方法。

12.一种电子设备，其特征在于，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求4或5所述的电子设备检测方法。