TW506217B - CMOS image sensor outputting signal data before reset data and method for driving the same - Google Patents

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TW506217B TW090112680A TW90112680A TW506217B TW 506217 B TW506217 B TW 506217B TW 090112680 A TW090112680 A TW 090112680A TW 90112680 A TW90112680 A TW 90112680A TW 506217 B TW506217 B TW 506217B
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Description

506217 五、發明說明(l) 發明背景 1 ·發明領域 本發明之發明領域係有關於圖像感測器,尤其是具有 互補式金氧半導體(CMOS)像素的圖像感測器,及驅動^感 測器的方法。 " 2·相關技術說明 一圖像感測器’使用一半導體材料的能量響應特性以 偵測能量(如光)的方法,而攝入圖像。該圖像感測器一般 可以分類成CMOS圖像感測器及電荷耦合裝置(CCD)圖像 =。與_像感測器比較下,該⑽8圖像感測器的優 感=的功損及小的尺寸’因此’―般使用_圖像 “I ΐ ^顯一示二·種傳統的圖像感測11。傳統的CM0S圖像 '的Ξ:威測哭:、ΐ測器101及一雙取樣電路10 3。依據傳 將導;i =二§將—重置信#uRS拉到邏輯高位準時, ^通-重置电晶體101aJ_ 後,經由一驅動電晶妒〗ηι 、旧电匕上开然 乎是VDD的重置資料被傳=^一選擇電晶體101d ’電壓幾 然後,當重置信號RS成^ ,貝料輸入輸出(1/〇)線1)10。 輯高位準時,重置電低邏輯位準且控制信號^成為邏 通。經由驅動電晶體Γ〇1體1〇la關斷,且傳送電晶體101b導 HHa中的信號資料被^、c =選擇電晶體101d,在光二極體 到資料1/〇線DH)的重資料1/0線DI0。然後,將傳送 51貝料及信號資料由雙取樣電路1 〇 3
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予以取樣’其中該電路連接到資料丨/ 〇線])丨〇。 在傳統上圖像感測器中,在取樣及輸出該重置資料 後,取樣及輸出該信號資料。因此,大部份的信號資料 持在該資料I/O線DI〇中。 / 依據傳統上使用的CMOS爵像感測器,該雙取樣電路 103包含一取樣電晶體103a,一輔助電容器1〇31),一耦合 電容器103c及一先行充電電晶體1 〇3d。該取樣電晶體丨〇3a 從資料I/O線DIO中切斷該取樣的信號資料,而具有穩定之 輸出位準的輸出信號V0UT可以由一輸出端Dq產生。該辅助 電谷态1 0 3 b防止節點N1 0 3漂移。如果沒有配置輔助電容器 10 3b時,則當取樣電晶體103a關斷時,節點N1〇3將會漂 移。由輔助電容器l〇3b及耦合電容器i〇3c所產生的虛擬電 容器的電容幾乎等於在輸出電路1〇5處之輸出電容器1〇5& 的電容。一先行充電電晶體l〇3d應用一參考電壓VR(此電 壓低於VDD-Vth)而將耦合電容器i〇3c的一側端先行充電。 但是’傳統的CMOS圖像感測器有一項問題即需要一非常大 的佈局區。即傳統的CMOS圖像感測器所需要的佈局區必需 可以安裝該取樣電晶體1 〇3a,該輔助電容器1 〇3b及一用於 產生該參考電壓VR的參考電壓產生電路(圖中沒有顯示)。 發明概述 為了解決上述問題,本發明之一其他為提供一可以減 少佈局區的CMOS圖像感測器。 本發明的另一目的為提供一種用於C Μ 0 S圖像感測器的
\\.€)M-HOST\USERS\lika\DAE11243.ptd 第6頁 506217 五、發明說明(3) 方法。
種在輪出重置 及其驅動方 資料I/O —因^,為了達到上述的目的,本發明 育料之前輸出信號資料的CM〇s :。該CMOS圖像感挪器包含一像 ; 線,一雙取樣電路及一輸出電路。該像貝料I/O 資料及重置資料。當接收到外部的能量時感生信號 働準隨著所產生之光電荷量而變。在重2 J資料的 重置貧料。1亥資料ί/0、線傳送所產生的 γ下產生 料。該雙取樣電路取樣該信號資料且然後以及= 中取樣该重m且驅動—輸出端1上在此例子^ 該雙取樣電路纟重置資料《前取樣該@號資_。 二 路輸出與該輸出端的電壓位準有關的資料。 /,¾ 、為了達到上述目的,本發明提供一種用於驅動一 感測器的方法,包含提供CM〇s圖 、 圖像 多個以行及列方式排列的像素感:;:測二感測器具有 期間產生重置資料,當接收到外部:处^在-重置模式 生之光電荷的多寡產生信號資料,^此置日寸,並依據所產 (a)產生一讀取信號’且動作一列禮^方法包含下列步驟: 的一列;(b)動作一資料輸出信楚、擇號以選擇數列中 信號時,輸出該信號資料;(d)在來(C將作用該資料輸出 置模式;以及(〇輸出該重置資料:驟(C)之後’驅動該重 較佳實施例之詳細說明·· 圖2的電路圖表示依據本發明 乃車又佳實施例之CMOS圖像
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感測器。現在請參考圖2,c Μ 〇 S圖像感測斋包含一像素感 測器20 1,一資料I /〇線D I 〇,/雙取樣電路203及一輸出電 路205。 圖像感測器2 0 1包含一重爹電晶體2 0 1 a,一光二極體 201b ’ 一驅動電晶體2qic,〆邊擇電晶體201d及共接點節 點201e。當由外部提供能量,该光二極體201b產生一光電 荷(例如,如光之類的電磁能量)且依據所產生之光電荷的 多寡產生信號資料。當動作重置電晶體RS時,則制止該重 置電晶體2 0 1 a,且驅動該,共接點節點2 01 e的電壓位準至一 等於(VDD-Vta)的電壓位準。在此,該VDD及Vta分別表示 外部電源電壓及臨界電壓。重置電晶體2 〇 1 a的源極及汲極 分別連接到該外部電源電壓VDD及該共接點節點2〇le。最 好是重置電晶體2〇 i a為一 n通道金氧半導體(NM0S)電晶 體。 、、驅動電晶體2〇lc為一 NM0S電晶體,此電晶體的閘極及 汲極分別連接到該共接點節點2〇丨e及外部電源電壓1^⑽。 口此驅動笔03體2 〇 1 c的源極節點2 〇 1 f的電壓位準將妓 點節點201e的電壓減少一vtc的電壓大小。 ^ 動電晶體201c的臨界電壓。 a為驅 源極節點201f的電壓位準由選擇電晶體2〇id連接 =0線DI0。當動作一低選擇信號Rm時,則管制選擇電 曰曰肢201d。列選擇信號RSEL選擇一列的像素陣列(圖中、、支 有顯示)。即配置在該由於列選擇信號“阢選擇之之 像素感測器201的該信號及重置資料被傳送到將進行取樣
506217 、發明說明(5) =每一行的資料I / 〇線D I 0。然後,像素感測器2 〇 i的信號 貧料被傳送到將進行取樣的雙取樣電路2 〇3。在較佳實施 例中’選擇電晶體20 Id為一NM0S電晶體。此後,像素感測 為2 0 1的重置資料被傳送到該雙取樣電路丨〇 1且由該雙取樣 電路進行取樣。即,依據本發明,在重置資料之前,取樣 該信號資料。 該雙取樣電路203包含一第一電晶體2〇3a,一電流源 2^3b,耦合電容器203c,一第二電晶體2〇3(1,及一第三電 晶體2 0 3e。當產生一讀取命令時,導通該第一電晶體 2〇3a,以回應一讀取命令信號—⑽。驅動資料到 一第一參考電壓(例如,接地電壓vss)。應用一讀取命 令,控制CMOS圖像感測器以傳送一與第二在像素感測器 1中之信號資料相關的數值。耦合電容器2〇3c係形成於 該資料I/O線DI0及一儲存節點NST〇之間,以耦合該儲存節 點NST0及該資料I/O線!)1〇。在本實施例中,辆合電容器 2〇3c的終端直接連接到資料1/〇線1)1〇。因此,對於本發 明,有必要配置取樣電晶體1〇3a及傳統cm〇s圖像感測器之 輔助電容器l 〇3b中的任何一項。 當動作一第一控制信號{^1時,則管制第二電晶體 2 0 3d,且驅動儲存節點“了〇的電壓到一第二參考電壓(例 =接地電壓VSS)。當輸入讀取命令時,以脈波的型式產生 第一控制信號PC1。動作行選擇信號⑵讥管制第三電晶體 2 0 3^,且將儲存節點NST〇的電壓傳送到輪出端㈧。經由輸 出编DQ輸出一輸出電壓ν〇υτ。行選擇信號csel選擇像素陣
\\ADM-HOST\USERS\lika\DAE11243.ptd 第9頁 506217 五、發明說明(6) 即,由行選擇作二二上fCSEL選擇該像素陣列中的一列。 到該輪出端DQ。〜 廷擇之輸出信號及重置資料被傳送
在輪出端DQ處,逵M 擇電晶體。因此,由=拉ί素感測器之行數相同的行選 203e所產生的電容可由 午,出端DQ之行選擇電晶體 ,苐二控制信號pc2:〜容器2 05=以模擬。 輸q端DQ的電星驅 ‘弟四宅日日體205a,且將 GSU之前,動作】動壓VSS。在動作行選擇信號. 電。 動作弟-控制信號代2以對輸出端DQ先行充 當行選擇信號CSEL的 儲存節點NST0中的電荷 :f 兩位準時,儲存在 容器20 5 b中,皇比座ί二f f輕合電容器203c,及儲存電 205b的+ — t· 、. 電容器203c與第二電容哭 端DQ的=。然後’在儲存節點NST。處的電皇成為“ Ο二的士定時圖用於解釋在本發明中用於驅動CM0S圖像
感測态的主信號及節點。 口 L 准士百先,當在時間U時,第一控制信號PC1在邏輯高位 午日才丄以接地電壓VSS對儲存節點NST0預先充電。在時間 11之鈾已里置的光二極體2 〇 1 b在累積光充電的狀態。 f後,當時間t2低選擇信號rsel且讀取命令信號READ 在邏輯高位準時,可驅動包含第一電晶體2〇3a,一驅動電 晶體201c及選擇電晶體2 Old的源極隨偶器。然後,在光信 號電壓位準Vsig及重置資料之電壓位準vrst之間的電壓差 \\ADM-HOST\USERS\lika\DAE11243.ptd 第10頁 506217 五、發明說明(7) ------------ 資:Γ/0線DI0。在此例”,因為已導通第二電 曰曰體203d,將儲存節點NST0維持在接地電壓vss處。因 此在柄合電谷斋203c的兩側儲存電屢差w。 當在時㈣’第-控制信航〗在邏輯低位準時 ^卽,5在浮動狀態。此後’當重置信號Rs在時間以時 成為邈輯尚位準high,驅動資料I/O線DI0到重置資料 Vrst。然後,驅動由耦合電容器2〇3c儲存節點nst〇的電= 位準到光信號位準Vsig(其中Vsig = Vrst _V1 =矸Μ 一 Vrst + Vs ig)。 田在日守間t5 5貝取命令化號READ時,關斷電流源203b。 在此狀態下,與單一列相關之所有行的資料儲存在節點 NSTO。然後,該行的資料均串列讀出。 在此狀態下,用於此行之資料的讀取程序將於下 詳細地說明。在時間t6第二控制信號PC2成為邏輯高位 準’應用接地電壓VSS對輸出端Dq預先充電。缺後該第二 控制信號PC2進入邏輯低位準。然後,如果用於選擇—二 的行選擇信號CSEL及讀取命令信號心汕在時間t7時以 的方式產生,則讀取在各行中的資料。 收 依據用於驅動CMOS圖像感測器的方法,在信號資 輸出重置資料。因此’資料1/0線DI〇及輸出糊係:維持J 重置資料的電壓輸出。因此,依據本發明2CM〇s圖像 器及其驅動方法具有下列各項優點: ^ 1·毋須如習知技術的取樣電晶體103&(參見圖丨)。 2·本發明不需要習知技術中使用的輔助電容器1〇3匕。
五、發明說明(8) %容不會減少到習知技術中之耦 術中的參考電壓VR,本發明不需 而且,耦合電容器203c的 合電容器103c的約1/4。 3·因為不需要習知技 要用於產生參考電壓的電 把夕如^戶f述,因為本發明中的CM0S圖像感測器在重置資 ==號資料,心減少用於維持信號資料之^ 下、:所以,與習知技術中的CMOS圖像感測器比 較下,本卷月中的佈局區域明顯地減少。 一 中已應用特疋的貫施例顯示及說明本發明,熟習大 技術f須了解可以進行多種不同的改變及對等的應兩,而 :偏離本發日;的精神及觀點。例如,在上述說明的實施例 ,第一電晶體2〇3d及第四電晶體2〇5d的源極均連接到接 地電壓VSS ° ^旦是依據另一實施例,第二電晶體203d及第
四電晶體2〇5d的源極均連接到一預定電壓(如電源電JSVDD 的1/2)的源極’其中此電源電壓與接地電壓vss不同。因 此’下文的申請專利範圍中明確地指示出本發明的觀點。
506217 圖式簡單說明"~' - ------— 由下文中的說明可更進一步了解本發明之特徵及優 點,閱讀時並請參考附圖,各附圖中相同的標示表示相同 的組件。 圖1中顯示一傳統中的CM0S圖像感測器; 圖2中顯示依據本發明較佳實施例之CM〇s圖像感測器 的電路圖; σ ^ΐ 3之疋日守圖係用於解釋當依據本發明驅動CMOS圖像 感測器時,所提供或產生的主信號及節點電壓。 圖號說明: 2 〇 1圖像感測器 201a重置電晶體 201b光二極體 2 0 1 c驅動電晶體 2 0 1 d選擇電晶體 20 le共接點節點 2 0 1 f源極節點 203雙取樣電路 20 3a第一電晶體 2 0 3b電流源 203c |禺合電容器 20 3d第二電晶體 20 5輸出電路 20 5b第二電容器
506217 圖式簡單說明 20 5d第四電晶體 第14頁 \V4DM-HOST\USERS\lika\DAE11243.ptd

Claims (1)

  1. 506217 六、申請專利範圍 --- 1· 一種CMOS圖像感測器,包含: 一具有一重置模式的像素感測器,在該重置模式中, 該像素感測器產生重置資料,該像素感剛器尚產生^號資 料’當接收到外部能量時,該像素感測器產生該信號資 料,,著所接收能量的大小,該像素感測器產生對應量的 光電荷’且將該產生的光電荷轉換為信號資料,依據所產 生的光電荷,該信號資料產生對應的電壓位準; 一資料I/O線,攜帶在該像素感測器中產生^像素感 測器及重置資料; ' 一 一耦合該資料I /0線以取樣該信號資料及重置資料, 且驅動一輸出端的雙取樣電路;以及 一輸出電路,係用於輸出與輸出端之電壓位準相關的 資料; ' 其中在取樣該重置資料之前’該雙取樣電路取樣該信 號資料。 ’ 2·如申請專利範圍第1項之CMOS圖像感測器,其中該 像素感測器包含: '^共接點節點; 一重置電晶體,此電晶體具有一連接到共接點節點的 源極’及一接收外部電源電壓的 >及極’將作周一重置信號 時,該重置電晶體將受其管制; 一產生該信號資料的光二極體; 一驅動電晶體,此電晶體有一連接到共接點節點的閘
    \\ADM-HOST\USERS\lika\DAE11243.ptd 第15頁 506217 六、申請專利範圍 " " ---- 極及一接收該外部能源電壓的汲極;以及 恭f擇電晶體,作用一第一選擇信號時,此電晶體將驅動 笔晶體的源極電壓向該資料I/0線傳送。 3·如申請專利範圍第2項之CMOS圖像感測器,其中該 重置電晶體,驅動電晶體及選擇電晶體均為N通道金氧半 導體(NM0S)電晶體。 4·如申請專利範圍第2項之CMOS圖像感測器,其中該 第一選擇信號為用於選擇一陣列中之一列的列選擇信號。 5· —種CMOS圖像感測器,包含·· 一產生信號資料的像素感測器,且在一重置模式中產 生重置資料,該像素感測器包含: 一共接點節點; 一重置電晶體,此電晶體有一連接到共接點節點的源 極及一接收外部電源電壓的汲極,當作用一重置信號時, 該重置電晶體受到管制; 一接收像素感測器之外部能量的光二極體,且此光二 極體隨著所接收的能量產生對應的光電荷量,該光二極體 將所產生的光電荷轉換成信號資料,該信號資料的電壓位 準係依據所產生之光電荷量而定; 一驅動電晶體,此電晶體有一連接到共接點節點的間 極及一驅動外部電源電壓的汲極;以及
    \\ADM-HOST\USERS\lika\DAE11243.ptd 第 16 頁 506217
    六、申請專利範圍 一選擇電晶體,當作用一第一選擇信號時,該電晶體 將驅動電晶體的源極電壓傳送到該資料丨/〇線; 一攜帶該產生之信號資料及重置資料的資料丨/ 0線; 一雙取樣電路,此電路耦合到該資料I /0線,以取样 該信號資料及該重置資料,且驅動該輸出端;以及 私 一輸出電路,係輪出與該輸出端之電壓位準相關次 料; π 貝 其中在取樣該重置資料之前,該雙取樣電路取樣 號資料。 - ^ 6·如申請專利範圍第5項之CM〇s圖像感測器,其中 重置電晶體,驅動電晶體及選擇電晶體均為N通道金^ 導體(NM0S)電晶體。 ^ + 7·如申請專利範圍第5項之CM〇s圖像感測器, 第一選擇信號為用於選擇一陣列中之一列的列選擇信號^ 8.如申請專利範圍第!項之CM〇s圖像感測器,苴 雙取樣電路包含: 〃 T 5¾ 一弟一電晶體,當作用一括 ^ - ^Τ/Π ^ ,ϊ & 5貝取〒令時,此電晶體驅動 遠貝枓I/O線到-弟一參考電壓, 動 相關的數值; 1口就貝枓 資料I/O線; ,此電晶體驅動 耦合電容器,耦合該儲存節點與該 第二電晶體,當作用一控制信號時
    六、申請專利範_ 该儲存節机 一第:^Γΐ二參考電壓;以及 將儲存筋I電晶體,當作用一第二選擇信號時,此電晶體 即點的電壓傳送到該輸出端。 該 第一失# :凊專利範圍第8項之CMOS圖像感測器,其中 多考電壓為一接地電壓(VSS)。 m -姿〇玉如申請專利範圍第8項之cmos圖像感測器,其中該 夕 笔壓為一接地電壓(vss)。 第二電晶體為N通道金氧半導體(NM0S)電 楚2·曰如申請專利範圍第8項之CMOS圖像感測1,其中該 第一電晶體及 曰曰 體。 一感二;:電該 二如:二=第該8 =線圖_ 14· 一種甩於驅動一圖像感測器的方法,包含: (a)提供CMOS圖像感測器,此感測器具有多〜 列方式排列的像素感測器,且該在一重置模 乂行及 、八朋間產生重
    \\ADM-HOST\USERS\1i ka\DAEl1243.ptd 第18頁 506217 六、申請專利範圍 置資料,當接收到外部的能量時,並依據所產生之光電荷 的多募產生信號資料,該方法包含下列步驟: (b )產生一讀取信號,且動作一列選擇信號以選擇數 列中的一列; (c )動作一資料输出信號; (d )將作用該資料輸出信號時,輸出該信號資料; (e)在步驟(d)之後,驅動該重置模式;以及 (f )輸出該重置資料。
    \\ADM-HOST\USERS\1ika\DAEl1243.ptd 第19頁
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Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3962561B2 (ja) * 2001-07-12 2007-08-22 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びそれを用いた撮像システム
US20040113151A1 (en) * 2002-10-11 2004-06-17 Kabushiki Kaisha Toshiba CMOS image sensor
US20040119869A1 (en) * 2002-12-24 2004-06-24 Tretter Daniel R. Dual sensor camera
KR100574891B1 (ko) 2003-01-13 2006-04-27 매그나칩 반도체 유한회사 클램프 회로를 갖는 이미지센서
JP2006517360A (ja) * 2003-02-07 2006-07-20 リー・ドヨン Cmosアクティブピクセルおよびその駆動方法
KR101028137B1 (ko) * 2003-04-30 2011-04-08 크로스텍 캐피탈, 엘엘씨 씨모스 이미지 센서의 단위화소
US7038259B2 (en) * 2003-10-22 2006-05-02 Micron Technology, Inc. Dual capacitor structure for imagers and method of formation
KR100588731B1 (ko) * 2004-04-26 2006-06-12 매그나칩 반도체 유한회사 고속 아날로그 신호 처리를 위한 cmos 이미지센서
JP2006005711A (ja) * 2004-06-18 2006-01-05 Iwate Toshiba Electronics Co Ltd Cmosイメージセンサ
KR100494100B1 (ko) * 2004-07-01 2005-06-10 엠텍비젼 주식회사 Cmos 이미지 센서
CN100433197C (zh) * 2005-03-17 2008-11-12 北京思比科微电子技术有限公司 低噪声相关双取样电路
JP4328327B2 (ja) * 2005-12-14 2009-09-09 パナソニック株式会社 固体撮像装置及びその駆動方法
US7791010B2 (en) * 2006-11-01 2010-09-07 International Business Machines Corporation CMOS image sensor having a third FET device with the gate terminal coupled to the diffusion region of a first FET device, the second terminal coupled to a column signal line, and the first terminal coupled to a row select signal
US7692130B2 (en) 2006-11-01 2010-04-06 International Business Machines Corporation CMOS imaging sensor having a third FET device with a gate terminal coupled to a second diffusion region of a first FET device and a first terminal coupled to a row select signal
JP4385059B2 (ja) 2007-05-16 2009-12-16 シャープ株式会社 イメージセンサ
US7924333B2 (en) * 2007-08-17 2011-04-12 Aptina Imaging Corporation Method and apparatus providing shared pixel straight gate architecture
US7989749B2 (en) * 2007-10-05 2011-08-02 Aptina Imaging Corporation Method and apparatus providing shared pixel architecture
US20090237540A1 (en) * 2008-03-20 2009-09-24 Micron Technology, Inc. Imager method and apparatus having combined gate signals
JP5006281B2 (ja) * 2008-07-24 2012-08-22 パナソニック株式会社 固体撮像装置、カメラ
KR101156445B1 (ko) * 2010-05-14 2012-06-18 삼성모바일디스플레이주식회사 광검출 픽셀의 구동방법 및 이 광검출 픽셀을 포함하는 엑스레이 검출기의 구동방법
CN102769721B (zh) * 2011-05-03 2016-06-22 联咏科技股份有限公司 影像传感器的相关双重取样装置及其方法
CN104486986B (zh) 2012-07-26 2018-06-01 德普伊辛迪斯制品公司 光不足环境中的连续视频
JP6284937B2 (ja) 2012-07-26 2018-02-28 デピュー シンセス プロダクツ, インコーポレーテッドDePuy Synthes Products, Inc. 光が不十分な環境におけるYCbCrパルス照明システム
AU2014223163A1 (en) 2013-02-28 2015-08-20 Olive Medical Corporation Videostroboscopy of vocal chords with CMOS sensors
CA2906798A1 (en) 2013-03-15 2014-09-18 Olive Medical Corporation Super resolution and color motion artifact correction in a pulsed color imaging system
EP3459431A1 (en) 2013-03-15 2019-03-27 DePuy Synthes Products, Inc. Controlling the integral light energy of a laser pulse
WO2014144986A1 (en) 2013-03-15 2014-09-18 Olive Medical Corporation Scope sensing in a light controlled environment
JP6573960B2 (ja) 2014-03-21 2019-09-11 デピュイ・シンセス・プロダクツ・インコーポレイテッド イメージングセンサ用のカードエッジコネクタ
CN103927982B (zh) * 2014-03-24 2016-08-17 京东方科技集团股份有限公司 像素电路及其驱动方法、显示装置
KR102307376B1 (ko) * 2015-06-09 2021-10-06 에스케이하이닉스 주식회사 이미지 센싱 장치 및 그의 리드아웃 방법
CN108063905B (zh) * 2016-11-09 2020-04-14 京东方科技集团股份有限公司 像素感应电路及其驱动方法、图像传感器、电子设备
KR102552277B1 (ko) * 2018-06-21 2023-07-10 삼성디스플레이 주식회사 인터페이스 시스템 및 이를 포함하는 표시 장치

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6021172A (en) * 1994-01-28 2000-02-01 California Institute Of Technology Active pixel sensor having intra-pixel charge transfer with analog-to-digital converter
CA2190615A1 (en) * 1994-05-19 1995-11-30 Tzu-Chiang Hsieh Cmos imaging array with active pixels
JPH09284658A (ja) * 1996-04-10 1997-10-31 Sony Corp 固体撮像素子
US5892540A (en) * 1996-06-13 1999-04-06 Rockwell International Corporation Low noise amplifier for passive pixel CMOS imager
JPH10126695A (ja) * 1996-10-18 1998-05-15 Sony Corp 固体撮像素子およびその駆動方法並びにカメラ
US6320616B1 (en) * 1997-06-02 2001-11-20 Sarnoff Corporation CMOS image sensor with reduced fixed pattern noise
EP0928103A3 (en) * 1997-12-31 2000-08-02 Texas Instruments Incorporated CMOS imaging sensors
US6201572B1 (en) * 1998-02-02 2001-03-13 Agilent Technologies, Inc. Analog current mode assisted differential to single-ended read-out channel operable with an active pixel sensor
US6388241B1 (en) * 1998-02-19 2002-05-14 Photobit Corporation Active pixel color linear sensor with line—packed pixel readout
US6040570A (en) * 1998-05-29 2000-03-21 Sarnoff Corporation Extended dynamic range image sensor system
KR20000000938A (ko) * 1998-06-05 2000-01-15 윤종용 디지털 영역에서의 이중 상관 샘플링을 위한 병렬구조의 아날로그/디지털 변환장치 및 그의 디지털 영상신호 발생방법
US6532040B1 (en) * 1998-09-09 2003-03-11 Pictos Technologies, Inc. Low-noise active-pixel sensor for imaging arrays with high speed row reset
KR100339248B1 (ko) * 1998-09-15 2002-07-18 박종섭 씨모스이미지센서
US6753912B1 (en) * 1999-08-31 2004-06-22 Taiwan Advanced Sensors Corporation Self compensating correlated double sampling circuit
US6727946B1 (en) * 1999-12-14 2004-04-27 Omnivision Technologies, Inc. APS soft reset circuit for reducing image lag
US6710804B1 (en) * 2000-01-18 2004-03-23 Eastman Kodak Company CMOS active pixel image sensor with extended dynamic range and sensitivity

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