TW477149B - Method to resolve the EMI problem of the circuit system in the on-screen display menu - Google Patents

Description

477149 --- 案號891154?」 五、發明說明（1) 發明背景 89· 8· 年 ；. 修正 月 祕 修正 本發明係有關於一種解決監視器（m 〇 n i t 〇 r )内電磁幸畐 射之方法，且特別地，有關一種解決監視器CRT内由一螢 幕顯示功此表（〇SD : On-Screen Display Menu)線路系統 之相位鎖疋迴路（PLL : Phase Lock Loop)振盪所產生之電 磁輕射的方法，其利用軟體調整該〇SD線路系統顯示的解 析度（res〇luti〇n)以避開具有高電磁輻射之特定頻率可降 低0 S D線路糸統的電磁輪射而不必重新佈線（1 & y⑽^ )或增 加處理電磁輻射之元件。 々 參考第1圖，係一電磁幅射之頻率響應特性曲線。如 第1圖所示’一隨頻率w而變之特性曲線波形可使用一函數 fjw) = Asin(nwt)表示之，其中，a代表振幅，到戈表凡匕頻 率’及η代表整數諧波。該函數可進一步細分為： f (w)=：Alsinwt + A2sin(2wt) + A3sin(3wt) + A4sin(4wt) + …… 上式係代表一典型電磁輻射之頻率響應。通常，對一〇SD 線路糸統内之PLL振盪器線路而言，其線路佈局在設定〇SD ^路系統之解析度時’即已決定好電磁幸畐射會出現的頻 率。在傳統上，經測量所知之電磁輻射過高的率會出現 在〇SD線路系統之水平解析度χ水平頻率乂 ^ 4 ··?的位置上。尤其，在第丨圖所示2η = 2、3、4位置會產 生最嚴重之電磁輻射區域。 曰 現今，對於上述因0SD線路系統内iPU振 ，磁輻射大多將重新將線路佈局（layQut)或加』容或電 砍的方式來降低電磁輻射。不論重新將線路佈局（lay〇ut)

五、發明說明（2) 或增加元件的方式皆會增加線路複雜性，甚至因 加而增加線路的雜訊干擾來源。另—方將〇 :曰 但是’由於⑽線路系統之線路^合 伴f其它功能之線路一起作用，例如，_線路系統曰 (:Γ半p隨「具出能量大小功能之脈衝寬度調變 (PWM .Pulse Width Modulation)線路。因此， 欠 f它功能路正常運作而無法使用關閉_線路系统之 線路的方式來解決電磁輻射的問題。 、 因此，本發明之一目的為提供—種利用軟 ;輻射^法；其利用軟體調整0⑽線路系統的顯示^ OSD ^ ^ Λ ^ pt τ八有问電磁輻射之特定頻率來降低 0仰線路系統内之PLL振盪器所致之電磁㈣而不 f^ayout)或增加處理電磁輻射之元件。該方法包括下=

ZmU '一T線路系統之解析度至一預定之電磁干擾 (· ectroMagnetlc Interference)之容限基 (:^置：二日:檢查該’線路系統是否被開啟丨當該030 改變該_線路系統之解析度至用於顯

Jin $ D線路系統未被開啟時，保持在該設定之 ^ 基4值；^ 避免^新Μ Ϊ ^明之利用軟體來解決電磁輻射的方法可在 二曰二路佈局或增加元件的情況下’以簡易的判斷 磁；二顳：解析度值，如此既可解決0SD線路系統之電 磁“射問靖也可維持pu頻率運作並進一步保持高解析度 /1气y

的0 S D線路系統之畫面。 [符號說明] 系統 1〜信號產生單元；2〜調整單元； 3〜頻率產生單元；4〜控制單元； 3卜振盪器； 32〜除法器。 圖示之簡單說明 ^讓本發明之上述及其它目#、特徵、與優 寸牛孕又仫貝靶例，亚配合所附圖式，作詳 細況明如下： 卞 第1圖顯示一電磁幅射之頻率響應特性曲線； 第2圖顯示本發明一包括一 pu頻率振|器之_線路 方塊圖；及 第3圖顯示本發明之操作流程。 較佳實施例之詳細說明 芩考第2圖，一包括一PLL頻率振盪器之〇別線路 方塊圖。在第2圖中，包括一信號產生單w、一用於，先敕 解析度的調整單元2、一頻率產生單元3、及一控制單正 4，其中5忒頻率產生單元3進一步包括一壓控振盪哭 (VCO) 31及一除法器32。如第2圖所示，該信號產生。單 產生一水平同步信號H —Sync並將該信疲H_Sync輸入至語7

控振盪！§(VCO : Voltage Controlled Oscillator) 31 I 中，產生PLL的頻率輸出pll—Freq，例如，70MHz，經由士 除法器32除以由該調整單元2以軟體設定之一需求解析忒 度，例如，768，產生之結果值PLL —r再回饋sVC〇的輪入

477149 五、發明說明（4) 端，藉此控制PLL的輸出頻率pll —Freq，例如，50MHz，I 该控制單元4以調整控制OSD的内部線路，例如，在頻率 波長形式下從140 nm降至1〇〇ηιη。該解析度值可儲存於該 调整單元之一可程式化元件（PLD)(未顯示）中，利用軟體 程式來設定所需之解析度，用以將出現之頻率（p L乙 frequency X n)移至基頻較低或線路放大效應較小的區域 中。 參考第3圖，係本發明以軟體方式調整〇SD線路系統 之解析度以降低電磁輻射之方法。在第3圖中，該方法包 括下列步驟：設定一0SD線路系統之解析度至一預定之電 磁干擾（EMI :ElectroMagnetic Interference)之容限基 準值（pass value)(Sl);檢查該〇SD線路系統是否被開啟 (S2);當該0SD線路系統被開啟時，改變該〇3])線路系統之 解析度至用於顯示之正常值（S3);當031)線路系統未被開 啟時，保持在該設定之EMI容限基準值（S4);及重複檢查 0SD線路系統是否被開啟之步驟（§5 )。 如第3圖所示’電腦程式會先將該〇sD線路系統之解析 度設定至一預定值（S1)，該預定值係落於低電磁輻射區域 内，也就是，電腦程式會避開整個監視器系統電磁輕射最 嚴重的位置（視線路佈局而定），將該〇fD線路系統之曰解析 度設定在電磁干擾的容限基準值（pass value)，該值係檢 測該整個監視器系統之EM I值時，用以比較之基準值，且 禮值不疋落在整個監視器系統基頻較低就是在線路放大效 應較小之區域。接著，在檢查〇SD線路系統是否被開啟

^//149 、發明說明（5) (S2)時’若未發現一使用者開啟〇SD線路系統，則可繼續 保持該OSD線路系統於該較低之解析度值（S4)，反之，若 發現一使用者開啟0SD線路系統，由於保持在該0S])線路系 統於該較低之解析度值將會降低〇SD顯示品質（包括〇SD 内字型的解析度及大小），故須將OSD線路系統之解析度恢 復成一正常之解析度（S3)。因為一使用者開啟〇SD線路系 統的動作係屬偶發事件（occasi〇nal event)，所以不論 0SD線路系統之解析度是不是在該正常位準，最後步驟都

必須執行該檢查0SD線路系統是否被開啟（S5)之操作，也 就是重複步驟S2。 雖然本發明已以一較佳 以限定本發明，任何熟知此 之精神及範圍内，當可做更 範圍當視後附之申請專利範 實施例揭露如上，然其並非用 技術之人士，在不脫離本發明 動與潤飾，因此本發明之保護 圍所界定者為準。

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Claims (1)

1. 案號 89115421 六、申請專利範圍 「韻】允| 477149 ι· 一種解決一監視器中螢幕顯示功能表（0別·· Ο η - S c r e e n D i s ρ 1 a y M e n u )線路系統之電磁輻射的方法， 該方法包括下列步驟： 設定一 0 S D線路系統之解析度至一預定之電磁干擾 (EMI :ElectroMagnetic Interference)之容限基準值 (pass value)； 檢查該OSD線路系統是否被開啟； 當該0SD線路系統被開啟時，改變〇SD線路系統之解析 度至一用於顯示之解析度；

   當該0SD線路系統未被開啟時，保持在該設定之EMI容 限基準值；及 重複檢查该0SD線路系統是否被開啟之步驟。 2,如申4專利耗圍第1項之方法，該改變_線路系為 爻二用於顯示之解析度之步驟是利用軟體之執辛 ^調t該GSD線路系、統的解析度（resc)lutiQn)卩降低該⑽ 統的電磁輕射而不影響該〇SD線路系統的高解析度 1面顯不。 3. 如申請專利範圍第u之方法 出現的頻率是隨該_線路系統之線 ‘電磁干擾

   4. 如申請專利範圍第丨項之方 ° 疋 一信號產生單元，用以產生—水平’ u〇SD線路系統包括 單元，用以設定-解析度；一以】，晦信號；-調整 自該信號產生單元及該調整單元 早兀，用以接收來 位鎖定迴路（PLL)頻率；一控制如—别入之信號以產生一相 早元’用以接收來自該振

   477149 修正I 修正一 皇號8911， 六、申請專利範圍 ，器單元之相位鎖定迴路（PU) 並 路(m)頻率調整一電磁輕射頻率至一預定區域。鎖-迴 你田5·如申請專利範圍第4項之方法’其中’該解析声你 一具有程式化能力之可程式化元件進行設定。又，、 6·如申請專利範圍第4項之方法，其中，該 視器之電磁輻射頻率之基頻較低或該監視-域 磁輪射頻率產生之振輻能量較低之區域中。 η電 請專利範圍第4項之方法，其中，該頻率產生 早疋進^包括一除法單兀，用以除以該調整單元 :解析度？產生一結果；一振盪器單元1以接收來二 #號產生單元之平同步掃瞄信號及該除法單元所產生= 果輸出以產生一用於調整電磁輻射頻率之相、、、口 (PLL)頻率。 項疋沿路 8·如申請專利範圍第4項之方法，其中，該調整 輸出之解析度係使用一具有程式化能力之 行設定。 又了私式化兀件進

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