TW470878B - Self-test electronic assembly and test system - Google Patents

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Shahin Tahmassebi
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Description

470878 五、發明說明G) 發明範疇 本發明與電子配件範疇相關。更特別的是，在製造品 管作業與持續進行的現場測試報告作業中，本發明與可自 行測試之電子配件的作業方式、裝置或裝置之網路息息相 關。 發明背景 電子配件的製造逐年擴大，提供大量各式不同的工業 與消費性產品。在許多製造過程中，重要的生產要素是成 品測試。為了改善成品之性能與品質，製造工程師通常會 詳細指明測試程序，交付製造工廠之測試工程師，執行適 切的測試以確保成品品質。而敏感度高的類比與數位電路 之測試裝備，都具備複雜的外部控制與監測硬體設備。因 此，對許多製造設備來說，測試過程變得困難重重，通常 不易配合。 一般來說，在習知技術之製造系統中，一個配件由技 師完成測試後，經過一次或數次測試，發現瑕疵即棄置於 不良品區。而對所有元件與電路功能狀態之全般資料，則 ———-"' .一一層一 _ ——*·* —·-····· · - — —- …〆 、鲎^遭一受忽略。儘管技師能在一配件中以人票識出瑕疵元 件，而其它瑕疵系統之鑑定則可能被忽略，或未予適當鑑 定。即使將一具不良配件的單一瑕疵元件或電路修復，這 個元件仍可能有無數的電路未經測試。對於由技師人工執 行測試，或在外部對裝置進行測試之製造設備，配置一具 能監測出瑕疵的基本標識與剔除瑕疵元件設備即已足夠，
470878 五、發明說明（2) 因為在技師人力上之花費不貲。 (一九九五年九月十二曰）美國專利第5，45 0，5 7 6號 「分散式多處理器開機系統，可依次序開啟每一處理器； 其中包括無法重新開機時，再啟動每一中央處理器時之監 控計時器（Watchdog Timer)」’所有人B. Kennedy先生發 表一種系統可協調「多處理器系統之啟動與自行測試作 業」，以「便於運用具不同型別微處理器之中央處理單 元」。Kennedy先生所發表的是’ 「將每一處理器、記憶 模組、I /〇電路板之專用設定資訊、自行測試啟動碼與開 機碼，以無法執行之形態，儲存於唯讀記憶體中；而將第 一起動處理器所需執行之部份機碼，儲存於中央存取記憶 體中」。儘管Kennedy先生發表之系統，能協調多處理器 系統内基本開機與自行測試作業，此系無^法蒐I或儲 存」11元件之耳讀存資訊，在内部支無法將自社.測—試—之…結 果取回儲存。再者，Kennedy先生並未發表，可藉迴路折 返電路以自行測試輸出、入訊號，也未發表對於存取已儲 存資訊之保密架構。 (一九九七年八月十九曰）美國專利第5, 6 5 9, 748號 「由較系統記憶體窄頻寬之開機唯讀記憶體，所啟動之多 處理器開機系統」，所有人B· Kennedy先生發表一種系統 可「協調多處理器系統之啟動與自行測試作業」，以「便 於運用具不同型別微處理器之中央處理單元」。Kennedy 先生所發表的是，「將每一處理器、記憶模組、I / 〇電路 板之專用設定資訊、自行測試啟動碼與開機碼’以無法執
第7頁 470878 五 行 需 κ 機 讀 、發明說明（3) 之形悲’儲存於唯讀夺〖音轉士 執行之部份機碼將第一起動處理器所 Kennedy先生發表之記憶體中」。儘管 機與自行測試作宰，此f °周夕處理态系統内基本開 存資訊，在内ί也無集或儲存個別元件可 ^ J Kenned^^ii^^^ , ° # 試輸出、入訊號，也未發表對τ二？折返電路以自行測 構。 μ表對於存取已儲存資訊之保密架 统八^尸九準九介^年五月六日）美國專利第5, 6 2 7,以2號「李 統王面杯準化之内外模組錯誤 & 士 糸
Brown與D. Bhavsaa生發表「一種儀哭」方斤有人J. 充電子電路執行層級化、中儀及方法，能對擴 中包括以统一、挪、隹儿 央化之&隔知目苗錯誤測試，其 時，每一電路板n協定執行電路板間測試。測試 態-般’ *中央測試控制予：：：於擴J:糸統時之獨立狀 其他人發表了標準屏絲外金榀視」。仏官Brown先生與 別元件可讀取資訊：内部蒐ί ::二他：f未發表有關個 部自行測試結果取 ：；者儲:子’也未發表將配件内 發表對於有限亡1 自行測試輸出、入訊號，也未
Lt: 儲存資訊之保密架構。 「電路内測it i二月曰美國專利第4,791，3 5 6號 R- Jacobsoe/V；^；?；/· ^011' Η· CriSUr' 電路内測試系統·，#剌敎壯^eWellyn等先生發表「一種 匕束）激衣置内任何指定電子節點以進行 470878 五、發明說明（4) 裝置測試；並能記錄裝置在任一節點受測時之反應波形， 編修反應波形，在隨後一次電路内測試中，以編修後之波 形重新刺激同一裝置」。 厂 (九八八年四月廿六曰）美國專利第4，740, 88 7號 厂改善由不同功能次系統所組成之電子系統操作可靠性的 ，法兵系統」，所有人Μ · R u t e n b e r g先生發表一種方法與 糸Ί 了 改善具不同功能次系統所組成之電子系統操作 ' 1 &亡 據此方法與系統，用一種非電子系統内部之微 『tf元，「分析此一電子系統，以鑑定其中那些次系 統最可能造成系統故障，並予以標定監測及/或予以一修 正」。此—外部微型控制單元「監測被標定之次系統輸 出三入=號，並判定何時輸出訊號與相對應之輸入訊號不 =°舍現錯誤時，錯誤機碼儲存於記憶體内，#為未來 3二當微型控制器於修正模式時，會使用開放式收 之錯誤壬/ (〇Pen C〇llector drivers)，修正一數位輸出 試與測試結二電 生也未發表，可藉迴路拼诉再者，Rutenbei先 號，或對於有限存取已自行測試輸出、入訊 (一九七六年十—儲存貝汛的一種保密架構。 「數位電路模組測試一月廿三曰國專利第4, _，4 6 0號 _、r. M〇〇re“；n有人v. — c. 路模組之自動生產測試么表：種J:可執行「大型數位電 」 即 在電腦控制下，一個測試
第9頁 470878 五、發明說明（5) 站藉此儀器，可對受測模組進疒 一 析結果輸出，並將所發現之一 ^ =几型態及時脈測試，分 誤隔離。此測試站包含供應模組或數個積體電路（I C)之錯 員使用之鍵盤顯示器與列表機。^，源及氣冷系統，測試 展，旅可藉磁帶輸入電腦可使用'則4程式於離線狀態下發 K a da k i a先生與其他人發表這種之磁碟裝置」。儘管 測試儀器，而每一電路模組之測型曰數位電路模組之生產 集及儲存有關個別元件可讀取資ζ是由外部控制，且未蒐 也未將配件内部自行測試結果取，▲。再者’受測電路模組 先生與其他人未發表，可藉迴路:儲存。另外，Kadakia 出、入訊號，也未發表對於存取=電=以自行測試輸 於初步測試後，例如於電子&存貧訊之保密架構。 _ - 于配件之現場作聿中，提供 一個電子配件與外部來源間資料僂 系甲 徒仏 ^ 十1寻輸女全之通訊管道也是 有幫助的。而最重要的問題是，安入、s % 3 α — 〜 女全通訊是須安全地將安 全鑰匙^送給通訊者。建立一個安全通訊管道所需要的 是，每個通訊者擁有一份合宜之安全鑰匙以建立通訊或將 通訊資料解密。 現在，分配安全鑰匙一般上係透過個別管道達成。舉 例來說’安全鑰匙可透過一般普通郵件傳遞，或藉電話連 接以語音傳送。對廣泛之消費者取向電子配件而言，例如 像分散式電視收看系統（distributed television viewing system)，這般分發是不恰當，而且不合實際。 有一種使用智慧卡（smart card)之安全鑰匙配送機制，將 一個微控制器嵌入如名片大小之卡片中。此微控制器將鑰
第10頁
47ϋ^78 五、發明說明（6) 匙儲存於安全 訊協定。然而 體連接，所以 製，且對於像 施。自動進行 配件可捕捉所 般製造系統之 之發展，可取 進行中之現場 存，這將是另 在電子配件與 項突破。 發明概述 可自行測 部儲存之測試 。自我測試之 持續進行之現 測試系統最好 對每個自我測 circuitry)， 路，以及安全 測試電子配件 質管制。在現 之記憶 這樣之 不可靠 存取内 所有受 有測出 發展將 回個別 作業參 一科技 外部來 體内 系統 ，安 部儲 測配 之瑕 是一 元件 數， 突破 源間 ’並且 並不令 全協定 存裝置 件之測 /疵，並 大科技 之可讀 自行測 。此外 配送安 提供認 人滿意 易於遭 之内部 試，無 將其登 進展。 資訊予 試 ? 並 ’發展 全鑰匙 證與訊息 ’因為通 受攻擊， 作業缺乏 需技師插 錄於裝置 此種裝置 以儲存， 取回測試 解密之 訊須猎 易於被 保全措 手，受 内部， 更進一 提供持 結果儲 通 ΐ 複 測 此 步 續 一種安全的方法 ’也是科技另一 項 试的電子配件能 程序，針對元件 結果會儲存於裝 場作業中，有關 與一個或數個自 試電子配件提供 讓自我測試電子 加密與解密作業 進行自我測試， 場作業期間，自 進行 與電 置内 自我 我測 迴路 配件 。適 提供 我測 自我測 路進行 部以提 測試電 δ式電子 折返電 更進一 當的測 有效、 試電子 試，例如根據 診斷或配適測 供製造過程， 子配件之資訊 配件連結，並 路（loopback 步測試元件、 試台也能對自 一致的監視與 配件適合用來 内 言式 及 〇 針 電 我 品 監 ^470878 五 '發明說明（7)
同時將資訊儲存到裝 視運作參數，並定期進 置内部，並將資訊傳輪 行自我測試 到外部地點 圖1是可自行測試 1 4係由許多組件1 6交“子配件1 0的方塊圖，其中電路 組成。在-或多個組件fRf在7基座或底盤的裝置櫃12所 批號等可用電子方式綠冑諸如組件型別號碼、序號或 理器18及記憶儲存取的育訊17。圖1之電路14包含處 ,,^ 瑕20，記憶儲存體20係由一戋冬插々降 裝置所如是可程式化之唯讀記憶體(心)種K 式化之隧機存取記憶體（pram)、快閃記憶體、—或多呈石= 碟或吁抽取式媒體等，但並非以此為限。 〆 八
也提两Ί目行測試之電亍聊丨丨 ，—一只。可自行 食防護軟體，以建立安金鳓借一、、w’ 玉… ，丄1 0具備 /皿度感須丨]器2 8及一 A 記憶儲存體2 0其中包含測試邏輯2 2及樣本資訊2 3，由 彳自行測試之電子配件1 〇運用，以執行功能診斷測試及長 時間強化測試（extended burn-in testing)等各類型自^ 測試。執行自我測試時，可自行測試之電子配件1 〇會在内 部，將測試結果2 4存入例如記憶儲存體2 0中。絕大部份傳 製造過程中，最重要也是乘費時之項目就是成品測試。 <自行測試之電子配件1 〇提供效率高、且持續進行之自我 :射試，測試結果儲存於内部。因此，製造速度增加，同時 卜高可自行測試之電子配件1 〇成品本身之品質。可自行 ;， 加铧讀取之序號2 9，最榀阜i /巷 試之電子配件有u匙27Q、27 2 (參考^好^)具備 安 町自行測試之電子配件 470878
五、發明說明（8) 卻風扇26。溫度感_器28能將可自 測铽關私0Φ，姓绎从i 订州式之電子配件丨〇於 i:式開始時，持縯作業中測得周圍與 在一些配置情況下，處理写18可佑、w」彳乍苐之，皿度 圍與内部作業升高之、二:皿度感測器_得周 可白幷、目丨丨气夕t'風 部風扇26開關。 T自仃測试之電子配件1 0具有一個連紝介而qn允八 輪屮入邙妹垃涵β 口逆結，丨面3 0，内含 』出入甙唬接頭及一個電源接頭48a。 配置擁有一連結介面30，直中内含$ 1所不，取佳的 入34a、古H酋簦」1 衫像輸出32a、影像輸 道聲立矜入^ :輪出f6a、左頻道聲音輸出38a、左頻 曰』 & 頻道聲音輸入4 2 a、一個數據機接頭 4a、一個無線電接頭47a及一個電源接頭48&。最佳配置 之選項配備則有S視訊輸出3 1 a、S視訊輸入3 3 a，序列槔及 紅外線接收器（I R b 1 a s t e r )接頭等。 圖1可自行測試之電子配件1 〇之最佳配置由最終使用 者（圖1 7)安裝時，會將可自行測試之電子配件丨0與電視輸 入訊號線2 6 6、電話線2 5 8、電視機2 6 4及一些附屬元件等 裝置連結，例如錄影機2 7 0、音響系統2 6 6、音箱2 6 8a、 2 6 8b等，另外還可與一些其它裝備連結，像是遙控器、電 視遊樂器裝置、網路連結裝置（如對WebTVTM控制台與遠 端WebTVTM鍵盤等）。 在製造環境中，可自行測試之電子配件1 0的元件與電 路功能品質會藉由内部測試邏輯Μ予以自我測試。自我測 式結果2 4之m:ifL儲存於可自行測試之電子配件1 〇。沒 通過一個或數個功能或開機測試之元件1 6或電路1 4會被持 續、精確地被測得。技師因此得以將瑕疵之可自行測試之
第13頁 470878 五、發明說明（9) 電子配件1 0從通過測試之配件中挑出，置於維修區8 2或不 良品區84(參考圖2)。 詳細測試結果2 4會儲存於内部，可持續提供資訊2 4， 俾利指導針對可自行測試之電子配件1 〇的故障排除與維 修。伴隨可自行測試之電子配件1 0，經詳細登錄之自我測 試結果2 4易於取用，作為排除可自行測試之電子配件1 0故 障之用，而不需要技師人工標識出偵測到的問題。因此， 完全合格之可自行測試之電子配件1 0數量增加，因為嚴格 且一致之自我測試確保了通過測試之高品質可自行測試之 電子配件1 0，並且可修復之可自行測試之電子配件1 0也被 伯測出，有效地予以修復。 圖2是可自行測試之電子配件1 0測試系統5 0的方塊 圖。可自行測試之系統5 0將與可自行測試之電子配件1 0製 造商配合，測試系統對元件1 6與電路1 4及可自行測試之電 子配件1 0，於分送及最後運交客戶前，進行品質與功能測 試。測試台5 2有一個或多個測試排5 4，内含一個或多個測 試槽5 6。測試台5 2可容許從一個或多個製造設備5 3中，同 時進行大量可自行測試之電子配件1 0的自我測試。當大量 可自行測試之電子配件1 0是在許多外部地點製造時，例如 是由合約商製造時，儲存於每一可自行測試之電子配件1 0 内部測試程序2 2，配合運用一個或多個測試台5 2，在一個 或多個測試系統區5 0，提供有效且相同之診斷與開機測 試。 每一個測試槽5 6以分離式背板1 0 4 (如圖4 )與已安裝之
第14頁 470878 五、發明說明（ίο) 可自行測試之電子配件1 0連結。每一個測試槽5 6透過一座 模擬PSTN電話線連線58、一具數據機60，與狀態模組51及 終端伺服器6 2相連結。 透過終端伺服器6 2號，所有元件測試結果與所得資訊 均被監控。相關資訊也可從遠地監控。舉例而言，當公司 位置設在第一地點（如在加州），一座相關製造設備可能設 於其他國家境内（如墨西哥、歐洲）。因此，位於遠方地點 之使用者可即時並動態監j見測試結果、所得資料與錯誤資 ^_^一 一一一 --- 訊。 終端伺服器6 2與電腦工作站6 4連結，其中包括一具電 腦6 6，有内部儲存裝置5 3、顯示器6 8、一個或多個輸入系 統，例如是鍵盤及滑鼠。電腦之自我測試系統6 4具備圖形 使用者介面6 5，使操作者可很快地檢視測試系統5 0之運作 〇 增加更多測試架5 2測試槽5 6之測試排5 4，將可提高測 試系統5 0之能力。測試台5 2能以花環般（d a i s y - c h a i n e d ) 串連，因此只要使用單一指揮模組6 4就能測試與監測大量 的可自行測試之電子配件1 0。在測試系統5 0配置中，每一 具終端伺服器6 2藉由八具專用數據機6 0與電話線5 8連結， 可容許八個測試槽5 6與八個可自行測試之電子配件1 0間測 試資料流通。在其他系統5 0配置上，每一具終端伺服器6 2 可容許與十六具可自行測試之電子配件1 〇連結與測試，而 這十六個可自行測試之電子配件1 0均個別與終端伺服器6 2 及電腦6 4連結。
第15頁 470878 五、發明說明（11) 可自行測試之電子配件丨0自配件區5 3送至測試區5 〇， 此時裝置櫃1 2内並未安裝盤座及蓋板。每一可自行測試之 電子配件1 0會被放置於一個測試架5 2内之測試槽5 6内。 圖3是一個可自行測試之系統5 〇内測試架5 2上每個測 試槽5 6之迴路9 2折返連結之方塊圖9 〇。每個測試架5 2的測 試槽56具有一塊背板ι〇4(如圖4)，此背板具有92a-92η之 迴路折返電路，作為數據機、電源、影像、聲音、序列埠 及紅外線接收器接頭之介面。所以技師不須親自連結可自 行測試之電子配件1 〇之電線。 操作員僅須將可自行測試之電子配件1 0成品放在測試 槽5 6之空托架1 5 4上（如圖8、9 )，並將托架1 5 4滑進測試槽 5 6内。當可自行測試之電子配件1 〇安裝於一個測試槽5 β内 日寸’連結介面3 0即與背板1 〇 4相連。連結介面3 0之接頭 31a、 32a、 33a、 34a、 36a、 38a、 40a、 42a、 44a、 46a、 47a、48a則與背板104上之後接頭對應，且托架i54與裝妥 之可自行測試之電子配件1 0會自動移入測試架底盤1 5 〇 (如 圖 8、9 )。 背板：圖4是藉一個彈簧1 0 6固定座，固定於一個背板 支撐架1 0 2的背板1 0 4之前視圖1 0 0。背板i 〇 4之移動受到一 或數個背板止動器1 0 8所限制。在背板支撐架1 0 2上有一或 多個調整孔1 1 0，可使背板支撐架於測試槽配件1 5 〇上滑動 (參考圖7至10)。 圖5是背板1 0 4及背板支撐架1 〇 2之前方斜視圖。背板 上有影像輸出32b、影像輸入34b、右頻道聲音輸出36b、
第16頁 470878 五、發明說明（12) 左頻道耳曰輸出38b、左頻道聲音輸入40b、右頻道聲音輸 入4 2 b等接頭’及—個數據機接頭4 4 b、一個無線電接頭 4 7 b與一個電源接頭4 8 b等。上述接頭與已安裝之可自行測 試之配件1 〇之連結介面3 〇相符。 測5式槽機構：圖6是一個測試座架1 5 0之後視圖。背板 1 04能與測試系統5〇連結，並且提供裝妥之可自行測試之 配件:拆卸之接線。圖7是一個測試底座【5 〇之前視圖，其 i ί Γ二，配件座架12。配件座架12之連結介面3 〇，在彈 t上一與/妾頭32b~48b連結。圖8測試槽機構150之右 怜♦二使用固可動框架1 5 4内含有一或多個滑動件1 5 2。 機構之後上方俯視圖^^動件152移動。圖是測試槽 之配Γ=。50擁有一個開關’它可感測可自行測試 —制科 衣於測試框架1 54内。當操作員安裝可自 閉：序列：：’由於感測到序列埠上之接觸，、開關關 妥可二到，試系、统51，使其能感測是否裝 訊，並自我測試，押丄右可自行測試之配件1〇能進行通 之，若將可自行測；糸統會監測自我測試之次序。反 在一配置情 犯測出並顯示將該配件之早發故障。 或於指令電：：使：： = 試槽56之顯示燈亮起，
第17頁 470878 五、發明說明（13) 測試架：圖1 1是裝有測試架裝置櫃5 2之測試櫃1 6 0之 前視圖1 6 2。其内含許多測試槽5 6、散熱孔1 6 4，下方有一 個置物區，可放置測試架之零件或工具或裝置冷卻風扇。 測試櫃1 6 0具有可固定之腳輪1 6 8，因此測試櫃5 2可於測試 設備1 5 0内移動。 圖1 2是裝有測試架裝置櫃5 2之測試櫃1 6 0之側視圖， 在其前方1 6 2可將可自行測試之配件1 0在測試槽5 6上拆 裝，另可由櫃子1 7 2後方進入安裝電源接線7 8及數據機接 線5 8，並裝有後門鉸鏈1 7 0。圖1 3是測試架裝置櫃5 2之後 視圖1 7 2。後門1 7 4具有之通風孔1 7 6，藉由鉸鏈1 7 0安裝於 測試櫃1 6 0之後方1 7 2。圖1 4是裝有測試架裝置櫃5 2之測試 櫃底部1 6 0俯視圖。 當可自行測試之配件1 0裝至測試架5 2内，自我測試程 序即開始，而不需要等到每一個測試槽5 6皆裝好可自行測 試之配件1 0才開始。持續之診斷與開機測試會透過指揮模 組64予以監控（如圖2)。 當可自行測試之配件1 0裝至測試槽5 6時，測試程序軟 體22及測試資訊23皆載入可自行測試之配件1,0之記憶體20 中 0 每一可自行測試之配件1 0依内建之測試程序2 2，開始 進行可自行測試之。因為每一可自行測試之配件1 〇開始自 我檢測，所以測試一個可自行測試之配件1 0所需時間與大 量配件（例如數量為2 0 0件）測試時間相同◦因此，測試糸 統5 0規模可予增減，只要增加測試槽5 6之測試架5 2數量，
第18頁 470878 五、發明說明（14) 能力即可提升，而不需增加在製造測試區域5 0之操作員， 也不需增加測試每一可自行測試之配件1 0之時間。 每一可自行測試之配件1 0之影像4 1與聲音輸出4 3、4 5 之連結均與監視器7 6連結，它可接收並顯示每一個可自行 測試之配件1 0之測試結果。測試架5 2精影像輸出淳7 2 ’與 一或數個測試顯示器7 6連結。在一配置下，一個影像選擇 紐7 4與每一測試槽5 6 a至5 6 η之影像輸出埠7 2連結，可切換 連結至單一顯示器7 6，如此從一特定的可自行測試之配件 1 0之輸出訊號可由操作員監控。
在另一配置下，每一測試槽5 6 a至5 6 η的影像輸出琿7 2 均與一個別獨立之顯示器7 6連結，如此，從許多可自行測 試之配件1 0所輸出之影像訊號可同時由一位操作員監控。 在一配置下，可用一具1 3对的顯示器7 6，每一具都有影音 之輸出。將專用之顯示器7 6裝於測試槽5 6旁可使操作員易 於檢視可自行測試之配件進行中之測試，也使得操作員能 輕易地分辨良品與不良品。因此通過測試之可自行測試之 配件1 0不會被誤置於不良品區8 4，而未通過測試配件也不 會被誤置於良品區8 0。
測試架5 2可作為一個功能診斷測試站，或作為一個開 機自我測試站。一個功能診斷測試站可立即執行所有功能 測試，而開機測試站則要重覆執行開機測試，如此，可自 行測試之配件1 0通常需要數小時測試時間（如四、八或廿 四小時）。每一個測試架5 2内之測試槽5 6也可個別設定， 可選擇執行功能測試或是開機測試。當一個可自行測試之
第19頁 470878 五、發明說明（15) 配件1 0裝入測試槽5 6内時，指揮站6 4會顯示對特定之測試 槽6 5進行何種測試。一般而言，測試架内所有的測試槽5 6 設定均相同（如每一測試槽5 6皆執行功能測試，或是皆執 行開機測試）。 指揮站6 4之使用者介面顯示器6 5為彩色顯示，可清楚 辨別進行何種測試。當顯示器7 6接收並顯示可自行測試之 配件1 0之測試資訊與結果，指揮站6 4之使用者介面6 5能同 時顯示數個受測配件之狀態。在顯示配件狀態時，使用不 同之顏色以分辨「通過測試」與「未通過測試」之配件。 例如，在一配置下，對使用者介面6 5上的一個測試槽顯示 綠色代表「通過測試」，顯示紅色則代表「未通過測試」 。測試進行中時，彩色顯示會閃爍，測試完成時，彩色顯 示則固定不變（紅或綠）。 在一配置下，每一可自行測試之配件1 0，或是裝有配 件之測試槽5 6，尚裝有發光二極體（LED )作為測試之用， 顏色顯示與使用者介面6 5相同。若一可自行測試之配件1 0 未通過測試，則紅色之測試LED則亮起，若通過測試，則 亮起綠色之測試LED。受測時，綠色之測試LED會閃爍。在 一可自行測試之配件的座架1 2上之測試LED可提高測試之 效率，因此測試操作員或技師能迅速準確地判別通過測試 與未通過測試之配件。 診斷測試：當一個可自行測試之配件1 0裝入測試架5 2 内時，電源自動開啟。在一配置下，處理器會建立一個 PPP連結，並執行一 FTP程式，以取得並儲存所需之測試邏
第20頁 470878 五、發明說明（16) 輯22。 此時，處理器就已存入之測試邏輯2 2，執行一診斷測 試指令集。安裝至測試架5 2後，可自行測試之配件1 0會執 行數個診斷測試。執行診斷測試時，可自行測試之電子配 件1 0會持續提供伺服器6 2最新測試結果，或於所有功能測 試完畢時提供測試報告。就好比檢查元件1 6及電路1 4，如 快閃記憶體、系統唯讀記憶磁碟與訊號編碼與解碼時（如 圖1 5、1 6 )，每次測試皆可增加對可自行測試之電子配件 1 0之信心。 對可自行測試之電子配件1 0執行之診斷測試是獨立作 業的，由於測試邏輯2 2與控制内建於配件中，經由處理器 1 8執行所需測試，逕自產生一份報告卡2 4。由於每一可自 行測試之電子配件1 0負責本身之測試，因此增加在測試架 5 2内之可自行測試之電子配件1 0之數量，並不會增加測試 時間。測試3 2個配件與一個配件所需時間相同。 可自行測試之電子配件1 0執行許多元件1 6與電路1 4之 測試，它可透過迴路折返電路9 2 a〜9 2 η，傳出訊號3 2、 3 6、3 8、4 6，或接收訊號3 4、4 0、4 2、4 7 (如影音訊號） 與原始資料2 3比對，以確定元件與配件功能是否正常。 就迴路折返測試而言，處理器1 8可自輸出埠傳送已存 入之測試訊號2 3，然後折返至可自行測試之配件1 0的輸入 埠上。此時回饋之訊號會被處理（如透過解碼元件1 6)。處 理器1 8會將接收並經處理之訊號與原始資料2 3比對，以確 定回饋訊號是否正確（回饋訊號須與儲存磁碟2 0内之原始
第21頁 470878 五、發明說明（17) 測試影像相同）。在一配置下，可自行測試之配件1 〇可接 收一個標準電視訊號輸入（如具有影音訊號），它可予以處 理，執行影音迴路折返測試。 除了對影音訊號執行迴路折返測試外，可自行測試之 配件1 0尚可執行訊號傳送接收、其它資料之編碼、解碼與 處理，像來自序列數據機6 0之資料測試。 在一配置下，可自行測試之配件1 0還可對訊號執行完 全的編碼與解碼，此配件可測試編碼與解碼作業。通常先 取得例如像是已存入之資料2 3或已接收之訊號資料般之測 試訊號，然後編碼，透過輸出琿3 2、3 6、3 8傳送訊號，再 透過迴路折返電路92，傳入輸入埠34、40、42，此時配件 會將傳入訊號解密，並與原始資料2 3進行比對，然後再確 認可自行測試之電子配件1 0接收之訊號與原始訊號2 3是否 相同。 測試伺服器6 2上之使用者介面6 5顯示測試進行中或最 後之狀態。選定之測試槽5 2内正在受測之配件，在使用者 介面6 2上係以黃色表示，並有一訊息顯示「測試」狀態。 若受測配件通過所有測試，介面内顯示之受測槽則轉為綠 色，並顯示「運送」訊息，然後操作員就可將配件自測試 架5 2上取下，將它放置於包裝與運送區80 (如圖2)。反 之，若轉為紅色，出現「失敗」訊息，操作員可將配件自 測試架5 2上取下，將它放置於維修區8 2或不良品區8 4 (如 圖2)。 如前所述，若自我測試組件的主處理器1 8無法正常運
第22頁 470878 五 、發明說明（18) 作 ’指令模組6 4會快速接到訊號，顯示自我測試組件1 〇有 或多個主要功能區1 4、1 6發生故障，因此組件可適當地 遞修區82，或是不良品區84。 件 部 抑备可自行測試的配件單元i 〇完成自我測試之後，該組 二=i 0會將測試結果2 4儲存為可加以擷取的日誌檔。外 以^示員f須判定裝置的那個部份故障了，同時也無須加 社二Γ二可加以擷取的曰諸槽2 4儲存於裝置1 0中，若該曰 :T二"式區傳輸到維修區82，則會伴隨著組件1 0。在維 相二（圖取日誌檔24，且該日誌檔在母板1 2上與序號29
At Μ ^ =運轉'則试·適配運轉一般是以取樣的方式，在功 S診二測3 Ϊ之前或之後進行。一具體實施例在進行功能 配二抑^ 5式前’對一定比例（例如1 0 %)之可自行測試的 配件持續測試—段時間（例如4小時）。 ^適配運轉測試所涵蓋的項目通常和功能性測試相 ^ ^ Μ運轉測試所使用的測試台5 2亦可加以設定，以執 :同的Ϊ與延伸的適配運轉（強化）'則試，因此無須準備 費]、，、彳喊設備，而能省下測試台52的保養費與人員訓練 測試ί ?配Γ:時，可自行測試的電子配件10會置於 (a/vL , ’、〇刖所述。輸出訊號埠（例如音訊與視訊 會由測試機槽背板連接1 04至輸入訊號埠自動迴
470878 五、發明說明（19) 路。測試台5 2也會自動與測試伺服器7 2、一個或多個顯示 器7 6以及電源78自動連接。 可自行測試的配件1 0和功能性自我測試一樣，都可在 安裝至測試機槽5 6之後，開始進行適配運轉測試，或者所 有可自行測試的配件1 0可同時啟動，如當測試台5 2内的所 有測試機槽5 6均包含一可自我測試的組件1 0。 在指令模組6 4上執行的使用者介面6 5，一般會在適配 運轉測試期間顯示測試狀態。另外，測試完成後，連接到 系統50的顯示器68、76會顯示n PASS”或n FAIL”訊息。故障 訊息會儲存在每個可自行測試的配件1 0内，同時也會儲存 於控制單元6 4磁碟機6 3上的日誌檔。 當測試操作員在使用者介面6 5上的選定機槽上按一下 時，和測試有關的詳細資訊會選擇性地顯示在指令單元6 4 上。每個測試都會顯示一個標準的日誌檔2 4，以及一個相 關的錯誤日誌。測試使用者介面6 5會收集所有的程序資 訊，並儲存產量資料（y i e 1 d d a t a )與故障資訊，因此操作 員在進行測試或SPC資料收集時，無須手動操作。 可自行測試的配件在順利完成診斷與適配運轉測試之 後，會自動離開自我測試模式。然後，已通過的自我測試 組件會由操作員以手動方式，或是由製造、測試設備5 3、 50，自動移至包裝區80。接著，外蓋和盤座可安裝於準備 發貨（例如通過視覺檢測、裝袋）之已通過的自行測試組 件1 0，然後再加以包裝，一般通常會附上補充材料，如連 接纜線與手冊等。
470878 五、發明說明（20) 維修與除錯：測試完成之後，位於「故障」之可自行 測試的配件1 0上的可擷取資料2 4，更適合用於除錯與維修 區域8 2。每個測試都會在測試結果2 4内，建立標準輸出與 標準錯誤檔2 4。根據標準輸出與標準錯誤檔2 4，幾乎大部 份的問題來源都可加以判定（如特殊的錄影機路徑、一或 多片晶片）。可加以擷取的資料2 4能用於故障分析與維 修，因而減少操作員以手動標示或輸入資料的麻煩。維修 區的電腦8 3連接至可自行測試的配件1 0，並能擷取所儲存 的測試結果與錯誤檔2 4。維修區的電腦8 3最好包含故障分 析軟體，以分析所擷取的測試報告2 4，並指出可能發生的 問題，同時建議解決方案。例如，維修電腦8 3可能會建議 維修技術人員測試一或多項元件1 6 (例如建議技術人員測 量微處理器之接腳的電壓）。維修電腦8 3也會以圖形顯示 有問題的樣本接腳訊號波形。在測量或診斷一或多個元件 1 6或電路1 4之後，軟體會建議解決方案，或建議執行進一 步的分析。 在其他較佳之具體實施例中，維修電腦8 3上的統計顯 示會伴隨潛在問題的報告。例如，若可自行測試的配件1 0 偵測到問題，該組件1 0或維修電腦8 3會報告問題潛在來源 的數據資料（例如由接腳1〜8所測得的電壓顯示，第一個 元件1 6 a故障的機率是9 0 % ;由接腳1〜1 6所測得的電壓顯 示，第二個元件1 6 b故障的機率為1 0 %。因此，可自行測試 的配件1 0、測試系統5 0以及維修電腦8 3，可根據先前對一 或多個可自行測試之配件1 0所進行的測試與解決方案，以
470878 五、發明說明（21) - 及技術人員和工程師的意見，建立為組件丨〇除錯的「知 慧」。 曰 因此，儲存於每個可行測試之組件的測試報告24，可 為技術人員提供重要的工具，以針對可自行測試的配件i 〇 進行除錯與維修工作。也就是說，所儲存並能加以擷取的 測試報告24，能有效診斷並校正問題、降低技術人員所需 要的技術層級，進而降低可自行測試之配件1 〇的平均價 格。 統計測試概觀：在測試時間或工作時間結束時，指令 電腦（Command computer) 6 4會製作並列印摘要樓案，顯示 所測試之可自行測試的配件1 〇數量、每個所測試之組件1 〇 的序號2 9、每個配件1 〇的測試結果、整體產量（即通過測 試之組件1 〇數量佔全部所測試之組件數量的百分比），以 及測試期間的錯誤類型摘要或不良組件1 〇的摘要。伺服器 6 2也會連接到製造區域5 3，讓操作人員以即時模式，先存 檔以供稍後擷取的方式，選擇性地檢視測試狀態結果、所 測試的單元與產量。測試系統可以在運作期間的任一選定 時間（例如下午2點），報告所測試的組件1 0為何，以及 設備5 3、5 5 (即合格率）在這段時間的產量。在一天結束 時’糸統會製作當天的產量報告，而在一週結束時，系統 則會製作一週的產量報告。雖然此一報告類型對製造環境 來說’確有其必要’然而可自行測試之配件i 〇以及可自行 測試之系統5 0所提供的自動化程度是各自不同的。另外， 每個可自行測試之配件1 0所提供診斷測試層級與除錯資訊
470878 五、發明說明（22) 也都是獨一無二的。 手组：ϊ ί:資訊追蹤：在擴充的製造系統中，類似的電 子組件通常在不同的地方製造，例如同類= 刊阶杜的供應商“，如合約製造商。可自我測 。式勺配件早7L 1 0通常包含一獨特的識別號碼 29，讓測試操作員或使用者知道造： 有些傳統的電子製造系統在元件或母板=二作 為識別。條碼讀取器通常會在組裝線上，鱼母 =條碼有所接，。含轉助電腦在内的外部mu錄 識別用的條碼，以追蹤元件及其相關配件。 y自行測試的電子配件1〇與傳統的追縱系統不同’前 τ:在内部追蹤並記錄元件識別資料。可自行測試之配件 γ中的元件^通常都有獨特的系統識別資料17，而該識別 貝料可由處理H 18來判定。例士。’每個磁碟機2〇都有一個 :特的序號Π。、因此，每個可自行測試之配件單元ι〇都具 有獨特的糸統識別碼2 9 ’以及磁碟機序號1 γ。 在可自行測試之配件單元上的大部^元件16,都直有 可加以偵測並儲存的識別資料。除了磁碟機2〇的序號咖 外’ CPU1 8以及其他元件ί 6 ’如編碼器與解碼器上的步進 編號1 7 ( s t e p p i n g n u m b e r )亦可加以辨識。 因此，當每個可自行測試之配件10經起始4匕（如啟動 ^並開始自行測試時’ τ自行測試之組件1〇會從含有識別 予串17的兀件16 (如編碼器）上讀取該項資訊，並將可存 取的識別字串17記錄於記憶體20。可自行測試的電子配件
第27頁 470878 五、發明說明（23) 1 0會記錄所有 每個可自行測 試之電子配件 訊，以及所有 對於將元 區5 3，指令站 發生故障之可 當新的一批編 可追蹤的步調 配件未通過編 共通的問題， 號17〇 動將這些 29。因此 包含功能 件1 0結合 ，且證實 顯示或警 個編碼器 比例之可 ’測試系 批之解碼 可存取的資 試之電子配 1 〇的内部儲 可讀取的元 件1 6與可自 6 4會針對幾 自我測試的 碼器運達製 編號17)， 碼與解碼迴 並將問題連 訊* 1 7，並自 件1 0的序號 存狀態2 4會 件資訊1 7。 行測試之配 個經過辨識 配件，提出 造廠53 (每 其中有相高 路折返測試 結到新的一 資料連結到 ，可自行測 性測試資 起來的製造 特定元件1 6 告。例如， 都具有一個 自行測試的 統51會找出 器的步調編 、、可自打測試之配件的較佳電路：圖丨5是較佳之可自 測試的電子配件的第一個電路方塊圖i 7〇a。圖丨6則是圖^ 所顯示之可自行測試的配件之第二個電路方塊圖i7〇b。由 於基本的可自行測試的配件i 〇可安裝於多種 品，顯示於圖15、16之較佳、可自行測試之收 到電視程式排程資料，為電視檢視提供一時間轉換系統， 同時提供程式指引資料與控制。 在一可自行測試之電子配件1 〇的較佳具體實施例中， 其微處理器18是IBM PPC40 3GCX處理器。處理器、18的序列 連接埠1 7 2與膠合邏輯1 7 4、安全微處理器1 7 6、IR板1 7 8與 IR輸出插座（output jack) 1 80相連。處理器i 8也連接至 設1 8 2、位址匯流排1 8 4與資料匯流排1 8 6。一系列的
470878 五、發明說明（24) A d d r e s s M U X ’ s 1 8 8均接到位址匯流排1 8 4，並連結到與資 料匯流排186相連的EDO-DRAM 190序列。快閃記憶體192也 連結到位址匯流排1 8 4與資料匯流排1 8 6。另外，DSS崞 UART194與位址匯流排184及資料匯流排186相連，並和Dss 埠乂¥以96與0331/(：】&〇1^198相連。數據機河〇]，在其中一 具體實施例所採用的機種是Rockwell Part No. R C 3 3 6 L U，與位址匯流排1 8 4以及資料匯流排1 8 6相連，並 與數據機MDP 2 0 2相連，而在其中一具體實施例中，則採用 Rockwel 1 Part No. RC3 3 6LDU機型。快閃記憶體 2 0 4與 SRAM記憶體2 0 6也和數據機MCU2 0 0及數據機MDP2 0 2相連。 同時和數據機MDP2 0 2相連的包括：DDA裝置2 0 8、210、 2 1 2 ’而在其中一具體實施例中，則分別為：K r y p t ο η Part Nos· K951C、K9 3 4L、Κ 9 5 2。DAA212也和 RJ11 連接器 2 1 4相連。1 2 C匯流排2 1 6和時脈晶片2 1 8與電池2 2 0相連。 如圖1 6所示，位址匯流排1 8 4、資料匯流排1 8 6、1 2 C 匯流排21 6均與媒體開關AS 1C 2 2 2相連。媒體開關AS IC2 2 2 與IDE介面224、MPEG2A/V解碼器226(在其中一具體實施 例中是I BM CS22)，以及一 MPEG2視訊編碼器2 2 8 (在其中 一具體實施例中是Sony Part No· CXD 1 9 2 2Q)。測試邏輯 2 2係經由I D E介面2 2 4輸入。Μ P E G 2音訊編碼器2 3 0也連結至 媒體開關A S I C 2 2 2與Μ P E G 2音訊編碼器2 2 8。Μ P E G 2音訊編碼 器2 28採用SDRAM2 3 2。匯流排開關234也連結至位址匯流排 184、資料匯流排186，以及MPEG2視訊編碼器2 2 8與MPEG2 音訊編碼器2 3 0。N T S C視訊編碼器2 3 6 (在其中一具體實施
第29頁 470873 五、發明說明（25) 例中為 Brooktree Part No· BT865A)與 MPEG2 A/V解碼器 2 2 6相連。N T S C視訊編碼器2 3 6接到和r ◦ a推疊2 4 0、2 4 2相 連的雙op-amp 2 3 8 (在其中一具體實施例中是Elantec Part No· EL22 5 0C) 。NTSC視訊編螞器2 36也包括s視訊輸 出連接3 1。音訊混音器晶體2 4 4 (在其中一具體實施例中 是IBM Part No. CS43 3 3)連接至媒體開關as IC 222，以及 包含RCA推疊接頭36、38的高速op —amp24 6 (在其中一具體 實施例中是 Motorola Part No. MS3 3204D)。一個三合一 微調器248 (在其中一具體實施例是Alps Part 口 TMDH2xxxx系列）連接至NTSC視訊編碼器2 3 6、高速 op-amp24 6，並連結至MTS音訊解碼器2 5 0與NTSC音訊解碼 器 2 5 2。 系統安全：可自行測試之配件丨〇的較佳具體實施例， 如圖1 5與圖1 6所示，係用來傳送分散式電視服務的平台。 如要提供合乎經濟效益的分散式電視服務，必須在每個接 收器可自行測試之配件與電視檢視資訊之中央資料庫2 6 4 (圖1 9)之間，提供安全、經驗證的通訊。如此一來，可 自打測試之電子配件丨0的較佳具體實施例即在安全的架構 下運作。另外，安全、經驗證的通訊也是可自行測試之配 件1 0在其他具體實施例中的較佳選擇。 圖17是安全軟體模組25 (圖υ轉換至安全微處理器 176的詳細方塊圖，以及在製造過程中，安全鑰匙27〇、 2 72在安全微處理器176上，後續的產生、儲存與轉換。安 全軟體模組25包含驗證演算法2 5 8、加密與解密演算法
第30頁 470878 五、發明說明（26) 顯 2 6 0、以及鑰匙產生演算法2 6 2。圖1 8為一流程圖2 7 8， 示安全鑰匙270、27 2在安全微處理器17 6上的產生、儲存 與轉換。 當可自行測試之電子配件1 〇啟動後（或是當自行測試 完成時），配件會產生屬於自己的保密鑰匙，以限制配件 1 0的存取。當可自行測試的電子配件1 〇找到測試台5 2的測 试機槽5 6、並正進行測試時，内部的安全微處理器1 7 6會 =安全軟體模組2 5，下載2 6 4至内部記憶體2 6 6。接下來， 女全微處理1 7 6會執行内部編寫的安全軟體2 5，以產生一 士包含公共機碼2 7 2與私人密碼2 7 0的安全输匙2 6 8。私人 270儲存2 74於安全微處理器176的内部記憶體2 6 6，而 ^ :、，碼272則儲存於則與測試資料，一併傳送2 76至指令 用;安2人二4:接者，如圖1 8所示，安全微處理器1 7 6會停 斷）軟體環境所作的變更（如硬體保險絲燒 “d!授權的人員存取、使用或修改。 TF马驗證與女全機 鑰匙傳送至可自行測試之電：72 7 ° ’可將工作階段 私人密碼270不會出現/ ^ ώ 件1 0，並驗證外部服務。 排上（如資料匯流排二;測試之配件10的任何匯流 外部系統使用私人密碼27〇盥^ =會從配件U傳送出去。 加以控制，同時讓系統5〇在可可自^丁測試之配件1〇溝通並 从存取和可自行測試 仃刿試之配件1 〇上生效， 此，可6 τ 4 〈配件10有關的資料盥作查 轉換公共機碼2 76,讓系上屬自己的私人密竭27〇,並 充50和可自行測試之配件10溝
470878 五、發明說明（27) 通0 由於每個可自行測試的配件10都會於内部產生屬扒 己的私人密碼2 7 0 ’而且不會將該私人密碼外傳，因此、自 自行測試之配件10的存取受到嚴格的控制。合格的外° 統（如測試系統51或其他合格的系統）只須對公丘機3糸 2 72保密，而每個公共機碼272僅對特定之可自行測試的 件1 0有效。因此，可自行測試的配件丨〇會建立安全、 的溝通管道，以連接到合格的外部系統。 ϋ ^ 較佳具體實施例之詳細診斷測試：圖15與圖16所 之較，電路U的診斷測試，是由—系列核心（c〇re)的 測試早兀所組成，包括Core0功能測試、c〇rel功能測=
Core2功能測試。 1 ”
Core0功能測試程序22存放於快閃記憶體中，在—且 體貫施例中，包含Flash/CRC測試、power pC内部測試、 System RAM記憶體測試與Disk/IDE元件測試。 ,Corel功能測試程序22一般儲存於Kernei記憶體中， 通常是由積體電路（1C)層級上一系列暫存器測試所組成， 就所顯示的具體實施例而言，則包含使用者層級的安全測 試，MediaSwitch暫存器測試、MPEG音訊編碼器暫存器測 試、MPEG音訊編碼器暫存器測試’ 12c暫存器測試（適用 於NTSC編碼器、NTSC解碼器立體聲（Msp)編碼器、RTC與微 調器）、12S暫存器測試、MPEG解碼器暫存器測試、MpEG AV解碼器SDRAM測試，以及MPEG音訊編碼器SDRM測試。 Core2功能測試程序22包含完整的音訊/視訊（a/v)、iR^
第32頁 470878 五、發明說明（28)
序列連接埠 Ker ne 1記憶 編碼的視訊 訊訊號比較 顯示 系 試（於RF、 與程式設計 測試、序列 試、以及數 部裝置開始 並經由終端 完成，即使 資訊會儲存 迴路折 體上， 影像、 、音訊 列解碼 合成物 、溫度 埠測試 據機指 (例如 伺月艮器 稍早曾 於可自 〜丄。乙叨月& >則試# ,r议於通常包含儲存磁碟機上的YUV色列及其 一系列解碼、編碼、解碼迴路作業鱼' 標準訊號、及其在儲存磁碟機上的ς1 、編碼、解碼與音訊訊號比較' VBI… 與S-Video 1/0上執行）、IR迴路折返 感測、時間與日期設定作業、冷卻風犮 、紅外線接收器（I R b 1 a s t e r )接頭測 令測試。數據機測試一般從UUT撥接外 測試數據機60)，經過PSTN摸擬器58， 6 2傳送測試檔到測試PC64。診斷測試已 發生故障’或是記錄了幾個故障。故障 行測試的配件磁碟機2 0之日誌檔。 已安裝之可自行測試的配件作業：可自行測試之配件 10的技術，可運用於各種所製造的物品。可自行測試的配 件10之較佳具體實施例，如圖15、16所顯示，會接收電視 程式排程資料、提供電視檢視的時間轉換系統、並提供程 式指引資料與控制。圖1 9是與中央電腦2 84溝通之已安 裝、較佳之可自行測試的配件丨0的系統方塊圖。在遠端位 置2 8 2上，例如住豕，可自行測試之配件1 〇通常與電源 2 9 8、收到的電視汛號線2 9 2、電話線2 9 〇、電視機2 9 4、以 及其他轉助兀件’如卡式錄影帶錄影機2 9 5、立體音響系 統2 8 6、喇叭2 9 8 a、2 9 8 b，以及其他裝置，如遙控器、電 視遊樂器裝置或網際網路連接裝置（例如WebTy主控台及
470878 五 、發明說明（29) 遠 等 端WebTV鍵盤）Γ自；?干目丨1 4 λα μ # i、凑、证^ f置，ii接s\ 的件過電話網路29〇 展置，連接至中央系統2 8 4。 較佳之可自我測試的配件丨〇會選擇性地擷取 妣#u並加以儲存（例如儲存於内部的磁碟機），以彳1 ^铉 所；式指刪可協助裝置妥善地地為 "w 斤、取的私式，同時建議符合所輸入之程式矜 =供使用的程式。較佳之可自我測試的配件 : ”的檢視習t貫，傳送進一步檢視之相關建議（；：據= 自仃測试的裝置丨0會偵測檢視者是否喜歡看「自己動手 2 Ϊ員的即目，如果是，則會建議類似的節目，或是預 ΐ 容之即將播出的“，例如木工ί ^ 豕庭維4程式等）。 2 84 ^ # 1 ^ f ^ ^ ^ 行之自行測試的^Λ如果則量而得的溫度），或是定期進 佳之可自行測試的以追縱配件的長期效能）。較 回中央系統284，而$中Α亦/可選擇性地將電視檢視歷程傳 的檢視資訊，俾依糸統284通常會收集數個檢視者 檢視資料會成為^ 而，產生統計檢視資料。收集而來的 資料。 θ ’ ’、 要的資訊’而不使用或散佈個人的檢視 現場測試與記錄： — 1 0經分配或县/认4 在車父佳具體貫施例中，當配件元件 續自行監視，並追蹤外I !82運作時’每個組件10都會持 或内部作業溫度等。 1作業狀況’像是電源故障、周圍 ^ °如所所述，可使用溫度感測器2 8來追
五 蹤 、發明說明（30) 周圍或作業溫度，俾於必要 施例中’可自行測試的 =電扇26。在本具體實 於内部2 4。 、、fe、’測夏溫度，並將資訊儲存 了自行測試的配件1 〇合 … 央伺服器284溝通，同日卑值曰、、，兮攸現場透過數據機44與中 284會從一或多個配件丄妾^存的資訊。中央伺服器 器2 8 4或是遠接沾中 妾收並儲存監測資訊。中央伺服 能，建立血Λ腦64會為每個配件單元1 〇的現場效 20 22 26”2t、:則試資料、配件10及内部元件…-…， 配件以及配件上所追:之之間互關係。系統因而能針對 間。 所追如之70件，提出故障的統計平均時 配件=試二及將資料轉換至中央系統：可自行測試的 ^ ^曰測忒期間與測試之後，提供和關鍵元件有關的 貝：；：鍵元件通常是指配件上所佔比例不甚高的元件 /0 ，然而卻為配件提供高比例的製造成本與可靠 的=此11 (如9 0幻。在圖1 5 ' 1 6所顯示的較佳具體實施 例’基於鬲成本與故障的相對平均時間（與配件丨〇其他 兀件比較）等考量，MPEG編碼器、解碼器、微處理器1 8與 記憶體2 0可視為關鍵元件1 6。 _ 可自行測試的配件1 〇會持續一段時間，根據元件和測 "式、纟"果建立資料庫記錄。資料庫記錄會定期傳送至中央系 ，2 64 ’而每個可自行測試之配件1 0以及相關之可自行測 "式之配件1 0 (例如類似的元件1 6、電路1 4或製造曰期）的 中央資料庫也會逐漸建立起來。
第35頁 470878 五、發明說明（31) 另外，可自行測試的配件1 0也會視作業參數或測試結 果，傳送訊息給使用者。例如，當可自行測試的配件1 0測 量到高達華氏1 3 0度的作業溫度時，就會發出訊息，指示 使用者檢查安裝的位置（如直接受到日曬的窗口位置，或 是靠近電熱器的位置）。 雖然可自行測試的配件1 0及其使用方法，在本文中是 與視訊、音訊訊號處理及儲存一起說明，其設備與技巧亦 適用於其他裝置、測試或作業環境。另外，雖然可自行測 試的配件1 0及其使用方法，在本文中是與特定硬體一併說 明，如微處理器、編碼器、解碼器及訊號處理裝置，該設 備與技術亦適用於其他類比或數位元件與電路。 因此，雖然本發明是和特定的最佳具體實施例一起說 明，具備本技藝各項技術的人員自然能在不偏離以下申請 專利範圍之精神的前題下，評鑑各項可加以實施的修訂與 功能強化。 元件符號對照說明： 10 電子配件 12 裝置櫃 12 配件座架 12 母板 14 電路 16 元件
470878 五、發明說明（32) 17 資訊 18 處理Is 20 記憶儲存體 22 測試邏輯 23 樣本貢訊 24 測試結果 25 安全軟體 26 冷卻風扇 28 溫度感測器 29 序號 30 連結介面 31a S視訊輸出 32 訊號 32a 影像輸出 32b 影像輸出 3 3s S視訊輸入 34 訊號 34a 影像輸入 34b 影像輸入 36 RCA推疊 3 6a 右頻道聲音輸出 36b 右頻道聲音輸出 38 RCA推疊 3 8a 左頻道聲音輸出
第37頁
470878 五、發明說明< 〔33) 38b 左 頻 道 聲 音 出 40 訊 號 40a 接 頭 42 訊 號 42a 接 頭 44a 接 頭 46 訊 號 46a 接 頭 47 訊 號 47a 接 頭 48a 接 頭 40a 左 頻 道 聲 音 m 入 40b 左 頻 道 聲 音 入 41 影 像 42a 右 頻 道 聲 音 入 42b 右 頻 道 聲 音 輸 入 43 聲 音 輸 出 45 聲 音 m 出 44a 數 據 機 接 頭 44b 數 據 機 接 頭 47a 無 線 電 接 頭 47b 無 線 電 接 頭 48a 電 源 接 頭 48b 電 源 接 頭
第38頁
470878 五、 發明說明< 〔34) 50 測 言式 系 統 51 狀 態 模 組 52 測 試 架 53 製 造 區 54 測 試 排 55 ό又 備 56 測 試 槽 58 PSTN 電 話 線 連線 60 數 據 機 62 終 端 饲 服 器 63 磁 碟 機 64 電 腦 65 指 令 電 腦 66 電 腦 68 顯 示 器 72 影 像 i>6v 出 埠 74 影 像 選 擇 紐 76 顯 示 器 78 電 源 接 線 80 包 裝 與 運 送 區 82 維 修 83 電 腦 84 不 良 品 區 92 迴 路
第39頁
470878 五、發明說明1 〔35) 9 2a 迴 路 折 返 電 路 92b 迴 路 折 返 電 路 93c 迴 路 折 返 電 路 94d 迴 路 折 返 電 路 95e 迴 路 折 返 電 路 102 背 板 支 撐 架 104 背 板 106 彈 簧 110 調 整 孔 150 測 試 座 架 152 滑 動 件 154 框 架 158 後 固 定 架 160 測 試 櫃 162 前 視 圖 164 散 熱 孔 168 可 固 定 腳 輪 170 鉸 鏈 172 櫃 子 172 後 視 圖 172 序 列 連 接 埠 174 膠 合 邏 輯 176 通 風 孔 178 IR板
第40頁
470878
五、發明說明（36) 180 I R輸出插座 184 位址匯流排 186 資料匯流排 188 Address MUX' s 190 EDO—DRAM 192 快閃記憶體 194 DSS淳 UART 196 DSS埠 XVR 198 D S S I / C插座 200 數據機MCU 202 數據機MDP 204 數據機MDP 206 SR AM記憶體 208 DDA裝置 210 DDA裝置 212 DDA裝置 214 RJ1 1連接器 216 1 2 C匯流排 218 時脈晶片 220 電池 222 媒體開關ASIC 224 I D E介面 226 MPEG2A/V解碼器 228 Μ P E G 2視訊編碼Is 470878 五、發明說明（37) 230 MPEG2音訊編碼器 232 SDRAM 234 匯流排開關 236 N T S C視訊編碼 器 238 雙 op-amp 240 RCA推疊 242 RCA推疊 244 音訊混音器晶 體 246 高速op-amp 248 三合一微調器 250 MTS音訊解碼器 252 N T S C音訊解碼 器 258 驗證演算法 260 加密與解密演 算法 262 鑰匙產生演算 法 264 下載 266 内部記憶體 268 安全錄匙 2 6 8a 音箱 2 6 8b 音箱 270 密碼 272 公共機碼 274 儲存 276 公共機碼
第42頁
470878 五、發明說明（38) 2 7 8 流程圖 2 8 2 遠端位置 284 中央電腦 286 立體音響系統 2 9 0 電話線 2 9 2 電視訊號線 2 94 電視機
2 9 5 卡式錄影帶錄影機 2 9 8 電源 2 9 8 a 刺口八 2 9 8 b 17 刺口八
第43頁 470878 圖式簡單說明 圖式描述 圖1為可自行測試之電子配件之方塊圖。 圖2為裝有一組或多組可自行測試之配件組合、一具指揮 單元，並與一具或多具顯示器連結之多插槽測試台之方 塊圖。 圖3為可自行測試之系統迴路折返連結的方塊圖。 圖4為彈簀背板及背板支撐架之前視圖。 圖5為組合接頭背板之前方斜視圖。 圖6為測試插槽架構之後視圖。 圖7為測試插槽架構之前視圖。 圖8為測試插槽架構之右侧視圖。 圖9為測試插槽架構之前俯視圖。 圖1 0為測試插槽架構之後俯視圖。 圖11為多插槽測試台裝置櫃之前視圖。 圖1 2為多插槽測試台裝置櫃之側視圖。 圖1 3為多插槽測試台裝置櫃之後視圖。 圖1 4為多插槽測試台裝置櫃之底部仰視圖。 圖1 5為第一張可執行自我測試之配件的方塊圖。 圖1 6為如圖1 5所示，第二張可執行自我測試配件之方塊圖 〇 圖17為製造過程中最佳之安全鑰匙之形成、儲存與分送之 詳細方塊圖。 圖18為製造過程中最佳之安全鑰匙之形成、儲存與分送之 流程圖。
第44頁 470878 圖式簡單說明 圖1 9為與電腦連線之可自行測試之配件系統方塊圖。
第45頁 1

Claims (1)

  1. 470878 六、申請專利範圍 申請專利範圍 1. 一種可自行測試的系統，包含： 一具有多數互連元件的電子電路； 連接至該電子電路的一組或多組記憶體裝置，至少有 一記憶體儲存裝置包含測試該電子電路的測試邏輯； 一位於該系統且與該電子電路連結的處理器，該處理 器從一或多記憶體儲存裝置中，擷取該測試邏輯，以 測試該電子電路，並依據該測試邏輯執行該測試，並 將該測試結果儲存於至少一記憶體儲存裝置上。 2. 如申請專利範圍第1項所述之可自行測試的系統，其中 至少一互連元件包含可讀取的資訊，且其中該處理器會 讀取該可讀取的資訊，並將該資訊儲存於至少一記憶體 儲存裝置上。 3. 如申請專利範圍第1項所述之可自行測試的系統，其中 該電子電路包含傳送輸出訊號用的裝置，以及接收輸入 訊號的裝置，更進一步包括： 一用以連接該裝置的迴路折返電路，將該輸出訊號傳送 至該裝置，以接收輸入訊號；以及一處理器，包含可經 由該迴路折返電路傳送測試訊號的裝置，以測試該用以 傳送輸出訊號的裝置，以及用以接收輸入訊號的裝置。 4 .如申請專利範圍第3項所述之可自行測試的系統，其中 該輸出訊號與該輸入訊號為音訊訊號。 5 .如申請專利範圍第3項所述之可自行測試的系統，其中 該輸出訊號與該輸入訊號為視訊訊號。
    第46頁 470878 六、申請專利範圍 6 .如申請專利範圍第3項所述之可自行測試的系統，其中 該輸出訊號與該輸入訊號為資料訊號。 7.如申請專利範圍第3項所述所述之可自行測試的系統， 其中該輸出訊號與該輸入訊號為編碼訊號。 8 .如申請專利範圍第1項所述所述之可自行測試的系統， 其中該處理器會回應該測試結果傳送一訊號。 9.如申請專利範圍第1項所述所述之可自行測試的系統， 更進一步包含： 一連接的電腦，其中所儲存的測試結果可由該電腦加以 擷取。 1 0 .如申請專利範圍第9項所述之可自行測試的系統，其中 該連接的電腦位於該電子電路的遠端位置。 Π .如申請專利範圍第9項所述之可自行測試的系統，其中 該連接的電腦為一測試電腦。 1 2 .如申請專利範圍第9項所述所述之可自行測試的系統， 其中該連接的電腦為維修電腦。 1 3 .如申請專利範圍第1項所述所述之可自行測試的系統， 其中該電子電路包含監視該配件之作業參數用的裝 置，而其中該處理器可將所監測的作業參數，儲存於 至少一記憶體儲存裝置上。 1 4.如申請專利範圍第1項所述所述之可自行測試的系統， 其中至少一該記憶體裝置包含安全軟體，並進一步包 含： 具有内部記憶體的安全微處理器，該安全微處理器包
    第47頁 470878 六、申請專利範圍 括一用以接收該安全軟體的裝置、一可產生含私人密 碼與公共機碼之安全鑰匙的裝置。 1 5 .如申請專利範圍第1項所述所述之可自行測試的系統， 其中該安全微處理器包括一可避免對該安全軟體作變 更的裝置。 1 6. —種電子配件測試系統，包含·· 一具有多數元件之電子電路； 一測試程序，儲存於至少一互連元件上； 一測試裝置，可依據該所儲存之測試程序，測試至少 一互連元件；以及可擷取的測試結果，儲存於至少一 該互連元件上。 1 7.如申請專利範圍第1 6項所述所述之電子配件測試系 統，其中至少一互連元件包含可讀取的資訊，而其中 該可讀取的資訊係以可擷取的方式，儲存於至少一互 連元件上。 1 8.如申請專利範圍第1 6項所述所述之電子配件測試系 統，其中該電子電路包括一傳送輸出訊號用的裝置， 以及一接收輸入訊號用的裝置，更進一步包括： 一用以連接該裝置的迴路折返電路，以便將該輸出訊 號傳輸至該用以接收輸入訊號的裝置；以及其中該測 試裝置包括一經由該迴路折返電路傳送測試訊號之裝 置，以測試該傳送該輸出訊號用的裝置，以及該接收 輸入訊號用的裝置。 1 9.如申請專利範圍第1 8項所述所述之電子配件測試系
    第48頁 470878 六、申請專利範圍 統，其中該輸出訊號與該輸入訊號為音訊訊號。 2 0 .如申請專利範圍第1 8項所述所述之電子配件測試系 統’其中該輸出訊號與該輸入訊號為視訊訊號。 2 1 .如申請專利範圍第1 8項所述所述之電子配件測試系 統，其中該輸出訊號與該輸入訊號為資料訊號。 2 2 .如申請專利範圍第1 8項所述所述之電子配件測試系 統’其中該輸出訊號與該輸入訊號為編碼的訊號。 2 3 .如申請專利範圍第1 6項所述所述之電子配件測試系 統，其中該測試裝置會傳送一訊號，以回應該測試結 果。 2 4 .如申請專利範圍第1 6項所述所述之電子配件測試系 統，更進一步包括： 一連接至該電子配件之遠端測試電腦，其中所儲存的 測試結果可由該遠端測試電腦加以擷取。 2 5 .如申請專利範圍第1 6項所述所述之電子配件測試系 統，更進一步包括： 一連接至該電子配件的遠端維修電腦，其中該測試結 果可由該遠端維修電腦加以擷取。 2 6 .如申請專利範圍第1 6項所述所述之電子配件測試系 統，其中該電子電路包括一用以監測該配件之作業參 數用的裝置，且其中該所監測之作業參數是以可加以 擷取的方式，儲存於至少一該互連元件上。 2 7.如申請專利範圍第1 6項所述所述之電子配件測試系 統，更進一步包括：
    第49頁 470878 六、申請專利範圍 一儲存於至少一互連元件上的安全軟體；以及一具有 内部記憶體的安全微處理器，該安全微處理器包括接 收該安全軟體的裝置、可產生含私人密碼與公共機碼 之安全鑰匙的裝置、可將該私人密碼儲存於該内部記 憶體的裝置、以及用以傳送該公共機碼的裝置。 2 8 .如申請專利範圍第1 6項所述所述之電子配件測試系 統，其中該安全微處理器包括可避免更動該安全軟體 的裝置。 2 9 . —種可自行測試的系統，包括： 一具有多數測試機槽的測試機槽台，每個測試機槽具 有一背板接頭，該背板接頭具有至少一訊號連接、一 電源連接、以及至少一迴路折返電路； 至少一可自行測試的電子配件經由該背板接頭，安裝 於至少一測試機槽上，該可自行測試的電子配件包含 一具有多數互連元件的電子電路、一或多數記憶體儲 存裝置與該電子電路相連，至少一該記憶體儲存裝置 包含測試邏輯，以測試該電子電路、以及一位於該配 件上並與該電子電路相連的處理器，該處理器係用來 擷取該試邏輯，俾從一或多數記憶體儲存裝置測試該 電子電路，根據該測試邏輯執行該測試，並將該測試 結果儲存於至少一記憶體儲存裝置；以及一與該測試 機槽台相連的電腦，該電腦包括一裝置，可用來監測 至少一所安裝之可自行測試的電子配件。 3 0 .如申請專利範圍第2 9項所述所述之可自行測試的系
    第50頁 470878 六、申請專利範圍 統，其中該電腦係位於該測試機槽台的遠端位置。 3 1.如申請專利範圍第2 9項所述所述之可自行測試的系 統，其中該電腦與電話線連接。 3 2 .如申請專利範圍第2 9項所述所述之可自行測試的系 統，其中該電腦與網際網路連接。 3 3 .如申請專利範圍第2 9項所述所述之可自行測試的系 統，更進一步包括：至少一測試顯示器，與該測試台 至少一訊號連接相連。 3 4 .如申請專利範圍第2 9項所述所述之可自行測試的系 統，其中至少一可自行測試的電子配件包括一儲存於 至少一記憶體儲存裝置上的安全軟體，更進一步包 括： 一具有内部記憶體的安全微處理器，該安全微處理器 包括用以接收該安全軟體之裝置、可根據該安全軟體 產生含私人密碼與公共機碼之安全鑰匙的裝置、可將 該私人密碼儲存於該内部記憶體之裝置，以及用以傳 送該公共機碼的裝置。 3 5 .如申請專利範圍第2 9項所述所述之可自行測試的系 統，其中該安全微處理器包括可避免更動該安全軟體 的裝置。
    第51頁
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