CN101149411A - 便携式电子装置测试系统及测试方法 - Google Patents

便携式电子装置测试系统及测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101149411A
CN101149411A CNA2006100627297A CN200610062729A CN101149411A CN 101149411 A CN101149411 A CN 101149411A CN A2006100627297 A CNA2006100627297 A CN A2006100627297A CN 200610062729 A CN200610062729 A CN 200610062729A CN 101149411 A CN101149411 A CN 101149411A
Authority
CN
China
Prior art keywords
product
data processor
coding
portable electron
module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CNA2006100627297A
Other languages
English (en)
Inventor
魏兆鸿
单弘
贾铁山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd filed Critical Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Priority to CNA2006100627297A priority Critical patent/CN101149411A/zh
Priority to US11/767,002 priority patent/US7802143B2/en
Publication of CN101149411A publication Critical patent/CN101149411A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/263Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • General Factory Administration (AREA)

Abstract

一种便携式电子装置测试系统,包括一数据处理器、一初测机台及一终测机台;测试过程中数据处理器产生与被测产品对应的编码;初测机台对产品进行测试并将编码标记在产品上;终测机台读取编码,并将编码传输至数据处理器;数据处理器根据输入的编码即可查询出该编码所对应产品的初测信息。本发明还提供一种使用上述便携式电子装置测试系统对产品进行测试的便携式电子装置测试方法。

Description

便携式电子装置测试系统及测试方法
技术领域
本发明涉及一种便携式电子装置测试系统及测试方法,特别涉及一种从已经完成初测的产品中分辨漏测产品及不合格产品的便携式电子装置测试系统及测试方法。
背景技术
在移动电话等便携式电子装置的生产过程中,出厂之前的性能测试是必不可少的一道工序。现有的测试系统包括一测试机台及一与该测试机台相连接并预先安装了测试程序的数据处理器。测试时,将便携式电子装置逐一地置于测试机台上采集相关数据,并使用数据处理器运行测试程序,显示测试数据。
当生产规模较大时,需要同时使用多套上述的测试系统同时测试大量产品。此时产线非常繁忙,劳动强度很大,导致操作人员易于疏忽,测试时很可能漏过一些未经测试的产品,或者未能从产线上及时清除测试程序中评定为不合格的产品。这样,未测试产品甚至不合格产品可能因疏忽而混入成品中,影响成品整体质量。
当一批便携式电子装置产品完成上述的测试后,若存在上述的失误情况,则需要再通过一次测试从该批成品中找出未测试产品或不合格产品。依照上述现有的测试系统及测试方法,再次测试必须花费大量额外的工作时间对整批产品重新进行一次与上述测试方法完全重复的测试工作,在时间及人力上均造成严重浪费,极大地影响生产效率。若产品已经包装完毕,则还需要拆开原包装重新测试后再次进行包装,耗费更多成本。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种能够从已经完成初测的大量产品中迅速分辨出未测试产品及不合格产品的便携式电子装置测试系统。
另外,有必要提供一种能够从已经完成初测的大量产品中迅速分辨出未测试产品及不合格产品的便携式电子装置测试方法。
一种便携式电子装置测试系统,该便携式电子装置测试系统包括一数据处理器、一初测机台及一终测机台;该数据处理器包括一编码模块,该编码模块产生与被测产品对应的编码;该初测机台包括一数据采集装置及一编码标记装置,数据采集装置对产品进行测试并将初测数据传输至所述数据处理器,编码标记装置将所述编码模块产生的编码标记在产品上;该终测机台包括一编码读取装置,该编码读取装置读取产品的编码,并将编码传输至所述数据处理器;数据处理器根据输入的编码查询该编码所对应产品的初测数据。
一种便携式电子装置测试方法,该方法包括以下步骤:通过一数据处理器控制一初测机台对产品进行初测,其中该数据处理器包括一编码模块,该编码模块产生与被测产品对应的编码;该初测机台包括一数据采集装置及一编码标记装置,数据采集装置对产品进行测试并将初测数据传输至该数据处理器,编码标记装置将该编码模块产生的编码标记在产品上;通过该数据处理器储存相关信息;通过该数据处理器控制一终测机台对产品进行终测,该终测机台包括一编码读取装置,该编码读取装置读取产品的编码,并将编码传输至该数据处理器;该数据处理器通过输入的编码查询出该编码所对应的产品的初测数据。
与现有技术相比,本发明提供的便携式电子装置测试系统及测试方法能够对产品进行编码,然后在终测中输入编码即可查询对应产品初测数据而不必进行与初测重复的测试工作,可迅速从大量经过初测的产品中找出漏测产品及不合格产品,操作简单快捷,成本低廉。
附图说明
图1为本发明便携式电子装置测试系统较佳实施例的结构方块图。
图2为本发明便携式电子装置测试系统较佳实施例中数据处理器的功能模块图。
图3为本发明便携式电子装置测试系统较佳实施例中初测机台及终测机台与数据处理器相连接的方块图。
图4为本发明便携式电子装置测试方法较佳实施例的工作步骤流程图。
具体实施方式
请参阅图1,本发明便携式电子装置测试系统较佳实施例包括一数据处理器1、一初测机台2及一终测机台3。数据处理器1为计算机等数据处理装置,该数据处理器1与初测机台2及终测机台3连接。
请参阅图2,数据处理器1包括一网卡10、一输入/输出模块11、一数据库模块12、一数据处理模块13、一编码模块14、一指令模块15及一显示模块16。初测机台2及终测机台3均通过网卡10与数据处理器1连接。输入/输出模块11用于在数据处理器1与初测机台2及终测机台3之间传输数据及指令等相关信息。数据库模块12用于安装初始测试程序、设置测试参数及储存测试参数、产品编码、产品初测数据等相关信息。数据处理模块13用于处理上述的各类相关信息。编码模块14用于产生与被测产品一一对应的编码。指令模块15用于对初测机台2及终测机台3进行远程控制。显示模块16用于显示上述各类相关信息。
请一并参阅图3,初测机台2包括一数据采集装置22、一第一接口24及一编码标记装置26。数据采集装置22及编码标记装置26均与第一接口24相连接。数据采集装置22内装设有万用表、测力计、影像传感器等多种测量装置,可对便携式电子装置产品在电学、力学、光学等多个方面上进行性能测试。第一接口24与数据处理器1的网卡10相连接,可在初测机台2与数据处理器1之间传输数据及指令,上述各种测量装置采集的各类初测数据均可以通过该第一接口24传输至数据处理器1进行处理及显示。编码标记装置26可通过第一接口24获取编码模块14产生的编码,并以条形码的形式将编码标记在产品上。
终测机台3包括一编码读取装置32及一第二接口34。编码读取装置32为扫描枪等条形码检测装置,可读取以条形码形式标记在经过初测的产品上的编码。第二接口34将编码读取装置32与数据处理器1的网卡10相连接,编码读取装置32读取产品的编码后,通过该第二接口34将编码传输至数据处理器1。
本发明便携式电子装置测试方法的较佳实施例即使用该便携式电子装置测试系统对便携式电子装置产品进行性能测试。请参阅图4,该本发明便携式电子装置测试方法较佳实施例主要包括以下步骤:
对本发明便携式电子装置测试系统进行组装,将初测机台2的第一接口24及终测机台3的第二接口34均连接至数据处理器1的网卡10上(步骤S1)。
完成组装后,开启该便携式电子装置测试系统中数据处理器1、初测机台2及终测机台3的电源(步骤S2)。
对该便携式电子装置测试系统进行初始化(步骤S3);其具体方法系先行检查系统内是否已经安装测试程序(步骤S301),若尚未安装,则通过数据处理器1的数据库模块12安装测试程序(步骤S302)并设置测试参数(步骤S303)。若测试程序已经安装在系统内,则步骤S302可以省略,直接执行步骤S303即可完成系统初始化。
系统初始化完成后,即可对产品开始初测(步骤S4)。通过数据处理器1的指令模块15控制初测机台2将待测试的便携式电子装置产品逐一地置入数据采集装置22内(步骤S401),并操纵数据采集装置22内装设的各种测量装置,按照测试程序采集产品各方面的初测数据(步骤S402)。
初测机台2将一个产品的初测数据采集完毕后,即通过第一接口24将初测数据传送至输入/输出模块11,然后输入/输出模块11将初测数据传送至数据处理模块13进行分析处理(步骤S403)。数据处理模块13将初测机台2采集的初测数据与数据库模块12内储存的测试参数进行比较,若产品初测数据未超过测试参数规定的合格范围,则该产品可以通过测试,反之则不能通过测试。每一产品的初测数据均通过显示模块16进行显示(步骤S404),此时即可依照显示模块16显示的初测数据清除大部份不合格产品。经显示的初测数据被储存在数据库模块12内(步骤S405)。
在每一产品完成初测后,编码模块14即对该被测产品进行编码(步骤S406),每一被测产品均具有与其唯一对应的编码,该编码亦被储存在数据库模块12内(步骤S407),与其相应产品的初测数据一一对应。每一编码完成后,即通过初测机台2的第一接口24传输至相对应的编码标记装置26,编码标记装置26以条形码的形式将编码标记在相对应的产品上(步骤S408)。
每一产品的初测及编码均完成后,系统可由人工操作或程序自动判断是否还有其它待测产品(步骤S409)。若还有其它待测产品,则返回步骤S401,向数据采集装置22内安放下一个产品并开始新一轮初测及编码;如此重复步骤S401至步骤S409,直至没有剩余的待测产品,即可结束初测。
编码完成后,随时可以对产品进行终测(步骤S5)。终测时,将待测试的便携式电子装置产品置于终测机台3上,通过数据处理器1的指令模块15控制终测机台3将产品逐一地送入其编码读取装置32内(步骤S501),并操纵编码读取装置32通过扫描条形码的方法寻找并读取产品编码(步骤S502)。首先通过寻找编码来检查产品是否在初测中漏测(步骤S503),若有产品漏过初测,则编码读取装置32无法寻找到该产品对应的编码,此时显示模块16显示该产品漏测(步骤S504)。若产品经过初测,则编码读取装置32读取产品编码,通过第二接口34将所有产品的编码逐一地输入数据处理器1(步骤S505)。数据处理器1的数据处理模块13通过输入的编码查询出每一编码相对应的产品储存在数据库模块12内的初测数据(步骤S506),并由显示模块16进行显示(步骤S507)。若有产品未通过初测,则显示模块16显示其编码所对应的初测数据,即可表明该产品初测不合格。通过上述方式,即可及时地清除初测中的漏测产品及不合格产品。
每一产品的终测完成后,系统可由人工操作或程序自动判断是否还有其它待测产品(步骤S508)。若还有其它待测产品,则返回步骤S501,向编码读取装置32内安放下一个产品并开始新一轮终测;如此重复步骤S501至步骤S508,直至没有剩余的待测产品,即可结束终测。
可以理解,本发明便携式电子装置测试系统较佳实施例中初测机台2及终测机台3均可为多台,该多台初测机台2及终测机台3可均通过网卡10与数据处理器1连接,只要编码模块14为该多台初测机台2及终测机台3测试的每一产品均分配唯一一个对应的编码,即可同时使用该多台初测机台2及终测机台3对产品进行测试。
另,若仅需要对尚未进行包装的产品进行终测,则可以先对所有产品进行编码后再进行初测,并将每一编码所对应产品的初测数据储存在数据库模块12内。终测中用编码读取装置32读取所有产品的编码,若有产品未进行初测,则显示模块16将显示某一编码缺少所对应的初测数据,该编码所对应的产品即可判定为漏测产品;若有产品未通过初测,则显示模块16显示其编码所对应的初测数据,即可表明该产品初测不合格。
可以理解,可在初测机台2上进一步装设一包装装置(图未示),每一产品完成初测及编码后即可通过该包装装置进行包装,然后编码标记装置26将代表该产品编码的条形码或其它标记标示在产品包装上。如此,在终测时不必拆开每一产品之包装,直接用编码读取装置32寻找及读取产品包装上的编码,根据编码及产品之间相互对应的关系即可得知包装内的产品是否漏测产品或初测不合格的产品。

Claims (13)

1.一种便携式电子装置测试系统,包括一数据处理器及一初测机台,该初测机台包括一数据采集装置,该数据采集装置对产品进行测试并将初测数据传输至所述数据处理器,其特征在于:该数据处理器包括一编码模块,该编码模块产生与被测产品对应的编码;该初测机台进一步包括一编码标记装置,该编码标记装置将所述编码模块产生的编码标记在产品上;该便携式电子装置测试系统进一步包括一终测机台,该终测机台包括一编码读取装置,该编码读取装置读取产品的编码,并将编码传输至所述数据处理器;数据处理器根据输入的编码查询该编码所对应产品的初测数据。
2.如权利要求1所述的便携式电子装置测试系统,其特征在于:所述数据处理器进一步包括一数据库模块、一数据处理模块及一输入/输出模块,该数据库模块储存相关信息,该数据处理模块处理相关信息,该输入/输出模块在数据处理器与初测机台及终测机台之间传输相关信息。
3.如权利要求1所述的便携式电子装置测试系统,其特征在于:所述数据处理器进一步包括一指令模块及一显示模块,该指令模块用于对初测机台及终测机台进行远程控制,该显示模块用于显示相关信息。
4.如权利要求1所述的便携式电子装置测试系统,其特征在于:所述数据处理器进一步包括一网卡,所述初测机台及终测机台通过该网卡与所述数据处理器连接。
5.如权利要求4所述的便携式电子装置测试系统,其特征在于:所述初测机台进一步包括一第一接口,所述数据采集装置及所述编码标记装置均与该第一接口相连接,该第一接口与所述网卡相连接;所述终测机台进一步包括一第二接口,该第二接口将所述编码读取装置与所述网卡相连接。
6.如权利要求4所述的便携式电子装置测试系统,其特征在于:所述便携式电子装置测试系统进一步包括多台初测机台及多台终测机台,该多台初测机台及多台终测机台均通过所述网卡与所述数据处理器连接。
7.一种便携式电子装置测试方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
通过一数据处理器控制一初测机台对产品进行初测,其中该数据处理器包括一编码模块,该编码模块产生与被测产品对应的编码;该初测机台包括一数据采集装置及一编码标记装置,数据采集装置对产品进行测试并将初测数据传输至该数据处理器,编码标记装置将该编码模块产生的编码标记在产品上;
通过该数据处理器储存相关信息;
通过该数据处理器控制一终测机台对产品进行终测,该终测机台包括一编码读取装置,该编码读取装置读取产品的编码,并将编码传输至该数据处理器;
该数据处理器通过输入的编码查询该编码所对应的产品的初测数据。
8.如权利要求7所述的便携式电子装置测试方法,其特征在于:所述数据处理器进一步包括一数据库模块、一数据处理模块、一指令模块及一显示模块;该数据库模块储存相关信息,该数据处理模块处理相关信息,该指令模块用于对初测机台及终测机台进行远程控制,该显示模块用于显示相关信息。
9.如权利要求7所述的便携式电子装置测试方法,其特征在于:所述数据处理器进一步包括一网卡,所述初测机台及终测机台通过该网卡与所述数据处理器连接。
10.如权利要求9所述的便携式电子装置测试方法,其特征在于:所述便携式电子装置测试方法同时使用多台初测机台及多台终测机台对产品进行测试,该多台初测机台及多台终测机台均通过该网卡与所述数据处理器连接。
11.如权利要求7所述的便携式电子装置测试方法,其特征在于:所述编码以条形码的形式标记在产品上。
12.如权利要求7所述的便携式电子装置测试方法,其特征在于:该便携式电子装置测试方法中可先对所有产品进行编码,然后对产品进行初测。
13.如权利要求7所述的便携式电子装置测试方法,其特征在于:所述初测机台进一步包括一包装装置,该包装装置对每一完成初测及编码的产品进行包装,所述编码标记装置将该产品的编码标示在产品包装上。
CNA2006100627297A 2006-09-22 2006-09-22 便携式电子装置测试系统及测试方法 Pending CN101149411A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA2006100627297A CN101149411A (zh) 2006-09-22 2006-09-22 便携式电子装置测试系统及测试方法
US11/767,002 US7802143B2 (en) 2006-09-22 2007-06-22 Testing system and testing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA2006100627297A CN101149411A (zh) 2006-09-22 2006-09-22 便携式电子装置测试系统及测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN101149411A true CN101149411A (zh) 2008-03-26

Family

ID=39226438

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNA2006100627297A Pending CN101149411A (zh) 2006-09-22 2006-09-22 便携式电子装置测试系统及测试方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7802143B2 (zh)
CN (1) CN101149411A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105654246A (zh) * 2016-01-08 2016-06-08 滁州嘉泰科技有限公司 一种应用于生产产品扫码的检测系统
CN106872836A (zh) * 2015-12-11 2017-06-20 研祥智能科技股份有限公司 生产线上的分布式自动化检测系统和方法
WO2019033793A1 (zh) * 2017-08-15 2019-02-21 昆山维信诺科技有限公司 电子产品及其测试方法和装置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108764394A (zh) * 2018-05-08 2018-11-06 信利半导体有限公司 触摸模组防呆测试系统及方法
CN113016148A (zh) * 2018-11-13 2021-06-22 诺基亚通信公司 测试方法和布置
CN113933627A (zh) * 2021-10-08 2022-01-14 网易有道信息技术(北京)有限公司 用于自动测试验证电子产品的方法及其相关产品

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4862067A (en) * 1987-06-24 1989-08-29 Schlumberger Technologies, Inc. Method and apparatus for in-circuit testing of electronic devices
JPH0618590A (ja) 1992-06-30 1994-01-25 Taiyo Yuden Co Ltd 電子部品検査システム
DE19713932A1 (de) * 1997-04-04 1998-10-08 Omicron Electronics Gmbh Testsystem und Testverfahren
US6385739B1 (en) * 1999-07-19 2002-05-07 Tivo Inc. Self-test electronic assembly and test system
US6574537B2 (en) * 2001-02-05 2003-06-03 The Boeing Company Diagnostic system and method
US6782331B2 (en) * 2001-10-24 2004-08-24 Infineon Technologies Ag Graphical user interface for testing integrated circuits
US7007206B2 (en) * 2002-05-28 2006-02-28 Agilent Technologies, Inc. Interactive circuit assembly test/inspection scheduling
US7054881B2 (en) * 2002-12-17 2006-05-30 Sun Microsystems, Inc. Method and system for reporting standardized and verified data
US6882950B1 (en) * 2003-01-17 2005-04-19 Unisys Corporation Building and testing complex computer products with contract manufacturers without supplying proprietary information
US20060195748A1 (en) * 2005-02-25 2006-08-31 Inventec Corporation Electronic product testing procedure supervising method and system
US7813292B2 (en) * 2005-08-01 2010-10-12 Lamprey Networks, Inc. Communication protocol testing system
US7386420B2 (en) * 2006-06-02 2008-06-10 United Microelectronics Corp. Data analysis method for integrated circuit process and semiconductor process

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106872836A (zh) * 2015-12-11 2017-06-20 研祥智能科技股份有限公司 生产线上的分布式自动化检测系统和方法
CN105654246A (zh) * 2016-01-08 2016-06-08 滁州嘉泰科技有限公司 一种应用于生产产品扫码的检测系统
WO2019033793A1 (zh) * 2017-08-15 2019-02-21 昆山维信诺科技有限公司 电子产品及其测试方法和装置
TWI702541B (zh) * 2017-08-15 2020-08-21 大陸商昆山維信諾科技有限公司 電子產品及其測試方法和裝置

Also Published As

Publication number Publication date
US20080077821A1 (en) 2008-03-27
US7802143B2 (en) 2010-09-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101149411A (zh) 便携式电子装置测试系统及测试方法
CN108021079B (zh) 巡回检查系统、巡回检查装置、巡回检查方法及记录介质
CN101540069B (zh) 一种热力系统巡检与管理的方法
CN105378700A (zh) 测量数据的捕获和关联
CN102163055B (zh) 工业分散式控制系统的综合智能校验方法
CN102353927A (zh) 用电信息采集系统现场测试仪及其测试方法
CN110246052A (zh) 设备检查系统和设备检查方法
CN105554265A (zh) 桥梁检测方法、手持终端及云服务器
CN106408201A (zh) 计量用自动化检定检测系统设备巡检系统及方法
CN111751049A (zh) 机械指针式仪表自动检测装置和检测方法
CN204480344U (zh) 一种选煤厂手持式无线巡检仪
CN110138637A (zh) 测试数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质
CN104764486A (zh) 土木工程测量信息化系统
CN112990489A (zh) 输变电设备检测试验数据统一格式文件生成及转换方法
CN210627271U (zh) 混凝土试块追溯装置
CN102043707B (zh) 嵌入式应用的性能测试方法、嵌入式终端设备及网络系统
CN115841108A (zh) 一种计量检测校准方法
CN202383684U (zh) 环保移动执法终端
CN102221472A (zh) 一种机器性能测试方法及装置
CN211577735U (zh) 一种交通运输工程检测设备管理系统
KR102269641B1 (ko) 입출력모듈 점검 시스템
CN203535668U (zh) 系统、现场仪表以及管理传感器的设备
CN217506573U (zh) 一种设备检修数据管理系统
CN218600594U (zh) 一种编码器的自动化校正检验系统
CN212513464U (zh) 机械指针式仪表自动检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Open date: 20080326