TWI464439B - 儀器自檢系統及方法 - Google Patents

Description

儀器自檢系統及方法

本發明涉及一種檢測系統及方法，尤其涉及一種儀器自檢系統及方法。

當今在工業製造，國防科技，電子通訊，民用辦公等領域電子儀器設備的應用相當的廣泛。隨著社會的進步、經濟的發展，國防、基礎工業、民用設施對電子設備的依賴性也越來越強。可以說，電子儀器設備的發展決定著世界政治，經濟的發展命脈。在電腦研發的過程中，研發工程師經常需要借助如示波器、網路分析儀等電子測試儀器對產品進行相關測試，工程師再根據測試結果對產品品質進行判斷是否符合要求。在用儀器進行測量前，往往需要對儀器進行一系列的準備動作，如靜電防護、預熱、校準等。

工程師在利用儀器進行測試時容易忽略掉所有或部分步驟，這將造成以下問題：1.儀器不在正常的使用環境中使用可能會對儀器造成損壞。如正常使用電壓，必要的靜電防護等；2.如果沒有對儀器進行必要的準備動作確認，如預熱、儀器校準、自檢查等，儀器可能無法正常工作或得到錯誤的測試結果；3.測試前的儀器配件設置錯誤，將影響測試結果的準確性；4.不同測試人員測試時，由於儀器配件等設置不一樣，將導致同一待測物不同人員測 試時測試結果不一致，使設計人員無法判斷結果的準確性。

鑒於以上內容，有必要提供一種儀器自檢系統及方法，可以減少因為人員疏忽導致的問題。

一種儀器自檢系統，運行於測試儀器上，該測試儀器包括校準單元。該系統包括：獲取模組，用於獲取測試儀器的輸出電壓，該測試儀器的當前校準狀態；提示模組，用於若輸出電壓不在標準工作電壓範圍內，提示用戶關閉該測試儀器，調整該測試儀器的工作電壓至標準工作電壓範圍內，還用於提示用戶對測試儀器和測試人員做好靜電防護措施；調用模組，用於當該測試儀器的當前校準狀態不是校準成功狀態時，調用校準單元對該測試儀器進行校準；所述獲取模組，還用於當所述當前校準狀態是校準成功狀態時，接收所選擇的測試通道；所述提示模組，還用於當所選擇的測試通道沒有連接探棒時，提示用戶將該測試通道連接探棒；所述獲取模組，還用於當需要對所選擇的測試通道設置抗歪斜值時，接收用戶設置的抗歪斜值，所述校準單元根據該抗歪斜值對所述測試通道調整抗歪斜；及儲存模組，用於儲存該測試儀器在檢測過程中的自檢資訊。

一種儀器自檢方法，該方法包括如下步驟：(a)獲取測試儀器的輸出電壓；(b)若該輸出電壓不在標準工作電壓範圍內，提示用戶關閉該測試儀器，調整該測試儀器的工作電壓至標準工作電壓範圍內；(c)提示用戶對測試儀器和測試人員做好靜電防護措施；(d)當該測試儀器的當前校準狀態不是校準成功狀態時，調用校準單元對該測試儀器進行校準；(e)當該測試儀器 的當前校準狀態是校準成功狀態，接收用戶所選擇的測試通道；(f)當所選擇的測試通道沒有連接探棒時，提示用戶將該測試通道連接探棒；(g)當所選擇的測試通道有連接探棒且需要對所選擇的測試通道設置抗歪斜值時，接收用戶設置的抗歪斜值，所述校準單元根據該抗歪斜值對所述測試通道調整抗歪斜；及(h)儲存測試儀器在檢測過程中的自檢資訊。

相較於習知技術，所述儀器自檢系統及方法，及時提醒測試人員對儀器進行測試前檢測相關事項，減少因為人員疏忽造成的。

1‧‧‧測試儀器

10‧‧‧儀器自檢系統

11‧‧‧顯示螢幕

12‧‧‧資料庫

13‧‧‧校準單元

20‧‧‧獲取模組

21‧‧‧判斷模組

22‧‧‧提示模組

23‧‧‧調用模組

24‧‧‧儲存模組

S30‧‧‧獲取測試儀器的輸出電壓

S31‧‧‧該輸出電壓是否在標準電壓範圍內

S32‧‧‧判定該輸出電壓不正常

S33‧‧‧提示用戶調整該輸出電壓

S34‧‧‧判定該輸出電壓正常

S35‧‧‧提示用戶確認該測試儀器和測試人員做好防護措施

S36‧‧‧獲取該測試儀器的當前校準狀態

S37‧‧‧該當前校準狀態是否為校準成功狀態

S38‧‧‧對該測試儀器進行校準

S39‧‧‧更新該測試儀器的當前校準狀態

S40‧‧‧接收用戶所選擇的該測試儀器的測試通道

S41‧‧‧偵測用戶選擇的測試通道是否連接了探棒

S42‧‧‧提示用戶對該測試通道連接探棒

S43‧‧‧用戶是否需要對選擇的測試通道設置抗歪斜值

S44‧‧‧根據用戶設置的抗歪斜值對測試通道調整抗歪斜

S45‧‧‧儲存測試儀器在檢測過程中的自檢資訊

圖1係本發明儀器自檢系統較佳實施例之硬體架構圖。

圖2係圖1中儀器自檢系統之功能模組圖。

圖3係本發明儀器自檢方法較佳實施例之作業流程圖。

如圖1所示，係本發明儀器自檢系統較佳實施例之運行環境圖。該儀器自檢系統10運行於測試儀器1上，該測試儀器1可以是示波器、網路分析儀等。該儀器自檢系統10用於在該測試儀器1進行測試工作之前，查看該測試儀器1是否做好檢測工作。該測試儀器1包括一個顯示螢幕11和資料庫12，該顯示螢幕11作為該測試儀器1的輸出介面，該資料庫12用於儲存該測試儀器1的標準工作電壓和當前校準狀態。該當前校準狀態包括：校準成功狀態和校準失敗狀態。該測試儀器1還包括校準單元13，該校準單元13用於對該測試儀器1進行校準，該校準包括對該測試儀器1的測試通道，探棒的校準。該校準單元13還用於調整該測試儀器1的各個通道歪斜情況。

如圖2所示，係圖1中儀器自檢系統10之功能模組圖。所述儀器自檢系統10包括：獲取模組20、判斷模組21、提示模組22、調用模組23及儲存模組24。所述模組是具有特定功能的軟體程式段，該軟體儲存於電腦可讀儲存介質或其他儲存設備，可被電腦或其他包含處理器的計算裝置執行，從而完成儀器自檢的作業流程。

獲取模組20用於獲取測試儀器1的輸出電壓。

判斷模組21用於判斷該輸出電壓是否在標準工作電壓範圍內，若該輸出電壓在標準工作電壓範圍內，該判斷模組21判定該測試儀器1的輸出電壓正常。若該輸出電壓不在標準工作電壓範圍內，則該判斷模組21判定該測試儀器1的輸出電壓不正常。例如，獲取模組20獲取的輸出電壓為210V，該測試儀器1的標準工作電壓範圍為220V~230V，則該判斷模組21判定該測試儀器1的輸出電壓不正常。

提示模組22用於當該測試儀器1的輸出電壓不正常時，提示用戶關閉該測試儀器1，調整該測試儀器1的工作電壓。本較佳實施例中，該提示模組22於顯示螢幕11上彈出對話方塊來提示用戶。

該提示模組22還用於提示用戶確認該測試儀器1和測試人員做好靜電防護措施。若用戶確認該測試儀器1和測試人員均做好靜電防護措施，則獲取模組20用於從資料庫12中獲取該測試儀器1的當前校準狀態。

判斷模組21還用於判斷該測試儀器1的當前校準狀態是否為校準成功狀態。若該測試儀器1的當前校準狀態不是校準成功狀態，調用模組23用於調用校準單元13對該測試儀器1進行校準。

儲存模組24用於更新資料庫12中該測試儀器1的當前校準狀態。

若該測試儀器1的當前校準狀態是校準成功狀態，所述獲取模組20還用於接收用戶所選擇的該測試儀器1的測試通道。所述判斷模組21還用於偵測用戶所選擇的測試通道是否連接了探棒。若用戶所選擇的測試通道沒有連接探棒，則提示模組22用於提示用戶將探棒連接到該測試通道上。

若用戶所選擇的測試通道都連接了探棒，則該判斷模組21還用於判斷用戶是否需要對所選擇的測試通道設置抗歪斜值。若用戶需要對所選擇的測試通道設置抗歪斜值，則所述獲取模組20還用於獲取用戶設置的抗歪斜值，所述校準單元13根據該抗歪斜值對所述測試通道調整抗歪斜。

儲存模組24將測試儀器1在檢測過程中的自檢資訊儲存到資料庫12中，該自檢資訊包括該測試儀器1每個測試通道的抗歪斜值，該測試儀器1的校準情況，探棒連接情況等。

如圖3所示，係本發明儀器自檢方法較佳實施例之作業流程圖。

步驟S30，獲取模組20獲取測試儀器1的輸出電壓。

步驟S31，判斷模組21判斷該輸出電壓是否在標準工作電壓範圍內。若該輸出電壓不在標準工作電壓範圍內，則進入步驟S32。若該輸出電壓在標準工作電壓範圍內，直接進入步驟S34。

步驟S32，該判斷模組21判定該測試儀器1的輸出電壓不正常。於步驟S33中，提示模組22提示用戶關閉該測試儀器1，調整該測試儀器1的工作電壓至標準工作電壓範圍內，並轉入步驟S30。

步驟S34，判斷模組21判定該測試儀器1的輸出電壓正常。

步驟S35，所述提示模組22提示用戶確認該測試儀器1和測試人員做好防護措施。

步驟S36，獲取模組20從資料庫12中獲取該測試儀器1的當前校準狀態。

步驟S37，判斷模組21判斷該測試儀器1的當前校準狀態是否為校準成功狀態。若該測試儀器1的當前校準狀態不是校準成功狀態，則於步驟S38中，調用模組23調用校準單元13對該測試儀器1進行校準，並進入步驟S39，儲存模組24更新資料庫12中該測試儀器1的當前校準狀態，轉至步驟S37。若該測試儀器1的當前校準狀態是校準成功狀態，則進入步驟S40。

步驟S40，獲取模組20接收用戶所選擇的該測試儀器1的測試通道。

步驟S41，判斷模組21偵測用戶所選擇的測試通道是否連接了探棒。若用戶所選擇的測試通道沒有連接探棒，於步驟S42中，所述提示模組22提示用戶對該測試通道連接探棒。

若用戶所選擇的測試通道連接了探棒，於步驟S43中，判斷模組21判斷用戶是否需要對所選擇的測試通道設置抗歪斜值。若用戶需要對所選擇的測試通道設置抗歪斜值，於步驟S44中，獲取模組20獲取用戶設置的抗歪斜值，所述校準單元13根據該抗歪斜值對所述測試通道調整抗歪斜，並進入步驟S45。若用戶不需要對所選擇的測試通道設置抗歪斜值，直接進入步驟S45。

步驟S45，所述儲存模組24儲存測試儀器1在檢測過程中的自檢資 訊到資料庫12中以備查詢，該自檢資訊包括該測試儀器1每個測試通道的抗歪斜值、該測試儀器1的校準情況、探棒連接情況等。

經過上述的步驟的測試儀器自檢，可使得測試儀器工作在正確的測試環境中，保證測試儀器和配件處於正確的設置下，保證了測試儀器的安全和測試結果的正確性與準確性；並且可以保證測試結果的一致性，增加了測試結果的可信度。

最後所應說明的是，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制，儘管參照以上較佳實施例對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發明的技術方案進行修改或等同替換，而不脫離本發明技術方案的精神和範圍。

S30‧‧‧獲取測試儀器的輸出電壓

S31‧‧‧該輸出電壓是否在標準電壓範圍內

S32‧‧‧判定該輸出電壓不正常

S33‧‧‧提示用戶調整該輸出電壓

S34‧‧‧判定該輸出電壓正常

S35‧‧‧提示用戶確認該測試儀器和測試人員做好防護措施

S36‧‧‧獲取該測試儀器的當前校準狀態

S37‧‧‧該當前校準狀態是否為校準成功狀態？

S38‧‧‧對該測試儀器進行校準

S39‧‧‧更新該測試儀器的當前校準狀態

S40‧‧‧接收用戶所選擇的該測試儀器的測試通道

S41‧‧‧偵測用戶選擇的測試通道是否連接了探棒

S42‧‧‧提示用戶對該測試通道連接探棒

S43‧‧‧用戶是否需要對選擇的測試通道設置抗歪斜值

S44‧‧‧根據用戶設置的抗歪斜值對測試通道調整抗歪斜

S45‧‧‧儲存測試儀器在檢測過程中的自檢資訊

Claims (8)

1. 一種儀器自檢系統，運行於測試儀器上，該測試儀器包括校準單元，該系統包括：獲取模組，用於獲取測試儀器的輸出電壓，及獲取該測試儀器的當前校準狀態；提示模組，用於若輸出電壓不在標準工作電壓範圍內，提示用戶關閉該測試儀器，調整該測試儀器的工作電壓至標準工作電壓範圍內，及提示用戶對測試儀器和測試人員做好靜電防護措施；調用模組，用於當該測試儀器的當前校準狀態不是校準成功狀態時，調用校準單元對該測試儀器進行校準；所述獲取模組，還用於當所述當前校準狀態是校準成功狀態時，接收所選擇的測試通道；所述提示模組，還用於當所選擇的測試通道沒有連接探棒時，及提示用戶將該測試通道連接探棒；所述獲取模組，還用於當需要對所選擇的測試通道設置抗歪斜值時，接收用戶設置的抗歪斜值，所述校準單元根據該抗歪斜值對所述測試通道調整抗歪斜；及儲存模組，用於儲存該測試儀器在檢測過程中的自檢資訊。
2. 如申請專利範圍第1項所述之儀器自檢系統，所述自檢資訊包括：該測試儀器每個測試通道的抗歪斜值、該測試儀器的校準情況及探棒連接情況。
3. 如申請專利範圍第1項所述之儀器自檢系統，該測試儀器還包括資料庫，該資料庫用於儲存該測試儀器的標準工作電壓、自檢資訊和該測試儀器 的當前校準狀態，該當前校準狀態包括校準成功狀態和校準失敗狀態。
4. 如申請專利範圍第3項所述之儀器自檢系統，所述儲存模組還用於更新資料庫中該測試儀器的當前校準狀態。
5. 一種儀器自檢方法，該方法包括如下步驟：(a)獲取測試儀器的輸出電壓，及獲取該測試儀器的當前校準狀態；(b)若該輸出電壓不在標準工作電壓範圍內，提示用戶關閉該測試儀器，調整該測試儀器的工作電壓至標準工作電壓範圍內；(c)提示用戶對測試儀器和測試人員做好靜電防護措施；(d)當該測試儀器的當前校準狀態不是校準成功狀態時，調用校準單元對該測試儀器進行校準；(e)當該測試儀器的當前校準狀態是校準成功狀態時，接收所選擇的測試通道；(f)當所選擇的測試通道沒有連接探棒時，提示用戶將該測試通道連接探棒；(g)當所選擇的測試通道有連接探棒且需要對所選擇的測試通道設置抗歪斜值時，接收用戶設置的抗歪斜值，所述測試儀器的校準單元根據該抗歪斜值對所述測試通道調整抗歪斜；及(h)儲存測試儀器在檢測過程中的自檢資訊。
6. 如申請專利範圍第5項所述之儀器自檢方法，所述自檢資訊包括：該測試儀器每個測試通道的抗歪斜值、該測試儀器的校準情況及探棒連接情況。
7. 如申請專利範圍第5項所述之儀器自檢方法，該測試儀器包括資料庫，用於儲存該測試儀器的標準工作電壓、自檢資訊和該測試儀器的當前校準狀態，該當前校準狀態包括校準成功狀態和校準失敗狀態。
8. 如申請專利範圍第7項所述之儀器自檢方法，於步驟(d)之後還包括： 更新資料庫中該測試儀器的當前校準狀態。