TW444501B - Method and apparatus for error detection and correction in image sensor - Google Patents

Method and apparatus for error detection and correction in image sensor Download PDF

Info

Publication number
TW444501B
TW444501B TW088111082A TW88111082A TW444501B TW 444501 B TW444501 B TW 444501B TW 088111082 A TW088111082 A TW 088111082A TW 88111082 A TW88111082 A TW 88111082A TW 444501 B TW444501 B TW 444501B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
value
error
pixel
patent application
image detector
Prior art date
Application number
TW088111082A
Other languages
English (en)
Inventor
Suk-Joong Lee
Gyu-Tae Hwang
Original Assignee
Hyundai Electronics Ind
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hyundai Electronics Ind filed Critical Hyundai Electronics Ind
Application granted granted Critical
Publication of TW444501B publication Critical patent/TW444501B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/68Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Description

4445 Ο Ί
發明之圊 特別關於一方法及裝置以修 本發明關於一影像侦測器 正缺陷像素之值。 1_知技蘢之銳明 逋常,一 “像。二:::::裝置利用糊半導體料以捕 有不同量,自像素=度及波長依其反射面積而 為數位錢,其可由數'同。此等電信號被轉換 ,-轉換器二= 素之像素陣列 存儲裝置等。 電壓仏號為數位電壓信號,許多之 付别在影像 器Ϊ上戶:ΐ,因為影像偵測器需要許多裝:如Ϊ Ϊ競:: 益等,1造上誤差之可能性始終存在。誤差發肖轉換 :差可能以顯示中之點及線方式出% β此外—有链此等 影像偵測器被認為失效裝置,產量 2差之 座"了大減亚浪費資源。 因此,本發明之目的為提供一影像偵測器立 /正缺陷像素之值’之後輸出一修正資料。’、 測及 根據本發明之一特性,備有一影像偵測器含;一古 測電路供將目前像素值與先前像素值間之差異與 f差情 值相比較,以偵出錯誤;及一錯誤修正電路供自參考 正一錯誤值’即先前像素值代替目前像素值。 素修 本發明之錯誤偵測電路含大相減器,其建 、吃卫·目則像素
4445 0 1 五、發明說明(2) - 及先前像素值間之差,及一比較器供將相減器之輸出 定參1值比較,其中預定參考值係存儲於可程式暫存器 。預定參考值係根據光偵感面積及類比至 性而定。 刊佚态之特 根據本發明另一特性,備有一影像偵測器含;一控制及 介面裝置供!利用狀態機器控制影像偵測器’及供一 ^部 統與影像偵測器介面;一像素陣列包括自一物體之許多像 素偵感影像,及根據入射之量產生類比信號;一轉換裝置 將類比信號轉換為數位信號,以便在數位邏輯電路中處理 ;一錯誤偵測電路供將目前像素值與先前像素值間之差異, ,與一預疋參考值加以比較;及—錯誤修正裝置供修正像 素之錯誤值’先前像素值代替目前像素值。 ϋ式簡略説明 : 本發明之上述目的及特性將可自以下之較佳實施例之敘 述及參考伴隨之圖式變為更明顯,其中; 圖1為一方塊圖說明本發明之CMOS影像偵測器; 圖2為一略圖說明CDS之觀念; 圖3為一方塊圖說明錯誤決定之觀念;及 圖4為一方塊圖1之錯誤修正邏輯。 , 較佳膏施你丨之烊鈿鈷诚 以下’本發明將以參考所附圖式詳細說明。 在CMOS影像偵測器中之相鄰像素可能有連續值。因此’ 可能以相鄰像素之比較值預估一像素之錯誤。例如,一像 素之值及其相鄰像素之值間之差異甚大,此像素被認為缺
第5頁 五、發明說明(3) 陷像素。 一 CMOS影像偵測器,其包括一具有8 〇 〇 χ 6 〇 〇像素之像素 陣列’一比較部份32具有800x600比較器,及一雙緩衝器 40具有800x4x8鎖存器,如圖1所示。 此外,一CMOS影像偵測器包括一控制及系統介面1〇以利 用有限自動機(FMS)控制控制影像,及與一外部系統作介 面之用。CMOS影像偵測器之單斜率類比至數位轉換器3 〇將 像素陣列之類比信號轉換為數位信號,一斜坡電壓產生器 3 1產生一參考電壓,其根據一時脈線性降低,一比較部份 3 2將參考電壓與自像素陣列之類比信號相比較,及輸出一 寫入啟動信號,及一雙緩衝器4〇存儲數位化影像值以響應 自比較部份32之寫入啟動信號。 〜 此外,CMOS影像偵測器包括錯誤.修正邏輯5〇以自雙緩衝 Is 4 0接枚資料’及輸出修正之資料至控制及系統介面單元 1 0以響應一錯誤偵測之程式化值。 一外部系統經由一程式介面指示理想作業指令至在控制 及系統介面單元1 〇中之構型暫存器。控制及系統介面單元 1 〇根據程式之資訊適當的驅動像素陣列2 〇,並使其可能自 像素陣列20以線為基準讀出資料。其次,比較部份32 ^像 素陣列20之類比電壓與斜坡電壓產生器31之參考電壓加以 比較’比較值輸出至雙緩衝器40做為寫入啟動信號。 此時,單斜率類比至數位轉換器3 〇將像素陣列2 〇之類比 ^號換為數位信號<將斜坡電壓與類比信號比較即實施此 類比至數位轉換。比較器32搜尋一點,該點之類比信號與
第6頁 444 5 Ο 1 五 '發明說明(4) 具有一決定斜率之下降斜坡電壓相同。當斜坡電壓產生後 並開始下降’控制及系統介面單元丨〇產生計數信號以計算 電壓降之裎度β例如,斜坡電壓開始電壓降,轉換之數位 值可此為2 0 ,在此情況下,類比信號與控制及系統介 =單元10之20時脈時之下降斜坡電壓相同。轉換之數位值 存儲於雙緩衝器40作為數位資料。此處,參考電壓高於類 比電壓,寫入啟動信號被啟動,自控制及系統介面單元ι〇 之計數器值被寫入雙緩衝器4〇中。 錯誤修正邏輯5〇以此方式接收存儲在雙緩衝器4〇中之資 料,並根據一臨界值及一修正控制信號適當修正資料。於 是修正之資料輸出至控制及系統介面單元1〇,最後輸出至 外部系統。 此處,CMOS影像偵測器支持一栢關之雙抽樣方法(以後 稱CDS)以便清除殘留誤差,該誤差由每一像素,比較部份 32等引起。自每一像素及比較部份32之殘留誤差可自重設 定位準減除資料位準而清除,即清除每一像素中及比較器 32之不預期電壓,可能獲得一淨影像資料值。 圖2為一略圖說明產生二參考電壓供斜坡電壓產生器 之CDS。、重設定及資料電壓位準抽樣在64時脈及256時脈期 間分別達成,在此正常作業情況下,重設定電壓位準經常 高於資料電壓位準,如圖2所示◦此CDS方法對精於此技藝 人士所熟知’故細節予以省略。 圖3為一方塊圊說明錯誤決定之觀念。錯誤決定根據一 像素值及其相鄰像素值間之差異而實施。_相減器計算先
4445 Ο 1
則像素值及目前像素值間之差異,一比較器將此差異與存 儲在缺=邊界值暫存器6〇之臨界值加以比較。在先前像素 值及目則像素值間之差異超過一預定臨界值,一錯誤信號( =破輸出以響應一自修正開/閉暫存器7 〇輸出之修正控制 信號。此處’臨界值應根據亮度及反射面積有效決定。因 此,缺陷邊界值暫存器60可予以程式,及缺陷修正開/閉 暫存器70亦可予程式,其中,當需要錯誤修正作業時,缺 陷修正開/閉暫存器70被使用。 囷4為一方塊圖說明圖丨之錯誤修正邏輯。在圖4中,缺 陷邊界值暫存器6〇存儲一臨界值以評估一像素之錯誤,及 ^缺陁修正開/閉暫存器7 〇輸出—修正控制信號以決定錯 誤偵測模式,及“或,,閘1〇〇供或操作第一至第三控制信 號八“,B ,及輸出第四控制信號5及一“及”閘1 1 〇供將 自‘或’’閘100之第四控制信號與自缺陷修正開/閉暫存器 =正控制信號相加’及供輸出_錯誤信號…先前像 素= ^120當與-時脈信號㈤同步時,存儲先前像素值 广::!L誤偵測邏輯8°,其在圖3中包括相減器及比 將臨界值與自前像素暫存器120之先前像 素值與目前像素值間之差晨 ^ 號c至“或,,閘HO。第出第三控制信 收先前像素值及目前像辛:自:=素暫存器120接 素暫存器12〇以響應及值門前者或後者至先前像 δ 次閘1 1 0之錯誤信號。自坌一炙 器130之輸出資料再度存儲在先 誤偵測n第二多n 供次一錯 益14U選擇先别像素值或目前像 4445 Ο 1
五,發明說明(6) 素值以響應自“及”閘丨丨〇之錯誤信號,及輸出最後修正 之資料。
此處,在第一至第三控制信號Λ ’ Β及C輸入至“或,,閘 1〇〇以便決定對應^象~素為缺陷像素’當其中,根據CDS 料).,重設定電壓位準低於資料位準時,第一控 制信號Α輸出以決定缺陷之像素,而不計先前像素值與目 别像素值之比較◊重設定電壓位準在計數64時脈 時脈)之後,低於一電壓時,第二控制信號B被輸出以決定 :缺陷像素,而不計先前像素值與目前像素值之比較。同 日’’在先别像素值與目前像素值間差異超過預定臨界值時 连第三控制信號C輸出以決定缺陷之像素,而不計任何處 。„生之錯誤,即,不計其為像素錯誤,比較器錯誤或鎖存 器錯誤。 — 自 及閘之錯誤信號用以作為第一及第二多工器 及14〇之選擇信號。當錯誤發生在目前像素,先前像素 _ ί器12 存健先前像素值而非目前像素值,作為已修正 資料之先前像素值被輸出至控制及系統介面單元1 0 (圖1 ) 因此’影像偵測器之缺陷像素可以偵出及被修正,影像 傾測器之產量亦可改進。 本發明已以較佳實施例說明’其他修正及變化在不悖離 本發明公布之專利範圍之精神與範圍時均屬可行。

Claims (1)

  1. 1 . 一種影像偵測器*含: 一輯誤偵測電路,供以比較目前像素值與先前一像素值 間之差異與一預定參考值而偵出錯誤;及 一錯誤修正電路,供自一像素修正錯誤,即先前像素值 取代目前像素值。 2. 如申請專利範圍第1項之影像偵測器,其中之錯誤偵 測電路含: 一相減器,建立目前像素值與先前一像素值間之差;及 一比較器,將相減器之輸出與預定參考值相比較,其中 之預定參考值存儲於一可程式暫存器中。 3. 如申請專利範圍第2項之影像偵測器,其中該預定參 考值之決定係根據光偵測面積及類比至數位轉換器之特性 而定。 4. 如申請專利範圍第1項之影像偵測器,其中之影像偵 測器係根據一修正之雙抽樣法。 5. 如申請專利範圍第4項之影像偵測器,其中之影像偵 測器尚含一存儲裝置以存儲由類比至數位轉換器轉換之數 位像素值。 6. 如申請專利範圍第5項之影像偵測器,其中之錯誤偵 測電路,在像素之資料電壓位準高於重設定電壓位準時, 則產生一錯誤信號,其中之影像偵測器選擇一先前像素值 ,而非目前像素值。 7. —種影像偵測器,含: 一控制與介面裝置,其使用一狀態機器來控制該影像偵 測器與並互連該影像偵測器與一外部系統;
    O:\59\59238.ptc 2000. 11.20.010 4445 Ο 1 案號 88111082 六、申請專利範面 一像素陣列’包括來自一物體之許多像素侦測 根據A射光之量產生類比信號; 一轉換裝置,供將類比信號轉換為數位信 蹊虚揀: Ί。現以備由數 電路處理; 一錯誤偵測電路,將目前像素值與先前一像素 位 r y 值間之差 與一預定參考值相比較方式偵出錯誤;及 一錯誤修正裝置,以自像素修正一錯 , 素值取代目前像素值β ’即以先前像 8 如申請專利範圍第7項之影像偵 正裝置含: 其中之錯誤修 一存儲裝置,以存儲一臨界值作 一修正信號存儲裝置,佯笛一 參考值; 第一邏輯裝置,以邏輯作業輸1信婕之用;及 9-如申請專利範®第7項 錯講信號。 枯* a . 像偵滴丨赛,士 两其中之錯誤修 館一能也A 一修正控制裝置,以存儲第一 鳍講之值: 第一邏輯裝置,以組合第二、筏制信鱿; 定一錯誤丨 一、第 第二邏輯裝置,以組合第 控制裝置之第一控制信號 :卜輸出 -先前像素存儲裝置,以與時脈:講信號: 修正 ’ 步从存儲先前像素值 -錯誤偵測裝置,以輸出第 ’目前像紊值及臨界值; 制信 W 正裝置含 一臨界存儲裝置,以 及第四控制信 號以決 值 焚以響應先前像素
    2000.11. 20.01 j 444 5 Ο 1 案號 88111082 修正 六,申請專利範Ε 第一選擇裝置,以輸出先前像 前像责存儲裝置以響應該錯誤信 第二選擇裝置,以選擇先前像 輸出修正之資料以響應錯誤信號 1 0.如申請專利範圍第8項之影 測裝置含: 一相減裝置,以減除該先前像 一比較裝置,將自相減器之最 輸出比較之結果作為第四控制信 11.如申請專利範圍第8項之影 制信號,在依照相關雙柚樣法, 料電壓位準時,為決定錯誤之信 I 2.如申請專利範圍第9項之影 制信號在計數時脈之後,重設定 ,其為決定錯誤之信號。 1 3,如申請專利範圍第9 值至該先 值,最後 像偵測器,其令之錯誤偵 素值 號; 素值 素值 終值 號結 像偵 重設 號。 像偵 電壓 或目前像素 及 或目前像素 及目前像素 與該臨界值 果值》 測器,其中之第二控 定電壓位準高於一資 測器,其中 值低於資料 項之影像偵測器,其中 1 4.如申請專利範圍第9項之影像偵測器,其中 裝置,為一 “或”閘 裝置,為一“及 閘
    O:\59\59238.ptc 值;及 比較,及 之第三控 電壓值時 第一邏輯 第二邏輯 2000.11.20.012
TW088111082A 1998-06-30 1999-06-30 Method and apparatus for error detection and correction in image sensor TW444501B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980025287A KR100340052B1 (ko) 1998-06-30 1998-06-30 이미지센서

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW444501B true TW444501B (en) 2001-07-01

Family

ID=19541774

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW088111082A TW444501B (en) 1998-06-30 1999-06-30 Method and apparatus for error detection and correction in image sensor

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6707493B1 (zh)
JP (1) JP4332687B2 (zh)
KR (1) KR100340052B1 (zh)
TW (1) TW444501B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI412006B (zh) * 2005-07-14 2013-10-11 Samsung Display Co Ltd 顯示裝置之修正影像信號
TWI514372B (zh) * 2009-09-14 2015-12-21 Soonhan Eng Corp 隨機雜訊信號之偵測及過濾方法
CN111341236A (zh) * 2019-05-03 2020-06-26 友达光电股份有限公司 显示装置

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000285229A (ja) * 1999-03-15 2000-10-13 Texas Instr Inc <Ti> ディジタルイメージャのための不良画素フィルタリング
JP2004501575A (ja) * 2000-06-23 2004-01-15 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 画像感知器信号欠陥修正
US6768512B1 (en) * 2000-07-12 2004-07-27 Vanguard International Semiconductor Corp. Method of bad pixel correction
KR100406907B1 (ko) * 2000-11-29 2003-11-21 (주)시아이센서 결함정보를 동일 칩 내에 포함하고 있는 씨모스 이미지 센서
KR100358146B1 (ko) * 2000-12-30 2002-10-25 주식회사 하이닉스반도체 씨모스 이미지 센서
JP2003078821A (ja) * 2001-08-31 2003-03-14 Hitachi Kokusai Electric Inc 撮像装置
JP3931606B2 (ja) * 2001-09-20 2007-06-20 ソニー株式会社 撮像装置およびノイズ除去方法
GB2384409B (en) * 2002-01-16 2005-05-11 Thomson Licensing Sa Method and arrangement for correcting data
KR100411307B1 (ko) * 2002-03-12 2003-12-24 주식회사 하이닉스반도체 자동으로 리셋 전압을 제한하는 기능을 갖는 이미지센서및 이미지센서의 리셋 전압 자동 제어 방법
JP3912672B2 (ja) * 2002-07-05 2007-05-09 ソニー株式会社 固体撮像装置及びその画素欠陥検査方法
KR100975444B1 (ko) * 2003-04-30 2010-08-11 크로스텍 캐피탈, 엘엘씨 리셋전압 보상부를 구비한 이미지센서
US7289683B2 (en) * 2003-10-30 2007-10-30 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. System and method for scintillation suppression in intensified digital video
EP1751690B1 (en) 2004-02-04 2018-10-03 Digimarc Corporation Digital watermarking image signals on-chip and photographic travel logs through digital watermarking
KR100699850B1 (ko) * 2005-06-23 2007-03-27 삼성전자주식회사 이득 특성을 자체적으로 보정하는 cmos 이미지 촬영장치 및 이에 구비되는 램프신호 발생기
US20070291145A1 (en) * 2006-06-15 2007-12-20 Doherty C Patrick Methods, devices, and systems for selectable repair of imaging devices
JP4911234B2 (ja) * 2010-03-23 2012-04-04 コニカミノルタビジネステクノロジーズ株式会社 表示画面制御装置、表示画面制御方法およびプログラム
GB2522479B (en) * 2014-01-28 2020-08-12 Mbda Uk Ltd Improved imaging method and apparatus
EP3100451B1 (en) 2014-01-28 2021-08-25 MBDA UK Limited Improved imaging method and apparatus
US9313485B2 (en) * 2014-02-21 2016-04-12 Semiconductor Components Industries, Llc Imagers with error checking capabilities
US11109016B2 (en) * 2016-03-17 2021-08-31 Semiconductor Components Industries, Llc Methods and apparatus for error detection in an imaging system
DE102016211177A1 (de) * 2016-06-22 2017-12-28 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Überprüfung einer Gültigkeit von Bilddaten
JP7155530B2 (ja) * 2018-02-14 2022-10-19 セイコーエプソン株式会社 回路装置、電子機器及びエラー検出方法
US10999546B2 (en) 2019-03-06 2021-05-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensor and method of operating same

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0496573B1 (en) * 1991-01-24 1995-12-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Pixel defect removing circuit for solid-state image pickup device
JPH05260386A (ja) * 1992-03-16 1993-10-08 Sony Corp 固体撮像素子の欠陥画素検出回路
JP3042159B2 (ja) * 1992-04-10 2000-05-15 ソニー株式会社 Ccd素子の欠陥画素補正回路
JP3331666B2 (ja) * 1993-03-31 2002-10-07 ソニー株式会社 固体撮像装置及び固体撮像装置の欠陥検出補正方法
JPH0723297A (ja) * 1993-06-29 1995-01-24 Sony Corp 固体撮像素子の欠陥検出装置
US5471515A (en) 1994-01-28 1995-11-28 California Institute Of Technology Active pixel sensor with intra-pixel charge transfer
US5841126A (en) 1994-01-28 1998-11-24 California Institute Of Technology CMOS active pixel sensor type imaging system on a chip
KR0181286B1 (ko) * 1995-03-28 1999-05-01 김광호 Ccd 카메라의 디펙트 보상회로
US5854655A (en) * 1995-08-29 1998-12-29 Sanyo Electric Co., Ltd. Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit
AU1689897A (en) 1995-12-29 1997-07-28 Intel Corporation Cmos imaging device with integrated flash memory image correction circuitry
JP3351704B2 (ja) * 1997-04-09 2002-12-03 ペンタックス株式会社 画像信号補正装置
US6396539B1 (en) * 1998-02-27 2002-05-28 Intel Corporation CMOS imaging device with integrated defective pixel correction circuitry
KR100284306B1 (ko) * 1998-10-14 2001-03-02 김영환 이미지 센서의 화질 개선을 위한 단위 화소 구동 방법
KR100284309B1 (ko) * 1998-12-30 2001-03-02 김영환 이미지 센서에서의 리셋 전압을 자동으로 조절하기 위한 리셋전압 조절 장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI412006B (zh) * 2005-07-14 2013-10-11 Samsung Display Co Ltd 顯示裝置之修正影像信號
TWI514372B (zh) * 2009-09-14 2015-12-21 Soonhan Eng Corp 隨機雜訊信號之偵測及過濾方法
CN111341236A (zh) * 2019-05-03 2020-06-26 友达光电股份有限公司 显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20000003979A (ko) 2000-01-25
KR100340052B1 (ko) 2002-07-18
JP4332687B2 (ja) 2009-09-16
US6707493B1 (en) 2004-03-16
JP2000050317A (ja) 2000-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW444501B (en) Method and apparatus for error detection and correction in image sensor
US11470245B2 (en) System and method for fault detection and correction
US7872645B2 (en) On-chip test system and method for active pixel sensor arrays
JP2008022520A5 (zh)
US8817148B2 (en) Method for acquiring data with an image sensor
US8531529B2 (en) Dead pixel compensation testing apparatus
JP6734478B2 (ja) フラックスレートユニットセル焦点面アレイ
US6674404B1 (en) Apparatus and method for detecting and correcting defective pixels in image sensor
JP2011142558A (ja) イメージセンサおよび撮像システム
JP5978636B2 (ja) 撮像装置、及びプログラム
US20080012965A1 (en) Imaging apparatus having a function for estimating a dark current amount
JP5477035B2 (ja) 撮像装置
JP4600350B2 (ja) 画像処理装置及びプログラム
JP2008211528A5 (zh)
KR101195390B1 (ko) 적외선 신호 검출 회로 및 적외선 신호 검출 방법
JP2006157242A (ja) 画像信号のクランプ装置及びクランプ方法
JP5028077B2 (ja) 撮像装置、及びその欠陥画素の判別方法、並びにプログラム
JP2006345279A (ja) 固体撮像素子の画素欠陥検出方法
JP4329677B2 (ja) 動き検出装置
JP2005286825A (ja) 欠陥画素補正装置及び方法及び撮像装置及びプログラム及び記憶媒体
KR100860307B1 (ko) 불량화소 보정장치 및 그 방법
JP2000284059A (ja) 放射線固体検出装置
JP2004336400A (ja) 画像処理装置、この画像処理装置を用いた電子カメラ、画像処理方法、及び画像処理プログラム
JP2006129273A (ja) 撮像装置
JP4285573B2 (ja) 動き検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MK4A Expiration of patent term of an invention patent