TW444501B - Method and apparatus for error detection and correction in image sensor - Google Patents
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Description
4445 Ο Ί
發明之圊 特別關於一方法及裝置以修 本發明關於一影像侦測器 正缺陷像素之值。 1_知技蘢之銳明 逋常,一 “像。二:::::裝置利用糊半導體料以捕 有不同量,自像素=度及波長依其反射面積而 為數位錢,其可由數'同。此等電信號被轉換 ,-轉換器二= 素之像素陣列 存儲裝置等。 電壓仏號為數位電壓信號,許多之 付别在影像 器Ϊ上戶:ΐ,因為影像偵測器需要許多裝:如Ϊ Ϊ競:: 益等,1造上誤差之可能性始終存在。誤差發肖轉換 :差可能以顯示中之點及線方式出% β此外—有链此等 影像偵測器被認為失效裝置,產量 2差之 座"了大減亚浪費資源。 因此,本發明之目的為提供一影像偵測器立 /正缺陷像素之值’之後輸出一修正資料。’、 測及 根據本發明之一特性,備有一影像偵測器含;一古 測電路供將目前像素值與先前像素值間之差異與 f差情 值相比較,以偵出錯誤;及一錯誤修正電路供自參考 正一錯誤值’即先前像素值代替目前像素值。 素修 本發明之錯誤偵測電路含大相減器,其建 、吃卫·目則像素
4445 0 1 五、發明說明(2) - 及先前像素值間之差,及一比較器供將相減器之輸出 定參1值比較,其中預定參考值係存儲於可程式暫存器 。預定參考值係根據光偵感面積及類比至 性而定。 刊佚态之特 根據本發明另一特性,備有一影像偵測器含;一控制及 介面裝置供!利用狀態機器控制影像偵測器’及供一 ^部 統與影像偵測器介面;一像素陣列包括自一物體之許多像 素偵感影像,及根據入射之量產生類比信號;一轉換裝置 將類比信號轉換為數位信號,以便在數位邏輯電路中處理 ;一錯誤偵測電路供將目前像素值與先前像素值間之差異, ,與一預疋參考值加以比較;及—錯誤修正裝置供修正像 素之錯誤值’先前像素值代替目前像素值。 ϋ式簡略説明 : 本發明之上述目的及特性將可自以下之較佳實施例之敘 述及參考伴隨之圖式變為更明顯,其中; 圖1為一方塊圖說明本發明之CMOS影像偵測器; 圖2為一略圖說明CDS之觀念; 圖3為一方塊圖說明錯誤決定之觀念;及 圖4為一方塊圖1之錯誤修正邏輯。 , 較佳膏施你丨之烊鈿鈷诚 以下’本發明將以參考所附圖式詳細說明。 在CMOS影像偵測器中之相鄰像素可能有連續值。因此’ 可能以相鄰像素之比較值預估一像素之錯誤。例如,一像 素之值及其相鄰像素之值間之差異甚大,此像素被認為缺
第5頁 五、發明說明(3) 陷像素。 一 CMOS影像偵測器,其包括一具有8 〇 〇 χ 6 〇 〇像素之像素 陣列’一比較部份32具有800x600比較器,及一雙緩衝器 40具有800x4x8鎖存器,如圖1所示。 此外,一CMOS影像偵測器包括一控制及系統介面1〇以利 用有限自動機(FMS)控制控制影像,及與一外部系統作介 面之用。CMOS影像偵測器之單斜率類比至數位轉換器3 〇將 像素陣列之類比信號轉換為數位信號,一斜坡電壓產生器 3 1產生一參考電壓,其根據一時脈線性降低,一比較部份 3 2將參考電壓與自像素陣列之類比信號相比較,及輸出一 寫入啟動信號,及一雙緩衝器4〇存儲數位化影像值以響應 自比較部份32之寫入啟動信號。 〜 此外,CMOS影像偵測器包括錯誤.修正邏輯5〇以自雙緩衝 Is 4 0接枚資料’及輸出修正之資料至控制及系統介面單元 1 0以響應一錯誤偵測之程式化值。 一外部系統經由一程式介面指示理想作業指令至在控制 及系統介面單元1 〇中之構型暫存器。控制及系統介面單元 1 〇根據程式之資訊適當的驅動像素陣列2 〇,並使其可能自 像素陣列20以線為基準讀出資料。其次,比較部份32 ^像 素陣列20之類比電壓與斜坡電壓產生器31之參考電壓加以 比較’比較值輸出至雙緩衝器40做為寫入啟動信號。 此時,單斜率類比至數位轉換器3 〇將像素陣列2 〇之類比 ^號換為數位信號<將斜坡電壓與類比信號比較即實施此 類比至數位轉換。比較器32搜尋一點,該點之類比信號與
第6頁 444 5 Ο 1 五 '發明說明(4) 具有一決定斜率之下降斜坡電壓相同。當斜坡電壓產生後 並開始下降’控制及系統介面單元丨〇產生計數信號以計算 電壓降之裎度β例如,斜坡電壓開始電壓降,轉換之數位 值可此為2 0 ,在此情況下,類比信號與控制及系統介 =單元10之20時脈時之下降斜坡電壓相同。轉換之數位值 存儲於雙緩衝器40作為數位資料。此處,參考電壓高於類 比電壓,寫入啟動信號被啟動,自控制及系統介面單元ι〇 之計數器值被寫入雙緩衝器4〇中。 錯誤修正邏輯5〇以此方式接收存儲在雙緩衝器4〇中之資 料,並根據一臨界值及一修正控制信號適當修正資料。於 是修正之資料輸出至控制及系統介面單元1〇,最後輸出至 外部系統。 此處,CMOS影像偵測器支持一栢關之雙抽樣方法(以後 稱CDS)以便清除殘留誤差,該誤差由每一像素,比較部份 32等引起。自每一像素及比較部份32之殘留誤差可自重設 定位準減除資料位準而清除,即清除每一像素中及比較器 32之不預期電壓,可能獲得一淨影像資料值。 圖2為一略圖說明產生二參考電壓供斜坡電壓產生器 之CDS。、重設定及資料電壓位準抽樣在64時脈及256時脈期 間分別達成,在此正常作業情況下,重設定電壓位準經常 高於資料電壓位準,如圖2所示◦此CDS方法對精於此技藝 人士所熟知’故細節予以省略。 圖3為一方塊圊說明錯誤決定之觀念。錯誤決定根據一 像素值及其相鄰像素值間之差異而實施。_相減器計算先
4445 Ο 1
則像素值及目前像素值間之差異,一比較器將此差異與存 儲在缺=邊界值暫存器6〇之臨界值加以比較。在先前像素 值及目則像素值間之差異超過一預定臨界值,一錯誤信號( =破輸出以響應一自修正開/閉暫存器7 〇輸出之修正控制 信號。此處’臨界值應根據亮度及反射面積有效決定。因 此,缺陷邊界值暫存器60可予以程式,及缺陷修正開/閉 暫存器70亦可予程式,其中,當需要錯誤修正作業時,缺 陷修正開/閉暫存器70被使用。 囷4為一方塊圖說明圖丨之錯誤修正邏輯。在圖4中,缺 陷邊界值暫存器6〇存儲一臨界值以評估一像素之錯誤,及 ^缺陁修正開/閉暫存器7 〇輸出—修正控制信號以決定錯 誤偵測模式,及“或,,閘1〇〇供或操作第一至第三控制信 號八“,B ,及輸出第四控制信號5及一“及”閘1 1 〇供將 自‘或’’閘100之第四控制信號與自缺陷修正開/閉暫存器 =正控制信號相加’及供輸出_錯誤信號…先前像 素= ^120當與-時脈信號㈤同步時,存儲先前像素值 广::!L誤偵測邏輯8°,其在圖3中包括相減器及比 將臨界值與自前像素暫存器120之先前像 素值與目前像素值間之差晨 ^ 號c至“或,,閘HO。第出第三控制信 收先前像素值及目前像辛:自:=素暫存器120接 素暫存器12〇以響應及值門前者或後者至先前像 δ 次閘1 1 0之錯誤信號。自坌一炙 器130之輸出資料再度存儲在先 誤偵測n第二多n 供次一錯 益14U選擇先别像素值或目前像 4445 Ο 1
五,發明說明(6) 素值以響應自“及”閘丨丨〇之錯誤信號,及輸出最後修正 之資料。
此處,在第一至第三控制信號Λ ’ Β及C輸入至“或,,閘 1〇〇以便決定對應^象~素為缺陷像素’當其中,根據CDS 料).,重設定電壓位準低於資料位準時,第一控 制信號Α輸出以決定缺陷之像素,而不計先前像素值與目 别像素值之比較◊重設定電壓位準在計數64時脈 時脈)之後,低於一電壓時,第二控制信號B被輸出以決定 :缺陷像素,而不計先前像素值與目前像素值之比較。同 日’’在先别像素值與目前像素值間差異超過預定臨界值時 连第三控制信號C輸出以決定缺陷之像素,而不計任何處 。„生之錯誤,即,不計其為像素錯誤,比較器錯誤或鎖存 器錯誤。 — 自 及閘之錯誤信號用以作為第一及第二多工器 及14〇之選擇信號。當錯誤發生在目前像素,先前像素 _ ί器12 存健先前像素值而非目前像素值,作為已修正 資料之先前像素值被輸出至控制及系統介面單元1 0 (圖1 ) 因此’影像偵測器之缺陷像素可以偵出及被修正,影像 傾測器之產量亦可改進。 本發明已以較佳實施例說明’其他修正及變化在不悖離 本發明公布之專利範圍之精神與範圍時均屬可行。
Claims (1)
- 1 . 一種影像偵測器*含: 一輯誤偵測電路,供以比較目前像素值與先前一像素值 間之差異與一預定參考值而偵出錯誤;及 一錯誤修正電路,供自一像素修正錯誤,即先前像素值 取代目前像素值。 2. 如申請專利範圍第1項之影像偵測器,其中之錯誤偵 測電路含: 一相減器,建立目前像素值與先前一像素值間之差;及 一比較器,將相減器之輸出與預定參考值相比較,其中 之預定參考值存儲於一可程式暫存器中。 3. 如申請專利範圍第2項之影像偵測器,其中該預定參 考值之決定係根據光偵測面積及類比至數位轉換器之特性 而定。 4. 如申請專利範圍第1項之影像偵測器,其中之影像偵 測器係根據一修正之雙抽樣法。 5. 如申請專利範圍第4項之影像偵測器,其中之影像偵 測器尚含一存儲裝置以存儲由類比至數位轉換器轉換之數 位像素值。 6. 如申請專利範圍第5項之影像偵測器,其中之錯誤偵 測電路,在像素之資料電壓位準高於重設定電壓位準時, 則產生一錯誤信號,其中之影像偵測器選擇一先前像素值 ,而非目前像素值。 7. —種影像偵測器,含: 一控制與介面裝置,其使用一狀態機器來控制該影像偵 測器與並互連該影像偵測器與一外部系統;O:\59\59238.ptc 2000. 11.20.010 4445 Ο 1 案號 88111082 六、申請專利範面 一像素陣列’包括來自一物體之許多像素侦測 根據A射光之量產生類比信號; 一轉換裝置,供將類比信號轉換為數位信 蹊虚揀: Ί。現以備由數 電路處理; 一錯誤偵測電路,將目前像素值與先前一像素 位 r y 值間之差 與一預定參考值相比較方式偵出錯誤;及 一錯誤修正裝置,以自像素修正一錯 , 素值取代目前像素值β ’即以先前像 8 如申請專利範圍第7項之影像偵 正裝置含: 其中之錯誤修 一存儲裝置,以存儲一臨界值作 一修正信號存儲裝置,佯笛一 參考值; 第一邏輯裝置,以邏輯作業輸1信婕之用;及 9-如申請專利範®第7項 錯講信號。 枯* a . 像偵滴丨赛,士 两其中之錯誤修 館一能也A 一修正控制裝置,以存儲第一 鳍講之值: 第一邏輯裝置,以組合第二、筏制信鱿; 定一錯誤丨 一、第 第二邏輯裝置,以組合第 控制裝置之第一控制信號 :卜輸出 -先前像素存儲裝置,以與時脈:講信號: 修正 ’ 步从存儲先前像素值 -錯誤偵測裝置,以輸出第 ’目前像紊值及臨界值; 制信 W 正裝置含 一臨界存儲裝置,以 及第四控制信 號以決 值 焚以響應先前像素2000.11. 20.01 j 444 5 Ο 1 案號 88111082 修正 六,申請專利範Ε 第一選擇裝置,以輸出先前像 前像责存儲裝置以響應該錯誤信 第二選擇裝置,以選擇先前像 輸出修正之資料以響應錯誤信號 1 0.如申請專利範圍第8項之影 測裝置含: 一相減裝置,以減除該先前像 一比較裝置,將自相減器之最 輸出比較之結果作為第四控制信 11.如申請專利範圍第8項之影 制信號,在依照相關雙柚樣法, 料電壓位準時,為決定錯誤之信 I 2.如申請專利範圍第9項之影 制信號在計數時脈之後,重設定 ,其為決定錯誤之信號。 1 3,如申請專利範圍第9 值至該先 值,最後 像偵測器,其令之錯誤偵 素值 號; 素值 素值 終值 號結 像偵 重設 號。 像偵 電壓 或目前像素 及 或目前像素 及目前像素 與該臨界值 果值》 測器,其中之第二控 定電壓位準高於一資 測器,其中 值低於資料 項之影像偵測器,其中 1 4.如申請專利範圍第9項之影像偵測器,其中 裝置,為一 “或”閘 裝置,為一“及 閘O:\59\59238.ptc 值;及 比較,及 之第三控 電壓值時 第一邏輯 第二邏輯 2000.11.20.012
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI412006B (zh) * | 2005-07-14 | 2013-10-11 | Samsung Display Co Ltd | 顯示裝置之修正影像信號 |
TWI514372B (zh) * | 2009-09-14 | 2015-12-21 | Soonhan Eng Corp | 隨機雜訊信號之偵測及過濾方法 |
CN111341236A (zh) * | 2019-05-03 | 2020-06-26 | 友达光电股份有限公司 | 显示装置 |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000285229A (ja) * | 1999-03-15 | 2000-10-13 | Texas Instr Inc <Ti> | ディジタルイメージャのための不良画素フィルタリング |
JP2004501575A (ja) * | 2000-06-23 | 2004-01-15 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 画像感知器信号欠陥修正 |
US6768512B1 (en) * | 2000-07-12 | 2004-07-27 | Vanguard International Semiconductor Corp. | Method of bad pixel correction |
KR100406907B1 (ko) * | 2000-11-29 | 2003-11-21 | (주)시아이센서 | 결함정보를 동일 칩 내에 포함하고 있는 씨모스 이미지 센서 |
KR100358146B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2002-10-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 씨모스 이미지 센서 |
JP2003078821A (ja) * | 2001-08-31 | 2003-03-14 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 撮像装置 |
JP3931606B2 (ja) * | 2001-09-20 | 2007-06-20 | ソニー株式会社 | 撮像装置およびノイズ除去方法 |
GB2384409B (en) * | 2002-01-16 | 2005-05-11 | Thomson Licensing Sa | Method and arrangement for correcting data |
KR100411307B1 (ko) * | 2002-03-12 | 2003-12-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 자동으로 리셋 전압을 제한하는 기능을 갖는 이미지센서및 이미지센서의 리셋 전압 자동 제어 방법 |
JP3912672B2 (ja) * | 2002-07-05 | 2007-05-09 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及びその画素欠陥検査方法 |
KR100975444B1 (ko) * | 2003-04-30 | 2010-08-11 | 크로스텍 캐피탈, 엘엘씨 | 리셋전압 보상부를 구비한 이미지센서 |
US7289683B2 (en) * | 2003-10-30 | 2007-10-30 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | System and method for scintillation suppression in intensified digital video |
EP1751690B1 (en) | 2004-02-04 | 2018-10-03 | Digimarc Corporation | Digital watermarking image signals on-chip and photographic travel logs through digital watermarking |
KR100699850B1 (ko) * | 2005-06-23 | 2007-03-27 | 삼성전자주식회사 | 이득 특성을 자체적으로 보정하는 cmos 이미지 촬영장치 및 이에 구비되는 램프신호 발생기 |
US20070291145A1 (en) * | 2006-06-15 | 2007-12-20 | Doherty C Patrick | Methods, devices, and systems for selectable repair of imaging devices |
JP4911234B2 (ja) * | 2010-03-23 | 2012-04-04 | コニカミノルタビジネステクノロジーズ株式会社 | 表示画面制御装置、表示画面制御方法およびプログラム |
GB2522479B (en) * | 2014-01-28 | 2020-08-12 | Mbda Uk Ltd | Improved imaging method and apparatus |
EP3100451B1 (en) | 2014-01-28 | 2021-08-25 | MBDA UK Limited | Improved imaging method and apparatus |
US9313485B2 (en) * | 2014-02-21 | 2016-04-12 | Semiconductor Components Industries, Llc | Imagers with error checking capabilities |
US11109016B2 (en) * | 2016-03-17 | 2021-08-31 | Semiconductor Components Industries, Llc | Methods and apparatus for error detection in an imaging system |
DE102016211177A1 (de) * | 2016-06-22 | 2017-12-28 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur Überprüfung einer Gültigkeit von Bilddaten |
JP7155530B2 (ja) * | 2018-02-14 | 2022-10-19 | セイコーエプソン株式会社 | 回路装置、電子機器及びエラー検出方法 |
US10999546B2 (en) | 2019-03-06 | 2021-05-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Image sensor and method of operating same |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0496573B1 (en) * | 1991-01-24 | 1995-12-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Pixel defect removing circuit for solid-state image pickup device |
JPH05260386A (ja) * | 1992-03-16 | 1993-10-08 | Sony Corp | 固体撮像素子の欠陥画素検出回路 |
JP3042159B2 (ja) * | 1992-04-10 | 2000-05-15 | ソニー株式会社 | Ccd素子の欠陥画素補正回路 |
JP3331666B2 (ja) * | 1993-03-31 | 2002-10-07 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及び固体撮像装置の欠陥検出補正方法 |
JPH0723297A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-01-24 | Sony Corp | 固体撮像素子の欠陥検出装置 |
US5471515A (en) | 1994-01-28 | 1995-11-28 | California Institute Of Technology | Active pixel sensor with intra-pixel charge transfer |
US5841126A (en) | 1994-01-28 | 1998-11-24 | California Institute Of Technology | CMOS active pixel sensor type imaging system on a chip |
KR0181286B1 (ko) * | 1995-03-28 | 1999-05-01 | 김광호 | Ccd 카메라의 디펙트 보상회로 |
US5854655A (en) * | 1995-08-29 | 1998-12-29 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit |
AU1689897A (en) | 1995-12-29 | 1997-07-28 | Intel Corporation | Cmos imaging device with integrated flash memory image correction circuitry |
JP3351704B2 (ja) * | 1997-04-09 | 2002-12-03 | ペンタックス株式会社 | 画像信号補正装置 |
US6396539B1 (en) * | 1998-02-27 | 2002-05-28 | Intel Corporation | CMOS imaging device with integrated defective pixel correction circuitry |
KR100284306B1 (ko) * | 1998-10-14 | 2001-03-02 | 김영환 | 이미지 센서의 화질 개선을 위한 단위 화소 구동 방법 |
KR100284309B1 (ko) * | 1998-12-30 | 2001-03-02 | 김영환 | 이미지 센서에서의 리셋 전압을 자동으로 조절하기 위한 리셋전압 조절 장치 |
-
1998
- 1998-06-30 KR KR1019980025287A patent/KR100340052B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1999
- 1999-06-29 US US09/343,097 patent/US6707493B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-06-30 JP JP18482499A patent/JP4332687B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1999-06-30 TW TW088111082A patent/TW444501B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI412006B (zh) * | 2005-07-14 | 2013-10-11 | Samsung Display Co Ltd | 顯示裝置之修正影像信號 |
TWI514372B (zh) * | 2009-09-14 | 2015-12-21 | Soonhan Eng Corp | 隨機雜訊信號之偵測及過濾方法 |
CN111341236A (zh) * | 2019-05-03 | 2020-06-26 | 友达光电股份有限公司 | 显示装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20000003979A (ko) | 2000-01-25 |
KR100340052B1 (ko) | 2002-07-18 |
JP4332687B2 (ja) | 2009-09-16 |
US6707493B1 (en) | 2004-03-16 |
JP2000050317A (ja) | 2000-02-18 |
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GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |