TW385506B - Composition and process for forming electrically insulating thin films - Google Patents

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Akihiko Kobayashi
Kiyotaka Sawa
Katsutoshi Mine
Motoshi Sasaki
Takashi Nakamura
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Dow Corning Toray Silicone
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Description

經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7- 五、發明説明( 本發明係關於一種形成啻锶换播诚、 , 少风%絕緣溥膜I組合物,及形成電 、邑緣薄膜(方法。更特足Έ•之,本發明係關於一種形成具 有低介電常數之絕緣薄膜之組合物與方法。 已知梦石之絕緣薄膜係在電子裝置中作;爲保護層及作爲 乱、.邑緣層使用。包含樹脂與容劑之组合物濕塗料,係一般 1·生地且廣泛地採用於此領域中。例如,美國專利4,756,977 陳述—種㈣石薄膜塗覆電子裝置之方法,其係將氫輕 丰歧樹脂之溶劑溶液塗敷於基材上,蒸發溶劑,然後在 150^:至ι’οοοτ之溫度下加熱’以達成轉化成似陶资之珍石 田裝置具有縮小之尺寸JL變得更高度地整合時,此等絕 緣層需要較低介電常數。例如,已報告藉由氳石夕倍半氧燒 樹恥之熟化所獲得之薄膜 '具有介電常數爲2.7 (日本應用 物理:曰及相關學會第43'版擴大摘要,第654頁,摘要26a-N·6) 仁疋,低於2.7之介電常數爲在具有設計尺度比〇 i8微米 窄之下-代高度積體電路中之電絕緣薄膜所需要的。雖然 如此,迄今尚未發現安定且高度可再現地在適合高度積體 電路m轉膜中,例如切石薄膜中,產生此種低介 電常數之方法。 另方面,—般已知可將絕緣薄膜本身作成多孔性結構 、降低、.¾緣薄膜之介電常數。例如,美國專利Μ48,⑼ 告經由使用氫矽倚丰氧烷樹脂之烘烤產物作爲高度積 ,電路中之介電層,形成具有多孔性結構之絕緣薄膜。但 是,該美國專利,159並未揭示形成多孔性結構之特定方法 。因此,能夠形成具有低介電常數(介電常數實質上低於 (諳先閲讀背面之注意事孔再填寫本頁)
\ 五、 發明説明(2 經濟部中央榡準局員工消費合作社印製 2.7)之電絕緣薄膜之組合物與方法,仍然未知。 本發明之一項目的,#爲|^ . 制、Λ 保局徒供—種組合物與方法,其可 I造一種具有低介電常數之雷绍铁呀> 、 吊歡夂私絕緣薄膜,特別是具有介電 t數低於2.7者。 ; 1私 本發明係關於一種可形成絕緣薄膜之组合物,立包本 (A) -種樹脂’選自包括電絕緣可熟化有機樹脂與電°絕 緣可熟;(匕無機樹脂;及 (B) —種溶劑混合物,其包含 (i) 一種能夠溶解樹脂(A)之溶劑,與 (11) 一種洛劑,其沸點或蒸氣壓曲線或對樹脂⑷之 親和力與溶劑(i)不同。 此组合物可用於形成具有低介電常數(<2·7)之電絕緣薄膜 〇 本發明係關於一種可形成絕綠薄膜之組合物,其包含 (Α) —種樹脂,選自包括電絕緣可熟化有機樹脂與電絕 緣可熟化無機樹脂;及 (Β) —種溶劑混合物,其包含 (0 —種能夠溶解樹脂(Α)之溶劑,與 · ⑻一種溶劑’其沸點或蒸氣壓曲線或對樹脂(Α)之 親和力與溶劑(i)不同。- 樹脂(A)可爲無機性或有機性且並不重要,只要其爲溶劑 可▲即可’在其塗敷後可藉加熱熟化,並提供絕緣作用。 此樹脂之實例爲烷氧基矽烷之部份i解物,無機樹脂,其 爲梦石先質樹脂,例如氫矽倍半氧烷樹脂,及有機樹脂, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS )八4規格(21〇χ 297公董) ;請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) '衣' 訂--- up “ 1
Α7 B*L 經濟部中央榡準局員工消費合作衽印製 五、發明説明( 譬如聚酿亞胺樹脂、氟碳樹脂、苯并環丁烯樹脂及氣化聚 烯丙基醚。此樹脂可採取單一樹脂或兩種或多種樹脂混合 物之形式。具有熟化成矽石之能力之矽石先質樹脂,係: 供特別良好又電絕緣性質,且因此是較隹岛。 、在$石先質樹脂中,可使用於非逆㈣方法中之氯秒倍 半氧燒樹脂係爲特佳的。於本發明中使用之氫珍倍半氧广 η馬:矽馬烷,其主要骨架係由三官能性矽氧烷單位 1 3/2所组成,且爲—種具有通式之聚合體,其 中下標η爲正整數。從分子結構觀點見之,此氫矽倍丰氧 乾樹脂包括所謂梯型聚碎氧燒與籠㈣♦氧燒。梯型聚夺 氧燒之末端可被封端,例如被羥基,三有機碎烷氧基,譬
如二甲基矽烷氧基,或二有機氫矽烷氧基,學如二 矽烷氧基。 ° L ”虱石夕倍半氧燒樹脂係爲已知,且通常可藉三氣硬燒之水 解作用’及接著進行聚縮合作用合成而得(參閲美國專利 ,,2及曰本專利申請案特許公開(公開或未經審查), 特開昭 59-189126 (189,而1984)與特開昭 60_42426 (42,鑛985^ λ溶劑混合物⑻包含溶劑⑻㈣溶劑⑻⑻。溶劑剛應 能夠溶解樹脂(A)而不會發生化學變化,但其他方面並不重 要。溶劑(B)(i)可舉例如下,芳族溶劑,譬如甲苯、二甲苯 等肊族’奋劑,譬如$烷、庚烷、辛烷等;酮溶劑,譬如 基_甲基異丁基_等;脂族酯溶劑,孽如醋酸丁 醋:醋酸異戊醋等,·及梦氧溶劑,譬如鏈甲基珍氧烷,例 如π甲基二矽氧烷與咖·四甲基二矽氧烷、環狀矽氧烷 本紙( 210Χ2?7公釐) (讀先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
五、發明説明(4 ) ’例如1,1,3,3,5,5,7,7-人甲基四環砍氧燒與-四甲基四環 碎乳燒,及碎燒’譬如四甲基梦貌與二甲基二乙基碎燒。 甲基異丁基酮與矽氧溶劑係爲較佳的。 、溶劑爲其沸點或蒸氣壓曲線或對與脂(六)之親和力 入’合劑(B)(1)不同之洛劑。具有沸點高於溶劑⑻①之溶劑 通常係爲較佳的。溶劑⑼⑻係舉例如下(於括弧中之 數値爲化合咚之沸點):烴溶劑,譬如戊基苯(2〇2,c )、異 丙基苯(152°C )、1,2-二乙基苯(183〇C )、以二乙基苯(18ΐχ:) 、1,4-二乙基苯(184°C )、環己基苯(239°c )、二戊埽(177。〇)、 2,6-二曱基莕(262°C )、對-甲基異丙基苯(irrc )、樟腦油(16〇_ 185 C )、溶劑石腦油(u〇_2〇〇°c )、順式_十氫_ (196»〇)、反 式-十氫茬(187°C )、癸烷(174°C )、四氫莕(2〇7。0 )、松節油 (153-175°C )、煤油(200-245°C )、十二烷(216°C )、十二基苯(分 枝狀)等;酮與醛溶劑,譬如苯乙酮(2〇i.7°C )、異樹根皮酮 (215.3 °C )、樹根皮酮(198-199°C )、曱基環己酮(169.0-170.5 °C ) 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 、曱基正-庚基酮(195.3°C )等;酯溶劑,譬如鄭苯二曱酸二 乙酯(296.1°C )、醋酸芊酯(215.5Ό )、r - 丁内脂(204°C )、草 酸二丁酯(240°C )、醋酸2-乙基己酯(198.6°C )、苯曱酸乙酯 (213.2°C )、曱酸苄酯(203eC )等;硫酸二乙酯(208°C )、環丁 颯(285°C )及自基烴溶劑;經醚化之烴溶劑;醇溶劑;醚/ 縮醛溶劑;多羥醇溶劑;羧酐溶劑;酚溶劑;及矽氧溶劑 。雖然,溶劑混合物(B)之添加量並不重要,但溶劑混合物 通常較佳係以每100重量份數成份(又)不超過5〇重量。/。之量 添加。 , ______. — —___ 本紙張尺度適用中國國家標準( CMS〉A4規格(210X297公釐) A7 B7' 5 經濟部中央榡準局員工消費合作杜印製 五、發明説明( 混合物⑻並非只是採用於本發明中作 溶剩而已。正如下文所討論者,,田( 期間或之㈣氣化並自㈣Μ,於樹脂(A)熟化 間在電絕緣薄膜中,結果產生低介 二隙或自由空 高… %电數電絕緣薄膜。主 要落狀大部份,在塗料基材上之後將立即兹發,卜 :份仍然留在薄膜中,且此殘留溶劑表現得有如上述:但 是,爲有效地a達成上述㈣,溶劑混合物⑻不僅含有主要 溶劑剛,而是混合物,其具有至少!種選自溶糊⑻之 溶劑’其具有比主要溶劑較高之滞點,或具有不同芪氣壓 曲線,意即較難以蒸發,或具有對樹脂㈧之不同親和力。 在已將组合物塗覆於基材上之後,,匕溶劑⑻⑻仍然以較大 量留在生膜中,且在樹脂熟化期間或之後,亦將被蒸發及 2系統逐出。溶劑(B)(ii)之類型並不重要,但應經選擇以獲 得與樹脂熟化溫度之最適宜關係。 成份(C)爲一種在選用基礎上.爲加速樹脂(A)熟化之目的 而添加之成份。當基於觸發與成份田)之氣體產生溫度之良 好平衡之考量時,其變得必須在較低溫度下先行引致成扮 (A)之部份交聯,則使用熟化加速劑(c)。當使用氫矽倍半 氧烷樹脂作爲成份(A)時,熟化加速劑⑹較佳爲鉑觸媒, 譬如氫氯鉑酸或鍺觸媒《對各—1,〇〇〇,〇〇〇重量份數之樹脂(A) 而言’此種熟化加速劑.(C)係以1至500重量份數使用。 此外,在一些情況中,可添加輔助劑,例如安定劑,嬖 如界面活性劑,以幫助溶劑混合物(B)之分散。 當氬矽倍半氧烷樹脂作爲樹脂(A)使用時,加熱此組合物 本紙張尺度適用中國.國家標準(CNS ) A4,規格(210X 297公釐) (讀先閲讀肯面之;这意事碩再填寫本頁)
A7 B7- 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 五、發明説明U ) 會造成電絕緣薄膜形成,例切石薄膜。於本文中使用之 碎石係指二氧切(叫),且包括非晶質硬石及未完全不 。夕烷醇及/或氫之非晶質矽石。在添加陶瓷先質之情況 中,此矽石亦含有其相應之化合物。 ; 可使用於根據本發明方法中之基材,其實例爲陶瓷基材 ,各種金屬基材及電子裝置,較佳爲電子裝置。 用以形成電/g緣薄膜之方法,包括 0)以用以形成電絕緣薄膜之组合物塗覆基材表面,該組合 物包含 (A) -種電絕緣可熟化樹脂,選自電絕緣無機樹脂與電 絕緣有機樹脂;與 (B) :種落劑混合物’其包含(i) 一種能夠溶解成份⑷之 溶劑,與⑻—種其沸點或蒸氣壓曲線與溶劑(B)(i)不 #同或其對樹脂(A)之親和力與溶劑田⑹不同之溶劑; (Π)蒸發至少一部份溶劑混合物⑻;及 ㈣接著加錢材,^該樹轉)減_或錢後 致殘留溶劑(B)氣化。 將包含(A)與⑻之可形成絕緣薄膜之組合物,塗覆於其 材表面上,並使-部份溶劑混合物⑻蒸發。可應用之塗^ 万法]其實例爲旋轉塗覆、浸漬、噴霧及流動塗覆。使一 部份溶劑混合物(B)蒸發之方法並不重要,且可舉例如下, 靜置於環境或高溫下,及在空氣中乾燥,在減壓下或於: 流下。在蒸發一郡份之步驟期間,係產生軋 部扮係自系統中逐出’並在絕緣薄膜中相應形成中^孔 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210Χ297^釐) —-I !I- — if - -Γ -- I— t - -— (諳先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
、1T -參 A7 B7' 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(7 ) 性結構或自由空間。 接著將基材加熱,以在樹脂(A)熟化期間或之後,氣化殘 留溶劑混合物(B)。加熱溫度對此並不重要,只要使用之溫 度會造成溶劑混合物(B)之氣化作用即可。’但是,依特定目 的而定,當期望電絕緣薄膜熔解以使基材平面化時,加熱 必須進行至高於樹脂(A)熔點之溫度。用於此加熱之裝置再 一次並不重夭,且可使用一般使用之加熱器,譬如烘箱、 熱板等。 ' 可形成絕緣薄膜之组合物,具有形成低介電常數絕緣薄 膜之能力,並可用於需要此種性質之應用,例如作爲一種 商用方法,用以在譬如電子裝置等之基材上製造低介電常 數絕緣薄膜。 實例 提出下述實例’以致熟諳此藝者可瞭解及認知本文中所 陳述之發明.,應明瞭的是,此等實例不應用以限制申請專 利範圍中所列示之本發明_範圍。 於實例中對於矽石之轉化率,係使用Fourier變換紅外線 吸收光譜分析,經由度量薄膜中之殘留siH%加以評估。於 薄膜中之殘留SiH%,係使用旋轉塗覆後之100% SiH%計算 而得。介電常數係於25Ό與1百-萬赫茲下,對於在具有電 阻係數爲1CT 2 Ώ · cm之兮晶圓上所形成之試樣進行度量。此 度量法係藉插入方法,使用鋁電極及阻抗分析器進行操作 〇 實例1 , "10- M民張尺度適用中國國家標準(CNS ) ( 210X297公釐) --I I I-—I ----Γ.-- I 一 抑衣-I_ ,\. (諳先閩讀背面之注意事項再填寫本頁} 訂-- ΙΦ---- 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A 7 B7' , 五、發明説明(8 ) 氫矽倍半氧烷樹脂係藉曰本專利公告(Kokoku)特公昭47-31838 (美國專利3,615,272)之實例1中所述之方法合成。藉凝 膠滲透層析(GPC)分析氫矽倍半氧烷樹脂產物,獲得數目平 均分·,量爲1,540,及重量平均分子量爲7,允5。根據日本專 利申請案特許公開(公開專利案或未經審查)Hei 6- ) 157760 (157,760/1994)(美國專利5,416,190)之實例1中所述之方 法,使氫矽倚半氧烷樹脂接受分子量分級分離。藉GPC分 析所回收溶離份(’Ή-樹脂溶離份")中之氫矽倍半氧烷樹脂, 獲得數目平均分子量爲5,830,及重量平均分子量爲11,200 。在GP C度量法中之條件爲:
儀器:802A,得自Tosoh公司 管柱:G3000/G4000/G5000/G6000 載體溶劑:甲苯 柱溫:30°C 分子量標準物:聚苯乙烯 檢測.:差示折射計 試樣:2重量%固體(甲苯溶液) 將H-樹脂溶離份溶解於甲基異丁基酮中,以製備22重量 % (固體)溶液。於其中添加1重量%十二基苯,以甲基異 丁基酮溶液爲基準,以及100 ppm重量之氫氯#酸六水合物 ,以H-樹脂溶離份爲基準。製造具有6,060埃厚度之薄膜, 其方式是將溶液旋轉塗覆於矽晶圓上,在500 rpm之初步旋 轉下歷經3秒,然後在3,000 ipm之主要旋轉下歷經10秒,接 著在室溫下靜置10分鐘。將晶圓於空氣流下,,在250°C石英 ;_-11- _ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (讀先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) '袈' •1T丨 經濟部中央標準扃員工消费合作社印製 、發明説明(9 時,!供烤1小時’移除並使其在室溫下靜置10分鐘。此 使,π,在甲基異丁基網中之溶解度係低於旋轉塗覆後。 在㈣石英供箱中,於含π)鹏氧之氮氣流下回火 中時^取出並使其在室溫下靜置时鐘;。在所形成薄膜 中未L 4 &Η% A 78%,確認轉化至#石確已發生。於薄膜 中未發現異常,意即裂餐 a缝寺。此薄膜之介電常數爲2·4。
--— A 將Λ例1中製成之H_樹脂溶離份溶解於甲基異丁基酮中 ^製備22重量%(固體)溶液。於其中添加1〇重量%十二 ’苯;< 甲基異丁基_落液爲基準,以及動ppm重量之氯 m合物,以h•樹脂落離份爲基準。製造具有_〇 厚度心溥膜,其方式是將溶液旋轉塗覆於砍晶圓上,在 500 rpm之初步旋轉下歷智 缺你士 下歷經1〇秒,接著在二然後在3,00—之主要旋轉 ‘至恤下靜置10分鐘。將晶圓於空氣流 下,在250 0石英伴篇由l4^ 1 t , 匕成 央烘相中烘烤1小時,移除並使其在室溫下 於』=後此時,薄膜在甲基異丁基酮中之溶解度係低 於㈣塗覆後。使晶圓在鑛石英烘箱巾,於含10ppm氧 之氮氣流下回火1小時,勒山斗7土# 吁,取出輩使其在室溫下靜置10分鐘 。在薄膜中之殘留siH%爲79%,確認轉化至硬石確已發生 ,於薄膜中未發現異$,意即裂缝等。此薄膜之介電常數 爲 2.4 _。 I .. 實例3 將實例1中製成之H-樹脂溶離份溶解於甲基異丁基銅中 ’以製備35重量%(固體)溶液β於其中添加1Ό重量。/。十二 ------------------ - 1夕灣 本紙張纽適财酬$網t ί CNsTA4^r^7^97i^—
A7 B7' 五 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 一 五、發明説明(1〇 ) 基苯,以所製成之甲基異丁基酮溶液爲基準,以及100 ppm 重量之氫氯鉑酸六水合物,以Η-樹脂溶離份爲基準。製造 具有13,700埃厚度之薄膜,其方式是將溶液旋轉塗.覆於矽 晶圓上,在500 rpm之初步旋轉下歷經3秒;然後在2,000 rpm 之主要旋轉下歷經10秒,接著在室溫下靜置10分鐘。將晶 圓於空氣流下,在250°C石英烘箱中烘烤1小時,移除並使 其在室溫下雙置10分鐘。此時,薄膜在甲基異丁基酮中之 溶解度係低於旋轉塗覆後。使晶圓在400°C石英烘箱中,於 含10 ppm氧之氮氣流下回火1小時,取出並使其在室溫下靜 置10分鐘。在所形成薄膜中之殘留SiH%爲79%,確認轉化 至矽石確已發生。於薄膜中未發現異常,意即裂缝等。此 薄膜之介電常數爲2.4.。 實例4 將實例1中製成之H-樹脂溶離份溶解於曱基異丁基酮中 ,以製備22重量。/。(固體)溶液。於其中添加10重量。/〇鄰苯 二甲酸二乙酯,以曱基異丁基酮溶液爲基準,以及100 ppm 重量之氫氯鉑酸六水合物,以Η-樹脂溶離份爲基準。製造 具有6,300埃厚度之薄膜,其方式是將溶液旋轉塗覆於矽晶 圓上,在500 rpm之初步旋轉下歷經3秒,然後在3,000 rpm之 主要旋轉下歷經10秒,接著在t溫下靜置10分鐘。將晶圓 於空氣流下,在250°C石英烘箱中烘烤1小時,移除並使其 在室溫下靜置10分鐘。此時,薄膜在甲基異丁基酮中之溶 解度係低於旋轉塗覆後。使晶圓在400°C石英烘箱中,於含 10 ppm氧之氮氣流下回火1小時,取出並使其在室溫下靜置 _-13-_' _ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (讀先閔讀背面之注意事項再填寫本頁)
、1T .— A7 B7 一 經濟部中央標準局員工消費合作社印掣 五、發明説明(11 ) '—~ 10分鐘。在所形成薄膜中之殘留SiH%爲78〇/。,確認轉化至 矽石確已發生。於薄膜中未發現異常,意即裂缝等。此薄 膜之介電常數爲2.4。 實例5 _ ) 7 氫矽倍半氧fe樹脂係藉曰本專利公告讲〇k〇ku)特公昭 31838 (美國專利3,615,272)之實例j中所述之方法合成。藉 GPC分析氫矽#半氧烷樹脂產物,獲得數目平均分子量爲 1,540 ’重量平均分子量爲7,7()5,及具有分子量不大於⑽ t成份含量之値爲41重量%。根據日本專利申請案特許公 開(公開專利案或未經審查)Hd 6_15776〇 (157,76〇/1994)(美國專 利5,416,190)之實例i 1所述之方法,使氫矽倍半氧烷樹脂接 藉GPC分析所回收溶離份(,Ή-樹脂溶離 燒樹脂,獲得數目平均分.子量爲.743, 重量平均分子量爲l,kl3,及具有分子量不大於15〇〇之成份 含量之値爲72重量%。在GPC度量法中之條件,係與實例 1中所報告者相同。 將此溶離份溶解於六甲基二矽氧烷/八甲基三矽氧烷混 合溶劑(30/70)中,以製備30 % (固體)溶液。於其中添加1〇 重量0/。十二基苯,以六甲基二矽氧烷/八曱基三矽氧烷溶 液爲基準,以及l〇〇ppm重量之氳氯鉑酸六水合物,以沁樹 脂溶離份爲基準。製造.具有6,320埃厚度之薄膜,其方式是 將;4液旋轉塗覆於石夕晶圓上,在5〇〇 之初步旋轉下歷經 3秒,然後在3,000ipm之主要旋轉下歷經1〇秒,接著在室溫 下靜置10分鐘。將晶圓於空氣流下,在2〇(rc石英烘箱中烘 受分子量分級分離。 份")中之氫矽倍半氧 14- 本紙張尺度適用中國國家標率(CMS ) A4規格(210χ297公楚) •I —^1· ml 1--1 k -訂
Lm. A7 B7~ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(12 ) 烤1小時’移除並使其在室溫下靜置10分鐘。此時,薄膜 在甲基異丁基酮中之溶解度係低於旋轉塗覆後。使晶圓在 400C石荚烘箱中,於含1〇ppm氧之氮氣流下回火】小時, 取出並使其在室溫下靜置10分鐘。在所形;成薄膜中之殘留
SiH%爲7〇%,確認轉化至矽石確.已發生。於薄膜中未發現 異常’意即裂缝等。所形成薄膜之介電常數爲2.2。 實例6 ts 知1〇重量%十二基苯添加至有機旋轉塗覆玻璃(OCD-7型 得自 Tokyo Oka Kogyo Kabushiki Kaisha)。形成具有 6,300 埃厚度 <薄膜,其方式是將溶液旋轉塗覆於矽晶圓上,在5〇〇rpm 之初步旋轉下歷經3秒,然後在3,〇〇〇rpm之主要旋轉下歷經 10秒,接著在室溫下靜置10分鐘。將晶圓於空氣流下,在 250。。石英烘箱中烘烤1小時,移除並使其在室溫下靜置10 分鐘。此時,薄膜在甲基異丁基酮中之溶解度係低於旋轉 ,覆後。使晶圓在400X:石英烘箱巾,於含1〇ppm氧之氮氣 二下回火1小時,取出並使其在宣溫下靜置1〇分鐘。於薄 膜中未發現異常,意即裂缝等。此薄膜之介電常數爲27。 實例7 將根據日本專利公告阳如㈣特公昭47_31838 (美國專利 3,615,272)之實们中所述之方法_合成之氫碎倍半氧賴脂( 平均刀-1,540且重量平均分子量=7,7〇5)溶解於甲基異 網中,〃製備26重量% (固體)溶液。於其中添加重 十苯,以甲基異丁基_溶液爲基準,以及1〇〇Ppm K虱氯鉑酸六水合物,以樹脂爲基準。製備具有6,2〇〇 (CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) (諳先閲讀背面之注意事項再填1¾本頁}
經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 - ' 五、發明説明(13 ) 埃厚度之薄膜,其方式是將溶液旋轉塗覆於矽晶圓上,在 500 rpm之初步旋轉下歷經3秒,然後在3,000 rpm之主要旋轉 下歷經10秒,接著在室溫下靜置10分鐘。將晶圓於空氣流 下,在250°C石英烘箱中烘烤1小時,取出'並使其在室溫下 靜置10分鐘。此時,薄膜在曱基異丁基酮中之溶解度係低 於旋轉塗覆後。使晶圓在400°C石英烘箱中,於含10 ppm氧 之氮氣流下吗火1小時,取出並使其在室溫下靜置10分鐘 。在薄膜中之殘留SiH%爲75%,確認轉化至矽石確已發生 。於薄膜中未發現異常,意即裂缝等。此薄膜之介電常數 爲 2.4。 實例8 將實例1中製成之H-樹脂溶離份溶解於曱基異丁基酮中 ,以製備22重量。/。(固體)溶液。於其中添加10重量。/。十二 基苯,及1童量。/。聚氧化乙烯月桂基醚,以曱基異丁基酮 溶涑爲基準。製造具有6,450埃厚度之薄膜,其方式是將溶 液旋轉塗覆於珍晶圓上,在500 rpm之初步旋轉下歷經3秒 ,然後在3,000 ipm之主要旋轉下歷經10秒,接著在室溫下 靜置10分鐘。 實例9 將實例1中製成之H-樹脂溶軼份溶解於甲基異丁基酮中 ,以製備22重量。/。(固體)溶液。於其中添加10重量。/〇十二 基苯,以甲基異丁基酮溶液爲基準。製造具有6,300埃厚度 之薄膜,其方式是將溶液旋轉塗覆於珍晶圓上,在500 rpm 之初步旋轉下歷經3秒,然後在3,000 rpm之主要旋轉下歷經 __ -16-__ 表紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) --------^---厂衣------訂-------S||jP (讀先閣讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 — 經濟部中央標準局員工消費合作社印^ 五、發明説明(14 ) ~~ : ' --- 10秒,接著在室溫下靜 , 置10刀鐘。使晶圓在400°C石英烨铲 中,於含10PPm氧之氮氣、、* 々央烘相 紙巩机下回火1小時,取出並在玄加 保持10分鐘。在薄膜中士 至恤下 ^ p ^ ^ u中〈殘留SiH%爲77%,確認轉化至 石:已發生。於溥膜中未發現異常,意即,裂缝等 之介電常數爲2.4。 存膝 實例10 將實例1中|i成樹脂溶離份溶解於甲基異丁基嗣中 以製備22重! /。(固體)溶液。於其中添加忉重量。,。戊基 苯:以甲基異丁基_溶液爲基準,以及IGOppm重量之氫^ 鉑酸六水合物,以H~街脂溶離份爲基準。製造具有6,500埃 厚度t薄膜,其方式是將溶液旋轉塗覆於矽晶圓上,在 50〇Ipm之初步旋轉下歷經3秒,然後在3,〇〇〇jpm之主要旋轉 下歷經1G秒,接著在室溫下靜置1()分鐘。將晶圓於空氣流 下在250 C石英烘箱中烘烤J小時,取出並在室溫下保持 10分鐘。在薄膜中之殘留SiH%爲91%,確認轉化至矽石確 已發生。於薄膜中未發現異常,意即裂缝等。此薄膜之介 電常數爲2.7。 實例11 . 將實例1中製成之H-樹脂溶離份溶解於甲基異丁基_中 ’以製備18重量% (固體)溶液。-於其中添加1〇重量0/〇十二 基苯’以甲基異丁基溶液爲基準,以及100 ppm重量之氫 氯銘酸六水合物,以H-樹脂溶離份爲基準。將此溶液旋轉 塗覆於具有圖樣之多晶矽晶圓上(特徵高度=〇.5微米,特 徵寬度及特徵間距=0· 18微米),於500 rpm之相·步旋轉下歷 -17- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2iOX297公釐) (讀先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) k 訂 10. A7 B7" 五、發明説明(15 ) 經3秒,然後於5,000 rpm之主要旋轉下歷經10秒。溶劑之完 全蒸發,獲得在其最深區段處具有厚度爲8,235埃之薄膜。 將此晶圓於氮氣流下,在加熱板上,使用150°C /1分鐘、200 °C /1分鐘及200°C /1分鐘之順序,依所予之;順序加熱。這會 造成流體化作用,與特徵間之完全間隙充填,及樹脂表面 之完全平面化。將晶圓於空氣流下,在250°C石英烘箱中烘 烤1小時,移货並使其在室溫下靜置10分鐘。此時,薄膜 在甲基異丁基酮中之溶解度係低於旋轉塗覆後。使晶圓在 400°C石英烘箱中,於含10 ppm氧之氮氣流下回火1小時,’ 取出並在室溫下保持10分鐘。於薄膜中未發現異常,意即 裂缝等。. 實例12 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (諳先閩讀背面之注意事項再填寫本頁) 氟化聚缔丙基醚樹脂,係根據第十二屆國際VLSI多階互 連會議之1995會刊第116頁上所述之方法合成。藉GPC分析 樹脂產物,獲得數目平均分子量爲2,540,及重量平均分子 量爲9,390。使此樹脂溶解於甲基異丁基酮中,以製備26重 量% (固體)溶液。於其中添加10重量%十二基苯,以甲基 異丁基酮溶液爲基準。製備具有6,080埃厚度之薄膜,其方 式是將溶液旋轉塗覆於梦晶圓上,在500 rpm之初步旋轉下 歷經3秒,然後在3,000 rpm之主要旋轉下歷經10秒,接著在 室溫下靜置10分鐘。將晶圓於空氣流下,在250°C石英烘箱 中烘烤1小時,移除並使其在室溫下靜£ 10分鐘。此時, 薄膜在甲基異丁基酮中之溶解度係低於旋轉塗覆後。使晶 圓在400°C石英烘箱中,於含10 ppm氧之氮氣流下回火1小 _-18-_.._ 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央標率局員工消費合作社印製 33S_. a? ----- BT- 五、發明説明(16 ) ~~~ 時,取出並在室.溫下保持1〇分鐘。發現薄膜在甲基異丁基 酮中之溶解度,已遭受進一步減退。此薄膜具有介電常數 爲 2.4 〇 比較實例1 : 將實例1中所製成之H_樹脂溶離份溶解於甲基異丁基酮 中,以製備22重量% (固體)溶液。製造具有6,〇78埃厚度之 薄膜,其方式是將溶液旋轉塗覆於矽晶圓上,在5〇〇屯^之 初步旋轉下歷經3秒,然後在3,000 φτη之主要旋轉下歷經1〇 秒’接著在室溫下靜置10分鐘。使晶圓在4〇〇。〇石英烘箱中 ,於含lOppm氧之氮氣流下回火1小時,取出並在室溫下保 持10分鐘。在薄膜中之殘留siH%爲75%,確認轉化至矽石 確已發生。於薄膜中發現裂缝產生。此矽石薄膜之介電常 數爲2.8 〇 比較實例2 將實例1中所製成之樹脂溶離份溶解於甲基異丁基酮 •中’以製備35重量% (固體)溶液。製造具有13,2〇〇埃厚度 之薄膜’其方式是將溶液旋轉塗覆於矽晶圓上,在5〇〇ipm 义初步旋轉下歷經3秒’然後在2〇〇〇rpm之主要旋轉下歷經 1〇秒’接著在室溫下靜置1〇分鐘。使晶圓在40(rc石英烘箱 中’於含10 ppm氧之氮氣流下回-火1小時,取出並在室溫下 保持ίο分鐘。在薄膜中之殘留siH〇/。爲乃%,確認轉化至矽 石確已發生。於薄膜中發現裂缝產生。此矽石薄膜之介電 常數爲2.8。 ' 1" · ·" " — | y — 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 •φ~·

Claims (1)

  1. 385s〇e —--——♦明專利範圍 A8 Βδ C8 D8 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 L種形成電絕緣薄膜之纽合物 (A)-種電絕緣可熟化樹脂,選自;:: 機樹脂與電絕緣可熟化無機樹:;:絕緣可熟化有 .種么劑混合物.,其包含 ) ①一種能夠溶解樹脂(Α)之溶劑,蛊 ⑼選自包括其滞點與溶劑①不同之溶劑 其扃氣壓曲線與溶劑①不同之溶劑,及其 脂(Α)之親和力與溶劑①不同之溶劑。 '' 2. =申請專利範圍第β之组合物’其中樹脂(α)爲氨抑 半氧烷樹脂。 " 3. 如申請專利範園第】項之组合物,其中组合物另外含有 (C),一種供成份⑷用之熟化-加速觸媒。 4. 如申請專利範圍第3項之組合物,其中(c)係選自鉑化合 物或過渡金屬化合物。· 5_如申請專利範圍第1項之組合物,其中溶劑出)(丨)係選自 包括芳族溶劑、脂族溶劑、酮溶劑、脂族酯溶劑、碎氧 溶劑及矽烷。 6_如申請專利範圍第5項之組合物 7.如申.請專利範圍第6項之組合物 基酮 讀 先 閱 之 意 事 裝 其中溶劑爲酮溶劑。 其中溶劑爲甲基異丁 8. 如申請專利範圍'第5,項之组合物’其中溶劑爲砂氧溶劑 〇 9. 如申請專利範園第1項之組合物.,其中溶劑(B)(ii)爲具有 比溶劑(B)(i)較高沸點之溶劑。 - 20 本紙張尺度適用中國國家標準(cns )α4規格(2ΐ〇χ297公釐) π 訂 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 1〇_如申請專利範園第9項之组合物,其中溶劑⑼⑻係選自 包括烴溶劑;嗣溶劑;醛溶劑;酯溶劑;硫酸二乙酯; 環丁砜;自基烴溶劑;經醚化之烴溶劑;醇溶劑;醚溶 劑;.縮醛溶劑;多羥醇溶劑;羧酐溶劑、酚性溶劑;及 矽氧溶劑。 11.如申請專利範圍第i項之組合物,其中溶劑①爲曱基 異丁基酮,κ且溶劑(B)(ii)爲十二基苯。 12_如申請專利範圍第i項之組合物,其中溶劑田⑹爲甲基 異丁基酮,JL溶劑⑼⑻爲鄰萆二甲酸二乙酯。 13. 如申請專利範圍第i項之组合物,其中溶劑㊉⑹爲甲基 異丁基酮,且溶劑(Β)(ϋ)爲環己基苯。 14. 如申請專利範圍第i項之组合物,其中溶劑卬⑹爲甲基 異丁基酮,且溶劑(B)⑻爲戊基苯。 15. 如申請專利範園第!項之組合物,其中溶劑爲矽氧 溶劑,且溶劑⑼⑻爲十二基苯。 16. 如中請專利範圍第}項之組合物,其巾溶劑混合物⑻係 以每100重量份數樹脂(A)有50重量%存在。 L7. —種形成電絕緣薄膜之方法,其包括 0)以申請專利範圍第i項之组合物塗覆基材表面; ⑻蒸發至少一部份溶劑混合―物田);及 (1Π)加熱基材,以在該樹脂熟化期間或熟化後,引致 殘留成份(B)之氣化作用。 18•如申請專利範園第17項之方法,其中基材爲電子裝置。 仪如申請專利範園第㈣之方法,其中表面之塗覆係藉旋 21 - 本纸張尺度適用中國國家標準( ,(請先鬩讀背面之注意事項再填寫本頁}
    8 ο. 5 ABCD 、申請專利範圍 轉塗覆進行。 20.如申請專利範園第17項之方法,其中基材係在(ΙΠ)中被 加熱至高於樹脂(A)熔點之溫度。 (請先鬩讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 -22- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐)
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