TW202135107A - 電容器用老化裝置及電容器之老化方法 - Google Patents

電容器用老化裝置及電容器之老化方法 Download PDF

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Abstract

本發明之課題在於確實地進行複數個電容器之老化。電容器用老化裝置100具備：複數個導通確認用墊片1a~1d，用於分別與複數個電容器C1~C4之正極電性連接，分別確認與複數個電容器之間的導通；複數個第1端子2a~2d，分別與複數個導通確認用墊片電性連接；複數個第2端子3a~3d，分別與複數個第1端子電性連接；以及複數個連接部4a~4c，構成為能夠在複數個第1端子及複數個第2端子之間電性連接及切斷，用於電性連接複數個電容器之正極，且連接部之各者，將與複數個電容器中之兩個電容器中之一方之電容器對應之第2端子、及與另一方之電容器對應之第1端子電性連接。

Description

電容器用老化裝置及電容器之老化方法
本發明係關於對電容器施加電壓而進行老化之裝置，以及電容器之老化方法。
已知於電解電容器等電容器之製造時，在高溫環境下施加電壓進行老化。
專利文獻1中，記載有對並聯連接之複數個電容器施加電壓，一次將複數個電容器老化之方法。
此處，為了一次將複數個電容器老化之方法簡易化，而考慮例如將複數個電容器並聯連接，與老化裝置電性連接而進行老化之方法。圖6係示意性地表示將複數個電容器C61~C66整合為一個的陣列電容器600之構成之圖，該複數個電容器C61~C66分別具備以電極墊形成之正極及負極。該情形下，構成陣列電容器600之各電容器C61~C66與老化裝置之間的電性連接正常進行，若對各電容器C61~C66不施加電壓，則各電容器C61~C66無法進行老化處理。因此，必須在老化處理開始前，確認電容器之正極及負極與老化裝置之電性連接確實地進行。
圖7係示意性地表示與陣列電容器600連接而進行老化之老化裝置700之一例之圖。此處，針對陣列電容器600由四個電容器C61~C64構成者進行說明。
圖7所示之老化裝置700具備：複數個導通確認用墊片P61~P64，分別與複數個電容器C61~C64之正極電性連接，用以確認複數個電容器C61~C64之間之導通；複數個連接端子T61~T64，對應於複數個電容器C61~C64之各者，與複數個導通確認用墊片P61~P64之各者電性連接；連接部L61，用以將複數個電容器C61~C64之正極電性連接。導通確認用墊片P61~P64與連接部L61，構成為能夠電性連接及切斷。
複數個電容器C61~C64之老化，藉由以下方法進行。
首先，如圖8所示，將老化裝置700與陣列電容器600連接。即，複數個電容器C61~C64之正極、與複數個導通確認用墊片P61~P64分別電性連接。此時，複數個連接端子T61~T64與連接部L61之間係電性切斷之狀態。又，複數個電容器C61~C64之負極與接地連接。
再者，確認複數個導通確認用墊片P61~P64與複數個電容器C61~C64之間之導通。例如，藉由經由複數個導通確認用墊片P61~P64之各者，分別測定複數個電容器C61~C64之電容，確認與複數個電容器C61~C64之間之導通。即，只要可分別測定複數個電容器C61~C64之電容，則判斷複數個導通確認用墊片P61~P64與複數個電容器C61~C64之間分別導通。另一方面，若有無法測定電容之電容器，則判斷該電容器與導通確認用墊片之間電性切斷。
只要可分別確認複數個導通確認用墊片P61~P64與複數個電容器C61~C64之間之導通，則如圖9所示，複數個連接端子T61~T64與連接部L61之間電性連接。又，位於連接部L61之一端側的導通確認用墊片P61，與電源VCC連接而被施加電壓。
於該狀態下，如圖9所示，複數個電容器C61~C64成為並聯連接之狀態，對複數個電容器C61~C64之全體施加電源VCC之電壓。藉由此種構成，可一次將複數個電容器C61~C64作為對象進行老化。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開平8-255732號公報
[發明所欲解決之問題]
然而，在使用圖7~圖9所說明之老化裝置700，雖可確認陣列電容器600與老化裝置700之間之導通，但並沒有確認老化裝置700內之複數個連接端子T61~T64與連接部L61之間之電性連接確實地進行之手段。因此，當複數個連接端子T61~T64中，存在與連接部L61之間沒有電性連接之連接端子，則不會對與該連接端子對應而設置之電容器施加電壓，無法進行老化。
本發明係解決上述課題者，目的在於提供可確實地進行複數個電容器之老化的電容器用老化裝置及電容器之老化方法。 [解決問題之技術手段]
本發明之電容器用老化裝置係一種電容器用老化裝置，用以對複數個電容器施加電壓進行老化，其具備： 複數個導通確認用墊片，用以分別與複數個前述電容器之正極電性連接，分別確認與複數個前述電容器之間的導通； 複數個第1端子，與複數個前述電容器之各者對應而設置，且分別與複數個前述導通確認用墊片電性連接； 複數個第2端子，分別與複數個前述第1端子電性連接；以及 複數個連接部，構成為能夠在複數個前述第1端子及複數個前述第2端子之間電性連接及切斷，用於電性連接複數個前述電容器之正極，且前述連接部之各者，將與複數個前述電容器中之兩個前述電容器中之一方之前述電容器對應之前述第2端子、及與另一方之前述電容器對應之前述第1端子電性連接； 前述電容器用老化裝置構成為：於進行複數個前述電容器之老化時，為了將複數個前述連接部串聯連接，使複數個前述連接部之各者與前述一方之電容器之前述第2端子及前述另一方之電容器之前述第1端子電性連接，且藉由在複數個前述電容器之正極與複數個前述導通確認用墊片之間電性連接之狀態下，對位於串聯連接之複數個前述連接部之一端側之前述導通確認用墊片施加電壓，而經由複數個前述連接部，對所有前述電容器施加電壓。 [發明之效果]
根據本發明之電容器用老化裝置，構成為：為了將複數個連接部串聯連接，使複數個連接部之各者與兩個電容器中的一方之電容器之第2端子及另一方之電容器之第1端子電性連接，且藉由於複數個電容器之正極與複數個導通確認用墊片之間電性連接之狀態下，對位於串聯連接之複數個連接部之一端側之導通確認用墊片施加電壓，而經由複數個連接部，對所有電容器施加電壓。此時，藉由測定串聯連接之複數個連接部之另一端側中之第2端子，或與第2端子同電位之位置的電壓，可確認複數個導通確認用墊片與複數個連接部之間之導通。又，經由複數個導通確認用墊片，可確認複數個電容器與電容器用老化裝置之間之導通。藉由此種構成，可確認是否對複數個電容器之全體施加電壓，因此可確實地進行複數個電容器之老化。
以下表示本發明之實施形態，針對本發明之特徵進行具體說明。
＜第1實施形態＞ 圖1係示意性地表示第1實施形態之電容器用老化裝置100之構成之圖。第1實施形態中之電容器用老化裝置100具備：複數個導通確認用墊片1a~1d，複數個第1端子2a~2d，複數個第2端子3a~3d，複數個連接部4a~4c。
於本實施形態中，針對由第1電容器C1、第2電容器C2、第3電容器C3、以及第4電容器C4形成陣列電容器10，將形成之陣列電容器10連接至電容器用老化裝置100，一次進行複數個電容器C1~C4之老化之例進行說明。第1電容器C1~第4電容器C4例如係電解電容器。
此外，構成陣列電容器10之電容器數為三個以上即可，並不限定於四個。又，亦可為不形成陣列電容器10，而將複數個電容器C1~C4分別與電容器用老化裝置100電性連接。
複數個導通確認用墊片1a~1d，係用於分別與複數個電容器C1~C4之正極電性連接，分別確認與複數個電容器C1~C4之間的導通之墊片。複數個導通確認用墊片1a~1d之數量與複數個電容器C1~C4之數量相同。於本實施形態中，設置有對應於第1電容器C1之第1導通確認用墊片1a、對應於第2電容器C2之第2導通確認用墊片1b、對應於第3電容器C3之第3導通確認用墊片1c、以及對應於第4電容器C4之第4導通確認用墊片1d之四個導通確認用墊片。
複數個第1端子2a~2d，分別對應於複數個電容器C1~C4而設置，分別與複數個導通確認用墊片1a~1d電性連接。具體而言，第1端子2a與第1導通確認用墊片1a電性連接，第1端子2b與第2導通確認用墊片1b電性連接，第1端子2c與第3導通確認用墊片1c電性連接，第1端子2d與第4導通確認用墊片1d電性連接。複數個第1端子2a~2d之數量，與複數個電容器C1~C4之數量相同，於本實施形態中為四個。
複數個第2端子3a~3d，分別與複數個第1端子2a~2d電性連接。具體而言，第2端子3a與第1端子2a電性連接，第2端子3b與第1端子2b電性連接，第2端子3c與第1端子2c電性連接，第2端子3d與第1端子2d電性連接。複數個第2端子3a~3d亦分別與複數個電容器C1~C4對應設置。因此，複數個第2端子3a~3d之數量，與複數個電容器C1~C4之數量相同，於本實施形態為四個。
於本實施形態中，複數個導通確認用墊片1a~1d、複數個第1端子2a~2d、以及複數個第2端子3a~3d，設置於第1構件20。第1構件20例如為基板。
複數個連接部4a~4c，構成為能夠在複數個第1端子2a~2d及複數個第2端子3a~3d之間電性連接及切斷。於本實施形態中，複數個連接部4a~4c設置於能夠相對於第1構件安裝及拆卸的第2構件30。第2構件30例如為插座。作為一例，複數個連接部4a~4c係連接配線，設置於第2構件30即插座內之基板31。
複數個連接部4a~4c，係用於在進行複數個電容器C1~C4之老化時，與複數個電容器C1~C4之正極電性連接者。複數個連接部4a~4c之各者，將與複數個電容器C1~C4中之兩個電容器中之一方之電容器對應之第2端子、及與另一方之電容器對應之第1端子電性連接。具體而言，進行老化時，連接部4a之一端與對應於第1電容器C1之第2端子3a電性連接，另一端與對應於第2電容器C2之第1端子2b電性連接，連接部4b之一端與對應於第2電容器C2之第2端子3b電性連接，另一端與對應於第3電容器C3之第1端子2c電性連接，連接部4c之一端與對應於第3電容器C3之第2端子3c電性連接，另一端與對應於第4電容器C4之第1端子2d電性連接。
複數個連接部4a~4c之數量，較複數個電容器C1~C4之數量少一個，於本實施型態為三個。
藉由第2構件30安裝於第1構件20，複數個連接部4a~4c之各者與上述一方之電容器的第2端子及另一方之電容器的第1端子電性連接。又，藉由第2構件30自第1構件20拆卸，複數個連接部4a~4c之各者與上述一方之電容器的第2端子及另一方之電容器的第1端子電性切斷。
本實施形態中之電容器用老化裝置100構成為：於進行複數個電容器C1~C4之老化時，為了將複數個連接部4a~4c串聯連接，使複數個連接部4a~4c之各者與一方之電容器的第2端子及另一方之電容器的第1端子電性連接，且藉由在複數個電容器C1~C4之正極與複數個導通確認用墊片1a~1d之間電性連接之狀態下，對位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之一端側的導通確認用墊片施加電壓，而經由複數個連接部4a~4c，對所有電容器C1~C4施加電壓。針對進行複數個電容器C1~C4之老化之方法，於以下進行說明。
首先，如圖2所示，將陣列電容器10連接至電容器用老化裝置100。具體而言，將陣列電容器10之複數個電容器C1~C4之正極、與電容器用老化裝置100之複數個導通確認用墊片1a~1d之間分別電性連接。又，將複數個電容器C1~C4之負極與接地連接。但是，於該階段，複數個電容器C1~C4之正極與複數個導通確認用墊片1a~1d之間實際上是否於導通狀態係未知。此時，設為第2構件30自第1構件20拆卸之狀態，即，複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個連接部4a~4c之間電性切斷之狀態。
再者，確認複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個電容器C1~C4之間之導通。例如，經由複數個導通確認用墊片1a~1d之各者，分別測定複數個電容器C1~C4之電容，藉此確認與複數個電容器C1~C4之間之導通。
例如，若經由第1導通確認用墊片1a，可測定第1電容器C1之電容，則判斷第1電容器C1與第1導通確認用墊片1a之間導通。另一方面，若無法測定第1電容器C1之電容，則判斷第1電容器C1與第1導通確認用墊片1a之間電性切斷。第2電容器C2與第2導通確認用墊片1b之間、第3電容器C3與第3導通確認用墊片1c之間、第4電容器C4與第4導通確認用墊片1d之間之導通之確認亦相同。電容器C1~C4之電容之確認，可藉由已知的方法進行。
此外，此時複數個電容器C1~C4之負極分別連接於接地。
若能分別確認複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個電容器C1~C4之間之導通，則藉由將複數個連接部4a~4c串聯連接，將複數個電容器C1~C4之正極電性連接。即，如圖3所示，將第2構件30安裝於第1構件20，將複數個連接部4a~4c之各者，與和兩個電容器中之一方之電容器對應的第2端子、及和另一方之電容器對應之第1端子電性連接。
具體而言，連接部4a之一端，與和第1電容器C1對應之第2端子3a電性連接，另一端與和第2電容器C2對應之第1端子2b電性連接。連接部4b之一端，與和第2電容器C2對應之第2端子3b電性連接，另一端與和第3電容器C3對應之第1端子2c電性連接。連接部4c之一端，與和第3電容器C3對應之第2端子3c電性連接，另一端與和第4電容器C4對應之第1端子2d電性連接。作為一例，於第2構件30為插座之情形時，連接部4a，與和第1電容器C1對應之第2端子3a及和第2電容器C2對應之第1端子2b之間，經由插銷(socket pin)電性連接。連接部4b及4c之電性連接亦相同。若於連接之所有部位電性連接為正常進行，則如圖3所示，複數個連接部4a~4c成為串聯連接之狀態。
又，對位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之一端側之導通確認用墊片施加電壓。「串聯連接之複數個連接部4a~4c之一端」係指將串聯連接之狀態的複數個連接部4a~4c視為一個連接體時之連接體的一端。因此，位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之一端側之導通確認用墊片，係對應於第1電容器C1之第1導通確認用墊片1a、或對應於第4電容器C4之第4導通確認用墊片1d。
於本實施形態，對應於第1電容器C1之第1導通確認用墊片1a與電源VCC連接，對第1導通確認用墊片1a施加電源VCC之電壓。但是，電源VCC無需直接連接於第1導通確認用墊片1a，於第1構件20(參照圖1)，連接於與第1導通確認用墊片1a電性連接之部位即可。
繼而，確認第1構件20與第2構件30之間之導通，即，複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個連接部4a~4c之間之導通。於本實施形態，測出位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之另一端側，且與第4電容器C4對應之第2端子3d之電壓。
此處，若第1構件20與第2構件30之間，即，複數個連接部4a~4c與對應之第1端子及第2端子之間分別正常地電性連接，則所有第1端子2a~2d及所有第2端子3a~3d經由所有連接部4a~4c，成為電性連接之狀態(參照圖3)。因此，將電壓感測器與第2端子3d連接而測定第2端子3d之電壓時，測出與電源VCC之電壓相同的電壓。
即，若於測定第2端子3d之電壓時，測出與電源VCC之電壓相同的電壓，則可判斷第1構件20與第2構件30之間，即複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個連接部4a~4c之間為正常地電性連接。於該狀態，複數個電容器C1~C4成為並聯連接，複數個電容器C1~C4之全體被施加與電源VCC之電壓相同的電壓。
另一方面，若於第1構件20與第2構件30之間，在至少一處，例如對應於第2電容器C2之第2端子3b與連接部4b之間，電性連接並未正常地進行而為電性切斷，則自第1導通確認用墊片1a往第2端子3d之電流路徑被遮斷。於該情形，當測定第2端子3d之電壓，不會測出與電源VCC之電壓相同之電壓。
此外，於第1構件20與第2構件30之間，在至少一處並未正常地進行電性連接之情形時，第2端子3d之測定電壓，與根據被電容器C4充電之電荷的電壓相等，但與電源VCC之電壓相比，該電壓相當低。因此，亦可為測定第2端子3d之電壓，將測定電壓與既定之閾值電壓比較，而在測定電壓較既定之閾值電壓高之情形時，判斷第1構件20與第2構件30之間之電性連接正常，在既定閾值電壓以下之情形時，判斷為至少一處電性切斷。
又，電壓之測定處並不限定於第2端子3d，只要係與位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之另一端側的第4導通確認用墊片1d電性連接之位置即可。
將使用如上述之電容器用老化裝置100進行老化之方法整理如下。使用第1實施形態之電容器用老化裝置100之電容器之老化方法具備： (a) 將複數個電容器C1~C4之正極、與複數個前述導通確認用墊片1a~1d之間電性連接，且於將複數個連接部4a~4c之各者，與和一方之電容器對應的第2端子、及和另一方之電容器對應之第1端子電性切斷之狀態下，確認複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個電容器C1~C4之正極之間是否導通之步驟； (b) 在確認複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個電容器C1~C4之正極之間之導通後，將複數個連接部4a~4c之各者，與和一方之電容器對應的第2端子、及和另一方之電容器對應之第1端子連接，於該狀態下，對位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之一端側之導通確認用墊片施加電壓，且對與位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之另一端側之導通確認用墊片電性連接的位置之電壓進行測定之步驟； (c) 根據已測定之電壓，確認是否對複數個電容器C1~C4之各者施加電壓之步驟。
藉由上述之方法，可確認陣列電容器10與電容器用老化裝置100之間、以及電容器用老化裝置100之第1構件20與第2構件30之間正常地進行電性連接。若確認所有連接處之電性連接皆正常，則可一次確實地進行所有電容器C1~C4之老化。
此外，分別連接於複數個第1端子2a~2d之複數個第2端子3a~3d，即使相對第1端子2a~2d之一具有複數個亦可獲得相同效果。例如，於第1端子2a，連接有一個第2端子3a，但亦可連接有兩個以上之第2端子。其他之第1端子2b~2d亦相同。
＜第2實施形態＞ 圖4係示意性地表示第2實施形態之電容器用老化裝置100A之構成之圖，表示進行複數個電容器C1~C4之老化時之連接狀態。第2實施形態之電容器用老化裝置100A，相對於第1實施形態之電容器用老化裝置100之構成，進一步具備亮燈部40。
亮燈部40連接於與位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之另一端側之導通確認用墊片電性連接之位置，在位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之一端側之導通確認用墊片被施加電壓時亮燈。於本實施形態中，位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之一端側之導通確認用墊片，係對應於第1電容器C1之第1導通確認用墊片1a，位於另一側之導通確認用墊片，係對應於第4電容器C4之第4導通確認用墊片1d。
於本實施形態，亮燈部40與電性連接於第4導通確認用墊片1d之位置即第2端子3d連接。但是，亮燈部40只要與電性連接於第4導通確認用墊片1d之位置即可，亦可於其他位置與第2端子3d連接。亮燈部40例如為LED。
在圖4所示之連接狀態，即，複數個連接部4a~4c串聯連接之狀態下，若對第1導通確認用墊片1a施加電源VCC之電壓，則第2端子3d亦被施加與電源VCC之電壓相同之電壓。藉此，與第2端子3d連接之亮燈部40亮燈。
即，根據第2實施形態之電容器用老化裝置100A，若在複數個連接部4a~4c串聯連接之狀態下，對位於一端側之第1之導通確認用墊片1a施加電壓時，亮燈部40亮燈，則可判斷第1構件20與第2構件30之間之電性連接正常地進行，對所有電容器C1~C4施加有電壓。即，根據亮燈部40之亮燈與否，可容易地確認第1構件20與第2構件30之間之導通，即複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個連接部4a~4c之間是否導通。
使用第2實施形態中之電容器用老化裝置100A，進行複數個電容器之老化的方法整理如下。使用第2實施形態中之電容器用老化裝置100A之電容器之老化方法，具備： (I) 將複數個電容器C1~C4之正極、與複數個前述導通確認用墊片1a~1d之間電性連接，且於將複數個連接部4a~4c之各者，與和一方之電容器對應的第2端子、及和另一方之電容器對應之第1端子電性切斷之狀態下，確認複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個電容器C1~C4之正極之間是否導通之步驟； (II) 在確認複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個電容器C1~C4之正極之間之導通後，將複數個連接部4a~4c之各者，與和一方之電容器對應的第2端子、及和另一方之電容器對應之第1端子連接，於該狀態下，對位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之一端側之導通確認用墊片施加電壓，確認亮燈部40是否亮燈之步驟； (III) 根據亮燈部40之亮燈與否，確認是否對複數個電容器C1~C4之各者施加電壓之步驟。
＜第3實施形態＞ 圖5係示意性地表示第3實施形態之電容器用老化裝置100B之構成之圖，表示進行複數個電容器C1~C4之老化時之連接狀態。第3實施形態之電容器用老化裝置100B與第1實施形態之電容器用老化裝置100之不同在於，第1統合端子51與第2統合端子52。
第1統合端子51，係於第1實施形態之電容器用老化裝置100將位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之一端側之第1端子2a與第2端子3a統合之一個端子。
第2統合端子52，係於第1實施形態之電容器用老化裝置100將位於串聯連接之複數個連接部4a~4c之另一端側之第1端子2d與第2端子3d統合之一個端子。
根據第3實施形態之電容器用老化裝置100B，相較於第1實施形態之電容器用老化裝置100，可減少端子之數量，因此可降低製造成本。
本發明並不限定於上述實施形態，於本發明之範圍內可增加各種的應用、變形。
例如，於上述之各實施形態之電容器用老化裝置100、100A、100B，複數個連接部4a~4c之各者，與兩個電容器中之一方之電容器的第2端子、及另一方之電容器之第1端子之間的電性連接及切斷，構成為藉由相對第1構件20安裝及拆卸第2構件30來進行。
然而，亦可為設置用以將連接部4a~4c之各者，與兩個電容器中之一方之電容器之第2端子及另一方之電容器之第1端子之間電性連接及切斷之機械式開關，藉由機械式開關之開/關，進行電性連接及切斷。機械式開關係具有機械性接點之開關。
又，亦可為設置用以將連接部4a~4c之各者，與兩個電容器中之一方之電容器之第2端子及另一方之電容器之第1端子之間電性連接及切斷之半導體開關，藉由半導體開關之開/關，進行電性連接及切斷。半導體開關係IGBT及MOSFET等，根據訊號進行開/關之無接點開關者。
於第1實施形態，電源VCC構成為：藉由連接於對應於第1電容器C1之導通確認用墊片1a，測定與第4電容器C4對應之第2端子3d之電壓，確認第1構件20與第2構件30之間之導通，即，複數個導通確認用墊片1a~1d與複數個連接部4a~4c之間之導通。與此相對，亦可為藉由電源VCC連接於對應於第4電容器C4之第4導通確認用墊片1d，測出與對應於第1電容器C1之第1導通確認用墊片1a電性連接之位置，例如，第1端子2a之電壓，確認第1構件20與第2構件30之間之導通，即，複數個導通確認用墊片1a~1d，與複數個連接部4a~4c之間之導通。
1a~1d:導通確認用墊片 2a~2d:第1端子 3a~3d:第2端子 4a~4c:連接部 10:陣列電容器 20:第1構件 30:第2構件 31:基板 40:亮燈部 51:第1統合端子 52:第2統合端子 100、100A、100B:電容器用老化裝置 600:陣列電容器 C1~C4、C61~C66:電容器 L61:連接部 P61~P64:導通確認用墊片 T61~T64:連接端子 700:習知之電容器用老化裝置 VCC:電源
[圖1]係示意性地表示第1實施形態之電容器用老化裝置之構成之圖。 [圖2]係示意性地表示確認陣列電容器與電容器用老化裝置之間之導通時的連接狀態之圖。 [圖3]係示意性地表示確認電容器用老化裝置之第1構件與第2構件之間之導通，而進行複數個電容器之老化時的連接狀態之圖。 [圖4]係示意性地表示第2實施形態之電容器用老化裝置之構成，表示進行複數個電容器之老化時之連接狀態之圖。 [圖5]係示意性地表示第3實施形態之電容器用老化裝置之構成，表示進行複數個電容器之老化時之連接狀態之圖。 [圖6]係示意性地表示將複數個電容器整合成一個的陣列電容器之構成之圖。 [圖7]係示意性地表示與陣列電容器連接而進行老化之習知之老化裝置的構成之圖。 [圖8]係示意性地表示使用如圖7所示之老化裝置進行老化時，確認陣列電容器與老化裝置之間之導通時的連接狀態之圖。 [圖9]係示意性地表示使用如圖7所示之老化裝置進行老化時之連接狀態之圖。
1a~1d:導通確認用墊片
2a~2d:第1端子
3a~3d:第2端子
4a~4c:連接部
10:陣列電容器
20:第1構件
30:第2構件
31:基板
100:電容器用老化裝置
C1~C4:電容器

Claims (9)

  1. 一種電容器用老化裝置，用以對複數個電容器施加電壓進行老化，其具備： 複數個導通確認用墊片，用以分別與複數個前述電容器之正極電性連接，分別確認與複數個前述電容器之間的導通； 複數個第1端子，與複數個前述電容器之各者對應而設置，且分別與複數個前述導通確認用墊片電性連接； 複數個第2端子，分別與複數個前述第1端子電性連接；以及 複數個連接部，構成為能夠在複數個前述第1端子及複數個前述第2端子之間電性連接及切斷，用於電性連接複數個前述電容器之正極，且前述連接部之各者，將與複數個前述電容器中之兩個前述電容器中之一方之前述電容器對應之前述第2端子、及與另一方之前述電容器對應之前述第1端子電性連接； 前述電容器用老化裝置構成為：於進行複數個前述電容器之老化時，為了將複數個前述連接部串聯連接，使複數個前述連接部之各者與前述一方之電容器之前述第2端子及前述另一方之電容器之前述第1端子電性連接，且藉由在複數個前述電容器之正極與複數個前述導通確認用墊片之間電性連接之狀態下，對位於串聯連接之複數個前述連接部之一端側之前述導通確認用墊片施加電壓，而經由複數個前述連接部，對所有前述電容器施加電壓。
  2. 如請求項1之電容器用老化裝置，其中，複數個前述導通確認用墊片、複數個前述第1端子、以及複數個前述第2端子，設置於第1構件； 複數個前述連接部，設置於能夠相對於前述第1構件安裝以及拆卸之第2構件； 藉由前述第2構件安裝於前述第1構件，複數個前述連接部之各者與前述一方之電容器之前述第2端子及前述另一方之電容器之前述第1端子電性連接，藉由前述第2構件自前述第1構件拆卸，複數個前述連接部之各者與前述一方之電容器之前述第2端子及前述另一方之電容器之前述第1端子電性切斷。
  3. 如請求項1之電容器用老化裝置，其進一步具備機械式開關，用於將前述連接部，與前述一方之電容器之前述第2端子、及前述另一方之電容器之前述第1端子電性連接及切斷。
  4. 如請求項1之電容器用老化裝置，其進一步具備半導體開關，用於將前述連接部，與前述一方之電容器之前述第2端子、及前述另一方之電容器之前述第1端子電性連接及切斷。
  5. 如請求項1~4中任一項之電容器用老化裝置，將位於串聯連接之複數個前述連接部之一端側的前述第1端子與前述第2端子統合構成為一個端子，且將位於串聯連接之複數個前述連接部之另一端側的前述第1端子與前述第2端子統合構成為一個端子。
  6. 如請求項1~4中任一項之電容器用老化裝置，其進一步具備亮燈部，連接於與位於串聯連接之複數個前述連接部之另一端側的前述導通確認用墊片電性連接之位置，在對位於串聯連接之複數個前述連接部之一端側之前述導通確認用墊片施加電壓時亮燈。
  7. 如請求項5之電容器用老化裝置，其進一步具備亮燈部，連接於與位於串聯連接之複數個前述連接部之另一端側的前述導通確認用墊片電性連接之位置，在對位於串聯連接之複數個前述連接部之一端側之前述導通確認用墊片施加電壓時亮燈。
  8. 一種電容器之老化方法，使用請求項1~5中任一項之電容器用老化裝置，進行複數個前述電容器之老化，其具備： 將複數個前述電容器之正極、與複數個前述導通確認用墊片之間電性連接，且於將複數個前述連接部之各者，與和前述一方之電容器對應的前述第2端子、及和前述另一方之電容器對應之前述第1端子電性切斷之狀態下，確認複數個前述導通確認用墊片與複數個前述電容器之正極之間是否導通之步驟； 在確認複數個前述導通確認用墊片與複數個前述電容器之正極之間之導通後，將複數個前述連接部之各者，與和前述一方之電容器對應的前述第2端子、及和前述另一方之電容器對應之前述第1端子連接，於該狀態下，對位於串聯連接之複數個前述連接部之一端側之前述導通確認用墊片施加電壓，且對與位於串聯連接之複數個前述連接部之另一端側之前述導通確認用墊片電性連接的位置之電壓進行測定之步驟； 根據已測定之前述電壓，確認是否對複數個前述電容器之各者施加電壓之步驟。
  9. 一種電容器之老化方法，使用請求項6或7之電容器用老化裝置，進行複數個前述電容器之老化，其具備： 將複數個前述電容器之正極、與複數個前述導通確認用墊片之間電性連接，且於將複數個前述連接部之各者，與和前述一方之電容器對應的前述第2端子、及和前述另一方之電容器對應之前述第1端子電性切斷之狀態下，確認複數個前述導通確認用墊片與複數個前述電容器之正極之間是否導通之步驟； 在確認複數個前述導通確認用墊片與複數個前述電容器之正極之間之導通後，將複數個前述連接部之各者，與和前述一方之電容器對應的前述第2端子、及和前述另一方之電容器對應之前述第1端子連接，於該狀態下，對位於串聯連接之複數個前述連接部之一端側之前述導通確認用墊片施加電壓，確認前述亮燈部是否亮燈之步驟； 根據前述亮燈部之亮燈與否，確認是否對複數個前述電容器之各者施加電壓之步驟。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56167546U (zh) * 1980-05-14 1981-12-11
JPS6034252B2 (ja) * 1980-12-12 1985-08-07 日本電気株式会社 電子部品のエ−ジング・検査装置
JP2752534B2 (ja) * 1991-07-16 1998-05-18 ローム株式会社 コンデンサーの製造における通電エージング試験方法
JP3529483B2 (ja) * 1995-03-15 2004-05-24 ハイメカ株式会社 電子部品のエ−ジング方法
JP3591211B2 (ja) * 1997-04-22 2004-11-17 松下電器産業株式会社 電解コンデンサのエージング方法
JP3653956B2 (ja) * 1997-10-30 2005-06-02 松下電器産業株式会社 チップ型コンデンサ用エージング治具
JP2000012634A (ja) * 1998-06-25 2000-01-14 Nec Kansai Ltd バーンイン試験用基板への半導体装置の供給方法
JP2010218630A (ja) * 2009-03-17 2010-09-30 Toshiba Corp 半導体記憶装置およびその試験方法
JP5799722B2 (ja) 2011-09-30 2015-10-28 コベルコ建機株式会社 作業機械
JP6583220B2 (ja) * 2016-11-15 2019-10-02 株式会社村田製作所 コンデンサ及びコンデンサの製造方法
CN207752886U (zh) * 2017-12-01 2018-08-21 深圳市山达士电子有限公司 一种高压电容充电老化排架
CN210111102U (zh) * 2019-07-30 2020-02-21 深圳市力容电子有限公司 方便电容器接电的老化装置

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