TW202124906A - 光學式選別裝置 - Google Patents

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河村陽一
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Abstract

本發明之光學式選別裝置包含:滑槽,其包含光學檢測用狹縫,以及配置在其下游側的選別除去用狹縫,且被選別物在其表面往下流;光學檢査部的後側照明部以及噴射噴嘴安裝於後側殼體;後側殼體,在滑槽的背面側,以後側照明部面臨光學檢測用狹縫且噴射噴嘴的前端面臨選別除去用狹縫的方式設置。

Description

光學式選別裝置
本發明係關於一種根據色彩等選別穀粒、豆類、樹脂粒等粒狀物的光學式選別裝置。
穀類、豆類、樹脂粒等粒狀物,有時會根據色彩等選別良品與不良品,並將不良品除去,或將混入的異物除去。例如,於專利文獻1,揭示了一種光學式粒狀物選別裝置,其在穀粒所流下的滑槽的下方,夾著從滑槽落下的粒狀物的落下軌跡設置光學檢測部,並在光學檢測部的下方設置噴射噴嘴,然後以光學檢測部檢測落下的粒狀物為良品或不良品,並利用從噴射噴嘴所噴射的高壓噴風,將認定為不良品的粒狀物從流下中的粒狀物除去。
上述專利文獻1所記載之光學式粒狀物選別裝置,係用噴風將從滑槽落下的不良品除去,惟由於存在因為在空中的飛行態勢紊亂而並未以一定的飛行軌跡落下的粒狀物,故會有噴風並未吹中不良品而發生選別失誤的可能性存在。
為了令選別效率提高,本案申請人,申請了專利文獻2。其係於被選別部的滑槽設置了光學檢測用狹縫與選別除去用狹縫的申請案。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2014-157119號公報 [專利文獻2]日本特願2019-209821號
[發明所欲解決的問題]
專利文獻2之光學式選別裝置,必須對應滑槽的光學檢測用狹縫設置光學檢測部,再對應其下方的選別除去用狹縫設置噴射噴嘴。因此,整體會大型化,組裝很繁瑣,也不利於人工或機械的大量生產。尤其,在附設於脫殼機的情況下,該等問題更為顯著。另外,亦要求令光學檢測用狹縫與選別除去用狹縫的距離盡可能接近,以達到精簡化或提高選別精度之目的。
再者,專利文獻2之光學式選別裝置,形成了滑槽的光學檢測用狹縫。因此,會有「往下流之粒狀物所產生的塵埃或粉粒等,通過光學檢測用狹縫,侵入到滑槽的背面側,並附著於設置在滑槽的背面側的裝置等,而造成不良影響」之虞。尤其,在附設於脫殼機的情況下,光學裝置會因為塵埃等的附著而性能顯著降低,故容易發生選別失誤。
另外,吾人亦考慮於光學檢測用狹縫嵌入透光板,以防止塵埃等的侵入。然而,會有塵埃等附著於透光板而透光性降低的疑慮。再者,若欲將附著於透光板的塵埃等除去,則由於係令除去機構在滑槽的表面側動作,故必須停止粒狀物的流下,選別作業便會被中斷。
本發明所欲解決之問題,在於提供一種精簡、組裝容易且適合大量生產的光學式選別裝置。本發明所欲解決之問題,在於提供一種令光學檢測用狹縫與選別除去用狹縫的距離盡可能接近、選別精度高且精簡的光學式選別裝置。另外,亦在於提供一種在並未於光學檢測用狹縫設置透光板的情況下防止在滑槽的表面側所產生的塵埃等通過光學檢測用狹縫侵入到背面側而不易發生選別失誤的光學式選別裝置。 [解決問題的手段]
本案請求項1之發明係一種光學式選別裝置,其特徵為包含:滑槽,其包含光學檢測用狹縫,以及配置在該光學檢測用狹縫的下游側的選別除去用狹縫,且被選別物在其表面往下流;光學檢査部,其包含:照明部,其包含設置在該滑槽的背面側且從開口對該被選別物照射光線的後側照明部;受光部,其接收該照明部所照射的光線的來自該被選別物的穿透光以及反射光的至少其中任一方;以及光路徑,其將該穿透光以及反射光的至少其中任一方送到該受光部;並對在該滑槽的表面往下流的被選別物進行檢査;以及噴射部,其包含可對在該滑槽的表面往下流的被選別物噴出的噴射噴嘴,並根據該光學檢査部的檢査結果,將該被選別物選別除去之;更包含:基底構件,其安裝在該滑槽的背面側;於該基底構件,至少安裝了該後側照明部以及該噴射噴嘴;該基底構件,以該後側照明部的該開口面臨該光學檢測用狹縫且該噴射噴嘴的前端面臨該選別除去用狹縫的方式設置。
本案請求項2之發明,如請求項1所記載的光學式選別裝置,其中,該基底構件或該後側照明部,包含插入該光學檢測用狹縫以令該基底構件相對於該滑槽就定位的定位突起。
本案請求項3之發明,如請求項1或2所記載的光學式選別裝置,其中,該基底構件或該噴射噴嘴,包含插入該選別除去用狹縫以令該基底構件相對於該滑槽就定位的定位突起。
本案請求項4之發明,如請求項1至請求項3中任一項所記載的光學式選別裝置,其中,該基底構件為後側殼體;該噴射部,包含:該噴射噴嘴;分配器,其將高壓空氣分配到該噴射噴嘴;以及電磁閥,其根據該光學檢査部的檢査結果,控制該分配器的分配;在該後側殼體內,收納了該後側照明部、該噴射噴嘴以及該分配器;在該後側殼體的外表面,安裝了該電磁閥。
本案請求項5之發明,如請求項4所記載的光學式選別裝置,其中,於該後側殼體的外表面突出了突片,於該電磁閥設置了卡合爪,藉由將該卡合爪扣入卡合於該突片,以將該電磁閥安裝於該後側殼體的外表面。
本案請求項6之發明,如請求項1至請求項3中任一項所記載的光學式選別裝置,其中,該基底構件為後側殼體;該噴射部,包含:該噴射噴嘴;分配器,其將高壓空氣分配到該噴射噴嘴;以及電磁閥,其根據該光學檢査部的檢査結果,控制該分配器的分配;在該後側殼體內,收納了該後側照明部以及該噴射噴嘴;該噴射噴嘴,與設置在該後側殼體的外部的該分配器以及該電磁閥,以空氣軟管連結。
本案請求項7之發明,如請求項1至請求項6中任一項所記載的光學式選別裝置,其中,該後側照明部,包含:光源;以及反射部,其將從該光源所射出的光線往該光學檢測用狹縫反射;從該滑槽的上游側開始,依照該光源、該反射部、該噴射噴嘴的順序配置。
本案請求項8之發明,如請求項1至請求項7中任一項所記載的光學式選別裝置,其中,於該滑槽的表面側包含前側殼體;該照明部,包含設置在該滑槽的表面側的前側照明部;於該前側殼體,至少收納了該前側照明部、該受光部以及該光路徑。
本案請求項9之發明係一種脫殼選別機,其特徵為包含:如請求項1至請求項8中任一項所記載的光學式選別裝置。
本案請求項10之發明係一種光學式選別裝置,其特徵為包含:滑槽,其包含光學檢測用狹縫,且被選別物在其表面往下流;光學檢査部,其包含:照明部,其向該光學檢測用狹縫照射光線;以及受光部,其接收該照明部所照射的光線的穿透光以及反射光的至少其中任一方;同時包含:該照明部以及該受光部的至少其中任一方配置在該滑槽的背面側的後側光學檢査部;並對在該滑槽的表面往下流的被選別物進行檢査;以及噴射部,其根據該光學檢査部的檢査結果,將該被選別物選別除去之;於該滑槽的背面側,設置了狹縫用空氣噴嘴,其可形成防止塵埃等從該光學檢測用狹縫侵入到該後側光學檢査部的氣簾。
本案請求項11之發明,如請求項10所記載的光學式選別裝置,其中,該狹縫用空氣噴嘴,以該氣簾的空氣從該滑槽的上游側向下游側噴出的方式配置。
本案請求項12之發明,如請求項11所記載的光學式選別裝置,其中,該噴射部,在比該光學檢測用狹縫更下游側之處,包含可對該被選別物噴出空氣的噴射噴嘴;在從該狹縫用空氣噴嘴所噴出的該氣簾的下游側設置了排風部;該排風部的與該狹縫用空氣噴嘴對向的面,係越遠離該光學檢測用狹縫越往下游側傾斜。
本案請求項13之發明,如請求項10至請求項12中任一項所記載的光學式選別裝置,其中,該後側光學檢査部,包含:後透光板,其在該狹縫用空氣噴嘴,與該後側光學檢査部所包含的該照明部以及該受光部的至少其中任一方之間,阻斷空氣的流通。
本案請求項14之發明,如請求項13所記載的光學式選別裝置,其中,在該後透光板的該狹縫用空氣噴嘴側,設置了後透光板用空氣噴嘴,其可形成防止塵埃等附著於該後透光板的氣簾。
本案請求項15之發明,如請求項12所記載的光學式選別裝置,其中,該後側光學檢査部,包含:後透光板,其在該狹縫用空氣噴嘴,與該後側光學檢査部所包含的該照明部以及該受光部的至少其中任一方之間,阻斷空氣的流通;在該後透光板的該狹縫用空氣噴嘴側,設置了後透光板用空氣噴嘴,其可形成防止塵埃等附著於該後透光板的氣簾;在從該後透光板用空氣噴嘴所噴出的該氣簾的下游側設置了排風部;該排風部,亦實行從該狹縫用空氣噴嘴所噴出的該氣簾的排風。
本案請求項16之發明,如請求項10至請求項15中任一項所記載的光學式選別裝置,其中,該光學檢査部,包含:照明部,其向該光學檢測用狹縫照射光線;以及受光部,其接收該照明部所照射的光線之穿透光以及反射光的至少其中任一方;同時包含:該照明部以及該受光部的至少其中任一方配置在該滑槽的表面側的前側光學檢査部;該前側光學檢査部,包含:前透光板,其在該滑槽,與該前側光學檢査部所包含的該照明部以及該受光部的至少其中任一方之間,阻斷空氣的流通;在該前透光板的該滑槽側,設置了前透光板用空氣噴嘴,其可形成防止塵埃等附著於該前透光板的氣簾。
本案請求項17之發明,如請求項16所記載的光學式選別裝置,其中,該前透光板用空氣噴嘴,配置成所形成的氣簾以相對於該被選別物的流下方向逐漸遠離的方式噴出。
本案請求項18之發明係一種脫殼選別機,其特徵為包含:如請求項10至請求項17中任一項所記載的光學式選別裝置。 [發明的功效]
若根據本發明,由於係對在滑槽表面的安定軌道往下流的被選別物通過選別除去用狹縫吹送空氣,故不會受到空氣流的紊亂等的影響,可確實地令噴風吹中應被除去的被選別物,而不易發生選別失誤,精度便提高。由於係將後側照明部以及噴射噴嘴安裝於一個基底構件,故僅安裝基底構件,便可簡單地同時設置後側照明部以及噴射噴嘴,其結果,便可利用人工或機械輕易地大量生產。另外,由於裝置趨向小型化,後側照明部與噴射噴嘴的距離,亦即光學檢測用狹縫與選別除去用狹縫的距離縮短,故從通過光檢測用狹縫到到達選別除去用狹縫的混合粒的軌道不易改變,選別精度便提高。
另外,由於基底構件或後側照明部,具備插入光學檢測用狹縫以令基底構件相對於滑槽就定位的定位突起,故可簡單地在安裝時實行定位。
另外,由於基底構件或噴射噴嘴,具備插入該選別除去用狹縫以令基底構件相對於滑槽就定位的定位突起,故可簡單地在安裝時實行定位。
另外,藉由將前側照明部、受光部以及光路徑收納在前側殼體內,組裝變得更容易,且可保護前側照明部、受光部以及光路徑不沾染塵埃等。
另外,若以基底構件為後側殼體,並將後側照明部、噴射噴嘴以及分配器收納在後側殼體內,便可更進一步令裝置小型化,塵埃等便難以附著於後側照明部。
另外,藉由在後側殼體的外表面設置突片,並於電磁閥設置與突片扣入卡合的卡合爪,便可簡單地將電磁閥安裝於後側殼體。
另外,若將噴射噴嘴與設置在後側殼體的外部的分配器以及電磁閥以空氣軟管連結,便可使用市售一般的分配器以及電磁閥。
另外,由於後側照明部具有光源以及將從光源所射出的光線往光學檢測用狹縫反射的反射部,且從滑槽的上游側開始依照光源、反射部、噴射噴嘴的順序配置,故可更進一步縮短光學檢測用狹縫與選別除去用狹縫的距離,並可達到精簡化與提高選別精度之目的。
另外,由於並未於光學檢査用狹縫設置透光板,且從在滑槽表面往下流的被選別物所產生的塵埃等不會侵入到滑槽的背面側,故塵埃等不易附著於設置在滑槽的背面側的裝置等,尤其可防止塵埃附著於後側光學檢査部而導致性能顯著降低,進而發生選別失誤。另外,由於係利用氣簾防止塵埃等的侵入,故不會像用透光板阻斷的態樣那樣失去透光性。以透光板透光的態樣,在除去塵埃等時必須中斷選別作業,若根據本發明,便不會發生該等情況。
另外,由於狹縫用空氣噴嘴,係以氣簾的空氣從滑槽的上游側往下游側噴出的方式配置,故即使氣簾的空氣從光學檢査用狹縫流出到滑槽的表面側,仍可降低對被選別物的流下所造成的影響。
另外,由於噴射部,在比光學檢測用狹縫更下游側之處,具有可對被選別物噴出空氣的噴射噴嘴,且在從狹縫用空氣噴嘴所噴出的氣簾的下游側設置了排風部,且排風部的與狹縫用空氣噴嘴對向的面,係越遠離光學檢測用狹縫越往下游側傾斜,故氣簾的空氣不會從光學檢査用狹縫流出到滑槽的表面側,而係有效率地流向排風部。因此,不會對配置在下游側的噴射噴嘴的空氣的噴出造成影響。
另外,由於後側光學檢査部,具備後透光板,其在狹縫用空氣噴嘴,與後側光學檢査部所具有的照明部以及受光部的至少其中任一方之間,阻斷空氣的流通,故可保護後側光學檢査部不沾染塵埃等。
另外,由於後側光學檢査部,在後透光板的狹縫用空氣噴嘴側,設置了後透光板用空氣噴嘴,其可形成防止塵埃等附著於後透光板的氣簾,故可防止塵埃等附著於後透光板。
另外,由於後側光學檢査部,具備在狹縫用空氣噴嘴,與後側光學檢査部所具有的照明部以及受光部的至少其中任一方之間,阻斷空氣的流通的後透光板,在後透光板的狹縫用空氣噴嘴側,設置了可形成防止塵埃等附著於後透光板的氣簾的後透光板用空氣噴嘴,在從後透光板用空氣噴嘴所噴出的氣簾的下游側設置了排風部,該排風部,亦實行從狹縫用空氣噴嘴所噴出的氣簾的排風,故可共用排風部而構成精簡的構造。
另外,由於光學檢査部,具有向光學檢測用狹縫照射光線的照明部,與接收該照明部所照射的光線之穿透光以及反射光的至少其中任一方的受光部,同時具有照明部以及受光部的至少其中任一方配置在滑槽的表面側的前側光學檢査部;前側光學檢査部,具備在滑槽與前側光學檢査部所具有的照明部以及受光部的至少其中任一方之間阻斷空氣的流通的前透光板;在前透光板的滑槽側,設置了可形成防止塵埃等附著於前透光板的氣簾的前透光板用空氣噴嘴;故可保護前側光學檢査部不沾染塵埃等,並可防止塵埃等附著於前透光板。
另外,由於前透光板用空氣噴嘴,配置成所形成的氣簾以相對於被選別物的流下方向逐漸遠離的方式噴出,故不會對被選別物在滑槽的流下造成影響。
以下,針對本發明之實施態樣參照圖式等進行說明。另外,本發明不限於實施態樣,自不待言。
[第1實施態樣] 以下,針對本發明之第1實施態樣與圖1至圖4一併進行說明。圖1,係第1實施態樣之選別機的剖面圖;圖2,係第1實施態樣之光學式選別裝置的剖面圖;圖3,係第1實施態樣之滑槽的立體圖;圖4,係第1實施態樣之光學式選別裝置的主要部位放大剖面圖。
在第1實施態樣中,如圖1所示的,光學式選別裝置1,搭載於圖中未顯示的脫殼選別機的選別部2。選別部2,係在圖中未顯示的脫殼部的下游側鄰接設置的二次選別部。脫殼部將稻穀分離成稻殼與糙米,稻殼受到一次選別。由依然包含一次選別之稻殼等異物在內的糙米所構成的混合粒(被選別物),送到選別部2,利用光學式選別裝置1將異物從混合粒選別除去之。
在選別部2的下部,設置了從脫殼部送入混合粒的原料斗3。在選別部2的上部,且在光學式選別裝置1的上方,設置了儲留槽4。送入原料斗3的混合粒,被升穀部5升送到儲留槽4。
升送到儲留槽4的混合粒,透過旋轉閥9供給到滑槽6的上端。在滑槽6的下方,連結了將並未被光學式選別裝置1的噴射部8所排除的糙米排出的糙米排出管路10。在滑槽6的下方,亦連結了將被光學式選別裝置1的噴射部8所排除的異物排出的異物排出管路11。
如圖2所示的,光學式選別裝置1,具備混合粒在表面往下流的傾斜狀的滑槽6。光學式選別裝置1,具備與滑槽6的表面側以及背面側對向配置的光學檢査部7。光學式選別裝置1,具備根據光學檢査部7的檢査結果辨別混合粒中的異物a與糙米b並將異物a從混合粒排除的噴射部8。
如圖3所示的,於滑槽6,與混合粒的流下方向正交,形成了光學檢測用狹縫12。於滑槽6,在光學檢測用狹縫12的下游側,與混合粒的流下方向正交,形成了選別除去用狹縫13。光學檢測用狹縫12與選別除去用狹縫13形成在相近的位置。光學檢測用狹縫12以及選別除去用狹縫13的寬度,因應在滑槽6往下流的混合粒的大小或重量、噴射部8的除去能力等而設定之。
如圖2所示的,光學檢査部7,具備對在滑槽6的表面往下流的混合粒照射光線的照明部14。光學檢査部7,具備接收來自被照明部14照射光線的混合粒的穿透光以及反射光的如CCD相機等的受光部15。光學檢査部7,具備將穿透光以及反射光送到受光部15的光路徑16。
光路徑16係由複數個反射板以及透鏡所構成,受光部15以及光路徑16,與前側照明部14b一起,一體地收納在前側殼體20的內部。前側殼體20,在滑槽6的表面側,設置於與光學檢測用狹縫12對向的位置,前側照明部14b面臨光學檢測用狹縫12。然後,來自前側照明部14b的光線,照射到通過光學檢測用狹縫12的粒狀物(異物a或糙米b),而來自該粒狀物的反射光,經由光路徑16到達受光部15。
如圖4所示的,照明部14,具備:設置在滑槽6的背面側的後側照明部14a,與設置在滑槽6的表面側的前側照明部14b。後側照明部14a,具備:光擴散板17(乳白色的透光板)、光源18(如LED等),以及反射部19(凹面鏡)。前側照明部14b,為LED等的光源。
光擴散板17,其面方向設置成與滑槽6的流下方向平行。光源18,設置成接近噴射噴嘴22的正上方,並配置成往滑槽6的流下方向的相反方向射出光線。光源18為平板狀,其面方向配置成與噴射噴嘴22延伸的噴出方向平行。反射部19,將光源18所射出的光線往光擴散板17反射。藉由該等配置,便可令噴射噴嘴22與後側照明部14a接近,並可令光學檢測用狹縫12與選別除去用狹縫13接近。
後側照明部14a,具備對往下流之混合粒射出光線的開口構件14a1。開口構件14a1,成為從作為基底構件的後側殼體28突出的定位突起。在開口構件14a1的光源18側設置了光擴散板17。作為定位突起的開口構件14a1插入光學檢測用狹縫12,藉此,令安裝了後側照明部14a的後側殼體28相對於滑槽6就定位。
在本實施態樣中,定位突起係後側照明部14a的開口構件14a1,惟亦可於安裝了後側照明部14a的後側殼體28的一部分設置同樣的構造,而於基底構件構成定位突起。
噴射部8,具備:複數個噴射噴嘴22、將高壓空氣分配到噴射噴嘴22的分配器23,以及控制噴射噴嘴22噴出空氣的電磁閥24。分配器23,與供氣管25連接,從壓縮機等通過供氣管25將高壓空氣供給到分配器23。另外,電磁閥24,透過閥門驅動電路基板26以及信號處理基板27與光學檢査部7的受光部15連接(圖2)。
噴射噴嘴22的前端22a,成為從作為基底構件的後側殼體28突出的定位突起。作為定位突起的噴射噴嘴22的前端22a插入選別除去用狹縫13,藉此,令安裝了噴射部8的後側殼體28相對於滑槽6就定位。
在本實施態樣中,定位突起係噴射噴嘴22的前端22a,惟亦可於安裝了噴射噴嘴22的後側殼體28的一部分設置同樣的構造,而於基底構件構成定位突起。
在滑槽6的背面側,安裝了箱狀的後側殼體28作為基底構件。在後側殼體28的內部,一體地收納了後側照明部14a、噴射噴嘴22以及分配器23。亦即,後側照明部14a、噴射噴嘴22以及分配器23,可藉由作為基底構件的後側殼體28而單元化。
於後側殼體28的與滑槽6的背面對向的前面,以可令作為定位突起的後側照明部14a的開口構件14a1與噴射噴嘴22的前端22a突出的方式,形成了開口。於後側殼體28的後面,設置了用以令分配器23與電磁閥24、噴射噴嘴22與電磁閥24連通的開口。
於後側殼體28的後面一端部形成了鉤部29,於後面另一端部突出了突片30。於電磁閥24的前面一端部形成了凸緣31,於前面另一端部設置了與突片30扣入卡合的卡止爪32。
令電磁閥24傾斜,將凸緣31插入鉤部29,接著,將電磁閥24旋轉,令卡止爪32與突片30扣入卡合。藉此,便可將電磁閥24單觸地安裝於後側殼體28的後面(外表面)且裝設於分配器23。在更換電磁閥24等情況下,藉由擺動卡止爪32令其離開突片30,便可簡單地將電磁閥24從後側殼體28卸下。
滑槽6的後側的組裝,以如下方式實行之。於後側殼體28,收納了後側照明部14a、噴射噴嘴22、分配器23而單元化。作為定位突起的後側照明部14a的開口構件14a1以及噴射噴嘴22的前端22a,從後側殼體28的前面突出。
將作為定位突起的後側照明部14a的開口構件14a1以及噴射噴嘴22的前端22a分別插入光學檢測用狹縫12以及選別除去用狹縫13以定位,後側殼體28便被安裝於滑槽6的背面。後側殼體28,以「後側照明部14a的開口構件14a1面臨光學檢測用狹縫12,噴射噴嘴22的前端22a面臨選別除去用狹縫13」的方式設置。
後側殼體28,利用爪部卡合或螺絲等固定具更進一步固定於滑槽6的背面。電磁閥24安裝到後側殼體28的後面的步驟,在適當的時序實行之。
後側殼體28、閥門驅動電路基板26、信號處理基板27以及驅動光學式選別裝置1的電源33收納在盒體34內,盒體34設置在滑槽6的背面側(圖1以及圖2)。
來自後側照明部14a的光線,通過光學檢測用狹縫12,照射到通過光學檢測用狹縫12上的粒狀物,穿透粒狀物的光線,經由光路徑16到達受光部15。來自前側照明部14b的光線,照射到通過光學檢測用狹縫12上的粒狀物,被粒狀物所反射的光線,經由光路徑16到達受光部15。
受光部15的受光信號送到信號處理基板27。在信號處理基板27中,受光信號的信號位準與閾值作比較,以辨別該粒狀物為異物a或糙米b。信號處理基板27的辨別結果,發送到閥門驅動電路基板26。利用閥門驅動電路基板26,控制電磁閥24開閉。
當判定粒狀物為異物a時,便在該粒狀物通過選別除去用狹縫13時,藉由電磁閥24的開閉控制,從所選擇的噴射噴嘴22噴出高壓空氣。利用從噴射噴嘴22所噴出的高壓空氣,將異物a從滑槽6的表面排除。所排除的異物a被排出到異物排出管路11。並未被排除的糙米b通過糙米排出管路10送入下一次工序。
[第2實施態樣] 以下,針對本發明之第2實施態樣與圖5一併進行說明。另外,關於與第1實施態樣相同的部分,其說明省略,主要針對相異的部分進行說明。
在第2實施態樣中,後側照明部14a的光源18,以向噴射噴嘴22射出光線的方式對向設置。反射部19,設置成接近噴射噴嘴22的正上方。從光源18所射出的光線被反射部19往光擴散板17反射,通過光學檢測用狹縫12照射到混合粒。亦即,在滑槽6的流下方向上,從滑槽6的上游側開始,依照光源18、反射部19、噴射噴嘴22的順序配置。
令可縮小間距(滑槽6的流下方向的高度)的反射部19比光源18更接近噴射噴嘴22,而將光源18配置在比反射部19更往滑槽6的流下方向的上游側之處。藉此,便可令後側照明部14a的開口構件14a1接近噴射噴嘴22,故可令光學檢測用狹縫12與選別除去用狹縫13的距離更進一步縮短。因此,可令選別精度提高。
[第3實施態樣] 以下,針對本發明之第3實施態樣與圖6一併進行說明。另外,關於與第1實施態樣或第2實施態樣相同的部分,其說明省略,主要針對相異的部分進行說明。
在第3實施態樣中,後側照明部14a以及噴射噴嘴22設置在後側殼體28的內部,分配器23以及電磁閥24設置在後側殼體28的外部。具體而言,係設置在盒體34的外部。於分配器23裝設了電磁閥24,並以空氣軟管35與噴射噴嘴22連結。於後側殼體28,便無須設置用以安裝電磁閥24的鉤部、突片等。
[第4實施態樣] 以下,針對本發明之第4實施態樣與圖3、圖7以及圖9一併進行說明。圖7,係第4實施態樣之選別機的剖面圖;圖3,係第4實施態樣之滑槽的立體圖;圖8,係第4實施態樣之光學式選別裝置的剖面圖;圖9,係第4實施態樣之光學式選別裝置的主要部位放大剖面圖。
在第4實施態樣中,如圖7所示的,光學式選別裝置1,搭載於圖中未顯示的脫殼選別機的選別部。選別部2,係在圖中未顯示的脫殼部的下游側鄰接設置的二次選別部。脫殼部將稻穀分離成稻殼與糙米,稻殼受到一次選別。由依然包含一次選別之稻殼等異物在內的糙米所構成的混合粒(被選別物),送到選別部2,利用光學式選別裝置1將異物從混合粒選別除去之。
在選別部2的下部,設置了從脫殼部送入混合粒的原料斗3。在選別部2的上部,且在光學式選別裝置1的上方,設置了儲留槽4。送入原料斗3的混合粒,被升穀部5升送到儲留槽4。
升送到儲留槽4的混合粒,透過旋轉閥9供給到滑槽6的上端。在滑槽6的下方,連結了將並未被光學式選別裝置1的噴射部8所排除的糙米排出的糙米排出管路10。在滑槽6的下方,亦連結了將被光學式選別裝置1的噴射部8所排除的異物排出的異物排出管路11。
光學式選別裝置1,具備混合粒在表面往下流的傾斜狀的滑槽6。光學式選別裝置1,具備對在滑槽6的表面往下流的混合粒進行光學檢査的光學檢査部7。光學式選別裝置1,具備根據光學檢査部7的檢査結果辨別混合粒中的異物與糙米並將異物從混合粒排除的噴射部8。於滑槽6的背面,安裝了盒體6a,該盒體6a收納了圖中未顯示的信號處理基板、電磁閥驅動電路基板、電源等。
如圖3所示的,於滑槽6,與混合粒的流下方向正交,形成了光學檢測用狹縫12。於滑槽6,在光學檢測用狹縫12的下游側,與混合粒的流下方向正交,形成了選別除去用狹縫13。光學檢測用狹縫12與選別除去用狹縫13形成在相近的位置。光學檢測用狹縫12以及選別除去用狹縫13的寬度,因應在滑槽6往下流的混合粒的大小或重量、噴射部8的除去能力等而設定之。
如圖8所示的,光學檢査部7,在滑槽6的背面側與表面側,具備設置在夾著光學檢測用狹縫12的位置的後側光學檢査部7a以及前側光學檢査部7b。
後側光學檢査部7a,具備:LED等的後側照明部114a、CCD相機等的後側受光部115a、與前側光學檢査部7b對向用的後側背景照明部116a、具有複數個反射板117a1以及透鏡117a2的後側光路徑117a,並收納在後側殼體118內。
如圖8以及圖9所示的,於後側殼體118形成了光線通過的後側開口部120。後側殼體118,在滑槽6的背面側,以後側開口部120與光學檢測用狹縫12對齊的方式安裝。後側開口部120以遍及光學檢測用狹縫12的寬度方向全長的方式形成,從後側照明部114a所射出的光線,通過後側開口部120以及光學檢測用狹縫12,照射到通過光學檢測用狹縫12上的粒狀物(異物a或糙米b)。
如圖9所示的,於後側殼體118組裝了噴射部8的噴射噴嘴121。噴射噴嘴121的前端121a,在比後側開口部120更往滑槽6的下游側之處,於後側殼體118的外表面露出,並面臨選別除去用狹縫13。具體而言,噴射噴嘴121的前端121a,從後側殼體118在滑槽6的背面側的面突出,形成定位突起。作為定位突起的噴射噴嘴121的前端121a插入選別除去用狹縫13,藉此,令安裝了噴射部8的後側殼體118相對於滑槽6就定位。
如圖8以及圖9所示的,在後側殼體118中,在後側開口部120的滑槽6的上游側,形成了透過供氣管122’供氣的空氣室122。配設了從空氣室122向後側開口部120噴出空氣的狹縫用空氣噴嘴123。可利用從該狹縫用空氣噴嘴123噴出的空氣形成氣簾125。
在後側殼體118的夾著後側開口部120的下游側,且在從狹縫用空氣噴嘴123所噴出的氣簾125的下游側,排風部124以向後側殼體118的外部開口的方式形成。利用從狹縫用空氣噴嘴123噴出並從排風部124排出的空氣,形成有效的氣簾125。藉此,便可防止塵埃等從光學檢測用狹縫12侵入後側光學檢査部7a。
氣簾125的空氣,以在光學檢測用狹縫12的背面側從滑槽6的上游側向下游側噴出的方式配置。藉此,即使氣簾125的空氣從光學檢測用狹縫12流出到滑槽6的表面側,仍可降低對混合粒的流下所造成的影響。
如圖9所示的,排風部124的與狹縫用空氣噴嘴123對向的面124a,係越遠離光學檢測用狹縫12越向下游側傾斜。因此,從狹縫用空氣噴嘴123所噴出的氣簾125,碰觸到對向面而有效率地被導向排風部124的排出口。藉此,氣簾125的空氣便不會從光學檢測用狹縫12流出到滑槽6的表面側,而會流向排風部124的排出口。因此,不會對配置在下游側的噴射噴嘴121的空氣噴出造成影響。
後側殼體118,利用爪部卡合或螺絲等固定具更進一步固定於滑槽6的背面。
如圖8所示的,前側光學檢査部7b,具備:LED等的前側照明部114b、CCD相機等的前側受光部115b、與後側光學檢査部7a對向用的前側背景照明部116b、具有複數個反射板117b1以及透鏡117b2的前側光路徑117b,並收納在前側殼體126內。
於前側殼體126形成了光線通過的前側開口部127。前側殼體126,在滑槽6的表面側,以前側開口部127與光學檢測用狹縫12對齊的方式設置。前側開口部127以遍及滑槽6的寬度方向全長的方式形成,從前側照明部114b所射出的光線,通過前側開口部127,照射到通過光學檢測用狹縫12上的粒狀物(異物a或糙米b)。
來自後側照明部114a的光線,通過後側殼體118的後側開口部120以及光學檢測用狹縫12,從背面側照射到通過光學檢測用狹縫12上的粒狀物。來自前側照明部114b的光線,通過前側殼體126的前側開口部127,從表面側照射到通過光學檢測用狹縫12上的粒狀物。被粒狀物所反射的光線以及穿透粒狀物的光線,通過後側開口部120以及前側開口部127進入到後側殼體118與前側殼體126的內部,經由後側光路徑117a以及前側光路徑117b被後側受光部115a以及前側受光部115b所接收。
後側受光部115a以及前側受光部115b所接收到的受光信號,被送到收納在盒體6a內的圖中未顯示的信號處理基板。在信號處理基板中比較受光信號的信號位準與閾值,辨別該粒狀物為異物a或糙米b。信號處理基板的辨別結果,發送到收納在盒體6a內的圖中未顯示的閥門驅動電路基板。利用閥門驅動電路基板,噴射部8的圖中未顯示的電磁閥受到開閉控制。
當判定粒狀物為異物a時,便在該粒狀物通過選別除去用狹縫13時,藉由電磁閥的開閉控制,從所選擇的噴射噴嘴121噴出高壓空氣。利用從噴射噴嘴121所噴出的高壓空氣,將異物a從滑槽6的表面排除。所排除的異物a通過異物排出管路11被排出。並未被排除的糙米b(粒狀物),通過糙米排出管路10送入下一工序。
由於光學檢測用狹縫12被氣簾125所遮蔽,故從在滑槽6的表面往下流的混合粒所產生的塵埃等,不會侵入到滑槽6的背面側,也不會通過後側開口部120附著於後側殼體118內的後側光學檢査部7a。
[第5實施態樣] 以下,針對本發明之第5實施態樣與圖10一併進行說明。另外,關於與第4實施態樣相同的部分,其說明省略,主要針對相異的部分進行說明。
在第5實施態樣中,後側光學檢査部7a,具備在狹縫用空氣噴嘴123,與後側照明部114a、後側背景照明部116a、後側光路徑117a以及後側受光部115a之間,阻斷空氣的流通的後透光板128。具體而言,在後側殼體118的內部,在後側開口部120的裏側,以隔開內部空間的方式嵌入了後透光板128。藉由後透光板128,後側開口部120,與後側光學檢査部7a的後側照明部114a、後側背景照明部116a、後側光路徑117a以及後側受光部115a,被隔開。藉此,即使塵埃等因為氣簾125而飛揚,後側光學檢査部7a仍會受到嚴密的防護。
在後透光板128的滑槽6側(亦即狹縫用空氣噴嘴123側),且在上游側,設置了後透光板用空氣噴嘴129。後透光板用空氣噴嘴129,設置成與空氣室122連通。後透光板用空氣噴嘴129,以沿著後透光板128噴出空氣的方式配置,可利用該空氣沿著後透光板128形成氣簾。因此,可防止塵埃等附著於後透光板128。
該氣簾,從排風部124的開口排出。換言之,該排風部124,可實行從後透光板用空氣噴嘴129所噴出的氣簾的排風,亦可實行從狹縫用空氣噴嘴123所噴出的氣簾125的排風。因此,可共用排風部,故可構成精簡的構造。
前側光學檢査部7b,具備在滑槽6,與前側照明部114b、前側背景照明部116b、前側光路徑117b以及前側受光部115b之間,阻斷空氣的流通的前透光板130。具體而言,前透光板130嵌入前側殼體126的前側開口部127。利用前透光板130,將滑槽6的表面側,與前側照明部114b、前側背景照明部116b、前側光路徑117b以及前側受光部115b隔開。藉此,防止在滑槽6的表面側所產生的塵埃等,侵入到前側殼體126的內部,令前側光學檢査部7b受到嚴密的防護。
在前透光板130的滑槽6側,且在上游側,設置了前透光板用空氣噴嘴132。前透光板用空氣噴嘴132,設置成與空氣室131連通。空氣室131,與供氣管131’連結。前透光板用空氣噴嘴132,以沿著前透光板130噴出空氣的方式配置,可利用該空氣沿著前透光板130形成氣簾。因此,可防止塵埃等附著於前透光板130。
前透光板130與前透光板用空氣噴嘴132所形成之氣簾的形成方向,相對於流下滑槽6的混合粒的流下方向,以逐漸遠離的方式設置。換言之,前透光板130與滑槽6之間的空間133,係形成為越往下游越變寬。藉此,前透光板用空氣噴嘴132所形成的氣簾,便不會對混合粒在滑槽上的流下造成影響。另外,空間133的下部,形成前透光板用空氣噴嘴132所形成之氣簾的排風部。
[變化實施例] 本發明不限於上述實施態樣。例如,亦包含以下的態樣。
在本實施態樣中,光學式選別裝置,係選別稻殼等異物與糙米,惟亦可用於其他穀物、豆類、樹脂粒等的選別。
在本實施態樣中,於後側照明部並未具備光路徑或受光部,惟不限於此。亦可於後側照明部具備光路徑以及受光部。
在本實施態樣中,係將基底構件設為箱狀的後側殼體,惟亦可並非收納在內部的態樣,而係可在其上部載置後側照明部或噴射噴嘴而單元化的板狀態樣。
在第1實施態樣以及第2實施態樣中,係於後側殼體以及電磁閥的單側的端部設置突片以及卡合爪,惟亦可於兩側的端部設置突片以及與其扣入卡合的卡合爪。另外,亦可利用其他卡止具將後側殼體與電磁閥結合。
在本實施態樣中,係設置成將定位突起插入光學檢測用狹縫12以及選別除去用狹縫13雙方,惟不限於此。亦可設置成插入其中任一方。
在本實施態樣中,係以「在將基底構件定位於滑槽時,係將定位突起插入光學檢測用狹縫12以及選別除去用狹縫13」的方式構成,惟不限於此。例如,後側殼體28,係在滑槽6的背面的狹縫以外的部位,藉由卡合爪部,或利用螺絲等固定具安裝之,惟亦可藉由配合爪部卡合位置或固定具插通用孔,自動地對準位置。
在本實施態樣中,光學式選別裝置,係選別稻殼等異物與糙米,惟亦可用於其他穀物、豆類、樹脂粒等的選別。
在本實施態樣中,前側光學檢査部以及後側光學檢査部雙方,各自具備光源部、光路徑以及受光部,惟不限於此。例如,亦可一方具備光源部,另一方具備受光部。
在本實施態樣中,係從設置在滑槽的背面側的噴射噴嘴通過選別除去用狹縫向滑槽的表面側噴出空氣,惟亦可並未設置選別除去用狹縫,而對從滑槽下端放出的被選別物噴出空氣,此時,亦可從上方往下方噴出空氣。
在本實施態樣中,係於後側殼體收納後側光學檢査部以及噴射噴嘴,並於前側殼體收納前側光學檢査部,惟亦可不設置後側殼體或前側殼體,而將其內部所收納的零件個別地設置。此時,形成遮擋光檢測用狹縫的氣簾的狹縫用空氣噴嘴,係設置於滑槽。
在本實施態樣中,係以將定位突起插入選別除去用狹縫的方式設置,惟不限於此。亦可將其設置於後側殼體並插入光學檢測用狹縫,亦可設置成無論何者均插入之。
在本實施態樣中,係以「在將後側殼體定位於滑槽時,係將定位突起插入選別除去用狹縫」的方式構成,惟不限於此。例如,後側殼體,係在滑槽的背面的狹縫以外的部位,藉由卡合爪部,或利用螺絲等固定具安裝之,惟亦可藉由配合爪部卡合位置或固定具插通用孔,自動地對準位置。
亦可將其中任一個實施態樣的各項技術內容,適用於其他實施態樣而形成實施例。
1:光學式選別裝置 2:選別部 3:原料斗 4:儲留槽 5:升穀部 6:滑槽 6a:盒體 7:光學檢査部 7a:後側光學檢査部 7b:前側光學檢査部 8:噴射部 9:旋轉閥 10:糙米排出管路 11:異物排出管路 12:光學檢測用狹縫 13:選別除去用狹縫 14:照明部 14a:後側照明部 14a1:開口構件 14b:前側照明部 15:受光部 16:光路徑 17:光擴散板 18:光源 19:反射部 20:前側殼體 22:噴射噴嘴 22a:前端 23:分配器 24:電磁閥 25:供氣管 26:閥門驅動電路基板 27:信號處理基板 28:後側殼體 29:鉤部 30:突片 31:凸緣 32:卡止爪 33:電源 34:盒體 35:空氣軟管 114a:後側照明部 114b:前側照明部 115a:後側受光部 115b:前側受光部 116a:後側背景照明部 116b:前側背景照明部 117a:後側光路徑 117a1:反射板 117a2:透鏡 117b:前側光路徑 117b1:反射板 117b2:透鏡 118:後側殼體 120:後側開口部 121:噴射噴嘴 121a:前端 122:空氣室 122’:供氣管 123:狹縫用空氣噴嘴 124:排風部 124a:面 125:氣簾 126:前側殼體 127:前側開口部 128:後透光板 129:後透光板用空氣噴嘴 130:前透光板 131:空氣室 131’:供氣管 132:前透光板用空氣噴嘴 133:空間 a:異物 b:糙米
[圖1]係本發明之第1實施態樣的選別部的剖面圖。 [圖2]係表示本發明之第1實施態樣的光學式選別裝置的剖面圖。 [圖3]係本發明之第1以及第4實施態樣的滑槽的立體圖。 [圖4]係表示本發明之第1實施態樣的光學式選別裝置的主要部位放大剖面圖。 [圖5]係表示本發明之第2實施態樣的光學式選別裝置的主要部位放大剖面圖。 [圖6]係表示本發明之第3實施態樣的光學式選別裝置的剖面圖。 [圖7]係本發明之第4實施態樣的選別部的剖面圖。 [圖8]係表示本發明之第4實施態樣的光學式選別裝置的剖面圖。 [圖9]係表示本發明之第4實施態樣的光學式選別裝置的主要部位放大剖面圖。 [圖10]係表示本發明之第5實施態樣的光學式選別裝置的剖面圖。
1:光學式選別裝置
6:滑槽
7:光學檢査部
8:噴射部
10:糙米排出管路
11:異物排出管路
12:光學檢測用狹縫
13:選別除去用狹縫
14:照明部
14a:後側照明部
14b:前側照明部
15:受光部
16:光路徑
20:前側殼體
22:噴射噴嘴
23:分配器
24:電磁閥
25:供氣管
26:閥門驅動電路基板
27:信號處理基板
28:後側殼體
33:電源
34:盒體
a:異物
b:糙米

Claims (18)

  1. 一種光學式選別裝置,包含: 滑槽,設有光學檢測用狹縫,以及配置在該光學檢測用狹縫的下游側的選別除去用狹縫,且被選別物在該滑槽的表面往下流; 光學檢査部,設有:照明部,其包含設置在該滑槽的背面側且從開口對該被選別物照射光線的後側照明部;受光部,其接收該照明部所照射的光線之來自該被選別物的穿透光以及反射光的至少其中任一方;以及光路徑,其將該穿透光以及反射光的至少其中任一方送到該受光部;並對在該滑槽的表面往下流的被選別物進行檢査;以及 噴射部,其包含可對在該滑槽的表面往下流的被選別物噴出的噴射噴嘴,並根據該光學檢査部的檢査結果,將該被選別物選別除去之; 該光學式選別裝置更包含:基底構件,其安裝在該滑槽的背面側; 於該基底構件,至少安裝了該後側照明部以及該噴射噴嘴;該基底構件,設置成該後側照明部的該開口面臨該光學檢測用狹縫且該噴射噴嘴的前端面臨該選別除去用狹縫。
  2. 如請求項1之光學式選別裝置,其中, 該基底構件或該後側照明部,包含定位突起,該定位突起插入該光學檢測用狹縫以令該基底構件相對於該滑槽就定位。
  3. 如請求項1或2之光學式選別裝置,其中, 該基底構件或該噴射噴嘴,包含定位突起,該定位突起插入該選別除去用狹縫以令該基底構件相對於該滑槽就定位。
  4. 如請求項1或2之光學式選別裝置,其中, 該基底構件為後側殼體; 該噴射部,包含:該噴射噴嘴;分配器,其將高壓空氣分配到該噴射噴嘴;以及電磁閥,其根據該光學檢査部的檢査結果,控制該分配器的分配; 在該後側殼體內,收納了該後側照明部、該噴射噴嘴以及該分配器; 在該後側殼體的外表面,安裝了該電磁閥。
  5. 如請求項4之光學式選別裝置,其中, 於該後側殼體的外表面突出了突片,於該電磁閥設置了卡合爪,藉由將該卡合爪扣入卡合於該突片,而將該電磁閥安裝於該後側殼體的外表面。
  6. 如請求項1或2之光學式選別裝置,其中, 該基底構件為後側殼體; 該噴射部,包含:該噴射噴嘴;分配器,其將高壓空氣分配到該噴射噴嘴;以及電磁閥,其根據該光學檢査部的檢査結果,控制該分配器的分配; 在該後側殼體內,收納了該後側照明部以及該噴射噴嘴; 該噴射噴嘴,與設置在該後側殼體的外部的該分配器以及該電磁閥,以空氣軟管連結。
  7. 如請求項1或2之光學式選別裝置,其中, 該後側照明部,包含:光源;以及反射部,其將從該光源所射出的光線往該光學檢測用狹縫反射; 從該滑槽的上游側開始,依照該光源、該反射部、該噴射噴嘴的順序配置。
  8. 如請求項1或2之光學式選別裝置,其中, 在該滑槽的表面側設有前側殼體; 該照明部,包含設置在該滑槽的表面側的前側照明部; 於該前側殼體,至少收納了該前側照明部、該受光部以及該光路徑。
  9. 一種脫殼選別機,其特徵為包含: 如請求項1或2所記載的光學式選別裝置。
  10. 一種光學式選別裝置,包含: 滑槽,設有光學檢測用狹縫,且被選別物在其表面往下流; 光學檢査部,包含:照明部,其向該光學檢測用狹縫照射光線;以及受光部,其接收該照明部所照射的光線之穿透光以及反射光的至少其中任一方;同時包含:該照明部以及該受光部的至少其中任一方配置在該滑槽的背面側之後側光學檢査部;並對在該滑槽的表面往下流的被選別物進行檢査;以及 噴射部,根據該光學檢査部的檢査結果,將該被選別物選別除去之; 於該滑槽的背面側,設置了狹縫用空氣噴嘴,其可形成防止塵埃等從該光學檢測用狹縫侵入到該後側光學檢査部的氣簾。
  11. 如請求項10之光學式選別裝置,其中, 該狹縫用空氣噴嘴,係配置成使該氣簾的空氣從該滑槽的上游側向下游側噴出。
  12. 如請求項11之光學式選別裝置,其中, 該噴射部,在比該光學檢測用狹縫更下游側之處,設有可對該被選別物噴出空氣的噴射噴嘴; 在從該狹縫用空氣噴嘴所噴出的該氣簾的下游側設置了排風部; 該排風部的與該狹縫用空氣噴嘴對向的面,係越遠離該光學檢測用狹縫越往下游側傾斜。
  13. 如請求項10或11之光學式選別裝置,其中, 該後側光學檢査部,包含:後透光板,其在該狹縫用空氣噴嘴,與該後側光學檢査部所包含的該照明部以及該受光部的至少其中任一方之間,阻斷空氣的流通。
  14. 如請求項13之光學式選別裝置,其中, 在該後透光板的該狹縫用空氣噴嘴側,設置了後透光板用空氣噴嘴,其可形成防止塵埃等附著於該後透光板的氣簾。
  15. 如請求項12之光學式選別裝置,其中, 該後側光學檢査部,包含:後透光板,其在該狹縫用空氣噴嘴,與該後側光學檢査部所包含的該照明部以及該受光部的至少其中任一方之間,阻斷空氣的流通; 在該後透光板的該狹縫用空氣噴嘴側,設置了後透光板用空氣噴嘴,其可形成防止塵埃等附著於該後透光板的氣簾; 在從該後透光板用空氣噴嘴所噴出的該氣簾的下游側設置了排風部; 該排風部,亦實行從該狹縫用空氣噴嘴所噴出的該氣簾的排風。
  16. 如請求項10或11之光學式選別裝置,其中, 該光學檢査部,包含:照明部,其向該光學檢測用狹縫照射光線;以及受光部,其接收該照明部所照射的光線之穿透光以及反射光的至少其中任一方;同時包含:該照明部以及該受光部的至少其中任一方配置在該滑槽的表面側的前側光學檢査部; 該前側光學檢査部,包含:前透光板,其在該滑槽,與該前側光學檢査部所包含的該照明部以及該受光部的至少其中任一方之間,阻斷空氣的流通; 在該前透光板的該滑槽側,設置了前透光板用空氣噴嘴,其可形成防止塵埃等附著於該前透光板的氣簾。
  17. 如請求項16之光學式選別裝置,其中, 該前透光板用空氣噴嘴,配置成所形成的氣簾以相對於該被選別物的流下方向逐漸遠離的方式噴出。
  18. 一種脫殼選別機,其特徵為包含: 如請求項10或11所記載的光學式選別裝置。
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Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0045576B1 (en) * 1980-08-06 1985-05-22 Satake Engineering Co., Ltd. Device for preventing scattering of particles for colour sorting apparatus
CA1242260A (en) * 1986-04-24 1988-09-20 Leonard Kelly Multisorting method and apparatus
US5865990A (en) * 1996-09-13 1999-02-02 Uncle Ben's, Inc. Method and apparatus for sorting grain
JPH10180195A (ja) * 1996-12-22 1998-07-07 Ide Hiroyuki 色彩選別装置
JP2003156447A (ja) * 2001-11-19 2003-05-30 Yamamoto Co Ltd 色彩選別機
JP2007503294A (ja) * 2003-08-25 2007-02-22 ライトハウス ワン ピーティーワイ リミテッド アズ トラスティー オブ ザ ライトハウス ユニット トラスト 分類装置及び方法
JP2005083775A (ja) * 2003-09-05 2005-03-31 Seirei Ind Co Ltd 穀粒選別装置
JP2005180958A (ja) * 2003-12-16 2005-07-07 Kubota Corp 選別装置
CN2740303Y (zh) * 2004-11-16 2005-11-16 许大红 颗粒物料色选机
JP5435256B2 (ja) * 2009-02-13 2014-03-05 株式会社サタケ 穀物選別機
JP5163623B2 (ja) * 2009-10-26 2013-03-13 株式会社サタケ 色彩選別機
JP5625600B2 (ja) * 2010-08-05 2014-11-19 株式会社サタケ 色彩選別機のエジェクターシステム
JP5792519B2 (ja) * 2011-06-03 2015-10-14 株式会社クボタ 粒状体選別装置
JP5807448B2 (ja) * 2011-08-26 2015-11-10 株式会社サタケ 光学式選別機用シュート及び光学式選別機
JP5845751B2 (ja) * 2011-09-13 2016-01-20 株式会社サタケ 光学式粒状物選別機における集塵装置
JP6037125B2 (ja) 2013-02-18 2016-11-30 株式会社サタケ 光学式粒状物選別機
WO2015200111A1 (en) * 2014-06-23 2015-12-30 Tsi, Inc. Rapid material analysis using libs spectroscopy
JP6665453B2 (ja) * 2015-09-08 2020-03-13 株式会社サタケ 圧電式バルブを備える噴風装置、及び該噴風装置を利用する光学式粒状物選別機
JP6878866B2 (ja) * 2016-12-15 2021-06-02 株式会社サタケ 光学式選別機用光学ユニット
KR101938852B1 (ko) * 2018-01-09 2019-01-15 (주)상진기공 쇼트 및 에어 블라스트 장치용 세퍼레이터
JP7151089B2 (ja) * 2018-02-06 2022-10-12 株式会社サタケ 光学式選別機
JP6687673B2 (ja) 2018-06-04 2020-04-28 商船三井テクノトレード株式会社 風圧抵抗の少ない船舶

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