TW202108364A - 透明導電性膜 - Google Patents

Abstract

本發明之透明導電性膜1依序具備透明基材2、硬化樹脂層3、及透明導電層4。硬化樹脂層3包含二氧化矽粒子。藉由柔軟性試驗而測定之彎曲直徑為10 mm以下。

Description

透明導電性膜

本發明係關於一種透明導電性膜，詳細而言，係關於一種適合用於光學用途之透明導電性膜。

先前，將包含銦錫複合氧化物(ITO)之透明導電層形成為所需之電極圖案而成之透明導電性膜用於觸控面板等光學用途。

存在根據目的及用途而對透明導電性膜要求有耐屈曲性之情形。

作為此種透明導電性膜，提出一種透明導電性膜，其依序具備透明塑料膜基材、及透明導電膜，且由柔軟性試驗所得之彎曲直徑為10.7mm(例如，參照專利文獻1之實施例7)。 [先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]國際專利公開第2017/126466號說明書

[發明所欲解決之問題] 近年，為了應對軟性顯示器(可摺疊、可彎曲、捲取型顯示器等)等具有可撓性之顯示器，有相較專利文獻1之透明導電性膜要求有更佳之耐屈曲性之傾向。

本發明提供一種耐屈曲性優異之透明導電性膜。

[解決問題之技術手段] 本發明[1]包含一種透明導電性膜，其依序具備透明基材、硬化樹脂層、及透明導電層，上述硬化樹脂層包含二氧化矽粒子，且藉由下述柔軟性試驗而測定之彎曲直徑為10 mm以下。

柔軟性試驗：將於165℃下加熱處理75分鐘所得之透明導電性膜切割成20 mm×80 mm之長方形狀。其次，藉由測試機連結長方形之短邊並觀察電阻值。以上述透明導電層為外側而使透明導電性膜以長方形之短邊相接近之方式彎曲，對測試機之電阻值開始增加時之透明導電性膜之彎曲直徑(mm)予以測定。

本發明[2]包含如上述[1]所記載之透明導電性膜，其中上述透明導電層之厚度超過35 nm。

本發明[3]包含如上述[1]或[2]所記載之透明導電性膜，其中上述透明導電層之表面電阻值為45 Ω/□以下。

本發明[4]包含如上述[1]至[3]中任一項所記載之透明導電性膜，其中透明基材之厚度為45 μm以下。

[發明之效果] 於本發明之透明導電性膜中，硬化樹脂層包含二氧化矽粒子。

因此，耐屈曲性優異。

又，於該透明導電性膜中，藉由柔軟性試驗而測定之彎曲直徑為10 mm以下。

因此，可較佳地用於要求有耐屈曲性之光學器件及其構成零件。

參照圖1，對本發明之透明導電性膜之一實施方式進行說明。

於圖1中，紙面上下方向為上下方向(厚度方向)，紙面上側為上側(厚度方向之一側)，紙面下側為下側(厚度方向之另一側)。又，紙面左右方向及深度方向為與上下方向正交之面方向。具體而言，依據各圖之方向箭頭。

1.透明導電性膜 透明導電性膜1具備具有特定厚度之膜形狀(包含片材形狀)，於與厚度方向正交之面方向延伸，具有平坦之上表面及平坦之下表面。透明導電性膜1例如係圖像顯示裝置所具備之觸控面板用基材或電磁波屏蔽膜等一零件，即，並非圖像顯示裝置。即，透明導電性膜1係用於製作圖像顯示裝置等之零件，不包含OLED(OrganicElectroluminesence Display，有機發光二極體)模組等圖像顯示元件，係作為單個零件流通，且為產業上可利用之器件。

具體而言，如圖1所示，透明導電性膜1中向著厚度方向之一側依序具備透明基材2、硬化樹脂層3、及透明導電層4。更具體而言，透明導電性膜1具備透明基材2、配置於透明基材2之上表面(厚度方向之一個面)之硬化樹脂層3、及配置於硬化樹脂層3之上表面(厚度方向之一個面)之透明導電層4。較佳為透明導電性膜1僅具備透明基材2、硬化樹脂層3及透明導電層4。

透明導電性膜1之厚度例如為200 μm以下，較佳為150 μm以下，更佳為100 μm以下。

2.透明基材 透明基材2係用於確保透明導電性膜1之機械強度之透明之基材。

透明基材2具有膜形狀。透明基材2以與硬化樹脂層3之下表面接觸之方式配置於硬化樹脂層3之整個下表面。

透明基材2例如為具有透明性之高分子膜。作為透明基材2之材料，可例舉：例如聚乙烯、聚丙烯、環烯烴聚合物等烯烴樹脂、例如聚對苯二甲酸乙二酯(PET)、聚對苯二甲酸丁二酯、聚萘二甲酸乙二酯等聚酯樹脂、例如聚甲基丙烯酸酯等(甲基)丙烯酸樹脂(丙烯酸樹脂及/或甲基丙烯酸樹脂)、例如聚碳酸酯樹脂、聚醚碸樹脂、聚芳酯樹脂、三聚氰胺樹脂、聚醯胺樹脂、聚醯亞胺樹脂、纖維素樹脂、聚苯乙烯樹脂等，較佳可例舉烯烴樹脂，更佳可例舉環烯烴聚合物。

透明基材2之厚度例如為60 μm以下，較佳為45 μm以下。

只要透明基材2之厚度為上述上限以下，則可提高耐屈曲性。

3.硬化樹脂層 硬化樹脂層3具有膜形狀。硬化樹脂層3以與硬化樹脂層3之下表面接觸之方式配置於透明導電層4之整個下表面。

作為硬化樹脂層3，可例舉硬塗層5。

再者，於以下之說明中，對硬化樹脂層3為硬塗層5之情形進行說明。

當製造透明導電性膜1時，硬塗層5係用於抑制透明基材2產生損傷之保護層。又，於積層有透明導電性膜1之情形時，硬塗層5係用於抑制透明導電層4產生擦傷之耐擦傷層。

硬塗層5由硬塗組合物形成。

硬塗組合物含有樹脂及粒子。

作為樹脂，例如可例舉：硬化性樹脂、熱塑性樹脂(例如，聚烯烴樹脂)等，較佳可例舉硬化性樹脂。

作為硬化性樹脂，可例舉：例如藉由活性能量線(具體而言，紫外線、電子束等)之照射而硬化之活性能量線硬化性樹脂、例如藉由加熱而硬化之熱硬化性樹脂等，較佳可例舉活性能量線硬化性樹脂。

活性能量線硬化性樹脂例如可例舉分子中具有含有聚合性碳-碳雙鍵之官能基之聚合物。作為此種官能基，例如可例舉：乙烯基、(甲基)丙烯醯基(甲基丙烯醯基及/或丙烯醯基)等。

作為活性能量線硬化性樹脂，具體而言，例如可例舉：丙烯酸胺基甲酸酯、環氧丙烯酸酯等(甲基)丙烯酸系紫外線硬化性樹脂。

又，作為除了活性能量線硬化性樹脂以外之硬化性樹脂，例如可例舉：聚胺酯樹脂、三聚氰胺樹脂、醇酸樹脂、矽氧烷系聚合物、有機矽烷縮合物等熱硬化性樹脂。

樹脂可單獨使用或併用2種以上。

粒子包含二氧化矽粒子作為必須成分。

即，硬塗組合物包含二氧化矽粒子。並且，由此種硬塗組合物所形成之硬塗層5(硬化樹脂層3)包含二氧化矽粒子。

若硬塗層5(硬化樹脂層3)包含二氧化矽粒子，則耐屈曲性提高。

又，粒子包含除了二氧化矽粒子以外之其他粒子作為任意成分。

作為其他粒子，例如可例舉無機粒子(二氧化矽粒子除外)、有機粒子等。

作為無機粒子(二氧化矽粒子除外)，可例舉：例如氧化鋯粒子、例如包含氧化鋯、氧化鈦、氧化鋅、氧化錫等之金屬氧化物粒子、例如碳酸鈣等碳酸鹽粒子等。

作為有機粒子，例如可例舉交聯丙烯酸樹脂粒子等。

作為其他粒子，較佳可例舉無機粒子(二氧化矽粒子除外)，更佳可例舉氧化鋯粒子。

其他粒子可單獨使用或併用2種以上。

如上所述，粒子包含二氧化矽粒子作為必須成分，包含其他粒子作為任意成分。粒子較佳為包含二氧化矽粒子及其他粒子。

若粒子包含二氧化矽粒子及其他粒子，則可提高耐屈曲性。

又，於粒子包含二氧化矽粒子及其他粒子之情形時，二氧化矽粒子之調配比率相對於二氧化矽粒子及其他粒子之總量100質量份，例如為1質量份以上，又，例如為10質量份以下，較佳為5質量份以下，其他粒子之調配比率相對於二氧化矽粒子及其他粒子之總量100質量份，例如為90質量份以上，較佳為95質量份以上，又，例如為99質量份以下。

並且，硬塗組合物係藉由將樹脂及粒子加以混合而獲得。

樹脂之調配比率相對於硬塗組合物，例如為20質量%以上，又，例如為40質量%以下。

又，粒子之調配比率相對於硬塗組合物，例如為50質量%以上，又，例如為80質量%以下。

又，可視需要於硬塗組合物中調配調平劑、觸變劑、抗靜電劑等公知之添加劑。

形成硬塗層5(硬化樹脂層3)時之詳細內容將於下文進行描述，將硬塗組合物之稀釋液塗佈於透明基材2之厚度方向之一個面，乾燥後，藉由紫外線照射使光學調整組合物硬化。

藉此，形成硬塗層5。

就耐擦傷性之觀點而言，硬塗層5(硬化樹脂層3)之厚度例如為0.1 μm以上，較佳為0.5 μm以上，又，例如為10 μm以下，較佳為3 μm以下。硬塗層5之厚度例如可使用穿透式電子顯微鏡藉由剖面觀察而測定。

4.透明導電層 透明導電層4為結晶質，係顯現優異導電性之透明之層。

透明導電層4具有膜形狀。透明導電層4以與硬化樹脂層3之厚度方向之一個面接觸之方式配置於硬化樹脂層3之整個上表面(厚度方向之一個面)。

作為透明導電層4之材料，例如可例舉：包含選自由In、Sn、Zn、Ga、Sb、Ti、Si、Zr、Mg、Al、Au、Ag、Cu、Pd、W所組成之群中之至少1種金屬之金屬氧化物。亦可視需要，於金屬氧化物中進一步摻雜上述群所示之金屬原子。

作為透明導電層4，具體而言，可例舉：例如銦錫複合氧化物(ITO)等含銦氧化物、例如銻錫複合氧化物(ATO)等含銻氧化物等，較佳可例舉含銦氧化物，更佳可例舉ITO。

於使用ITO作為透明導電層4之材料之情形時，氧化錫之含有比率相對於氧化錫及氧化銦之合計量，例如為0.5質量%以上，較佳為3質量%以上，更佳為5質量%以上，進而較佳為8質量%以上，尤其較佳為9質量%以上，又，例如為20質量%以下，較佳為15質量%以下。

若氧化錫之含有比率為上述下限以上，則會促進低電阻化。若氧化錫之含有比率為上述上限以下，則透明導電層4之強度優異。

又，透明導電層4可包含氧化錫之比率為8質量%以上之區域。於透明導電層4包含氧化錫之比率為8質量%以上之區域之情形時，能使表面電阻值變小。

例如，透明導電層4包括作為氧化錫之比率為8質量%以上之區域之一例的第1區域11、及氧化錫之比率低於第1區域11中之氧化錫之比率的第2區域12。具體而言，透明導電層4依序包括層狀之第1區域、及配置於第1區域11之厚度方向之一個面之層狀之第2區域12。再者，允許第1區域11及第2區域12之交界不清晰而無法由測定裝置觀察確認。再者，於該透明導電層4中，亦可具有氧化錫濃度自厚度方向之一個面向另一個面逐漸變高之濃度梯度。於透明導電層4除了包含上述第1區域以外亦包含第2區域之情形時，藉由該等區域之比率調整可獲得所需之結晶化速度。

第1區域11中之氧化錫之比率較佳為9質量%以上，更佳為10質量%以上，又為20質量%以下。

透明導電層4之厚度中第1區域11之厚度之比率例如超過50%，較佳為70%以上，更佳為80%以上，進而較佳為90%以上，又，例如為99%以下，較佳為97%以下。

若第1區域11之厚度之比率為上述下限以上，則可使透明導電層4中之氧化錫之比率變高，因此，可充分降低表面電阻值。

第2區域12中氧化錫之比率例如未達8質量%，較佳為7質量%以下，更佳為5質量%以下，進而較佳為4質量%以下，又，例如為1質量%以上，較佳為2質量%以上，更佳為3質量%以上。

透明導電層4之厚度中第2區域12之厚度之比率例如為1%以上，較佳為3%以上，又，例如為50%以下，較佳為30%以下，更佳為20%以下，進而較佳為10%以下。

第1區域中氧化錫之比率相對於第2區域12中之氧化錫之比率的比(第1區域中氧化錫之比率/第2區域中氧化錫之比率)例如為1.5以上，較佳為2以上，更佳為2.5以上，又，例如為5以下，較佳為4以下。

透明導電層4、第1區域11及第2區域12之各者中之氧化錫濃度係藉由X射線光電子光譜法而測定。或，氧化錫之含有比率亦可根據藉由濺鍍形成非晶質之透明導電層4時所使用之靶之成分(已知)而推測。

又，透明導電層4為結晶質。

若透明導電層4為結晶質，則可減小下文所述之比電阻。

透明導電層4之結晶質性例如可藉由將透明導電性膜1浸漬於鹽酸(20℃、濃度5質量%)中15分鐘，繼而，水洗及乾燥後，對透明導電層4側之表面測定15 mm左右之間之端子間電阻而判斷。於上述浸漬、水洗、乾燥後之透明導電性膜1中，於15 mm間之端子間電阻為10 kΩ以下之情形時，透明導電層4為結晶質，另一方面，於上述電阻超過10 kΩ之情形時，透明導電層4為非晶質。

透明導電層4之厚度例如為20 nm以上，較佳為30 nm以上，更佳為超過35 nm，進而較佳為40 nm以上，尤其較佳為50 nm以上，又，例如為80 nm以下。

若透明導電層4之厚度為上述下限以上，則可使透明導電層4之表面電阻值變小。

再者，透明導電層4之厚度例如可藉由使用穿透式電子顯微鏡，對透明導電性膜1之剖面進行觀察而測定。

透明導電層4之比電阻例如為2.6×10^-4 Ω・cm以下，較佳為2.4×10^-4 Ω・cm以下，更佳為未達2.2×10^-4 Ω・cm，進而較佳為2.1×10^-4 Ω・cm以下。

若透明導電層4之比電阻為上述上限以下，則當將透明導電層4圖案化而用作電極時，可顯現優異之電氣特性。

再者，比電阻可依據JIS K7194藉由四端子法而測定。

透明導電層4之表面電阻值例如為120 Ω/□以下，較佳為80 Ω/□以下，更佳為50 Ω/□以下，進而較佳為45 Ω/□以下。

若透明導電層4之表面電阻值為上述上限以下，則當將透明導電層4圖案化而用作電極時，可顯現優異之電氣特性。

透明導電層4之表面電阻值之下限不受特別限定。例如，透明導電層4之表面電阻值通常超過0 Ω/□，又，為1 Ω/□以上。

再者，表面電阻值可依據JIS K7194藉由四端子法而測定。

5.透明導電性膜之製造方法 其次，對透明導電性膜1之製造方法進行說明。

透明導電性膜1之製造方法具備：第1步驟，其於透明基材2之厚度方向之一個面配置硬化樹脂層3；第2步驟，其於硬化樹脂層3之厚度方向之一個面，藉由濺鍍而形成非晶質之透明導電層4；及第3步驟，其對非晶質之透明導電層4進行加熱，形成結晶質之透明導電層4。又，於該製造方法中，例如以卷對卷方式依序配置各層。

於第1步驟中，首先準備透明基材2。

其次，於透明基材2之厚度方向之一個面塗佈硬塗組合物之稀釋液，乾燥後，藉由紫外線照射使硬塗組合物硬化。藉此，於透明基材2之厚度方向之一個面形成硬塗層5(硬化樹脂層3)。

於第2步驟中，於硬塗層5(硬化樹脂層3)之厚度方向之一個面，藉由濺鍍而形成非晶質之透明導電層4。

具體而言，於濺鍍裝置中，使硬化樹脂層3之厚度方向之一個面與包含透明導電層4之材料之靶相對向，且於存在惰性氣體之條件下進行濺鍍。此時，除了上述惰性氣體以外，亦可存在有例如氧氣等反應性氣體。

作為惰性氣體，例如，可例舉氬氣等稀有氣體等。濺鍍裝置內之惰性氣體之分壓例如為0.1 Pa以上，較佳為0.3 Pa以上，又，例如為10 Pa以下，較佳為5 Pa以下，更佳為1 Pa以下。若惰性氣體之分壓為上述下限以上，則濺鍍中之惰性氣體之原子之能量變低。如此，可抑制非晶質之透明導電層4取得惰性氣體之原子。

濺鍍裝置內之壓力係惰性氣體之分壓、及反應性氣體之分壓之合計壓力。

再者，於使用ITO作為透明導電層4之材料之情形時，亦可將氧化錫濃度相互不同之第1靶及第2靶於濺鍍裝置中沿著透明基材2之搬送方向依序配置。第1靶之材料例如係上述第1區域11中之ITO(氧化錫濃度：8質量%以上)。第2靶之材料例如係上述第2區域12中之ITO(氧化錫濃度：未達8質量%)。

藉由上述之濺鍍，非晶質之透明導電層4形成於透明基材2之厚度方向之一個面。

再者，於藉由使用上述第1靶及第2靶之濺鍍而形成非晶質之透明導電層4之情形時，非晶質之透明導電層4中向著厚度方向之一側依序具備氧化錫濃度相互不同之第1非晶質層及第2非晶質層。第1非晶質層及第2非晶質層之各者之材料與第1靶及第2靶之材料相同。具體而言，第1非晶質層之ITO中之氧化錫濃度例如為8質量%以上。第2非晶質層之ITO中之氧化錫濃度例如未達8質量%。

非晶質之透明導電層4之厚度中第1非晶質層之厚度的比率例如超過50%，較佳為70%以上，更佳為80%以上，進而較佳為90%以上，又，例如為99%以下，較佳為97%以下。

透明導電層4之厚度中第2非晶質層之厚度之比率例如為1%以上，較佳為3%以上，又，例如為50%以下，較佳為30%以下，更佳為20%以下，進而較佳為10%以下。

藉此，獲得包含透明基材2及非晶質之透明導電層4之非晶質積層膜。

其後，於第3步驟中，對非晶質積層膜進行加熱。例如，藉由紅外線加熱器、烘箱等加熱裝置對非晶質之透明導電層4進行加熱。

加熱條件不受特別限定。加熱溫度例如為90℃以上，較佳為110℃以上，又，例如為160℃以下，較佳為140℃以下。加熱時間例如為30分鐘以上，更佳為60分鐘以上，又，例如為5小時以下，較佳為3小時以下。

藉此，如圖1所示，非晶質之透明導電層4結晶化，形成結晶質之透明導電層4。

再者，於非晶質之透明導電層4包含第1非晶質層及第2非晶質層之情形時，結晶質之透明導電層4包含分別與第1非晶質層及第2非晶質層對應之第1區域11及第2區域12。

藉此，製造依序具備透明基材2、硬塗層5(硬化樹脂層3)、及透明導電層4之透明導電性膜1。

其後，該透明導電性膜1中例如藉由蝕刻等而使結晶質之透明導電層4圖案化。經圖案化之結晶質之透明導電層4用於觸控面板(觸控感測器)等之電極。

6.作用效果 於透明導電性膜1中，硬化樹脂層3(硬塗層5)包含二氧化矽粒子。

因此，硬化樹脂層3與透明導電層4之密接性提高，其結果，可推測耐屈曲性提高。

具體而言，藉由於下文將述之實施例中進行詳細描述之柔軟性試驗而測定之彎曲直徑為10 mm以下，較佳為8 mm以下，更佳為6 mm以下，進而較佳為4 mm以下，尤其較佳為2 mm以下，最佳為未達2 mm。

由於透明導電性膜1之耐屈曲性優異，故而可適合用於例如軟性顯示器(可摺疊、可彎曲、可捲取等)等要求有耐屈曲性之光學器件及其構成零件。

又，就降低表面電阻值之觀點而言，存在使透明導電層4之厚度變大之情形(例如為20 nm以上，較佳為30 nm以上，更佳為超過35 nm)。若使透明導電層4之厚度變大，則存在耐屈曲性降低之情形。

但，由於透明導電性膜1具有優異之耐屈曲性，故而即便透明導電層4之厚度較大，亦可將藉由詳細描述之柔軟性試驗而測定之彎曲直徑設為上述範圍。因此，可適合用於要求有耐屈曲性及較低表面電阻值該兩者之光學器件及其構成零件。

7.變化例 於變化例中，對於與一實施方式相同之構件及步驟，標註相同參照符號，省略其詳細之說明。又，變化例除了特別記載以外，可發揮與一實施方式相同之作用效果。進而，可適當組合一實施方式及其變化例。

透明導電層4亦可不包含氧化錫之比率未達8質量%之第2區域，而僅包含氧化錫之比率為8質量%以上之第1區域。

於上述之說明中，已對於硬化樹脂層3為硬塗層5之情形進行說明，但如圖2所示，硬化樹脂層3亦可為光學調整層6。

於此種情形時，透明導電性膜1依序具備透明基材2、光學調整層6(硬化樹脂層3)、及透明導電層4。

光學調整層6係為了抑制透明導電層4之圖案視認性，或抑制透明導電性膜1內之界面之反射，且確保透明導電性膜1具有優異之透明性而調整透明導電性膜1之光學物性(例如，折射率)的層。

光學調整層6例如由光學調整組合物形成。

光學調整組合物含有上述樹脂及上述粒子。

作為樹脂，可例舉針對硬塗組合物所例舉之樹脂，較佳可例舉(甲基)丙烯酸系紫外線硬化性樹脂。

如上所述，粒子包含二氧化矽粒子作為必須成分。

即，光學調整組合物包含二氧化矽粒子。並且，由此種光學調整組合物所形成之光學調整層6(硬化樹脂層3)包含二氧化矽粒子。

若光學調整層6(硬化樹脂層3)包含二氧化矽粒子，則耐屈曲性提高。

又，如上所述，粒子包含其他粒子作為任意成分。

作為其他粒子，可例舉針對硬塗組合物所例舉之其他粒子，就折射率之觀點而言，較佳可例舉氧化鋯。

又，於粒子包含二氧化矽粒子及其他粒子之情形時，二氧化矽粒子之調配比率相對於二氧化矽粒子及其他粒子之總量100質量份，例如為1質量份以上，又，例如為10質量份以下，較佳為5質量份以下，其他粒子之調配比率相對於二氧化矽粒子及其他粒子之總量100質量份，例如為90質量份以上，較佳為95質量份以上，又，例如為99質量份以下。

並且，光學調整組合物可藉由將樹脂及粒子加以混合而獲得。

樹脂之調配比率相對於光學調整組合物例如為20質量%以上，又，例如為40質量%以下。

又，粒子之調配比率相對於光學調整組合物例如為50質量%以上，又，例如為80質量%以下。

光學調整組合物可進一步含有調平劑、觸變劑、抗靜電劑等公知之添加劑。

為了形成光學調整層6(硬化樹脂層3)，將光學調整組合物之稀釋液塗佈於透明基材2之厚度方向之一個面，乾燥後，藉由紫外線照射使光學調整組合物硬化。

藉此，形成光學調整層6。

就耐擦傷性之觀點而言，光學調整層6之厚度例如為0.1 μm以上，較佳為0.5 μm以上，又，例如為10 μm以下，較佳為3 μm以下。

光學調整層6之厚度例如可使用穿透式電子顯微鏡並藉由剖面觀察而測定。

又，透明導電性膜1亦可具備硬塗層5及光學調整層6該兩者。

於此種情形時，如圖3所示，透明導電性膜1依序具備透明基材2、硬塗層5、光學調整層6、及透明導電層4。換言之，透明導電性膜1依序具備透明基材2、硬化樹脂層3、及透明導電層4。

又，亦可將抗黏連層配置於透明基材2之厚度方向之另一個面。

於此種情形時，透明導電性膜1依序具備抗黏連層、透明基材2、硬化樹脂層3、及透明導電層4。

於將透明導電性膜1積層於厚度方向之情形等時，抗黏連層對相互接觸之複數個透明導電性膜1之各者之表面賦予耐黏連性。

抗黏連層具有膜形狀。

抗黏連層之材料例如為抗黏連組合物。

作為抗黏連組合物，例如可例舉日本專利特開2016-179686號公報所記載之混合物等。

抗黏連層之厚度例如為0.1 μm以上，又，例如為10 μm以下。

[實施例] 以下表示實施例及比較例，進一步具體地對本發明進行說明。再者，本發明不限定於任何實施例及比較例。又，以下之記載中所使用之調配比率(含有比率)、物性值、參數等具體數值可替換為上述「實施方式」中所記載之與其等對應之調配比率(含有比率)、物性值、參數等之相應記載之上限值(定義為「以下」、「未達」之數值)或下限值(定義為「以上」、「超過」之數值)。

1.透明導電性膜之製造 實施例1 首先，準備包含環烯烴樹脂之透明膜(厚度43 μm)作為透明基材。

其次，將含有氧化鋯粒子65.5質量份、二氧化矽粒子2.5質量份及紫外線硬化性樹脂(丙烯酸樹脂)32質量份之硬塗組合物之稀釋液塗佈於透明膜之厚度方向之一個面，其次，將其等乾燥後，對透明膜之厚度方向之一個面照射紫外線，使硬塗組合物硬化。藉此，於透明膜之一個面形成厚度0.7 μm之硬塗層。

其後，藉由濺鍍，於硬塗層之厚度方向之一個面形成厚度55 nm之非晶質之透明導電層。

詳細而言，首先，將包含氧化錫濃度為10重量%之ITO之第1靶、及包含氧化錫濃度為3.3重量%之ITO之第2靶自透明膜基材之搬送方向上游側向下游側依序配置於濺鍍裝置。然後，以非晶質之透明導電層中第1非晶質層之厚度之比率、及第2非晶質層之厚度之比率分別成為95%、及5%之方式進行濺鍍。再者，非晶質之透明導電層中向著厚度方向之一側依序包含第1非晶質層(氧化錫濃度10質量%)及第2非晶質層(氧化錫濃度3.3質量%)。

藉由調整濺鍍時之氬氣流量而將濺鍍裝置內之氬氣分壓調整為0.35 Pa。再者，濺鍍裝置內之壓力為0.42 Pa。

藉此，製造依序具備透明膜、硬塗層、及非晶質之透明導電層之非晶質積層膜。

其後，將非晶質積層膜於130℃下加熱90分鐘，使非晶質之透明導電層結晶化，製備結晶質之透明導電層。

藉此，製造具備透明膜、硬塗層及結晶質之透明導電層的透明導電性膜。

又，結晶質之透明導電層包含分別源於第1非晶質層及第2非晶質層之第1區域及第2區域。

實施例2、實施例3及比較例1 將透明基材之厚度、硬塗組合物之配方及透明導電層之厚度依據表1之記載進行變更，除此以外，以與實施例1相同之方式進行處理，從而製造透明導電性膜。

2.評價 (表面電阻) 對於各實施例及各比較例之透明導電層之表面電阻率，依據JIS K7194，並藉由四端子法予以測定。將其結果示於表1。

(耐屈曲性) 對於各實施例及各比較例，將於165℃下加熱處理75分鐘所得之透明導電性膜切割成20 mm×80 mm之長方形狀。其次，藉由測試機連結長方形之短邊並觀察電阻值，以透明導電層為外側而使透明導電性膜以長方形之短邊相接近之方式彎曲，對測試機之電阻值開始增加時之透明導電性膜之彎曲直徑(mm)予以測定。將其結果示於表1。

[表1]

表1
實施例、比較例No.	實施例1	實施例2	實施例3	比較例1
透明導電性膜	透明基材	厚度(μm)	43	43	43	43
硬化樹脂層	硬塗組合物	二氧化矽粒子	2.5	2.5	2.5	-
氧化鋯粒子	65.5	65.5	65.5	48
透明導電層	厚度(nm)	55	32	25	40
評價	耐屈曲性	未達2 mm	未達2 mm	未達2 mm	20 mm
表面電阻值(Ω/□)	40	70	100	50

再者，上述發明作為本發明之例示之實施方式而提供，其等僅為例示，不應限定性地解釋。該技術領域之業者所知之本發明之變化例包含於下述申請專利範圍內。

[產業上之可利用性] 本發明之透明導電性膜適合用於光學用途。

1:透明導電性膜 2:透明基材 3:硬化樹脂層 4:透明導電層 5:硬塗層 6:光學調整層 11:第1區域 12:第2區域

圖1表示本發明之透明導電性膜之一實施方式之剖視圖。 圖2表示圖1所示之透明導電性膜之變化例(透明導電性膜具備光學調整層之情形時)之剖視圖。 圖3表示圖1所示之透明導電性膜之變化例(透明導電性膜具備硬塗層及光學調整層之情形時)之剖視圖。

1:透明導電性膜

2:透明基材

3:硬化樹脂層

4:透明導電層

5:硬塗層

11:第1區域

12:第2區域

Claims (4)

1. 一種透明導電性膜，其特徵在於依序具備透明基材、硬化樹脂層、及透明導電層， 上述硬化樹脂層包含二氧化矽粒子，且 藉由下述柔軟性試驗而測定之彎曲直徑為10 mm以下， 柔軟性試驗係：將於165℃下加熱處理75分鐘所得之透明導電性膜切割成20 mm×80 mm之長方形狀；其次，藉由測試機連結長方形之短邊並觀察電阻值；以上述透明導電層為外側而使透明導電性膜以長方形之短邊相接近之方式彎曲，對測試機之電阻值開始增加時之透明導電性膜之彎曲直徑(mm)予以測定。
2. 如請求項1之透明導電性膜，其中上述透明導電層之厚度超過35 nm。
3. 如請求項1或2之透明導電性膜，其中上述透明導電層之表面電阻值為45 Ω/□以下。
4. 如請求項1或2之透明導電性膜，其中上述透明基材之厚度為45 μm以下。

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