TW202033428A - 輸送裝置之整平單元及其應用之電子元件作業設備 - Google Patents

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Abstract

一種輸送裝置之整平單元，其第一定位具及第二定位具之間供穿置具電子元件之載帶，並於第一定位具或第二定位具設有至少一齒部件，該齒部件係於一面設有朝外且朝向底部逐漸傾斜擴大之頂推面，於齒部件嵌入載帶之卡孔時 ，藉以利用齒部件之頂推面頂推卡孔而帶動載帶之該側外移，進而整平載帶，使載帶之電子元件精準位於預設作業位置，達到有效整平載帶及提高作業品質之實用效益。

Description

輸送裝置之整平單元及其應用之電子元件作業設備
本發明係提供一種可外張整平載帶，使載帶之電子元件精準位於預設作業位置，以提高作業品質之整平單元。
在現今，電子元件日趨精密微型化，並裝配於一撓性材質製作之載帶（如薄膜載帶），業者為確保電子元件之出廠品質，係以測試設備對電子元件執行測試作業，而淘汰出不良品；請參閱第１、２圖，該測試設備係設有一具探針卡１１１之測試裝置１１，並於測試裝置１１之後方配置一輸送裝置１２，輸送裝置１２係設有一作Ｘ方向位移之移動架１２１，移動架１２１上裝配二輸送載帶１３之上鏈輪１２２及下鏈輪１２３，載帶１３上固設複數個待測之電子元件１４，並於兩側開設複數個卡孔１３１，以嵌合於上鏈輪１２２之上鏈齒及下鏈輪１２３之下鏈齒，另於移動架１２１上固設一貼靠於載帶１３背面之承靠板１２４；於測試時，輸送裝置１２之移動架１２１帶動具電子元件１４之載帶１３朝向測試裝置１１之探針卡１１１作Ｘ方向位移，使電子元件１４接觸探針卡１１１而執行測試作業；惟，由於載帶１３係為撓性可彎曲之薄膜帶體，其相對於探針卡１１１位置之中段帶體易發生彎曲隆起變形，以致電子元件１４之擺置位置產生偏移，並無法使電子元件１４之接點精準對位接觸探針卡１１１之探針執行測試作業，而影響測試準確性及測試品質 ，尤其對於測試精密微小之電子元件而言，如何使載帶１３保持平整以提高電子元件擺置精準性相當重要。
本發明之目的一，係提供一種輸送裝置之整平單元，其第一定位具及第二定位具之間供穿置具電子元件之載帶，並於第一定位具或第二定位具設有至少一齒部件，該齒部件係於一面設有朝外且朝向底部逐漸傾斜擴大之頂推面，於齒部件嵌入載帶之卡孔時，藉以利用齒部件之頂推面頂推卡孔而帶動載帶之該側外移，進而整平載帶，使載帶之電子元件精準位於預設作業位置 ，達到有效整平載帶及提高作業品質之實用效益。
本發明之目的二，係提供一種輸送裝置之整平單元，其中，整平單元係設有至少一變距器，以調整齒部件的位置，使齒部件準確嵌入於載帶之卡孔，以利外張整平載帶，達到提升使用便利性之實用效益。
本發明之目的三，係提供一種應用輸送裝置之整平單元的電子元件作業設備，其包含機台、作業裝置、輸送裝置及中央控制裝置，該作業裝置係配置於機台上，並設有至少一對電子元件執行預設作業之作業器，該輸送裝置係配置於機台上，並設有承載機構、輸送機構及本發明之整平單元，以輸送具電子元件之載帶及整平載帶，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。
為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：
請參閱第３、４、５圖，該輸送裝置２０包含承載機構２１、輸送機構２２及本發明整平單元２３之第一實施例，該承載機構２１係設有至少一由承載驅動器驅動作第一方向（如Ｘ方向）位移之移動架，更進一步，承載驅動器可為壓缸或線性馬達，或包含馬達及傳動組，承載驅動器可固設於機架或由一搬運驅動器驅動作第一、二、三方向（如Ｘ、Ｚ、Ｙ方向）位移，於本實施例中，該承載驅動器係設有馬達２１１及傳動組，馬達２１１係驅動一呈Ｘ方向配置且為螺桿螺座組２１２之傳動組，螺桿螺座組２１２之螺座連結傳動一移動架２１３作Ｘ方向位移。
該輸送機構２２係裝配於承載機構２１之移動架２１３，並於移動架２１３設有第一輸送輪２２１及第二輸送輪２２２，以輸送具電子元件３１之載帶３０，於本實施例中，第一輸送輪２２１及第二輸送輪２２２均為具有傳動齒之齒輪，並呈上、下方配置，第一輸送輪２２１係供輸入具電子元件３１之載帶３０，並載送該載帶３０作Ｚ方向位移，第二輸送輪２２２則輸出具電子元件３１之載帶３０。
該整平單元２３包含第一定位具２３１、第二定位具２３２及至少一齒部件２３３；第一定位具２３１係設有承靠載帶３０第一面之承靠面２３１１，更進一步，第一定位具２３１可為獨立板體或為移動架２１３之面板，並可作固定式或活動式配置，於本實施例中，第一定位具２３１係為獨立板體且固定於移動架２１３，並位於載帶３０之後方；第二定位具２３２係設有至少一開口部２３２１，以供顯露載帶３０之電子元件３１，更進一步，第二定位具２３２可設有二呈Ｚ方向配置之面板，並令二面板保持適當間距而形成一開口部２３２１，或第二定位具２３２係於一呈Ｚ方向配置之面板上開設通孔作為開口部２３２１，前述二種型態均可供載帶３０之電子元件３１顯露於外，第二定位具２３２並可作固定式配置或活動式配置，於本實施例中，第二定位具２３２係設有二呈Ｚ方向配置之面板２３２２，並令二面板２３２２保持適當間距而形成開口部２３２１，整平單元２３另設有定位驅動器，以驅動第一定位具２３１或第二定位具２３２作第一方向位移，以供齒部件２３３外張整平載帶３０，定位驅動器可為壓缸或線性馬達，或包含馬達及傳動組，於本實施例中，定位驅動器係為壓缸２３４，並裝配於移動架２１３，以驅動第二定位具２３２相對第一定位具２３１作Ｘ方向位移；至少一齒部件２３３係裝配於第一定位具２３１或第二定位具２３２，齒部件２３３係於一面設有朝外且朝向底部逐漸傾斜擴大之頂推面２３３１，齒部件２３３供嵌入於載帶３０之卡孔３０１，並以頂推面２３３１頂推載卡孔３０１而帶動載帶３０之該側外移，進而整平載帶３０，於本實施例中，係於第二定位具２３２之第二板面相對應載帶３０二排之卡孔３０１的位置固定設有二排複數個齒部件２３３，齒部件２３３之另一面係朝內且為平面２３３２，該頂推面２３３１係朝外且由頂部２３３３朝向底部２３３４逐漸傾斜擴大，該齒部件２３３之頂部２３３３面積係小於卡孔３０１之面積，而底部２３３４面積則大於卡孔３０１之面積，又齒部件２３３之中心軸線Ａ可相同或向外偏移卡孔３０１之中心軸線Ｂ，於本實施例中，齒部件２３３之中心軸線Ａ係向外偏移卡孔３０１之中心軸線Ｂ。
請參閱第６、７圖，本發明之輸送裝置２０應用於電子元件測試設備之示意圖，測試設備之作業裝置４０係於承板４１上裝配一具有探針卡４２之測試器，探針卡４２係具有測試電子元件３１之探針；該輸送裝置２０係配置於作業裝置４０之後方，並令第二定位具２３２之開口部２３２１相對於探針卡４２，輸送機構２２係以第一輸送輪２２１及第二輸送輪２２２輸送載帶３０作Ｚ方向位移，並使其一電子元件３１相對於第二定位具２３２之開口部２３２１以便執行測試作業；接著整平單元２３係以壓缸２３４驅動第二定位具２３２相對第一定位具２３１作Ｘ方向位移，第二定位具２３２之面板２３２２即帶動複數個齒部件２３３同步位移，由於載帶３０為撓性可彎曲之薄膜帶體，其相對於探針卡４２位置之中段帶體易發生彎曲隆起變形，為避免電子元件３１偏移預設作業位置或向前後浮凸內凹而影響測試品質，整平單元２３係利用第二定位具２３２上二排之複數個齒部件２３３分別嵌入於載帶３０之卡孔３０１，由於齒部件２３３之頂推面２３３１係朝外且由頂部２３３３朝向底部２３３４逐漸傾斜擴大，以及齒部件２３３之中心軸線Ａ係向外偏移卡孔３０１之中心軸線Ｂ，當齒部件２３３嵌入於載帶３０之卡孔３０１時 ，即利用頂推面２３３１之傾斜擴大斜度而頂推卡孔３０１以帶動載帶３０之該側向外位移，於二排之齒部件２３３帶動載帶３０之二側外張，進而整平載帶３０，以確保載帶３０上之電子元件３１精確位於預設作業位置。
請參閱第８圖，於整平載帶３０後，承載機構２１係以馬達２１１經螺桿螺座組２１２之螺座帶動移動架２１３作Ｘ方向向前位移，移動架２１３即帶動輸送機構２２、整平單元２３及具電子元件３１之載帶３０同步位移，由於第二定位具２３２之開口部２３２１供電子元件３１顯露於外，即可使電子元件３１之接點精準電性接觸作業裝置４０之探針卡４２的探針而執行測試作業，達到提升測試品質之實用效益。
請參閱第９圖，係本發明整平單元２３之第二實施例，其與第一實施例之差異在於該整平單元２３係設有至少一變距器，以調整至少一齒部件之位置，使齒部件準確嵌入於載帶之卡孔，更進一步，變距器可為手動操作或自動操作，若為自動操作，變距器可為壓缸或線性馬達，或包含馬達及傳動組，並不以本發明所揭露之型態為限，於本實施例中，係於第二定位具２３２之面板２３２２設置第一齒部件２３３Ａ、第二齒部件２３３Ｂ及第三齒部件２３３Ｃ，第一齒部件２３３Ａ係作固定式配置，第二齒部件２３３Ｂ及第三齒部件２３３Ｃ則分別由二為壓缸之第一變距器２３５Ａ及第二變距器２３５Ｂ連結驅動作Ｚ方向位移，而調整第二齒部件２３３Ｂ及第三齒部件２３３Ｃ與第一齒部件２３３Ａ之間距，使第一齒部件２３３Ａ、第二齒部件２３３Ｂ及第三齒部件２３３Ｃ準確對位嵌合載帶之卡孔，進而更加確實定位該具電子元件之載帶，達到提升使用效能之實用效益。
請參閱第３、４、５、１０圖，係本發明輸送裝置２０之整平單元２３應用於電子元件作業設備，其包含機台５０、作業裝置４０、輸送裝置２０及中央控制裝置（圖未示出），該作業裝置４０係裝配於機台５０，並設有至少一對電子元件３１執行預設作業之作業器，於本實施例中，該作業器係設有測試電子元件３１之探針卡４２，該輸送裝置２０係配置於機台５０上，並設有承載機構２１、輸送機構２２及本發明之整平單元２３，輸送機構２２係裝配於承載機構２１，以輸送具電子元件３１之載帶３０，整平單元２３係裝配於承載機構２１，並包含第一定位具２３１、第二定位具２３２及至少一齒部件２３３，以輸送具電子元件３１之載帶３０及整平載帶３０，承載機構２１載送輸送機構２２、定位機構２３及具電子元件３１之載帶３０位移，使載帶３０上之電子元件３１供作業裝置４０之作業器執行預設作業，於本實施例中，係使載帶３０上之電子元件３１精準接觸探針卡４２之探針而執行測試作業，該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業，達到提升作業效能之實用效益。
［習知］ １１:測試裝置 １１１:探針卡 １２:輸送裝置 １２１:移動架 １２２:上鏈輪 １２３:下鏈輪 １２４:承靠板 １３:載帶 １３１:卡孔 １４:電子元件 ［本發明］ ２０:輸送裝置 ２１:承載機構 ２１１:馬達 ２１２:螺桿螺座組 ２１３:移動架 ２２:輸送機構 ２２１:第一輸送輪 ２２２:第二輸送輪 ２３:整平單元 ２３１:第一定位具 ２３１１:承靠面 ２３２:第二定位具 ２３２１:開口部 ２３２２:面板 ２３３:齒部件 ２３３Ａ:第一齒部件 ２３３Ｂ:第二齒部件 ２３３Ｃ:第三齒部件 ２３３１:頂推面 ２３３２:平面 ２３３３:頂部 ２３３４:底部 ２３４:壓缸 ２３５Ａ:第一變距器 ２３５Ｂ:第二變距器 Ａ、Ｂ:中心軸線 ３０:載帶 ３０１:卡孔 ３１:電子元件 ４０:作業裝置 ４１:承板 ４２:探針卡 ５０:機台
第１圖：習知測試裝置及輸送裝置之使用示意圖。 第２圖：習知載帶之示意圖。第３圖：本發明輸送裝置之整平單元第一實施例的側視圖。 第４圖：本發明輸送裝置之整平單元第一實施例之前視圖。 第５圖：本發明整平單元之齒部件及載帶的示意圖。 第６圖：本發明輸送裝置第一實施例之使用示意圖（一）。 第７圖：本發明輸送裝置第一實施例之使用示意圖（二）。 第８圖：本發明輸送裝置第一實施例之使用示意圖（三）。 第９圖：本發明整平單元之第二實施例示意圖。 第１０圖：本發明輸送裝置應用於電子元件作業設備之示意圖。
231:第一定位具
2322:面板
233:齒部件
2331:頂推面
2333:頂部
2334:底部
A、B:中心軸線
30:載帶
301:卡孔
31:電子元件

Claims (10)

  1. 一種輸送裝置之整平單元，包含： 第一定位具：係相對於載帶之第一面，並設有至少一承靠面； 第二定位具：係相對於該載帶之第二面，並設有至少一開口部，以 供顯露該載帶之電子元件； 至少一齒部件：係裝配於該第一定位具或該第二定位具，並於一面 設有朝外且朝向底部逐漸傾斜擴大之頂推面，該齒部 件供嵌入該載帶之卡孔，而整平該載帶； 定位驅動器：係驅動該第一定位具或該第二定位具作第一方向位移 ，以帶動該齒部件同步位移。
  2. 依申請專利範圍第１項所述之輸送裝置之整平單元，其中，該齒部 件係固定式配置於該第一定位具或該第二定位具。
  3. 依申請專利範圍第１項所述之輸送裝置之整平單元，更包含至少一 變距器，以調整該齒部件之位置。
  4. 依申請專利範圍第３項所述之輸送裝置之整平單元，其中，該變距 器係為壓缸或線性馬達，或包含馬達及傳動組。
  5. 依申請專利範圍第１至３項所述之輸送裝置之整平單元，其中，該 齒部件之另一面係朝內且為平面。
  6. 依申請專利範圍第１至３項所述之輸送裝置之整平單元，其中，該 齒部件之頂推面係由頂部朝向該底部逐漸傾斜擴大，該齒部件之頂部 面積係小於該卡孔之面積，而該底部面積係大於該卡孔之面積。
  7. 依申請專利範圍第１至３項所述之輸送裝置之整平單元，其中，該 齒部件之中心軸線係相同或向外偏移該卡孔之中心軸線。
  8. 依申請專利範圍第１項所述之輸送裝置之整平單元，其中，該定位 驅動器係為壓缸或線性馬達，或包含馬達及傳動組。
  9. 依申請專利範圍第１項所述之輸送裝置之整平單元，該輸送裝置更 包含承載機構及輸送機構，該承載機構係設有至少一由承載驅動器 驅動作第一方向位移之移動架，該輸送機構係裝配於該承載機構之 移動架，並於該移動架設有第一輸送輪及第二輸送輪，以輸送該載 帶至該整平單元，該整平單元係裝配於該移動架。
  10. 一種應用輸送裝置之整平單元的電子元件作業設備，包含： 機台； 輸送裝置：係配置於該機台上，並包含承載機構、輸送機構及至少 一依申請專利範圍第１項所述之整平單元，以輸送具電 子元件之載帶及整平該載帶； 作業裝置：係配置於該機台上，並設有至少一對該電子元件執行預 設作業之作業器； 中央控制裝置：係以控制及整合各裝置作動，以執行自動化作業。
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