TW202026731A - 顯示裝置及其製造方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供顯示裝置及其製造方法。顯示裝置包括顯示面板、抗靜電環、多個第一側電極以及多個第二側電極。顯示面板包括第一基板、多條掃描線、多條資料線、多個子畫素結構、第二基板以及顯示介質層。掃描線的至少一部分延伸於第一側壁。資料線的至少一部分延伸於第二側壁。多個第一側電極位於第一側壁上。掃描線的至少一部分電性連接於第一側電極。多個第二側電極位於第二側壁上。資料線的至少一部分電性連接於第二側電極。

Description

顯示裝置及其製造方法

本發明是有關於一種顯示裝置，且特別是有關於一種包含抗靜電環的顯示裝置及其製造方法。

顯示面板目前已經廣泛地應用於不同的領域及環境中，其常見之屏幕尺寸的寬高比例如約為4:3、16:9、16:10等幾種標準規格。然而，這些標準規格的屏幕尺寸無法滿足所有消費者的需求。更具體地說，在一些電子產品中，例如醫療儀器、電子看板等，屏幕尺寸並不是依照常見之標準規格而配置的。

目前，提出了一種藉由切割現有標準規格之顯示器以獲得重定尺寸（Resizing）後的顯示面板之方法。然而，若任意地切割顯示面板來重新調整顯示面板的尺寸，在切割顯示面板後，仍會受到側邊封裝技術的製程限制，使得電路板接著於顯示面板之線路的精準度不佳而造成顯示訊號異常，導致最後所製造出之顯示裝置的產品良率不足。

本發明提供一種顯示裝置，可以改善顯示裝置產品良率不足的問題。

本發明提供一種顯示裝置的製造方法，可以改善顯示裝置產品良率不足的問題。

本發明的至少一實施例提供一種顯示裝置。顯示裝置包括顯示面板、抗靜電環、多個第一側電極以及多個第二側電極。顯示面板具有多個側壁，包含第一側壁、第二側壁、第三側壁以及第四側壁。顯示面板包括第一基板、多條掃描線、多條資料線、多個子畫素結構、第二基板以及顯示介質層。多條掃描線位於第一基板上。掃描線的至少一部分延伸於第一側壁。多條資料線位於第一基板上。資料線的至少一部分延伸於第二側壁。多個子畫素結構位於第一基板上，且分別電性連接至對應的掃描線與對應的資料線。第二基板與第一基板相對設置。顯示介質層位於第一基板與第二基板之間。抗靜電環位於第一側壁、第二側壁、第三側壁以及第四側壁上。多個第一側電極位於第一側壁上。掃描線的至少一部分電性連接於第一側電極。多個第二側電極位於第二側壁上。資料線的至少一部分電性連接於第二側電極。

一種顯示裝置的製造方法，包括：提供顯示面板、形成多個第一側電極、形成多個第二側電極、執行檢測步驟、形成多個導電件以及進行切割製程。顯示面板具有多個側壁，其中側壁至少包含第一側壁、第二側壁、第三側壁以及第四側壁。顯示面板包括第一基板、多條掃描線、多條資料線、多個子畫素結構、第二基板以及顯示介質層。多條掃描線位於第一基板上。掃描線的至少一部分延伸於第一側壁。多條資料線位於第一基板上。資料線的至少一部分延伸於第二側壁。多個子畫素結構位於第一基板上，且分別電性連接至對應的掃描線與對應的資料線。第二基板與第一基板相對設置。顯示介質層位於第一基板與第二基板之間。分別形成第一連接線、第二連接線、第三連接線以及第四連接線於第一側壁、第二側壁、第三側壁以及第四側壁上。形成多個第一側電極於第一側壁上，且掃描線的至少一部分與第一側電極以及第一連接線電性連接。形成多個第二側電極於第二側壁上，且資料線的至少一部分與第二側電極以及第二連接線電性連接。執行檢測步驟。形成多個導電件以電性連接第一連接線、第二連接線、第三連接線與第四連接線。進行切割製程，以使第一側電極與第一連接線分離，以及使第二側電極與第二連接線分離。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1A是依照本發明的一實施例的一種顯示器的上視示意圖。

請參考圖1A，顯示器1包括顯示區AA以及位於顯示區AA至少一側的周邊區BA。驅動電路DR1以及驅動電路DR2位於周邊區BA上。多條掃描線（未繪出）自驅動電路DR1延伸進顯示區AA。多條資料線（未繪出）自驅動電路DR2延伸進顯示區AA。

對顯示器1進行裁切製程，例如沿著切線C切割，以取得形成重定尺寸（resized）的顯示面板100。雖然在本實施例中，顯示面板100取自於顯示器1的顯示區AA，但本發明不以此為限。在其他實施例中，部分顯示面板100取自於顯示器1的周邊區BA，也可以說顯示面板100可以包括部分顯示器1的周邊區BA。雖然在本實施例中，顯示面板100以矩形為例，但本發明不以此為限。在其他實施例中，顯示面板100區域可以是其他幾何形狀。

在一些實施例中，切割顯示器1後，會於顯示面板100切割處形成框膠ST，避免顯示面板100中的液晶流出，但本發明不以此為限。在一些實施例中，顯示器1中對應於切割處的部分已經預先形成有框膠ST，因此顯示面板100中的液晶不會在切割顯示器1後流出。

圖1B是依照本發明的一實施例的一種顯示面板的局部放大示意圖。圖1C是依照本發明的一實施例的一種顯示面板的立體示意圖。圖1D是沿著圖1B剖線AA’的剖面示意圖。圖1C是顯示面板100中之部分構件的上視示意圖。為了方便說明，圖1B與圖1C省略繪示了顯示面板100中的部分構件。

請參考圖1B~圖1D，顯示面板100具有多個側壁，包含第一側壁SW1、第二側壁SW2、第三側壁SW3以及第四側壁SW4。顯示面板100包括第一基板110、多條掃描線SL、多條資料線DL、多個子畫素結構PX、第二基板120以及顯示介質層LC。在本實施例中，顯示面板100更包括第一共用電極CE1、第二共用電極CE2以及框膠ST。第二基板120與第一基板110相對設置。顯示介質層LC以及框膠ST位於第一基板110與第二基板120之間。框膠ST環繞顯示介質層LC，以避免顯示介質層LC流出。

多條掃描線SL、多條資料線DL、多個子畫素結構PX、第一共用電極CE1以及第二共用電極CE2位於第一基板110與第二基板120之間。在本實施例中，多條掃描線SL、多條資料線DL、多個子畫素結構PX以及第一共用電極CE1位於第一基板110上，第二共用電極CE2位於第二基板120上。在一些實施例中，第一共用電極CE1與第二共用電極CE2電性連接，但本發明不以此為限。在一些實施例中，第一共用電極CE1與第二共用電極CE2可以分別施加不同的電壓。在一些實施例中，第二基板120可以包含彩色濾光元件，但本發明不以此為限。

掃描線SL的至少一部分延伸於第一側壁SW1。資料線DL的至少一部分延伸於第二側壁SW2。多個子畫素結構PX分別電性連接至對應的掃描線SL與對應的資料線DL。在本實施例中，每個子畫素結構PX包括至少一主動元件TFT以及畫素電極PE。

主動元件TFT與畫素電極PE電性連接。主動元件TFT位於基板110上。主動元件TFT可包括閘極G、源極S、汲極D和半導體層M。閘極G重疊於半導體層M，且閘極G與半導體層M之間夾有第一絕緣層I1。閘極G與對應的掃描線SL電性連接。源極S與汲極D位於半導體層M上。源極S與對應的資料線DL電性連接。第二絕緣層I2位於源極S與汲極D上。畫素電極PE位於第二絕緣層I2上。汲極D可與對應的畫素電極PE電性連接。舉例來說，汲極D透過第二絕緣層I2的開口H1而與對應的畫素電極PE電性連接。在一些實施例中，閘極G與掃描線SL由同一圖案化導電層所形成，汲極D與資料線DL由同一圖案化導電層所形成。主動元件TFT可為底閘型電晶體、頂閘型電晶體、立體型電晶體或其它合適的電晶體。在一些實施例中，畫素電極PE可選擇性地包括多個具有不同延伸方向的狹縫（未繪示）或多個具有實質上相同延伸方向的狹縫，但本發明不以此為限。

圖2A~圖4是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的製造方法的立體示意圖。圖2A與圖2B分別是在同一個步驟中，不同角度之立體示意圖。圖3A與圖3B分別是在同一個步驟中，不同角度之立體示意圖。

請參考圖1B、圖1C、圖2A與圖2B，分別形成第一連接線CL1、第二連接線CL2、第三連接線CL3以及第四連接線CL4於顯示面板100的第一側壁SW1、第二側壁SW2、第三側壁SW3以及第四側壁SW4上。

在本實施例中，第一連接線CL1、第二連接線CL2、第三連接線CL3以及第四連接線CL4在結構上彼此分離，但本發明不以此為限。在其他實施例中，第一連接線CL1、第三連接線CL3以及第四連接線CL4彼此連接，且與第二連接線CL2在結構上分離。

在本實施例中，選擇性的分別形成第五連接線CL5、第六連接線CL6、第七連接線CL7以及第八連接線CL8於第一側壁SW1、第二側壁SW2、第三側壁SW3以及第四側壁SW4上。

在本實施例中，第五連接線CL5、第六連接線CL6、第七連接線CL7以及第八連接線CL8在結構上彼此分離，但本發明不以此為限。在其他實施例中，第五連接線CL5、第七連接線CL7以及第八連接線CL8彼此連接，且與第六連接線CL6在結構上分離。

第一連接線CL1、第二連接線CL2、第三連接線CL3以及第四連接線CL4可以形成於相同或不同的基板上，舉例來說，第一連接線CL1、第二連接線CL2、第三連接線CL3以及第四連接線CL4位於第一基板110、第二基板120或其他輔助基板上。第五連接線CL5、第六連接線CL6、第七連接線CL7以及第八連接線CL8可以形成於相同或不同的基板上，舉例來說，第五連接線CL5、第六連接線CL6、第七連接線CL7以及第八連接線CL8位於第一基板110、第二基板120或其他輔助基板上。在本實施例中，以第一連接線CL1、第二連接線CL2、第三連接線CL3以及第四連接線CL4位於第一基板110上，而第五連接線CL5、第六連接線CL6、第七連接線CL7以及第八連接線CL8位第二基板120上為例。

在一些實施例中，在形成第一~第八連接線CL1~CL8之前，選擇性地於顯示面板100的相鄰兩個側壁之間的角落形成絕緣層I。在本實施例中，絕緣層I形成於第一側壁SW1與第二側壁SW2之間的角落、第二側壁SW2與第三側壁SW3之間的角落、第三側壁SW3與第四側壁SW4之間的角落以及第四側壁SW4與第一側壁SW1之間的角落。

在一些實施例中，第一~第八連接線CL1~CL8的端點具有接墊。在本實施例中，第一連接線CL1的兩端分別具有第一接墊CL1a與第二接墊CL1b，第二連接線CL2的兩端分別具有第一接墊CL2a與第二接墊CL2b，第三連接線CL3的兩端分別具有第一接墊CL3a與第二接墊CL3b，第四連接線CL4的兩端分別具有第一接墊CL4a與第二接墊CL4b，第五連接線CL5的兩端分別具有第一接墊CL5a與第二接墊CL5b，第六連接線CL6的兩端分別具有第一接墊CL6a與第二接墊CL6b，第七連接線CL7的兩端分別具有第一接墊CL7a與第二接墊CL7b，且第八連接線CL8的兩端分別具有第一接墊CL8a與第二接墊CL8b。

第五連接線CL5的第一接墊CL5a對應第一連接線CL1的第一接墊CL1a設置，第五連接線CL5的第二接墊CL5b對應第一連接線CL1的第二接墊CL1b設置。第一連接線CL1的第一接墊CL1a的面積大於第一連接線CL1的第二接墊CL1b的面積。第五連接線CL5的第二接墊CL5b的面積大於第五連接線CL5的第一接墊CL5a的面積。第五連接線CL5的第二接墊CL5b的面積大於第一連接線CL1的第二接墊CL1b的面積，而第一連接線CL1的第一接墊CL1a的面積大於第五連接線CL5的第一接墊CL5a的面積。

第六連接線CL6的第一接墊CL6a對應第二連接線CL2的第一接墊CL2a設置，第六連接線CL6的第二接墊CL6b對應第二連接線CL2的第二接墊CL2b設置。第二連接線CL2的第二接墊CL2b的面積大於第二連接線CL2的第一接墊CL2a的面積。第六連接線CL6的第一接墊CL6a的面積大於第六連接線CL6的第二接墊CL6b的面積。第六連接線CL6的第一接墊CL6a的面積大於第二連接線CL2的第一接墊CL2a的面積，而第二連接線CL2的第二接墊CL2b的面積大於第六連接線CL6的第二接墊CL6b的面積。

第七連接線CL7的第一接墊CL7a對應第三連接線CL3的第一接墊CL3a設置，第七連接線CL7的第二接墊CL7b對應第三連接線CL3的第二接墊CL3b設置。第三連接線CL3的第一接墊CL3a的面積大於第三連接線CL3的第二接墊CL3b的面積。第七連接線CL7的第二接墊CL7b的面積大於第七連接線CL7的第一接墊CL7a的面積。第七連接線CL7的第二接墊CL7b的面積大於第三連接線CL3的第二接墊CL3b的面積，而第三連接線CL3的第一接墊CL3a的面積大於第七連接線CL7的第一接墊CL7a的面積。

第八連接線CL8的第一接墊CL8a對應第四連接線CL4的第一接墊CL4a設置，第八連接線CL8的第二接墊CL8b對應第四連接線CL4的第二接墊CL4b設置。第四連接線CL4的第二接墊CL4b的面積大於第四連接線CL4的第一接墊CL4a的面積。第八連接線CL8的第一接墊CL8a的面積大於第八連接線CL8的第二接墊CL8b的面積。第八連接線CL8的第一接墊CL8a的面積大於第四連接線CL4的第一接墊CL4a的面積，而第四連接線CL4的第二接墊CL4b的面積大於第八連接線CL8的第二接墊CL8b的面積。

形成多個第一側電極SE1於第一側壁SW1上。在本實施例中，第一側電極SE1位於第一連接線CL1與第五連接線CL5之間。至少一部分的第一側電極SE1與第一連接線CL1電性連接。在本實施例中，一部份的第一側電極SE1a與第一連接線CL1電性連接，另一部份的第一側電極SE1b以及第五連接線CL5電性連接。掃描線SL的至少一部分與第一側電極SE1a以及第一連接線CL1電性連接。舉例來說，掃描線SL電性連接於一部分的第一側電極SE1a和第一連接線CL1，第一共用電極CE1及/或第二共用電極CE2電性連接於另一部分的第一側電極SE1b以及第五連接線CL5。

雖然在本實施例中，是以掃描線SL電性連接第一連接線CL1，且第一共用電極CE1電性連接第五連接線CL5為例，但本發明不以此為限。在其他實施例中，共用電極（第一共用電極CE1及/或第二共用電極CE2）可以與第三連接線CL3、第四連接線CL4、第五連接線CL5、第七連接線CL7以及第八連接線CL8的至少其中一者電性連接，掃描線SL可以與第一連接線CL1以及第三連接線CL3的至少其中一者電性連接。

在本實施例中，第二共用電極CE2於第一側壁SW1處對應掃描線SL的位置具有缺口OP1（繪於圖1B），因此，電性連接至掃描線SL的第一側電極SE1a不會與第二共用電極CE2之間形成短路。

在本實施例中，第二共用電極CE2於第一側壁SW1處對應第一共用電極CE1的位置具有缺口OP2（繪於圖1B），因此，電性連接至第一共用電極CE1的第一側電極SE1b不會與第二共用電極CE2之間形成短路。雖然在本實施例中，以缺口OP1以及缺口OP2位於第一側壁SW1上為例，但本發明不以此為限。缺口OP1以及缺口OP2也可以位於其他的側壁上或是位於第二共用電極CE2中央。

在本實施例中，電性連接至掃描線SL之部分的第一側電極SE1a與電性連接至第一共用電極CE1之另一部分的第一側電極SE1b交替排列。

形成多個第二側電極SE2於第二側壁SW2上。在本實施例中，第二側電極SE2位於第二連接線CL2與第六連接線CL6之間。至少一部分的第二側電極SE2與第二連接線CL2電性連接。資料線DL的至少一部分與第二側電極SE2以及第二連接線CL2電性連接。舉例來說，一部分的資料線DL電性連接於一部分的第二側電極SE2a和第二連接線CL2，另一部分的資料線DL電性連接於另一部分的第二側電極SE2b以及第六連接線CL6。

在本實施例中，第二共用電極CE2於第二側壁SW2處對應資料線DL的位置具有缺口OP3，因此，電性連接至資料線DL的第二側電極SE2不會與第二共用電極CE2之間形成短路。雖然在本實施例中，以缺口OP3位於第二側壁SW2上為例，但本發明不以此為限。缺口OP3也可以位於其他的側壁上或是位於第二共用電極CE2中央。

執行一檢測步驟。檢測步驟例如是使探針電性連接第一連接線CL1、第二連接線CL2、第三連接線CL3、第四連接線CL4、第五連接線CL5、第六連接線CL6、第七連接線CL7及/或第八連接線CL8。舉例來說，以探針電性連接第一連接線CL1的第一接墊CL1a，以探針電性連接第二連接線CL2的第二接墊CL2b，以探針電性連接第五連接線CL5的第二接墊CL5b，以探針電性連接第六連接線CL6的第一接墊CL6a。

在本實施例中，探針可以藉由面積較大的接墊而電性連接至連接線，藉此降低檢測步驟的難度。在一些實施例中，進行檢測步驟時，第一~第八連接線CL1~CL8可以作為短路桿（shorting bar）使用。

請參考圖3A和圖3B，形成多個導電件以電性連接第一連接線CL1、第二連接線CL2、第三連接線CL3與第四連接線CL4。第二連接線CL2的第一接墊CL2a藉由第一導電件CT1與第一連接線CL1電性連接，且第二連接線CL2的第二接墊CL2b藉由第二導電件CT2與第三連接線CL3電性連接。第四連接線CL4的第一接墊CL4a藉由第三導電件CT3與第三連接線CL3電性連接，且第四連接線CL4的第二接墊CL4b藉由第四導電件CT4與第一連接線CL1電性連接。

在本實施例中，第六連接線CL6的第一接墊CL6a藉由第一導電件CT1與第一連接線CL1、第二連接線CL2以及第五連接線CL5電性連接，第六連接線CL6的第二接墊CL6b藉由第二導電件CT2與第二連接線CL2、第三連接線CL3以及第七連接線CL7電性連接。第八連接線CL8的第一接墊CL8a藉由第三導電件CT3與第七連接線CL7、第三連接線CL3以及第四連接線CL4電性連接，第八連接線CL8的第二接墊CL8b藉由第四導電件CT8與第一連接線CL1、第四連接線CL4以及第五連接線CL5電性連接。

在本實施例中，抗靜電環R位於第一側壁SW1、第二側壁SW2、第三側壁SW3以及第四側壁SW4上。抗靜電環R包括第一~第八連接線CL1~CL8以及第一~第四導電件CT1~CT4。在本實施例中，抗靜電環R為雙環結構，第一~第四連接線CL1~CL4以及第一~第四導電件CT1~CT4構成一個環狀結構且彼此電性連接，第五~第八連接線CL5~CL8以及第一~第四導電件CT1~CT4構成另一個環狀結構且彼此電性連接，但本發明不以此為限。在一些實施例中，抗靜電環R可以為單環結構。

請參考圖4，進行切割製程，以使第一側電極SE1與第一連接線CL1分離，以及使第二側電極SE2與第二連接線CL2分離。

在本實施例中，於進行切割製程前，部分第一側電極SE1a電性連接第一連接線CL1，且部分第一側電極SE1b電性連接第五連接線CL5。於進行切割製程後，部分第一側電極SE1a與第一連接線CL1分離，部分第一側電極SE1b可以選擇性地與第五連接線CL5分離或是不對部分第一側電極SE1b進行切割製程，也可以說，電性連接至共用電極的側電極可以不用與連接線分離。

在本實施例中，於進行切割製程前，部分第二側電極SE2a電性連接第二連接線CL2，且部分第二側電極SE2b電性連接第六連接線CL6。於進行切割製程後，部分第二側電極SE2a與第二連接線CL2分離，且部分第二側電極SE2b與第六連接線CL6分離。

至此，顯示裝置10大致完成。顯示裝置10包括顯示面板100、抗靜電環R、多個第一側電極SE1以及多個第二側電極SE2。在進行檢測步驟時，第一~第八連接線CL1~CL8可以作為短路桿（shorting bar）使用。

基於上述，藉由進行檢測步驟以改善顯示裝置10產品良率不足的問題。此外，於進行切割製程後，第一~第八連接線CL1~CL8可以作為抗靜電環R的一部分，藉此改善靜電對顯示裝置10品質所造成的影響。

圖5A是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。圖5B是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。圖5C是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的局部放大示意圖。在此必須說明的是，圖5A~圖5C的實施例沿用圖1A~圖4的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。圖5A~圖5C繪出了進行切割製程之後的顯示裝置，進行切割製程以及檢測步驟之前顯示裝置中連接線與側電極的連接方式可以參考前述實施例。

圖5A和圖5B分別是不同角度之顯示裝置20之立體示意圖。

請參考圖5A、圖5B和圖5C，在本實施例中，全部之掃描線SL延伸於第一側壁SW1，第一共用電極CE1延伸於第一側壁SW1，其中掃描線SL的至少一部分電性連接至部分的第一側電極SE1a，而第一共用電極CE1電性連接至另一部分的第一側電極SE1b。

本實施例中，於進行切割製程以及檢測步驟之前，掃描線SL透過部分的第一側電極SE1a電性連接至第一連接線CL1，第一共用電極CE1透過另一部分的第一側電極SE1b電性連接至第五連接線CL5。於進行切割製程之後，第一側電極SE1a與第一連接線CL1分離，而第一側電極SE1b選擇性地與第五連接線CL5連接或分離。換句話說，可以不切割第一側電極SE1b。

在本實施例中，資料線DL延伸於第二側壁SW2。子畫素結構PX包括多個第一顏色子畫素結構PX1、多個第二顏色子畫素結構PX2以及多個第三顏色子畫素結構PX3。第一顏色子畫素結構PX1、第二顏色子畫素結構PX2以及第三顏色子畫素結構PX3分別代表不同顏色之子畫素。舉例來說，第一顏色子畫素結構PX1、第二顏色子畫素結構PX2以及第三顏色子畫素結構PX3分別代表紅色子畫素、綠色子畫素以及藍色子畫素。第二顏色子畫素結構PX2、第一顏色子畫素結構PX1以及第三顏色子畫素結構PX3例如沿著掃描線SL的延伸方向排列。

在本實施例中，於進行切割製程以及檢測步驟之前，第一顏色子畫素結構PX1透過部分資料線DLa電性連接至部分第二側電極SE2a，部分第二側電極SE2a電性連接至第六連接線CL6。第二顏色子畫素結構PX2透過部分資料線DLb電性連接至部分第二側電極SE2b，部分第二側電極SE2b電性連接至第二連接線CL2。第三顏色子畫素結構PX3透過部分資料線DLc電性連接至部分第二側電極SE2c，部分第二側電極SE2c電性連接至第六連接線CL6。換句話說，於進行切割製程以及檢測步驟之前，紅色子畫素以及藍色子畫素電性連接至同一條第六連接線CL6，綠色子畫素連接至第二連接線CL2。於進行切割製程之後，所有第二側電極SE2分離於第二連接線CL2以及第六連接線CL6。

在本實施例中，於進行切割製程以及檢測步驟之前，更包括形成至少一第三側電極SE3於側壁SW的至少其中一者之上。在本實施例中，形成第三側電極SE3於第三側壁SW3上，且第三側電極SE3與第一側壁SW1相對設置。形成第四側電極SE4於第四側壁SW4上，且第四側電極SE4與第二側壁SW2相對設置。第二共用電極CE2延伸於第三側壁SW3及/或第四側壁SW4，並與第三側電極SE3及/或第四側電極SE4電性連接。

在本實施例中，於進行切割製程以及檢測步驟之前，第三側電極SE3電性連接至第三連接線CL3及/或第七連接線CL7，第四側電極SE4電性連接至第四連接線CL4及/或第八連接線CL8。於進行切割製程之後，第三側電極SE3選擇性地與第三連接線CL3及/或第七連接線CL7連接或分離，第四側電極SE4選擇性地與第四連接線CL4及/或第八連接線CL8連接或分離。換句話說，可以不切割第三側電極SE3與第四側電極SE4。

基於上述，藉由進行檢測步驟以改善顯示裝置20產品良率不足的問題。此外，於進行切割製程後，第一~第八連接線CL1~CL8可以作為抗靜電環R的一部分，藉此改善靜電對顯示裝置20品質所造成的影響。

圖6A是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。圖6B是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。在此必須說明的是，圖6A、圖6B的實施例沿用圖5A~圖5C的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。圖6A、圖6B繪出了進行切割製程之後的顯示裝置，進行切割製程以及檢測步驟之前顯示裝置中連接線與側電極的連接方式可以參考前述實施例。

圖6A和圖6B分別是不同角度之顯示裝置30之立體示意圖。

在本實施例中，一部分之掃描線SL延伸於第一側壁SW1，且電性連接至一部分第一側電極SE1a。另一部分掃描線SL延伸至第三側壁SW3，且電性連接至一部分第三側電極SE3a。第二共用電極CE2延伸於第一側壁SW1，且電性連接至另一部分的第一側電極SE1b。第一共用電極CE1延伸於第三側壁SW3，且電性連接至另一部分的第三側電極SE3b。

本實施例中，於進行切割製程以及檢測步驟之前，部分掃描線SL透過部分的第一側電極SE1a電性連接至第一連接線CL1，部分掃描線SL透過部分的第三側電極SE3a電性連接至第三連接線CL3。第二共用電極CE2透過另一部分的第一側電極SE1b電性連接至第五連接線CL5，第一共用電極CE1透過另一部分的第三側電極SE3b電性連接至第七連接線CL7。於進行切割製程之後，第一側電極SE1a與第一連接線CL1分離，第三側電極SE3a與第三連接線CL3分離。第一側電極SE1b選擇性地與第五連接線CL5連接或分離，第三側電極SE3b選擇性地與第七連接線CL7連接或分離。換句話說，可以不切割第一側電極SE1b與第三側電極SE3b。

在本實施例中，資料線DL的一部分延伸於第二側壁SW2且電性連接於第二側電極SE2，而資料線DL的另一部分延伸於第四側壁SW4且電性連接至第四側電極SE4。

在本實施例中，部分資料線DLa與部分第二側電極SE2b以及第六連接線CL6電性連接。另一部分的資料線DLb與另一部分第二側電極SE2a以及第二連接線CL2電性連接。再另一部分的資料線DLc與第四側電極SE4以及第四連接線CL4或第八連接線CL8電性連接。

在本實施例中，於進行切割製程以及檢測步驟之前，第一顏色子畫素結構PX1透過部分資料線DLa電性連接至部分第二側電極SE2b以及第六連接線CL6，第三顏色子畫素結構PX3透過另一部分資料線DLc電性連接至另一部分第二側電極SE2a以及第二連接線CL2，第二顏色子畫素結構PX2透過再另一部分的資料線DLb電性連接至第四側電極SE4以及第四連接線CL4。換句話說，在本實施例中，於進行切割製程以及檢測步驟之前，紅色子畫素、綠色子畫素以及藍色子畫素分別電性連接至不同的連接線。

於進行切割製程之後，第二側電極SE2分離於第二連接線CL2以及第六連接線CL6，且第四側電極SE4分離於第四連接線CL4以及第八連接線CL8。

基於上述，藉由進行檢測步驟以改善顯示裝置30產品良率不足的問題。此外，於進行切割製程後，第一~第八連接線CL1~CL8可以作為抗靜電環R的一部分，藉此改善靜電對顯示裝置30品質所造成的影響。

圖7A是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。圖7B是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。在此必須說明的是，圖7A、圖7B的實施例沿用圖6A、圖6B的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。圖7A、圖7B繪出了進行切割製程之後的顯示裝置，進行切割製程以及檢測步驟之前顯示裝置中連接線與側電極的連接方式可以參考前述實施例。

圖7A和圖7B分別是不同角度之顯示裝置40之立體示意圖。

在本實施例中，顯示裝置40之第一側電極SE1與第三側電極SE3的設置類似於圖6A和圖6B之顯示裝置30，差異僅在於顯示裝置40之部分第一側電極SE1b與部分第三側電極SE3b未進行切割製程，類似的說明於此不再贅述。

請參考圖7A和圖7B，在本實施例中，資料線DL延伸於第二側壁SW2且電性連接於第二側電極SE2。在本實施例中，子畫素結構PX包括多個第一顏色子畫素結構、多個第二顏色子畫素結構、多個第三顏色子畫素結構以及多個第四顏色子畫素。第一顏色子畫素結構、第二顏色子畫素結構以及第三顏色子畫素結構分別代表紅色子畫素、綠色子畫素以及藍色子畫素。第四顏色子畫素例如是白色子畫素、黃色子畫素、反射層子畫素、透明子畫素或其他顏色的子畫素。

在本實施例中，於進行切割製程以及檢測步驟之前，第二顏色子畫素結構與第四顏色子畫素透過資料線DL而分別電性連接至部分第二側電極SE2b以及部分第二側電極SE2d，部分第二側電極SE2b以及部分第二側電極SE2d電性連接至第二連接線CL2。第一顏色子畫素結構以及第三顏色子畫素結構透過部分資料線DL而分別電性連接至部分第二側電極SE2a以及部分第二側電極SE2c，部分第二側電極SE2a以及部分第二側電極SE2c電性連接至第六連接線CL6。第二側電極SE2b、第二側電極SE2a、第二側電極SE2d以及第二側電極SE2c依序排列。

於進行切割製程之後，所有第二側電極SE2分離於第二連接線CL2以及第六連接線CL6。

在本實施例中，於進行切割製程以及檢測步驟之前，第一共用電極CE1延伸於第四側壁SW4，並與部分第四側電極SE4a電性連接，部分第四側電極SE4a與第八連接線CL8電性連接。在本實施例中，第一基板110與第二基板120之間還可以包括第三共用電極。於進行切割製程以及檢測步驟之前，第三共用電極延伸於第四側壁SW4，並與另一部分第四側電極SE4b電性連接，另一部分第四側電極SE4b與第四連接線CL4電性連接。第三共用電極例如是用來傳遞補常訊號（Compensation signal）。

在本實施例中，於進行切割製程之後，第四側電極SE4b與第四連接線CL4分離。第四側電極SE4a選擇性地與第八連接線CL8連接或分離。換句話說，可以不切割第四側電極SE4a。

基於上述，藉由進行檢測步驟以改善顯示裝置40產品良率不足的問題。此外，於進行切割製程後，第一~第八連接線CL1~CL8可以作為抗靜電環R的一部分，藉此改善靜電對顯示裝置40品質所造成的影響。

圖8A、圖8B是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置於進行切割製程前的立體示意圖。圖9A、圖9B是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。在此必須說明的是，圖8A、圖8B、圖9A以及圖9B的實施例沿用圖6A~圖6B的實施例的元件標號與部分內容，其中採用相同或近似的標號來表示相同或近似的元件，並且省略了相同技術內容的說明。關於省略部分的說明可參考前述實施例，在此不贅述。

在本實施例中，顯示裝置50更包括第一輔助側電極AE1、第二輔助側電極AE2、第三輔助側電極AE3、第四輔助側電極AE4、第一扇出線FL1、第二扇出線FL2、第三扇出線FL3以及第四扇出線FL4。顯示面板100更包括輔助基板130。輔助基板130位於第一基板110上。輔助基板130例如為玻璃基板、導光板或其他透光基板。第一~第四輔助側電極AE1~AE4位於輔助基板130上，且第一~第四輔助側電極AE1~AE4分別位於第一~第四側壁SW1~SW4上。在本實施例中，第一~第四扇出線FL1~FL4分別位於第一~第四側壁SW1~SW4上。

第一扇出線FL1電性連接於第一側電極SE1以及第一輔助側電極AE1之間。舉例來說，部分第一扇出線FL1電性連接第一側電極SE1a與第一輔助側電極AE1a之間，部分第一扇出線FL1電性連接第一側電極SE1b與第一輔助側電極AE1b之間。

第二扇出線FL2電性連接於第二側電極SE2以及第二輔助側電極AE2之間。舉例來說，部分第二扇出線FL2電性連接第二側電極SE2a與第二輔助側電極AE2a之間，部分第二扇出線FL2電性連接第二側電極SE2b與第二輔助側電極AE2b之間。

第三扇出線FL3電性連接於第三側電極SE3以及第三輔助側電極AE3之間。舉例來說，部分第三扇出線FL3電性連接第三側電極SE3a與第三輔助側電極AE3a之間，部分第三扇出線FL3電性連接第三側電極SE3b與第三輔助側電極AE3b之間。

第四扇出線FL4電性連接於第四側電極SE4與第四輔助側電極AE4之間。

一部分之掃描線SL延伸於第一側壁SW1，且電性連接至第一側電極SE1a。第二共用電極CE2延伸於第一側壁SW1，且電性連接至第一側電極SE1b。另一部分掃描線SL延伸至第三側壁SW3，且電性連接至第三側電極SE3a。第一共用電極CE1延伸於第三側壁SW3，且電性連接至第三側電極SE3b。掃描線SL、第一共用電極CE1以及第二共用電極CE2的結構可以參考圖5C。

請參考圖8A與圖8B，於進行切割製程以及檢測步驟之前，第一側電極SE1a以及第一輔助側電極AE1b在結構上分離於第五連接線CL5以及第一連接線CL1。第一側電極SE1a透過第一扇出線FL1而電性連接至第一輔助側電極AE1a以及第一連接線CL1。第一側電極SE1b電性連接至第五連接線CL5。第一輔助側電極AE1b透過第一扇出線FL1而電性連接至第一側電極SE1b以及第五連接線CL5。於進行切割製程以及檢測步驟之前，第三側電極SE3a以及第三輔助側電極AE3b在結構上分離於第七連接線CL7以及第三連接線CL3。第三側電極SE3a透過第三扇出線FL3而電性連接至第三輔助側電極AE3a以及第三連接線CL3。第三側電極SE3b電性連接至第七連接線CL7，第三輔助側電極AE3b透過第三扇出線FL3而電性連接至第三側電極SE3b以及第七連接線CL7。

第一側電極SE1a相鄰於第一側電極SE1b，在本實施例中，第一側電極SE1a與第一側電極SE1b交錯設置。第一輔助側電極AE1a相鄰於第一輔助側電極AE1b，在本實施例中，第一輔助側電極AE1a與第一輔助側電極AE1b交錯設置。在本實施例中，第一輔助側電極AE1a與第一輔助側電極AE1b之間的間距小於第一側電極SE1a與第一側電極SE1b之間的間距。

第三側電極SE3a相鄰於第三側電極SE3b，在本實施例中，第三側電極SE3a與第三側電極SE3b交錯設置。第三輔助側電極AE3a相鄰於第三輔助側電極AE3b，在本實施例中，第三輔助側電極AE3a與第三輔助側電極AE3b交錯設置。在本實施例中，第三輔助側電極AE3a與第三輔助側電極AE3b之間的間距小於第三側電極SE3a與第三側電極SE3b之間的間距。

請參考圖9A與圖9B，於進行切割製程之後，第一輔助側電極AE1a與第一連接線CL1分離，第一側電極SE1b與第五連接線CL5選擇性地分離或連接，第三輔助側電極AE3a與第三連接線CL3分離，且第三側電極SE3b與第七連接線CL7選擇性地分離或連接。

在本實施例中，第一側電極SE1a藉由第一扇出線FL1而與對應的第一輔助側電極AE1a電性連接，第一側電極SE1b藉由第一扇出線FL1而與對應的第一輔助側電極AE1b電性連接。第三側電極SE3a藉由第三扇出線FL3而與對應的第三輔助側電極AE3a電性連接，第三側電極SE3b藉由第三扇出線FL3而與對應的第三輔助側電極AE3b電性連接。換句話說，第一扇出線FL1電性連接於第一側電極SE1以及第一輔助側電極AE1之間，且第三扇出線FL3電性連接於第三側電極SE3以及第三輔助側電極AE3之間。

請參考圖8A與圖8B，於進行切割製程以及檢測步驟之前，第一顏色子畫素結構PX1電性連接至第二側電極SE2b以及第六連接線CL6，第三顏色子畫素結構PX3電性連接至另一部分第二側電極SE2a以及第二連接線CL2，第二顏色子畫素結構PX2電性連接至第四側電極SE4以及第四連接線CL8。第一~第三顏色子畫素結構PX1~PX3的結構可以參考圖5C。

於進行切割製程以及檢測步驟之前，第二側電極SE2a以及第二輔助側電極AE2b在結構上分離於第六連接線CL6以及第二連接線CL2。第二側電極SE2a透過第二扇出線FL2而電性連接至第二輔助側電極AE2a以及第二連接線CL2。第二側電極SE2b電性連接至第六連接線CL6，第二輔助側電極AE2b透過第二扇出線FL2而電性連接至第六連接線CL6。於進行切割製程以及檢測步驟之前，第四側電極SE4在結構上連接於第八連接線CL8，第四輔助側電極AE4在結構上分離於第四連接線CL4以及第八連接線CL8。第四輔助側電極AE4透過第四扇出線FL4而電性連接至第四側電極SE4。

第二側電極SE2a相鄰於第二側電極SE2b，在本實施例中，第二側電極SE2a與第二側電極SE2b交錯設置。第二輔助側電極AE2a相鄰於第二輔助側電極AE2b，在本實施例中，第二輔助側電極AE2a與第二輔助側電極AE2b交錯設置。在本實施例中，第二輔助側電極AE2a與第二輔助側電極AE2b之間的間距小於第二側電極SE2a與第二側電極SE2b之間的間距。在本實施例中，第四輔助側電極AE4之間的間距小於第四側電極SE4之間的間距。

請參考圖9A與圖9B，於進行切割製程之後，第二側電極SE2b與第六連接線CL6分離，第二輔助側電極AE2a與第二連接線CL2分離，且第四側電極SE4與第四連接線CL4和第八連接線CL8分離。

在本實施例中，第一輔助側電極AE1a、第一輔助側電極AE1b、第二輔助側電極AE2a、第二輔助側電極AE2b、第三輔助側電極AE3a、第三輔助側電極AE3b以及第四輔助側電極SE4彼此間距較小，例如可用來與電路板或晶片接合。

雖然在本實施例中，以顯示裝置50包含第一~第四扇出線FL1~FL4為例，但本發明不以此為限。顯示裝置50可以包含第一~第四扇出線FL1~FL4中的一者、兩者或三者。

藉由第一~第四扇出線FL1~FL4的設置，可以更容易的對顯示裝置50進行線路佈局。

綜上所述，藉由進行檢測步驟以改善顯示裝置產品良率不足的問題。此外，於進行切割製程後，第一~第八連接線可以作為抗靜電環的一部分，藉此改善靜電對顯示裝置品質所造成的影響。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

1:顯示器 10、20、30、40、50:顯示裝置 100:顯示面板 110:第一基板 120:第二基板 130:輔助基板 AA:顯示區 BA:周邊區 CL1:第一連接線 CL2:第二連接線 CL3:第三連接線 CL4:第四連接線 CL5:第五連接線 CL6:第六連接線 CL7:第七連接線 CL8:第八連接線 CL1a~CL8a:第一接墊 CL1b~CL8b:第二接墊 CE1:第一共用電極 CE2:第二共用電極 CT1:第一導電件 CT2:第二導電件 CT3:第三導電件 CT4:第四導電件 D:汲極 DL、DLa、DLb、DLc:資料線 DR1、DR2:驅動電路 FL1:第一扇出線 FL2:第二扇出線 FL3:第三扇出線 FL4:第四扇出線 G:閘極 H1:開口 I:絕緣層 I1:第一絕緣層 I2:第二絕緣層 LC:顯示介質層 M:半導體層 OP1、OP2、OP3:缺口 PE:畫素電極 PX:子畫素結構 PX1:第一顏色子畫素結構 PX2:第二顏色子畫素結構 PX3:第三顏色子畫素結構 R:抗靜電環 S:源極 SE1、SE1a、SE1b:第一側電極 SE2、SE2a、SE2b、SE2c、SE2d:第二側電極 SE3、SE3a、SE3b:第三側電極 SE4、SE4a、SE4b:第四側電極 AE1、AE1a、AE1b:第一輔助側電極 AE2、AE2a、AE2b:第二輔助側電極 AE3、AE3a、AE3b:第三輔助側電極 AE4:第四輔助側電極 SL:掃描線 ST:框膠 SW1:第一側壁 SW2:第二側壁 SW3:第三側壁 SW4:第四側壁 TFT:主動元件

圖1A是依照本發明的一實施例的一種顯示器的上視示意圖。 圖1B是依照本發明的一實施例的一種顯示面板的局部放大示意圖。 圖1C是依照本發明的一實施例的一種顯示面板的立體示意圖。 圖1D是沿著圖1B剖線AA’的剖面示意圖。 圖2A~圖4是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的製造方法的立體示意圖。 圖5A是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。 圖5B是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。 圖5C是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的局部放大示意圖。 圖6A是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。 圖6B是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。 圖7A是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。 圖7B是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。 圖8A是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置於進行切割製程前的立體示意圖。 圖8B是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置於進行切割製程前的立體示意圖。 圖9A是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置立體的示意圖。 圖9B是依照本發明的一實施例的一種顯示裝置的立體示意圖。

10:顯示裝置

100:顯示面板

110:第一基板

120:第二基板

CL1:第一連接線

CL2:第二連接線

CL3:第三連接線

CL4:第四連接線

CL5:第五連接線

CL6:第六連接線

CL7:第七連接線

CL8:第八連接線

CL1a~CL3a、CL5a~CL7a:第一接墊

CL1b、CL2b、CL5b、CL6b:第二接墊

CT1:第一導電件

CT2:第二導電件

CT3:第三導電件

CT4:第四導電件

I:絕緣層

R:抗靜電環

SE1、SE1a、SE1b:第一側電極

SE2、SE2a、SE2b:第二側電極

ST:框膠

SW1:第一側壁

SW2:第二側壁

SW3:第三側壁

SW4:第四側壁

Claims (19)

1. 一種顯示裝置，包括： 一顯示面板，具有多個側壁，其中該些側壁至少包含一第一側壁、一第二側壁、一第三側壁以及一第四側壁，且包括： 一第一基板； 多條掃描線，位於該第一基板上，且該些掃描線的至少一部分延伸於該第一側壁； 多條資料線，位於該第一基板上，且該些資料線的至少一部分延伸於該第二側壁； 多個子畫素結構，位於該第一基板上，且分別電性連接至對應的該掃描線與對應的該資料線； 一第二基板，與該第一基板相對設置；以及 一顯示介質層，位於該第一基板與該第二基板之間； 一抗靜電環，位於該第一側壁、該第二側壁、該第三側壁以及該第四側壁上； 多個第一側電極，位於該第一側壁上，且該些掃描線的至少一部分電性連接於該些第一側電極；以及 多個第二側電極，位於該第二側壁上，且該些資料線的至少一部分電性連接於該些第二側電極。
2. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置，其中該抗靜電環包括： 一第一連接線、一第二連接線、一第三連接線以及一第四連接線，分別位於該第一側壁、該第二側壁、該第三側壁以及該第四側壁上且彼此電性連接；其中： 該第二連接線的兩端分別具有一第一接墊與一第二接墊，該第二連接線的該第一接墊藉由一第一導電件與該第一連接線電性連接，且該第二連接線的該第二接墊藉由一第二導電件與該第三連接線電性連接。
3. 如申請專利範圍第2項所述的顯示裝置，其中該第二連接線的該第二接墊的面積大於該第二連接線的該第一接墊的面積。
4. 如申請專利範圍第2項所述的顯示裝置，其中該抗靜電環更包括： 一第五連接線、一第六連接線、一第七連接線以及一第八連接線，分別位於該第一側壁、該第二側壁、該第三側壁以及該第四側壁上且彼此電性連接；其中： 該第六連接線的兩端分別具有一第一接墊與一第二接墊，該第六連接線的該第一接墊對應該第二連接線的該第一接墊設置且與該第五連接線電性連接，以及該第六連接線的該第二接墊對應該第二連接線的該第二接墊設置且與該第七連接線電性連接。
5. 如申請專利範圍第4項所述的顯示裝置，其中該第六連接線的該第一接墊的面積大於該第二連接線的該第一接墊的面積，而該第六連接線的該第二接墊的面積小於該第二連接線的該第二接墊的面積。
6. 如申請專利範圍第4項所述的顯示裝置，其中該第六連接線的該第一接墊藉由該第一導電件與該第一連接線、第二連接線以及第五連接線電性連接，且該第六連接線的該第二接墊藉由該第二導電件與該第二連接線、第三連接線以及第七連接線電性連接。
7. 如申請專利範圍第4項所述的顯示裝置，其中該些第一側電極位於該第一連接線與該第五連接線之間，該些第二側電極位於該第二連接線與該第六連接線之間。
8. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置，更包括： 至少一第三側電極，位於該些側壁的至少其中一者之上；其中該顯示面板更包括一共用電極，位於該第一基板與該第二基板之間，且與該至少一第三側電極電性連接。
9. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置，更包括多個第三側電極，位於該第三側壁上；其中該顯示面板更包括： 一第一共用電極，位於該第一基板上，且延伸於該第一側壁，其中該些掃描線的至少一部分電性連接至一部分的該些第一側電極，而該第一共用電極電性連接至另一部分的該些第一側電極；以及 一第二共用電極，位於該第二基板上，且與該些第三側電極電性連接。
10. 如申請專利範圍第9項所述的顯示裝置，其中電性連接至該些掃描線之該部分的該些第一側電極與電性連接至該第一共用電極之該另一部分的該些第一側電極交替排列。
11. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置，更包括： 多個第四側電極，位於該第四側壁上，與該第二側壁相對設置，其中該些資料線的一部分電性連接於該些第二側電極，而該些資料線的另一部分延伸於該第四側壁且電性連接至該些第四側電極。
12. 如申請專利範圍第11項所述的顯示裝置，其中該些子畫素結構包括多個第一顏色子畫素結構、多個第二顏色子畫素結構以及多個第三顏色子畫素結構，該些第一顏色子畫素結構與該些第三顏色子畫素結構電性連接至該些第二側電極，且該些第二顏色子畫素結構電性連接至部分該些第四側電極。
13. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置，其中該顯示面板更包括一輔助基板，位於該第一基板上，且該顯示裝置更包含 多個第一輔助側電極，位於該第一側壁上； 多個第二輔助側電極，位於該第二側壁上； 多條第一扇出線，電性連接於該些第一側電極與該些第一輔助側電極之間；以及 多條第二扇出線，電性連接於該些第二側電極與該些第二輔助側電極之間。
14. 一種顯示裝置的製造方法，包括： 提供一顯示面板，該顯示面板具有多個側壁，其中該些側壁至少包含一第一側壁、一第二側壁、一第三側壁以及一第四側壁，且包括： 一第一基板； 多條掃描線，位於該第一基板上，且該些掃描線的至少一部分延伸於該第一側壁； 多條資料線，位於該第一基板上，且該些資料線的至少一部分延伸於該第二側壁； 多個子畫素結構，位於該第一基板上，且分別電性連接至對應的該掃描線與對應的該資料線； 一第二基板，與該第一基板相對設置；以及 一顯示介質層，位於該第一基板與該第二基板之間； 分別形成一第一連接線、一第二連接線、一第三連接線以及一第四連接線於該第一側壁、該第二側壁、該第三側壁以及該第四側壁上； 形成多個第一側電極於該第一側壁上，且該些掃描線的至少一部分與該些第一側電極以及該第一連接線電性連接； 形成多個第二側電極於該第二側壁上，且該些資料線的至少一部分與該些第二側電極以及該第二連接線電性連接； 執行一檢測步驟； 形成多個導電件以電性連接該第一連接線、該第二連接線、該第三連接線與該第四連接線；以及 進行一切割製程，以使該些第一側電極與該第一連接線分離，以及使該些第二側電極與該第二連接線分離。
15. 如申請專利範圍第14項所述的製造方法，更包括： 分別形成一第五連接線、一第六連接線、一第七連接線以及一第八連接線於該第一側壁、該第二側壁、該第三側壁以及該第四側壁上，其中一部分的該些資料線電性連接於一部分的該些第二側電極和該第二連接線，另一部分的該些資料線電性連接於另一部分的該些第二側電極以及該第六連接線；以及 執行該檢測步驟後，且於進行該切割製程後，該另一部分的該些第二側電極與該第六連接線分離。
16. 如申請專利範圍第15項所述的製造方法，更包括： 形成多個第四側電極於該第四側壁上，且再另一部分的該些資料線與該些第四側電極以及該第四連接線電性連接；以及 執行該檢測步驟後，且於進行該切割製程後，與該再另一部分的該些資料線電性連接的該些第四側電極與該第四連接線互相分離。
17. 如申請專利範圍第15項所述的製造方法，其中該顯示面板更包括： 一共用電極，該共用電極位於該第一基板與該第二基板之間，且與該第五連接線以及該第七連接線的至少其中一者電性連接。
18. 如申請專利範圍第14項所述的製造方法，其中該顯示面板更包括： 一共用電極，該共用電極位於該第一基板與該第二基板之間，且與該第三連接線以及該第四連接線的至少其中一者電性連接。
19. 如申請專利範圍第14項所述的製造方法，其中該第二連接線的兩端分別具有一第一接墊與一第二接墊，該第二連接線的該第二接墊的面積大於該第二連接線的該第一接墊的面積，執行該檢測步驟的方法包括以探針電性連接該第二接墊。

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