TW201947188A - 檢查裝置、板狀物的製造裝置、檢查方法、板狀物的製造方法 - Google Patents

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Abstract

提供一種用於檢查搬送中的板狀檢查對象的檢查裝置，其包括：光源，向與該檢查對象的搬送方向正交的寬度方向的端部之側面，照射沿著該檢查對象的厚度方向的線狀光；攝像裝置，拍攝由該光源照射到該檢查對象的該寬度方向的端部之側面的該光；攝像裝置用驅動裝置，使該攝像裝置移動；攝像裝置用控制部，控制該該攝像裝置的位置，且，該攝像裝置用控制部根據該檢查對象的該寬度方向的端部之位置來控制該攝像裝置的位置。

Description

檢查裝置、板狀物的製造裝置、檢查方法、板狀物的製造 方法
本發明係關於一種檢查裝置、板狀物的製造裝置、檢查方法及板狀物的製造方法。
原料中包含陶瓷、金屬等無機材料及樹脂等有機、高分子材料的板狀產品，例如，將原料成形為連續的板狀(帶狀)之後，搬送成形物的同時，酌情實施切斷、乾燥等各種操作，進行連續製造。
並且，關於搬送中的板狀半成品及產品，檢查其規定部分之形狀、尺寸是否滿足規格。
因此，關於以製造中的板狀物作為檢查對象的檢查裝置，歷來在開展各種研究。
例如專利文獻1公開了一種用於板狀連續物體的面檢查裝置，其特徵在於包括：投光器，對沿著一方向連續移動的板狀連續物體之端面照射線狀光；透鏡系統，使在該板狀連續物體之端面生成的明線(bright light)成像於受光面；光感應器陣列，沿著該受光面上的明線像的寬度方向排列有複數個受光元件，用於將明線像變換成電氣信号；受光器，具有運算部，其基於該光感應器陣列之輸出信號來運算該受光面上的明線像的傾斜度並輸出。
根據專利文獻1公開的板狀連續物體的面檢查裝置，被 視為可檢查板狀連續體之端面相對於其表面的角度。
<先前技術文獻> <專利文獻>
專利文獻1：日本特開平5-346319號公報
然而，在工場等為了連續製造板狀物，例如利用帶式傳送機等搬送元件搬送板狀物時，因板狀物或帶式傳送機的蛇行，與該搬送元件的搬送方向正交的寬度方向的板狀物端部之位置有時會在與該搬送方向正交的方向內發生變化。
另外，製造中的板狀物其寬度會在規格範圍內，或時而超出規格範圍出現變動。因此，製造板狀物時若利用搬送元件來搬送板狀物，該搬送元件上的板狀物其沿著與搬送方向正交的寬度方向之端部之位置有時會在與該搬送方向正交的方向內發生變化。
然而，專利文獻1公開的板狀連續物體的面檢查裝置中，並未考慮到搬送元件上的板狀物其沿著與搬送方向正交的寬度方向的端部之位置在與該搬送方向正交的方向內發生變化的情形。因此，當作為搬送元件上的檢查對象的板狀物其沿著與搬送方向正交的寬度方向的端部之位置在與該搬送方向正交的方向內發生了變化的情形下，難以正確檢查該檢查對象。
本發明鑒於解決上述歷來技術之問題點，其一個方面之目的在於提供一種即使在搬送元件上的板狀檢查對象的與搬 送方向正交的寬度方向的端部之位置在與該搬送方向正交的方向內發生了變化的情形下，也能夠正確檢查該檢查對象的檢查裝置。
為了解決上述問題，根據本發明之一形態，提供一種用於對搬送中的板狀檢查對象進行檢查的檢查裝置，其包括：光源，向與該檢查對象的搬送方向正交的寬度方向的端部之側面，照射沿著該檢查對象之厚度方向的線狀光；攝像裝置，拍攝由該光源照射到該檢查對象的該寬度方向的端部之側面的該光；攝像裝置用驅動裝置，使該攝像裝置移動；攝像裝置用控制部，控制該攝像裝置的位置，且該攝像裝置用控制部根據該檢查對象的該寬度方向的端部之位置來控制該攝像裝置的位置。
根據本發明的一形態，能夠提供一種即使在搬送元件上的板狀檢查對象的與搬送方向正交的寬度方向的端部之位置在與該搬送方向正交的方向內發生了變化的情形下，也能夠正確檢查該檢查對象的檢查裝置。
10、10′、40、57‧‧‧檢查裝置
11‧‧‧搬送元件
12‧‧‧檢查對象
121A、121B‧‧‧端部
121C‧‧‧底面
13A、13B、401‧‧‧光源
131A‧‧‧線狀光
14A、14B、402‧‧‧攝像裝置
15、404‧‧‧攝像裝置用驅動裝置
151、426‧‧‧攝像裝置用控制部
16A、16B、16′、403‧‧‧光源用驅動裝置
17A、17B、406‧‧‧上部攝像裝置
18、18′、427‧‧‧光源用控制部
19、405‧‧‧顯示部
20、421‧‧‧端部形狀計算用運算部
21、422‧‧‧端部形狀判定部
22、423‧‧‧寬度計算用運算部
23、424‧‧‧寬度判定部
50‧‧‧板狀物的製造裝置
圖1是本發明的實施形態的檢查裝置的俯視圖。
圖2是圖1所示檢查裝置的側面圖。
圖3是本發明的實施形態的檢查裝置的其他結構例的俯視圖。
圖4是圖3所示檢查裝置的側面圖。
圖5A是石膏板的端部形狀的結構例。
圖5B是石膏板的端部形狀的結構例。
圖5C是石膏板的端部形狀的結構例。
圖5D是石膏板的端部形狀的結構例
圖6是本發明的實施形態的檢查裝置的功能方塊圖。
圖7是本發明的實施形態的板狀物的製造裝置的說明圖。
以下，關於實施本發明的形態，參照附圖進行說明，但本發明並不受限於下述實施形態，只要不脫離本發明的範圍，可對下述實施形態進行各種變形及置換。
[檢查裝置]
以下關於本實施形態的檢查裝置的一結構例進行說明。
本實施形態的檢查裝置，作為對搬送中的板狀檢查對象進行檢查的檢查裝置，可具備以下結構。
光源：向與檢查對象的搬送方向正交的寬度方向的端部之側面，照射沿著檢查對象的厚度方向的線狀光。
攝像裝置：拍攝從光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光。
攝像裝置用驅動裝置：使攝像裝置移動。
攝像裝置用控制部：控制攝像裝置之位置。
且，攝像裝置用控制部能夠根據檢查對象的寬度方向的端部之位置來控制攝像裝置之位置。
用於對搬送中的板狀檢查對象進行檢查的現有檢查裝 置中，並未考慮由搬送元件搬送中的板狀檢查對象的與搬送方向正交的寬度方向的端部之位置在與該搬送方向正交的方向內發生變化的情形。因此，當搬送元件上的檢查對象的與搬送方向正交的寬度方向的端部之位置有變動時，會導致檢查精度降低，或根本無法進行檢查。
對此，本發明的發明者們關於在搬送元件上的板狀檢查對象的與搬送方向正交的寬度方向的端部之位置在與該搬送方向正交的方向內發生了變化情形下，也能夠正確檢查該板狀物的檢查裝置進行了銳意研究，完成了本發明。
本實施形態的檢查裝置的結構例，如圖1~圖4所示。在此，對相同構件採用相同符號，有時將省略其說明。
圖1表示本實施形態的檢查裝置的俯視圖，圖2表示圖1所示檢查裝置的左側面圖。即，圖2表示自圖1中的下端部側沿著X軸觀視檢查裝置10時的圖。
另外，圖3表示本實施形態的檢查裝置的其他結構例的俯視圖，圖4表示圖3所示檢查裝置的左側面圖。即，圖4表示自圖3中的下端部側沿著X軸觀視檢查裝置10’時的圖。
在此，圖3、圖4所示的檢查裝置10’，除了光源用驅動裝置16’及光源用控制部18’之外，其他結構與圖1、圖2所示的檢查裝置10相同。因此，以下若無特別指明，即表示參照圖1、圖2說明本實施形態的檢查裝置。
在圖1~圖4中，X軸方向是檢查對象12的寬度方向，Y軸方向是檢查對象12的搬送方向，Z軸方向是檢查對象12的厚度方向。
圖1~圖4所示的本實施形態之檢查裝置10、10’是用於對由搬送元件11搬送中的板狀檢查對象12進行檢查的檢查裝置。以下對本實施形態的檢查裝置的各構件進行說明。
(搬送元件)
關於向檢查裝置10搬送、提供檢查對象12的搬送元件11並無特別限定。圖1、圖2中，作為搬送元件11，例示了在複數個滾筒111上卷繞帶子112的帶式傳送機，此外，作為搬送、提供檢查對象12的搬送元件11，例如還可以使用滾筒式傳送機等其他各種搬送元件。
在此，可將檢查裝置10組入例如板狀物的製造裝置中使用，搬送元件11並非是包含於檢查裝置10之結構的元件。然而，為了更正確地調整下述光源13A、13B、攝像裝置14A、14B與搬送中的檢查對象12的位置，也可以採用在配置有該光源13A、13B及攝像裝置14A、14B的區域設有搬送元件11的檢查裝置。
(檢查對象)
關於本實施形態的檢查裝置10進行檢查的板狀檢查對象12的結構並無特別限定，只要是具有板狀形狀的結構即可。在此所說的板狀形狀並不僅限於例如被切斷成規定長度的物體，例如，還可以是連續的板狀形狀物，即，帶狀物。
(光源)
本實施形態的檢查裝置10可以具備光源13A、13B，用於向檢查對象12的與搬送方向正交的寬度方向的端部121A、121B的側面，照射沿著檢查對象12的厚度方向的線狀 光。
在圖1、圖2中，檢查對象12的搬送方向為Y軸方向。因此，在圖1、圖2中，與檢查對象12的搬送方向正交的寬度方向即為與搬送方向Y軸方向正交的X軸方向。以下，與檢查對象12的搬送方向正交的寬度方向也被簡稱為“檢查對象12的寬度方向”。
並且，例如圖2中所示，能夠由光源13A向檢查對象12的寬度方向的端部121A之側面，照射沿著檢查對象12的厚度方向的線狀光131A。圖2中僅顯示了左側面側的結構例，右側面側也同樣可以由光源13B向檢查對象12的寬度方向的端部之側面照射沿著檢查對象12的厚度方向的線狀光。
雖說能夠照射出上述線狀光即足以作為光源，但更優選具有充分的輝度，因此，可適當利用例如線雷射等。
(攝像裝置)
本實施形態的檢查裝置10還可以具備攝像裝置14A、14B，用於拍攝從光源13A、13B照射到檢查對象12的寬度方向的端部之側面的光。作為攝像裝置14A、14B，只要能夠拍攝從光源13A、13B射出的光，對此並無特別限定。作為攝像裝置14A、14B，例如可以舉出具備CMOS(complementary metal oxide semiconductor)感應器或CCD(Charge coupled Device)感應器等半導體攝像元件的相機模組等。
從光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的、沿著檢查對象之厚度方向的線狀光，其形狀會成為與檢查對象的寬度方向的端部之側面形狀對應的形狀。因此，藉由利用 攝像裝置拍攝該光並監測其形狀等，能夠確認檢查對象的側面形狀之變化，從而能夠對該檢查對象的寬度方向的端部形狀進行優劣判定。另外，還可以例如基於拍攝到的光的形狀計算出檢查對象的寬度方向的端部形狀的參數，據此對檢查對象的寬度方向的端部形狀進行優劣判定。
關於光源13A、13B及攝像裝置14A、14B的位置並無特別限定，選擇能夠向檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B的側面照射光並能夠拍攝該光的位置即可。為了確實防止光被搬送元件11等遮蔽，光源13A、13B的發光部及攝像裝置14A、14B的受光部優選位於比檢查對象12的底面121C(參照圖2)更為上方的位置。
在此，檢查對象12的底面121C是指與搬送元件11接觸的側的面。例如圖1、圖2所示的檢查裝置10，作為搬送元件11使用帶式傳送機之情形下，檢查對象12的底面121C即為檢查對象12的與該帶式傳送機器的帶子112接觸的面。
(攝像裝置用驅動裝置、攝像裝置用控制部)
如上所述，當連續搬送板狀的檢查對象12時，搬送元件11上的搬送中的板狀檢查對象12的寬度方向之端部121A、121B的X軸方向的位置，即X軸的座標位置有時會發生變化。
對此，本實施形態的檢查裝置10可以具備用於使攝像裝置14A、14B移動的攝像裝置用驅動裝置15，及用於控制攝像裝置14A、14B的位置的攝像裝置用控制部151。
並且，攝像裝置用控制部151能夠根據檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之位置，來控制攝像裝置14A、14B 之位置。此時，優選攝像裝置用控制部151根據檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之X軸座標位置，來控制攝像裝置14A、14B之X軸座標位置。
關於攝像裝置用驅動裝置15之具體結構並無特別限定，例如可以具備用於固定、支撐攝像裝置14A、14B的臂部152A、152B。攝像裝置用驅動裝置15還可以具備例如沿著檢查對象12之寬度方向配置基材部153，其包括攝像裝置用直動機構。且，藉由將臂部152A、152B固定於基材部153之攝像裝置用直動機構，並由與攝像裝置用直動機構連接的攝像裝置用驅動元件153A、153B進行驅動，能夠使臂部152A、152B沿著檢查對象12之寬度方向，即圖中的X軸自由移動。
從而，能夠使預先固定在臂部152A、152B上的攝像裝置14A、14B沿著檢查對象12之寬度方向，即，圖中的X軸自由驅動。
在此，作為攝像裝置用直動機構，例如可以舉出線性軌道(線性導軌)、線性軸等。另外，作為攝像裝置用驅動元件153A、153B可以舉出線性套管(linear bush)、線性電動機、電動機等。在作為攝像裝置用驅動元件153A、153B使用電動機之情形下，為將旋轉動作變換為直線動作，可根據需要配合使用時序皮帶(timing belt)、滑輪等。
攝像裝置用驅動裝置15能夠使攝像裝置14A、14B沿著檢查對象12之寬度方向移動即可，並不限於上述結構。
攝像裝置用控制部151例如能夠根據由攝像裝置14A、14B拍攝到的、由光源13A、13B照射到檢查對象12的寬度 方向的端部121A、121B之側面的線狀光的位置等，來控制攝像裝置14A、14B之位置。在檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B的側面與攝像裝置14A、14B之間的距離固定的情形下，拍攝到的被照射在檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的線狀光，會位於攝像裝置14A、14B的攝影圖像內的固定位置。
然而，當檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B與攝像裝置14A、14B之間距離有變化時，拍攝到的被照射在檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B的側面的線狀光的位置，會在攝像裝置14A、14B的攝影圖像內發生左右變動。因此，攝像裝置用控制部151能夠控制攝像裝置14A、14B之位置，以使例如攝影到的被照射在檢查對象12的寬度方向的端部之側面的線狀光位於攝像裝置14A、14B的攝影圖像內的預定位置，例如中央位置。由此，能夠根據檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之位置，控制攝像裝置14A、14B之位置。
本實施形態的檢查裝置10，除了上述構件之外，還可以具備任意構件。
(上部攝像裝置)
本實施形態的檢查裝置10還可以具備例如被配置在搬送中的檢查對象12之上方的上部攝像裝置17A、17B，用於檢測檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之位置。
關於上部攝像裝置17A、17B也無特別限定，例如可以使用具備CMOS感應器或CCD感應器等半導體攝像元件的相 機模組等。
關於上部攝像裝置17A、17B的配置雖無特別限定，但優選配置成能夠對搬送中的檢查對象12的寬度方向的目標區域進行拍攝之形態。因此，如圖1、圖2所示，例如可以固定在上述攝像裝置用驅動裝置15之基材部153那樣沿著檢查對象12的寬度方向配置的構件上。
藉由設置上部攝像裝置17A、17B，對包含搬送中的檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B在內的區域進行拍攝，及進行目測或圖像處理，能夠容易地檢測出寬度方向的端部121A、121B之位置。在此，例如，能夠對上部攝像裝置17A選擇可對搬送中的檢查對象12的寬度方向之端部121A進行檢測的位置及攝影範圍。另外，還能夠對上部攝像裝置17B選擇可對搬送中的檢查對象12的寬度方向的端部121B進行檢測的位置及攝影範圍。
由此，能夠利用上部攝像裝置17A、17B，例如在檢查開始時或有時在檢查進行中等，控制攝像裝置14A、14B的位置。
在此，還可以設置上部攝像裝置用光源171，例如從上部攝像裝置用光源171照射沿著檢查對象之寬度方向的線狀光，由上部攝像裝置17A、17B拍攝該光。
在檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B處，由於檢查對象12與搬送元件11的上面之間存在階差，因此，沿著檢查對象12之寬度方向照射的線狀光會產生與該階差相應的彎曲點。因此，如上所述，藉由設置上部攝像裝置用光源171，利用上部攝像裝置17A、17B拍攝從上部攝像裝置用光 源171照射的沿著檢查對象12的寬度方向的線狀光，並算出該彎曲點之坐標，能夠算出端部位置。
並且，例如在檢查開始等時，能夠根據由上部攝像裝置17A、17B檢測出的檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之位置，具體而言X軸的座標位置，來控制攝像裝置14A、14B的位置，以使攝像裝置14A、14B移動至適當位置。
在此，為了提供控制資訊，可將上部攝像裝置17A、17B連接於上述攝像裝置用控制部151。
另外，在此以設置2台上部攝像裝置17A、17B為例進行說明，但並不限定於該形態。例如，還可以是1台上部攝像裝置能夠對檢查對象12的寬度方向整體進行拍攝的結構。
(光源用驅動裝置、光源用控制部)
本實施形態的檢查裝置10還可以具備用於使光源13A、13B移動的光源用驅動裝置16A、16B。另外，本實施形態的檢查裝置10還可以具備用於控制光源13A、13B的位置的光源用控制部18，以使照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的光的入射角成為預定角度。
根據本發明的發明者的研究，檢查對象的寬度方向的端部的側面的厚度方向形狀，及照射到檢查對象的寬度方向的端部的側面的線狀光形狀，會根據從光源射出的線狀光相對於檢查對象的寬度方向的端部之側面的入射角而有不同，有時需要進行校正。且，根據從光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光的入射角，來進行該校正。
因此，優選調整光源位置，以使從光源照射到檢查對象 的寬度方向的端部之側面的線狀光的入射角成為所希望的值。在此，如圖1、圖2所示，本實施形態的檢查裝置10可以具備光源用驅動裝置16A、16B及光源用控制部18。
關於光源用驅動裝置16A、16B的結構並無特別限定，例如可以是組合光源用直動機構161A、161B及光源用驅動元件162A、162B而成的結構。並且，優選是至少能使光源13A、13B沿著檢查對象12的搬送方向，即圖1、圖2中的Y軸進行驅動的結構。其理由在於，藉由可沿著檢查對象12之搬送方向驅動光源13A、13B的結構，容易對從光源13A、13B照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的光的入射角進行調整。
作為光源用直動機構161A、161B，例如可以舉出線性軌道(線性導軌)或線性軸等。另外，作為光源用驅動元件162A、162B，可以舉出線性套管、線性電動機、電動機等。在作為光源用驅動元件使用電動機的情形下，為將旋轉動作變換成直線動作，可根據需要配合使用時序皮帶或滑輪等。
在此，關於從光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光的入射角並無特別限定，例如優選為30度以上60度以下，更優選為40度以上50度以下。尤其在45度的情形下，照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光形狀會成為與檢查對象的寬度方向的端部之側面相同的形狀，無需進行校正等，更為佳選。光源用驅動裝置16A、16B能夠控制光源13A、13B的位置，以使從光源13A、13B照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的線狀光的入射角滿 足例如上述適當範圍。
光源用驅動裝置的結構並不限定於上例。例如，光源用驅動裝置可以具有與上述攝像裝置用驅動裝置相同的結構。
以下參照圖3、圖4來說明具體的結構例。在此，除了光源用驅動裝置16’、光源用控制部18’之外，採用與圖1、圖2相同的結構，因此，對於相同構件採用相同符號，並省略其說明。
光源用驅動裝置16’，如圖3、圖4所示，例如可以具備用於固定、支撐光源13A、13B的臂部163A、163B。該情形下，光源用驅動裝置16’例如還可以具備沿著檢查對象12之寬度方向配置的基材部164，其具有光源用直動機構。並且，藉由將臂部163A、163B固定於該基材部164的光源用直動機構上，並由與光源用直動機構連接的光源用驅動元件165A、165B進行驅動，能夠使臂部163A、163B沿著檢查對象12的寬度方向，即圖中的X軸自由移動。
因此，能夠使預先固定在臂部163A、163B的光源13A、13B也沿著檢查對象12的寬度方向，即圖中的X軸自由驅動。藉由光源13A、13B可沿著檢查對象12之寬度方向驅動的結構，容易對從光源13A、13B向檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面照射的光的入射角進行調整。
在此，作為光源用直動機構可以舉出例如線性軌道(線性導軌)或線性軸等。另外，作為光源用驅動元件165A、165B，可以舉出線性套管、線性電動機、電動機等。在作為光源用驅動元件165A、165B使用電動機之情形下，為將旋轉動作變 換成直線動作，可根據需要配合使用時序皮帶或滑輪等。
例如可將光源用控制部18’預先連接於光源用驅動元件165A、165B，來控制光源13A、13B的位置，以使從光源13A、13B照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的線狀光的入射角成為希望的值。關於從光源13A、13B照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的線狀光的入射角的適當範圍，上文已作說明，在此省略贅述。
此外，也可以採用不另行設置光源用驅動裝置的結構。例如，可以在上述攝像裝置用驅動裝置15的用於支撐攝像裝置14A、14B的臂部152B、152B上，安裝沿著圖1、圖2中的Y軸方向延伸的支撐構件，將攝像裝置14A、14B與光源13A、13B固定在相同臂部。由此，即能夠在攝像裝置14A、14B與光源13A、13B之間保持固定的距離，又能夠在光源13A、13B及攝像裝置14A、14B與檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之間保持固定的距離。在此情形下，無需另行設置光源用驅動裝置16A、16B及光源用控制部18，可削減成本。然而，由於光源13A、13B與攝像裝置14A、14B被固定在相同臂部，因此可能會導致裝置整體增大。由此，優選根據被要求的成本或裝置尺寸等，選擇適當結構。
(顯示部)
本實施形態的檢查裝置還可以具備顯示部，其用於顯示由攝像裝置拍攝的、從光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光的圖像。
如上所述，當攝像裝置14A、14B與檢查對象12的寬度 方向的端部121A、121B之間的距離有變化時，照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的被拍攝的線狀光會在攝像裝置14A、14B的攝影圖像內發生左右變動。因此，能夠設置顯示部19，顯示作為由攝像裝置14A、14B拍攝的攝影圖像的從光源13A、13B照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的線狀光的圖像。並且，能夠對例如攝像裝置14A、14B的攝影圖像內的、照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的線狀光位置進行監測。
在此情形下，例如本實施形態的檢查裝置10的操作者還能夠在查看顯示部19之顯示內容的同時，針對攝像裝置用控制部151發出指令，控制攝像裝置14A、14B的位置。
另外，本實施形態的檢查裝置的操作者還能夠在查看顯示部19之顯示內容的同時，針對板狀物的製造裝置的控制部發出變更板狀物的製造條件，例如板狀物的寬度方向的端部的製造條件等的指示，以調整板狀物的寬度方向的端部形狀(邊緣形狀)等。
關於顯示部19的結構並無特別限定，例如可以舉出液晶顯示器(LCD：liquid crystal display)或CRT顯示器(CRT：Cathode Ray Tube display)等。
(端部形狀計算用運算部、端部形狀判定部)
另外，本實施形態的檢查裝置10還可以具備端部形狀計算用運算部20，其根據由攝像裝置14A、14B拍攝的、從光源13A、13B照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B 之側面的光的形狀，計算檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B的形狀。此外，本實施形態的檢查裝置10還可以具備端部形狀判定部21，其對於端部形狀計算用運算部20算出的檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B的形狀進行判定。
關於本實施形態的檢查裝置檢查的檢查對象的寬度方向的端部的形狀並無特別限定，端部形狀可以是各種形狀。
並且，通常製造板狀物產品時，對該板狀物產品及作為其中間體的半成品的端部形狀定有規格，並要求滿足該規格。
在此，本實施形態的檢查裝置10可以具備端部形狀計算用運算部20，其根據由攝像裝置14A、14B拍攝的、由光源照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的光的形狀，來計算檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B的形狀。
在端部形狀計算用運算部20中，例如，首先能夠算出由攝像裝置14A、14B拍攝的、照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的線狀光的形狀。例如，在端部形狀計算用運算部20所具備的攝像裝置用圖像處理部中，能夠檢測出線狀光的形狀。然後，端部形狀計算用運算部20所具備的參數算出部，能夠沿著檢測出的光的形狀配置虛擬點，並算出該點的坐標。另外，該參數算出部能夠算出檢測出的線狀光中包含的直線部的長度，及直線部之間的角度等。
另外，在端部形狀計算用運算部20中，例如在其攝像裝置用圖像處理部中，還能夠根據由光源13A、13B向檢查對象 12的寬度方向的端部121A、121B照射的光的入射角的角度，對照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光形狀進行校正。
在檢查對象是石膏板的情形下，端部形狀根據JIS A 6910(2014)的規定，如圖5A~圖5D所示，可以具有各種端部形狀。其中，圖5A的端部形狀31為方形(square)邊緣，圖5B的端部形狀32為錐形(tapered)邊緣，圖5C的端部形狀33為斜面形(bevel)邊緣，圖5D的端部形狀34為圓形(round)邊緣。在圖5A~圖5D中，上方為表面，下方為背面。
例如以圖5C所示的端部形狀33為斜面形邊緣的石膏板作為檢查對象的情形下，來自光源13A、13B的線狀光照射在斜面33A及垂直面33B，該線狀光成為沿著(臨摹)該端部形狀33之側面的形狀。從而，藉由攝像裝置對該線狀光進行拍攝，並進行圖像處理，能夠取得沿著端部形狀33之側面的線狀光的形狀。然後，沿著該線狀光的形狀，即線，配置複數個作為座標算出對象的點，並求出其坐標，藉由使用該坐標可算出與構成端部的面對應的直線部的長度及直線部之間的角度，從而能夠算出石膏板的端部形狀。
具體而言，藉由利用該求出的坐標，還能夠算出斜面33A的線段與垂直面33B的線段的位置及長度，例如，算出斜面33A及垂直面33B的長度、斜面33A與垂直面33B之間的角度。
在此以端部形狀33為例進行了說明，此外還可以算出例如端部形狀31的垂直面31A的長度，及上面31B與底面31C 之間的角度。另外，還可以對端部形狀32的錐形面32A及垂直面32B，算出長度及兩面之間的角度。並且，還可以算出端部形狀34的圓形面34A的曲率等。
在端部形狀判定部21中，能夠判定由端部形狀計算用運算部20計算出的檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之形狀是否滿足規格值。關於規格值並無特別限定，可以根據提供給本實施形態的檢查裝置的檢查對象，選擇規格值。
另外，在端部形狀判定部21判定為檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B的形狀不符合規格值的情形下，例如，可以向上述顯示部19輸出該判定結果，顯示不符合規格值的訊息。另外，例如在將本實施形態的檢查裝置10組入板狀物製造裝置中使用的情形下，可由輸出部向板狀物製造裝置的控制部輸出用於變更板狀物製造條件的指示等。
(寬度計算用運算部、寬度判定部)
另外，本實施形態的檢查裝置10還可以具備根據攝像裝置14A、14B的位置來計算檢查對象12的寬度的寬度計算用運算部22，及，對寬度計算用運算部22計算出的檢查對象12的寬度進行判定的寬度判定部23。
在本實施形態的檢查裝置中，不僅能測定上述端部形狀，例如還能夠對檢查對象的寬度，即寬度方向的長度進行測定。
如上所述，在本實施形態的檢查裝置10中，根據檢查對象的寬度方向的端部位置，使攝像裝置14A、14B變動。
因此，本實施形態的檢查裝置10還具備寬度計算用運算 部22，在該寬度計算用運算部22，例如藉由使用攝像裝置14A、14B的位置資訊，能夠算出檢查對象的寬度。
具體而言，藉由從攝像裝置14A與攝像裝置14B之間的距離，減去攝像裝置14A與檢查對象12的寬度方向的端部121A之間的距離，以及攝像裝置14B與檢查對象12的寬度方向的端部121B之間的距離，可算出檢查對象的寬度。在本實施形態的檢查裝置10中，攝像裝置14A、14B與檢查對象12之間的距離基本保持固定，因此亦可視之為常數。另外，例如可以根據由攝像裝置14A、14B拍攝的攝影圖像內的，照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之側面的光的位置，求出攝像裝置14A、14B與檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之間的距離。
此外，本實施形態的檢查裝置還可以具備寬度判定部23，用於判定由寬度計算用運算部22算出的檢查對象12的寬度例如是否符合規格。
寬度判定部23能夠判定由寬度計算用運算部22算出的檢查對象的寬度是否符合規格值。關於規格值並無特別限定，可以根據提供給本實施形態的檢查裝置的檢查對象，選擇規格值。
(功能方塊圖)
在此，本實施形態的檢查裝置的功能方塊圖如圖6所示。
本實施形態的檢查裝置40，如上所述，可具備光源401、攝像裝置402、攝像裝置用驅動裝置404。另外，根據需要，還可以具備光源用驅動裝置403、顯示部405、上部攝像裝置 406等。
並且，用於掌控本實施形態的檢查裝置40整體的控制系統41，除了檢查控制部42之外，還可以具備系統控制器43、用於控制檢查裝置40的檢查裝置控制部44等。
控制系統41是計算機的一種，其包括CPU或ASIC等處理器(系統控制器43)，和RAM、ROM、NVRAM、HDD等記憶裝置，及網絡介面等通信部。其中，CPU是Central Processing Unit之縮寫。ROM是Read Only Memory之縮寫。RAM是Random Access Memory之縮寫。NVRAM是Non-Volatile RAM之縮寫。
以下參照圖6，來說明檢查裝置40中的檢查控制部42。
檢查裝置40的檢查控制部(檢查控制元件)42可以具備端部形狀計算用運算部421、端部形狀判定部422、寬度計算用運算部423、寬度判定部424、上部攝像裝置用運算部425、攝像裝置用控制部426、光源用控制部427、判定結果記憶部428及輸出部429等。
端部形狀計算用運算部421可以具備例如攝像裝置用圖像處理部4211及參數算出部4212。
攝像裝置用圖像處理部4211例如是ASIC(application specific integrated circuit：特殊應用積體電路)等，其執行由攝像裝置402拍攝的、從光源401照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的線狀光的圖像處理。
攝像裝置用圖像處理部4211中，可以根據拍攝的圖像中的濃淡或輝度之異，識別與檢查對象的寬度方向的端部形狀對應的線狀光的形狀。在此，關於識別線狀光的具體方法並 無特別限定，例如，藉由對線狀光及其他部分進行二值化處理等圖像處理，實現明瞭化，進行識別。另外，此時，也可以根據需要，根據由光源401向檢查對象的寬度方向的端部照射的光的入射角，對識別出的線狀光的形狀加以校正。
接下來，參數算出部4212中，能夠沿著由攝像裝置用圖像處理部4211獲得的線狀光的形狀，即線，配置複數個作為座標計算對象的點。並且，藉由算出該配置的複數個點的座標位置，能夠算出下述端部形狀判定部422中所需要的部分的長度及角度。例如，在圖5C所示的端部形狀33的情形下，可以算出斜面33A及垂直面33B的長度、斜面33A與垂直面33B之間的角度。
端部形狀判定部422可以具備端部用判定部4221及端部形狀存放部4222等。端部用判定部4221能夠判定由參數算出部4212算出的、與檢查對象的端部形狀相關的參數是否符合規格。具體而言，例如能夠藉由對端部形狀存放部4222中存放的作為良品的端部形狀的規格參數、及由參數算出部4212算出的參數進行比較，來進行優劣判定。
在此，可由在1個ASIC內，由軟體實現端部形狀計算用運算部421及端部形狀判定部422，此外，例如還可以按各部分設置ASIC等，由硬體實現一部分或全部。
另外，如上所述，在本實施形態的檢查裝置40中，還能夠算出檢查對象的寬度，對寬度進行優劣判定。
因此，本實施形態的檢查裝置40的檢查控制部42，還可以具備用於算出檢查對象的寬度(寬方向長度)的寬度計 算用運算部423及寬度判定部424。
例如，寬度計算用運算部423中，首先，可以從攝像裝置用控制部426取得攝像裝置402的位置，該攝像裝置用控制部426與可變更攝像裝置402位置的攝像裝置用驅動裝置404連接。並且，寬度算出部4231中，從2台攝像裝置402之間的距離減去各攝像裝置402與檢查對象的寬度方向的端部之間的距離之合計，由此可算出檢查對象的寬度(寬方向長度)。在此，本實施形態的檢查裝置40中，攝像裝置402與檢查對象之間的距離基本保持固定，因此，也可以將各攝像裝置與檢查對象之間的距離視為常數。另外，例如在寬度算出部4231中，也可以根據由攝像裝置402拍攝的圖像內的、照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的線狀光的位置，來算出攝像裝置402與檢查對象的寬度方向的端部之間的距離。
寬度判定部424可以具備寬度用判定部4241及寬度尺寸存放部4242等。寬度用判定部4241能夠判定由寬度算出部4231算出的檢查對象的寬度(寬方向長度)參數是否符合規格。具體而言，例如藉由對寬度尺寸存放部4242中存放的作為良品的檢查對象的寬度(寬方向長度)的規格參數與由寬度算出部4231算出的參數進行比較，來進行優劣判定。
在此，可以在1個ASIC內，由軟體實現寬度計算用運算部423及寬度判定部424，也可以例如按各部分設置ASIC等，由硬體實現其一部分或全部。
本實施形態的檢查裝置40還可以具備上部攝像裝置 406，能夠根據該上部攝像裝置拍攝的圖像，由上部攝像裝置用運算部425檢測檢查對象的端部位置。
上部攝像裝置用運算部425例如可以具備上部攝像裝置用圖像處理部4251及端部位置算出部4252。
上部攝像裝置用圖像處理部4251例如是ASIC等，用於對上部攝像裝置406拍攝的圖像進行圖像處理。在此，例如沿著檢查對象的寬度方向，優選由上部攝像裝置用光源沿著檢查對象的寬度方向照射線狀光，並由上部攝像裝置406拍攝該光。
在上部攝像裝置用圖像處理部4251中，可根據拍攝的圖像中的濃淡或輝度之異，識別線狀光的形狀。
接下來，在端部位置算出部4252中，可以根據在上部攝像裝置用圖像處理部4251獲得的線狀光的形狀，算出線狀光的彎曲點的位置。在檢查對象的寬度方向的端部處，由於檢查對象與搬送元件的上面之間存在階差，因此，沿著檢查對象的寬度方向照射的線狀光會產生與該階差相應的彎曲點。因此，藉由算出該彎曲點的坐標，可以算出端部位置。
並且，例如在檢查開始時等，能夠根據由上部攝像裝置用運算部425算出的端部位置，來控制攝像裝置402的位置，以使攝像裝置402移至適當的位置。
另外，例如，為了調整從光源401射向檢查對象的光的入射角的角度，光源用控制部427例如可以根據來自攝像裝置用控制部426等的位置資訊，向光源用驅動裝置403發出指令，控制光源401的位置。
如上所述，用於進行與圖像處理、判定等相應的運算等的檢查程式被記憶在控制系統41的記憶裝置中。系統控制器(CPU)43按照該檢查程式運行，可實現這些檢查。
另外，可以將該檢查程式，作為可安裝(install)形式或可執行形式的文件記錄在CD-ROM、軟性磁碟(FD)等計算機裝置可讀取的記録媒體中提供。另外，還可以記錄在CD-R、DVD、藍光光碟(註冊商標)、半導體記憶體等計算機裝置可讀取的記録媒體中提供。DVD是Digital Versatile Disk的縮寫。另外，還可以採用經由網際網絡等網絡安裝的方式來提供檢查程式。此外，還可以將檢查程式的全部或一部分預先組入設備(例如攝像裝置14A、14B)內的ROM等中提供。
另外，圖6中雖然是分開的形式，還可以將端部形狀存放部4222、寬度尺寸存放部4242、判定結果記憶部428等的數據集中存儲在RAM、ROM、NVRAM、HDD等記憶裝置中。
如上所述，可將端部用判定部4221及寬度用判定部4241的判定結果存放在判定結果記憶部428中，以便過後能夠確認，並由輸出部429輸出。關於此時的輸出目的地及輸出方法等並無特別限定，例如，能夠在顯示部405上顯示檢查對象是否符合規格。此外，例如還可以將本實施形態的檢查裝置40組入板狀物的製造裝置中使用，也可以輸出到用於控制板狀物的製造裝置的控制部。在檢查對象的端部形狀及寬度被判定為不符合規格的情形下，例如能夠針對用於控制板狀物製造裝置的控制部發出變更成形機條件等的指令。
根據以上說明的本實施形態的檢查裝置，即使在搬送元件上的板狀物的沿著與搬送方向正交的寬度方向的端部之位置在與該搬送方向正交的方向內發生了變化的情形下，也能夠正確檢查該板狀物的端部形狀。
[板狀物的製造裝置]
以下，關於本實施形態的板狀物的製造裝置的結構例進行說明。
本實施形態的板狀物的製造裝置係關於一種用於製造板狀物的板狀物製造裝置。
並且，本實施形態的板狀物的製造裝置可以具備以板狀物的中間體或該板狀物作為檢查對象進行檢查的上述檢查裝置。
在此，板狀物是指採用本實施形態的板狀物的製造裝置製造成的最終產品。另外，板狀物的中間體是指形成最終產品之前的物體，例如可以舉出連續的板狀形狀物，即帶狀物，及對該帶狀物進行粗略切斷之後的粗略切斷物等。
關於採用本實施形態的板狀物的製造裝置製造的板狀物的種類並無特別限定，作為板狀物，可以舉出石膏類建材、用於電子零部件的構件、各種構造材料等其他的陶瓷產品及樹脂產品等。
作為石膏類建材，例如可以舉出石膏板、玻璃氈石膏板、含玻璃纖維不織布的石膏板等。因此，作為本實施形態的板狀物的製造方法中製造的板狀物，也可以舉出石膏板等。
尤其是作為石膏類建材之一種的石膏板，如圖5A~圖5D 所示，有時會要求將寬度方向的端部形成為規定形狀。因此，本實施形態的板狀物的製造裝置中製造的板狀物優選是石膏類建材，更優選是石膏板。
在此，關於本實施形態的板狀物的製造裝置的結構例，以作為板狀物製造石膏類建材之一種的石膏板之情形為例，參照圖7進行說明。
本實施形態的板狀物的製造裝置，除了上述檢查裝置之外，還可以具備製造板狀物所必須的各種元件。
例如，在有必要對原料進行混合之情形下，本實施形態的板狀物的製造裝置還可以具備用於混合原料的混合元件(混合器)。另外，本實施形態的板狀物的製造裝置可以具備成形裝置等，用於將原料或由上述混合元件調製成的原料混合物、原料漿等成形、加工成所希望的形狀、尺寸。
以下，作為本實施形態的板狀物的製造裝置的一結構例，以製造作為板狀物的石膏板之情形為例，說明裝置結構。
圖7所示的板狀物的製造裝置50具備：作為混合元件的混合器51，用於混合原料的；成形裝置52，用於對圖7中例示的石膏漿等藉由混合器51調製成的原料漿進行成形；檢查裝置57。以下關於裝置的結構例進行具體說明。
首先，關於混合器51進行說明。
可將混合器51配置在與下述表面覆蓋原紙等的搬送線相關的規定位置，例如，搬送線的上方或側邊。並且，在單一的混合器51中，混合作為石膏漿原料的焼石膏及水，酌情加入各種添加劑，能夠調製成石膏漿。
在此，焼石膏亦被稱為硫酸鈣1/2水合物，其為一種具有水硬化性的無機組成物。作為燒石膏，可以使用藉由在大氣中對天然石膏、副產石膏及煙氣脫硫石膏等的任一種的單體或混合體石膏進行燒成而獲得的β型，或者在水中(包括蒸氣中)進行燒成而獲得的α型焼石膏的任一單體，或兩者的混合體。
在製造石膏板等石膏類建材的情形下，用於原料的焼石膏中優選包含β型焼石膏，用於石膏類建材原料的焼石膏之主成份優選為β型焼石膏。在此，用於石膏類建材原料的焼石膏之主成份為β型焼石膏是指，用於石膏類建材原料的焼石膏中的β型焼石膏所占質量比率大於50%。製造石膏類建材時，用於原料的焼石膏亦可完全由β型焼石膏構成。
α型燒石膏，需要使用熱壓器(autoclave)，在水中或水蒸氣中對天然石膏等二水石膏進行加壓燒成。相對而言，在大氣中以常壓對天然石膏等二水石膏進行燒成，即可製造成β型燒石膏，與α型焼石膏相比，能夠以更良好的生產性製造β型焼石膏。
作為添加劑，例如可以舉出從、澱粉或聚乙烯醇(polyvinyl alcohol)等可提高與石膏硬化體(使石膏漿硬化後的物體)及石膏板用原紙(以下，稱之為表面覆蓋原紙或背面覆蓋原紙)的黏著性的黏著性提高劑、玻璃纖維等無機纖維及輕量骨材、蛭石(vermiculite)等耐火材、凝結延緩劑、凝結促進劑、減水劑、磺基琥珀酸鹽型界面活性劑等泡沫徑調整劑、矽酮或石蠟等撥水劑、有機羧酸及/或有機羧酸鹽等 中選擇的1種或2種類以上。
在此，可以預先對燒石膏及一部分添加劑，例如固體添加劑等混合攪拌，形成作為混合物的石膏組成物，然後提供給混合器51。
並且，選擇石膏漿分取口511a、511b、511c中的一個以上用於添加泡沫，藉由調整泡沫添加量，能夠獲得具有任意密度的石膏漿。例如，藉由於分取口511a、511b不添加泡沫或添加少量泡沫，可調製成高密度石膏漿55。此外，藉由於分取口511c添加比高密度石膏漿更多的泡沫，還能夠調製成低密度的石膏漿56。
如上所述，在板狀物的製造裝置50的混合器51中，能夠實施石膏漿製造工序，對作為原料的焼石膏及水、酌情添加的各種添加劑及泡沫進行混煉製造成2種石膏漿55、56。
可以在分取口511a、511b、511c預先設置用於將調製完的石膏漿提供給成形裝置52的送出管512a、512b及管路512c。
圖7中例示了由1台混合器51製造低密度石膏漿及高密度石膏漿的情形，此外也可以設置2台混合器，由各混合器分別製造高密度石膏漿及低密度石膏漿。
以下，關於成形裝置52的結構例進行說明。
成形裝置例如可以包括用於在表面覆蓋原紙53及背面覆蓋原紙54上塗布石膏漿的滾筒塗布器521a、521b及成形機523等。
圖7中，作為表面材料的表面覆蓋原紙53從右側向左側沿著生產線被搬送。
混合器51中獲得的高密度石膏漿55藉由送出管512a、512b，被提供到滾筒塗布器521a、521b的搬送方向之上游側的表面覆蓋原紙53及背面覆蓋原紙54上。
被提供到表面覆蓋原紙53及背面覆蓋原紙54上的高密度石膏漿55，分別到達滾筒塗布器521a、521b的延展部，並被延展部延展。在此，滾筒塗布器521a、521b可以分別具備塗布滾筒5211a、5211b、支承滾筒5212a、5212b、及清渣滾筒5213a、5213b。並且，在覆蓋原紙通過塗布滾筒5211a、5211b與支承滾筒5212a、5212b之間時，能夠在表面覆蓋原紙53及背面覆蓋原紙54上塗佈石膏漿55。
以上述方式，在表面覆蓋原紙53上形成石膏漿55的薄層。然後，表面覆蓋原紙53被彎折，其兩側緣部分向上側延伸後向內側延伸。背面覆蓋原紙54上也形成薄層，但與表面覆蓋原紙53不同，背面覆蓋原紙54不被彎折。另外，圖7中例示了使用滾筒塗布器521a、521b將石膏漿55塗布在表面覆蓋原紙53及背面覆蓋原紙54上的形態，但並不限定於該形態。例如，也可以使用滾筒塗布器521a、521b的任一個，將石膏漿55僅塗布在表面覆蓋原紙53或背面覆蓋原紙54的任一方。此外，還可以將石膏漿55僅配置在表面覆蓋原紙53的側端部，即，寬度方向的端部。
表面覆蓋原紙53被繼續搬送，背面覆蓋原紙54經由轉向滾筒522後其方向被換成表面覆蓋原紙53的搬送線方向。然後，表面覆蓋原紙53及背面覆蓋原紙54兩者沿著同一方向被搬送到成形機523。在此，來自混合器51的低密度石膏 漿56通過管路512c被提供到形成在表面覆蓋原紙31、背面覆蓋原紙36上的薄層之間。由此，在表面覆蓋原紙53與背面覆蓋原紙54之間會形成一個由高密度石膏漿55結構層、低密度石膏漿56結構層、高密度石膏漿55結構層依此順序疊層而成的連續疊層體。接下來，使上述材料通過用於決定石膏板厚度的成形機523，加以成形。按照上述程序，可成形石膏板。
另外，並不限定於使用高密度石膏漿與低密度石膏漿的形態，例如還可以採用製造一種密度的石膏漿，將該石膏漿提供到石膏板用原紙上的形態。
具體而言，例如，向連續搬送的表面覆蓋原紙上提供、堆積規定密度的石膏漿。然後，沿著規定的刻線，對作為表面覆蓋原紙的寬度方向的兩個緣部的兩側緣部分分別進行折疊，使其先向上側延伸之後向內側延伸，由此可包捲該石膏漿堆積層的局部。然後，在被表面覆蓋原紙局部包捲的石膏漿堆積層上，可以蓋上以同速度被搬送的背面覆蓋原紙。接下來，使其通過用於決定石膏板之厚度及寬度的成形機，進行成形。也能夠按照以上程序，成形石膏板。在此情形下，在表面覆蓋原紙與背面覆蓋原紙之間，會形成由一種密度的石膏漿構成的層。
如上所述，在板狀物的製造裝置50的成形裝置52中，可實施對石膏漿進行成形的成形工序，由此能夠製造成作為板狀物且為石膏板半成品的石膏漿成形體。
在成形裝置52的下游側，可以設置上述檢查裝置57。 檢查裝置57中，可根據需要，對作為搬送中的檢查對象的板狀物，即，石膏漿成形體進行檢查。由檢查裝置57進行檢查後，可根據需要，進一步實施規定的加工、處理，形成板狀物，例如石膏板。
關於檢查裝置57的結構已作說明，在此省略贅述。此外，在檢查裝置57中，進行檢查時，若檢測出了規格外的產品或作為半成品的板狀物，可由檢查裝置的顯示部19(參照圖1~圖4)顯示該不符規格的情形。另外，藉由檢查裝置的輸出部429(參照圖6)，能夠向板狀物的製造裝置50的控制部58通知檢測出規格外產品或半成品的情形。在此情形下，板狀物的製造裝置50還可以在任意時間，從生產線或出貨品中排除被檢測出的規格外產品或半成品。在本實施形態的板狀物的製造裝置50具備例如下述切斷裝置的情形下，由切斷裝置進行切斷之後，能夠從生產線或出貨品中排除包含規格外部分的粗切斷物及按產品尺寸切斷的切斷物。
板狀物的製造裝置，如參照圖7說明的那樣，在作為板狀物製造石膏板的情形下，板狀物的製造裝置的控制部58例如能夠發出指令，變更成形機523中的成形條件。另外，例如針對形成用於折疊表面覆蓋原紙53的刻線的裝置，能夠發出變更該刻線的位置及深度的指令。
在此，以作為板狀物製造石膏類建材之一種的石膏板之情形為例進行了說明，但並不限定於該形態。例如，可以將作為表面材的石膏板用原紙變更為玻璃纖維不織布(玻璃組織)、玻璃氈等，藉由將這些材料配置在表面或埋設在表面附 近等的方式，能夠製造成石膏板以外的各種石膏類建材，例如，玻璃氈石膏板、含玻璃纖維不織布的石膏板等。
另外，還能夠製造石膏類建材以外的各種板狀物、例如用於電子配件的構件、各種結構材料等其他陶瓷產品或樹脂產品等。
作為板狀物，在製造上述石膏類建材之外的其他陶瓷產品(熔渣石膏板或水泥板等)、樹脂產品等的情形下，混合元件、成形裝置並不限定於上述結構，可根據原料或所製造的物品，採用適當結構的混合元件及成形裝置。
另外，本實施形態的板狀物的製造裝置並不僅限定於上述的例如採用混合器的混合元件、成形裝置及檢查裝置，可以根據需要設置各種裝置、元件。
例如，本實施形態的板狀物的製造裝置還可以具備用於對漿成形體等進行乾燥的乾燥元件、依照產品尺寸等對被切斷物進行切斷的切斷元件等。
另外，本實施形態的板狀物的製造裝置所具備的檢查裝置57的個數並不限定於1個，還可以在該製造裝置的生產線上的需要進行評價的位置上設置任意個數。
根據以上說明的本實施形態的板狀物的製造裝置，其具備上述檢查裝置。因此，能夠對作為製造、搬送中的半成品或產品的板狀物的寬度方向的端部形狀，及板狀物的寬度進行正確評價，校正製造條件的同時，以良好的成品率製造板狀物。
[檢查方法]
以下，關於本實施形態的檢查方法進行說明。本實施形態的檢查方法例如可由上述檢查裝置實施，因此，關於上文已說明過的事項，在此省略贅述。
本實施形態的檢查方法是用於對搬送中的板狀檢查對象進行檢查的檢查方法，可以包括以下工序。
光照射工序，由光源向與檢查對象的搬送方向正交的寬度方向的端部之側面，照射沿著檢查對象的厚度方向的線狀光。
攝像裝置位置控制工序，根據檢查對象的寬度方向的端部的位置，控制攝像裝置的位置，以能夠對由光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光進行拍攝。
攝像工序，利用攝像裝置，拍攝從光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光。
本實施形態的檢查方法，可以包括向檢查對象的寬度方向的端部之側面照射一沿著檢查對象的厚度方向的線狀光的光照射工序。並且，可以包括利用攝像裝置來拍攝由光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光的攝像工序。
在光照射工序中，從光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面且沿著檢查對象厚度方向的線狀光的形狀，會成為與檢查對象的側面形狀對應的形狀。因此，在攝像工序中，藉由利用攝像裝置拍攝該光的形狀，並對其形狀進行監測等，能夠確認檢查對象的寬度方向的端部形狀的變化，從而能夠對該檢查對象的寬度方向的端部形狀進行優劣判定。並且，例如，還能夠根據拍攝到的光的形狀，算出檢查對象的 寬度方向的端部形狀的參數，對檢查對象的寬度方向的端部形狀進行優劣判定。
在此，如上所述，搬送中的板狀物的檢查對象，該檢查對象的寬度方向的端部之位置有時會有變動。對此，根據本實施形態的檢查方法，為了能夠對從光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光進行拍攝，能夠實施根據檢查對象的寬度方向的端部之位置來控制攝像裝置的位置的攝像裝置位置控制工序。在攝像裝置位置控制工序中，優選根據檢查對象的寬度方向的端部之位置來控制攝像裝置的該寬度方向上的位置。藉由實施攝像裝置位置控制工序，能夠使攝像裝置與檢查對象的寬度方向的端部之間的距離保持固定，從而能夠對搬送中的板狀檢查對象的寬度方向的端部形狀進行正確評價。
此外，上述光照射工序、攝像裝置位置控制工序及攝像工序，例如在搬送檢查對象期間，可同時連續實施各工序。
並且，關於光照射工序中使用的光源、攝像工序中使用的攝像裝置的位置並無特別限定，能夠對檢查對象的寬度方向的端部之側面照射光，並對此進行拍攝即可。尤其是，為了更有效地防止光受到搬送元件等的遮擋，光源的發光部及攝像裝置的受光部優選位於比檢查對象的底面更為上方的位置。
根據本實施形態的檢查方法，例如在檢查開始時等，可以根據攝像裝置拍攝的圖像，調整攝像裝置的位置，以使攝像裝置與檢查對象的寬度方向的端部之間的距離落在規定範 圍。此外，也可以使用上述上部攝像裝置來控制攝像裝置的位置，以能夠更適當地控制攝像裝置的位置。
在此，本實施形態的檢查方法例如還可以包括端部位置檢查工序，由配置在搬送中檢查對象之上方的上部攝像裝置對檢查對象的寬度方向的端部位置進行檢查。
並且，在攝像裝置位置控制工序中，能夠利用端部位置檢查工序的檢查結果，來控制攝像裝置的位置。
在端部位置檢查工序中，具體而言，例如可由上述上部攝像裝置用光源照射出沿著檢查對象之寬度方向的線狀光，並由上部攝像裝置拍攝該線狀光，檢測檢查對象的寬度方向的端部之位置。
並且，在攝像裝置位置控制工序中，可以根據檢測出的檢查對象的寬度方向的端部位置的資訊來控制攝像裝置的位置，具體而言，攝像裝置的該寬度方向上的位置。
此外，在連續實施上述光照射工序、攝像工序的期間，根據攝像工序中拍攝到的圖像，能夠容易地控制攝像裝置的位置。因此，例如也可以僅在檢查開始時實施端部位置檢查工序。
另外，根據本發明的發明者的研究，檢查對象的寬度方向的端部之側面的厚度方向的形狀，及照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的線狀光的形狀，會根據從光源向檢查對象的寬度方向的端部之側面照射的線狀光的入射角而有不同，有時需要進行校正。並且，根據從光源向檢查對象的寬度方向的端部之側面照射的光的入射角，來進行該校正。
因此，優選調整光源位置，以使從光源向檢查對象的寬度方向的端部照射的光的入射角成為所希望的值。在此，本實施形態的檢查方法還可以包括光源位置控制工序，將光源的位置控制成可使照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光的入射角成為預先決定的角度。
關於光源位置控制工序中控制的、從光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光的入射角並無特別限定，例如優選為30度以上60度以下，更優選為40度以上50度以下。尤其是45度的情形下，照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光的形狀成為與檢查對象的寬度方向的端部之側面相同形狀，無需進行校正等，因此更優選45度。
關於實施光源位置控制工序的時間並無特別限定，例如能夠在實施光照射工序、攝像工序、攝像裝置位置控制工序的期間，連續實施。
本實施形態的檢查方法中，如上所述，能夠對攝像工序中拍攝的光的形狀進行監測等，來確認檢查對象的寬度方向的端部形狀的變化，從而能夠對該檢查對象進行優劣判定。另外，例如還能夠根據由攝像裝置拍攝到的光的形狀，算出檢查對象的寬度方向的端部形狀的參數，對檢查對象的寬度方向的端部形狀進行優劣判定。
因此，本實施形態的檢查方法還可以包括以下工序。
端部形狀算出工序，根據在攝像工序拍攝到的從光源照射到檢查對象的寬度方向的端部之側面的光的形狀，算出檢查對象的寬度方向的端部形狀。
端部形狀判定工序，對在端部形狀算出工序中算出的檢查對象的寬度方向的端部形狀進行判定。
在端部形狀算出工序中，例如能夠算出檢查對象的寬度方向的端部的規定面的長度，及構成端部的面之間的角度等。關於具體的算出方法等上文已作說明，在此省略贅述。
然後，在端部形狀判定工序中，可以將端部形狀算出工序中算出的檢查對象的寬度方向的端部形狀，例如參數，與預先設定的規格進行比較，以此對端部形狀進行優劣判定。
另外，在本實施形態的檢查方法中，使攝像裝置追蹤迎合檢查對象的寬度方向的端部位置，因此，還能夠根據攝像裝置的位置資訊來算出檢查對象的寬度方向的長度。
由此，本實施形態的檢查方法還可以包括以下工序。
寬度算出工序，根據攝像裝置的位置來算出檢查對象的寬度。
寬度判定工序，對在寬度算出工序中算出的檢查對象的寬度進行判定。
在寬度算出工序中，例如，藉由從圖1~圖4所示的攝像裝置14A與攝像裝置14B之間的距離，減去攝像裝置14A與檢查對象12的寬度方向的端部121A之間的距離，及攝像裝置14B與檢查對象12的寬度方向的端部121B之間的距離，能夠算出檢查對象的寬度(寬方向長度)。在此，本實施形態的檢查方法中，使攝像裝置根據檢查對象的寬度方向的端部位置進行移動。因此，例如圖1~圖4所示的檢查裝置10中的攝像裝置14A、14B與檢查對象12的寬度方向的端部121A、 121B之間的距離基本保持固定，攝像裝置與檢查對象的寬度方向的端部之間的距離亦可作為常數。此外，例如還可以根據照射到檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B的側面的光於攝像裝置14A、14B拍攝到的攝影圖像中的位置，求出攝像裝置14A、14B與檢查對象12的寬度方向的端部121A、121B之間的距離。
並且，在寬度判定工序中，能夠對藉由寬度算出工序算出的檢查對象的寬度(寬方向長度)進行判定，例如判定其是否符合規格。關於規格值並無特別限定，可以根據本實施形態的檢查方法中提供的檢查對象選擇規格值。
根據以上說明的本實施形態的檢查方法，即使搬送元件上的板狀物的沿著與搬送方向正交的寬度方向的端部之位置在與該搬送方向正交的方向內發生了變化的情形下，也能夠正確檢查該板狀物的端部形狀。
[板狀物的製造方法]
本實施形態的板狀物的製造方法是用於製造板狀物的板狀物製造方法，可以包括以板狀物的中間體或板狀物作為檢查對象並採用上述檢查方法進行檢查的檢查工序。
在此，板狀物是指採用本實施形態的板狀物的製造方法製造成的最終產品。另外，板狀物的中間體是指成為最終產品之前的物體，例如可以舉出連續的板狀形狀物，即，帶狀物，以及對該帶狀物進行粗略切斷之後的粗略切斷物等。
關於採用本實施形態的板狀物的製造方法製造的板狀物的種類並無特別限定，作為板狀物，可以舉出石膏類建材、 用於電子零部件的構件、各種構造材料等其他陶瓷產品及樹脂產品等。
作為石膏類建材，例如可以舉出石膏板、玻璃氈石膏板、含玻璃纖維不織布的石膏板等。因此，作為本實施形態的板狀物製造方法中製造的板狀物，還可以舉出石膏板等。
在此，以作為板狀物製造石膏類建材，尤其是石膏板的情形為例進行說明。
作為板狀物製造石膏板的情形下，該板狀物的製造方法可以包括以下工序。
石膏漿調製工序，對作為石膏漿原料的焼石膏、水、酌情添加的各種添加劑進行混煉，調製成石膏漿。
成形工序，向覆蓋原紙上提供石膏漿，將石膏漿成形為板狀。
硬化工序，使成形工序中獲得的板狀成形體硬化。
以下對各工序進行說明。
(石膏漿調製工序)
在石膏漿調製工序中，對上述焼石膏、水、酌情添加的各種添加劑及泡進行混煉，能夠調製成石膏漿。
例如在板狀物製造裝置中說明的那樣，利用混合器等混練這些原料成份，能夠調製成石膏漿。在此，關於石膏漿的原料已作說明，省略贅述。
(成形工序)
成形工序是將石膏漿調製工序中獲得的石膏漿提供到覆蓋原紙上，並成形為板狀的工序。
板狀物的製造裝置如參照圖7說明的那樣，例如調製成密度不同的石膏漿，並在表面覆蓋原紙53與背面覆蓋原紙54之間依序疊層由高密度的石膏漿55構成的層、由低密度的石膏漿56構成的層、由高密度的石膏漿55構成的層，從而能夠形成連續的積層體。其次，使其通過用於決定石膏板厚度的成形機523，成形為板狀。
(硬化工序)
接下來，能夠實施硬化工序。硬化工序是對成形工序中獲得的成形體進行硬化的工序。
藉由石膏漿中的焼石膏(半水石膏)經水合反應生成二水石膏的針狀結晶而凝結、凝固，能夠實施硬化工序。因此，在成形工序中形成的成形體內，石膏漿中包含的焼石膏與水之間發生反應，即，產生焼石膏的水合反應，以此方式實施硬化工序。
另外，在作為板狀物製造石膏板的情形下，該板狀物的製造方法還可以包括任意的工序。具體而言，例如可以包括以下工序。
第1切斷工序，切斷石膏漿成形體。
乾燥工序，對切斷的石膏漿成形體進行乾燥。
第2切斷工序，切斷石膏板。
(第1切斷工序)
在第1切斷工序中，能夠對石膏漿成形體進行切斷。在此，在成形工序中形成石膏漿成形體之後，石膏漿會逐漸硬化。因此，例如可以在實施硬化工序的期間，或硬化工序結 束之後實施第1切斷工序。其中，優選待硬化工序進行到可對石膏漿成形體進行切斷的程度之後，實施第1切斷工序。
第1切斷工序亦可稱為粗略切斷工序，例如，可根據後續乾燥工序中使用的乾燥機的尺寸等，將石膏漿切斷成所希望的尺寸。
(乾燥工序)
在乾燥工序中，能夠對石膏漿成形體中包含的多餘的水份進行乾燥。在此，可以將完成硬化工序後的成形體提供給乾燥工序。實施乾燥工序時，能夠使用乾燥機對成形體進行強行乾燥。
關於使用乾燥機對成形體進行強制乾燥的方法並無特別限定，例如能夠在成形體的搬送経路上設置乾燥機，使成形體通過乾燥機內，對成形體進行連續乾燥。此外，也可以將成形體搬入乾燥機內，按批對成形體進行乾燥。
(第2切斷工序)
例如，在作為板狀物製造石膏板的情形下，板狀物的製造方法可以包括對石膏板進行切斷的第2切斷工序。
例如可以在乾燥工序之後實施第2切斷工序，切斷成所希望的產品尺寸。
並且，本實施形態的板狀物的製造方法可以包括檢查工序，以板狀物的中間體或板狀物作為檢查對象，採用上述檢查方法進行檢查。
在作為板狀物製造上述石膏板的情形下，例如在成形工序中，形成作為板狀物的石膏漿成形體之後，可以在任意時 間實施任意次數的檢查工序。
根據上述檢查方法，例如能夠對板狀物的端部形狀或寬度進行檢查。由此，例如優選在作為檢查對象的石膏漿成形體、石膏板的形狀及尺寸可能發生變化的工序之後實施檢查工序。
例如，可以在上述成形工序之後立即實施用於檢查石膏漿成形體之形狀的檢查工序。另外，例如可以在第1切斷工序、第2切斷工序、乾燥工序之後立即實施用於檢查對石膏漿成形體的形狀、石膏板的形狀的檢查工序。
在實施檢查工序的情形下，檢查結果，例如在檢測出不符規格的產品或作為半成品的板狀物的情形下，可以在檢查裝置的顯示部19(參照圖1~圖4)顯示不符規格的情形。另外，還能夠向用於製造板狀物的板狀物製造裝置50的控制部58通知檢測出規格外產品或半成品的情形。關於板狀物的製造裝置如參照圖7說明的那樣，若是作為板狀物製造石膏板的情形，板狀物的製造裝置的控制部58例如能夠發出指令變更成形機523的成形條件。此外，例如針對形成用於折疊表面覆蓋原紙53的刻線的裝置，能夠發出變更該刻線的位置或深度的指令。
此外，還可以根據需要，實施從生產線或出貨品中排除不符規格的產品或作為半成品的板狀物的排除工序。關於實施排除工序的時間並無特別限定，例如可以在上述第一切斷工序之後，提供給乾燥工序之前實施。此外，也可以在上述第二切斷工序之後，與作為良品出貨的產品加以區分、排除。
值得一提的是，在此以作為板狀物製造石膏類建材之一種的石膏板的情形為例進行了說明，但並不限定於該形態。例如，藉由將作為表面材的石膏板用原紙替換成玻璃纖維不織布(玻璃組織)或玻璃氈等，藉由配置在表面或埋設在表面附近，能夠製造成石膏板之外的各種石膏類建材，例如，玻璃氈石膏板、含玻璃纖維不織布的石膏板等。
另外，還能夠製造石膏類建材之外的各種板狀物，例如用於電子零部件的構件、各種構造材料等其他陶瓷產品或樹脂產品等。
以上說明的本實施形態的板狀物的製造方法，其包括利用上述檢查方法的檢查工序。因此，能夠對製造、搬送中的半成品或作為產品的板狀物的寬度方向的端部形狀即板狀物的寬度進行正確評價。
以上，根據實施形態等說明了檢查裝置、板狀物的製造裝置、檢查方法、板狀物的製造方法，但本發明並不限定於上述實施形態等。在申請專利範圍所述的本發明主旨範圍內，可進行各種變形、變更。
本申請基於2018年5月14日向日本國專利廳提出的專利申請2018-093297號請求優先權，且，本國際申請引用專利申請2018-093297號的全部內容。

Claims (19)

  1. 一種檢查裝置，對搬送中的板狀檢查對象進行檢查，其包括：光源，向與該檢查對象的搬送方向正交的寬度方向的端部之側面，照射沿著該檢查對象的厚度方向的線狀光；攝像裝置，拍攝從該光源照射到該檢查對象的該寬度方向的端部之側面的該光；攝像裝置用驅動裝置，使該攝像裝置移動；及攝像裝置用控制部，控制該攝像裝置的位置，該攝像裝置用控制部根據依據該檢查對象的該寬度方向的端部的位置來控制該攝像裝置的位置。
  2. 根據申請專利範圍第1項之檢查裝置，其中，該光源的發光部及該攝像裝置的受光部位於比該檢查對象的底面更為上方的位置。
  3. 根據申請專利範圍第1或第2項之檢查裝置，還包括，上部攝像裝置，其配置於搬送中的該檢查對象的上方，檢查該檢查對象的該寬度方向的端部的位置。
  4. 根據申請專利範圍第1至第3項中的任一項之檢查裝置，還包括：光源用驅動裝置，使該光源移動；及光源用控制部，控制該光源的位置，以使照射到該檢查對象的該寬度方向的端部之側面的該光的入射角成為預定角度。
  5. 根據申請專利範圍第1至第4項中的任一項之檢查裝置，還包括，顯示部，顯示該攝像裝置拍攝的、從該光源照射到該檢查對象的該寬度方向的端部之側面的該光的圖像。
  6. 根據申請專利範圍第1至第5項中的任一項之檢查裝置，還包括：端部形狀計算用運算部，根據該攝像裝置拍攝的、從該光源照射到該檢查對象的該寬度方向的端部之側面的該光的形狀，計算該檢查對象的該寬度方向的端部的形狀：及端部形狀判定部，對該端部形狀計算用運算部計算出的該檢查對象的該寬度方向的端部的形狀進行判定。
  7. 根據申請專利範圍第1至第6項中的任一項之檢查裝置，還包括：寬度計算用運算部，根據該攝像裝置的位置，算出該檢查對象的寬度；及寬度判定部，對該寬度計算用運算部計算出的該檢查對象的寬度進行判定。
  8. 一種板狀物的製造裝置，用於製造板狀物，包括根據申請專利範圍第1至第7項中的任一項之檢查裝置，以該板狀物的中間體或該板狀物作為被檢查體對其進行檢查。
  9. 根據申請專利範圍第8項之板狀物的製造裝置，其中，該板狀物是石膏類建材。
  10. 根據申請專利範圍第8項之板狀物的製造裝置，其中，該板狀物是石膏板。
  11. 一種檢查方法，用於對搬送中的板狀檢查對象進行檢查，其包括：光照射工序，從光源向與該檢查對象的搬送方向正交的寬度方向的端部之側面，照射沿著該檢查對象的厚度方向的線狀光；攝像裝置位置控制工序，根據該檢查對象的該寬度方向的端部的位置來控制攝像裝置的位置，以能夠對從該光源照射到該檢查對象的該寬度方向的端部之側面的該光進行拍攝；攝像工序，藉由該攝像裝置拍攝從該光源照射到該檢查對象的該寬度方向的端部之側面的光。
  12. 根據申請專利範圍第11項之檢查方法，該光源的發光部與該攝像裝置的受光部位於比該檢查對象的底面更為上方的位置。
  13. 根據申請專利範圍第11或第12項之檢查方法，其中，還包括端部位置檢查工序，由配置在搬送中的該檢查對象上方的上部攝像裝置檢查該檢查對象的該寬度方向的端部的位置，在該攝像裝置位置控制工序中，利用該端部位置檢查工序的檢查結果，控制該攝像裝置的位置。
  14. 根據申請專利範圍第12或第13項之檢查方法，其中，還包括光源位置控制工序，控制將該光源的位置，以使照射到該檢查對象的該寬度方向的端部之側面的該光的入射角成為預定角度。
  15. 根據申請專利範圍第11至第14項中的任一項之檢查方法，還包括：端部形狀算出工序，根據在該攝像工序拍攝的、從該光源照射到該檢查對象的該寬度方向的端部之側面的光的形狀，算出該檢查對象的該寬度方向的端部的形狀；及端部形狀判定工序，對藉由該端部形狀算出工序中計算出的該檢查對象的該寬度方向的端部的形狀進行判定。
  16. 根據申請專利範圍第11至第15項中的任一項之檢查方法，還包括：寬度算出工序，根據該攝像裝置的位置，計算該檢查對象的寬度；及寬度判定工序，對藉由該寬度算出工序算出的該檢查對象的該寬度進行判定。
  17. 一種板狀物的製造方法，用於製造板狀物，包括檢查工序，以該板狀物的中間體或該板狀物作為檢查對象，採用申請專利範圍第11至第16項中的任一項之檢查方法進行檢查。
  18. 根據申請專利範圍第17項之板狀物的製造方法，其中， 該板狀物是石膏類建材。
  19. 根據申請專利範圍第17項之板狀物的製造方法，其中，該板狀物是石膏板。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7192760B2 (ja) * 2019-12-24 2022-12-20 トヨタ自動車株式会社 異物検査方法および異物検査装置
CN115503097A (zh) * 2022-10-24 2022-12-23 浙江省建材集团浙西建筑产业化有限公司 一种具有自动化质检功能预制pc构件高效生产线

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4070939A (en) * 1976-10-06 1978-01-31 The Goodyear Tire & Rubber Company Edge control for calender covering industrial belting
JPH05346319A (ja) 1992-06-15 1993-12-27 Yamatake Honeywell Co Ltd 板状連続物体の面検査装置
JPH07270125A (ja) * 1994-03-30 1995-10-20 Kawasaki Steel Corp 板材の板幅・蛇行量検出装置
US5569835A (en) * 1994-08-10 1996-10-29 Ultrasonic Arrays, Inc. Reference wire compensation method and apparatus
JPH10142159A (ja) * 1996-11-07 1998-05-29 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板の側面外観検査装置とこれを用いた検査方法
US6556783B1 (en) * 1997-01-16 2003-04-29 Janet L. Gelphman Method and apparatus for three dimensional modeling of an object
US5920735A (en) * 1997-01-16 1999-07-06 Gelphman; Janet L. Method and apparatus to observe the geometry of relative motion
JPH10221012A (ja) * 1997-02-06 1998-08-21 Fuji Xerox Co Ltd エッジ位置計測方法
JP3377753B2 (ja) * 1998-08-28 2003-02-17 吉野石膏株式会社 エッジ角度検出装置及びエッジ角度検出方法
JP2000292123A (ja) * 1999-04-05 2000-10-20 Toshiba Corp 形状測定装置
US6432729B1 (en) * 1999-09-29 2002-08-13 Lam Research Corporation Method for characterization of microelectronic feature quality
KR20030085291A (ko) * 2002-04-30 2003-11-05 주식회사 포스코 레이저빔을 이용한 폭 측정장치 및 방법
JP3963219B2 (ja) * 2002-08-27 2007-08-22 学校法人東京電機大学 非接触式形状計測装置
JP2004257859A (ja) * 2003-02-26 2004-09-16 Nisshin Steel Co Ltd 金属帯のエッジ形状検出方法
US7968859B2 (en) * 2003-07-28 2011-06-28 Lsi Corporation Wafer edge defect inspection using captured image analysis
JP4293016B2 (ja) * 2004-03-03 2009-07-08 Ｊｆｅスチール株式会社 幅測定方法及び幅測定装置
US7187446B2 (en) * 2004-07-26 2007-03-06 Fuji Photo Film Co., Ltd. Measuring apparatus
DE202005009517U1 (de) * 2005-06-16 2005-08-25 Sick Ag Lichtgitter zur Vermessung eines Objekts
JP5732637B2 (ja) * 2007-06-01 2015-06-10 株式会社山梨技術工房 ウェハ周縁端の異物検査方法、及び異物検査装置
JP5078583B2 (ja) 2007-12-10 2012-11-21 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション マクロ検査装置、マクロ検査方法
US20130057678A1 (en) * 2010-05-17 2013-03-07 Ford Espana S.L. Inspection system and method of defect detection on specular surfaces
JP5791298B2 (ja) * 2011-02-14 2015-10-07 キヤノン株式会社 シート搬送装置および記録装置
US20130021472A1 (en) * 2011-07-21 2013-01-24 Hirohiko Iwase Apparatus for detecting end of strip and method of doing the same
JP2013134198A (ja) * 2011-12-27 2013-07-08 Jfe Steel Corp 山形鋼の端部形状検出方法、端部形状検査方法、端部形状検出装置、及び端部形状検査装置
US9861329B2 (en) * 2012-10-11 2018-01-09 Samsung Electronics Co., Ltd. X-ray apparatus and method of capturing X-ray image
US9651500B2 (en) * 2013-06-24 2017-05-16 Yoshino Gypsum Co., Ltd. Sizing defect detection system and sizing defect detection method
US9745222B2 (en) * 2015-07-23 2017-08-29 United States Gypsum Company Apparatus and methods for producing gypsum wallboard
CN105057229B (zh) * 2015-08-24 2017-08-01 东莞劲胜精密组件股份有限公司 一种喷涂表面缺陷检测机
JP6883969B2 (ja) * 2016-10-07 2021-06-09 トピー工業株式会社 圧延材の疵検出システム
JP2018093297A (ja) 2016-11-30 2018-06-14 キヤノン株式会社 光電変換装置、撮像システム
JP6595662B1 (ja) * 2018-05-30 2019-10-23 Ｃｋｄ株式会社 検査装置及びｐｔｐ包装機

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