TW201919778A

TW201919778A - 粉體分級裝置

Info

Publication number: TW201919778A
Application number: TW107133555A
Authority: TW
Inventors: 直原健司; 井川友介; 大西達也; 吉川徹; 小澤和三
Original assignee: 日商日清製粉集團本社股份有限公司; 日商日清工程股份有限公司
Priority date: 2017-09-27
Filing date: 2018-09-25
Publication date: 2019-06-01
Also published as: JP6982090B2; CN111194244B; CN111194244A; KR102384859B1; US20210078044A1; JPWO2019065315A1; TWI787356B; WO2019065315A1; US11154907B2; KR20200041945A

Abstract

本發明係提供：既可維持分級精度，又可將分級點變得更小的粉體分級裝置。
本發明的粉體分級裝置，係具有：被相對向的兩個構件包挾而構成的圓盤狀的離心分離室；用來將氣體供給到離心分離室內而使其產生迴旋流的氣體供給部；用來將原料粉體供給到在離心分離室內所產生的迴旋流的原料供給部；具有可將含有在離心分離室內被分級後的細粉的氣體排出離心分離室外的開口部之細粉回收部；設在離心分離室的外緣部並且與離心分離室內相連通，可將在離心分離室內被分級後的粗粉排出離心分離室外之粗粉回收部；設置在構成離心分離室之至少其中一方的構件之離心分離室的中央部與離心分離室的外緣部之間的領域內的圓環狀的狹縫。

Description

粉體分級裝置

本發明係關於：利用以氣體形成的迴旋流帶給粉體的離心力與抗力之平衡，來將具有粒度分布的原料粉體，在所期望的粒徑(分級點)予以分級成細粉與粗粉之粉體分級裝置，尤其是關於：既可維持分級精度，又可將分級點變得更小的粉體分級裝置。

現在，氧化物微粒子、氮化物微粒子、以及碳化物微粒子之類的微粒子，已經被使用在各種領域，例如用來製造：半導體基板、印刷電路板、各種電性絶緣零件等的電性絶緣材料；切削工具、模具、軸承等的高硬度高精度的機械工作材料；濕度感應器等的功能性材料；精密燒結成形材料等的燒結體；引擎閥門等的要求高溫耐磨損性的材料等的熔射(濺鍍)零件；燃料電池的電極、電解質材料及各種觸媒等。藉由使用這種微粒子，可以提昇在燒結體以及熔射(濺鍍)零件中的不同種類的陶瓷彼此之間或者不同種類的金屬彼此之間的接合強度以及緻密性、甚至於功能性。

上述的微粒子，是將各種氣體等，以利用高溫使其產生化學化反應的化學性方法、或者利用照設電子束或雷射等的光束來使物質分解和蒸發而生成微粒子的物理性方法等，來製造的。以上述的製造方法所製造出來的微粒子，具有粒度分布，係粗粉與細粉混合在一起。如果是使用於上述的用途的話，若在微粒子當中含有的粗粉的比率較低的話係可獲得良好的特性，所以是比較好。又，針對於金屬微粒子而言，也是含有的粗粉的比率較低的話係可獲得良好的特性，所以是比較好。
因此，例如：使用迴旋流來促使粉體進行迴旋運動進而被離心分離成粗粉與細粉之粉體分級裝置，乃受到廣泛的利用。

例如：專利文獻1所記載的粉體分級裝置，是將具有粒度分布的粉體利用氣流運送來進行供給的粉體分級裝置。專利文獻1的粉體分級裝置，是具備：用來將被供給之具有粒度分布的粉體予以分級的空間也就是被挖空成圓盤狀的空洞(圓盤狀空洞部)；將具有粒度分布之粉體供給到圓盤狀空洞部的粉體供給口；被配置成從圓盤狀空洞部的外周以既定的角度朝往內部方向延伸之複數個導引簧片；從圓盤狀空洞部排出的含有細粉的空氣流的排出部；從圓盤狀空洞部排出的粗粉的回收部；以及複數個氣體噴嘴，其係位於複數個導引簧片的下方，配置在圓盤狀空洞部的外周壁的切線方向上，用來將壓縮空氣吹入圓盤狀空洞部的內部之粗粉的回收部側，以使得位在粗粉的回收部側的細粉被吹回到圓盤狀空洞部。

又，專利文獻2所記載的分級裝置，是將從設在裝置本體的上部的供給口進行供給的粉體，在裝置本體內一邊迴旋一邊往下方引導，並且在裝置本體內的中心部，設置了在上端具有吸引口之由多重管所構成的吸引管，並且將一邊迴旋一邊被往下方引導的粉體中之粒徑較小的粉體，從吸引口經由吸引管進行吸引之分級裝置。
專利文獻2，是經由以多重管所構成的吸引管，將分別不同粒徑大小的粉體，分別地進行吸引而予以回收。
[先前技術文獻]
[專利文獻]

[專利文獻1] 日本特許第4785802號公報
[專利文獻2] 日本特開2000-107698號公報

[發明所欲解決的技術課題]

專利文獻1的粉體分級裝置，雖然是可以將具有粒度分布的原料粉體，在所期望的粒徑(分級點)，予以分級為細粉和粗粉，但是，因為最近的趨勢所要求的細粉的粒徑變得更小，所以期望在粉體分級裝置中的分級點能夠更微小化。
又，專利文獻2的裝置，是以一次的分級操作來將一種原料粉體進行分級，經由上述之以多重管所構成的吸引管，利用構成多重管的各個單管，分別進行回收粒徑不同的粉體。
因此，專利文獻2的裝置，是可利用構成多重管之各個單管來分別進行回收粉體，而可使得被各個單管回收後的各粉體的粒徑的差異變小，但是，分級點是取決於各吸引管的風量的平衡，並無法達成分級點的微小化。

本發明之目的是提供：能夠解決前述傳統技術所存在的問題點，既可維持分級精度又可將分級點變得更小之粉體分級裝置。

[用以解決課題的技術方案]

為了達成上述目的，本發明所提供的粉體分級裝置，是用來將具有粒度分布的原料粉體予以分級為細粉和粗粉之粉體分級裝置，其特徵為，其係具有：
作為被相對向的兩個構件所包挾的空間來構成之圓盤狀的離心分離室；用來將氣體供給到離心分離室內使其產生迴旋流的氣體供給部；用來將原料粉體供給到在離心分離室內所產生的迴旋流的原料供給部；設在離心分離室之其中一方的構件的中央部，並且係與離心分離室內相連通之具有可將含有在離心分離室內被分級後的細粉的氣體排出離心分離室外的開口部之細粉回收部；設在離心分離室的外緣部，並且係與離心分離室內相連通之用來將在離心分離室內被分級後的粗粉排出離心分離室外之粗粉回收部；圓環狀的狹縫，其係設置在構成離心分離室之相對向的兩個構件的至少其中一方的構件中之離心分離室的中央部與離心分離室的外緣部之間的領域，並且係與離心分離室內相連通，係用來將離心分離室內的氣體排出離心分離室外；圓筒狀的第一壁部，其係設在由細粉回收管所形成的離心分離室的開口部，並且朝往離心分離室內突出；圓筒狀的第二壁部，其係設在離心分離室之另一方的構件，與第一壁部相對向且隔開既定的間隙；而狹縫的內徑係大於開口部的外徑。

圓環狀的狹縫，是設在構成離心分離室之相對向的兩個構件中的設有開口部的構件，並且開口部與圓環狀的狹縫係配置成同心圓狀為宜。
圓環狀的狹縫，係設在構成離心分離室之相對向的兩個構件中之未設有開口部的構件為宜。
圓環狀的狹縫，是設置在構成離心分離室之相對向的兩個構件上，並且設置在設有開口部的構件上的圓環狀的狹縫，是配置成與開口部呈同心圓狀為宜。
圓環狀的狹縫的吸入口，是面向著設有圓環狀的狹縫的構件，或者圓環狀的狹縫的吸入口的吸入面，是與開口部的開口面正交為宜。
圓環狀的狹縫，係具有曲折的流路為宜。
圓環狀的狹縫，係具有較之吸入口寬度更大的流路為宜。
圓環狀的狹縫的吸引量，係小於細粉回收部的吸引量為宜。

[發明之效果]

根據本發明，在粉體抵達細粉回收部之前，利用圓環狀狹縫從應該被細粉回收部回收的細粉之中，先將粗粉予以回收，因此，既可維持分級精度，又可將分級點變得更小，而可獲得粒徑更小的細粉。

茲依照附圖所示的較佳適實施方式，詳細說明本發明的粉體分級裝置如下。
第1圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第1例的示意剖面圖；第2圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第1例的狹縫的配置位置之示意圖。
第1圖所示的粉體分級裝置10，係利用由氣體所形成的迴旋流所帶給粉體的離心力與抗力之兩者的平衡，來對於具有粒度分布的原料粉體，在所期望的粒徑(分級點)，予以分級成細粉與粗粉之粉體分級裝置10。例如：第1圖所示的粉體分級裝置10的構成方式，係利用後述的圓環狀的狹縫50，從單一個方向取出粗粉P_c2 。

第1圖所示的粉體分級裝置10，例如：是具有圓筒狀的機殼12。在機殼12的內部，形成有圓形狀的上部圓盤狀部14。與上部圓盤狀部14呈相對向且隔開既定的間隔，係配置著外形略呈圓狀的下部圓盤狀部16。上部圓盤狀部14與下部圓盤狀部16是在H方向上互相對向。
略呈圓盤形狀的離心分離室18，是被區隔形成在上部圓盤狀部14與下部圓盤狀部16之間，離心分離室18之周方向的外周是被機殼12的環狀部19所環繞封閉著。是以，離心分離室18是由互相對向的上部圓盤狀部14與下部圓盤狀部16所包挾的空間。上部圓盤狀部14與下部圓盤狀部16都是構成離心分離室18的空間之構件。

在上部圓盤狀部14的中央部，形成有開口部14a，開口部14a是與離心分離室18相連通。開口部14a，例如：是圓形。
上部圓盤狀部14，係沿著開口部14a的邊緣，設置了朝往離心分離室18內突出的第一壁部20。第一壁部20，例如：是由具有與開口部14a相同大小的內徑之圓筒構件所構成的。第一壁部20與開口部14a是相連通。係以與第一壁部20相對向且隔開既定的間隔來形成間隙23的方式，在另一方的構件亦即下部圓盤狀部16上設置了圓筒狀的第二壁部22。第一壁部20與第二壁部22係配置在離心分離室18的W方向上的中央部。這個W方向係與H方向正交的方向。
上部圓盤狀部14之面向離心分離室18的表面部24，例如：是以與W方向平行的平面所構成的。
下部圓盤狀部16之面向離心分離室18的表面部26，例如：是以與W方向平行的平面所構成的。

在開口部14a設置有一個細粉回收管30，其係朝往與機殼12的表面12a垂直的方向延伸出去。這個垂直的方向，係與上述H方向平行的方向。
細粉回收管30，是用來將含有離心分離室18內被分級後的細粉Pf的氣體，經由間隙23而排出到離心分離室18外的構件。在細粉回收管30之位於與離心分離室18相反側的端部30c，例如：係中介著袋式過濾網(未圖示)等而連接到抽風機(未圖示)。利用袋式過濾網(未圖示)、以及抽風機(未圖示)等，來構成細粉回收裝置。再者，係利用細粉回收管30來構成細粉回收部。
又，在下部圓盤狀部16的外端部16a與機殼12之間具有間隙39。間隙39係位於離心分離室18的外緣部。在機殼12的下方，例如：係設置了中空圓錐台狀的粗粉回收室28。離心分離室18與粗粉回收室28是利用間隙39而連通在一起。又，離心分離室18的外緣部，其在H方向上的高度是比中央部更高，離心分離室18的外緣部係沿著H方向擴大。

粗粉回收室28，係用來將在離心分離室18內被分級後的粗粉P_c1 排出到離心分離室18外的構件。在粗粉回收室28係設置了用來收集被分級後的粗粉之粗粉回收管(未圖示)。在粗粉回收管的下端，是中介著旋轉閥(未圖示)而設置了料斗(未圖示)。在離心分離室18內被分級後的粗粉P_c1 是間隙39通過粗粉回收室28且經由粗粉回收管而被回收到料斗。粗粉回收室28係構成粗粉回收部。

在機殼12的環狀部19，係在H方向上的細粉回收管30側，設置了複數個第一氣體噴嘴34。又，在環狀部19，係在H方向上之第一氣體噴嘴34的下方，設置了第二氣體噴嘴38。
第一氣體噴嘴34係沿著離心分離室18的外緣，設置了複數個，分別都是與離心分離室18的外緣的切線方向維持著既定的角度，並且是在離心分離室18的周方向上彼此保持著均等的間隔，配置了複數個例如：6個。
雖然並未詳細地圖示出來，但是，第二氣體噴嘴38也是與第一氣體噴嘴34同樣地，沿著離心分離室18的外緣設置了複數個，分別都是與離心分離室18的外緣的切線方向維持著既定的角度，並且是在離心分離室18的周方向上彼此保持著均等的間隔，配置了複數個例如：6個。利用第一氣體噴嘴34與第二氣體噴嘴38來構成氣體供給部。

第一氣體噴嘴34與第二氣體噴嘴38，分別都是連接到加壓氣體供給部(未圖示)。從加壓氣體供給部將既定的壓力的氣體供給到第一氣體噴嘴34以及第二氣體噴嘴38，並且分別噴出加壓氣體，如此一來，就在離心分離室18內形成互相朝往同一方向進行迴旋的迴旋流。此外，氣體雖然可以配合欲進行分級的原料粉體、或目的等而作適當的選擇，但亦可採用例如：空氣來作為氣體。如果原料粉體會與空氣產生反應的話，則可改用不會產生反應之別種氣體。
第一氣體噴嘴34、以及第二氣體噴嘴38的設置個數，並未限定為上述的個數，可以是單一個也可以複數個，可因應裝置結構等的因素來作適當的選擇。
又，第二氣體噴嘴38並不侷限為噴嘴，也可以是導引簧片等，係可因應裝置結構等的因素來作適當的選擇。

在機殼12的表面12a上，是在W方向上與細粉回收管30隔開既定的間隔，設置了供給管42。供給管42是設在機殼12的外緣部。例如：在供給管42的上部，設置了用來對於離心分離室18內供給原料粉體Ps的原料供給部40。供給管42，係由例如：上部呈中空圓錐台狀，而且與機殼12相連接的連接部是直徑固定的管所構成的。

在上部圓盤狀部14中，係在離心分離室18的中央部與離心分離室18的外緣部之間的領域內，設置了與離心分離室18內相連通的圓環狀的狹縫50。圓環狀的狹縫50，是用來將離心分離室18內的氣體排出到離心分離室18外的狹縫，並且是設在開口部14a的外側。
例如：在細粉回收管30的外周30b，係隔著間隙配置了管52。在細粉回收管30與管52之間，配置了規制構件31，因而構成了具有既定的寬度之圓環狀的狹縫50。圓環狀的狹縫50，係藉由設置在細粉回收管30的外周30b的規制構件31來形成既定的寬度，而在不具有規制構件31的部分，其間隙就變得很大。亦即，在不具有規制構件31的部分，圓環狀的狹縫50的寬度變得很大，圓環狀的狹縫50是具有寬度比吸入口50a的寬度更大的流路54。
管52的其中一部分是彎曲成約90°。在管52之彎曲終端的端部52c處，例如：是中介著袋式過濾網(未圖示)等而連接到抽風機(未圖示)。利用袋式過濾網(未圖示)以及抽風機(未圖示)等，來構成粗粉回收裝置。
如第2圖所示，圓環狀的狹縫50之狹縫的內徑Dr是較之開口部14a的第一壁部20的外徑Dc更大。開口部14a與圓環狀的狹縫50係配置成同心圓狀。

利用抽風機來對於管52內進行抽吸，而從圓環狀的狹縫50的吸入口50a，將含有被供給到離心分離室18內的原料粉體Ps中之大於細粉Pf且小於粗粉P_c1 的小粉體(以下，亦稱為粗粉P_c2 )之氣體，予以排出到離心分離室18外。如此一來，粗粉P_c2 就被去除掉。此外，細粉Pf、粗粉P_c1 、粗粉P_c2 之關係為：Pf＜P_c2 ＜P_c1 。
第1圖所示的粉體分級裝置10，係藉由設置了圓環狀的狹縫50，而能夠從原料粉體Ps中，除了粗粉P_c1 之外，亦可去除掉較之細粉Pf的粒徑更大的粗粉P_c2 。如此一來，可將所獲得的細粉Pf的粒徑變得更小。基於這種功效，因而能夠既維持分級精度，又能夠將分級點變得更小。
此外，圓環狀的狹縫50的吸引量，是小於細粉回收管30(細粉回收部)的吸引量為宜。
因為如果圓環狀的狹縫50的吸引量太大的話，用來在離心分離室18內形成的迴旋流時所使用的氣體將會變少，因此，迴旋流本身將會變弱，取決於迴旋流的強度之細粉Pf的粒徑反而會變大。

其次，說明粉體分級裝置的第2例。
第3圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第2例的示意剖面圖。
在第3圖所示的粉體分級裝置10a中，與第1圖所示的粉體分級裝置10相同的構件，都標示相同的符號，並省略其詳細的說明。
第3圖所示的粉體分級裝置10a與第1圖所示的粉體分級裝置10互相比較，上部圓盤狀部14的表面部24以及下部圓盤狀部16的表面部26的構成方式不同，其他的結構都採用與第1圖所示的粉體分級裝置10相同的結構。第3圖所示的粉體分級裝置10a，係可獲得與第1圖所示的粉體分級裝置10相同的效果。

在第3圖所示的粉體分級裝置10a中，上部圓盤狀部14之面向離心分離室18的表面部24，係在接近圓筒狀的第一壁部20的這一側形成有傾斜部24b。下部圓盤狀部16之面向離心分離室18的表面部26，係在接近圓筒狀的第二壁部22的這一側形成有傾斜部26b。傾斜部24b與傾斜部26b都是由平面來構成的斜面，其剖面形狀是以直線來傾斜成讓離心分離室18的高度變高。

相對於與上部圓盤狀部14的W方向的平行線之傾斜部24b的角度以及下部圓盤狀部16的傾斜部26b的角度都是以θ來表示。θ角度是落在5°～30°的範圍為宜，更好是在10°～20°。θ角度若是落在5°～30°之範圍的話，將原料粉體Ps分級成：細粉Pf與粗粉P_c1 、粗粉P_c2 的情況下，可使分級點趨於微小化。
上部圓盤狀部14的傾斜部24b的θ角度與下部圓盤狀部16的傾斜部26b的θ角度，可以是相同，也可以是不同。

其次，說明粉體分級裝置的第3例。
第4圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第3例的示意剖面圖。
在第4圖所示的粉體分級裝置10b中，與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的構件，都標示相同的符號，並省略其詳細的說明。
第4圖所示的粉體分級裝置10b，與第3圖所示的粉體分級裝置10a相較，兩者之圓環狀的狹縫50的結構、細粉回收管30的結構不同，其他的結構則是採用與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的結構。
第4圖所示的粉體分級裝置10b，細粉回收管30是採用直管。細粉回收管30的前端部30a係配置成突出到離心分離室18內。在粉體分級裝置10b中，細粉回收管30的前端部30a係構成第一壁部20，細粉回收管30的前端部30a的開口亦即第一壁部20的開口係作為開口部14a。
在細粉回收管30的外周30b，係隔著間隙而配置著管52。管52在吸入口50a這一側，係具有朝往間隙伸出的伸出部52b。藉由細粉回收管30的外周30b與伸出部52b來構成圓環狀的狹縫50，圓環狀的狹縫50具有既定的寬度。第4圖所示的粉體分級裝置10b，即使圓環狀的狹縫50的位置是細粉回收管30的外周30b，亦可獲得與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的效果。

其次，說明粉體分級裝置的第4例。
第5圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第4例的示意剖面圖。
在第5圖所示的粉體分級裝置10c中，與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的構件，都標示相同的符號，並省略其詳細的說明。
第5圖所示的粉體分級裝置10c，與第3圖所示的粉體分級裝置10a相較，兩者之圓環狀的狹縫50的結構不同，其他的結構則是採用與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的結構。
第5圖所示的粉體分級裝置10c，圓環狀的狹縫50的內徑較大，而且是設在離心分離室18的外緣部這一側。管52之位於圓環狀的狹縫50這一側的端是加以擴徑，而具有擴徑部52d。在擴徑部52d係配置了設在細粉回收管30的外周上的規制構件33。藉由擴徑部52d與規制構件33，使得圓環狀的狹縫50的流路變得曲折。再者，規制構件33之位於離心分離室18這一側的端面係呈傾斜，係利用規制構件33來構成傾斜部24b。
第5圖所示的粉體分級裝置10c，圓環狀的狹縫50係配置在離心分離室18的外緣部這一側，而且圓環狀的狹縫50的流路雖然係呈曲折，但是還是能夠如上所述地將粗粉P_c2 予以回收，可獲得與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的效果。

其次，說明粉體分級裝置的第5例。
第6圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第5例的示意剖面圖，第7圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第5例的狹縫的配置位置之示意剖面圖。
在第6圖以及第7圖所示的粉體分級裝置10d中，與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的構件，都標示相同的符號，並省略其詳細的說明。
第6圖所示的粉體分級裝置10d，與第3圖所示的粉體分級裝置10a相較，兩者之圓環狀的狹縫50的結構不同，其他的結構則是採用與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的結構。

第6圖所示的粉體分級裝置10d之圓環狀的狹縫50，係如第7圖所示，吸入口50a的吸入面50b的方向不同，並非與開口部14a的開口面14b平行，而是與開口部14a的開口面14b正交。再者，圓環狀的狹縫50係具有與吸入口50a的寬度相同之曲折的流路51。這個流路51係與寬度比吸入口50a更大的流路54相連通。圓環狀的狹縫50之其中一部分，係利用傾斜部24b朝往規制構件31延伸而構成的。
第6圖所示的粉體分級裝置10d，係如第7圖所示，吸入口50a的吸入面50b與開口部14a的開口面14b係正交，雖然是具有上述的曲折的流路51之圓環狀的狹縫50，還是能夠如上所述地將粗粉P_c2 予以回收，可獲得與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的效果。

其次，說明粉體分級裝置的第6例。
第8圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第6例的示意剖面圖。
在第8圖所示的粉體分級裝置10e中，與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的構件，都標示相同的符號，並省略其詳細的說明。
第8圖所示的粉體分級裝置10e，與第3圖所示的粉體分級裝置10a相較的不同點，係在於具有兩個圓環狀的狹縫50、62的這一點，其他的結構則是採用與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的結構。

第8圖所示的粉體分級裝置10e，圓環狀的狹縫50與圓環狀的狹縫62係設置成相對向。圓環狀的狹縫62係設在下部圓盤狀部16。
圓環狀的狹縫62，吸入口62a係設置成面向傾斜部26b。具有與吸入口62a相連通且較之吸入口62a的寬度更大的流路64。
圓環狀的狹縫62係與圓環狀的狹縫50同樣地，狹縫的內徑(未圖示)是大於開口部14a的第一壁部20的外徑Dc(請參照第2圖)。從機殼12的表面12a側朝H方向觀看時，例如：開口部14a與圓環狀的狹縫62係配置成同心圓狀。亦即，開口部14a、圓環狀的狹縫50、圓環狀的狹縫62係配置成同心圓狀。

在下部圓盤狀部16的下表面16b，係設有一個與流路64相連通之中空圓錐台狀的回收室66。在回收室66係設有排出管68。在排出管68的端部68c，例如：係中介著袋式過濾網(未圖示)等，而連接到抽風機(未圖示)。利用袋式過濾網(未圖示)以及抽風機(未圖示)等，來構成粗粉回收裝置。
利用抽風機對於排出管68內進行抽風的話，就可以從圓環狀的狹縫62的吸入口62a，將包含在被供給到離心分離室18內的原料粉體Ps中的粗粉P_c2 予以排出到離心分離室18外。藉此，就可以除去粗粉P_c2 。
第8圖所示的粉體分級裝置10e中，係設置了圓環狀的狹縫50與圓環狀的狹縫62，可將粗粉P_c2 從離心分離室18之上下兩個方向予以去除，而可獲得與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的效果。

第8圖所示的粉體分級裝置10e的結構，雖然製作成：設置了圓環狀的狹縫50與圓環狀的狹縫62，而可從離心分離室18的上下方向去除粗粉P_c2 的結構，但並不侷限於此，亦可製作成如第9圖所示的粉體分級裝置10f的第7例這樣地，並未在上部圓盤狀部14設置圓環狀的狹縫50，只在下部圓盤狀部16設置圓環狀的狹縫62，只從一個方向來去除粗粉P_c2 的結構。這種情況下，若從機殼12表面12a側朝H方向觀看時，例如：開口部14a與圓環狀的狹縫62係配置成同心圓狀。
粉體分級裝置10f，利用抽風機對於排出管68內進行抽風的話，就可藉由圓環狀的狹縫62，可將含在被供給到離心分離室18內的原料粉體Ps之中的粗粉P_c2 予以排出到離心分離室18外。藉此，可去除掉粗粉P_c2 。亦可以這種方式製作成：在未設有開口部14a的構件上，設置了圓環狀的狹縫62的結構，而且亦可獲得與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的效果。

此外，圓環狀的狹縫，只要是在構成離心分離室18之相對向的上部圓盤狀部14與下部圓盤狀部16之兩個構件之中，至少是設在其中一方的構件上即可，亦可採用如第9圖所示的粉體分級裝置10f這種只在下部圓盤狀部16上設置圓環狀的狹縫62的結構。
又，圓環狀的狹縫，係配置成與開口部形成同心圓狀為宜。若圓環狀的狹縫是設置在：未設有開口部的構件(下部圓盤狀部16)的情況下，從機殼12的表面12a側朝H方向觀看時，例如：開口部14a與圓環狀的狹縫62係配置成同心圓狀為宜。

其次，說明粉體分級裝置的第8例。
第10圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第8例的示意剖面圖。
在第10圖所示的粉體分級裝置10g中，與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的構件，都標示相同的符號，並省略其詳細的說明。
第10圖所示的粉體分級裝置10g，與第3圖所示的粉體分級裝置10a的不同點，係在於：設置了導引簧片70來取代第二氣體噴嘴38的這一點，其他的結構則是採用與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的結構。

第10圖所示的粉體分級裝置10g，係與第3圖所示的粉體分級裝置10a中的第二氣體噴嘴38同樣地，係沿著離心分離室18的外緣，設置了複數個導引簧片70。又，導引簧片70係設在環狀部19，而且是在H方向中的第一氣體噴嘴34的下方。導引簧片70係與第一氣體噴嘴34同樣地，每一個都是對於離心分離室18的外緣的切線方向具有既定的角度，彼此保持均等間隔地配置在離心分離室18的周方向上。
在複數個導引簧片70的外周部，係具有：用來囤積氣體並且可將氣體供給到離心分離室18內之推入室72。推入室72係連接於加壓氣體供給部(未圖示)。將來自加壓氣體供給部之既定的壓力的氣體，經由推入室72而從複數個導引簧片70之間供給加壓氣體。對於第一氣體噴嘴34以及導引簧片70分別供給加壓氣體，如此一來，可使得離心分離室18內產生迴旋流。

在粉體分級裝置10g中，原料粉體Ps是在一邊在離心分離室18內部迴旋一邊朝下方移動的期間進行離心分離，而導引簧片70的功能則是用來調整：在離心分離時的原料粉體Ps的迴旋速度。各導引簧片70，例如：是利用轉軸(未圖示)而可轉動地被樞支在環狀部19，並且利用卡止銷(未圖示)而被卡止在轉動板(未圖示)。例如：可藉由將轉動板進行轉動，而使得全部的導引簧片70都同時轉動既定的角度。藉由將轉動板進行轉動而使得全部的導引簧片70都轉動既定的角度，將可以調整各導引簧片70的間隔，而得以改變通過導引簧片70的間隔之氣體例如：空氣的流速。如此一來，即可改變分級點等的分級性能。此外，藉由設置導引簧片70，係可擴大分級點的選擇範圍。第10圖所示的粉體分級裝置10g亦可獲得與第3圖所示的粉體分級裝置10a相同的效果。

雖然是採用：以設置了導引簧片70來取代第3圖所示的粉體分級裝置10a的第二氣體噴嘴38的結構，但並不侷限於此。亦可在第1圖所示的粉體分級裝置10、以及第4圖所示的粉體分級裝置10b～第9圖所示的粉體分級裝置10f中，採用：以設置了導引簧片70來取代第二氣體噴嘴38的結構。

又，在第5圖所示的粉體分級裝置10c之第3例～第10圖所示的粉體分級裝置10g之第8例中，雖然是採用：具有傾斜部24b與傾斜部26b之離心分離室18的結構，但並不侷限於此。亦可在第5圖所示的粉體分級裝置10c之第3例～第10圖所示的粉體分級裝置10g之第8例的任何一種裝置中，以第1圖所示的粉體分級裝置10的這種方式，以與W方向平行的平面來構成表面部24，並且以與W方向平行的平面來構成表面部26。此外，在上述的任一種粉體分級裝置中，亦可採用：以與W方向平行的平面來構成表面部24，並且在表面部26上形成傾斜部26b的結構，或者採用：在表面部24上形成傾斜部24b，並且以與W方向平行的平面來構成表面部26的結構。

以下，將說明利用本發明的粉體分級裝置所達成的分級。
本申請人係針對於本發明的粉體分級裝置所達成的分級進行了確認。具體而言，係使用了上述第1圖所示的粉體分級裝置10、以及第11圖所示之比較用的粉體分級裝置100，對於原料粉體進行了分級試驗。

第11圖係比較用的粉體分級裝置的示意剖面圖。在第11圖所示的粉體分級裝置100中，與第1圖所示的粉體分級裝置10相同的構件，都標註相同的元件符號，並且省略其詳細的說明。
第11圖所示的粉體分級裝置100與第1圖所示的粉體分級裝置10的不同點，係在於並未形成有圓環狀的狹縫50，除此之外，都是採用與第1圖所示的粉體分級裝置10相同的結構。此外，第一氣體噴嘴34以及第二氣體噴嘴38的數量都是6個。

本發明的粉體分級裝置10與比較用的粉體分級裝置100，都是針對於：風量等的分級條件，採用相同的條件來實施了分級。
針對於原料粉體，係使用：銀粒子、以及矽粒子。將分級結果與原料粉體的平均粒徑都標示於下列的表1。此外，以下所示的粒徑，全部都是採用BET法而獲得的BET徑。
又，銀粒子的原料粉體、矽粒子的原料粉體、本發明之分級後的粒子、比較用的分級後的粒子，分別係如第12圖(a)～第12圖(c)以及第13圖(a)～第13圖(c)所示。
第12圖(a)係顯示分級前的銀粒子的原料粒子之SEM影像的示意圖；第12圖(b)係顯示本發明的粉體分級裝置所達成的分級後的銀粒子的SEM影像的示意圖；第12圖(c)係顯示比較用的粉體分級裝置所達成的分級後的銀粒子的SEM影像的示意圖。
第13圖(a)係顯示分級前的矽粒子的原料粒子的SEM影像的示意圖；第13圖(b)係顯示本發明的粉體分級裝置所達成的分級後的矽粒子的SEM影像的示意圖；第13圖(c)係顯示比較用的粉體分級裝置所達成的分級後的矽粒子的SEM影像的示意圖。

如表1、第12圖(b)以及第12圖(c)所示，利用本發明來進行分級所獲得的銀粒子細粉的粒徑比較小。如表1、第13圖(b)以及第13圖(c)所示，利用本發明來進行分級所獲得的矽粒子細粉的粒徑比較小。由此可知，本發明無論是哪一種類的粒子，都可使得分級點變得更小。

本發明基本上是採用上述的結構。以上，雖然是詳細地說明了本發明的粉體分級裝置，但是本發明並不限定只有上述的實施方式，只要是在不脫離本發明的主旨的範圍內，當然也都可以進行各種的改良或變更。

10、10a、10b、10c、10d、10e、10f、10g‧‧‧粉體分級裝置

12‧‧‧機殼

12a‧‧‧機殼的表面

14‧‧‧上部圓盤狀部

14a‧‧‧開口部

14b‧‧‧開口面

16‧‧‧下部圓盤狀部

16a‧‧‧下部圓盤狀部的外端部

18‧‧‧離心分離室

19‧‧‧機殼的環狀部

20‧‧‧第一壁部

22‧‧‧第二壁部

23‧‧‧間隙

24‧‧‧上部圓盤狀部的表面部

26‧‧‧下部圓盤狀部的表面部

28‧‧‧粗粉回收室

30‧‧‧細粉回收管

30a‧‧‧前端部

30b‧‧‧細粉回收管的外周

30c‧‧‧細粉回收管的端部

31‧‧‧規制構件

34‧‧‧第一氣體噴嘴

38‧‧‧第二氣體噴嘴

39‧‧‧間隙

40‧‧‧原料供給部

42‧‧‧供給管

50、62‧‧‧狹縫

50a、62a‧‧‧吸入口

52‧‧‧管

52b‧‧‧伸出部

52c‧‧‧管的端部

52d‧‧‧擴徑部

54‧‧‧流路

66‧‧‧回收室

68‧‧‧排出管

70‧‧‧導引簧片

72‧‧‧推入室

100‧‧‧粉體分級裝置

Dc‧‧‧第一壁部的外徑

Dr‧‧‧狹縫的內徑

H‧‧‧方向

P_c1‧‧‧粗粉

Pf‧‧‧細粉

P_c2‧‧‧粗粉

Ps‧‧‧原料粉體

W‧‧‧方向

第1圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第1例的示意剖面圖。

第2圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第1例的狹縫的配置位置的示意圖。

第3圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第2例的示意剖面圖。

第4圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第3例的示意剖面圖。

第5圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第4例的示意剖面圖。

第6圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第5例的示意剖面圖。

第7圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第5例的狹縫的配置位置之示意剖面圖。

第8圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第6例的示意剖面圖。

第9圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第7例的示意剖面圖。

第10圖係本發明的實施方式的粉體分級裝置之第8例示意剖面圖。

第11圖係比較用的粉體分級裝置之示意剖面圖。

第12圖(a)係分級前的銀粒子的原料粒子之SEM影像之示意圖；第12圖(b)係本發明的粉體分級裝置所達成的分級後的銀粒子之SEM影像之示意圖；第12圖(c)係比較用的粉體分級裝置所達成的分級後的銀粒子之SEM影像之示意圖。

第13圖(a)係分級前的矽粒子的原料粒子的SEM影像之示意圖；第13圖(b)係本發明的粉體分級裝置所達成的分級後的矽粒子之SEM影像之示意圖；第13圖(c)係比較用的粉體分級裝置所達成的分級後的矽粒子之SEM影像之示意圖。

Claims

一種粉體分級裝置，是用來將具有粒度分布的原料粉體予以分級為細粉和粗粉之粉體分級裝置，其特徵為，其係具有：作為被相對向的兩個構件所包挾的空間來構成之圓盤狀的離心分離室；用來將氣體供給到前述離心分離室內使其產生迴旋流的氣體供給部；用來將前述原料粉體供給到在前述離心分離室內所產生的前述迴旋流的原料供給部；設在前述離心分離室之其中一方的構件的中央部，並且係與前述離心分離室內相連通之具有可將含有在前述離心分離室內被分級後的前述細粉的氣體排出前述離心分離室外的開口部之細粉回收部；設在前述離心分離室的外緣部，並且係與前述離心分離室內相連通之用來將在前述離心分離室內被分級後的前述粗粉排出前述離心分離室外之粗粉回收部；圓環狀的狹縫，其係設置在構成前述離心分離室之前述相對向的兩個構件的至少其中一方的構件中之前述離心分離室的前述中央部與前述離心分離室的前述外緣部之間的領域，並且係與前述離心分離室內相連通，係用來將前述離心分離室內的氣體排出前述離心分離室外；圓筒狀的第一壁部，其係設在由細粉回收管所形成的前述離心分離室的開口部，並且朝往前述離心分離室內突出；圓筒狀的第二壁部，其係設在前述離心分離室之另一方的構件，與前述第一壁部相對向且隔開既定的間隙；前述狹縫的內徑係大於前述開口部的外徑。
如申請專利範圍第1項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫，係設在構成前述離心分離室之前述相對向的兩個構件中之設有前述開口部的構件，並且前述開口部與前述圓環狀的狹縫係配置成同心圓狀。
如申請專利範圍第1項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫，係設在構成前述離心分離室之前述相對向的兩個構件中之未設有前述開口部的構件。
如申請專利範圍第1項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫，係設在構成前述離心分離室之前述相對向的兩個構件上，並且設在設有前述開口部的構件上的前述圓環狀的狹縫，係配置成與前述開口部呈同心圓狀。
如申請專利範圍第1項至第4項中之任一項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫的吸入口，係面向設有前述圓環狀的狹縫的構件，或者，前述圓環狀的狹縫的吸入口的吸入面，係與前述開口部的開口面正交。
如申請專利範圍第1項至第4項中之任一項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫，係具有曲折的流路。
如申請專利範圍第5項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫，係具有曲折的流路。
如申請專利範圍第1項至第4項中之任一項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫，係具有寬度較之吸入口更大的流路。
如申請專利範圍第5項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫，係具有寬度較之吸入口更大的流路。
如申請專利範圍第6項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫，係具有寬度較之吸入口更大的流路。
如申請專利範圍第1項至第4項中之任一項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫的吸引量，係小於前述細粉回收部的吸引量。
如申請專利範圍第5項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫的吸引量，係小於前述細粉回收部的吸引量。
如申請專利範圍第6項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫的吸引量，係小於前述細粉回收部的吸引量。
如申請專利範圍第7項所述的粉體分級裝置，其中，前述圓環狀的狹縫的吸引量，係小於前述細粉回收部的吸引量。