TW201829778A - 用於多分析物診斷測試元件之檢測試劑及電極配置以及使用彼之方法 - Google Patents

Abstract

本文提供檢測試劑、多分析物測試元件、測試系統及多分析物量測方法。具體而言，多分析物測試元件具有(1)覆蓋有第一分析物特異性試劑之第一工作電極及第一相對電極對，該第一分析物特異性試劑包括酶、輔酶及第一介質；且具有(2)覆蓋有第二分析物特異性試劑之第二工作電極，該第二分析物特異性試劑包括酶、輔酶及第二介質，其中該第二介質與該第一介質不同。可使用單一相對電極作為第一及第二分析物量測二者在其各別工作電極下之相對電極。此外，介質濃度、量測範圍及所施加電位差對於每一分析物特異性量測而言係不相同的。

Description

用於多分析物診斷測試元件之檢測試劑及電極配置以及使用彼之方法

本發明概言之係關於化學、工程學及醫學/醫療診斷學，且更特定而言，其係關於用於多分析物診斷測試元件之檢測試劑及電極配置以及使用彼之多分析物分析方法。

拋棄式診斷測試元件已普遍用於分析體液試樣中之所選分析物(即，檢測其存在及/或量測其濃度)。舉例而言，糖尿病患者通常每日至少進行血糖濃度之自我監測。在測定血糖濃度之後，若其過高或過低，則此一患者可需要採取糾正措施以使血糖濃度返回可接受之範圍內，乃因不採取糾正措施可能具有嚴重的醫療影響。因此，每日自我監測血糖濃度係糖尿病患者之每日事項，且該監測之準確度可意味著生與死之間之差異。經常性地不將血糖濃度維持在可接受之範圍內可引起嚴重的糖尿病相關併發症，包括(但不限於)心血管疾病、腎病、神經損害及失明。 可利用多種分析系統(例如測試儀錶及相關診斷測試元件)，該等分析系統允許人們以電化學或光學方式量測體液試樣中之葡萄糖濃度。在當前測試儀錶中，在成功的血糖測試之後顯示之資訊係各別血糖濃度，其通常以mg/dL或mmol/L (mM)展示，且可實施時間及日期量測。此資訊與計劃/已知之碳水化合物攝取及/或計劃/已知之活動之計算及/或對其他情境或個別因素之掌握組合在大多數情形下足以容許糖尿病患者調節或推導其飲食攝取及/或胰島素之立即劑量以避免或減弱短期高血糖症。另外，在低葡萄糖濃度之情形下，糖尿病患者可檢測對糖攝取之需要以避免低血糖症。 胰島素缺乏或量不足阻礙身體使用葡萄糖作為燃料源來產生能量。當出現此情形時，身體使用替代燃料源且藉由降解脂肪酸來產生能量，此導致酮副產物及增加之酮濃度。同樣，糖尿病患者中增加之酮濃度可由心臟病發作、中風、消遣性藥物使用或間發病(例如肺炎、流行性感冒、胃腸炎或泌尿道感染)造成。 糖尿病患者中之過量酮濃度可導致糖尿病酮酸中毒(DKA)，其係在不加治療之情況下可導致死亡之醫療應急。預防DKA可藉由量測酮濃度及尋求醫療看護(在酮濃度上升超過某一臨限值之情況下)來達成。美國糖尿病協會(American Diabetes Association，ADA)推薦當糖尿病患者患有疾病(例如感冒或流感)時或當糖尿病患者具有超過240 mg/dL之血糖濃度時，應每4-6小時檢查酮濃度(在World Wide Web之diabetes.org/living-with-diabetes/complications/ketoacidosis-dka.html上獲得)。 酮通常係在尿液及/或血液中量測。然而，對於每天實施多次血糖測試之糖尿病患者而言，除血糖測試以外實施分開的尿液及/或血液酮測試耗時且繁瑣。此外，使用分開測試來測定酮濃度亦需要額外診斷用品及其附帶成本，此使得難以將葡萄糖及酮濃度相關聯。 最近，已研發出用於在單一測試中經由多分析物診斷測試元件測定血糖及血液酮濃度之系統及方法。然而，在該等多分析物測試元件中，血糖測試之完成快於血液酮測試，使得血液酮濃度之顯示延遲且由此係在血糖濃度之後提供。例如參見美國專利第6,984,307號。另一選擇為，血糖及血液酮濃度均延遲直至完成血液酮測試為止。 在任一情形下，對於每天實施相對較高數量之該等測試之糖尿病患者而言，特別是在考慮到在一些情形下血液酮測試所花費之時間可能為完成血糖測試的幾乎兩倍時，等待一或兩個測試之結果直至完成血液酮測試可能相當繁瑣且耗時。此外，當血糖濃度在血液酮濃度之前提供且與血液酮濃度分開時，人們在完成血液酮測試之前可能會中斷測試，及/或在提供血糖測試之後但在適當地考慮血液酮測試之結果之前將注意力轉向別處。 多分析物測試之最近進步係改良之酮試劑配方，從而允許血液酮及血糖濃度在使測試元件與體液試樣接觸之後7.5秒或更短時間內提供且甚至彼此在數秒內提供。例如參見國際專利申請公開案第WO 2014/068022號。多分析物測試之另一進步包括「酮錶」，其可在血糖濃度處於某一預定值時起始以觸發酮趨勢之分析，以及在葡萄糖及/或酮濃度超過預定值之情況下自動提供血液酮濃度與血糖濃度。例如參見國際專利申請公開案第WO 2014/068024號。另一選擇為，若某人指示其患有諸如感冒或流感等疾病則可開始酮錶。參見同上。 然而，當前多分析物測試元件需要針對每一所關注分析物之完全檢測試劑，以及針對每一所關注分析物之分開的工作及相對電極對。 儘管已知的方法及系統在分開量測葡萄糖及酮濃度方面提供許多優點，但業內需要在同一診斷測試元件上同時量測葡萄糖及酮濃度之其他系統及方法。

本文所闡述之本發明概念包括在多分析物檢測試劑中使用介質之特定組合，使得單一相對電極(CE)可與複數個分析物特異性工作電極(WE)一起使用。此發明性概念可藉由提供多分析物診斷測試元件達成，該元件具有覆蓋有包括第一介質之第一分析物特異性檢測試劑之第一WE及第一CE對且亦具有覆蓋有包括第二介質之第二分析物特異性檢測試劑之第二WE。以此方式，可使用單一CE作為第一及第二分析物量測二者在其各別WE下之CE。此外，每一分析物特異性量測之介質濃度、量測範圍、所施加電位差及其中將該等電位差施加至試樣之序列可變化。換言之，本發明概念包括使用針對至少兩種不同分析物之檢測試劑，其中一種檢測試劑包括為一種分析物量測提供WE及CE功能之第一介質，且其中同一CE亦在其他具有其自身的包括與第一介質不同之介質分析物特異性檢測試劑之WE下為任何其他分析物量測提供CE功能。因此，此發明性概念可納入如本文及下文更詳細闡述之實例性乾燥檢測試劑、多分析物診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法中。 舉例而言，提供檢測試劑用於多分析物分析，該等檢測試劑包括針對第一所關注分析物之第一檢測試劑及針對第二所關注分析物之第二檢測試劑。 第一檢測試劑包括第一輔酶依賴性酶或第一酶之受質、第一輔酶及第一介質。在一些情形中，第一輔酶依賴性酶及第一輔酶彼此附接、結合、整合或連接。 第一輔酶依賴性酶可為氧化酶或去氫酶。在一些情形中，第一輔酶依賴性酶係黃素腺嘌呤二核苷酸(FAD)-、菸鹼醯胺腺嘌呤二核苷酸(NAD)-或吡咯并喹啉-醌(PQQ)依賴性去氫酶，尤其FAD-、NAD-或PQQ依賴性去氫酶以及其酶活性突變體。在其他情形中，第一輔酶依賴性酶係葡萄糖去氫酶、葡萄糖-6-磷酸去氫酶或葡萄糖氧化酶以及其酶活性突變體。 同樣，第一輔酶可為FAD、NAD、菸鹼醯胺腺嘌呤二核苷酸磷酸(NADP)、硫基-NAD、硫基-NADP、PQQ或人工輔酶，例如式(I)化合物或其鹽或還原形式。在一些情形中，第一輔酶為FAD、NAD、NADP或式(I)化合物或其鹽或視情況還原形式。在其他情形中，第一輔酶為FAD。 此外，第一介質可為偶氮化合物或偶氮前體、苯醌、麥爾多拉藍(meldola blue)、亞硝基苯胺或基於亞硝基苯胺之前體、吩嗪或基於吩嗪之前體、醌或醌衍生物、噻嗪或噻嗪衍生物、過渡金屬錯合物(例如鐵氰化鉀及鋨衍生物)或吩嗪/基於吩嗪之前體及三氯化六銨合釕之組合以及其衍生物。在一些情形中，第一介質係亞硝基苯胺衍生物或基於亞硝基苯胺之前體、鐵氰化物、釕六胺或吩嗪。在其他情形中，第一介質為N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽(稱為BM 31.1144或NA1144；Roche Diagnostics, Inc.；Indianapolis, IN USA)。 因此，實例性第一檢測試劑可包括FAD依賴性葡萄糖去氫酶作為酶；FAD作為輔酶；及基於亞硝基苯胺之前體作為介質，例如NA1144。 第二檢測試劑同樣包括第二輔酶依賴性酶或第二酶之受質、第二輔酶及第二介質，其中第二介質可與第一介質不同(即，第二介質可與第一介質不相同)。在一些情形中，第二輔酶依賴性酶及第二輔酶彼此附接、結合、整合或連接。 第二輔酶依賴性酶可為氧化酶或去氫酶。在一些情形中，第二輔酶依賴性酶可為FAD-、NAD-或PQQ依賴性去氫酶，尤其FAD-、NAD-或PQQ依賴性去氫酶，以及其酶活性突變體。在其他情形中，第二輔酶依賴性酶可為醇去氫酶、葡萄糖去氫酶、葡萄糖-6-磷酸去氫酶、葡萄糖氧化酶、甘油去氫酶、羥基丁酸去氫酶(HBDH)、蘋果酸去氫酶、山梨醇去氫酶或胺基酸去氫酶(包含L-胺基酸去氫酶)以及其酶活性突變體。在某些情形中，第二輔酶依賴性酶係HBDH (例如3-HBDH)以及其酶活性突變體。另一選擇為，第二輔酶依賴性酶可為與第一輔酶依賴性酶相同之酶。 同樣，第二輔酶可為FAD、NAD、NADP、硫基-NAD、硫基-NADP、PQQ或人工輔酶(例如式(I)化合物或其鹽或還原形式)。在一些情形中，第二輔酶為硫基-NAD、硫基-NADP或式(I)化合物或其鹽或還原形式。在其他情形中，第二輔酶為carba-NAD、carba-NADP、硫基-NAD或硫基-NADP。 此外，第二介質可為偶氮化合物或偶氮前體、苯醌、麥爾多拉藍、亞硝基苯胺或基於亞硝基苯胺之前體、吩嗪或基於吩嗪之前體、吩噁嗪、吩噻嗪、醌或醌衍生物、噻嗪或噻嗪衍生物、過渡金屬錯合物(例如鐵氰化鉀及鋨衍生物)或吩嗪/基於吩嗪之前體及三氯化六銨合釕之組合以及其衍生物。在一些情形中，第二介質係麥爾多拉藍、吩嗪或基於吩嗪之前體或醌或醌衍生物。在其他情形中，第二介質係吩嗪衍生物，例如名稱1-(3-羧基-丙醯基胺基)-5-乙基-吩嗪-5-鎓(PG355)。 當第一分析物為葡萄糖時，第二分析物可為與游離脂肪酸代謝相關之分析物，例如游離脂肪酸、酮、甘油或代表脂肪分解之任何其他分析物，尤其酮及酮體。因此，實例性第二檢測試劑可包括HBDH作為酶；carba-NAD、carba-NADP、硫基-NAD或硫基-NADP作為輔酶；及基於吩嗪/吩嗪之前體作為介質，例如PG355。更特定而言，第二檢測試劑可為3-HBDH、carba-NAD及PG355。 另一選擇為，且當該第一及該第二分析物為相同分析物(例如葡萄糖)時，實例性第二檢測試劑可包括FAD依賴性葡萄糖去氫酶作為酶；FAD作為輔酶；及鐵氰化物或除NA1144以外之亞硝基苯胺作為介質。 另外，提供多分析物診斷測試元件，該等元件包括非導電基底基板，在該括非導電基底基板上具有與如本文所闡述之第一檢測試劑通訊之第一電極系統及與如本文所闡述之第二檢測試劑通訊之第二電極系統。第一電極系統包括CE及WE對以及相關導電線路及接觸墊。同樣，第二電極系統包括WE以及相關導電線路及接觸墊。在一些情形中，針對其他分析物之其他電極系統及檢測試劑可包括在內，條件係該等其他檢測試劑具有與第一檢測試劑中之介質不同之介質。在其他情形中，其他電極系統亦包括試樣充足性電極及/或整合性電極。 此外，提供系統，該系統包括(1)經構形以分析體液試樣之測試儀錶及(2)一或多種如本文所闡述之多分析物診斷測試元件。儀錶適於接收多分析物測試元件且由此包括控制器，該控制器經構形以提供測試序列且基於自多分析物測試元件獲得之反應資訊來測定體液試樣中一或多種分析物之濃度。為輔助將測試結果傳達給使用者，儀錶亦可包括一或多種輸入器件及/或輸出器件。 根據上文，提供多分析物分析方法，該等方法包括施加如本文所闡述之多分析物診斷測試元件或使該測試元件與體液試樣接觸；向體液試樣施加電測試序列以獲得與每一所關注分析物相關之反應資訊；自對測試序列之各別反應資訊測定試樣中之第一分析物濃度，自對測試序列之各別反應資訊測定試樣中之第二分析物濃度，及向使用者顯示關於一或兩個分析物濃度之資訊。當在測試元件上提供其他工作電極及檢測試劑時，該等方法視情況可包括測定其他分析物濃度。該等方法亦視情況可包括基於一或多個分析物濃度調節治療(例如，胰島素)或改變飲食。該等方法亦視情況可包括將訊息傳送至測試元件之使用者、健康照護提供者、照護者及父母或監護人中之至少一者以基於一或多個分析物濃度來調節治療或修改飲食。 在一些情形中，向使用者顯示兩個分析物濃度；然而，在其他情形中，僅顯示一個分析物濃度，而只有在滿足一種分析物、另一分析物或兩種分析物之預定臨限值或條件時才顯示另外一個分析物濃度。在某些情形中，第一分析物係葡萄糖且第二分析物係酮，其中向使用者顯示葡萄糖濃度且只有在滿足預定臨限值或條件時才顯示酮濃度，且其中預定臨限值或條件可為約240 mg/dL之葡萄糖濃度或約0.6 mM至約3.0 mM或甚至約0.6 mM至約1.5 mM之酮濃度。 在其他情形中，當滿足預定臨限值或條件時該等方法可包括向使用者顯示資訊之步驟，例如以下各項中之至少一者：顯示第二分析物濃度，提供警告，因應第二分析物濃度高於預定值而提供一系列要採取的措施，或向測試元件之使用者、健康照護提供者、照護者及父母或監護人中之至少一者傳送訊息。 總之，提供可用於測定多種分析物(包括(但不限於)胺基酸、抗體、細菌、碳水化合物、藥物、脂質、標記物、核酸、肽、蛋白質、毒素、病毒及其他分析物以及其組合)之濃度之檢測試劑、多分析物診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法。 自下文闡述將更好的理解本發明概念之該等及其他優點、效應、特徵及目標。在闡述中，參考附圖，該等附圖構成本文之一部分且其中藉助闡釋而非限制之方式展示本發明概念之實施例。

此專利申請案主張美國臨時專利申請案第62/404,258號(於2016年10月5日提出申請)之優先權及益處，該案如同以全文闡述一般以引用方式併入本文中。 現將參考附圖在下文更全面地闡述檢測試劑、多分析物診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法，其中展示本發明概念之一些但並非所有實施例。實際上，檢測試劑、多分析物診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法可以許多不同的形式來體現且不應視為限於本文所闡述之實施例；而是，提供該等實施例使得本發明將滿足適用的法律要求。 同樣，熟習本發明所屬領域技術者將想到本文所闡述之檢測試劑、多分析物診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法之許多修改形式及其他實施例，其具有上述闡述及相關附圖中所呈現教示之益處。因此，應理解，檢測試劑、多分析物診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法並非限於所揭示之特定實施例且修改形式及其他實施例意欲包括在隨附申請專利範圍之範圍內。儘管本文中採用特定術語，但該等特定術語僅以一般及闡述性意義且並非出於限制之目的使用。 除非另有定義，否則本文中所使用之所有技術及科學術語皆具有與熟習本發明所屬領域技術者通常理解之含義相同之含義。儘管類似於或等於本文所闡述之彼等之任何方法及材料可用於實踐或測試檢測試劑、多分析物診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法，但本文闡述較佳方法及材料。 此外，除非上下文明確要求存在一個及僅一個要素，否則藉由不定冠詞「一(a或an)」對要素之提及不排除存在一個以上要素之可能性。不定冠詞「一(a或an)」由此通常意指「至少一個」。同樣，術語「具有」、「包含」或「包括」或其任何任意語法變化形式係以非排他性方式使用。因此，該等術語可指其中除藉由該等術語引入之特徵以外在此上下文中所闡述之實體中不存在其他特徵之情形及，其中存在一或多個其他特徵之情形。舉例而言，表述「A具有B」、「A包含B」及「A包括B」可指其中除B以外A中不存在其他要素之情形(即，其中A僅僅且排他性地由B組成之情形)或其中除B以外A中存在一或多個其他要素(例如要素C、要素C及D)或甚至其他要素之情形。概述 基於本發明概念提供檢測試劑、多分析物診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法，該本發明概念包括在用於多分析物測試元件之檢測試劑中使用介質之特定組合使得單一CE可與複數個分析物特異性WE一起使用。舉例而言，一種具有第一介質之檢測試劑為一種所關注分析物提供WE及CE功能且亦為一或多種其他所關注分析物提供CE功能，該一或多種其他所關注分析物各自具有其自身的具有與第一介質不同之介質(即，第一介質與後續介質不相同)之檢測試劑。 檢測試劑、多分析物診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法可用於各種應用中。舉例而言，多分析物診斷測試元件可用於監測疾病或病症(例如糖尿病(例如，葡萄糖及酮)或心臟病(例如，膽固醇/脂質及葡萄糖))中之複數個分析物濃度。同樣，多分析物診斷測試元件可用於監測治療或療法(例如胰島素療法)在糖尿病中之進展。 一般就檢測試劑、診斷測試元件及分析物量測方法而言，可參考(例如) Hӧnes等人(2008)Diabetes Technol. Ther. 10:S10-S26，Habermüller等人(2000)Fresenius J. Anal. Chem. 366:560-568及美國專利申請公開案第2009/0246808號。 儘管本發明係關於針對葡萄糖及酮之雙重分析物檢測試劑、診斷測試元件、測試系統及量測方法，但熟習此項技術者將瞭解其他多分析物檢測試劑、診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法亦可有益，例如針對葡萄糖及1,5-脫水山梨醇或HbA1c之雙重測試、針對葡萄糖及膽固醇之雙重測試、針對葡萄糖及乳酸鹽之雙重測試或甚至針對葡萄糖及果糖胺之雙重測試。進一步預計經由單一多分析物診斷測試元件可量測兩種以上分析物。因此，所關注分析物包括(但不限於)醇、胺基酸、1,5-脫水山梨醇、膽固醇、果糖胺、葡萄糖、甘油、HbA1c、HDL酮/酮體、乳酸鹽、乳酸去氫酶、蘋果酸鹽、丙酮酸鹽、山梨醇、甘油三酯及尿酸。如本文所用之「酮」意指諸如乙醯乙酸鹽及羥基丁酸(HB)等酮體。 有利地，本文所闡述之檢測試劑、多分析物診斷測試元件、測試系統及多分析物量測方法可用於為使用者提供關於多種分析物之資訊，該多種分析物提供特異於疾病或病症(例如糖尿病)之診斷資訊。評價範圍可為檢測兩種或更多種分析物之存在至測定兩種或更多種分析物之濃度。特定而言，本文之系統及方法因同時量測(例如)葡萄糖及酮濃度而允許糖尿病患者更容易地遵守測試推薦及更安全的療法。此外，本文之系統及方法允許健康照護專家輔助開始及/或改變針對疾病或病症(例如糖尿病)之療法或治療。檢測試劑 檢測試劑可包括第一分析物特異性檢測試劑及第二分析物特異性檢測試劑，但當欲檢測兩種以上分析物時涵蓋其他檢測試劑。如本文所用「檢測試劑(detection reagent或detection reagents)」意指在至少一種分析物存在下改變至少一種可檢測性質、具體而言物理及/或化學可檢測性質之化學物質或化學物質混合物。通常，性質變化係在至少一種待檢測分析物存在下而非在其他物質存在下發生。然而，實際上，在其他化學物質存在下可在一定程度上容忍非特異性性質變化，體液試樣中該等其他化學物質之存在通常係不大可能的及/或其僅以極低濃度存在。 一般而言，第一及第二檢測試劑之組分係溶解或懸浮於基質中使得體液試樣水合或溶解基質，且體液試樣中之所關注分析物擴散至基質中以與各別檢測試劑之一或多種活性組分發生反應。 就第一分析物特異性檢測試劑而言，其可包括至少一種第一輔酶依賴性酶、至少一種第一輔酶及至少一種第一介質。 因此，第一分析物特異性檢測試劑之一種組分係第一輔酶依賴性酶。如本文所用之「輔酶依賴性酶」意指對於催化活性需要有機或無機輔因子(稱為輔酶)之酶。 在一些情形中，第一輔酶依賴性酶可為去氫酶。如本文所用之「去氫酶」意指能藉由將氫化物(H^- )作為氧化還原等效物轉移至受體分子(例如本文別處所提及之氧化還原輔因子)來催化受質氧化之多肽。去氫酶之實例包括(但不限於)醇去氫酶(E.C. 1.1.1.1或1.1.1.2)、葡萄糖去氫酶、甘油去氫酶(E.C. 1.1.1.6)、HBDH (例如3-HBDH (E.C. 1.1.1.30)或β-HBDH、α-HBDH及γ-HBDH)、乳酸去氫酶(E.C. 1.1.1.27或1.1.1.28)、L-胺基酸去氫酶(E.C. 1.4.1.5)、蘋果酸鹽去氫酶(E.C. 1.1.1.37)或山梨醇去氫酶(E.C. 1.1.1.14)，尤其NAD(P)/NAD(P)H依賴性去氫酶。 在一些情形中，去氫酶係葡萄糖去氫酶(GDH)。GDH之實例包括(但不限於)葡萄糖去氫酶(E.C. 1.1.1.47)、醌蛋白葡萄糖去氫酶(E.C. 1.1.5.2) (例如吡咯并喹啉醌(PQQ)依賴性葡萄糖去氫酶(E.C. 1.1.99.17；GDH-PQQ，亦稱為葡萄糖-染料-氧化還原酶GlucDOR；例如參見美國專利第7,749,437號及第9,017,544號))、己醣激酶(E.C. 2.7.1.1)、葡萄糖-6-磷酸去氫酶(E.C. 1.1.1.49)、菸鹼醯胺腺嘌呤二核苷酸(NAD)依賴性葡萄糖去氫酶(E.C. 1.1.1.119)及黃素腺嘌呤二核苷酸(FAD)依賴性葡萄糖去氫酶(E.C. 1.1.99.10)或其酶活性突變體。 如本文所用之「突變」或「突變體」輔酶依賴性酶意指天然輔酶依賴性酶(例如，野生型酶)之遺傳變化之變體，該變體具有與天然輔酶依賴性酶大約相同之胺基酸數但具有不同胺基酸序列，由此與天然輔酶依賴性酶在至少一種胺基酸方面不同。通常，當與天然輔酶依賴性酶相比時，突變體輔酶依賴性酶具有增加之熱及/或水解穩定性。 可藉由使源於任一生物來源之天然輔酶依賴性酶突變(即，取代、添加或缺失)獲得突變體輔酶依賴性酶。如本文所用之「生物來源」意指原核生物及真核生物二者。突變之引入可為局部或非局部的；然而，在一些情形中局部突變由業內已知之重組方法引起，其中在天然酶之胺基酸序列內引入至少一個胺基酸交換。因此，可使用業內已知之重組方法位點特異性或非位點特異性地引入突變，其中，根據各別需要及條件，至少一個胺基酸交換在天然酶之胺基酸序列內產生。就此而言，當與野生型酶相比時，突變體可具有增加之熱或水解穩定性。 在一些情形中，突變體輔酶依賴性酶係突變體葡萄糖去氫酶(E.C. 1.1.1.47)或突變體葡萄糖-6-磷酸去氫酶(E.C. 1.1.1.49)。特定突變體GDH之實例可參見(例如)國際專利申請公開案第WO 2005/045016號、第WO 2009/103540號、第WO 2010/094632號及第WO 2011/020856號；以及Baik等人(2005)Appl. Environ. Microbiol. 71:3285-3293及Vásquez-Figueroa等人(2007)ChemBioChem 8:2295-2301。特定而言，GDH突變體可至少在胺基酸位置96、170及/或252處具有突變。例如參見國際專利申請公開案第WO 2009/103540號及第WO 2010/094632號；及美國專利申請公開案第2014/0322737號。在來自枯草桿菌(Bacillus subtilis )之葡萄糖去氫酶中，特定胺基酸取代係Glu96Gly、Glu170Arg、Glu170Lys及/或Lys252Leu，特別是Glu170Arg及Gln252Leu。另一該突變體係PQQ依賴性GDH，其在與其野生型對應體相比時具有改良之受質特異性(例如，改良之葡萄糖敏感性，以及降低或減弱之對競爭糖(例如麥芽糖)之敏感性)。例如參見美國專利第7,132,270號、第7,547,535號及第7,732,179號。 無論突變如何，突變體具有與天然酶基本上相同之活性。此外，上文所提及天然酶之突變體應由能夠在嚴格雜交條件下與編碼天然酶之核酸分子雜交之核酸分子編碼。如本文所用之「嚴格雜交條件」意指雜交，其中欲雜交之核酸係在約65℃下在預雜交緩衝液(Church buffer) (0.5 M NaPO4 (pH 7.15), 7% SDS；1mM EDTA)中培育約12小時且隨後在洗滌緩衝液(40mM NaPO4 (pH 7.15), 1% SDS；1mM EDTA)中經約30 min洗滌兩次。將欲雜交核酸中之一者固定，且另一者提供有可檢測標記。若核酸彼此雜交，則此雜交可藉助經固定核酸上之可檢測標記來檢測。實施雜交反應之方法為業內已知。 其他適宜第一輔酶依賴性酶包括(但不限於)氧化酶，例如轉胺酶(例如天冬胺酸鹽或丙胺酸轉胺酶)、5’-核苷酸酶、膽固醇氧化酶(E.C. 1.1.3.6)、膽鹼氧化酶(E.C. 1.1.3.17)、肌酸激酶、葡萄糖氧化酶(E.C.1.1.3.4；GOx)及乳酸鹽氧化酶(E.C. 1.1.3.2；LOx)以及其酶活性突變體。 除第一輔酶依賴性酶以外，第一分析物特異性檢測試劑包括第一輔酶，其可為天然輔酶或人工/穩定的輔酶。如本文所用之「輔酶」或「氧化還原輔因子」意指可用作自受質(例如，所關注分析物)轉移至酶或輔酶之酶促轉移之氧化還原等效物(例如氫化物(H^- ))之受體之分子。如本文所用之「氧化還原等效物」係指為熟習此項技術者熟知之在氧化還原化學中常用之概念。具體而言，其係指自輔酶依賴性酶之受質(即，所關注分析物)轉移至輔酶之電子或自輔酶轉移至電極或指示物試劑之電子。輔酶之實例包括(但不限於)FAD、NAD、NADP、PQQ、硫基-NAD、硫基-NADP及式(I)化合物。 如別處所說明，第一輔酶依賴性酶及第一輔酶可彼此附接、結合、整合或連接。因此，其可不為檢測試劑之物理分開之組分而是可一起作為單一組分(例如，共價或離子鍵結之複合物)。該等輔酶依賴性酶/輔酶之實例包括(但不限於)GOx (FAD輔酶)、FAD依賴性GDH (FAD-GDH)、PQQ依賴性GDH、膽固醇氧化酶(FAD輔酶)及黃遞酶(FMN或FAD輔酶)。 將瞭解包括在本文檢測試劑中之第一輔酶取決於輔酶依賴性酶之性質。舉例而言，PQQ可與PQQ依賴性GDH組合，NAD可與NAD依賴性GDH組合，且FAD可與FAD依賴性GDH組合。NAD衍生物(例如，NAD/NADH及/或NADP/NADPH衍生物)包括carba-NAD (cNAD)。例如參見國際專利申請公開案第WO 2007/012494號。 在一些情形中，第一輔酶係人工/穩定輔酶。如本文所用之「人工輔酶」或「穩定輔酶」意指如下之輔酶：相對於天然輔酶發生化學變化，且較天然輔酶在大氣壓下針對濕度、約0℃至約50℃範圍內之溫度、約pH 4至約pH 10範圍內之酸及鹼及/或親核劑(例如醇或胺)具有更高之穩定性，且由此在與相同環境條件下之天然輔酶相比時可在更長時間內產生其效應。在一些情形中，人工輔酶具有較天然輔酶更高之水解穩定性，測試條件下之充分水解穩定性特別有利。同樣，人工輔酶可具有較輔酶依賴性酶之天然輔酶更低之結合常數，例如結合常數降低2倍或更多倍。 如本文所用之「約」意指在一或多個值(例如所述濃度、長度、寬度、高度、角度、重量、分子量、pH、序列一致性、時段、溫度或體積)之統計學有意義之範圍內。此一值或範圍可在給定值或範圍之一數量級內，通常在20%內、更通常在10%內、且甚至更通常在5%內。「約」所涵蓋之可容許變化將取決於所研究之特定系統，且可由熟習此項技術者容易地瞭解。 人工輔酶之實例包括(但不限於)人工NAD(P)/NAD(P)H化合物，該等化合物係天然NAD/NADH或天然NADP/NADPH之化學衍生物。在一些情形中，人工輔酶包括(但不限於)如下文所展示之式(I)化合物：(I) 其中： A = 腺嘌呤或其類似物， T =在每一情形下獨立地表示O或S， U =在每一情形下獨立地表示OH、SH、BH₃ ⁻ 或BCNH₂ ⁻ ， V =在每一情形下獨立地表示OH或磷酸酯基團， W = COOR、CON(R)₂ 、COR或CSN(R)₂ ，其中R在每一情形下獨立地表示H或C₁ -C₂ -烷基， X₁ 、X₂ =在每一情形下獨立地表示O、CH₂ 、CHCH₃ 、C(CH₃ )₂ 、NH或NCH₃ ， Y = NH、S、O或CH₂ ， Z =包含具有5個C原子之環狀基團之殘基，該環狀基團視情況含有選自O、S及N之雜原子及視情況一或多個取代基；及殘基CR4₂ ，其中CR4₂ 係結合至環狀基團及X₂ ，且 其中R4 =在每一情形下獨立地表示H、F、Cl或CH₃ ，條件係Z及吡啶殘基不藉由醣苷鍵連接， 或其鹽或視情況還原形式。 Z上之實例性取代基可為OH、F、Cl及C₁ -C₂ 烷基，其係視情況經氟化或氯化及/或OH取代之O-C₁ -C₂ -烷基。 另一選擇為，第一殘基V為OH，且第二殘基V為磷酸酯基團。視情況，一個OH基團及一個磷酸酯基團可與其所結合之碳原子一起形成環。 腺嘌呤類似物之實例包括(但不限於)C₈ -取代及N₆ -取代之腺嘌呤、去氮變體，例如7-去氮變體，例如8-氮雜或組合，例如7-去氮或8-氮雜或碳環類似物，例如其中7-去氮變體可在7位經鹵素、C₁ -C₆ -炔基、C₁ -C₆ -烯基或C₁ -C₆ -烷基取代之間型黴素。另一選擇為，化合物包括含有2-甲氧基去氧核糖、2'-氟去氧-核糖、己醣醇、阿卓糖醇(altritol)或多環類似物(例如二環、LNA及三環糖)而非核糖之腺苷類似物。在一種形式中，(二)磷酸酯氧亦可等電子取代，例如O^- 經S^- 及/或經BH₃ ^- 取代，O經NH、NCH₃ 及/或經CH₂ 取代及═O經═S取代。此外，式(I)化合物之至少一個殘基U與OH不同且另一選擇為至少一個殘基U = BH₃ ^- 。 另一選擇為，人工輔酶包括(但不限於)如下文所展示之式(I)化合物：(I) 其中： A =腺嘌呤， T =在每一情形下表示O， U =在每一情形下表示OH， V =在每一情形下表示OH， W = CON(R)₂ ，其中R表示H， X₁ = O， X₂ = O， Y = O，且 Z =通式(II)之5員碳環(II) 其中單鍵存在於R₅ ’與R₅ ’’之間，且其中 R₄ = H， R₅ ’ = CHOH， R₅ ’’ = CHOH， R₅ = CR4₂ ， R₆ = CH，且 R₆ ’ = CH。 再另一選擇為，人工輔酶包括(但不限於)如下文所展示之式(I)化合物：(I) 其中： A =腺嘌呤， T =在每一情形下表示O， U =在每一情形下表示OH， V =在第一情形下表示OH且在第二情形下表示磷酸酯基團， W = CON(R)₂ ，其中R表示H， X₁ = O， X₂ = O， Y = O，且 Z =通式(II)之5員碳環：(II) 其中單鍵存在於R₅ ’與R₅ ’’之間，且其中 R₄ = H， R₅ ’ = CHOH， R₅ ’’ = CHOH， R₅ = CR4₂ ， R₆ = CH，且 R₆ ’ = CH。 在某些情形中，人工輔酶可為carba-NAD或carba-NADP。參見Slama & Simmons (1988)Biochem. 27:183-193；及Slama & Simmons (1989)Biochem. 28:7688-7694。carba-NAD具有以下結構：。 carba-NADP具有以下結構： 。 其他式(I)化合物包括硼烷代carba-NAD、環戊基-NAD及carba-NAD環磷酸鹽。該等化合物具有以下結構： 、及。 關於式(I)化合物及其合成之其他細節揭示於國際專利申請公開案第WO 2007/012494號以及美國專利第7,553,615號中。 可用於本文所闡述之檢測試劑中之其他人工輔酶揭示於以下文獻中：國際專利申請公開案第WO 1998/033936號、第WO 2001/049247號、第WO 2009/103540號及第WO 2011/020856號；美國專利第5,801,006號；及Hutchinson等人(1996)Chem. Commun. 24:2765-2766。 除第一輔酶依賴性酶及第一輔酶以外，第一分析物特異性檢測試劑包括第一介質。如本文所用之「介質」意指增加藉由與分析物反應獲得之還原輔酶之反應性並將電子轉移至電極系統或適宜光學指示物/光學指示物系統之化學化合物。 介質可為任何可參與涉及分析物、輔酶依賴性酶、輔酶及其反應產物之反應方案以產生可檢測電活性反應產物之化學物質(通常具有電活性)。通常，反應中介質之參與涉及其在與分析物、輔酶依賴性酶、輔酶或為該等中之一者之反應產物之物質(例如，反應為不同氧化態之輔酶)中之任一者相互作用之後氧化態之改變(例如，還原)。多種介質展現適宜電化學性質。介質在呈其氧化形式時亦可能穩定，可視情況展現可逆氧化還原電化學，可展現良好的水溶液溶解性，且可快速反應以產生電活性反應產物。將氧化還原等效物直接轉移至適宜檢測系統且可用於電化學測定血糖之介質之綜述可參見(例如) Takaminami (2008)Mater. Integr. 21:317-323及Heller等人(2008)Chem. Rev. 108:2482-2505。 第一介質之實例包括(但不限於)偶氮化合物或偶氮前體、苯醌、麥爾多拉藍、亞硝基苯胺或基於亞硝基苯胺之前體、噻嗪或噻嗪衍生物、過渡金屬錯合物(例如鐵氰化鉀、釕錯合物(例如氯化釕六胺)、鋨衍生物)、醌或醌衍生物、吩嗪或基於吩嗪之前體及吩嗪衍生物及三氯化六銨合釕之組合以及其衍生物。例如參見國際專利申請公開案第WO 1998/035225號；及美國專利第5,286,362號及第8,008,037號；以及Gorton & Dominguez (2002)Rev. Mol. Biotechnol. 82:371-392。 偶氮化合物及偶氮前體之實例包括(但不限於)闡述於美國專利申請公開案第2014/0212903號中之化合物，尤其不形成氧偶氮二聚體之彼等偶氮化合物。 可充當介質前體之基於亞硝基苯胺之化合物之實例包括(但不限於)闡述於以下中之化合物：歐洲專利第0620283號及第0831327號；美國專利第5,206,147號及第5,286,362號；及國際專利申請公開案第WO 2013/131885號。以此方式，基於亞硝基苯胺之介質前體在其接觸體液試樣時降解成可逆介質組分。 基於亞硝基苯胺之介質前體之其他實例包括(但不限於)N-(2-羥基乙基)-N'-對-亞硝基苯基-六氫吡嗪、N,N-雙-(2-羥基乙基)-對-亞硝基苯胺、鄰-甲氧基-[N,N-雙-(2-羥基乙基)]-對-亞硝基苯胺、對-羥基亞硝基苯、N-甲基-N'-(4-亞硝基苯基)-六氫吡嗪、對-醌二肟、N,N-二甲基-對-亞硝基苯胺、N,N-二乙基-對-亞硝基苯胺、N-(4-亞硝基苯基)-嗎啉、N-苄基-N-(5'-羧基戊基)-對-亞硝基苯胺、N,N-二甲基-4-亞硝基-1-萘胺、N,N,3-三甲基-4-亞硝基苯胺、N-(2-羥基乙基)-5-亞硝基吲哚啉、N,N-雙-(2-羥基乙基)-3-氯-4-亞硝基苯胺、2,4-二甲氧基-亞硝基苯、N,N-雙-(2-甲氧基乙基)-4-亞硝基苯胺、3-甲氧基-4-亞硝基苯酚、N-(2-羥基乙基)-6-亞硝基-1,2,3,4-四氫喹啉、N,N-二甲基-3-氯-4-亞硝基苯胺、N,N-雙-(2-羥基乙基)-3-氟-4-亞硝基苯胺、N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽(NA114)、N,N-雙-(2-羥基乙基)-3-甲硫基-4-亞硝基苯胺、N-(2-羥基乙基)-N-(2-(2-甲氧基乙氧基)-乙基)-4-亞硝基苯胺、N-(2-羥基乙基)-N-(3-甲氧基-2-羥基-1-丙基)-4-亞硝基苯胺、N-(2-羥基乙基)-N-(3-(2-羥基乙氧基)-2-羥基-1-丙基)-4-亞硝基苯胺、N-(2-羥基乙基)-N-(2-(2-羥基乙氧基)-乙基)-4-亞硝基苯胺及[(4-亞硝基苯基)亞胺基]二甲醇-鹽酸鹽。 鋨衍生物之實例包括(但不限於)揭示於歐洲專利第1457572號及國際專利申請公開案第1998/035225號中之化合物。 吩嗪或基於吩嗪之前體之實例包括(但不限於)吩嗪乙基硫酸鹽(PES)、吩嗪甲基硫酸鹽(PMS)、1-(3-羧基丙氧基)-5-乙基吩嗪鎓三氟甲烷磺酸鹽、1-(3-羧基-丙氧基)-5-乙基-吩嗪-5-鎓) (cPES)、1-(3-羧基-丙醯基胺基)-5-乙基-吩嗪-5-鎓(PG355)或1-甲氧基吩嗪甲基硫酸鹽。例如參見歐洲專利申請公開案第0654079號；及Gorton (1986)Chem. Soc., Faraday Trans. 1 82:1245-1258。在一些情形中，吩嗪可為1-胺基-吩嗪衍生物。例如參見國際專利申請公開案第WO 2015/158645號。在某些情形中，吩嗪可為以下結構中之一者或其衍生物： 或。 醌或醌衍生物之實例包括(但不限於)鄰醌及對醌以及醌二亞胺。例如參見Gorton (1986), 上文文獻；Degrand及Miller (1980)J. Am. Chem. Soc. 102:5728-5732；Kitani及Miller (1981)J. Am. Chem. Soc. 103:3595-3597；及Baldwin (1983)Anal. Chem. 55:1588-1591。 在一些情形中，第一介質為N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽(NA1144)。 就第一介質之濃度而言，該第一介質通常為極穩定介質(即，至少比第二介質更穩定)且係以較第二介質更高之濃度提供(即，第二介質係以較第一介質更低之濃度提供)。然而，熟習此項技術者瞭解相對介質濃度部分地藉由預期檢測之分析物濃度範圍來測定。舉例而言，且當監測葡萄糖及酮時，3-HB濃度範圍顯著小於葡萄糖濃度範圍。因此，酮介質之濃度可能低於葡萄糖介質。更特定而言，對於葡萄糖介質濃度(即，第一介質)主要考慮的是其高至足以支持高葡萄糖範圍下之信號且由此提供充足的氧化介質(例如，亞硝基形式及醌二亞胺形式)來支持相對電極反應。端視試劑調配物而定，且基於僅葡萄糖測試元件，第一介質濃度可為約10 mM至約40 mM、約15 mM至約35 mM、約20 mM至約30 mM或約25 mM。另一選擇為，第一介質濃度可為約10 mM、約15 mM、約20 mM、約25 mM、約30 mM、約35 mM或約40 mM。再另一選擇為，第一介質濃度可為約10 mM、約12 mM、約14 mM、約16 mM、約18 mM、約20 mM、約22 mM、約24 mM、約26 mM、約28 mM、約30 mM、約32 mM、約34 mM、約36 mM、約38 mM或約40 mM。 當輔酶係NAD/NADH時，介質可為醌(例如鄰醌或對醌)、醌二亞胺、吩嗪、吩噁嗪或吩噻嗪。 同樣，且當輔酶為cNAD/cNADH時，介質可為PG355、cPES、PES、PMS或N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽。 可操作用於檢測葡萄糖之存在及/或濃度之試劑材料之其他非限制性實例揭示於以下文獻中：美國專利申請公開案第2003/0146113號及第2014/0212903號；及美國專利第7,727,467號及第8,008,037號，以及Huang等人(2014)Clin. Chim.Acta. 433:28-33。 就第二分析物特異性檢測試劑而言，其可包括至少一種第二輔酶依賴性酶、至少一種第二輔酶及至少一種第二介質，其中該至少一種第二介質與包括在第一分析物特異性檢測試劑內之至少一種第一介質不同。如上，第二分析物特異性檢測試劑之組分係溶解或懸浮於基質中使得體液試樣水合或溶解基質，且分析物擴散穿過基質以與檢測試劑之一或多種活性組分反應。 當希望在相同診斷測試元件上實施一式兩份分析物量測時，第二輔酶依賴性酶可為如上文所列示之酶且甚至可為與第一輔酶依賴性酶相同之酶。另一選擇為，第一及第二輔酶依賴性酶不相同。 如別處所述，第二輔酶依賴性酶及第二輔酶可彼此附接、結合、整合或連接。因此，其可不為檢測試劑之物理上分開之組分而是可一起作為單一組分(例如，共價或離子鍵結之複合物)。 在一些情形中，第二輔酶依賴性酶係HBDH。HBDH之實例包括(但不限於)α-HBDH、β或3-HBDH及γ-HBDH。 除第二輔酶依賴性酶以外，第二分析物特異性檢測試劑可包括第二輔酶，該第二輔酶可為天然輔酶或人工/穩定輔酶。第二輔酶可為如上文所列示之輔酶且甚至可為與第一輔酶相同之輔酶。另一選擇為，第一及第二輔酶不相同。 如上文針對第一分析物特異性檢測試劑所述，第二輔酶之實例包括(但不限於)FAD、NAD、NADP、PQQ、硫基-NAD、硫基-NADP及式(I)化合物。在一些情形中，例如當第二分析物係酮時，第二輔酶可為硫基-NAD、硫基-NADP或式(I)化合物或其鹽或視情況還原形式，尤其carba-NAD或carba-NADP。 除第二輔酶依賴性酶及第二輔酶以外，第二分析物特異性檢測試劑包括第二介質。如上文針對第一分析物特異性檢測試劑所述，第二介質之實例包括(但不限於)偶氮化合物或偶氮前體、苯醌、麥爾多拉藍、亞硝基苯胺或基於亞硝基苯胺之前體、噻嗪或噻嗪衍生物、過渡金屬錯合物(例如鐵氰化鉀、氯化釕六胺及鋨衍生物)、醌或醌衍生物、吩嗪或基於吩嗪之前體及吩嗪衍生物及三氯化六銨合釕之組合以及其衍生物，前提係第二介質與第一介質不同。在一些情形中，例如當第二分析物係酮時，第二介質可為吩嗪或基於吩嗪之衍生物，尤其1-胺基-吩嗪衍生物，如PG355。例如參見國際專利申請公開案第2015/057933號。 就第二介質之濃度而言，其通常為較不穩定的介質(即，至少較第一介質不穩定)且係以低於第一介質之濃度提供(即，第一介質係以高於第二介質之濃度提供)。如上所述，熟習此項技術者瞭解相對介質濃度部分地藉由預期檢測之分析物濃度範圍來測定。舉例而言，且當監測葡萄糖及酮時，3-HB濃度範圍顯著小於葡萄糖濃度範圍。因此，酮介質可為低於葡萄糖介質之濃度。更特定而言，就第二介質濃度之「低」及「高」的濃度而言，其可為約2.5 mM至約8.5 mM、約3.0 mM至約7.5 mM、約3.5 mM至約7.0 mM、約4.0 mM至約6.5 mM、約4.5 mM至約6.0 mM或約5.0 mM至約5.5 mM。另一選擇為，第二介質濃度可為約2.5 mM、約3.0 mM、約3.5 mM、約4.0 mM、約4.5 mM、約5.0 mM、約5.5 mM、約6.0 mM、約6.5 mM、約7.0 mM、約7.5 mM、約8.0 mM或約8.5 mM。 換言之，第二介質對第一介質之比率可在約1:1.5、約1:2、約1:2.5、約1:3、約1:3.5、約1:4、約1:4.5、約1:5、約1:5.5、約1:6、約1:6.5、約1:7、約1:7.5、約1:8、約1:8.5、約1:9、約1:9.5或約1:10之範圍內。實例性比率可為1:1.6 (例如，7.5 mM PG355 : 16 mM NA1144)至約1:8 (5 mM PG355 : 40 mM NA1144)。 可操作用於檢測酮之存在及/或濃度之試劑材料之其他非限制性實例揭示於美國專利第8,920,628號及第8,921,061號中。 除輔酶依賴性酶、輔酶及介質以外，檢測試劑可包括用於定性分析及/或定量測定所關注分析物之其他物質。舉例而言，檢測試劑可包括多種佐劑以增強其多種性質或特徵。例如參見美國專利第7,749,437號。此外，檢測試劑可包括有利於其放置於各別受質上並改良其與該等各別受質之黏著或增加試樣流體與試劑材料之水合速率之材料。此外，檢測試劑可包括用於增強所得乾燥試劑層之物理性質並改良用於分析之體液試樣之攝取之組分。例如參見國際專利申請公開案第WO 2013/131885號。 佐劑材料之實例包括(但不限於)緩衝液、載劑物質、著色劑、相容性溶質、易潮解材料、清潔劑、填充劑、成膜劑、開膜劑、膠凝劑、顏料、固體粒子、穩定劑、溶脹劑、增稠劑、觸變劑及黏度調節劑。 緩衝液之實例包括(但不限於)磷酸鹽緩衝鹽水、Tris緩衝液、檸檬酸鹽緩衝液、甘油磷酸緩衝液及古德氏緩衝液(Good’s buffer)。關於檢測試劑中之緩衝液之其他細節可參見(例如)國際專利申請公開案第2012/010308號。 易潮解材料之實例包括(但不限於)氯化鈉、氯化鈣、氯化鎂、氯化鋅、碳酸鉀、磷酸鉀、光鹵石、檸檬酸鐵銨、氫氧化鉀及氫氧化鈉中之一或多者。關於檢測試劑中之易潮解材料之其他細節可參見(例如)國際專利申請公開案第WO 2014/037372號。 可包括在檢測試劑內之清潔劑之實例包括(但不限於)水溶性肥皂以及水溶性合成表面活性化合物，例如高級脂肪酸(例如，油酸或硬脂酸)之鹼性、鹼土或視情況經取代之銨鹽、天然脂肪酸(例如，椰子油或牛油)之混合物、脂肪硫酸酯、磺酸之酯、烷基磺酸之鹽、脂肪酸之牛磺酸鹽、脂肪酸醯胺及酯醯胺。其他清潔劑包括酯醯胺鈉-N-甲基-N-油醯基牛磺酸鹽、N-辛醯基-N-甲基-葡糖醯胺、Mega 8 (N-甲基-N-辛醯基葡糖醯胺)、磺基琥珀酸二辛基鈉(DONS)、RHODAPEX® (尤其CO-433或CO-436)、TEGO® Wet 265 (Evonik Resource Efficiency GmbH；Essen, Germany)、TERGITOL® 15-s-19 (Dow Chemical Corp.；Midland, MI USA)及脂肪酸鹽、N-甲基油烯基牛磺酸鈉鹽，以商標名GEROPON® T77出售(Rhodia HPCII (Home, Personal Care & Industrial Ingredients)。 成膜劑及觸變劑之實例包括(但不限於)聚合物及二氧化矽，例如聚丙酸乙烯酯分散液、聚乙烯基酯、聚乙酸乙烯酯、聚丙烯酸酯、聚甲基丙烯酸、聚乙烯基醯胺、聚醯胺、聚苯乙烯及混合聚合產物，例如丁二烯、苯乙烯或馬來酸酯。一種更特定觸變劑包括以商標名KIESELSAURE SIPEMATE FK 320 DS出售之二氧化矽(Degussa AG)，而更特定成膜劑包括以商標聚乙烯基吡咯啶酮KOLLIDON 25 (BASF)出售之聚乙烯基吡咯啶酮(PVP)及聚丙酸乙烯酯分散液。 固體粒子之實例包括(但不限於)二氧化矽粒子(例如二氧化矽)、矽酸鈉或矽酸鋁、矽藻土、金屬氧化物(例如氧化鈦及/或氧化鋁)、合成氧化物材料(例如氧化物材料之奈米粒子，例如二氧化矽、氧化鋁或氧化鈦之奈米粒子)、高嶺土、粉末玻璃、非晶形二氧化矽、硫酸鈣及硫酸鋇。 用於輔酶依賴性酶之穩定劑之實例包括(但不限於)醣及單脂肪酸鹽或二脂肪酸鹽。另一穩定劑包括以商標名D-(+)-海藻糖二水合物出售之海藻糖(Sigma Chemical Co.)及琥珀酸鈉。 溶脹劑之實例包括(但不限於)甲基乙烯基醚馬來酸酸酐共聚物、黃原膠及甲基乙烯基醚馬來酸共聚物。增稠劑之實例包括(但不限於)澱粉、樹膠(例如，果膠、瓜爾膠(guar gum)、刺槐豆(卡羅布豆(carob seed))膠、魔芋膠、黃原膠、海藻酸鹽及瓊脂)、酪蛋白、明膠及褐藻膠；纖維素及半合成纖維素衍生物(羧基甲基-纖維素、甲基纖維素、羥基甲基纖維素、羥基乙基纖維素、甲基羥基乙基纖維素)；聚乙烯醇及羧基-乙烯基化物；及膨潤土、矽酸鹽及膠體二氧化矽。增稠劑之更特定形式包括以商標名KELTROL^® F出售之黃原膠(CP Kelco US, Inc.)及以商標名AQUALON® CMC 7F PH出售之羧基甲基纖維素(Hercules Inc., Aqualon Division)之組合。 關於可在本文使用之檢測試劑及其組分之其他細節可參見(例如) Hӧnes等人(2008),上文文獻 、國際專利申請公開案第WO 2007/012494號、第WO 2009/103540號、第WO 2010/094426號、第WO 2010/094427號、第WO 2011/012269號、第WO 2011/012270號及第WO 2011/012271號。對於可在本文使用之測試物質另外可參考歐洲專利申請公開案第0354441號、第0431456號、第0302287號、第0547710號及第1593434號。 儘管檢測試劑通常闡述為用於電化學測試元件中，但本文之檢測試劑亦可用於光學測試元件中。在此情形中，檢測試劑亦可包括指示物。如本文所用之「指示物」意指任何受分析物檢測之檢測反應、特別是酶促反應之過程影響，使得在檢測反應之過程中可記錄指示物之至少一個性質變化之期望物質。在一些情形中，此性質可為光學性質。因此，指示物可為至少一種染料。關於光學測試元件之細節可參見(例如)美國專利申請公開案第2014/0363835號。 作為光學指示物或作為光學指示物系統，具體而言，可使用任何可還原且在還原期間經歷其光學性質(例如色彩、螢光、反射率、透射率、極化或/及折射率)之可檢測變化之期望物質。可使用肉眼或/及藉助檢測器件使用熟習此項技術者適宜之測光方法測定試樣中分析物之存在或/及量。在一些情形中，使用雜多酸(例如2,18-磷鉬酸)作為光學指示物，其被還原成相應的雜多藍(heteropolyblue)。 另外，在診斷測試元件中使用螢光團檢測葡萄糖濃度通常在(例如)歐洲專利第1780288號及國際專利申請公開案第WO 2009/015870號中已知。葡萄糖誘導之蛋白質及其他螢光團之螢光之變化亦為人已知。參見Pickup等人(2005)Biosens. Bioelectron. 20:2555-2565；及美國專利申請公開案第2012/0053429號。 應瞭解本文之檢測試劑之反應方案之化學品可根據與系統相關之各種化學因素(包括分析物及試樣物質之屬性)來選擇。儘管如此，對於給定分析物或物質，就觸媒(通常，可使用多種酶)、共反應物(例如，可使用多種介質)及輔因子(若需要，可使用多種)而言可使用多種不同的反應性組分。許多該等檢測試劑及其反應性組分及反應產物為人已知，且一些不同酶之實例包括表1中所列示之彼等。 表1：用於診斷測試元件之實例性檢測試劑. 鑒於上文，用於多分析物分析之實例性雙重檢測試劑可包括(但不限於)列示於表2中之彼等。 表2：用於診斷測試元件之實例性雙重分析物檢測試劑. 可與上述檢測試劑中之一者組合之其他檢測試劑包括(但不限於)(1)乳酸鹽檢測試劑，其中LDH係輔酶依賴性酶，carba-NAD係輔酶且PG355係介質；(2)乳酸鹽檢測試劑，其中乳酸鹽氧化酶(LOx)係輔酶依賴性酶，黃素單核苷酸係輔酶，且NA1144係介質；(3)果糖胺檢測試劑，其中果糖胺氧化酶(FOx)係輔酶依賴性酶，FAD係輔酶，且NA1144係介質；(4)膽固醇檢測試劑，其中膽固醇氧化酶(CHOx)係輔酶依賴性酶，FAD係輔酶，且NA1144係介質；及(5)膽鹼檢測試劑，其中膽鹼氧化酶(COx)係輔酶依賴性酶，FAD係輔酶，且NA1144係介質。多分析物診斷測試元件 多分析物診斷測試元件可包括電極系統，該電極系統具有與設置於基板上之其他電極系統組件連接之至少兩個WE及至少一個CE。上文所闡述之檢測試劑係納入設於測試元件之惰性支撐基板或基底上之乾膜檢測試劑基質中且與電極系統物理及/或電接觸用於電化學分析體液試樣中一或多種所關注分析物之存在或濃度。 診斷測試元件通常為人習知且可以本發明作為整體可應用至其中之不同形式使用。舉例而言，呈測試條、測試帶、測試盤、可摺疊測試元件(例如，根據Leporello原理)形式及其他形式之測試元件為熟習此項技術者已知。在下文中，儘管將實質上參考諸如測試條等測試元件闡述本發明概念，但應瞭解其他實施例亦係可能的且意欲在本發明之範圍內。 診斷測試元件通常係以具有包括非導電基底基板、間隔體及蓋之層狀構造之拋棄式測試條之形式來提供。包括類似層狀構造之測試元件之其他細節提供於美國專利第7,727,467號及第8,992,750號中。以此方式，測試元件可為根據本發明之原理自材料輥、材料薄片或任何其他材料備料產生之複數個中之任一者。一般而言，用於製作測試元件之所選材料包括撓性足夠進行輥式處理但剛性足以給予成品測試元件有用剛度之任何材料。此外，測試元件可包括一或多個圖形以為使用者提供關於適當處置及使用之指導。 鑒於此，本文之診斷測試元件之一個部件為基底或支撐基板，在該基底或支撐基板上可構造、沈積及/或設置若干種組件。基板包括面向間隔體之第一表面及與第一表面相對之第二表面。此外，基板具有相對的第一端及第二端(例如，分別為投用端及儀錶插入端)及在第一端與第二端之間延伸之相對側邊緣。在一些情形中，基板之第一端及第二端及相對側邊緣由此形成通常矩形形狀；然而，亦涵蓋使得測試元件能夠如本文所闡述起作用之多種形式中之任一者。 通常，基板係自撓性聚合物(包括(但不限於)聚酯或聚醯亞胺，例如聚萘二甲酸乙二酯(PEN)或聚對苯二甲酸乙二酯(PET))製作而成。另一選擇為，基板可自使得基板能如本文所闡述起作用之任何其他適宜材料製作而成。 除基板以外，本文之診斷測試元件可包括設置於基板第一表面上之間隔體，其中間隔體包括至少一個界定在蓋與基板之間形成之毛細管通道之邊界之邊緣。如同基板，間隔體可自諸如撓性聚合物等絕緣材料(包括黏著劑塗覆之PET)製作而成。在一些情形中，間隔體可為PET膜，其量測經壓力敏感性黏著劑塗覆。因此，間隔體包括使用任一種市售黏著劑或眾多種市售黏著劑之組合耦合至基板之第一表面之一個表面。另一選擇為，基板可藉由焊接(例如熱或超音波焊接)耦合至間隔體。然而，在一些情形中，若蓋及/或基板經定尺寸以作為間隔體起作用，則可省略間隔體。 除基板及間隔體以外，本文之診斷測試元件可包括位於間隔體上方之蓋。蓋通常經定大小及形狀以與基板匹配且由此在基板之相對側邊緣之間延伸且延伸至基板之第一端及第二端。另一選擇為，蓋或基板中之一者可延伸超過另一者預定之距離，此使得測試元件能夠如本文所闡述起作用(即，測試元件在取樣端包括懸突/懸臂)。因此，用作毛細管之試樣室因此定義為在蓋與基板之間由間隔體之一或多個邊緣限定之空間。 如同基板及間隔體，蓋可自諸如撓性聚合物等絕緣材料(包括黏著劑塗覆之PET)製作而成。適宜材料之一個特定非限制性實例包括透明或半透明PET膜。蓋由此包括可使用任一種市售黏著劑或眾多種市售黏著劑之組合耦合至間隔體之下表面。另一選擇為，蓋可藉由焊接(例如熱或超音波焊接)耦合至間隔體。 總之，基板、間隔體及蓋形成試樣室，其中電極系統之一部分及檢測試劑可接近體液試樣用於量測。在一些情形中，測試元件為全寬端部投用(「FWED」；具有限定於一側上之毛細管通道)測試元件，其容許試樣自測試元件之第一端(即，前面)或自其側面填充試樣室。在FWED測試元件中，間隔體在基板之相對側邊緣之間延伸以部分地與蓋形成試樣室。預計間隔體可由單一組件或甚至複數個組件製作而成。無論如何，間隔體應包括實質上平行於且面向基板之第一端之端部邊緣，藉此藉由跨越基板之整個寬度延伸來界定試樣室之邊界。 進一步預計試樣室亦可為習用毛細管通道(即，限定在一個以上側上)。以此方式，間隔體之端部邊緣可包括多個位於基板之第一端及第二端與相對側邊緣之間之部分以形成通常U形圖案以界定在測試元件之第一端具有試樣入口之試樣室之邊界。其他適宜實施例涵蓋形成半卵圓形、半圓形或其他形狀之毛細管通道之間隔體之端部邊緣，且端部邊緣之一或多個部分可沿其長度之全部或一部分包括線性或非線性邊緣。 如上所述，在一些情形中，間隔體可省略，且試樣室可僅由基板及蓋來定義。例如，參見美國專利第8,992,750號。 除使用毛細管作用以外或作為另一選擇，可藉由其他方式(例如藉由在試樣流體上施加壓力以將該試樣流體推入試樣室中，及/或在試樣室上產生真空以將身體試樣流體牽拉至試樣室中)來增強試樣室。另外，試樣室之一或多個表面可由親水性材料形成、提供有親水材料之塗層或經受親水性增加處理以有利於用體液試樣填充試樣室。 舉例而言，試樣室可包括吸附材料。吸附材料之實例包括(但不限於)聚酯、耐綸、纖維素及纖維素衍生物(例如硝化纖維素)。當包括在內時，吸附材料因輔助將流體芯吸至試樣室中而有利於攝取身體試樣流體。吸附材料之使用亦用於進一步減少接收身體試樣流體之試樣室之空隙體積。 圖1係實例性診斷測試元件10之透視圖。在實例性實施例中，測試元件10包括非導電支撐基板12、形成於支撐基板12上界定複數個電極線路(未展示)之電導體(未展示)、位於支撐基板12上之間隔體14及位於間隔體14上之蓋16。在一些情形中，電導體可形成任一數量之電極線路、電極及接觸墊，該等使得測試元件10能如本文所闡述起作用且其係在下文進行更詳細闡述。 亦如圖1中所展示，診斷測試元件10可具有實質上矩形形狀；然而，亦涵蓋使得測試元件10能如本文所闡述起作用之多種形式中之任一者。另外，測試元件10可為根據本發明之原理自材料輥、材料薄片或任何其他材料備料產生之複數個中之任一者。一般而言，用於製作測試元件10之所選材料包括撓性足夠進行輥式處理但剛性足以給予成品測試元件10有用剛度之任何材料 在實例性實施例中，診斷測試元件10之支撐基板12包括面向間隔體14之第一表面18及與第一表面18相對之第二表面20。此外，支撐基板12具有相對的第一端22及第二端24及在第一端22與第二端24之間延伸之相對側邊緣26、28。在一些情形中，支撐基板12之第一端22及第二端24及相對側邊緣26、28形成通常矩形形狀。另一選擇為，第一端22及第二端24及相對側邊緣26、28可經配置以形成多種使得測試元件10能如本文所闡述起作用之形狀及大小中之任一者。在一些情形中，支撐基板12可由撓性聚合物(包括(但不限於)聚酯或聚醯亞胺，例如聚萘二甲酸乙二酯(PEN))製作而成。另一選擇為，支撐基板12可由任何其他使得支撐基板12能如本文所闡述起作用之適宜材料製作而成。 形成電極線路之電導體係設於支撐基板12之第一表面18上。電導體可由包括(但不限於)以下之材料製作而成：鋁、碳(例如，石墨)、鈷、銅、鎵、金、銦、銥、鐵、鉛、鎂、汞(如汞齊)、鎳、鈮、鋨、鈀、鉑、錸、銠、硒、矽(例如，高度摻雜之多晶體矽)、銀、鉭、錫、鈦、鎢、鈾、釩、鋅、鋯及其組合。在一些情形中，電極線路係藉由雷射剝蝕或雷射劃片自剩餘電導體分離，該兩種方法為業內所熟知。以此方式，可藉由廣泛地(例如藉由寬場剝蝕)或最低限度地(例如藉由劃線)自圍繞電極延伸之區域移除電導體來製作電極線路。另一選擇為，可藉由其他技術(例如層壓、網版印刷、光微影等)來製作電極線路。 在實例性實施例中，診斷測試元件10係FWED測試元件，其在支撐基板之第一端22具有毛細管通道30或入口。然而，預計毛細管通道30亦可為習用毛細管通道(即，限定在一個以上側上)。在FWED測試元件中，間隔體14在支撐基板12之相對側邊緣26、28之間延伸以部分地與蓋形成毛細管通道30。預計間隔體14可由單一組分或甚至複數種組分製作而成。無論如何，間隔體14應包括實質上平行於且面向支撐基板12之第一端22之端部邊緣32，藉此藉由跨越支撐基板12之整個寬度延伸來界定毛細管通道30之邊界。另一選擇為，且如上文所述，端部邊緣32可包括多個位於支撐基板12之第一端22及第二端24與相對側邊緣26、28之間之部分以形成通常U形圖案以界定在測試元件10之第一端22具有試樣入口之毛細管通道30之邊界(未展示)。其他適宜實施例涵蓋形成半卵圓形、半圓形或其他形狀毛細管通道之端部邊緣28，且端部邊緣32之一或多個部分可沿其長度之全部或一部分包括線性或非線性邊緣(未展示)。 間隔體14係自諸如撓性聚合物等絕緣材料(包括黏著劑塗覆之聚對苯二甲酸乙二酯(PET)-聚酯)製作而成。適宜材料之一個特定非限制性實例包括白色PET膜，其兩側經壓力敏感性黏著劑塗覆。間隔體14可由多種材料構造而成且包括可使用任一種市售黏著劑或眾多種市售黏著劑之組合耦合至支撐基板12之第一表面18之內表面34。另外，當支撐基板12之第一表面18係暴露且未由電導體覆蓋時，蓋16可藉由焊接(例如熱或超音波焊接)耦合至支撐基板12。亦預計支撐基板12之第一表面18可印刷有(例如)使用測試元件10之產品標記或說明書(未展示)。 此外，在實例性實施例中，蓋16在支撐基板12之相對側邊緣26、28之間延伸且延伸至支撐基板12之第一端22。另一選擇為，蓋16可延伸超過第一端22預定之距離從而使得測試元件10能如本文所闡述起作用。在實例性實施例中，毛細管通道30因此定義為蓋16與支撐基板12之間由支撐基板12之第一端22及相對側邊緣26、28及間隔體14之端部邊緣32限定的空間。 蓋16可由諸如撓性聚合物等絕緣材料(包括黏著劑塗覆之PET-聚酯)製作而成。適宜材料之一個特定非限制性實例包括透明或半透明PET膜。蓋16可由多種材料構造而成且包括可使用任一種市售黏著劑或眾多種市售黏著劑之組合耦合至間隔體14之下表面36。另外，蓋16可藉由焊接(例如熱或超音波焊接)耦合至間隔體14。 診斷測試元件包括具有CE/WE電極對、一或多個單獨WE及一或多個導電材料之導電路徑及接觸墊之電極系統，該電極系統設於(例如)支撐件之第一表面上使得電極系統共平面。然而，預計該電極系統可形成於相對表面上使得一個電極系統在支撐件之第一表面上且另一電極系統在蓋之相對表面上。例如參見美國專利第8,920,628號。無論如何，導電材料通常以提供一或多個導電路徑之方式配置於基板上。可使用多種技術(包括化學氣相沈積、雷射剝蝕、層壓、網版印刷、光微影及該等及其他技術之組合)提供導電材料之特定配置。移除部分導電材料之一種特定方法包括雷射剝蝕或雷射劃片，且更特定而言寬場雷射剝蝕，如(例如)美國專利第7,073,246號中所揭示。以此方式，可藉由廣泛地(例如藉由寬場剝蝕)或最低限度地(例如藉由劃線)自基板移除導電材料來製作電極系統。另一選擇為，可藉由其他技術(例如層壓、網版印刷、光微影等)製作電極系統。 簡言之，雷射剝蝕技術通常包括剝蝕導電材料，例如金屬層或包括絕緣材料及導電材料之多層組合物(例如，塗覆於絕緣材料上或層壓至絕緣材料之金屬層之金屬壓層)。金屬層可含有純金屬、合金或其他材料，該等係金屬導體。金屬或金屬樣導體之實例包括(但不限於)鋁、碳(例如石墨及/或石墨烯)、銅、金、銦、鎳、鈀、鉑、銀、鈦、其混合物及該等材料之合金或固溶體。在一態樣中，選擇對生物系統基本上無反應性之材料，其中非限制性實例包括(但不限於)金、鉑、鈀、碳及銥錫氧化物。金屬層可具有任何期望厚度，其在一個特定形式中為約500 Å。 就本文之診斷測試元件而言，實例性導電路徑包括兩個WE、用於每一WE之接觸墊及各別WE導電線路部分，該等WE導電線路部分在每一WE與其接觸墊之間延伸且使每一WE與其接觸墊電耦合。同樣，導電路徑包括CE、用於CE之接觸墊及CE導電線路部分，該等CE導電線路部分在CE與其接觸墊之間延伸且使CE與其接觸墊電耦合。如本文所用「工作電極」或「WE」意指分析物在或不在介質之作用下經電氧化或電還原之電極，而術語「相對電極」或「CE」意指與一或多個WE配對且經由其傳遞與穿過WE之電流之量值等同且符號相反之電化學電流之電極。CE亦包括亦用作參考電極之相對電極(即，相對電極/參考電極)。 電極系統亦可包括一或多個試樣充足性電極(SSE)、試樣充足接觸墊及各別導電線路部分，該等各別導電線路部分在SSE與SSE 接觸墊之間延伸且使SSE與SSE接觸墊電耦合。若包括在內，可使用SSE來實施多種技術用於測定施加至測試元件之體液試樣之充足性。例如參見國際專利申請公開案第WO 2014/140170號及第WO 2015/187580號。 電極系統亦可包括一或多個可用於驗證電極系統完整之測試元件整合性電極(IE)，如國際專利申請公開案第WO 2015/187580號中所闡述。 電極系統亦可包括呈複數個形成電阻網絡之可選擇電阻元件形式之資訊電路，如國際專利申請公開案第WO 2013/017218號及美國專利申請公開案第2015/0362455號中所闡述。在電阻網絡中編碼之資訊可與測試元件之屬性相關，包括(但不限於)校正資訊、測試元件類型、製造資訊及諸如此類。 圖2A展示診斷測試元件之實例性多分析物電極系統構形。在圖2A中，測試元件之試樣室具有導電材料之電極系統，該電極系統包括沿非導電基板之各別側邊緣定位之SSE對、毗鄰一個SSE定位之用於量測第一分析物之CE/WE對及毗鄰另一個SSE定位之用於量測第二分析物之WE，其中用於量測第二分析物之WE具有較用於第一分析物之WE更大的工作區域。 圖2B展示診斷測試元件之另一實例性多分析物電極系統構形。在圖2B中，測試元件之試樣室具有導電材料之電極系統，該電極系統包括沿非導電基板之各別側邊緣定位之SSE對、用於量測第一分析物之CE/WE對及用於量測第二分析物之WE。與圖2A相反，圖2B中之CE跨越兩個WE前面之試樣室延伸。另外，WE具有等效工作區域。 圖2C展示診斷測試元件之又一實例性多分析物電極系統構形。與圖2A-B中所展示之構形相反，圖2C不包括SSE且包括用於第二分析物之WE，該WE具有大於用於第一分析物之WE之工作區域。 上文詳細闡述了可施加至電極系統之檢測試劑。 可將上文所闡述之檢測試劑調配為包括增稠劑及觸變劑以增強其物理性質之黏性溶液。選擇增稠劑以提供具有均勻分散於其中之剩餘組分之濃稠液體基質。增稠劑及觸變劑亦抑制液體或半膏糊材料在各自沈積之後且在其乾燥之前在基板之表面上方運行或鋪展。在檢測試劑沈積之後，其快速乾燥成易水合之試劑基質。 因此，可藉由將該等組分首先溶解於溶劑或溶劑混合物中且隨後藉由適宜處理來移除溶劑或溶劑混合物提供乾燥檢測試劑，如下文進一步詳細闡述。 如本文所用之「乾燥」意味著試劑組合物基本上不含溶劑或溶劑之混合物。如本文所用之「基本上不含」意味著最初存在於試劑組合物之溶液中之溶劑或溶劑混合物之至少約85%、至少約90%、至少約91%、至少約92%、至少約93%、至少約94%、至少約95%、至少約96%、至少約97%或甚至至少98%自組合物移除。因此，預計溶劑或溶劑混合物係以至多約15%、至多約10%、至多約9%、至多約8%、至多約7%、至多約6%、至多約5%、至多約4%、至多約3%或至多約2%之量存在於乾燥試劑組合物中。上文所提及之百分比值及本文所提及之其他百分比值係指重量(w/w) %。 舉例而言，可經由噴墨將檢測試劑施加於其各別電極上方。例如參見美國專利第9,157,109號。另一選擇為，可經由按需滴噴印刷將檢測試劑施加於其各別電極上方。再另一選擇為，可經由PicoJet®分配系統(Nordson EFD)施加檢測試劑以在試樣室之離散區域中沈積檢測試劑。亦可使用其他接觸或非接觸分配系統，該等闡述於下文段落中。 再另一選擇為，可經由真空輔助狹縫模具塗佈將檢測試劑施加於其各別電極上方。藉由真空輔助狹縫模具塗佈控制檢測試劑厚度及均勻度之方法闡述於(例如)國際專利申請公開案第WO 2012/139767號及美國專利第7,749,437號中。 關於可用於本文中之實例性診斷測試元件構形之細節揭示於以下中：例如，國際專利申請公開案第WO 2014/037372號、第2014/068022號及第2014/068024號；美國專利申請公開案第2003/0031592號及第2006/0003397號；美國專利第5,694,932號；第5,271,895號；第5,762,770號；第5,948,695號；第5,975,153號；第5,997,817號；第6,001,239號；第6,025,203號；第6,162,639號；第6,207,000號；第6,245,215號；第6,271,045號；第6,319,719號；第6,406,672號；第6,413,395號；第6,428,664號；第6,447,657號；第6,451,264號；第6,455,324號；第6,488,828號；第6,506,575號；第6,540,890號；第6,562,210號；第6,582,573號；第6,592,815號；第6,627,057號；第6,638,772號；第6,755,949號；第6,767,440號；第6,780,296號；第6,780,651號；第6,814,843號；第6,814,844號；第6,858,433號；第6,866,758號；第7,008,799號；第7,025,836號；第7,063,774號；第7,067,320號；第7,238,534號；第7,473,398號；第7,476,827號；第7,479,211號；第7,510,643號；第7,727,467號；第7,780,827號；第7,820,451號；第7,867,369號；第7,892,849號；第8,180,423號；第8,298,401號；第8,329,026號以及RE42560、RE42924及RE42953。 同樣，診斷測試元件可包括一或多種具有反射性質之顏料(例如白色顏料，例如二氧化鈦粒子)之一或多個反射層。在一些情形中，至少一個反射層可處於基板之背對檢測試劑之表面上，該表面可呈測試場之形式，由此用作試樣施加側。以此方式，至少一種分析物之檢測可穿過基板自與試樣施加側相對之側進行。為有利於此設計，基板可對輻照至檢測試劑中之至少一種激發光完全或部分地光學透明及/或對由檢測試劑反射及/或發射之至少一種檢測光透明，其中透明度應理解為至少約70%之透明度。在其他情形中，可將液體試樣側向引入檢測試劑中(即，平行於層結構)。 多分析物診斷測試元件之憂慮係控制可能在多種檢測試劑之間或中間出現之信號之潛在串擾。減弱或避免串擾之若干方法為業內已知且可與本文所揭示之多分析物測試元件結合使用。舉例而言，一種方法可藉由以下控制組分自一種檢測試劑基質擴散至另一種基質：(1)使用溶脹但不完全可溶之檢測試劑調配物(例如上文所闡述之基質材料)；(2)藉由使檢測試劑彼此間隔開；(3)藉由在檢測試劑之間使用物理障壁(即，留下殘餘導電材料或其他材料；在基板上進行雷射標記)；及/或(4)藉由使用短時段完成量測使得限制試劑擴散。分析物量測器件、裝置及測試系統 測試系統可包括分析物量測器件及至少一種如上文所闡述之多分析物診斷測試元件。 圖3展示實例性分析物量測系統，其包括與電化學診斷測試元件10可操作耦合之分析物量測器件(例如測試儀錶38)。具體而言，測試元件係如上文詳細闡述之多分析物診斷測試元件。 通常，儀錶38及診斷測試元件10可操作測定提供至測試元件10之體液試樣中之複數種分析物之濃度。在一些情形中，試樣可為體液試樣，例如全血、血漿、血清、尿液或唾液。在其他情形中，試樣可為欲針對一或多種電化學反應性分析物之存在或濃度進行測試之另一類型流體試樣(例如水性環境試樣)。 在圖3中，診斷測試元件10係可移除地插入儀錶38之連接終端(或測試元件埠) 40中之一次性測試條。在一些情形中，測試元件10經構形為雙重分析物-葡萄糖及酮-測試元件且包括用於電化學量測葡萄糖及酮之特徵及功能。在其他情形中，測試元件10經構形以電化學量測其他分析物，例如胺基酸、抗體、細菌、碳水化合物、藥物、脂質、標記物、核酸、肽、蛋白質、毒素、病毒及其他分析物。 儀錶38通常包括入口(或輸入)構件44、控制器、與控制器/微控制器聯結之記憶體及與控制器聯結且與記憶體連接之可程式化處理器。另外，儀錶包括輸出，例如電子顯示器42，該輸出連接至處理器且用於為使用者顯示多種類型之資訊(包括分析物濃度或其他測試結果)。此外，儀錶38進一步包括相關測試信號生成及量測電路(未展示)，該等電路可操作生成測試信號、將信號施加至測試元件10及量測測試元件10對測試信號之一或多種反應。處理器亦與測試元件埠連接且可操作處理與檢測藉助使用如本文所闡述之多分析物測試元件獲得之分析物之存在及/或濃度相關之數據並將該數據記錄在記憶體中。測試元件埠包括經構形以與電系統之接觸墊嚙合之連接件。此外，儀錶包括與處理器連接之使用者入口構件，其可由使用者接近以向處理器提供輸入，其中處理器可進一步程式化以自使用者入口構件接收輸入命令並提供響應輸入命令之輸出。 處理器亦與通訊模組或鏈路連接以有利於與儀錶38無線傳輸。在一種形式中，通訊鏈路可用於在儀錶38與另一器件或參與者(例如社會工作者、照護者、父母、監護人或健康照護提供者，包括護士、藥師、一級照護或二級照護醫師及應急醫學專業人士)之間交換訊息、警告或其他資訊，僅為提供幾種可能。通訊鏈路亦可用於下載儀錶38之程式化更新。藉助非限制性實例，通訊鏈路可經構形用於藉助以下來發送及接收資訊：行動電話標準技術(包括第三代(3G)及第四代(4G)技術)或BLUETOOTH®、ZIGBEE®、Wibree、超寬帶(UWB)、無線區域網絡(wireless local area network，WLAN)、通用封包無線電服務(General Packet Radio Service，GPRS)、全球微波連接互通(Worldwide Interoperability for Microwave Access，WiMAX或WiMAN)、無線醫療遙測(Wireless Medical Telemetry，WMTS)、無線通用序列匯流排(Wireless Universal Serial Bus，WUSB)、全球行動通訊系統(Global System for Mobile communications，GSM)、短訊息服務(Short Message Service，SMS)或WLAN 802.11x標準。 控制器因此可包括一或多個構形為單一單元或多組件形式且可程式化之組件、狀態邏輯機或其他類型之專用硬體或可程式化及專用硬體之混合組合。控制器之一或多個組件可屬定義數字電路、模擬電路或兩者之電子種類。作為電子電路之附加或替代，控制器可包括一或多個機械或光學控制元件。 在包括電子電路之一些情形中，控制器包括可操作耦合至一或多個至少部分地定義記憶體之固態記憶體器件之整合處理器。以此方式，記憶體含有欲由微處理器之處理器執行之操作邏輯且經配置用於根據由微處理器執行之程式之一或多個例程來讀取及書寫記憶體中之數據。 另外，記憶體可包括一或多種類型之固態電子記憶體且另外或另一選擇為可包括磁性或光學種類。舉例而言，記憶體可包括固態電子隨機存取記憶體(random access memory，RAM)、順序存取記憶體(sequentially accessible memory，SAM) (例如先進先出(first-in, first-out，FIFO)種類或後進先出(last-in, first-out，LIFO)種類)、可程式化唯讀記憶體(programmable read only memory，PROM)、電可程式化唯讀記憶體(electrically programmable read only memory，EPROM)或電可抹除可程式化唯讀記憶體(electrically erasable programmable read only memory，EEPROM)；或該等類型中之任一者之組合。而且，記憶體可為易失性的、非易失性的或易失性與非易失性種類之混合組合。一些或所有記憶體可為可攜類型，例如磁盤、磁帶、記憶條、盒式磁帶、代碼晶片或諸如此類。記憶體可至少部分地與處理器整合及/或可呈一或多個組件或單元之形式。 在一些情形中，儀錶38可利用可移除記憶鍵，其可插入插座或其他接收構件中且其與記憶體或控制器通訊以提供與校正代碼、量測方法、量測技術及資訊管理相關之資訊。該等可移除記憶鍵之實例揭示於(例如)美國專利第5,366,609號及第5,053,199號中。 控制器亦可包括信號調節器、過濾器、限制器、類比對數位(A/D)轉換器、數位對類比(D/A)轉換器、通訊埠或熟習此項技術者可想到之其他類型操作器。 返回入口構件44，其可藉由複數個按鈕式輸入器件來定義，但入口構件44可包括一或多種其他類型之輸入器件，如鍵盤、滑鼠或其他指向器件、觸控螢幕、觸控墊、滾球或語音識別輸入子系統。 同樣，顯示器42可包括一或多個輸出構件，如可為陰極射線管(CRT)類型、液晶顯示器(LCD)類型、電漿類型、有機發光二極體(OLED)類型、印刷機或諸如此類之操作器顯示器。可包括其他輸入及顯示構件，例如揚聲器、語音生成器、語音及語言識別系統、觸覺顯示器、電子有線或無線通訊子系統及諸如此類。 如上文所指示，測試元件埠40包括連接件，其經構形以與本文所述測試元件之電極系統之接觸墊嚙合。儀錶38與診斷測試元件10之間之連接件用於跨越電極系統之電極施加具有電位或一系列電位之測試信號且隨後接收在存在所關注分析物下由檢測試劑產生且可能與分析物之濃度相關之電化學信號。以此方式，處理器經構形以評估電化學信號以評價分析物之存在及/或濃度，其中其結果可儲存在記憶體中。 在一些情形中，儀錶38可構形為血糖量測儀錶且包括如小冊子「Accu-Chek® Aviva Blood Glucose Meter Owner’s Booklet」 (2007)中所闡述之ACCU-CHEK® AVIVA®儀錶之特徵及功能，該等特徵及功能之一部分揭示於美國專利第6,645,368號中。在其他情形中，儀錶38可經構形以電化學量測一或多種其他分析物，例如胺基酸、抗體、細菌、碳水化合物、藥物、脂質、標記物、核酸、蛋白質、肽、毒素、病毒及其他分析物。關於經構形以與電化學量測方法一起使用之實例性儀錶之細節揭示於以下中：例如美國專利第4,720,372號；第4,963,814號；第4,999,582號；第4,999,632號；第5,243,516號；第5,282,950號；第5,366,609號；第5,371,687號；第5,379,214號；第5,405,511號；第5,438,271號；第5,594,906號；第6,134,504號；第6,144,922號；第6,413,213號；第6,425,863號；第6,635,167號；第6,645,368號；第6,787,109號；第6,927,749號；第6,945,955號；第7,208,119號；第7,291,107號；第7,347,973號；第7,569,126號；第7,601,299號；第7,638,095及8,431,408。 除儀錶以外，測試系統包括一或多個如上文詳細闡述之多分析物診斷測試元件。 可包括在測試系統中之另一組分包括用於獲得體液試樣之採血器件。採血器件之實例闡述於(例如)國際專利申請公開案第WO 2012/089523號及第WO 2012/089524號中。在一些情形中，採血器件可整合至儀錶中。例如參見同上。多分析物量測方法 本文所揭示之量測方法主要利用安培法(amperometry)；然而，預計該等方法可與其他電化學量測技術(例如，庫侖法(coulometry)、電位測定法或伏安法(voltammetry))一起使用。此外，量測方法可使用引起顯著改良之系統性能之基於微處理器之高級算法及方法來實施。該等量測方法亦提供撓性及多種方式來創建可達成改良之性能(例如10/10性能)之算法。如本文所用之「10/10性能」意味著(例如)所量測血糖濃度對於葡萄糖濃度＞100 mg/dL而言在實際血糖濃度之約±10%內且對於葡萄糖濃度＜100 mg/dL而言在實際血糖濃度之±10 mg/dL內。 量測方法可包括本文所闡述之步驟，且該等步驟可但不一定按照如所闡述之序列來實施。然而，其他序列亦係可能的。此外，個別或多個步驟可平行及/或重疊(在時間上)及/或個別地或在多個重複步驟中實施。此外，該等方法可包括其他未指定步驟。 一般而言，量測方法適於獲得其中具有或懷疑具有一或多種所關注分析物之體液試樣。體液之實例包括(但不限於)血液、間隙液、唾液、淚液及尿液。如本文所用之「血液」意指全血及其無細胞組分(即血漿及血清)。 當多分析物診斷測試元件經構形用於測試葡萄糖及酮時，身體試樣流體可為藉由對指尖或經批准替代位點(例如，前臂、手掌、耳垂、上臂、小腿及大腿)進行採血獲得之新鮮毛細血液。此外，可以任一方式獲取含有所關注分析物之身體流體試樣並將其遞送至測試元件。因此，量測方法主要涉及活體外方法。舉例而言，可藉由以下以習用方式獲得血液試樣：例如用刺血針、針或解剖刀切開皮膚，且然後使測試元件與在皮膚表面出現之血液試樣接觸。另一選擇為，測試元件可與以習用方式用於驗證測試系統之整合性之對照流體結合使用。 一般而言，診斷測試元件在僅使用極少體積之體液試樣時可操作用於評價靶標分析物。以此方式，僅需要微小皮膚切口即可產生測試所需體積之體液，且可最小化或消除伴隨該方法之疼痛及其他問題。 在將體液試樣施加至診斷測試元件之投用端並再水合檢測試劑之後，該等方法包括將電測試序列施加至測試元件之電極系統。此一測試序列可藉由儀錶自其連接終端供應至電極系統之一或多個接觸墊。 一般而言，電測試序列包括一或多個AC區塊(可選)及/或一或多個DC區塊，如業內已知。例如參見國際專利申請公開案第WO 2014/140718號；第WO 2014/140164號；第WO 2014/140170號；第WO 2014/140172號；第WO 2014/140173號；及第WO 2014/140177號。 若包括，則低振幅信號之AC區塊可與DC區塊連接提供且對其之電流反應可被量測。圖4A-F展示可與SMBG及其他測試系統結合使用之實例性測試序列。如圖4A-B中所展示，測試序列可包括AC及或DC電位之一或多個區塊，該等區塊在下文進行更詳細地闡述。 就AC區塊而言，其可包括複數個AC區段，例如約2個區段至約10個區段、約3個區段至約9個區段、約4個區段至約8個區段、約5個區段至約7個區段或約6個區段。在其他情形中，AC區塊可包括約2個區段、約3個區段、約4個區段、約5個區段、約6個區段、約7個區段、約8個區段、約9個區段或約10個區段。在再其他情形中，AC區塊可具有10個以上區段，亦即約15個區段、約20個區段或約25個區段。在再其他情形中，AC區塊可包括1個區段，其中該區段具有多個同時施加之低頻AC信號。 熟習此項技術者瞭解AC區段之數量將受到反應之複雜性、可用於實施量測之相關頻率範圍及時間之限制。較高頻率通常需要高帶寬電子裝置及較快速取樣，而較低頻率花費較長時間且通常較嘈雜。因此，區段之最大數量將為該等參數之折中，選擇區分所關注的試樣及環境及/或混雜因素所需要的最小計數及掃頻寬度。 AC區塊之每一區段中之每一信號之頻率可為約1 kHz至約20 kHz、約2 kHz至約19 kHz、約3 kHz至約18 kHz、約4 kHz至約17 kHz、約5 kHz至約16 kHz、約6 kHz至約15 kHz、約7 kHz至約14 kHz、約8 kHz至約13 kHz、約9 kHz至約12 kHz或約10 kHz至約11 kHz。在其他情形中，AC區塊中之每一區段之頻率可為約1 kHz、約2 kHz、約3 kHz、約4 kHz、約5 kHz、約6 kHz、約7 kHz、約8 kHz、約9 kHz、約10 kHz、約11 kHz、約12 kHz、約13 kHz、約14 kHz、約15 kHz、約16 kHz、約17 kHz、約18 kHz、約19 kHz或約20 kHz。在再其他情形中，AC區塊之每一區段中之每一信號之頻率可超過20 kHz，亦即約30 kHz、約40 kHz或約50 kHz。在一些情形中，一或多個區段可具有相同頻率，而在其他情形中每一區段具有與其他區段不同的頻率。然而，四個頻率通常係足夠的。所使用之確切頻率可易於藉由量測系統時鐘最大頻率之簡單整數除法生成。 然而，對於廉價的電池供電型手持式儀器(例如儀錶)而言，AC區塊之區段中之信號之最大頻率限值可為至多約100 kHz。除此之外，對模擬帶寬、取樣速率、儲存及處理速度之增加之要求快速累加，而典型生物感測器反應之假想部分隨頻率變得愈來愈小。較低頻率具有較長時段且以相當準確度取樣花費較長時間。 AC區塊通常包括至少兩個不同低振幅信號。舉例而言，AC區塊可包括處於兩(2)個頻率(例如約10 kHz或約20 kHz隨後約1 kHz或約2 kHz)下之兩(2)個區段。在其他情形中，AC區塊包括複數個低振幅信號。舉例而言，AC區塊可具有處於四(4)個頻率(例如約10 kHz、約20 kHz、約10 kHz、約2 kHz及約1 kHz)下之五(5)個區段。另一選擇為，AC區塊可具有處於四(4)個頻率(例如約20 kHz、約10 kHz、約2 kHz及約1 kHz)下之四(4)個區段。另一選擇為，AC區塊可具有同時施加之處於約10 kHz、約20 kHz、約10 kHz、約2 kHz及約1 kHz下之四(4)個頻率。再交替地，AC區塊可具有同時施加所期望低振幅AC信號之多頻率激發波形。AC頻率可依序施加或組合及同時施加且經由傅裡葉轉變(Fourier Transform)進行分析。 低振幅AC信號之區塊可施加約500 msec至約1.5 sec、約600 msec至約1.25 sec、約700 msec至約1000 msec或約800 msec至約900 msec。另一選擇為，低振幅AC信號之區塊可施加約500 msec、約600 msec、約700 msec、約800 msec、約900 msec、約1000 msec、約1.25 sec或約1.5 sec。具體而言，低振幅AC信號之區塊可施加約100 msec至約300 msec。 然而，熟習此項技術者瞭解AC區段之數量、頻率、持續時間及順序可變化。 AC電流反應資訊可在測試序列之任一時間獲得。在較低頻率下之阻抗結果若在電化學電池經DC極化之後獲得則可受分析物濃度影響。在一些情形中，在測試序列早期可獲得一系列AC電流反應量測。在將流體試樣施加至測試元件之後不久進行的量測將受擴散、溫度及試劑溶解性的影響。在其他情形中，AC反應電流量測可在已施加足夠的試樣後的充足時間獲得以容許反應穩定且在第一秒內避免瞬時反應。同樣，反應電流量測可以一或多個頻率進行。由於其電容性質，由頻率倍頻程或十倍程分開之多次AC量測可提供不同敏感性或較容易操縱。 可使用對此一AC區塊之反應資訊在開始分析物量測之前評價擴散、溫度及試劑溶解性。因此，可使用對AC區塊之反應資訊來校正混雜變量(例如Hct及/或溫度)或確定測試元件之條件及其用於提供準確結果之適合性。 關於電化學量測方法中之實例性AC區塊之細節揭示於以下中：例如美國專利第7,338,639號；第7,390,667號；第7,407,811號；第7,417,811號；第7,452,457號；第7,488,601號；第7,494,816號；第7,597,793號；第7,638,033號；第7,751,864號；第7,977,112號；第7,981,363號；第8,148,164號；第8,298,828號；第8,377,707號及第8,420,404號。 就多分析物測試序列之一個實例性DC區塊而言，其可包括複數個脈衝，例如約2個脈衝至約10個脈衝、約3個脈衝至約9個脈衝、約4個脈衝至約8個脈衝、約5個脈衝至約7個脈衝或約6個脈衝。在其他情形中，DC區塊可包括約2個脈衝、約3個脈衝、約4個脈衝、約5個脈衝、約6個脈衝、約7個脈衝、約8個脈衝、約9個脈衝或約10個脈衝。在再其他情形中，DC區塊可具有超過10個脈衝，亦即約15個脈衝、約20個脈衝或約25個脈衝。如本文所用之「脈衝」意指至少一個激發及一個恢復時段。 DC區塊通常包括在約0 mV與約+450 mV電位差之間交替之不斷施加之電位差或可藉由傳統DC電化學方法分析之其他緩慢時變電位差。然而，熟習此項技術者瞭解所施加電位差之範圍可能且將要端視所用分析物及試劑化學品而變化。因此，激發脈衝電位可大於、小於或等於約+450 mV。激發電位之實例包括(但不限於)50 mV、75 mV、100 mV、125 mV、150 mV、175 mV、200 mV、225 mV、250 mV、275 mV、300 mV、325 mV、350 mV、375 mV、400 mV、425 mV、450 mV、475 mV、500 mV、525 mV、550 mV、575 mV、600 mV、625 mV、650 mV、675 mV、700 mV、725 mV、750 mV、775 mV、800 mV、825 mV、850 mV、875 mV、900 mV、925 mV、950 mV、975 mV或1000 mV。 無論數量如何，每一DC脈衝可施加約50 msec至約500 msec、約60 msec至約450 msec、約70 msec至約400 msec、約80 msec至約350 msec、約90 msec至約300 msec、約100 msec至約250 msec、約150 msec至約200 msec或約175 msec。另一選擇為，每一脈衝可施加約50 msec、約60 msec、約70 msec、約80 msec、約90 msec、約100 msec、約125 msec、約150 msec、約175 msec、約200 msec、約225 msec、約250 msec、約275 msec、約300 msec、約325 msec、約350 msec、約375 msec、約400 msec、約425 msec、約450 msec、約475 msec或約500 msec。具體而言，在+450 mV下之每一DC脈衝可施加約250 msec，且在0 mV下之每一DC脈衝可施加約500 msec。再另一選擇為，每一脈衝可施加小於約50 msec或超過約500 msec。 通常，每一DC脈衝之斜坡速率經選擇以相對於由近乎理想的電位過渡提供之峰值電流提供約50%或更大的峰值電流降低。在一些情形中，每一脈衝可具有相同斜坡速率。在其他情形中，一些脈衝可具有相同斜坡速率且其他脈衝可具有不同斜坡速率。在再其他情形中，每一脈衝具有其自身的斜坡速率。舉例而言，有效斜坡速率可為約5 mV/msec至約75 mV/msec或約10 mV/msec至約50 mV/msec、15 mV/msec至約25 mV/msec或約20 mV/msec。另一選擇為，斜坡速率可為約5 mV/msec、約10 mV/msec、約15 mV/msec、約20 mV/msec、約25 mV/msec、約30 mV/msec、約35 mV/msec、約40 mV/msec、約45 mV/msec、約50 mV/msec、約55 mV/msec、約60 mV/msec、約65 mV/msec、約70 mV/msec或約75 mV/msec。具體而言，斜坡速率可為約40 mV/msec至約50 mV/msec。 在DC區塊中，所施加DC電位在脈衝之間可固定在約0 mV以提供恢復脈衝，由此使得其成為大致連續的激發波形。此與業內通常已知之測試序列相反，該已知之測試序列規定在正DC脈衝之間使用開路，藉此排除收集及分析正脈衝之間之電流之可能性。如本文所用之「恢復脈衝」意指施加足夠長的恢復時段之零電位脈衝(例如，約-10 mV至約+10 mV)，其中與所關注分析物(例如，葡萄糖)之電化學反應「關閉」，藉此容許系統在後續的利用另一正DC脈衝訊問之前返回至固定起始點。 實例性DC區塊因此可在約0 mV與約+450 mV之間(以雙安培模式)交替(即，脈衝)。 可使用對此一DC區塊之反應資訊來評價第一分析物之濃度或存在，例如葡萄糖之濃度或存在。另外，可使用諸如DC區塊電位之恢復電流反應、形狀及/或量值等資訊來既校正Hct及/或溫度且亦校正試劑之潤濕及試樣擴散以及檢測試劑厚度之變化。 如同AC區塊，熟習此項技術者瞭解DC脈衝之數量、電位、持續時間及順序可變化。 就多分析物測試序列之另一實例性DC區塊而言，其可包括具有複數個間隔(例如約2個間隔至約10個間隔、約3個間隔至約9個間隔、約4個間隔至約8個間隔、約5個間隔至約7個間隔或約6個間隔)之波形。在其他情形中，波形可包括約1個間隔、約2個間隔、約3個間隔、約4個間隔、約5個間隔、約6個間隔、約7個間隔、約8個間隔、約9個間隔或約10個間隔。在再其他情形中，波形可具有10個以上間隔，亦即約15個間隔、約20個間隔或約25個間隔。然而，波形間隔之數量通常受到測試序列之可用時間限制。 波形間隔可處於在正電位與負電位之間交替或循環之電位(或反之亦然)。舉例而言，電位可在以下範圍內交替：約-450 mV至約+450 mV、約-425 mV至約+425 mV、約-400 mV至約+400 mV、約-375 mV至約+375 mV、約-350 mV至約+350 mV、約-325 mV至約+325 mV、約-300 mV至約+300 mV、約-275 mV至約+275 mV、約-250 mV至約+250 mV、約-225 mV至約+225 mV、約-200 mV至約+200 mV、約-175 mV至約+175 mV、約-150 mV至約+150 mV、約-125 mV至約+125 mV、約 -100 mV至約+100 mV、約-75 mV至約+75 mV或約-50 mv至約+50 mV。在一些情形中，連續循環中之一或多者可具有相同電位，而在其他情形中連續循環具有與其他區段不同的電位。 無論數量如何，每一波形間隔可施加約100 msec至約5 sec、約200 msec至約4 sec、約300 msec至約3 sec、約400 msec至約2 sec、約500 msec至約1 sec、約600 msec至約900 msec或約700 msec至約800 msec。另一選擇為，每一波形間隔可施加約100 msec、約150 msec、約200 msec、約250 msec、約300 msec、約350 msec、約400 msec、約450 msec、約500 msec、約550 msec、約600 msec、約650 msec、約700 msec、約750 msec、約800 msec、約850 msec、約900 msec、約950 msec、約1 sec、約1.5 sec、約2 sec、約2.5 sec、約3 sec、約3.5 sec、約4 sec、約4.5 sec或約5 sec。具體而言，在約-450 mV下之每一波形間隔可施加約100 msec至約200 msec，且在約+450 mV下之每一波形間隔可施加約100 msec至約200 msec。再另一選擇為，每一波形間隔可施加小於約100 msec或超過約5 sec。 在一些情形中，波形間隔可具有相同的斜坡速率。在其他情形中，一些波形間隔可具有相同的斜坡速率且其他波形間隔可具有不同的斜坡速率。在再其他情形中，每一波形間隔具有其自身的斜坡速率。舉例而言，斜坡速率可為約0.5 mV/msec至≤45 mV/msec。另一選擇為，每一間隔之斜坡速率可為約1 mV/msec至約40 mV/msec、約2 mV/msec至約30 mV/msec、約3 mV/msec至約20 mV/msec、約4 mV/msec至約19 mV/msec、約5 mV/msec至約18 mV/msec、約6 mV/msec至約17 mV/msec、約7 mV/msec至約16 mV/msec、約8 mV/msec至約15 mV/msec、約9 mV/msec至約14 mV/msec或約10 mV/msec至約13 mV/msec或約11 mV/msec至約12 mV/msec。另一選擇為，每一間隔之斜坡速率可為約0.5 mV/msec、1 mV/msec、約2 mV/msec、約3 mV/msec、約4 mV/msec、約5 mV/msec、約6 mV/msec、約7 mV/msec、約8 mV/msec、約9 mV/msec、約10 mV/msec、約11 mV/msec、約12 mV/msec、約13 mV/msec、約14 mV/msec、約15 mV/msec、約16 mV/msec、約17 mV/msec、約18 mV/msec、約19 mV/msec、約20 mV/msec、約25 mV/msec、約30 mV/msec、約35 mV/msec、約40 mV/msec或約45 mV/msec。具體而言，斜坡速率在約3 mV/msec與約9 mV/msec之間，例如約5.1 mV/msec或約7.15 mV/msec。 在一些情形中，波形可為三角波形、梯形波形、正弦波形或其組合。 可使用此一DC區塊來評價第二分析物之濃度或存在，例如酮之濃度或存在。另外，可使用諸如來自DC區塊電位之恢復電流反應、形狀及/或量值等資訊來評價檢測試劑健康及/或某些干擾物(例如抗氧化劑(例如，抗壞血酸鹽、檸檬酸、去鐵胺(DFO)、麩胱甘肽、N-乙醯基半胱胺酸(NAC)、吡咯啶二硫胺基甲酸酯(PDTC)、甲磺酸替拉紮特(trylizad-mesylate，TLM)及尿酸))之存在。 如上，熟習此項技術者瞭解DC脈衝之數量、電位、持續時間及順序可變化。 就多分析物測試序列之另一實例性DC區塊而言，其可包括具有複數個間隔(例如約2個間隔至約10個間隔、約3個間隔至約9個間隔、約4個間隔至約8個間隔、約5個間隔至約7個間隔或約6個間隔)之波形。在其他情形中，波形可包括約1個間隔、約2個間隔、約3個間隔、約4個間隔、約5個間隔、約6個間隔、約7個間隔、約8個間隔、約9個間隔或約10個間隔。在再其他情形中，波形可具有10個以上間隔，亦即約15個間隔、約20個間隔或約25個間隔。然而，波形間隔之數量通常受到測試序列之可用時間之限制。 波形間隔可處於在正電位與負電位之間交替或循環之電位(或反之亦然)。舉例而言，電位可在以下範圍內交替：約0 mV至約+250 mV、約0 mV至約+225 mV、約0 mV至約+200 mV、約0 mV至約+175 mV、約0 mV至約+150 mV、約0 mV至約+125 mV、約-0 mV至約+100 mV。在其他情形中，電位可維持在約250 mV、約225 mV、約200 mV、約175 mV、約150 mv、約125 mV或約100 mV。在一些情形中，連續循環中之一或多者可具有相同電位，而在其他情形中，連續循環具有與其他區段不同的電位。 無論數量如何，每一波形間隔可施加約100 msec至約5 sec、約200 msec至約4 sec、約300 msec至約3 sec、約400 msec至約2 sec、約500 msec至約1 sec、約600 msec至約900 msec或約700 msec至約800 msec。另一選擇為，每一波形間隔可施加約100 msec、約150 msec、約200 msec、約250 msec、約300 msec、約350 msec、約400 msec、約450 msec、約500 msec、約550 msec、約600 msec、約650 msec、約700 msec、約750 msec、約800 msec、約850 msec、約900 msec、約950 msec、約1 sec、約1.5 sec、約2 sec、約2.5 sec、約3 sec、約3.5 sec、約4 sec、約4.5 sec或約5 sec。具體而言，在約-450 mV下之每一波形間隔可施加約100 msec至約200 msec，且在約+450 mV下之每一波形間隔可施加約100 msec至約200 msec。再另一選擇為，每一波形間隔可施加小於約100 msec或超過約5 sec。 在一些情形中，波形間隔可具有相同斜坡速率。在其他情形中，一些波形間隔可具有相同斜坡速率且其他波形間隔可具有不同斜坡速率。在再其他情形中，每一波形間隔具有其自身的斜坡速率。舉例而言，斜坡速率可為約0.5 mV/msec至≤45 mV/msec。另一選擇為，每一間隔之斜坡速率可為約1 mV/msec至約40 mV/msec、約2 mV/msec至約30 mV/msec、約3 mV/msec至約20 mV/msec、約4 mV/msec至約19 mV/msec、約5 mV/msec至約18 mV/msec、約6 mV/msec至約17 mV/msec、約7 mV/msec至約16 mV/msec、約8 mV/msec至約15 mV/msec、約9 mV/msec至約14 mV/msec或約10 mV/msec至約13 mV/msec或約11 mV/msec至約12 mV/msec。另一選擇為，每一間隔之斜坡速率可為約0.5 mV/msec、1 mV/msec、約2 mV/msec、約3 mV/msec、約4 mV/msec、約5 mV/msec、約6 mV/msec、約7 mV/msec、約8 mV/msec、約9 mV/msec、約10 mV/msec、約11 mV/msec、約12 mV/msec、約13 mV/msec、約14 mV/msec、約15 mV/msec、約16 mV/msec、約17 mV/msec、約18 mV/msec、約19 mV/msec、約20 mV/msec、約25 mV/msec、約30 mV/msec、約35 mV/msec、約40 mV/msec或約45 mV/msec。具體而言，斜坡速率在約3 mV/msec及約9 mV/msec之間，例如約5.1 mV/msec或約7.15 mV/msec。 在一些情形中，波形可為三角波形、梯形波形、正弦波形或其組合。 可使用對此一DC區塊之反應資訊來評價第二分析物之濃度或存在，例如酮之濃度或存在。 如上文，熟習此項技術者瞭解DC脈衝之數量、電位、持續時間及順序可變化。 實例性多分析物測試序列展示於圖4A (左圖)中，其包括(1)專用於量測第一分析物之在第一電極對之間之第一固定DC電位差，隨後(2)專用於量測第二分析物之在第二電極對之間之第二固定DC電位差。有利地，藉由依序量測分析物，僅需要一個恒電位器。可藉由得益於較長反應時間之分析物來測定序列順序。因此，第一分析物係以動力學方式來量測，而第二分析物之WE保持開路。隨後，第一分析物之WE為開路，而第二分析物之WE係連接至恒電位器。在(1)及(2)中施加之電位可端視介質而不同。若生理含量顯著不同，則可選擇恒電位器增加可能有利。圖4A (右圖)展示對圖4A (左圖)中所展示之測試序列之實例性反應。 替代實例性多分析物測試序列展示於圖4B (左圖)中，其包括(1)在將試樣引入測試元件之後的延遲以容許反應繼續進行，在該延遲期間在兩個電極對之間維持開路或接近0 V電位差，(2)在第一電極對之間足以生成法拉第電流(faradaic current)之第一固定DC電位差，其專用於量測第一分析物，隨後(3)在第二電極對之間足以生成法拉第電流之第二固定DC電位差，其專用於量測第二分析物。圖4B (右圖)展示對展示於圖4B (左圖)中之測試序列之實例性反應。 替代實例性多分析物測試序列展示於圖4C (左圖)中，其包括(1)在將試樣引入測試元件之後的延遲以容許反應繼續進行，在該延遲期間在兩個電極對之間維持開路或接近0 V電位差，(2)在第一電極對之間足以生成法拉第電流之第一固定DC電位差，其專用於量測第一分析物，隨後(3)在第一電極對之間之接近0 V DC電位差以容許電流返回至0，然後(4)在第二電極對之間足以生成法拉第電流之第二固定DC電位差，其專用於量測第二分析物。圖4C (右圖)展示對展示於圖4C (左圖)中之測試序列之實例性反應。 替代實例性多分析物測試序列展示於圖4D (左圖)中，其包括(1)在將試樣引入測試元件之後的延遲以容許反應繼續進行，在該延遲期間在兩個電極對之間維持開路或接近0 V電位差，(2)短持續時間(例如，約50-500 msec)之約+450 mV脈衝由類似的短持續時間(例如，約50-500 msec)恢復間隔分開的第一DC區塊，在該恢復間隔期間施加約0 mV電位差，隨後(3)在第二電極對之間專用於量測第二分析物之開路之後，施加約+175 mV之固定電位差之第二DC區塊。圖4D (右圖)展示對展示於圖4D (左圖)中之測試序列之實例性反應。 替代實例性多分析物測試序列展示於圖4E (左圖)中，其不僅包括如上文所論述之DC分量且亦包括一或多個AC分量。舉例而言，測試序列包括(1)將試樣引入測試元件後的延遲以容許反應繼續進行，在該延遲期間在兩個電極對之間維持開路或接近0 V電位差，(2)複數個低振幅AC信號之AC區塊，(3)經10 msec之間隔斜升至約+450 mV或自約0 V至約+450 mV之短持續時間(例如，約50-500 msec)脈衝由類似的短持續時間(例如，約50-500 msec)恢復脈衝分開的第一DC區塊，在該恢復脈衝期間施加約0 mV恢復電位之閉合電路，(4)具有在閉合電路中在約-450 mV至約+450 mV之間交替或循環之脈衝之第二DC區塊，及(5)在第二電極對之間專用於量測第二分析物之開路之後施加約+175 mV之固定電位差之第三DC區塊。圖4E (右圖)展示對展示於圖4E (左圖)中之測試序列之實例性反應。 在多分析物測試序列中，AC分量可為一系列於多個離散頻率下之小振幅激發。同樣，第一(脈衝輸送的) DC分量可為跨越主電極對施加且在0 V DC與足以產生與主要分析物濃度成比例之法拉第電流反應之振幅(即，此實例為+450 mV)之間的一系列轉換率受控電位差。電位振幅取決於主要分析物之介質。脈衝之正持續時間長至足以最小化充電電流之影響且小於150 msec以限制擴散距離超過主要分析物WE，該擴散距離係訊問至10-15 μm (d=√(D_M ×t)，理想地顯著小於水合檢測試劑之厚度。有益地靠近一或多個正脈衝之末端量測主要分析物之電流反應以最小化充電瞬變及其他雜訊之效應。130 msec正脈衝係以充足持續時間之0 V施加電位差之間隔散佈以容許電化學電池返回接近其初始狀態(I→0)。 此外，第二DC分量模仿循環伏安法技術。此處，施加至主電極對之電位差係以3.5 V/sec之速率在+450 mV與-450 mV之間掃掠。因此可使用第二DC分量來檢測電活性干擾物。此後係用於量測次要分析物濃度之第三DC分量。 類似於第一DC分量，第三DC分量跨越次電極對以足以產生與次要分析物濃度成比例之法拉第電流反應且取決於次要分析物介質之振幅(即，此實例為+175 mV)施加一或多個轉換速率受控電位差。次要分析物電流係在施加二次電位後之時間(通常約500 msec)量測。 替代實例性多分析物測試序列展示於圖4F中，其不僅包括如上文所論述之AC及DC分量且亦包括燒盡間隔。舉例而言，測試序列包括(1)燒盡間隔，在該燒盡間隔期間在一個或兩個電極對之間短暫地施加第一正電位差以在所關注分析物反應作出顯著貢獻之前降低存在於試劑中之經還原介質之量，(2)複數個低振幅AC信號之AC區塊；(3)經10 msec之間隔自約0 V斜升至足以生成與第一分析物濃度相關之可量測法拉第電流之第二正電位差、然後斜降至約0 V之短持續時間(例如，約50-500 msec)脈衝，由期間施加約0 mV 恢復電位之閉合電路之類似短持續時間(例如，約50-500 msec)的恢復脈衝分開的第一DC分量，(4)具有在閉合電路中在約-450 mV至約+450 mV之間交替或循環之脈衝之第二DC分量，及(5)經10 msec之間隔自約0 V斜升至足以生成與第二分析物濃度相關之可量測法拉第電流之第三正電位差、然後斜降至約0 V之短持續時間(例如，約50-500 msec)脈衝，由期間施加約0 mV 恢復電位之閉合電路之類似短持續時間(例如，約50-500 msec)恢復脈衝分開的第三DC分量。圖4F (右圖)展示對展示於圖4F (左圖)中之測試序列之實例性反應。 鑒於此，可將本文所闡述測試信號中之一者施加至一或多個WE以在WE與CE之間提供電位差。另一選擇為，除虛接地或參考電位以外之測試電位可作為CE來提供以在WE與CE之間提供電位差。應瞭解，可利用可操作以將測試信號施加至與合併之試樣及檢測試劑接觸之電極系統並量測對其之反應之上述及多種其他額外及替代測試電池、電極及/或電路構形。 AC及/或DC電流反應資訊係自所施加測試序列收集且包括對AC及DC區塊之電流反應。重要資訊包括(但不限於)對測試序列中激發脈衝及/或恢復脈衝之電流反應之持續時間、形狀及/或量值。在一些情形中，電流反應資訊針對DC及AC量測可以A/D取樣速率收集以簡化系統設計，包括用於AC及DC量測之單一共享信號路徑。常見數位音頻取樣速率範圍包括(但不限於)約44.1 kHz至約192 kHz。在此範圍內之A/D轉換器易於自多個商業半導體供應商獲得。 可使用對AC區塊之電流反應資訊來測定如下文進一步詳細闡述之阻抗、導納及相位值或其他複合參數。同樣，可使用對DC區塊之電流資訊來測定如下文進一步詳細闡述之分析物濃度或其他複合參數(例如，基於Hct、溫度及/或干擾物之補償及/或校正，以及針對試劑潤濕、試劑膜厚度及反應動力學之補償及/或校正)。 在該等方法中，可以如下獲得(即，量測或記錄)AC及/或DC反應電流資訊：約2,000/sec至約200,000/sec、約3,000/sec至約190,000/sec、約4,000/sec至約180,000/sec、約5,000/sec至約170,000/sec、約6,000/sec至約160,000/sec、約7,000/sec至約150,000/sec、約8,000/sec至約140,000/sec、約9,000/sec至約130,000/sec、約10,000/sec至約120,000/sec、約15,000/sec至約110,000/sec、約20,000/sec至約100,000/sec、約30,000/sec至約90,000/sec、約40,000/sec至約80,000/sec、約50,000/sec至約70,000/sec或約60,000/sec。在一些情形中，可以如下獲得AC及/或DC反應電流資訊：約100/sec至約200/sec、約200/sec至約300/sec、約300/sec至約400/sec、約400/sec至約500/sec、約500/sec至約600/sec、約600/sec至約700/sec、約700/sec至約800/sec、約800/sec至約900/sec、約1,000/sec至約1,500/sec、約1,500/sec至約2,000/sec、約2,000/sec至約2,500/sec、約2,500/sec至約3,000/sec、約3,000/sec至約3,500/sec、約3,500/sec至約4,000/sec、約4,000/sec至約4,500/sec、約4,500/sec至約5,000/sec、約5,000/sec至約5,500/sec、約5,500/sec至約6,000/sec、約6,000/sec至約6,500/sec、約6,500至約7,000/sec、約7,000/sec至約7,500/sec、約7,500/sec至約8,000/sec、約8,000/sec至約8,500/sec、約8,500至約9,000/sec、約9,000/sec至約9,500/sec、約9,500/sec至約10,000/sec、約10,000/sec至約20,000/sec、約20,000/sec至約30,000/sec、約30,000/sec至約40,000/sec、約40,000/sec至約50,000/sec、約50,000/sec至約60,000/sec、約60,000/sec至約70,000/sec、約70,000/sec至約80,000/sec、約80,000/sec至約90,000/sec、約90,000/sec至約100,000/sec、約100,000/sec至約110,000/sec、約110,000/sec至約120,000/sec、約120,000/sec至約130,000/sec、約130,000/sec至約140,000/sec、約140,000/sec至約150,000/sec、約150,000/sec至約160,000/sec、約160,000/sec至約170,000/sec、約170,000/sec至約180,000/sec、約180,000/sec至約190,000/sec或約200,000/sec。在其他情形中，可以如下獲得AC及/或DC反應電流資訊：至多約100/sec、約200/sec、約300/sec、約400/sec、約500/sec, 600/sec、約700/sec、約800/sec、約900/sec、約1,000/sec、約1,250/sec、約1,500/sec、約1,750/sec、約2,000/sec、約2,225/sec、約2,500/sec、約2,750/sec、約3,000/sec、約3,250/sec、約3,500/sec、約3,750/sec、約4,000/sec、約4,250/sec、約4,500/sec、約4,750/sec、約5,000/sec、約5,250/sec、約5,500/sec、約5,750/sec、約6,000/sec、約6,250/sec、約6,500、約7,000/sec、約7,250/sec、約7,500/sec、約7,750/sec、約8,000/sec、約8,250/sec、約8,500/sec、約8,750、約9,000/sec、約9,250/sec、約9,500/sec、約9,750/sec、約10,000/sec、約15,000/sec、約20,000/sec、約25,000/sec、約30,000/sec、約35,000/sec、約40,000/sec、約45,000/sec、約50,000/sec、約55,000/sec、約60,000/sec、約65,000/sec、約70,000/sec、約75,000/sec、約80,000/sec、約85,000/sec、約90,000/sec、約95,000/sec、約100,000/sec、約105,000/sec、約110,000/sec、約115,000/sec、約120,000/sec、約125,000/sec、約130,000/sec、約135,000/sec、約140,000/sec、約145,000/sec、約150,000/sec、約155,000/sec、約160,000/sec、約165,000/sec、約170,000/sec、約175,000/sec、約180,000/sec、約185,000/sec、約190,000/sec、約195,000或約200,000/sec。在再其他情形中，可以超過200,000/sec獲得AC及/或DC反應電流資訊。 關於實例性電化學量測方法之細節揭示於以下中：例如美國專利第4,008,448號；第4,225,410號；第4,233,029號；第4,323,536號；第4,891,319號；第4,919,770號；第4,963,814號；第4,999,582號；第4,999,632號；第5,053,199號；第5,108,564號；第5,120,420號；第5,122,244號；第5,128,015號；第5,243,516號；第5,288,636號；第5,352,351號；第5,366,609號；第5,385,846號；第5,405,511號；第5,413,690號；第5,437,999號；第5,438,271號；第5,508,171號；第5,526,111號；第5,627,075號；第5,628,890號；第5,682,884號；第5,727,548號；第5,762,770號；第5,858,691號；第5,997,817號；第6,004,441號；第6,054,039號；第6254736號；第6,270,637號；第6,645,368號；第6,662,439號；第7,073,246號；第7,018,843號；第7,018,848號；第7,045,054號；第7,115,362號；第7,276,146號；第7,276,147號；第7,335,286號；第7,338,639號；第7,386,937號；第7,390,667號；第7,407,811號；第7,429,865號；第7,452,457號；第7,488,601號；第7,494,816號；第7,545,148號；第7,556,723號；第7,569,126號；第7,597,793號；第7,638,033號；第7,731,835號；第7,751,864號；第7,977,112號；第7,981,363號；第8,148,164號；第8,298,828號；第8,329,026號；第8,377,707號；及第8,420,404號；以及RE36268、RE42560、RE42924及RE42953。可在本文使用之其他實例性電化學量測方法揭示於國際專利申請公開案第WO 2014/140718號；第WO 2014/140164號；第WO 2014/140170號；第WO 2014/140172號；第WO 2014/140173號；及第WO 2014/140177號中。 可藉由算法及/或與在檢測試劑中釋放或消耗之氧化還原等效物(例如，電子)之量之相關性來測定分析物濃度且經由電極系統進行量測，其中該等算法及/或相關性為業內已知。 在反應資訊經處理及相關以測定分析物濃度之後，該等方法可包括在儀錶上向使用者顯示一或多個分析物濃度或趨勢。業內已知多種用於向使用者顯示數據及其他相關資訊之圖形及/或數值方式。例如參見美國專利申請公開案第2009/0210249號及美國專利第9,218,453號。 除上文所闡述之步驟以外，該等方法亦可包括其他步驟。就量測葡萄糖及酮而言，該等方法可包括在每一測試期間測定兩種分析物，但僅向使用者提供葡萄糖濃度，除非滿足一種分析物(例如，葡萄糖)、另一分析物(例如，酮)或兩種分析物之預定臨限值或條件。舉例而言，血液中低於0.6 mM之羥基丁酸濃度被視為正常，而在0.6 mM與1.5 mM之間之羥基丁酸濃度指示可能發生問題且大於1.5 mM指示發生DKA之風險。血液中高於3 mM之羥基丁酸濃度指示DKA且需要應急醫療治療。因此，且在一些情形中，顯示葡萄糖濃度，且只有滿足預定臨限值或條件時才向使用者顯示酮濃度，且其中預定臨限值或條件可為約240 mg/dL之葡萄糖濃度或約0.6 mM至約3.0 mM或甚至約0.6 mM至約1.5 mM之酮濃度。例如參見國際專利申請案第2014/068024號。 在其他情形中，該等方法亦可包括因應確定第一分析物濃度高於預定值而提供指示，該指示包括以下各項中之至少一者：顯示第一分析物濃度、提供警告、因應第一分析物濃度高於預定值而提供一系列要採取的措施，及向測試元件之使用者、健康照護提供者、照護者及父母或監護人中之至少一者傳送訊息。 特定而言，因應確定第一分析物濃度高於預定含量而提供指示可包括向移動器件或電腦傳送訊息。在一些情形中，因應確定第一分析物濃度高於預定含量而提供指示進一步包括在測試儀錶上顯示與第一分析物濃度相關之訊息。在其他情形中，因應確定第一分析物濃度高於預定含量而提供指示包括顯示與第一分析物濃度相關之訊息。在再其他情形中，因應確定第一分析物濃度高於預定含量而提供指示包括改變顯示螢幕或文本顯示器之至少一部分之色彩或遮掩。在再一形式中，因應確定第一分析物濃度高於預定含量而提供指示包括在顯示螢幕上顯示資訊圖標。在再一形式中，因應確定第一分析物濃度高於預定含量而提供指示包括在具有音頻音調或振動之顯示螢幕上顯示資訊圖標以鼓勵患者注意。在此形式之一個態樣中，該方法進一步包括因應資訊圖標之選擇提供訊息。在另一態樣中，訊息包括以下各項中之至少一者：第一分析物濃度之闡述、因應第一分析物濃度高於預定含量而採取之一系列措施及健康照護提供者之聯繫資訊。 因此，每當記錄大於或等於預定值(例如240 mg/dL)之量測葡萄糖值時，可藉由儀錶設定酮錶。另一選擇為，每當量測酮值大於或等於預定值(例如0.6 mM至3.0 mM)時，可藉由儀錶設定酮錶。酮錶可每4-6小時推薦測試葡萄糖及酮，只要保持預定值即可。在一種非限制性形式中，例如，在酮錶開始之後及在酮錶期間，儀錶可自動顯示所量測葡萄糖及酮含量，無論其與任何預定值之關係如何。酮錶亦可開始新的趨勢的數據集以在即使仍然低於高酮含量之臨限值之情況下確定酮是否開始上升。若使用者指示其患有諸如感冒或流感等疾病，亦可開始酮錶。 實例 在考慮以下非限制性實例之後將更全面地瞭解本發明概念，該等非限制性實例係出於闡釋而非限制之目的而提供。實例 1 ：用於雙重分析物分析之酮及葡萄糖檢測試劑。 方法： 如下文所闡述製備酮及葡萄糖檢測試劑。表3展示酮檢測試劑之基本組分。 表3：酮檢測試劑. 表4展示葡萄糖檢測試劑之基本分量。 表4：葡萄糖檢測試劑. 在150 mM 磷酸鹽緩衝液(pH 7)中製備3-HB。 將測試序列施加至緩衝液中不同含量之3-HB (即，0、0.5、1.0、1.5、2.0、3.0、4.0及8.0 mM)。使用如國際專利申請公開案第WO 2014/140178號中所揭示之測試序列，此後為175 mV之單一、長脈衝(對葡萄糖相對電極)。在用於酮量測之酮工作電極與葡萄糖相對電極之間施加175 mV電位差之後0.5秒讀取電流。 當與本文之其他研究相比時，酮試劑具有高介質含量(10 mM)。乾燥膜中之聚合物含量高於其他研究。結果： 圖5展示劑量反應研究期間之線性反應，其中測得電流隨3-HB濃度增加而增加。實例 2 ：水性串擾研究。 方法： 如上文在實例1中所述來製備酮及葡萄糖檢測試劑。將檢測試劑納入測試元件中且然後在串擾實驗中使用。將葡萄糖檢測試劑施加至葡萄糖工作及相對電極，並將酮檢測試劑施加至酮工作電極。 葡萄糖及3-HB之水性基質為150 mM磷酸鹽緩衝液(pH 7)。 在串擾實驗中，用含有不同濃度之3-HB及葡萄糖(對於3-HB為0 mM、1.0mM、3.0 mM及8.0 mM；且對於葡萄糖為0或300 mg/dL)之水性試樣投用測試元件。在用於葡萄糖量測之葡萄糖工作電極與葡萄糖相對電極之間開始約0 mV至約+450 mV之第一斜升脈衝之後約130 msec (例如，參見圖4E右圖中之點「DC1」)及在用於酮量測之酮工作電極與葡萄糖相對電極之間施加175 mV電位差之後約0.5秒讀取電流。結果： 圖6A展示在存在3-HB下之葡萄糖電流，其中不同含量之3-HB (0 mM、1 mM、3 mM及8 mM)之存在對葡萄糖電流無影響。測試兩個葡萄糖含量，每一者具有不同含量之3-HB。 同樣，圖6B展示在存在葡萄糖下之3-HB電流，其中不同含量之葡萄糖(0 mg/dL及300 mg/dL)之存在對3-HB電流無影響。測試3-HB之四不同含量(0 mM、1 mM、3 mM及8 mM)，其中每一含量含有0 mg/dL或300 mg/dL葡萄糖。實例 3 ：不同輔酶對酮檢測試劑之效應。 方法： 如上文在實例1中所闡述來製備試劑化學品。然而，此處酮檢測試劑係用NAD而非cNAD之輔酶/輔因子製得。表5及表6展示替代酮檢測試劑之基本組分。在劑量反應研究中，葡萄糖試劑與上文實例相同。 表5：替代酮檢測試劑(具有NAD). 表6：替代酮檢測試劑(具有cNAD). 測試序列與上文實例相同並將其施加至緩衝液中之不同含量之3-HB(即，0mM、0.5mM、1.0mM、1.5mM、2.0mM、3.0mM及4.0 mM)及緩衝液中之不同含量之葡萄糖(即，0 mg/dL、57 mg/dL、123 mg/dL、520 mg/dL及1000 mg/dL)。如同在上文實例2中，在用於葡萄糖量測之葡萄糖工作電極與葡萄糖相對電極之間開始約0 mV至約+450 mV之第一斜升脈衝之後約130 msec (例如，參見點「DC1」)及在用於酮量測之酮工作電極與葡萄糖相對電極之間施加175 mV電位差之後約0.5秒讀取電流。 當與上文研究相比時，酮試劑具有低介質含量(7.5 mM)。同樣，乾燥膜中之聚合物含量低於上文研究。結果： 圖7A展示NAD (菱形)作為輔因子較cNAD (正方形)略微更有效；然而，在cNAD下之反應仍可接受，尤其由於其具有較天然輔因子NAD增強之穩定性。 圖7B展示當在酮檢測試劑中使用NAD或cNAD時在葡萄糖量測方面存在極小差異。因此，圖7B展示葡萄糖反應未受到檢測試劑沈積方法(例如，PicoJet®)之擾亂。實例 4 ：不同介質對酮檢測試劑之效應。 方法 : 如上文實例1中所闡述來製備試劑化學品。然而，此處酮檢測試劑係用cPES而非PG355製得。表7展示替代酮檢測試劑之基本組分。在劑量反應研究中，葡萄糖試劑與上文實例相同。 表7：替代酮檢測試劑(具有cPES). 測試序列與上文實例相同並將其施加至緩衝液中不同含量之3-HB (即，0 mM、0.5 mM、1.0 mM、1.5 mM、2.0 mM、3.0 mM及4.0 mM)。如上文，在用於酮量測之酮工作電極與葡萄糖相對電極之間施加175 mV電位差之後0.5秒讀取電流。 當與上文研究相比時，酮試劑具有低介質含量(7.5 mM)。同樣，乾燥膜中之聚合物含量低於上文研究。結果： 圖8展示cPES係具有與使用PG355相當之結果之有效介質。實例 5 ：不同酶對酮檢測試劑之效應。 方法： 如上文實例2中所闡述來製備試劑化學品。然而，此處酮檢測試劑係用野生型HBDH、AFDH3 HBDH及AFDH4 HBDH突變體製得(關於突變體之其他細節參見歐洲專利申請案第16165421.5號)。表8展示替代酮檢測試劑之基本組分。在劑量反應研究中，葡萄糖檢測試劑與上文實例1及2相同。 表8：替代酮檢測試劑(具有野生型HBDH). 測試序列與上文實例相同並將其施加至在緩衝液中具有不同含量之3-HB (即，0.5mM、1.5 mM及3.0 mM)之試樣及緩衝液中不同含量之葡萄糖(即，40 mm/dL、150 mm/dL及400 mm/dL)。另外，以具有約41%之血容比之糖解靜脈血液來製備試樣。如同上文實例2-3，在用於葡萄糖量測之葡萄糖工作電極與葡萄糖相對電極之間開始約0 mV至約+450 mV之第一斜升脈衝之後約130 msec (例如，參見點「DC1」)及在用於酮量測之酮工作電極與葡萄糖相對電極之間施加175 mV電位差之後約0.5秒讀取電流。結果： 總之，觀察到在不同HBDH酶中葡萄糖之存在對3-HB信號(即，電流)無顯著影響(參見圖9A-C)。同樣，觀察到3-HB之存在對葡萄糖信號無顯著影響(參見圖9D-F)。因此，沒有在試劑之間串擾之證據。實例 6 ：用於雙重分析物分析之替代酮及葡萄糖檢測試劑。 方法： 如上文實例2中所闡述來製備試劑化學品。然而，此處葡萄糖檢測試劑係用FAD-GDH製得且NA1144及酮檢測試劑係用HBDH及黃遞酶/NA1144製得。葡萄糖檢測試劑之NA1144濃度為25 mM，且酮檢測試劑之NA1144濃度為7.5 mM。 使用PicoJet®離散分配沈積酮及葡萄糖檢測試劑。 測試序列與上文實例相同並將其施加至在緩衝液中具有不同含量之3-HB(即，0 mM、1 mM、3 mM及8 mM)且具有單一葡萄糖含量(即，300 mm/dL)之試樣。結果： 如圖10A中所展示，當測試溶液含有不同含量之3-HB (0 mM、0.5 mM、1.5 mM、4 mM及8 mM)且自前面或側面投用條時，觀察到對葡萄糖電流(葡萄糖濃度 = 300 mg/dL)無顯著影響。同樣，且如圖10B中所展示，當自測試條之前面或側面投用測試條時對3-HB信號(即，電流)無顯著影響。當自側面投用條時，測試溶液首先流經葡萄糖試劑。若葡萄糖試劑不牢固地固定在適當位置，從而在試劑之間引起串擾，則預計可觀察到對3HB電流(在酮工作電極處測得)之一些影響。實例 7 ：至測試元件上之狹縫模具塗佈雙重葡萄糖檢測試劑。 方法： 如上文實例1中所闡述來製備試劑化學品。同樣，測試序列與上文實例1中所闡述相同。 使用雙重試劑狹縫模具塗佈而非PicoJet®離散分配沈積酮及葡萄糖檢測試劑。 對於串擾實驗，用具有於緩衝液中之不同含量之3-HB (即，0.5mM、1.5 mM及3.0 mM)及於緩衝液中之不同含量之葡萄糖(即，1mm/dL、150 mm/dL及300 mm/dL)之試樣投用測試元件。此外，且如同上文實例2，在用於葡萄糖量測之葡萄糖工作電極與葡萄糖相對電極之間開始約0 mV至約+450 mV之第一斜升脈衝之後約130 msec (例如，參見點「DC1」)及在用於酮量測之酮工作電極與葡萄糖相對電極之間施加175 mV電位差之後約0.5秒讀取電流。結果： 總之，未觀察到在存在不同含量之葡萄糖下對3-HB信號之顯著影響(參見圖11A)。同樣，未觀察到在存在3-HB下對葡萄糖信號之顯著影響(參見圖11B)。因此，經由狹縫模具塗佈在試劑之間沒有串擾之證據。實例 8 ：至測試元件上之噴墨印刷雙重檢測試劑與聚合物外塗層。 方法： 如上文實例1中所闡述來製備試劑化學品。此處，製備兩種葡萄糖檢測試劑，其中一種葡萄糖檢測試劑包括FAD-GDH且另一種葡萄糖檢測試劑包括具有低麥芽糖敏感性之突變體PQQ-GDH(獲自Roche Diagnostics, Inc.；Indianapolis, IN USA)。除酶及輔酶以外，每一葡萄糖檢測試劑之噴墨調配物相同。 表9：噴墨調配物. 表10：聚合物外塗層調配物. 使用噴墨印刷而非雙重試劑狹縫模具塗佈或PicoJet®離散分配沈積兩種葡萄糖檢測試劑。 測試序列與上文實例1中所闡述相同。對於每一電極之主要糖干擾物觀察到電極之間之最小串擾。對於每一電極將電流反應正規化為葡萄糖反應，乃因每一試劑之WE區域不同。未收集劑量反應數據；而是，實驗係跨越每一WE及CE施加450 mV且運行「動力學」實驗，其中自施加試樣之時間監測電流。結果： 圖12A展示在含有具有低麥芽糖敏感性之突變體PQQ-GDH之電極上350 mg/dL葡萄糖、350 mg/dL麥芽糖或350 mg/dL木糖之反應。在具有突變體PQQ-GDH之電極上未觀察到顯著木糖反應。若存在由FAD-GDH試劑造成之串擾，則預計可觀察到顯著木糖反應。 圖12B展示在FAD-GDH電極上350 mg/dL葡萄糖、350 mg/dL麥芽糖及350 mg/dL木糖之反應。在FAD-GDH電極上觀察到最小麥芽糖反應。觀察到由木糖引起之一些信號，預計此係由木糖對FAD-GDH之干擾引起。 本文所列舉之所有專利、專利申請案、專利申請公開案及其他出版物皆如同以其全文闡述一般以引用方式併入本文中。 已結合目前被視為最實際且較佳之實施例者闡述了本發明概念。然而，本發明概念已藉助闡釋呈現且並非意欲限於所揭示之實施例。因此，熟習此項技術者將認識到本發明概念意欲涵蓋如在隨附申請專利範圍中所闡述之在本發明概念之精神及範圍內之所有修改及替代配置。下文呈現編號之實施例。編號之實施例 除上文以外或作為上文之替代，闡述以下實施例： 1. 一種乾燥檢測試劑，其包含： 第一檢測試劑，其包含第一輔酶依賴性酶或該第一酶之受質、第一輔酶及第一介質； 第二檢測試劑，其包含第二輔酶依賴性酶或該第二酶之受質、第二輔酶及第二介質，其中在與該第一試劑相比時，該第二試劑之該第二輔酶依賴性酶、該第二輔酶或該第二介質中之至少一者在類型及/或濃度方面不同。 2. 如實施例1之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶及該第二輔酶依賴性酶係選自由以下組成之群：醇去氫酶、葡萄糖去氫酶、葡萄糖-6-磷酸去氫酶、葡萄糖氧化酶、甘油去氫酶、羥基丁酸去氫酶、蘋果酸去氫酶、山梨醇去氫酶、胺基酸去氫酶(包含L-胺基酸去氫酶)及黃素腺嘌呤二核苷酸(FAD)-、菸鹼醯胺腺嘌呤二核苷酸(NAD)-或吡咯并喹啉-醌(PQQ)依賴性氧化酶或去氫酶。 3. 如實施例1或2之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶係葡萄糖去氫酶、葡萄糖-6-磷酸去氫酶或葡萄糖氧化酶。 4. 如實施例1至3中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第二輔酶依賴性酶係羥基丁酸去氫酶。 5. 如實施例1之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶係葡萄糖去氫酶且該第二輔酶依賴性酶係羥基丁酸去氫酶。 6. 如實施例1之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶及該第二輔酶依賴性酶二者為葡萄糖去氫酶、葡萄糖氧化酶或羥基丁酸去氫酶。 7. 如實施例1至6中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶及該第二輔酶係選自由以下組成之群：黃素腺嘌呤二核苷酸(FAD)、菸鹼醯胺腺嘌呤二核苷酸(NAD)、吡咯并喹啉-醌(PQQ)、硫基-NAD、硫基-NADP、PQQ或人工輔酶，例如式(I)化合物或其鹽或還原形式，且其中該式(I)化合物係如下：(I)， 其中： A = 腺嘌呤或其類似物， T =在每一情形下獨立地表示O或S， U =在每一情形下獨立地表示OH、SH、BH₃ ⁻ 或BCNH₂ ⁻ ， V =在每一情形下獨立地表示OH或磷酸酯基團， W = COOR、CON(R)₂ 、COR或CSN(R)₂ ，其中R在每一情形下獨立地表示H或C₁ -C₂ -烷基， X₁ 、X₂ =在每一情形下獨立地表示O、CH₂ 、CHCH₃ 、C(CH₃ )₂ 、NH或NCH₃ ， Y = NH、S、O或CH₂ ， Z =包含具有5個C原子之環狀基團之殘基，該環狀基團視情況含有選自O、S及N之雜原子及視情況一或多個取代基；及殘基CR4₂ ，其中CR4₂ 係結合至環狀基團及X₂ ，且 其中R4 =在每一情形下獨立地表示H、F、Cl或CH₃ ，條件係Z及吡啶殘基不藉由醣苷鍵連接， 或其鹽或視情況還原形式。 8. 如實施例1至7中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶為FAD、NAD、NADP或該式(I)化合物或其鹽或視情況還原形式。 9. 如實施例1至7 中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶為FAD。 10. 如實施例1至9中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第二輔酶為carba-NAD、carba-NADP、硫基-NAD或硫基-NADP。 11. 如實施例1至7中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶為FAD且該第二輔酶為carba-NAD。 12. 如實施例1或7之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶及該第二輔酶二者為carba-NAD或PQQ。 13. 如實施例1至12中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一介質及該第二介質選自由以下組成之群：偶氮化合物或偶氮前體、苯醌、麥爾多拉藍、亞硝基苯胺或基於亞硝基苯胺之前體、吩嗪或基於吩嗪之前體、醌或醌衍生物、噻嗪或噻嗪衍生物、過渡金屬錯合物(例如鐵氰化鉀及鋨衍生物)及吩嗪/基於吩嗪之前體及三氯化六銨合釕之組合，以及其衍生物。 14. 如實施例1至13中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一介質係亞硝基苯胺衍生物或基於亞硝基苯胺之前體、鐵氰化物、釕六胺或吩嗪。 15. 如實施例1至13中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一介質為N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽。 16. 如實施例1至13中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第二介質為麥爾多拉藍、吩嗪或基於吩嗪之前體或醌或醌衍生物。 17. 如實施例1至16中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第二介質為1-(3-羧基-丙醯基胺基)-5-乙基-吩嗪-5-鎓。 18. 如實施例1至12中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一介質為N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽且該第二介質為1-(3-羧基-丙醯基胺基)-5-乙基-吩嗪-5-鎓。 19. 如實施例1至12中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一介質及該第二介質二者為N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽。 20. 如實施例1之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶為FAD依賴性葡萄糖去氫酶，該第一輔酶為FAD，且該第一介質為N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽，且其中該第二輔酶依賴性酶為羥基丁酸去氫酶，該第二輔酶為carba-NAD、carba-NADP、硫基-NAD或硫基-NADP，且該第二介質為1-(3-羧基-丙醯基胺基)-5-乙基-吩嗪-5-鎓。 21. 如實施例1之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶為FAD依賴性葡萄糖去氫酶，該第一輔酶為FAD，且該第一介質為N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽(NA1144)，且其中該第二輔酶依賴性酶為FAD依賴性葡萄糖去氫酶或葡萄糖氧化酶，該第二輔酶為FAD或PQQ，且該第二介質係鐵氰化物或除NA1144以外之亞硝基苯胺作為介質。 22. 如實施例1至21中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶及該第一輔酶係以共價或離子方式彼此鍵結。 23. 如實施例1至22中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第二輔酶依賴性酶及該第二輔酶係以共價或離子方式彼此鍵結。 24. 一種診斷測試元件，其包含： 蓋； 非導電基板，其包含界定於該非導電基板上且在該非導電基板之第一端部分地與該蓋形成之毛細管通道； 設於該非導電基板上之第一電極系統，該第一電極系統包含第一相對電極、第一工作電極、第一相對電極引線、第一工作電極引線、第一相對電極接觸墊及第一工作電極接觸墊，其中該第一相對電極引線將該第一相對電極電連接至該第一相對電極接觸墊，且該第一工作電極引線將該第一工作電極電連接至該第一工作電極接觸墊，且其中至少該第一相對電極及該第一工作電極位於該毛細管通道之區域中； 設於該非導電基板上但所處位置與該第一電極系統之位置不同之第二電極系統，該第二電極系統包含第二工作電極、第二工作電極引線及第二工作電極接觸墊，其中該第二工作電極引線將該第二工作電極電連接至該第二工作電極接觸墊，且其中至少該第二工作電極位於該毛細管通道之區域中； 如實施例1至23中任一者之乾燥檢測試劑，其中該第一檢測試劑係施加至該第一電極系統且該第二檢測試劑係施加至該第二電極系統，該乾燥檢測試劑位於該毛細管通道之區域中；及 視情況位於該蓋與該非導電基板之間之間隔體，該間隔體包含界定該毛細管通道之邊界之邊緣。 25. 如實施例24之診斷測試元件，其中該毛細管通道包含在該非導電基板之該第一端之入口，該間隔體之該邊緣在該非導電基板之相對側邊緣之間延伸。 26. 如實施例24或25之診斷測試元件，其中該蓋之邊緣跨越該第一相對電極引線、該第一工作電極引線及該第二工作電極引線延伸，使得該第一相對電極、該第一工作電極及該第二相對電極完全位於該毛細管通道內。 27. 如實施例24至26中任一者之診斷測試元件，其進一步包含設置於該非導電基板上之至少兩個試樣充足性電極，該等試樣充足性電極中之每一者沿該非導電基板之各別側邊緣定位。 28. 如實施例24至27中任一者之診斷測試元件，其中該第一工作電極具有等於該第二電極之工作區域之工作區域。 29. 如實施例24至27之診斷測試元件，其中該第一工作電極具有小於該第二工作電極之工作區域之工作區域。 30. 一種測試系統，其包含： 測試儀錶，其經構形以分析體液試樣；及 一或多個如實施例24至29中任一者之診斷測試元件。 31. 一種電化學量測體液試樣中之一或多種所關注分析物之濃度或存在之方法，該方法包含以下步驟： 將具有或懷疑具有該一或多種所關注分析物之體液試樣施加至如實施例24至29中任一者之診斷測試元件，使得該體液試樣與乾燥檢測試劑流體接觸以使該乾燥檢測試劑水合； 經由經構形以與該診斷測試元件相互作用之測試儀錶將電測試序列施加至該診斷測試元件，其中該測試序列包含： a. 第一固定直流(DC)分量，其包含施加於第一相對電極與第一工作電極之間用於量測第一所關注分析物之電位差；及 b. 第二固定DC分量，其包含施加於該第一相對電極與第二工作電極之間用於量測第二所關注分析物之電位差； 用該測試儀錶量測對該電測試序列之每一分量之反應資訊；及 用該測試儀錶使用該反應資訊測定一或多個分析物濃度。 32. 如實施例31之方法，其中該電測試序列進一步包含在將該體液試樣施加至該診斷測試元件後之延遲以容許該體液試樣使該乾燥檢測試劑水合，且其中該延遲包含在該第一相對電極與該第一工作電極之間以及在該第一相對電極與該第二工作電極之間維持之開路或接近0 V電位差。 33. 如實施例31之方法，其中該電測試序列在該第一固定DC分量與該第二固定DC分量之間進一步包含在該第一電極對之間維持之接近0 V DC電位差以容許反應電流返回至0。 34. 如實施例31之方法，其中該第一固定DC分量係複數個斜升至約+450 mV或自約0 V至約+450 mV之電位脈衝，且每一脈衝係由恢復間隔分開，在此期間在該第一相對電極與該第一工作電極之間施加約0 mV電位差，其中該第二固定DC分量係在最終恢復間隔之後且為在該第一相對電極與該第二工作電極之間施加之約+175 mV電位差，其中該第一固定DC分量之該等脈衝及該等恢復間隔各自持續約50 msec至約500 msec，且其中該第二固定DC分量持續至少約500 msec。 35. 如實施例31之方法，其中該第一固定DC分量係複數個斜升至約+450 mV或自約0 V至約+450 mV之電位脈衝，且每一脈衝係由恢復間隔分開，在此期間在該第一相對電極與該第一工作電極之間施加約0 mV電位差，其中該第二固定DC分量係在最終恢復間隔之後且為複數個斜升至約+175 mV或自約0 V至約+175 mV之電位脈衝，且每一脈衝係由恢復間隔分開，在此期間在該第一相對電極與該第二工作電極之間施加約0 mV電位差，其中該第一固定DC分量及該第二固定DC分量之該等脈衝及該等恢復間隔各自持續約50 msec至約500 msec。 36. 如實施例34或35之方法，其中該第一固定DC分量之該等電位脈衝斜升約10 msec。 37. 如實施例31之方法，其中該電測試序列進一步包含第三固定DC分量，該第三固定DC分量包含複數個在約-450 mV至約+450 mV之間交替之電位脈衝，且其中該第三固定DC分量係在該第一固定DC分量與該第二固定DC分量之間施加。 38. 如實施例31至37中任一者之方法，其中該電測試序列進一步包含交流(AC)分量，該AC分量包含複數個低振幅AC信號。 39. 如實施例38之方法，其中該AC分量包含約10 kHz、約20 kHz、約10 kHz、約2 kHz及約1 kHz之頻率，且其中每一頻率係施加約0.5秒至約1.5秒。 40. 如實施例38之方法，其中該AC分量包含約20 kHz、約10 kHz、約2 kHz及約1 kHz之頻率，且其中每一頻率係施加約0.5秒至約1.5秒。 41. 如實施例38之方法，其中該AC分量係在該第一固定DC分量及該第二固定分量之前施加。 42. 如實施例31至41中任一者之方法，其中該電測試序列進一步包含燒盡間隔，在該燒盡間隔期間在該第一相對電極與該第一工作電極之間且視情況在該第一相對電極與該第二工作電極之間施加正電位差以在該一或多種所關注分析物作出顯著貢獻之前降低存在於該檢測試劑中之經還原介質之量，其中該燒盡間隔係施加約0.5秒至約1.0秒。 43. 如實施例31至42中任一者之方法，其進一步包含基於該一或多個分析物濃度來調節治療或修改飲食之步驟。 44. 如實施例31至43中任一者之方法，其進一步包含將訊息傳送至該測試元件之使用者、健康照護提供者、照護者及父母或監護人中之至少一者以基於該一或多個分析物濃度來調節治療或修改飲食之步驟。 45. 如實施例31之方法，其中該第一分析物係葡萄糖且該第二分析物係羥基丁酸。 46. 如實施例45之方法，其中該乾燥檢測試劑係如實施例20之乾燥檢測試劑。 47. 如實施例31至44中任一者之方法，其中該第一分析物及該第二分析物相同。 48. 如實施例47之方法，其中該分析物係葡萄糖。 49. 如實施例48之方法，其中該乾燥檢測試劑係如實施例21之乾燥檢測試劑。 50. 一種乾燥檢測試劑，其實質上如本文所闡述及展示。 51. 一種診斷測試元件，其實質上如本文所闡述及展示。 52. 一種測試系統，其實質上如本文所闡述及展示。 53. 一種電化學量測體液試樣中之一或多種所關注分析物之濃度或存在之方法，其實質上如本文所闡述及展示。

10‧‧‧診斷測試元件/成品測試元件/電化學診斷測試元件

12‧‧‧非導電支撐基板

14‧‧‧間隔體

16‧‧‧蓋

18‧‧‧第一表面

20‧‧‧第二表面

22‧‧‧第一端

24‧‧‧第二端

26‧‧‧側邊緣

28‧‧‧側邊緣

30‧‧‧毛細管通道

32‧‧‧端部邊緣

34‧‧‧內表面

36‧‧‧下表面

38‧‧‧測試儀錶

40‧‧‧連接終端/測試元件埠

42‧‧‧電子顯示器

44‧‧‧入口構件/輸入構件

當考慮下文詳細闡述時將更容易明瞭除上文所闡述之彼等以外之優點、效應、特徵及目標。該等詳細闡述參考以下附圖，其中： 圖1展示實例性測試元件構形。 圖2A-C展示多分析物測試元件之實例性電極系統構形。 圖3展示包括儀錶及如本文所闡述之多分析物測試元件之實例性測試系統。 圖4A-F展示用於多分析物量測之實例性電測試序列。特定而言，圖4A展示用於多分析物量測且具有兩個直流(DC)分量之實例性測試序列(左圖)及對該等分量之實例性電流反應(右圖)。圖4B展示用於多分析物量測之在兩個DC分量之前具有靜止分量之實例性測試序列(左圖)及對該等分量之實例性電流反應(右圖)。圖4C展示用於多分析物量測且具有第一靜止分量、第一DC分量、第二靜止分量及第二DC分量之實例性測試序列(左圖)及對該等分量之實例性電流反應(右圖)。圖4D展示用於多分析物量測且具有第一靜止分量、脈衝輸送之第一DC分量及第二DC分量之實例性測試序列(左圖)及對該等分量之實例性電流反應(右圖)。圖4E展示用於第二分析物量測且具有初始靜止分量、交流(AC)分量、脈衝輸送之第一DC分量、不同於第一DC分量之脈衝輸送之第二DC分量及第三DC分量之實例性測試序列(左圖)及對該等分量之實例性電流反應(右圖)。圖4F展示用於多分析物量測且具有靜止分量、AC分量、脈衝輸送之第一DC分量、不同於第一DC分量脈衝輸送之第二DC分量及不同於第一及第二DC分量脈衝輸送之第三DC分量之實例性測試序列(左圖)及對該等分量之實例性電流反應(右圖)。 圖5展示具有突變體HBDH、高介質含量(PG355)及高聚合物含量(Natrasol)之實例性酮檢測試劑之劑量-反應曲線。測試3-羥基丁酸(3-HB)之8個不同含量(0 mM、0.5 mM、1 mM、1.5 mM、2 mM、3 mM、4 mM及8 mM)。 圖6A-B展示其中測試元件投用含有不同濃度之3-HB及葡萄糖之試樣之串擾實驗之結果。特定而言，圖6A展示在不同含量之3-HB (0 mM、1 mM、3 mM及8 mM)存在下對葡萄糖電流之影響。測試兩個葡萄糖含量(0 mg/dL及300 mg/dL)，每一者具有不同含量之3-HB。圖6B展示在不同含量之葡萄糖(0 mg/dL及300 mg/dL)存在下對3-HB電流之影響。測試3-HB之四個不同含量(0 mM、1 mM、3 mM及8 mM)，每一者具有不同含量之葡萄糖。 圖7A-B展示具有突變體HBDH、低介質含量(PG355)、低聚合物含量及高輔因子含量(NAD或cNAD)之另一實例性酮檢測試劑之劑量-反應曲線。特定而言，圖7A展示其中測試元件投用含有不同濃度(0 mM、1 mM、2 mM、3mM、及4 mM)之3-HB之試樣之NAD及cNAD之劑量-反應曲線。圖7B展示其中具有酮檢測試劑及葡萄糖檢測試劑之測試元件投用含有不同濃度(0 mg/dL、57 mg/dL、123 mg/dL、520 mg/dL及1000 mg/dL)之葡萄糖之試樣之NAD及cNAD之劑量-反應曲線。 圖8展示不僅具有葡萄糖檢測試劑且亦具有包括與上文酮檢測試劑不同之介質(cPES)之實例性酮檢測試劑之多分析物測試元件的劑量-反應曲線。測試元件係投用含有不同濃度(0 mM、0.25 mM、0.5 mM、1 mM、1.25 mM、1.5 mM、2 mM、3 mM、4 mM、5 mM、6 mM及8.0 mM)之3-HB之試樣。 圖9A-9F展示不同HBDH酶在實例性酮檢測試劑中之效應。特定而言，圖9A展示在葡萄糖與野生型HBDH存在下之3-HB電流；圖9B展示在葡萄糖與AFDH3 HBDH突變體存在下之3-HB電流；圖9C展示在葡萄糖與AFDH4 HBDH突變體存在下之3-HB電流；圖9D展示在葡萄糖與野生型HBDH存在下之葡萄糖電流；圖9E展示在葡萄糖與AFDH3 HBDH突變體存在下之葡萄糖電流；且圖9F展示在葡萄糖與AFDH4 HBDH突變體存在下之葡萄糖電流。 圖10A-B展示針對替代實例性雙重檢測試劑之串擾實驗之結果，其中測試元件係自前面或側面投用含有葡萄糖(300 mg/dL)及3-HB之試樣。特定而言，圖10A展示在不同含量之3-HB存在下對葡萄糖電流之影響。圖10B展示對3-HB電流之影響。測試3-HB之五個不同含量(0 mM、0.5 mM、1.5 mM、4 mM及8 mM)，每一者具有不同含量之葡萄糖。 圖11A-B展示其中酮及葡萄糖檢測試劑係經由狹縫模具塗佈而非PicoJet®離散分配來沈積之串擾實驗之結果，該等檢測試劑係投用含有不同濃度之3-HB及葡萄糖之試樣。特定而言，圖11A展示在不同含量之葡萄糖(0 mg/dL、150 mg/dL及300 mg/dL)存在下對3-HB電流之影響。測試3-HB之三個不同含量(0.5 mM、1.5 mM及3 mM)，每一者具有不同含量之葡萄糖。圖11B展示在不同含量之葡萄糖3-HB (0.5 mM、1.5 mM及3 mM)存在下對葡萄糖電流之影響。測試三個葡萄糖含量(0 mg/dL、150 mg/dL及300 mg/dL)，每一者具有不同含量之3-HB。 圖12A-B展示其中雙重葡萄糖檢測試劑係經由噴墨印刷而非狹縫模具塗佈或PictoJet離散分配來沈積之串擾實驗之結果，該等檢測試劑係投用含有350 mg/dL葡萄糖、350 mg/dL麥芽糖或350 mg/dL木糖之試樣。特定而言，圖12A展示具有含有具有低麥芽糖敏感性之突變體PQQ-GDH之檢測試劑之電極的反應。在突變體PQQ-GDH電極之情況下未觀察到顯著木糖反應。圖12B展示具有含有FAD-GDH之檢測試劑之電極之反應。 貫穿圖式之數個視圖，對應參考符號指示對應部件。 儘管易於對本發明概念作出各種修改及替代形式，但其實例性實施例係藉助實例展示於圖式中且將在本文中詳細地闡述。然而，應瞭解下文實例性實施例之闡述並非意欲將本發明概念限於所揭示之具體形式，而是相反，意欲涵蓋在如由本文所闡述之實施例及下文申請專利範圍所界定之本發明之精神及範圍內之所有優點、效應、特徵及目標。因此應參考本文所闡述之實施例及下文申請專利範圍來解釋本發明概念之範圍。因此，應注意，本文所闡述之實施例可具有可用於解決其他問題之優點、效應、特徵及目標。

Claims (49)

1. 一種乾燥檢測試劑，其包含： 第一檢測試劑，其包含第一輔酶依賴性酶或該第一酶之受質、第一輔酶及第一介質； 第二檢測試劑，其包含第二輔酶依賴性酶或該第二酶之受質、第二輔酶及第二介質，其中與該第一試劑相比時，該第二試劑之該第二輔酶依賴性酶、該第二輔酶或該第二介質中之至少一者在類型及/或濃度方面不同。
2. 如請求項1之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶及該第二輔酶依賴性酶係選自由以下組成之群：醇去氫酶、葡萄糖去氫酶、葡萄糖-6-磷酸去氫酶、葡萄糖氧化酶、甘油去氫酶、羥基丁酸去氫酶、蘋果酸去氫酶、山梨醇去氫酶、胺基酸去氫酶(包含L-胺基酸去氫酶)及黃素腺嘌呤二核苷酸(FAD)-、菸鹼醯胺腺嘌呤二核苷酸(NAD)-或吡咯并喹啉-醌(PQQ)依賴性氧化酶或去氫酶。
3. 如請求項2之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶係葡萄糖去氫酶、葡萄糖-6-磷酸去氫酶或葡萄糖氧化酶。
4. 如請求項2之乾燥檢測試劑，其中該第二輔酶依賴性酶係羥基丁酸去氫酶。
5. 如請求項2之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶係葡萄糖去氫酶且該第二輔酶依賴性酶係羥基丁酸去氫酶。
6. 如請求項2之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶及該第二輔酶依賴性酶二者均為葡萄糖去氫酶、葡萄糖氧化酶或羥基丁酸去氫酶。
7. 如請求項1之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶及該第二輔酶係選自由以下組成之群：黃素腺嘌呤二核苷酸(FAD)、菸鹼醯胺腺嘌呤二核苷酸(NAD)、吡咯并喹啉-醌(PQQ)、硫基-NAD、硫基-NADP、PQQ或人工輔酶，例如式(I)化合物或其鹽或還原形式，且其中該式(I)化合物係如下：(I)， 其中： A = 腺嘌呤或其類似物， T =在每一情形下獨立地表示O或S， U =在每一情形下獨立地表示OH、SH、BH₃ ⁻ 或BCNH₂ ⁻ ， V =在每一情形下獨立地表示OH或磷酸酯基團， W = COOR、CON(R)₂ 、COR或CSN(R)₂ ，其中R在每一情形下獨立地表示H或C₁ -C₂ -烷基， X₁ 、X₂ =在每一情形下獨立地表示O、CH₂ 、CHCH₃ 、C(CH₃ )₂ 、NH或NCH₃ ， Y = NH、S、O或CH₂ ， Z =包含具有5個C原子之環狀基團之殘基，該環狀基團視情況含有選自O、S及N之雜原子及視情況一或多個取代基；及殘基CR4₂ ，其中CR4₂ 係結合至環狀基團及X₂ ，且 其中R4 =在每一情形下獨立地表示H、F、Cl或CH₃ ，條件係Z及吡啶殘基不藉由醣苷鍵連接， 或其鹽或視情況還原形式。
8. 如請求項7之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶係FAD、NAD、NADP或該式(I)化合物或其鹽或視情況還原形式。
9. 如請求項7之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶係FAD。
10. 如請求項7之乾燥檢測試劑，其中該第二輔酶係carba-NAD、carba-NADP、硫基-NAD或硫基-NADP。
11. 如請求項7之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶係FAD且該第二輔酶係carba-NAD。
12. 如請求項7之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶及該第二輔酶二者為carba-NAD或PQQ。
13. 如請求項1之乾燥檢測試劑，其中該第一介質及該第二介質係選自由以下組成之群：偶氮化合物或偶氮前體、苯醌、麥爾多拉藍(meldola blue)、亞硝基苯胺或基於亞硝基苯胺之前體、吩嗪或基於吩嗪之前體、醌或醌衍生物、噻嗪或噻嗪衍生物、過渡金屬錯合物(例如鐵氰化鉀及鋨衍生物)及吩嗪/基於吩嗪之前體及三氯化六銨合釕之組合以及其衍生物。
14. 如請求項13之乾燥檢測試劑，其中該第一介質係亞硝基苯胺衍生物或基於亞硝基苯胺之前體、鐵氰化物、釕六胺或吩嗪。
15. 如請求項14之乾燥檢測試劑，其中該第一介質係N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽。
16. 如請求項13之乾燥檢測試劑，其中該第二介質係麥爾多拉藍、吩嗪或基於吩嗪之前體或醌或醌衍生物。
17. 如請求項16之乾燥檢測試劑，其中該第二介質係1-(3-羧基-丙醯基胺基)-5-乙基-吩嗪-5-鎓。
18. 如請求項1之乾燥檢測試劑，其中該第一介質係N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽且該第二介質係1-(3-羧基-丙醯基胺基)-5-乙基-吩嗪-5-鎓。
19. 如請求項1之乾燥檢測試劑，其中該第一介質及該第二介質二者均為N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽。
20. 如請求項1之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶係FAD依賴性葡萄糖去氫酶，該第一輔酶係FAD，且該第一介質係N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽，且其中該第二輔酶依賴性酶係羥基丁酸去氫酶，該第二輔酶係carba-NAD、carba-NADP、硫基-NAD或硫基-NADP，且該第二介質係1-(3-羧基-丙醯基胺基)-5-乙基-吩嗪-5-鎓。
21. 如請求項1之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶係FAD依賴性葡萄糖去氫酶，該第一輔酶係FAD，且該第一介質係N,N-雙(羥基乙基)-3-甲氧基-4-亞硝基苯胺鹽酸鹽(NA1144)，且其中該第二輔酶依賴性酶係FAD依賴性葡萄糖去氫酶或葡萄糖氧化酶，該第二輔酶係FAD或PQQ，且該第二介質係鐵氰化物或除NA1144以外之亞硝基苯胺作為該介質。
22. 如請求項1之乾燥檢測試劑，其中該第一輔酶依賴性酶及該第一輔酶係以共價或離子方式彼此鍵結。
23. 如請求項1之乾燥檢測試劑，其中該第二輔酶依賴性酶及該第二輔酶係以共價或離子方式彼此鍵結。
24. 一種診斷測試元件，其包含： 蓋； 非導電基板，其包含界定於該非導電基板上且在該非導電基板之第一端部分地與該蓋形成之毛細管通道； 提供於該非導電基板上之第一電極系統，該第一電極系統包含第一相對電極、第一工作電極、第一相對電極引線、第一工作電極引線、第一相對電極接觸墊及第一工作電極接觸墊，其中該第一相對電極引線將該第一相對電極電連接至該第一相對電極接觸墊，且該第一工作電極引線將該第一工作電極電連接至該第一工作電極接觸墊，且其中至少該第一相對電極及該第一工作電極位於該毛細管通道之區域中； 提供於該非導電基板上但所處位置與該第一電極系統之位置不同之第二電極系統，該第二電極系統包含第二工作電極、第二工作電極引線及第二工作電極接觸墊，其中該第二工作電極引線將該第二工作電極電連接至該第二工作電極接觸墊，且其中至少該第二工作電極位於該毛細管通道之區域中； 如請求項1之乾燥檢測試劑，其中第一檢測試劑係施加至該第一電極系統且第二檢測試劑係施加至該第二電極系統，該乾燥檢測試劑位於該毛細管通道之區域中；及 視情況位於該蓋與該非導電基板之間之間隔體，該間隔體包含界定該毛細管通道之邊界之邊緣。
25. 如請求項24之診斷測試元件，其中該毛細管通道包含在該非導電基板之該第一端之入口，該間隔體之該邊緣在該非導電基板之相對側邊緣之間延伸。
26. 如請求項24之診斷測試元件，其中該蓋之邊緣跨越該第一相對電極引線、該第一工作電極引線及該第二工作電極引線延伸，使得該第一相對電極、該第一工作電極及該第二相對電極完全位於該毛細管通道內。
27. 如請求項24之診斷測試元件，其進一步包含設置於該非導電基板上之至少兩個試樣充足性電極，該等試樣充足性電極中之每一者沿該非導電基板之各別側邊緣定位。
28. 如請求項24之診斷測試元件，其中該第一工作電極具有等於該第二電極之工作區域之工作區域。
29. 如請求項24之診斷測試元件，其中該第一工作電極具有小於該第二工作電極之工作區域之工作區域。
30. 一種測試系統，其包含： 測試儀錶，其經構形以分析體液試樣；及 一或多個如請求項24之診斷測試元件。
31. 一種電化學量測體液試樣中一或多種所關注分析物之濃度或存在之方法，該方法包含以下步驟： 將具有或懷疑具有該一或多種所關注分析物之體液試樣施加至如請求項24之診斷測試元件，使得該體液試樣與乾燥檢測試劑流體接觸以使該乾燥檢測試劑水合； 經由經構形以與該診斷測試元件相互作用之測試儀錶將電測試序列施加至該診斷測試元件，其中該測試序列包含： a. 第一固定直流(DC)分量，其包含施加於第一相對電極與第一工作電極之間用於量測第一所關注分析物之電位差；及 b. 第二固定DC分量，其包含施加於該第一相對電極與第二工作電極之間用於量測第二所關注分析物之電位差； 用該測試儀錶量測對該電測試序列之每一分量之反應資訊；及 用該測試儀錶使用該反應資訊測定一或多個分析物濃度。
32. 如請求項31之方法，其中該電測試序列進一步包含在將該體液試樣施加至該診斷測試元件後之延遲以容許該體液試樣使該乾燥檢測試劑水合，且其中該延遲包含在該第一相對電極與該第一工作電極之間以及在該第一相對電極與該第二工作電極之間維持之開路或接近0 V電位差。
33. 如請求項31之方法，其中該電測試序列在該第一固定DC分量與該第二固定DC分量之間進一步包含在該第一電極對之間維持之接近0 V DC電位差以容許反應電流返回至0。
34. 如請求項31之方法，其中該第一固定DC分量係複數個斜升至約+450 mV或自約0 V至約+450 mV之電位脈衝，且每一脈衝係由恢復間隔分開，在此期間在該第一相對電極與該第一工作電極之間施加約0 mV電位差，其中該第二固定DC分量係在最終恢復間隔之後且為在該第一相對電極與該第二工作電極之間施加之約+175 mV電位差，其中該第一固定DC分量之該等脈衝及該等恢復間隔各自持續約50 msec至約500 msec，且其中該第二固定DC分量持續至少約500 msec。
35. 如請求項31之方法，其中該第一固定DC分量係複數個斜升至約+450 mV或自約0 V至約+450 mV之電位脈衝，且每一脈衝係由恢復間隔分開，在此期間在該第一相對電極與該第一工作電極之間施加約0 mV電位差，其中該第二固定DC分量係在最終恢復間隔之後且為複數個斜升至約+175 mV或自約0 V至約+175 mV之電位脈衝，且每一脈衝係由恢復間隔分開，在此期間在該第一相對電極與該第二工作電極之間施加約0 mV電位差，其中該第一固定DC分量及該第二固定DC分量之該等脈衝及該等恢復間隔各自持續約50 msec至約500 msec。
36. 如請求項34或35之方法，其中該第一固定DC分量之該等電位脈衝斜升約10 msec。
37. 如請求項31之方法，其中該電測試序列進一步包含第三固定DC分量，該第三固定DC分量包含複數個在約-450 mV至約+450 mV之間交替之電位脈衝，且其中該第三固定DC分量係在該第一固定DC分量與該第二固定DC分量之間施加。
38. 如請求項31之方法，其中該電測試序列進一步包含交流(AC)分量，該AC分量包含複數個低振幅AC信號。
39. 如請求項38之方法，其中該AC分量包含約10 kHz、約20 kHz、約10 kHz、約2 kHz及約1 kHz之頻率，且其中每一頻率係施加約0.5秒至約1.5秒。
40. 如請求項38之方法，其中該AC分量包含約20 kHz、約10 kHz、約2 kHz及約1 kHz之頻率，且其中每一頻率係施加約0.5秒至約1.5秒。
41. 如請求項38之方法，其中該AC分量係在該第一固定DC分量及該第二固定分量之前施加。
42. 如請求項31之方法，其中該電測試序列進一步包含燒盡間隔，在此期間在該第一相對電極與該第一工作電極之間且視情況在該第一相對電極與該第二工作電極之間施加正電位差以在該一或多種所關注分析物作出顯著貢獻之前降低存在於該檢測試劑中之經還原介質之量，其中該燒盡間隔係施加約0.5秒至約1.0秒。
43. 如請求項31之方法，其進一步包含基於該一或多個分析物濃度來調節治療或修改飲食之步驟。
44. 如請求項31之方法，其進一步包含將訊息傳送至該測試元件之使用者、健康照護提供者、照護者及父母或監護人中之至少一者以基於該一或多個分析物濃度來調節治療或修改飲食之步驟。
45. 如請求項31之方法，其中該第一分析物係葡萄糖且該第二分析物係羥基丁酸。
46. 如請求項45之方法，其中該乾燥檢測試劑係如請求項20之乾燥檢測試劑。
47. 如請求項31之方法，其中該第一分析物與該第二分析物相同。
48. 如請求項47之方法，其中該分析物係葡萄糖。
49. 如請求項48之方法，其中該乾燥檢測試劑係如請求項21之乾燥檢測試劑。