TWI835702B - 設置於體外試劑檢測儀的檢測結構 - Google Patents
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Abstract
一種設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，適用於分析一檢體檢測試片，其包含一插座單元、一檢體偵測單元及一資訊校正單元，該插座單元設置該體外試劑檢測儀上，並提供該檢體檢測試片插設，其包括複數側擋壁及一底壁，該檢體偵測單元包括一傳輸電極模組及一檢體分析模組，該檢體分析模組分析該傳輸電極模組的電性並對外顯示一檢體偵測資訊，該資訊校正單元設置於該插座單元中，該資訊校正單元確定該檢體檢測試片的形狀，該檢體分析模組與該資訊校正單元連接，並以該檢體檢測試片的形狀對該檢體偵測資訊進行校正。
Description
本發明是有關於一種檢測結構，尤其是一種用於校正檢體偵測結果之設置於體外試劑檢測儀的檢測結構。
隨著生活的進步，現代人越來越注重身體的健康狀況，其中，市面上所販售之簡易式檢體偵測機(例如血糖機)，可以提供使用者隨時量測自身的檢體數值(血糖值)，以於檢體數值發生異常時進行用藥，避免身體被過高的血糖所破壞，或是於過低的血糖中發生頭暈等狀況。
隨著科技的進步，檢體檢測機不僅可以針對血糖進行偵測，還能夠針對血液中之高密度膽固醇、低密度膽固醇、血酮、尿酸、三酸甘油脂等等的含量進行偵測，另外檢體也可以由不同的檢體檢測機進行量測，其中，在檢體檢測試片中的反應區，會使用特定的反應物，來針對檢體中特定檢測物的含量進行反應，以對外顯示對應的數值。
例如針對血糖的量測，可以使用酵素作為反應物，但不以此為限，在檢體檢測試片中，是將酵素塗覆於複數電極上，當酵素接觸到檢體，酵素會產生不同的電性(例如電阻)，該複數電極會對外輸出酵素的電性，檢體偵測機可以將酵素的電性轉換成血糖值定對外輸出。
但是，由於酵素在生產製造時，會因為原料、製程、環境等因素，產生些微的誤差，因此於檢體檢測試片塗覆上酵素後，於酵素乾燥時會進行品管的檢測，以取得該批檢體檢測試片的特性，並將該批檢體檢測試片的特性傳輸給檢體偵測機，以使檢體偵測機可以針對該批檢體檢測試片的特性進行校正，以取得準確的血糖值。
而如何將該批檢體檢測試片的特性傳輸給檢體偵測機，目前的作法是針對該批檢體檢測試片的品管檢測結果，製造校正片，該校正片隨著該批檢體檢測試片進行販售，當使用者購買到該批檢體檢測試片時，將該校正片上的資料儲存於對應的檢體偵測機中，以使該檢體偵測機於後續的血糖偵測可以針對性地校正，藉此取得正確的血糖值，因此現有的檢體偵測機中會設置校正資料讀取電路，先讀取該校正片的資料，才能於之後的量測時對血糖值進行準確的校正，並藉此取得正確的血糖值。
請參閱圖1，為現有檢體偵測機內部的檢測結構，包括一電路板11、一設置於該電路板11之控制模組12，及一設置於該電路板11之連接座體13，該連接座體13中設置一接觸電極組件131，該接觸電極組件131與該控制模組12連接，該控制模組12中設置有一校正值儲存組件121，及一檢體分析組件122，首先須將一校正片(圖式未示出)插設於該連接座體13，該校正值儲存組件121儲存該校正片中的校正值，以當該檢體檢測試片(圖式未示出)插設於該連接座體13並進行檢體的量測時，該檢體分析組件122以該校正值儲存組件121儲存的校正值對該檢體的量測值進行校正，用以輸出檢體正確的量測數值。
除此之外，完成該批檢體檢測試片的品管檢測並取得校正值後，還有一些檢體檢測試片會將校正值印刷在貼紙上(例如QR code)，每一檢體檢測試片上貼附貼紙，較佳地，是貼在檢體檢測試片的背面，而該檢體偵測機中必須再另外設置光學辨識電路，以取得該檢體檢測試片的校正值。
另外現有的檢體檢測試片中還會設置印刷電路，所述印刷電路中會設置多向迴路電路，完成該批檢體檢測試片的品管檢測並取得校正值後，會再使用雷射刻除的方式將該多向迴路電路進行控制性切斷，以將校正值以迴路電路的方式儲存於該批中每一檢體檢測試片上，而該檢體偵測機中必須再另外設置迴路電路的辨識電路，以取得該檢體檢測試片的校正值。
雖然上述內容說明了一種血糖偵測校正技術，但是實際使用時仍具有下列缺點：
一、耗費成本：
該校正片上設有電路及記憶晶片，為了防止記憶資料遭到破壞，會在電路及記憶晶片上設置保護殼，並且製造商還需要設置一台資料寫入機，以於品管檢測並取得校正值後，可以將校正資料寫入該記憶晶片中，因此現有的檢體偵測機中會設置校正資料讀取電路及校正資料記憶電路，以讀取校正值並進行儲存，並在之後的檢測時校正並顯示正確的血糖值，故增加了生產製造該批檢測試片及該檢體偵測機的成本，或是另外於該檢體偵測機中設置光學辨識電路，或是迴路電路的辨識電路，同樣地都會增加生產製造該批檢測試片及該檢體偵測機的成本。
二、使用繁瑣：
當使用者購買該批檢測試片時，必須先對檢體偵測機進行操作，以將校正片中儲存的校正值輸入於檢體偵測機中，但是有一些檢體偵測機無法自動儲存校正值，必須進行操作，這對於行動不便者或老年人來說，操作過程過於繁瑣，甚至有一些人還不知道要進行試片的校正，造成檢體偵測機中沒有儲存到該批檢體檢測試片的校正值。
三、增加環境的污染：
有一些檢體檢測試片上會另外設置校正晶片、迴路電路，或光學印刷貼紙來儲存校正值，以於該檢體檢測試片插入檢體偵測機時自動針對該檢體檢測試片進行血糖值的校正，但是在每一檢體檢測試片上設置校正晶片、迴路電路，或光學印刷貼紙，不僅成本非常的高，在該檢體檢測試片使用後還會產生多餘的電子垃圾，導致增加環境污染的狀況。
因此，如何使檢體偵測機不再需要另外設置讀取校正片、校正晶片、迴路電路，或光學印刷貼紙的相關電路，藉此簡化量測檢體的流程同時減少電子垃圾的產生，並且檢體偵測機還能夠在每一次進行檢體量測時自動校正，是相關技術人員亟需努力的目標。
有鑑於此，本發明之目的是在提供一種設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，適用於分析一檢體檢測試片。
該設置於體外試劑檢測儀的檢測結構包含一插座單元、一檢體偵測單元，及一資訊校正單元。
該插座單元設置該體外試劑檢測儀上，並提供該檢體檢測試片插設，其包括複數側擋壁，及一與該複數側擋壁連接之底壁。
該檢體偵測單元包括一設置於其中之一側擋壁之傳輸電極模組，及一與該傳輸電極模組連接之檢體分析模組，該檢體分析模組分析該傳輸電極模組的電性並對外顯示一檢體偵測資訊。
該資訊校正單元設置於該插座單元中，該資訊校正單元確定該檢體檢測試片的形狀，該檢體分析模組與該資訊校正單元連接，並以該檢體檢測試片的形狀對該檢體偵測資訊進行校正。
本發明的又一技術手段，是在於上述之該資訊校正單元包括複數設置於其中之一側擋壁之第一電極模組，及複數設置於另一側擋壁之第二電極模組，該複數第一電極模組與該複數第二電極模組可分離地接觸，該檢體檢測試片插設於該插座單元時能夠推動該複數第一電極模組與該複數第二電極模組並使其分離。
本發明的另一技術手段，是在於上述之該插座單元更包括複數設置於其中之一側擋壁之第一導槽，及複數設置於另一側擋壁之第二導槽，該複數第一電極模組分別設置於該複數第一導槽，該複數第二電極模組分別設置於該複數第二導槽，該複數第一導槽位置與該複數第二導槽位置相互對應，以使該複數第一電極模組與該複數第二電極模組相互對齊。
本發明的再一技術手段，是在於上述之該複數第一電極模組與該複數第二電極模組的結構為導電彈片，並且可動地設置於該複數第一導槽與該複數第二導槽中，用以緩衝該檢體檢測試片的撐抵力量。
本發明的又一技術手段，是在於上述之每一第一電極模組具有一與該檢體分析模組連接之第一連接段、一與該第一連接段連接並撐抵該第一導槽底部的第一支撐段、一與該第一支撐段連接並突出該第一導槽之第一彈性段，及一與該第一彈性段連接之第一接觸部，每一第二電極模組具有一與該檢體分析模組連接之第二連接段、一與該第二連接段連接並撐抵該第一導槽底部的第二支撐段、一與該第二支撐段連接並突出該第二導槽之第二彈性段，及一與該第二彈性段連接之第二接觸部。
本發明的另一技術手段，是在於上述之該資訊校正單元設置於該底壁，插設於該插座單元之檢體檢測試片抵接該資訊校正單元，而該檢體分析模組會依據該檢體檢測試片的試片形狀，進一步產生一校正值。
本發明的再一技術手段，是在於上述之該資訊校正單元包括複數設置於該底壁之固定電極模組，及複數分別與該複數固定電極模組間隔設置之接觸電極模組，該複數接觸電極模組受該檢體檢測試片的推動能夠接觸該複數固定電極模組。
本發明的又一技術手段，是在於上述之該插座單元更包括複數設置於該底壁之底側導槽，及一設置於該底壁之凹陷部，該複數固定電極模組與該複數接觸電極模組分別設置於該底側導槽，該複數接觸電極模組自該複數底側導槽顯露於該凹陷部，該插設於該插座單元之檢體檢測試片伸入該凹陷部，並堆動該複數接觸電極模組接觸該複數固定電極模組。
本發明的另一技術手段，是在於上述之該插座單元更包括複數分別設置於該底側導槽並與該凹陷部間隔設置之隔離塊，該複數隔離塊設置於該複數固定電極模組與該複數接觸電極模組之間。
本發明的再一技術手段，是在於上述之該插座單元更包括一與該複數側擋壁連接之滑動塊，該滑動塊能夠於該複數側擋壁中滑動，以將插設於該插座單元中之檢體檢測試片向外推出，該滑動塊具有一與其中之一側擋壁接觸之底板，及一設置於該底板之閃避區，該閃避區的位置與該資訊校正單元相配合，以使該資訊校正單元能夠穿設於該閃避區中。
本發明之有益功效在於，該檢體分析模組依據該資訊校正單元的偵測結果，即時對該檢體檢測試片的檢體偵測資訊進行校正，並輸出準確的檢體資訊，該體外試劑檢測儀不需要另外設置用於儲存校正資料的記憶晶片，可以降低該體外試劑檢測儀的製造成本，除此之外，該體外試劑檢測儀可以在每一次進行檢體檢測時自動進行偵測值的校正，操作簡單並且可以避免沒有進行校正的狀況。
有關本發明之相關申請專利特色與技術內容，在以下配合參考圖式之三個較佳實施例的詳細說明中，將可清楚地呈現。在進行詳細說明前應注意的是，類似的元件是以相同的編號來做表示。
參閱圖2、圖3，及圖4，為本發明一種設置於體外試劑檢測儀的檢測結構之一第一較佳實施例，該設置於體外試劑檢測儀的檢測結構適用於分析一檢體檢測試片21，較佳地，該體外試劑檢測儀與該檢體檢測試片21可用於檢測各種檢體，所述檢體包含血液、眼液、組織液、尿液、汗液等液體，或是上述液體的萃取液，而針對血液的偵測，可以量測血糖、低密度膽固醇、高密度膽固醇、三酸甘油脂、尿酸、血酮等數值，實際實施時，也可使用於其他的檢體檢測技術，不應以此為限。該檢測結構包含一插座單元3、一檢體偵測單元4，及一資訊校正單元5。
回顧圖3，說明一種檢體檢測試片21，適用於本發明之體外試劑檢測儀及檢測結構，該檢體檢測試片21呈現長條形，並包括一設置於頂端的檢體偵測區211、一設置於底部的電極設置區212，及一設置於底端的形狀特徵區213。該電極設置區212中設有六個電極，但不以此為限，用以讀取該檢體偵測區211的電性。該電極設置區212與該檢體檢測試片21的底邊間隔設置，以使該檢體檢測試片21的底邊能夠提供該形狀特徵區213設置，該形狀特徵區213是以試片形狀來界定該檢體檢測試片21的校正參數。舉例來說，當一批檢體檢測試片21完成基礎的製造時，會以抽取的方式檢測該檢體偵測區211中之反應物特徵，並取得校正參數，接著將該校正參數刻印於該批檢體檢測試片21的形狀特徵區213，以使該體外試劑檢測儀可以對檢體的偵測結果進行校正，其中，該形狀特徵區213的校正參數主要是以二進制的方式進行表示，但不以此為限。
請參閱圖4、圖5，及圖6，該插座單元3設置該體外試劑檢測儀中，用以提供該檢體檢測試片21插設，其中，該體外試劑檢測儀設有外殼(圖式未示出)，外殼中設有電路板11，該插座單元3設置於該電路板11上。
該插座單元3包括複數側擋壁31、一與該複數側擋壁31連接之底壁32、複數設置於其中之一側擋壁31之第一導槽33，及複數設置於另一側擋壁31之第二導槽34。其中，該底壁32位於該插座單元3的右側，該插座單元3的左側設有插入口，用以提供該檢體檢測試片21進行插設。
該檢體偵測單元4包括一設置於其中之一側擋壁31之傳輸電極模組41，及一與該傳輸電極模組41連接之檢體分析模組42，該檢體分析模組42設置於該電路板11上，該檢體分析模組42分析該傳輸電極模組41的電性並對外顯示一檢體偵測資訊，其中，該傳輸電極模組41設置於頂側的側擋壁31，但不以此為限。另外，由於讀取該檢體檢測試片21並將檢體偵測資訊對外顯示，為已知的技術，例如血糖機，故於此不再詳述。於該第一較佳實施例中，該傳輸電極模組41的數量為六組，但不以此為限。
該資訊校正單元5設置於該插座單元3中，該資訊校正單元5確定該檢體檢測試片21的形狀，該檢體分析模組42與該資訊校正單元5連接，並以該檢體檢測試片21的試片形狀對該檢體偵測資訊進行校正。
於該第一較佳實施例中，該資訊校正單元5包括複數設置於其中之一側擋壁31之第一電極模組51，及複數設置於另一側擋壁31之第二電極模組52，該複數第一電極模組51分別與該複數第二電極模組52可分離地接觸，該檢體檢測試片21插設於該插座單元3時能夠推動該複數第一電極模組51與該複數第二電極模組52並使其分離，其中，該檢體檢測試片21之形狀特徵區213是以試片形狀，針對特定之第一電極模組51及第二電極模組52進行分離，以使該資訊校正單元5可以將該檢體檢測試片21的校正參數傳輸至該檢體分析模組42。
請參閱圖5，於該第一較佳實施例中，該插座單元3位於頂部的側擋壁31還設有一上蓋43，該上蓋43中設置有複數用於容置該傳輸電極模組41的導槽，實際實施時，該側擋壁31的結構可以設計成其他結構，不應以此為限。該複數第一電極模組51分別設置於頂部側擋壁31的複數第一導槽33中，該複數第二電極模組52分別設置於底部側擋壁31的第二導槽34中，該傳輸電極模組41與該第一電極模組51彼此間隔，其中，該側擋壁31中設有擋塊，以將該傳輸電極模組41與該第一電極模組51彼此間隔。
於該第一較佳實施例中，該傳輸電極模組41與該第一電極模組51的數量為六組，但不以此為限。該複數第一導槽33位置與該複數第二導槽34位置相互對應，以使該複數第一電極模組51與該複數第二電極模組52相互對齊。
該複數第一電極模組51與該複數第二電極模組52的結構為導電彈片，並且可動地設置於該複數第一導槽33與該複數第二導槽34中，用以緩衝該檢體檢測試片21的撐抵力量，插入該插座單元3的檢體檢測試片21，利用該形狀特徵區213的試片形狀，針對特定的第一電極模組51與該第二電極模組52，將其分離以使其由短路電性改變成斷路電性。舉例來說，該檢體檢測試片21之形狀特徵區213中所設置之向外凸出的結構，可以將該第一電極模組51與該第二電極模組52分離，而該形狀特徵區213中內縮的部分不會接觸該第一電極模組51與該第二電極模組52，以使其保持短路電性，該檢體分析模組42可以利用短路斷路的電性偵測，取得該檢體檢測試片21的校正參數，以對該傳輸電極模組41的偵測結果進行校正，進一步得到正確的檢體偵測資訊，例如於圖4中，設定短路數值為1，斷路數值為0，當該第一電極模組51與該第二電極模組52全部電性接觸，該檢體分析模組42會產生111111之二進制的校正值，並且依據形狀特徵區213的試片形狀，進一步產生如111110、111101、111100、111001等校正值，但不以此為限。
於該第一較佳實施例中，每一第一電極模組51具有一與該檢體分析模組42連接之第一連接段511、一與該第一連接段511連接並撐抵該第一導槽33底部的第一支撐段512、一與該第一支撐段512連接並突出該第一導槽33之第一彈性段513，及一與該第一彈性段513連接之第一接觸部514，每一第二電極模組52具有一與該檢體分析模組42連接之第二連接段521、一與該第二連接段521連接並撐抵該第二導槽34底部的第二支撐段522、一與該第二支撐段522連接並突出該第二導槽34之第二彈性段523，及一與該第二彈性段523連接之第二接觸部524，該第一連接段511與該第二連接段521焊接於電路板11，該第一支撐段512抵接該第一導槽33底面以使該第一彈性段513提供該第一接觸部514對外的彈力，該第二支撐段522抵接該第二導槽34底面以使該第二彈性段523提供該第二接觸部524對外的彈力，該第一接觸部514與該第二接觸部524彼此抵觸並形成短路電性，該第一接觸部514與該第二接觸部524被該檢體檢測試片21分離時形成斷路電性。
請參閱圖7，及圖8，為本發明一種設置於體外試劑檢測儀的檢測結構之一第二較佳實施例，該第二較佳實施例與該第一較佳實施例大致相同，相同之處於此不再詳述，不同之處在於，該插座單元3更包括一與該複數側擋壁31連接之滑動塊35，該滑動塊35能夠於該複數側擋壁31中滑動，用以將插設於該插座單元3中之檢體檢測試片21向外推出。
於該第二較佳實施例中，該滑動塊35具有一與其中之一側擋壁31接觸之底板351、二設置於該底板351一側之端部抵接件352、一設置於該底板351另一側之底導引件353、一設置於該底板351之閃避區354、二分設於該底板351側邊的側板355、二分設於該二側板355之側導引件356。
其中，該底板351是設置於該側擋壁31的內表面，實際實施時，該底板351也可以設置於該側擋壁31之外表面，不應以此為限。該閃避區354的位置與該資訊校正單元5相配合，以使該資訊校正單元5能夠穿設於該閃避區354中。該底板351與一設置於該體外試劑檢測儀上的彈力推件(圖式未示出)連接，該彈力推件的彈力可推動該滑動塊35，使該滑動塊35接近該底壁32，該彈力推件提供使用者推動，以將該滑動塊35推離該底壁32，並將該檢體檢測試片21向外推動。
該底導引件353，及該側導引件356為斜坡，用以將該檢體檢測試片21導入該底板351上，舉例來說，該檢體檢測試片21從該滑動塊35的左側推入該插座單元3時，該底導引件353，及該側導引件356可以將該檢體檢測試片21導入該底板351上，並且該檢體檢測試片21抵接該端部抵接件352，此時，該底板351與該二側板355緊緊抵住該檢體檢測試片21，以使該傳輸電極模組41接觸該檢體檢測試片21，同時該檢體檢測試片21可以將該第一電極模組51，及該第二電極模組52進行分離。當將該滑動塊35向左移動，該端部抵接件352向左推動該檢體檢測試片21，以將該檢體檢測試片21從該插座單元3向外推出。
其中，由於該底板351上設有該閃避區354，以使該滑動塊35接觸或接近該底壁32時，該第二電極模組52可以穿過該滑動塊35而與該第一電極模組51接觸，避免該第二電極模組52與該滑動塊35產生干涉，於該第二較佳實施例，該閃避區354的結構為複數導條，實際實施時，該閃避區354可以使用其他結構，不應以此為限。
請參閱圖9，及圖10，為本發明一種設置於體外試劑檢測儀的檢測結構之一第三較佳實施例，該第三較佳實施例與該第一較佳實施例大致相同，相同之處於此不再詳述，不同之處在於，該資訊校正單元5設置於該底壁32中，而插設於該插座單元3之檢體檢測試片21抵接該資訊校正單元5。
於該第三較佳實施例中，該資訊校正單元5包括複數設置於該底壁32之固定電極模組53，及複數分別與該複數固定電極模組53間隔設置之接觸電極模組54，實際實施時，該資訊校正單元5可以使用其他的偵測技術，例如紅外線感測器，不應以此為限，該複數接觸電極模組54受該檢體檢測試片21的推動能夠接觸該複數固定電極模組53。
該插座單元3更包括複數設置於該底壁32之底側導槽36，及一設置於該底壁32之凹陷部37，該凹陷部37的位置對應該複數側擋壁31所界定的空間，用以使該檢體檢測試片21深入該插座單元3時還能夠再進入該凹陷部37，該複數固定電極模組53與該複數接觸電極模組54分別設置於該底側導槽36，該底側導槽36與該凹陷部37連接，該複數接觸電極模組54自該複數底側導槽36顯露於該凹陷部37，該插設於該插座單元3之檢體檢測試片21能夠伸入該凹陷部37，並且堆動該複數接觸電極模組54，使其接觸該複數固定電極模組53。
該插座單元3更包括複數分別設置於該底側導槽36並與該凹陷部37間隔設置之隔離塊38，該複數隔離塊38設置於該複數固定電極模組53與該複數接觸電極模組54之間。當該檢體檢測試片21未接觸該複數接觸電極模組54時，該複數隔離塊38將該複數固定電極模組53與該複數接觸電極模組54分開使其呈為斷路電性，當該檢體檢測試片21推動該複數接觸電極模組54並使其與該複數固定電極模組53接觸時呈現短路電性。例如於圖9中，設定短路數值為1，斷路數值為0，當該複數接觸電極模組54分別接觸該複數固定電極模組53，該檢體分析模組42會產生000000之二進制的校正值，並且依據形狀特徵區213的試片形狀，進一步產生如000001、000010、000011、000100等校正值，但不以此為限。
值得一提的是，當將該資訊校正單元5設置於該底壁32時，可以使該側擋壁31中只有設置該傳輸電極模組41，該側擋壁31不需要另外分層設置，結構較為簡單且堅固，除此之外，設置於該複數側擋壁31之間的滑動塊35，並不會干擾到該資訊校正單元5的工作，無須另外設置該閃避區354，並且，該檢體檢測試片21之形狀特徵區213的結構只需要推動該資訊校正單元5，無須設置過長的結構，藉此控制該設置於體外試劑檢測儀的檢測結構之體積。
由上述說明可知，本發明一種設置於體外試劑檢測儀的檢測結構確實具有下列功效：
一、節省成本：
由於該檢體檢測試片21之形狀特徵區213可以利用試片形狀記錄該檢體偵測區211對應的校正參數，使該體外試劑檢測儀利用該資訊校正單元5能夠立即針對該檢體檢測試片21的檢體偵測資訊進行校正，因此該體外試劑檢測儀中不需要另外設置可以儲存校正參數的記憶晶片、光學圖形辨識電路、校正晶片辨識電路、多向迴路電路辨識電路等等，藉此節省該體外試劑檢測儀的製造成本。
二、簡化使用流程及避免出現錯誤：
由於該形狀特徵區213已經儲存該檢體檢測試片21的校正參數，販售該批檢體檢測試片21時已經不需要附上校正片，使用者不再需要針對該校正片中的資料進行讀取及儲存，藉此簡化該體外試劑檢測儀的操作流程，除此之外，由於每一檢體檢測試片21之形狀特徵區213的試片形狀已經儲存對應的校正參數，因此該體外試劑檢測儀不會使用到其他的校正參數，可以避免產生錯誤的校正。
三、減少環境的污染：
該檢測結構之資訊校正單元5主要是以電極接觸或分離時的電性，判斷該檢體檢測試片21之形狀特徵區213的試片形狀，即可得到該檢體檢測試片21的校正參數，淘汰早期校正片、印刷貼紙、多向迴路電路的使用，並且該體外試劑檢測儀上也不需要設置記憶晶片、光學辨識電路、校正晶片辨識電路、多向迴路電路辨識電路等等，大幅減少電子垃圾的數量，有效減少對環境所造成的污染。
綜上所述，該檢測結構中所設置的資訊校正單元5，可以利用該第一電極模組51、該第二電極模組52、該固定電極模組53及該接觸電極模組54之短路斷路的電性，偵測該檢體檢測試片21之形狀特徵區213的試片形狀，藉此取得該檢體檢測試片21的校正參數，並針對該檢體偵測資訊進行校正，藉此輸出準確的檢體偵測資訊，而且還能夠改善早期使用校正片或記憶晶片的缺點，故確實可以達成本發明之目的。
惟以上所述者，僅為本發明之三個較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
11:電路板
12:控制模組
121:校正值儲存組件
122:檢體分析組件
13:連接座體
131:接觸電極組件
21:檢體檢測試片
211:檢體偵測區
212:電極設置區
213:形狀特徵區
3:插座單元
31:側擋壁
32:底壁
33:第一導槽
34:第二導槽
35:滑動塊
351:底板
352:端部抵接件
353:底導引件
354:閃避區
355:側板
356:側導引件
36:底側導槽
37:凹陷部
38:隔離塊
4:檢體偵測單元
41:傳輸電極模組
42:檢體分析模組
43:上蓋
5:資訊校正單元
51:第一電極模組
511:第一連接段
512:第一支撐段
513:第一彈性段
514:第一接觸部
52:第二電極模組
521:第二連接段
522:第二支撐段
523:第二彈性段
524:第二接觸部
53:固定電極模組
54:接觸電極模組
圖1是一側視剖面示意圖，說明現有檢體偵測機內部的檢測結構；
圖2是一立體示意圖，為本發明一種設置於體外試劑檢測儀的檢測結構之一第一較佳實施例，說明該體外試劑檢測儀及一檢體檢測試片；
圖3是一前視示意圖，說明於該第一較佳實施例中，該檢體檢測試片的前視態樣；
圖4是一側視剖面示意圖，說明於該第一較佳實施例中，一插座單元、一檢體偵測單元，及一資訊校正單元的設置態樣；
圖5是一立體結構分解圖，說明於該第一較佳實施例中，該插座單元、該檢體偵測單元，及該資訊校正單元的立體結構；
圖6是一側視剖面示意圖，說明於該第一較佳實施例中，該資訊校正單元的側視態樣；
圖7是一側視剖面示意圖，為本發明一種設置於體外試劑檢測儀的檢測結構之一第二較佳實施例，說明一設置有一滑動塊之插座單元；
圖8是一俯視示意圖，說明於該第二較佳實施例中，該滑動塊的結構配置；
圖9是一側視剖面示意圖，為本發明一種設置於體外試劑檢測儀的檢測結構之一第三較佳實施例，說明一資訊校正單元設置於一插座單元之底壁的結構；及
圖10是一立體結構分解圖，說明於該第三較佳實施例中，該插座單元及該資訊校正單元的設置結構。
3:插座單元
31:側擋壁
32:底壁
4:檢體偵測單元
41:傳輸電極模組
42:檢體分析模組
5:資訊校正單元
51:第一電極模組
52:第二電極模組
Claims (10)
- 一種設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，適用於分析一檢體檢測試片，其包含： 一插座單元，設置該體外試劑檢測儀上，並提供該檢體檢測試片插設，其包括複數側擋壁，及一與該複數側擋壁連接之底壁； 一檢體偵測單元，包括一設置於其中之一側擋壁之傳輸電極模組，及一與該傳輸電極模組連接之檢體分析模組，該檢體分析模組分析該傳輸電極模組的電性並對外顯示一檢體偵測資訊；及 一資訊校正單元，設置於該插座單元中，該資訊校正單元確定該檢體檢測試片的形狀，該檢體分析模組與該資訊校正單元連接，並以該檢體檢測試片的形狀對該檢體偵測資訊進行校正。
- 如請求項1所述設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，其中，該資訊校正單元包括複數設置於其中之一側擋壁之第一電極模組，及複數設置於另一側擋壁之第二電極模組，該複數第一電極模組與該複數第二電極模組可分離地接觸，該檢體檢測試片插設於該插座單元時能夠推動該複數第一電極模組與該複數第二電極模組並使其分離。
- 如請求項2所述設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，其中，該插座單元更包括複數設置於其中之一側擋壁之第一導槽，及複數設置於另一側擋壁之第二導槽，該複數第一電極模組分別設置於該複數第一導槽，該複數第二電極模組分別設置於該複數第二導槽，該複數第一導槽位置與該複數第二導槽位置相互對應，以使該複數第一電極模組與該複數第二電極模組相互對齊。
- 如請求項3所述設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，其中，該複數第一電極模組與該複數第二電極模組的結構為導電彈片，並且可動地設置於該複數第一導槽與該複數第二導槽中，用以緩衝該檢體檢測試片的撐抵力量。
- 如請求項4所述設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，其中，每一第一電極模組具有一與該檢體分析模組連接之第一連接段、一與該第一連接段連接並撐抵該第一導槽底部的第一支撐段、一與該第一支撐段連接並突出該第一導槽之第一彈性段，及一與該第一彈性段連接之第一接觸部，每一第二電極模組具有一與該檢體分析模組連接之第二連接段、一與該第二連接段連接並撐抵該第一導槽底部的第二支撐段、一與該第二支撐段連接並突出該第二導槽之第二彈性段，及一與該第二彈性段連接之第二接觸部。
- 如請求項1所述設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，其中，該資訊校正單元設置於該底壁，插設於該插座單元之檢體檢測試片抵接該資訊校正單元，而該檢體分析模組會依據該檢體檢測試片的試片形狀，進一步產生一校正值。
- 如請求項6所述設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，其中，該資訊校正單元包括複數設置於該底壁之固定電極模組，及複數分別與該複數固定電極模組間隔設置之接觸電極模組，該複數接觸電極模組受該檢體檢測試片的推動能夠接觸該複數固定電極模組。
- 如請求項7所述設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，其中，該插座單元更包括複數設置於該底壁之底側導槽，及一設置於該底壁之凹陷部，該複數固定電極模組與該複數接觸電極模組分別設置於該底側導槽，該複數接觸電極模組自該複數底側導槽顯露於該凹陷部，該插設於該插座單元之檢體檢測試片伸入該凹陷部，並堆動該複數接觸電極模組接觸該複數固定電極模組。
- 如請求項8所述設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，其中，該插座單元更包括複數分別設置於該底側導槽並與該凹陷部間隔設置之隔離塊，該複數隔離塊設置於該複數固定電極模組與該複數接觸電極模組之間。
- 如請求項1所述設置於體外試劑檢測儀的檢測結構，其中，該插座單元更包括一與該複數側擋壁連接之滑動塊，該滑動塊能夠於該複數側擋壁中滑動，以將插設於該插座單元中之檢體檢測試片向外推出，該滑動塊具有一與其中之一側擋壁接觸之底板，及一設置於該底板之閃避區，該閃避區的位置與該資訊校正單元相配合，以使該資訊校正單元能夠穿設於該閃避區中。
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| TW201829778A (zh) * | 2016-10-05 | 2018-08-16 | 瑞士商赫孚孟拉羅股份公司 | 用於多分析物診斷測試元件之檢測試劑及電極配置以及使用彼之方法 |
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