TW201802280A - 包含三維多孔導電石墨烯膜的透明基材及其製作方法 - Google Patents

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Abstract

本文所揭露的是多種石墨烯塗層，特徵在於多孔三維球狀結構，該結構具有中空核心，本文也揭露用於在玻璃、玻璃陶瓷、陶瓷、及結晶材料上形成此類石墨烯塗層的方法。此類塗層可進一步塗佈有有機或無機層，且用於化學及電子應用。

Description

包含三維多孔導電石墨烯膜的透明基材及其製作方法
此申請案依照專利法主張2016年3月21日提出申請的美國臨時申請案第62/311,063號之優先權權益，本申請案仰賴該臨時申請案之內容，且該臨時申請案之內容整體以參考形式併入本文中。
本案揭露內容大體上關於包括石墨烯膜的透明基材，更特定而言，關於包括三維導電石墨烯膜的透明基材及製作該基材之方法。
石墨烯是二維碳材料，石墨烯由於有期望的性質所以具有用在各式各樣的應用上的潛力。石墨烯有化學穩定性、機械強度、及可撓性，同時擁有高光學透射度及導電率。諸如顯示器與光伏的某些應用要求透明導電膜。石墨烯可有潛力地取代在這樣的應用中的當前所用的導電氧化物膜，例如氧化銦錫（ITO）。然而，雖石墨烯擁有許多使它在這些應用上特別有吸引力的性質，但目前石墨烯僅主要應用在研究中，因為形成、處理、及運作該材料的方法仍持續在進展中。此外，石墨烯所具有的一個限制是，因為它是單層，所以它是基本上無厚度可言的二維結構。這是一項問題，特別是在石墨烯所交互作用的基材與材料較厚及/或粗糙的情況中。在這樣的情境中，石墨烯的二維本質可能是不利的。因此，期望獲得保有石墨烯薄片之優點的三維石墨烯結構。然而，截至目前為止，難以獲得具有這些性質的材料。
在各種實施例中，本案揭露內容關於包括具中空核心的三維石墨烯結構的製品，本案揭露內容也關於用於在基材上形成三維石墨烯膜的方法。該石墨烯塗層可經化學修飾而納入其他元素或基團，使得這些石墨烯塗層可用於為數眾多的化學、物理、電子、生物、或其他製程，諸如用於催化劑的載體。作為替代方案，該等石墨烯結構可塗佈有額外材料，以形成電子或其他裝置的結構。
在態樣（1）中，本案揭露內容提供一種製品，該製品包括基材及塗佈層，該基材具有表面粗糙度，該基材包括：a）玻璃、玻璃陶瓷、陶瓷、無機結晶或多晶材料；該塗佈層具有從約20nm至約800μm的厚度且黏著至該基材，該塗佈層包括：b）多孔三維構造，具有從約200m2 /g至約2200m2 /g的平均表面積，且該多孔三維構造的特徵在於至少一個視情況取代（optionally substituted）的三維石墨烯結構，該結構具有中空核心，其中：i）該至少一個三維石墨烯結構包括五層或更少層的石墨烯；以及ii）該至少一個三維石墨烯球狀結構具有從約30nm至約500nm的平均直徑。
在態樣（2）中，本案揭露內容提供態樣（1）的製品，其中該至少一個三維石墨烯結構的該中空核心實質上無金屬或金屬氧化物。在態樣（3）中，本案揭露內容提供態樣（1）或態樣（2）的製品，其中該基材包括玻璃或玻璃陶瓷。態樣（4）中，本案揭露內容提供態樣（3）的製品，其中該玻璃或玻璃陶瓷包括燻矽（fumed silica）。態樣（5）中，本案揭露內容提供態樣（1）至（4）任一者的製品，其中該基材的表面粗糙度是2nm或更低。態樣（6）中，本案揭露內容提供態樣（1）至（5）任一者的製品，其中該至少一個視情況取代的三維中空石墨烯球狀結構包括兩層或更少層石墨烯。態樣（7）中，本案揭露內容提供態樣（6）的製品，其中該至少一個視情況取代的三維中空石墨烯球狀結構各者包括大致單層。態樣（8）中，本案揭露內容提供態樣（1）至（7）任一者的製品，其中掃描式電子顯微鏡所測量的該至少一個視情況取代的三維石墨烯結構之該平均直徑為由掃描式電子顯微鏡所測量的約50nm至約500nm。
態樣（9）中，本案揭露內容提供態樣（1）至（8）任一者的製品，其中該塗佈層的厚度從約500nm至約800μm。態樣（10）中，本案揭露內容提供態樣（1）至（9）任一者的製品，其中該多孔三維構造的平均表面積是從約500至1500m2 /g。態樣（11）中，本案揭露內容提供態樣（1）至（10）任一者的製品，其中該多孔三維構造具有由掃描式電子顯微鏡所測量的從約90%至約99.6%的孔隙度。態樣（12）中，本案揭露內容提供態樣（1）至（11）任一者的製品，其中該塗佈層對該透明基材的黏著呈現在該塗佈層與該透明基材之界面處的一有效黏著能量，該有效黏著能量為從約0.1J/m2 至約4 J/m2 。態樣（13）中，本案揭露內容提供態樣（1）至（12）任一者的製品，其中該基材包括透明材料，且紫外線至可見光光譜術所測量的該製品的光學透射度在550nm處大於60%。
態樣（14）中，本案揭露內容提供一種製品，該製品包括基材及嵌入層，該基材包括多孔玻璃或玻璃陶瓷，該多孔玻璃或玻璃陶瓷具有其中有空隙的結構，而該嵌入層插置（intercalate）於該多孔玻璃或玻璃陶瓷的結構的空隙中，該嵌入層包括：多孔三維構造，具有從約200m2 /g至約2200m2 /g的平均表面積，且該多孔三維構造的特徵在於至少一個視情況取代的三維石墨烯結構，該結構具有中空核心，其中：i）該至少一個三維石墨烯結構包括五層或更少層的石墨烯；以及ii）該至少一個三維石墨烯球狀結構具有從約30nm至約500nm的平均直徑。態樣（15）中，本案揭露內容提供態樣（14）的製品，其中該至少一個三維石墨烯結構的中空核心實質上無金屬或金屬氧化物。在態樣（16）中，本案揭露內容提供態樣（14）或態樣（15）的製品，其中該基材包括玻璃。態樣（17）中，本案揭露內容提供態樣（16）的製品，其中該玻璃包括燻矽。態樣（18）中，本案揭露內容提供態樣（14）至（17）任一者的製品，其中該基材的表面粗糙度是2nm或更低。態樣（19）中，本案揭露內容提供態樣（14）至（18）任一者的製品，其中該至少一個視情況取代的三維中空石墨烯球狀結構包括兩層或更少層石墨烯。態樣（20）中，本案揭露內容提供態樣（19）的製品，其中該至少一個視情況取代的三維中空石墨烯球狀結構各者包括大致單層。
態樣（21）中，本案揭露內容提供態樣（14）至（20）任一者的製品，其中掃描式電子顯微鏡所測量的該至少一個視情況取代的三維石墨烯結構之該平均直徑為由掃描式電子顯微鏡所測量的約50nm至約500nm。態樣（22）中，本案揭露內容提供態樣（14）至（21）任一者的製品，其中該塗佈層的厚度從約20nm至約800μm。態樣（23）中，本案揭露內容提供態樣（14）至（22）任一者的製品，其中該多孔三維構造的平均表面積是從約500至1500m2 /g。態樣（24）中，本案揭露內容提供態樣（14）至（23）任一者的製品，其中該多孔三維構造具有由掃描式電子顯微鏡所測量的從約90%至約99.6%的孔隙度。態樣（25）中，本案揭露內容提供態樣（14）至（24）任一者的製品，其中該塗佈層對該透明基材的黏著呈現在該塗佈層與該透明基材之界面處的一有效黏著能量，該有效黏著能量為從約0.1J/m2 至約4 J/m2 。態樣（26）中，本案揭露內容提供態樣（14）至（25）任一者的製品，其中該基材包括透明材料，且紫外線至可見光光譜術所測量的該製品的光學透射度在550nm處大於60%。
態樣（27）中，本案揭露內容提供一種用於形成至少一個視情況取代的三維中空石墨烯結構的方法，該方法包括：（a）從來源將金屬沉積至基材之表面上，以形成包括多個金屬結構的金屬層；（b）透過化學氣相沉積碳源氣體及視情況任選的氫氣源，將視情況取代的石墨烯層沉積於該金屬層上，而形成石墨烯塗佈的金屬層；以及（c）透過熱或化學製程視情況任選地移除該金屬層，以產生該視情況取代的三維中空石墨烯結構。態樣（28）中，本案揭露內容提供態樣（27）之方法，其中步驟（b）與（c）同時發生或部分重疊。態樣（29）中，本案揭露內容提供態樣（28）之方法，其中該金屬包括過渡金屬，且該化學氣相沉積發生在從約200o C至約800o C之溫度。態樣（30）中，本案揭露內容提供態樣（27）至（29）之方法，其中該金屬結構包括多個銅、鈷、鎳、鐵、鋅、銀、或金顆粒。態樣（31）中，本案揭露內容提供態樣（30）之方法，其中該等顆粒是多個奈米顆粒，該等奈米顆粒具有沿著他們最長之軸的直徑，該直徑從約5nm至約500nm。態樣（32）中，本案揭露內容提供態樣（27）至（31）之方法，其中該碳源氣體選自CH4 、C2 H2 、CF4 、CHF3 、C2 F6 、C2 H6 、C3 H8 、C3 H6 、C6 H14 、C6 H6 、C6 H5 CH3 及上述之氣體的組合。態樣（33）中，本案揭露內容提供態樣（32）之方法，其中該碳源氣體具有從約1×10-4 至100托耳的壓力，且該化學氣相沉積是在大於600o C的溫度完成。態樣（34）中，本案揭露內容提供態樣（27）至（33）之方法，其中移除該金屬層是透過將該石墨烯塗佈的金屬層加熱至足以氣化該金屬層的溫度而達成。態樣（35）中，本案揭露內容提供態樣（27）至（34）之方法，其中移除該金屬層是透過將該石墨烯塗佈的金屬層化學式浸泡在化學物質中而達成，該化學物質溶解或移除該金屬層。態樣（36）中，本案揭露內容提供態樣（35）之方法，其中該化學物質包括過硫酸銨、氯化鐵、硝酸鐵、氯化銅、鹽酸、硝酸、硫酸、過氧化氫、及上述物質之組合。態樣（37）中，本案揭露內容提供態樣（34）之方法，其中該溫度是900o C至1300o C以上。
態樣（39）中，本案揭露內容提供態樣（38）之方法，其中步驟（b）與（c）同時發生或部分重疊。態樣（40）中，本案揭露內容提供態樣（39）之方法，其中該金屬包括過渡金屬，且該化學氣相沉積發生在從約200o C至約800o C之溫度。態樣（41）中，本案揭露內容提供態樣（38）至（40）之方法，其中該金屬結構包括多個銅、鈷、鎳、鐵、鋅、銀、或金顆粒。態樣（42）中，本案揭露內容提供態樣（30）之方法，其中該等顆粒是多個奈米顆粒，該等奈米顆粒具有沿著他們最長之軸的直徑，該直徑從約5nm至約500nm。態樣（43）中，本案揭露內容提供態樣（38）至（42）之方法，其中該碳源氣體選自CH4 、C2 H2 、CF4 、CHF3 、C2 F6 、C2 H6 、C3 H8 、C3 H6 、C6 H14 、C6 H6 、C6 H5 CH3 及上述之氣體的組合。態樣（44）中，本案揭露內容提供態樣（43）之方法，其中該碳源氣體具有從約1×10-4 至100托耳的壓力，且該化學氣相沉積是在大於600o C的溫度完成。態樣（45）中，本案揭露內容提供態樣（38）至（44）之方法，其中移除該金屬層是透過將該石墨烯塗佈的金屬層加熱至足以氣化該金屬層的溫度而達成。態樣（46）中，本案揭露內容提供態樣（38）至（45）之方法，其中移除該金屬層是透過將該石墨烯塗佈的金屬層化學式浸泡在化學物質中而達成，該化學物質溶解或移除該金屬層。態樣（47）中，本案揭露內容提供態樣（46）之方法，其中該化學物質包括過硫酸銨、氯化鐵、硝酸鐵、氯化銅、鹽酸、硝酸、硫酸、過氧化氫、及上述物質之組合。態樣（48）中，本案揭露內容提供態樣（45）之方法，其中該溫度是900o C至1300o C以上。
態樣（49）中，本案揭露內容提供一種裝置，該裝置包括態樣（1）至（26）之任一者的製品。態樣（50）中，本案揭露內容提供態樣（49）之電子裝置。態樣（51）中，本案揭露內容提供態樣（50）之電子裝置，其中該電子裝置包括有機發光二極體。
本案揭露內容之額外特徵與優點將會在隨後的詳細敘述中提出，且在某種程度上，對熟悉此技術之人士而言，由該敘述可易於明瞭該等額外特徵與優點，或是透過操作本文所述的方法（包括隨後的詳細敘述、申請專利範圍、與附圖）而認識該等額外特徵與優點。
可知前述概括性敘述及以下詳細敘述提出本案揭露內容的各種實施例，且是為了提供整體概念或框架，以使世人瞭解申請專利範圍之本質及特徵。在此納入所附圖式，以提供對本案揭露內容的進一步之瞭解，並且該等圖式併入且構成此說明書的一部分。該等圖式繪示本案揭露內容之各種實施例，並與該敘述一起用於解釋本案揭露內容之原理及操作。
將了解，各種所揭露的實施例可涉及連同特定實施例所描述的特定特徵、元件、或步驟。也將了解，儘管關於一個特定實施例描述一特定特徵、元件、或步驟，但該特定特徵、元件、或步驟可透過各種未說明的組合或排列方式與替代實施例交換或組合。
也應了解，如本文所用之用語「該」或「一」意味「至少一個」，且不應限制在「僅只一個」，除非與此相反地清楚指出。從而，舉例而言，對「一層」的參考包括具有兩個或更多個此類層的範例，除非上下文明確地另外指出。類似地，希望「複數個」是註明「超過一個」。就此而言，「複數個層」包括兩個或更多個此類層，諸如三個或更多個此類層等。
範圍可在此為表示從「約」一個特定值，和/或至「約」另一特定值。當表達此等範圍時，範例包含從該一個特定值和/或至其他特定值。類似地，當數值係使用先行詞「約」來表示為近似值時，會被理解為該特定值形成另一態樣。將進一步理解，該等範圍之每一範圍的端點無論是與其他端點相關或獨立於其他端點，都是有意義的。
希望本文所用的用語「實質上」「實質地」及其各種變化形式是表示所描述的特徵等於或大約等於一數值或敘述。例如，希望「實質上平面」的表面是表示一表面為平面或大約平面。再者，如上文所界定，希望「實質上類似」是表示兩個數值相等或大約相等。一些實施例中，「實質上類似」可表示多個數值在彼此的約10%以內，諸如在彼此的約5%以內，或在彼此的約2%以內。「實質上無」金屬或金屬氧化物可表示金屬是以低於1%w/w存在，大約是當前X射線光電能譜術的偵測極限。
除非以其他方式明顯地陳述，否則不希望將本文提出的任何方法詮釋成要求該方法之步驟以特定順序執行。據此，當方法請求項不確實記載其步驟所依循的順序或申請專利範圍中或說明書中並未以其他方式特定陳述該等步驟限制在特定順序時，不希望推斷任何特定的順序。
雖可使用連接詞「包含」、「包括」揭露特定實施例的各種特徵、元件、或步驟，但應了解，這暗示了包括可用連接詞「由……組成」或「基本上由……組成」所描述的彼等替代性實施例是作為替代方案。從而，舉例而言，所暗示的包括A+B+C之方法的替代性實施例包括了其中由A+B+C所組成的方法的實施例以及其中基本上由A+B+C所組成之方法的實施例。
發明所屬技術領域中具有通常知識者會明瞭，只要不背離本案揭露內容之精神與範疇，可製作本案揭露內容之各種修改例與變化例。由於發明所屬技術領域中具有通常知識者可想到併有本案揭露內容之精神與實質的所揭露之實施例的修飾例組合、次組合、及變化例，所以應當將本案揭露內容詮釋成包括落入所附之申請專利範圍之範疇的所有事物及其等效例。3D 石墨烯結構與製品
本文所揭露的是多種塗佈的基材，該等塗佈的基材包括在至少一個表面上的多個石墨烯膜，其中該等石墨烯膜包括三維結構。一些實施例中，該三維石墨烯結構包括中空結構，該中空結構於基材上形成多孔網絡。本文也揭露多種塗層，該等塗層特徵在於三維構造，該等三維構造含有三維石墨烯結構，在一些實施例中，該等三維石墨烯結構於基材上形成多孔網絡或結構。本文所揭露的該等石墨烯材料是有益處的，該益處在於，他們包括高純度的石墨烯且該石墨烯的缺陷位置很低，高純度的石墨烯意味，如在本文中所用，於該材料中存在低於10%、5%、2%、1%、或基本上0%w/w的其他元素或其他形式的碳，而如在本文所用，缺陷位置很低是意味低D帶強度。該石墨烯層厚度可控制成容許單層或多層結構。本文所實施的三維石墨烯結構具有高表面積（200-2200m2 /g，由一層至十層石墨烯計算）且保有良好的導電及導熱性質（薄片電阻率為從2 kohm/sq至20 kohm/sq，導熱率為大約5300W⋅m-1 ⋅K-1 ），且仍呈透明（透明度50%至90%的膜）。
石墨烯是碳原子的二維結構，該等碳原子以規律的六角形之樣式鍵結，其中每一個碳鍵結至三個相鄰的碳。然而，石墨烯可經修飾（「視情況取代」）而將其他原子或分子添加至或替換至該結構中或鍵結至該結構。可摻雜進入（共價鍵結至）石墨烯結構的單原子包括B、N、Pt、Co、In及類似物（見例如12 Nano Lett. 141 (2012)，該文獻之整體以參考形式併入本文）。其他共價修飾也是可行的，但可能瓦解石墨烯的共軛作用（conjugation）。使用殘餘的石墨烯氧化物（GO）位置可用於共價修飾。例如，GO位置可為聚合物或吡咯紫質（porphyrin）的附接點（22 J. Mater. Chem. 12435 (2012) ，該文獻之整體以參考形式併入本文）。作為替代方案，該石墨烯結構可透過使石墨烯結構的瓦解最小化的非直接交互作用而化學修飾。可使用非共價修飾以產生混合的石墨烯材料，所述非共價修飾諸如使用凡得瓦力、靜電交互作用、氫鍵鍵結、配位鍵、或π-π堆疊（22 J. Mater. Chem. 12435 (2012)，該文獻之整體以參考形式併入本文）。這樣的修飾容許聚合物-石墨烯奈米複合物、石墨烯-石墨烯氧化物複合物、透過插置的氧的石墨烯-金屬交互作用等。
第 5A 圖至第 5D 圖 提供本文所述之三維（或3D）石墨烯結構的實施例之視覺範例。該等圖式顯示，3D石墨烯結構包括中空核心物體，該物體具有不規則且捲繞的（convoluted）形狀。一些實施例中，3D石墨烯結構大約或大略呈球狀。然而，依形成方法與製程，3D石墨烯結構可採取稍微較不球狀的形式，特別是當從與基材正交的角度觀看時（或俯視或「鳥瞰」視角）。尤其，如第 5B 圖 中所示，當以俯視方式觀看時，3D石墨烯結構可具有許多形狀。顯示於第 5A 圖至第 5D 圖 中的石墨烯結構全視為如此申請案內界定的3D石墨烯結構，因所有結構都具有呈現中空三維結構的側視輪廓。3D石墨烯結構或包括這些結構的製品可進一步由組成的其他態樣所界定，該組成的其他態樣諸如為石墨烯層的數目、3D結構的平均直徑或表面積、或該層的孔隙度。
再次觀看第 5D 圖 ，該等石墨烯結構具有中空核心且包括由石墨烯結構所界定的內體積。取決於沉積的石墨烯層的數目，該等石墨烯結構可包括從單層石墨烯至高達多層石墨烯的其中任一者。大體而言，為了使石墨烯性質最佳化，層數目維持在低於50、10、5、或2，或石墨烯形成為單層。三維石墨烯結構可具有直徑（以橫跨石墨烯結構所形成之中空部從最長尺寸的壁至相對壁進行測量），該直徑為從約5nm至約1000nm的任一處，且該結構之平均直徑是從約10nm至約500nm，其中該平均直徑是透過顯微手段測量且以2mm×2mm方形中的石墨烯結構直徑的方均根平均進行計算。一些實施例中，石墨烯結構的平均直徑是從約20nm至約500nm，約50nm至約500nm，約20nm至約400nm，約50nm至約400nm，約50nm至約250nm，或約20nm至約250nm。
本文實施的石墨烯結構大體上具高純度。如本文中所用之高純度意味該石墨烯結構包括少於10%、5%、2%、1%或基本上為0%的存在於該材料中的其他元素或其他形式的碳。測量的XPS及SIMS並不觀察銅，銅是來自塗佈方法的主要可能的污染元素。然而，如上文所記敘，可修飾（「視情況取代」）石墨烯以將其他原子或分子添加或替換至該結構中或鍵結該結構。視情況取代的石墨烯大體上包括少於5%、2%、或1%w/w的其他元素。
一些實施例中，本文實施的石墨烯結構具有低缺陷位置。缺陷是透過拉曼光譜中D帶存在而測量到。D模式是透過石墨烯的無序結構而引發。sp2 混成的碳系統中無序的存在造成共振拉曼光譜，從而使拉曼光譜術（最敏感的技術之一）標示sp2 碳材料中無序的特徵。D帶強度可以是缺陷的函數，所以可能難以量化。儘管在因石墨烯膜的視情況取代造成的一些實例中，一些實施的石墨烯膜具有適中的拉曼D帶，但使膜有非常小的D帶是可能的，這證實了製作低缺陷位置的石墨烯的可行性。
本文所述之石墨烯也可具有高導熱率，類似平面石墨烯之導熱率。一些實施例中，本文所述之石墨烯的導熱率為室溫下從約400至約2500W．m-1 ．K-1 ，約500至約1500W．m-1 ．K-1 ，或約500至約800W．m-1 ．K-1 。類似地，本文所述之石墨烯結構所保有的電性質類似平面石墨烯中所顯示的電性質。根據各式實施例，石墨烯膜的電阻可小於約100KΩ/sq，諸如小於約90KΩ/sq，小於約80KΩ/sq，小於約70KΩ/sq，小於約60KΩ/sq，小於約50KΩ/sq，小於約40KΩ/sq，小於約30KΩ/sq，小於約20KΩ/sq，或小於約10KΩ/sq（例如，小於約9.5、8.5、7.5、6.5、5.5、4.5、3.5、2.5、1.5、或0.5KΩ/sq），包括在這些數值之間的所有範圍及次範圍。第 7 圖 提供針對實施的三維石墨烯膜的比較透射度及薄片電阻率的圖表。如該圖式中可見，透射度及較高的薄片電阻率之間大體上是線性相關。上方兩個數據點是來自高H2 含量CVD氣體混合物，且未整合至線性計算中。該結果指出，膜的品質類似，差異僅在於厚度。隨著H2 含量增加，石墨烯膜會受到蝕刻且並未良好地連接，因此具有較高的電阻。
雖本文所述之石墨烯結構可為非平面，但他們仍顯示高水準的透明度。一些實施例中，當使用光譜法測量時，3D石墨烯結構具有550nm處從約2.3%至約40%的吸收度。石墨烯的吸收度可透過下述方式發現：將3D石墨烯結構塗佈的基材以正交入射光束的角度放置，測量該3D石墨烯結構塗佈的基材的吸收度，且將該吸收度與乾淨、未塗佈的基材相比較。當作為1mm厚的燻矽基材（其中該基材正交光束）上的塗層而進行測量時，包括所實施之石墨烯結構的製品或塗層具有550nm處從約5%至約40%的吸收度。這樣的實施例中，吸收度可取決於該塗層的本質、石墨烯層數目、3D石墨烯結構的結構、視情況任選的組份、與類似物。一些實施例中，石墨烯結構的透射度是在550nm處約60%至約90%。
雖下文會更詳細描述，但本文所述之石墨烯結構可透過將石墨烯膜沉積在金屬顆粒或表面上而形成。金屬顆粒一般是於製程中完全移除，以提供實質上無金屬或金屬氧化物的石墨烯結構，實質上無金屬或金屬氧化物意味XPS或SIMS所測量的原始沉積金屬或金屬氧化物是以少於10%、少於5%、少於1%、或少於0.1%w/w存在，然而，也可使用其他表面化學方法。我們在我們的樣本測量中使用。然而，一些實施例中，將至少一些金屬保留在石墨烯結構中是有利的。例如，銅可用作生長石墨烯的催化劑。若CVD處於低於950o C，則可保留一些或所有的銅。鎳、金等也可用作為催化劑。如果塗佈後並未移除，則這些金屬會留下作為石墨烯結構的核心。這些金屬可以是奈米顆粒、奈米殼體、或其他類型的材料。例如，一些實施例中，核心可以是部分移除的金顆粒，然後殘留的顆粒是以硫醇化學修飾。作為替代方案，該核心能為銅顆粒，該銅顆粒部分移除且之後經化學修飾而形成Cu2 O。
3D石墨烯結構的另一重要性質是材料對表面的黏著。石墨烯層的黏著可由表面及金屬沉積層之性質控制及修飾。一些實施例中，三維構造與透明基材的界面處的有效黏著能量是從約0.1 J/m2 至約4 J/m2 。一些實施例中，該有效黏著能量是從約0.1 J/m2 至約2 J/m2 、約0.1 J/m2 至約1 J/m2 、約0.1 J/m2 至約0.5 J/m2 、約0.5 J/m2 至約4 J/m2 、約0.5 J/m2 至約2 J/m2 、約0.5 J/m2 至約1 J/m2 、約1 J/m2 至約4 J/m2 、約1 J/m2 至約2 J/m2 、或約2 J/m2 至約4 J/m2 。
單獨石墨烯結構，或是石墨烯結構結合其他層、顆粒、塗層、或元素可形成三維構造，該三維構造多孔、具有可控制之厚度、及相對高的表面積。這樣的實施例中，併入三維構造中的額外的元素可部分或完全位在基材與石墨烯結構之間、部分或完全位在石墨烯結構及基材對面的任何後續的層之間、或整合或位在石墨烯結構上，且可為分立的或連續的元素。
一些實施例中，該三維構造具有從約200m2 /g至約2200m2 /g的平均表面積，該平均表面積是從（存在的）1至10層的石墨烯所計算，透過氣體吸收技術所測量。一些實施例中，塗佈層的平均表面積是從約500至2200 m2 /g、約500至2000 m2 /g、約500至1800 m2 /g、約500至1500 m2 /g、約500至1000 m2 /g、約1000至2200 m2 /g、約1000至2000 m2 /g、約1000至1800 m2 /g、約1000至1500 m2 /g、約1500至2200 m2 /g、約1500至2000 m2 /g、約1500至1800 m2 /g、約1800至2200 m2 /g、約1800至2000 m2 /g、或約2000至2200 m2 /g。
如本文所用之孔隙度是三維構造中空洞的（即「空的」）空間的度量，孔隙度是空隙之體積對總體積的比例，以0%至100%之間的百分比表示。一些實施例中，三維構造的孔隙度由掃描式電子顯微鏡測量，為約90%至約99.6%。
包括3D石墨烯結構的三維構造可單獨形成塗層或與其他層、顆粒、塗層、或元素結合而成塗層。可在三維構造中添加或納入的額外層包括導電金屬或金屬氧化物塗層，諸如金、銀、鈀、透明導電氧化物、導體或半導體材料（包括聚合物、矽、無機氧化物），或其他材料，諸如奈米顆粒、量子點、富勒烯、奈米管、與類似物。包括三維構造的塗層可具有以顯微鏡或其他已知手段測量的平均厚度，該厚度為從約20 nm至約800 μm、約20 nm至約500 μm、約20 nm至約300 μm、約20 nm至約100 μm、約20 nm至約50 μm、約20 nm至約10 μm、約20 nm至約1 μm、約20 nm至約500 nm、約50 nm至約800 μm、約50 nm至約500 μm、約50 nm至約300 μm、約50 nm至約100 μm、約50 nm至約50 μm、約50 nm至約10 μm、約50 nm至約1 μm、約50 nm至約500 nm、約100 nm至約800 μm、約100 nm至約500 μm、約100 nm至約300 μm、約100 nm至約100 μm、約100 nm至約50 μm、約100 nm至約10 μm、約100 nm至約1 μm、約100 nm至約500 nm、約500 nm至約800 μm、約500 nm至約500 μm、約500 nm至約300 μm、約500 nm至約100 μm、約500 nm至約50 μm、約500 nm至約10 μm、約500 nm至約1 μm、約1 μm至約800 μm、約1 μm至約500 μm、約1 μm至約300 μm、約1 μm至約100 μm、約1 μm至約50 μm、約1 μm至約10 μm、約5 μm至約800 μm、約5 μm至約500 μm、約5 μm至約300 μm、約5 μm至約100 μm、約5 μm至約50 μm、約5 μm至約10 μm、約5 μm至約800 μm、約5 μm至約500 μm、約5 μm至約300 μm、約5 μm至約100 μm、約5 μm至約50 μm、約5 μm至約10 μm、約10 μm至約800 μm、約10 μm至約500 μm、約10 μm至約300 μm、約10 μm至約100 μm、或約10 μm至約50 μm。
包括3D石墨烯結構的塗層黏著至基材。在本文揭露的方法及/或產品中適合用作為基材的材料可大體上包括任何期望的無機材料（透明或不透明），例如，玻璃、玻璃陶瓷、陶瓷、無機結晶或多晶材料（諸如藍寶石）、及類似物，上述材料可加熱至500o C、600o C、700o C、800o C、900o C、或1000o C或更高。在至少一個非限制性實施例中，該基材是玻璃基材。示範性玻璃基材可包括例如此技術中已知的適合用於石墨烯沉積及/或顯示器裝置的任何玻璃，該玻璃包括（但不限於）燻矽、鋁矽酸鹽、鹼鋁矽酸鹽、硼矽酸鹽、鹼硼矽酸鹽、鋁硼矽酸鹽、鹼鋁硼矽酸鹽、鈉鈣矽酸鹽（soda lime silicate）、及其他適合的玻璃。某些實施例中，基材可具有小於或等於約3mm之厚度，例如範圍從約0.1mm至約2.5mm、從約0.3mm至約2mm，從約0.7mm至約1.5mm、或從約1mm至約1.2mm，包括上述數值之間的所有範圍及次範圍。適合用作為濾光件的市售玻璃之非限制性範例包括（例如）來自康寧公司的AGLE XG® 、IrisTM 、LotusTM 、Willow® 、Gorilla® 、HPFS® 及ULE® 玻璃。適合的玻璃揭露於例如美國專利第4,483,700、5,674,790、及7,666,511號中，上述之專利之全文以參考形式併入本文中，上述之專利之全文以參考形式併入本文中。
在各種實施例中，該基材在塗佈有塗佈層之前及/或之後可為透明或實質上透明。如在本文中所用，希望術語「透明」代表基材在大約1mm的厚度處的光學透射度在電磁波圖譜的整個可見光區域（400-700nm）為大於約60%，該光學透射度是如UV/可見光光譜術或其他已知方法所測量。一些實施例中，希望術語「透明」代表基材在大約1mm的厚度處的光學透射度在550nm處為大於約60%。例如，示範性透明基材或塗佈的基材可具有在400-700nm處大於約60%的透射度，諸如大於約 70%、大於約 75%、大於約 80%、大於約 85%、或大於約 90%的透射度，包括上述數值之間的所有範圍及次範圍。作為替代方案，示範性透明基材或塗佈的基材可具有在550nm處大於約 60%的透射度，諸如大於約 70%、大於約 75%、大於約 80%、大於約 85%、或大於約 90%的透射度，包括上述數值之間的所有範圍及次範圍。某些實施例中，示範性透明基材或塗佈的基材可具有在紫外光（UV）區域（100-400nm）處大於約50%的透射度，諸如大於約 55%、大於約 60%、大於約 65%、或大於約 75%的透射度，包括上述數值之間的所有範圍及次範圍。
本文所述之基材可大體上為任何形狀，完整或3D結構化的形狀，諸如片狀、管狀、或蜂巢狀。一些實施例中，該基材可包括玻璃片，該玻璃片具有第一表面及相對的第二表面。某些實施例中，該等表面可為平面或實質上平面，例如實質上平坦及/或水平。一些實施例中，該基材也可繞至少一個曲率半徑彎曲，該基材例如為三維基材，諸如突起或凹下的基材。在各種實施例中，該第一表面與第二表面可平行或實質上平行。該基材可進一步包括至少一個邊緣，例如至少兩個邊緣、至少三個邊緣、或至少四個邊緣。作為非限制性範例，該基材可包括具有四個邊緣的矩形或方形片，然而也預想了其他形狀及組裝，且希望其他形狀及組裝也落入本案揭露內容的範疇內。
一些實施例中，該基材包括「高品質」玻璃或玻璃陶瓷基材，意味該基材具有高平坦度及/或低表面粗糙度。例如，多個實施例可具有由AFM測量的、低於2nm的表面粗糙度（Ra ）及/或可無直徑大於150μm的凹痕。一些實施例中，由Zygo測量的基材之平坦區段的平坦度在10mm×10mm面積上優於±150μm，在其他實施例中，基材之平坦區段的在25mm×25mm面積上優於±50μm。
該基材在任一側上可具有額外塗層，包括抗反射、抗菌、透明導電氧化物、黏著塗層、及類似物。製作 3D 石墨烯製品的方法
另一態樣包括製作本文所述之該石墨烯結構、包括該石墨烯結構的三維構造、及塗層的方法。大體而言，該石墨烯結構可透過在三維金屬或金屬氧化物顆粒上形成石墨烯而製作，該等顆粒已塗佈至可歷經高溫的基材上。在充分夠高的溫度，金屬或金屬氧化物可氣化，而在基材上留下3D石墨烯結構。
如上文所記敘，該基材可大體上為無機材料，包括玻璃、玻璃陶瓷、陶瓷、或結晶或多晶體，上述材料可加熱至500-1000o C或更高，或可歷經移除催化劑的化學製程。這些支撐體可為任何形狀，完整或3D結構化的形狀，諸如片狀、管狀、或蜂巢狀。他們也可呈緻密或多孔的微結構。可使用的材料包括（但不限於）：燻矽、鋁矽酸鹽、鹼鋁矽酸鹽、硼矽酸鹽、鹼硼矽酸鹽、鋁硼矽酸鹽、鹼鋁硼矽酸鹽、鈉鈣矽酸鹽、及其他適合的玻璃。某些實施例中，基材可具有小於或等於約3mm之厚度，例如範圍從約0.1mm至約2.5mm、從約0.3mm至約2mm，從約0.7mm至約1.5mm、或從約1mm至約1.2mm，包括上述數值之間的所有範圍及次範圍。適合用作為濾光件的市售玻璃之非限制性範例包括（例如）來自康寧公司的AGLE XG® 、IrisTM 、LotusTM 、Willow® 、Gorilla® 、HPFS® 及ULE® 玻璃。
可用許多方法將該金屬或金屬氧化物塗佈至基材上，最終會產生包括大略球狀金屬（或金屬氧化物）結構的金屬（或金屬氧化物）層。這樣的球狀金屬結構可為實心顆粒或中空球體或殼體。一些實施例中，可透過在真空中進行金屬氣相沉積而完成球狀金屬塗層。金屬氣相沉積中，基材溫度在從約100o C至約900o C的範圍，約100o C至約600o C，或約200o C至約500o C。金屬標靶溫度是金屬及其氣化溫度的函數。一些實施例中，該溫度可為約800o C至約1400o C，約900o C至約1300o C，約900o C至約1200o C，或約1000o C至約1100o C。在實施的條件下，在約1000o C至約1100o C使用例如銅可獲得粒徑10nm至500nm的金屬膜。可在沉積期間於更高的基材溫度獲得銅粒徑較大的膜。這樣的塗佈的膜大體上是純金屬。聚合物層可施加於金屬珠狀物或球體上，以形成金屬/聚合物複合膜。
作為替代方案，可使用以溶液為基礎的製程以塗佈基材。金屬漿料塗佈中，使用所選粒徑的金屬粉末以製作該漿料。可將聚合物黏結劑用於液體載體中的塗佈，該聚合物黏結劑的範例包括例如聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）、聚苯乙烯（PS）、聚丙烯甲基丙烯酸酯（PPMA）、丙烯腈丁二烯苯乙烯（ABS）、聚乙烯吡咯烷酮（PVP）、聚乙烯亞胺（PEI）、聚乙二醇（PEG）和聚丁酸乙烯酯（PVB）等。可施加多重塗層以達成期望厚度。藉由將膜在空氣中加熱到約600o C至約850o C或更高，可燒掉聚合物，而留下純金屬膜。
當將金屬膜用於石墨烯生長時，該石墨烯生長可透過各種CVD方法完成，包括電漿增強CVD（PECVD）。可將許多種碳源用於石墨烯前驅物，包括例如CH4 、C2 H2 、CF4 、CHF3 、C2 F6 、C2 H6 、C3 H8 、C3 H6 、C6 H14 、C6 H6 、C6 H5 CH3 及前述前驅物之組合。碳源氣體流速範圍可為例如從約1sccm（sccm=標準狀態溫度及壓力下每分鐘的cm3 ）至約20sccm，諸如從約2sccm至約18sccm，從約3sccm至約15sccm，從約4sccm至約12sccm，從約5sccm至約10sccm，從約6sccm至約8sccm，包括上述數值之間的所有範圍及次範圍。取決於所用的前驅物，可於不同溫度完成CVD石墨烯生長。例如，當使用CH4 時，可使用超過900o C的溫度。當使用C2 H2 時，CVD塗佈溫度可低如600o C。生長期間可使用H2 ，以改善石墨烯的品質。一些實施例中，CVD氣體的壓力可從1×10-4 托耳至100托耳。當CVD在＜1000o C完成，則金屬支撐體可留下且不會完全移除。塗佈之後，樣本大體上需要加熱至1000o C或更高，或藉由化學製程反應以從膜移除金屬支撐體。在其中塗佈在1000o C或更高完成的實施例中（特別是在銅金屬支撐體的案例中），可直接獲得無銅的多孔石墨烯膜。
在其中氫氣（H2 ）引入腔室的實施例（可為處於真空下）中，這樣的引入可於一速率完成，該速率範圍為，例如從0至約40sccm，諸如從約1sccm至約35sccm，從約5sccm至約30sccm，從約10sccm至約25sccm，或從約15sccm至約20sccm，包括上述數值之間的所有範圍及次範圍。
其中使用金屬/聚合物複合物的實施例中，該樣本可在真空或在惰氣（諸如N2 或Ar）中或在還原氣體（諸如H2 ）中加熱至500-1000o C（或更高）的溫度。在其中銅作為支撐體金屬而存在的此類實施例中，銅會催化聚合物而形成石墨烯，同時銅在高溫下氣化。
其中使用銅作為金屬支撐體的上述石墨烯形成製程中，石墨烯首先形成於銅顆粒的表面上。於1000o C或更高，銅氣化，且留下剩餘的石墨烯而成為3D結構，該結構可包括一或多個開口。該石墨烯結構具有多孔三維特質。由於存在銅催化劑，所以生長的石墨烯為低缺陷的單層或幾層石墨烯。
雖然在上文的範例中特別點出銅，但金屬標靶可大體上根據CVD之需求或其他使用的製程製作，且由本技術中已知的彼等材料製作，例如，多數的過渡金屬，且特別是銅、鈷、鎳、鐵、鋅、銀、或金。
所得的金屬顆粒本質上是三維—大體上是球狀—但可採取稍微較不球狀的形式，特別是當從與基材正交的角度觀看時（或俯視或「鳥瞰」視角）。第 1A 圖至第 1D 圖 所示的結構皆被視為如此說明書內所界定之大略球狀，因全部都具有呈現大體上半圓形至圓形之側視輪廓。
根據各種實施例，本文所揭露之方法可包括額外的視情況任選的步驟，該等步驟可在石墨烯膜沉積於基材上之前及/或之後執行。例如，沉積前，可視情況任選地透過例如使用水及/或酸性或鹼性溶液清潔基材。一些實施例中，可使用水、H2 SO4 及/或H2 O2 之溶液、及/或NH4 OH及/或H2 O2 之溶液清潔基材。該基材可例如以溶液漂淨或清洗達一段時間，該段時間是從1分鐘至約10分鐘，諸如從約2分鐘至約8分鐘，從約3分鐘至約6分鐘，或從約4分鐘至約5分鐘，包括上述數值之間的所有範圍及次範圍。一些實施例中，於清潔步驟中可施加超音波能量。可在環境溫度或升高的溫度執行該清潔步驟，該環境溫度或升高的溫度範圍是從約25o C至約150o C，諸如從約50o C至約125o C，約65o C至約100o C，或約75o C至約95o C，包括上述數值之間的所有範圍及次範圍。其他額外的視情況任選的步驟可包括例如基材的切割、研磨、磨碾、及/或邊緣修整，以上只列舉出一些。
希望下文的範例為非限制性且僅為說明性，本案揭露內容之範疇由申請專利範圍所界定。範例 範例 1
第 1A 圖至第 1D 圖 是銅膜結構的掃描式電子顯微鏡影像，該銅膜結構是透過化學氣相沉積分別在250o C及500o C之基材溫度塗佈於燻矽基材上。銅源是由銅箔製作且加熱至1100o C以進行氣化。塗佈腔室真空是在8x10-3 托耳，以在該250o C的基材上形成約30nm的銅顆粒，而100-400nm的顆粒形成於500o C基材上。第 1A 圖 是基材溫度為250o C的銅塗佈表面的俯視圖。第 1B 圖 是基材溫度為250o C的銅塗佈表面的側視圖。第 1C 圖 是基材溫度為500o C的銅塗佈表面的俯視圖，而第 1D 圖 是基材溫度為500o C的銅塗佈表面的側視圖。範例 2
將C2 H2 用作為碳源，以在高純度燻矽上生長石墨烯。該氣體是以0.1-0.5托耳的純C2 H2 引入以進行CVD塗佈。第 2 圖 顯示來自三個不同塗佈溫度的塗佈石墨烯膜的拉曼光譜，該等塗佈溫度為900o C、1000o C及1100o C。該900o C塗佈的膜具有螢光背景，這是由基材上的銅殘留物所得。此樣本於真空中再度加熱至1100o C達30分鐘，且透過拉曼光譜術再次測量該石墨烯膜（第 3 圖 ）。螢光背景不再存在。這指出，膜中的銅已氣化。當石墨烯在1000o C及1100o C生長時，並未觀察到有背景浮現。
可將H2 添加至塗佈氣體以改善石墨烯塗佈品質。第 4 圖 顯示來自於1:2的C2 H2 :H2 氣體混合物中在1000o C塗佈的石墨烯膜之拉曼光譜。發現D帶強度減少，這指示石墨烯中缺陷位置的量減少。從G對2D峰的比例來看，石墨烯膜是雙層或幾層石墨烯結構。
第 5A 圖至第 5E 圖 顯示從各種角度及處於各種倍率的在0.2托耳、比例1:1的C2 H2 /H2 於1000o C塗佈30分鐘的石墨烯膜的SEM影像。該膜含有石墨烯形成結構。每一區塊中，銅顆粒於1000o C氣化，留下石墨烯球狀結構。一旦氣化後，銅可於石墨烯中形成孔洞或破洞，而使該結構多孔。從EDX（第 5E 圖 ），膜不含有任何可偵測的銅。所形成的石墨烯膜具有高表面積，因為內側及外側表面皆可用於吸附及反應。
類似地，第 6A 圖至第 6B 圖 顯示於900o C進行CVD塗佈、之後於真空中加熱至1100o C達30分鐘的多孔石墨烯膜的SEM俯視及輪廓影像。X射線光電子能譜術及二次離子質譜術（SIMS）也用於偵測留在石墨烯膜中的痕量的銅。XPS未從殘留層偵測到任何銅訊號。SIMS對在500o C及250o C塗佈的Cu/SiO2 基材測量到不同的結果。於銅在500o C沉積的Cu/SiO2 上製備的石墨烯膜上，在玻璃表面偵測到痕量的銅，且隨著遠離玻璃表面的距離而呈指數減少。石墨烯層中的銅遠少於基材中發現的銅。然而，在銅於250o C沉積的Cu/SiO2 上塗佈的多孔石墨烯膜中任一處，SIMS都未偵測到銅。
所得的三維多孔（大於90%）石墨烯結構的測試結果顯示，該材料是透明且導電。第 7 圖 顯示示範性多孔石墨烯膜的薄片電阻率及550nm處的透射度。該透射度是由UV-可見光光譜術所測量。範例 3
銅顆粒嵌入多孔燻矽中，且之後使用0.1至0.5托耳的純C2 H2 作為碳源以藉由CVD生長石墨烯。第 8A 圖至第 8B 圖 顯示燻矽中嵌入的銅顆粒的SEM影像。當Cu/SiO2 基材加熱至900o C時，獲得多層的石墨烯球狀球體（第 8C 圖至第 8D 圖 ）。範例 4
多層中空石墨烯球體是透過在900o C將石墨烯CVD塗佈至多層銅支撐體且該銅支撐體不氣化而製作。該樣本隨後加熱至1000o C以氣化銅支撐體（第 9 圖 ）。第 9 圖 中的較亮著色的球體在較暗的球體頂部上。
無
當連同伴隨的圖式一併閱讀時可進一步了解以下的詳細敘述。
第 1A 圖至第 1D 圖 顯示銅膜的掃描式電子顯微鏡圖，該銅膜是由銅顆粒構成，該等銅顆粒透過於不同的基材塗佈溫度進行氣相沉積而塗佈至高純度燻矽基材上。第 1A 圖 與第 1B 圖 是於250o C之基材溫度沉積的銅塗佈表面的俯視圖（第 1A 圖 ）及側視圖（第 1B 圖 ）。第 1B 圖 中，該等銅顆粒大約為75nm高。第 1C 圖 與第 1D 圖 是於500o C之基材溫度沉積的銅塗佈表面的俯視圖（第 1C 圖 ）及側視圖（第 1D 圖 ）。第 1D 圖 中，該等銅顆粒大約為250至275nm高。
第 2A 圖至第 2C 圖 是來自Cu/SiO2 基材上塗佈的石墨烯的拉曼光譜，該石墨烯是在900o C（第 2A 圖 ）、1000o C（第 2B 圖 ）、及1100o C（第 2C 圖 ）的生長溫度（基材溫度）透過化學氣相沉積（CVD）而塗佈。
第 3 圖 描繪來自Cu/SiO2 基材上CVD式塗佈的石墨烯的拉曼光譜，該石墨烯是在900o C的生長溫度CVD式塗佈，且之後在真空中加熱至1100o C以透過氣化移除銅顆粒。
第 4 圖 描繪以C2 H2 及H2 混合氣體於1100o C生長的石墨烯的拉曼光譜，該混合氣體的存在是為了改善石墨烯塗佈品質。
第 5A 圖至第 5D 圖 呈現三維石墨烯結構的SEM影像，該三維石墨烯結構是由CVD於1000o C以0.2托耳、C2 H2 /H2 比例1:1進行30分鐘而形成於銅膜上，該銅膜是於250o C透過CVD沉積於SiO­2 基材上。第 5A 圖 是20,000x放大倍率下的俯視圖或鳥瞰圖。第 5B 圖 是50,000x放大倍率下的俯視圖，第 5C 圖 是25,000x放大倍率下的側視圖，第 5D 圖 是100,000x放大倍率下的側視圖，顯示該等結構具有中空核心。第 5E 圖 顯示來自支撐於燻矽玻璃上的三維石墨烯結構的能量分散式X射線（EDX）光譜。
第 6A 圖 與第 6B 圖 是塗佈於Cu/SiO2 上的多孔石墨烯膜的100,000x的SEM影像的俯視圖（第 6A 圖 ）與側視圖（第 6B 圖 ），該多孔石墨烯膜是於900o C以0.1托耳的C2 H2 塗佈30分鐘而塗佈於Cu/SiO2 上，然後於真空中加熱至1100o C達30分鐘。銅顆粒於250o C氣相沉積於基材。
第 7 圖 描繪所實施的多孔石墨烯膜的薄片電阻率，該薄片電阻率為550nm處的透射度的函數。
第 8A 圖至第 8D 圖 呈現5,000x（第 8A 圖 ）及25,000x放大倍率（第 8B 圖 ）下多孔燻矽中沉積的銅奈米顆粒的SEM影像，及透過CVD於900o C達30分鐘生長的石墨烯結構於5,000x（第 8C 圖 ）及25,000x放大倍率（第 8D 圖 ）下的SEM影像。
第 9 圖 描繪於900o C以CVD製作的中空石墨烯結構於50,000x（第 9A 圖 ）及100,000x放大倍率（第 9B 圖 ）下的SEM影像。
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Claims (51)

  1. 一種製品，包括： 一基材，該基材具有表面粗糙度，該基材包括：a）一玻璃、一玻璃陶瓷、一陶瓷、一無機結晶或多晶材料；以及一塗佈層，具有從約20nm至約800μm的厚度且黏著至該基材，該塗佈層包括：b）一多孔三維構造，具有從約200m2 /g至約2200m2 /g的平均表面積，且該多孔三維構造的特徵在於至少一個視情況取代（optionally substitued）的三維石墨烯結構，該結構具有一中空核心，其中：i）該至少一個三維石墨烯結構包括五層或更少層的石墨烯；以及ii）該至少一個三維石墨烯球狀結構具有從約30nm至約500nm的平均直徑。
  2. 如請求項1所述之製品，其中該至少一個三維石墨烯結構的該中空核心實質上無金屬或金屬氧化物。
  3. 如請求項1所述之製品，其中該基材包括一玻璃或玻璃陶瓷。
  4. 如請求項3所述之製品，其中該玻璃或玻璃陶瓷包括燻矽（fumed silica）。
  5. 如請求項1所述之製品，其中該基材的表面粗糙度是2nm或更低。
  6. 如請求項1所述之製品，其中該至少一個視情況取代的三維中空石墨烯球狀結構包括兩層或更少層石墨烯。
  7. 如請求項6所述之製品，其中該至少一個視情況取代的三維中空石墨烯球狀結構各者包括大致單層。
  8. 如請求項1所述之製品，其中掃描式電子顯微鏡所測量的該至少一個視情況取代的三維石墨烯結構之該平均直徑為由掃描式電子顯微鏡所測量的約50nm至約500nm。
  9. 如請求項1所述之製品，其中該塗佈層的厚度從約500nm至約800μm。
  10. 如請求項1所述之製品，其中該多孔三維構造的平均表面積是從約500至1500m2 /g。
  11. 如請求項1所述之製品，其中該多孔三維構造具有由掃描式電子顯微鏡所測量的從約90%至約99.6%的孔隙度。
  12. 如請求項1所述之製品，其中該塗佈層對該透明基材的黏著呈現在該塗佈層與該透明基材之界面處的一有效黏著能量，該有效黏著能量為約0.1J/m2 至約4 J/m2 。
  13. 如請求項1所述之製品，其中該基材包括一透明材料，且紫外線至可見光光譜術所測量的該製品的光學透射度在550nm處大於60%。
  14. 一種製品，包括： 一基材，包括一多孔玻璃或玻璃陶瓷，該多孔玻璃或玻璃陶瓷具有其中有空隙的一結構；一嵌入層，插置（intercalate）於該多孔玻璃或玻璃陶瓷的結構的空隙中，該嵌入層包括：一多孔三維構造，具有從約200m2 /g至約2200m2 /g的平均表面積，且該多孔三維構造的特徵在於至少一個視情況取代的三維石墨烯結構，該結構具有一中空核心，其中：i）該至少一個三維石墨烯結構包括五層或更少層的石墨烯；以及ii）該至少一個三維石墨烯球狀結構具有從約30nm至約500nm的平均直徑。
  15. 如請求項14所述之製品，其中該至少一個三維石墨烯結構的該中空核心實質上無金屬或金屬氧化物。
  16. 如請求項14所述之製品，其中該基材包括一玻璃。
  17. 如請求項16所述之製品，其中該玻璃包括燻矽。
  18. 如請求項14所述之製品，其中該基材的表面粗糙度是2nm或更低。
  19. 如請求項14所述之製品，其中該至少一個視情況取代的三維中空石墨烯球狀結構包括兩層或更少層石墨烯。
  20. 如請求項19所述之製品，其中該至少一個視情況取代的三維中空石墨烯球狀結構各者包括大致單層。
  21. 如請求項14所述之製品，其中掃描式電子顯微鏡所測量的該至少一個視情況取代的三維石墨烯結構之該平均直徑為由掃描式電子顯微鏡所測量的約50nm至約500nm。
  22. 如請求項14所述之製品，其中該塗佈層的厚度從約20nm至約800μm。
  23. 如請求項14所述之製品，其中該多孔三維構造的平均表面積是從約500至1500m2 /g。
  24. 如請求項14所述之製品，其中該多孔三維構造具有由掃描式電子顯微鏡所測量的從約90%至約99.6%的孔隙度。
  25. 如請求項14所述之製品，其中該塗佈層對該透明基材的黏著呈現在該塗佈層與該透明基材之界面處的一有效黏著能量，該有效黏著能量為約0.1J/m2 至約4 J/m2 。
  26. 如請求項14所述之製品，其中該基材包括一透明材料，且紫外線至可見光光譜術所測量的該製品的光學透射度在550nm處大於60%。
  27. 一種用於形成至少一個視情況取代的三維中空石墨烯結構的方法，該方法包括： （a）從一來源將一金屬沉積至一基材之一表面上，以形成包括多個金屬結構的一金屬層；（b）透過化學氣相沉積一碳源氣體及一視情況任選的氫氣源，將一視情況取代的石墨烯層沉積於該金屬層上，而形成一石墨烯塗佈的金屬層；以及（c）透過熱或化學製程視情況任選地移除該金屬層，以產生一視情況取代的三維中空石墨烯結構。
  28. 如請求項27所述之方法，其中步驟（b）與（c）同時發生或部分重疊。
  29. 如請求項28所述之方法，其中該金屬包括一過渡金屬，且該化學氣相沉積發生在從約200o C至約800o C之溫度。
  30. 如請求項27所述之方法，其中該金屬結構包括多個銅、鈷、鎳、鐵、鋅、銀、或金顆粒。
  31. 如請求項30所述之方法，其中該等顆粒是多個奈米顆粒，該等奈米顆粒具有沿著該等奈米顆粒之最長之軸的直徑，該直徑從約5nm至約500nm。
  32. 如請求項27所述之方法，其中該碳源氣體選自CH4 、C2 H2 、CF4 、CHF3 、C2 F6 、C2 H6 、C3 H8 、C3 H6 、C6 H14 、C6 H6 、C6 H5 CH3 及上述之氣體的組合。
  33. 如請求項32所述之方法，其中該碳源氣體具有從約1×10-4 至100托耳的壓力，且該化學氣相沉積是在大於600o C的溫度完成。
  34. 如請求項27所述之方法，其中移除該金屬層是透過將該石墨烯塗佈的金屬層加熱至足以氣化該金屬層的溫度而達成。
  35. 如請求項27所述之方法，其中移除該金屬層是透過將該石墨烯塗佈的金屬層化學式浸泡在一化學物質中而達成，該化學物質溶解或移除該金屬層。
  36. 如請求項35所述之方法，其中該化學物質包括過硫酸銨、氯化鐵、硝酸鐵、氯化銅、鹽酸、硝酸、硫酸、過氧化氫、及上述物質之組合。
  37. 如請求項34所述之方法，其中該溫度是900o C至1300o C以上。
  38. 一種用於形成如請求項1至13任一項所述之製品的方法，該方法包括： （a）從一來源將一金屬沉積至一基材之一表面上，以形成包括多個金屬結構的一金屬層；（b）透過化學氣相沉積一碳源氣體及一視情況任選的氫氣源，將一視情況取代的石墨烯層沉積於該金屬層上，而形成一多孔三維構造，該多孔三維構造具有從約200m2 /g至約2200m2 /g的平均表面積，且該多孔三維構造的特徵在於至少一個視情況取代的三維石墨烯結構，該結構具有一中空核心，其中：i）該至少一個三維石墨烯結構包括五層或更少層的石墨烯；以及ii）該至少一個三維石墨烯球狀結構具有從約30nm至約500nm的平均直徑；以及（c）透過熱或化學製程視情況任選地移除該金屬層，以產生一視情況取代的三維中空石墨烯結構。
  39. 如請求項38所述之方法，其中步驟（b）與（c）同時發生或部分重疊。
  40. 如請求項39所述之方法，其中該金屬包括一過渡金屬，且該化學氣相沉積發生在從約200o C至約800o C之溫度。
  41. 如請求項38所述之方法，其中該金屬結構包括多個銅、鈷、鎳、鐵、鋅、銀、或金顆粒。
  42. 如請求項41所述之方法，其中該等顆粒是多個奈米顆粒，該等奈米顆粒具有沿著該等奈米顆粒之最長之軸的直徑，該直徑從約5nm至約500nm。
  43. 如請求項38所述之方法，其中該碳源氣體選自CH4 、C2 H2 、CF4 、CHF3 、C2 F6 、C2 H6 、C3 H8 、C3 H6 、C6 H14 、C6 H6 、C6 H5 CH3 及上述之氣體的組合。
  44. 如請求項43所述之方法，其中該碳源氣體具有從約1×10-4 至100托耳的壓力，且該化學氣相沉積是在大於600o C的溫度完成。
  45. 如請求項38所述之方法，其中移除該金屬層是透過將該石墨烯塗佈的金屬層加熱至足以氣化該金屬層的溫度而達成。
  46. 如請求項38所述之方法，其中移除該金屬層是透過將該石墨烯塗佈的金屬層化學式浸泡在一化學物質中而達成，該化學物質溶解或移除該金屬層。
  47. 如請求項46所述之方法，其中該化學物質包括過硫酸銨、氯化鐵、硝酸鐵、氯化銅、鹽酸、硝酸、硫酸、過氧化氫、及上述物質之組合。
  48. 如請求項45所述之方法，其中該溫度是900o C至1300o C以上。
  49. 一種裝置，該裝置包括如請求項1至26任一項所述之製品。
  50. 一種電子裝置，包括如請求項49所述之製品。
  51. 如請求項50所述之電子裝置，其中該電子裝置包括一有機發光二極體。
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