TW201629186A - 螢光體及其用途 - Google Patents

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Abstract

本發明係關於一種紅色發光的螢光體、使用前述螢光體之發光元件、及使用前述發光元件之發光裝置。 一種螢光體,係以一般式Cax+yEuySiAlN3表示,含有作為激活元素之Eu且以Eu取代一部分Ca元素,前述x+y為1.0以上1.1以下,前述y為0.004以上0.012以下,前述螢光體的晶格常數a為0.9747nm以上0.9770nm以下,前述螢光體的晶格常數c為0.5050nm以上0.5055nm以下,前述螢光體的Ca含量為27.8質量%以上28.8質量%以下,前述螢光體的氧固溶量為0.3質量%以上1.2質量%以下,前述螢光體的Eu含量為0.4質量%以上1.2質量%以下。

Description

螢光體及其用途
本發明係關於一種紅色發光的螢光體、具有前述螢光體之發光元件、及具有前述發光元件之發光裝置。
專利文獻1中揭示以紅色發光螢光體其中一種的Eu2-為激活元素之CaAlSiN3
[先前技術文獻]
[專利文獻]
專利文獻1:日本特開2004-071726號公報。
本發明提供以具有更高發光效率之Eu2+為激活元素的紅色發光螢光體、使用前述螢光體之發光元件及發光裝置。
本案發明者等深入檢討激活Eu2+的CaAlSiN3之組成, 結果發現Ca:Al:Si;N=1:1:1:3之計量組成外之特定組成範圍可解決上述課題,從而完成本發明。
一種螢光體,係以一般式Cax+yEuySiAlN3表示,含有作為激活元素之Eu且以Eu取代一部分Ca元素,前述x+y為1.0以上1.1以下,前述y為0.004以上0.012以下,前述螢光體的晶格常數a為0.9747nm以上0.9770nm以下,前述螢光體的晶格常數c為0.5050nm以上0.5055nm以下,前述螢光體的Ca含量為27.8質量%以上28.8質量%以下,前述螢光體的氧固溶量為0.3質量%以上1.2質量%以下,前述螢光體的Eu含量為0.4質量%以上1.2質量%以下。
前述螢光體的Ca之一部分較佳為以由Mg、Li、Y及鑭系元素(La、Ce及Eu除外)所組成群中所選擇之一種以上的元素所取代。
本發明一實施形態係提供一種發光元件,係具有前述螢光體、及對前述螢光體照射激發光的發光光源。
本發明一實施形態係一種發光裝置,係具備前述發光元件。
本發明一實施形態之螢光體係以一般式 Cax+yEuySiAlN3表示,含有作為激活元素之Eu且以Eu取代一部分Ca元素,並指定前述螢光體的晶格常數、組成元素的含量,藉此具有高發光效率。
本發明一實施形態之發光元件係具有前述螢光體,故具有高發光效率。
本發明一實施形態之發光裝置係具有前述發光元件,故具有高發光效率。
本發明一實施形態所提供之螢光體,係以一般式Cax+yEuySiAlN3表示,含有作為激活元素之Eu且以Eu取代一部分Ca元素,前述x+y為1.0以上1.1以下,前述y為0.004以上0.012以下,前述螢光體的晶格常數a為0.9747nm以上0.9770nm以下,前述螢光體的晶格常數c為0.5050nm以上0.5055nm以下,前述螢光體的Ca含量為27.8質量%以上28.8質量%以下,前述螢光體的氧固溶量為0.3質量%以上1.2質量%以下,前述螢光體的Eu含量為0.4質量%以上1.2質量%以下。
本發明一實施形態之螢光體,係以一般式Cax+yEuySiAlN3表示之螢光體。前述螢光體係由(Si,Al)-N4正四面體結合所構成且Ca元素位於其間隙。前述組成係由 Ca元素的佔有率(occupancy)、Si/Al比、N/O比之參數組合而保持電中性。近似於前述一般式之代表性的螢光體有Ca位置佔有率(site-occupancy)100%之Si/Al=1、O/N=0之CaAlSiN3。CaAlSiN3的Ca2+的一部分以作為發光中心作用之Eu2+取代時,係成為紅色發光螢光體。要為紅色發光螢光體時,例如以波峰波長455nm的單色光激發時螢光光譜的波峰波長需在645nm以上655nm以下。
本發明一實施形態之螢光體,在一般式中x+y為1.0以上1.1以下,較佳為1.0以上1.08以下,更佳為1.0以上1.05以下。前述x+y低於1.0時,Ca含量過低而無法促進Eu含量的增加,使螢光強度顯著下降。前述x+y高於1.1時較難以維持CaAlSiN3結晶,會生成大量目標結晶以外之異相,使螢光強度顯著下降。
本發明一實施形態之螢光體,在一般式中y為0.004以上0.012以下,較佳為0.004以上0.011以下,更佳為0.004以上0.010以下。Eu含量過低則無法提升螢光強度,Eu含量過高則會因Eu間能量傳遞所造成之螢光濃度淬滅,而使螢光強度下降。
前述螢光體的晶格常數a為0.9747nm以上0.9770nm以下且前述螢光體的晶格常數c為0.5050nm以上0.5055nm以下的原因如下。晶格常數係以X線繞射法測定的值。
CaAlSiN3結晶的骨架結構係由(Si,Al)-N4正四面體結合所構成,且Ca原子位於其間隙。Ca2+的一部分以作為發光中心作用之Eu2+取代時,係成為紅色發光螢光體。螢光體的組成係由Ca元素及Sr元素的佔有率、Si/Al比、N/O比之參數整體而保持電中性。
但是,CaAlSiN3以微觀來說結晶間有組成不均的情況,宏觀來說會形成副產物之結晶體或非晶體之異相、粒界、粒子表面的氧化物層等,塊狀之組成值並非必然反映螢光發光的CaAlSiN3結晶之固溶組成。同理,CaAlSiN3的原料摻配組成係與實際得到的CaAlSiN3結晶組成不同。
CaAlSiN3結晶之晶系為斜方晶系,空間群為Cmc21。Al與Si佔有同一位置且形成以4個N為頂點之四面體(Al,Si)N4。四面體(Al,Si)N4彼此介由3配位N重複反轉並結合,在bc面內方向形成鋸齒狀的(Al,Si)N4層。(Al,Si)N4介由2配位N積層於a軸方向。Ca係佔有(Al,Si)N4層之間隙所形成之空隙,最終佔有以5個N原子包圍之5配位位置。因此,藉由指定CaAlSiN3結晶的晶格常數而可嚴密限定其組成範圍。
本案發明者發現CaAlSiN3的晶格常數a過大時因Ca之固溶極限而難以實現,晶格常數a過小、晶格常數c過大或 過小時,螢光強度急據下降,具體來說,晶格常數a在0.9747nm以上0.9770nm以下、晶格常數c在0.5050nm以上0.5055nm以下時,可得到高螢光波峰強度。
本發明一實施形態之螢光體的Ca含量為27.8質量%以上28.8質量%以下,係因Ca含量過低則無法提升發光強度且無法促進Eu含量增加,Ca含量過高則無法保持組成平衡而易誘發異相生成。前述Ca含量較佳為27.8質量%以上28.7質量%以下,更佳為27.9質量%以上28.7質量%以下。
本發明一實施形態之螢光體的氧固溶量為0.3質量%以上1.2質量%以下,係因氧固溶量過低時,製造步驟中結晶粒成長性低而無法得到高螢光強度,氧固溶量過高則晶格常數偏離前述特定範圍。前述氧固溶量較佳為0.5質量%以上1.0質量%以下,更佳為0.7質量%以上0.9質量%以下。
本發明一實施形態之螢光體的Eu含量為0.4質量%以上1.2質量%以下,係因Eu含量過低則無法提升螢光強度,Eu含量過高則因Eu間能量傳遞所造成之螢光濃度淬滅,而使螢光強度下降。前述Eu含量較佳為0.4質量%以上1.1質量%以下,更佳為0.4質量%以上1.0質量%以下。
本發明一實施形態之螢光體中,前述螢光體的Ca之一部分可以由Mg、Li、Y及鑭系元素(La、Ce及Eu除外)所 組成群中所選擇之一種以上元素取代。以保持電荷平衡為目的而微調整螢光特性時,此係有效方法。
其他觀點之發明係提供一種發光元件,係具有前述螢光體、及對前述螢光體照射激發光的發光光源。
本發明一實施形態係提供一種發光裝置,其具備前述發光元件。發光裝置可為照明器具、照明裝置、圖像顯示裝置、交通號誌燈、及投影機。
[實施例]
比較本發明之實施例及比較例並以表1說明。
表1係表示實施例及比較例之螢光體之一般式中的x與y值(設定值及實際值)、晶格常數(單位:nm)、氧固溶量(單位:質量%)、Eu含量(單位:質量%)、Ca含量(單位:質量%)、波峰波長(單位:nm)、相對螢光波峰強度(單位:%)。
以下說明各測定方法。
<晶格常數a、晶格常數c>
螢光體的晶格常數係以X線繞射裝置(Rigaku股份有限公司製Ultima IV)並藉由使用CuK α射線之粉末X線繞射(XRD)而進行結晶相的鑒定。
實施例1之螢光體的結晶相係CaAlSiN3單相。由所得X線繞射圖譜使用結晶構造解析軟體(Rigaku股份有限公司製JADE)進行特維德法(rietveld method)解析,而進行晶格常數精算。實施例1之螢光體的晶格常數a為0.9761nm,晶格常數c為0.5051nm。
<Eu含有率、Ca含量>
螢光體之Eu含有率及Ca含量係以氧氮分析儀(堀場製作所股份有限公司製EMGA-920)測定。實施例1之螢光體的Eu含量為0.67質量%,Ca含量為28.4質量%。
<波峰波長>
螢光體之波峰波長係以分光螢光光度計(日立High-Technologies股份有限公司製F7000)進行實施例1的螢光體之激發/螢光光譜測定。螢光光譜的激發波長設定為455nm,激發光譜的監測波長係455nm激發之螢光光譜的波峰波長。
<相對螢光波峰強度>
相對螢光波峰強度係因測定裝置與條件變化而單位為任意,相對比較同一條件下測定之實施例與比較例。作為基準而設定160%以上為合格值。
[實施例1]
實施例1之螢光體以Cax+yEuySiAlN3表示,含有作為激活元素之Eu且以Eu取代一部分Ca元素,前述x+y為1.033,前述y為0.007,前述螢光體的晶格常數a為0.9761nm,前述螢光體的晶格常數c為0.5051nm,前述螢光體的Ca含量為28.4質量%,前述螢光體的氧固溶量為0.81質量%,前述螢光體的Eu含量為0.67質量%。
與後述製造方法之原料摻配不同的是,其係受雜質氧的影響與加熱處理步驟的揮發的影響。
實施例1之螢光體為波峰波長653nm之紅色發光螢光體,相對螢光波峰強度為170.4%。
說明實施例1之螢光體的製造方法。螢光體經由原料的混合步驟、燒成步驟、及酸處理步驟而製造。
<混合步驟>
實施例1之螢光體的原料係a型氮化矽粉末(宇部興產股份有限公司製SN-E10等級,氧固溶量1.0質量%)37.6質量%、氮化鋁粉末(TOKUYAMA股份有限公司製E等級,氧固溶量0.8質量%)27.4質量%、氧化銪(信越化學工業股份有限公司製RU等級)0.8質量%、及氮化鈣粉末(Materion公司製,純度99%,粒度75μm以下,氧固溶量0.6質量%)34.2質量%。
混合時將前述a型氮化矽粉末、前述氮化鋁粉末、及前述氧化銪放入尼龍瓶裡,使用氮化矽製球體且使用乙醇作為溶媒而進行球磨機混合。乾燥去除溶媒後,使用網目75μm篩網全數過篩。
將去除凝集的原料移入氮取代的手套箱(glove box),手動混合殘留原料之氮化鈣粉末。
<燒成步驟>
將混合步驟後之原料於手套箱內填充至含蓋的圓筒型氮化硼製容器(電化股份有限公司(更名前之公司名稱為電氣化學工業股份有限公司)製N-1等級),從手套箱取 出並設置於碳加熱器的電氣爐,並使電氣爐內充分真空排氣至0.1Pa以下。在真空排氣下從常溫開始加熱,於600℃時導入氮氣,電氣爐內的環境壓力為0.1MPa。壓力設定為0.1MPa後升溫至1800℃,從到達1800℃的時間點起維持前述溫度4小時而進行燒成。
4小時燒成後,將電氣爐內冷卻至常溫。電氣爐內燒成之燒成物為紅色塊狀物。將塊狀物以研缽和研杵搗碎。
<酸處理步驟>
燒成粉末係以漿液濃度成為25質量%之方式混合於濃度1N之鹽酸,而進行酸處理1小時,之後攪拌鹽酸漿液並進行煮沸處理1小時。
酸處理後冷卻至常溫,進行過濾並分離螢光體與酸處理液。螢光體於100℃~120℃的乾燥機中進行乾燥12小時,乾燥後使用網目45μm篩網過篩,並以此作為處理粉末。該通過物為實施例1之螢光體。
<比較例1>
比較例1的螢光體與實施例1的螢光體之不同點係原料摻配比為氮化矽粉末:氮化鋁粉末:氧化銪粉末:氮化鈣粉末=38.1:27.8:0.84:33.3質量%。
如表1所示,比較例1的螢光體以455nm波長的光激發時的螢光光譜的波峰波長為649nm,波峰強度為159.4%。與實施例1相比,係螢光波峰波長移位至短波長側且螢光波峰強度較低之螢光體。
以往所謂「以一般式Cax+yEuySiAlN3表示,含有作為激活元素之Eu且以Eu取代一部分Ca元素之螢光體」係相當於比較例1。
<實施例2~4、比較例2~6>
將實施例1及比較例1使用之原料粉末以各種摻配比混合,將該等混合粉末以與實施例1同樣方式處理,製作實施例2~4及比較例2~6的螢光體並進行評價。Eu含量較少的比較例2及Ca含量較少的比較例3中,相對螢光波峰強度為較低值。氧含量較多的比較例4及脫離一般式組成的比較例5中,相對螢光波峰強度較低且晶格常數脫離本發明範圍。Eu含量較多的比較例6中,波峰波長665nm而脫離紅色發光螢光體之範圍。
<實施例5>
實施例5的螢光體係將實施例1的螢光體的一部分Ca以Li取代。實施例5的螢光體係波峰波長649nm,相對螢光波峰強度170.8%,係有效維持電荷平衡之方法。

Claims (4)

  1. 一種螢光體,係以一般式Cax+yEuySiAlN3表示,含有作為激活元素之Eu且以Eu取代一部分Ca元素,前述x+y為1.0以上1.1以下,前述y為0.004以上0.012以下,前述螢光體的晶格常數a為0.9747nm以上0.9770nm以下,前述螢光體的晶格常數c為0.5050nm以上0.5055nm以下,前述螢光體的Ca含量為27.8質量%以上28.8質量%以下,前述螢光體的氧固溶量為0.3質量%以上1.2質量%以下,前述螢光體的Eu含量為0.4質量%以上1.2質量%以下。
  2. 如請求項1所記載之螢光體,其中前述Ca之一部分係以由Mg、Li、Y及鑭系元素(La、Ce及Eu除外)所組成群中所選擇之一種以上的元素所取代。
  3. 一種發光元件,係具有如請求項1或2所記載之螢光體、以及對前述螢光體照射激發光的發光光源。
  4. 一種發光裝置,係具有如請求項3所記載之發光元件。
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