TW201606318A - 電容器的絕緣電阻測定裝置 - Google Patents

Abstract

提供可進行電容器之絕緣電阻的高精度且高速度的測定的絕緣電阻測定裝置。 一種絕緣電阻測定裝置，係包含：包含以與測定對象的電容器之一方的電極接觸之方式配置，且連接於定電壓定電流供給電路的測定端子、以與連接於該電容器之另一方的電極接觸之方式配置的測定端子、透過電阻Ri連接於該測定端子，且包含運算放大器與連接於該運算放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間的電阻的電流電壓轉換電路，然後，與連接於該電流電壓轉換電路之輸出側的電壓測定具之電容器的絕緣電阻測定裝置，其特徵為：於電流電壓轉換電路的運算放大器的輸出側配線部分，連接串聯且相互反向排列之一對齊納二極體，於該齊納二極體，進而連接有連接於接地的電阻，且齊納二極體與連接於接地的電阻之間的配線部分與前述運算放大器的輸入側配線部分，藉由並聯且相互反向配置之一對二極體連接，進而，於前述電阻Ri，並聯連接二極體。

Description

電容器的絕緣電阻測定裝置

本發明係關於電容器的絕緣電阻測定裝置， 尤其關於有效於用以高速測定大量的微小電容器(晶片電容器)的絕緣電阻的絕緣電阻測定裝置。本發明尤其關於組入於自動化的晶片電容器檢查選別裝置，可有效地使用於用以高精度且高速測定大量的晶片電容器的絕緣電阻的絕緣電阻測定裝置。

伴隨手機、智慧型手機、液晶電視、電玩遊 戲機等之小型電器產品的生產量的增加，組入於此種電器產品之微小晶片電子零件的生產量明顯增加。作為代表性的晶片電子零件，有晶片電容器(也稱為片電容(chip condenser))，該晶片電容器幾乎都由絕緣材料所成之本體部，與本體部對向之兩端面分別具備之電極所形成。

近年來，組入晶片電子零件的電器產品更小 型化，然後，因應組入於電器產品的晶片電子零件的個數的增加，晶片電子零件逐漸極度變小。例如，關於晶片電容器，近年來，使用極小尺寸(例如，被稱為0402晶片， 0.2mm×0.2mm×0.4mm的尺寸)的晶片電容器。此種微小的晶片電容器，係藉由大量生產，以一批量數萬~數十萬個的單位生產。

關於被組入於電器產品的晶片電子零件，為 了降低起因於該晶片電子零件的缺陷之電器產品的不良品率，通常，關於大量製造之晶片電子零件的所需性能，預先進行全數檢查。具體來說，關於晶片電容器，針對該全數，預先進行絕緣電阻及靜電容等之電性特性的檢查。

大量的晶片電容器等之晶片電子零件的電性 特性的檢查，需要高速地進行，作為用以自動進行該高速檢查的裝置，近年來，一般使用具備形成多數透孔之搬送圓盤(晶片電子零件暫時保持板)的用以進行晶片電子零件之電性特性的檢查與選別的自動化裝置(亦即，晶片電子零件檢查選別裝置)。於該搬送圓盤，通常在暫時收容保持檢查對象的晶片電子零件之多數透孔沿著圓周以三列以上的複數列並排之狀態下形成。然後，在該晶片電子零件檢查選別裝置的使用時，於間歇性旋轉狀態之搬送圓盤的透孔，暫時收容保持晶片電子零件之後，使該搬送圓盤的透孔所保持之晶片電子零件的各電極，接觸沿著該搬送圓盤的旋轉路徑所附設之一對電極端子(檢查用接觸子)，測定該晶片電子零件的所定電性特性，接下來，依據該測定結果，實施將晶片電子零件從搬送圓盤的透孔以被收容於所定容器之方式排出並選別(或者分類)的作業。

亦即，自動化之最近的晶片電子零件的檢查 選別裝置，可說是包含基台、可旋轉地軸支持於基台的晶片電子零件搬送圓盤(但是，於該晶片電子零件搬送圓盤，可暫時性收容在對向之端面分別具有電極的晶片電子零件的透孔之列沿著圓周形成有三列以上)、然後，沿著該搬送圓盤的旋轉路徑依序設置，且使該搬送圓盤的透孔供給收容晶片電子零件的晶片電子零件供給收容部(供給收容區域)、進行晶片電子零件的電性特性之檢查的晶片電子零件電性特性檢查部(檢查區域)、然後，將已檢查過的晶片電子零件，依據檢查結果來進行分類的晶片電子零件分類部(分類區域)的晶片電子零件檢查選別裝置。

作為晶片電子零件檢查選別裝置的範例，可 舉出專利文獻1所記載的裝置。亦即，於專利文獻1，記載有包含使用上述構造的晶片電子零件檢查選別裝置，將檢查對象的晶片電子零件在相互接近配置之狀態下收容保持於搬送圓盤的透孔，接下來，使晶片電子零件分別透過接觸子而電性連接於檢查器，然後，從該檢查器對各晶片電子零件施加檢查用電壓，藉由檢查器來檢測出因該檢查用電壓的施加而在各晶片電子零件發生的電流值的工程之連續性檢查晶片電子零件之電性特性的方法的改良方法。

另一方面，作為電容器的絕緣電阻測定裝置 的範例，公知有專利文獻2所記載的測定裝置。亦即，於專利文獻2揭示有使用包含電源與連接於該電源的電流限制電路、及與連接於該電流限制電路之測定對象的電容器(DUT)之一方的電極接觸的測定端子、以與連接於該測定 端子的電容器(DUT)之另一方的電極接觸之方式配置的測定端子、連接於該測定端子的電阻Ri、連接於該電阻Ri，且包含運算放大器與連接於該運算放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間的電阻的電流電壓轉換電路，然後，與連接於該電流電壓轉換電路之輸出側的電壓測定具的絕緣電阻測定裝置，來測定洩漏電流，藉此，測定電容器(DUT)之絕緣電阻的裝置。

將專利文獻2所記載之電容器的絕緣電阻測 定裝置(亦即，藉由測定電容器的洩漏電流，測定檢查電容器之絕緣電阻的裝置)的基本構造，與組入於該裝置的洩漏電流測定電路，一起於添附圖面的圖1揭示。

於圖1中，電容器的絕緣電阻測定裝置，係包含包含電源(接地的V₁)與連接於該電源的電流限制電路(電阻R₁)、及與連接於該電流限制電路之測定對象的電容器(DUT)之一方的電極接觸的測定端子(T₁)、以與連接於該測定端子的電容器(DUT)之另一方的電極接觸之方式配置的測定端子(T₂)、連接於該測定端子的電阻Ri、連接於該電阻Ri，且包含運算放大器11與連接於該運算放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間的電阻12的電流電壓轉換電路(IV amp)，然後，連接於該電流電壓轉換電路之輸出側的電壓測定具(V)的裝置。

亦即，電容器的絕緣電阻，係例如使用包含 添附圖面的圖1所示之電路的裝置，首先，進行電容器(DUT)的充電，接下來，利用偵測電容器的充電完成後流 通之電流(電容器的洩漏電流)來測定。再者，對於為了測定該電容器的洩漏電流來說，需要將洩漏電流的電流值轉換成電壓值，所以，使用包含用以從該電流值轉換成電壓值的電流電壓轉換電路，一般稱為IV放大器的電路。

[先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]WO2014/010623A1

[專利文獻2]日本特開平8-262076號公報

IV放大器如圖1所示，是包含運算放大器和連接於該運算放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間的電阻的電流電壓轉換電路的放大裝置。再者，IV放大器也可理解為亦包含配置於其輸入側之電阻Ri的電流電壓轉換電路。

依據本發明的發明者的檢討，使用圖1所示之一般構造的絕緣電阻測定裝置，進行電容器的絕緣電阻測定時，有IV放大器飽和的問題，發現因為該IV放大器的飽和，測定所需時間變長。亦即，因為作為用以進行電容器的充電的電源裝置，使用具備定電流電路的電源裝置，本來定電流的充電會進行到電容器充滿電為止，但是，實際上，在電容器短路時等，比想定還大的電流流入 至IV放大器時，會發生IV放大器的虛擬短路崩潰，無法進行其以上之定電流的充電的現象。因為該虛擬短路的崩潰，IV放大器飽和，結果，到電容器充滿電為止的需要時間容易變長。到該充滿電為止的需要時間變成的問題，尤其在需要高速測定大量的電容器的絕緣電阻時，亦即，在意圖使用先前所述之晶片電子零件檢查選別裝置，進行多量的晶片電容器之絕緣電阻的測定之狀況等中，會導致測定效率(每一單位時間可測定電性特性之晶片電容器的個數)的降低，故於實際的晶片電容器之電性特性的測定作業中會成為嚴重的問題。

所以，本發明的主要課題(目的)係提供可高速 且高精度地測定電容器，尤其是多量的微小尺寸之電容器的晶片電容器的絕緣電阻的絕緣電阻測定裝置。

為了達成前述目的，本案發明者係首先，為了迴避使用圖1所示構造的絕緣電阻測定裝置，進行電容器的絕緣電阻測定時所發生之IV放大器飽和現象，檢討防止在充滿電之前的IV放大器之虛擬短路的發生的手段。然後，該檢討的結果，找出於組入至IV放大器之電流電壓轉換電路(亦即，包含運算放大器和連接於該運算放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間的電阻的電流電壓轉換電路)之運算放大器的輸出側配線部分，連接串聯且相互反向排列之一對齊納二極體，接著，於該一對齊納二 極體，進而連接有連接於接地的電阻，進而，將該一對齊納二極體與連接於接地的電阻之間的配線部分與前述運算放大器的輸入側配線部分，藉由並聯且相互反向配置之一對二極體連接，藉此，可迴避充滿電之前的IV放大器的電流電壓電路之虛擬短路的發生。

本案發明者持續檢討的結果，發現利用可藉 由以前述條件來組入一對齊納二極體，迴避虛擬短路的發生的電流電壓電路，並藉由於該電流電壓電路之輸入側的電阻Ri並聯地配置連接二極體，可抑制IV放大器的充滿電前之飽和現象的發生，實現從充電開始到充滿電為止的持續性定電流的充電操作，又，可縮短充電開始到充滿電為止的所需時間，而達成本案發明。

所以，本發明首先是一種絕緣電阻測定裝 置，係包含：包含定電壓定電流供給電路、及與連接於該定電壓定電流供給電路之測定對象的電容器之一方的電極接觸的測定端子、以與連接於該測定端子的電容器之另一方的電極接觸之方式配置的測定端子、連接於該測定端子的電阻Ri、連接於該電阻Ri，且包含運算放大器與連接於該運算放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間的電阻的電流電壓轉換電路，然後，與連接於該電流電壓轉換電路之輸出側的電壓測定具之電容器的絕緣電阻測定裝置，其特徵為：於前述電流電壓轉換電路的運算放大器的輸出側配線部分，連接串聯且相互反向排列之一對齊納二極體，於該一對齊納二極體，進而連接有連接於接地的電阻，且 該一對齊納二極體與連接於接地的電阻之間的配線部分與前述運算放大器的輸入側配線部分，藉由並聯且相互反向配置之一對二極體連接，進而，於前述電阻Ri，並聯連接二極體。

又，本發明是一種電流電壓轉換電路，係包 含運算放大器和連接於該運算放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間的電阻的電流電壓轉換電路，其特徵為：於該運算放大器的輸出側配線部分，連接串聯且相互反向排列之一對齊納二極體，於該一對齊納二極體，進而連接有連接於接地的電阻，且該一對齊納二極體與連接於接地的電阻之間的配線部分與前述運算放大器的輸入側配線部分，藉由並聯且相互反向配置之一對二極體連接。

藉由使用本發明之電容器的絕緣電阻測定裝置，可進行電容器之絕緣電阻的高精度且在縮短時間內的測定。所以，本發明之電容器的絕緣電阻測定裝置，係尤其藉由組入至用以檢查大量的晶片電容器之絕緣電阻所利用的晶片電子零件檢查選別裝置，可不使檢查精度降低，提升檢查速度，亦即，可縮短檢查作業所需時間。

V₁‧‧‧電源

R₁‧‧‧電流限制電路的電阻

Vc‧‧‧定電壓定電流電源

Ro‧‧‧等效輸出電阻

T₁，T₂‧‧‧測定端子

DUT‧‧‧測定對象的電容器

I‧‧‧電流

Vd‧‧‧DUT兩端的電壓

Ri‧‧‧電阻

IV amp‧‧‧IV放大器(電流電壓放大器)

11‧‧‧運算放大器(Operational amplifier)

12‧‧‧電阻

13‧‧‧齊納二極體

14‧‧‧電阻

15‧‧‧並聯二極體

V‧‧‧電壓計

[圖1]揭示先前之電容器的絕緣電阻測定裝置所用之 電容器的洩漏電流計測電路的範例。

[圖2]揭示遵從本發明之電容器的絕緣電阻測定裝置所用之電容器的洩漏電流計測電路的範例。

[圖3]揭示使用未於電阻Ri並聯配置二極體(D)的洩漏電流計測電路，進行電容器的洩漏電流計測時(參考例)之電容器的充電電壓的變化之資料的圖表。

[圖4]揭示使用於電阻Ri並聯配置二極體(D)的洩漏電流計測電路(本發明之電容器的絕緣電阻測定裝置的洩漏電流計測電路)，進行電容器的洩漏電流計測時(本發明的實施例)之電容器的充電電壓的變化之資料的圖表。

一邊參照添附之圖2一邊說明遵從本發明之 電容器的絕緣電阻測定裝置的構造。

圖2所示之電容器的絕緣電阻裝置，係包含以下構造的裝置：定電壓定電流電源(接地的Vc)與連接於該電源的等效輸出電阻(Ro)、及與連接於該等效輸出電阻之測定對象的電容器(DUT)之一方電極接觸的測定端子(T₁)、以與連接於該測定端子之電容器(DUT)的另一方電極接觸之方式配置的測定端子(T₂)、連接於該測定端子的電阻Ri、並聯連接於該電阻Ri之二極體(D)、連接於電阻Ri，且包含運算放大器11與連接於該運算放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間的電阻12，然後，於運算放大器11的輸出側配線部分，連接串聯且相互反向排列之一對齊納二極體 13，於該一對齊納二極體13，進而連接連接於接地的電阻14，進而，將該一對齊納二極體13與連接於接地的電阻14之間的配線部分與運算放大器11的輸入側配線部分，藉由並聯且相互反向配置之一對二極體15連接所構成的電流電壓轉換電路(IV amp-1)，然後，與連接於該電流電壓轉換電路(IV amp-1)之輸出側的電壓測定具(V)。再者，前述之定電壓定電流電源與連接於該電源的等效輸出電阻，係構成定電壓定電流供給電路。

由圖2可知，遵從本發明之電容器的絕緣電 阻測定裝置與圖1的先前之電容器的絕緣電阻測定裝置不同的是，主要於組入至IV放大器之電流電壓轉換電路的運算放大器11的輸出側配線部分，連接串聯且相互反向排列之一對齊納二極體13，於該一對齊納二極體13進而連接有連接於接地的電阻14，進而將該一對齊納二極體13與連接於接地的電阻14之間的配線部分與運算放大器11的輸入側配線部分，藉由並聯且相互反向配置之一對二極體15連接之處，然後，於電阻Ri並聯配置連接二極體(D)之處。

本發明之電容器的絕緣電阻測定裝置中採用 之新穎構造的電流電壓轉換電路所插入之一對齊納二極體13，係可防止運算放大器(Operational amplifier11)的輸出飽和之狀況。亦即，輸出電壓超過齊納二極體13的崩潰電壓的話，該齊納二極體13會動作(亦即，成為ON)，藉此，防止運算放大器11的虛擬短路崩潰，藉此，可防止 輸出電壓變得更高。再者，將一對齊納二極體相互反向排列的理由，係為了對應運算放大器開始飽和於正向之狀況與開始飽和於負向之狀況雙方。

另一方面，將一對齊納二極體13與連接於接 地的電阻14之間的配線部分與運算放大器11的輸入側配線部分，藉由並聯且相互反向配置之一對二極體(並聯二極體)15連接的電路，係具有使齊納二極體13的洩漏電流旁路的功能。亦即，新插入之齊納二極體雖然微小卻會發生洩漏電流，所以，測定微小的電流時，亦即回授電阻較高時，來自該齊納二極體的洩漏電流會成為對於流通於回授電阻的電流無法無視之值，有成為測定對象之電容器的洩漏電流的測定值之誤差原因之狀況。包含並聯二極體15的電路，係將前述之齊納二極體13從運算放大器的一端分離，藉由從並聯二極體15連接於接地的電阻，進行將來自該齊納二極體13的洩漏電流流通於接地的作用。 再者，齊納二極體13的洩漏電流與「從並聯二極體15連接於接地的電阻」之積的電壓超過並聯二極體15的ON電壓時，亦即，齊納二極體13崩潰時，齊納二極體13係成為連接於運算放大器之狀態，進行維持IV放大器之虛擬短路的作用。

接著，說明於本發明之電容器的絕緣電阻測 定裝置中，以對於電阻Ri並聯連接之方式組入的二極體(D)的作用。

組入至電容器的絕緣電阻測定裝置之運算放大器 11，係只要是表示理想特性的元件，理論上，不需要將電阻Ri連接於運算放大器。然而，運算放大器不是表示理想特性的放大器時，在未連接電阻Ri之狀態下，運算放大器的動作本身會不穩定，結果，有發生振盪之狀況，此時，無法進行正常的IV轉換(電流電壓轉換)。所以，在實際所用之電容器的絕緣電阻測定電路中，如上所述，電容器(DUT)與運算放大器11之間插入電阻Ri。作為該電阻Ri，通常，使用數100Ω至數kΩ程度的電阻。電阻Ri係其電阻值越大越穩定，但是，該電阻值較大的話，與電容器的靜電電容C形成時間常數(C×Ri)，所以，因此多耗費充電時間，測定時間被延長，成為用以縮短測定時間阻礙。在本發明之電容器的絕緣電阻測定裝置中，藉由於該電阻Ri並聯配置連接二極體(D)，以二極體使電阻Ri旁路，藉此，在電容器的充電時，停止來自電容器的洩漏電流流通於電阻Ri，然後，充電完成時(亦即，洩漏電流流通於IV放大器時)，電阻Ri會動作，故可抑制IV放大器的振盪。

藉由前述的理由，在本發明之電容器的絕緣電阻測定裝置中，可一邊迴避測定電路的不穩定化，一邊可縮短測定時間。

再者，作為並聯配置於電阻Ri的二極體 (D)，選擇電阻Ri的兩端電壓低於ON電壓的二極體(D)，但是，通常的二極體表示0.6~0.7V的ON電壓，所以，可無特別限定地使用此種通常的二極體(例如，PN接合二 極體)。

接著，揭示本發明的實施例與參考例。

[實施例] [參考例1]

添附圖面的圖2所示之電容器的絕緣電阻測定裝置，且於電阻Ri不並聯配置二極體(D)時所預測的「定電流所致之電容器的充電操作之充電時的電壓」如下所示。

定電流結束電壓(Ve)=Vc-I‧(Ri+Ro)

Vc：從電源供給之定電流的電壓

I：流通於電容器(DUT)的電流

Ri：輸入電阻Ri的電阻值

Ro：輸出電阻Ro的電阻值

亦即，定電流充電係因為輸入電阻Ri與輸出電阻Ro的影響，可預測充電電壓越高，則充電電流越低。

接著，利用前述的計算式，計算出Vc=±50V、Ro=35Ω、Ri=100Ω、I=30mA時的充電電壓的變化的話，如後述計算。

Ve=50-0.03×(35+100)=45.95(V)

所以，到Ve約46V為止，成為30mA的定電流充電，但是，之後，成為遵從後述的計算式之充電電流。

由上述的計算式可知，越接近充滿電則充電電流越少，前述，可預測充電速度降低。

[參考例2]

於圖3揭示添附圖面的圖2所示之電容器的絕緣電阻測定裝置，且於電阻Ri不並聯配置二極體(D)時所計測的「定電流所致之電容器的充電操作之充電時的電壓變化」的圖表。

計測該電壓變化的條件，係如下所示。

充電電壓：50V，充電電流：30mA，充電時間：1秒，輸入電阻：1kΩ，計測對象電容器(DUT)：10μF

從圖3，於電阻Ri不並聯配置二極體(D)時，可確認定電流充電結束電壓較低，且定電流充電結束後，進行順暢的充電。

[實施例1]

添附圖面的圖2所示之電容器的絕緣電阻測定裝置(於電阻Ri並聯配置二極體(D))中預測的「定電流所致之電容器的充電操作之充電時的電壓」如下所示計算。

定電流結束電壓(Ve)=Vc-(I×Ro+D)

Vc：從電源供給之定電流的電壓

I：流通於電容器(DUT)的電流

Ro：輸出電阻Ro的電阻值

D：二極體之順方向的電壓

接著，利用前述的計算式，計算出Vc=50V、 Ro=35Ω、I=30mA、D：1.5V時的充電電壓的變化的話，如後述計算。

Ve=50-(0.03×35+1.5)=47.45(V)

所以，Ve係相較於未配置二極體之狀況，高約1.5V。又，到約47.5V為止，進行30mA的定電流充電後的充電電流也因為輸出電阻的影響變少，如後述計算式所示，可預測改善。

I=(Vc-Vd-1.5)/Ro

由以上的說明可知，在於電阻Ri並聯配置二極體(D)時，相較於未並聯配置二極體之狀況，可預測可大幅縮短充電時間(充電完成時間)。

[實施例2]

於圖4揭示添附圖面的圖2所示之電容器的絕緣電阻測定裝置(於電阻Ri並聯配置二極體(D)時)所計測的「定電流所致之電容器的充電操作之充電時的電壓變化」的圖表。

計測該電壓變化的條件，係與圖3的資料的測定條件相同，如下所示。

充電電壓：50V，充電電流：30mA，充電時間：1秒，輸入電阻：1kΩ，計測對象電容器(DUT)：10μF

從圖4，於電阻Ri並聯配置二極體(D)時，可確認定電流充電結束電壓相較於圖3之狀況較高，且定電流充電結束後的充電電壓也維持較高。

所以，在添附圖面的圖2所示之電容器的絕緣電阻測定裝置(具有於電阻Ri並聯配置二極體(D)之構造)中，相較於於電阻Ri不並聯配置二極體(D)之狀況，可確認縮短了充電完成時間。再者，比較圖3與圖4的話，充電完成 時間係後者縮短了約16毫秒。

Vc‧‧‧定電壓定電流電源

Ro‧‧‧等效輸出電阻

T₁，T₂‧‧‧測定端子

DUT‧‧‧測定對象的電容器

I‧‧‧電流

Vd‧‧‧DUT兩端的電壓

Ri‧‧‧電阻

IV amp‧‧‧IV放大器

11‧‧‧運算放大器

12‧‧‧電阻

13‧‧‧齊納二極體

14‧‧‧電阻

15‧‧‧並聯二極體

Claims (4)

1. 一種電容器的絕緣電阻測定裝置，係包含：包含定電壓定電流供給電路、及與連接於該定電壓定電流供給電路之測定對象的電容器之一方的電極接觸的測定端子、以與連接於該測定端子的電容器之另一方的電極接觸之方式配置的測定端子、連接於該測定端子的電阻Ri、連接於該電阻Ri，且包含運算放大器與連接於該運算放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間的電阻的電流電壓轉換電路，然後，與連接於該電流電壓轉換電路之輸出側的電壓測定具之電容器的絕緣電阻測定裝置，其特徵為：於前述電流電壓轉換電路的運算放大器的輸出側配線部分，連接串聯且相互反向排列之一對齊納二極體，於該一對齊納二極體，進而連接有連接於接地的電阻，且該一對齊納二極體與連接於接地的電阻之間的配線部分與前述運算放大器的輸入側配線部分，藉由並聯且相互反向配置之一對二極體連接，進而，於前述電阻Ri，並聯連接二極體。
2. 如申請專利範圍第1項所記載之電容器的絕緣電阻測定裝置，其中，定電壓定電流供給電路包含定電壓定電流電源，與連接於該電源的等效輸出電阻。
3. 如申請專利範圍第1項或第2項所記載之電容器的絕緣電阻測定裝置，其中， 電容器係晶片電容器。
4. 一種電流電壓轉換電路，係包含運算放大器和連接於該運算放大器的反轉輸入端子與輸出端子之間的電阻的電流電壓轉換電路，其特徵為：於該運算放大器的輸出側配線部分，連接串聯且相互反向排列之一對齊納二極體，於該一對齊納二極體，進而連接有連接於接地的電阻，且該一對齊納二極體與連接於接地的電阻之間的配線部分與前述運算放大器的輸入側配線部分，藉由並聯且相互反向配置之一對二極體連接。