JP3391310B2 - 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 - Google Patents
容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置Info
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- JP3391310B2 JP3391310B2 JP26858899A JP26858899A JP3391310B2 JP 3391310 B2 JP3391310 B2 JP 3391310B2 JP 26858899 A JP26858899 A JP 26858899A JP 26858899 A JP26858899 A JP 26858899A JP 3391310 B2 JP3391310 B2 JP 3391310B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はコンデンサなどの容
量性電子部品の絶縁抵抗を測定する装置に関するもので
ある。
量性電子部品の絶縁抵抗を測定する装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】従来、コンデンサなどの容量性電子部品
の絶縁抵抗を測定するために、図１に示される測定装置
が用いられている。すなわち、１は直流測定電源であ
り、その一端はアースされ、他端は電流制限抵抗２を介
して被測定コンデンサ３の一端に接続され、電流制限抵
抗２と被測定コンデンサ３との間には電圧計４の一端が
接続されている。被測定コンデンサ３の他端は電流計５
に接続され、被測定コンデンサ３に流れる漏れ電流を電
流計５で測定している。
の絶縁抵抗を測定するために、図１に示される測定装置
が用いられている。すなわち、１は直流測定電源であ
り、その一端はアースされ、他端は電流制限抵抗２を介
して被測定コンデンサ３の一端に接続され、電流制限抵
抗２と被測定コンデンサ３との間には電圧計４の一端が
接続されている。被測定コンデンサ３の他端は電流計５
に接続され、被測定コンデンサ３に流れる漏れ電流を電
流計５で測定している。
【０００３】被測定コンデンサ３に対して印加される測
定電圧Ｅを電圧計４で測定し、被測定コンデンサ３を流
れてくる電流Ｉを電流計５で測定することで、被測定コ
ンデンサ３の絶縁抵抗Ｒを Ｒ＝Ｅ／Ｉ として求めることができる。
定電圧Ｅを電圧計４で測定し、被測定コンデンサ３を流
れてくる電流Ｉを電流計５で測定することで、被測定コ
ンデンサ３の絶縁抵抗Ｒを Ｒ＝Ｅ／Ｉ として求めることができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な測定装置の場合、測定電源１が発生するノイズや、商
用電源などのハムノイズ、被測定コンデンサ３自体が発
生するノイズなどによって、絶縁抵抗Ｒに測定誤差が生
じるという問題がある。
な測定装置の場合、測定電源１が発生するノイズや、商
用電源などのハムノイズ、被測定コンデンサ３自体が発
生するノイズなどによって、絶縁抵抗Ｒに測定誤差が生
じるという問題がある。
【０００５】ここで、この理由を図２を参照して以下に
説明する。被測定コンデンサ３の容量をＣ、絶縁抵抗を
Ｒ、測定電源１の発生する直流電圧をＥ、測定電源１の
ノイズや商用電源のハムノイズなどによって発生する電
圧（交流成分）をｅとする。さて、本来、被測定コンデ
ンサ３の絶縁抵抗Ｒは、もしノイズ成分ｅがなければ、
漏れ電流Ｉ＝Ｉｒであるため、Ｒ＝Ｅ／Ｉで求められ
る。しかし、実際には電流Ｉには、絶縁抵抗による漏れ
電流Ｉｒ以外に、容量成分を通過するノイズ成分Ｉｃが
含まれるため、Ｉ＝Ｉｒ＋Ｉｃとなり、測定誤差とな
る。
説明する。被測定コンデンサ３の容量をＣ、絶縁抵抗を
Ｒ、測定電源１の発生する直流電圧をＥ、測定電源１の
ノイズや商用電源のハムノイズなどによって発生する電
圧（交流成分）をｅとする。さて、本来、被測定コンデ
ンサ３の絶縁抵抗Ｒは、もしノイズ成分ｅがなければ、
漏れ電流Ｉ＝Ｉｒであるため、Ｒ＝Ｅ／Ｉで求められ
る。しかし、実際には電流Ｉには、絶縁抵抗による漏れ
電流Ｉｒ以外に、容量成分を通過するノイズ成分Ｉｃが
含まれるため、Ｉ＝Ｉｒ＋Ｉｃとなり、測定誤差とな
る。
【０００６】例えば、５０ＭΩの絶縁抵抗を持つ１０μ
Ｆのコンデンサの絶縁抵抗を、５０Ｖの電圧で測定し、
電源の出力には６０Ｈｚ、１０ｍＶｒｍｓのノイズが含
まれているとする。すると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／５０ＭΩ＝１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（１／２π×６０×１０μＦ） ≒３８μＡｒｍｓ であり、本来測定したい電流１μＡは、３０倍以上のノ
イズ電流３８μＡに埋もれてしまい、精度よい測定は到
底不可能である。長時間電流値Ｉｃを積分すれば、Ｉｃ
は平均して０に近づくので、測定が可能であるが、測定
に長時間を要するという問題がある。
Ｆのコンデンサの絶縁抵抗を、５０Ｖの電圧で測定し、
電源の出力には６０Ｈｚ、１０ｍＶｒｍｓのノイズが含
まれているとする。すると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／５０ＭΩ＝１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（１／２π×６０×１０μＦ） ≒３８μＡｒｍｓ であり、本来測定したい電流１μＡは、３０倍以上のノ
イズ電流３８μＡに埋もれてしまい、精度よい測定は到
底不可能である。長時間電流値Ｉｃを積分すれば、Ｉｃ
は平均して０に近づくので、測定が可能であるが、測定
に長時間を要するという問題がある。
【０００７】そこで、図３のように被測定コンデンサ３
から電流計５に至る経路の途中に抵抗Ｒｓを入れると、
ノイズ電流Ｉｃを小さくすることができる。例えば、Ｒ
ｓ＝５０ｋΩとすると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／（５０ＭΩ＋５０ｋΩ）≒１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（５０ｋΩ＋１／２π×６０×１０μＦ） ≒０．２μＡｒｍｓ となり、本来測定したい電流１μＡに対して、ノイズ電
流が０．２μＡと小さくなるため、精度よい測定が可能
になる。しかし、５０ｋΩもの抵抗を用いることで、容
量Ｃの充電電流が、時定数ＲＣ＝５０ｋΩ×１０μＦ＝
５００ｍｓの数倍の時間流れるため、これが収束するま
で測定を行なうことができない。よって、結局測定に長
時間を要するという問題があった。
から電流計５に至る経路の途中に抵抗Ｒｓを入れると、
ノイズ電流Ｉｃを小さくすることができる。例えば、Ｒ
ｓ＝５０ｋΩとすると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／（５０ＭΩ＋５０ｋΩ）≒１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（５０ｋΩ＋１／２π×６０×１０μＦ） ≒０．２μＡｒｍｓ となり、本来測定したい電流１μＡに対して、ノイズ電
流が０．２μＡと小さくなるため、精度よい測定が可能
になる。しかし、５０ｋΩもの抵抗を用いることで、容
量Ｃの充電電流が、時定数ＲＣ＝５０ｋΩ×１０μＦ＝
５００ｍｓの数倍の時間流れるため、これが収束するま
で測定を行なうことができない。よって、結局測定に長
時間を要するという問題があった。
【０００８】そこで、本発明の目的は、各種ノイズの影
響を受けずに容量性電子部品の絶縁抵抗を高精度に、し
かも短時間で測定できる絶縁抵抗測定装置を提供するこ
とにある。
響を受けずに容量性電子部品の絶縁抵抗を高精度に、し
かも短時間で測定できる絶縁抵抗測定装置を提供するこ
とにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明は、容量性電子部品に所定の
測定電圧を印加し、この電子部品を流れる電流を測定す
ることで、この電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測
定装置において、測定電源から容量性電子部品を経て電
流検出装置に至る経路にノイズ除去回路が接続され、上
記ノイズ除去回路は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗
器Ｒｂと第１のダイオードＤｂとの直列回路と、第２の
ダイオードＤａとが並列接続された回路を有し、第１，
第２のダイオードＤｂ，Ｄａのアノードが測定電源の正
電圧側に接続されており、第１のダイオードＤｂの順方
向電圧降下は第２のダイオードＤａの順方向電圧降下よ
り小さく、かつ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗
器Ｒｂの抵抗値より大きいことを特徴とする容量性電子
部品の絶縁抵抗測定装置する。
め、請求項１に記載の発明は、容量性電子部品に所定の
測定電圧を印加し、この電子部品を流れる電流を測定す
ることで、この電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測
定装置において、測定電源から容量性電子部品を経て電
流検出装置に至る経路にノイズ除去回路が接続され、上
記ノイズ除去回路は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗
器Ｒｂと第１のダイオードＤｂとの直列回路と、第２の
ダイオードＤａとが並列接続された回路を有し、第１，
第２のダイオードＤｂ，Ｄａのアノードが測定電源の正
電圧側に接続されており、第１のダイオードＤｂの順方
向電圧降下は第２のダイオードＤａの順方向電圧降下よ
り小さく、かつ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗
器Ｒｂの抵抗値より大きいことを特徴とする容量性電子
部品の絶縁抵抗測定装置する。
【００１０】ノイズ除去回路として抵抗器Ｒａとダイオ
ードＤａとの並列回路を設け、ダイオードＤａのアノー
ドが測定電源側を向くように接続することも可能である
が、これでは、容量性電子部品の充電がほぼ完了し、電
子部品を流れる電流が非常に小さくなると、ダイオード
を電流が流れなくなり、ノイズ除去回路の抵抗値は抵抗
器Ｒａの値となる。しかし、この段階では電子部品は測
定電圧よりも順方向電圧だけ低い電圧に充電されてお
り、順方向電圧の電圧分だけは、抵抗器Ｒａを介して充
電しなればならず、より高速な測定を行ないたい場合に
障害となる。この時間を短縮するには、ダイオードとし
て順方向電圧降下の小さいものを用いればよいが、順方
向電圧降下の小さいダイオードではノイズ電圧がダイオ
ードを通過しやすくなる。そこで、請求項１では、上記
のノイズ除去回路に、順方向電圧降下の小さいダイオー
ドＤｂと抵抗器Ｒｂとの直列回路を並列に接続し、順方
向電圧降下の小さいダイオードＤｂを通過してくる僅か
なノイズを抵抗器Ｒｂで遮断したものである。これによ
り、電子部品の充電初期にはダイオードＤａにより速や
かな充電が行なわれ、続けてダイオードＤｂと抵抗器Ｒ
ｂとの直列回路による充電となり、最後に抵抗器Ｒａに
よる充電・測定を行なうことができる。このように、充
電時には電子部品の充電を妨げず、かつ測定時にはノイ
ズ電流を通さないような最適な特性のノイズ除去回路を
得ることができる。
ードＤａとの並列回路を設け、ダイオードＤａのアノー
ドが測定電源側を向くように接続することも可能である
が、これでは、容量性電子部品の充電がほぼ完了し、電
子部品を流れる電流が非常に小さくなると、ダイオード
を電流が流れなくなり、ノイズ除去回路の抵抗値は抵抗
器Ｒａの値となる。しかし、この段階では電子部品は測
定電圧よりも順方向電圧だけ低い電圧に充電されてお
り、順方向電圧の電圧分だけは、抵抗器Ｒａを介して充
電しなればならず、より高速な測定を行ないたい場合に
障害となる。この時間を短縮するには、ダイオードとし
て順方向電圧降下の小さいものを用いればよいが、順方
向電圧降下の小さいダイオードではノイズ電圧がダイオ
ードを通過しやすくなる。そこで、請求項１では、上記
のノイズ除去回路に、順方向電圧降下の小さいダイオー
ドＤｂと抵抗器Ｒｂとの直列回路を並列に接続し、順方
向電圧降下の小さいダイオードＤｂを通過してくる僅か
なノイズを抵抗器Ｒｂで遮断したものである。これによ
り、電子部品の充電初期にはダイオードＤａにより速や
かな充電が行なわれ、続けてダイオードＤｂと抵抗器Ｒ
ｂとの直列回路による充電となり、最後に抵抗器Ｒａに
よる充電・測定を行なうことができる。このように、充
電時には電子部品の充電を妨げず、かつ測定時にはノイ
ズ電流を通さないような最適な特性のノイズ除去回路を
得ることができる。
【００１１】請求項２では、請求項１における第２のダ
イオードＤａに代えて、逆向きのツェナダイオードＺＤ
ａを用いたものである。ツェナダイオードＺＤａは周知
のように、逆電圧をかけると殆ど電流は流れないが、電
圧が所定値（降伏電圧）を越えると、急に大きな逆方向
電流が流れる性質を持つ。この性質を利用して、ツェナ
ダイオードＺＤａを用いて請求項１と同様な作用効果を
得るようにしたものである。
イオードＤａに代えて、逆向きのツェナダイオードＺＤ
ａを用いたものである。ツェナダイオードＺＤａは周知
のように、逆電圧をかけると殆ど電流は流れないが、電
圧が所定値（降伏電圧）を越えると、急に大きな逆方向
電流が流れる性質を持つ。この性質を利用して、ツェナ
ダイオードＺＤａを用いて請求項１と同様な作用効果を
得るようにしたものである。
【００１２】請求項３では、ノイズ除去回路が、第１の
抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器ＲｂにダイオードＤｂ1 と
ダイオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に接続された
回路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列
接続回路とを含み、かつこれらが並列接続された回路と
し、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 、ダイオード
Ｄｂ1 とダイオードＤｂ2 はそれぞれ同一の特性を持
ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電圧降下はダイ
オードＤａ1 ，Ｄａ2 の順方向電圧降下より小さく、か
つ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きいことを特徴とする。この場合には、請求項
１の効果に加え、ダイオードを正負逆方向に並列接続す
ることで、順方向に流れるノイズ電流と逆方向に流れる
ノイズ電流はほぼ同じ大きさとなり、測定している電流
値をフィルタリングしたり、デジタル処理した場合に、
ほとんど真の漏れ電流値を求めることができ、これによ
り真の絶縁抵抗値を測定することができる。
抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器ＲｂにダイオードＤｂ1 と
ダイオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に接続された
回路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列
接続回路とを含み、かつこれらが並列接続された回路と
し、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 、ダイオード
Ｄｂ1 とダイオードＤｂ2 はそれぞれ同一の特性を持
ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電圧降下はダイ
オードＤａ1 ，Ｄａ2 の順方向電圧降下より小さく、か
つ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きいことを特徴とする。この場合には、請求項
１の効果に加え、ダイオードを正負逆方向に並列接続す
ることで、順方向に流れるノイズ電流と逆方向に流れる
ノイズ電流はほぼ同じ大きさとなり、測定している電流
値をフィルタリングしたり、デジタル処理した場合に、
ほとんど真の漏れ電流値を求めることができ、これによ
り真の絶縁抵抗値を測定することができる。
【００１３】請求項４では、請求項３のダイオードＤａ
1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路に代えて、ツェ
ナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 の逆
直列接続回路を用いることによって、請求項３と同様の
作用効果を得るようにしたものである。
1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路に代えて、ツェ
ナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 の逆
直列接続回路を用いることによって、請求項３と同様の
作用効果を得るようにしたものである。
【００１４】本発明のノイズ除去回路は、測定電源と容
量性電子部品との間に接続してもよいが、請求項５のよ
うに容量性電子部品と電流検出装置との間に接続するの
が望ましい。すなわち、比較的周波数の低いノイズに
は、測定電源に直列にノイズ電圧が入るように見える性
質のものと、測定電源に並列にノイズ電圧が入るように
見える性質のものとがあり、後者のノイズは、この電子
部品に接触する測定端子付近で入り込むことが多い。こ
のノイズは、回路に侵入した地点から見てインピーダン
スが低い方に多く流れるため、ノイズ除去回路を容量性
電子部品よりも電源側に接続すると、ノイズが電流検出
装置へ多く流れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除
去回路をこの電子部品よりも電流検出装置側に接続する
ことで、後者のノイズを殆ど電源側へ流し、電流測定に
影響を与えないようにしたものである。なお、同様の理
由により、請求項６のように電流制限抵抗も電子部品よ
りも電流検出装置側に接続するのが望ましい。但し、ノ
イズ除去回路を電子部品よりも電源側に設けたとして
も、電源に直列に入るノイズに対しては効果がある。
量性電子部品との間に接続してもよいが、請求項５のよ
うに容量性電子部品と電流検出装置との間に接続するの
が望ましい。すなわち、比較的周波数の低いノイズに
は、測定電源に直列にノイズ電圧が入るように見える性
質のものと、測定電源に並列にノイズ電圧が入るように
見える性質のものとがあり、後者のノイズは、この電子
部品に接触する測定端子付近で入り込むことが多い。こ
のノイズは、回路に侵入した地点から見てインピーダン
スが低い方に多く流れるため、ノイズ除去回路を容量性
電子部品よりも電源側に接続すると、ノイズが電流検出
装置へ多く流れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除
去回路をこの電子部品よりも電流検出装置側に接続する
ことで、後者のノイズを殆ど電源側へ流し、電流測定に
影響を与えないようにしたものである。なお、同様の理
由により、請求項６のように電流制限抵抗も電子部品よ
りも電流検出装置側に接続するのが望ましい。但し、ノ
イズ除去回路を電子部品よりも電源側に設けたとして
も、電源に直列に入るノイズに対しては効果がある。
【００１５】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を説明する前に、
本発明の前提となる絶縁抵抗測定装置のいくつかの参考
例を図４〜図８にしたがって説明する。図４において、
１は直流測定電源、２は電流制限抵抗、３は被測定コン
デンサ、４は電圧計、５は電流計であり、図１と同一部
品には同一符号を付して重複説明を省略する。
本発明の前提となる絶縁抵抗測定装置のいくつかの参考
例を図４〜図８にしたがって説明する。図４において、
１は直流測定電源、２は電流制限抵抗、３は被測定コン
デンサ、４は電圧計、５は電流計であり、図１と同一部
品には同一符号を付して重複説明を省略する。
【００１６】被測定コンデンサ３よりも電流計５側、つ
まり被測定コンデンサ３と電流計５との間には、ノイズ
除去回路１０が接続されている。このノイズ除去回路１
０は、並列接続された抵抗器ＲａとダイオードＤａとで
構成されており、ダイオードＤａのアノードが測定電源
１の正電圧側に接続されている。この参考例では、５０
Ｖの測定電圧で、電流制限抵抗２（１ｋΩ）を介して１
０μＦの被測定コンデンサ３の絶縁抵抗を測定する場合
に、抵抗器Ｒａとして５１ｋΩのものを使用し、ダイオ
ードＤａとして接合型シリコンダイオードを使用した。
まり被測定コンデンサ３と電流計５との間には、ノイズ
除去回路１０が接続されている。このノイズ除去回路１
０は、並列接続された抵抗器ＲａとダイオードＤａとで
構成されており、ダイオードＤａのアノードが測定電源
１の正電圧側に接続されている。この参考例では、５０
Ｖの測定電圧で、電流制限抵抗２（１ｋΩ）を介して１
０μＦの被測定コンデンサ３の絶縁抵抗を測定する場合
に、抵抗器Ｒａとして５１ｋΩのものを使用し、ダイオ
ードＤａとして接合型シリコンダイオードを使用した。
【００１７】ここで、上記の絶縁抵抗測定装置の動作を
説明する。ダイオードＤａは、順方向に電圧Ｖを加えた
場合に、ある電圧ＶＦまではほとんど電流が流れず、Ｖ
Ｆを越えると大きな電流が流れるという性質を持つ。す
なわち、 Ｉ［Ａ］＞ＶＦ［Ｖ］／Ｒａ［ｋΩ］ である場合には、電流ＩはほとんどダイオードＤａを流
れるために被測定コンデンサ３の容量の充電が速やかに
進み、電流Ｉが収束して Ｉ［Ａ］≦ＶＦ［Ｖ］／Ｒａ［ｋΩ］ になると、ダイオードＤａを電流が流れなくなるため
に、ノイズ除去回路１０の抵抗がＲａ［ｋΩ］になり、
精度良く絶縁抵抗を測定できる。
説明する。ダイオードＤａは、順方向に電圧Ｖを加えた
場合に、ある電圧ＶＦまではほとんど電流が流れず、Ｖ
Ｆを越えると大きな電流が流れるという性質を持つ。す
なわち、 Ｉ［Ａ］＞ＶＦ［Ｖ］／Ｒａ［ｋΩ］ である場合には、電流ＩはほとんどダイオードＤａを流
れるために被測定コンデンサ３の容量の充電が速やかに
進み、電流Ｉが収束して Ｉ［Ａ］≦ＶＦ［Ｖ］／Ｒａ［ｋΩ］ になると、ダイオードＤａを電流が流れなくなるため
に、ノイズ除去回路１０の抵抗がＲａ［ｋΩ］になり、
精度良く絶縁抵抗を測定できる。
【００１８】上記の原理を、図５を用いて更に詳しく解
説する。ダイオードＤａのＩＶ特性は、電圧を横軸に、
電流を縦軸に対数でプロットすれば、ほぼ直線になるこ
とが知られている。これと抵抗器ＲａのＩＶ特性、さら
に、ダイオードＤａと抵抗器Ｒａの並列合成回路のＩＶ
特性をプロットしてある。なお、並列接続であるので、
合成回路のＩＶ特性は両者の単純な和である。合成回路
のｌＶ特性から次の事が分かる。すなわち、被測定コン
デンサ３の容量の充電が進んでいない間は、合成回路に
大きな電圧がかかるので、大きな充電電流が流れる。す
なわち、回路抵抗が小さい。次に、容量の充電が進む
と、合成回路にかかる電圧が低下するために流れる電流
値は急激に小さくなる。つまり、回路抵抗が大きくなる
が、並列接続されている抵抗器Ｒａのために、必要以上
に回路抵抗が大きくなることはない。このようにして、
充電時には容量の充電を速やかに進め、測定時には必要
な回路抵抗が得られるという効果を奏している。
説する。ダイオードＤａのＩＶ特性は、電圧を横軸に、
電流を縦軸に対数でプロットすれば、ほぼ直線になるこ
とが知られている。これと抵抗器ＲａのＩＶ特性、さら
に、ダイオードＤａと抵抗器Ｒａの並列合成回路のＩＶ
特性をプロットしてある。なお、並列接続であるので、
合成回路のＩＶ特性は両者の単純な和である。合成回路
のｌＶ特性から次の事が分かる。すなわち、被測定コン
デンサ３の容量の充電が進んでいない間は、合成回路に
大きな電圧がかかるので、大きな充電電流が流れる。す
なわち、回路抵抗が小さい。次に、容量の充電が進む
と、合成回路にかかる電圧が低下するために流れる電流
値は急激に小さくなる。つまり、回路抵抗が大きくなる
が、並列接続されている抵抗器Ｒａのために、必要以上
に回路抵抗が大きくなることはない。このようにして、
充電時には容量の充電を速やかに進め、測定時には必要
な回路抵抗が得られるという効果を奏している。
【００１９】図６は絶縁抵抗測定装置の他の参考例を示
す。この参考例では、ノイズ除去回路１０を被測定コン
デンサ３よりも電流計５側に接続するとともに、電流制
限抵抗２を被測定コンデンサ３よりも電流計５側に接続
したものである。
す。この参考例では、ノイズ除去回路１０を被測定コン
デンサ３よりも電流計５側に接続するとともに、電流制
限抵抗２を被測定コンデンサ３よりも電流計５側に接続
したものである。
【００２０】比較的周波数の低いノイズには、Ｖｎ１の
ように電源１に直列にノイズ電圧が入る性質のもの（電
源のノイズや、電磁誘導により回路に入り込むノイズ、
あるいはセラミックコンデンサのような誘電率の高い誘
電体を用いたコンデンサなどでは、コンデンサ自体が機
械的な振動によって発生するノイズなどを含む）と、Ｖ
ｎ２のように電源１に並列にノイズ電圧が入る性質のも
の（静電結合により回路に入り込むノイズ）とがあり、
後者のノイズは、被測定コンデンサ３に接触する測定端
子付近で入り込むことが多い。このノイズは、回路に侵
入した地点から見てインピーダンスが低い方に多く流れ
るため、ノイズ除去回路１０を被測定コンデンサ３より
も電源１側に接続すると、ノイズが電流計５へ多く流
れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除去回路１０お
よび電流制限抵抗２を被測定コンデンサ３よりも電流計
５側に接続することで、後者のノイズを殆ど電源１側へ
流し、電流測定に影響を与えないようにしたものであ
る。なお、前者のノイズは図４の例と同様に除去できる
ことは勿論である。
ように電源１に直列にノイズ電圧が入る性質のもの（電
源のノイズや、電磁誘導により回路に入り込むノイズ、
あるいはセラミックコンデンサのような誘電率の高い誘
電体を用いたコンデンサなどでは、コンデンサ自体が機
械的な振動によって発生するノイズなどを含む）と、Ｖ
ｎ２のように電源１に並列にノイズ電圧が入る性質のも
の（静電結合により回路に入り込むノイズ）とがあり、
後者のノイズは、被測定コンデンサ３に接触する測定端
子付近で入り込むことが多い。このノイズは、回路に侵
入した地点から見てインピーダンスが低い方に多く流れ
るため、ノイズ除去回路１０を被測定コンデンサ３より
も電源１側に接続すると、ノイズが電流計５へ多く流
れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除去回路１０お
よび電流制限抵抗２を被測定コンデンサ３よりも電流計
５側に接続することで、後者のノイズを殆ど電源１側へ
流し、電流測定に影響を与えないようにしたものであ
る。なお、前者のノイズは図４の例と同様に除去できる
ことは勿論である。
【００２１】図７は絶縁抵抗測定装置のさらに別の参考
例を示す。この例では、ノイズ除去回路１１を、抵抗器
Ｒａと第１ダイオードＤａ1 と第２ダイオードＤａ2 と
が並列接続された回路とし、第１ダイオードＤａ1 と第
２ダイオードＤａ2 とを互いに逆方向に接続したもので
ある。なお、第１ダイオードＤａ1 と第２ダイオードＤ
ａ2 は同一の特性を持つものとする。第１，第２実施例
の場合、ノイズ電圧が高いと、ダイオードＤａに対して
順方向に僅かながらノイズ電流が流れるが、逆方向には
ダイオードＤａに阻止されて殆ど電流が流れない。この
ため、測定している電流値をフィルタリングする回路を
使用したり、あるいは連続的に電流値を測定し測定結果
を平均化するなどのデジタル処理を行なった場合には、
図８の（ａ）のように順方向にのみノイズ電流Ｉｎ1 が
流れるため、漏れ電流を真の漏れ電流よりも大きく測定
してしまう。そこで、この実施例では、２個のダイオー
ドＤａ1 ，Ｄａ2 を逆方向に並列接続することで、図８
の（ｂ）のように順方向に流れるノイズ電流Ｉｎ1 と逆
方向に流れるノイズ電流Ｉｎ2 をほぼ同じ大きさとし、
互いに相殺させたものである。これにより、測定してい
る電流値をフィルタリングしたり、測定値を平均化する
などのデジタル処理した場合に、ほとんど真の漏れ電流
値を求めることができ、よって真の絶縁抵抗値を知るこ
とができる。
例を示す。この例では、ノイズ除去回路１１を、抵抗器
Ｒａと第１ダイオードＤａ1 と第２ダイオードＤａ2 と
が並列接続された回路とし、第１ダイオードＤａ1 と第
２ダイオードＤａ2 とを互いに逆方向に接続したもので
ある。なお、第１ダイオードＤａ1 と第２ダイオードＤ
ａ2 は同一の特性を持つものとする。第１，第２実施例
の場合、ノイズ電圧が高いと、ダイオードＤａに対して
順方向に僅かながらノイズ電流が流れるが、逆方向には
ダイオードＤａに阻止されて殆ど電流が流れない。この
ため、測定している電流値をフィルタリングする回路を
使用したり、あるいは連続的に電流値を測定し測定結果
を平均化するなどのデジタル処理を行なった場合には、
図８の（ａ）のように順方向にのみノイズ電流Ｉｎ1 が
流れるため、漏れ電流を真の漏れ電流よりも大きく測定
してしまう。そこで、この実施例では、２個のダイオー
ドＤａ1 ，Ｄａ2 を逆方向に並列接続することで、図８
の（ｂ）のように順方向に流れるノイズ電流Ｉｎ1 と逆
方向に流れるノイズ電流Ｉｎ2 をほぼ同じ大きさとし、
互いに相殺させたものである。これにより、測定してい
る電流値をフィルタリングしたり、測定値を平均化する
などのデジタル処理した場合に、ほとんど真の漏れ電流
値を求めることができ、よって真の絶縁抵抗値を知るこ
とができる。
【００２２】図９は本発明にかかるノイズ除去回路の第
１実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１２は、
第１抵抗器Ｒａと、第２抵抗器Ｒｂと第１ダイオードＤ
ｂとの直列回路と、第２ダイオードＤａとが並列接続さ
れた回路であり、第１，第２のダイオードＤｂ，Ｄａの
アノードが測定電源１の正電圧側に接続されている。そ
して、第１ダイオードＤｂの順方向電圧降下は第２ダイ
オードＤａの順方向電圧降下より小さく、第１抵抗器Ｒ
ａの抵抗値は第２抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きい。ここ
では、Ｒａは５１ｋΩの抵抗器、Ｒｂは５ｋΩの抵抗
器、Ｄａはショットキーバリアダイオード、Ｄｂは接合
型シリコンダイオードを用いた。すなわち、この実施例
では、図４の参考例におけるノイズ除去回路１０に、順
方向電圧降下の小さいダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの
直列回路を並列に接続してある。図４の参考例の場合、
ダイオードＤａによる充電では被測定コンデンサ３を完
全に充電することができない電圧（Ｄａの順方向電圧降
下に相当する電圧）が残るため、この分の電圧に関して
は、抵抗器Ｒａによって充電しなければならない。この
時間の遅れを、ダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの直列回
路で短縮するとともに、順方向電圧降下の小さいダイオ
ードＤｂを通過してくる僅かなノイズを抵抗器Ｒｂで遮
断するようにしたものである。これにより、被測定コン
デンサ３の充電初期にはダイオードＤａにより速やかな
充電が行なわれ、続けてダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂと
の直列回路による充電となり、最後に抵抗器Ｒａによる
充電・測定を行なうことができる。
１実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１２は、
第１抵抗器Ｒａと、第２抵抗器Ｒｂと第１ダイオードＤ
ｂとの直列回路と、第２ダイオードＤａとが並列接続さ
れた回路であり、第１，第２のダイオードＤｂ，Ｄａの
アノードが測定電源１の正電圧側に接続されている。そ
して、第１ダイオードＤｂの順方向電圧降下は第２ダイ
オードＤａの順方向電圧降下より小さく、第１抵抗器Ｒ
ａの抵抗値は第２抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きい。ここ
では、Ｒａは５１ｋΩの抵抗器、Ｒｂは５ｋΩの抵抗
器、Ｄａはショットキーバリアダイオード、Ｄｂは接合
型シリコンダイオードを用いた。すなわち、この実施例
では、図４の参考例におけるノイズ除去回路１０に、順
方向電圧降下の小さいダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの
直列回路を並列に接続してある。図４の参考例の場合、
ダイオードＤａによる充電では被測定コンデンサ３を完
全に充電することができない電圧（Ｄａの順方向電圧降
下に相当する電圧）が残るため、この分の電圧に関して
は、抵抗器Ｒａによって充電しなければならない。この
時間の遅れを、ダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの直列回
路で短縮するとともに、順方向電圧降下の小さいダイオ
ードＤｂを通過してくる僅かなノイズを抵抗器Ｒｂで遮
断するようにしたものである。これにより、被測定コン
デンサ３の充電初期にはダイオードＤａにより速やかな
充電が行なわれ、続けてダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂと
の直列回路による充電となり、最後に抵抗器Ｒａによる
充電・測定を行なうことができる。
【００２３】上記ノイズ除去回路１２の動作を図１０を
用いて詳しく説明する。抵抗器Ｒａ、抵抗器Ｒｂ、ダイ
オードＤａ、ダイオードＤｂのＩＶ特性に加えて、抵抗
器ＲｂとダイオードＤｂを直列に接続した回路をＲｂ＋
Ｄｂとして示してある。加えて、ノイズ除去回路１２全
体のｌＶ特性をＲａ／／Ｄａ／／（Ｒｂ＋Ｄｂ）として
示している。Ｒｂ＋Ｄｂは直列回路であるので、その特
性はＲｂとＤｂのインピーダンスの和になる。よって、
横軸を電圧、縦軸を電流（対数）にとるグラフ上では、
その特性はＲｂとＤｂの電流のうち、より小さい方をた
どるような特性となる。つぎに、ＲａとＤａと（Ｒｂ＋
Ｄｂ）の並列回路の特性は、並列接続であるためアドミ
タンスの和になるため、グラフ上ではより電流の大きい
方をたどるような特性となる。このようにして、様々な
特性のダイオードと抵抗の直列回路を並列に複数接続す
ることにより、任意の１Ｖ特性を持つノイズ除去回路を
得ることが出来る。このように、充電時には被測定コン
デンサ３の充電を妨げず、かつ測定時にはノイズ電流を
通さないような最適な特性のノイズ除去回路１２を得る
ことができる。
用いて詳しく説明する。抵抗器Ｒａ、抵抗器Ｒｂ、ダイ
オードＤａ、ダイオードＤｂのＩＶ特性に加えて、抵抗
器ＲｂとダイオードＤｂを直列に接続した回路をＲｂ＋
Ｄｂとして示してある。加えて、ノイズ除去回路１２全
体のｌＶ特性をＲａ／／Ｄａ／／（Ｒｂ＋Ｄｂ）として
示している。Ｒｂ＋Ｄｂは直列回路であるので、その特
性はＲｂとＤｂのインピーダンスの和になる。よって、
横軸を電圧、縦軸を電流（対数）にとるグラフ上では、
その特性はＲｂとＤｂの電流のうち、より小さい方をた
どるような特性となる。つぎに、ＲａとＤａと（Ｒｂ＋
Ｄｂ）の並列回路の特性は、並列接続であるためアドミ
タンスの和になるため、グラフ上ではより電流の大きい
方をたどるような特性となる。このようにして、様々な
特性のダイオードと抵抗の直列回路を並列に複数接続す
ることにより、任意の１Ｖ特性を持つノイズ除去回路を
得ることが出来る。このように、充電時には被測定コン
デンサ３の充電を妨げず、かつ測定時にはノイズ電流を
通さないような最適な特性のノイズ除去回路１２を得る
ことができる。
【００２４】図１１は本発明にかかるノイズ除去回路の
第２実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１３
は、第１実施例のノイズ除去回路１２におけるダイオー
ドＤａに代えてツェナダイオードＺＤａを用いたもので
ある。なお、ツェナダイオードＺＤａのカソードが測定
電源１の正電圧側に接続されている。ダイオードＤｂの
順方向電圧降下はツェナダイオードＺＤａの降伏電圧よ
り小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きく設定されている。この場合の作用効果は、
第１実施例のノイズ除去回路１２と同様であるため、説
明を省略する。
第２実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１３
は、第１実施例のノイズ除去回路１２におけるダイオー
ドＤａに代えてツェナダイオードＺＤａを用いたもので
ある。なお、ツェナダイオードＺＤａのカソードが測定
電源１の正電圧側に接続されている。ダイオードＤｂの
順方向電圧降下はツェナダイオードＺＤａの降伏電圧よ
り小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きく設定されている。この場合の作用効果は、
第１実施例のノイズ除去回路１２と同様であるため、説
明を省略する。
【００２５】図１２は本発明にかかるノイズ除去回路の
第３実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１４
は、第１実施例のノイズ除去回路１２におけるダイオー
ドＤａに代えて、２個以上のダイオードＤａ1 ，Ｄａ2
・・・の直列接続回路を用いたものである。なお、図１
２では２個のダイオードＤａ1 ，Ｄａ2のみを示した
が、３個以上であってもよく、すべてのダイオードＤａ
1 ，Ｄａ2のアノードを測定電源１の正電圧側に接続す
る。ダイオードＤｂの順方向電圧降下は、ダイオードＤ
ａ1 ，Ｄａ2 の各々の順方向電圧降下の和より小さく、
かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗値より大き
く設定されている。なお、ダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 の
直列回路に用いられる各ダイオードはすべて同じである
必要はなく、各々が異なるものでもよい。この場合の作
用効果は、第１実施例のノイズ除去回路１２と同様であ
るため、説明を省略する。
第３実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１４
は、第１実施例のノイズ除去回路１２におけるダイオー
ドＤａに代えて、２個以上のダイオードＤａ1 ，Ｄａ2
・・・の直列接続回路を用いたものである。なお、図１
２では２個のダイオードＤａ1 ，Ｄａ2のみを示した
が、３個以上であってもよく、すべてのダイオードＤａ
1 ，Ｄａ2のアノードを測定電源１の正電圧側に接続す
る。ダイオードＤｂの順方向電圧降下は、ダイオードＤ
ａ1 ，Ｄａ2 の各々の順方向電圧降下の和より小さく、
かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗値より大き
く設定されている。なお、ダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 の
直列回路に用いられる各ダイオードはすべて同じである
必要はなく、各々が異なるものでもよい。この場合の作
用効果は、第１実施例のノイズ除去回路１２と同様であ
るため、説明を省略する。
【００２６】図１３は本発明にかかるノイズ除去回路の
第４実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１５
は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂにダイオー
ドＤｂ1 とダイオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に
接続された回路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ
2 の逆並列接続回路とからなり、かつこれらが並列接続
された回路である。ダイオードＤｂ1 とダイオードＤｂ
2 、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 はそれぞれ同
一の特性を持ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電
圧降下はダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 の順方向電圧降下よ
り小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きい。このノイズ除去回路１５の場合には、図
７に示すノイズ除去回路１１の作用効果と、第１実施例
のノイズ除去回路１２（図９参照）の作用効果とを併せ
持つことができる。
第４実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１５
は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂにダイオー
ドＤｂ1 とダイオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に
接続された回路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ
2 の逆並列接続回路とからなり、かつこれらが並列接続
された回路である。ダイオードＤｂ1 とダイオードＤｂ
2 、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 はそれぞれ同
一の特性を持ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電
圧降下はダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 の順方向電圧降下よ
り小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きい。このノイズ除去回路１５の場合には、図
７に示すノイズ除去回路１１の作用効果と、第１実施例
のノイズ除去回路１２（図９参照）の作用効果とを併せ
持つことができる。
【００２７】図１４は本発明にかかるノイズ除去回路の
第５実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１６
は、第４実施例のノイズ除去回路１５の変形例であり、
ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路
に代えて、ツェナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオー
ドＺＤａ2 の逆直列接続回路を用いたものである。ツェ
ナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 は同
一の特性を持ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電
圧降下はツェナダイオードＺＤａ1 ，ＺＤａ2 の降伏電
圧より小さい。また、抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂ
の抵抗値より大きい。このノイズ除去回路１６もノイズ
除去回路１５と同様の作用効果を有する。
第５実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１６
は、第４実施例のノイズ除去回路１５の変形例であり、
ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路
に代えて、ツェナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオー
ドＺＤａ2 の逆直列接続回路を用いたものである。ツェ
ナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 は同
一の特性を持ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電
圧降下はツェナダイオードＺＤａ1 ，ＺＤａ2 の降伏電
圧より小さい。また、抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂ
の抵抗値より大きい。このノイズ除去回路１６もノイズ
除去回路１５と同様の作用効果を有する。
【００２８】図１５は本発明にかかるノイズ除去回路の
第６実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１７
は、第４実施例のノイズ除去回路１５において、ダイオ
ードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路に代え
て、複数のダイオードＤａ10, Ｄａ11・・・の直列接続
回路と、複数のダイオードＤａ20, Ｄａ21・・・の直列
接続回路との逆並列接続回路を用いたものである。但
し、ダイオードＤｂ1 およびＤｂ2 の順方向電圧降下
は、ダイオードＤａ10, Ｄａ11・・・およびＤａ20, Ｄ
ａ21・・・の各々の順方向電圧降下の和より小さく、か
つ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きく
設定されている。なお、ダイオードＤａ10, Ｄａ11・・
・およびＤａ20, Ｄａ21・・・の各直列回路に用いられ
る各ダイオードはすべて同じである必要はなく、各々が
異なるものでもよい。このノイズ除去回路１７もノイズ
除去回路１５と同様の作用効果を有する。
第６実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１７
は、第４実施例のノイズ除去回路１５において、ダイオ
ードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路に代え
て、複数のダイオードＤａ10, Ｄａ11・・・の直列接続
回路と、複数のダイオードＤａ20, Ｄａ21・・・の直列
接続回路との逆並列接続回路を用いたものである。但
し、ダイオードＤｂ1 およびＤｂ2 の順方向電圧降下
は、ダイオードＤａ10, Ｄａ11・・・およびＤａ20, Ｄ
ａ21・・・の各々の順方向電圧降下の和より小さく、か
つ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きく
設定されている。なお、ダイオードＤａ10, Ｄａ11・・
・およびＤａ20, Ｄａ21・・・の各直列回路に用いられ
る各ダイオードはすべて同じである必要はなく、各々が
異なるものでもよい。このノイズ除去回路１７もノイズ
除去回路１５と同様の作用効果を有する。
【００２９】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、請求項１
に記載の発明によれば、ノイズ除去回路を、第１の抵抗
器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂと第１のダイオードＤｂと
の直列回路と、第２のダイオードＤａとが並列接続され
た回路とし、第１，第２のダイオードＤｂ，Ｄａのアノ
ードを測定電源側に接続し、第１のダイオードＤｂの順
方向電圧降下を第２のダイオードＤａの順方向電圧降下
より小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵抗値を抵抗器Ｒｂの抵
抗値より大きくしたので、充電時には電子部品の充電を
妨げず、かつ測定時にはノイズ電流を通さないような最
適な特性のノイズ除去回路を得ることができる。
に記載の発明によれば、ノイズ除去回路を、第１の抵抗
器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂと第１のダイオードＤｂと
の直列回路と、第２のダイオードＤａとが並列接続され
た回路とし、第１，第２のダイオードＤｂ，Ｄａのアノ
ードを測定電源側に接続し、第１のダイオードＤｂの順
方向電圧降下を第２のダイオードＤａの順方向電圧降下
より小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵抗値を抵抗器Ｒｂの抵
抗値より大きくしたので、充電時には電子部品の充電を
妨げず、かつ測定時にはノイズ電流を通さないような最
適な特性のノイズ除去回路を得ることができる。
【００３０】請求項２では、請求項１における第２のダ
イオードＤａに代えて逆向きのツェナダイオードＺＤａ
を用いることで、請求項１と同様な作用効果を得ること
ができる。請求項３では、ノイズ除去回路を、第１の抵
抗器Ｒａと、第２の抵抗器ＲｂにダイオードＤｂ1 とダ
イオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に接続された回
路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接
続回路とを含み、かつこれらが並列接続された回路とし
たので、請求項１の効果に加え、ダイオードを正負逆方
向に並列接続することで、順方向に流れるノイズ電流と
逆方向に流れるノイズ電流はほぼ同じ大きさとなり、測
定している電流値をフィルタリングしたり、デジタル処
理した場合に、ほとんど真の漏れ電流値を求めることが
でき、これにより真の絶縁抵抗値を測定することができ
る。請求項４では、請求項３のダイオードＤａ1 とダイ
オードＤａ2 の逆並列接続回路に代えて、ツェナダイオ
ードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 の逆直列接続
回路を用いることによって、請求項３と同様な効果を持
つノイズ除去回路を得ることができる。さらに、請求項
５，６のように、ノイズ除去回路や電流制限抵抗を容量
性電子部品よりも電流検出装置側に接続することで、測
定電源に並列に入ったノイズを殆ど電源側へ流し、電流
測定に影響を与えないようにできる。そのため、高精度
な絶縁抵抗測定が可能となる。
イオードＤａに代えて逆向きのツェナダイオードＺＤａ
を用いることで、請求項１と同様な作用効果を得ること
ができる。請求項３では、ノイズ除去回路を、第１の抵
抗器Ｒａと、第２の抵抗器ＲｂにダイオードＤｂ1 とダ
イオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に接続された回
路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接
続回路とを含み、かつこれらが並列接続された回路とし
たので、請求項１の効果に加え、ダイオードを正負逆方
向に並列接続することで、順方向に流れるノイズ電流と
逆方向に流れるノイズ電流はほぼ同じ大きさとなり、測
定している電流値をフィルタリングしたり、デジタル処
理した場合に、ほとんど真の漏れ電流値を求めることが
でき、これにより真の絶縁抵抗値を測定することができ
る。請求項４では、請求項３のダイオードＤａ1 とダイ
オードＤａ2 の逆並列接続回路に代えて、ツェナダイオ
ードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 の逆直列接続
回路を用いることによって、請求項３と同様な効果を持
つノイズ除去回路を得ることができる。さらに、請求項
５，６のように、ノイズ除去回路や電流制限抵抗を容量
性電子部品よりも電流検出装置側に接続することで、測
定電源に並列に入ったノイズを殆ど電源側へ流し、電流
測定に影響を与えないようにできる。そのため、高精度
な絶縁抵抗測定が可能となる。
【図１】従来の絶縁抵抗測定装置の一例の回路図であ
る。
る。
【図２】測定電源に直列にノイズが入った場合の説明図
である。
である。
【図３】被測定コンデンサから電流計に至る経路の途中
にノイズ除去用抵抗を入れた場合の回路図である。
にノイズ除去用抵抗を入れた場合の回路図である。
【図４】本発明の前提となる絶縁抵抗測定装置の参考例
の回路図である。
の回路図である。
【図５】図４に示すノイズ検出回路の電流・電圧特性図
である。
である。
【図６】本発明の前提となる絶縁抵抗測定装置の他の参
考例の回路図である。
考例の回路図である。
【図７】本発明の前提となる絶縁抵抗測定装置のさらに
他の参考例の回路図である。
他の参考例の回路図である。
【図８】図７に示す絶縁抵抗測定装置の電流検出値の時
間変化図である。
間変化図である。
【図９】本発明にかかるノイズ除去回路の第１実施例の
回路図である。
回路図である。
【図１０】図９に示すノイズ除去回路の電流・電圧特性
図である。
図である。
【図１１】本発明にかかるノイズ除去回路の第２実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図１２】本発明にかかるノイズ除去回路の第３実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図１３】本発明にかかるノイズ除去回路の第４実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図１４】本発明にかかるノイズ除去回路の第５実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図１５】本発明にかかるノイズ除去回路の第６実施例
の回路図である。
の回路図である。
１ 直流測定電源
２ 電流制限抵抗
３ 被測定コンデンサ（容量性電子部
品） ４ 電圧計 ５ 電流計（電流検出装置） １０〜１７ ノイズ除去回路 Ｒａ，Ｒｂ 抵抗器 Ｄａ，Ｄｂ ダイオード
品） ４ 電圧計 ５ 電流計（電流検出装置） １０〜１７ ノイズ除去回路 Ｒａ，Ｒｂ 抵抗器 Ｄａ，Ｄｂ ダイオード
Claims (6)
- 【請求項１】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、この
電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、 測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に至る
経路にノイズ除去回路が接続され、 上記ノイズ除去回路は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵
抗器Ｒｂと第１のダイオードＤｂとの直列回路と、第２
のダイオードＤａとが並列接続された回路を有し、 第１，第２のダイオードＤｂ，Ｄａのアノードが測定電
源の正電圧側に接続されており、 第１のダイオードＤｂの順方向電圧降下は第２のダイオ
ードＤａの順方向電圧降下より小さく、かつ第１の抵抗
器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きい
ことを特徴とする容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項２】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、この
電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、 測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に至る
経路にノイズ除去回路が接続され、 上記ノイズ除去回路は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵
抗器ＲｂとダイオードＤｂとの直列回路と、ツェナダイ
オードＺＤａとが並列接続された回路を有し、 ダイオードＤｂのアノードおよびツェナダイオードＺＤ
ａのカソードが測定電源の正電圧側に接続されており、 ダイオードＤｂの順方向電圧降下はツェナダイオードＺ
Ｄａの降伏電圧より小さく、かつ第１の抵抗器Ｒａの抵
抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きい ことを特徴
とする容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項３】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、この
電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、 測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に至る
経路にノイズ除去回路が接続され、 上記ノイズ除去回路は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵
抗器ＲｂにダイオードＤｂ 1 とダイオードＤｂ 2 の逆並
列接続回路が直列に接続された回路と、ダイオードＤａ
1 とダイオードＤａ 2 の逆並列接続回路とを含み、かつ
これらが並列接続された回路であり、 ダイオードＤａ 1 とダイオードＤａ 2 は同一の特性を持
ち、 ダイオードＤｂ 1 とダイオードＤｂ 2 は同一の特性を持
ち、 ダイオードＤｂ 1 ，Ｄｂ 2 の順方向電圧降下はダイオー
ドＤａ 1 ，Ｄａ 2 の順方向電圧降下より小さく、かつ第
１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗値よ
り大きい ことを特徴とする容量性電子部品の絶縁抵抗測
定装置。 - 【請求項４】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、この
電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、 測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に至る
経路にノイズ除去回路が接続され、 上記ノイズ除去回路は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵
抗器ＲｂにダイオードＤｂ 1 とダイオードＤｂ 2 の逆並
列接続回路が直列に接続された回路と、ツェナダイオー
ドＺＤａ 1 とツェナダイオードＺＤａ 2 の逆直列接続回
路とを含み、かつこれらが並列接続された回路であり、 ダイオードＤｂ 1 とダイオードＤｂ 2 は同一の特性を持
ち、 ツェナダイオードＺＤａ 1 とツェナダイオードＺＤａ 2
は同一の特性を持ち、 ダイオードＤｂ 1 ，Ｄｂ 2 の順方向電圧降下はツェナダ
イオードＺＤａ 1 ，ＺＤａ 2 の降伏電圧より小さく、か
つ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きい ことを特徴とする容量性電子部品の絶縁抵
抗測定装置。 - 【請求項５】上記ノイズ除去回路は、上記容量性電子部
品と電流検出装置との間に接続されていることを特徴と
する請求項１ないし４のいずれかに記載の容量性電子部
品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項６】上記容量性電子部品と電流検出装置との間
に電流制限抵抗が接続されていることを特徴とする請求
項５に記載の容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置。
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|---|---|---|---|
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26858899A JP3391310B2 (ja) | 1999-09-22 | 1999-09-22 | 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 |
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|---|---|---|---|---|
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-
1999
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| JP4495000B2 (ja) * | 2005-02-17 | 2010-06-30 | 日置電機株式会社 | 絶縁抵抗測定装置 |
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