JP2001091554A - 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 - Google Patents
容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置Info
- Publication number
- JP2001091554A JP2001091554A JP26858899A JP26858899A JP2001091554A JP 2001091554 A JP2001091554 A JP 2001091554A JP 26858899 A JP26858899 A JP 26858899A JP 26858899 A JP26858899 A JP 26858899A JP 2001091554 A JP2001091554 A JP 2001091554A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diode
- resistor
- electronic component
- circuit
- insulation resistance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】各種ノイズの影響を受けずに容量性電子部品の
絶縁抵抗を高精度に、しかも短時間で測定できる絶縁抵
抗測定装置を提供する。 【解決手段】容量性電子部品３に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品３を流れる電流を測定することで、電
子部品３の絶縁抵抗を求める。測定電源１から電子部品
３を経て電流検出装置５に至る経路に、抵抗器Ｒａとダ
イオードＤａとが並列接続されたノイズ除去回路１０を
設ける。ダイオードＤａのアノードが測定電源１の正電
圧側に接続されている。電子部品３の充電初期にはダイ
オードＤａを介して電流が流れ、電子部品３の充電が十
分に進んだ状態で抵抗器Ｒａを介して電流が流れる。
絶縁抵抗を高精度に、しかも短時間で測定できる絶縁抵
抗測定装置を提供する。 【解決手段】容量性電子部品３に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品３を流れる電流を測定することで、電
子部品３の絶縁抵抗を求める。測定電源１から電子部品
３を経て電流検出装置５に至る経路に、抵抗器Ｒａとダ
イオードＤａとが並列接続されたノイズ除去回路１０を
設ける。ダイオードＤａのアノードが測定電源１の正電
圧側に接続されている。電子部品３の充電初期にはダイ
オードＤａを介して電流が流れ、電子部品３の充電が十
分に進んだ状態で抵抗器Ｒａを介して電流が流れる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はコンデンサなどの容
量性電子部品の絶縁抵抗を測定する装置に関するもので
ある。
量性電子部品の絶縁抵抗を測定する装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】従来、コンデンサなどの容量性電子部品
の絶縁抵抗を測定するために、図１に示される測定装置
が用いられている。すなわち、１は直流測定電源であ
り、その一端はアースされ、他端は電流制限抵抗２を介
して被測定コンデンサ３の一端に接続され、電流制限抵
抗２と被測定コンデンサ３との間には電圧計４の一端が
接続されている。被測定コンデンサ３の他端は電流計５
に接続され、被測定コンデンサ３に流れる漏れ電流を電
流計５で測定している。
の絶縁抵抗を測定するために、図１に示される測定装置
が用いられている。すなわち、１は直流測定電源であ
り、その一端はアースされ、他端は電流制限抵抗２を介
して被測定コンデンサ３の一端に接続され、電流制限抵
抗２と被測定コンデンサ３との間には電圧計４の一端が
接続されている。被測定コンデンサ３の他端は電流計５
に接続され、被測定コンデンサ３に流れる漏れ電流を電
流計５で測定している。
【０００３】被測定コンデンサ３に対して印加される測
定電圧Ｅを電圧計４で測定し、被測定コンデンサ３を流
れてくる電流Ｉを電流計５で測定することで、被測定コ
ンデンサ３の絶縁抵抗ＲをＲ＝Ｅ／Ｉとして求めること
ができる。
定電圧Ｅを電圧計４で測定し、被測定コンデンサ３を流
れてくる電流Ｉを電流計５で測定することで、被測定コ
ンデンサ３の絶縁抵抗ＲをＲ＝Ｅ／Ｉとして求めること
ができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な測定装置の場合、測定電源１が発生するノイズや、商
用電源などのハムノイズ、被測定コンデンサ３自体が発
生するノイズなどによって、絶縁抵抗Ｒに測定誤差が生
じるという問題がある。
な測定装置の場合、測定電源１が発生するノイズや、商
用電源などのハムノイズ、被測定コンデンサ３自体が発
生するノイズなどによって、絶縁抵抗Ｒに測定誤差が生
じるという問題がある。
【０００５】ここで、この理由を図２を参照して以下に
説明する。被測定コンデンサ３の容量をＣ、絶縁抵抗を
Ｒ、測定電源１の発生する直流電圧をＥ、測定電源１の
ノイズや商用電源のハムノイズなどによって発生する電
圧（交流成分）をｅとする。さて、本来、被測定コンデ
ンサ３の絶縁抵抗Ｒは、もしノイズ成分ｅがなければ、
漏れ電流Ｉ＝Ｉｒであるため、Ｒ＝Ｅ／Ｉで求められ
る。しかし、実際には電流Ｉには、絶縁抵抗による漏れ
電流Ｉｒ以外に、容量成分を通過するノイズ成分Ｉｃが
含まれるため、Ｉ＝Ｉｒ＋Ｉｃとなり、測定誤差とな
る。
説明する。被測定コンデンサ３の容量をＣ、絶縁抵抗を
Ｒ、測定電源１の発生する直流電圧をＥ、測定電源１の
ノイズや商用電源のハムノイズなどによって発生する電
圧（交流成分）をｅとする。さて、本来、被測定コンデ
ンサ３の絶縁抵抗Ｒは、もしノイズ成分ｅがなければ、
漏れ電流Ｉ＝Ｉｒであるため、Ｒ＝Ｅ／Ｉで求められ
る。しかし、実際には電流Ｉには、絶縁抵抗による漏れ
電流Ｉｒ以外に、容量成分を通過するノイズ成分Ｉｃが
含まれるため、Ｉ＝Ｉｒ＋Ｉｃとなり、測定誤差とな
る。
【０００６】例えば、５０ＭΩの絶縁抵抗を持つ１０μ
Ｆのコンデンサの絶縁抵抗を、５０Ｖの電圧で測定し、
電源の出力には６０Ｈｚ、１０ｍＶｒｍｓのノイズが含
まれているとする。すると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／５０ＭΩ＝１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（１／２π×６０×１０μＦ） ≒３８μＡｒｍｓ であり、本来測定したい電流１μＡは、３０倍以上のノ
イズ電流３８μＡに埋もれてしまい、精度よい測定は到
底不可能である。長時間電流値Ｉｃを積分すれば、Ｉｃ
は平均して０に近づくので、測定が可能であるが、測定
に長時間を要するという問題がある。
Ｆのコンデンサの絶縁抵抗を、５０Ｖの電圧で測定し、
電源の出力には６０Ｈｚ、１０ｍＶｒｍｓのノイズが含
まれているとする。すると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／５０ＭΩ＝１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（１／２π×６０×１０μＦ） ≒３８μＡｒｍｓ であり、本来測定したい電流１μＡは、３０倍以上のノ
イズ電流３８μＡに埋もれてしまい、精度よい測定は到
底不可能である。長時間電流値Ｉｃを積分すれば、Ｉｃ
は平均して０に近づくので、測定が可能であるが、測定
に長時間を要するという問題がある。
【０００７】そこで、図３のように被測定コンデンサ３
から電流計５に至る経路の途中に抵抗Ｒｓを入れると、
ノイズ電流Ｉｃを小さくすることができる。例えば、Ｒ
ｓ＝５０ｋΩとすると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／（５０ＭΩ＋５０ｋΩ）≒１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（５０ｋΩ＋１／２π×６０×
１０μＦ） ≒０．２μＡｒｍｓ となり、本来測定したい電流１μＡに対して、ノイズ電
流が０．２μＡと小さくなるため、精度よい測定が可能
になる。しかし、５０ｋΩもの抵抗を用いることで、容
量Ｃの充電電流が、時定数ＲＣ＝５０ｋΩ×１０μＦ＝
５００ｍｓの数倍の時間流れるため、これが収束するま
で測定を行なうことができない。よって、結局測定に長
時間を要するという問題があった。
から電流計５に至る経路の途中に抵抗Ｒｓを入れると、
ノイズ電流Ｉｃを小さくすることができる。例えば、Ｒ
ｓ＝５０ｋΩとすると、 Ｉｒ＝５０Ｖ／（５０ＭΩ＋５０ｋΩ）≒１μＡ Ｉｃ＝１０ｍＶｒｍｓ／（５０ｋΩ＋１／２π×６０×
１０μＦ） ≒０．２μＡｒｍｓ となり、本来測定したい電流１μＡに対して、ノイズ電
流が０．２μＡと小さくなるため、精度よい測定が可能
になる。しかし、５０ｋΩもの抵抗を用いることで、容
量Ｃの充電電流が、時定数ＲＣ＝５０ｋΩ×１０μＦ＝
５００ｍｓの数倍の時間流れるため、これが収束するま
で測定を行なうことができない。よって、結局測定に長
時間を要するという問題があった。
【０００８】そこで、本発明の目的は、各種ノイズの影
響を受けずに容量性電子部品の絶縁抵抗を高精度に、し
かも短時間で測定できる絶縁抵抗測定装置を提供するこ
とにある。
響を受けずに容量性電子部品の絶縁抵抗を高精度に、し
かも短時間で測定できる絶縁抵抗測定装置を提供するこ
とにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明は、容量性電子部品に所定の
測定電圧を印加し、この電子部品を流れる電流を測定す
ることで、この電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測
定装置において、測定電源から容量性電子部品を経て電
流検出装置に至る経路にノイズ除去回路が接続され、上
記ノイズ除去回路は、抵抗器ＲａとダイオードＤａとが
並列接続された回路を有し、上記ダイオードＤａのアノ
ードが測定電源の正電圧側に接続されていることを特徴
とする容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置を提供する。
め、請求項１に記載の発明は、容量性電子部品に所定の
測定電圧を印加し、この電子部品を流れる電流を測定す
ることで、この電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測
定装置において、測定電源から容量性電子部品を経て電
流検出装置に至る経路にノイズ除去回路が接続され、上
記ノイズ除去回路は、抵抗器ＲａとダイオードＤａとが
並列接続された回路を有し、上記ダイオードＤａのアノ
ードが測定電源の正電圧側に接続されていることを特徴
とする容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置を提供する。
【００１０】短時間で精度よい測定をするためには、回
路を流れる電流が大きい間、すなわち容量Ｃの充電電流
が流れている間は抵抗を小さくし、回路を流れる電流が
小さくなる、すなわち容量Ｃの充電電流が収束して絶縁
抵抗Ｒを流れる電流のみになると抵抗を大きくすればよ
い。そこで、請求項１では、ノイズ除去回路として並列
接続された抵抗器ＲａとダイオードＤａとを設け、ダイ
オードＤａのアノードが測定電源側を向くように接続し
たものである。
路を流れる電流が大きい間、すなわち容量Ｃの充電電流
が流れている間は抵抗を小さくし、回路を流れる電流が
小さくなる、すなわち容量Ｃの充電電流が収束して絶縁
抵抗Ｒを流れる電流のみになると抵抗を大きくすればよ
い。そこで、請求項１では、ノイズ除去回路として並列
接続された抵抗器ＲａとダイオードＤａとを設け、ダイ
オードＤａのアノードが測定電源側を向くように接続し
たものである。
【００１１】すなわち、ダイオード（半導体のｐｎ接
合）は、順方向に電圧を加えた場合、所定電圧までは殆
ど電流が流れず（抵抗が大きいことに相当する）、所定
電圧を越えると大きな電流が流れる（抵抗が小さいこと
に相当する）という性質を持つ。したがって、容量性電
子部品の充電初期の電流値が大きい間は、電流は殆どダ
イオードＤａを通じて流れるので、この電子部品の充電
を速やかに進めることができる。一方、容量性電子部品
の充電がほぼ完了した状態では、電子部品を流れる電流
が非常に小さくなるので、ダイオードＤａを電流が流れ
なくなり、専ら抵抗器Ｒａを通じて電流が流れる。つま
り、ノイズ除去回路の抵抗が大きくなるので、充電電流
に含まれるノイズ成分が遮断され、精度のよい測定がで
きる。
合）は、順方向に電圧を加えた場合、所定電圧までは殆
ど電流が流れず（抵抗が大きいことに相当する）、所定
電圧を越えると大きな電流が流れる（抵抗が小さいこと
に相当する）という性質を持つ。したがって、容量性電
子部品の充電初期の電流値が大きい間は、電流は殆どダ
イオードＤａを通じて流れるので、この電子部品の充電
を速やかに進めることができる。一方、容量性電子部品
の充電がほぼ完了した状態では、電子部品を流れる電流
が非常に小さくなるので、ダイオードＤａを電流が流れ
なくなり、専ら抵抗器Ｒａを通じて電流が流れる。つま
り、ノイズ除去回路の抵抗が大きくなるので、充電電流
に含まれるノイズ成分が遮断され、精度のよい測定がで
きる。
【００１２】請求項２では、ノイズ除去回路を、抵抗器
Ｒａと第１のダイオードＤａ1 と第２のダイオードＤａ
2 とが並列接続された回路とし、第１のダイオードＤａ
1 と第２のダイオードＤａ2 は同一の特性を持ち、第１
のダイオードＤａ1 と第２のダイオードＤａ2 は互いに
逆方向に接続されていることを特徴とする。すなわち、
ノイズ除去回路を抵抗器とダイオードとの並列回路のみ
で構成した場合、ノイズ電圧が高いと、ダイオードに対
して順方向に僅かながらノイズ電流が流れる。ところ
が、逆方向にはダイオードに阻止されて殆ど電流が流れ
ない。このため、測定している電流値をフィルタリング
する回路を使用したり、あるいは連続的に電流値を測定
し測定結果を平均化するなどのデジタル処理を行なった
場合には、順方向にのみノイズ電流が流れるため、漏れ
電流を真の漏れ電流よりも大きく測定してしまう。とこ
ろで、実際に測定している段階では、電子部品の容量は
ほとんど充電が完了しているために、ノイズ除去回路に
かかっている直流電圧はほとんど０［Ｖ］であり、０
［Ｖ］を中心にノイズ電圧ｅ［Ｖ］がかかっている状態
である。そこで、ダイオードを正負逆方向に並列接続す
れば、順方向に流れるノイズ電流と逆方向に流れるノイ
ズ電流はほぼ同じ大きさとなる。こうすれば、測定して
いる電流値をフィルタリングしたり、デジタル処理した
場合に、ほとんど真の漏れ電流値を求めることができ、
これにより真の絶縁抵抗値を測定することができる。
Ｒａと第１のダイオードＤａ1 と第２のダイオードＤａ
2 とが並列接続された回路とし、第１のダイオードＤａ
1 と第２のダイオードＤａ2 は同一の特性を持ち、第１
のダイオードＤａ1 と第２のダイオードＤａ2 は互いに
逆方向に接続されていることを特徴とする。すなわち、
ノイズ除去回路を抵抗器とダイオードとの並列回路のみ
で構成した場合、ノイズ電圧が高いと、ダイオードに対
して順方向に僅かながらノイズ電流が流れる。ところ
が、逆方向にはダイオードに阻止されて殆ど電流が流れ
ない。このため、測定している電流値をフィルタリング
する回路を使用したり、あるいは連続的に電流値を測定
し測定結果を平均化するなどのデジタル処理を行なった
場合には、順方向にのみノイズ電流が流れるため、漏れ
電流を真の漏れ電流よりも大きく測定してしまう。とこ
ろで、実際に測定している段階では、電子部品の容量は
ほとんど充電が完了しているために、ノイズ除去回路に
かかっている直流電圧はほとんど０［Ｖ］であり、０
［Ｖ］を中心にノイズ電圧ｅ［Ｖ］がかかっている状態
である。そこで、ダイオードを正負逆方向に並列接続す
れば、順方向に流れるノイズ電流と逆方向に流れるノイ
ズ電流はほぼ同じ大きさとなる。こうすれば、測定して
いる電流値をフィルタリングしたり、デジタル処理した
場合に、ほとんど真の漏れ電流値を求めることができ、
これにより真の絶縁抵抗値を測定することができる。
【００１３】請求項３では、ノイズ除去回路が、第１の
抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂと第１のダイオードＤ
ｂとの直列回路と、第２のダイオードＤａとが並列接続
された回路を有し、第１，第２のダイオードＤｂ，Ｄａ
のアノードが測定電源の正電圧側に接続されており、第
１のダイオードＤｂの順方向電圧降下は第２のダイオー
ドＤａの順方向電圧降下より小さく、かつ第１の抵抗器
Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きいこ
とを特徴とする。すなわち、請求項１では、容量性電子
部品の充電がほぼ完了し、電子部品を流れる電流が非常
に小さくなると、ダイオードを電流が流れなくなり、ノ
イズ除去回路の抵抗値は抵抗器Ｒａの値となる。しか
し、この段階では電子部品は測定電圧よりも順方向電圧
だけ低い電圧に充電されており、順方向電圧の電圧分だ
けは、抵抗器Ｒａを介して充電しなればならず、より高
速な測定を行ないたい場合に障害となる。この時間を短
縮するには、ダイオードとして順方向電圧降下の小さい
ものを用いればよいが、順方向電圧降下の小さいダイオ
ードではノイズ電圧がダイオードを通過しやすくなる。
そこで、請求項３では、請求項１におけるノイズ除去回
路に、順方向電圧降下の小さいダイオードＤｂと抵抗器
Ｒｂとの直列回路を並列に接続し、順方向電圧降下の小
さいダイオードＤｂを通過してくる僅かなノイズを抵抗
器Ｒｂで遮断したものである。これにより、電子部品の
充電初期にはダイオードＤａにより速やかな充電が行な
われ、続けてダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの直列回路
による充電となり、最後に抵抗器Ｒａによる充電・測定
を行なうことができる。このように、充電時には電子部
品の充電を妨げず、かつ測定時にはノイズ電流を通さな
いような最適な特性のノイズ除去回路を得ることができ
る。
抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂと第１のダイオードＤ
ｂとの直列回路と、第２のダイオードＤａとが並列接続
された回路を有し、第１，第２のダイオードＤｂ，Ｄａ
のアノードが測定電源の正電圧側に接続されており、第
１のダイオードＤｂの順方向電圧降下は第２のダイオー
ドＤａの順方向電圧降下より小さく、かつ第１の抵抗器
Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きいこ
とを特徴とする。すなわち、請求項１では、容量性電子
部品の充電がほぼ完了し、電子部品を流れる電流が非常
に小さくなると、ダイオードを電流が流れなくなり、ノ
イズ除去回路の抵抗値は抵抗器Ｒａの値となる。しか
し、この段階では電子部品は測定電圧よりも順方向電圧
だけ低い電圧に充電されており、順方向電圧の電圧分だ
けは、抵抗器Ｒａを介して充電しなればならず、より高
速な測定を行ないたい場合に障害となる。この時間を短
縮するには、ダイオードとして順方向電圧降下の小さい
ものを用いればよいが、順方向電圧降下の小さいダイオ
ードではノイズ電圧がダイオードを通過しやすくなる。
そこで、請求項３では、請求項１におけるノイズ除去回
路に、順方向電圧降下の小さいダイオードＤｂと抵抗器
Ｒｂとの直列回路を並列に接続し、順方向電圧降下の小
さいダイオードＤｂを通過してくる僅かなノイズを抵抗
器Ｒｂで遮断したものである。これにより、電子部品の
充電初期にはダイオードＤａにより速やかな充電が行な
われ、続けてダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの直列回路
による充電となり、最後に抵抗器Ｒａによる充電・測定
を行なうことができる。このように、充電時には電子部
品の充電を妨げず、かつ測定時にはノイズ電流を通さな
いような最適な特性のノイズ除去回路を得ることができ
る。
【００１４】請求項４では、請求項３における第２のダ
イオードＤａに代えて、逆向きのツェナダイオードＺＤ
ａを用いたものである。ツェナダイオードＺＤａは周知
のように、逆電圧をかけると殆ど電流は流れないが、電
圧が所定値（降伏電圧）を越えると、急に大きな逆方向
電流が流れる性質を持つ。この性質を利用して、ツェナ
ダイオードＺＤａを用いて請求項３と同様な作用効果を
得るようにしたものである。
イオードＤａに代えて、逆向きのツェナダイオードＺＤ
ａを用いたものである。ツェナダイオードＺＤａは周知
のように、逆電圧をかけると殆ど電流は流れないが、電
圧が所定値（降伏電圧）を越えると、急に大きな逆方向
電流が流れる性質を持つ。この性質を利用して、ツェナ
ダイオードＺＤａを用いて請求項３と同様な作用効果を
得るようにしたものである。
【００１５】請求項５では、ノイズ除去回路が、第１の
抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器ＲｂにダイオードＤｂ1 と
ダイオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に接続された
回路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列
接続回路とを含み、かつこれらが並列接続された回路と
し、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 、ダイオード
Ｄｂ1 とダイオードＤｂ2 はそれぞれ同一の特性を持
ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電圧降下はダイ
オードＤａ1 ，Ｄａ2 の順方向電圧降下より小さく、か
つ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きいことを特徴とする。この場合には、請求項
２と３の作用効果を併せ持つノイズ除去回路を得ること
ができる。
抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器ＲｂにダイオードＤｂ1 と
ダイオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に接続された
回路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列
接続回路とを含み、かつこれらが並列接続された回路と
し、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 、ダイオード
Ｄｂ1 とダイオードＤｂ2 はそれぞれ同一の特性を持
ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電圧降下はダイ
オードＤａ1 ，Ｄａ2 の順方向電圧降下より小さく、か
つ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きいことを特徴とする。この場合には、請求項
２と３の作用効果を併せ持つノイズ除去回路を得ること
ができる。
【００１６】請求項６では、請求項５のダイオードＤａ
1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路に代えて、ツェ
ナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 の逆
直列接続回路を用いることによって、請求項５と同様の
作用効果を得るようにしたものである。
1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路に代えて、ツェ
ナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 の逆
直列接続回路を用いることによって、請求項５と同様の
作用効果を得るようにしたものである。
【００１７】本発明のノイズ除去回路は、測定電源と容
量性電子部品との間に接続してもよいが、請求項７のよ
うに容量性電子部品と電流検出装置との間に接続するの
が望ましい。すなわち、比較的周波数の低いノイズに
は、測定電源に直列にノイズ電圧が入るように見える性
質のものと、測定電源に並列にノイズ電圧が入るように
見える性質のものとがあり、後者のノイズは、この電子
部品に接触する測定端子付近で入り込むことが多い。こ
のノイズは、回路に侵入した地点から見てインピーダン
スが低い方に多く流れるため、ノイズ除去回路を容量性
電子部品よりも電源側に接続すると、ノイズが電流検出
装置へ多く流れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除
去回路をこの電子部品よりも電流検出装置側に接続する
ことで、後者のノイズを殆ど電源側へ流し、電流測定に
影響を与えないようにしたものである。なお、同様の理
由により、請求項８のように電流制限抵抗も電子部品よ
りも電流検出装置側に接続するのが望ましい。但し、ノ
イズ除去回路を電子部品よりも電源側に設けたとして
も、電源に直列に入るノイズに対しては効果がある。
量性電子部品との間に接続してもよいが、請求項７のよ
うに容量性電子部品と電流検出装置との間に接続するの
が望ましい。すなわち、比較的周波数の低いノイズに
は、測定電源に直列にノイズ電圧が入るように見える性
質のものと、測定電源に並列にノイズ電圧が入るように
見える性質のものとがあり、後者のノイズは、この電子
部品に接触する測定端子付近で入り込むことが多い。こ
のノイズは、回路に侵入した地点から見てインピーダン
スが低い方に多く流れるため、ノイズ除去回路を容量性
電子部品よりも電源側に接続すると、ノイズが電流検出
装置へ多く流れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除
去回路をこの電子部品よりも電流検出装置側に接続する
ことで、後者のノイズを殆ど電源側へ流し、電流測定に
影響を与えないようにしたものである。なお、同様の理
由により、請求項８のように電流制限抵抗も電子部品よ
りも電流検出装置側に接続するのが望ましい。但し、ノ
イズ除去回路を電子部品よりも電源側に設けたとして
も、電源に直列に入るノイズに対しては効果がある。
【００１８】
【発明の実施の形態】図４に本発明にかかる絶縁抵抗測
定装置の第１実施例を示す。図において、１は直流測定
電源、２は電流制限抵抗、３は被測定コンデンサ、４は
電圧計、５は電流計であり、図１と同一部品には同一符
号を付して重複説明を省略する。
定装置の第１実施例を示す。図において、１は直流測定
電源、２は電流制限抵抗、３は被測定コンデンサ、４は
電圧計、５は電流計であり、図１と同一部品には同一符
号を付して重複説明を省略する。
【００１９】被測定コンデンサ３よりも電流計５側、つ
まり被測定コンデンサ３と電流計５との間には、ノイズ
除去回路１０が接続されている。このノイズ除去回路１
０は、並列接続された抵抗器ＲａとダイオードＤａとで
構成されており、ダイオードＤａのアノードが測定電源
１の正電圧側に接続されている。この実施例では、５０
Ｖの測定電圧で、電流制限抵抗２（１ｋΩ）を介して１
０μＦの被測定コンデンサ３の絶縁抵抗を測定する場合
に、抵抗器Ｒａとして５１ｋΩのものを使用し、ダイオ
ードＤａとして接合型シリコンダイオードを使用した。
まり被測定コンデンサ３と電流計５との間には、ノイズ
除去回路１０が接続されている。このノイズ除去回路１
０は、並列接続された抵抗器ＲａとダイオードＤａとで
構成されており、ダイオードＤａのアノードが測定電源
１の正電圧側に接続されている。この実施例では、５０
Ｖの測定電圧で、電流制限抵抗２（１ｋΩ）を介して１
０μＦの被測定コンデンサ３の絶縁抵抗を測定する場合
に、抵抗器Ｒａとして５１ｋΩのものを使用し、ダイオ
ードＤａとして接合型シリコンダイオードを使用した。
【００２０】ここで、上記実施例よりなる絶縁抵抗測定
装置の動作を説明する。ダイオードＤａは、順方向に電
圧Ｖを加えた場合に、ある電圧ＶＦまではほとんど電流
が流れず、ＶＦを越えると大きな電流が流れるという性
質を持つ。すなわち、 Ｉ［Ａ］＞ＶＦ［Ｖ］／Ｒａ［ｋΩ］ である場合には、電流ＩはほとんどダイオードＤａを流
れるために被測定コンデンサ３の容量の充電が速やかに
進み、電流Ｉが収束して Ｉ［Ａ］≦ＶＦ［Ｖ］／Ｒａ［ｋΩ］ になると、ダイオードＤａを電流が流れなくなるため
に、ノイズ除去回路１０の抵抗がＲａ［ｋΩ］になり、
精度良く絶縁抵抗を測定できる。
装置の動作を説明する。ダイオードＤａは、順方向に電
圧Ｖを加えた場合に、ある電圧ＶＦまではほとんど電流
が流れず、ＶＦを越えると大きな電流が流れるという性
質を持つ。すなわち、 Ｉ［Ａ］＞ＶＦ［Ｖ］／Ｒａ［ｋΩ］ である場合には、電流ＩはほとんどダイオードＤａを流
れるために被測定コンデンサ３の容量の充電が速やかに
進み、電流Ｉが収束して Ｉ［Ａ］≦ＶＦ［Ｖ］／Ｒａ［ｋΩ］ になると、ダイオードＤａを電流が流れなくなるため
に、ノイズ除去回路１０の抵抗がＲａ［ｋΩ］になり、
精度良く絶縁抵抗を測定できる。
【００２１】上記の原理を、図５を用いて更に詳しく解
説する。ダイオードＤａのＩＶ特性は、電圧を横軸に、
電流を縦軸に対数でプロットすれば、ほぼ直線になるこ
とが知られている。これと抵抗器ＲａのＩＶ特性、さら
に、ダイオードＤａと抵抗器Ｒａの並列合成回路のＩＶ
特性をプロットしてある。なお、並列接続であるので、
合成回路のＩＶ特性は両者の単純な和である。合成回路
のｌＶ特性から次の事が分かる。すなわち、被測定コン
デンサ３の容量の充電が進んでいない間は、合成回路に
大きな電圧がかかるので、大きな充電電流が流れる。す
なわち、回路抵抗が小さい。次に、容量の充電が進む
と、合成回路にかかる電圧が低下するために流れる電流
値は急激に小さくなる。つまり、回路抵抗が大きくなる
が、並列接続されている抵抗器Ｒａのために、必要以上
に回路抵抗が大きくなることはない。このようにして、
充電時には容量の充電を速やかに進め、測定時には必要
な回路抵抗が得られるという効果を奏している。
説する。ダイオードＤａのＩＶ特性は、電圧を横軸に、
電流を縦軸に対数でプロットすれば、ほぼ直線になるこ
とが知られている。これと抵抗器ＲａのＩＶ特性、さら
に、ダイオードＤａと抵抗器Ｒａの並列合成回路のＩＶ
特性をプロットしてある。なお、並列接続であるので、
合成回路のＩＶ特性は両者の単純な和である。合成回路
のｌＶ特性から次の事が分かる。すなわち、被測定コン
デンサ３の容量の充電が進んでいない間は、合成回路に
大きな電圧がかかるので、大きな充電電流が流れる。す
なわち、回路抵抗が小さい。次に、容量の充電が進む
と、合成回路にかかる電圧が低下するために流れる電流
値は急激に小さくなる。つまり、回路抵抗が大きくなる
が、並列接続されている抵抗器Ｒａのために、必要以上
に回路抵抗が大きくなることはない。このようにして、
充電時には容量の充電を速やかに進め、測定時には必要
な回路抵抗が得られるという効果を奏している。
【００２２】図６に本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の
第２実施例を示す。この実施例では、ノイズ除去回路１
０を被測定コンデンサ３よりも電流計５側に接続すると
ともに、電流制限抵抗２を被測定コンデンサ３よりも電
流計５側に接続したものである。
第２実施例を示す。この実施例では、ノイズ除去回路１
０を被測定コンデンサ３よりも電流計５側に接続すると
ともに、電流制限抵抗２を被測定コンデンサ３よりも電
流計５側に接続したものである。
【００２３】比較的周波数の低いノイズには、Ｖｎ１の
ように電源１に直列にノイズ電圧が入る性質のもの（電
源のノイズや、電磁誘導により回路に入り込むノイズ、
あるいはセラミックコンデンサのような誘電率の高い誘
電体を用いたコンデンサなどでは、コンデンサ自体が機
械的な振動によって発生するノイズなどを含む）と、Ｖ
ｎ２のように電源１に並列にノイズ電圧が入る性質のも
の（静電結合により回路に入り込むノイズ）とがあり、
後者のノイズは、被測定コンデンサ３に接触する測定端
子付近で入り込むことが多い。このノイズは、回路に侵
入した地点から見てインピーダンスが低い方に多く流れ
るため、ノイズ除去回路１０を被測定コンデンサ３より
も電源１側に接続すると、ノイズが電流計５へ多く流
れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除去回路１０お
よび電流制限抵抗２を被測定コンデンサ３よりも電流計
５側に接続することで、後者のノイズを殆ど電源１側へ
流し、電流測定に影響を与えないようにしたものであ
る。なお、前者のノイズは第１実施例と同様に除去でき
ることは勿論である。
ように電源１に直列にノイズ電圧が入る性質のもの（電
源のノイズや、電磁誘導により回路に入り込むノイズ、
あるいはセラミックコンデンサのような誘電率の高い誘
電体を用いたコンデンサなどでは、コンデンサ自体が機
械的な振動によって発生するノイズなどを含む）と、Ｖ
ｎ２のように電源１に並列にノイズ電圧が入る性質のも
の（静電結合により回路に入り込むノイズ）とがあり、
後者のノイズは、被測定コンデンサ３に接触する測定端
子付近で入り込むことが多い。このノイズは、回路に侵
入した地点から見てインピーダンスが低い方に多く流れ
るため、ノイズ除去回路１０を被測定コンデンサ３より
も電源１側に接続すると、ノイズが電流計５へ多く流
れ、誤差の原因となる。そこで、ノイズ除去回路１０お
よび電流制限抵抗２を被測定コンデンサ３よりも電流計
５側に接続することで、後者のノイズを殆ど電源１側へ
流し、電流測定に影響を与えないようにしたものであ
る。なお、前者のノイズは第１実施例と同様に除去でき
ることは勿論である。
【００２４】図７は本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の
第３実施例を示す。この実施例では、ノイズ除去回路１
１を、抵抗器Ｒａと第１ダイオードＤａ1 と第２ダイオ
ードＤａ2 とが並列接続された回路とし、第１ダイオー
ドＤａ1 と第２ダイオードＤａ2 とを互いに逆方向に接
続したものである。なお、第１ダイオードＤａ1 と第２
ダイオードＤａ2 は同一の特性を持つものとする。第
１，第２実施例の場合、ノイズ電圧が高いと、ダイオー
ドＤａに対して順方向に僅かながらノイズ電流が流れる
が、逆方向にはダイオードＤａに阻止されて殆ど電流が
流れない。このため、測定している電流値をフィルタリ
ングする回路を使用したり、あるいは連続的に電流値を
測定し測定結果を平均化するなどのデジタル処理を行な
った場合には、図８の（ａ）のように順方向にのみノイ
ズ電流Ｉｎ1 が流れるため、漏れ電流を真の漏れ電流よ
りも大きく測定してしまう。そこで、この実施例では、
２個のダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 を逆方向に並列接続す
ることで、図８の（ｂ）のように順方向に流れるノイズ
電流Ｉｎ1 と逆方向に流れるノイズ電流Ｉｎ2 をほぼ同
じ大きさとし、互いに相殺させたものである。これによ
り、測定している電流値をフィルタリングしたり、測定
値を平均化するなどのデジタル処理した場合に、ほとん
ど真の漏れ電流値を求めることができ、よって真の絶縁
抵抗値を知ることができる。
第３実施例を示す。この実施例では、ノイズ除去回路１
１を、抵抗器Ｒａと第１ダイオードＤａ1 と第２ダイオ
ードＤａ2 とが並列接続された回路とし、第１ダイオー
ドＤａ1 と第２ダイオードＤａ2 とを互いに逆方向に接
続したものである。なお、第１ダイオードＤａ1 と第２
ダイオードＤａ2 は同一の特性を持つものとする。第
１，第２実施例の場合、ノイズ電圧が高いと、ダイオー
ドＤａに対して順方向に僅かながらノイズ電流が流れる
が、逆方向にはダイオードＤａに阻止されて殆ど電流が
流れない。このため、測定している電流値をフィルタリ
ングする回路を使用したり、あるいは連続的に電流値を
測定し測定結果を平均化するなどのデジタル処理を行な
った場合には、図８の（ａ）のように順方向にのみノイ
ズ電流Ｉｎ1 が流れるため、漏れ電流を真の漏れ電流よ
りも大きく測定してしまう。そこで、この実施例では、
２個のダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 を逆方向に並列接続す
ることで、図８の（ｂ）のように順方向に流れるノイズ
電流Ｉｎ1 と逆方向に流れるノイズ電流Ｉｎ2 をほぼ同
じ大きさとし、互いに相殺させたものである。これによ
り、測定している電流値をフィルタリングしたり、測定
値を平均化するなどのデジタル処理した場合に、ほとん
ど真の漏れ電流値を求めることができ、よって真の絶縁
抵抗値を知ることができる。
【００２５】図９は本発明にかかるノイズ除去回路の第
４実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１２は、
第１抵抗器Ｒａと、第２抵抗器Ｒｂと第１ダイオードＤ
ｂとの直列回路と、第２ダイオードＤａとが並列接続さ
れた回路であり、第１，第２のダイオードＤｂ，Ｄａの
アノードが測定電源１の正電圧側に接続されている。そ
して、第１ダイオードＤｂの順方向電圧降下は第２ダイ
オードＤａの順方向電圧降下より小さく、第１抵抗器Ｒ
ａの抵抗値は第２抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きい。ここ
では、Ｒａは５１ｋΩの抵抗器、Ｒｂは５ｋΩの抵抗
器、Ｄａはショットキーバリアダイオード、Ｄｂは接合
型シリコンダイオードを用いた。すなわち、この実施例
では、第１実施例におけるノイズ除去回路１０に、順方
向電圧降下の小さいダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの直
列回路を並列に接続してある。第１実施例の場合、ダイ
オードＤａによる充電では被測定コンデンサ３を完全に
充電することができない電圧（Ｄａの順方向電圧降下に
相当する電圧）が残るため、この分の電圧に関しては、
抵抗器Ｒａによって充電しなければならない。この時間
の遅れを、ダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの直列回路で
短縮するとともに、順方向電圧降下の小さいダイオード
Ｄｂを通過してくる僅かなノイズを抵抗器Ｒｂで遮断す
るようにしたものである。これにより、被測定コンデン
サ３の充電初期にはダイオードＤａにより速やかな充電
が行なわれ、続けてダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの直
列回路による充電となり、最後に抵抗器Ｒａによる充電
・測定を行なうことができる。
４実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１２は、
第１抵抗器Ｒａと、第２抵抗器Ｒｂと第１ダイオードＤ
ｂとの直列回路と、第２ダイオードＤａとが並列接続さ
れた回路であり、第１，第２のダイオードＤｂ，Ｄａの
アノードが測定電源１の正電圧側に接続されている。そ
して、第１ダイオードＤｂの順方向電圧降下は第２ダイ
オードＤａの順方向電圧降下より小さく、第１抵抗器Ｒ
ａの抵抗値は第２抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きい。ここ
では、Ｒａは５１ｋΩの抵抗器、Ｒｂは５ｋΩの抵抗
器、Ｄａはショットキーバリアダイオード、Ｄｂは接合
型シリコンダイオードを用いた。すなわち、この実施例
では、第１実施例におけるノイズ除去回路１０に、順方
向電圧降下の小さいダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの直
列回路を並列に接続してある。第１実施例の場合、ダイ
オードＤａによる充電では被測定コンデンサ３を完全に
充電することができない電圧（Ｄａの順方向電圧降下に
相当する電圧）が残るため、この分の電圧に関しては、
抵抗器Ｒａによって充電しなければならない。この時間
の遅れを、ダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの直列回路で
短縮するとともに、順方向電圧降下の小さいダイオード
Ｄｂを通過してくる僅かなノイズを抵抗器Ｒｂで遮断す
るようにしたものである。これにより、被測定コンデン
サ３の充電初期にはダイオードＤａにより速やかな充電
が行なわれ、続けてダイオードＤｂと抵抗器Ｒｂとの直
列回路による充電となり、最後に抵抗器Ｒａによる充電
・測定を行なうことができる。
【００２６】上記ノイズ除去回路１２の動作を図１０を
用いて詳しく説明する。抵抗器Ｒａ、抵抗器Ｒｂ、ダイ
オードＤａ、ダイオードＤｂのＩＶ特性に加えて、抵抗
器ＲｂとダイオードＤｂを直列に接続した回路をＲｂ＋
Ｄｂとして示してある。加えて、ノイズ除去回路１２全
体のｌＶ特性をＲａ／／Ｄａ／／（Ｒｂ＋Ｄｂ）として
示している。Ｒｂ＋Ｄｂは直列回路であるので、その特
性はＲｂとＤｂのインピーダンスの和になる。よって、
横軸を電圧、縦軸を電流（対数）にとるグラフ上では、
その特性はＲｂとＤｂの電流のうち、より小さい方をた
どるような特性となる。つぎに、ＲａとＤａと（Ｒｂ＋
Ｄｂ）の並列回路の特性は、並列接続であるためアドミ
タンスの和になるため、グラフ上ではより電流の大きい
方をたどるような特性となる。このようにして、様々な
特性のダイオードと抵抗の直列回路を並列に複数接続す
ることにより、任意の１Ｖ特性を持つノイズ除去回路を
得ることが出来る。このように、充電時には被測定コン
デンサ３の充電を妨げず、かつ測定時にはノイズ電流を
通さないような最適な特性のノイズ除去回路１２を得る
ことができる。
用いて詳しく説明する。抵抗器Ｒａ、抵抗器Ｒｂ、ダイ
オードＤａ、ダイオードＤｂのＩＶ特性に加えて、抵抗
器ＲｂとダイオードＤｂを直列に接続した回路をＲｂ＋
Ｄｂとして示してある。加えて、ノイズ除去回路１２全
体のｌＶ特性をＲａ／／Ｄａ／／（Ｒｂ＋Ｄｂ）として
示している。Ｒｂ＋Ｄｂは直列回路であるので、その特
性はＲｂとＤｂのインピーダンスの和になる。よって、
横軸を電圧、縦軸を電流（対数）にとるグラフ上では、
その特性はＲｂとＤｂの電流のうち、より小さい方をた
どるような特性となる。つぎに、ＲａとＤａと（Ｒｂ＋
Ｄｂ）の並列回路の特性は、並列接続であるためアドミ
タンスの和になるため、グラフ上ではより電流の大きい
方をたどるような特性となる。このようにして、様々な
特性のダイオードと抵抗の直列回路を並列に複数接続す
ることにより、任意の１Ｖ特性を持つノイズ除去回路を
得ることが出来る。このように、充電時には被測定コン
デンサ３の充電を妨げず、かつ測定時にはノイズ電流を
通さないような最適な特性のノイズ除去回路１２を得る
ことができる。
【００２７】図１１は本発明にかかるノイズ除去回路の
第５実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１３
は、第４実施例のノイズ除去回路１２におけるダイオー
ドＤａに代えてツェナダイオードＺＤａを用いたもので
ある。なお、ツェナダイオードＺＤａのカソードが測定
電源１の正電圧側に接続されている。ダイオードＤｂの
順方向電圧降下はツェナダイオードＺＤａの降伏電圧よ
り小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きく設定されている。この場合の作用効果は、
第４実施例のノイズ除去回路１２と同様であるため、説
明を省略する。
第５実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１３
は、第４実施例のノイズ除去回路１２におけるダイオー
ドＤａに代えてツェナダイオードＺＤａを用いたもので
ある。なお、ツェナダイオードＺＤａのカソードが測定
電源１の正電圧側に接続されている。ダイオードＤｂの
順方向電圧降下はツェナダイオードＺＤａの降伏電圧よ
り小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きく設定されている。この場合の作用効果は、
第４実施例のノイズ除去回路１２と同様であるため、説
明を省略する。
【００２８】図１２は本発明にかかるノイズ除去回路の
第６実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１４
は、第４実施例のノイズ除去回路１２におけるダイオー
ドＤａに代えて、２個以上のダイオードＤａ1 ，Ｄａ2
・・・の直列接続回路を用いたものである。なお、図１
２では２個のダイオードＤａ1 ，Ｄａ2のみを示した
が、３個以上であってもよく、すべてのダイオードＤａ
1 ，Ｄａ2のアノードを測定電源１の正電圧側に接続す
る。ダイオードＤｂの順方向電圧降下は、ダイオードＤ
ａ1 ，Ｄａ2 の各々の順方向電圧降下の和より小さく、
かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗値より大き
く設定されている。なお、ダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 の
直列回路に用いられる各ダイオードはすべて同じである
必要はなく、各々が異なるものでもよい。この場合の作
用効果は、第４実施例のノイズ除去回路１２と同様であ
るため、説明を省略する。
第６実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１４
は、第４実施例のノイズ除去回路１２におけるダイオー
ドＤａに代えて、２個以上のダイオードＤａ1 ，Ｄａ2
・・・の直列接続回路を用いたものである。なお、図１
２では２個のダイオードＤａ1 ，Ｄａ2のみを示した
が、３個以上であってもよく、すべてのダイオードＤａ
1 ，Ｄａ2のアノードを測定電源１の正電圧側に接続す
る。ダイオードＤｂの順方向電圧降下は、ダイオードＤ
ａ1 ，Ｄａ2 の各々の順方向電圧降下の和より小さく、
かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗値より大き
く設定されている。なお、ダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 の
直列回路に用いられる各ダイオードはすべて同じである
必要はなく、各々が異なるものでもよい。この場合の作
用効果は、第４実施例のノイズ除去回路１２と同様であ
るため、説明を省略する。
【００２９】図１３は本発明にかかるノイズ除去回路の
第７実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１５
は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂにダイオー
ドＤｂ1 とダイオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に
接続された回路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ
2 の逆並列接続回路とからなり、かつこれらが並列接続
された回路である。ダイオードＤｂ1 とダイオードＤｂ
2 、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 はそれぞれ同
一の特性を持ち、ダイオードＤｂ 1 ，Ｄｂ2 の順方向電
圧降下はダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 の順方向電圧降下よ
り小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きい。このノイズ除去回路１５の場合には、第
３実施例のノイズ除去回路１１（図７参照）の作用効果
と、第４実施例のノイズ除去回路１２（図９参照）の作
用効果とを併せ持つことができる。
第７実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１５
は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂにダイオー
ドＤｂ1 とダイオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に
接続された回路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ
2 の逆並列接続回路とからなり、かつこれらが並列接続
された回路である。ダイオードＤｂ1 とダイオードＤｂ
2 、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 はそれぞれ同
一の特性を持ち、ダイオードＤｂ 1 ，Ｄｂ2 の順方向電
圧降下はダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 の順方向電圧降下よ
り小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きい。このノイズ除去回路１５の場合には、第
３実施例のノイズ除去回路１１（図７参照）の作用効果
と、第４実施例のノイズ除去回路１２（図９参照）の作
用効果とを併せ持つことができる。
【００３０】図１４は本発明にかかるノイズ除去回路の
第８実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１６
は、第７実施例のノイズ除去回路１５の変形例であり、
ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路
に代えて、ツェナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオー
ドＺＤａ2 の逆直列接続回路を用いたものである。ツェ
ナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 は同
一の特性を持ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電
圧降下はツェナダイオードＺＤａ 1 ，ＺＤａ2 の降伏電
圧より小さい。また、抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂ
の抵抗値より大きい。このノイズ除去回路１６もノイズ
除去回路１５と同様の作用効果を有する。
第８実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１６
は、第７実施例のノイズ除去回路１５の変形例であり、
ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路
に代えて、ツェナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオー
ドＺＤａ2 の逆直列接続回路を用いたものである。ツェ
ナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 は同
一の特性を持ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電
圧降下はツェナダイオードＺＤａ 1 ，ＺＤａ2 の降伏電
圧より小さい。また、抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂ
の抵抗値より大きい。このノイズ除去回路１６もノイズ
除去回路１５と同様の作用効果を有する。
【００３１】図１５は本発明にかかるノイズ除去回路の
第９実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１７
は、第７実施例のノイズ除去回路１５において、ダイオ
ードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路に代え
て、複数のダイオードＤａ10, Ｄａ11・・・の直列接続
回路と、複数のダイオードＤａ20, Ｄａ 21・・・の直列
接続回路との逆並列接続回路を用いたものである。但
し、ダイオードＤｂ1 およびＤｂ2 の順方向電圧降下
は、ダイオードＤａ10, Ｄａ11・・・およびＤａ20, Ｄ
ａ21・・・の各々の順方向電圧降下の和より小さく、か
つ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きく
設定されている。なお、ダイオードＤａ10, Ｄａ11・・
・およびＤａ20, Ｄａ21・・・の各直列回路に用いられ
る各ダイオードはすべて同じである必要はなく、各々が
異なるものでもよい。このノイズ除去回路１７もノイズ
除去回路１５と同様の作用効果を有する。
第９実施例を示す。この実施例のノイズ除去回路１７
は、第７実施例のノイズ除去回路１５において、ダイオ
ードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路に代え
て、複数のダイオードＤａ10, Ｄａ11・・・の直列接続
回路と、複数のダイオードＤａ20, Ｄａ 21・・・の直列
接続回路との逆並列接続回路を用いたものである。但
し、ダイオードＤｂ1 およびＤｂ2 の順方向電圧降下
は、ダイオードＤａ10, Ｄａ11・・・およびＤａ20, Ｄ
ａ21・・・の各々の順方向電圧降下の和より小さく、か
つ抵抗器Ｒａの抵抗値は抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きく
設定されている。なお、ダイオードＤａ10, Ｄａ11・・
・およびＤａ20, Ｄａ21・・・の各直列回路に用いられ
る各ダイオードはすべて同じである必要はなく、各々が
異なるものでもよい。このノイズ除去回路１７もノイズ
除去回路１５と同様の作用効果を有する。
【００３２】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、請求項１
に記載の発明によれば、ノイズ除去回路として並列接続
された抵抗器ＲａとダイオードＤａとを設け、ダイオー
ドＤａのアノードが測定電源側を向くように接続したの
で、容量性電子部品の充電初期の電流値が大きい間は電
流は殆どダイオードＤａを通じて流れ、容量性電子部品
の充電を速やかに進めることができ、容量性電子部品の
充電がほぼ完了した状態では、専ら抵抗器Ｒａを通じて
電流が流れるので、充電電流に含まれるノイズ成分が遮
断され、精度のよい測定ができる。つまり、各種ノイズ
の影響を受けずに容量性電子部品の絶縁抵抗を高精度
に、しかも短時間で測定できる。
に記載の発明によれば、ノイズ除去回路として並列接続
された抵抗器ＲａとダイオードＤａとを設け、ダイオー
ドＤａのアノードが測定電源側を向くように接続したの
で、容量性電子部品の充電初期の電流値が大きい間は電
流は殆どダイオードＤａを通じて流れ、容量性電子部品
の充電を速やかに進めることができ、容量性電子部品の
充電がほぼ完了した状態では、専ら抵抗器Ｒａを通じて
電流が流れるので、充電電流に含まれるノイズ成分が遮
断され、精度のよい測定ができる。つまり、各種ノイズ
の影響を受けずに容量性電子部品の絶縁抵抗を高精度
に、しかも短時間で測定できる。
【００３３】請求項２に記載の発明によれば、ノイズ除
去回路を、抵抗器Ｒａと第１のダイオードＤａ1 と第２
のダイオードＤａ2 とが並列接続された回路とし、第１
のダイオードＤａ1 と第２のダイオードＤａ2 は同一の
特性を持ち、第１のダイオードＤａ1 と第２のダイオー
ドＤａ2 を互いに逆方向に接続したので、順方向に流れ
るノイズ電流と逆方向に流れるノイズ電流はほぼ同じ大
きさとし、測定している電流値をフィルタリングした
り、デジタル処理した場合に、真の漏れ電流値を求める
ことができ、これにより真の絶縁抵抗値を測定すること
ができる。
去回路を、抵抗器Ｒａと第１のダイオードＤａ1 と第２
のダイオードＤａ2 とが並列接続された回路とし、第１
のダイオードＤａ1 と第２のダイオードＤａ2 は同一の
特性を持ち、第１のダイオードＤａ1 と第２のダイオー
ドＤａ2 を互いに逆方向に接続したので、順方向に流れ
るノイズ電流と逆方向に流れるノイズ電流はほぼ同じ大
きさとし、測定している電流値をフィルタリングした
り、デジタル処理した場合に、真の漏れ電流値を求める
ことができ、これにより真の絶縁抵抗値を測定すること
ができる。
【００３４】請求項３に記載の発明によれば、ノイズ除
去回路を、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂと第
１のダイオードＤｂとの直列回路と、第２のダイオード
Ｄａとが並列接続された回路とし、第１，第２のダイオ
ードＤｂ，Ｄａのアノードを測定電源側に接続し、第１
のダイオードＤｂの順方向電圧降下を第２のダイオード
Ｄａの順方向電圧降下より小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵
抗値を抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きくしたので、充電時
には電子部品の充電を妨げず、かつ測定時にはノイズ電
流を通さないような最適な特性のノイズ除去回路を得る
ことができる。
去回路を、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂと第
１のダイオードＤｂとの直列回路と、第２のダイオード
Ｄａとが並列接続された回路とし、第１，第２のダイオ
ードＤｂ，Ｄａのアノードを測定電源側に接続し、第１
のダイオードＤｂの順方向電圧降下を第２のダイオード
Ｄａの順方向電圧降下より小さく、かつ抵抗器Ｒａの抵
抗値を抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きくしたので、充電時
には電子部品の充電を妨げず、かつ測定時にはノイズ電
流を通さないような最適な特性のノイズ除去回路を得る
ことができる。
【００３５】請求項４では、請求項３における第２のダ
イオードＤａに代えて逆向きのツェナダイオードＺＤａ
を用いることで、請求項３と同様な作用効果を得ること
ができる。請求項５では、ノイズ除去回路を、第１の抵
抗器Ｒａと、第２の抵抗器ＲｂにダイオードＤｂ1 とダ
イオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に接続された回
路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接
続回路とを含み、かつこれらが並列接続された回路とし
たので、請求項２と３の作用効果を併せ持つノイズ除去
回路を得ることができる。請求項６では、請求項５のダ
イオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路に
代えて、ツェナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオード
ＺＤａ2 の逆直列接続回路を用いることによって、請求
項２と３の作用効果を併せ持つノイズ除去回路を得るこ
とができる。さらに、請求項７，８のように、ノイズ除
去回路や電流制限抵抗を容量性電子部品よりも電流検出
装置側に接続することで、測定電源に並列に入ったノイ
ズを殆ど電源側へ流し、電流測定に影響を与えないよう
にできる。そのため、高精度な絶縁抵抗測定が可能とな
る。
イオードＤａに代えて逆向きのツェナダイオードＺＤａ
を用いることで、請求項３と同様な作用効果を得ること
ができる。請求項５では、ノイズ除去回路を、第１の抵
抗器Ｒａと、第２の抵抗器ＲｂにダイオードＤｂ1 とダ
イオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直列に接続された回
路と、ダイオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接
続回路とを含み、かつこれらが並列接続された回路とし
たので、請求項２と３の作用効果を併せ持つノイズ除去
回路を得ることができる。請求項６では、請求項５のダ
イオードＤａ1 とダイオードＤａ2 の逆並列接続回路に
代えて、ツェナダイオードＺＤａ1 とツェナダイオード
ＺＤａ2 の逆直列接続回路を用いることによって、請求
項２と３の作用効果を併せ持つノイズ除去回路を得るこ
とができる。さらに、請求項７，８のように、ノイズ除
去回路や電流制限抵抗を容量性電子部品よりも電流検出
装置側に接続することで、測定電源に並列に入ったノイ
ズを殆ど電源側へ流し、電流測定に影響を与えないよう
にできる。そのため、高精度な絶縁抵抗測定が可能とな
る。
【図１】従来の絶縁抵抗測定装置の一例の回路図であ
る。
る。
【図２】測定電源に直列にノイズが入った場合の説明図
である。
である。
【図３】被測定コンデンサから電流計に至る経路の途中
にノイズ除去用抵抗を入れた場合の回路図である。
にノイズ除去用抵抗を入れた場合の回路図である。
【図４】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の第１実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図５】図４に示すノイズ検出回路の電流・電圧特性図
である。
である。
【図６】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の第２実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図７】本発明にかかる絶縁抵抗測定装置の第３実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図８】図７に示す絶縁抵抗測定装置の電流検出値の時
間変化図である。
間変化図である。
【図９】本発明にかかるノイズ除去回路の第４実施例の
回路図である。
回路図である。
【図１０】図９に示すノイズ除去回路の電流・電圧特性
図である。
図である。
【図１１】本発明にかかるノイズ除去回路の第５実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図１２】本発明にかかるノイズ除去回路の第６実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図１３】本発明にかかるノイズ除去回路の第７実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図１４】本発明にかかるノイズ除去回路の第８実施例
の回路図である。
の回路図である。
【図１５】本発明にかかるノイズ除去回路の第９実施例
の回路図である。
の回路図である。
１ 直流測定電源 ２ 電流制限抵抗 ３ 被測定コンデンサ（容量性電子部
品） ４ 電圧計 ５ 電流計（電流検出装置） １０〜１７ ノイズ除去回路 Ｒａ，Ｒｂ 抵抗器 Ｄａ，Ｄｂ ダイオード
品） ４ 電圧計 ５ 電流計（電流検出装置） １０〜１７ ノイズ除去回路 Ｒａ，Ｒｂ 抵抗器 Ｄａ，Ｄｂ ダイオード
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１１年９月２４日（１９９９．９．２
４）
４）
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図３
【補正方法】変更
【補正内容】
【図３】
Claims (8)
- 【請求項１】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、この
電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に
至る経路にノイズ除去回路が接続され、上記ノイズ除去
回路は、抵抗器ＲａとダイオードＤａとが並列接続され
た回路を有し、上記ダイオードＤａのアノードが測定電
源の正電圧側に接続されていることを特徴とする容量性
電子部品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項２】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、この
電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に
至る経路にノイズ除去回路が接続され、上記ノイズ除去
回路は、抵抗器Ｒａと第１のダイオードＤａ1 と第２の
ダイオードＤａ2 とが並列接続された回路を有し、第１
のダイオードＤａ1 と第２のダイオードＤａ2 は同一の
特性を持ち、第１のダイオードＤａ1 と第２のダイオー
ドＤａ2 は互いに逆方向に接続されていることを特徴と
する容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項３】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、この
電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に
至る経路にノイズ除去回路が接続され、上記ノイズ除去
回路は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂと第１
のダイオードＤｂとの直列回路と、第２のダイオードＤ
ａとが並列接続された回路を有し、第１，第２のダイオ
ードＤｂ，Ｄａのアノードが測定電源の正電圧側に接続
されており、第１のダイオードＤｂの順方向電圧降下は
第２のダイオードＤａの順方向電圧降下より小さく、か
つ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗
値より大きいことを特徴とする容量性電子部品の絶縁抵
抗測定装置。 - 【請求項４】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、この
電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に
至る経路にノイズ除去回路が接続され、上記ノイズ除去
回路は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂとダイ
オードＤｂとの直列回路と、ツェナダイオードＺＤａと
が並列接続された回路を有し、ダイオードＤｂのアノー
ドおよびツェナダイオードＺＤａのカソードが測定電源
の正電圧側に接続されており、ダイオードＤｂの順方向
電圧降下はツェナダイオードＺＤａの降伏電圧より小さ
く、かつ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器Ｒｂ
の抵抗値より大きいことを特徴とする容量性電子部品の
絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項５】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、この
電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に
至る経路にノイズ除去回路が接続され、上記ノイズ除去
回路は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂにダイ
オードＤｂ1 とダイオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直
列に接続された回路と、ダイオードＤａ1 とダイオード
Ｄａ2 の逆並列接続回路とを含み、かつこれらが並列接
続された回路であり、ダイオードＤａ1 とダイオードＤ
ａ2 は同一の特性を持ち、ダイオードＤｂ1 とダイオー
ドＤｂ2 は同一の特性を持ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ
2 の順方向電圧降下はダイオードＤａ1 ，Ｄａ2 の順方
向電圧降下より小さく、かつ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値
は第２の抵抗器Ｒｂの抵抗値より大きいことを特徴とす
る容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項６】容量性電子部品に所定の測定電圧を印加
し、この電子部品を流れる電流を測定することで、この
電子部品の絶縁抵抗を求める絶縁抵抗測定装置におい
て、測定電源から容量性電子部品を経て電流検出装置に
至る経路にノイズ除去回路が接続され、上記ノイズ除去
回路は、第１の抵抗器Ｒａと、第２の抵抗器Ｒｂにダイ
オードＤｂ1 とダイオードＤｂ2 の逆並列接続回路が直
列に接続された回路と、ツェナダイオードＺＤａ1 とツ
ェナダイオードＺＤａ2 の逆直列接続回路とを含み、か
つこれらが並列接続された回路であり、ダイオードＤｂ
1 とダイオードＤｂ2 は同一の特性を持ち、ツェナダイ
オードＺＤａ1 とツェナダイオードＺＤａ2 は同一の特
性を持ち、ダイオードＤｂ1 ，Ｄｂ2 の順方向電圧降下
はツェナダイオードＺＤａ1 ，ＺＤａ2 の降伏電圧より
小さく、かつ第１の抵抗器Ｒａの抵抗値は第２の抵抗器
Ｒｂの抵抗値より大きいことを特徴とする容量性電子部
品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項７】上記ノイズ除去回路は、上記容量性電子部
品と電流検出装置との間に接続されていることを特徴と
する請求項１ないし６のいずれかに記載の容量性電子部
品の絶縁抵抗測定装置。 - 【請求項８】上記容量性電子部品と電流検出装置との間
に電流制限抵抗が接続されていることを特徴とする請求
項７に記載の容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26858899A JP3391310B2 (ja) | 1999-09-22 | 1999-09-22 | 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 |
| MYPI20003989A MY121524A (en) | 1999-09-22 | 2000-08-29 | Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts |
| GB0022464A GB2354829B (en) | 1999-09-22 | 2000-09-13 | Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts |
| US09/666,843 US6456087B1 (en) | 1999-09-22 | 2000-09-21 | Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts |
| US10/214,346 US6639410B2 (en) | 1999-09-22 | 2002-08-08 | Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26858899A JP3391310B2 (ja) | 1999-09-22 | 1999-09-22 | 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001091554A true JP2001091554A (ja) | 2001-04-06 |
| JP3391310B2 JP3391310B2 (ja) | 2003-03-31 |
Family
ID=17460628
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26858899A Expired - Lifetime JP3391310B2 (ja) | 1999-09-22 | 1999-09-22 | 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3391310B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008153981A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Sanyo Electric Co Ltd | 静電容量変化検出回路及びコンデンサマイクロホン装置 |
| KR20160008470A (ko) * | 2014-07-14 | 2016-01-22 | 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 | 콘덴서의 절연 저항 측정 장치 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4495000B2 (ja) * | 2005-02-17 | 2010-06-30 | 日置電機株式会社 | 絶縁抵抗測定装置 |
-
1999
- 1999-09-22 JP JP26858899A patent/JP3391310B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008153981A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Sanyo Electric Co Ltd | 静電容量変化検出回路及びコンデンサマイクロホン装置 |
| KR20160008470A (ko) * | 2014-07-14 | 2016-01-22 | 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 | 콘덴서의 절연 저항 측정 장치 |
| KR102369138B1 (ko) * | 2014-07-14 | 2022-02-28 | 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 | 콘덴서의 절연 저항 측정 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3391310B2 (ja) | 2003-03-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7932724B2 (en) | Circuit assemblage and method for functional checking of a power transistor | |
| US6456087B1 (en) | Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts | |
| CN106841804B (zh) | 绝缘阻抗检测电路及检测方法 | |
| US5416470A (en) | Contact judging circuit and contact judging method for impedance measuring apparatus | |
| JPH0316626B2 (ja) | ||
| JP3402274B2 (ja) | 電子部品のインピーダンス測定装置 | |
| CN110907797A (zh) | 用于电路检测的方法和装置 | |
| US10944259B2 (en) | System and method for over voltage protection in both positive and negative polarities | |
| JP2001091554A (ja) | 容量性電子部品の絶縁抵抗測定装置 | |
| US5504422A (en) | Polarity testing process and device for electrolytic capacitors | |
| US20220404437A1 (en) | Detection circuit and integrated circuit | |
| US10408875B2 (en) | Testing system, method for testing an integrated circuit and a circuit board including the same | |
| US10983147B2 (en) | Monitoring apparatus and method for monitoring an AC voltage source, which is DC-decoupled from a reference potential | |
| CN110221644B (zh) | 一种芯片及其外置rset电阻开路监测电路 | |
| US11467204B2 (en) | Testing an integrated capacitor | |
| JP4866998B2 (ja) | 電子装置の測定装置 | |
| JP4674005B2 (ja) | 電源装置、及び試験装置 | |
| TWI647458B (zh) | Capacitor insulation resistance measuring device | |
| JPH05196678A (ja) | 電気回路試験装置 | |
| TWI650568B (zh) | 用於測試積體電路及包括該積體電路之電路板之測試系統、方法 | |
| WO2023026839A1 (ja) | インピーダンス測定装置 | |
| CN110108924B (zh) | 断路器的直流电流测量电路、方法及断路器 | |
| JPH02176574A (ja) | 電子部品測定装置 | |
| JP2873697B2 (ja) | 非接地電路の絶縁劣化監視方法 | |
| CN116973803A (zh) | 利用二极管组合电路检测负载短路与开路的电路及方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3391310 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090124 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090124 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100124 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110124 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110124 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120124 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120124 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130124 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130124 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140124 Year of fee payment: 11 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |