CN106226637A - 一种Short测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种Short测试方法,包括如下步骤:将产品所有的N个引脚分成M个群组,每个群组中均有N/M个引脚;分别测试M个群组各自内部是否存在短路;测试M个群组之间是否存在短路;若群组内部和群组之间均不存在短路,则产品合格,反之则不合格。由于根据产品的特性将引脚分成M个群组,再分两步进行测试,先测试群组内部的引脚是否短路,再测试群组之间的引脚是否短路,并通过开关矩阵连接测试电路,使得本Short测试方法全面测试所有引脚的步骤大幅减少,不需要更快速的器件或者复杂度的测试电路,就能够快速完成short测试,从而成本也低。
Description
技术领域
本发明涉及电子产品的合格检测,具体涉及一种Short测试方法。
背景技术
随着电子产品功能越来越强大,其内部电路也越来越复杂,对生产工艺的要求也越来越高,通过生产制造过程中的环环检测,可及时发现不良品,避免其流入后续工序甚至流入市场,一旦流入市场,会造成重大的利益损失。因此如何快速高效的将不良品检测出来,是产品生产制造过程中的关键环节。
Short测试(即短路测试)主要用来测试产品引脚之间是否存在短路现象,用于判断元器件是否虚焊、漏焊、内部走线是否短路等,它是最常规也是最重要的测试项目。
如图1所示,现有技术中Short测试的基本原理为,short测试的方式之一是加电流测电压,通过在被测的x,y引脚施加电流,同时测试x,y两引脚之间的电压,然后再除以施加的电流,即可得到x,y两引脚之间的阻值。如果阻值约为0,说明x,y两引脚短路,被测品为不合格,如果阻值无穷大,说明x,y两引脚之间没有短路,产品为合格。其中,CUR+代表恒流电源正端,CUR-代表恒流电源负端,VO代表电压测量仪正端,COM代表电压测量仪负端,x代表VO和CUR+的被测端,y代表COM和CUR-的被测端。
当前的Short测试一般都采用逐点遍历的方法,但随着产品复杂度的提升,测试点位也在成倍增加,测试时间会随着引脚数量的增加呈指数型增长,因此如何提升Short测试速度是影响整个测试设备效率的关键。为解决这一问题,当前测试领域一般采用如下两种方法:
1、采用更快速的器件或者增加硬件电路的复杂度,来提升测试速度。缺点是成本增加,维护量增大,设备竞争力下降。
2、只测试相邻点位。缺点是无法全覆盖,产品内部交叉走线处无法测试,容易将不良品流出去。
发明内容
本申请提供一种成本低、测试效率高及能够全面覆盖测试的short测试方法。
一种实施例中提供一种Short测试方法,包括如下步骤:
将产品所有的N个引脚分成M个群组,每个群组中均有N/M个引脚;
分别测试M个群组各自内部是否存在短路;
测试M个群组之间是否存在短路;若群组内部和群组之间均不存在短路,则产品合格,反之则不合格。
进一步地,测试群组内部是否存在短路的具体步骤为:
将群组中第一引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,群组中第二引脚至第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试;
再将第二引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,群组中第三引脚至第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试;
依次类推,最终将第N/M-1引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,群组中第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。
进一步地,测试M个群组之间是否存在短路的具体步骤为:
分别对M个群组两两进行测试,其中一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,另一群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。
进一步地,将产品的所有引脚分为八组,开关矩阵是由八选一模拟开关搭建而成。
在其他实施例中,将产品的所有引脚分为四组,开关矩阵是由四选一模拟开关搭建而成。
依据上述实施例的Short测试方法,由于根据产品的特性将引脚分成M个群组,再分两步进行测试,先测试群组内部的引脚是否短路,再测试群组之间的引脚是否短路,并通过开关矩阵连接测试电路,使得本Short测试方法全面测试所有引脚的步骤大幅减少,不需要更快速的器件或者复杂度的测试电路,就能够快速完成short测试,从而成本也低。
附图说明
图1为现有技术中Short测试方法的原理图;
图2为一种实施例中开关矩阵的连接示意图;
图3为一种实施例中Short测试方法的流程图;
图4为一种实施例中Short测试方法的分组测试连接图;
图5为现有技术中Short测试方法的测试连接图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。
在本实施例中提供了一种Short测试方法,用于对产品的用于判断元器件是否虚焊、漏焊、内部走线是否短路等。本Short测试方法也可称为群组遍历Short测算法,根据产品电路特性,可将所有引脚分为不同的群组,本例以具有128个独立引脚的产品为例进行说明。
如图2所示,开关矩阵是由多选一模拟开关搭建而成,产品上每一个被测引脚都可以通过开关矩阵与VO,COM,CUR+,CUR-连接,而本实施例选择模拟开关为八选一模拟开关,故将128个引脚分为八组进行测试,每组中具有16个引脚。在其他实施例中,也可选择模拟开关为四选一模拟开关,将128个引脚分为四组进行测试。
如3所示,本例的Short测试方法主要包括如下三个步骤:
S101:分组;
如图3所示,本例的产品分为八组,第一行为第一群组,第一群组的产品引脚序号为除8余1的所有引脚的集合;第二行为第二群组,第二群组的产品引脚序号为除8余2的所有引脚的集合;依次类推,第八行为第八群组,第八群组的产品引脚需要为除8余0的集合。
S102:分别测试8组群组各种内部是否存在短路;
如图4所示,以第一群组测试为例进行说明,将引脚1通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,将引脚9、17、25至121通过开关矩阵全部连接到测试电路的y测试端进行测试,测试1次即可检测出引脚1与引脚9、17、25至121是否存在短路,如果存在短路则说明产品不合格,如果没有出现短路则继续测试下去,将引脚9通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,将引脚17、25至121通过开关矩阵全部连接到测试电路的y测试端进行测试,测试1次即可检测出引脚9与引脚17、25至121是否存在短路,如此依次类推,最后将引脚25通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,将引脚121通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。第一群组内的所有引脚遍历一次,共需要测试16-1=15次,八个群组总共需要测试15*8=120次,即要确定产品是合格的没有短路的,要进行120次测试。
S103:测试8个群组之间是否存在短路。
如图4所示,逐次分别对8个群组两两进行测试,即8个群组中的一个分别对其他7个群组分别进行测试。两两测试过程中,一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,另一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试,故总共需进行8*(8-1)/2=28次,若28次测试中都没有出现电路则8个群组之间都不存在短路现象,相反则出现短路,产品不合格。
通过上述两个步骤的测试,总共需要进行120+28=148次测试,经过148次测试后产品的所有引脚得到全面的检验,若148次测试都没有发现短路现象,则产品是合格的,相反只有有一次出现短路,则产品不合格。
而现有技术的方法是进行逐点遍历Short测算法,即对128个引脚分别进行两两测试,如图5所示,全面测试完则需要进行128*(128-1)/2=8128次测试,测试次数庞大,工作量大。而本例的方法只需要148次即可,本方法的测试效率为现有技术的8128/148≈54.9倍,故本例的Short测试方法具有明显的优势,效率得到大大提高。
依据本例可推知,若产品的具有N个引脚,N个引脚分为M个群组,每组群组有N/M个引脚。
本例的方法,步骤二共需测试(N/M-1)*M=N-M次,步骤三共需测试M*(M-1)/2次,即总共需测试N-M+M*(M-1)/2=N+M*(M-3)/2次。而采用现有技术的方法共需测试N*(N-1)/2次。
而本例采用的是八选一模拟开关,产品分为八个群组,故本例的方法测试总共有N个引脚的产品需要测试N+20次,本例效率的为现有技术的倍。
可知,若引脚的数量较大,本例的Short测试方法具有很大的优势,并且优势随着引脚的数量增加而更为明显。
本例提供的Short测试方法,由于根据产品的特性将引脚分成M个群组,再分两步进行测试,先测试群组内部的引脚是否短路,再测试群组之间的引脚是否短路,并通过开关矩阵连接测试电路,使得本Short测试方法全面测试所有引脚的步骤大幅减少,不需要更快速的器件或者复杂度的测试电路,就能够快速完成short测试,从而成本也低。
以上应用了具体个例对本发明进行阐述,只是用于帮助理解本发明,并不用以限制本发明。对于本发明所属技术领域的技术人员,依据本发明的思想,还可以做出若干简单推演、变形或替换。
Claims (5)
1.一种Short测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
将产品所有的N个引脚分成M个群组,每个群组中均有N/M个引脚;
分别测试M个群组各自内部是否存在短路;
测试M个群组之间是否存在短路;若群组内部和群组之间均不存在短路,则产品合格,反之则不合格。
2.如权利要求1所述的Short测试方法,其特征在于,测试群组内部是否存在短路的具体步骤为:
将群组中第一引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,群组中第二引脚至第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试;
再将第二引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,群组中第三引脚至第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试;
依次类推,最终将第N/M-1引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,群组中第N/M引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。
3.如权利要求2所述的Short测试方法,其特征在于,测试M个群组之间是否存在短路的具体步骤为:
分别对M个群组两两进行测试,其中一个群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的x测试端,另一群组的所有引脚通过开关矩阵连接到测试电路的y测试端进行测试。
4.如权利要求3所述的Short测试方法,其特征在于,将产品的所有引脚分为八组,所述开关矩阵是由八选一模拟开关搭建而成。
5.如权利要求3所述的Short测试方法,其特征在于,将产品的所有引脚分为四组,所述开关矩阵是由四选一模拟开关搭建而成。
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