CN104635113A - 一种确定面板线路故障位置的方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种确定面板线路故障位置的方法及系统,主要内容包括;针对确定发生线路故障的金属线,将所述金属线的前端点连接检测表的一个表笔,所述检测表的另一个表笔连接公共电极线;按照预设规则对所述金属线进行熔断处理;在所述金属线熔断后,根据所述检测表的读数的变化确定所述金属线发生线路故障的位置。从而,可以初步确定出该金属线发生故障的位置所在的线路,这样,就可以将检测、调试的范围初步缩小,从而只对金属线的熔断点一侧的线路所对应的工艺制程或机器进行检测,无需对整个金属线所对应的工艺制程或机器进行检测,从而提高了检测、调试效率。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种确定面板线路故障位置的方法及系统。
背景技术
在现有的薄膜晶体管液晶显示器TFT-LCD的生产工艺中,由于机械故障或是人工失误等经常会出现线路不良等故障,这些线路不良一般都是由于像素区域以外(非显示区)的断路和像素区域以内(显示区)的短路造成的。像素区域以外的的断路可以通过显微镜巡线的方式找到不良位置,像素区域以内的短路分为粒子起因和膜层之间的短路,粒子起因的短路位置可以通过人眼巡线的方式观察到,而膜层之间的短路位置是人眼和显微镜都观察不到的,尤其是栅线与公共电极的线路不良(简称GCS)和数据线与公共电极的线路不良(简称DCS),因此,现有的确定线路故障位置的方案无法准确确定膜层之间的线路故障的位置。
发明内容
本发明实施例提供一种确定面板线路故障位置的方法及系统,用以解决现有技术中存在的无法确定膜层间的线路故障位置的问题。
本发明实施例采用以下技术方案:
一种确定面板线路故障位置的方法,所述方法包括:
针对确定发生线路故障的金属线,将所述金属线的前端点连接检测表的一个表笔,所述检测表的另一个表笔连接公共电极线;
按照预设规则对所述金属线进行熔断处理;
在所述金属线熔断后,根据所述检测表的读数的变化确定所述金属线发生线路故障的位置。
优选地,按照预设规则对所述金属线进行熔断处理,具体包括:
选择所述金属线的中点作为熔断点,在所述熔断点处对所述金属线进行熔断处理。
优选地,当所述金属线发生的线路故障为短路时,在所述金属线熔断后,根据所述检测表的读数的变化确定所述金属线发生短路的位置,具体包括;
在所述金属线熔断后,若当前检测表的读数的变化达到预设阈值,则确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上,否则,确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与所述前端点之间的线路上,其中,所述预设阈值根据所述金属线的阻值确定。
优选地,所述方法还包括:
若确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上,则转入步骤一;
若确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与前端点之间的线路上,则转入步骤二;
步骤一:针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路,并将所述熔断点熔接,并转入步骤三;
步骤二:针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路,并转入步骤三;
步骤三:按照预设规则对所述当前短路线路进行熔断处理;
步骤四:在所述当前短路线路熔断后,若当前检测表的读数的变化达到预设阈值,则执行步骤五,否则,执行步骤六;
步骤五:确定所述金属线发生短路的位置位于所述短路线路中所述熔断点之后的线路上,并判断发生短路的位置所在的线路是否达到预设精度范围,若是,则结束该循环操作,否则,跳转至步骤一;
步骤六:确定所述金属线发生短路的位置位于所述短路线路中所述熔断点之前的线路上,并判断发生短路的位置所在的线路是否达到预设精度范围,若是,则结束该循环操作,否则,跳转至步骤二。
优选地,在结束上述循环操作之后,所述方法还包括:
针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路;
若所述当前短路线路位于前一熔断操作对应的熔断点之前,则从所述前一熔断操作对应的熔断点开始,按照一个像素单元的步长依次对所述当前短路线路进行熔断处理,并在检测表的读数的变化超过预设阈值时,将所述金属线发生短路的位置定位在当前熔断点与前一熔断操作对应的熔断点之间;
若所述当前短路线路位于前一熔断操作对应的熔断点之后,则熔接所述前一熔断操作对应的熔断点,从所述前一熔断操作对应的熔断点开始,按照一个像素单元的步长依次对所述当前短路线路进行熔断处理,并在检测表的读数的变化超过预设阈值时,将所述金属线发生短路的位置定位在当前熔断点与前一熔断操作对应的熔断点之间。
优选地,所述金属线为栅线或数据线。
优选地,所述检测表为万用表,所述预设阈值为电阻预设阈值或电流预设阈值。
优选地,所述熔断、熔接操作通过激光照射实现。
一种确定面板线路故障位置的系统,包括:检测表和激光器,
其中,所述检测表用于通过一个表笔连接检测发生线路故障的金属线的前端点,以及另一个表笔连接公共电极线,以检测所述发生线路故障的金属线与所述公共电极线之间的连接状况;
所述激光器,用于对选择的熔断点进行熔断处理。
优选地,所述激光器,还用于在确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上时,对所述熔断点进行熔接处理,以使得所述检测表对所述熔断点与后端点之间的线路进行检测。
在本发明实施例中,提供了一种确定面板线路故障位置的方案,针对确定发生线路故障的金属线,将所述金属线的前端点连接检测表的一个表笔,所述检测表的另一个表笔连接公共电极线;按照预设规则对所述金属线进行熔断处理;在所述金属线熔断后,根据所述检测表的读数的变化确定所述金属线发生线路故障的位置。从而,可以初步确定出该金属线发生故障的位置所在的线路,这样,就可以将检测、调试的范围初步缩小,从而只对金属线的熔断点一侧的线路所对应的工艺制程或机器进行检测,无需对整个金属线所对应的工艺制程或机器进行检测,从而提高了检测、调试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种确定线路故障位置的方法流程示意图;
图2(a)-2(j)为本发明实例1-3提供的确定栅线的短路位置的操作演示图;
图3为本发明实例2提供的将栅线m的短路位置定位至预设精度范围的方法流程示意图;
图4为本发明实例3提供的将栅线m的短路位置定位至像素单元对应位置的演示图;
图5为本发明实施例提供的一种确定线路故障位置的系统结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
为了能够对发生在像素膜层之间的短路位置进行定位,在本发明实施例中,提供了一种确定线路故障位置的方案,针对确定发生线路故障的金属线,将所述金属线的前端点连接检测表的一个表笔,所述检测表的另一个表笔连接公共电极线;按照预设规则对所述金属线进行熔断处理;在所述金属线熔断后,根据所述检测表的读数的变化确定所述金属线发生线路故障的位置。从而,可以初步确定出该金属线发生故障的位置所在的线路,这样,就可以将检测、调试的范围初步缩小,从而只对金属线的熔断点一侧的线路所对应的工艺制程或机器进行检测,无需对整个金属线所对应的工艺制程或机器进行检测,从而提高了检测、调试效率。
下面通过具体的实施例对本发明所涉及的方案进行详细描述,本发明包括但并不限于以下实施例。
如图1所示,为本发明实施例提供的一种确定面板线路故障位置的方法流程示意图,该方法主要包括以下步骤:
步骤101:针对确定发生线路故障的金属线,将金属线的前端点连接检测表的一个表笔,检测表的另一个表笔连接公共电极线。
步骤102:按照预设规则对金属线进行熔断处理。
优选地,在本发明实施例中,按照预设规则对所述金属线进行熔断处理,具体可以包括:选择所述金属线的中点作为熔断点,在所述熔断点处对所述金属线进行熔断处理。
步骤103:在金属线熔断后,根据检测表的读数的变化确定金属线发生线路故障的位置。
优选地,当所述金属线发生的线路故障为短路时,在所述金属线熔断后,根据所述检测表的读数的变化确定所述金属线发生短路的位置,具体可以包括:在所述金属线熔断后,若当前检测表的读数的变化达到预设阈值,则确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上,否则,确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与所述前端点之间的线路上,其中,所述预设阈值根据所述金属线的阻值确定。
优选地,在通过上述方案初步确定了金属线发生短路的大致位置之后,还可以通过以下方案具体确定金属线发生短路的较为具体的位置:
若确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上,则转入步骤一;
若确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与前端点之间的线路上,则转入步骤二;
步骤一:针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路,并将所述熔断点熔接,并转入步骤三;
步骤二:针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路,并转入步骤三;
步骤三:按照预设规则对所述当前短路线路进行熔断处理;
步骤四:在所述当前短路线路熔断后,若当前检测表的读数的变化达到预设阈值,则执行步骤五,否则,执行步骤六;
步骤五:确定所述金属线发生短路的位置位于所述短路线路中所述熔断点之后的线路上,并判断发生短路的位置所在的线路是否达到预设精度范围,若是,则结束该循环操作,否则,跳转至步骤一;
步骤五:确定所述金属线发生短路的位置位于所述短路线路中所述熔断点之前的线路上,并判断发生短路的位置所在的线路是否达到预设精度范围,若是,则结束该循环操作,否则,跳转至步骤二。
优选地,在结束上述循环操作之后,即可将金属线的短路位置定位在预设精度范围内,然而,本发明还可以通过以下方案将短路位置进一步具体化,甚至定位到一个像素单元的精度范围内:
针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路;
若所述当前短路线路位于前一熔断操作对应的熔断点之前,则从所述前一熔断操作对应的熔断点开始,按照一个像素单元的步长依次对所述当前短路线路进行熔断处理,并在检测表的读数的变化超过预设阈值时,将所述金属线发生短路的位置定位在当前熔断点与前一熔断操作对应的熔断点之间;
若所述当前短路线路位于前一熔断操作对应的熔断点之后,则熔接所述前一熔断操作对应的熔断点,从所述前一熔断操作对应的熔断点开始,按照一个像素单元的步长依次对所述当前短路线路进行熔断处理,并在检测表的读数的变化超过预设阈值时,将所述金属线发生短路的位置定位在当前熔断点与前一熔断操作对应的熔断点之间。
优选地,在本发明实施例中,所述金属线为栅线或数据线,此外,还可以为其他的易发生线路故障的金属线,本发明并不对金属线的类型作具体限定,仅以栅线或数据线为例,来解释说明位于膜层之间的金属线的故障位置的确定方案。
优选地,本发明所涉及的检测表为万用表,所述预设阈值为电阻预设阈值或电流预设阈值。由于万用表的有多个选择档,可以通过旋转选择开关选择电阻档或电压档或电流档。在本发明实施例中,由于金属线的电阻值都不是特别大,因此,可以通过选择电阻档来检测金属线的故障情况。
优选地,本发明所涉及的熔断、熔接操作均通过激光照射实现。
下面以栅线发生短路故障为例,结合三个具体的实例对本发明的上述方案进行详细描述。需要说明的是,数据线的短路位置确定方式与栅线的短路位置确定方式相同,在此不做赘述。
假设经过制备工艺制备而成的panel,在检测时发现第m行的栅线m发生短路故障,一般情况下,为了针对线路故障这一问题进行改进或修正,需要确定线路发生故障的具体位置,从而对该位置处的工艺流程进行观察检测,以避免后续的工艺制程中出现同样的问题,从而提高制备生产的良率。为此,本发明通过以下方案实现了对线路故障位置的确定。
实例1:初步确定栅线m的短路位置
如图2(a)所示,为本发明实例1提供的初步确定栅线的短路位置的操作演示图,假设该待检测的Panel中栅线m的前端点A和后端点B分别对应第m行像素单元的起点像素单元和终点像素单元。
首先,利用导线将栅线m的前端点A连接万用表的一个表笔,万用表的另一个表笔连接公共电极线。此时,万用表的选择开关可以处于电阻档。由于该栅线m与公共电极线之间存在不必要的连接(即发生短路),因此,当通过万用表将栅线m和公共电极线连接起来之后,万用表、栅线m和公共电极线形成一个回路,此时万用表的读数应该是非常小的,大概只有几百欧姆。
然后,按照预设规则对栅线m进行熔断处理,一般情况下,可以从栅线m上选择任意一点作为熔断点,在该熔断点的位置对栅线m进行熔断处理。优选地,在本发明实施例中,选择所述栅线m的中点作为熔断点x1,在所述熔断点x1处对所述栅线m进行熔断处理,如图2(b)所示。
接着,在栅线m熔断后,观察万用表的读数是否发生变化。
一种情况是:若万用表的读数发生变化且当前显示的读数超过了预设阈值,一般情况下,预设阈值应该是比较大的,可以理解为当前的读数为万用表的最大取值,或指针指向无穷大,此时,万用表连接的应该是熔断点与前端点A之间的线路和公共电极线,若当前万用表的读数超过了预设阈值,则说明万用表、熔断点x1与前端点A之间的线路、公共电极线并没有形成回路,短路位置并不在熔断点x1与前端点A之间的线路,则确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x1与后端点B之间的线路上。
另一种情况是:若万用表的读数并没有发生变化,则说明万用表、熔断点x1与前端点A之间的线路、公共电极线形成回路,短路位置在熔断点x1与前端点A之间的线路上,则确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点与前端点A之间的线路上。
无论是哪一种情况,均可以根据上述方案初步确定出该栅线m发生短路的位置所在的线路,这样,就可以将检测、调试的范围初步缩小,从而只对该栅线m的熔断点x1一侧的线路所对应的工艺制程或机器进行检测,无需对整个栅线m所对应的工艺制程或机器进行检测,从而提高了检测、调试效率。
实例2:将栅线m的短路位置定位至预设精度范围
基于上述实例1,可以初步得到栅线m的短路位置,但是,并不能将短路位置进一步细化。为此,本实例2基于上述实例1的方案,提出了一种将栅线m的短路位置定位至预设精度范围的方案。
如图3所示,为本发明实例2提供的将栅线m的短路位置定位至预设精度范围的方法流程示意图,该方案具体包括以下步骤:
步骤201:在通过上述实例1的方案初步确定了栅线m发生短路的大致位置之后,若确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x1与后端点B之间的线路上,则转入步骤202,若确定所述栅线m发生短路的位置位于所述熔断点x1与前端点A之间的线路上,则转入步骤203。
步骤202:针对确定的所述栅线m发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路,并将所述熔断点熔接,并转入步骤204。
步骤203:针对确定的所述栅线m发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路,并转入步骤204。
步骤204:按照预设规则对所述当前短路线路进行熔断处理。
步骤205:在所述当前短路线路熔断后,判断当前检测表的读数的变化是否达到预设阈值,若是,则执行步骤206,否则,执行步骤207。
步骤206:确定所述栅线m发生短路的位置位于所述短路线路中所述熔断点之后的线路上,并判断发生短路的位置所在的线路是否达到预设精度范围,若是,则结束该循环操作,否则,跳转至步骤202。
步骤207:确定所述栅线m发生短路的位置位于所述短路线路中所述熔断点之前的线路上,并判断发生短路的位置所在的线路是否达到预设精度范围,若是,则结束该循环操作,否则,跳转至步骤203。
具体地,可以通过图2(c)-图2(j)对上述循环方案进行说明。在本循环操作中,可以按照类似于“二分法”的方式对栅线m进行检测处理。在经过实例1的初步确定方案之后:
若确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x1与后端点B之间的线路上,如图2(c)所示,定义熔断点x1与后端点B之间的线路为短路线路1,并将熔断点x1熔接。之后,选择短路线路1的中点为熔断点x2,并熔断该熔断点x2,如图2(d)所示,在短路线路1熔断后,若当前万用表的读数的变化达到预设阈值,则确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x2与后端点B之间的线路上,否则,确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x2与前一熔断点x1之间的线路上。若确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x2与后端点B之间的线路上,如图2(e)所示,定义熔断点x2与前一熔断点x1之间的线路为短路线路2,选择短路线路2的中点为熔断点x3,并熔断该熔断点x3,如图2(f)所示,在短路线路2熔断后,若当前万用表的读数的变化达到预设阈值,则确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x3与相邻后一熔断点x2之间的线路上,否则,确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x3与相邻前一熔断点x1之间的线路上。
同理,若确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x1与前端点A之间的线路上,定义熔断点x1与前端点A之间的线路为短路线路1'。之后,选择短路线路1'的中点为熔断点x2',并熔断该熔断点x2',如图2(h)所示,在短路线路1'熔断后,若当前万用表的读数的变化达到预设阈值,则确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x2'与相邻后一熔断点x1之间的线路上,否则,确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x2'与前端点A之间的线路上。若确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x2'与前端点A之间的线路上,如图2(i)所示,定义熔断点x2'与前端点A之间的线路为短路线路2',选择短路线路2'的中点为熔断点x3',并熔断该熔断点x3',如图2(j)所示,在短路线路2'熔断后,若当前万用表的读数的变化达到预设阈值,则确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x3'与相邻后一熔断点x2'之间的线路上,否则,确定该栅线m发生短路的位置位于熔断点x3'与前端点A之间的线路上。
按照上述方法依次进行“二分法”熔断、检测处理,直至将栅线m的短路位置定位至预设精度范围,例如:将栅线m的短路位置定位至10个像素单元对应的位置上。从而,通过该方案可以将栅线m发生短路的位置进一步定位到更小的范围,使得后续对线路故障进行的工艺制程、机器等的检测、调试范围更加精确,提高了检测、调试的效率。
实例3:将栅线m的短路位置定位至像素单元对应位置
基于上述实例2,可以将栅线m的短路位置定位至预设精度范围内,假设如图2(f)所示,定位至熔断点x3与相邻后一熔断点x2之间的线路上,且该线路的长度为10个像素单元的长度。由于此时已经将范围定位的较小,可以通过上述“二分法”进一步对短路位置进行具体定位,也可以通过以下方式对短路位置进行具体定位:
如图4所示,为本发明实例3提供的将栅线m的短路位置定位至像素单元对应位置的演示图,针对确定的所述栅线发生短路的位置所在的线路,即熔断点x3与相邻后一熔断点x2之间的线路,定义所述线路为当前短路线路0,并熔接熔断点x3,从所述前一熔断操作对应的熔断点开始,按照一个像素单元的步长依次对所述当前短路线路进行熔断处理,并在检测表的读数的变化超过预设阈值时,将所述金属线发生短路的位置定位在当前熔断点与前一熔断操作对应的熔断点之间。
若所述当前短路线路位于前一熔断操作对应的熔断点之前,则从所述前一熔断操作对应的熔断点开始,按照一个像素单元的步长依次对所述当前短路线路进行熔断处理,并在检测表的读数的变化超过预设阈值时,将所述金属线发生短路的位置定位在当前熔断点与前一熔断操作对应的熔断点之间。
此外,本发明实施例还提供了一种确定线路故障位置的系统,如图5所示,包括:检测表31和激光器32,
其中,所述检测表31用于通过一个表笔连接检测发生线路故障的金属线的前端点,以及另一个表笔连接公共电极线,以检测所述发生线路故障的金属线与所述公共电极线之间的连接状况;
所述激光器32,用于对选择的熔断点进行熔断处理。
优选地,所述激光器,还用于在确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上时,对所述熔断点进行熔接处理,以使得所述检测表对所述熔断点与后端点之间的线路进行检测。
通过本发明的实施例,可以对位于膜层之间的金属线发生线路故障的位置进行初步定位,并通过类似“二分法”对确定的发生线路故障的位置进一步定位至预设精度范围,或定位至以像素单元为单位的位置级别。从而,可以准确的确定发生线路故障的位置,以便于操作人员对相应的工艺制程或机器进行检测、调试,避免同样的线路故障问题的发生。
尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种确定面板线路故障位置的方法,其特征在于,所述方法包括:
针对确定发生线路故障的金属线,将所述金属线的前端点连接检测表的一个表笔,所述检测表的另一个表笔连接公共电极线;
按照预设规则对所述金属线进行熔断处理;
在所述金属线熔断后,根据所述检测表的读数的变化确定所述金属线发生线路故障的位置。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,按照预设规则对所述金属线进行熔断处理,具体包括:
选择所述金属线的中点作为熔断点,在所述熔断点处对所述金属线进行熔断处理。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述金属线发生的线路故障为短路时,在所述金属线熔断后,根据所述检测表的读数的变化确定所述金属线发生短路的位置,具体包括;
在所述金属线熔断后,若当前检测表的读数的变化达到预设阈值,则确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上,否则,确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与所述前端点之间的线路上,其中,所述预设阈值根据所述金属线的阻值确定。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上,则转入步骤一;
若确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与前端点之间的线路上,则转入步骤二;
步骤一:针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路,并将所述熔断点熔接,并转入步骤三;
步骤二:针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路,并转入步骤三;
步骤三:按照预设规则对所述当前短路线路进行熔断处理;
步骤四:在所述当前短路线路熔断后,若当前检测表的读数的变化达到预设阈值,则执行步骤五,否则,执行步骤六;
步骤五:确定所述金属线发生短路的位置位于所述短路线路中所述熔断点之后的线路上,并判断发生短路的位置所在的线路是否达到预设精度范围,若是,则结束该循环操作,否则,跳转至步骤一;
步骤六:确定所述金属线发生短路的位置位于所述短路线路中所述熔断点之前的线路上,并判断发生短路的位置所在的线路是否达到预设精度范围,若是,则结束该循环操作,否则,跳转至步骤二。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,在结束上述循环操作之后,所述方法还包括:
针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路,定义所述线路为当前短路线路;
若所述当前短路线路位于前一熔断操作对应的熔断点之前,则从所述前一熔断操作对应的熔断点开始,按照一个像素单元的步长依次对所述当前短路线路进行熔断处理,并在检测表的读数的变化超过预设阈值时,将所述金属线发生短路的位置定位在当前熔断点与前一熔断操作对应的熔断点之间;
若所述当前短路线路位于前一熔断操作对应的熔断点之后,则熔接所述前一熔断操作对应的熔断点,从所述前一熔断操作对应的熔断点开始,按照一个像素单元的步长依次对所述当前短路线路进行熔断处理,并在检测表的读数的变化超过预设阈值时,将所述金属线发生短路的位置定位在当前熔断点与前一熔断操作对应的熔断点之间。
6.如权利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述金属线为栅线或数据线。
7.如权利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述检测表为万用表,所述预设阈值为电阻预设阈值或电流预设阈值。
8.如权利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述熔断、熔接操作通过激光照射实现。
9.一种确定面板线路故障位置的系统,其特征在于,包括:检测表和激光器,
其中,所述检测表用于通过一个表笔连接检测发生线路故障的金属线的前端点,以及另一个表笔连接公共电极线,以检测所述发生线路故障的金属线与所述公共电极线之间的连接状况;
所述激光器,用于对选择的熔断点进行熔断处理。
10.如权利要求9所述的系统,其特征在于,所述激光器,还用于在确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上时,对所述熔断点进行熔接处理,以使得所述检测表对所述熔断点与后端点之间的线路进行检测。
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