CN109164373A - 一种用于测试线材通断的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于测试线材通断的方法,包括以下步骤:1)选取一根脚位数量为n的标准线材,扫描并记录该标准线材的各脚位的电平数据,制作短断路表,该短断路表记为标准短断路表;2)选取脚位数量与标准线材脚位数量相同的被测线材,扫描并记录该被测线材的各脚位的电平数据,制作短断路表,该短断路表记为被测短断路表;3)将被测短断路表与标准短断路表中的相同位置的数据相减,得出被测线材各脚位之间的通断关系。本发明能够准确的扫描出带有二极管的线材的短断路表,并通过与标准短路表的比较得出线材的通断与否。
Description
技术领域
本发明涉及电子电路测试技术领域,尤其是一种用于测试线材通断的方法。
背景技术
现有技术中,测试线材通断的方法通常采用的是二分法,二分法虽然测试速度很快,但是线路中如果存在二极管元件时,扫描所得的短断路表就不能完整描述线材的实际结构。因为二极管是正向导通,反向截止,是单向导通特性;例如,当扫描得到脚位1到脚位2是短路,那么二分法同时认为脚位2到脚位1也是短路。所以二分法只能扫描单纯的线材,如果扫描带有二极管的线材就不适用了。因此二分法只能扫描双向导通的单纯线材。
但是,随着线材的发展,特别是自从USB3.1标准发布以来,Typec线材的运用越来越广泛,而Typec线材中就带有若干二极管元件,因此使用二分法进行扫描短断路表时,往往会产生错误。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:提供一种用于测试线材通断的方法,可以准确测试出带有二极管的线材的通断。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种用于测试线材通断的方法,包括以下步骤:
1)选取一根脚位数量为n的标准线材,扫描并记录该标准线材的各脚位的电平数据,制作短断路表,该短断路表记为标准短断路表;
2)选取脚位数量与标准线材脚位数量相同的被测线材,扫描并记录该被测线材的各脚位的电平数据,制作短断路表,该短断路表记为被测短断路表;
3)将被测短断路表与标准短断路表中的相同位置的数据相减,得出被测线材各脚位之间的通断关系。
进一步的说,本发明所述的步骤1)中,制作标准短断路表的方法是:
A、在线材的任意一个脚位上施加一个高电平;读取线材所有脚位的电平,并记录;其中,高电平记为1,低电平记为0;
B、重复步骤A,逐一在线材的其余脚位施加高电平,读取并记录每个脚位的电平;
C、根据得到的数据制作n×n的标准短断路表。
再进一步的说,本发明所述的步骤2)中,制作被测短断路表的方法是:
i、在线材的任意一个脚位上施加一个高电平;读取线材所有脚位的电平,并记录;其中,高电平记为1,低电平记为0;
ii、重复步骤A,逐一在线材的其余脚位施加高电平,读取并记录每个脚位的电平;
iii、根据得到的数据制作n×n的被刺短断路表。
再进一步的说,本发明所述的步骤3)中,被测短断路表与标准短断路表中的相同位置的数据相减,结果为0记为线材脚位m与其余脚位关系正常,-1记为线材脚位m与其余脚位关系断路,1记为线材脚位m与其余脚位关系短路。
再进一步的说,本发明所述的线材为带有一个或多个二极管的线材。
本发明的有益效果是,解决了背景技术中存在的缺陷,能够准确的扫描出带有二极管的线材的短断路表,并通过与标准短路表的比较得出线材的通断与否。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是一根带有一个二极管的8脚位标准线材示意图;
图2是一根与图1脚位相同的不良线材示意图。
具体实施方式
现在结合附图和优选实施例对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
一种用于测试线材通断的方法,假设现有一个线材,总共有n个脚位,那么逐一在每个脚位上施加高电平,同时读取每个脚位的电平,并且记录下来,高电平记为1,低电平记为0。总共需要扫描n次,每次扫描的数据都是独立的,表达了该脚位与其他脚位的关系。如果线材中有个二极管,正极为脚位1,负极为脚位2,在脚位1施加高电平,会得到脚位1和2均为高电平,表示脚位1到脚位2为短路;在脚位2施加高电平,只得到脚位2为高电平,表示脚位2到脚位1为断路;如此便可以准确地描述二极管2个脚位的关系。
下面举例来说明。
假设有一个8个脚位的线材,其中包含一个二极管,如下图1所示:
第1步:在脚位1上施加一个高电平(5V电压),接着读取所有脚位的电平,如果为高电平记为1,如果为低电平则记为0。
因为脚位1和脚位5是短路关系,所以脚位5也是高电平,所以结果为:
1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 |
第2步:在脚位2上施加一个高电平(5V电压),接着读取所有脚位的电平。
因为脚位2和脚位6是短路关系,所以脚位6也是高电平,所以结果为:
0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |
第3步:在脚位3上施加一个高电平(5V电压),接着读取所有脚位的电平。
因为脚位3和脚位7是短路关系,所以脚位7也是高电平,所以结果为:
0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
第4步:在脚位4上施加一个高电平(5V电压),接着读取所有脚位的电平。
因为脚位4和脚位8之间是二极管,并且是反方向,所以脚位8是低电平,所以结果为:
0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 |
第5步:在脚位5上施加一个高电平(5V电压),接着读取所有脚位的电平。
因为脚位5和脚位1是短路关系,所以脚位1也是高电平,所以结果为:
1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 |
第6步:在脚位6上施加一个高电平(5V电压),接着读取所有脚位的电平。
因为脚位6和脚位2是短路关系,所以脚位2也是高电平,所以结果为:
0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |
第7步:在脚位7上施加一个高电平(5V电压),接着读取所有脚位的电平。
因为脚位7和脚位3是短路关系,所以脚位3也是高电平,所以结果为:
0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
第8步:在脚位8上施加一个高电平(5V电压),接着读取所有脚位的电平。
因为脚位8和脚位4之间是二极管,并且是正方向,所以脚位4也是高电平,所以结果为:
0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 |
将第1步到第8步的结果整理到一张表格中,这张表格就是使用一对其他法测试得到的短断路表,
如下表所示:
脚位1 | 脚位2 | 脚位3 | 脚位4 | 脚位5 | 脚位6 | 脚位7 | 脚位8 | |
第1次 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 |
第2次 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |
第3次 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
第4次 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 |
第5次 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 |
第6次 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |
第7次 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
第8次 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 |
表1
判断线材短路和断路的不良情况,如下所示:
如图2所示,有这样一个不良的线材:
脚位1和脚位5发生了断路;
脚位2和脚位3发生了短路;
按照一对其他法进行测试,得到此线材的短断路表为:
脚位1 | 脚位2 | 脚位3 | 脚位4 | 脚位5 | 脚位6 | 脚位7 | 脚位8 | |
第1次 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
第2次 | 0 | 1 | 1 | 0 | 0 | 1 | 1 | 0 |
第3次 | 0 | 1 | 1 | 0 | 0 | 1 | 1 | 0 |
第4次 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 |
第5次 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 |
第6次 | 0 | 1 | 1 | 0 | 0 | 1 | 1 | 0 |
第7次 | 0 | 1 | 1 | 0 | 0 | 1 | 1 | 0 |
第8次 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 |
表2
表1是标准件的短断路表;
表2是未知被测件的短断路表;
将表2减去表1,两个表相同位置的两个数相减,那么我们得到如下的数据表:
脚位1 | 脚位2 | 脚位3 | 脚位4 | 脚位5 | 脚位6 | 脚位7 | 脚位8 | |
第1次 | 0 | 0 | 0 | 0 | -1 | 0 | 0 | 0 |
第2次 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
第3次 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |
第4次 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
第5次 | -1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
第6次 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
第7次 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |
第8次 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
表3
其中0表示正常,-1表示断路,1表示短路,那么从表3中可以读出:
脚位1:与脚位5是断路;
脚位2:与脚位3、脚位7是短路;
脚位3:与脚位2、脚位6是短路;
脚位4:正常;
脚位5:与脚位1是断路;
脚位6:与脚位3、脚位7是短路;
脚位7:与脚位2、脚位6是短路;
脚位8:正常;
继而可以分析得到:
脚位1与脚位5之间断路;
脚位2、3、6、7之间短路。
以上说明书中描述的只是本发明的具体实施方式,各种举例说明不对本发明的实质内容构成限制,所属技术领域的普通技术人员在阅读了说明书后可以对以前所述的具体实施方式做修改或变形,而不背离发明的实质和范围。
Claims (5)
1.一种用于测试线材通断的方法,其特征在于包括以下步骤:
1)选取一根脚位数量为n的标准线材,扫描并记录该标准线材的各脚位的电平数据,制作短断路表,该短断路表记为标准短断路表;
2)选取脚位数量与标准线材脚位数量相同的被测线材,扫描并记录该被测线材的各脚位的电平数据,制作短断路表,该短断路表记为被测短断路表;
3)将被测短断路表与标准短断路表中的相同位置的数据相减,得出被测线材各脚位之间的通断关系。
2.如权利要求1所述的一种用于测试线材通断的方法,其特征在于:所述的步骤1)中,制作标准短断路表的方法是:
A、在线材的任意一个脚位上施加一个高电平;读取线材所有脚位的电平,并记录;其中,高电平记为1,低电平记为0;
B、重复步骤A,逐一在线材的其余脚位施加高电平,读取并记录每个脚位的电平;
C、根据得到的数据制作n×n的标准短断路表。
3.如权利要求1所述的一种用于测试线材通断的方法,其特征在于:所述的步骤2)中,制作被测短断路表的方法是:
i、在线材的任意一个脚位上施加一个高电平;读取线材所有脚位的电平,并记录;其中,高电平记为1,低电平记为0;
ii、重复步骤A,逐一在线材的其余脚位施加高电平,读取并记录每个脚位的电平;
iii、根据得到的数据制作n×n的被刺短断路表。
4.如权利要求1所述的一种用于测试线材通断的方法,其特征在于:所述的步骤3)中,被测短断路表与标准短断路表中的相同位置的数据相减,结果为0记为线材脚位m与其余脚位关系正常,-1记为线材脚位m与其余脚位关系断路,1记为线材脚位m与其余脚位关系短路。
5.如权利要求1所述的一种用于测试线材通断的方法,其特征在于:所述的线材为带有一个或多个二极管的线材。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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