CN204789899U

CN204789899U - 一种测试适配器

Info

Publication number: CN204789899U
Application number: CN201520421277.1U
Authority: CN
Inventors: 胡文菊; 冯振平
Original assignee: CASIC Defense Technology Research and Test Center
Current assignee: CASIC Defense Technology Research and Test Center
Priority date: 2015-06-17
Filing date: 2015-06-17
Publication date: 2015-11-18
Anticipated expiration: 2025-06-17

Abstract

本实用新型公开了一种测试适配器，包括：子板和母板；所述子板包含管脚插孔和排针；所述管脚插孔和排针通过导线连接；所述母板包含排针插孔、测试数据口、电源接口、控制开关和控制接口；所述排针插孔通过所述控制开关与所述测试数据口、所述电源接口和所述控制接口连接；待测二极管器件通过器件管脚与所述子板的所述管脚插孔连接；所述子板通过所述排针与所述排针插孔连接；所述母板通过所述测试数据口、所述电源接口和所述控制接口与测试系统的测试数据口、电源接口和控制接口连接。本实用新型克服了现有测试的缺点，能一次性快速实现器件全部参数的测试需求，同时由于采用了开尔文接线，大大提高了测试精度和产品批量测试的效率。

Description

一种测试适配器

技术领域

本实用新型涉及电子器件的可靠性筛选及测试技术领域，特别是指一种测试适配器。

背景技术

当今，随着手机、电脑等电子设备的产生与发展，作为最常用的电子元器件之一的二极管得到了飞速地发展。通常我们将几个二极管通过一定的连接方式组成一类二极管组件而得到一定功能的组件，为了保证这些二极管能发挥应有的作用，检测并筛选二极管就显得尤为重要。目前最常见的二极管检测方法就是采用万用表，将万用表打到电阻档，测量二极管两端的正向和反向电阻，如果正向电阻很小且反相电阻很大，这就说明这个二极管是好的，但是这种方法只是适用于个别二极管的检测，而且无法得到精确可靠的测试参数。

为了得到准确的二极管参数，专业检测人员一般采用分立测试系统，参照图1所示，为现有技术测试方法示意图，采用分立测试系统需要通用测试夹具和插针配合与测试设备连接才能完成测试工作，测试方法按照二极管的测试原理，即二极管的阳极与通用测试夹具的阳极相连，二极管的阴极与通用测试夹具的阴极相连，逐一进行测试，不仅测试效率低、误差大，而且由于二极管器件各管脚间的尺寸较小，极易在测试时短路，从而对器件造成损伤。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种能够高效、精确而且一次性快速测试二极管器件全部参数的测试适配器，以满足产品的批量测试需求。

基于上述目的本实用新型提供了一种测试适配器，包括：子板和母板；所述子板包含管脚插孔和排针；所述管脚插孔与所述排针通过导线连接；所述母板包含排针插孔、测试数据口、电源接口、控制开关和控制接口；所述排针插孔通过所述控制开关与所述测试数据口、所述电源接口和所述控制接口连接；待测二极管器件通过器件管脚与所述子板的所述管脚插孔连接；所述子板通过所述排针与所述母板的所述排针插孔连接；所述母板通过所述测试数据口、所述电源接口和所述控制接口与测试系统的测试数据口、电源接口和控制接口连接。

所述子板中的所述排针分为阴极排针和阳极排针；待测二极管的阳极通过所述管脚插孔与所述阴极排针连接；待测二极管的阴极通过所述管脚插孔与所述阳极排针连接。

待测二极管的阳极和阴极通过所述阴极排针和所述阳极排针均由一个接线端引出为两个接线端。

所述测试数据口分为测试数据口E端和测试数据口C端；所述排针插孔分为阴极排针插孔和阳极排针插孔；所述子板通过所述阴极排针和所述阳极排针分别与所述阴极排针插孔和所述阳极排针插孔连接；所述阴极排针插孔与所述测试数据口E端连接并通过所述母板的所述测试数据口E端与测试系统的测试数据口E端连接；所述阳极排针插孔通过所述控制开关连接到所述母板的所述电源接口、所述测试数据口C端和所述控制接口，并通过所述母板的所述电源接口、所述测试数据口C端和所述控制接口连接到测试系统的电源接口、测试数据口C端和控制接口。

所述控制开关为继电器；所述继电器有8个管脚，分别为两个第一常开开关接口、两个第二常开开关接口、电源口、控制口以及两个备用接口；所述阳极排针插孔分别与所述继电器的所述第一常开开关接口的一端和所述第二常开开关接口的一端连接；所述电源接口与所述电源口连接；所述控制接口与所述控制口连接；所述测试数据口C端分为CS端和CF端，所述CS端和所述CF端分别与所述第一常开开关接口的另一端和所述第二常开开关接口的另一端连接；所述测试适配器通过测试系统控制所述继电器的切换逐个完成二极管器件的参数测试。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的测试适配器，通过利用分立器件测试系统为平台，并设计子板和母板，使得测试连接过程简单快捷，也即实现了一次性快速测试器件全部参数的需求；同时由于采用了开尔文接线，大大提高了二极管器件的测试精度；所以本实用新型很好的完成了二极管器件的可靠性筛选和测试。

附图说明

图1为现有技术测试方法示意图；

图2为本实用新型提供的测试适配器实施例测试适配器连接示意图；

图3为本实用新型提供的测试适配器实施例BAS70-04S型器件内部结构示意图；

图4为本实用新型提供的测试适配器实施例子板接线设计示意图；

图5为本实用新型提供的测试适配器实施例母板接线设计示意图；

图6为本实用新型提供的测试适配器实施例继电器结构示意图；

图7为本实用新型提供的测试适配器实施例测试线路原理示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。

需要说明的是，本实用新型实施例中所有使用“第一”、“第二”、“第三”、“第四”、“第五”、“第六”的表述均是为了区分多个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”、“第二”、“第三”、“第四”、“第五”、“第六”仅为了表述的方便，不应理解为对本实用新型实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。

参照图2所示，为本实用新型测试适配器连接示意图。所述测试适配器包括：子板和母板；所述子板包含管脚插孔和排针；所述管脚插孔与所述排针通过导线连接；所述母板包含排针插孔、测试数据口、电源接口、控制开关和控制接口；所述排针插孔通过所述控制开关与所述测试数据口、所述电源接口和所述控制接口连接；待测二极管器件通过器件管脚与所述子板的所述管脚插孔连接；所述子板通过所述排针与所述母板的所述排针插孔连接；所述母板通过所述测试数据口、所述电源接口和所述控制接口与测试系统的测试数据口、电源接口和控制接口连接。

为使本实用新型便于理解，本实施例选用BC3193分立器件测试系统为测试平台，选用BAS70-04S型器件为待测二极管器件作为具体方案说明。

参照图3所示，为本实施例BAS70-04S型器件内部结构示意图；所述BAS70-04S型器件包含第一管脚21、第二管脚22、第三管脚23、第四管脚24、第五管脚25、第六管脚26、第一二极管271、第二二极管272、第三二极管273和第四二极管274。

参照图4所示，为子板接线设计示意图；所述子板包括：阴极排针31、阳极排针32、第一管脚插孔331、第二管脚插孔332、第三管脚插孔333、第四管脚插孔334、第五管脚插孔335、第六管脚插孔336。所述阴极排针31和所述阳极排针32与所述母板连接；所述第一管脚插孔331、所述第二管脚插孔332、所述第三管脚插孔333、所述第四管脚插孔334、所述第五管脚插孔335和所述第六管脚插孔336分别与所述BAS70-04S型器件的所述第一管脚21、所述第二管脚22、所述第三管脚23、所述第四管脚24、所述第五管脚25和所述第六管脚26连接。

所述子板与所述BAS70-04S型器件连接时，根据本实施例选用的BC3193分立器件测试系统的测试原理，待测二极管的阳极与所述阴极排针31连接，待测二极管的阴极与所述阳极排针32连接，形成测试回路，详细地为：所述第一二极管271的阳极接入所述阴极排针31中的ES1端和EF1端，所述第一二极管271的阴极接入所述阳极排针32中的CS1端和CF1端；所述第二二极管272的阳极接入所述阴极排针31中的ES2端和EF2端，所述第二二极管272的阴极接入所述阳极排针32中的CS2端和CF2端；所述第三二极管273的阳极接入所述阴极排针31中的ES3端和EF3端，所述第三二极管273的阴极接入所述阳极排针32中的CS3端和CF3端；所述第四二极管274的阳极接入所述阴极排针31中的ES4端和EF4端，所述第四二极管274的阴极接入所述阳极排针32中的CS4端和CF4端。这样将待测二极管的阳极接线和阴极接线都引出两个接线端，也即在所述阴极排针31端和所述阳极排针32端强制进行了开尔文接线，目的是为了在测试二极管参数时获得更准确的测试结果。

需要说明的是，所述子板的接线设计是根据选用的BAS70-04S型器件的管脚及内部二极管分布而针对设计的，对于其他二极管组件，所述子板可以根据不同管脚和内部二极管分布做出对应接线设计。

参照图5所示，为母板接线设计示意图；所述母板包括：阴极排针插孔41、阳极排针插孔42、第一继电器431、第二继电器432、第三继电器433、第四继电器434、电源接口44、测试数据口E端45、测试数据口C端46和控制接口47；所述阴极排针插孔41与所述阴极排针31连接；所述阳极排针插孔42与所述阳极排针32连接；所述测试数据口E端45和所述测试数据口C端46分别连接到BC3193分立器件测试系统测试数据口的E端和测试数据口C端，用于测试待测二极管的参数；所述电源接口44连接到BC3193分立器件测试系统的电源接口，用于给母板、子板以及待测BAS70-04S器件提供电源；所述控制接口47连接到BC3193分立器件测试系统的控制接口，用于控制所述继电器的开、关。

所述继电器为8脚继电器，如图6所示，所述继电器包含第一常开开关接口4301和4304、第二常开开关接口4305和4308、电源口4306、控制口4307以及未使用的空接口4302和4303。

所述母板内部详细接线为：所述测试数据口E端45分为ES端和EF端，所述ES端和所述EF端均与所述阴极排针插孔41连接；所述阴极排针插孔41的所有插孔均相互连接，图中未显示；所述阳极排针插孔42的所有插孔均相互连接，图中未显示；所述阳极排针插孔42的插孔分别与所述继电器第一常开开关接口的一端4301和所述第二常开开关接口的一端4305连接；所述电源接口44与所述继电器的电源口4306连接；所述控制接口47与所述继电器的控制口4307连接；所述测试数据口C端46分为CS端和CF端，所述CS端和所述CF端分别与所述第一常开开关接口的另一端4304和所述第二常开开关接口的另一端4308连接。母板中所示左端的继电器、左端继电器的接线以及中间的测试数据口B端均是为了便于后续母板改进的结构部分，本实施例并未使用，本实施例在此不做说明。

需要说明的是，由于采用一端的开尔文接线即可实现提高测试精确度的要求，本实施例只选用所述测试数据口C端46采用开尔文接线，而所述测试数据口E端45为直接连接的方式，如有必要，也可选择两端均采用开尔文接线方式连接。

所述待测二极管的阳极通过所述子板的所述阴极排针31连接到所述母板的所述阴极排针插孔41，所述阴极排针插孔41通过所述母板的所述测试数据口E端45连接到测试系统的测试数据口E端；所述待测二极管的阴极通过所述子板的所述阳极排针32连接到所述母板的所述阳极排针插孔42，所述阳极排针插孔42通过所述继电器连接到所述母板的所述电源接口44、所述测试数据口C端46和所述控制接口47，并通过所述母板的所述电源接口44、所述测试数据口C端46和所述控制接口47连接到测试系统的电源接口、测试数据口C端和控制接口，形成一个完整测试回路。参照图7所示，为本实用新型实施例测试线路原理示意图；中间部分的4个二极管分别为BAS70-04S型器件中的所述第一二极管271、所述第二二极管272、所述第三二极管273和所述第四二极管274；所述第一继电器431、所述第二继电器432、所述第三继电器433和所述第四继电器434分别为所述母板中的4个继电器；图7左端的ES端和EF端为所述母板测试数据口E端45，分别连接到测试系统的ES端和EF端；图7右端的CS端和CF端为所述母板测试数据口C端46，分别连接到测试系统的CS端和CF端。通过在BC3193分立器件测试系统中进行编程来自动控制所述继电器的切换，可以一次性快速实现器件所有二极管参数测试，具体测试过程为：初始时所有继电器均断开，合上所述第一继电器431，完成所述第一二极管271的测试，然后断开所述第一继电器431；合上所述第二继电器432，完成所述第二二极管272的测试，然后断开所述第二继电器432；合上所述第三继电器433，完成所述第三二极管273的测试，然后断开所述第三继电器433；合上所述第四继电器434，完成所述第四二极管274的测试，然后断开所述第四继电器434，完成测试。

本实用新型通过设计子板和母板的接线，使待测二极管器件与测试系统之间的连接更为快速、简便，而且能够一次性测量器件中所有二极管的参数，又由于本实用新型采用了开尔文接线，极大的提高了测试的精度。所以本实用新型明显改变了以往测试效率低、误差大以及易操作失误的弊端。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims

1.一种测试适配器，其特征在于，包括：子板和母板；所述子板包含管脚插孔和排针；所述管脚插孔与所述排针通过导线连接；所述母板包含排针插孔、测试数据口、电源接口、控制开关和控制接口；所述排针插孔通过所述控制开关与所述测试数据口、所述电源接口和所述控制接口连接；待测二极管器件通过器件管脚与所述子板的所述管脚插孔连接；所述子板通过所述排针与所述母板的所述排针插孔连接；所述母板通过所述测试数据口、所述电源接口和所述控制接口与测试系统的测试数据口、电源接口和控制接口连接。

2.根据权利要求1所述测试适配器，其特征在于，所述子板中的所述排针分为阴极排针和阳极排针；待测二极管的阳极通过所述管脚插孔与所述阴极排针连接；待测二极管的阴极通过所述管脚插孔与所述阳极排针连接。

3.根据权利要求2所述测试适配器，其特征在于，待测二极管的阳极和阴极通过所述阴极排针和所述阳极排针均由一个接线端引出为两个接线端。

4.根据权利要求2所述测试适配器，其特征在于，所述测试数据口分为测试数据口E端和测试数据口C端；所述排针插孔分为阴极排针插孔和阳极排针插孔；所述子板通过所述阴极排针和所述阳极排针分别与所述阴极排针插孔和所述阳极排针插孔连接；所述阴极排针插孔与所述测试数据口E端连接并通过所述母板的所述测试数据口E端与测试系统的测试数据口E端连接；所述阳极排针插孔通过所述控制开关连接到所述母板的所述电源接口、所述测试数据口C端和所述控制接口，并通过所述母板的所述电源接口、所述测试数据口C端和所述控制接口连接到测试系统的电源接口、测试数据口C端和控制接口。

5.根据权利要求4所述的测试适配器，其特征在于，所述控制开关为继电器；所述继电器有8个管脚，分别为两个第一常开开关接口、两个第二常开开关接口、电源口、控制口以及两个备用接口；所述阳极排针插孔分别与所述继电器的所述第一常开开关接口的一端和所述第二常开开关接口的一端连接；所述电源接口与所述电源口连接；所述控制接口与所述控制口连接；所述测试数据口C端分为CS端和CF端，所述CS端和所述CF端分别与所述第一常开开关接口的另一端和所述第二常开开关接口的另一端连接；所述测试适配器通过测试系统控制所述继电器的切换逐个完成二极管器件的参数测试。