CN108196182B - 飞针测试的基准网络选取方法和装置 - Google Patents

Abstract

一种飞针测试的基准网络选取方法、装置、计算机设备和存储介质，该方法包括：获取待测印刷电路板中基准网络、层号、基准网络和测试网络之间的对应关系；获取测点数量最多的基准网络参考层号；根据层号与基准网络的对应关系，将层号与参考层号一致基准网络作为备选基准网络；根据测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络对应的测试网络；各备选基准网络为测试网络的选取结果。通过基准网络与层、测试网络之间的关系，获取与测点数量最多的基准网络，并将其作为备选的基准网络，确定备选基准网络对应的测试网络后便可得出备选的基准网络是合适的基准网络，步骤简单有效，能够很好的提升合适的基准网络的选取效率。

Description

飞针测试的基准网络选取方法和装置

技术领域

本发明涉及飞针测试技术领域，特别是涉及一种飞针测试的基准网络选取方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

在利用飞针测试机对印制电路板(PCB)进行测试时，测试人员会利用CAM软件将PCB的GerBer文件转换成飞针设备测试用的Ipc文件，通常一块PCB上有数千甚至上万的测试点，如果仅仅通过利用欧姆定律对各个网络进行电阻测量来判断线路的是否存在异常则需要大量的时间，因此目前通常采用电容法结合电阻验证的方法来判断线路是否存在异常。

电容测试法是将一个弦波的信号加入基准网络，由线路层来取得相位落后的角度，从而取得电容值，最后通过比较电容值与良品电容值的大小来判断线路是否存在异常，然后再用电阻法来验证，而此方法的关键就是基准网络的选取，因为每个待测网络一般会有多条基准网络，只有选取最合适的基准网络才能获取准确的电容值。

但是在现有技术中，往往采用实际测量的方式来获取基准网络，每条待测网络可能存在多条基准网络，实际测量会依次获取待测网络相对于每条基准网络的电容值，然后找出最大电容值对应的基准网络作为最终的基准网络。这种选取方法势必导致飞针整机测试效率的降低。

发明内容

基于此，有必要针对实际测量获取基准网络导致测试效率降低的问题，提供一种飞针测试的基准网络选取方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种飞针测试的基准网络选取方法，包括：

获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系；

获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号；

根据层号与基准网络的对应关系，将层号与获取的参考层号一致基准网络作为备选基准网络；

根据测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络所对应的测试网络；各备选基准网络为测试网络的选取结果。

在一个实施例中，飞针测试的基准网络选取方法还包括：当根据层号与基准网络的对应关系，不存在层号与获取的参考层号一致基准网络时，删除参考层号所对应的基准网络；

返回获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号的步骤，直至存在层号与获取的参考层号一致基准网络。

在一个实施例中，获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤，包括：

读取被测印刷线路板的测试文件；

根据测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

在一个实施例中，根据测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤，包括：

将每条待测网络的所有基准网络存储于基准网络集合中；

将基准网络按层存储；

将测试网络与基准网络结合存储。

一种飞针测试的基准网络选取装置，其特征在于，包括：

获取装置：用于获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系；

层号获取装置：用于获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号；

选取装置：用于根据层号与基准网络的对应关系，将层号与获取的参考层号一致基准网络作为备选基准网络；

确定装置：用于根据测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络所对应的测试网络；各备选基准网络为测试网络的选取结果。

在一个实施例中，基准网络选取装置还包括：

删除装置：用于当根据层号与基准网络的对应关系，不存在层号与获取的参考层号一致基准网络时，删除参考层号所对应的基准网络。

在一个实施例中，获取装置包括：

文件读取装置：用于读取被测印刷线路板的测试文件；

关系获取装置：用于根据测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

在一个实施例中，关系获取装置包括：

基准网络存储装置：按层存储每条待测网络的所有基准网络；

结合存储装置：将测试网络与基准网络结合存储。

一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，处理器执行计算机程序时实现上述的飞针测试的基准网络选取方法的步骤。

一种存储介质，其上存储有计算机程序，其中，该程序被处理器执行时实现上述的飞针测试的基准网络选取方法的步骤。

上述飞针测试的基准网络选取方法，通过基准网络与层、测试网络之间的关系，获取与测点数量最多的基准网络在同一个层的基准网络，并将其作为备选的基准网络，在确定备选基准网络对应的测试网络后便可得出备选的基准网络是选取出的合适的基准网络，步骤简单有效，能够很好的提升合适的基准网络的选取效率。

附图说明

图1为一实施例的飞针测试的基准网络选取方法的流程图；

图2为一实施例的获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤的流程图；

图3为一实施例的根据测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤的流程图；

图4为一实施例的飞针测试的基准网络选取方法的流程图；

图5为一实施例的飞针测试的基准网络选取装置的示意图；

图6为另一实施例的飞针测试的基准网络选取装置的示意图；

图7为一实施例的获取装置的示意图；

图8为一实施例的关系获取装置的示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图和实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

图1为一实施例的飞针测试的基准网络选取方法的流程图。如图1所示，本发明提供一种飞针测试的基准网络选取方法，包括：

步骤S102：获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

具体的，印刷线路板(PCB)是电子元器件的支撑体，是电子元器件电气连接的载体，电子设备采用印制板后，由于同类印制板的一致性，从而避免了人工接线的差错，并可实现电子元器件自动插装或贴装、自动焊锡、自动检测，保证了电子设备的质量，提高了劳动生产率、降低了成本，并便于维修。

具体的，基准网络一般是印刷电路板中的电源层或大地层，每个印刷电路板包含多个层，每一层对应不同的基准网络，层号与基准网络的对应关系即为每一层与对应的基准网络之间的组合。测试网络如果在某个网络上有投影，那么便可以认为这个投影网络是测试网络的基准网络。

在本实施例中，可以将测试网络、基准网络和层之间的关系按照集合来进行存储。具体地，将每条测试网络的所有基准网络存储于基准网络集合Project中，并将基准网络按层存储于LayerPorNet集合中，存储格式为<层号，基准网络>，然后再将基准网络与测试网络结合存储于数据集合TestLayerProNet中，存储格式为<测试网络，<层号，基准网络>>，由此生成了基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

应当知道，本实施例中所采用的存储格式并不限定于集合，根据不同的需求可以采用不同的存储方法，任何可以实现如本实施例中存储方法的存储手段均应在保护范围之内，如还可以采用数组等方式进行基准网络、层及测试网络之间关系的存储。

步骤S104：获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号。

通常一块印刷电路板上有数千甚至上万的测试点，每条测试网络包含多个基准网络，每条基准网络包含不同数量的测试点，在获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系之后，根据LayerPorNet集合<层号，基准网络>，可以选出测试点数量最多的基准网络maxCountProNet对应的层号，并将该层号选取为参考层号。

步骤S106：根据层号与基准网络的对应关系，将层号与获取的参考层号一致基准网络作为备选基准网络。

在获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系之后，得出测试点数量最多的基准网络maxCountProNet对应的参考层号，选出所有在该参考层号的基准网络，将测试点数量最多的基准网络maxCountProNet所在的层的所有基准网络作为备选的基准网络。

步骤S108：根据测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络所对应的测试网络；各备选基准网络为测试网络的选取结果。

根据基准网络、层号与基准网络的对应关系以及测试网络和基准网络的对应关系，将测试点数量最多的基准网络maxCountProNet所在的层的所有基准网络作为备选的基准网络，并根据存储格式为<测试网络，<层号，基准网络>>的数据集合TestLayerProNet选出与备选的基准网络对应的测试网络，并将选出的测试网络与备选的基准网络形成基准网络与测试网络的存储集合ProNetTestNet，存储格式为<基准网络，测试网络>，且该基准网络与测试网络的存储结合ProNetTestNet便是备选的最合适的基准网络。

上述飞针测试的基准网络选取方法，通过基准网络与层、测试网络之间的关系，获取与测点数量最多的基准网络在同一个层的基准网络，并将其作为备选的基准网络，在确定备选基准网络对应的测试网络后便可得出备选的基准网络是选取出的合适的基准网络，步骤简单有效，能够很好的提升合适的基准网络的选取效率。

图2为一实施例的获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤的流程图。如图2所示，在一个实施例中，获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤，包括：

步骤S202：读取被测印刷线路板的测试文件。

具体地，利用计算机辅助制造软件(CAM)将印刷电路板的GerBer文件转换成飞针设备测试用的Ipc文件，Gerber文件是线路板行业软件描述线路板(线路层、阻焊层、字符层等)图像及钻、铣数据的文档格式集合，是线路板行业图像转换的标准格式，ipc文件是飞针测试文件的统称，其中包括.emm/.ipc/.356文件等。

步骤S204：根据测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

将每条测试网络的所有基准网络存储于基准网络集合Project中，并将基准网络按层存储于LayerPorNet集合中，存储格式为<层号，基准网络>，然后再将基准网络与测试网络结合存储于数据集合TestLayerProNet中，存储格式为<测试网络，<层号，基准网络>>，由此生成了基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

图3为一实施例的根据测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤的流程图。如图3所示，在一个实施例中，根据测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤，包括：

步骤S302：将每条待测网络的所有基准网络存储于基准网络集合中。

具体的，一条待测网络包括多个基准网络，在读取印刷电路板的测试文件以后，获取统计网络的测点数量，然后将每条待测网络的所有基准网络存储于基准网络集合中。

步骤S304：将基准网络按层存储。

具体的，将印刷电路板分为多个层，每一层可以存储多个基准网络，将每条待测网络的基准网络按层存储于LayerPorNet集合中，存储格式为<层号，基准网络>。

步骤S306：将测试网络与基准网络结合存储。

具体的，将测试网络与基准网络结合在一起生成格式为<测试网络,<层号，基准网络>>的数据集合TestLayerProNet。

通过读取印刷电路板的测试资料，使印刷电路板的基准网络与测试网络对应存储于一个集合中，更便于获取基准网络对应的测试网络。

图4为另一实施例的飞针测试的基准网络选取方法的流程图。如图4所示，在一个实施例中，飞针测试的基准网络选取方法还包括：

步骤S401：获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

在本实施例中，可以将测试网络、基准网络和层之间的关系按照集合来进行存储。具体地，将每条测试网络的所有基准网络存储于基准网络集合Project中，并将基准网络按层存储于LayerPorNet集合中，存储格式为<层号，基准网络>，然后再将基准网络与测试网络结合存储于数据集合TestLayerProNet中，存储格式为<测试网络，<层号，基准网络>>，由此生成了基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

步骤S402：获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号。

通常一块印刷电路板上有数千甚至上万的测试点，每条测试网络包含多个基准网络，每条基准网络包含不同数量的测试点，在获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系之后，根据LayerPorNet集合<层号，基准网络>，可以选出测试点数量最多的基准网络maxCountProNet对应的层号，并将该层号选取为参考层号。

步骤S403：根据层号与基准网络的对应关系，将层号与获取的参考层号一致基准网络作为备选基准网络。

在获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系之后，得出测试点数量最多的基准网络maxCountProNet对应的参考层号，选出所有在该参考层号的基准网络，将测试点数量最多的基准网络maxCountProNet所在的层的所有基准网络作为备选的基准网络。

步骤S404：根据测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络所对应的测试网络；各备选基准网络为测试网络的选取结果。

根据基准网络、层号与基准网络的对应关系以及测试网络和基准网络的对应关系，将测试点数量最多的基准网络maxCountProNet所在的层的所有基准网络作为备选的基准网络，并根据存储格式为<测试网络，<层号，基准网络>>的数据集合TestLayerProNet选出与备选的基准网络对应的测试网络，并将选出的测试网络与备选的基准网络形成基准网络与测试网络的存储集合ProNetTestNet，存储格式为<基准网络，测试网络>，且该基准网络与测试网络的存储结合ProNetTestNet便是备选的最合适的基准网络。

步骤S405：当根据层号与基准网络的对应关系，不存在层号与获取的参考层号一致基准网络时，删除参考层号所对应的基准网络。

在实际的测试文件中往往存在一些测试网络在最大基准网络所在的层没有对应的基准网络，即不存在层号与获取的参考层号一致的基准网络，此时需要在基准网络所在层以外的层选取基准网络。

具体的，需要删除参考层号所对应的层及该层所有的基准网络，从基准网络与测试网络的存储集合ProNetTestNet<层号，基准网络>中将最大基准网络对应的层及其基准网络剔除，生成新的基准网络集合NewLayerProNet，格式与集合LayerPorNet一致，仍为<层号，基准网络>。

步骤S406：返回获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号的步骤，直至存在层号与获取的参考层号一致基准网络。

具体的，返回步骤S104，在从基准网络与测试网络的存储集合ProNetTestNet<层号，基准网络>中删除了最大基准网络对应的层及其基准网络的基础上，选取新的基准网络集合NewLayerProNet中测试点数量最多的基准网络，并记录测试点数量最多的基准网络对应的层号，并将该层号选取为新的参考层号。

根据基准网络、层号与基准网络的对应关系以及测试网络和基准网络的对应关系，得出新的测试点数量最多的基准网络对应的参考层号，选出新的参考层号所有对应的基准网络，将新的测试点数量最多的基准网络所在的层的所有基准网络作为备选的基准网络。

将新的测试点数量最多的基准网络所在的层的所有基准网络作为新的备选基准网络，并根据存储格式为<测试网络，<层号，基准网络>>的数据集合TestLayerProNet选出与新的备选基准网络对应的测试网络，并将选出的测试网络与新的备选基准网络形成基准网络与测试网络存储于ProNetTestNet集合中。

至此，便完成了所有的基准网络的选取工作。

本实施例的飞针测试的基准网络选取方法，考虑到了在实际的测试文件中往往存在一些测试网络在最大基准网络所在的层没有对应的基准网络的情况，通过在基准网络所在层以外的层选取基准网络，获取到了所有的基准网络及其对应的测试网络，形成了最终的测试集合，很大的提高了基准网络的选取效率。

图5为一实施例的飞针测试的基准网络选取装置的示意图。如图5所示，在一个实施例中，本发明提供一种飞针测试的基准网络选取装置，包括：

获取装置100：用于获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

在本实施例中，可以将测试网络、基准网络和层之间的关系按照集合来进行存储。具体地，将每条测试网络的所有基准网络存储于基准网络集合Project中，并将基准网络按层存储于LayerPorNet集合中，存储格式为<层号，基准网络>，然后再将基准网络与测试网络结合存储于数据集合TestLayerProNet中，存储格式为<测试网络，<层号，基准网络>>，由此生成了基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

层号获取装置200：用于获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号。

通常一块印刷电路板上有数千甚至上万的测试点，每条测试网络包含多个基准网络，每条基准网络包含不同数量的测试点，在获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系之后，根据LayerPorNet集合<层号，基准网络>，可以选出测试点数量最多的基准网络maxCountProNet对应的层号，并将该层号选取为参考层号。

选取装置300：用于根据层号与基准网络的对应关系，将层号与获取的参考层号一致基准网络作为备选基准网络。

在获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系之后，得出测试点数量最多的基准网络maxCountProNet对应的参考层号，选出所有在该参考层号的基准网络，将测试点数量最多的基准网络maxCountProNet所在的层的所有基准网络作为备选的基准网络。

确定装置400：用于根据测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络所对应的测试网络，各备选基准网络为测试网络的选取结果。

根据基准网络、层号与基准网络的对应关系以及测试网络和基准网络的对应关系，将测试点数量最多的基准网络maxCountProNet所在的层的所有基准网络作为备选的基准网络，并根据存储格式为<测试网络，<层号，基准网络>>的数据集合TestLayerProNet选出与备选的基准网络对应的测试网络，并将选出的测试网络与备选的基准网络形成基准网络与测试网络的存储集合ProNetTestNet，存储格式为<基准网络，测试网络>，且该基准网络与测试网络的存储结合ProNetTestNet便是备选的最合适的基准网络。

上述飞针测试的基准网络选取装置，通过基准网络与层、测试网络之间的关系，获取与测点数量最多的基准网络在同一个层的基准网络，并将其作为备选的基准网络，在确定备选基准网络对应的测试网络后便可得出备选的基准网络是选取出的合适的基准网络，步骤简单有效，能够很好的提升合适的基准网络的选取效率。

图6为另一实施例的飞针测试的基准网络选取装置的示意图。如图6所示，在一个实施例中，基准网络选取装置还包括：

删除装置500：用于当根据层号与基准网络的对应关系，不存在层号与获取的参考层号一致基准网络时，删除参考层号所对应的基准网络。

在实际的测试文件中往往存在一些测试网络在最大基准网络所在的层没有对应的基准网络，即不存在层号与获取的参考层号一致的基准网络，此时需要在基准网络所在层以外的层选取基准网络。

具体的，需要删除参考层号所对应的层及该层所有的基准网络，从基准网络与测试网络的存储集合ProNetTestNet<层号，基准网络>中将最大基准网络对应的层及其基准网络剔除，生成新的基准网络集合NewLayerProNet，格式与集合LayerPorNet一致，仍为<层号，基准网络>。

在删除参考层号所对应的基准网络后，返回步骤S104。，在从基准网络与测试网络的存储集合ProNetTestNet<层号，基准网络>中删除了最大基准网络对应的层及其基准网络的基础上，选取新的基准网络集合NewLayerProNet中测试点数量最多的基准网络，并记录测试点数量最多的基准网络对应的层号，并将该层号选取为新的参考层号。

根据基准网络、层号与基准网络的对应关系以及测试网络和基准网络的对应关系，得出新的测试点数量最多的基准网络对应的参考层号，选出新的参考层号所有对应的基准网络，将新的测试点数量最多的基准网络所在的层的所有基准网络作为备选的基准网络。

图7为一实施例的获取装置的示意图。如图7所示，在一个实施例中，获取装置100包括：

文件读取装置120：用于读取被测印刷线路板的测试文件。

具体地，利用计算机辅助制造软件(CAM)将印刷电路板的GerBer文件转换成飞针设备测试用的Ipc文件，Gerber文件是线路板行业软件描述线路板(线路层、阻焊层、字符层等)图像及钻、铣数据的文档格式集合，是线路板行业图像转换的标准格式，ipc文件是飞针测试文件的统称，其中包括.emm/.ipc/.356文件等。

关系获取装置140：用于根据测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

将每条测试网络的所有基准网络存储于基准网络集合Project中，并将基准网络按层存储于LayerPorNet集合中，存储格式为<层号，基准网络>，然后再将基准网络与测试网络结合存储于数据集合TestLayerProNet中，存储格式为<测试网络，<层号，基准网络>>，由此生成了基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

图8为一实施例的关系获取装置的示意图。如图8所示，在一个实施例中，关系获取装置140包括：

基准网络存储装置142：按层存储每条待测网络的所有基准网络。

结合存储装置144：将测试网络与基准网络结合存储。

一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，处理器执行计算机程序时实现如上述的飞针测试的基准网络选取方法的步骤。

一种存储介质，其上存储有计算机程序，其中，该程序被处理器执行时实现如上述的飞针测试的基准网络选取方法的步骤。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种飞针测试的基准网络选取方法，其特征在于，包括：

获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系；其中，所述待检测印刷电路的每一层对应不同的基准网络，所述层号和所述基准网络的对应关系为所述待测印刷电路的每一层与对应的基准网络之间的组合；当所述测试网络在某一网络上存在投影时，将得到的投影网络确定为所述测试网络的基准网络；

获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号；

根据所述层号与基准网络的对应关系，将层号与获取的参考层号一致基准网络作为备选基准网络；

根据所述测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络所对应的测试网络；各备选基准网络为所述测试网络的选取结果；

所述根据所述测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络所对应的测试网络，包括：

将测试点数量最多的基准网络所在的层的所有基准网络作为备选的基准网络，并确定与所述备选的基准网络对应的测试网络。

2.根据权利要求1所述的飞针测试的基准网络选取方法，其特征在于，所述方法还包括：当根据所述层号与基准网络的对应关系，不存在层号与获取的参考层号一致基准网络时，删除所述参考层号所对应的基准网络；

返回所述获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号的步骤，直至存在层号与获取的参考层号一致基准网络。

3.根据权利要求1所述的飞针测试的基准网络选取方法，其特征在于，所述获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤，包括：

读取被测印刷线路板的测试文件；

根据所述测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

4.根据权利要求3所述的飞针测试的基准网络选取方法，其特征在于，所述根据所述测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系的步骤，包括：

将每条待测网络的所有基准网络存储于基准网络集合中；

将基准网络按层存储；

将测试网络与基准网络结合存储。

5.一种飞针测试的基准网络选取装置，其特征在于，包括：

获取装置：用于获取待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系；其中，所述待检测印刷电路的每一层对应不同的基准网络，所述层号和所述基准网络的对应关系为所述待测印刷电路的每一层与对应的基准网络之间的组合；当所述测试网络在某一网络上存在投影时，将得到的投影网络确定为所述测试网络的基准网络；

层号获取装置：用于获取测点数量最多的基准网络所在的参考层号；

选取装置：用于根据所述层号与基准网络的对应关系，将层号与获取的参考层号一致基准网络作为备选基准网络；

确定装置：用于根据所述测试网络和基准网络的对应关系，确定各备选基准网络所对应的测试网络；各备选基准网络为所述测试网络的选取结果；

所述确定装置还用于：将测试点数量最多的基准网络所在的层的所有基准网络作为备选的基准网络，并确定与所述备选的基准网络对应的测试网络。

6.根据权利要求5所述的飞针测试的基准网络选取装置，其特征在于，所述基准网络选取装置还包括：

删除装置：用于当根据所述层号与基准网络的对应关系，不存在层号与获取的参考层号一致基准网络时，删除所述参考层号所对应的基准网络。

7.根据权利要求5所述的飞针测试的基准网络选取装置，其特征在于，所述获取装置包括：

文件读取装置：用于读取被测印刷线路板的测试文件；

关系获取装置：用于根据所述测试文件，得到待测印刷电路板中的所有基准网络、层号与基准网络的对应关系，以及测试网络和基准网络的对应关系。

8.根据权利要求7所述的飞针测试的基准网络选取装置，其特征在于，所述获取装置包括：

基准网络存储装置：按层存储每条待测网络的所有基准网络；

联合存储装置：将测试网络与基准网络结合存储。

9.一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述的飞针测试的基准网络选取方法的步骤。

10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其中，该程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的飞针测试的基准网络选取方法的步骤。

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