CN108181572B - 飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质 - Google Patents

飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN108181572B
CN108181572B CN201711483372.4A CN201711483372A CN108181572B CN 108181572 B CN108181572 B CN 108181572B CN 201711483372 A CN201711483372 A CN 201711483372A CN 108181572 B CN108181572 B CN 108181572B
Authority
CN
China
Prior art keywords
network
test
information
tested
phase difference
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201711483372.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108181572A (zh
Inventor
张恂
欧阳云轩
王星
杨朝辉
翟学涛
高云峰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Hans CNC Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Hans CNC Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Hans CNC Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen Hans CNC Technology Co Ltd
Priority to CN201711483372.4A priority Critical patent/CN108181572B/zh
Publication of CN108181572A publication Critical patent/CN108181572A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108181572B publication Critical patent/CN108181572B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本发明提供的飞针测试机的测试方法、装置、计算机设备和存储介质,该方法通过读取被测印刷线路板的测试文件;根据测试文件得到测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息;根据测试点信息验证各测试点的导通性;根据各测试点的导通性确定测试网络信息中的待测网络;计算各待测网络的相位差值,并根据邻接网络信息中相位差值相似的待测网络得到验证网络;当验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从待测网络中剔除对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息。该方法不仅能节约飞针测试机的测试时间,还能提高测试效率。

Description

飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质
技术领域
本发明涉及电路板测试设备技术领域,特别是涉及一种飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术
飞针测试机是针对元件布置高密度、层数多、布线密度大、测点距离小的印刷线路板进行测试的一种仪器,飞针测试机具有精细节距,不受网格限制,测试灵活,速度快等特点,并且能对测试过程和故障点进行实时监控,保证测试的准确性。
传统中飞针测试机测试印刷线路板首先会选择一块无异常的印刷线路板进行测试,此无异常的印刷线路板为测试参照板,获取该测试参照板的数据作为参考,后续测试其他电路板时以此数据为标准数据进行比较选择,但是在测试该参照板时,需要把参照板上的测试点全都进行反复测试才能获取到所需要的完整数据,导致耗费大量的测试时间,影响测试效率。
发明内容
基于此,本发明有必要提供一种能节约测试时间,提高测试效率的飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
一种飞针测试机测试方法,包括:
获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息;
根据所述测试点信息验证各测试点的导通性;
根据各所述测试点的导通性的验证结果,确定所述测试网络信息中的待测网络;
计算各所述待测网络的相位差值;
根据所述邻接网络信息,将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络;
当所述验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从所述待测网络中剔除对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息。
在其中一种实施例中,所述测试点信息包括测试点和测试网络的对应关系;
根据各所述测试点的导通性的验证结果,确定所述测试网络信息中的待测网络的步骤,包括:根据所述测试点与测试网络的对应关系,从所述测试网络信息中剔除导通性异常的测试点所对应的测试网络,得到待测网络。
在其中一种实施例中,所述测试网络信息包括基准网络和测试网络的对应关系;所述邻接网络信息包括所述测试网络和邻接网络的对应关系;所述邻接网络为与所述测试网络邻接的测试网络;
所述根据所述邻接网络信息,将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络的步骤,包括:
根据所述基准网络和测试网络的对应关系,利用相位差法获取各基准网络对应的待测网络的相位差值;
根据所述测试网络和邻接网络的对应关系,判断所述待测网络的相位差值与其邻接网络的相位差值是否相似;
选择与所述邻接网络相位差值相似的待测网络作为验证网络。
在其中一种实施例中,所述当所述验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从所述待测网络中剔除相对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息的步骤,包括:
验证所述验证网络中的测试网络的各测试点的绝缘性;
从所述待测网络中剔除绝缘性异常的所述测试点所对应的测试网络,得到良品网络的信息。
在其中一种实施例中,所述获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息的步骤,包括:
读取被测印刷线路板的测试文件;
根据所述测试文件得到测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息。
本发明还提供一种飞针测试机测试装置,包括:信息获取模块、导通性验证模块、待测网络获取模块、相位差值计算模块、验证网络获取模块和良品网络获取模块。
信息获取模块,用于获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息;
导通性验证模块,用于根据所述测试点信息验证各测试点的导通性;
待测网络获取模块,用于根据各所述测试点的导通性的验证结果,确定所述测试网络信息中的待测网络;
相位差值计算模块,用于计算各所述待测网络的相位差值;
验证网络获取模块,根据所述邻接网络信息,将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络;
良品网络获取模块,用于当所述验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从所述待测网络中剔除对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息。
在其中一种实施例中,所述测试点信息包括测试点和测试网络的对应关系;
所述待测网络获取模块,用于根据所述测试点与测试网络的对应关系,从所述测试网络信息中剔除导通性异常的测试点所对应的测试网络,得到待测网络。
在其中一种实施例中,所述测试网络信息包括基准网络和测试网络的对应关系;所述邻接网络信息包括所述测试网络和邻接网络的对应关系;所述邻接网络为与所述测试网络邻接的测试网络;
所述验证网络获取模块,用于根据所述基准网络和测试网络的对应关系,利用相位差法获取各基准网络对应的测试网络的相位差值;根据所述测试网络和邻接网络的对应关系,判断所述测试网络的相位差值与其邻接网络的相位差值是否相似;选择与所述邻接网络相位差值相似的待测网络作为验证网络。
本发明还提供一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如上述飞针测试机测试方法中任一项所述方法的步骤。
本发明还提供一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如上述飞针测试机测试方法中任一项所述方法的步骤。
上述飞针测试机测试方法、装置、计算机设备和存储介质,首先通过测试印刷线路板上每条测试网络上各测试点的导通性,反应了印刷线路板上测试网络线路的状态,剔除线路开路的测试网络,保证了电路板线路的连通性。其次选择与邻接网络相位差值相似的测试网络,通过相位差值的变化可以反应所测试网络上测试点的变化,保证了所需数据的稳定性,最后验证与邻接网络相位差值相似的测试网络的绝缘性是否满足要求,通过层层判断筛选,选择满足条件的测试网络进行下一步的测试,不需要对所有测试点进行反复的测试,节省了飞针测试机的测试时间,提高了测试效率。
附图说明
图1为一个实施例中一种飞针测试机测试方法的流程图;
图2为一个实施例中,根据邻接网络信息,将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络的步骤的流程图;
图3为一个实施例中,当验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从待测网络中剔除对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息的步骤流程图;
图4为一个实施例中,获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息的步骤的流程图;
图5为一个实施例中一种飞针测试机测试装置的模块图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步的详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本发明,并不限定本发明的保护范围。
飞针测试机是针对印刷线路板进行测试的一种仪器,其中,印刷线路板称为PCB(Printed Circuit Board)板,中文名称又为印制电路板,是重要的电子部件和电子元器件的支撑体,也是电子元器件电气连接的载体,因为是采用电子印刷术制作的,因此被称为印刷线路板。印刷线路板从单层发展到双面、多层和挠性,并且仍旧保持着各自的发展趋势。由于不断地向高精度、高密度和高可靠性方向发展,以及不断缩小体积、减少成本、提高性能等,使得印刷线路板在电子设备的发展工程中,仍然保持着强大的生命力。
如图1所述,本发明的一种飞针测试机测试方法,包括步骤S102至步骤S112:
S102:获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息。
具体地,测试点信息可以按照存储格式[测试网络,测试点]进行存储,测试点信息包括测试点的位置坐标,形状、测点编号、大小以及测点所在的测试面等,坐标位置用X轴和Y轴来表示,可以根据X轴升序Y轴降序的方式对测试点进行排序,按照排序进行存储。
测试网络信息可以按照存储格式[基准网络,测试网络]进行存储,测试网络信息包括测试网络、测试网络号、以及测试网络对应的基准网络和基准网络号。
邻接网络信息可以按照存储格式[测试网络,邻接网络]进行存储,邻接网络同样也是在印刷线路板上,是印刷线路板上测试网络的相邻网络,也就是与测试网络相邻接的测试网络,所以邻接网络信息等同于测试网络信息。
S104:根据测试点信息验证各测试点的导通性。
导通性,是测量印刷线路板上测试网络的测试点是否导通,测试点是否导通表示该测试点所在的测试网络是否为通路,利用电阻法验证该测试点的导通性。
具体地,根据测试点信息验证各测试点的导通性的步骤包括:向测试点施加恒定电流;检测出测试点两端的电压值;根据欧姆定律计算出该测试点的电阻值;将测试点的电阻值与预先设置的阈值进行比较,若不超过阈值则判定该测试点导通,若超过阈值则判定该测试点开路。
S106:根据各所述测试点的导通性的验证结果,确定所述测试网络信息中的待测网络。
待测网络是剔除了导通性异常的测试点所对应的测试网络后得到的,测试网络上测试点的导通性可以衡量该测试网络是否为通路,当测试点导通时则代表该测试网络是正常通路的,当测试点不导通时,即测试点为开路时则代表该测试网络处于断开状态,没有正常通路。
在一个实施例中,测试点信息包括测试点和测试网络的对应关系。
根据各测试点的导通性的验证结果,确定测试网络信息中的待测网络的步骤,包括:根据测试点与测试网络的对应关系,从测试网络信息中剔除导通性异常的测试点所对应的测试网络,得到待测网络。
具体地,确定测试点的导通性之后,根据测试点与测试网络的对应关系,可以确定该测试点所在的测试网络,找到导通性异常的测试点所对应的测试网络之后即可认定该测试网络是没有正常通路的,则剔除没有正常通路的测试网络,其余的测试网络即为待测网络。
S108:计算各待测网络的相位差值。
相位是反映交流电任何时刻状态的物理量,并且交流电的大小和方向是随时间变化的,相位差值即为两个频率相同的交流电相位的差,两个频率相同的交流电可以是两个交流电流也可以是两个交流电压或者两个交流电动势。
具体地,计算待测网络的相位差值的步骤包括:获取待测网络中测试网络对应的基准网络;在基准网络上加入一个正弦波;通过线路层来获取对应基准网络和正弦波相位落后的角度,并获取基准网络的相位差值;基准网络的相位差值即为基准网络对应的测试网络的相位差值。
其中,线路层是PCB板的覆铜板,是线路铜箔所在的地方。
S110:根据邻接网络信息,将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络。
在一个实施例中,测试网络信息包括基准网络和测试网络的对应关系;邻接网络信息包括测试网络和邻接网络的对应关系;邻接网络为与测试网络邻接的测试网络。
具体地,根据待测网络的相位差值减去与其邻接网络的相位差值的值是否小于待测网络相位差值的百分之十,则可以判定该待测网络的相位差值与其邻接网络相位差值是否存在相似的情况,验证网络为相位差值相似的待测网络。
S112:当验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从待测网络中剔除对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息。
绝缘性可以衡量测试网络是否短路,利用电阻法验证测试点的绝缘性,就能确定测试点对应的测试网络的绝缘性。
上述飞针测试机测试方法,通过测试文件获取到所有的测试信息后,首先对测试点进行导通性的检测,导通性反应了不能正常通路的测试网络,从测试网络中剔除不能正常通路的测试网络,剩余测试网络组成待测网络;其次计算待测网络中的测试网络的相位差值,根据与邻接网路相位差值进行比较判断,再次剔除不满足要求的测试网络,得到验证网络;最后验证在验证网络中的测试网络的绝缘性,把验证网络中不满足绝缘性的测试网络从待测网络中剔除,最终得到的即为良品网络,即可以获取良品网络的信息。通过层层筛选剔除,选择满足要求的测试网络进行下一步的测试,即不需要为了获取完整的数据而对测试网络上的测试点进行反复测试,不仅节省了飞针测试机测试的时间,还提高了测试效率和数据的准确性。
图2为一个实施例中,根据邻接网络信息,将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络的步骤的流程图。如图2所示,该步骤包括以下步骤S202至S206:
S202:根据基准网络和测试网络的对应关系,利用相位差法获取各基准网络对应的待测网络的相位差值。
具体地,每条测试网络都有相对应的基准网络,即基准网络的相位差值就是基准网络对应的测试网络的相位差值。
S204:根据测试网络和邻接网络的对应关系,判断待测网络的相位差值与其邻接网络的相位差值是否相似。
具体地,邻接网络的相位差值由与邻接网络对应的基准网络相位差值决定。因为待测网络为剩余的测试网络,所以测试网络的相位差值就是待测网络的相位差值。当待测网络的相位差值减去与其邻接网络的相位差值的值小于待测网络的相位差值的百分之十,则可以判定该测试网络相位差值和邻接网络相位差值存在相似的情况;若待测网络的相位差值减去与其邻接网络的相位差值的值大于待测网络的相位差值的百分之十,则不存在相位差值相似的情况。
S206:选择与邻接网络相位差值相似的待测网络作为验证网络。
具体地,把不存在相位差值相似情况的测试网络从待测网络中剔除,剩余的存在相位差值相似情况的测试网络为待测网络,将该待测网络作为验证网络,即验证网络为待测网络相位差值存在相似情况的测试网络。
选择满足相位差值要求的测试网络为验证网络,通过相位差值的变化可以反应测试网络上测试点的变化,而测试点的变化就是测试网络的变化,因此根据测试点的变化剔除测试所点对应的测试网络,保证了所需要的良品网络的信息数据的准确性。
图3为一个实施例中,当验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从待测网络中剔除对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息的步骤流程图。如图3所示,该步骤包括以下步骤S301至S302:
S302:验证验证网络中的测试网络的各测试点的绝缘性。
具体地,验证测试网络的各测试点的绝缘性的步骤包括以下步骤:向测试点施加恒定电压;检测出测试点两端的电流值;根据欧姆定律计算出该测试点的电阻值;将测试点的电阻值与预先设置的阈值进行比较,若不超过阈值则判定该测试点短路,若超过阈值则判定该测试点绝缘。
S304:从待测网络中剔除绝缘性异常的所述测试点所对应的测试网络,得到良品网络的信息。
具体地,把测试点短路的测试网络从待测网络中剔除,即待测网络中再次剩余的测试网络为最终得到的该被测印刷线路板的良品网络,并获取良品网络的信息,其中良品网络的信息为该良品网络的导通性信息、绝缘性信息和相位差值。
图4为一个实施例中,获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息的步骤的流程图。如图4所示,该步骤包括以下步骤S402至S404:
S402:读取被测印刷线路板的测试文件;
S404:根据所述测试文件得到测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息。
具体地,测试文件由测试人员利用CAM(Computer Aided Manufacturing)软件,又称计算机辅助制造,将PCB板的GerBer文件转换成飞针测试机设备测试用的IPC文件。GerBer文件是一款计算机软件,是线路板行业软件描述线路板图像及钻、铣数据的文档格式集合,是线路板行业图像转换的标准格式,而IPC文件是网表文件,是一种记录设计文件各逻辑关系的网络集合文件。
上述飞针测试机测试方法,首先测试电路板上每条测试网络上所有测试点的导通性,反应了电路板上线路的状态,剔除线路开路的测试网络,保证了电路板线路的连通性。计算导通性无异常的待测网络的相位差值,进一步选择待测网络相位差值也满足要求的测试网络,通过相位差值的变化可以反应所测试网络上测试点的变化,保证了所需数据的稳定性;再验证相位差值满足要求的验证网络的绝缘性是否满足要求,通过层层判断筛选,选择满足条件的测试网络进行下一步的测试,不需要对所有测试点进行反复的测试,节省了飞针测试机的测试时间,提高了测试效率。
本发明还提供了一种飞针测试机测试装置,如图4所示,包括:信息获取模块102,导通性验证模块104,待测网络获取模块106,相位差值计算模块108,验证网络获取模块110和良品网络获取模块112。
信息获取模块102,用于获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息;
导通性验证模块104,用于根据测试点信息验证各测试点的导通性;
待测网络获取模块106,用于根据各所述测试点的导通性的验证结果,确定测试网络信息中的待测网络;
相位差值计算模块108,用于计算各待测网络的相位差值;
验证网络获取模块110,根据邻接网络信息,将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络;
良品网络获取模块112,用于当验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从待测网络中剔除对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息。
上述飞针测试机测试装置,通过读取测试文件获取到所有的测试信息后,首先对测试点进行导通性的检测,导通性反应了不能正常通路的测试网络,从测试网络中剔除不能正常通路的测试网络,剩余测试网络组成待测网络;其次计算待测网络中的测试网络的相位差值,根据与邻接网路相位差值进行比较判断,再次剔除不满足要求的测试网络,得到验证网络;最后验证在验证网络中的测试网络的绝缘性,把验证网络中不满足绝缘性的测试网络从待测网络中剔除,最终得到的即为良品网络,即可以获取良品网络的信息。通过层层筛选剔除,选择满足要求的测试网络进行下一步的测试,即不需要为了获取完整的数据而对测试网络上的测试点进行反复测试,不仅节省了飞针测试机测试的时间,还提高了测试效率和数据的准确性。
在其中一种实施例中,测试点信息包括测试点和测试网络的对应关系。
待测网络获取模块106,用于根据测试点与测试网络的对应关系,从测试网络信息中剔除导通性异常的测试点所对应的测试网络,得到待测网络。
在其中一种实施例中,测试网络信息包括基准网络和测试网络的对应关系;邻接网络信息包括测试网络和邻接网络的对应关系;邻接网络为与测试网络邻接的测试网络。
验证网络获取模块110,用于根据所述基准网络和测试网络的对应关系,利用相位差法获取各基准网络对应的测试网络的相位差值;根据所述测试网络和邻接网络的对应关系,判断所述测试网络的相位差值与其邻接网络的相位差值是否相似;选择与所述邻接网络相位差值相似的待测网络作为验证网络。
上述飞针测试机测试装置,首先测试电路板上每条测试网络上所有测试点的导通性,反应了电路板上线路的状态,剔除线路开路的测试网络,保证了电路板线路的连通性。计算导通性无异常的待测网络的相位差值,进一步选择待测网络相位差值也满足要求的测试网络,通过相位差值的变化可以反应所测试网络上测试点的变化,保证了所需数据的稳定性;再验证相位差值满足要求的验证网络的绝缘性是否满足要求,通过层层判断筛选,选择满足条件的测试网络进行下一步的测试,不需要对所有测试点进行反复的测试,节省了飞针测试机的测试时间,提高了测试效率。
在其中一种实施例中,本发明还提供一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时,使得处理器执行上述各实施例中的任意一种飞针测试机测试方法。
在其中一种实施例中,本发明还提供一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时,使得处理器执行上述各实施例中的任意一种飞针测试机测试方法。
其中,该程序被处理器执行时实现如上述各实施例中的任意一种新增公交线路的方法。其中,计算机可读存储介质可以为软盘、光盘、DVD、记忆棒等。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种飞针测试机测试方法,其特征在于,包括:
获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息;
根据所述测试点信息验证各测试点的导通性;
根据各所述测试点的导通性的验证结果,确定所述测试网络信息中的待测网络;
计算各所述待测网络的相位差值;
根据所述邻接网络信息,将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络;
当所述验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从所述验证网络中剔除对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息。
2.根据权利要求1所述的飞针测试机测试方法,其特征在于,所述测试点信息包括测试点和测试网络的对应关系;
根据各所述测试点的导通性的验证结果,确定所述测试网络信息中的待测网络的步骤,包括:根据所述测试点与测试网络的对应关系,从所述测试网络信息中剔除导通性异常的测试点所对应的测试网络,得到待测网络。
3.根据权利要求1所述的飞针测试机测试方法,其特征在于,所述测试网络信息包括基准网络和测试网络的对应关系;所述邻接网络信息包括所述测试网络和邻接网络的对应关系;所述邻接网络为与所述测试网络邻接的测试网络;
所述根据所述邻接网络信息,将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络的步骤,包括:
根据所述基准网络和测试网络的对应关系,利用相位差法获取各基准网络对应的待测网络的相位差值;
根据所述测试网络和邻接网络的对应关系,判断所述待测网络的相位差值与其邻接网络的相位差值是否相似;
选择与所述邻接网络相位差值相似的待测网络作为验证网络。
4.根据权利要求1所述的飞针测试机测试方法,其特征在于,所述当所述验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从所述验证网络中剔除相对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息的步骤,包括:
验证所述验证网络中的测试网络的各测试点的绝缘性;
从所述验证网络中剔除绝缘性异常的所述测试点所对应的测试网络,得到良品网络的信息。
5.根据权利要求1所述的飞针测试机测试方法,其特征在于,所述获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息的步骤,包括:
读取被测印刷线路板的测试文件;
根据所述测试文件得到测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息。
6.一种飞针测试机测试装置,其特征在于,包括:信息获取模块、导通性验证模块、待测网络获取模块、相位差值计算模块、验证网络获取模块和良品网络获取模块;
所述信息获取模块,用于获取被测印刷线路板的测试点信息、测试网络信息和邻接网络信息;
所述导通性验证模块,用于根据所述测试点信息验证各测试点的导通性;
所述待测网络获取模块,用于根据各所述测试点的导通性的验证结果,确定所述测试网络信息中的待测网络;
所述相位差值计算模块,用于计算各所述待测网络的相位差值;
所述验证网络获取模块,根据所述邻接网络信息,将存在与其邻接网络的相位差值相似的待测网络作为验证网络;
所述良品网络获取模块,用于当所述验证网络中的测试网络不满足绝缘性要求时,从所述验证网络中剔除对应的测试网络,得到被测印刷线路板的良品网络的信息。
7.根据权利要求6所述的飞针测试机测试装置,其特征在于,所述测试点信息包括测试点和测试网络的对应关系;
所述待测网络获取模块,用于根据所述测试点与测试网络的对应关系,从所述测试网络信息中剔除导通性异常的测试点所对应的测试网络,得到待测网络。
8.根据权利要求6所述的飞针测试机测试装置,其特征在于,所述测试网络信息包括基准网络和测试网络的对应关系;所述邻接网络信息包括所述测试网络和邻接网络的对应关系;所述邻接网络为与所述测试网络邻接的测试网络;
所述验证网络获取模块,用于根据所述基准网络和测试网络的对应关系,利用相位差法获取各基准网络对应的测试网络的相位差值;根据所述测试网络和邻接网络的对应关系,判断所述测试网络的相位差值与其邻接网络的相位差值是否相似;选择与所述邻接网络相位差值相似的待测网络作为验证网络。
9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。
CN201711483372.4A 2017-12-29 2017-12-29 飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质 Active CN108181572B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711483372.4A CN108181572B (zh) 2017-12-29 2017-12-29 飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711483372.4A CN108181572B (zh) 2017-12-29 2017-12-29 飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108181572A CN108181572A (zh) 2018-06-19
CN108181572B true CN108181572B (zh) 2020-07-10

Family

ID=62549283

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711483372.4A Active CN108181572B (zh) 2017-12-29 2017-12-29 飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108181572B (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111060800B (zh) * 2018-10-16 2022-03-15 深圳市大族数控科技股份有限公司 飞针测试方法、飞针测试装置、飞针测试设备及存储介质
CN109738788B (zh) * 2019-01-02 2021-06-01 深圳市大族数控科技股份有限公司 飞针测试机测试方法、装置、飞针测试机及存储介质
CN109696616A (zh) * 2019-01-30 2019-04-30 大族激光科技产业集团股份有限公司 飞针测试机的测试方法及装置
CN115616386B (zh) * 2022-11-18 2023-03-14 江苏新央华智能科技有限公司 一种基于人工智能的飞针测试方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6069849A (en) * 1996-09-17 2000-05-30 Xilinx, Inc. Method and system for measuring signal propagation delays using the duty cycle of a ring oscillator
CN101398451A (zh) * 2007-09-30 2009-04-01 上海携昌电子科技有限公司 一种用于测试背板的快速检测方法
CN101685135A (zh) * 2008-09-28 2010-03-31 四川虹欧显示器件有限公司 用于测试电路板的测试装置和方法
CN104422846A (zh) * 2013-09-02 2015-03-18 北大方正集团有限公司 线路板测试装置及方法
CN105629124A (zh) * 2016-01-01 2016-06-01 广州兴森快捷电路科技有限公司 一种pcb网络导通不良的分析方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6069849A (en) * 1996-09-17 2000-05-30 Xilinx, Inc. Method and system for measuring signal propagation delays using the duty cycle of a ring oscillator
CN101398451A (zh) * 2007-09-30 2009-04-01 上海携昌电子科技有限公司 一种用于测试背板的快速检测方法
CN101685135A (zh) * 2008-09-28 2010-03-31 四川虹欧显示器件有限公司 用于测试电路板的测试装置和方法
CN104422846A (zh) * 2013-09-02 2015-03-18 北大方正集团有限公司 线路板测试装置及方法
CN105629124A (zh) * 2016-01-01 2016-06-01 广州兴森快捷电路科技有限公司 一种pcb网络导通不良的分析方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN108181572A (zh) 2018-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108181572B (zh) 飞针测试机测试方法、装置、计算机设备及存储介质
CN101292166B (zh) 绝缘检查装置和绝缘检查方法
US20180136272A1 (en) Fault detection apparatus
TWI429932B (zh) 用於嵌入被動裝置之印刷電路板的測試方法
US20080155483A1 (en) Database-aided circuit design system and method therefor
JP5060499B2 (ja) プリント配線板の検査装置及び検査方法
CN109490706B (zh) 一种多分支输电线路故障定位方法
CN104849685A (zh) 局部放电检测仪性能评估方法
JP2010283129A (ja) プリント配線板の検査装置及び検査方法
CN108535618A (zh) 一种gis绝缘缺陷检测方法
CN105137255A (zh) 基板检查装置以及基板检查方法
CN105259463A (zh) 一种高密度积层板覆铜线路层短路点和断路点测试方法
CN210572587U (zh) 绝缘检测电路、主板及相关装置
CN108196182B (zh) 飞针测试的基准网络选取方法和装置
CN105912783B (zh) 一种对pcb设计方案进行检测的方法及装置
CN105425094B (zh) 一种pcba短路点检测方法及装置
CN104124235A (zh) 测试结构及其测试方法
JP2003323466A (ja) 設計支援装置
JP3784479B2 (ja) 回路基板検査方法
JP2009288115A (ja) 検査装置および検査方法
CN107192913A (zh) 基板检查装置及基板检查方法
CN107908873B (zh) 一种高速线跨参考平面的检查方法及装置
CN111413609A (zh) Pcba功能检测系统及方法
CN108169664A (zh) 电路板故障检测方法和装置、计算机设备和存储介质
CN103809067B (zh) 多层电路板测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20200611

Address after: 518101 workshop 5 / F, 1 / 2 / F, 14 / F, 17 / F, antuoshan hi tech Industrial Park, Xinsha Road, Shajing street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province

Applicant after: SHENZHEN HAN'S CNC SCIENCE AND TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Address before: 518051 Dazu Laser Building, No. 9 Xinxi Road, North District, Nanshan High-tech Park, Shenzhen City, Guangdong Province

Applicant before: HAN'S LASER TECHNOLOGY INDUSTRY GROUP Co.,Ltd.

Applicant before: SHENZHEN HAN'S CNC SCIENCE AND TECHNOLOGY Co.,Ltd.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CP01 Change in the name or title of a patent holder
CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 518101 5 / F, 1 / 2 / F, 14 / F, 17 / F, No.3 Factory building, antuoshan hi tech Industrial Park, Xinsha Road, Shajing street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province

Patentee after: Shenzhen Han's CNC Technology Co.,Ltd.

Address before: 518101 5 / F, 1 / 2 / F, 14 / F, 17 / F, No.3 Factory building, antuoshan hi tech Industrial Park, Xinsha Road, Shajing street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province

Patentee before: SHENZHEN HAN'S CNC SCIENCE AND TECHNOLOGY Co.,Ltd.