CN101685135A

CN101685135A - 用于测试电路板的测试装置和方法

Info

Publication number: CN101685135A
Application number: CN200810223469A
Authority: CN
Inventors: 许亮
Original assignee: Sichuan COC Display Devices Co Ltd
Current assignee: Sichuan COC Display Devices Co Ltd
Priority date: 2008-09-28
Filing date: 2008-09-28
Publication date: 2010-03-31
Anticipated expiration: 2028-09-28
Also published as: CN101685135B

Abstract

本发明提出了一种用于测试电路板的测试装置，包括测试信号产生模块，用于产生测试信号；测试信号输出模块，与测试信号产生模块连接，用于将测试信号输出至待测的电路板；待测信号接收模块，用于接收来自电路板的待测信号；信号处理模块，与待测信号接收模块连接，用于根据预定的标准信号对待测信号进行处理，并产生处理结果信号；以及控制模块，用于控制测试信号产生模块产生测试信号，以及接收来自信号处理模块的处理结果信号，处理结果信号用于判断电路板是否合格。

Description

用于测试电路板的测试装置和方法

技术领域

本发明涉及一种测试装置和方法，更具体地，涉及一种用于测试电路板的测试装置和方法。

背景技术

在PDP电路的生产开发中，通常需要对产品进行测试以进行质量控制，而目前PDP模组电路所采用的测试设备通常都结构复杂，功能繁锁，而且价格也非常昂贵，这在大规模的生产测试中会使成本增加，影响产品的竞争力。PDP显示模组控制电路板上面的控制信号非常多，并且由于很多信号频率很高，需要一个能同时检测多路信号，而且检测速度快的测试装置。

发明内容

本发明的目的是简化用于测试电路板的测试装置和方法，从而简化测试装置的结构并降低了制造成本。

为实现上述目的，本发明一方面提出了一种用于测试电路板的测试装置，包括测试信号产生模块，用于产生测试信号；测试信号输出模块，与测试信号产生模块连接，用于将测试信号输出至待测的电路板；待测信号接收模块，用于接收来自电路板的待测信号；信号处理模块，与待测信号接收模块连接，用于根据预定的标准信号对待测信号进行处理，并产生处理结果信号；以及控制模块，用于控制测试信号产生模块产生测试信号，以及接收来自信号处理模块的处理结果信号，处理结果信号用于判断电路板是否合格：。

其中，所述信号处理模块包括：比较单元，将待测信号与标准信号进行比较，得到比较结果信号；以及计数单元，用于获取比较结果信号的脉冲信息。

此外，所述信号处理模块还包括：采样单元，设置在比较单元后，采用频率可变的时钟对比较结果信号进行采样，以过滤比较结果信号中脉冲宽度小于时钟脉冲的部分，并将过滤后的波形传输至计数单元。

本发明另一方面提出了一种用于测试电路板的测试方法，包括以下步骤：产生测试信号；将测试信号输出至待测的电路板；接收来自电路板的待测信号；根据预定的标准信号对待测信号进行处理，并产生处理结果信号；接收处理结果信号，处理结果信号用于判断电路板是否合格。

其中，所述的根据预定的标准信号对待测信号进行处理包括以下步骤：将待测信号与标准信号进行比较，得到比较结果信号；获取比较结果信号的脉冲信息。

此外，所述的根据预定的标准信号对待测信号进行处理还包括以下步骤：在得到比较结果之后，采用频率可变的时钟对比较结果信号进行采样，以过滤比较结果信号中脉冲宽度小于时钟脉冲的部分。

本发明的有益效果是提供了更为简化的电路设计和检测流程，并且，由于本发明的比较单元运用了诸如异或门的逻辑电路，故使得该装置可以测试较高频率的信号。此外，本发明主要针对PDP电路模组中信号数量种类较多而且数据速率最快的控制电路，该电路的原理和方法同样可以用来测试其它电路。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的限定。在附图中：

图1是根据本发明示例性实施例的用于测试电路板的测试装置的框图。

图2是根据本发明示例性实施例的对待测信号和标准信号进行比较和采样的波形图。

图3是根据本发明示例性实施例的对经采样的比较结果进行计数的波形图。

具体实施方式

下面将参照附图，详细地说明本发明的实施例。

图1是根据本发明示例性实施例的用于测试电路板的测试装置的框图。如图1所示，本示例性实施例的测试装置100可以采用以下电路模块：控制模块101、测试信号产生模块103、测试信号输出模块105、待测信号接收模块107、信号处理模块109、和通信模块110等。

根据本发明，测试装置100的测试信号发生模块103产生一个测试信号，通过测试信号输出模块105输出到待测电路板上，待测电路板对测试信号进行处理，即模拟正常工作时的状态，并将处理后的待测信号输入回测试电路中，再通过待测信号接收模块107输入到信号处理模块109。信号处理模块109通常存储一个标准信号，待测信号在测试装置100中需要通过信号处理模块109与标准信号进行比较，并将比较结果进行分析，然后通过通信模块110传输到计算机上。其中，测试信号可以通过查表产生，即将预设好的多个波形数据存储在测试装置100的内部存储器中，测试的时候由测试信号产生模块103读取该波形数据并将其输出。

图2是根据本发明示例性实施例的对待测信号和标准信号进行比较和采样的波形图。如图2所示，测试装置100检测到从待测电路板输出的待测信号以后，可以使用异或门将待测信号与内部存储的标准信号进行比较，即进行异或运算，以得出待测信号与标准信号之间的相位差，即一系列脉冲组成的比较结果的波形。之后，可以使用诸如D触发器的采样单元对比较结果的脉冲波形进行采样过滤，即，采集当采样单元的时钟信号处于上升沿时的比较结果的值作为采样结果。

图3是根据本发明示例性实施例的对经采样的比较结果进行计数的波形图。如图3所示，将经过采样处理的比较结果的脉冲输送到下一级处理电路，即，脉冲计数电路，来对脉冲的数量和宽度进行统计。计数电路不仅仅是对前级电路的结果进行计数，而且还要对这些脉冲的宽度进行测量，并且确定这些脉冲出现在哪些时刻。在每次测试开始时，计时器开始计时，在遇到一个脉冲时(如图3中的白色三角标记处)，把计时器里面的时间值写入存储器，即，记录每个脉冲到来的时刻。每个脉冲来到后，脉宽计数器开始计数，在每个脉冲归零时(如图三中的黑色三角标记处)，把脉宽计数器里面的数值写入存储器，即，记录每个脉冲的宽度，然后立即将脉宽计数器清零，等待下一次计数。脉冲计数器在每次测试开始时清零，每遇到一个脉冲计一个数，一次测试完成后，计数器里面的数值写入存储器，表示脉冲的个数。存储器中的各个数值在测试结束后，经I2C总线以编码形式传送到计算机上，计算机系统只需根据预先设置的关于脉冲时刻、脉冲宽度、以及脉冲个数的阈值参数对电路的合格情况进行判定。

此外，信号处理模块109中的比较、采样、以及计数功能还可以通过微控制器硬件编程加以实现。

以上所述仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡是将显示器的功耗信息反馈至主机的技术方案，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内

Claims

1.一种用于测试电路板的测试装置，包括：

测试信号产生模块，用于产生测试信号；

测试信号输出模块，与所述测试信号产生模块连接，用于将所述测试信号输出至待测的电路板；

待测信号接收模块，用于接收来自所述电路板的待测信号；

信号处理模块，与所述待测信号接收模块连接，用于根据预定的标准信号对所述待测信号进行处理，并产生处理结果信号；以及

控制模块，用于控制所述测试信号产生模块产生所述测试信号，以及接收来自所述信号处理模块的所述处理结果信号，所述处理结果信号用于判断所述电路板是否合格。

2.根据权利要求1所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在于，所述信号处理模块包括：

比较单元，将所述待测信号与所述标准信号进行比较，

得到比较结果信号；以及

计数单元，用于获取所述比较结果信号的脉冲信息。

3.根据权利要求2所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在于，所述信号处理模块还包括：

采样单元，设置在所述比较单元后，采用频率可变的时钟对所述比较结果信号进行采样，以过滤所述比较结果信号中脉冲宽度小于时钟脉冲的部分，并将过滤后的波形传输至所述计数单元。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在于，还包括通信模块，与所述控制模块连接，用于建立所述控制模块与计算机之间的通信。

5.根据权利要求4所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在于，还包括存储单元，用于存储所述比较结果信号的脉冲信息以及所述标准信号。

6.根据权利要求4所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在于，所述比较单元包括一个或多个异或门电路，所述异或门电路的两个输入端的一个输入所述待测信号而另一个输入所述标准信号，所述异或门电路的输出端连接至所述计数单元。

7.根据权利要求4所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在于，所述比较单元包括一个或多个异或门电路，所述异或门电路的两个输入端的一个输入所述待测信号而另一个输入所述标准信号，所述异或门电路的输出端连接至所述采样单元。

8.根据权利要求4所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在于，所述测试信号产生模块通过查表产生所述测试信号。

9.一种用于测试电路板的测试方法，包括以下步骤：产生测试信号；

将所述测试信号输出至待测的电路板；

接收来自所述电路板的待测信号；

根据预定的标准信号对所述待测信号进行处理，并产生处理结果信号；

接收所述处理结果信号，所述处理结果信号用于判断所述电路板是否合格。

10.根据权利要求9所述的用于测试电路板的测试方法，其特征在于，所述的根据预定的标准信号对所述待测信号进行处理包括以下步骤：

将所述待测信号与所述标准信号进行比较，得到比较结果信号；

获取所述比较结果信号的脉冲信息。

11.根据权利要求10所述的用于测试电路板的测试方法，其特征在于，所述的根据预定的标准信号对所述待测信号进行处理还包括以下步骤：

在得到所述比较结果之后，采用频率可变的时钟对所述比较结果信号进行采样，以过滤所述比较结果信号中脉冲宽度小于时钟脉冲的部分。

12.根据权利要求11所述的用于测试电路板的测试方法，其特征在于，通过查表产生所述测试信号。

13.根据权利要求11所述的用于测试电路板的测试方法，其特征在于，所述标准信号是预先确定并存储的。