CN106990343B - 电子元器件的测试方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子元器件的测试方法及系统，旨在克服普通ASA曲线测试在“零电压点”附近故障分辨率的不足问题。所述方法包括：利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障；克服了普通ASA曲线测试在“零电压点”附近故障分辨率的不足问题，提高了ASA曲线测试的故障检出率；进一步地，本发明电子元器件的测试方法还引入了小信号曲线测试，具有判断所测试的参数值是否准确的有益效果，进一步提高了ASA曲线测试的故障检出率，节约了测试资源。

Description

电子元器件的测试方法及系统

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别涉及一种电子元器件的测试方法及系统。

背景技术

目前，在无图纸电路板的故障检测中，采用电阻比对法即：利用万用表对照好、坏电路板相应器件管脚(即电路结点)的电阻值，根据电阻值的差异大小来判断故障，是最常用的测试方法。从静态角度看，ASA(Analog Signature Analysis，模拟特征分析)曲线测试是这种方法的直接推广。通常意义上，进行ASA曲线测试，是利用好、坏电路板相应结点的ASA曲线的重合程度来达到检测故障的目的。

由于ASA曲线两边近似垂直的部分，基本上呈现了PN结的导通特征。这是由于PN结导通后电阻很小，“淹没”了结点上的电阻值R、电容值C或者电感值L对这部分曲线的贡献；由于PN结处于截止状态的区域很小，因此即使结点上的电阻值R、电容值C或者电感值L这些参数有了较大的变化，但整个曲线仅变化一点点，而曲线的这一点点变化很容易被忽略过去。换句话说，ASA曲线在零点附近对RCL的故障分辨率不够高。目前，业内有采用进一步增加ASA曲线分辨率的方式来提高ASA曲线测试的检测能力。但这种方法并不可靠，因为在同一个显示区域内，当数据点多于可显示点数的时候，多余的数据会重合显示在一起，并不影响曲线的形状，因此增加测试点的曲线显示在这样一个曲线窗口中不可能有多大差异。故，如何提高ASA曲线的检测能力成为目前亟待解决的问题之一。

发明内容

本发明提供一种电子元器件的测试方法及系统，旨在克服普通ASA曲线测试在“零电压点”附近故障分辨率的不足问题。

本发明提供一种电子元器件的测试方法，所述测试方法包括：

利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；

在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；

根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障。

优选地，所述测试方法还包括：

对所述电路结点进行小信号曲线测试，得到对应的小信号曲线，结合测试得到的小信号曲线，判断所述电路结点对应的所述零点测试值是否正确。

优选地，所述结合测试得到的小信号曲线，判断所述电路结点对应的所述零点测试值是否正确，包括：

若测试得到的小信号曲线为预设RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值的测试值为准确值，即判断所述电路结点对应的所述零点测试值正确；

若测试得到的小信号曲线不是预设RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值的测试受到外电路干扰，即判断所述电路结点对应的所述零点测试值不正确。

优选地，所述测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，包括：

识别所述零电压预设范围内的电路结点所对应的待测参数的参数类型，根据识别出的所述参数类型，选取与所述参数类型相匹配的测试档位进行测试，得到所述电路结点对应的参数值。

优选地，所述得到的零点测试值通过数字直接显示在所述ASA曲线上。

对应于以上实施例所提供的一种电子元器件的测试方法，本发明还提供了一种电子元器件的测试系统，所述测试系统包括：

ASA曲线测试模块，用于利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；

零点测试模块，用于在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；

性能识别模块，用于根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障。

优选地，所述测试系统还包括：

小信号测试模块，用于对所述电路结点进行小信号曲线测试，得到对应的小信号曲线，结合测试得到的小信号曲线，判断所述电路结点对应的所述零点测试值是否正确。

优选地，所述小信号测试模块还用于：

若测试得到的小信号曲线为预设RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值的测试值为准确值，即判断所述电路结点对应的所述零点测试值正确；

若测试得到的小信号曲线不是预设RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值的测试受到外电路干扰，即判断所述电路结点对应的所述零点测试值不正确。

优选地，所述零点测试模块还用于：

识别所述零电压预设范围内的电路结点所对应的待测参数的参数类型，根据识别出的所述参数类型，选取与所述参数类型相匹配的测试档位进行测试，得到所述电路结点对应的参数值。

优选地，所述零点测试模块还用于：

将得到的零点测试值通过数字直接显示在所述ASA曲线上。

本发明电子元器件的测试方法及系统通过利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障；克服了普通ASA曲线测试在“零电压点”附近故障分辨率的不足问题，提高了ASA曲线测试的故障检出率；进一步地，本发明电子元器件的测试方法还引入了小信号曲线测试，具有判断所测试的参数值是否准确的有益效果，进一步提高了ASA曲线测试的故障检出率，节约了测试资源。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所指出的内容来实现和获得。

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步描述。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为本发明电子元器件的测试方法的一种实施例方式的流程示意图；

图2为本发明电子元器件的测试方法的另一种实施例方式的流程示意图；

图3为本发明电子元器件的测试系统的一种实施例方式的系统框图；

图4为本发明电子元器件的测试系统的另一种实施例方式的系统框图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明提供了一种电子元器件的测试方法，旨在能够在零点附近利用ASA曲线较为准确地进行电子元器件的测试。图1为本发明电子元器件的测试方法的一种实施例方式的流程示意图，如图1所示，本发明电子元器件的测试方法可以实施为如下步骤S10-S30：

步骤S10、利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；

本发明实施例中，采用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，其中，所述电路结点可以理解为：电路中三条或三条以上的支路相连接的点，即为电路结点。ASA曲线即：利用100块万用表，每块表中的电池电压都不一样，从0.05V、0.10V、0.15V一直到5V，对每个器件管脚，分别用这100块表依次进行测试，得到100个电阻值，把得到的这100个电阻值表示在以电压作为纵坐标轴、电流作为横坐标轴的坐标系上，再用线段把代表上述电阻值的点连接起来得到的一条曲线，这条曲线便称为ASA曲线。通常意义上，进行ASA曲线测试，是利用好、坏电路板相应结点的ASA曲线的重合程度来达到检测故障的目的。利用上述测试方法，得到测试电路中对应的电路结点的ASA曲线。

步骤S20、在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；

在测试得到的上述ASA曲线上，找出该ASA曲线上对应的零电压，并测试该零电压预设范围内的电路结点所对应的参数值。比如，测试该零电压附近正负0.2伏特电压范围内，该电路结点对应的电阻值R、电容值C以及电感值L，得到对应的零点测试值。

本发明实施例中，零电压附近指测试信号电压小于PN导通电压，避免关联的芯片IC管脚的干扰测试。系统将测到的参数值和曲线都存储下来，在后续对测试纸进行比较判断时，上述测试结构均作为判断故障的依据。

在本发明一优选的实施例中，系统测试得到的电阻值R、电容值C以及电感值L均采用数值显示，即将得到的零点测试值通过数字直接显示在所述ASA曲线上。如此一来，测试的精度便与显示的分辨率无关，提高了故障检出率。

在本发明一优选的实施例中，系统在零电压预设范围内对电路结点进行参数测试时，识别所述零电压预设范围内的电路结点所对应的待测参数的参数类型，根据识别出的所述参数类型，选取与所述参数类型相匹配的测试档位进行测试，即系统可以自动识别所要测试的参数类型，并可以自动选取合适的测试档位进行测试，从而得到所述电路结点对应的参数值。

步骤S30、根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障。

系统根据测试得到的零点测试值，并结合测试得到的ASA曲线，即可判断电路结点对应的电子元器件是否发生故障。比如，若测试得到ASA曲线以及零点测试值，则判断该电路结点对应的电子元器件没有发生故障；若测试得到ASA曲线，但无法获取正确的曲线零点测试值，则判断该电路结点对应的电子元器件发生故障。

进一步的，如图2所示，图2为本发明电子元器件的测试方法的另一种实施例方式的流程示意图；本发明电子元器件的测试方法在图1所述实施例的步骤S30之后，还执行如下步骤：

步骤S40、对所述电路结点进行小信号曲线测试，得到对应的小信号曲线，结合测试得到的小信号曲线，判断所述电路结点对应的所述零点测试值是否正确。

本发明实施例中，尽管将进一步测试的测试电压选取在零点附近，但由于电子电路千变万化，电路结点多种多样，不能百分之百的保证对任何电路结点，均能够不受关联的芯片IC引脚的干扰；为了进一步准确地反映电路结点的RCL(电阻值电容值及电感值)特征，本发明电子元器件的测试方法中，引入小信号曲线测试。系统对该电路结点进行小信号曲线测试，得到对应的小信号曲线，根据上述测试得到的ASA曲线以及零点测试值，结合得到的小信号曲线，即可判断出该电路结点对应的零点测试值是否正确。

比如，若系统测试得到的小信号曲线为预设RCL曲线例如典型的RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值(即RCL值)的测试值没有受到其他影响，测试得到的RCL值为准确值，即判断所述电路结点对应的测试得到的RCL值正确；若系统测试得到的小信号曲线为典型的RCL并联曲线或者典型的RCL串联曲线，则表示测试得到的RCL值没有受到关联的芯片IC管脚的影响，则作为电阻进行测试，如果采用直流信号测试电阻值，通常可以测到准确的电阻值；而按照对电容值C或者是对电感值L进行测试，则电容值C和电感值L的结果通常会受到电阻值R的影响。如果不是上述两种情况，即得到的小信号曲线既不是典型的RCL曲线，也不是典型的RCL的并联曲线，也不是典型的RCL串联曲线，则说明该电路结点所包括的电路情况过于复杂，该电路结点的测试受到关联芯片IC引脚的影响，测试得到的RCL数值没有任何意义。

本发明电子元器件的测试方法通过利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障；克服了普通ASA曲线测试在“零电压点”附近故障分辨率的不足问题，提高了ASA曲线测试的故障检出率；进一步地，本发明电子元器件的测试方法还引入了小信号曲线测试，具有判断所测试的参数值是否准确的有益效果，进一步提高了ASA曲线测试的故障检出率，节约了测试资源。

基于图1和图2所述实施例描述的一种电子元器件的测试方法，本发明还提供了一种电子元器件的测试系统，图3为本发明电子元器件的测试系统的一种实施例方式的系统框图；如图3所示，本发明电子元器件的测试系统包括：ASA曲线测试模块60、零点测试模块70以及性能识别模块80；其中：

所述ASA曲线测试模块60，用于利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；

本发明实施例中，ASA曲线测试模块60采用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，其中，所述电路结点可以理解为：电路中三条或三条以上的支路相连接的点，即为电路结点。ASA曲线即：利用100块万用表，每块表中的电池电压都不一样，从0.05V、0.10V、0.15V一直到5V，对每个器件管脚，分别用这100块表依次进行测试，得到100个电阻值，把得到的这100个电阻值表示在以电压作为纵坐标轴、电流作为横坐标轴的坐标系上，再用线段把代表上述电阻值的点连接起来得到的一条曲线，这条曲线便称为ASA曲线。通常意义上，进行ASA曲线测试，是利用好、坏电路板相应结点的ASA曲线的重合程度来达到检测故障的目的。利用上述测试方法，ASA曲线测试模块60得到测试电路中对应的电路结点的ASA曲线。

所述零点测试模块70，用于在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；

在ASA曲线测试模块60测试得到的上述ASA曲线上，零点测试模块70找出该ASA曲线上对应的零电压，并测试该零电压预设范围内的电路结点所对应的参数值。比如，零点测试模块70测试该零电压附近正负0.2伏特电压范围内，该电路结点对应的电阻值R、电容值C以及电感值L，得到对应的零点测试值。

本发明实施例中，零电压附近指测试信号电压小于PN导通电压，避免关联的芯片IC管脚的干扰测试。零点测试模块70将测到的参数值和曲线都存储下来，在后续对测试纸进行比较判断时，上述测试结构均作为判断故障的依据。

在本发明一优选的实施例中，零点测试模块70测试得到的电阻值R、电容值C以及电感值L均采用数值显示，即将得到的零点测试值通过数字直接显示在所述ASA曲线上。如此一来，测试的精度便与显示的分辨率无关，提高了故障检出率。

在本发明一优选的实施例中，零点测试模块70在零电压预设范围内对电路结点进行参数测试时，识别所述零电压预设范围内的电路结点所对应的待测参数的参数类型，根据识别出的所述参数类型，选取与所述参数类型相匹配的测试档位进行测试，即零点测试模块70可以自动识别所要测试的参数类型，并可以自动选取合适的测试档位进行测试，从而得到所述电路结点对应的参数值。

所述性能识别模块80，用于根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障。

性能识别模块80根据零点测试模块70测试得到的零点测试值，并结合测试得到的ASA曲线，即可判断电路结点对应的电子元器件是否发生故障。比如，若测试得到ASA曲线以及零点测试值，性能识别模块80则判断该电路结点对应的电子元器件没有发生故障；若测试得到ASA曲线，但无法获取正确的曲线零点测试值，性能识别模块80则判断该电路结点对应的电子元器件发生故障。

进一步地，如图4所示，图4为本发明电子元器件的测试系统的另一种实施例方式的系统框图；本发明电子元器件的测试系统在图3所述实施例的基础上，还包括：

小信号测试模块90，用于对所述电路结点进行小信号曲线测试，得到对应的小信号曲线，结合测试得到的小信号曲线，判断所述电路结点对应的所述零点测试值是否正确。

本发明实施例中，尽管系统将进一步测试的测试电压选取在零点附近，但由于电子电路千变万化，电路结点多种多样，不能百分之百的保证对任何电路结点，均能够不受关联的芯片IC引脚的干扰；为了进一步准确地反映电路结点的RCL(电阻值电容值及电感值)特征，本发明电子元器件的测试系统中，引入小信号测试模块90进行小信号曲线测试。小信号测试模块90对该电路结点进行小信号曲线测试，得到对应的小信号曲线，根据上述测试得到的ASA曲线以及零点测试值，结合得到的小信号曲线，即可判断出该电路结点对应的零点测试值是否正确。

比如，若小信号测试模块90测试得到的小信号曲线为预设RCL曲线例如典型的RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值(即RCL值)的测试值没有受到其他影响，测试得到的RCL值为准确值，即判断所述电路结点对应的测试得到的RCL值正确；若小信号测试模块90测试得到的小信号曲线为典型的RCL并联曲线或者典型的RCL串联曲线，则表示测试得到的RCL值没有受到关联的芯片IC管脚的影响，则作为电阻进行测试，如果采用直流信号测试电阻值，通常可以测到准确的电阻值；而按照对电容值C或者是对电感值L进行测试，则电容值C和电感值L的结果通常会受到电阻值R的影响。如果不是上述两种情况，即小信号测试模块90得到的小信号曲线既不是典型的RCL曲线，也不是典型的RCL的并联曲线，也不是典型的RCL串联曲线，则说明该电路结点所包括的电路情况过于复杂，该电路结点的测试受到关联芯片IC引脚的影响，测试得到的RCL数值没有任何意义。

本发明电子元器件的测试系统通过利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障；电子元器件是否发生故障；克服了普通ASA曲线测试在“零电压点”附近故障分辨率的不足问题，提高了ASA曲线测试的故障检出率；进一步地，本发明电子元器件的测试方法还引入了小信号曲线测试，具有判断所测试的参数值是否准确的有益效果，进一步提高了ASA曲线测试的故障检出率，节约了测试资源。。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (6)

1.一种电子元器件的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；

在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；

根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障；

所述测试方法还包括：

对所述电路结点进行小信号曲线测试，得到对应的小信号曲线，结合测试得到的小信号曲线，判断所述电路结点对应的所述零点测试值是否正确；

所述结合测试得到的小信号曲线，判断所述电路结点对应的所述零点测试值是否正确，包括：

若测试得到的小信号曲线为预设RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值的测试值为准确值，即判断所述电路结点对应的所述零点测试值正确；

若测试得到的小信号曲线不是预设RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值的测试受到外电路干扰，即判断所述电路结点对应的所述零点测试值不正确。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，包括：

识别所述零电压预设范围内的电路结点所对应的待测参数的参数类型，根据识别出的所述参数类型，选取与所述参数类型相匹配的测试档位进行测试，得到所述电路结点对应的参数值。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述得到的零点测试值通过数字直接显示在所述ASA曲线上。

4.一种电子元器件的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：

ASA曲线测试模块，用于利用ASA曲线测试法测试电路结点的电阻值，得到所述电路结点对应的ASA曲线；

零点测试模块，用于在得到的所述ASA曲线上，测试零电压预设范围内的所述电路结点对应的参数值，得到对应的零点测试值；

性能识别模块，用于根据得到的所述零点测试值，判断所述电路结点对应的电子元器件是否发生故障；

所述测试系统还包括：

小信号测试模块，用于对所述电路结点进行小信号曲线测试，得到对应的小信号曲线，结合测试得到的小信号曲线，判断所述电路结点对应的所述零点测试值是否正确；

所述小信号测试模块还用于：

若测试得到的小信号曲线为预设RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值的测试值为准确值，即判断所述电路结点对应的所述零点测试值正确；

若测试得到的小信号曲线不是预设RCL曲线，则表示测试得到的电阻值、电容值及电感值的测试受到外电路干扰，即判断所述电路结点对应的所述零点测试值不正确。

5.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述零点测试模块还用于：

识别所述零电压预设范围内的电路结点所对应的待测参数的参数类型，根据识别出的所述参数类型，选取与所述参数类型相匹配的测试档位进行测试，得到所述电路结点对应的参数值。

6.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述零点测试模块还用于：

将得到的零点测试值通过数字直接显示在所述ASA曲线上。