TW201531674A - 光學濾波器及光譜儀 - Google Patents

光學濾波器及光譜儀 Download PDF

Info

Publication number
TW201531674A
TW201531674A TW104103308A TW104103308A TW201531674A TW 201531674 A TW201531674 A TW 201531674A TW 104103308 A TW104103308 A TW 104103308A TW 104103308 A TW104103308 A TW 104103308A TW 201531674 A TW201531674 A TW 201531674A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
filter
optical
downstream
upstream
optical filter
Prior art date
Application number
TW104103308A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI641813B (zh
Inventor
Curtis R Hruska
Benjamin F Catching
Paula Smith
Original Assignee
Jds Uniphase Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jds Uniphase Corp filed Critical Jds Uniphase Corp
Publication of TW201531674A publication Critical patent/TW201531674A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI641813B publication Critical patent/TWI641813B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0229Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using masks, aperture plates, spatial light modulators or spatial filters, e.g. reflective filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0208Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0256Compact construction
    • G01J3/0259Monolithic
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0262Constructional arrangements for removing stray light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/26Generating the spectrum; Monochromators using multiple reflection, e.g. Fabry-Perot interferometer, variable interference filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/28Interference filters
    • G02B5/285Interference filters comprising deposited thin solid films
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1213Filters in general, e.g. dichroic, band
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1213Filters in general, e.g. dichroic, band
    • G01J2003/1221Mounting; Adjustment
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1226Interference filters
    • G01J2003/1234Continuously variable IF [CVIF]; Wedge type
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • G01J2003/28132D-array

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Optical Filters (AREA)

Abstract

本發明揭示一種包含兩個橫向可變帶通濾波器之光學濾波器,該兩個橫向可變帶通濾波器經堆疊於距彼此一固定距離處,使得上游濾波器充當用於下游濾波器之一空間濾波器。此發生係因為當藉由該上游濾波器傳輸之一傾斜光束照射於該下游濾波器上時該傾斜光束經橫向移位。當該傾斜光束至該上游濾波器及該下游濾波器上之照射位置處之傳輸通帶不重疊時該橫向位移導致該傾斜光束之一抑制。

Description

光學濾波器及光譜儀
本發明係關於光學組件,且特定言之係關於光學濾波器及光譜儀。
一光學濾波器用於選擇入射光之一光譜帶或一光譜分量。舉例而言,一高通濾波器選擇在比濾波器之一邊緣波長長之波長處之光。相反地,一低通濾波器選擇在比一邊緣波長短之波長處之光。一帶通濾波器係一不同類型之濾波器,其選擇在接近於濾波器之一帶寬內之濾波器之一中心波長之波長處之光。一可調諧帶通濾波器係一光學濾波器,可調整或調諧該光學濾波器之中心波長。
一光譜儀量測入射光之一光學光譜。一掃描類型之光譜儀可使用一或多個可調諧帶通濾波器以選擇入射光之不同光譜分量。一掃描類型之光譜儀藉由掃描可協調帶通濾波器之中心波長而操作以便獲得光學光譜。替代地,一多色儀類型之光譜儀使用光學耦合至一偵測器陣列用於光學光譜之平行偵測之一波長分散元件。然而,習用光學濾波器及光譜儀通常係大且笨重的,使在可攜式裝置及應用中使用其等成為一挑戰。
鑒於前述,應瞭解,可存在與關於光學濾波器及光譜儀之當前解決方案及技術相關聯之顯著問題及缺點。
根據本發明,兩個或兩個以上橫向可變帶通濾波器可經堆疊於距彼此一固定距離處以減小對照射光束準直之要求或甚至以完全減少對一錐狀光導管或另一光準直元件之需要。當兩個橫向可變帶通濾波器經堆疊在一起時,上游濾波器可充當用於下游濾波器之一空間濾波器。此發生係因為當藉由該上游濾波器傳輸之一傾斜光束照射於該下游濾波器上時該傾斜光束經橫向移位。該橫向位移可導致該傾斜光束之抑制,此乃因當該上游濾波器及該下游濾波器上之光束照射位置不重疊時該上游濾波器及該下游濾波器之傳輸波長可不重疊,從而導致傾斜光束之抑制。歸因於此效應,可減弱該光學濾波器之光譜選擇性對照射該上游濾波器之該入射光束之準直之一程度之一相依性。
根據本發明之一態樣,提供包括一上游橫向可變帶通光學濾波器及一下游橫向可變帶通光學濾波器之一光學濾波器。該下游橫向可變帶通光學濾波器經依序安置於該上游可變帶通光學濾波器之下游且沿著一光束之一光學路徑經分離一距離L。該上游橫向可變帶通光學濾波器及該下游橫向可變帶通光學濾波器各具有沿著橫向於該光學路徑之一共同第一方向以一互相協調之方式逐漸變動之一帶通中心波長。該光學濾波器之光譜選擇性對該光束之準直之一程度之一相依性小於該下游橫向可變帶通光學濾波器之光譜選擇性對該光束之準直之該程度之一對應相依性。
在一項例示性實施例中,該上游濾波器及該下游濾波器之該等中心波長在該第一方向中單調地(例如,線性或非線性)增加。該上游濾波器及該下游濾波器之該等中心波長可(但不必須)具有帶通中心波長對沿著該第一方向之一x座標之一實質上相同相依性。
根據本發明,進一步提供包括上文中之該光學濾波器及經安置於該下游橫向可變帶通光學濾波器之下游之該光學路徑中之一光學感測器之一光學光譜儀。該光學感測器可包含一光偵測器陣列。該下游 橫向可變帶通光學濾波器可為了一較佳光譜選擇性而與該光偵測器陣列接觸。
根據本發明之另一態樣,進一步提供一種用於獲得沿著一光學路徑傳播之一光束之一光譜之方法,該方法包括:使用包括一上游橫向可變帶通光學濾波器及下游橫向可變帶通光學濾波器之一光學濾波器濾波該光束,其中該下游橫向可變帶通光學濾波器經依序安置於該上游可變帶通光學濾波器之下游且沿著一光束之一光學路徑經分離一距離L,其中該上游橫向可變帶通光學濾波器及該下游橫向可變帶通光學濾波器各具有沿著橫向於該光學路徑之一共同第一方向以一互相協調之方式逐漸變動之一帶通中心波長,且其中該光學濾波器之光譜選擇性對該光束之準直之一程度之一相依性小於該下游橫向可變帶通光學濾波器之光譜選擇性對該光束之準直之該程度之一對應相依性;及沿著該下游濾波器之下游之該第一方向偵測光學功率分佈。
10‧‧‧習用線性可變濾波器/線性可變濾波器/濾波器
11‧‧‧頂部白光束/頂部光束
11A‧‧‧各別頂部位置/頂部位置
11B‧‧‧短波長峰值
12‧‧‧中間白光束/中間光束
12A‧‧‧中間位置
12B‧‧‧中間波長峰值
13‧‧‧底部白光束/底部光束
13A‧‧‧底部位置
13B‧‧‧長波長峰值
14‧‧‧錐狀光導管/光導管
15‧‧‧光偵測器線性陣列
16‧‧‧非經準直入射光/入射光
17‧‧‧部分經準直光束
18‧‧‧x軸
19‧‧‧習用光譜儀/光譜儀
20‧‧‧光學濾波器
21A‧‧‧上游橫向可變帶通光學濾波器/上游濾波器/上游光學濾波器/上游橫向可變帶通濾波器/上游橫向可變濾波器/橫向可變帶通濾波器
21B‧‧‧下游橫向可變帶通光學濾波器/下游濾波器/下游光學濾波器/單一下游濾波器/下游橫向可變帶通濾波器/下游橫向可變濾波器/橫向可變帶通濾波器
21C‧‧‧額外濾波器
22‧‧‧光學路徑
23‧‧‧光束
24A‧‧‧線性相依性
24B‧‧‧線性相依性
25‧‧‧共同第一方向/第一方向/第一方向(x軸)
26‧‧‧開口
27‧‧‧立體角
30‧‧‧接受角/接受光錐
31L‧‧‧左邊緣射線
31R‧‧‧右邊緣射線
32‧‧‧法線
33A‧‧‧通帶
40A‧‧‧光學濾波器
40B‧‧‧光學濾波器
40C‧‧‧光學濾波器
40D‧‧‧光學濾波器
40E‧‧‧光學濾波器
41A‧‧‧上游薄膜楔形干擾塗層/薄膜楔形干擾塗層/上游濾波器/薄膜塗層
41B‧‧‧下游薄膜楔形干擾塗層/薄膜楔形干擾塗層/下游濾波器/薄膜塗層
42‧‧‧單一共同基板/共同基板/基板
42A‧‧‧各別基板/基板
42B‧‧‧各別基板/基板
50A‧‧‧光學濾波器
50B‧‧‧光學濾波器
50C‧‧‧光學濾波器
51A‧‧‧孔隙
51B‧‧‧光譜回應平坦濾波器
60A‧‧‧光學光譜儀/光譜儀/下游濾波器/光學濾波器
60B‧‧‧光學光譜儀/光譜儀
61‧‧‧光偵測器陣列
61A‧‧‧像素側
61B‧‧‧背側
62‧‧‧像素/個別像素
63‧‧‧封裝
64‧‧‧清晰孔隙
65‧‧‧間隙
66‧‧‧包殼
67‧‧‧窗
68‧‧‧選用熱電冷卻器
69‧‧‧光源
71‧‧‧阻擋濾波器部分
72‧‧‧帶通濾波器部分
73‧‧‧光吸收遮罩
74‧‧‧驅動器電路晶片
75‧‧‧黑色填充材料
76‧‧‧平行凹槽/凹槽
77‧‧‧條
80A‧‧‧光譜儀
80C‧‧‧光譜儀
81A‧‧‧上游濾波器
81B‧‧‧下游濾波器
82‧‧‧個別光偵測器像素/像素
83‧‧‧光譜線
84‧‧‧列/不同列
85‧‧‧光學功率密度分佈/個別光學功率密度分佈
87‧‧‧第二方向
88‧‧‧二維(2D)光偵測器陣列/2D光偵測器陣列/光偵測器陣列
89A-1‧‧‧片段
89A-2‧‧‧片段
89A-3‧‧‧片段
89B-1‧‧‧片段
89B-2‧‧‧片段
89B-3‧‧‧片段
90‧‧‧光射線追跡模型
91A‧‧‧上游橫向可變帶通濾波器/上游濾波器
91B‧‧‧下游橫向可變帶通濾波器/下游濾波器
92‧‧‧透明間隔件
93‧‧‧射線
95‧‧‧分散方向
96‧‧‧矩形孔隙/孔隙
97‧‧‧光偵測器
99‧‧‧朗伯光源
100‧‧‧頂部圖表
101‧‧‧曲線圖
102‧‧‧曲線圖
103‧‧‧曲線圖
104‧‧‧曲線圖
131‧‧‧虛線光譜
132‧‧‧實線光譜
140A‧‧‧多波長光譜
140B‧‧‧多波長光譜
140C‧‧‧多波長光譜
140D‧‧‧多波長光譜
140E‧‧‧多波長光譜
140F‧‧‧多波長光譜
140G‧‧‧多波長光譜
141‧‧‧雜散光
150‧‧‧光譜儀
151‧‧‧外殼
152‧‧‧窗
153‧‧‧光學濾波器
154‧‧‧電子驅動器
155‧‧‧實線
156‧‧‧比例尺
161‧‧‧發射光譜/光譜
162‧‧‧發射光譜/光譜
171‧‧‧傳輸光譜/第一光譜
172‧‧‧傳輸光譜/第二光譜
d‧‧‧寬度/變動寬度
L‧‧‧距離/濾波器間距離/恆定或變動距離/長度
x0‧‧‧參考點/相同參考點
λ0‧‧‧波長/參考帶通中心波長/參考波長
λT‧‧‧帶通中心波長/中心波長/線性可變帶通中心波長/相同帶通中心波長/對應帶通中心波長
θ‧‧‧角度/小角度/所得接受半角
△x‧‧‧橫向距離
現在將結合圖式闡述例示性實施例,其中:圖1A圖解說明一習用線性可變濾波器;圖1B圖解說明基於圖1A之線性可變濾波器之一習用光學光譜儀;圖2A圖解說明根據本發明之包含一對橫向可變帶通濾波器之一光學濾波器;圖2B圖解說明圖2A之橫向可變帶通濾波器之中心波長相依性;圖2C係圖解說明藉由光學濾波器空間濾波之一原理之圖2A之光學濾波器之一側視示意圖;圖3圖解說明展示光學濾波器之一接受角之在一側視橫截面圖中之圖2A之一光學濾波器;圖4A至圖4E圖解說明圖2A及圖3之光學濾波器之各種實施例之示 意性側視圖;圖5A至圖5C圖解說明本發明之光學濾波器之各種實施例之三維圖;圖6A圖解說明包含圖2A、圖3、圖4A至圖4E或圖5A至圖5C之光學濾波器及一光偵測器陣列之一光譜儀之示意性橫截面側視圖;圖6B圖解說明包含圖2A、圖3、圖4D或圖5A至圖5C之光學濾波器之一經密封光譜儀之示意性橫截面側視圖;圖7A至圖7D圖解說明展示光偵測器陣列上之下游濾波器之安裝組態之圖6A之光譜儀之各種實施例之部分橫截面側視圖;圖8A圖解說明具有一傾斜二維(2D)偵測器陣列之一光譜儀實施例之一平面圖;圖8B圖解說明圖8A之2D偵測器陣列之像素之不同列上之光學功率密度分佈;圖8C圖解說明本發明之一多光譜光譜儀實施例之一分解視圖;圖9A及圖9B分別圖解說明圖2A、圖3及圖4B之光學濾波器之一光射線追跡模型之三維視圖及側視圖;圖10圖解說明圖9A、圖9B之光射線追跡模型在上游濾波器與下游濾波器之間的不同數值孔徑及距離處之模擬光學功率分佈之一疊加視圖;圖11A、圖11B及圖11C分別圖解說明在波長1.0μm、1.3μm及1.6μm處之模擬經偵測光學光譜;圖12圖解說明展示圖2A、圖3A至圖3B及圖4B之模擬光學濾波器之一解析功率之一模擬雙線光學光譜;圖13圖解說明與具有一錐狀光導管準直器及一線性可變濾波器之一模擬光譜儀之一多波長光譜比較展示之具有圖2A之光學濾波器之一模擬光譜儀之一多波長光譜; 圖14圖解說明使用具有在濾波器間距離L之不同值處之圖2A之光學濾波器之一光譜儀獲得之一多波長光源之模擬光譜;圖15A及圖15B圖解說明圖6A之一光譜儀之一平面圖(圖15B);圖16圖解說明使用圖15A及圖15B之光譜儀量測之單色光譜;及圖17圖解說明使用圖15A、圖15B之光譜儀量測之一經摻雜玻璃樣本之光學傳輸光譜(且與使用一標準MicroNIRTM光譜儀量測之經摻雜玻璃樣本之一傳輸光譜相比)。
雖然結合各種實施例及實例闡述本教示,但並不意欲將本教示限制於此等實施例。相反地,本教示囊括各種替代例及等效物,如熟習此項技術者將瞭解。
如上文所論述,習用光學濾波器及光譜儀係大且笨重的,此限制其等在可攜式光感測裝置及應用中之可應用性。線性可變濾波器已用於光譜儀中以提供波長分離功能。參考圖1A,可使用白光照明一習用線性可變濾波器10,該白光包含頂部白光束11、中間白光束12及底部白光束13。頂部光束11、中間光束12及底部光束13可在各別頂部位置11A、中間位置12A及底部位置13A處照射線性可變濾波器10。線性可變濾波器10可具有沿著一x軸18線性變動之一通帶之一中心波長。舉例而言,濾波器10可在頂部位置11A處通過一短波長峰值11B;在中間位置12A處通過一中間波長峰值12B;且在底部位置13A處通過一長波長峰值13B。
在進一步參考圖1A之情況下參考圖1B,一習用光譜儀19可包含線性可變濾波器10、經安置於線性可變濾波器10上游之一錐狀光導管14及經安置於線性可變濾波器10下游之一光偵測器線性陣列15。在操作中,非經準直入射光16可由光導管14調節以產生一部分經準直光束17。線性可變濾波器10可傳輸在不同波長處之光,如上文參考圖1A 所闡釋。錐狀光導管14可減小入射光16之一立體角,藉此改良線性可變濾波器10之光譜選擇性。光偵測器線性陣列15可偵測在不同波長處之光之光學功率位準,藉此獲得入射光16之一光學光譜(未展示)。
因此可期望減小光譜儀19之大小。錐狀光導管14可通常係光譜儀19之最大元件。可需要諸如錐狀光導管14之一準直元件,此乃因在無該準直元件之情況下,線性可變濾波器之光譜選擇性降級。此可發生係因為線性可變濾波器10包含薄介電膜之一堆疊體。薄膜濾波器之波長選擇性質一般而言可取決於入射光之入射角,其可使薄膜濾波器之光譜選擇性及波長準確性降級。
參考圖2A及圖2B,可如下文所闡述而提供一光學濾波器20(圖2A)。舉例而言,光學濾波器20可包含經依序安置之上游橫向可變帶通光學濾波器21A及下游橫向可變帶通光學濾波器21B,其等在一光束23之一光學路徑22中經分離一距離L。如圖2B中所展示,上游濾波器21A及下游濾波器21B可各具有沿著由x軸表示之一共同第一方向25以一互相協調之方式變動之一帶通中心波長λT。第一方向25可橫向於光學路徑22。藉由一非限制性實例,圖2A之上游濾波器21A及下游濾波器21B兩者之帶通中心波長λT可具有各別單調線性相依性24A、24B,如圖2B中所展示。x座標上分別為上游濾波器21A及下游濾波器21B之中心波長相依性λ1T(x)及λ2T(x)可係相同或相對於彼此移位,例如,λ2T(x)=λ1T(x+x0),其中x0係一常數;或按比例調整,例如,λ2T(x)=cλ1T(x),其中c係一常數(例如,0.9<c<1.1)。換言之,術語「協調方式」界定分別為上游濾波器21A及下游濾波器21B之中心波長相依性λ1T(x)與λ2T(x)之間的一預定函數關係。
光學濾波器20之組態可使光學濾波器20之光譜選擇性對光束23之準直之一程度之一相依性與下游濾波器21B之光譜選擇性對光束23之準直之程度之一對應相依性相比能夠減弱。光學濾波器20之此效能 改良可由一空間濾波效應引起,其可藉由參考圖2C而理解。在一波長λ0處之單色光中,上游濾波器21A及下游濾波器21B可大約由具有對應於沿著x軸之位置之「開口」26之狹縫表示(其中中心波長λT0)。換言之,在「開口」26之外部,上游濾波器21A及下游濾波器21B可係對於波長λ0處之單色光基本上不透明的。「開口」26界定一接受光錐或立體角27(2θ),其取決於濾波器間距離L。可阻擋立體角27外部之任何射線,因此改良下游濾波器21B之光譜選擇性。
可藉由參考展示一側視橫截面圖中之光學濾波器20之圖3而進一步闡釋圖2A之光學濾波器20之操作。在圖3中,第一方向25可係水平的,且中心波長λT可對於上游光學濾波器21A及下游光學濾波器21B兩者皆自左至右增加。在圖3之實例中,上游濾波器21A及下游濾波器21B之帶通中心波長λT可與x座標線性相關:λT0+D△x (1)
其中λ0表示一參考點x0處之一參考帶通中心波長,D表示比例係數,稱為一橫向可變濾波器之「斜率」,且△x表示自參考點x0之一偏移。斜率D可對應於圖2B中之線性相關24A及24B之斜率,該等斜率可(但不必須)彼此相同。自線性相關24A及24B之相同斜率之偏差在一些應用中可係有利的。
在圖3之實例中,上游濾波器21A及下游濾波器21B可彼此對準,使得對應於下游濾波器21B之參考帶通中心波長λ0之參考點x0直接經安置於對應於上游濾波器21A之參考帶通中心波長λ0之參考點x0下方。上游濾波器21A可充當下游濾波器21B之一空間濾波器,從而界定下游濾波器21B之一接受角30。接受角30可由參考波長λ0處之左邊緣射線31L及右邊緣射線31R限制,該等邊緣射線各在至一法線32之角度θ處傳播至上游濾波器21A及下游濾波器21B且在相同參考點x0處照射下游濾波器21B。如下,接受角30可自上游濾波器21A之一通帶 33A導出。
在圖3中圖解說明之幾何形狀中,左邊緣射線31L可在一位置x0-△x處照射上游濾波器21A。彼位置處之傳輸波長λL根據方程式(1)可係λL0-D△x。由於左邊緣射線31L在參考波長λ0處,因此左邊緣射線31L可取決於上游濾波器21A之通帶33A之寬度而衰減;為了此實例,(例如)一10dB帶寬視為2D△x。因此,左邊緣射線31L可衰減10dB。類似地,右邊緣射線31R可在一位置x0+△x處照射上游濾波器21A。彼位置處之傳輸波長λR根據方程式(1)可係λR0+D△x。右邊緣射線31R亦可衰減10dB。接受角30內之參考波長λ0處之全部射線可衰減小於10dB之一值;且接受角30外部之參考波長λ0處之全部射線可衰減大於10dB之一值。換言之,上游濾波器21A可充當空間濾波器,從而有效限制下游濾波器21B將在個別波長中分離之入射光之數值孔徑(NA)。此可導致光學濾波器20之光譜選擇性之相依性與單一下游濾波器21B之光譜選擇性對光束23之準直之程度之對應相依性比較之減小。換言之,若光學濾波器20中不存在上游濾波器21A,則光學濾波器20之光譜選擇性將更取決於光束23之準直之程度。通常,光束23可由一樣本(未展示)之散射或發光而引起使得光束23未準直。不存在上游濾波器21A時之光束23之準直之缺乏可導致總體光譜選擇性之惡化除非使用諸如一錐狀光導管之一專用準直元件。在本文中,術語「光譜選擇性」可包含諸如通帶寬度、雜散光抑制、帶內及帶外阻擋等之參數。
對於小角度θ,可寫入,或
當上游濾波器21A與下游濾波器21B之間的空間填充有具有一折射率n之一透明介質時,方程式(3)變為
方程式(4)可界定與上游濾波器21A之一帶寬有關之濾波器間距離L、濾波器間間隙之折射率n、沿著第一方向25之一橫向距離x與所得接受半角θ之間的一大約關係。一更精確關係可考慮歸因於非零入射角之波長偏移,其通常導致帶通中心波長λT之一藍位移(即,朝向較短波長)。舉例而言,在位置x0+△x處照射上游濾波器21A之參考波長λ0處之右邊緣線31R可傾斜角度θ,其將上游濾波器21A之傳輸特性移位至較短波長。若待計及此波長相依性,則通帶33A之肩部可移位至左邊(即,較短波長):
其中neff表示上游濾波器21A之一有效折射率。
雖然在圖2B中,上游橫向可變帶通濾波器21A及下游橫向可變帶通濾波器21B具有如由上文之方程式(1)界定之線性可變帶通中心波長λT,但上游濾波器21A及下游濾波器21B之中心波長λT在第一方向25中可係單調非線性(例如,抛物線地或以指數方式)增加或減小。沿著上游橫向可變濾波器21A及下游橫向可變濾波器21B之第一方向25之帶通中心波長λT對x座標之相依性可係相同或可係不同以達成光學濾波器20之接受角及/或波長回應之微調或變動。在一項實施例中,上游濾波器21A及下游濾波器21B之帶通中心波長λT可彼此對準,使得連接對應於上游濾波器21A及下游濾波器21B之一相同帶通中心波長λT之位置之一線與至下游濾波器21B之法線32形成小於45度之一角度。對於與法線32之非零角度,接受光錐30可呈現傾斜。因此,可藉由在第一方向25中使上游濾波器21A及下游濾波器21B相對於彼此偏移而變動接受光錐30之方向。此外,角度可沿著第一方向(x軸)25變動。
為了一較佳總處理能力,可較佳地具有大於對應於下游濾波器 21B之一帶寬之沿著第一方向25之一對應橫向距離△x2之對應於上游濾波器21A之一帶寬之沿著第一方向25之一橫向距離△x1。在一項實施例中,上游濾波器21A及下游濾波器21B可各具有不大於一對應帶通中心波長λT之10%之一3dB通帶。
上游濾波器21A及/或下游濾波器21B可包含一薄膜層堆疊體,該薄膜層堆疊體包含兩個、三個及更多不同材料,(例如)高指數及/或吸收層可用於減小上游濾波器21A及下游濾波器21B中之每一者之總厚度。此外,上游濾波器21A及/或下游濾波器21B可包含例如子波長光柵、二向色性聚合物等之繞射光柵。
參考圖4A,一光學濾波器40A之上游濾波器21A及下游濾波器21B可包含安置於背對背接合之各別基板42A及42B上之薄膜楔形干擾塗層41A及41B。基板42A及42B可充當上游薄膜楔形干擾塗層41A與下游薄膜楔形干擾塗層41B之間的具有一折射指數n之一透明介質。轉向圖4B,一單一共同基板42可用於一光學濾波器40B中,上游薄膜楔形干擾塗層41A及下游薄膜楔形干擾塗層41B經安置於共同基板42之相對側上。共同基板42可如圖4C中所示為楔形,使得一光學濾波器40C之上游薄膜楔形干擾塗層41A及下游薄膜楔形干擾塗層41B(濾波器)彼此成一角度而安置。在此情況中,距離L可沿著第一方向25變動。距離L變動可有助於處理上游濾波器41A與下游濾波器41B之間的光譜斜率失配以及上游濾波器41A與下游濾波器41B之間的光譜線寬差異。為了該目的,折射指數n亦可沿著第一方向25在恒定或變動距離L處變動。
圖4D圖解說明一光學濾波器40D之另一組態,其中上游薄膜楔形干擾塗層41A及下游薄膜楔形干擾塗層41B可彼此面對,以一隔開之關係安置。圖4E之一光學濾波器40E圖解說明包含薄膜楔形干擾塗層41A及41B兩者皆面對一相同方向(例如,在此情況中係光束23)之另一 實施例。
在進一步參考圖2A及圖4A至圖4C之情況下返回參考方程式(4),值L/n可通常大於0.2mm。在一項實施例中,值L/n可小於15mm,例如在0.2mm與15mm之間。應瞭解,距離L可對應於實際薄膜塗層(例如,圖4A至圖4C中之41A及41B)之間的一距離,且可包含基板42、42A及/或42B之厚度(此等基板應在薄膜塗層41A與薄膜塗層41B之間的光學路徑22中)。藉由一非限制性圖解,在圖4B之光學濾波器40B中,L可表示基板42之厚度,且n可表示基板42之折射率。
現在參考圖5A,光學濾波器50A可類似於圖2A之光學濾波器20,且可類似於圖4A至圖4E之光學濾波器40A至40E。然而,圖5A之光學濾波器50A可進一步包含安置於光學路徑22中之一孔隙51A。孔隙51A可具有在第一方向25中變動之一寬度d。孔隙51A之變動寬度d之一個功能可係調整照射於光學濾波器50A上之光能之量,此可用於補償上游濾波器21A/下游濾波器21B之輸出傳輸之一量值之一波長相依性及/或一光偵測器陣列(未展示)之一光譜回應。
一補償濾波器可用於濾波器之光譜回應及/或一光偵測器(未展示)之一光譜回應之一更精確控制。參考圖5B,光學濾波器50B可類似於圖2A之光學濾波器20,且可類似於圖4A至圖4E之光學濾波器40A至40E。一光譜回應平坦濾波器51B可經安置於光學濾波器50B之光學路徑22中以便使光學濾波器50B之一光譜回應平坦化。雖然在圖5B中展示光譜平坦濾波器50B經安置於上游濾波器21A上,但光譜平坦濾波器50B可經安置於下游濾波器21B上及/或上游濾波器21A與下游濾波器21B之間的光學路徑22中。
現在轉向圖5C,光學濾波器50C可類似於圖2A之光學濾波器20,且可類似於圖4A至圖4E之光學濾波器40A至40E。然而,圖5C之光學濾波器50C可進一步包含光學路徑22中之一額外濾波器21C。額外濾 波器21C可具有以與上游濾波器21A及下游濾波器21B之帶通中心波長協調之一方式變動之一帶通中心波長。額外濾波器21C亦可包含一高通橫向可變濾波器或一低通橫向可變濾波器、諸如一繞射光柵之一分散元件、具有光譜及/或橫向可變吸收之一塗層等。額外濾波器21C之功能可係進一步界定入射光之輸入數值孔徑及/或進一步改良光學濾波器20之解析能力。三個以上橫向可變帶通濾波器21A、21B、...21N(其中N表示任何整數)可用於光學濾波器50C中。
在進一步參考圖2A之情況下參考圖6A,一光學光譜儀60A(圖6A)可包含圖2A之光學濾波器20及安置於下游濾波器21B下游之光學路徑22中之一光偵測器陣列61。光偵測器陣列61可具有沿著第一方向25經安置用於偵測(例如)藉由一光源69發射之光束23之個別光譜分量之光學功率位準之像素62。在一廣泛意義上,術語「光源」可係指一螢光或散射樣本、一實際光源(例如,用於吸收量測)等。源自(例如)一發冷光及/或散射樣本之光束23一般而言可包含會聚射線或發散射線。在本文中,術語「發散」可不需要包括光束23之射線源自一相同單一點。類似地,術語「會聚」可不需要包括光束23之射線會聚至一單一點。如上文參考圖2C及圖3闡釋,包含上游帶通橫向可變光學濾波器21A及下游帶通橫向可變光學濾波器21B之光學濾波器20之雙濾波器結構可導致光學光譜儀60A之光譜選擇性對光束23之準直之一程度之相依性之減弱。換言之,若僅使用下游濾波器21B而不使用上游濾波器21A,則光學光譜儀之光譜選擇性可更相依於光束23之準直之程度,從而導致光譜選擇性之一總體惡化。
光偵測器陣列61可與下游濾波器21B直接接觸。光偵測器陣列61可充滿一灌封材料以便形成一封裝63。封裝63之一個功能可係提供光偵測器陣列61之一電子及/或熱絕緣而不使光學濾波器20之下游濾波器21B之一清晰孔隙64模糊。封裝63之另一功能可係保護上游濾波器 21A及下游濾波器21B之邊緣免受衝擊、潮濕等影響。
在進一步參考圖2A及圖6A之情況下參考圖6B,一光學光譜儀60B(圖6B)可包含圖2A之光學濾波器20及安置於下游濾波器21B下游之光學路徑22中之光偵測器陣列61。光學光譜儀60B可進一步包含具有安置於光學路徑22中用於輸入光束23之一窗67之一包殼66。在所展示之實施例中,窗67可包含上游濾波器21A,且上游濾波器21A及下游濾波器21B由一間隙65(例如,氣隙)分離。下游濾波器21B可直接安裝於光偵測器陣列61上。在一項實施例中,一小間隙(例如,小於2mm)可存在於下游濾波器21B與光偵測器陣列61之間。
間隙65可容許光偵測器陣列61自包殼66解熱耦合,其繼而達成藉由一選用熱電冷卻器68之光偵測器陣列61之深冷卻。包殼66可以氣密方式密封及/或填充有一惰性氣體以用於較佳可靠性及環境穩定性。一聚焦元件(未展示)可提供於下游濾波器21B與光偵測器陣列61之間的光學路徑22中以將光束23聚焦於光偵測器陣列61上。可使用除了光偵測器陣列61之外的一感測器。藉由一非限制性實例,一光偵測器可在第一方向25中相對於光學濾波器20平移。
下游濾波器21B之安裝選項可包含將下游濾波器21B之薄膜結構直接沈積於光偵測器陣列61上。藉由一非限制性實例,在圖7A及圖7B中,下游濾波器21B可經沈積於光偵測器陣列61之一像素側61A上。在一些實施例中,下游濾波器21B可係包含兩個阻擋濾波器部分71及兩個阻擋濾波器部分71之間的一帶通濾波器部分72之一楔形薄膜濾波器。
具體在圖7B中,一光吸收遮罩73可經放置於個別像素62之間以遮蔽個別像素62免受雜散光。在圖7C中,圖解說明一替代安裝選項:下游濾波器21B可安置於光偵測器陣列61之一背側61B上。當然,此安裝選項可需要光偵測器陣列61之一基板61C對光束23透明。 有利地,背部安裝可容許一驅動器電路晶片74覆晶接合至光偵測器陣列61之像素側61A。轉向圖7D,下游濾波器21B可藉由提供(例如,蝕刻複數個平行凹槽76)倒入至凹槽76中之一黑色填充材料75而經分段,黑色填充材料75之位置可與光吸收遮罩73之條77相協調。
在進一步參考圖6A及圖6B之情況下參考圖8A,在一部分平面圖中展示一光譜儀80A。光譜儀80A可類似於圖6A之光譜儀60A及圖6B之光譜儀60B。然而,圖8A之光譜儀80A可包含具有複數個個別光偵測器像素82之一個二維(2D)光偵測器陣列88。2D光偵測器陣列88可相對於光學濾波器20之像素82之列84經旋轉或經計時一銳角α,使得在一單色照明之後,一光譜線83旋即以至2D光偵測器陣列88之像素82之列84之角度α形成於光偵測器陣列31上。在進一步參考圖8A之情況下參考圖8B,旋轉或計時角度α可導致2D光偵測器陣列88之像素82之不同列84上之光學功率密度分佈85自彼此偏移。以此方式,可獲得複數個偏移光譜而非一個光譜,從而達成一光譜解析度及波長準確性增加。亦可(例如)藉由使個別光學功率密度分佈85去旋捲且平均化而改良一信號對雜訊比。
現在轉向圖8C,一光譜儀80C可係圖8A之光譜儀80A之一變體。圖8C之光譜儀80C亦可包含2D光偵測器陣列88。在圖8C中,2D光偵測器陣列88可或可並非如圖8A中所展示而傾斜。圖8C之光譜儀80C可進一步包含類似於圖2A之光學濾波器20之對應上游濾波器21A及下游濾波器21B之上游濾波器81A及下游濾波器81B,即,具有沿著橫向於光束23之光學路徑22之第一方向25以一互相協調之方式逐漸變動之帶通中心波長。在圖8C中,上游濾波器81A及下游濾波器81B各可包含在垂直於第一方向25之一第二方向87中並排配置之複數個片段89A-1、89A-2、89A-3(上游濾波器81A)...及89B-1、89B-2、89B-3(下游濾波器81B)。上游濾波器81A之各片段89A-1、89A-2、89A-3...對應 於下游濾波器81B之片段89B-1、89B-2、89B-3中之一者以用於在一專用波長區域中操作。藉由一非限制性實例,第一對片段89A-1及89B-1可經組態以用於在1000nm至1200nm之波長範圍中操作,第二對片段89A-2及89B-2可經組態以用於在1200nm至1400nm之波長範圍中操作,第三對片段89A-3及89B-3可經組態以用於在1400nm至1600nm之波長範圍中操作等。波長範圍可不必係連續的。舉例而言,可向諸如可見波長或近紅外線(IR)、中IR、紫外線(UV)及甚至軟X射線之其他波長區域提供多個片段。因此,光譜儀80C可適合於多光譜感測及/或多光譜成像應用。此等多光譜發送/成像應用可需要適合基板及塗層材料,如熟習此項技術者瞭解。
返回參考圖2A,用於獲得沿著光學路徑22傳播之光束23之一光譜之一方法可包含使用具有經分離一距離L之上游橫向可變帶通光學濾波器21A及下游橫向可變帶通光學濾波器21B之光學濾波器20濾波光束23。如圖2B中圖解說明,上游濾波器21A及下游濾波器21B各可具有沿著橫向於光學路徑22之共同第一方向25以一互相協調之方式(例如,24A、24B)逐漸變動之一帶通中心波長λT。歸因於上游濾波器21A及下游濾波器21B之依序放置,諸如帶寬、帶外抑制等之光學濾波器之光譜選擇性對光束23之準直之一程度之一相依性可小於僅下游濾波器21B之光譜選擇性對光束23之準直之程度之一對應相依性。
在該方法之下一個步驟中,可沿著下游濾波器21B下游之第一方向25偵測光學功率分佈。舉例而言,返回參考圖6A、圖6B及圖8A,可將光偵測器陣列61(圖6A、圖6B)或2D光偵測器陣列88(圖8A)安置於下游濾波器21B之下游,且可使用光偵測器陣列61或88偵測光學功率分佈。再次參考圖6A及圖7A至圖7C,下游濾波器21B可直接安置(例如,沈積)於光偵測器陣列61上,光偵測器陣列61可充滿一灌封材料以便絕緣光偵測器陣列61而不使下游濾波器60A之清晰孔隙64模 糊。
在一些實施例中,可執行一射線追跡模擬以驗證圖2A之光學濾波器20及本發明之類似濾波器之效能。參考圖9A及圖9B,一射線追跡模型90可依序包含一朗伯光源99、一矩形孔隙96、一上游橫向可變帶通濾波器91A、具有長度L之一透明間隔件92、一下游橫向可變帶通濾波器91B及一光偵測器97。在下文中之表1中總結射線追跡模型90之輸入參數。舉例而言,射線93經追蹤一足夠次數以獲得可重複結果。各射線93具有一預定義波長且攜載一預定義光學功率。光學功率讀取在沿著對應於圖2A中之第一方向25之一分散方向95對準之光偵測器97之箱中經累積。恒定參數包含自朗伯光源99至孔隙96之3mm之距離;6.6mm x 0.25mm之光偵測器97之大小;及等於838之光偵測器97之箱或像素之數目。所變動參數包含上游橫向可變帶通濾波器91A及下游橫向可變帶通濾波器91B之呈%之帶寬及呈F/#之NA。朗伯光源99發射在0.95μm、1.05μm、1.15μm、1.25μm、1.35μm、1.45μm、1.55μm及1.65μm之八個波長處之光。
參考圖10,以圖9A、圖9B之光射線追跡模型90之光偵測器97之箱中所累積之光學功率分佈之形式呈現模擬結果。一頂部圖表100對應於一「參考模型」-具有一錐狀光導管用於光準直之一所模擬市場可購MicroNIRTM光譜儀。曲線圖101至104分別對應於上文表1之參考模型1至4。
轉向圖11A、圖11B及圖11C,可在1.0μm;1.3μm及1.6μm之各別波長處模擬一更詳細光譜效能。應瞭解,模型1至4圖解說明更佳波長準確性及類似光譜選擇性。轉向圖12,使用在1.3μm、在0.12μm分離處之一雙光譜線演示模型1及3之解析能力。應瞭解,在圖10、圖11A至圖11C及圖12中展示之結果中,模型1至4不具有一錐狀光導管或另一光準直元件,而模型1至4已展示一可接受光譜帶寬。當錐狀光導管自參考模型排除時,參考模型之光譜選擇性變得低的無法接受。
下文之表2總結模型1至4之所獲得模擬效能。
可藉由模擬而驗證圖6A之光學濾波器60A之效能。含有孔隙罩、錐狀光導管、InGaAs二極體陣列之一標準MicroNIRTM光譜儀之效能亦經模擬以提供一參考。轉向圖13,標準MicroNIRTM光譜儀效能可由0.9μm與1.7μm之間(分離0.1μm)之一多波長信號之虛線光譜131表示。實線光譜132圖解說明無任何準直或光塑形光學器件之光譜儀60A之所模擬效能。光譜峰值之間的一些雜散光係歸因於塗層,未針對所使用之波長範圍最佳化該塗層。兩個量測之照明條件相同。
參考圖14,藉由使用自0.2mm至30mm之範圍中之濾波器間距離L之不同值處之圖2A之光學濾波器20之模擬而獲得多波長光譜140A至140G。應瞭解,隨著濾波器間距離L增加,濾波器處理能力減小,且雜散光141之帶外抑制改良。此可發生係因為隨著濾波器間距離L增加,光學濾波器20(圖2C、圖3)之接受光錐2θ減小。
轉向圖15A,一光譜儀150可包含具有一窗152之一外殼151。一光學濾波器153可包含與一下游橫向可變濾波器(未展示)實體間隔2.08mm之一上游橫向可變濾波器(未展示)。上游濾波器(圖15A中未見)可具有1300nm及900nm至1700nm範圍之中心波長之1.3%之通帶。光學濾波器153之頂部處之上游濾波器可具有2mm之一寬度、8mm之一長度及1.1mm之一厚度。下游濾波器可具有1300nm及900nm至1700 nm範圍之中心波長之0.8%之通帶。下游濾波器可具有1.4mm之一寬度、7.4mm之一長度及1.5mm之一厚度。一標準128像素偵測器陣列(未展示)經放置遠離下游濾波器80微米。使用一電子驅動器154來驅動該偵測器陣列。
光學濾波器153及電子驅動器154亦可見於係圖15A之一經放大視圖之圖15B中,如使用實線155象徵性地展示。如圖15B中所展示,可使用具有5mm之一長度之一比例尺156。
現在參考圖16,使用圖15A及圖15B之光譜儀150獲得發射光譜161及162。在1064nm及1551nm之波長處之兩個雷射源之發射繼而經引導至一積分球上以產生具有一可切換發射波長之一朗伯照明源。光偵測器陣列之積分時間經調整使得兩個光譜皆具有相同峰值振幅,此乃因各雷射具有不同功率輸出位準。未使用其他光譜或空間濾波器用於此等量測。積分球具有一25mm埠且經放置遠離上游濾波器35mm。在光譜161及162兩者中,波長解析度可由光偵測器陣列之像素結構限制。可估計1065nm處之儀器3dB帶寬係1.2%.1065nm=12.8nm。可估計1550nm處之儀器3dB帶寬係0.82%.1550nm=12.7nm。
轉向圖17,使用經放置於一鹵素燈之前的一NIST可追蹤傳輸參考(在此情況中係一阿威亞(Avian)摻雜玻璃參考WCT2065-025)獲得傳輸光譜171及172。使用圖15A及圖15B之光譜儀150獲得以實線展示之第一光譜171。使用由美國加利福尼亞苗必達之JDS Uniphase Corporation製造之一標準MicroNIR1700光譜儀獲得以點線展示之第二光譜172。
在兩個情況中,藉由阻擋光源來收集暗狀態之參考光譜。藉由自光學路徑移除摻雜玻璃參考而收集白狀態參考光譜。可看到第一光譜171與第二光譜172緊密相關。使用經放置於圖15A及圖15B之光譜儀150之前的一1mm寬之孔隙獲得第一光譜171。不使用該孔隙,解 析度稍微減小,但積分(資料收集)時間減小至三分之一。
在前述說明書中,已參考附圖闡述各種實施例。然而,顯然可對其做出各種修改及改變且可實施額外實施例而不脫離如在以下申請專利範圍中陳述之本發明之較廣範疇。因此應將說明書及圖式看作一闡釋性而非限制性意義。
在此點處,應注意,如上文闡述之根據本發明之一光學濾波器及光譜儀可在一定程度上涉及輸入資料之處理及輸出資料之產生。此輸入資料處理及輸出資料產生可實施於硬體或軟體中。舉例而言,特定電子組件可用於一處理器、模組或用於實施與提供如上文所闡述之根據本發明之一光學濾波器及/或一光譜儀相關聯之功能之類似相關電路中。替代地,根據指令操作之一或多個處理器可實施如上文所闡述之與本發明相關聯之功能。若確實如此,則以下係在本發明之範疇內:此等指令可儲存於一或多個處理器可讀儲存媒體(例如,一磁碟或其他儲存媒體)上或經由體現於一或多個載波中之一或多個信號而傳輸至一或多個處理器。
本發明在範疇上將不會受到本文中闡述之特定實施例限制。實際上,一般技術者自前述說明及隨附圖式將明瞭除本文中闡述之實施例及修改之外的其他各種實施例及修改。因此,此等其他實施例及修改意欲落於本發明之範疇內。此外,雖然已在本文中出於一特定目的在一特定環境中之一特定實施方案之內容脈絡中闡述了本發明,但一般技術者將認知,其有用性非限於此且可出於任何數目之目的在任何數目之環境中有利地實施本發明。因此,應鑒於如本文中闡述之本發明之全寬度及精神理解下文中陳述之申請專利範圍。
20‧‧‧光學濾波器
21A‧‧‧上游橫向可變帶通光學濾波器/上游濾波器/上游光學濾波器/上游橫向可變帶通濾波器/上游橫向可變濾波器/橫向可變帶通濾波器
21B‧‧‧下游橫向可變帶通光學濾波器/下游濾波器/下游光學濾波器/單一下游濾波器/下游橫向可變帶通濾波器/下游橫向可變濾波器/橫向可變帶通濾波器
25‧‧‧共同第一方向/第一方向/第一方向(x軸)
30‧‧‧接受角/接受光錐
31L‧‧‧左邊緣射線
31R‧‧‧右邊緣射線
32‧‧‧法線
33A‧‧‧通帶
x0‧‧‧參考點/相同參考點
λ0‧‧‧波長/參考帶通中心波長/參考波長
△x‧‧‧橫向距離
θ‧‧‧角度/小角度/所得接受半角

Claims (34)

  1. 一種光學濾波器,其包括:一上游橫向可變帶通光學濾波器;及一下游橫向可變帶通光學濾波器;其中該下游橫向可變帶通光學濾波器經依序安置於該上游橫向可變帶通光學濾波器之下游且沿著一光束之一光學路徑經分離一距離L,其中該上游橫向可變帶通光學濾波器及該下游橫向可變帶通光學濾波器各具有沿著橫向於該光學路徑之一共同第一方向以一互相協調之方式逐漸變動之一帶通中心波長,且其中該光學濾波器之光譜選擇性對該光束之準直之一程度之一相依性小於該下游橫向可變帶通光學濾波器之光譜選擇性對該光束之準直之該程度之一對應相依性。
  2. 如請求項1之光學濾波器,其中該上游濾波器及該下游濾波器之該等中心波長在該第一方向中單調增加。
  3. 如請求項2之光學濾波器,其中該上游濾波器及該下游濾波器之該等中心波長在該第一方向中非線性增加。
  4. 如請求項2之光學濾波器,其中該上游濾波器及該下游濾波器之該等中心波長具有該帶通中心波長對沿著該第一方向之一x座標之一實質上相同相依性。
  5. 如請求項2之光學濾波器,其中對應於該上游濾波器之一帶寬之沿著該第一方向之一橫向距離△x1大於對應於該下游濾波器之一帶寬之沿著該第一方向之一橫向距離△x2
  6. 如請求項2之光學濾波器,其進一步包括在該上游濾波器與該下游濾波器之間具有一折射率n之一透明介質。
  7. 如請求項6之光學濾波器,其中L/n大於0.2mm。
  8. 如請求項7之光學濾波器,其中L/n小於15mm。
  9. 如請求項6之光學濾波器,其中L/n=△x1/θ,其中△x1係對應於該上游濾波器之一帶寬之沿著該第一方向之一橫向距離,且θ係該光學濾波器之一接受角。
  10. 如請求項6之光學濾波器,其中該介質包括一透明基板,其中該上游濾波器及該下游濾波器經安置於該基板之相對側上。
  11. 如請求項6之光學濾波器,其中該折射率n沿著該第一方向變動。
  12. 如請求項1之光學濾波器,其中該上游濾波器及該下游濾波器之該等帶通中心波長彼此對準,使得連接對應於該上游濾波器及該下游濾波器之一相同帶通中心波長之位置之一線與至該下游濾波器之一法線形成小於45度之一角度。
  13. 如請求項12之光學濾波器,其中該角度沿著該第一方向變動。
  14. 如請求項1之光學濾波器,其中該上游濾波器及該下游濾波器彼此成一角度而安置,使得該距離L沿著該第一方向變動。
  15. 如請求項1之光學濾波器,其進一步包括經安置於該光學路徑中之一孔隙,其中該孔隙具有在該第一方向中變動之一寬度。
  16. 如請求項1之光學濾波器,其進一步包括經安置於該光學路徑中用於使該光學濾波器之一光譜回應平坦化之一光譜回應平坦濾波器。
  17. 如請求項16之光學濾波器,其中該光譜平坦濾波器經安置於該上游濾波器或該下游濾波器上或其等之間。
  18. 如請求項1之光學濾波器,其進一步包括該光學路徑中之一額外橫向可變帶通光學濾波器,該額外濾波器具有以與該上游濾波器及該下游濾波器之該等帶通中心波長協調之一方式變動之一 帶通中心波長。
  19. 如請求項1之光學濾波器,其中該上游濾波器及該下游濾波器各包括一中心波長,且一3dB通帶不大於該對應中心波長之10%。
  20. 如請求項1之光學濾波器,其中該上游濾波器及該下游濾波器中之至少一者包括包括三個或三個以上不同材料之薄膜層。
  21. 如請求項1之光學濾波器,其中該上游濾波器及該下游濾波器中之至少一者包括薄膜層堆疊體、一子波長光柵或一個二向色性聚合物。
  22. 一種光學光譜儀,其包括:一光學濾波器,其包括:一上游橫向可變帶通光學濾波器;及一下游橫向可變帶通光學濾波器;其中該下游橫向可變帶通光學濾波器經依序安置於該上游橫向可變帶通光學濾波器之下游且沿著一光束之一光學路徑經分離一距離L,其中該上游橫向可變帶通光學濾波器及該下游橫向可變帶通光學濾波器各具有沿著橫向於該光學路徑之一共同第一方向以一互相協調之方式逐漸變動之一帶通中心波長,且其中該光學濾波器之光譜選擇性對該光束之準直之一程度之一相依性小於該下游橫向可變帶通光學濾波器之光譜選擇性對該光束之準直之該程度之一對應相依性;及一光學感測器,其經安置於該下游濾波器下游之該光學路徑中。
  23. 如請求項22之光學光譜儀,其進一步包括用於提供該光束之一光源,其中該光束包括會聚射線或發散射線。
  24. 如請求項22之光學光譜儀,其進一步包括經安置於該上游濾波 器上游之該光學路徑中用於使該光束在該上游濾波器上之密度分佈更均勻之一擴散體。
  25. 如請求項22之光學光譜儀,其中該光學感測器包括具有沿著該第一方向經安置之像素之一光偵測器陣列。
  26. 如請求項25之光學光譜儀,其中該光偵測器陣列包括一個二維像素陣列,其經安置使得當該光束係單色時,一光譜線經形成於該光偵測器陣列上,其中該光譜線與該光偵測器陣列之列形成一銳角。
  27. 如請求項25之光學光譜儀,其中該光偵測器陣列包括一個二維像素陣列,其中該上游濾波器及該下游濾波器各包括在垂直於該第一方向之一第二方向中並排配置之複數個片段,其中該上游濾波器之各片段對應於該下游濾波器之一片段以用於在一專用波長區域中操作。
  28. 如請求項25之光學光譜儀,其進一步包括經安置於該下游濾波器與該光偵測器陣列之間的該光學路徑中用於將該光束聚焦於該光偵測器陣列上之一聚焦元件。
  29. 如請求項25之光學光譜儀,其中該下游濾波器與該光偵測器陣列接觸。
  30. 如請求項22之光學光譜儀,其進一步包括一包殼,該包殼包括經安置於該光學路徑中用於輸入該光束之一窗,其中該窗包括該上游濾波器,且其中該上游濾波器及該下游濾波器由一間隙分離。
  31. 一種用於獲得沿著一光學路徑傳播之一光束之一光譜之方法,該方法包括:使用包括一上游橫向可變帶通光學濾波器及下游橫向可變帶通光學濾波器之一光學濾波器濾波該光束,其中該下游橫向可 變帶通光學濾波器經依序安置於該上游橫向可變帶通光學濾波器之下游且沿著一光束之一光學路徑經分離一距離L,其中該上游橫向可變帶通光學濾波器及該下游橫向可變帶通光學濾波器各具有沿著橫向於該光學路徑之一共同第一方向以一互相協調之方式逐漸變動之一帶通中心波長,且其中該光學濾波器之光譜選擇性對該光束之準直之一程度之一相依性小於該下游橫向可變帶通光學濾波器之光譜選擇性對該光束之準直之該程度之一對應相依性;及沿著該下游濾波器之下游之該第一方向偵測光學功率分佈。
  32. 如請求項31之方法,其中使用一光偵測器陣列偵測該光學功率分佈。
  33. 如請求項32之方法,其進一步包括將該下游濾波器沈積於該光偵測器陣列上。
  34. 如請求項33之方法,其進一步包括使用一灌封材料灌封該光偵測器陣列以便絕緣該光偵測器陣列而不使該下游濾波器之一清晰孔隙模糊。
TW104103308A 2014-01-31 2015-01-30 光學濾波器及光譜儀及用於獲得沿著一光學路徑傳播之一光束之一光譜之方法 TWI641813B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201461934547P 2014-01-31 2014-01-31
US61/934,547 2014-01-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201531674A true TW201531674A (zh) 2015-08-16
TWI641813B TWI641813B (zh) 2018-11-21

Family

ID=53754601

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107135212A TWI692622B (zh) 2014-01-31 2015-01-30 光學濾波器及用於獲得沿著一光學路徑傳播之一光束之一光譜之方法
TW104103308A TWI641813B (zh) 2014-01-31 2015-01-30 光學濾波器及光譜儀及用於獲得沿著一光學路徑傳播之一光束之一光譜之方法

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107135212A TWI692622B (zh) 2014-01-31 2015-01-30 光學濾波器及用於獲得沿著一光學路徑傳播之一光束之一光譜之方法

Country Status (8)

Country Link
US (2) US9625628B2 (zh)
EP (1) EP3100078B1 (zh)
JP (3) JP6490700B2 (zh)
KR (2) KR102351001B1 (zh)
CN (2) CN109520618B (zh)
CA (1) CA2938443C (zh)
TW (2) TWI692622B (zh)
WO (1) WO2015116756A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI819414B (zh) * 2021-11-24 2023-10-21 財團法人工業技術研究院 光電感測系統及其方法

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9733124B2 (en) * 2013-04-18 2017-08-15 BMG LABTECH, GmbH Microplate reader with linear variable filter
WO2015116756A1 (en) 2014-01-31 2015-08-06 Jds Uniphase Corporation An optical filter and spectrometer
JP6473367B2 (ja) * 2015-03-31 2019-02-20 三菱重工業株式会社 ガス分析システム
US9945790B2 (en) 2015-08-05 2018-04-17 Viavi Solutions Inc. In-situ spectral process monitoring
US10048127B2 (en) 2015-08-05 2018-08-14 Viavi Solutions Inc. Optical filter and spectrometer
US9939587B2 (en) 2015-08-28 2018-04-10 Samsung Electronics Co., Ltd. On-chip optical filter comprising Fabri-Perot resonator structure and spectrometer
DE102016218578A1 (de) * 2016-09-27 2018-03-29 Robert Bosch Gmbh Optische Sensorvorrichtung, Verfahren zum Einstellen einer spektralen Auflösung einer optischen Sensorvorrichtung und spektrales Messverfahren
WO2018113938A1 (en) * 2016-12-21 2018-06-28 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement Optical system
US10983006B2 (en) 2016-12-21 2021-04-20 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA—Recherche et Développement Optical system
JP6806603B2 (ja) * 2017-03-17 2021-01-06 倉敷紡績株式会社 分光フィルタおよび分光測光装置
KR102364854B1 (ko) 2017-07-26 2022-02-18 삼성전자주식회사 광 필터를 포함하는 광 분광기
WO2019027724A1 (en) * 2017-08-02 2019-02-07 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. OPTICAL FILTER PASSE-BANDE
JP6931401B2 (ja) 2017-10-11 2021-09-01 富士フイルム株式会社 撮像装置及び画像処理装置
JP2021507230A (ja) * 2017-12-13 2021-02-22 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 分光計装置および分光計システム
JP2019132607A (ja) * 2018-01-29 2019-08-08 株式会社Jvcケンウッド 分光器
US10962822B2 (en) * 2018-06-06 2021-03-30 Viavi Solutions Inc. Liquid-crystal selectable bandpass filter
WO2020033518A1 (en) * 2018-08-08 2020-02-13 Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Apertureless confocal microscopy devices and methods
US20200133012A1 (en) * 2018-10-26 2020-04-30 Viavi Solutions Inc. Optical element and optical system
JP7276444B2 (ja) 2019-06-10 2023-05-18 株式会社ニコン 計測装置
EP3999825A1 (en) * 2019-07-16 2022-05-25 ams International AG Reconstructing light wavelength spectrum with thin-film device
CN110530782B (zh) * 2019-09-25 2024-05-07 迈克医疗电子有限公司 消除旁瓣信号干扰的光学系统及方法
TWI716205B (zh) 2019-11-28 2021-01-11 財團法人工業技術研究院 功率量測保護方法與雷射保護系統
TWI730862B (zh) 2020-08-03 2021-06-11 國立陽明交通大學 製造具厚度變化的薄膜的方法
CN113093322B (zh) * 2021-03-30 2023-03-28 联合微电子中心有限责任公司 Cmos图像传感器、干涉型滤光片及其制备方法

Family Cites Families (82)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4389096A (en) * 1977-12-27 1983-06-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Image display apparatus of liquid crystal valve projection type
JPS5760231A (en) 1980-09-29 1982-04-12 Hitachi Ltd Multi-wavelength spectrometer
SE445389B (sv) 1982-06-28 1986-06-16 Geotronics Ab Forfarande och anordning for att erhalla metdata fran en kemisk process
DE3719806A1 (de) 1987-06-13 1988-12-22 Basf Ag Fiberoptischer sensor
DE69023875T2 (de) 1989-09-29 1996-05-15 Waters Investments Ltd Vorrichtung zum Messen der Lichtabsorption oder Fluoreszenz in flüssigen Proben.
US5144498A (en) * 1990-02-14 1992-09-01 Hewlett-Packard Company Variable wavelength light filter and sensor system
US5166755A (en) * 1990-05-23 1992-11-24 Nahum Gat Spectrometer apparatus
US5218473A (en) * 1990-07-06 1993-06-08 Optical Coating Laboratories, Inc. Leakage-corrected linear variable filter
US5272518A (en) 1990-12-17 1993-12-21 Hewlett-Packard Company Colorimeter and calibration system
JPH04276527A (ja) 1991-03-04 1992-10-01 Nippon Steel Corp 炉内温度計
US5872655A (en) 1991-07-10 1999-02-16 Optical Coating Laboratory, Inc. Monolithic linear variable filter and method of manufacture
JP3375147B2 (ja) * 1992-05-26 2003-02-10 浜松ホトニクス株式会社 半導体光検出装置
US5784158A (en) * 1995-11-22 1998-07-21 Lastek Laboratories Pty. Ltd. Broad spectrum spectrometer apparatus
JPH10213482A (ja) * 1997-01-28 1998-08-11 Minolta Co Ltd 色彩測定装置
US5949082A (en) 1998-03-23 1999-09-07 Datex-Ohmeda, Inc. Ceramic radiation source assembly with metalized seal for gas spectrometer
US6075611A (en) 1998-05-07 2000-06-13 Schlumberger Technology Corporation Methods and apparatus utilizing a derivative of a fluorescene signal for measuring the characteristics of a multiphase fluid flow in a hydrocarbon well
JP3844886B2 (ja) * 1998-07-28 2006-11-15 富士通株式会社 光フィルタの製造方法
US6057925A (en) * 1998-08-28 2000-05-02 Optical Coating Laboratory, Inc. Compact spectrometer device
AU777591B2 (en) 1999-07-16 2004-10-21 Textron Systems Corporation Integrated optics block for spectroscopy
US6836325B2 (en) 1999-07-16 2004-12-28 Textron Systems Corporation Optical probes and methods for spectral analysis
CN1409818A (zh) * 1999-11-19 2003-04-09 乔宾伊冯公司 小型光谱荧光计
AR031557A1 (es) 2000-03-10 2003-09-24 Textron Systems Corp Sonda optica y metodos para analisis espectral.
US8565860B2 (en) 2000-08-21 2013-10-22 Biosensors International Group, Ltd. Radioactive emission detector equipped with a position tracking system
US6700690B1 (en) * 2000-10-02 2004-03-02 Ocean Optics, Inc. Tunable variable bandpass optical filter
JP2002247455A (ja) * 2001-02-20 2002-08-30 Kureha Chem Ind Co Ltd 撮像部材及び撮像装置
JP2002268120A (ja) * 2001-03-14 2002-09-18 Kureha Chem Ind Co Ltd 光学的機能フィルター部材及び撮像装置
US6785002B2 (en) * 2001-03-16 2004-08-31 Optical Coating Laboratory, Inc. Variable filter-based optical spectrometer
JP2002277326A (ja) 2001-03-19 2002-09-25 Nireco Corp 分光測光装置
US7126682B2 (en) 2001-04-11 2006-10-24 Rio Grande Medical Technologies, Inc. Encoded variable filter spectrometer
US6909548B2 (en) 2001-06-13 2005-06-21 Jds Uniphase Inc. Optical filter using a linear variable filter with elliptical beam geometry
DE10204963A1 (de) 2002-02-06 2003-08-14 Isco Inc Fotometrische Sonde für Untersuchungen an Flüssigkeiten sowie Verfahren hierfür
IL159249A0 (en) 2002-04-23 2004-06-01 Small packaged spectroscopic sensor unit
US6958693B2 (en) 2002-05-24 2005-10-25 Procter & Gamble Company Sensor device and methods for using same
US20040004551A1 (en) 2002-07-08 2004-01-08 Early Gay M. Fluid management system
US7061607B2 (en) 2003-05-02 2006-06-13 United Technologies Corporation Engine spectrometer probe and method of use
JPWO2004111717A1 (ja) * 2003-06-13 2006-07-20 日本電信電話株式会社 波長可変光フィルタ
JP2005043092A (ja) 2003-07-23 2005-02-17 Kazumoto Onodera 濁水特性測定装置、水質改良剤注入装置および浄水装置
US7459713B2 (en) 2003-08-14 2008-12-02 Microptix Technologies, Llc Integrated sensing system approach for handheld spectral measurements having a disposable sample handling apparatus
JP2007506947A (ja) * 2003-09-26 2007-03-22 タイダール フォトニクス,インク. 強化されたスペクトル測定システムに関する装置および方法
US7262855B2 (en) * 2004-04-30 2007-08-28 X-Rite, Inc. Color measurement engine with UV filtered illumination
US7423258B2 (en) 2005-02-04 2008-09-09 Baker Hughes Incorporated Method and apparatus for analyzing a downhole fluid using a thermal detector
US7460247B1 (en) * 2005-05-23 2008-12-02 Sandia Corporation Full spectrum optical safeguard
US7420663B2 (en) 2005-05-24 2008-09-02 Bwt Property Inc. Spectroscopic sensor on mobile phone
US7530265B2 (en) 2005-09-26 2009-05-12 Baker Hughes Incorporated Method and apparatus for elemental analysis of a fluid downhole
US7372039B2 (en) 2005-12-20 2008-05-13 Ecolab Inc. Near UV absorption spectrometer and method for using the same
US20080285165A1 (en) * 2007-05-14 2008-11-20 Wu Kuohua Angus Thin film filter system and method
FI20075622A0 (fi) 2007-09-07 2007-09-07 Valtion Teknillinen Spektrometri ja menetelmä liikkuvan näytteen mittaukseen
JP2009145224A (ja) * 2007-12-14 2009-07-02 Konica Minolta Sensing Inc 測光装置
JP2009271046A (ja) * 2008-04-08 2009-11-19 Sony Corp 光計測装置及び計測用光学系
JP2009276691A (ja) * 2008-05-16 2009-11-26 Nippon Shinku Kogaku Kk 光学素子及びその製造方法
GB0809252D0 (en) 2008-05-21 2008-06-25 Ntnu Technology Transfer As Underwater hyperspectral imaging
US20100208348A1 (en) 2008-08-22 2010-08-19 Carestream Health, Inc. Tunable spectral filtration device
US8203769B2 (en) * 2008-10-10 2012-06-19 Xerox Corporation In-line linear variable filter based spectrophotometer
US8314991B2 (en) 2008-10-31 2012-11-20 Cpfilms Inc. Variable transmission composite interference filter
US7987712B2 (en) 2008-12-10 2011-08-02 Rosemount Aerospace Inc. High temperature seal assembly for optical sensor
US9207348B2 (en) 2009-05-28 2015-12-08 Westerngeco L.L.C Collision avoidance for instrumented probes deployed from a seismic vessel
CA2782235A1 (en) * 2009-11-30 2011-06-03 Imec Integrated circuit for spectral imaging system
JP5736672B2 (ja) * 2010-06-03 2015-06-17 株式会社ニコン 光学部品及び分光測光装置
CN101900905A (zh) 2010-07-20 2010-12-01 友达光电股份有限公司 触控式液晶显示器
JP5810512B2 (ja) 2010-11-12 2015-11-11 セイコーエプソン株式会社 光学装置
US8476574B1 (en) * 2011-03-31 2013-07-02 Mutoh Industries Ltd. Method of deconvolution of spectral data
US20140113365A1 (en) 2011-04-27 2014-04-24 National University Corporation Okayama University Cell culturing vessel
JP5825349B2 (ja) 2011-06-24 2015-12-02 株式会社島津製作所 分光装置
JP5643172B2 (ja) * 2011-10-17 2014-12-17 株式会社小松製作所 受光部のスペックル軽減機能を有する分光器
US9377396B2 (en) 2011-11-03 2016-06-28 Verifood, Ltd. Low-cost spectrometry system for end-user food analysis
WO2013064510A1 (en) 2011-11-04 2013-05-10 Imec Spectral camera with mosaic of filters for each image pixel
US8861106B2 (en) 2011-12-02 2014-10-14 Raytheon Company Variable monochromatic uniform calibration source
US9013703B2 (en) 2011-12-27 2015-04-21 Horiba, Ltd. Gas analyzing apparatus
CN103185637A (zh) 2011-12-28 2013-07-03 上海丰汇医学科技有限公司 用于生化分析仪上的分光光度计的光学系统
US9297749B2 (en) 2012-03-27 2016-03-29 Innovative Science Tools, Inc. Optical analyzer for identification of materials using transmission spectroscopy
JP5988690B2 (ja) 2012-05-18 2016-09-07 浜松ホトニクス株式会社 分光センサ
CN102944305B (zh) 2012-11-12 2014-08-13 北京航空航天大学 一种快照式高通量的光谱成像方法和光谱成像仪
US9404797B2 (en) 2012-12-07 2016-08-02 Integrated Plasmonics Corporation Plasmonic spectroscopic sensor and cuvette therefor
CN103278861A (zh) 2013-05-16 2013-09-04 浙江大学 水下高光谱成像系统
GB2529070B (en) 2013-08-02 2017-07-12 Verifood Ltd Spectrometer comprising a plurality of isolated optical paths
AU2014330131A1 (en) 2013-10-04 2016-05-05 Massey University In-situ optical density sensor
US20150153156A1 (en) * 2013-12-03 2015-06-04 Mvm Electronics, Inc. High spatial and spectral resolution snapshot imaging spectrometers using oblique dispersion
WO2015116756A1 (en) 2014-01-31 2015-08-06 Jds Uniphase Corporation An optical filter and spectrometer
US20150219484A1 (en) 2014-02-03 2015-08-06 Joseph Dehner Sight glass assembly
ES2821944T3 (es) 2014-04-09 2021-04-28 Nch Corp Sistema y procedimiento de detección de crecimiento de biopelícula en sistemas de agua
US10048127B2 (en) 2015-08-05 2018-08-14 Viavi Solutions Inc. Optical filter and spectrometer
US9945790B2 (en) 2015-08-05 2018-04-17 Viavi Solutions Inc. In-situ spectral process monitoring

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI819414B (zh) * 2021-11-24 2023-10-21 財團法人工業技術研究院 光電感測系統及其方法

Also Published As

Publication number Publication date
US10190910B2 (en) 2019-01-29
WO2015116756A1 (en) 2015-08-06
CA2938443C (en) 2021-01-26
CN106461460A (zh) 2017-02-22
TWI641813B (zh) 2018-11-21
US9625628B2 (en) 2017-04-18
TW201903368A (zh) 2019-01-16
JP6490700B2 (ja) 2019-03-27
EP3100078B1 (en) 2023-10-11
EP3100078A1 (en) 2016-12-07
EP3100078A4 (en) 2017-09-06
KR20210000743A (ko) 2021-01-05
CA2938443A1 (en) 2015-08-06
TWI692622B (zh) 2020-05-01
JP6818067B2 (ja) 2021-01-20
CN106461460B (zh) 2018-11-27
CN109520618A (zh) 2019-03-26
US20150219494A1 (en) 2015-08-06
KR102351001B1 (ko) 2022-01-12
JP2019105856A (ja) 2019-06-27
CN109520618B (zh) 2021-02-26
US20170219430A1 (en) 2017-08-03
JP2017506763A (ja) 2017-03-09
KR102197456B1 (ko) 2020-12-31
KR20160138385A (ko) 2016-12-05
JP2021073484A (ja) 2021-05-13
JP7119059B2 (ja) 2022-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI641813B (zh) 光學濾波器及光譜儀及用於獲得沿著一光學路徑傳播之一光束之一光譜之方法
CN108449957B (zh) 用于非接触式感测物质的基准开关架构
JP6015034B2 (ja) 光学センサー及び電子機器
US9989413B1 (en) Spectrometer and spectrometer module
CN102246015A (zh) 具有可变波长选择器以及可调干扰滤波器的单色光镜
EP2987007B1 (en) Filter array with reduced stray light
US20100046076A1 (en) Tunable spectral filtration device
US20220244104A1 (en) Spectral sensor module
RU2725707C2 (ru) Фильтрующая решетка с уменьшенным рассеянием сфокусированного света
US20110036984A1 (en) Tunable broadband anti-relfection apparatus
US20220221341A1 (en) Spectral reconstruction with multi-channel color sensors
US11698296B2 (en) Light sensor using pixel optical diffraction gratings having different pitches
US20170201657A1 (en) Bandpass filter with variable passband
US9429471B2 (en) Photodiode array for spectrometric measurements and spectrometric measurement system
CN108344506A (zh) 限制光的入射角的器件,制造该器件的方法和显微光谱仪
CN114207391A (zh) 信号采集光谱仪
CN116183018A (zh) 用于抑制跨波段光谱成像系统杂散光的方法及光路系统