JP6818067B2 - 光学フィルタおよび分光計 - Google Patents
光学フィルタおよび分光計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6818067B2 JP6818067B2 JP2019034471A JP2019034471A JP6818067B2 JP 6818067 B2 JP6818067 B2 JP 6818067B2 JP 2019034471 A JP2019034471 A JP 2019034471A JP 2019034471 A JP2019034471 A JP 2019034471A JP 6818067 B2 JP6818067 B2 JP 6818067B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filter
- optical
- thin film
- interference coating
- optical filter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 252
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 92
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 59
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 54
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 51
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 4
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 36
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 30
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 21
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 11
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 5
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 238000000411 transmission spectrum Methods 0.000 description 3
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- KXNLCSXBJCPWGL-UHFFFAOYSA-N [Ga].[As].[In] Chemical compound [Ga].[As].[In] KXNLCSXBJCPWGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 238000000701 chemical imaging Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 2
- 238000009501 film coating Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 241000271566 Aves Species 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0229—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using masks, aperture plates, spatial light modulators or spatial filters, e.g. reflective filters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0208—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0256—Compact construction
- G01J3/0259—Monolithic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0262—Constructional arrangements for removing stray light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/26—Generating the spectrum; Monochromators using multiple reflection, e.g. Fabry-Perot interferometer, variable interference filters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/20—Filters
- G02B5/28—Interference filters
- G02B5/285—Interference filters comprising deposited thin solid films
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J2003/1213—Filters in general, e.g. dichroic, band
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J2003/1213—Filters in general, e.g. dichroic, band
- G01J2003/1221—Mounting; Adjustment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J2003/1226—Interference filters
- G01J2003/1234—Continuously variable IF [CVIF]; Wedge type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
- G01J2003/2813—2D-array
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Optical Filters (AREA)
Description
の優先権を主張するものであり、この先の出願の開示全体をここに参照のために取り込む
。
が行われている。例えば、ハイパスフィルタにより、当該フィルタの端波長よりも長い波
長を選択する。逆に、ローパスフィルタにより、当該フィルタの端波長よりも短い波長を
選択する。バンドパスフィルタは、特異なタイプのフィルタであり、当該フィルタの帯域
幅内において、当該フィルタの中心波長に近似する波長の光を選択する。チューナブルバ
ンドパスフィルタは、光学フィルタであり、その中心波長は調節または調整することがで
きる。
ブルバンドパスフィルタを用いて、入射光の種々のスペクトル成分を選択する。走査型分
光計は、チューナブルバンドパスフィルタの中心波長を操作することにより動作し、光学
スペクトルを測定する。代案として、ポリクロメータ型分光計は、検出器アレイに光学的
に接続した波長分散素子を用いて、光学スペクトルのパラレル検出を行う。しかしながら
、従来の光学フィルタおよび分光計は、一般に、大規模で嵩高であり、可搬性デバイスお
よび用途においての使用には問題があった。
は顕著な問題点および欠点等が存在しうることが理解されよう。
て積み重ね、入射光線のコリメート化に関連する要件を削減することができ、また、ひい
ては、テーパ状ライトパイプまたは別の光平行化素子を設ける必要性を完全になくすこと
ができる。2つの横方向可変バンドパスフィルタを積み重ねた場合、上流側フィルタが下
流側フィルタについての空間フィルタとして機能する。これは、上流側フィルタを透過し
た斜光線が下流側フィルタに入射する際に横方向にずれるために起こる。この横方向への
ずれが生じた結果、斜光線が抑制される。なぜなら、上下流側フィルタ上における光線入
射位置が重複しない場合、上下流側フィルタそれぞれの透過波長は重複せず、結果として
斜光線の抑制につながるからである。この効果により、上流側フィルタに衝突する入射光
線の光平行性(degree of collimation)に対する光学フィルタの分光選択性の依存度を
小さくすることができる。
下流側横方向可変バンドパス光学フィルタと、を備える。下流側横方向可変バンドパス光
学フィルタは、上流側横方向可変バンドパス光学フィルタの下流に、光学ビームの光路に
沿って距離Lだけ離間して順次設けられ、上流側横方向可変バンドパス光学フィルタおよ
び下流側横方向可変バンドパス光学フィルタは、それぞれ、光路に垂直な共通の第1の方
向沿って、相互に連係して漸次変化するバンドパス中心波長を有する。光学ビームの光平
行性に対する光学フィルタの分光選択性の依存度は、対応する光学ビームの光平行性に対
する下流側フィルタの分光選択性の依存度と比べて小さい。
1の方向に、単調に、例えば、線形に、または非線形に増加する。上流側フィルタおよび
下流側フィルタの中心波長は、必ずではないが、そのバンドパス中心波長の第1の方向に
沿ったx座標に対する依存度が実質的に等しくしてもよい。
置した上記光学フィルタおよび光学センサを備える光学分光計を提供する。光学センサは
光検出器アレイを備えてもよい。下流側横方向可変バンドパスフィルタは光検出器アレイ
と接触させて、さらに良好な分光選択性を得てもよい。
得る方法を提供する。本方法は、上流側横方向可変バンドパス光学フィルタおよび下流側
横方向可変バンドパス光学フィルタを備える光学フィルタで光学ビームをフィルタリング
するステップと、下流側横方向可変バンドパス光学フィルタの下流において第1の方向に
沿った光パワー分布を検出するステップと、を含み、フィルタリングするステップにおい
て、下流側横方向可変バンドパス光学フィルタは、上流側横方向可変バンドパス光学フィ
ルタの下流に、光学ビームの光路に沿って距離Lだけ離間して順次設けられ、上流側横方
向可変バンドパス光学フィルタおよび下流側横方向可変バンドパス光学フィルタのバンド
パス中心波長は、それぞれ、光路に垂直な共通の方向である第1の方向に沿って相互に連
係して漸次変化し、光学ビームの光平行性に対する光学フィルタの分光選択性の依存度は
、光学ビームの光平行性に対する下流側フィルタの分光選択性の対応する依存度と比べて
小さい。
形態等に限定することを意図したものではない。むしろ、本発明は種々の代替物および等
価物を包含するものであることが当業者には理解されよう。
性光検出装置および用途への適用が制限される。分光計においてリニア可変フィルタを用
いて波長分離機能を実現することが行われてきた。図1Aを参照すると、従来のリニア可
変フィルタ10は白色光で照明することができ、白色光は、上部白色光線11、中部白色
光線12、および下部白色光線13を有する。上部白色光線11、中部白色光線12、お
よび下部白色光線13は、それぞれ、上部位置11A、中部位置12A、および下部位置
13Aのそれぞれの位置において、リニア可変フィルタ10に衝突しうる。リニア可変フ
ィルタ10は、通過帯域の中心波長がx軸18に沿って直線的に変化するものであっても
よい。例えば、フィルタ10は、上部位置11Aにおいては短波長ピーク11Bを、中部
位置12Aにおいては中波長ピーク12Bを、下部位置13Aにおいては長波長ピーク1
3Bを通過させるものとすることができる。
ルタ10、リニア可変フィルタ10の上流に設けたテーパ状ライトパイプ14、および、
リニア可変フィルタ10の下流に設けた光検出器のリニアアレイ15を備えることができ
る。動作中、コリメートされていない入射光16をライトパイプ14により調整して部分
的にコリメートした光線17を生成してもよい。リニア可変フィルタ10は、先に図1A
を参照して説明したように、異なる波長の光を透過させることができる。テーパ状ライト
パイプ14は入射光16の立体角を減少することができ、それによってリニア可変フィル
タ10の分光選択性が向上する。光検出器のリニアアレイ15によって異なる波長におけ
る光パワーレベルを検出することにおり、入射光16の図示しない光学スペクトルを得る
ことができる。
分光計19において最も大きい素子である場合が多い。テーパ状ライトパイプ14等のコ
リメータ素子が必要とされるのは、それなしではリニア可変フィルタの分光選択性が低下
するからである。分光選択性の低下が起こりうるのは、リニア可変フィルタ10が誘電性
薄膜の積層を備えているためである。薄膜フィルタの波長選択性は、一般に、入射光の入
射角に依存しうるため、薄膜フィルタの分光選択性および波長精度が低下しうる。
ることができる。例えば、光学フィルタ20は、光学ビーム23の光路22中に距離Lだ
け離間して順次配置した上流側横方向可変バンドパス光学フィルタ21Aおよび下流側横
方向可変バンドパス光学フィルタ21Bを備えてもよい。図2Bに示すように、上流側フ
ィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bは、それぞれ、x軸により表される共通の第1
の方向25に沿って相互に連係して変化するバンドパス中心波長λTを有してもよい。第
1の方向25は、光路22と垂直であってもよい。非限定的な例として、図2Aの上流側
フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bのバンドパス中心波長λTは、どちらも、図
2Bに示すような単調な線型従属24A、24Bを有しうる。上流側フィルタ21Aおよ
び下流側フィルタ21Bの中心波長依存性λ1T(x)およびλ2T(x)は、それぞれ
、x座標上において互いに同一であっても、または、例えば、を定数とするλ2T(x)
=λ1T(x+x0)のように互いにずれていてもよく、または、cを例えば0.9<c
<1.1の定数として、λ2T(x)=cλ1T(x)のように拡大縮小してもよい。す
なわち、用語「連係して」とは、上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bそれ
ぞれの中心波長依存性λ1T(x)およびλ2T(x)間の所定の機能的関連性を定義す
るものである。
の分光選択性の依存度を、光学ビーム23の光平行性に対する下流側フィルタ21Bの分
光選択性の対応する依存性と比べて減少させることができる。このように光学フィルタ2
0の性能が向上するのは、図2Cから分かるように、空間フィルタリング効果から生じう
るものである。波長λ0における単色光において、上流側フィルタ21Aおよび下流側フ
ィルタ21Bは、中心波長λT=λ0である場合にx軸に沿った位置に対応する「開口」
26を有するスリットによって近似的に表すことができる。すなわち、「開口」26の外
では、上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bは、波長λ0における単色光を
基本的に通さない。「開口」26により受光コーンすなわち立体角27(2θ)が画定さ
れるが、この角度はフィルタ間距離Lに依存する。立体角27外側の光線をすべて遮るこ
とにより、下流側フィルタ21Bの分光選択性が向上しうる。
てさらに説明する。図3において、第1の方向25は水平とすることができ、上流側光学
フィルタ21Aおよび下流側光学フィルタ21Bそれぞれの中心波長λTはいずれも左か
ら右に増加しうる。図3の例において、上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21
Bのバンドパス中心波長λTはx座標に直線的に依存しうる。
フィルタの「スロープ」と称される比例係数を表し、Δxは基準点x0からのオフセット
を表す。スロープDは、図2Bにおける線型従属24Aおよび24Bの各スロープに相当
しうる。線型従属24Aおよび24Bは互いに同一であってもよいが、必須ではない。用
途によっては、線型従属24Aおよび24Bが同一のスロープからずれている方が有利な
場合がある。
に位置合わせして、下流側フィルタ21Bの基準バンドパス中心波長λ0に相当する基準
点x0が上流側フィルタ21Aの基準バンドパス中心波長λ0に相当する基準点x0の直
下に配置されるようにする。上流側フィルタ21Aは下流側フィルタ21Bの空間フィル
タとして機能してもよく、下流側フィルタ21Bについて受光角30を画定する。受光角
30は、それぞれ、基準波長λ0における、左側の周縁光線31Lおよび右側の周縁光線
31Rにより制限してもよく、左側の周縁光線31Lおよび右側の周縁光線31Rは、法
線32について角度θで上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bのそれぞれに
伝播して、同じ基準点x0で下流側フィルタ21Bに衝突する。受光角30は、上流側フ
ィルタ21Aの通過帯域(パスバンド)33Aから以下のように導出することができる。
ルタ21Aに衝突する。当該位置における透過波長λLは、式(1)によれば、λL=λ
0−DΔxとすることができる。左側の周縁光線31Lは基準波長λ0にあるため、左側
の周縁光線31Lは、上流側フィルタ21Aのパスバンド33Aの幅に応じて減衰されう
る。本例示では、例えば、10dB帯域幅を2DΔxとしている。よって、左側の周縁光
線31Lは、10dBだけ減衰されうる。同様に、右側の周縁光線31Rは、位置x0+
Δxにおいて上流側フィルタ21Aに衝突する。当該位置における透過波長λRは、式(
1)によれば、λR=λ0+DΔxとすることができる。右側の周縁光線31Rも、10
dBだけ減衰されうる。基準波長λ0において受光角30内にある全ての光線は10dB
よりも小さい値だけ減衰しうる。また、参照波長λ0において受光角30外にある全ての
光線は10dBよりも大きい値だけ減衰しうる。すなわち、上流側フィルタ21Aは空間
フィルタとして機能し、入射光の開口数(NA)を効果的に制限して、下流側フィルタ2
1Bにより個々の波長に分離することができる。その結果、光学フィルタ20の分光選択
性の光学ビーム23の光平行性に対する依存度を、下流側フィルタ21Bを単独で用いた
場合の分光選択性の当該依存度と比べ、減少させることができる。すなわち、もし光学フ
ィルタ20中に上流側フィルタ21Aがなかったら、光学フィルタ20の分光選択性は、
光学ビームの光平行性に対してはるかに大きく依存するであろう。一般に、光学ビーム2
3は、図示しない試料からの拡散または発光により生じうるものであり、光学ビーム23
はコリメートされない。上流側フィルタ21Aの不在により光学ビーム23がコリメート
されないと、分光選択性の全体的な悪化につながり、テーパ状ライトパイプ等の専用のコ
リメータ素子を使用しなければならなくなる。本明細書中、用語「分光選択性」は、パス
バンド幅、迷光除去率、インバンドおよびアウトオブバンドブロッキング等のパラメータ
を含みうる。
媒体を充填すると、式(3)は次のようになる。
関する、フィルタ間の距離Lと、フィルタ間の空隙の屈折率nと、第1の方向25に沿っ
た横方向距離Δxとの間のおおよその関連性を定義することができる。一般に、入射の非
ゼロ角による波長オフセットによりバンドパス中心波長λTの青方偏移(すなわち、短波
長側へのずれ)が生じるが、より正確な関連性を得るため、この波長オフセットを考慮し
てもよい。例えば、位置x0+Δxにおいて上流側フィルタ21Aに衝突する、参照波長
λ0における右側の周縁光線31Rは角度θだけ傾斜することができ、それによって上流
側フィルタ21Aの透過特性が短波長側へずれる。この波長依存性を説明しようとするな
らば、パスバンド33Aの肩が左へ、すなわち、短波長側へずれる:
バンドパスフィルタ21Bは、上記式(1)に定義したリニア可変バンドパス中心波長λ
Tを有するが、上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bの中心波長λTは単調
であっても、非直線的であってもよく、例えば、放物線状または指数関数的であってもよ
く、第1の方向25に増加しても減少してもよい。上流側横方向可変フィルタ21Aおよ
び下流側横方向可変フィルタ21Bのx座標に対する第1の方向25に沿ったバンドパス
中心波長λTの依存度を一致させるかまたは異ならせて、光学フィルタ20の受光角およ
び/または波長応答性をトゥイーキングまたは変化させることができる。一実施形態にお
いて、上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bのバンドパス中心波長λTを互
いに位置合わせして、上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bの同一のバンド
パス中心波長λTに対応する位置同士を結ぶ線が、下流側フィルタ21Bの法線32に対
してなす角度が45度未満となるようにしてもよい。法線32に対して非ゼロ角度の場合
、受光コーン30が傾いているように見える場合がある。よって、上流側フィルタ21A
および下流側フィルタ21Bを互いに第1の方向25にオフセットすることにより受光コ
ーン30の方向を変化させることができる。さらに、この角度は第1の方向(x軸)25
に沿って変化する。
ることが好ましく、これは、第1の方向25に沿った当該横方向距離Δx2よりも大きい
上流側フィルタ21Aの帯域幅に相当し、下流側フィルタ21Bの帯域幅に相当する。一
実施形態において、上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bは、それぞれ、対
応するバンドパス中心波長λTの10%に相当する3dBのパスバンドを有してもよい。
タ21Bは、背中合わせに接合した基板42Aおよび42Bのそれぞれに堆積した薄膜ウ
ェッジ付き干渉コーティング41Aおよび41Bを備えることができる。基板42Aおよ
び42Bは、上流側薄膜ウェッジ付き干渉コーティング41Aと下流側薄膜ウェッジ付き
干渉コーティング41Bとの間において、屈折率nを有する透明媒体として機能すること
ができる。図4Bを参照すると、光学フィルタ40Bにおいては単一の共通基板42を用
いることができ、この共通基板42の両側に上流側薄膜ウェッジ付き干渉コーティング4
1Aおよび下流側薄膜ウェッジ付き干渉コーティング41Bを設ける。共通基板42は、
図4Cに示すように、ウェッジ状とすることができ、光学フィルタ40Cの上流側薄膜ウ
ェッジ付き干渉コーティング(フィルタ)41Aおよび下流側薄膜ウェッジ付き干渉コー
ティング(フィルタ)41Bを互いに傾けて配置できるようにする。この場合、距離Lは
第1の方向25に沿って変化しうる。距離Lが変化することにより、上流側フィルタ41
Aおよび下流側フィルタ41B間のスペクトル傾斜の不整合、および上流側フィルタ41
Aおよび下流側フィルタ41B間でのスペクトル線幅の差異を制御するのに役立つ。その
目的のため、屈折率nも、距離Lを一定または可変として、第1の方向25に沿って変化
させてもよい。
渉コーティング41Aおよび下流側薄膜ウェッジ付き干渉コーティング41Bは、離間し
て配置した状態で、互いに対向しうる。図4Eに示す別の実施形態による光学フィルタ4
0Eの上流側薄膜ウェッジ付き干渉コーティング41Aおよび下流側薄膜ウェッジ付き干
渉コーティング41Bはいずれも同一方向、例えば、この場合は光学ビーム23を向いて
いる。
一般に0.2mmよりも大きくてもよい。一実施形態において、値L/nは、15mm未
満とすることができ、例えば、0.2mmと15mmとの間とすることができる。距離L
は、実際の薄膜コーティング間の距離、例えば、図4A〜図4Cの41Aと41Bとの間
の距離に相当しうること、また、もし基板42、42A、および/または42Bが、薄膜
コーティング41Aと41Bとの間の光路22中にある場合、これらの基板の厚さを含み
うることが理解されよう。非限定的な例として、図4Bの光学フィルタ40Bにおいて、
基板42は厚さLを有し、基板42は屈折率nを有してもよい。
であっても、図4A〜4Eの光学フィルタ40A〜40Eと同様であってもよい。しかし
ながら、図5Aの光学フィルタ50Aは光路22において開口51Aを有しうる。開口5
1Aは、第1の方向25に変化する幅dを有してもよい。開口51Aの幅dを変化させる
目的の一つは、光学フィルタ50Aに入射する光エネルギー量を調節することであり、こ
の光エネルギー量を用いて、上流側フィルタ21A/下流側フィルタ21Bの出力転送の
大きさの波長依存性および/または分光器アレイ(図示せず)のスペクトル反応を補償す
ることができる。
検出器のスペクトル反応をより正確に制御することができる。図5Bを参照すると、光学
フィルタ50Bは、図2Aの光学フィルタ20と同様であってもよく、また、図4A〜図
4Eの光学フィルタ40A〜40Eと同様であってもよい。スペクトル反応平坦化フィル
タ51Bを光学フィルタ50Bの光路22中に配置して、光学フィルタ50Bのスペクト
ル反応を平坦化してもよい。図5Bに示すスペクトル平坦化フィルタ50Bは上流側フィ
ルタ21A上に配置するものとしたが、スペクトル平坦化フィルタ50Bは、下流側フィ
ルタ21B上に設けても、および/または上流側フィルタ21Aと下流側フィルタ21B
との間の光路22中に設けてもよい。
あってもよく、図4A〜4Eの光学フィルタ40A〜40Eと同様であってもよい。しか
しながら、図5Cの光学フィルタ50Cは、光路22中に付加的なフィルタ21Cを備え
てもよい。付加的なフィルタ21Cの有するバンドパス中心波長は、上流側フィルタ21
Aおよび下流側フィルタ21Bのバンドパス中心波長それぞれと連係して変化させてもよ
い。付加的なフィルタ21Cは、また、ハイパスまたはローパス横方向可変フィルタ、回
折格子等の分散素子、スペクトル的におよび/または横方向に可変な吸収率を有するコー
ティングを備えてもよい。付加的なフィルタ21Cの機能として、入射光の入射開口数を
さらに規定し、および/または光学フィルタ20の解像度をさらに向上することが挙げら
れる。光学フィルタ50Cにおいて、3つ以上の横方向可変バンドパスフィルタ21A、
21B、・・・21N(Nは任意の整数を表す)を用いることができる。
Aの光学フィルタ20および下流側フィルタ21Bの下流の光路22中に設けた光検出器
アレイ61を備えることができる。光検出器アレイ61は、第1の方向25に沿って配置
した画素62を有し、例えば、光源69から出射した光学ビーム23の個々のスペクトル
成分の光パワーレベルを検出することができる。広義には、用語「光源」とは、蛍光性ま
たは散乱性の試料、例えば、吸収率測定等に用いる実際の光源を指す。例えば、発光性お
よび/または散乱性の試料から生じる光学ビーム23は、通常、集束光線または拡散光線
を含む。本明細書において、用語「拡散」は、光学ビーム23を含む各光線が同じ単一の
点から生じることを要さない。同様に、用語「集束」は、光学ビーム23を含む各光線が
単一の点に集束することを要さない。図2Cおおよび図3を参照して先に説明したように
、光学フィルタ20が、上流側バンドパス横方向可変光学フィルタ21Aおよび下流側バ
ンドパス横方向可変光学フィルタ21Bを含む二段階フィルタ構造を有することにより、
光学ビーム23の光平行性に対する光学分光計60Aの分光選択性の依存度が減少する。
すなわち、もし上流側フィルタ21Aを用いずに下流側フィルタ21Bのみを用いた場合
、光学分光計の分光選択性は光学ビーム23の光平行性に対してより大きく依存しうるた
め、結果的に分光選択性が全体的に悪化する。
レイ61に注封材料を充填して、カプセル封入63してもよい。カプセル封入63の目的
の一つは、光学フィルタ20の下流側フィルタ21Bの開口部64を覆うことなく、光検
出器アレイ61の電気的および/または熱的絶縁を図ることにある。カプセル封入63の
別の目的は、上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bの端縁を衝撃、湿気等か
ら保護することにある。
B)は、図2Aの光学フィルタ20、および下流側フィルタ21B下流の光路22中に設
けた光検出器アレイ61を備える。光学分光計60Bは、光学ビーム23を入射させる窓
67を光路22中に設けた筐体66を備える。図示した実施形態において、窓67は上流
側フィルタ21Aを備えてもよく、上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bは
、例えばエアギャップ等の空隙65により離間される。下流側フィルタ21Bを光検出器
アレイ61上に直接取り付けてもよい。一実施形態において、下流側フィルタ21Bと光
検出器アレイ61との間には、例えば2mm以下の小空隙があってもよい。
、一方で、光検出器アレイ61を光学熱電冷却器68によって深冷処理することができる
ようになる。筐体66は、気密密閉して、および/または不活性ガスを充填して、信頼性
および環境安定性を向上する。図示しない集束素子を下流側フィルタ21Bと光検出器ア
レイ61との間の光路22中に設けて、光学ビーム23を光検出器アレイ61上に集束さ
せる。光検出器アレイ61以外のセンサを用いてもよい。非限定的な例として、光学フィ
ルタ20に対して光検出器を第1の方向25に並進移動させることができる。
を光検出器アレイ61上に直接堆積することが挙げられる。非限定的な例として、図7A
および図7Bにおいて、下流側フィルタ21Bは、光検出器アレイ61の画素側61Aに
堆積してもよい。いくつかの実施形態において、下流側フィルタ21Bは、2枚の遮蔽フ
ィルタ部71および該2枚の遮蔽フィルタ部71の間のバンドパスフィルタ部72を含む
、ウェッジ状薄膜フィルタとすることができる。
62を迷光から遮蔽してもよい。図7Cにおいて、代替的な取付方法を説明する。下流側
フィルタ21Bを光検出器アレイ61の背面に取り付ける。もちろん、この代替的な取付
の方法によれば、光検出器アレイ61の基板61Cは光学ビーム23に対して透明でなけ
ればならない。有利には、この背面取付けによれば、駆動回路チップ74を光検出器アレ
イ61の画素側61Aにフリップチップ接合することが可能となる。図7Dを参照すると
、複数の平行溝76を例えばエッチングにより設け、各溝76に黒色充填剤75を注入す
ることにより下流側フィルタ21Bをセグメント化することができる。各溝76の位置は
、光吸収マスク73のバー77にそれぞれ整合させてもよい。
図が示される。図8Aの分光計8Aは、図6Aおよび図6Bの分光計60Aおよび60B
と同様であってもよい。しかしながら、図8Aの分光計80Aは、複数の個々に独立した
光検出画素82を有する二次元(2D)光検出器アレイ88を含むことができる。この2
D光検出器アレイ88を、光学フィルタ20の画素82の列84に対して鋭角αで回転す
なわちクロックすると、単色光照射した際に、光検出器アレイ31上において、2D光検
出器アレイ88の画素82の列84に対して角度をなすスペクトル線83を形成すること
ができる。図8Aをさらに参照しつつ図8Bを参照すると、角度αで回転すなわちクロッ
キングすることにより、2D光検出器アレイ88の画素82の異なる列84上の光パワー
密度分布85が互いにオフセットされうる。このようにして、1つのスペクトルに代えて
、複数のオフセットスペクトルが得られ、スペクトル分解能および波長精度を向上するこ
とが可能となる。例えば、脱回旋および個々の光パワー密度分布85の平均化により、信
号雑音比も向上しうる。
とができる。図8Cの分光計80Cも2D光検出器アレイ88を備えることができる。図
8Cにおいて、2D光検出器アレイ88は、図8Aに示すように傾いていてもいなくても
よい。図8Cの分光計80Cは、さらに、図2Aの光学フィルタ20における対応する上
流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bと同様の、すなわち、光学ビーム23の
光路22に垂直な第1の方向25に沿って相互に連携して漸次変化するバンドパス中心波
長を有する、上流側フィルタ81Aおよび下流側フィルタ81Bをさらに備えることがで
きる。図8Cにおいて、上流側フィルタ81Aおよび下流側フィルタ81Bは、それぞれ
、第1の方向25に直交する第2の方向87に並んで配置した複数のセグメント89A−
1、89A−2、89A−3(上流側フィルタ81A)・・・および89B−1、89B
−2、89B−3(下流側フィルタ81B)を備えてもよい。上流側フィルタ81Aのセ
グメント89A−1、89A−2、89A−3・・・はそれぞれ、下流側フィルタ81B
のセグメント89B−1、89B−2、89B−3のうちの1つに対応し、専用の波長域
において動作する。非限定的な例として、セグメント89A−1および89B−1を第1
のセグメント対として1000nm〜1200nmの波長域において動作するように構成
し、セグメント89A−2および89B−2を第2のセグメント対として1200nm〜
1400nmの波長域において動作するように構成し、セグメント89A−3および89
B−3を第3のセグメント対として1400nm〜1600nmの波長域において動作す
るように構成する等することができる。各波長域は連続している必要はない。その他の各
波長域、例えば、可視波長または近赤外(IR)、中赤外、紫外(UV)、ひいては軟X
線等について複数のセグメントを設けてもよい。よって、分光計80Cは、マルチスペク
トル感知および/またはマルチスペクトル撮像用途等に好適である。これらのマルチスペ
クトル感知/マルチスペクトル撮像用途等には、適切な基板およびコーティング材を必要
とすることが当業者には理解されよう。
する方法は、距離Lだけ離間した上流側横方向可変バンドパス光学フィルタ21Aおよび
下流側横方向可変バンドパス光学フィルタ21Bを有する光学フィルタ20で光学ビーム
をフィルタリングすることを含む。図2Bに示すように、上流側フィルタ21Aおよび下
流側フィルタ21Bは、それぞれ、光路22に垂直な共通の第1の方向25に沿って相互
に連係して(例えば、24A、24B)漸次変化するバンドパス中心波長λTを有しても
よい。上流側フィルタ21Aおよび下流側フィルタ21Bを順次配置したことで、光学ビ
ーム23の光平行性に対する、光学フィルタの分光選択性、例えば、帯域幅、帯域外減衰
等の依存度は、下流側フィルタ21Bを単独で用いた場合の光学ビーム23の光平行性に
対する分光選択性の対応する依存度よりも小さくなる。
て、第1の方向25に沿って検出してもよい。例えば、図6A、図6B、および図8Aを
再度参照すると、光検出器アレイ61(図6A、図6B)または2D光検出器アレイ88
(図8A)を下流側フィルタ21Bの下流に設け、光検出器アレイ61または88を用い
て光パワー分布を検出してもよい。図6Aおよび図7A〜図7Cを再度参照すると、下流
側フィルタ21Bは、光検出器アレイ61上に、例えば、堆積させる等して直接設けても
よい。ここで、光検出器アレイ61は、下流側フィルタ21Bの開口部64を覆うことな
く、注封材料で充填して絶縁してもよい。
フィルタ20Aおよび本開示による同様のフィルタの性能を検証することができる。図9
Aおよび図9Bを参照すると、レイトレースモデル90には、ランベルト光源99、矩形
開口96、上流側横方向可変バンドパスフィルタ91A、長さLを有する透明スペーサ9
2、下流側横方向可変バンドパスフィルタ91B、および光検出器97を順次設けること
ができる。レイトレースモデル90の各入力パラメータの概要を以下の表1に示す。例え
ば、十分な数の光線93をトレースして、再現性のある結果を得た。光線93は、それぞ
れ、既定の波長を有し、既定の光パワーを伝達するものであった。光パワー読取り値は、
図2Aの第1の方向25に相当する拡散方向95に沿って配列した光検出器97の各ビン
(bins)に蓄積した。定数パラメータとして、例えば、ランベルト光源99から開口96
までの距離を3mm、光検出器の大きさを6.6mm×0.25、光検出器97の貯蔵容
器または画素数を838とした。可変パラメータとして、上流側横方向可変バンドパスフ
ィルタ91Aおよび下流側横方向可変バンドパスフィルタ91Bの帯域幅(%)および開
口数(NA)(Fナンバー(F/#))、および透明スペーサ92の厚さ等が挙げられる
。ランベルト光源99から、8つの波長、すなわち0.95μm、1.05μm、1.1
5μm、1.25μm、1.35μm、1.45μm、1.55μm、および1.65μ
mの光を出射した。
0の光検出器97の各ビンに蓄積された光パワー分布の形で示す。最上部のグラフ100
は、「参照モデル」、すなわち、シミュレートした市販のMicroNIR(商標)分光
計であって光をコリメートするテーパ状ライトパイプを有するものに対応する。グラフ1
01〜104は、それぞれ、上記表1の参照モデル1〜4に対応する。
1.6μmのそれぞれの波長について、さらに詳細なスペクトル性能をシミュレートする
ことができる。モデル1〜4は、はるかに良好な波長精度および同様の分光選択性を示し
たことが分かる。図12を参照すると、1.3μm、0.12μmそれぞれにおける双対
スペクトル線を用いてモデル1〜3の分解能が実証されている。図10、図11A〜図1
1C、および図12に示す結果において、モデル1〜4はテーパ状ライトパイプまたは別
の光平行化素子を有していなかったが、モデル1〜4の示すスペクトル帯域幅は許容範囲
であったことを理解されたい。参照モデルからテーパ状ライトパイプを除いた場合、参照
モデルの分光選択性は許容範囲を超えて低くなる。
ーツ、テーパ状ライトパイプ、インジウムガリウムヒ素(InGaAs)ダイオードアレ
イを含む標準的なMicroNIR(商標)分光計の性能も参照用にシミュレートした。
図13を参照すると、標準的なMicroNIR(商標)分光計の性能は、0.1μmず
つ離間した、0.9μm〜1.7μmの間のマルチ波長信号破線スペクトル131により
表すことができる。実線スペクトル132は、いかなるコリメート用光学部品または光成
形光学部品も有しない分光計60Aのシミュレートした性能を示す。各スペクトルピーク
間の迷光の一部は、使用波長域用に最適化していないコーティングに起因する。両測定地
の照明条件は同一とした。
ルタ20を用い、フィルタ間距離Lを0.2mm〜30mmの範囲で変化させて行ったシ
ミュレーションにより得たものである。フィルタ間距離Lが大きくなると、フィルタのス
ループットが減少し、迷光141の帯域外減衰が改善することがわかる。これは、フィル
タ間距離Lが大きくなるにつれ、光学フィルタ20(図2C、図3)の受光コーン2θが
縮小するからであると考えられる。
ことができる。光学フィルタ153は、図示しない下流側横方向可変フィルタ(図示せず
)から物理的に2.08mm離間した上流側横方向可変フィルタ(図示せず)を備えるこ
とができる。上流側フィルタの有するパスバンドは、図15Aではわからないが、130
0nmの中心波長の1.3%かつ900nm〜1700nmの範囲とすることができる。
光学フィルタ153の最上部にある上流側フィルタは、幅2mm、長さ8mm、および厚
さ1.1mmとすることができる。下流側フィルタのパスバンドは1300nmの中心波
長の0.8%かつ900nm〜1700nmの範囲とすることができる。下流側フィルタ
は、幅1.4mm、長さ7.4mm、および厚さ1.5mmとすることができる。図示し
ない標準的な128画素検出器アレイを下流側フィルタから80マイクロメートル離して
設けた。電子ドライバ154を用いて検出器アレイを駆動した。
、実線で象徴的に図示されている。図15Bに示すように、長さ5mmのスケールバー1
56を用いることができる。
射スペクトル161および162を得た。2つのレーザ光源から波長1064nmおよび
1551nmにおいて出射した光は、今度は、積分球上に向けられて、切換可能な出射波
長を有するランベルト照明源を生成した。光検出器の積分回数を調節して、両スペクトル
が同じピーク振幅を有するようにした。なぜなら、各レーザのパワー出力レベルがそれぞ
れ異なったからである。その他の分光または空間フィルタは用いずに各測定を行った。積
分球形は、25mmのポートを有し、上流側フィルタから35mm離して設けた。スペク
トル161および162の両方において、波長分解能は、光検出アレイの画素構造により
制限されうる。1065nmにおける機器3dB帯域幅は、1.2%×1065nm=1
2.8nmと推定しうる。1550nmにおける機器3dB帯域幅は、0.82%×15
50nm=12.7nmと推定しうる。
究所(National Institute of Standards and Technology(NIST))認証の透過基準(この
場合は、アビアンドープガラス基準(Avian doped glass reference)WCT2065−
025)をハロゲンランプの前に設置して測定したものである。実線で示した第1のスペ
クトル171は、図15Aおよび図15Bの分光計150nを用いて測定した。点線で示
す第2のスペクトル172は、ジェイディーエス・ユニフェーズ社(JDS Uniphase Corpo
ration)(米国カリフォルニア州ミルピタス)製の標準的なMicroNIR1700分
光計を用いて測定したものである。
ドープガラス基準を取り除くことにより、白状態参照スペクトルを収集した。第1のスペ
クトル171が第2のスペクトル172に密接に関連しているとがわかる。第1のスペク
トル171の測定は、図15Aおよび図15Bに示す分光計150の前に幅1mmの開口
を設置して行った。開口が無い場合、分解能が僅かに減少するが、積分(データ収集)回
数は3分の1に減少した。
修正および変更を加えることができ、以下に示す特許請求の範囲に示された本開示の広範
な範囲を逸脱することなく付加的な実施形態を実施可能であることは明らかである。よっ
て、明細書および図面は、限定的な意味ではなく、むしろ、例示的な意味に解すべきであ
る。
タの処理および出力データの生成をある程度含みうることに留意されたい。この入力デー
タの処理および出力データの生成は、ハードウエアまたはソフトウエアにおいて実施する
ことができる。例えば、特定の電子部品をプロセッサ、モジュール、または同様の関連回
路において用いて、上記の本開示による光学フィルタおよび/または分光計と関連する機
能を実施することができる。代案として、命令により動作する1つ以上のプロセッサによ
り、上記した本開示に関連する機能を実施することもできる。その場合、そのような命令
を1つ以上のプロセッサ可読記憶媒体(例えば、磁気ディスクまたはその他の記憶媒体)
に記憶したり、1つ以上の搬送波により体化した1つ以上の信号を介して1つ以上のプロ
セッサに送信したりすることも、本開示の技術範囲に含まれる。
書に記載した実施形態に加え、その他の種々の実施形態および変更例が、上記の記載およ
び添付の図面から当業者には明らかになるであろう。よって、そのような他の実施形態お
よび変更例も本開示の範囲内とすべきことを企図したものである。さらに、本開示は、本
明細書においては、特定の目的のための特定の環境における特定の実施の文脈において説
明したが、当業者は、その有用性はそれらに限定されるものではなく、本開示は、幾多の
環境において幾多の目的のために有利に実施しうるものであることを理解されよう。よっ
て、添付の特許請求の範囲は、本明細書に記載した本開示の全ての効果および趣旨を考慮
して定められるべきものである。
Claims (19)
- 光学フィルタであって、
前記光学フィルタの媒体上に堆積された、第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと、
前記光学フィルタの前記媒体上に堆積された、第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと、を備え、
前記媒体は、光学ビームの光路において前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングとの間に配置されており、
前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングおよび前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングは、それぞれ、前記光路に垂直な第1の方向に沿って、相互に連係して漸次変化し、それにより互いに同じ依存度を有するバンドパス中心波長を有し、
前記媒体は屈折率nを有する透明媒体であって、前記屈折率nは前記第1の方向に沿って異なる、光学フィルタ。 - 前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングは、上流側薄膜ウェッジ付き干渉コーティングである、請求項1に記載の光学フィルタ。
- 前記光学フィルタは、上流側フィルタと下流側フィルタとを含み、
前記上流側フィルタは、前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングを含み、
前記下流側フィルタは、前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングを含む、請求項1に記載の光学フィルタ。 - 前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングとの間の距離Lは変化する、請求項1に記載の光学フィルタ。
- 光学フィルタであって、
前記光学フィルタの基板上に堆積された、第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと、
前記光学フィルタの前記基板上に堆積された、第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと、を備え、
前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングは、前記基板の第1の側面に堆積され、前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングは、前記基板の、光学ビームの光路において反対側にある、第2の側面に堆積されており、
前記基板は、単一の共通基板であり、
前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングおよび前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングは、それぞれ、前記光路に垂直な第1の方向に沿って、相互に連係して漸次変化し、それにより互いに同じ依存度を有するバンドパス中心波長を有し、
前記基板は屈折率nを有する透明媒体であって、前記屈折率nは前記第1の方向に沿って異なる、光学フィルタ。 - 前記光学フィルタは、上流側フィルタと下流側フィルタとを含み、
前記上流側フィルタは、前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングを含み、
前記下流側フィルタは、前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングを含む、請求項5に記載の光学フィルタ。 - 前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングとが離間して配置されている、請求項5に記載の光学フィルタ。
- 前記光路中に設けられた開口をさらに含む、請求項5に記載の光学フィルタ。
- 前記開口の幅は変化する、請求項8に記載の光学フィルタ。
- 光学ビームをフィルタリングするステップを含み、
前記光学ビームは、光学フィルタを用いてフィルタリングされ、
前記光学フィルタは、
前記光学フィルタの基板上に堆積された、第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと、
前記光学フィルタの前記基板上に堆積された、第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと、を備え、
前記基板は、単一の共通基板であって、
前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングは、前記基板の第1の側面に堆積され、前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングは、前記基板の、光学ビームの光路において反対側にある、第2の側面に堆積されており、
前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングおよび前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングは、それぞれ、前記光路に垂直な第1の方向に沿って、相互に連係して漸次変化し、それにより互いに同じ依存度を有するバンドパス中心波長を有し、
前記基板は屈折率nを有する透明媒体であって、前記屈折率nは前記第1の方向に沿って異なる、方法。 - 前記基板は、前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングとの間において、屈折率nを有する透明媒体を含む、請求項10に記載の方法。
- 前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングとが離間して配置されている、請求項10に記載の方法。
- 前記光学フィルタは、前記光路中に設けられた開口をさらに含む、請求項10に記載の方法。
- 前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングと前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングとの間の距離Lは変化する、請求項10に記載の方法。
- 前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングは、上流側薄膜ウェッジ付き干渉コーティングである、請求項10に記載の方法。
- 前記光学フィルタは、上流側フィルタと下流側フィルタとを含み、
前記上流側フィルタは、前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングを含み、
前記下流側フィルタは、前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングを含む、請求項10に記載の方法。 - 前記第1の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングは、前記第2の薄膜ウェッジ付き干渉コーティングに対して所定の角度で配置されている、請求項1に記載の光学フィルタ。
- 前記光路中に設けられた開口をさらに含む、請求項1に記載の光学フィルタ。
- 前記光学フィルタは、上流側フィルタと下流側フィルタとを含み、
前記上流側フィルタは、サブ波長格子を含み、
前記下流側フィルタは、二色性ポリマーを含む、請求項10に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201461934547P | 2014-01-31 | 2014-01-31 | |
US61/934,547 | 2014-01-31 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016549230A Division JP6490700B2 (ja) | 2014-01-31 | 2015-01-29 | 光学フィルタおよび分光計 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020216141A Division JP7119059B2 (ja) | 2014-01-31 | 2020-12-25 | 光学フィルタおよび分光計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019105856A JP2019105856A (ja) | 2019-06-27 |
JP6818067B2 true JP6818067B2 (ja) | 2021-01-20 |
Family
ID=53754601
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016549230A Active JP6490700B2 (ja) | 2014-01-31 | 2015-01-29 | 光学フィルタおよび分光計 |
JP2019034471A Active JP6818067B2 (ja) | 2014-01-31 | 2019-02-27 | 光学フィルタおよび分光計 |
JP2020216141A Active JP7119059B2 (ja) | 2014-01-31 | 2020-12-25 | 光学フィルタおよび分光計 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016549230A Active JP6490700B2 (ja) | 2014-01-31 | 2015-01-29 | 光学フィルタおよび分光計 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020216141A Active JP7119059B2 (ja) | 2014-01-31 | 2020-12-25 | 光学フィルタおよび分光計 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9625628B2 (ja) |
EP (1) | EP3100078B1 (ja) |
JP (3) | JP6490700B2 (ja) |
KR (2) | KR102351001B1 (ja) |
CN (2) | CN106461460B (ja) |
CA (1) | CA2938443C (ja) |
TW (2) | TWI692622B (ja) |
WO (1) | WO2015116756A1 (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9733124B2 (en) * | 2013-04-18 | 2017-08-15 | BMG LABTECH, GmbH | Microplate reader with linear variable filter |
KR102351001B1 (ko) | 2014-01-31 | 2022-01-12 | 비아비 솔루션즈 아이엔씨. | 광학 필터 및 분광계 |
JP6473367B2 (ja) * | 2015-03-31 | 2019-02-20 | 三菱重工業株式会社 | ガス分析システム |
US10048127B2 (en) | 2015-08-05 | 2018-08-14 | Viavi Solutions Inc. | Optical filter and spectrometer |
US9945790B2 (en) | 2015-08-05 | 2018-04-17 | Viavi Solutions Inc. | In-situ spectral process monitoring |
US9939587B2 (en) | 2015-08-28 | 2018-04-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | On-chip optical filter comprising Fabri-Perot resonator structure and spectrometer |
DE102016218578A1 (de) * | 2016-09-27 | 2018-03-29 | Robert Bosch Gmbh | Optische Sensorvorrichtung, Verfahren zum Einstellen einer spektralen Auflösung einer optischen Sensorvorrichtung und spektrales Messverfahren |
US10983006B2 (en) | 2016-12-21 | 2021-04-20 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA—Recherche et Développement | Optical system |
WO2018113938A1 (en) * | 2016-12-21 | 2018-06-28 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement | Optical system |
JP6806603B2 (ja) * | 2017-03-17 | 2021-01-06 | 倉敷紡績株式会社 | 分光フィルタおよび分光測光装置 |
KR102364854B1 (ko) | 2017-07-26 | 2022-02-18 | 삼성전자주식회사 | 광 필터를 포함하는 광 분광기 |
WO2019027724A1 (en) * | 2017-08-02 | 2019-02-07 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | OPTICAL FILTER PASSE-BANDE |
CN111149347B (zh) | 2017-10-11 | 2021-08-06 | 富士胶片株式会社 | 摄像装置及图像处理装置 |
EP3724617B1 (en) * | 2017-12-13 | 2024-02-07 | trinamiX GmbH | Spectrometer device and system |
JP2019132607A (ja) * | 2018-01-29 | 2019-08-08 | 株式会社Jvcケンウッド | 分光器 |
US10962822B2 (en) * | 2018-06-06 | 2021-03-30 | Viavi Solutions Inc. | Liquid-crystal selectable bandpass filter |
WO2020033518A1 (en) * | 2018-08-08 | 2020-02-13 | Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona | Apertureless confocal microscopy devices and methods |
US12092836B2 (en) * | 2018-10-26 | 2024-09-17 | Viavi Solutions Inc. | Optical element and optical system |
US20220330815A1 (en) * | 2019-06-10 | 2022-10-20 | Nikon Corporation | Measurement device |
US20220299367A1 (en) * | 2019-07-16 | 2022-09-22 | Ams International Ag | Reconstructing light wavelength spectrum with thin-film device |
CN110530782B (zh) * | 2019-09-25 | 2024-05-07 | 迈克医疗电子有限公司 | 消除旁瓣信号干扰的光学系统及方法 |
TWI716205B (zh) | 2019-11-28 | 2021-01-11 | 財團法人工業技術研究院 | 功率量測保護方法與雷射保護系統 |
TWI730862B (zh) | 2020-08-03 | 2021-06-11 | 國立陽明交通大學 | 製造具厚度變化的薄膜的方法 |
CN113093322B (zh) * | 2021-03-30 | 2023-03-28 | 联合微电子中心有限责任公司 | Cmos图像传感器、干涉型滤光片及其制备方法 |
TWI819414B (zh) * | 2021-11-24 | 2023-10-21 | 財團法人工業技術研究院 | 光電感測系統及其方法 |
KR102694137B1 (ko) * | 2021-11-25 | 2024-08-13 | (주)티에스테크 | 선형 가변 밴드패스 필터를 이용한 유해물질 혼합가스의 검출 장치 |
Family Cites Families (82)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4389096A (en) * | 1977-12-27 | 1983-06-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Image display apparatus of liquid crystal valve projection type |
JPS5760231A (en) | 1980-09-29 | 1982-04-12 | Hitachi Ltd | Multi-wavelength spectrometer |
SE445389B (sv) | 1982-06-28 | 1986-06-16 | Geotronics Ab | Forfarande och anordning for att erhalla metdata fran en kemisk process |
DE3719806A1 (de) | 1987-06-13 | 1988-12-22 | Basf Ag | Fiberoptischer sensor |
DE69023875T2 (de) | 1989-09-29 | 1996-05-15 | Waters Investments Ltd | Vorrichtung zum Messen der Lichtabsorption oder Fluoreszenz in flüssigen Proben. |
US5144498A (en) * | 1990-02-14 | 1992-09-01 | Hewlett-Packard Company | Variable wavelength light filter and sensor system |
US5166755A (en) * | 1990-05-23 | 1992-11-24 | Nahum Gat | Spectrometer apparatus |
US5218473A (en) * | 1990-07-06 | 1993-06-08 | Optical Coating Laboratories, Inc. | Leakage-corrected linear variable filter |
US5272518A (en) | 1990-12-17 | 1993-12-21 | Hewlett-Packard Company | Colorimeter and calibration system |
JPH04276527A (ja) | 1991-03-04 | 1992-10-01 | Nippon Steel Corp | 炉内温度計 |
US5872655A (en) | 1991-07-10 | 1999-02-16 | Optical Coating Laboratory, Inc. | Monolithic linear variable filter and method of manufacture |
JP3375147B2 (ja) * | 1992-05-26 | 2003-02-10 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体光検出装置 |
US5784158A (en) * | 1995-11-22 | 1998-07-21 | Lastek Laboratories Pty. Ltd. | Broad spectrum spectrometer apparatus |
JPH10213482A (ja) * | 1997-01-28 | 1998-08-11 | Minolta Co Ltd | 色彩測定装置 |
US5949082A (en) | 1998-03-23 | 1999-09-07 | Datex-Ohmeda, Inc. | Ceramic radiation source assembly with metalized seal for gas spectrometer |
US6075611A (en) | 1998-05-07 | 2000-06-13 | Schlumberger Technology Corporation | Methods and apparatus utilizing a derivative of a fluorescene signal for measuring the characteristics of a multiphase fluid flow in a hydrocarbon well |
JP3844886B2 (ja) * | 1998-07-28 | 2006-11-15 | 富士通株式会社 | 光フィルタの製造方法 |
US6057925A (en) * | 1998-08-28 | 2000-05-02 | Optical Coating Laboratory, Inc. | Compact spectrometer device |
AU777591B2 (en) | 1999-07-16 | 2004-10-21 | Textron Systems Corporation | Integrated optics block for spectroscopy |
US6836325B2 (en) | 1999-07-16 | 2004-12-28 | Textron Systems Corporation | Optical probes and methods for spectral analysis |
CA2392228A1 (en) * | 1999-11-19 | 2001-05-25 | Ming Xiao | Compact spectrofluorometer |
DE60137599D1 (de) | 2000-03-10 | 2009-03-19 | Textron Systems Corp | Optische sonden und verfahren zur spektralanalyse |
US8565860B2 (en) | 2000-08-21 | 2013-10-22 | Biosensors International Group, Ltd. | Radioactive emission detector equipped with a position tracking system |
US6700690B1 (en) | 2000-10-02 | 2004-03-02 | Ocean Optics, Inc. | Tunable variable bandpass optical filter |
JP2002247455A (ja) * | 2001-02-20 | 2002-08-30 | Kureha Chem Ind Co Ltd | 撮像部材及び撮像装置 |
JP2002268120A (ja) * | 2001-03-14 | 2002-09-18 | Kureha Chem Ind Co Ltd | 光学的機能フィルター部材及び撮像装置 |
US6785002B2 (en) * | 2001-03-16 | 2004-08-31 | Optical Coating Laboratory, Inc. | Variable filter-based optical spectrometer |
JP2002277326A (ja) | 2001-03-19 | 2002-09-25 | Nireco Corp | 分光測光装置 |
US7126682B2 (en) | 2001-04-11 | 2006-10-24 | Rio Grande Medical Technologies, Inc. | Encoded variable filter spectrometer |
US6909548B2 (en) | 2001-06-13 | 2005-06-21 | Jds Uniphase Inc. | Optical filter using a linear variable filter with elliptical beam geometry |
DE10204963A1 (de) | 2002-02-06 | 2003-08-14 | Isco Inc | Fotometrische Sonde für Untersuchungen an Flüssigkeiten sowie Verfahren hierfür |
KR20040110071A (ko) | 2002-04-23 | 2004-12-29 | 히로무 마에다 | 소형 패키지 분광센서유닛 |
US6958693B2 (en) | 2002-05-24 | 2005-10-25 | Procter & Gamble Company | Sensor device and methods for using same |
US20040004551A1 (en) | 2002-07-08 | 2004-01-08 | Early Gay M. | Fluid management system |
US7061607B2 (en) | 2003-05-02 | 2006-06-13 | United Technologies Corporation | Engine spectrometer probe and method of use |
KR20060015242A (ko) * | 2003-06-13 | 2006-02-16 | 니뽄 덴신 덴와 가부시키가이샤 | 파장 가변 광 필터 |
JP2005043092A (ja) | 2003-07-23 | 2005-02-17 | Kazumoto Onodera | 濁水特性測定装置、水質改良剤注入装置および浄水装置 |
US7459713B2 (en) | 2003-08-14 | 2008-12-02 | Microptix Technologies, Llc | Integrated sensing system approach for handheld spectral measurements having a disposable sample handling apparatus |
EP1709405A1 (en) * | 2003-09-26 | 2006-10-11 | Tidal Photonics, Inc. | Apparatus and methods relating to enhanced spectral measurement systems |
WO2005106415A1 (en) * | 2004-04-30 | 2005-11-10 | X-Rite, Incorporated | Color measurement engine with parallel detectors |
US7423258B2 (en) | 2005-02-04 | 2008-09-09 | Baker Hughes Incorporated | Method and apparatus for analyzing a downhole fluid using a thermal detector |
US7460247B1 (en) * | 2005-05-23 | 2008-12-02 | Sandia Corporation | Full spectrum optical safeguard |
US7420663B2 (en) | 2005-05-24 | 2008-09-02 | Bwt Property Inc. | Spectroscopic sensor on mobile phone |
US7530265B2 (en) | 2005-09-26 | 2009-05-12 | Baker Hughes Incorporated | Method and apparatus for elemental analysis of a fluid downhole |
US7372039B2 (en) | 2005-12-20 | 2008-05-13 | Ecolab Inc. | Near UV absorption spectrometer and method for using the same |
US20080285165A1 (en) * | 2007-05-14 | 2008-11-20 | Wu Kuohua Angus | Thin film filter system and method |
FI20075622A0 (fi) | 2007-09-07 | 2007-09-07 | Valtion Teknillinen | Spektrometri ja menetelmä liikkuvan näytteen mittaukseen |
JP2009145224A (ja) * | 2007-12-14 | 2009-07-02 | Konica Minolta Sensing Inc | 測光装置 |
JP2009271046A (ja) * | 2008-04-08 | 2009-11-19 | Sony Corp | 光計測装置及び計測用光学系 |
JP2009276691A (ja) * | 2008-05-16 | 2009-11-26 | Nippon Shinku Kogaku Kk | 光学素子及びその製造方法 |
GB0809252D0 (en) | 2008-05-21 | 2008-06-25 | Ntnu Technology Transfer As | Underwater hyperspectral imaging |
US20100208348A1 (en) | 2008-08-22 | 2010-08-19 | Carestream Health, Inc. | Tunable spectral filtration device |
US8203769B2 (en) * | 2008-10-10 | 2012-06-19 | Xerox Corporation | In-line linear variable filter based spectrophotometer |
US8314991B2 (en) * | 2008-10-31 | 2012-11-20 | Cpfilms Inc. | Variable transmission composite interference filter |
US7987712B2 (en) | 2008-12-10 | 2011-08-02 | Rosemount Aerospace Inc. | High temperature seal assembly for optical sensor |
US9207348B2 (en) | 2009-05-28 | 2015-12-08 | Westerngeco L.L.C | Collision avoidance for instrumented probes deployed from a seismic vessel |
EP2522968B1 (en) * | 2009-11-30 | 2021-04-21 | IMEC vzw | Integrated circuit for spectral imaging system |
JP5736672B2 (ja) * | 2010-06-03 | 2015-06-17 | 株式会社ニコン | 光学部品及び分光測光装置 |
CN101900905A (zh) | 2010-07-20 | 2010-12-01 | 友达光电股份有限公司 | 触控式液晶显示器 |
JP5810512B2 (ja) | 2010-11-12 | 2015-11-11 | セイコーエプソン株式会社 | 光学装置 |
US8476574B1 (en) * | 2011-03-31 | 2013-07-02 | Mutoh Industries Ltd. | Method of deconvolution of spectral data |
JP6074860B2 (ja) | 2011-04-27 | 2017-02-08 | 国立大学法人 岡山大学 | 細胞培養器 |
WO2012176851A1 (ja) * | 2011-06-24 | 2012-12-27 | 株式会社島津製作所 | 分光装置 |
JP5643172B2 (ja) * | 2011-10-17 | 2014-12-17 | 株式会社小松製作所 | 受光部のスペックル軽減機能を有する分光器 |
EP2783193A4 (en) | 2011-11-03 | 2015-08-26 | Verifood Ltd | COST-EFFECTIVE SPECTROMETRIC SYSTEM FOR USER-EATING FOOD ANALYSIS |
JP2015501432A (ja) | 2011-11-04 | 2015-01-15 | アイメックImec | 各画素についてモザイク状フィルタを備えたスペクトルカメラ |
US8861106B2 (en) * | 2011-12-02 | 2014-10-14 | Raytheon Company | Variable monochromatic uniform calibration source |
EP3644043B1 (en) | 2011-12-27 | 2023-10-18 | HORIBA, Ltd. | Gas analyzing apparatus |
CN103185637A (zh) | 2011-12-28 | 2013-07-03 | 上海丰汇医学科技有限公司 | 用于生化分析仪上的分光光度计的光学系统 |
US9297749B2 (en) | 2012-03-27 | 2016-03-29 | Innovative Science Tools, Inc. | Optical analyzer for identification of materials using transmission spectroscopy |
JP5988690B2 (ja) | 2012-05-18 | 2016-09-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光センサ |
CN102944305B (zh) | 2012-11-12 | 2014-08-13 | 北京航空航天大学 | 一种快照式高通量的光谱成像方法和光谱成像仪 |
WO2014089120A1 (en) | 2012-12-07 | 2014-06-12 | Integrated Plasmonics Corporation | Plasmonic spectroscopic sensor and cuvette therefor |
CN103278861A (zh) | 2013-05-16 | 2013-09-04 | 浙江大学 | 水下高光谱成像系统 |
EP4006542A1 (en) | 2013-08-02 | 2022-06-01 | Verifood Ltd. | Spectrometer comprising sample illuminator |
BR112016006021A2 (pt) | 2013-10-04 | 2017-08-01 | Univ Massey | sensor de densidade óptica in situ |
US20150153156A1 (en) * | 2013-12-03 | 2015-06-04 | Mvm Electronics, Inc. | High spatial and spectral resolution snapshot imaging spectrometers using oblique dispersion |
KR102351001B1 (ko) | 2014-01-31 | 2022-01-12 | 비아비 솔루션즈 아이엔씨. | 광학 필터 및 분광계 |
US20150219484A1 (en) | 2014-02-03 | 2015-08-06 | Joseph Dehner | Sight glass assembly |
PL3129326T3 (pl) | 2014-04-09 | 2021-01-25 | Nch Corporation | System oraz sposób wykrywania narastania warstwy biologicznej w systemach wodnych |
US9945790B2 (en) | 2015-08-05 | 2018-04-17 | Viavi Solutions Inc. | In-situ spectral process monitoring |
US10048127B2 (en) | 2015-08-05 | 2018-08-14 | Viavi Solutions Inc. | Optical filter and spectrometer |
-
2015
- 2015-01-29 KR KR1020207037231A patent/KR102351001B1/ko active IP Right Grant
- 2015-01-29 KR KR1020167022476A patent/KR102197456B1/ko active IP Right Grant
- 2015-01-29 CN CN201580010174.9A patent/CN106461460B/zh active Active
- 2015-01-29 CA CA2938443A patent/CA2938443C/en active Active
- 2015-01-29 WO PCT/US2015/013415 patent/WO2015116756A1/en active Application Filing
- 2015-01-29 EP EP15743537.1A patent/EP3100078B1/en active Active
- 2015-01-29 JP JP2016549230A patent/JP6490700B2/ja active Active
- 2015-01-29 US US14/608,356 patent/US9625628B2/en active Active
- 2015-01-29 CN CN201811373860.4A patent/CN109520618B/zh active Active
- 2015-01-30 TW TW107135212A patent/TWI692622B/zh active
- 2015-01-30 TW TW104103308A patent/TWI641813B/zh active
-
2017
- 2017-04-17 US US15/488,948 patent/US10190910B2/en active Active
-
2019
- 2019-02-27 JP JP2019034471A patent/JP6818067B2/ja active Active
-
2020
- 2020-12-25 JP JP2020216141A patent/JP7119059B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106461460B (zh) | 2018-11-27 |
JP2017506763A (ja) | 2017-03-09 |
TWI641813B (zh) | 2018-11-21 |
EP3100078A4 (en) | 2017-09-06 |
JP7119059B2 (ja) | 2022-08-16 |
KR102351001B1 (ko) | 2022-01-12 |
CN106461460A (zh) | 2017-02-22 |
US20170219430A1 (en) | 2017-08-03 |
KR20210000743A (ko) | 2021-01-05 |
JP2021073484A (ja) | 2021-05-13 |
KR20160138385A (ko) | 2016-12-05 |
EP3100078B1 (en) | 2023-10-11 |
JP6490700B2 (ja) | 2019-03-27 |
US9625628B2 (en) | 2017-04-18 |
CA2938443A1 (en) | 2015-08-06 |
TW201903368A (zh) | 2019-01-16 |
WO2015116756A1 (en) | 2015-08-06 |
KR102197456B1 (ko) | 2020-12-31 |
TWI692622B (zh) | 2020-05-01 |
CN109520618A (zh) | 2019-03-26 |
TW201531674A (zh) | 2015-08-16 |
US20150219494A1 (en) | 2015-08-06 |
EP3100078A1 (en) | 2016-12-07 |
US10190910B2 (en) | 2019-01-29 |
CA2938443C (en) | 2021-01-26 |
CN109520618B (zh) | 2021-02-26 |
JP2019105856A (ja) | 2019-06-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6818067B2 (ja) | 光学フィルタおよび分光計 | |
CN102175324B (zh) | 基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪 | |
US20200340859A1 (en) | Spectrometer and Spectral Detection and Analysis Method Using the Same | |
CN103424865B (zh) | 光模块、电子设备、食物分析装置以及分光照相机 | |
US8130380B2 (en) | Spectrometer and interferometric method | |
CN102798972A (zh) | 滤光器、滤光器模块以及光分析装置 | |
CN103576311A (zh) | 波长可变干涉滤波器、滤光器设备、光模块及电子设备 | |
CN103913836B (zh) | 波长可变干涉滤波器及制造方法、光学模块以及电子设备 | |
CN103676136A (zh) | 分光装置、波长可变干涉滤波器、光学模块及电子设备 | |
CN104678473A (zh) | 波长可变干涉滤波器、光学模块以及电子设备 | |
CN102323596A (zh) | 基于光栅技术分光结构的转动拉曼激光雷达系统 | |
CN105444882B (zh) | 实现自定标功能的八通道辐射计 | |
WO2013133804A1 (en) | Double-grating surface-enhanced raman spectroscopy | |
EP3404379B1 (en) | Optical device for angle measurements | |
US9273997B2 (en) | Spectrometer, assembling method thereof, and assembling system | |
Sigernes | Basic hyperspectral imaging | |
US8153979B2 (en) | Interference spectroscopic analysis device | |
US20160138973A1 (en) | Assembling method of spectrometer and assembling system | |
CN108333123A (zh) | 一种基于mim波导技术的cmos光谱仪 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190326 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190326 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191206 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191224 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20200324 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200403 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200714 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201201 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20201225 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6818067 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |