TW201506734A - 附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種可抑制顯示畫面產生殘像之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。 附有觸控檢測功能之顯示裝置包括：控制裝置，其於通常動作模式下，根據圖像信號，以使顯示功能層發揮圖像顯示功能之方式進行圖像顯示控制，且進行觸控檢測控制；觸控檢測部，其於通常動作模式下，根據來自觸控檢測電極之檢測信號，檢測與觸控檢測電極接近或接觸之物體之位置；及觸控檢測控制部，其於休眠模式下，檢測物體對觸控檢測電極之接近或接觸。控制裝置於休眠模式下，在觸控檢測控制部檢測到物體對觸控檢測電極之接近或接觸後，將像素電極控制在特定電位，然後將觸控用驅動信號供給至驅動電極。

Description

附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器
本發明係關於一種可檢測外部接近物體之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。
近年來，稱為所謂觸控面板之可檢測外部接近物體之觸控檢測裝置受到重視。觸控面板裝設(所謂外掛式觸控(on-cell)型)或一體化(所謂內嵌式觸控(in-cell)型)於液晶顯示裝置等顯示裝置上而被用於附有觸控檢測功能之顯示裝置。而且，附有觸控檢測功能之顯示裝置係藉由於顯示裝置顯示各種按鈕圖像等，而能夠以觸控面板代替通常之機械式按鈕來輸入資訊。包含此種觸控面板之附有觸控檢測功能之顯示裝置無需如鍵盤或滑鼠、小鍵盤般之輸入裝置，因此，有除電腦以外，亦於如行動電話裝置或平板般之個人數位助理等擴大使用的傾向。
如行動電話裝置或平板般之電子機器中所使用之附有觸控檢測功能之顯示裝置較佳為具有進行圖像顯示並且進行觸控檢測之通常動作模式，而且具有為降低消耗電力而於一定時間內無操作之情形時停止圖像顯示並且停止各部之動作的休眠模式。
例如，於專利文獻1中記載有一種靜電電容式觸控面板，該靜電電容式觸控面板係於在正常模式下動作之輸入操作位置檢測機構於特定期間未檢測到輸入操作之情形時，轉變為輸入操作位置檢測機構之動作暫停，且複數之各電容-時間轉換機構與輸入判定機構間歇動作 的休眠模式，於在休眠模式下間歇動作之輸入判定機構判定有輸入操作之情形時，轉變為輸入操作位置檢測機構動作之正常模式。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2011-44004號公報
專利文獻1所記載之靜電電容式觸控面板係裝設於顯示器而構成外掛式觸控型之附有觸控檢測功能之顯示裝置者，並非構成內嵌式觸控型之附有觸控檢測功能之顯示裝置者。
於內嵌式觸控型之附有觸控檢測功能之顯示裝置中，存在自休眠模式轉變為通常動作模式時有可能於顯示畫面產生殘像這樣的內嵌式觸控型特有之問題，較佳為抑制該殘像。
專利文獻1所記載之靜電電容式觸控面板係構成外掛式觸控型之附有觸控檢測功能之顯示裝置者，並非構成內嵌式觸控型之附有觸控檢測功能之顯示裝置者，因此，未對有可能於顯示畫面產生殘像這樣的內嵌式觸控型特有之問題進行考慮。
本揭示係鑒於上述問題點而完成者，其目的在於提供一種可抑制於顯示畫面產生殘像之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。
本揭示之附有觸控檢測功能之顯示裝置係具有進行圖像顯示且進行觸控檢測之通常動作模式、及不進行圖像顯示而進行觸控檢測之休眠模式者，其包括：顯示區域，其於基板上呈矩陣狀配置有複數個像素電極；驅動電極，其與上述像素電極對向地設置，並分割成複數個；觸控檢測電極，其與上述驅動電極對向，於與上述驅動電極之間形成靜電電容；顯示功能層，其具有將圖像顯示於上述顯示區域之圖 像顯示功能；控制裝置，其於上述通常動作模式下，根據圖像信號，於上述像素電極與上述驅動電極之間施加顯示用驅動電壓，而使上述顯示功能層發揮圖像顯示功能之方式進行圖像顯示控制，且以將觸控用驅動信號供給至上述驅動電極之方式進行觸控檢測控制；觸控檢測部，其於上述通常動作模式下，根據來自上述觸控檢測電極之檢測信號，檢測與上述觸控檢測電極接近或接觸之物體之位置；及觸控檢測控制部，其於上述休眠模式下，檢測上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸；上述控制裝置於上述休眠模式下，在上述觸控檢測控制部檢測到上述物體上述觸控檢測電極之接近或接觸後，將上述像素電極控制在特定電位，然後將上述觸控用驅動信號供給至上述驅動電極。
本揭示之電子機器係具備上述附有觸控檢測功能之顯示裝置者，例如，相符的有電視裝置、數位相機、個人電腦、攝錄影機或行動電話等移動終端裝置等。
根據本揭示之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器，可抑制於顯示畫面產生殘像。
1‧‧‧附有觸控檢測功能之 顯示裝置
1F‧‧‧1圖框期間
1H‧‧‧1水平期間
2‧‧‧像素基板
3‧‧‧對向基板
6‧‧‧液晶層
10‧‧‧附有觸控檢測功能之 顯示器件
11‧‧‧控制部
11a‧‧‧記憶體
12、12C‧‧‧閘極驅動器
12A‧‧‧第1閘極驅動器
12B‧‧‧第2閘極驅動器
13‧‧‧源極驅動器
13S‧‧‧源極選擇器部
14‧‧‧驅動電極驅動器
14A、14B‧‧‧驅動電極掃描部
14Q‧‧‧驅動信號產生部
19‧‧‧COG
20‧‧‧液晶顯示器件
21‧‧‧TFT基板
22‧‧‧像素電極
24‧‧‧絕緣層
30‧‧‧觸控檢測器件
31‧‧‧玻璃基板
32‧‧‧濾色器
32B、32G、32R‧‧‧色區域
35‧‧‧偏光板
40‧‧‧觸控檢測部
42‧‧‧觸控檢測信號放大部
43‧‧‧A/D轉換部
44‧‧‧信號處理部
45‧‧‧座標抽取部
46‧‧‧檢測時序控制部
51‧‧‧掃描控制部
52‧‧‧觸控檢測掃描部
52SR‧‧‧移位暫存器
53、53(k)~53(k+3)、530‧‧‧驅動部
54‧‧‧邏輯與電路
61‧‧‧高位準電壓產生部
62‧‧‧低位準電壓產生部
63、64、66、543‧‧‧緩衝器
65‧‧‧切換電路
65E、66E‧‧‧輸出端子
70‧‧‧升壓電路
71、72、75、76、201、206、207、208、211、212、COMSW、S1、S2、S3、SWB、SWG、SWR‧‧‧開關
73、77‧‧‧電荷泵
74、78‧‧‧調節器
100‧‧‧觸控檢測控制部
100D‧‧‧閘極驅動器
110‧‧‧觸控IC
120SR‧‧‧閘極移位暫存器
200‧‧‧電源IC
202‧‧‧檢測電路
203、204‧‧‧箭頭
205‧‧‧比較器
510‧‧‧影像顯示畫面部
511‧‧‧前面板
512‧‧‧濾光玻璃
521‧‧‧發光部
522‧‧‧顯示部
523‧‧‧選單開關
524‧‧‧快門按鈕
525‧‧‧透鏡蓋
531‧‧‧本體部
532‧‧‧透鏡
533‧‧‧起動/終止開關
534、543、562‧‧‧顯示部
541、544‧‧‧反相器
541‧‧‧本體
542‧‧‧切換電路
542‧‧‧鍵盤
551‧‧‧上側框體
552‧‧‧下側框體
553‧‧‧連結部
554‧‧‧顯示器
555‧‧‧次顯示器
556‧‧‧圖片燈
557‧‧‧相機
561‧‧‧框體
Ad‧‧‧顯示區域
B、B(k)、B(k+1)、B(k+2)、B(k+3)‧‧‧驅動電極區塊
C1、C1'、C4‧‧‧電容元件
C11、C12、Cc、Cr、Cx‧‧‧電容器
C2、C3‧‧‧靜電電容
CMOS1、CMOS2‧‧‧CMOS開關
COML、E1‧‧‧驅動電極
D‧‧‧介電體
DD‧‧‧顯示驅動
DET‧‧‧電壓檢測器
DT‧‧‧觸控檢測驅動
E2‧‧‧觸控檢測電極
EXVCOM‧‧‧驅動控制信號
GCL、GCLm+1~GCLm+8‧‧‧掃描線GCL之掃描信號
Gd‧‧‧邊框
Gdv‧‧‧寬度
GSW、GxSW‧‧‧開關信號線
HCK‧‧‧水平時鐘脈衝
HST‧‧‧水平起始脈衝
Hsync‧‧‧水平同步信號
I0、I1‧‧‧電流
L1、L2、SGL、SGLn+1、SGLn+2、SGLn+3、SGLn+4、LAC‧‧‧觸控用布線
LDC‧‧‧顯示用布線
NMOS、PMOS‧‧‧電晶體
NTX‧‧‧非選擇驅動電極區塊
P‧‧‧脈衝
P1‧‧‧部分
Pd‧‧‧顯示期間
Pix‧‧‧像素
Pt‧‧‧觸控檢測期間
Q1~Q3‧‧‧連接導體
Rc‧‧‧電阻
RD‧‧‧局部顯示區域
Reset、t20、t21、t41、t42‧‧‧期間
RT、RT1~RT10‧‧‧局部檢測區域
S‧‧‧交流信號源
SDCK‧‧‧控制信號
SDST‧‧‧掃描開始信號
Sg‧‧‧交流矩形波
SGLn+5‧‧‧信號線
SPix‧‧‧副像素
Ssw、Sxsw、Vsel、VselB、VselG、VselR‧‧‧開關控制信號
ST(k)、ST(k+1)、ST(k+2)、ST(k+3)‧‧‧掃描信號
STX‧‧‧選擇驅動電極區塊
SW1~SW4‧‧‧選擇開關
T‧‧‧軟性印刷基板
t1~t4、t50~t57、t61~t66、tr1、tr2、tw1~tw3‧‧‧時序
t31、t33‧‧‧計測開始時
t60‧‧‧初始時序
TDL‧‧‧觸控檢測電極
TDL、TDLa、TDLb‧‧‧觸控檢測電極
V0‧‧‧波形
V1‧‧‧波形
V1、V2、Vcc、-Vcc、+Vcc‧‧‧電源電壓
VB、VG、VR‧‧‧像素電壓
Vc、Vr、Vx‧‧‧端子間電壓
VCK‧‧‧垂直時鐘脈衝
Vcom(B(k+2))‧‧‧驅動信號
Vcom、VcomAC、Vcom(B(k))、Vcom(B(k+1))、 VcomDC‧‧‧顯示用驅動電壓
VCOMSEL‧‧‧驅動電極選擇信號
Vdet‧‧‧觸控檢測信號
Vdisp‧‧‧影像信號
Vout‧‧‧信號輸出
Vpix、VpixB、VpixG、VpixR‧‧‧像素信號
Vref‧‧‧基準電壓
Vscan‧‧‧掃描信號
Vscan(n)‧‧‧第n列掃描信號線
Vsig‧‧‧圖像信號
VST‧‧‧垂直起始脈衝
Vsync‧‧‧垂直同步信號
WM‧‧‧記憶體寫入
|△V|‧‧‧絕對值
圖1係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。
圖2係用以說明互靜電電容型觸控檢測方式之基本原理的表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。
圖3係表示圖2所示之手指未接觸或接近之狀態之等效電路之例的說明圖。
圖4係用以說明互靜電電容型觸控檢測方式之基本原理的表示手指接觸或接近之狀態之說明圖。
圖5係表示圖4所示之手指接觸或接近之狀態之等效電路之例的說明圖。
圖6係表示驅動信號及觸控檢測信號之波形之一例的圖。
圖7係表示安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。
圖8係表示安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之另一例的圖。
圖9係表示升壓電路之一例之圖。
圖10係表示升壓電路之一例之圖。
圖11係表示電荷泵之一例之圖。
圖12係表示電荷泵之一例之圖。
圖13係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示器件之概略剖面構造的剖面圖。
圖14係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之控制裝置之一例的圖。
圖15係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示器件之像素陣列的電路圖。
圖16係說明安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組中源極驅動器與像素信號線之關係的模式圖。
圖17係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示器件之驅動電極及觸控檢測電極之一構成例的立體圖。
圖18係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置中之觸控檢測之動作例的模式圖。
圖19係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置中之觸控檢測之動作例的模式圖。
圖20係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置中之觸控 檢測之動作例的模式圖。
圖21係表示實施形態1之驅動電極驅動器之驅動信號產生部的方塊圖。
圖22係表示實施形態1之驅動電極驅動器之方塊圖。
圖23係表示實施形態1之驅動電極驅動器之驅動部之方塊圖。
圖24係表示實施形態1之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例的方塊圖。
圖25係用以說明自靜電電容型觸控檢測之基本原理的表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。
圖26係用以說明自靜電電容型觸控檢測之基本原理的表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。
圖27係用以說明自靜電電容型觸控檢測之基本原理的表示手指接觸或接近之狀態之說明圖。
圖28係用以說明自靜電電容型觸控檢測之基本原理的表示手指接觸或接近之狀態之說明圖。
圖29係表示檢測電路之說明圖。
圖30係表示圖29之檢測電路之等效電路之說明圖。
圖31係表示圖29之檢測電路之波形之一例之圖。
圖32係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之1圖框期間(1F)內之動作的圖。
圖33(A)~(E)係附有觸控檢測功能之顯示裝置之動作之時序圖。
圖34(A)~(E)係附有觸控檢測功能之顯示裝置之顯示動作之時序圖。
圖35(A)、(B)係附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測動作之時序圖。
圖36係附有觸控檢測功能之顯示裝置之記憶體寫入及記憶體讀 出之時序圖。
圖37(A)、(B)係附有觸控檢測功能之顯示裝置之記憶體寫入及記憶體讀出之另一時序圖。
圖38(A)~(D)係附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測動作之時序圖。
圖39係表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之休眠模式下之動作的流程圖。
圖40(A)~(C)係表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之時序波形例的說明圖。
圖41(A)~(H)係比較例之附有觸控檢測功能之顯示裝置中之顯示動作及觸控檢測動作的時序圖。
圖42係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之以顯示掃描之4倍之速度進行觸控檢測掃描之情形時之動作的圖。
圖43係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之將局部檢測區域RT之大小設為局部顯示區域RD之大小之一半之情形時之動作的圖。
圖44係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之暫時記憶2個局部顯示區域RD之資料之情形時之動作的圖。
圖45係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測動作之一例的圖。
圖46係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測動作之一例的圖。
圖47係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測動作之一例的圖。
圖48係表示實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測器件之一例的圖。
圖49係表示實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置之檢測部的圖。
圖50係表示實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置之檢測部的圖。
圖51係表示實施形態3之附有觸控檢測功能之顯示裝置之圖。
圖52係表示實施形態4之附有觸控檢測功能之顯示裝置之控制裝置之一例的圖。
圖53係表示實施形態4之驅動電極驅動器之驅動部之方塊圖。
圖54係表示實施形態4之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例的方塊圖。
圖55係表示實施形態5之附有觸控檢測功能之顯示裝置之驅動電極驅動器之驅動部的方塊圖。
圖56係表示實施形態5之附有觸控檢測功能之顯示裝置之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例的方塊圖。
圖57係表示安裝有實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。
圖58(A)~(E)係實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置之動作的時序圖。
圖59係表示變化例之附有觸控檢測功能之顯示器件之概略剖面構造的剖面圖。
圖60係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖61係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖62係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖63係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖64係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖65係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖66係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖67係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖68係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖69係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖70係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖71係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
圖72係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。
一面參照圖式，一面詳細地就用於實施本揭示之形態(實施形態)進行說明。本揭示不受以下之實施形態所記載之內容限定。又，以下所記載之構成要素包含業者可容易地設想者、實質上相同者。進而，以下所記載之構成要素可適當進行組合。再者，說明係按照以下之順序進行。
1.實施形態(附有觸控檢測功能之顯示裝置)
1-1.實施形態1
1-2.實施形態2
1-3.實施形態3
1-4.實施形態4
1-5.實施形態5
1-6.實施形態6
2.應用例(電子機器)
上述實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置應用於電子機器之例
3.本揭示之構成
<1-1.實施形態1>
[構成例]
(全體構成例)
圖1係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例的方塊圖。附有觸控檢測功能之顯示裝置1包括附有觸控檢測功能之顯示器件10、控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、源極選擇器部13S、驅動電極驅動器14、觸控檢測部40、觸控檢測控制部100、及閘極驅動器100D。該附有觸控檢測功能之顯示裝置1之附有觸控檢測功能之顯示器件10係內置有觸控檢測功能之顯示器件。附有觸控檢測功能之顯示器件10係將使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示器件20與靜電電容型之觸控檢測器件30一體化而成的所謂內嵌式觸控型之裝置。再者，附有觸控檢測功能之顯示器件10亦可為於使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示器件20上裝設靜電電容型之觸控檢測器件30而成的所謂外掛式觸控型之裝置。
(特徵)
附有觸控檢測功能之顯示裝置1具有進行圖像顯示且進行觸控檢測之通常動作模式、及不進行圖像顯示而進行觸控檢測之休眠模式。附有觸控檢測功能之顯示裝置1係在通常動作模式下於一定期間內無觸控操作時，轉變為休眠模式。附有觸控檢測功能之顯示裝置1係在休眠模式下檢測到特定之手勢後，轉變為通常動作模式。
附有觸控檢測功能之顯示裝置1於通常動作模式下，主要使控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、源極選擇器部13S、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40進行動作。又，於通常動作模式下，執行作業系統程式等而控制電子機器全體之應用處理器(主機CPU(Central Processing Unit，中央處理單元)、未圖示)、自附有觸控檢測功能之顯示裝置1之背面照射光之背光源(未圖示)等亦進行動作。另一方面，附有觸控檢測功能之顯示裝置1於休眠模式下，主要使控制部11、源極驅動器13、源極選擇器部13S、驅動電極驅動器14、觸控檢測部40、觸控檢測控制部100、及閘極驅動器100D進行動作。又，於休眠模式下，使應用處理器、背光源等不進行動作。藉此，電子機器可降低消耗電力。
附有觸控檢測功能之顯示裝置1於通常動作模式下，利用後述之驅動電極COML與後述之觸控檢測電極TDL之間之互靜電電容方式，檢測觸控操作。附有觸控檢測功能之顯示裝置1於休眠模式下，利用觸控檢測電極TDL之自靜電電容方式檢測觸控之有無，檢測到有觸控時，利用驅動電極COML與觸控檢測電極TDL之間之互靜電電容方式檢測觸控座標或手勢，檢測到特定之手勢後，轉變為通常動作模式。
又，附有觸控檢測功能之顯示裝置1包括於通常動作模式下進行動作之閘極驅動器12、及於休眠模式下進行動作之閘極驅動器100D。經常自電池(未圖示)或電子機器之主基板(未圖示)等對附有觸 控檢測功能之顯示裝置1供給特定之電源電壓(以下，稱為Vcc)。於通常動作模式下，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係使閘極驅動器12以利用後述之升壓電路將電源電壓Vcc升高後所得之電源電壓(以下，稱為Vdd)進行動作，以使液晶顯示器件20內之液晶顯示元件高速動作而高速進行圖像顯示。即，閘極驅動器12係以電源電壓Vdd進行動作之電路。另一方面，於休眠模式下，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係使升壓電路停止，而使閘極驅動器100D以電源電壓Vcc進行動作，以降低消耗電力。即，閘極驅動器100D係以電源電壓Vcc進行動作之電路。
(各部之概述)
附有觸控檢測功能之顯示器件10係內置有觸控檢測功能之顯示器件。附有觸控檢測功能之顯示器件10包含液晶顯示器件20與觸控檢測器件30。液晶顯示器件20係如後述般，依據自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan，於每1水平線依序掃描而進行顯示的器件。此時，液晶顯示器件20係於將顯示畫面於垂直方向10等分所得之局部顯示區域RD中之每一區域，於每1水平線依序掃描而進行顯示。觸控檢測器件30係根據後述之靜電電容式觸控檢測之基本原理進行動作，並輸出觸控檢測信號Vdet。該觸控檢測器件30係如後述般，依據自驅動電極驅動器14供給之驅動信號VcomAC依序掃描而進行觸控檢測。
控制部11係根據自外部供給之影像信號Vdisp，對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40分別供給控制信號，以該等相互同步地進行動作之方式進行控制的電路。本揭示中之控制裝置包含控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14。
控制部11包含暫時記憶影像信號Vdisp之影像資訊之記憶體11a。於該例中，記憶體11a之記憶容量係與1圖框大小之影像資訊之1/10之 資料量對應者。即，例如，於垂直方向之顯示解像度為1280像素之情形時，記憶體11a記憶128列大小之影像資訊。
記憶體11a係將由主機機器供給之影像信號Vdisp之影像資訊與同樣地由主機機器供給之垂直同步信號Vsync及水平同步信號Hsync同步地寫入。而且，記憶體11a係與附有觸控檢測功能之顯示裝置1之內部時鐘同步地，以較寫入更快之速度讀出所記憶之影像資訊。具體而言，記憶體11a係於每1水平線依序寫入1圖框大小之影像資訊中之1/10之資料，其後，一面覆寫之前之1/10之資料，一面同樣地於每1水平線依序寫入接下來之1/10之資料。而且，記憶體11a係於將所寫入之資料藉由覆寫該資料而抹除之前，以較寫入更快之速度於1水平線依序讀出。而且，於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，如後述般，於將顯示畫面於垂直方向10等分所得之局部顯示區域RD中之每一區域，進行基於該讀出之資料之顯示。
閘極驅動器12具有如下功能：根據自控制部11供給之控制信號，依序選擇附有觸控檢測功能之顯示器件10之成為顯示驅動之對象之1水平線。具體而言，閘極驅動器12係如後述般，經由掃描信號線GCL，將掃描信號Vscan施加至像素Pix之TFT(Thin Film Transistor，薄膜電晶體)元件Tr之閘極，藉此，依序選擇呈矩陣狀形成於附有觸控檢測功能之顯示器件10之液晶顯示器件20之像素Pix中之1列(1水平線)作為顯示驅動之對象。
源極驅動器13係根據自控制部11供給之控制信號，對附有觸控檢測功能之顯示器件10之後述之各像素Pix(副像素SPix)供給像素信號Vpix的電路。源極驅動器13係如後述般，自1水平線大小之影像信號Vdisp，產生將液晶顯示器件20之複數個副像素SPix之像素信號Vpix分時多工所得的像素信號，並供給至源極選擇器部13S。又，源極驅動器13係產生將經多工化成圖像信號Vsig之像素信號Vpix分離所需之 開關控制信號Vsel，並將其與像素信號Vpix一同供給至源極選擇器部13S。再者，源極選擇器部13S可減少源極驅動器13與控制部11之間之布線數。
驅動電極驅動器14係根據自控制部11供給之控制信號，對附有觸控檢測功能之顯示器件10之後述之驅動電極COML供給觸控檢測用之驅動信號(觸控用驅動信號，以下稱為驅動信號)VcomAC、顯示用之電壓即顯示用驅動電壓VcomDC的電路。具體而言，驅動電極驅動器14係如後述般，於顯示期間Pd，對驅動電極COML施加顯示用驅動電壓VcomDC。又，驅動電極驅動器14係如後述般，於觸控檢測期間Pt，對成為觸控檢測動作之對象之驅動電極COML施加驅動信號VcomAC，對除此以外之驅動電極COML施加顯示用驅動電壓VcomDC。此時，驅動電極驅動器14係對包括特定數量之驅動電極COML之區塊(後述之局部檢測區域RT)中之每一個對驅動電極COML進行驅動。又，驅動電極驅動器14構成為可如後述般改變驅動信號VcomAC之頻率。
觸控檢測部40係根據自控制部11供給之控制信號、及自附有觸控檢測功能之顯示器件10之觸控檢測器件30供給之觸控檢測信號Vdet，檢測有無對於觸控檢測器件30之觸控(上述接觸狀態)，於有觸控之情形時求出觸控檢測區域中之其座標等的電路。該觸控檢測部40包括觸控檢測信號放大部42、A/D(analog to digital，模擬-數位)轉換部43、信號處理部44、座標抽取部45、及檢測時序控制部46。
觸控檢測信號放大部42係將自觸控檢測器件30供給之觸控檢測信號Vdet放大。觸控檢測信號放大部42亦可包括去除觸控檢測信號Vdet中所包含之高頻成分(雜訊成分)，擷取觸控成分並分別輸出的低通類比濾波器。
觸控檢測控制部100於休眠模式下進行動作，首先，利用自靜電 電容方式檢測有無對於附有觸控檢測功能之顯示器件10之觸控檢測器件30之觸控(上述接觸狀態)。繼而，觸控檢測控制部100係於檢測到有觸控時，使控制部11驅動閘極驅動器100D，利用互靜電電容方式檢測觸控座標或手勢。閘極驅動器100D具有如下功能：根據自控制部11供給之控制信號，依序選擇附有觸控檢測功能之顯示器件10之成為驅動之對象之1水平線。觸控檢測控制部100係根據自附有觸控檢測功能之顯示器件10之觸控檢測器件30供給之觸控檢測信號Vdet，檢測觸控檢測器件30之觸控檢測區域中之觸控座標或手勢等。然後，觸控檢測控制部100係於檢測到特定之手勢後，使附有觸控檢測功能之顯示裝置1轉變為通常動作模式。
(互靜電電容型觸控檢測之基本原理)
觸控檢測器件30係根據互靜電電容型觸控檢測之基本原理進行動作，輸出觸控檢測信號Vdet。參照圖1~圖6，就本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1中之互靜電電容型觸控檢測之基本原理進行說明。圖2係用以說明互靜電電容型觸控檢測之基本原理的表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。圖3係表示圖2所示之手指未接觸或接近之狀態之等效電路之例的說明圖。圖4係用以說明互靜電電容型觸控檢測方式之基本原理的表示手指接觸或接近之狀態之說明圖。圖5係表示圖4所示之手指接觸或接近之狀態之等效電路之例的說明圖。圖6係表示驅動信號及觸控檢測信號之波形之一例的圖。
例如，如圖2所示，電容元件C1包括夾隔介電體D相互對向配置之一對電極、驅動電極E1及觸控檢測電極E2。如圖3所示，電容元件C1之一端連接於交流信號源(驅動信號源)S，另一端連接於電壓檢測器(觸控檢測部)DET。電壓檢測器DET係例如包含於圖1所示之觸控檢測信號放大部42之積分電路。
若自交流信號源S對驅動電極E1(電容元件C1之一端)施加特定頻 率(例如數kHz~數百kHz左右)之交流矩形波Sg，則經由連接於觸控檢測電極E2(電容元件C1之另一端)側之電壓檢測器DET，出現輸出波形(觸控檢測信號Vdet)。再者，該交流矩形波Sg係相當於後述之驅動信號VcomAC者。
於手指未接觸(或接近)之狀態(非接觸狀態)下，如圖2及圖3所示，伴隨對於電容元件C1之充放電，與電容元件C1之電容值對應之電流I0流動。圖5所示之電壓檢測器DET係將與交流矩形波Sg對應之電流I0之變動轉換為電壓之變動(實線之波形V0)。
另一方面，於手指接觸(或接近)之狀態(接觸狀態)下，如圖4所示，藉由手指而形成之靜電電容C2與觸控檢測電極E2相接或位於附近，藉此，位於驅動電極E1與觸控檢測電極E2之間之邊緣部分之靜電電容被遮蔽，而作為電容值小於電容元件C1之電容值之電容元件C1'發揮作用。而且，若觀察圖5所示之等效電路，則電流I1流動至電容元件C1'。如圖6所示，電壓檢測器DET係將與交流矩形波Sg對應之電流I1之變動轉換為電壓之變動(虛線之波形V1)。於此情形時，波形V1之振幅比上述波形V0小。藉此，波形V0與波形V1之電壓差分之絕對值|△V|係根據手指等自外部接近之物體之影響而變化。再者，為精度良好地檢測波形V0與波形V1之電壓差分之絕對值|△V|，電壓檢測器DET更佳為藉由電路內之切換，結合交流矩形波Sg之頻率，進行設置重設電容器之充放電之期間Reset的動作。
圖1所示之觸控檢測器件30係依據自驅動電極驅動器14供給之驅動信號Vcom(後述之驅動信號VcomAC)，對每1檢測區塊依序掃描而進行觸控檢測。
觸控檢測器件30係自複數個後述之觸控檢測電極TDL，經由圖3或圖5所示之電壓檢測器DET，對每一檢測區塊輸出觸控檢測信號Vdet，並供給至觸控檢測部40之A/D轉換部43。
A/D轉換部43係以與驅動信號VcomAC同步之時序，對自觸控檢測信號放大部42輸出之類比信號分別取樣並轉換為數位信號的電路。
信號處理部44包括減少A/D轉換部43之輸出信號中所包含之取樣驅動信號VcomAC之頻率以外之頻率成分(雜訊成分)的數位濾波器。信號處理部44係根據A/D轉換部43之輸出信號，檢測有無對於觸控檢測器件30之觸控的邏輯電路。信號處理部44進行僅擷取由手指所致之差分之信號之處理。該由手指所致之差分之信號係上述波形V0與波形V1之差分之絕對值|△V|。信號處理部44亦可進行將每1檢測區塊之絕對值|△V|平均化之運算，求出絕對值|△V|之平均值。藉此，信號處理部44可降低因雜訊而產生之影響。信號處理部44係將檢測到之由手指所致之差分之信號與特定之閾值電壓進行比較，若未達該閾值電壓，則判斷為外部接近物體之非接觸狀態。另一方面，信號處理部44係將檢測到之數位電壓與特定之閾值電壓進行比較，若為閾值電壓以上，則判斷為外部接近物體之接觸狀態。以此方式，觸控檢測部40可進行觸控檢測。
座標抽取部45係於信號處理部44檢測到觸控時求出其觸控面板座標的邏輯電路。檢測時序控制部46係以A/D轉換部43、信號處理部44、及座標抽取部45同步地進行動作之方式進行控制。座標抽取部45係將觸控面板座標作為信號輸出Vout而輸出。
(模組)
圖7係表示安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。如圖7所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1包括後述之像素基板2(TFT基板21)、及軟性印刷基板T。像素基板2(TFT基板21)係搭載COG(Chip On Glass，覆晶玻璃)19，且形成有上述液晶顯示器件之顯示區域Ad、及邊框Gd。COG19係安裝於TFT基板21之IC(Integrated Circuit，積體電路)驅動器之晶片，且係內置有圖1所示 之控制部11、源極驅動器13等顯示動作所需之各電路之控制裝置。於本實施形態中，上述源極驅動器13及源極選擇器部13S係形成於TFT基板21上。源極驅動器13及源極選擇器部13S亦可內置於COG19。又，作為驅動電極驅動器14之一部分之驅動電極掃描部14A、14B係形成於TFT基板21。又，閘極驅動器12係設為閘極驅動器12A、12B而形成於TFT基板21。又，閘極驅動器100D形成於TFT基板21。又，附有觸控檢測功能之顯示裝置1亦可將驅動電極掃描部14A、14B、閘極驅動器12、閘極驅動器100D等電路內置於COG19。
如圖7所示，於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，驅動電極COML之驅動電極區塊B與觸控檢測電極TDL係以立體交叉之方式形成。
又，驅動電極COML係分割成沿一方向延伸之複數個條狀之電極圖案。進行觸控檢測動作時，藉由驅動電極驅動器14對各電極圖案依序供給驅動信號VcomAC。同時被供給驅動信號VcomAC之驅動電極COML之複數個條狀之電極圖案係圖7所示之驅動電極區塊B。驅動電極區塊B(驅動電極COML)係沿附有觸控檢測功能之顯示器件10之長邊方向形成，後述之觸控檢測電極TDL係沿附有觸控檢測功能之顯示器件10之短邊方向形成。觸控檢測電極TDL之輸出係設置於附有觸控檢測功能之顯示器件10之短邊側，並經由軟性印刷基板T，而與安裝於軟性印刷基板T之觸控IC110連接。觸控IC110包含觸控檢測部40、觸控檢測控制部100。如此，觸控IC110係安裝於軟性印刷基板T上，與並排設置之複數個觸控檢測電極TDL之各者連接。軟性印刷基板T只要為端子即可，並不限於軟性印刷基板，於此情形時，於模組之外部配備觸控IC110。
後述之驅動信號產生部內置於COG19。源極選擇器部13S係使用TFT元件而形成於TFT基板21上之顯示區域Ad之附近。於顯示區域 Ad，後述之像素Pix呈矩陣狀(matrix shape)配置有多個。邊框Gd、Gd係自垂直方向觀察TFT基板21之表面時未配置像素Pix的區域。閘極驅動器12、閘極驅動器100D、及驅動電極驅動器14中之驅動電極掃描部14A、14B係配置於邊框Gd、Gd。
閘極驅動器12包括閘極驅動器12A、12B，且使用TFT元件而形成於TFT基板21上。閘極驅動器12A、12B可隔著後述之副像素SPix(像素)呈矩陣狀配置之顯示區域Ad自兩側進行驅動。於以下之說明中，將閘極驅動器12A設為第1閘極驅動器12A，將閘極驅動器12B設為第2閘極驅動器12B。又，後述之掃描線GCL排列於第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B之間。因此，後述之掃描線GCL係以如下方式設置：於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，沿與驅動電極COML之延伸方向平行之方向延伸。
閘極驅動器100D係使用TFT元件而形成於TFT基板21上。閘極驅動器100D可自單側驅動後述之副像素SPix(像素)呈矩陣狀配置之顯示區域Ad。
驅動電極掃描部14A、14B係使用TFT元件而形成於TFT基板21上。驅動電極掃描部14A、14B係自驅動信號產生部，經由顯示用布線LDC接受顯示用驅動電壓VcomDC之供給，並且經由觸控用布線LAC接受驅動信號VcomAC之供給。驅動電極掃描部14A、14B係於邊框Gd，佔據一定寬度Gdv。而且，驅動電極掃描部14A、14B可自兩側驅動並排設置之複數個驅動電極區塊B之各者。供給顯示用驅動電壓VcomDC之顯示用布線LDC與供給觸控用驅動信號VcomAC之觸控用布線LAC係並排配置於邊框Gd、Gd。顯示用布線LDC係配置於較觸控用布線LAC更靠顯示區域Ad側。藉由該構造，由顯示用布線LDC供給之顯示用驅動電壓VcomDC使顯示區域Ad之端部之電位狀態穩定。因此，尤其，於使用橫向電場模式之液晶之液晶顯示器件顯示穩 定。
圖7所示之附有觸控檢測功能之顯示裝置1係將上述觸控檢測信號Vdet自附有觸控檢測功能之顯示器件10之短邊側輸出。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係經由作為端子部之軟性印刷基板T連接於觸控IC110時之布線之牽引變得容易。
再者，驅動電極掃描部14A、14B亦可不形成於邊框Gd，而內置於COG19。圖8係表示安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之另一例的圖。於該例中，驅動電極掃描部係內置於COG19，且形成有自COG19對驅動電極區塊B(驅動電極COML)供給顯示用驅動電壓VcomDC及驅動信號VcomAC之布線。
(升壓電路)
其次，就將電源電壓Vcc升高而產生電源電壓Vdd之升壓電路進行說明。圖9及圖10係表示升壓電路之一例之圖。圖9係表示休眠模式下之升壓電路之圖，圖10係表示通常動作模式下之升壓電路之圖。作為一例，升壓電路70內置於COG19，但亦可設置於COG19外部。
升壓電路70包括開關71、72、75、76、電荷泵73、77、及調節器74、78。於休眠模式下，如圖9所示，開關71斷開，開關72接通。藉此，將自電池或電子機器之主基板等供給之電源電壓+Vcc(例如，+3V至+5V左右)供給至閘極驅動器100D。又，於休眠模式下，開關75斷開，開關76接通。藉此，將自電池或電子機器之主基板等供給之電源電壓-Vcc(例如，-3V至-5V左右)供給至閘極驅動器100D。
另一方面，於通常動作模式下，如圖10所示，開關71接通，開關72斷開。藉此，將電源電壓+Vcc供給至電荷泵73，電荷泵73產生電源電壓+Vdd(例如，+5V至+10V左右)。由電荷泵73產生之電源電壓+Vdd經調節器74穩定化，並被供給至閘極驅動器12A、12B。又，於通常動作模式下，如圖10所示，開關75接通，開關76斷開。藉此， 將電源電壓-Vcc供給至電荷泵77，電荷泵77產生電源電壓-Vdd(例如，-5V至-10V左右)。由電荷泵77產生之電源電壓-Vdd經調節器78穩定化，並被供給至閘極驅動器12A、12B。
圖11及圖12係表示電荷泵之一例之圖。電荷泵73包括開關S1~S3與電容器C11~C12。電荷泵73首先接通開關S1，將電容器C11之一端與電源電壓Vcc連接。又，電容器C11之另一端係藉由開關S2而連接於接地電位。藉此，電容器C11被充入電荷，而端子間電壓成為Vcc。又，開關S3斷開。
其次，開關S1斷開，又，電容器C11之另一端係藉由開關S2而連接於電源電位Vcc。又，開關S3接通，電容器C11及電源電位Vcc與電容器C12並聯連接。此時，電容器C12之端子間電壓成為將電源電位Vcc與電容器C11之端子間電壓即Vcc相加所得之2×Vcc。電荷泵73可藉由將開關S1~S3週期性地接通/斷開而將電源電壓Vcc升高。
於上述，對電荷泵73進行了說明，但電荷泵77亦為相同之構成。
(附有觸控檢測功能之顯示器件)
其次，就附有觸控檢測功能之顯示器件10之構成例詳細進行說明。圖13係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示器件之概略剖面構造的剖面圖。圖14係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之控制裝置之一例的圖。圖15係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示器件之像素陣列的電路圖。
如圖13所示，附有觸控檢測功能之顯示器件10包括像素基板2、對向地配置於與該像素基板2之表面垂直之方向之對向基板3、及插設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。
液晶層6係根據電場之狀態調變通過此處之光者，例如，使用利用FFS(Fringe Field Switching，邊緣場切換)或IPS(In Plane Switching，共平面切換)等橫向電場模式之液晶之液晶顯示器件。再者，亦可於圖13所示之液晶層6與像素基板2之間、及液晶層6與對向基板3之間分別配設配向膜。
又，對向基板3包含玻璃基板31、及形成於該玻璃基板31之一面之濾色器32。於玻璃基板31之另一面形成有作為觸控檢測器件30之檢測電極之觸控檢測電極TDL，進而，於該觸控檢測電極TDL上配設有偏光板35。
像素基板2包含作為電路基板之TFT基板21、呈矩陣狀配設於該TFT基板21上之複數個像素電極22、形成於TFT基板21與像素電極22之間之複數個驅動電極COML、及將像素電極22與驅動電極COML絕緣之絕緣層24。
(顯示裝置之系統構成例)
像素基板2係於TFT基板21上配備有顯示區域Ad、具備介面(I/F)及時序產生器之功能之COG19、以及第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B、閘極驅動器100D及源極驅動器13。上述圖7所示之軟性印刷基板T係傳輸朝向作為圖7所示之COG19而配置之圖14所示之COG19之外部信號或驅動COG19之驅動電力。像素基板2包括位於透明絕緣基板(例如玻璃基板)之TFT基板21之表面且由包含液晶單元之像素呈矩陣狀(matrix shape)配置多個而成之顯示區域Ad、源極驅動器(水平驅動電路)13、以及閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B及100D。閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B係設為第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B，且以隔著顯示區域Ad之方式配置。
顯示區域Ad中包含液晶層之副像素SPix具有配置成m列×n行之矩陣(matrix shape)構造。再者，於本說明書中，所謂列，係指具有沿一方向排列之n個副像素SPix之像素列。又，所謂行，係指具有沿與列排列之方向正交之方向排列之m個副像素SPix之像素行。而且，m與n 之值係根據垂直方向之顯示解像度與水平方向之顯示解像度而決定。顯示區域Ad係相對於像素Vpix之m列n行之排列而於每一列布線有掃描線GCLm+1、GCLm+2、GCLm+3…，於每一行布線有信號線SGLn+1、SGLn+2、SGLn+3、SGLn+4、SGLn+5…。以下，於實施形態中，有時以掃描線GCLm+1、GCLm+2、GCLm+3…為代表而表述為掃描線GCL，以信號線SGLn+1、SGLn+2、SGLn+3、SGLn+4、SGLn+5…為代表而表述為信號線SGL。
自外部對像素基板2輸入作為外部信號之主時鐘、水平同步信號及垂直同步信號，並供給至COG19。COG19係將外部電源之電壓振幅之主時鐘、水平同步信號及垂直同步信號位準轉換(升壓)為液晶之驅動所需之內部電源之電壓振幅，以主時鐘、水平同步信號及垂直同步信號之形式通過時序產生器，而產生垂直起始脈衝VST、垂直時鐘脈衝VCK、水平起始脈衝HST及水平時鐘脈衝HCK。COG19係將垂直起始脈衝VST、垂直時鐘脈衝VCK供給至第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B及閘極驅動器100D，並且將水平起始脈衝HST及水平時鐘脈衝HCK供給至源極驅動器13。COG19係產生相對於每一副像素SPix之像素電極而共通賦予給各像素之被稱為共用電位之顯示用驅動電壓(對向電極電位)VCOM並供給至上述驅動電極COML。
第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B及閘極驅動器100D包含後述之移位暫存器，亦可進而包含鎖存電路等。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B及閘極驅動器100D被供給上述垂直起始脈衝VST，藉此，鎖存電路於1水平期間依序取樣並鎖存與垂直時鐘脈衝VCK同步地自COG19輸出之顯示資料。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B及閘極驅動器100D係將於鎖存電路鎖存之1列大小之數位資料以垂直掃描脈衝之形式依序輸出，並供給至掃描線GCL，藉此，以列為單位依序選擇副像素SPix。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動 器12B係以隔著掃描線GCL之方式配置於掃描線GCL之延伸方向。閘極驅動器100D係鄰接於第2閘極驅動器12B而配置。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B及閘極驅動器100D係自顯示區域Ad之偏上方、垂直掃描上方向朝向顯示區域Ad之偏下方、垂直掃描下方向依序輸出。
對源極驅動器13供給例如6位元之R(紅)、G(綠)、B(藍)之圖像信號Vsig。源極驅動器13係針對藉由利用第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B之垂直掃描而選擇之列之各副像素SPix，對每一像素或每複數個像素或者所有像素一同地經由信號線SGL寫入顯示資料。
於TFT基板21，形成有對圖14及圖15所示之各副像素SPix之薄膜電晶體(TFT；Thin Film Transistor)元件Tr、圖13所示之各像素電極22供給像素信號Vpix之像素信號線SGL、驅動各TFT元件Tr之掃描線GCL等布線。如此，像素信號線SGL係沿與TFT基板21之表面平行之平面延伸，對像素供給用以顯示圖像之像素信號Vpix。圖15所示之液晶顯示器件20包含呈矩陣狀排列之複數個副像素SPix。副像素SPix包括TFT元件Tr及液晶元件LC。TFT元件Tr係由薄膜電晶體構成者，於該例中，由n通道之MOS(Metal Oxide Semiconductor，金氧半導體)型之TFT構成。TFT元件Tr之源極連接於像素信號線SGL，閘極連接於掃描線GCL，汲極連接於液晶元件LC之一端。液晶元件LC之一端連接於TFT元件Tr之汲極，另一端連接於驅動電極COML。
圖14所示之第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B及閘極驅動器100D係經由圖15所示之掃描線GCL將垂直掃描脈衝施加至副像素SPix之TFT元件Tr之閘極，藉此，依序選擇呈矩陣狀形成於顯示區域Ad之副像素SPix中之1列(1水平線)作為驅動之對象。源極驅動器13係經由像素信號線SGL將像素信號Vpix分別供給至包含藉由第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B及閘極驅動器100D依序選擇之1水平線 之各副像素SPix。然後，於該等副像素SPix，根據所供給之像素信號，進行1水平線之顯示。驅動電極驅動器14係施加顯示用之驅動信號(顯示用驅動電壓VcomDC)，對驅動電極COML進行驅動。
如上所述，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係藉由第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B及閘極驅動器100D以依序對掃描線GCLm+1、GCLm+2、GCLm+3掃描之方式進行驅動，而依序選擇1水平線。又，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係藉由源極驅動器13對屬於1水平線之像素Pix供給像素信號，而於每1水平線進行顯示。進行該顯示動作時，驅動電極驅動器14係對與上述1水平線對應之驅動電極COML施加驅動信號Vcom。
圖13所示之濾色器32係週期性地排列著色為例如紅(R)、綠(G)、藍(B)之3色之濾色器之色區域，將R、G、B之3色之色區域32R、32G、32B(參照圖15)設為1組作為像素Pix而與上述圖15所示之各副像素SPix建立對應。濾色器32係於與TFT基板21垂直之方向上，與液晶層6對向。再者，濾色器32只要著色為不同色，則亦可為其他顏色之組合。
圖15所示之副像素SPix係藉由掃描線GCL，而與液晶顯示器件20之屬於同一列之其他副像素SPix相互連接。掃描線GCL係與閘極驅動器12及100D連接，自閘極驅動器12及100D被供給掃描信號Vscan。又，副像素SPix係藉由像素信號線SGL，而與液晶顯示器件20之屬於同一行之其他副像素SPix相互連接。像素信號線SGL係與源極驅動器13連接，自源極驅動器13被供給像素信號Vpix。
圖16係就安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組中源極驅動器與像素信號線之關係進行說明的模式圖。如圖16所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1之像素信號線SGL，經由源極選擇器部13S而連接於內置於上述COG19之源極驅動器13。源極選擇器 部13S係根據開關控制信號Vsel進行開閉動作。
如圖16所示，源極驅動器13係根據自控制部11供給之圖像信號Vsig及源極驅動器控制信號，產生並輸出像素信號Vpix。源極驅動器13係根據1水平線大小之圖像信號Vsig，產生將附有觸控檢測功能之顯示器件10之液晶顯示器件20之複數個(於該例中為3個)副像素SPix之像素信號Vpix分時多工所得的像素信號，並供給至源極選擇器部13S。又，源極驅動器13係產生將經多工化成圖像信號Vsig之像素信號Vpix分離所需之開關控制信號Vsel(VselR、VselG、VselB)，並與圖像信號Vsig一同供給至源極選擇器部13S。再者，藉由該多工化，源極驅動器13與源極選擇器部13S之間之布線數變少。
源極選擇器部13S係根據自源極驅動器13供給之圖像信號Vsig及開關控制信號Vsel，將經分時多工成圖像信號Vsig之像素信號Vpix分離，並供給至附有觸控檢測功能之顯示器件10之液晶顯示器件20。
源極選擇器部13S例如包括3個開關SWR、SWG、SWB，3個開關SWR、SWG、SWB之各一端相互連接，且自源極驅動器13被供給圖像信號Vsig。3個開關SWR、SWG、SWB之各另一端，係經由附有觸控檢測功能之顯示器件10之液晶顯示器件20之像素信號線SGL，而分別連接於副像素SPix。3個開關SWR、SWG、SWB係根據自源極驅動器13供給之開關控制信號Vsel(VselR、VselG、VselB)，分別進行開閉控制。藉由該構成，源極選擇器部13S可根據開關控制信號Vsel，分時地依序切換開關SWR、SWG、SWB而將其等設為接通(ON)狀態。藉此，源極選擇器部13S係自經多工化之圖像信號Vsig分離像素信號Vpix(VpixR、VpixG、VpixB)。而且，源極選擇器部13S係將像素信號Vpix分別供給至3個副像素SPix。上述著色為紅(R)、綠(G)、藍(B)之3色之色區域32R、32G、32B，分別與副像素SPix建立對應。因此，對與色區域32R對應之副像素SPix供給像素信號VpixR。對與色 區域32G對應之副像素SPix供給像素信號VpixG。對與色區域32B對應之副像素SPix供給像素信號VpixB。
副像素SPix係藉由驅動電極COML而與液晶顯示器件20之屬於同一列之其他副像素SPix相互連接。驅動電極COML係與驅動電極驅動器14連接，自驅動電極驅動器14被供給顯示用驅動電壓VcomDC。 即，於該例中，屬於同一列之複數個副像素SPix共有驅動電極COML。
圖1所示之閘極驅動器12及100D係經由圖15所示之掃描線GCL將掃描信號Vscan施加至副像素SPix之TFT元件Tr之閘極，藉此，依序選擇呈矩陣狀形成於液晶顯示器件20之副像素SPix中之1列(1水平線)作為驅動之對象。圖1所示之源極驅動器13係經由圖15所示之像素信號線SGL將像素信號Vpix分別供給至構成藉由閘極驅動器12依序選擇之1水平線之各副像素SPix。然後，於該等副像素SPix，根據所供給之像素信號Vpix，進行1水平線之顯示。圖1所示之驅動電極驅動器14係將驅動信號Vcom施加至驅動電極COML，對圖7及圖15所示之包括特定根數之驅動電極COML之驅動電極區塊B中之每一個對驅動電極COML進行驅動。
如上所述，液晶顯示器件20係藉由閘極驅動器12及100D以分時地依序對掃描線GCL掃描之方式進行驅動，而依序選擇1水平線。又，液晶顯示器件20係藉由源極驅動器13對屬於1水平線之副像素SPix供給像素信號Vpix，而於每1水平線進行顯示。進行該顯示動作時，驅動電極驅動器14係對包含與上述1水平線對應之驅動電極COML之驅動電極區塊施加顯示用驅動電壓VcomDC。
本實施形態之驅動電極COML係作為液晶顯示器件20之驅動電極發揮功能，並且亦作為觸控檢測器件30之驅動電極發揮功能。圖17係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示器件之驅動電極及觸控檢 測電極之一構成例的立體圖。圖17所示之驅動電極COML係如圖13所示，於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與像素電極22對向。觸控檢測器件30包括設置於像素基板2之驅動電極COML、及設置於對向基板3之觸控檢測電極TDL。觸控檢測電極TDL包括沿與驅動電極COML之電極圖案之延伸方向交叉之方向延伸之條狀之電極圖案。而且，觸控檢測電極TDL係於相對於TFT基板21之表面之垂直方向上，與驅動電極COML對向。觸控檢測電極TDL之各電極圖案係與觸控檢測部40之觸控檢測信號放大部42及觸控檢測控制部100之輸入分別連接。藉由驅動電極COML與觸控檢測電極TDL而相互交叉之電極圖案係於其交叉部分產生靜電電容。再者，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)並不限於呈條狀分割成複數個之形狀。例如，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)亦可為梳齒形狀。或者，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)只要分割成複數個即可，分割驅動電極COML之狹縫之形狀可為直線，亦可為曲線。
藉由該構成，利用觸控檢測器件30進行觸控檢測動作時，驅動電極驅動器14以分時地對圖7所示之驅動電極區塊B線序掃描之方式進行驅動。藉此，於掃描方向Scan驅動電極COML之驅動電極區塊B(1檢測區塊)依序被選擇。然後，觸控檢測器件30係自觸控檢測電極TDL輸出觸控檢測信號Vdet。如此，觸控檢測器件30進行1檢測區塊之觸控檢測。
圖18、圖19及圖20係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測之動作例的模式圖。於圖18~圖20中，表示觸控檢測面包括10個局部檢測區域RT1~RT10之情形時的對於各局部檢測區域RT1~RT10之驅動信號VcomAC之供給動作。局部檢測區域RT例如設定為與操作之使用者之手指之大小對應之寬度(例如5mm左右)。驅動 電極驅動器14係針對每一局部檢測區域RT對驅動電極COML施加驅動信號VcomAC。斜線部表示被供給驅動信號VcomAC之局部檢測區域RT，對其他局部檢測區域RT供給顯示用驅動電壓VcomDC。圖1所示之驅動電極驅動器14係選擇圖18所示之成為觸控檢測動作之對象之局部檢測區域RT中之局部檢測區域RT3，並施加觸控用驅動信號VcomAC。繼而，驅動電極驅動器14係選擇圖19所示之局部檢測區域RT中之局部檢測區域RT4，並施加觸控用驅動信號VcomAC。繼而，驅動電極驅動器14係選擇圖20所示之局部檢測區域RT中之局部檢測區域RT5，並施加觸控用驅動信號VcomAC。如此，驅動電極驅動器14係依序選擇局部檢測區域RT，對屬於該局部檢測區域RT之驅動電極COML施加觸控用驅動信號VcomAC，藉此，遍及所有局部檢測區域RT進行掃描。再者，於該例中，為便於說明，將局部檢測區域RT之個數設為10個，但並不限定於此。又，1個局部檢測區域RT亦可包含1個驅動電極區塊B，1個局部檢測區域RT亦可包含複數個驅動電極區塊B。
觸控檢測器件30中屬於圖18至圖20所示之局部檢測區域RT之驅動電極區塊B與上述靜電電容型觸控檢測之基本原理中之驅動電極E1對應。觸控檢測器件30中1個觸控檢測電極TDL與觸控檢測電極E2對應。觸控檢測器件30係依據上述基本原理檢測觸控。而且，如圖17所示，相互立體交叉之電極圖案係將靜電電容式觸控感測器構成為矩陣狀。由此，遍及觸控檢測器件30之觸控檢測面全體進行掃描，藉此，亦能夠檢測產生外部接近物體之接觸或接近之位置。
(驅動信號產生部及驅動電極驅動器)
圖21係表示實施形態1之驅動電極驅動器之驅動信號產生部的方塊圖。驅動信號產生部14Q包括高位準電壓產生部61、低位準電壓產生部62、緩衝器63、64、66、及切換電路65。
高位準電壓產生部61產生觸控用驅動信號VcomAC之高位準電壓。低位準電壓產生部62產生顯示用驅動電壓VcomDC之直流電壓。該低位準電壓產生部62產生之電壓亦用作觸控用驅動信號VcomAC之低位準電壓。緩衝器63係對自高位準電壓產生部61供給之電壓一面進行阻抗轉換一面輸出，並供給至切換電路65。緩衝器64係對自低位準電壓產生部62供給之電壓一面進行阻抗轉換一面輸出，並供給至切換電路65。切換電路65係根據驅動控制信號EXVCOM，交替地重複驅動控制信號EXVCOM為高位準之情形與驅動控制信號EXVCOM為低位準之情形，產生觸控用驅動信號VcomAC。切換電路65係於驅動控制信號EXVCOM為高位準之情形時，輸出自緩衝器63供給之電壓，於驅動控制信號EXVCOM為低位準之情形時，輸出自緩衝器64供給之電壓。切換電路65係根據驅動控制信號EXVCOM，於驅動控制信號EXVCOM為低位準之情形時，將自緩衝器64供給之電壓作為顯示用驅動電壓VcomDC之直流電壓而輸出。緩衝器63、64包括例如電壓隨動器。再者，切換電路65輸出之電壓被輸出至輸出端子65E。緩衝器66係對自低位準電壓產生部62供給之電壓一面進行阻抗轉換一面輸出，將顯示用驅動電壓VcomDC之直流電壓供給至輸出端子66E。
圖22係表示實施形態1之驅動電極驅動器之方塊圖。驅動電極掃描部14A、14B包括掃描控制部51、觸控檢測掃描部52、及驅動部530。驅動部530包括與驅動電極區塊B相同數量之驅動部53(k)~53(k+3)。掃描控制部51安裝於COG19。又，觸控檢測掃描部52與驅動部530係配置於位於顯示區域Ad之周圍之邊框Gd。以下，於指複數個驅動部53(k)~53(k+3)中之任意1個之情形時，簡單地使用驅動部53。
掃描控制部51係根據自控制部11供給之控制信號，對觸控檢測掃描部52供給控制信號SDCK、掃描開始信號SDST。又，對顯示用布線LDC供給自上述驅動信號產生部14Q經由輸出端子66E輸出之顯示用 驅動電壓VcomDC。觸控用布線LAC被供給自上述驅動信號產生部14Q經由輸出端子65E輸出之觸控用驅動信號VcomAC。掃描控制部51係對驅動部530供給自驅動信號產生部14Q被供給觸控用驅動信號VcomAC之驅動電極選擇信號VCOMSEL。
觸控檢測掃描部52係包含驅動電極用移位暫存器52SR而構成，係產生用以選擇施加觸控用驅動信號VcomAC之驅動電極COML之掃描信號ST(k)、ST(k+1)、ST(k+2)、ST(k+3)…者。具體而言，觸控檢測掃描部52使自掃描控制部51供給之掃描開始信號SDST作為觸發點而與控制信號SDCK同步地，依序於移位暫存器52SR之每一轉送段被轉送，而依序選擇移位暫存器52SR。所選擇之移位暫存器52SR係將掃描信號ST(k)、ST(k+1)、ST(k+2)、ST(k+3)‧‧‧向驅動部530之各邏輯與電路54送出。觸控檢測掃描部52中所選擇之移位暫存器52SR將例如高位準之信號作為第k+2個掃描信號ST(k+2)供給至第k+2個驅動部53(k+2)之情形時，該驅動部53(k+2)係對屬於第k+2個驅動電極區塊B(k+2)之複數個驅動電極COML施加驅動信號VcomAC。以下，於指掃描信號ST(k)、ST(k+1)、ST(k+2)、ST(k+3)‧‧‧中任意1個之情形時，有時使用掃描信號ST。
驅動部530係根據自觸控檢測掃描部52供給之掃描信號ST、及自掃描控制部51供給之驅動電極選擇信號VCOMSEL，將自驅動信號產生部14Q供給之顯示用驅動電壓VcomDC或觸控用驅動信號VcomAC施加至驅動電極COML的電路。驅動部53係對應於觸控檢測掃描部52之輸出信號逐個地設置，對相對應之驅動電極區塊B施加驅動信號Vcom。
驅動部53包括邏輯與電路54且針對每一驅動電極區塊B包括1個選擇開關SW1(SW2、SW3、SW4)。邏輯與電路54係產生並輸出自觸控檢測掃描部52供給之掃描信號ST、及自掃描控制部51供給之驅動 電極選擇信號VCOMSEL之邏輯與(AND)。邏輯與電路54具有放大至能夠控制選擇開關SW1(SW2、SW3、SW4)之動作之振幅位準的緩衝器功能。選擇開關SW1係根據自邏輯與電路54供給之信號控制動作。 選擇開關SW1之一端係連接於驅動電極區塊B所包含之複數個驅動電極COML，選擇開關SW1之另一端係與顯示用布線LDC及觸控用布線LAC中之一者連接。
藉由該構成，驅動部53係於掃描信號ST為高位準且驅動電極選擇信號VCOMSEL為高位準之情形時，將觸控用驅動信號VcomAC作為驅動信號Vcom而輸出。驅動部53係於掃描信號ST為低位準或驅動電極選擇信號VCOMSEL為低位準之情形時，將驅動電極區塊B自觸控用布線LAC切斷，而與顯示用布線LDC連接。此處，選擇為觸控用驅動信號VcomAC之輸出目標之驅動電極區塊B係選擇驅動電極區塊STX。未選擇為觸控用驅動信號VcomAC之輸出目標之驅動電極區塊B係非選擇驅動電極區塊NTX。例如，圖22所示之驅動部53(k+2)對屬於第k+2個驅動電極區塊B(k+2)之複數個驅動電極COML施加驅動信號VcomAC，因此，選擇驅動電極區塊STX係驅動電極區塊B(k+2)。而且，未選擇為驅動信號VcomAC之輸出目標之驅動電極區塊B(k)、B(k+1)、B(k+3)係非選擇驅動電極區塊NTX。
又，於液晶顯示器件20進行顯示動作之情形時，驅動部53係掃描信號ST為低位準，且對每一驅動電極區塊B將1個選擇開關SW1(SW2、SW3、SW4)全部連接於顯示用布線LDC，將顯示用驅動電壓VcomDC作為驅動信號Vcom而輸出。
圖23係表示實施形態1之驅動電極驅動器之驅動部的方塊圖。圖24係表示實施形態1之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例的方塊圖。圖23及圖24說明第1閘極驅動器12A之構成，但第2閘極驅動器12B及閘極驅動器100D之構成亦相同。又，以下之說明係以選擇開關 SW1為代表進行說明，但選擇開關SW2、SW3、SW4亦相同。第1閘極驅動器12A包含閘極移位暫存器120SR。閘極移位暫存器120SR係響應垂直起始脈衝VST開始動作，與垂直時鐘VCK同步地，依序於垂直掃描方向被選擇，經由緩衝器電路將垂直選擇脈衝輸出至掃描線GCL。
選擇開關SW1包括針對每一驅動電極COML配備有複數個之開關COMSW。開關COMSW係根據開關控制信號Ssw、Sxsw，針對每一驅動電極COML全部進行動作。開關COMSW係藉由針對每一驅動電極COML全部進行動作，而分時地選擇觸控用布線LAC與驅動電極COML之連接及顯示用布線LDC與驅動電極COML之連接之任一者。
開關COMSW中例如CMOS開關CMOS1與CMOS開關CMOS2設為1個電路單位之情形時，對每一驅動電極COML設置有複數個該電路單位。CMOS開關CMOS1與CMOS開關CMOS2包括包含N通道之閘極之電晶體NMOS、及包含P通道之閘極之電晶體PMOS。
CMOS開關CMOS1之開關信號線GSW連接於電晶體NMOS、電晶體PMOS之閘極。CMOS開關CMOS2之開關信號線GxSW連接於電晶體NMOS、電晶體PMOS之閘極。供給至開關信號線GSW之開關控制信號Ssw與供給至開關信號線GxSW之開關控制信號Sxsw係電位之高位準與低位準相互反轉所得之信號。因此，CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2可同步地對觸控用布線LAC與驅動電極COML之連接及顯示用布線LDC與驅動電極COML之連接之任一者做出相同之選擇。如此，選擇開關SW1係針對每一驅動電極COML包括複數個開關COMSW，開關COMSW並聯連接於觸控用布線LAC與驅動電極COML之間。複數個開關COMSW係根據作為選擇信號之開關控制信號Ssw、Sxsw，針對每一驅動電極COML全部進行動作，將觸控用布線LAC與驅動電極COML連接，施加觸控用驅動信號VcomAC。
邏輯與電路54包括反相器541、切換電路542、緩衝器543、及反相器544。反相器541係於掃描信號ST為高位準之情形時將驅動電極用移位暫存器52SR中所選擇之轉送段之輸出信號之反轉邏輯向切換電路542輸出。切換電路542係根據驅動電極選擇信號VCOMSEL，自反相器541之輸入及輸出切換，將開關控制信號Ssw輸出至緩衝器543。緩衝器543係將開關控制信號Ssw放大，並供給至開關信號線GSW。反相器544係產生緩衝器543輸出之開關控制信號Ssw之反轉邏輯，作為開關控制信號Sxsw輸出，並供給至開關信號線GxSW。
CMOS開關CMOS1、CMOS2係利用連接導體Q3而與觸控用布線LAC連接。又，CMOS開關CMOS1、CMOS2係利用連接導體Q2而與顯示用布線LDC連接。CMOS開關CMOS1、CMOS2係利用連接導體Q1而與驅動電極COML連接。CMOS開關CMOS1、CMOS2可藉由對電晶體NMOS、電晶體PMOS之閘極輸入開關控制信號Ssw、Sxsw，而選擇連接導體Q1與連接導體Q2之連接及連接導體Q3與連接導體Q1之連接中之任一種連接。
如圖24所示，掃描線GCL係與開關信號線GSW、GxSW布線於同層。掃描線GCL係與開關信號線GSW、GxSW相同之電晶體之閘極線，藉由於同一步驟中形成，而可縮短製造步驟。掃描線GCL係介隔絕緣層而與觸控用布線LAC、顯示用布線LDC立體交叉。而且，選擇開關SW1係配置於位於與觸控用布線LAC(顯示用布線LDC)立體交叉之掃描線GCL之間(例如掃描線GCLm+1與掃描線GCLm+2之間)的區域。與觸控用布線LAC(顯示用布線LDC)立體交叉之掃描線GCL彼此之間隔係與顯示區域Ad中之相鄰之掃描線GCL彼此之間隔相同。
(自靜電電容型觸控檢測之基本原理)
觸控檢測控制部100於休眠模式下，基於自靜電電容型觸控檢測之基本原理進行動作，檢測有無觸控。參照圖25~圖31，對本實施形 態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1中之自靜電電容型觸控檢測之基本原理進行說明。圖25及圖26係用以說明自靜電電容型觸控檢測之基本原理的表示手指未接觸或接近之狀態之說明圖。圖27及圖28係用以說明自靜電電容型觸控檢測之基本原理的表示手指接觸或接近之狀態之說明圖。圖29係表示檢測電路之說明圖。圖30係表示圖29之檢測電路之等效電路之說明圖。圖31係表示圖29之檢測電路之波形之一例之圖。
首先，如圖25所示，觸控檢測電極TDL係藉由開關201而與電源電壓Vcc連接。觸控檢測電極TDL包含靜電電容C3，電荷自電源電位Vcc沿箭頭203之方向朝觸控檢測電極TDL流動，觸控檢測電極TDL被充入與靜電電容C3對應之電荷。
其次，如圖26所示，觸控檢測電極TDL係藉由開關201而與檢測電路202連接，已充入至觸控檢測電極TDL之電荷係沿箭頭204之方向朝檢測電路202流動。檢測電路202可藉由計測自觸控檢測電極TDL流入之電荷，而檢測觸控檢測電極TDL之靜電電容C3。
其次，對手指與觸控檢測電極TDL接觸或接近之情形進行說明。如圖27所示，手指與觸控檢測電極TDL接觸或接近之情形時，手指之靜電電容C2添加至觸控檢測電極TDL之靜電電容C3。因此，若觸控檢測電極TDL藉由開關201與電源電壓Vcc連接，則電荷自電源電位Vcc沿箭頭203之方向朝觸控檢測電極TDL流動，觸控檢測電極TDL及手指被充入與靜電電容C3及C2對應之電荷。
繼而，如圖28所示，觸控檢測電極TDL係藉由開關201而與檢測電路202連接，已充入至觸控檢測電極TDL及手指之電荷係沿箭頭204之方向朝檢測電路202流動。檢測電路202可藉由計測自觸控檢測電極TDL及手指流入之電荷，而檢測觸控檢測電極TDL與手指之靜電電容。
圖29係表示檢測電路之說明圖。以下，參照圖29，對觸控檢測電極TDL之靜電電容Cx之計測順序進行說明。
步驟1：首先，將開關207接通，將開關206及208斷開，將電阻Rc與電容器Cc之串聯電路連接於電源電壓Vcc與接地電位之間，對電容器Cc充入電荷。
步驟2：其次，將開關206~208全部切換成斷開。維持電容器Cc之電荷。
步驟3：繼而，於一定時間內接通開關206及208，將電容器Cx與電容器Cr之連接點及電容器Cr與電阻Rc之連接點接地。一面將電容器Cx及Cr之電荷全部放電，一面經由電阻Rc將電容器Cc之電荷之一部分放電。
步驟4：繼而，將開關206~208全部切換為斷開。電容器Cc之電荷移動至電容器Cx及Cr。
步驟5：利用比較器205，將電容器Cx之端子間電壓Vx與基準電壓Vref進行比較。如圖30所示，此時之電容器Cc之端子間電壓Vc係電容器Cr之端子間電壓Vr與電容器Cx之端子間電壓Vx之和。
電壓Vc、Vr、Vx及電容Cc、Cr、Cx之關係可如下式般表示。
Vc=Vr+Vx…(1)
Vr：Vx=1/Cr：1/Cx…(2)
Vx=Cr/(Cr+Cx)×Vc…(3)
上述步驟3~5係重複實施直至成為Vx<Vref為止。如上述式(3)所示，若手指與觸控檢測電極TDL接觸或接近而電容Cx變大，則直至滿足條件Vx<Vref為止之放電循環數(重複次數)變少。手指之觸控、非觸控可利用放電循環數而判定。
於圖31中，期間t20係手指未與觸控檢測電極TDL接觸或接近之期間，期間t21係手指與觸控檢測電極TDL接觸或接近之期間。又， 於圖31中，條形圖表示電壓Vx，線圖表示電壓Vc。
隨著重複上述步驟3~5，電壓Vc逐漸下降。電壓Vx係以上述式(3)表示。
若手指與觸控檢測電極TDL接觸或接近而電容Cx增加，則直至成為Vx<Vref為止之放電循環數(重複次數)變少。
於手指未與觸控檢測電極TDL接觸或接近之情形時，自計測開始時t31起直至成為Vx<Vref之t32為止之期間t41之放電循環數(重複次數)係8次。另一方面，於手指與觸控檢測電極TDL接觸或接近之情形時，自計測開始時t33起直至成為Vx<Vref之t34為止之期間t42之放電循環數(重複次數)係6次。
如此，檢測電路202可藉由計測直至成為Vx<Vref為止之放電循環數(重複次數)，而判定手指是否與觸控檢測電極TDL接觸或接近。
此處，TFT基板21係與本揭示中之「基板」之一具體例對應。像素電極22係與本揭示中之「像素電極」之一具體例對應。像素信號線SGL係與本揭示中之「像素信號線」之一具體例對應。驅動電極COML係與本揭示中之「驅動電極」之一具體例對應。液晶元件LC係與本揭示中之「顯示功能層」之一具體例對應。閘極驅動器12及100D、源極驅動器13及驅動電極驅動器14係與本揭示中之「控制裝置」之一具體例對應。觸控檢測電極TDL係與本揭示中之「觸控檢測電極」對應。觸控檢測控制部100係與本揭示中之「觸控檢測控制部」之一具體例對應。
[動作及作用]
接著，對實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之動作及作用進行說明。於以下之說明中，將作為顯示用之驅動信號之驅動信號Vcom記載為顯示用驅動電壓VcomDC，將作為觸控檢測用之驅動信號之驅動信號Vcom記載為觸控用驅動信號VcomAC。
(全體動作概要)
首先，參照圖1，對附有觸控檢測功能之顯示裝置1之全體動作概要進行說明。控制部11係根據自應用處理器(主機CPU)供給之影像信號Vdisp，對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40分別供給控制信號，以該等相互同步地動作之方式進行控制。又，控制部11之記憶體11a係將自應用處理器供給之影像信號Vdisp與同樣自應用處理器供給之垂直同步信號Vsync及水平同步信號Hsync同步地寫入，並且將該寫入之資料與附有觸控檢測功能之顯示裝置1之內部時鐘同步地以較寫入更快之速度讀出。
閘極驅動器12係對液晶顯示器件20供給掃描信號Vscan，依序選擇成為顯示驅動之對象之1水平線。源極驅動器13係產生像素信號Vpix被多工化所得之圖像信號Vsig和與之對應之開關控制信號Vsel，並供給至源極選擇器部13S。源極選擇器部13S係根據圖像信號Vsig及開關控制信號Vsel分離地產生像素信號Vpix，並將該像素信號Vpix供給至構成1水平線之各像素Pix。驅動電極驅動器14係於顯示期間Pd，對所有驅動電極COML施加顯示用驅動電壓VcomDC。又，驅動電極驅動器14係於觸控檢測期間Pt，對屬於成為觸控檢測動作之對象之局部檢測區域RT之驅動電極COML施加觸控檢測用驅動信號VcomAC，並且對其他驅動電極COML施加顯示用驅動電壓VcomDC。附有觸控檢測功能之顯示器件10係於顯示期間Pd進行顯示動作，並且於觸控檢測期間Pt進行觸控檢測動作，自觸控檢測電極TDL輸出觸控檢測信號Vdet。
觸控檢測部40係根據觸控檢測信號Vdet，檢測觸控檢測面中之觸控。具體而言，觸控檢測信號放大部42係去除包含於觸控檢測信號Vdet之高頻成分(雜訊成分)，擷取並輸出觸控成分。A/D轉換部43將自觸控檢測信號放大部42輸出之類比信號轉換為數位信號。信號處理 部44係根據A/D轉換部43之輸出信號，檢測觸控檢測面中之觸控之有無。座標抽取部45係於在信號處理部44進行觸控檢測時，求出其觸控面板座標。檢測時序控制部46係以觸控檢測信號放大部42、A/D轉換部43、信號處理部44、座標抽取部45同步地動作之方式進行控制。
(詳細動作)
其次，參照若干個圖，對附有觸控檢測功能之顯示裝置1之動作詳細進行說明。
圖32係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之1圖框期間(1F)內之動作的圖。於該圖32中，橫軸表示時間，縱軸表示顯示畫面之垂直方向上之位置。再者，於該圖32中，省略垂直遮沒期間。
圖33係附有觸控檢測功能之顯示裝置之動作之時序圖，(A)表示垂直同步信號Vsync之波形，(B)表示水平同步信號Hsync之波形，(C)表示顯示藉由記憶體寫入WM而寫入之影像資訊之局部顯示區域RD，(D)表示成為顯示驅動DD之對象之局部顯示區域RD，(E)表示成為觸控檢測驅動DT之對象之局部檢測區域RT。
於該例中，於1圖框期間(1F)，10個觸控檢測期間Pt與10個顯示期間Pd交替地配置。而且，於附有觸控檢測功能之顯示面板10中，於觸控檢測期間Pt進行觸控檢測驅動DT，並且於顯示期間Pd進行顯示驅動DD。
記憶體11a係根據自應用處理器供給之影像信號Vdisp、垂直同步信號Vsync及水平同步信號Hsync，於每1水平線依序寫入1圖框大小之影像資訊中之1/10之資料(記憶體寫入WM)。然後，記憶體11a係一面覆寫之前之1/10之資料，一面於每1水平線依序寫入接下來之1/10之資料。又，記憶體11a係於將所寫入之資料藉由覆寫該資料而抹除之前，以較其寫入更快之速度於每1水平線依序讀出。然後，閘極驅動器12及源極驅動器13根據其所讀出之資料，藉由線序掃描而驅動液晶 顯示器件20之局部顯示區域RD(顯示驅動DD)。
於附有觸控檢測功能之顯示裝置中，如此般，記憶體11a將所寫入之資料以較其寫入更快之速度於每1水平線依序讀出，並根據該讀出資料進行顯示驅動DD。即，進行該顯示驅動DD之顯示期間Pd之時間寬度短於記憶體11a寫入1圖框大小之影像資訊中之1/10之資料之時間。於附有觸控檢測功能之顯示裝置中，利用藉由如此般縮短顯示期間Pd而確保之時間(觸控檢測期間Pt)，對每一局部檢測區域RT進行觸控檢測驅動DT。
關於觸控檢測驅動DT，如圖32所示，於該例中，於每一觸控檢測期間Pt，依序選擇2個局部檢測區域RT作為驅動對象。即，於該例中，觸控檢測面中之觸控檢測掃描係以顯示掃描之2倍之掃描速度進行。即，附有觸控檢測功能之顯示裝置可於進行1次顯示掃描之期間，進行2次觸控檢測掃描。如此，於附有觸控檢測功能之顯示裝置中，藉由頻繁地進行觸控檢測掃描，可立即響應外部接近物體之觸控，從而可改善對於觸控之響應特性。
(通常動作模式下之動作)
其次，對附有觸控檢測功能之顯示裝置1之通常動作模式下之動作、即顯示期間Pd內之顯示動作及觸控檢測期間Pt內之觸控檢測動作進行說明。
圖34係附有觸控檢測功能之顯示裝置之顯示動作之時序圖，(A)表示掃描信號Vscan之波形，(B)表示圖像信號Vsig之波形，(C)表示開關控制信號Vsel之波形，(D)表示像素信號Vpix之波形，(E)表示驅動信號Vcom之波形。
於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，於顯示期間Pd，驅動電極驅動器14對所有驅動電極COML施加顯示用驅動電壓VcomDC(圖34(E))，閘極驅動器12於每1水平期間(1H)對掃描線GCL依序施加掃描 信號Vscan，藉此，進行顯示掃描。以下，對其詳細情況進行說明。
1水平期間(1H)於時序t1開始之後，閘極驅動器12係於時序t2，對與顯示動作相關之第n列掃描線GCL(n)施加掃描信號Vscan，而掃描信號Vscan(n)自低位準變化為高位準(圖34(A))。藉此，閘極驅動器12選擇成為顯示動作之對象之1水平線。
繼而，源極驅動器13將用於紅色之子像素SPix之像素電壓VR以圖像信號Vsig之形式供給至源極選擇器部13S(圖34(B))，並且於供給上述像素電壓VR之期間產生成為高位準之開關控制信號VselR(圖34(C))。繼而，源極選擇器部13S係於該開關控制信號VselR成為高位準之期間將開關SWR設為接通狀態，藉此，將自源極驅動器13供給之像素電壓VR自圖像信號Vsig分離，並以像素信號VpixR之形式，經由像素信號線SGL而供給至紅色之子像素SPix(圖34(D))。再者，開關SWR成為斷開狀態之後，該像素信號線SGL成為浮動狀態，因此，該像素信號線SGL之電壓被保持(圖34(D))。
同樣地，源極驅動器13係將用於綠色之子像素SPix之像素電壓VG與對應之開關控制信號VselG一同供給至源極選擇器部13S(圖34(B)、(C))，源極選擇器部13S係根據開關控制信號VselG，將該像素電壓VG自圖像信號Vsig分離，並以像素信號VpixG之形式，經由像素信號線SGL而供給至綠色之子像素SPix(圖34(D))。
其後，同樣地，源極驅動器13係將用於藍色之子像素SPix之像素電壓VB與對應之開關控制信號VselB一同供給至源極選擇器部13S(圖34(B)、(C))，源極選擇器部13S係根據開關控制信號VselB，將該像素電壓VB自圖像信號Vsig分離，並以像素信號VpixB之形式，經由像素信號線SGL而供給至藍色之子像素SPix(圖34(D))。
繼而，閘極驅動器12係於時序t3，使第n列掃描信號線GCL之掃描信號Vscan(n)自高位準變化成低位準(圖34(A))。藉此，與顯示動作 相關之1水平線之子像素SPix自像素信號線SGL被電性地切斷。
然後，於時序t4結束1水平期間(1H)，並且開始新的1水平期間(1H)，進行下一列(第n+1列)顯示驅動。
自此之後，重複進行上述動作，藉此，於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，於各顯示期間Pd，藉由線序掃描，進行局部顯示區域RD中之顯示動作。
圖35係附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測動作之時序圖，(A)表示驅動信號Vcom之波形，(B)表示觸控檢測信號Vdet之波形。
驅動電極驅動器14係於觸控檢測期間Pt，對2個局部檢測區域RTk、RTk+1依序供給觸控用驅動信號VcomAC(圖35(A))。該觸控用驅動信號VcomAC係經由靜電電容傳送至觸控檢測電極TDL，而觸控檢測信號Vdet發生變化(圖35(B))。A/D轉換部43係於與觸控用驅動信號VcomAC同步之取樣時序ts，對已被輸入觸控檢測信號Vdet之觸控檢測信號放大部42之輸出信號進行A/D轉換(圖35(B))。
藉此，於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，於各觸控檢測期間Pt，進行局部檢測區域RTk、RTk+1中之觸控檢測動作。
(關於記憶體寫入WM及顯示驅動DD之時序)
其次，對記憶體寫入WM與顯示驅動DD之時序進行說明。
圖36係附有觸控檢測功能之顯示裝置之記憶體寫入WM及記憶體讀出(顯示驅動DD)之時序圖。記憶體11a係於每1水平線依序寫入1圖框大小之影像資訊中之1/10之資料(記憶體寫入WM)。而且，記憶體11a係於將所寫入之資料藉由覆寫該資料而抹除之前，於每1水平線依序讀出。然後，根據該讀出之資料，進行顯示驅動DD。即，顯示驅動DD係與來自記憶體之資料之讀出(記憶體讀出)對應者。
於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，以於由記憶體11a寫入之資 料藉由覆寫而被抹除之前，能夠安全地讀出該資料的方式，設定記憶體寫入WM與記憶體讀出(顯示驅動DD)之時序。具體而言，例如，部分P1之最上方之列之資料係於時序tw1被寫入之後，於時序tw2藉由寫入下一資料而被抹除，因此，該資料之記憶體讀出(顯示驅動DD)之時序tr1必須設定於時序tw1與時序tw2之間。又，例如，部分P1之最下方之列之資料係於時序tw2被寫入之後，於時序tw3藉由寫入下一資料而被抹除，因此，該資料之記憶體讀出(顯示驅動DD)之時序tr2必須設定於時序tw2與時序tw3之間。
若考慮動作之時序餘裕，則例如，時序tr1較理想為設定於時序tw1與時序tw2之中間附近，同樣地，時序tr2較理想為設定於時序tw2與時序tw3之中間附近。
圖37係附有觸控檢測功能之顯示裝置之記憶體寫入WM及記憶體讀出(顯示驅動DD)之另一時序圖，(A)表示顯示驅動DD之時序較早之情形，(B)表示顯示驅動DD之時序較遲之情形。
如圖37(A)所示，於顯示驅動DD之時序較早之情形時，例如，部分P1之最下方之列之資料係在剛於時序tw2被寫入後之時序tr2被讀出，因此，時序餘裕變少。另一方面，如圖37(B)所示，於顯示驅動DD之時序較遲之情形時，例如，部分P2之最上方之列之資料係在即將於時序tw2寫入下一資料之前之時序tr1被讀出，因此，時序餘裕同樣變少。
由此，記憶體寫入WM及顯示驅動DD之時序較理想為如圖36所示，以時序tr1至時序tw2之時間與時序tw2至時序tr2之時間大致相等之方式設定。藉此，可增大時序餘裕。
(關於觸控檢測動作之誤動作之防止)
於靜電電容式之觸控面板中，存在如下可能性：因反相器螢光燈或AM(Amplitude Modulation，調幅)波、AC(Alternating Current， 交流)電源等而產生之雜訊(干擾雜訊)傳播至觸控面板，而引起誤動作。該誤動作係因無法區別與觸控之有無相關之信號(觸控信號)與干擾雜訊所致。於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，可使觸控用驅動信號VcomAC之頻率獨立於顯示驅動而變化，因此，可抑制如上所述之誤動作。以下，詳細地進行說明。
圖38(A)、(B)係觸控用驅動信號VcomAC之頻率較高之情形時之觸控檢測動作之時序圖，圖38(C)、(D)係觸控用驅動信號VcomAC之頻率較低之情形時之觸控檢測動作之時序圖。於圖38中，(A)、(C)表示驅動信號Vcom之波形，(B)、(D)表示觸控檢測信號Vdet之波形。
於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，如圖38(A)、(C)所示，使觸控用驅動信號VcomAC之頻率變化，並且亦使A/D轉換部43之取樣頻率變化。藉此，可減少因干擾雜訊而產生之觸控檢測動作之誤動作之擔憂。
即，於干擾雜訊之頻率為取樣頻率fs之整數倍附近之情形時，若上述干擾雜訊於A/D轉換部43進行A/D轉換，則上述干擾雜訊係作為所謂摺疊雜訊出現於頻率0之附近。藉此，該摺疊雜訊混合於頻率0之附近之觸控信號，因此，無法區別觸控信號與雜訊信號。於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，可使觸控用驅動信號VcomAC之頻率與A/D轉換部43之取樣頻率變化，因此，可選擇不受干擾雜訊之影響之條件而進行觸控檢測。
於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，記憶體11a將所寫入之1圖框大小之影像資訊中之1/10之資料以較其寫入更快之速度讀出，藉此，縮短顯示期間Pd，確保觸控檢測期間Pt。而且，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係有效地利用以此方式確保之觸控檢測期間Pt，使觸控用驅動信號VcomAC之頻率變化，藉此實現防止觸控檢測動作之誤動作。
(休眠模式下之動作)
其次，對附有觸控檢測功能之顯示裝置1之休眠模式下之動作進行說明。圖39係表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之休眠模式下之動作的流程圖。圖40係表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之時序波形例的說明圖。圖40所示之(A)表示掃描信號Vscan之波形。圖40所示之(B)表示像素信號Vpix之波形。圖40所示之(C)表示驅動信號Vcom之波形。
若開始圖39所示之處理，則首先，觸控檢測控制部100係作為步驟S101，而在檢測到手指等物體相對於觸控檢測電極TDL之接近或接觸之前待機。觸控檢測控制部100可利用之前所說明之自靜電電容方式檢測物體相對於觸控檢測電極TDL之接近或接觸。
觸控檢測控制部100係於檢測到物體對觸控檢測電極TDL之接近或接觸後，作為步驟S102，而將掃描附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動電極COML之掃描命令送至控制部100。接收到掃描命令之控制部100係作為步驟S103，而以低電壓(電源電壓Vcc)驅動開始附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動電極COML之掃描。即，控制部100係使源極驅動器13、驅動電極驅動器14及閘極驅動器100D以電源電壓Vcc動作，開始附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動電極COML之掃描。
再者，於步驟S103中，控制部100不使閘極驅動器12而使閘極驅動器100D動作，進行附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動電極COML之掃描的原因如下所述。閘極驅動器12係為了使液晶顯示器件20內之TFT元件Tr高速動作而高速地進行圖像顯示，而以利用升壓電路70產生之電源電壓Vdd進行動作的電路。休眠模式中，為降低消耗電力，升壓電路70較佳為停止動作。升壓電路70係於開始動作之後至輸出電源電壓Vdd之前具有數百ms左右之時滯。因此，若控制部100 使升壓電路70動作並且使閘極驅動器12動作而進行附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動電極COML之掃描，則產生數百ms左右之時滯。 因此，控制部100係使以經常供給之電源電壓Vcc動作之閘極驅動器100D進行動作，而進行附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動電極COML之掃描。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1可抑制休眠模式下之觸控檢測之時滯。
若參照圖40，則閘極驅動器100D係於時序t50，使掃描信號Vscan自低位準變化為高位準(圖40(A))。在此之前，源極驅動器13預先將像素信號Vpix設定為特定值、例如0V(圖40(B))。藉此，對像素Pix(副像素SPix)寫入0V。更詳細而言，將像素電極22設定為0V。其後，閘極驅動器100D係於時序t51，使掃描信號Vscan自高位準變化為低位準(圖40(A))。藉此，像素Pix(副像素SPix)之值確定為0V。更詳細而言，像素電極22之電位確定為0V。
其後，驅動電極驅動器14係於時序t52~t53，將觸控用驅動信號VcomAC作為驅動信號Vcom(B(k))施加至驅動電極COML，於時序t54~t55，將觸控用驅動信號VcomAC作為驅動信號Vcom(B(k+1))施加至驅動電極COML，於時序t56~t57，將觸控用驅動信號VcomAC作為驅動信號Vcom(B(k+2))施加至驅動電極COML。藉此，掃描驅動電極COML，觸控檢測控制部100可利用之前所說明之驅動電極COML與觸控檢測電極TDL之間之互靜電電容方式，檢測觸控之座標或手勢。
再者，於在時序t52~t57將觸控用驅動信號VcomAC作為驅動信號Vcom施加至驅動電極COML之前，預先於時序t50~t51對像素Pix(副像素SPix)寫入像素信號Vpix(此處為0V)的原因如下所述。由於休眠模式中不進行圖像顯示，故而像素Pix(副像素SPix)之值不定。更詳細而言，像素電極22之電位不定。若於該狀態下將觸控用驅動信號VcomAC作為驅動信號Vcom施加至驅動電極COML，則有可能對液 晶元件LC施加預料之外之電壓，而於附有觸控檢測功能之顯示器件10產生殘像。該殘像係暫時存在者，經過某程度之時間後便會消失，但在消失之前難以看到圖像或者給操作者帶來不適感。因此，於將觸控用驅動信號VcomAC作為驅動信號Vcom施加至驅動電極COML之前，預先對像素Pix(副像素SPix)寫入像素信號Vpix(此處為0V)，藉此，可使像素Pix(副像素SPix)之值穩定，使像素電極22之電位穩定，抑制對液晶元件LC施加預料之外之電壓，而可抑制上述殘像之產生。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1可抑制難以看到圖像或者給操作者帶來不適感之情況。
再者，預先對像素Pix(副像素SPix)寫入之像素信號Vpix並不限定於0V(低位準)，亦可為高位準(電源電壓Vcc)或高位準與低位準之中間。例如，於附有觸控檢測功能之顯示器件10為常白模式之顯示器件之情形時，若預先對像素Pix(副像素SPix)寫入高位準之像素信號Vpix，則附有觸控檢測功能之顯示器件10之顯示畫面變黑，而不易給操作者帶來不適感。又，例如，於附有觸控檢測功能之顯示器件10為常黑模式之顯示器件之情形時，若預先對像素Pix(副像素SPix)寫入低位準之像素信號Vpix，則附有觸控檢測功能之顯示器件10之顯示畫面變黑，而不易給操作者帶來不適感。
若再次參照圖39，則觸控檢測控制部100係作為步驟S104，檢測到特定之手勢(例如，於特定方向之特定長度之滑動等)時，使處理進入至步驟S105，未檢測到特定之手勢時，使處理進入至步驟S101。
觸控檢測控制部100係於步驟S104中檢測到特定之手勢時，作為步驟S105，而將命令送至應用處理器。接收到命令之應用處理器，係作為步驟S106，而將休眠解除命令送至附有觸控檢測功能之顯示裝置1。更詳細而言，應用處理器係將休眠解除命令送至附有觸控檢測功能之顯示裝置1之控制部11。接收到休眠解除命令之附有觸控檢測功 能之顯示裝置1，係作為步驟S107，而自休眠模式轉變為通常動作模式。此時，附有觸控檢測功能之顯示裝置1之控制部11，係使升壓電路70及背光源開始動作。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1可進行圖像顯示。
[效果]
如以上說明所述，實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1於休眠模式下，於將觸控用驅動信號VcomAC施加至驅動電極COML之前，預先對像素Pix(副像素SPix)寫入像素信號Vpix，藉此使像素Pix(副像素SPix)之值穩定，使像素電極22之電位穩定。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1可抑制對液晶元件LC施加預料之外之電壓，而可抑制殘像之產生。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1可抑制難以看到圖像或給操作者帶來不適感之情況。
又，附有觸控檢測功能之顯示裝置1於休眠模式下，使以電源電壓Vcc動作之閘極驅動器100D動作，而進行附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動電極COML之掃描。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1可使升壓電路70停止而降低消耗電力，且可抑制觸控檢測之時滯。
又，於實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示面板中，將對驅動電極COML供給顯示用驅動電壓VcomDC之顯示用布線LDC、及對驅動電極COML供給觸控用驅動信號VcomAC之觸控用布線LAC，牽引至邊框區域。例如，於使用FFS等橫向電場模式之液晶之液晶顯示器件中，將顯示用布線LDC配置成靠近與色區域32R、32G、32B對應之像素，有顯示功能層可更穩定地動作之傾向。因此，選擇開關SW1(SW2、SW3、SW4)係配置於觸控用布線LAC、顯示用布線LDC之間。選擇開關SW係於階層不同之通孔具備連接導體Q1、Q2及Q3。選擇開關SW1(SW2、SW3、SW4)係針對每一驅動電極COML而配置 複數個開關COMSW，且根據開關控制信號Ssw、Sxsw，針對每一驅動電極COML全部進行動作而將觸控用布線LAC與驅動電極COML連接，施加觸控用驅動信號VcomAC。藉此，藉由增加供電之連接導體Q1、Q2及Q3之數量，可降低選擇開關SW1之連接電阻。
觸控用布線LAC包含開關SW1之特定之連接電阻成分、及相對於屬於經由該觸控用布線LAC被供給驅動信號VcomAC之驅動電極區塊B之驅動電極COML的寄生電容。因此，於配置於遠離COG19(驅動信號產生部)之位置之驅動電極區塊B中，驅動信號VcomAC之脈衝之過渡時間有可能變長。與此相對，實施形態1之選擇開關SW1(SW2、SW3、SW4)係開關COMSW之CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2針對每一驅動電極COML配備有複數個，且並聯連接於觸控用布線LAC與驅動電極COML之間，可根據作為選擇信號之開關控制信號，針對每一驅動電極COML全部進行動作而將觸控用布線LAC與驅動電極COML連接，施加觸控用驅動信號VcomAC。而且，實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可降低開關SW1之連接電阻。其結果，實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可抑制在配置於觸控用布線LAC之末端部附近之驅動電極區塊B驅動信號VcomAC之脈衝之過渡時間變長的可能性。
(比較例)
其次，與比較例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1R進行對比，說明本實施形態之效果。附有觸控檢測功能之顯示裝置1R係於1水平期間(1H)進行顯示動作及觸控檢測動作之兩個動作者。其他構成係與本實施形態(圖1等)相同。
圖41係比較例之附有觸控檢測功能之顯示裝置中之顯示動作及觸控檢測動作之時序圖，(A)~(D)表示縮短水平期間(1H)之時間之情形，(E)~(H)表示延長水平期間(1H)之時間之情形。於圖41中，(A)、 (E)表示掃描信號Vscan之波形，(B)、(F)表示圖像信號Vsig之波形，(C)、(G)表示驅動信號Vcom之波形，(D)、(H)表示觸控檢測信號Vdet之波形。
於本比較例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1R中，於1水平期間(1H)設置有觸控檢測期間Pt與顯示期間Pd。即，於該附有觸控檢測功能之顯示裝置1R中，於1水平期間(1H)，首先，於觸控檢測期間Pt進行觸控檢測動作，繼而，於顯示期間Pd進行顯示動作。
於本比較例之觸控檢測動作中，首先，驅動電極驅動器14係於觸控檢測期間Pt，對屬於局部檢測區域RTk之驅動電極COML施加脈衝P(圖41(C)、(G))。該脈衝P係經由靜電電容傳送至觸控檢測電極TDL，而觸控檢測信號Vdet發生變化(圖41(D)、(H))。A/D轉換部43係於與脈衝P同步之取樣時序ts，對被輸入觸控檢測信號Vdet之觸控檢測信號放大部42之輸出信號進行A/D轉換(圖41(D)、(H))。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1R進行局部檢測區域RTk中之觸控檢測動作。再者，顯示動作係與本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1相同。
於本比較例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1R中，如圖41所示，使1水平期間(1H)之時間變化，並且與此同步地，使A/D轉換部43之取樣時序變化，藉此，可減少因干擾雜訊而產生之觸控檢測動作之誤動作之擔憂。然而，於此情形時，對附有觸控檢測功能之顯示裝置1R供給影像信號之時序與實際顯示之時序不同，因此，需要圖框記憶體。又，由於1水平期間(1H)之時間發生變化，故而有顯示畫質降低之虞。進而，1水平期間(1H)之時間係因來自顯示動作之制約而無法使其變化得那麼大，因此，亦有無法充分減少觸控檢測動作之誤動作之虞。
另一方面，於本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1中， 對每一局部顯示區域RD進行顯示驅動，因此，可將記憶體11a之記憶容量減小至其局部顯示區域RD中之資料量左右為止。
又，於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，在將觸控檢測期間Pt之時間、及顯示期間Pd之時間維持為固定之狀態下，改變觸控檢測期間Pt內之觸控用驅動信號VcomAC之頻率。藉此，可將顯示期間Pd之1水平期間(1H)之時間維持為固定，因此，可減少顯示畫質降低之擔憂。又，於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，可不受來自顯示動作之制約，而易於較大地改變觸控用驅動信號VcomAC之頻率，因此，與本比較例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1R之情形相比，可減少觸控檢測動作之誤動作。
換言之，於本比較例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1R中，觸控檢測期間Pt係設置於1水平期間(1H)內，因此，可於該有限之短時間內進行之動作受到限制。換言之，於該附有觸控檢測功能之顯示裝置1R中，用於觸控檢測動作之自由度變低。
另一方面，於本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，記憶體11a將所寫入之1圖框大小之影像資訊中之1/10之資料以較其寫入更快之速度讀出，藉此，縮短顯示期間Pd，而確保觸控檢測期間Pt。即，於附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，可確保用於觸控檢測動作之相當長之時間，因此，可提高觸控檢測動作之自由度。
如上所述，於本實施形態中，對每一局部顯示區域進行顯示驅動，因此，可將記憶體之記憶容量抑制得較低。
又，於本實施形態中，自記憶體以較其寫入速度更快之速度讀出資料，因此，可確保相當長之時間之觸控檢測期間，從而可提高觸控檢測動作之自由度。
又，於本實施形態中，於該相當長之時間之觸控檢測期間，改變觸控用驅動信號之頻率，因此，不會對顯示動作造成影響，且可減 少觸控檢測動作之誤動作之擔憂。
[變化例1-1]
於上述實施形態中，以顯示掃描之2倍之速度進行觸控檢測掃描，但並不限定於此，亦可代替此，例如以慢於2倍之速度進行，亦可以快於2倍之速度進行。圖42係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之以顯示掃描之4倍之速度進行觸控檢測掃描之情形時之動作的圖。於該例中，驅動電極驅動器14係於觸控檢測期間Pt，對4個局部檢測區域RT依序供給觸控用驅動信號VcomAC。藉此，可於進行1次顯示掃描之期間進行4次觸控檢測掃描。
[變化例1-2]
於上述實施形態中，局部顯示區域RT與局部檢測區域RD均設為將顯示面、觸控檢測面分割成10個所得者，但並不限定於此，例如，局部顯示區域RD之大小與局部檢測區域RT之大小亦可互不相同。圖43係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之將局部檢測區域RT之大小設為局部顯示區域RD之大小之一半之情形時之動作的圖。於該例中，局部顯示區域RD係將顯示面分割成10個所得者，局部檢測區域RT係將觸控檢測面分割成20個所得者。
[變化例1-3]
於上述實施形態中，記憶體11a暫時記憶1個局部顯示區域RD之資料，但並不限定於此，亦可代替此，例如，暫時記憶複數個局部顯示區域RD之資料量。圖44係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之暫時記憶2個局部顯示區域RD之資料之情形時之動作的圖。於此情形時，與圖框記憶體相比，亦可將記憶體之記憶容量抑制得較低。
[變化例1-4]
於上述實施形態中，於觸控檢測動作時，於包括特定根數之驅 動電極COML之每一局部檢測區域RT對驅動電極COML驅動而進行掃描，但並不限定於此，亦可代替此，例如，同時驅動特定根數之驅動電極COML，並且將其驅動之驅動電極COML逐根地移位，藉此，進行掃描。以下，說明其詳細情況。
圖45至圖47係模式性地表示附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測動作之一例的圖。本變化例之驅動電極驅動器14D係對特定根數之驅動電極COML同時施加觸控用驅動信號VcomAC。具體而言，驅動電極驅動器14D係對特定根數(於該例中為5根)驅動電極COML同時施加觸控用驅動信號VcomAC(斜線部)。然後，驅動電極驅動器14D係藉由將施加觸控用驅動信號VcomAC之驅動電極COML逐根地移位而進行觸控檢測掃描。再者，於該例中，對5根驅動電極COML同時施加觸控用驅動信號VcomAC，但並不限定於此，亦可代替此而對4根以下或6根以上之驅動電極COML同時施加觸控用驅動信號VcomAC。又，於該例中，將施加觸控用驅動信號VcomAC之驅動電極COML逐根地移位，但並不限定於此，亦可代替此而每次以2根以上之根數移位。
[變化例1-5]
於上述實施形態中，記憶體11a之記憶容量係設為與1圖框大小之影像資訊之1/10對應者，但並不限定於此，亦可代替此，例如，設為與1圖框大小之影像資訊之1/20對應者，亦可設為與1圖框大小之影像資訊之1/5對應者。
[變化例1-6]
於上述實施形態中，於顯示動作時，驅動電極驅動器14係對驅動電極COML施加顯示用驅動電壓VcomDC，但並不限定於此，亦可代替此，例如，進行對驅動電極COML施加交流驅動信號之所謂COM反轉驅動。
[變化例1-7]
於上述實施形態中，設置源極選擇器部13S，從自源極驅動器13供給之圖像信號Vsig分離像素信號Vpix並供給至液晶顯示器件20，但並不限定於此，亦可代替此，不設置源極選擇器部13S，而由源極驅動器13將像素信號Vpix直接供給至液晶顯示器件20。
[變化例1-8]
於上述實施形態中，交替地進行局部顯示區域RD中之圖像顯示、及局部檢測區域RT中之觸控檢測，但並不限定於此，亦可代替此，統一進行1畫面(1圖框)大小之圖像顯示，於該圖像顯示之前或之後進行觸控檢測區域全體之觸控檢測。
<1-2.實施形態2>
其次，對實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置進行說明。圖48係表示實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測器件之一例的圖。圖49及圖50係表示實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置之檢測部的圖。
於之前所說明之實施形態1之觸控檢測器件中，於休眠模式下，利用自靜電電容方式檢測有無觸控。另一方面，於實施形態2之觸控檢測器件中，於休眠模式下，利用互靜電電容方式檢測有無觸控。
如圖48所示，觸控檢測器件30中，觸控檢測電極TDLa與觸控檢測電極TDLb成對，且該對形成有複數對。
圖49係表示休眠模式下之一對觸控檢測電極TDLa及觸控檢測電極TDLb與電壓檢測器(觸控檢測部)DET的圖。電壓檢測器DET亦可內置於觸控檢測控制部100。
於休眠模式下，開關211接通，對觸控檢測電極TDLa施加驅動信號VcomAC。觸控檢測電極TDLa與觸控檢測電極TDLb係構成電容元件C4，於手指未接觸或接近之情形與手指接觸或接近之情形時電容 發生變化。電壓檢測器DET係連接於觸控檢測電極TDLb，可根據觸控檢測電極TDLb之電壓檢測由觸控檢測電極TDLa與觸控檢測電極TDLb構成之電容之變化、即手指是否接觸或接近。
圖50係表示通常動作模式下之一對觸控檢測電極TDLa及觸控檢測電極TDLb與電壓檢測器DET的圖。於通常動作模式下，開關211斷開，對於觸控檢測電極TDLa之驅動信號VcomAC之施加被遮斷。又，開關212接通，將觸控檢測電極TDLa連接於電壓檢測器DET。藉此，觸控檢測電極TDLa及觸控檢測電極TDLb係與驅動電極COML分別形成互電容。然後，對驅動電極COML施加驅動信號VcomAC，電壓檢測器DET可根據觸控檢測電極TDLa及觸控檢測電極TDLb之電壓檢測觸控。
[效果]
實施形態2之觸控檢測器件30可於休眠模式下利用互靜電電容方式檢測有無觸控。藉此，實施形態2之觸控檢測器件30可利用自靜電電容方式高精度地檢測有無觸控。
<1-3.實施形態3>
其次，對實施形態3之附有觸控檢測功能之顯示裝置進行說明。圖51係表示實施形態3之附有觸控檢測功能之顯示裝置之圖。再者，對與上述實施形態1中所說明者相同之構成要素標註相同之符號並省略重複之說明。
如圖51所示，實施形態3之附有觸控檢測功能之顯示裝置1包括閘極驅動器12C，而代替實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之閘極驅動器12B及閘極驅動器100D。閘極驅動器12C係能夠以電源電壓Vcc與電源電壓Vdd之兩者進行動作之電路。閘極驅動器12C於休眠模式下，以經常供給之電源電壓Vcc(例如，3V至5V左右)及電源電壓-Vcc(例如，-3V至-5V左右)進行動作，將掃描信號Vscan施加至 掃描線GCL。又，閘極驅動器12C於通常動作模式下，以利用升壓電路70產生之電源電壓Vdd(例如，5V至10V左右)及電源電壓-Vdd(例如，-5V至-10V左右)進行動作，將掃描信號Vscan施加至掃描線GCL。
[效果]
實施形態3之附有觸控檢測功能之顯示裝置1包括閘極驅動器12C，而代替實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之閘極驅動器12B及閘極驅動器100D。藉此，實施形態3之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可使邊框Gd變窄，從而可使電子機器小型化。
<1-4.實施形態4>
其次，對實施形態4之附有觸控檢測功能之顯示裝置1進行說明。圖52係表示實施形態4之附有觸控檢測功能之顯示裝置之控制裝置之一例的圖。圖53係表示實施形態4之驅動電極驅動器之驅動部的方塊圖。圖54係表示實施形態4之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例的方塊圖。再者，對與上述實施形態1中所說明者相同之構成要素標註相同之符號並省略重複之說明。圖53及圖54說明第1閘極驅動器12A側之構成，但第2閘極驅動器12B之構成亦相同。
如圖52所示，像素基板2包括位於透明絕緣基板(例如玻璃基板)之TFT基板21之表面且包含液晶單元之像素呈矩陣狀(matrix shape)配置多個而成的顯示區域Ad、源極驅動器(水平驅動電路)13、及閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B及100D。閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B係設為第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B，以隔著顯示區域Ad之方式配置。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B於通常動作模式下，對掃描方向之掃描線GCL交替地施加垂直掃描脈衝而以列為單位選擇顯示區域Ad之各副像素SPix。第1閘極驅動器12A與第2閘極驅動器12B係配置於掃描線GCL之長度方向之端部，對每隔 1根之掃描線GCL交替地施加垂直掃描脈衝而以列為單位選擇顯示區域Ad之各像素。
因此，如圖53般，於第1閘極驅動器12A側或第2閘極驅動器12B側，超出顯示區域Ad通過邊框Gd而到達至第1閘極驅動器12A或第2閘極驅動器12B的掃描線GCL之數量變少。藉此，於邊框Gd，奇數或偶數之掃描線GCL通過顯示區域Ad與第1閘極驅動器12A或第2閘極驅動器12B之間。其結果，選擇開關SW1之CMOS開關CMOS1係配置於位於與觸控用布線LAC(顯示用布線LDC)立體交叉之掃描線GCL之間(例如掃描線GCLm+1與掃描線GCLm+3之間)之區域。例如，連接於第1閘極驅動器12A之掃描線GCL(例如掃描線GCLm+1與掃描線GCLm+3)係與第1閘極驅動器12A側之觸控用布線LAC立體交叉，而未與第2閘極驅動器12B側之觸控用布線LAC立體交叉。而且，連接於第2閘極驅動器12B之掃描線(例如掃描線GCLm+2與掃描線GCLm+4)係與第2閘極驅動器12B側之觸控用布線LAC立體交叉，而未與第1閘極驅動器側之觸控用布線LAC立體交叉。因此，與觸控用布線LAC(顯示用布線LDC)立體交叉之掃描線GCL彼此之間隔大於顯示區域Ad中之相鄰之掃描線GCL彼此之間隔。即，邊框Gd中之掃描線GCL之間隔大於顯示區域Ad中之相鄰之掃描線GCL之間隔。而且，由於在邊框Gd掃描線GCL之間隔較大，故可配置選擇開關SW1(CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2)之面積增大。例如，藉由增加連接導體Q1、Q2、Q3之數量或者增大面積，可降低選擇開關SW1之連接電阻。
再者，選擇開關SW1不僅配置於第1閘極驅動器12A側之邊框區域Gd，亦配置於第2閘極驅動器12B側之邊框區域Gd。配置於第2閘極驅動器12B側之邊框區域Gd之選擇開關SW1可選擇配置於第2閘極驅動器12B側之觸控用布線LAC與驅動電極COML之連接或顯示用布線LDC與驅動電極COML之連接。於此種情形時，第1閘極驅動器12A側 之選擇開關與第2閘極驅動器12B側之選擇開關中連接於同一驅動電極COML之選擇開關彼此分別選擇同種布線(觸控用布線LAC或顯示用布線LDC)。例如，與第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1連接於同一驅動電極COML的第2閘極驅動器12B側之選擇開關SW1係於第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1選擇觸控用布線LAC與驅動電極COML之連接之情形時，選擇觸控用布線LAC與驅動電極COML之連接。與第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1連接於同一驅動電極COML的第2閘極驅動器12B側之選擇開關SW1係於第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1選擇顯示用布線LDC與驅動電極COML之連接之情形時，選擇顯示用布線LDC與驅動電極COML之連接。
[效果]
如實施形態1般，於與副像素SPix之1間距對應之掃描線GCL之間配置有選擇開關SW1之情形時，若伴隨高精細化而像素間距變窄，則選擇開關SW1之連接電阻有可能增加。與此相對，於實施形態4之附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，能夠於較與副像素SPix之1間距對應之掃描線GCL之間隔大之間隔配置選擇開關SW1，因此，即便進行高精細化而縮小像素間距，亦可將開關SW1之連接電阻維持得較低。又，藉由增加供電之連接導體Q1、Q2及Q3之數量，可降低選擇開關SW1之連接電阻。
觸控用布線LAC包含開關SW1之特定之連接電阻成分、及相對於屬於經由該觸控用布線LAC被供給驅動信號VcomAC之驅動電極區塊B之驅動電極COML的寄生電容。因此，於配置於遠離COG19(驅動信號產生部)之位置之驅動電極區塊B中，驅動信號VcomAC之脈衝之過渡時間有可能變長。與此相對，實施形態4之選擇開關SW1(SW2、SW3、SW4)係開關COMSW之CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2針對每一驅動電極COML配置有複數個，且並聯連接於觸控用布線 LAC與驅動電極COML之間，可根據作為選擇信號之開關控制信號，針對每一驅動電極COML全部進行動作而將觸控用布線LAC與驅動電極COML連接，施加觸控用驅動信號VcomAC。而且，實施形態4之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可降低開關SW1之連接電阻，抑制在配置於布線LAC之末端部附近之驅動電極區塊B驅動信號VcomAC之脈衝之過渡時間變長的可能性。
又，實施形態4之開關SW1可於與掃描線平行之方向縮小，並於與掃描線正交之方向增大。藉此，實施形態4之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可減小邊框Gd中開關SW1所占之與掃描線平行之方向之寬度、圖7所示之寬度Gdv。
<1-5.實施形態5>
其次，對實施形態5之附有觸控檢測功能之顯示裝置1進行說明。圖55係表示實施形態5之附有觸控檢測功能之顯示裝置之驅動電極驅動器之驅動部的方塊圖。圖56係表示實施形態5之附有觸控檢測功能之顯示裝置之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例的方塊圖。再者，對與上述實施形態1至4中所說明者相同之構成要素標註相同之符號並省略重複之說明。圖55及圖56說明第1閘極驅動器12A側之驅動電極驅動器，但第2閘極驅動器12B之構成亦相同。
如圖52所示，於實施形態5中，像素基板2亦包括位於透明絕緣基板(例如玻璃基板)之TFT基板21之表面且包含液晶單元之像素呈矩陣狀(matrix shape)配置多個而成的顯示區域Ad、源極驅動器(水平驅動電路)13、以及閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B及100D。閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B係設為第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B，以隔著顯示區域Ad之方式配置。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B於通常動作模式下，對掃描方向之上述掃描線交替地施加垂直掃描脈衝並以列為單位選擇顯示區域Ad之各副像素SPix。
如圖55般，於第1閘極驅動器12A側或第2閘極驅動器12B側，超出顯示區域Ad通過邊框Gd而到達至第1閘極驅動器12A或第2閘極驅動器12B的掃描線GCL之數量變少。又，於相鄰之開關COMSW之間配置有複數根掃描線GCLm+2、GCLm+4(複數根掃描線GCLm+6、GCLm+8)。其與第1閘極驅動器12A(第2閘極驅動器12B)之閘極移位暫存器120SR之週期一致。閘極移位暫存器120SR係將2根掃描線GCL設為對而進行控制。因此，選擇開關SW1係開關COMSW成為相當於4個副像素SPix之間距，重複間距與8個副像素SPix相同。藉此，於邊框Gd，奇數或偶數之掃描線GCL通過顯示區域Ad與第1閘極驅動器12A或第2閘極驅動器12B之間。其結果，CMOS開關CMOS2係與觸控用布線LAC(顯示用布線LDC)立體交叉，且配置於位於鄰接於CMOS開關CMOS1與CMOS開關CMOS2之掃描線GCL彼此之間(例如掃描線GCLm+4與掃描線GCLm+6之間)的區域。例如，連接於第1閘極驅動器12A之掃描線GCL(例如掃描線GCLm+2、掃描線GCLm+4、掃描線GCLm+6、掃描線GCLm+8)係與第1閘極驅動器12A側之觸控用布線LAC立體交叉，而未與第2閘極驅動器側之觸控用布線LAC立體交叉。而且，連接於第2閘極驅動器之掃描線(例如掃描線GCLm+1、掃描線GCLm+3、掃描線GCLm+5、掃描線GCLm+7)係與第2閘極驅動器側之觸控用布線LAC立體交叉，而未與第1閘極驅動器側之觸控用布線LAC立體交叉。因此，與觸控用布線LAC(顯示用布線LDC)立體交叉之掃描線GCL彼此之間隔大於顯示區域Ad中之相鄰之掃描線GCL彼此之間隔。而且，由於在邊框Gd掃描線GCL之間隔較大，故可配置選擇開關SW1(CMOS開關CMOS2)之面積增大。例如，藉由增加連接導體Q1、Q2、Q3之數量或者增大面積，可降低選擇開關SW1之連接電阻。
再者，選擇開關SW1不僅配置於第1閘極驅動器12A側之邊框區 域Gd，亦配置於第2閘極驅動器12B側之邊框區域Gd。配置於第2閘極驅動器12B側之邊框區域Gd之選擇開關SW1可選擇配置於第2閘極驅動器12B側之觸控用布線LAC與驅動電極COML之連接或顯示用布線LDC與驅動電極COML之連接。於此種情形時，第1閘極驅動器12A側之選擇開關與第2閘極驅動器12B側之選擇開關中連接於同一驅動電極COML之選擇開關彼此分別選擇同種布線(觸控用布線LAC或顯示用布線LDC)。例如，與第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1連接於同一驅動電極COML的第2閘極驅動器12B側之選擇開關SW1係於第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1選擇觸控用布線LAC與驅動電極COML之連接之情形時，選擇觸控用布線LAC與驅動電極COML之連接。與第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1連接於同一驅動電極COML的第2閘極驅動器12B側之選擇開關SW1係於第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1選擇顯示用布線LDC與驅動電極COML之連接之情形時，選擇顯示用布線LDC與驅動電極COML之連接。
[效果]
如實施形態1般，於與副像素之1間距對應之掃描線GCL之間配置有選擇開關SW1之情形時，若伴隨高精細化而像素間距變窄，則選擇開關SW1之連接電阻有可能增加。與此相對，於實施形態5之附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，可於較與副像素SPix之1間距對應之掃描線GCL之間隔大之間隔配置選擇開關SW1，因此，即便進行高精細化而縮小像素間距，開關SW1之連接電阻亦可維持得較低。又，藉由增加供電之連接導體Q1、Q2及Q3之數量，可降低選擇開關SW1之連接電阻。
觸控用布線LAC包含開關SW1之特定之連接電阻成分、及相對於屬於經由觸控用布線LAC被供給驅動信號VcomAC之驅動電極區塊B之驅動電極COML的寄生電容。因此，於配置於遠離COG19(驅動信 號產生部)之位置之驅動電極區塊B中，驅動信號VcomAC之脈衝之過渡時間有可能變長。與此相對，實施形態5之選擇開關SW1(SW2、SW3、SW4)係開關COMSW之CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2針對每一驅動電極COML配備有複數個，且並聯連接於觸控用布線LAC與驅動電極COML之間，可根據作為選擇信號之開關控制信號，針對每一驅動電極COML全部進行動作而將觸控用布線LAC與驅動電極COML連接，施加觸控用驅動信號VcomAC。而且，實施形態5之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可降低開關SW1之連接電阻，抑制在配置於布線LAC之末端部附近之驅動電極區塊B驅動信號VcomAC之脈衝之過渡時間變長的可能性。
又，實施形態5之開關SW1可於與掃描線平行之方向縮小，並於與掃描線正交之方向增大。藉此，實施形態5之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可減小邊框Gd中開關SW1所占之與掃描線平行之方向之寬度、圖7所示之寬度Gdv。
<1-6.實施形態6>
其次，對實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置進行說明。圖57係表示安裝有實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例的圖。
如圖57所示，自電池或電子機器之主基板等對COG19供給電源電壓V1。該電源電壓V1並非用以驅動附有觸控檢測功能之顯示器件10之電源電壓，而係進行來自觸控IC110之控制信號之接收或朝向外部之電源IC200之控制信號之輸出等的介面用之低電壓(例如1.8V等)之電源電壓。
又，自電源IC200對COG19供給用以驅動附有觸控檢測功能之顯示器件10之電源電壓Vcc或Vdd。自電池或電子機器之主基板等對電源IC200供給電源電壓V2(例如，+3V、-3V等)。電源IC200具有之前 於實施形態1中所說明之升壓電路70之功能，將電源電壓V2升高而產生電源電壓Vcc(例如，3V至5V左右)或Vdd(例如，5V至10V左右)，並供給至COG19。
再者，此處，電源IC200配置於模組之外部，但亦可配置於模組之內部。例如，電源IC200亦可安裝於軟性印刷基板T上。
圖58係實施形態6之附有觸控檢測功能之顯示裝置之動作之時序圖，(A)表示觸控IC之觸控檢測處理，(B)表示COG之動作，(C)表示觸控IC之動作時序，(D)表示自觸控IC輸出至COG之控制信號即TRGT信號，(E)表示電源IC之輸出電壓。
於初始時序t60，觸控IC110係利用觸控檢測電極TDL之自電容方式檢測觸控(圖58(A))。COG19係於休眠中，不進行附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動，但可接收來自觸控IC110之控制信號(圖58(B))。TRGT信號係不活動(低位準)(圖58(D))。電源IC200係於休眠中，不進行升壓，而輸出電壓為0V。
如圖58(C)所示，觸控IC110係以特定之間隔，利用觸控檢測電極TDL之自電容方式檢測觸控。再者，特定之間隔例如為4ms左右。觸控IC110若檢測到觸控，則於時序t61，使TRGT信號活動(高位準)。TRGT信號係經由圖57之信號線L1，自觸控IC110被送至COG19。
若TRGT信號於時序t61變得活動，則COG19經由圖57之信號線L2將控制信號送至電源IC200，使電源IC200自休眠恢復。再者，此處，由於不進行圖像顯示，故不需要較高之電源電壓Vdd，因此，COG19使電源IC200輸出電源電壓Vcc。
電源IC200若於時序t61自COG19接收到控制信號，則於時序t61，開始自休眠恢復之動作，開始升壓，於經過特定之延遲時間後之時序t62將電源電壓Vcc供給至COG19。再者，特定之延遲時間例如為8ms至32ms左右。
COG19係於時序t62，使用自電源IC200供給之電源電壓Vcc，開始驅動電極COML之驅動。即，COG19使掃描信號Vscan自低位準變化為高位準。在此之前，COG19預先將像素信號Vpix設定為特定值、例如0V。藉此，對像素Pix(副像素SPix)寫入0V。更詳細而言，將像素電極22設定為0V。其後，COG19使掃描信號Vscan自高位準變化為低位準。藉此，像素Pix(副像素SPix)之值確定為0V。更詳細而言，像素電極22之電位確定為0V。其後，COG19係將觸控用驅動信號VcomAC供給至驅動電極COML，開始驅動電極COML之掃描。
觸控IC110係於自時序t62起經過特定時間後之時序t63，以特定之間隔，利用觸控檢測電極TDL與驅動電極COML之間之互電容方式，檢測手勢。特定之時間例如為32ms至64ms左右。
觸控IC110若檢測到特定之手勢，則於時序t64，將命令送至應用處理器。接收到命令之應用處理器將休眠解除命令送至COG19。
接收到休眠解除命令之COG19係於時序t64，將使電源IC200輸出電源電壓Vdd之控制信號輸出至電源IC200。此處，為了高速進行圖像顯示而需要較高之電源電壓Vdd，因此，COG19將使電源IC200輸出電源電壓Vdd之控制信號輸出至電源IC200。
電源IC200係於時序t64，開始自休眠恢復之動作，開始升壓，於經過特定之延遲時間後之時序t65將電源電壓Vdd供給至COG19。再者，特定之延遲時間例如為100ms左右。又，此時，COG19使背光源開始動作。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1可進行圖像顯示。
COG19係於時序t65，使用自電源IC200供給之電源電壓Vdd，開始附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動、即用於圖像之顯示及觸控之檢測之驅動電極COML之驅動。又，觸控IC110係於自時序t65起經過特定時間後之時序t66，以特定之間隔，利用觸控檢測電極TDL與驅動電極COML之間之互電容方式，檢測手勢。再者，特定之時間例 如為32ms至64ms左右。
藉由以上動作，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係自休眠模式恢復至通常動作模式。再者，若於通常動作模式下，於特定時間內無觸控輸入，則應用處理器將休眠命令送至COG19。COG19若自應用處理器接收到休眠命令，則停止附有觸控檢測功能之顯示器件10之驅動而結束圖像顯示及驅動電極COML之驅動，然後使電源IC200休眠(使升壓停止)。
[效果]
根據本實施形態，附有觸控檢測功能之顯示裝置1可直接使電源IC200自休眠狀態恢復至通常狀態，或者使電源IC200自通常狀態轉變為休眠狀態。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1可較佳地控制電源IC200之動作，而可較佳地降低消耗電力。
以上，列舉若干個實施形態及變化例進行了說明，但本揭示並不限定於該等實施形態等，可進行各種變化。
又，上述各實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可將使用FFS、IPS等各種模式之液晶之液晶顯示器件20與觸控檢測器件30一體化而製成附有觸控檢測功能之顯示器件10。圖59係表示變化例之附有觸控檢測功能之顯示器件之概略剖面構造的剖面圖。圖59所示之變化例之附有觸控檢測功能之顯示器件10亦可代替此，而將TN(Twisted Nematic：扭轉向列)、VA(Vertical Alignment：垂直配向)、ECB(Electrically Controlled Birefringence：電控雙折射)等各種模式之液晶與觸控檢測器件一體化。
如圖59所示，於對向基板3存在驅動電極COML之情形時，觸控用布線LAC、顯示用布線LDC亦可配備於對向基板3。藉由該構造，驅動電極COML與觸控用布線LAC(顯示用布線LDC)之距離變短。而且，配備於TFT基板21之掃描線GCL係與上述實施形態1至5同樣地， 與觸控用布線LAC、顯示用布線LDC立體交叉。其結果，觸控用布線LAC係配設於在相對於TFT基板21垂直之方向上位於顯示區域Ad之外側的邊框區域Gd。
又，於上述各實施形態中，設為將液晶顯示器件20與靜電電容型之觸控檢測器件30一體化所得之所謂內嵌式觸控型，但並不限定於此，亦可代替此，而為例如裝設有液晶顯示器件20與靜電電容型之觸控檢測器件30之外掛式觸控型。於外掛式觸控型之情形時，將圖13所示之像素基板2之驅動電極COML設為第1驅動電極COML，除此以外，於對向基板3中之玻璃基板31之表面亦配備第2驅動電極COML，第1驅動電極COML與第2驅動電極COML電性連接。於此情形時，藉由設為如上所述之構成，亦可一面抑制外部雜訊或自液晶顯示器件傳送之雜訊(與上述各實施形態中之內部雜訊對應者)之影響一面進行觸控檢測。
<2.應用例>
其次，參照圖60至圖72，對實施形態及變化例中所說明之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之應用例進行說明。圖60至圖72係表示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例的圖。實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可應用於電視裝置、數位相機、筆記型個人電腦、行動電話等移動終端裝置或攝錄影機等所有領域之電子機器。換言之，實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可應用於將自外部輸入之影像信號或於內部產生之影像信號顯示為圖像或影像之所有領域之電子機器。
(應用例1)
圖60所示之電子機器係應用實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1的電視裝置。該電視裝置例如包括包含前面板511及濾光玻璃512之影像顯示畫面部510，該影像顯示畫面部510係實 施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例2)
圖61及圖62所示之電子機器係應用實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1的數位相機。該數位相機例如包含快閃用之發光部521、顯示部522、選單開關523及快門按鈕524，上述顯示部522係實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置。如圖61所示，該數位相機包含透鏡蓋525，藉由使透鏡蓋525滑動而露出攝影透鏡。數位相機可藉由拍攝自上述攝影透鏡入射之光而拍攝數位照片。
(應用例3)
圖63所示之電子機器係表示應用實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之攝錄影機之外觀者。該攝錄影機例如包含本體部531、設置於該本體部531之前方側面之被攝體攝影用之透鏡532、攝影時之起動/終止開關533及顯示部534。而且，顯示部534係實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例4)
圖64所示之電子機器係應用實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1的筆記型個人電腦。該筆記型個人電腦例如包含本體571、用於字符等之輸入操作之鍵盤572及顯示圖像之顯示部573，顯示部573係實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例5)
圖65~圖71所示之電子機器係應用實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1的行動電話。該行動電話係例如利用連結部(鉸鏈部)553將上側框體551與下側框體552連結而成者，且包含顯示器554、次顯示器555、圖片燈556及相機557。上述顯示器554或 次顯示器555係實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例6)
圖72所示之電子機器係作為行動式電腦、多功能之行動電話、可語音通話之行動電腦或可通信之行動電腦進行動作，且有時亦稱為所謂智慧型手機、平板終端的資訊移動終端。該資訊移動終端例如於框體561之表面包含顯示部562。該顯示部562係實施形態1至5及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1。
<3.本揭示之構成>
又，本揭示亦可採取以下之構成。
(1)一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其係具有進行圖像顯示且進行觸控檢測之通常動作模式、及不進行圖像顯示而進行觸控檢測之休眠模式者，且包括：顯示區域，其於基板上呈矩陣狀配置有複數個像素電極；驅動電極，其與上述像素電極對向地設置，且分割成複數個；觸控檢測電極，其與上述驅動電極對向，且於與上述驅動電極之間形成靜電電容；顯示功能層，其具有將圖像顯示於上述顯示區域之圖像顯示功能；控制裝置，其於上述通常動作模式下，根據圖像信號，以於上述像素電極與上述驅動電極之間施加顯示用驅動電壓，而使上述顯示功能層發揮圖像顯示功能之方式進行圖像顯示控制，且以將觸控用驅動信號供給至上述驅動電極之方式進行觸控檢測控制；觸控檢測部，其於上述通常動作模式下，根據來自上述觸控檢測電極之檢測信號，檢測與上述觸控檢測電極接近或接觸之物體之位置；及 觸控檢測控制部，其於上述休眠模式下，檢測上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸；上述控制裝置於上述休眠模式下，在上述觸控檢測控制部檢測到上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸後，將上述像素電極控制在特定電位，然後將上述觸控用驅動信號供給至上述驅動電極。
(2)如上述(1)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其進而包括升壓電路，該升壓電路於上述通常動作模式下，將經常自外部供給之第1電源電壓升高而產生第2電源電壓，於上述休眠模式下停止動作；且上述控制裝置於上述通常動作模式下，使用上述第2電源電壓於上述像素電極與上述驅動電極之間施加顯示用驅動電壓，而於上述休眠模式下，使用上述第1電源電壓將上述像素電極設在特定電位。
(3)如上述(2)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其進而包括：複數根掃描線，其等以沿第1方向延伸之方式設置於上述顯示區域，且被供給掃描信號；複數根像素信號線，其等以沿與上述第1方向交叉之第2方向延伸之方式設置於上述顯示區域，且被供給像素信號；及複數個電晶體，其等分別設置於上述複數根掃描線與上述複數根像素信號線之交叉部，且各自之源極或汲極之一者連接於上述像素信號線，各自之閘極連接於上述掃描線，各自之源極或汲極之另一者連接於上述像素電極；上述控制裝置於上述休眠模式下，對上述像素信號線供給上述特定電位，且使用上述第1電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號，而於上述通常動作模式下，對上述像素信號線供給上述像素信號，且使用上述第2電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號。
(4)如上述(3)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述控制裝置包含： 第1閘極驅動器，其於上述通常動作模式下，使用上述第2電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號；及第2閘極驅動器，其於上述休眠模式下，使用上述第1電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號。
(5)如上述(3)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述控制裝置係
包含閘極驅動器，該閘極驅動器於上述通常動作模式下，使用上述第2電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號，而於上述休眠模式，使用上述第1電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號。
(6)如上述(1)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述控制裝置係
於上述休眠模式下，於上述觸控檢測控制部檢測到上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸後，以將經常自外部供給之第1電源電壓升高而開始產生第2電源電壓之方式，控制電源電路；且使用上述第2電源電壓，將上述像素電極控制在特定電位，然後將上述觸控用驅動信號供給至上述驅動電極。
(7)如上述(6)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述控制裝置係
於上述通常模式下，以將上述第1電源電壓升高而產生較上述第2電源電壓為高電壓之第3電源電壓之方式，控制上述電源電路，且使用上述第3電源電壓，於上述像素電極與上述驅動電極之間施加顯示用驅動電壓。
(8)如上述(1)至(7)中任一項之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測控制部於上述休眠模式下，利用上述觸控檢測電極之自靜電電容，檢測上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸。
(9)如上述(1)至(7)中任一項之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其 中上述觸控檢測電極形成有複數對，上述觸控檢測控制部於上述休眠模式下，利用上述觸控檢測電極對之間之互靜電電容，檢測上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸。
(10)如上述(1)至(9)中任一項之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其於上述休眠模式下，檢測到上述物體之特定之手勢後，轉變為上述通常動作模式。
(11)一種電子機器，其係包括附有觸控檢測功能之顯示裝置者，該顯示裝置具有進行圖像顯示且進行觸控檢測之通常動作模式、及不進行圖像顯示而進行觸控檢測之休眠模式，上述附有觸控檢測功能之顯示裝置係如上述(1)至(10)中任一項之附有觸控檢測功能之顯示裝置。
1‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示裝置
10‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示器件
11‧‧‧控制部
11a‧‧‧記憶體
12‧‧‧閘極驅動器
13‧‧‧源極驅動器
13S‧‧‧源極選擇器部
14‧‧‧驅動電極驅動器
20‧‧‧液晶顯示器件
30‧‧‧觸控檢測器件
40‧‧‧觸控檢測部
42‧‧‧觸控檢測信號放大部
43‧‧‧A/D轉換部
44‧‧‧信號處理部
45‧‧‧座標抽取部
46‧‧‧檢測時序控制部
100‧‧‧觸控檢測控制部
100D‧‧‧閘極驅動器
Hsync‧‧‧水平同步信號
Vcom‧‧‧驅動信號
Vdet‧‧‧觸控檢測信號
Vdisp‧‧‧影像信號
Vout‧‧‧信號輸出
Vpix‧‧‧像素信號
Vscan‧‧‧掃描信號
Vsel‧‧‧開關控制信號
Vsig‧‧‧圖像信號
Vsync‧‧‧垂直同步信號

Claims (11)

  1. 一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其係具有進行圖像顯示且進行觸控檢測之通常動作模式、及不進行圖像顯示而進行觸控檢測之休眠模式者，且包括：顯示區域，其於基板上呈矩陣狀配置有複數個像素電極；驅動電極，其與上述像素電極對向地設置，且分割成複數個；觸控檢測電極，其與上述驅動電極對向，且於與上述驅動電極之間形成靜電電容；顯示功能層，其具有將圖像顯示於上述顯示區域之圖像顯示功能；控制裝置，其於上述通常動作模式下，根據圖像信號，以於上述像素電極與上述驅動電極之間施加顯示用驅動電壓，而使上述顯示功能層發揮圖像顯示功能之方式進行圖像顯示控制，且以將觸控用驅動信號供給至上述驅動電極之方式進行觸控檢測控制；觸控檢測部，其於上述通常動作模式下，根據來自上述觸控檢測電極之檢測信號，檢測與上述觸控檢測電極接近或接觸之物體之位置；及觸控檢測控制部，其於上述休眠模式下，檢測上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸；且上述控制裝置於上述休眠模式下，在上述觸控檢測控制部檢測到上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸後，將上述像素電極控制在特定電位，然後將上述觸控用驅動信號供給至上述驅動電極。
  2. 如請求項1之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其進而包括升壓電路，該升壓電路於上述通常動作模式下，將經常自外部供給之第1電源電壓升高而產生第2電源電壓，且於上述休眠模式下停止動作；且上述控制裝置於上述通常動作模式下，使用上述第2電源電壓於上述像素電極與上述驅動電極之間施加顯示用驅動電壓，而於上述休眠模式下，使用上述第1電源電壓將上述像素電極設在特定電位。
  3. 如請求項2之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其進而包括：複數根掃描線，其等以沿第1方向延伸之方式設置於上述顯示區域，且被供給掃描信號；複數根像素信號線，其等以沿與上述第1方向交叉之第2方向延伸之方式設置於上述顯示區域，且被供給像素信號；及複數個電晶體，其等分別設置於上述複數根掃描線與上述複數根像素信號線之交叉部，且各自之源極或汲極之一者連接於上述像素信號線，各自之閘極連接於上述掃描線，各自之源極或汲極之另一者連接於上述像素電極；上述控制裝置於上述休眠模式下，對上述像素信號線供給上述特定電位，且使用上述第1電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號，而於上述通常動作模式下，對上述像素信號線供給上述像素信號，且使用上述第2電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號。
  4. 如請求項3之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述控制裝置包含：第1閘極驅動器，其於上述通常動作模式下，使用上述第2電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號；及 第2閘極驅動器，其於上述休眠模式下，使用上述第1電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號。
  5. 如請求項3之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述控制裝置係包含閘極驅動器，該閘極驅動器於上述通常動作模式下，使用上述第2電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號，而於上述休眠模式下，使用上述第1電源電壓對上述掃描線供給上述掃描信號。
  6. 如請求項1之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述控制裝置係於上述休眠模式下，於上述觸控檢測控制部檢測到上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸後，以將經常自外部供給之第1電源電壓升高而開始產生第2電源電壓之方式，控制電源電路；且使用上述第2電源電壓，將上述像素電極控制在特定電位，然後將上述觸控用驅動信號供給至上述驅動電極。
  7. 如請求項6之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述控制裝置係於上述通常模式下，以將上述第1電源電壓升高而產生較上述第2電源電壓為高電壓之第3電源電壓之方式，控制上述電源電路，且使用上述第3電源電壓，於上述像素電極與上述驅動電極之間施加顯示用驅動電壓。
  8. 如請求項1之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控檢測控制部於上述休眠模式下，利用上述觸控檢測電極之自靜電電容，檢測上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸。
  9. 如請求項1之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中 上述觸控檢測電極形成有複數對，上述觸控檢測控制部於上述休眠模式下，利用上述觸控檢測電極對之間之互靜電電容，檢測上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸。
  10. 如請求項1之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其於上述休眠模式下，檢測到上述物體之特定之手勢後，轉變為上述通常動作模式。
  11. 一種電子機器，其係包括附有觸控檢測功能之顯示裝置者，該顯示裝置具有進行圖像顯示且進行觸控檢測之通常動作模式、及不進行圖像顯示而進行觸控檢測之休眠模式，上述附有觸控檢測功能之顯示裝置包括：顯示區域，其於基板上呈矩陣狀配置有複數個像素電極；驅動電極，其與上述像素電極對向地設置，且分割成複數個；觸控檢測電極，其與上述驅動電極對向，且於與上述驅動電極之間形成靜電電容；顯示功能層，其具有將圖像顯示於上述顯示區域之圖像顯示功能；控制裝置，其於上述通常動作模式下，根據圖像信號，以於上述像素電極與上述驅動電極之間施加顯示用驅動電壓，而使上述顯示功能層發揮圖像顯示功能之方式進行圖像顯示控制，且以將觸控用驅動信號供給至上述驅動電極之方式進行觸控檢測控制；觸控檢測部，其根據來自上述觸控檢測電極之檢測信號，檢測與上述觸控檢測電極接近或接觸之物體之位置；及觸控檢測控制部，其於上述休眠模式下，檢測上述物體對上 述觸控檢測電極之接近或接觸；上述控制裝置於上述休眠模式下，在上述觸控檢測控制部檢測到上述物體對上述觸控檢測電極之接近或接觸後，將上述像素電極控制在特定電位，然後將上述觸控用驅動信號供給至上述驅動電極。
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