TW201331574A - 目視檢查治具及使用此治具之目視檢查系統 - Google Patents

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Seung-Ho Jeon
Jin-Il Jeong
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Abstract

本發明係包括檢查物件之安置領域及檢查物件反射領域。特徵在於,將檢查物件承載於前述檢查物件的安置領域,而由透明材質形成之檢驗平板,以及,形成於前述檢驗平板的底部,以反射被承載於前述檢查物件安置領域之前述檢查物件的背面顯像,再投映於前述檢查物件之反射領域的反射鏡。

Description

目視檢查治具及使用此治具之目視檢查系統
本發明係有關於一種目視檢查治具及使用此治具之目視檢查系統。
如文獻1所示,針對印刷電路板檢查電路連接狀態、或製程中所產生之刮痕(scratch)等破損的等各種檢查。
另一方面,由作業者直接透過目視檢查,以檢查印刷電路板表面上所產生的刮痕等細微不良。
通常,印刷電路板承載於檢查台上,先經過正面檢查後翻轉,再檢查印刷電路板的背面;此時,有時會因作業者的操作不慎而發生不良。
[文獻1]KR2010-022624A 2010.03.03
本發明用於解決上述之先前技術問題,本發明之目的在於提供,實施目視檢查時,讓檢查物件維持在最初承載的狀態下,得以檢查正面與背面的目視檢查治具及使用此治具之目視檢查系統。
依本發明之實施態樣之目視檢查治具係包括一檢驗平板及一反射鏡。檢驗平板包含一檢查物件的安置領域及一檢查物件的反射領域,且將檢查物件承載於前述檢查物件的安置領域,而由透明材質形成。反射鏡形成於前述檢驗平板的底部,以反射被承載於前述檢查物件安置領域之前述檢查物件的背面顯像,再投映於前述檢查物件之反射領域。
在此,前述檢驗平板還可包括,形成於前述檢查物 件的反射領域,透過包含各檢查物件位置訊息在內,而以投影於前述檢查物件反射領域的檢查物件的背面顯像,辨識使用者所選擇之不良位置的不良檢測板。
又,前述目視檢查治具還包括,透過有線通信或無線通信接收訊息的有線無線通信部,前述不良檢測板可透過前述有線無線通信部,傳送不良位置訊息。
此外,前述不良檢測板為可觸控辨識之透明材質平板。
另外,前述反射鏡係包括,一投映前述檢查物件的背面顯像,再反射於第二反射鏡的第一反射鏡、一以連結於前述第一反射鏡的方式所形成,而將從前述第一反射鏡所接收之前述檢查物件的背面顯像,投映於前述檢查物件反射領域的第二反射鏡,前述第一反射鏡及前述第二反射鏡,可以相互接觸的面為基準,形成任意視角。
又,前述檢查物件為印刷電路板。
其他本發明之目視檢查系統係包括一目視檢查治具及一檢查伺服器。目視檢查治具包含一檢查物件的安置領域及一檢查物件的反射領域,將反射被承載於前述檢查物件安置領域的檢查物件的背面顯像,投映於前述檢查物件的反射領域,以確認檢查物件不良位置。檢查伺服器分析從前述目視檢查治具所接收的不良位置訊息,以掌握及儲存各檢查物件不良位置座標。
在此,目視檢查治具係包含檢查物件的安置領域及檢查物件的反射領域且包括將檢查物件承載於前述檢查物件的安置領域,而由透明材質形成之一檢驗平板;以及形成於前述檢驗平板的底部,以反射被承載於前述檢查物件安置領域之前述檢查物件的背面顯像,再投映於前述檢查物件之反射領域的反射鏡。
另外,前述檢驗平板還可包括,形成於前述檢查物件的反射領域,透過包含各檢查物件位置訊息在內,而以投影於 前述檢查物件反射領域的檢查物件的背面顯像,辨識使用者所選擇之不良位置的不良檢測板。
此外,前述目視檢查治具還包括,透過有線通信或無線通信接收訊息的有線無線通信部;前述不良檢測板是透過前述有線無線通信部,將不良位置訊息傳送到前述檢查伺服器。
又,前述不良檢測板為可觸控辨識之透明材質平板。
另外,前述反射鏡係包括,一投映前述檢查物件的背面顯像,再反射於第二反射鏡的第一反射鏡、一以連結於前述第一反射鏡的方式所形成,而將從前述第一反射鏡所接收之前述檢查物件的背面顯像,投映於前述檢查物件反射領域的第二反射鏡;前述第一反射鏡及前述第二反射鏡,可以相互接觸的面為基準,形成任意視角。
此外,前述檢查伺服器還可包括,透過有線通信或無線通信接收訊息的有線無線通信部、及分析從前述目視檢查治具所接收之不良位置訊息,以掌握該座標之座標辨識部、及為前述座標辨識部所掌握的不良位置座標、和該檢查物件訊息配對後,儲存於儲存部的不良訊息管理部,以不良位置座標為首,儲存檢查伺服器相關訊息之儲存部。
另外,前述檢查伺服器還可包括,以透過輸出部所輸出的檢查物件的背面顯像,辨識使用者所選擇的不良位置訊息,再傳送到前述座標辨識部的輸入部、及將目視檢查治具上所安置的檢查物件顯像、與該檢查物件的位置訊息配對,以進行輸出之輸出部。
又,前述檢查物件為印刷電路板。
為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下:
10‧‧‧檢查物件
10a‧‧‧檢查物件前面
10b‧‧‧檢查物件背面
20‧‧‧顯微鏡
100‧‧‧目視檢查治具
110‧‧‧檢驗平板
120‧‧‧反射鏡
121‧‧‧第一反射鏡
122‧‧‧第二反射鏡
130‧‧‧不良檢測板
200‧‧‧檢查伺服器
210‧‧‧有線無線通信部
220‧‧‧輸入部
230‧‧‧輸出部
240‧‧‧座標辨識部
250‧‧‧不良訊息管理部
260‧‧‧儲存部
第1圖係依本發明之實施態樣,構成目視檢查治具之圖式。
第2圖係依本發明之實施態樣,構成不良檢測板之詳細圖式。
第3圖依本發明之實施態樣,構成目視檢查系統之詳細圖式。
藉由檢附圖式相關以下詳細說明、及最佳實施態樣更進一步確立本發明目的、特定優點及新特徵;在本說明書之各圖式組成上附加參照編號時需注意,只要是相同組成,即便呈現於不同圖式上,也要便可能標示相同編號:另外,「一面」、「他面」、「第一」、「第二」等用語,是將單一組成用於和其他組成作區別之用,因此並未因前述用語而限定組成;以下說明之本發明,則省略詳細說明有可能未明確本發明要領之相關已知技術。
以下將參照檢附圖式,詳細說明本發明之最佳實施態樣。
<目視檢查治具>
圖1是依本發明之實施態樣,構成目視檢查治具圖式;圖2是依本發明之實施態樣,構成不良檢測板之詳細圖。
承如圖1所示,目視檢查治具100係包含一檢查物件的安置領域及一檢查物件的反射領域且包括將檢查物件10承載檢查物件的安置領域,而由透明材質形成之一檢驗平板110,以及形成於檢驗平板110底部,反射承載於檢查物件安置領域的檢查物件背面10b顯像,以投映檢查物件反射領域的反射鏡120。
在此,承如圖1所示,目視檢查治具100為六面體,而得以讓內部具有包含反射鏡120的形狀,但不限於此。
舉例來說,目視檢查治具100如有包含承載檢查物件10的檢驗平板110以及將承載於檢驗平板110上的檢查物件背面10b的顯像投映於檢驗平板110的反射鏡120,那麼除了上述六面體之外還可具有多種形狀。
另外,檢驗平板110形成於檢查物件的反射領域,還可包括透過包含各檢查物件的位置訊息在內,用投影於檢查物件反射領域的檢查物件背面10b的顯像,辨識使用者所選擇之不良位置的不良檢測板130。
此時,不良檢測板130是可觸控辨識之透明材質平板。
另外,不良檢測板130可在使用者選擇不良位置時,以色調(舉例來說,藍色等)顯示選擇的領域。
舉例來說,如圖2所示之不良檢測板130,為了可辨識使用者所選擇的不良位置而使座標X、Y處於被辨識狀態,座標在透明狀態下有無法用肉眼確認的情況,但不限於此。
又,不良檢測板130可用座標,辨識根據使用者所選擇作為不良領域(圖2之「1」)的位置;此時,正常領域為圖2之「0」。
另外,使用者可用輸入手段(舉例來說,觸控筆等)(未繪示),藉由觸控不良檢測板130的特定領域動作,以檢查不良。
此外,使用者透過如同顯微鏡20般的手段而放大檢查物件10顯像,以檢查不良。
另外,目視檢查治具100還可包括,透過有線通信或無線通信接收訊息的有線無線通信部(未繪示)。
前述不良檢測板130可透過有線無線通信部,傳送不良位置訊息。
此時,可透過有線無線通信部,將不良位置訊息傳送到使用者終端或伺服器等,但不限於此。
另外,反射鏡120可包括,投映檢查物件背面10b顯像後,反射到第二反射鏡122之第一反射鏡121,以及,以連結於第一反射鏡121的方式所形成,而將從第一反射鏡121所接收的檢查物件背面10b顯像,投映於檢查物件反射領域的第二反射鏡122。
又,第一反射鏡121及第二反射鏡122,可以相互接觸面為基準,形成任意視角。
如圖1所示,第一反射鏡121及第二反射鏡122互呈任意視角,而得以投映及傳送檢查物件的背面顯像(圖1箭頭方向);此時,任意視角指的是,第一反射鏡121及第二反射鏡122投映檢查物件的背面顯像後傳送檢查物件的背面顯像,而投映於檢查物件反射領域,所進行任意設定的角度。
另外,檢查物件10可以是印刷電路板,但不限於此。
上述結構的目視檢查治具100,得以在檢驗平板110上,讓檢查物件處於最初承載狀態下,同時檢查檢查物件的正面與背面,無須將檢查物件翻面的過程,而可望發揮事先防止因檢查物件操作不慎,所產生之刮痕等各種不良的效果。
<目視檢查系統>
圖3依本發明之實施態樣,構成目視檢查系統的詳細圖式。
如圖3所示,目視檢查系統300係包含一檢查物件的安置領域及一檢查物件的反射領域,且包括反射被承載於檢查物件安置領域之檢查物件10的背面10b顯像而投映於檢查物件的反射領域,以確認檢查物件不良位置的目視檢查治具100,以及,分析從目視檢查治具100所接收的不良位置訊息,以掌握及儲存各檢查物件不良位置座標的檢查伺服器200。
更詳細加以說明時則是,如圖3所示,目視檢查治具100係包含一檢查物件的安置領域及一檢查物件的反射領域,且包括將檢查物件10承載於檢查物件的安置領域,而由透明材質形成之一檢驗平板110,以及,形成於檢驗平板110底部後,反射被承載於檢查物件安置領域的檢查物件背面10a顯像而投映於檢查物件反射領域的反射鏡120。
另外,檢驗平板110還可包括,形成於檢查物件的反射領域,透過包含各檢查物件位置訊息在內,用投影於檢查物件反射領域的檢查物件背面10b顯像,辨識使用者所選擇之不良位置的不良檢測板130。
此時,不良檢測板130為可觸控辨識之透明材質平板。
舉例來說,如圖2所示,為了可辨識使用者所選擇的不良位置而使座標X、Y處於被辨識狀態,座標在透明狀態下有無法用肉眼確認的情況,但不限於此。
又,不良檢測板130是以座標辨識使用者選擇作為不良領域(圖2之「1」)的位置;此時,正常領域為圖2之「0」。
另外,使用者得以透過顯微鏡20般的手段,放大檢查物件10顯像,以檢查不良。
此外,目視檢查治具100還可包括,透過有線通信或無線通 信接收訊息的有線無線通信部(未繪示)。
前述不良檢測板130可透過有線無線通信部,將不良位置訊息傳送到檢查伺服器200。
此時,可透過有線無線通信部,還可將不良位置訊息傳送到使用者終端。
另外,反射鏡120可包括,投映檢查物件背面10b顯像而反射於第二反射鏡122之第一反射鏡121,以及,以連結於第一反射鏡121的方式所形成而將從第一反射鏡121所接收的檢查物件背面10b顯像,投映於檢查物件反射領域的第二反射鏡122。
又,第一反射鏡121及第二反射鏡122,可以相互接觸面為基準,形成任意視角。
如圖3所示,第一反射鏡121及第二反射鏡122互呈任意視角,而得以投映及傳送檢查物件的背面顯像(圖3箭頭方向);此時,任意視角指的是,第一反射鏡121及第二反射鏡122投映檢查物件的背面顯像而傳送檢查物件的背面顯像,而投映於檢查物件反射領域,所進行任意設定的視角之意。
另一方面,檢查伺服器200可包含,透過有線通信或無線通信接收訊息的有線無線通信部210,以及,分析從目視檢查治具100所接收之不良位置訊息,以掌握該座標之座標辨識部240、及將座標辨識部240所掌握的不良位置座標、與該檢查物件訊息相配對後,儲存於儲存部260的不良訊息管理部250,以及,以不良位置座標為首,儲存檢查伺服器200相關訊息的儲存部260。
另一方面,用檢查物件10背面顯像檢查不良位置時,可不使用檢驗平板110,而是可選擇使用檢查伺服器200。
更詳細說明來說,檢查伺服器200還可包括,透過輸出部230輸出之檢查物件10的背面10b顯像,辨識使用者所選擇的不良位置訊息,再將傳送到座標辨識部240的輸入部220、安置於目視檢查治具100的檢查物件10顯像,以及,該檢查物件位置訊息進行配對而進行輸出的輸出部230。
在此,輸出部230在接收到透過有線無線通信部210所傳送之承載於檢驗平板110的檢查物件背面顯像時,將此顯示為可由使用者進行確認的樣子;此時,輸出部230則連同檢查物件的背面顯像,從儲存部260輸出檢查物件位置訊息。
因此,儲存部260便事先儲存各檢查物件的位置訊息。
另外,目視檢查治具100還可包括,將承載於檢驗平板110的檢查物件10顯像,傳送到檢查伺服器200的拍攝手段(未繪示);此時,拍攝手段可進行有線無線兩用通信,以將透過有線無線兩用通信所拍攝的檢查物件背面10b顯像,傳送到檢查伺服器200。
另一方面,輸出部230除了可輸出上述檢查物件的背面顯像,還可輸出檢查伺服器200相關訊息。
另外,輸入部220用透過輸出部230顯示之檢查物件背面顯像的輸入手段(例如,滑鼠、觸控筆等)(未繪示),辨識使用者所選擇的不良位置訊息後,將不良位置訊息傳送到座標辨識部240。
另外,輸入部220不僅能辨識上述不良位置訊息,還可輸入檢查伺服器200相關訊息。
另外,檢查物件10得以是印刷電路板,但不限於此。
以上已基於具體實施態樣詳細說明本發明,此為具體說明本發明,但本發明並未局限於此,只要是對於相關領域具備通識知識者,即可在本發明之技術思想內進行變形與改良。
本發明之單純變形乃至變更,皆屬本發明之所屬領域,且檢附之申請專利範圍,亦可明確出本發明的具體保護範圍。
藉由本發明之實施態樣相關目視檢查治具及使用此治具之目視檢查系統,得以讓檢查物件在檢驗平板上維持最初承載的狀態下,檢查檢查物件的正面與背面,而省略檢查物件的翻面過程,可望藉此發揮事先防止因此所產生之不良的效果。
另外,因藉由本發明實施態樣所投影之檢查物件顯像的特定位置選擇過程以檢查不良,而具有容易檢出檢查物件不良位置的優點。
綜上所述,雖然本發明已以較佳實施例揭露如上, 然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾。因此,本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧檢查物件
10a‧‧‧檢查物件前面
10b‧‧‧檢查物件背面
20‧‧‧顯微鏡
100‧‧‧目視檢查治具
110‧‧‧檢驗平板
120‧‧‧反射鏡
121‧‧‧第一反射鏡
122‧‧‧第二反射鏡
130‧‧‧不良檢測板

Claims (15)

  1. 一種目視檢查治具,包括:一檢驗平板,包含一檢查物件安置領域及一檢查物件反射領域,將檢查物件承載於該檢查物件安置領域,且由透明材質所形成;以及一反射鏡,形成於該檢驗平板底部,以反射被承載於該檢查物件安置領域之該檢查物件的背面的顯像,而投映於該檢查物件反射領域。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之目視檢查治具,其中該檢驗平板還包括:一不良檢測板,形成於該檢查物件反射領域,透過包含各該檢查物件的位置訊息,而以投影於該檢查物件反射領域的檢查物件的背面的顯像,辨識使用者所選擇之不良位置。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之目視檢查治具,更包括:一有線無線通信部,透過有線通信或無線通信接收訊息;其中,該不良檢測板透過該有線無線通信部,傳送不良位置訊息。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之目視檢查治具,其中該不良檢測板為可觸控辨識之透明材質平板。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之目視檢查治具,其中該反射鏡包含:一第一反射鏡,投映該檢查物件的背面的顯像,而反射於第二反射鏡;該第二反射鏡以連結於該第一反射鏡的方式所形成,而將從該第一反射鏡所接收之該檢查物件的背面的顯像,投映於該檢查物件反射領域; 該第一反射鏡及該第二反射鏡,則以相互接觸的面為基準,形成任意視角。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之目視檢查治具,其中該檢查物件為印刷電路板。
  7. 一種目視檢查系統,包括:一目視檢查治具,包含一檢查物件安置領域及一檢查物件反射領域,且反射被承載於該檢查物件安置領域的檢查物件的背面顯像,而投映於該檢查物件反射領域,進而確認檢查物件不良位置;以及一檢查伺服器,分析從該目視檢查治具所接收的不良位置訊息,而掌握及儲存各該檢查物件不良位置座標。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之目視檢查系統,其中該目視檢查治具包括:一檢驗平板,包含該檢查物件安置領域及該檢查物件反射領域,且將檢查物件承載於該檢查物件安置領域,而由透明材質形成;以及一反射鏡,形成於該檢驗平板底部,以反射被承載於該檢查物件安置領域之該檢查物件的背面的顯像,而投映於該檢查物件反射領域。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之目視檢查系統,其中該檢驗平板包括:一不良檢測板,形成於該檢查物件反射領域,透過包含各該檢查物件位置訊息,而以投影於該檢查物件反射領域的檢查物件的背面的顯像,辨識使用者所選擇之不良位置。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之目視檢查系統,其中該目 視檢查治具更包括:一有線無線通信部,透過有線通信或無線通信接收訊息;該不良檢測板是透過該有線無線通信部,將不良位置訊息傳送到該檢查伺服器。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之目視檢查系統,其中該不良檢測板為可觸控辨識之透明材質平板。
  12. 如申請專利範圍第8項所述之目視檢查系統,其中該反射鏡係包括:一第一反射鏡,投映該檢查物件的背面顯像,再反射於第二反射鏡;該第二反射鏡,以連結於該第一反射鏡的方式所形成,而將從該第一反射鏡所接收之該檢查物件的背面的顯像,投映於該檢查物件反射領域;該第一反射鏡及該第二反射鏡以相互接觸的面為基準,形成任意視角。
  13. 如申請專利範圍第7項所述之目視檢查系統,其中該檢查伺服器係包括:一有線無線通信部,透過有線通信或無線通信接收訊息;一座標辨識部,分析從該目視檢查治具所接收之不良位置訊息,以掌握該座標;一不良訊息管理部,將該座標辨識部所掌握的不良位置座標與該檢查物件訊息後,儲存於儲存部;以及一儲存部,以不良位置座標為首,儲存檢查伺服器相關訊息。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之目視檢查系統,其中該檢查伺服器還包括:一輸入部,以透過輸出部所輸出的檢查物件的背面顯像,辨 識使用者所選擇的不良位置訊息,而傳送到該座標辨識部;以及一輸出部,將該目視檢查治具上所安置的檢查物件顯像、與該檢查物件的位置訊息配對,以進行輸出。
  15. 如申請專利範圍第7項所述之目視檢查系統,其中該檢查物件為印刷電路板。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10488346B2 (en) 2015-08-26 2019-11-26 Abb Schweiz Ag Object multi-perspective inspection apparatus and method therefor

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103776833A (zh) * 2013-11-13 2014-05-07 浙江吉利控股集团有限公司 带有一体式回转及升降功能的检验平台
CN108318504A (zh) * 2018-02-12 2018-07-24 京东方科技集团股份有限公司 显示面板中不良位置检测装置和检测方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5456771U (zh) * 1977-09-29 1979-04-19
JPS5530807U (zh) * 1978-06-19 1980-02-28
JPH06273339A (ja) * 1993-03-19 1994-09-30 N T T Data Tsushin Kk 外観検査装置
KR200156139Y1 (ko) 1996-07-16 1999-10-01 구본준 반도체 웨이퍼 검사장치
JP2001350586A (ja) 2000-06-09 2001-12-21 Keio Gijuku 位置入力装置
KR100512127B1 (ko) * 2002-11-20 2005-09-02 주식회사 메디코아 부품실장회로기판 검사용 비젼시스템의 광학장치
WO2005083398A1 (ja) * 2004-02-27 2005-09-09 Technical Co.,Ltd. 多方向同時観察光学系、画像読み取り装置、画像読み取り方法および多方向同時観察光学系複合体
JP2005337786A (ja) * 2004-05-25 2005-12-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板検査装置およびその方法
JP2006038596A (ja) * 2004-07-26 2006-02-09 Sumitomo Metal Micro Devices Inc 検査方法及び検査支援システム
JP2006184019A (ja) * 2004-12-24 2006-07-13 Saki Corp:Kk 外観検査装置
TWI330393B (en) * 2007-03-16 2010-09-11 Orient Semiconductor Elect Ltd Apparatus for inspecting substrate

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10488346B2 (en) 2015-08-26 2019-11-26 Abb Schweiz Ag Object multi-perspective inspection apparatus and method therefor
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