CN108318504A - 显示面板中不良位置检测装置和检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示面板中不良位置检测装置和检测方法,所述装置包括:设置于目视检测装置的目视检测平台上方、且与所述目视检测平台同步转动的投影机,以及与所述投影机通讯的投影控制终端;其中,所述投影控制终端用于将第一画面发送至所述投影机,由所述投影机将第一画面投影到所述目视检测平台上放置的显示面板;其中,第一画面包括覆盖所述显示面板的X‑Y全屏坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。应用本发明可以对不良位置进行精确、高效率检测判定,有助于更快确定不良产生原因以便快速解决不良问题提高产能。
Description
技术领域
本发明涉及显示设备检测技术领域,特别是指一种显示面板中不良位置检测装置和检测方法。
背景技术
在显示器件制造工艺中,玻璃基板成盒之后形成未经切割的包括多个显示屏的显示面板。在显示面板的生产过程中,由于各种不可控因素,会出现一些有不良的显示面板。
而检测人员可以通过目视检查装置检测所述显示面板上的不良位置并记录结果。目前,大多数目视检查装置在人员检测出不良后,需要人工对照待测显示面板来确定不良位置以及对应的不良显示屏的ID(Identity,身份标识)信息。此外,大多数目视检查装置在人员检测到显示面板上存在不良时也无法自动确定显示面板上的不良位置,如果需要确定不良的具体位置需要通过人工测量并记录;而人工测量不仅工作效率非常低下,而且精确性低容易出现测量统计错误。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提出一种显示面板中不良位置检测装置和检测方法,对不良位置进行精确、高效率检测判定,有助于更快确定不良产生原因以便快速解决不良问题提高产能。
基于上述目的本发明提供一种显示面板中不良位置检测装置,用于检测置于目视检测装置上的显示面板的不良位置,其包括:
设置于所述目视检测装置的目视检测平台上方、且与所述目视检测平台同步转动的投影机,以及与所述投影机通讯的投影控制终端;其中,
所述投影控制终端用于将第一画面发送至所述投影机,由所述投影机将第一画面投影到所述目视检测平台上放置的显示面板;其中,第一画面包括覆盖所述显示面板的X-Y全屏坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。
进一步,所述投影控制终端还用于在发送第一画面至所述投影机后,将X参考线与Y参考线的交点于所述X-Y全屏坐标系中的坐标,作为不良位置的全屏坐标进行记录;并将所述不良位置的全屏坐标,与所述显示面板流经设备的接触点进行匹配;根据匹配的接触点确定产生所述不良的设备。
进一步,所述投影控制终端还用于在记录所述不良位置的全屏坐标后,根据所述全屏坐标确定所述不良位置所在的显示屏,以及该显示屏的标识。
进一步,所述投影控制终端还用于接收到切换指令后,将第二画面发送至所述投影机;其中,第二画面包括分别覆盖所述显示面板的各显示屏的多个X-Y子坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。
进一步,所述投影控制终端还用于在发送第二画面至所述投影机后,将X参考线与Y参考线的交点在该显示屏的X-Y子坐标系中的坐标,作为所述不良位置在该显示屏中的坐标进行记录;并将所述不良位置所在的显示屏的标识,以及所述不良位置在该显示屏中的坐标上传至显示屏检测设备。
本发明还提供一种显示面板中不良位置检测方法,包括:
投影控制终端将第一画面发送至投影机;
所述投影机将第一画面投影到目视检测平台上放置的显示面板上;
其中,第一画面包括覆盖所述显示面板的X-Y全屏坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。
进一步,所述方法还包括:
所述投影控制终端将X参考线与Y参考线的交点于所述X-Y全屏坐标系中的坐标,作为不良位置的全屏坐标进行记录;并
将所述不良位置的全屏坐标,与所述显示面板流经设备的接触点进行匹配;根据匹配的接触点确定产生所述不良的设备。
进一步,在所述投影控制终端将X参考线与Y参考线的交点于所述X-Y全屏坐标系中的坐标,作为不良位置的全屏坐标进行记录后,还包括:
所述投影控制终端根据所述全屏坐标确定所述不良位置所在的显示屏,以及该显示屏的标识。
进一步,在所述确定所述不良位置所在的显示屏,以及该显示屏的标识后,还包括:
所述投影控制终端根据接收到的切换指令,将第二画面发送至所述投影机;其中,第二画面包括若干X-Y子坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线;所述若干X-Y子坐标系分别覆盖所述显示面板的各显示屏;
所述投影控制终端将X参考线与Y参考线的交点在该显示屏的X-Y子坐标系中的坐标,作为所述不良位置在该显示屏中的坐标进行记录;并将所述不良位置所在的显示屏的标识,以及所述不良位置在该显示屏中的坐标上传至显示屏检测设备。
本发明实施例的技术方案中,利用投影机将包括X-Y全屏坐标系,以及交点调整至面板不良位置的X参考线与Y参考线的画面投影至显示面板上;这样,可以方便读取X参考线与Y参考线的交点在X-Y全屏坐标系中的坐标,实现对不良位置进行精确、高效率检测判定,有助于更快确定不良产生原因以便快速解决不良问题提高产能。
更优地,本发明实施例的技术方案中,在精确确定不良位置的全屏坐标后,还可将所述不良位置的全屏坐标,与显示面板流经设备的接触点进行匹配;根据匹配的接触点确定产生所述显示面板不良的设备,从而快速排查不良原因,使得产线流片可以快速恢复正常以提高产能。
更优地,本发明实施例的技术方案中,在精确确定不良位置的全屏坐标后,还可投影包括若干X-Y子坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线的第二画面,从而确定不良在显示屏中的坐标;将不良在显示屏中的坐标上传至CT(显示屏检测设备),CT根据上传的坐标对不良进行Mark,便于工作人员快速查找不良,提高CT效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种显示面板中不良位置检测装置的结构示意图;
图2为本发明实施例提供的投影到显示面板上的一种画面示意图;
图3为本发明实施例提供的投影到显示面板上的第二画面示意图;
图4为本发明实施例提供的一种显示面板中不良位置检测方法流程图;
图5为本发明实施例提供的显示屏中Mark不良的示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能解释为对本发明的限制。
本技术领域技术人员可以理解,除非特意声明,这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是,当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时,它可以直接连接或耦接到其他元件,或者也可以存在中间元件。此外,这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
需要说明的是,本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量,可见“第一”“第二”仅为了表述的方便,不应理解为对本发明实施例的限定,后续实施例对此不再一一说明。
本发明的技术方案中,在目视检测装置的目视检测平台上方,设置与所述目视检测平台同步转动的投影机;当检测人员检测到显示面板上的不良后,与投影机通讯的投影控制终端将包括X-Y全屏坐标系和X、Y参考线的第一画面发送至所述投影机,由投影机将第一画面投影到目视检测平台上放置的显示面板上。这样,在显示面板上覆盖了X-Y全屏坐标系后,检测人员可以通过调整X、Y参考线的位置,将X参考线与Y参考线的交点调整至面板不良位置,从而可以方便读取X参考线与Y参考线的交点在X-Y全屏坐标系中的坐标,实现对不良位置进行精确、高效率检测判定,有助于更快确定不良产生原因以便快速解决不良问题提高产能。
下面结合附图详细说明本发明实施例的技术方案。
本发明实施例提供的一种显示面板中不良位置检测装置,用于检测置于目视检测装置上的显示面板的不良位置,如图1所示,包括:设置于目视检测装置的目视检测平台101上方、且与目视检测平台101同步转动的投影机102,以及与投影机102通讯的投影控制终端103。
其中,与目视检测平台101同步转动的投影机102的转动弧度L=θ×r,其中,θ为显示面板的转动角度,r为投影机与显示面板之间的距离。
投影控制终端103可以无线或有线的方式与投影机102通讯,并将画面发送至投影机102,由投影机102将画面投影到目视检测平台101上放置的显示面板104。
如图2所示,投影控制终端103发送的画面可以包括覆盖显示面板104的X-Y全屏坐标系,以及X参考线与Y参考线。其中,X-Y全屏坐标系中的X轴与Y轴分别与显示面板相邻的两个侧边平行;而X、Y参考线分别与X-Y全屏坐标系中的X、Y轴平行。检测人员可以通过投影控制终端103调整X、Y参考线的位置,控制投影控制终端103将X、Y参考线的交点调整至所述面板不良位置处,从而形成包括覆盖显示面板104的X-Y全屏坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线的第一画面;投影控制终端103将第一画面发送至所述投影机,由所述投影机将第一画面投影到所述目视检测平台上放置的显示面板上。
进一步,投影控制终端103还可在发送第一画面至所述投影机102后,将X参考线与Y参考线的交点于所述X-Y全屏坐标系中的坐标,作为不良位置的全屏坐标进行记录;并将所述不良位置的全屏坐标,与显示面板104流经设备的接触点进行匹配;根据匹配的接触点确定产生所述不良的设备。
投影控制终端103还可在记录所述不良位置的全屏坐标后,根据所述全屏坐标确定所述不良位置所在的显示屏(Panel),以及该显示屏的标识(Panel ID)。
进一步,投影控制终端103还可在接收到切换指令后,将第二画面发送至所述投影机。
如图3所示,第二画面包括分别覆盖显示面板104的各显示屏的多个X-Y子坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。也就是说,对于显示面板104的每个显示屏而言,均有一个覆盖该显示屏的X-Y子坐标系,该X-Y子坐标系的X轴与Y轴分别与该显示屏相邻的两个侧边平行;X、Y参考线分别与X-Y子坐标系中的X、Y轴平行。
投影控制终端103还用于在发送第二画面至所述投影机后,将X参考线与Y参考线的交点在该显示屏的X-Y子坐标系中的坐标,作为所述不良位置在该显示屏中的坐标进行记录;并将所述不良位置的全屏坐标、所述不良位置所在的显示屏、该显示屏的标识,以及所述不良位置在该显示屏中的坐标上传至CT(显示屏检测设备)。
进一步,目视检测平台101上可以标识有对位标记,而相应地,上述第一画面或第二画面中也可包括对应的对位标记,用以与所述目视检测平台上的对位标记匹配;以便于检测人员根据目视检测平台101上的对位标记和画面中的对位标记的相对位置微调投影机的位置,使得画面投影到适合位置。
将显示面板置于目视检测装置的目视检测平台101上后,若检测人员发现显示面板上的不良,则基于上述的显示面板中不良位置检测装置,本发明实施例提供的显示面板中不良位置检测方法的具体流程,如图4所示,包括如下步骤:
S401:投影控制终端103投影控制终端将第一画面发送至投影机102。
具体地,检测人员在发现显示面板上的不良后,向投影控制终端103输入开始指令;投影控制终端103根据接收的开始指令,将包括覆盖显示面板104的X-Y全屏坐标系,以及X参考线与Y参考线的画面发送至所述投影机102;由投影机102将画面投影到放置于目视检测装置的目视检测平台上的显示面板。
之后,检测人员可以向投影控制终端103输入X参考线与Y参考线的位置调整信息,比如,通过鼠标拖拽方式输入X参考线或Y参考线的位置调整信息,使得投影控制终端103根据输入的位置调整信息,将X参考线与Y参考线的交点调整至所述显示面板不良位置处;从而形成了包括覆盖所述显示面板的X-Y全屏坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线的第一画面;投影控制终端103将第一画面发送至投影机102。
S402:投影机102将第一画面投影到目视检测平台上放置的显示面板上。
由于投影在显示面板上的第一画面中,X、Y参考线的交点在X-Y全屏坐标系中的坐标,即反映了显示面板不良位置的坐标,可直接读取。从而避免了人工测量的操作过程,也就解决了由人工测量导致的工作效率低,精确性低容易出现测量统计错误的问题,实现不良位置进行精确、高效率检测判定。
更优地,在精确确定不良位置的坐标后,还可通过以下步骤S403更快确定不良产生原因以便快速解决不良问题提高产能。
S403:投影控制终端103将所述X-Y全屏坐标系中X参考线与Y参考线的交点的坐标,作为不良位置的全屏坐标进行记录;并根据不良位置的全屏坐标,确定不良产生原因。
具体地,在检测人员向投影控制终端103输入X参考线与Y参考线的位置调整信息,使得投影控制终端103根据输入的位置调整信息,将X参考线与Y参考线的交点调整至所述显示面板不良位置处后,检测人员向投影控制终端103输入确认信息。投影控制终端103在接收到确认信息后,将X参考线与Y参考线的交点在所述X-Y全屏坐标系中的当前坐标作为不良位置的全屏坐标进行记录;
对于划伤类不良,检测人员向投影控制终端103输入X参考线与Y参考线的位置调整信息,使得投影控制终端103将X、Y参考线的交点调整至所述显示面板划伤类不良的一端位置处后,检测人员向投影控制终端103输入起点确认信息;投影控制终端103将X、Y参考线的交点调整至所述显示面板划伤类不良的另一端位置处后,检测人员向投影控制终端103输入终点确认信息;从而得到划伤类不良的位置的全屏坐标。
进而,投影控制终端103将所述不良位置的全屏坐标,与所述显示面板流经设备的接触点进行匹配;具体地,投影控制终端103根据不良位置的全屏坐标生成Mapping,即不良位置在显示面板上的分布点位图。对于具有多处不良的显示面板,生成的Mapping中即有多处不良位置的分布点位。投影控制终端103将Mapping中不良位置的分布点位与所述显示面板流经设备的接触点进行匹配;根据匹配的接触点确定产生所述显示面板不良的设备,从而快速排查不良原因,使得产线流片可以快速恢复正常以提高产能。
更优地,在精确确定不良位置的全屏坐标后,还可通过以下步骤进而确定不良所在显示屏(Panel),该显示屏的ID,以及通过投影第二画面确定所述不良在该显示屏中的坐标等信息;并将这些信息上传至CT以便其快速查找不良,提高CT效率。
S404:投影控制终端103根据所述全屏坐标确定所述不良位置所在的显示屏,进而确定该显示屏的标识。
S405:投影控制终端103根据接收到的切换指令,将第二画面发送至所述投影机102。
具体地,检测人员向投影控制终端103输入切换指令;投影控制终端103根据接收到的切换指令,将第二画面发送至所述投影机102。其中,第二画面包括若干X-Y子坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线;所述若干X-Y子坐标系分别覆盖所述显示面板的各显示屏。
S406:投影控制终端103将X参考线与Y参考线的交点在该显示屏的X-Y子坐标系中的坐标,作为所述不良位置在该显示屏中的坐标进行记录。
本步骤中,检测人员也可以向投影控制终端103输入X参考线与Y参考线的位置调整信息,使得投影控制终端103根据输入的位置调整信息,将X参考线与Y参考线的交点调整至所述显示面板不良位置处;进而,检测人员向投影控制终端103输入确认信息。投影控制终端103在接收到确认信息后,将X参考线与Y参考线的交点在其中一个显示屏的X-Y子坐标系中的当前坐标,作为不良位置在该显示屏中的坐标进行记录。
对于一个显示屏中的划伤类不良,检测人员向投影控制终端103输入X参考线与Y参考线的位置调整信息,使得投影控制终端103将X、Y参考线的交点调整至该显示屏中划伤类不良的一端后,检测人员向投影控制终端103输入起点确认信息;投影控制终端103将X、Y参考线的交点调整至显示屏中划伤类不良的另一端后,检测人员向投影控制终端103输入终点确认信息;从而得到划伤类不良的在该显示屏的X-Y子坐标系中的坐标。
S407:投影控制终端103将所述不良位置所在的显示屏的ID(标识),以及所述不良位置在该显示屏中的坐标上传至CT。
例如,显示面板的ID为XXX,其上六个Panel的ID分别为XXX11,XXX12,XXX13,XXX21,XXX22,XXX23;
投影控制终端103在确定不良位置所在的显示屏的ID后,在该显示屏的信息中备注详细信息(不良类型和不良位置在该显示屏中的坐标),CT点灯时检查员可根据备注信息优先查找该坐标附近的不良情况,快速判定不良等级,同时可根据不同检测设备不良备注信息进行对比,提高判级的准确性。
进一步,投影控制终端103将所述不良位置所在的显示屏的ID(标识),以及所述不良位置在该显示屏中的坐标上传至CT后,CT可以基于上传的坐标,将显示屏中的不良标注(Mark)出来,便于CT工作人员检出。例如,如图5所示,ID为XXX11,以及ID为XXX22的显示屏由CT将其中不良进行了标注;这样便于工作人员快速查找不良,提高CT效率。
本发明实施例的技术方案中,利用投影机将包括X-Y全屏坐标系,以及交点调整至面板不良位置的X参考线与Y参考线的画面投影至显示面板上;这样,可以方便读取X参考线与Y参考线的交点在X-Y全屏坐标系中的坐标,实现对不良位置进行精确、高效率检测判定,有助于更快确定不良产生原因以便快速解决不良问题提高产能。
更优地,本发明实施例的技术方案中,在精确确定不良位置的全屏坐标后,还可将所述不良位置的全屏坐标,与显示面板流经设备的接触点进行匹配;根据匹配的接触点确定产生所述显示面板不良的设备,从而快速排查不良原因,使得产线流片可以快速恢复正常以提高产能。
更优地,本发明实施例的技术方案中,在精确确定不良位置的全屏坐标后,还可投影包括若干X-Y子坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线的第二画面,从而确定不良在显示屏中的坐标;将不良在显示屏中的坐标上传至CT,CT根据上传的坐标对不良进行Mark,便于工作人员快速查找不良,提高CT效率。
本技术领域技术人员可以理解,本发明包括涉及用于执行本申请中所述操作中的一项或多项的设备。这些设备可以为所需的目的而专门设计和制造,或者也可以包括通用计算机中的已知设备。这些设备具有存储在其内的计算机程序,这些计算机程序选择性地激活或重构。这样的计算机程序可以被存储在设备(例如,计算机)可读介质中或者存储在适于存储电子指令并分别耦联到总线的任何类型的介质中,所述计算机可读介质包括但不限于任何类型的盘(包括软盘、硬盘、光盘、CD-ROM、和磁光盘)、ROM(Read-Only Memory,只读存储器)、RAM(Random Access Memory,随即存储器)、EPROM(Erasable ProgrammableRead-Only Memory,可擦写可编程只读存储器)、EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read-Only Memory,电可擦可编程只读存储器)、闪存、磁性卡片或光线卡片。也就是,可读介质包括由设备(例如,计算机)以能够读的形式存储或传输信息的任何介质。
本技术领域技术人员可以理解,可以用计算机程序指令来实现这些结构图和/或框图和/或流图中的每个框以及这些结构图和/或框图和/或流图中的框的组合。本技术领域技术人员可以理解,可以将这些计算机程序指令提供给通用计算机、专业计算机或其他可编程数据处理方法的处理器来实现,从而通过计算机或其他可编程数据处理方法的处理器来执行本发明公开的结构图和/或框图和/或流图的框或多个框中指定的方案。
本技术领域技术人员可以理解,本发明中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案可以被交替、更改、组合或删除。进一步地,具有本发明中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的其他步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。进一步地,现有技术中的具有与本发明中公开的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。
所属领域的普通技术人员应当理解:以上任何实施例的讨论仅为示例性的,并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子;在本发明的思路下,以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合,步骤可以以任意顺序实现,并存在如上所述的本发明的不同方面的许多其它变化,为了简明它们没有在细节中提供。因此,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何省略、修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种显示面板中不良位置检测装置,用于检测置于目视检测装置上的显示面板的不良位置,其特征在于,包括:
设置于所述目视检测装置的目视检测平台上方、且与所述目视检测平台同步转动的投影机,以及与所述投影机通讯的投影控制终端;其中,
所述投影控制终端用于将第一画面发送至所述投影机,由所述投影机将第一画面投影到所述目视检测平台上放置的显示面板;其中,第一画面包括覆盖所述显示面板的X-Y全屏坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述投影控制终端还用于在发送第一画面至所述投影机后,将X参考线与Y参考线的交点于所述X-Y全屏坐标系中的坐标,作为不良位置的全屏坐标进行记录;并将所述不良位置的全屏坐标,与所述显示面板流经设备的接触点进行匹配;根据匹配的接触点确定产生所述不良的设备。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,
所述投影控制终端还用于在记录所述不良位置的全屏坐标后,根据所述全屏坐标确定所述不良位置所在的显示屏,以及该显示屏的标识。
4.根据权利要求1-3任一所述的装置,其特征在于,
所述投影控制终端还用于接收到切换指令后,将第二画面发送至所述投影机;其中,第二画面包括分别覆盖所述显示面板的各显示屏的多个X-Y子坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,
所述投影控制终端还用于在发送第二画面至所述投影机后,将X参考线与Y参考线的交点在该显示屏的X-Y子坐标系中的坐标,作为所述不良位置在该显示屏中的坐标进行记录;并将所述不良位置所在的显示屏的标识,以及所述不良位置在该显示屏中的坐标上传至显示屏检测设备。
6.根据权利要求1-5任一所述的装置,其特征在于,所述目视检测平台上标识有对位标记,以及所述第一画面中还包括对位标记,用以与所述目视检测平台上的对位标记匹配。
7.一种显示面板中不良位置检测方法,其特征在于,包括:
投影控制终端将第一画面发送至投影机;
所述投影机将第一画面投影到目视检测平台上放置的显示面板上;
其中,第一画面包括覆盖所述显示面板的X-Y全屏坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,还包括:
所述投影控制终端将X参考线与Y参考线的交点于所述X-Y全屏坐标系中的坐标,作为不良位置的全屏坐标进行记录;并
将所述不良位置的全屏坐标,与所述显示面板流经设备的接触点进行匹配;根据匹配的接触点确定产生所述不良的设备。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,在所述投影控制终端将X参考线与Y参考线的交点于所述X-Y全屏坐标系中的坐标,作为不良位置的全屏坐标进行记录后,还包括:
所述投影控制终端根据所述全屏坐标确定所述不良位置所在的显示屏,以及该显示屏的标识。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,在所述确定所述不良位置所在的显示屏,以及该显示屏的标识后,还包括:
所述投影控制终端根据接收到的切换指令,将第二画面发送至所述投影机;其中,第二画面包括若干X-Y子坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线;所述若干X-Y子坐标系分别覆盖所述显示面板的各显示屏;
所述投影控制终端将X参考线与Y参考线的交点在该显示屏的X-Y子坐标系中的坐标,作为所述不良位置在该显示屏中的坐标进行记录;并将所述不良位置所在的显示屏的标识,以及所述不良位置在该显示屏中的坐标上传至显示屏检测设备。
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