JP2013101118A - 目視検査治具及びこれを用いた目視検査システム - Google Patents

目視検査治具及びこれを用いた目視検査システム Download PDF

Info

Publication number
JP2013101118A
JP2013101118A JP2012244261A JP2012244261A JP2013101118A JP 2013101118 A JP2013101118 A JP 2013101118A JP 2012244261 A JP2012244261 A JP 2012244261A JP 2012244261 A JP2012244261 A JP 2012244261A JP 2013101118 A JP2013101118 A JP 2013101118A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
inspection object
image
reflecting mirror
visual inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012244261A
Other languages
English (en)
Inventor
Jon Cheol Li
チョル リ,ジョン
Seung Ho Jeon
ホ ジョン,ション
Jin Il Jeong
イル ジョン,ジン
Han Seo Cho
ショ チョ,ハン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electro Mechanics Co Ltd filed Critical Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Publication of JP2013101118A publication Critical patent/JP2013101118A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

【課題】検査対象を裏返す過程を省略することができ、これにより生じ得る不良を予め防止することができるとともに、検査対象の不良位置を容易に検出することができる目視検査治具及びこれを用いた目視検査システムを提供する。
【解決手段】本発明による目視検査治具100は、検査対象の配置領域及び検査対象の反射領域を含み、前記検査対象の配置領域に検査対象10を載置し、透明材質で形成された検査プレート110と、検査プレート110の下部に形成され、前記検査対象の配置領域に載置された検査対象の後面10bの像を反射して前記検査対象の反射領域に投映する反射鏡120と、を含むものである。
【選択図】図1

Description

本発明は、目視検査治具及びこれを用いた目視検査システムに関する。
プリント回路基板は、特許文献1に開示しているように、電気的な連結状態を検査したり、または、生産工程中に生じ得るスクラッチなどの破損を検査するなど様々な検査を行う。
一方、プリント回路基板の表面上に生じるスクラッチなどの微細な不良などは、作業者が直接、目視検査により検査している。
通常、プリント回路基板を検査台上に載置し、前面を検査してから裏返してプリント回路基板の後面を検査するが、この際、作業者の取り扱い不注意によってさらに不良が発生する場合が時々発生する。
韓国公開特許第10−2010−0022624号公報
本発明は、上述した従来技術の問題点を解決するためのものであり、本発明の目的は、目視検査を行う際、検査対象を最初に載置した状態のまま前面と後面を検査できるようにする目視検査治具及びこれを用いた目視検査システムを提供することにある。
本発明の実施例による目視検査治具は、検査対象の配置領域及び検査対象の反射領域を含み、前記検査対象の配置領域に検査対象を載置し、透明材質で形成された検査プレートと、前記検査プレートの下部に形成され、前記検査対象の配置領域に載置された前記検査対象の後面の像を反射して前記検査対象の反射領域に投映する反射鏡と、を含むものである。
ここで、前記検査プレートは、前記検査対象の反射領域に形成され、検査対象ごとの位置情報を含んで前記検査対象の反射領域に投影された検査対象の後面の像でユーザによって選択された不良位置を認識する不良チェックプレートをさらに含むことが好ましい。
また、前記目視検査治具は、有線通信または無線通信を介して情報を送受信する有無線通信部をさらに含み、前記不良チェックプレートは、不良位置情報を前記有無線通信部を介して送出することが好ましい。
また、前記不良チェックプレートは、タッチ認識が可能な透明材質のプレートであることが好ましい。
また、前記反射鏡は、前記検査対象の後面の像を投映して第2反射鏡に反射する第1反射鏡と、前記第1反射鏡に連結されるように形成され、前記第1反射鏡から受信した前記検査対象の後面の像を前記検査対象の反射領域に投映する第2反射鏡と、を含み、前記第1反射鏡及び前記第2反射鏡は、互いに接する面を基準に任意の角を成すことが好ましい。
また、前記検査対象は、プリント回路基板であることが好ましい。
他の本発明の目視検査システムは、検査対象の配置領域及び検査対象の反射領域を含み、前記検査対象の配置領域に載置された検査対象の後面の像を反射して前記検査対象の反射領域に投映し、検査対象の不良位置をチェックする目視検査治具と、前記目視検査治具から受信した不良位置情報を分析して検査対象ごとの不良位置座標を把握及び保存する検査サーバと、を含むものである。
ここで、目視検査治具は、検査対象の配置領域及び検査対象の反射領域を含み、前記検査対象の配置領域に検査対象を載置し、透明材質で形成された検査プレートと、前記検査プレートの下部に形成され、前記検査対象の配置領域に載置された前記検査対象の後面の像を反射して前記検査対象の反射領域に投映する反射鏡と、を含むことが好ましい。
また、前記検査プレートは、前記検査対象の反射領域に形成され、検査対象ごとの位置情報を含んで前記検査対象の反射領域に投影された検査対象の後面の像でユーザによって選択された不良位置を認識する不良チェックプレートをさらに含むことが好ましい。
また、前記目視検査治具は、有線通信または無線通信を介して情報を送受信する有無線通信部をさらに含み、前記不良チェックプレートは、不良位置情報を前記有無線通信部を介して前記検査サーバに送出することが好ましい。
また、前記不良チェックプレートは、タッチ認識が可能な透明材質のプレートであることが好ましい。
また、前記反射鏡は、前記検査対象の後面の像を投映して第2反射鏡に反射する第1反射鏡と、前記第1反射鏡に連結されるように形成され、前記第1反射鏡から受信した前記検査対象の後面の像を前記検査対象の反射領域に投映する第2反射鏡と、を含み、前記第1反射鏡及び前記第2反射鏡は、互いに接する面を基準に任意の角を成すことが好ましい。
また、前記検査サーバは、有線通信または無線通信を介して情報を送受信する有無線通信部と、前記目視検査治具から受信した不良位置情報を分析し、該座標を把握する座標認識部と、前記座標認識部で把握した不良位置座標と、該検査対象情報とをマッチングして保存部に保存する不良情報管理部と、不良位置座標をはじめ、検査サーバに係る情報を保存する保存部と、を含むことが好ましい。
また、前記検査サーバは、出力部を介して出力された検査対象の後面の像でユーザによって選択された不良位置情報を認識して前記座標認識部に伝送する入力部と、目視検査治具上に配置された検査対象の像と、該検査対象の位置情報とをマッチングして出力する出力部と、をさらに含むことが好ましい。
また、前記検査対象は、プリント回路基板であることが好ましい。
本発明の実施例に係る目視検査治具及びこれを用いた目視検査システムによると、検査プレート上に検査対象を最初に載置した状態のまま検査対象の前面と後面を検査することができるため、検査対象を裏返す過程を省略することができ、これにより生じ得る不良を予め防止することができるという効果が期待できる。
また、本発明の実施例によると、投影された検査対象の像の特定位置を選択する過程により不良をチェックするため、検査対象の不良位置を容易に検出することができるという利点がある。
本発明の実施例による目視検査治具の構成を示す図面である。 本発明の実施例による不良チェックプレートの構成を詳細に示す図面である。 本発明の実施例による目視検査システムの構成を詳細に示す図面である。
本発明の目的、特定の利点及び新規の特徴は、添付図面に係る以下の詳細な説明及び好ましい実施例によってさらに明らかになるであろう。本明細書において、各図面の構成要素に参照番号を付け加えるに際し、同一の構成要素に限っては、たとえ異なる図面に示されても、できるだけ同一の番号を付けるようにしていることに留意しなければならない。また、「一面」、「他面」、「第1」、「第2」などの用語は、一つの構成要素を他の構成要素から区別するために用いられるものであり、構成要素が前記用語によって限定されるものではない。以下、本発明を説明するにあたり、本発明の要旨を不明瞭にする可能性がある係る公知技術についての詳細な説明は省略する。
以下、添付図面を参照して、本発明の好ましい実施例を詳細に説明する。
(目視検査治具)
図1は、本発明の実施例による目視検査治具の構成を示す図面であり、図2は、本発明の実施例による不良チェックプレートの構成を詳細に示す図面である。
図1に図示されたように、目視検査治具100は、検査対象の配置領域及び検査対象の反射領域を含み、検査対象の配置領域に検査対象10を載置し、透明材質で形成された検査プレート110と、検査プレート110の下部に形成され、検査対象の配置領域に載置された検査対象の後面10bの像を反射して検査対象の反射領域に投映する反射鏡120と、を含むものである。
ここで、図1に図示されたように、目視検査治具100は、六面体であって、内部に反射鏡120を含む形状を有することができ、これに限定されない。
例えば、目視検査治具100は、検査対象10を載置する検査プレート110と、検査プレート110上に載置された検査対象の後面10bの像を検査プレート110に投映する反射鏡120と、を含むものであれば、上述した六面体以外の様々な形状を有することができる。
また、検査プレート110は、検査対象の反射領域に形成され、検査対象ごとの位置情報を含んで検査対象の反射領域に投影された検査対象の後面10bの像でユーザによって選択された不良位置を認識する不良チェックプレート130をさらに含むことができる。
この際、不良チェックプレート130は、タッチ認識が可能な透明材質のプレートであることができる。
また、不良チェックプレート130は、ユーザによって不良位置が選択されると、選択された領域を色相(例えば、青色など)で示すことができる。
例えば、図2に図示されたように、不良チェックプレート130は、ユーザによって選択された不良位置を認識できるように座標X、Yが認識された状態であって、座標は透明な状態で肉眼では確認できない場合もあり、これに限定されない。
また、不良チェックプレート130は、ユーザによって不良領域(図2の「1」)として選択された位置を座標で認識するものである。この際、正常領域は図2の「0」である。
また、ユーザは、入力手段(例えば、タッチペンなど)(不図示)を用いて不良チェックプレート130の特定領域をタッチする動作により、不良をチェックすることができる。
また、ユーザは、顕微鏡20のような手段を介して検査対象10の像を拡大し、不良をチェックすることができる。
また、目視検査治具100は、有線通信または無線通信を介して情報を送受信する有無線通信部(不図示)をさらに含むことができる。
前記不良チェックプレート130は、不良位置情報を有無線通信部を介して送出することができる。
この際、不良位置情報は、有無線通信部を介して運用者の端末またはサーバなどに伝送することができ、これに限定されない。
また、反射鏡120は、検査対象の後面10bの像を投映して第2反射鏡122に反射する第1反射鏡121と、第1反射鏡121に連結されるように形成され、第1反射鏡121から受信した検査対象の後面10bの像を検査対象の反射領域に投映する第2反射鏡122と、を含むことができる。
また、第1反射鏡121及び第2反射鏡122は、互いに接する面を基準に任意の角を成すことができる。
図1に図示されたように、第1反射鏡121及び第2反射鏡122は、互いに任意の角を成すことで、検査対象の後面の像を投映及び伝送(図1の矢印方向)できるようにする。この際、任意の角は、第1反射鏡121及び第2反射鏡122が検査対象の後面の像を投映してから伝送し、検査対象の反射領域に投映することができるように任意に設定する角を意味する。
また、検査対象10は、プリント回路基板であることが好ましいが、これに限定されない。
上述した構造の目視検査治具100は、検査対象を検査プレート110上に最初に載置した状態のまま検査対象の前面と後面の両方を検査することができるため、検査対象を裏返す過程を必要とせず、検査対象の取り扱い不注意で発生するスクラッチなどの様々な不良を予め防止する効果が期待できる。
(目視検査システム)
図3は、本発明の実施例による目視検査システムの構成を詳細に示す図面である。
図3に図示されたように、目視検査システム300は、検査対象の配置領域及び検査対象の反射領域を含み、検査対象の配置領域に載置された検査対象の後面10bの像を反射して検査対象の反射領域に投映し、検査対象の不良位置をチェックする目視検査治具100と、目視検査治具100から受信した不良位置情報を分析して検査対象ごとの不良位置座標を把握及び保存する検査サーバ200と、を含むものである。
より詳細に説明すると、図3に図示されたように、目視検査治具100は、検査対象の配置領域及び検査対象の反射領域を含み、検査対象の配置領域に検査対象10を載置し、透明材質で形成された検査プレート110と、検査プレート110の下部に形成され、検査対象の配置領域に載置された検査対象の後面10bの像を反射して検査対象の反射領域に投映する反射鏡120と、を含むことができる。
また、検査プレート110は、検査対象の反射領域に形成され、検査対象ごとの位置情報を含んで検査対象の反射領域に投影された検査対象の後面10bの像でユーザによって選択された不良位置を認識する不良チェックプレート130をさらに含むことができる。
この際、不良チェックプレート130は、タッチ認識が可能な透明材質のプレートであることができる。
例えば、図2に図示されたように、不良チェックプレート130は、ユーザによって選択された不良位置を認識できるように座標X、Yが認識された状態であって、座標は透明な状態で肉眼では確認できない場合もあり、これに限定されない。
また、不良チェックプレート130は、ユーザによって不良領域(図2の「1」)として選択された位置を座標で認識するものである。この際、正常領域は図2の「0」である。
また、ユーザは、顕微鏡20のような手段を介して検査対象10の像を拡大し、不良をチェックすることができる。
また、目視検査治具100は、有線通信または無線通信を介して情報を送受信する有無線通信部(不図示)をさらに含むことができる。
前記不良チェックプレート130は、不良位置情報を有無線通信部を介して検査サーバ200に送出することができる。
この際、不良位置情報は、有無線通信部を介して運用者の端末に送信することも可能である。
また、反射鏡120は、検査対象の後面10bの像を投映して第2反射鏡122に反射する第1反射鏡121と、第1反射鏡121に連結されるように形成され、第1反射鏡121から受信した検査対象の後面10bの像を検査対象の反射領域に投映する第2反射鏡122と、を含むことができる。
また、第1反射鏡121及び第2反射鏡122は、互いに接する面を基準に任意の角を成すことができる。
図3に図示されたように、第1反射鏡121及び第2反射鏡122は、互いに任意の角を成すことで、検査対象の後面の像を投映及び伝送(図3の矢印方向)することができる。この際、任意の角は、第1反射鏡121及び第2反射鏡122が検査対象の後面の像を投映してから伝送し、検査対象の反射領域に投映することができるように任意に設定する角を意味する。
一方、検査サーバ200は、有線通信または無線通信を介して情報を送受信する有無線通信部210と、目視検査治具100から受信した不良位置情報を分析し、該座標を把握する座標認識部240と、座標認識部240で把握した不良位置座標と、該検査対象情報とをマッチングして保存部260に保存する不良情報管理部250と、不良位置座標をはじめ、検査サーバ200に係る情報を保存する保存部260と、を含むことができる。
一方、検査対象の後面10bの像で不良位置をチェックする場合、検査プレート110上ではなく、検査サーバ200で選択することも可能である。
より詳細に説明すると、検査サーバ200は、出力部230を介して出力された検査対象の後面10bの像でユーザによって選択された不良位置情報を認識し、座標認識部240に伝送する入力部220と、目視検査治具100上に配置された検査対象10の像と、該検査対象の位置情報とをマッチングして出力する出力部230と、をさらに含むことができる。
ここで、出力部230は、有無線通信部210を介して送信された検査プレート110上に載置された検査対象の後面10bの像を受信すると、これをユーザが確認することができるように表示する。この際、出力部230は、検査対象の後面10bの像とともに、検査対象の位置情報を保存部260から出力する。
このために、保存部260は、検査対象ごとの位置情報を予め保存する。
また、目視検査治具100は、検査プレート110上に載置された検査対象10の像を検査サーバ200に伝送するために、撮影手段(不図示)をさらに含むことができる。この際、撮影手段は有無線通信が可能であり、有無線通信を介して撮影した検査対象の後面10bの像を検査サーバ200に伝送する。
一方、出力部230は、上述した検査対象の後面10bの像だけでなく、検査サーバ200に係る情報を出力することも可能である。
また、入力部220は、出力部230を介して表示される検査対象の後面10bの像で入力手段(例えば、マウス、タッチペンなど)(不図示)を用いてユーザによって選択された不良位置情報を認識した後、不良位置情報を座標認識部240に伝送する。
また、入力部220は、上述した不良位置情報を認識するだけでなく、検査サーバ200に係る情報を入力することも可能である。
また、検査対象10は、プリント回路基板であることが好ましいが、これに限定されない。
以上、本発明を具体的な実施例に基づいて詳細に説明したが、これは本発明を具体的に説明するためのものであり、本発明はこれに限定されず、該当分野における通常の知識を有する者であれば、本発明の技術的思想内にての変形や改良が可能であることは明白であろう。
本発明の単純な変形乃至変更はいずれも本発明の領域に属するものであり、本発明の具体的な保護範囲は添付の特許請求の範囲により明確になるであろう。
本発明は、検査対象を裏返す過程を省略することができ、これにより生じ得る不良を予め防止することができるとともに、検査対象の不良位置を容易に検出することができる目視検査治具及びこれを用いた目視検査システムに適用可能である。
10 検査対象
10a 検査対象の前面
10b 検査対象の後面
20 顕微鏡
100 目視検査治具
110 検査プレート
120 反射鏡
121 第1反射鏡
122 第2反射鏡
130 不良チェックプレート
200 検査サーバ
210 有無線通信部
220 入力部
230 出力部
240 座標認識部
250 不良情報管理部
260 保存部
300 目視検査システム

Claims (15)

  1. 検査対象の配置領域及び検査対象の反射領域を含み、前記検査対象の配置領域に検査対象を載置し、透明材質で形成された検査プレートと、
    前記検査プレートの下部に形成され、前記検査対象の配置領域に載置された前記検査対象の後面の像を反射して前記検査対象の反射領域に投映する反射鏡と、
    を含む目視検査治具。
  2. 前記検査プレートは、
    前記検査対象の反射領域に形成され、検査対象ごとの位置情報を含んで前記検査対象の反射領域に投影された検査対象の後面の像でユーザによって選択された不良位置を認識する不良チェックプレートをさらに含む請求項1に記載の目視検査治具。
  3. 前記目視検査治具は、
    有線通信または無線通信を介して情報を送受信する有無線通信部をさらに含み、
    前記不良チェックプレートは、不良位置情報を前記有無線通信部を介して送出する請求項2に記載の目視検査治具。
  4. 前記不良チェックプレートは、タッチ認識が可能な透明材質のプレートである請求項2に記載の目視検査治具。
  5. 前記反射鏡は、
    前記検査対象の後面の像を投映して第2反射鏡に反射する第1反射鏡と、
    前記第1反射鏡に連結されるように形成され、前記第1反射鏡から受信した前記検査対象の後面の像を前記検査対象の反射領域に投映する第2反射鏡と、を含み、
    前記第1反射鏡及び前記第2反射鏡は、互いに接する面を基準に任意の角を成す請求項1に記載の目視検査治具。
  6. 前記検査対象は、プリント回路基板である請求項1に記載の目視検査治具。
  7. 検査対象の配置領域及び検査対象の反射領域を含み、前記検査対象の配置領域に載置された検査対象の後面の像を反射して前記検査対象の反射領域に投映し、検査対象の不良位置をチェックする目視検査治具と、
    前記目視検査治具から受信した不良位置情報を分析して検査対象ごとの不良位置座標を把握及び保存する検査サーバと、
    を含む目視検査システム。
  8. 前記目視検査治具は、
    検査対象の配置領域及び検査対象の反射領域を含み、前記検査対象の配置領域に検査対象を載置し、透明材質で形成された検査プレートと、
    前記検査プレートの下部に形成され、前記検査対象の配置領域に載置された前記検査対象の後面の像を反射して前記検査対象の反射領域に投映する反射鏡と、
    を含む請求項7に記載の目視検査システム。
  9. 前記検査プレートは、
    前記検査対象の反射領域に形成され、検査対象ごとの位置情報を含んで前記検査対象の反射領域に投影された検査対象の後面の像でユーザによって選択された不良位置を認識する不良チェックプレートをさらに含む請求項8に記載の目視検査システム。
  10. 前記目視検査治具は、
    有線通信または無線通信を介して情報を送受信する有無線通信部をさらに含み、
    前記不良チェックプレートは、不良位置情報を前記有無線通信部を介して前記検査サーバに送出する請求項9に記載の目視検査システム。
  11. 前記不良チェックプレートは、タッチ認識が可能な透明材質のプレートである請求項9に記載の目視検査システム。
  12. 前記反射鏡は、
    前記検査対象の後面の像を投映して第2反射鏡に反射する第1反射鏡と、
    前記第1反射鏡に連結されるように形成され、前記第1反射鏡から受信した前記検査対象の後面の像を前記検査対象の反射領域に投映する第2反射鏡と、を含み、
    前記第1反射鏡及び前記第2反射鏡は、互いに接する面を基準に任意の角を成す請求項8に記載の目視検査システム。
  13. 前記検査サーバは、
    有線通信または無線通信を介して情報を送受信する有無線通信部と、
    前記目視検査治具から受信した不良位置情報を分析し、該座標を把握する座標認識部と、
    前記座標認識部で把握した不良位置座標と、該検査対象情報とをマッチングして保存部に保存する不良情報管理部と、
    不良位置座標をはじめ、検査サーバに係る情報を保存する保存部と、
    を含む請求項7に記載の目視検査システム。
  14. 前記検査サーバは、
    出力部を介して出力された検査対象の後面の像でユーザによって選択された不良位置情報を認識して前記座標認識部に伝送する入力部と、
    目視検査治具上に配置された検査対象の像と、該検査対象の位置情報とをマッチングして出力する出力部と、
    をさらに含む請求項13に記載の目視検査システム。
  15. 前記検査対象は、プリント回路基板である請求項7に記載の目視検査システム。
JP2012244261A 2011-11-07 2012-11-06 目視検査治具及びこれを用いた目視検査システム Pending JP2013101118A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2011-0115321 2011-11-07
KR1020110115321A KR101222714B1 (ko) 2011-11-07 2011-11-07 목시 검사 지그 및 이를 이용한 목시 검사 시스템

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013101118A true JP2013101118A (ja) 2013-05-23

Family

ID=47841944

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012244261A Pending JP2013101118A (ja) 2011-11-07 2012-11-06 目視検査治具及びこれを用いた目視検査システム

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2013101118A (ja)
KR (1) KR101222714B1 (ja)
TW (1) TW201331574A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103776833A (zh) * 2013-11-13 2014-05-07 浙江吉利控股集团有限公司 带有一体式回转及升降功能的检验平台
CN108318504A (zh) * 2018-02-12 2018-07-24 京东方科技集团股份有限公司 显示面板中不良位置检测装置和检测方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6786593B2 (ja) 2015-08-26 2020-11-18 アーベーベー・シュバイツ・アーゲーABB Schweiz AG 多視点による対象検査装置及び方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5456771U (ja) * 1977-09-29 1979-04-19
JPS5530807U (ja) * 1978-06-19 1980-02-28
JPH06273339A (ja) * 1993-03-19 1994-09-30 N T T Data Tsushin Kk 外観検査装置
JP2005337786A (ja) * 2004-05-25 2005-12-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板検査装置およびその方法
JP2006038596A (ja) * 2004-07-26 2006-02-09 Sumitomo Metal Micro Devices Inc 検査方法及び検査支援システム
JP2006184019A (ja) * 2004-12-24 2006-07-13 Saki Corp:Kk 外観検査装置
JPWO2005083399A1 (ja) * 2004-02-27 2008-01-17 株式会社テクニカル 多方向同時観察光学系、画像読み取り装置、画像読み取り方法および多方向同時観察光学系複合体

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200156139Y1 (ko) 1996-07-16 1999-10-01 구본준 반도체 웨이퍼 검사장치
JP2001350586A (ja) 2000-06-09 2001-12-21 Keio Gijuku 位置入力装置
KR100512127B1 (ko) * 2002-11-20 2005-09-02 주식회사 메디코아 부품실장회로기판 검사용 비젼시스템의 광학장치
TWI330393B (en) * 2007-03-16 2010-09-11 Orient Semiconductor Elect Ltd Apparatus for inspecting substrate

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5456771U (ja) * 1977-09-29 1979-04-19
JPS5530807U (ja) * 1978-06-19 1980-02-28
JPH06273339A (ja) * 1993-03-19 1994-09-30 N T T Data Tsushin Kk 外観検査装置
JPWO2005083399A1 (ja) * 2004-02-27 2008-01-17 株式会社テクニカル 多方向同時観察光学系、画像読み取り装置、画像読み取り方法および多方向同時観察光学系複合体
JP2005337786A (ja) * 2004-05-25 2005-12-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板検査装置およびその方法
JP2006038596A (ja) * 2004-07-26 2006-02-09 Sumitomo Metal Micro Devices Inc 検査方法及び検査支援システム
JP2006184019A (ja) * 2004-12-24 2006-07-13 Saki Corp:Kk 外観検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103776833A (zh) * 2013-11-13 2014-05-07 浙江吉利控股集团有限公司 带有一体式回转及升降功能的检验平台
CN108318504A (zh) * 2018-02-12 2018-07-24 京东方科技集团股份有限公司 显示面板中不良位置检测装置和检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR101222714B1 (ko) 2013-01-15
TW201331574A (zh) 2013-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI757825B (zh) 基於假點缺陷檢測之pcb檢修系統及檢修方法
CN109829883B (zh) 产品质量检测方法及装置
CN101999260A (zh) 光学检测设备和检测部件表面的方法
JP2016130663A (ja) 検査装置及び検査装置の制御方法
WO2019131155A1 (ja) 外観検査装置、外観検査方法、プログラム及びワークの製造方法
US20200378899A1 (en) Glass processing apparatus and methods
CN105223207A (zh) 缺陷检查设备和方法
JP2013101118A (ja) 目視検査治具及びこれを用いた目視検査システム
CN115908768B (zh) 一种基于组合式打光拍摄电池瑕疵识别方法、系统及平台
TWM568454U (zh) 光學檢測設備
TWM556842U (zh) 曲面觸控面板檢測裝置
TWM470256U (zh) 光學式瑕疵檢測裝置
CN108303431A (zh) 用于表面异物检测的自动光学检测系统
US11037314B1 (en) Method for the non-destructive inspection of an aeronautical part and system thereof
TWM548274U (zh) 印刷電路板之檢測設備
JP6027717B2 (ja) 視線位置特定手段を備えた目視検査装置
TWM487433U (zh) 物件檢測裝置
JP2014178134A (ja) クラック及び外観検査装置並びにクラック及び外観検査方法
CN203908967U (zh) 取像装置及光学检测设备
KR20140031687A (ko) 기판 표면 검사 시스템 및 검사 방법
JP2020148735A (ja) 検査装置
JP5367358B2 (ja) 容器の外観検査装置
WO2018131489A1 (ja) パネル検査システム
TW201944285A (zh) 指紋辨識模組之檢測系統
CN110836761B (zh) 检测装置及方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130926

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131001

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20131225

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20140106

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140401