TW201300790A - 電磁干擾測試裝置 - Google Patents

Abstract

一種電磁干擾測試裝置，用以測試電子裝置的輻射強度是否超出預定的電磁輻射標準，所述電磁干擾測試裝置包括用以承載電子裝置的轉臺、預測試分析儀、終測試分析儀以及天線陣列，所述天線陣列實現同時於不同高度分別接收待測裝置發出的不同極性的訊號，所述預測試分析儀篩選出上述接收到的不同極性訊號中超出預定電磁輻射標準的頻率點，該天線陣列再配合終測試分析儀確認電子裝置於上述頻率點所產生的訊號強度是否超出上述電磁輻射標準。

Description

電磁干擾測試裝置

本發明涉及一種電子裝置性能測試裝置，尤其涉及一種電磁干擾測試裝置。

習知的對電子裝置進行電磁干擾測試的過程一般包括預測試步驟以及終測試步驟，所述預測試步驟用以篩選出可能導致待測裝置輻射超標的頻率點，再藉由終測試步驟精確測量電子裝置在上述每一頻率點工作時的輻射強度是否超標。

一般預測試步驟的詳細操作為：首先，將一測試用天線調節到垂直極性狀態，並將天線依次作動於預定的不同高度，例如1m、2m、3m及4m，且當天線處於每一預定高度時，均藉由旋轉台帶動固定於旋轉臺上的待測裝置旋轉一周，以藉由天線於以上四個不同的高度分別接收到待測裝置輻射的訊號，並將該訊號放大後傳送至頻譜儀，頻譜儀將最終顯示該頻段內接收到的訊號中的最強訊號值，即可藉由頻譜儀分析出在測試頻段內，待測裝置垂直極性下的輻射的最強訊號中超出電磁輻射標準的頻率點。然後，將上述天線調節到水準極性狀態，再重複上述操作，並藉由頻譜儀分析出在測試頻段內，待測裝置水準極性下輻射的最強訊號中超出電磁輻射標準的頻率點。

終測試步驟為：當待測裝置的垂直極性狀態下有超出電磁輻射標準的頻率點，則將天線置於垂直極性；將連接至天線的接收機調節至接收該頻率點的訊號；作動旋轉台帶動待測裝置旋轉一周，以藉由接收機確定天線接收的訊號強度最強時該旋轉台的角度位置(最大發射角度)，並使該旋轉台保持該最大發射角度；作動天線於上述的調節高度的方向升降至一最佳接收高度，使得此時接收機接收到的天線接收到的訊號強度最大，該訊號強度的最大值即待測裝置垂直極性下於該頻率點時的輻射強度，若該輻射強度超出電磁標準，則該天線不合格。當待測裝置的水準極性狀態下也有超出電磁輻射標準的頻率點時，將天線調節到水準極性狀態，再重複上述操作，確定待測裝置於上述各頻率點時的最大輻射強度是否超出現行的電磁輻射標準。藉由上述方法，即可依次確定待測裝置垂直極性下以及水準極性下的輻射強度，以進一步確定所述待測裝置的輻射強度是否超標而不合格，生產人員也可根據上述測試結果對測試不合格的裝置進行調整。若上述初測試步驟中並未檢測到待測裝置的輻射強度超出現行的電磁輻射標準，則無需進行後續的終測試步驟。

可見，上述測量方法的初測試步驟中，對應垂直極性狀態以及水準極性狀態均要作動天線於複數不同的高度對待測裝置進行輻射強度測量，測試效率較低，且容易導致增加測試成本。

有鑒於此，有必要提供一種測試效率較高的電磁干擾測試裝置。

一種電磁干擾測試裝置，用以測試電子裝置的輻射強度是否超出預定的電磁輻射標準，所述電磁干擾測試裝置包括用以承載電子裝置的轉臺、預測試分析儀、終測試分析儀以及天線陣列，所述天線陣列實現同時於不同高度分別接收待測裝置發出的不同極性的訊號，所述預測試分析儀篩選出上述接收到的不同極性訊號中超出預定電磁輻射標準的頻率點，該天線陣列再配合終測試分析儀確認電子裝置於上述頻率點所產生的訊號強度是否超出上述電磁輻射標準。

本發明電磁干擾測試裝置，於轉臺帶動電子裝置旋轉一周的時間內，藉由天線陣列同時於不同高度接收不同極性的訊號，並藉由預測試分析儀配合主機篩選出可能導致待測裝置輻射強度超標的頻率點，相對習知方法，本發明電磁干擾測試裝置的預測試步驟的時間僅為轉臺旋轉一周的時間，測試效率更高。

請一併參閱圖1，本發明較佳實施方式的電磁干擾測試裝置100用以對一電子裝置200如手機、電腦等進行電磁干擾測試，以確定電子裝置200的輻射強度是否超出現行的電磁輻射標準。該電磁干擾測試裝置100包括轉臺10、天線陣列30、若干預測試分析儀50以及終測試分析儀70。所述轉臺10用以承載電子裝置200。天線陣列30包括八個預測試天線31以及一個終測試天線33。所述八個預測試天線31分別連接至一預測試分析儀50，並依據現行的電磁干擾測試標準分別佈設於預定的不同高度(1m、2m、3m及4m)的水準極性以及垂直極性，用以分別在不同高度同時接收電子裝置200輻射的具有水準極性以及垂直極性的電磁波訊號，以配合對應的預測試分析儀50篩選出該電子裝置200水準極性狀態下以及垂直極性狀態下導致電子裝置200輻射強度超出預定電磁輻射標準的頻率點，所述終測試天線33以及終測試分析儀70即可針對上述可能導致電子裝置200的電磁輻射超標的頻率點進行終測試，以確定電子裝置200的輻射強度是否符合電磁輻射標準。

請一併參閱圖2，所述轉臺10用以於測試過程中帶動轉臺10上的電子裝置200旋轉。所述電子裝置200設置於轉臺10的中心處，預測試天線31以及終測試天線33環繞轉臺10的中心處設置，並依照現行測試標準距該中心一定距離(例如10m)，使得電子裝置200在轉臺10的帶動下旋轉時，電子裝置200與所述預測試天線31以及終測試天線33的距離保持該預定的測試距離(例如10m)。

請一併參閱圖3，於本發明實施方式中，所述八個預測試天線31分別設置於四個天線座311上，使每一天線座311上承載二預測試天線31。優選的，每一天線座311上的二預測試天線31的極性相同(均呈水準極性設置或者垂直極性設置)，且間隔一定距離(例如2m)，以有效減少不同天線座311之間的預測試天線31的互耦效應，以及同一天線座311上的二預測試天線31之間的互耦效應。

所述終測試天線33設置於一固定機構331上，使得所述終測試天線33可藉由固定機構331實現以下功能：1.藉由固定機構331帶動終測試天線33於水準極性狀態以及垂直極性狀態之間進行切換；2.藉由固定機構331帶動終測試天線33於預定的高度範圍內(例如1m-4m)自動升降，以滿足終測試步驟中作動終測試天線33於預設極性狀態下運動至最佳接收高度的要求。

得理解，本發明實施方式中，所述終測試天線33藉由固定機構331設置於八個預測試天線31中間，且在鄰近該終測試天線33的左右兩側設置垂直極性的預測試天線31，最外側則設置水準極性的預測試天線31，以避免當終測試天線33於水準極性狀態測試時，兩側的預測試天線31也呈水準極性設置而造成較大的互耦效應。

所述每一預測試分析儀50接收預設測試頻段內(如30MHz-1000MHz)對應的預測試天線31於不同高度位置接收到的訊號，並最終顯示該測試頻段內於不同高度接收到的最強訊號，以藉由該最終獲得的最強訊號中超出預設電磁輻射標準的頻率點確定所述可能導致電子裝置200輻射強度超出電磁輻射標準的頻率點，以便終測試過程中，進一步確定電子裝置200在上述頻率點的輻射強度是否超出電磁輻射標準。於本發明實施方式中，所述八個預測試分析儀50均為一頻譜儀，其具有掃頻功能，以實現藉由該預測試分析儀50於預設頻段內大致篩選出導致電子裝置200輻射強度超標的頻率點。

得理解，本發明的電磁干擾測試裝置100還包括主機90。所述主機90連接至所有預測試分析儀50，每一預測試分析儀50顯示的訊號傳送至主機90，以藉由主機90內設的軟體程式篩選出上述可能導致電子裝置200輻射強度超出電磁輻射標準的頻率點。

所述終測試分析儀70用以接收並顯示終測試天線33接收到的訊號，以便測試者根據終測試分析儀70顯示的資料判斷電子裝置200於上述各超標的頻率點的輻射強度是否確實超出電磁輻射標準。

使用上述電磁干擾測試裝置100對電子裝置200進行測試時，其包括預測試步驟以及終測試步驟。

預測試步驟的詳細操作為：首先，將各預測試分析儀50連接至對應的預測試天線31以及主機90。其次，將電子裝置200放置於轉臺10的中心處，並使天線陣列30距轉臺10中心以及電子裝置200保持一預定距離(例如10m)。然後，作動轉臺10帶動電子裝置200旋轉一周，於此過程中，每一預測試天線31接收電子裝置200旋轉一周過程中所發出的訊號，並藉由預測試分析儀50將預設頻段內電子裝置200旋轉一周的過程中發送的最強訊號記錄下來，並傳送至主機90，以藉由主機90內的軟體篩選出導致電子裝置200輻射的水準極性訊號超出電磁輻射標準的頻率點以及輻射的垂直極性訊號超出電磁輻射標準的頻率點。

終測試步驟與習知的終測試步驟操作相同，此處將不再重複描述。

得理解，所述電磁干擾測試裝置100還可包括九個放大器80，所述每一放大器80分別連接於一預測試天線31與預測試分析儀50或者終測試天線33與終測試分析儀70之間，用以放大天線陣列30接收到的訊號。

本發明電磁干擾測試裝置100對應不同的接收高度以及極性分別設置一預測試天線31，使得轉臺10帶動電子裝置200旋轉一周的時間內，所述八個預測試天線31即可接收到電子裝置200不同輻射高度以及不同極性的訊號強度，藉此即可藉由預測試分析儀50配合主機90篩選出可能導致電子裝置200輻射強度超標的頻率點。相對習知測試方法，本發明電磁干擾測試裝置100的預測試步驟的時間理論上僅為習知方法預測試步驟所需時間的1/8，測試效率更高。

最後所應說明的是，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制，儘管參照以上較佳實施例對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發明的技術方案進行修改或等同替換，而不脫離本發明技術方案的精神和範圍。

100．．．電磁干擾測試裝置

10．．．轉臺

30．．．天線陣列

31．．．預測試天線

311．．．天線座

33．．．終測試天線

331．．．固定機構

50．．．預測試分析儀

70．．．終測試分析儀

80．．．放大器

90．．．主機

200．．．電子裝置

圖1是本發明較佳實施方式的電磁干擾測試裝置的架構圖。

圖2是圖1的俯視示意圖。

圖3是圖1所示天線陣列示意圖。

100．．．電磁干擾測試裝置

10．．．轉臺

30．．．天線陣列

31．．．預測試天線

33．．．終測試天線

50．．．預測試分析儀

70．．．終測試分析儀

80．．．放大器

90．．．主機

200．．．電子裝置

Claims (10)

1. 一種電磁干擾測試裝置，用以測試電子裝置的輻射強度是否超出預定的電磁輻射標準，所述電磁干擾測試裝置包括用以承載電子裝置的轉臺、預測試分析儀以及終測試分析儀，其改良在於：所述電磁干擾測試裝置還包括天線陣列，所述天線陣列實現同時於不同高度分別接收待測裝置發出的不同極性的訊號，所述預測試分析儀篩選出上述接收到的不同極性訊號中超出預定電磁輻射標準的頻率點，該天線陣列再配合終測試分析儀確認電子裝置於上述頻率點所產生的訊號強度是否超出上述電磁輻射標準。
2. 如申請專利範圍第1項所述之電磁干擾測試裝置，其中所述天線陣列包括若干預測試天線，所述若干預測試天線按照現行測試標準分別設置於不同的測試高度，且呈垂直極性以及水準極性放置，天線陣列藉由上述預測試天線同時於不同高度接收垂直極性以及水準極性的訊號。
3. 如申請專利範圍第2項所述之電磁干擾測試裝置，其中所述電磁干擾測試裝置還包括主機，所述預測試分析儀為複數，所述複數預測試分析儀均連接至主機，並分別連接至一預測試天線，所述預測試分析儀將每一預測試天線接收到的訊號最大值傳送至主機，以藉由主機篩選出電子裝置輻射的不同極性的訊號中超出上述電磁輻射標準的頻率點。
4. 如申請專利範圍第3項所述之電磁干擾測試裝置，其中所述預測試分析儀均為頻譜儀。
5. 如申請專利範圍第2項所述之電磁干擾測試裝置，其中所述天線陣列還包括連接至一終測試分析儀的終測試天線，所述終測試天線接收電子裝置輻射的最強訊號，並藉由終測試分析儀確定上述超出所述電磁輻射標準的各頻率點對應的電子裝置輻射的最強訊號是否超出電磁標準。
6. 如申請專利範圍第5項所述之電磁干擾測試裝置，其中所述終測試分析儀為接收機。
7. 如申請專利範圍第5項所述之電磁干擾測試裝置，其中所述電子裝置設置於轉臺中心處，預測試天線以及終測試天線環繞轉臺中心設置，且均與電子裝置保持一預設距離。
8. 如申請專利範圍第5項所述之電磁干擾測試裝置，其中所述轉臺帶動電子裝置旋轉一周，並藉由接收機確定終測試天線接收到的訊號最強時轉臺的角度，並保持轉臺於該角度，同時終測試天線保持待測試頻率點的極性，並於豎直方向運動，並藉由接收機確定終測試天線接收到的訊號最強時終測試天線的高度，並保持終測試天線於該高度，此時接收機接收到的訊號即電子裝置於該極性的頻率點下的輻射的最強訊號。
9. 如申請專利範圍第8項所述之電磁干擾測試裝置，其中所述終測試天線藉由固定機構固定，以藉由固定機構帶動終測試天線旋轉切換至不同極性，並帶動終測試天線於豎直方向調整至接收電子裝置輻射的最強訊號的高度。
10. 如申請專利範圍第2項所述之電磁干擾測試裝置，其中所述若干預測試天線藉由天線座固定，每一天線座上承載的二天線極性彼此相同。