JP2013123050A - 電波暗室 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、複数の周波数帯域のEMCテストを行うことができる電波暗室を提供する。
【解決手段】本発明の電波暗室は、半球状の周壁及び底面を備え、前記周壁及び前記底面が囲んでシールドルームを形成し、前記周壁の内表面は電波吸収材により覆われ、前記底面は、円形であり且つ1つの直径に沿って2つの半円形の底面に分けられ、1つの半円形の底面は、反射接地平板であり、他の1つの半円形の底面の表面は、電波吸収材により覆われる。
【選択図】図1

Description

本発明は、電磁両立性をテストするために用いられる電波暗室に関するものである。
一般的に電波暗室を利用して電磁両立性(Electro Magnetic Compatibility,EMC)テストを行う。電波暗室は、全無響室及び半無響室に分けられ、全無響室の内表面全体は電波吸収材で覆われ、半無響室の一部分の内表面は電波吸収材で覆われる。コンピューターなどの電子製品は、EMCテストを行う場合、低周波数帯(30MHz〜1GHz)及び高周波数帯(1GHz〜6GHz)の2つの周波数帯域でテストすることを必要とする。一般的に低周波数帯テストは半無響室で行い、高周波数帯テストは全無響室で行う。したがって、異なる周波数帯域のEMCテストを行う場合、テストしようとする電子装置を全無響室と半無響室との間で移動させなければならないので、人力、時間が追加的に必要となる。
本発明の目的は、前記課題を解決し、複数の周波数帯域のEMCテストを行うことができる電波暗室を提供することである。
本発明に係る電波暗室は、半球状の周壁及び底面を備え、前記周壁及び前記底面が囲んでシールドルームを形成し、前記周壁の内表面は電波吸収材により覆われ、前記底面は、円形であり且つ1つの直径に沿って2つの半円形の底面に分けられ、1つの半円形の底面は、反射接地平板であり、他の1つの半円形の底面の表面は、電波吸収材により覆われる。
本発明の電波暗室は、半無響室及び全無響室の両方の機能を有するので、電波暗室でEMCテストを行う場合、電子装置を全無響室と半無響室との間で移動することを必要とせず、従って人力、時間を追加する必要がなく、テスト時間を短縮し、且つテストの安定性を確保する。
本発明の実施形態に係る電波暗室の概略図である。 図1に示す電波暗室の断面図である。 図1に示す電波暗室の別の角度の断面図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
図1及び図2を参照すると、本発明の実施形態に係わる電波暗室100は、コンピューター、液晶表示装置、携帯電話などの電磁輻射源に対してEMCテストを行うために用いられる。電波暗室100は、周壁10と、底面20と、回転台30と、アンテナアレイ40と、を備える。周壁10は半球状であり、底面20は円形であり、周壁10及び底面20が囲んで、略半球状のシールドルーム110を形成する。回転台30及びアンテナアレイ40は、全てシールドルーム110の内部に位置し、且つ底面20に放置される。回転台30及びアンテナアレイ40は、互いに離間している。
周壁10の内表面は、電波吸収材16により覆われる。電波吸収材16の表面には、緊密に配列された複数の錐部162が形成されており、電磁波を吸収するために用いられる。各々の錐部162の頂端は、周壁10の半径方向に沿って延在されて、シールドルーム110の中心位置を指す。
底面20は、円形であり、この円形の1つの直径に沿って底面20を第一底面22及び第二底面24に分けられている。第一底面22は、反射接地平板であり、第二底面24の表面は、電波吸収材16により覆われ、電波吸収材16の表面に緊密に配列された複数の錐部162の頂端は、シールドルーム110の中心位置を指すので、電波暗室100の内部は異なる類型の2つの電波暗室に分けられ、即ち第一底面22及びその上方の周壁10が囲んで半無響室130を形成し、第二底面24及びその上方の周壁10が囲んで全無響室150を形成する。
回転台30は、円形の底面20の円中心位置に位置する。回転台30にテストベンチ32を積載して、テストベンチ32に供試装置(Equipment Under Test,EUT)50を載置し、供試装置50は、EMCテストにおける電磁輻射源であり、コンピューター、液晶表示装置、携帯電話などであることができる。テストベンチ32は、底面20に対して所定の高さを有する。
図1及び図3を参照すると、アンテナアレイ40は、低周波水平アンテナ42と、低周波垂直アンテナ44と、高周波水平アンテナ46と、高周波垂直アンテナ48と、を備える。低周波水平アンテナ42、低周波垂直アンテナ44、高周波水平アンテナ46及び高周波垂直アンテナ48は、円形の底面20の周縁に等間隔に放置され、換言すると円形の底面20の直交する2つの直径の両端にそれぞれに配置される。低周波水平アンテナ42及び低周波垂直アンテナ44は、第一底面22に放置されて半無響室130に位置し、高周波水平アンテナ46及び高周波垂直アンテナ48は、第二底面24に放置されて全無響室150に位置する。アンテナアレイ40は、供試装置50から所定距離に離間し、アンテナアレイ40の受信部は、ちょうど供試装置50に向かい合う。
周壁10を覆う電波吸収材16の表面に緊密に配列された複数の錐部162の頂端は、垂直的に供試装置50を指す。供試装置50が作動する時に生じるノイズ及び他のテストに必要としない電磁波は、周壁10の電波吸収材16に吸収されて、アンテナアレイ40に反射されて、テストを妨害することを免れる。
電波暗室100を利用して、供試装置50に対してEMCテストを行う時、低周波数帯(30MHz〜1GHz)及び高周波数帯(1GHz〜6GHz)の2つの周波数帯域でテストすることを必要とするばかりでなく、各々の周波数帯域でアンテナを別々に水平極性及び垂直極性に設定してテストすることを必要とする。本実施形態において、先ず低周波数帯域で低周波水平アンテナ42を使用してテストする。供試装置50をオンさせ、受信機(図示せず)を低周波水平アンテナ42に接続する。低周波水平アンテナ42は供試装置50から生じる作動信号を受信して電気信号に変換し、受信機は電気信号を読み取り、
供試装置50によって放射された信号の強度を測定する。それから受信機を低周波垂直アンテナ44に接続して、低周波数帯域で低周波垂直アンテナ44を使用してテストし、続いて受信機を高周波水平アンテナ46に接続して、高周波数帯域で高周波水平アンテナ46を使用してテストし、最終に受信機を高周波垂直アンテナ48に接続して、高周波数帯域で高周波垂直アンテナ48を使用してテストして、EMCテストを終了する。
アンテナアレイ40の隣り合う2つのアンテナの間の距離は3mより大きく、従ってアンテナアレイ40の隣り合う2つのアンテナの間に相互カップリング効果が発生することを免れ、テスト結果の正確性を高める。
電波暗室100は、円形の底面20を2つの半円形の底面に分け、1つの半円形の底面は反射接地平板とし、他の1つの半円形の底面は電波吸収材16により覆われて、電波暗室100が半無響室及び全無響室の両方の機能を有することにする。電波暗室100において、半無響室130に低周波水平アンテナ42及び低周波垂直アンテナ44を放置し、全無響室150に高周波水平アンテナ46及び高周波垂直アンテナ48を放置して、EMCテストを行う場合、電波暗室100を利用して低周波数帯域テスト及び高周波数帯域テストを行うことができ、供試装置50を全無響室と半無響室との間で移動することを必要としない。アンテナアレイ40は、水平極性のアンテナ及び垂直極性のアンテナを含むので、異なる周波数帯域テストにおいて、アンテナを別々に水平極性及び垂直極性に設定すために、アンテナアレイ40の各々のアンテナの極性を再び調整することを必要としない。したがって、テスト過程において、アンテナの極性を調節しなくてもよく、且つ全無響室と半無響室との間でテスト設備及び供試装置50を移動しなくてもよいので、人力、時間を追加する必要がなく、テスト時間を短縮し、且つテストの安定性を確保する。
以上、本発明を実施例に基づいて具体的に説明したが、本発明は、上述の実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々の変更が可能であることは勿論であって、本発明の技術的範囲は、以下の特許請求の範囲から決まる。
10 周壁
16 電波吸収材
20 底面
22 第一底面
24 第二底面
30 回転台
32 テストベンチ
40 アンテナアレイ
42 低周波水平アンテナ
44 低周波垂直アンテナ
46 高周波水平アンテナ
48 高周波垂直アンテナ
50 供試装置
100 電波暗室
110 シールドルーム
130 半電波暗室
150 全電波暗室
162 錐部

Claims (5)

  1. 半球状の周壁及び底面を備え、前記周壁及び前記底面が囲んでシールドルームを形成し、前記周壁の内表面は電波吸収材により覆われる電波暗室であって、
    前記底面は、円形であり且つ1つの直径に沿って2つの半円形の底面に分けられ、1つの半円形の底面は、反射接地平板であり、他の1つの半円形の底面の表面は、電波吸収材により覆われることを特徴とする電波暗室。
  2. 前記シールドルームには、回転台、テストベンチ及びアンテナアレイが設置され、前記回転台は、円形の前記底面の円心位置に設置され、前記テストベンチは、前記回転台に放置されて供試装置を載置するために用いられ、前記アンテナアレイは、円形の前記底面の周縁に等間隔に放置されることを特徴とする請求項1に記載の電波暗室。
  3. 前記アンテナアレイは、円形の前記底面の直交する2つの直径の両端にそれぞれに放置される低周波水平アンテナ、低周波垂直アンテナ、高周波水平アンテナ及び高周波垂直アンテナを備え、前記アンテナアレイのアンテナは、前記供試装置にちょうど向かい合うことを特徴とする請求項2に記載の電波暗室。
  4. 前記低周波水平アンテナ及び前記低周波垂直アンテナは、反射接地平板とする半円形の前記底面に放置され、前記高周波水平アンテナ及び前記高周波垂直アンテナは、電波吸収材により覆われる半円形の前記底面に放置されることを特徴とする請求項3に記載の電波暗室。
  5. 前記周壁を覆う電波吸収材の表面に緊密に配列された複数の錐部の頂端は、垂直に供試装置を指すことを特徴とする請求項2に記載の電波暗室。
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