CN103163340A - 电波暗室 - Google Patents

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Abstract

一种电波暗室,包括周壁及底面,该周壁内表面铺设有吸波材料。所述底面为圆形,并沿其一直径划分为两个半圆场地,一个半圆底面为反射接地平板,另一个半圆底面铺设吸波材料。

Description

电波暗室
技术领域
本发明涉及电磁测试领域,尤其涉及一种电波暗室。
背景技术
一般的电磁兼容(Electromagnetic Compatibility,EMC)测试需要使用电波暗室作为测试场地。通常地,电波暗室分为全电波暗室(fully anechoic chamber)及半电波暗室(semi-anechoic chamber)。全电波暗室的内表面完全铺满吸波材料,半电波暗室则有一部分内表面覆盖吸波材料。一般信息技术类的设备(如计算机)在进行电磁兼容测试时,需要在低频(通常为30MHz~1GHz)及高频(通常为1GHz~6GHz)两个频段内进行测试。一般来说,低频段测试需要在半电波暗室内进行,高频段测试需要在全电波暗室内进行。因此,在进行不同频段的电磁兼容测试时需要将被测试的电子装置在不同的电波暗室之间转移,需要花费较多的人力及时间。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种能进行多个频段电磁兼容测试的电波暗室。
一种电波暗室,包括周壁及底面,该周壁内表面铺设有吸波材料。所述底面为圆形,并沿其一直径划分为两个半圆场地,一个半圆底面为反射接地平板,另一个半圆底面铺设吸波材料。
基于上述结构,所述电波暗室同时具有半电波暗室及全电波暗室的功能。待测电子装置在该电波暗室内进行电磁兼容测试时,无须更换测试场地,减少所耗用的人力及时间,简化了测试过程,也避免了因更换测试场地而产生的不必要的实验误差。
附图说明
图1为本发明较佳实施例的电波暗室的示意图。
图2为图1所示电波暗室的截面图。
图3为图1所示电波暗室的另一角度的截面图。
主要元件符号说明
电波暗室 100
容置空间 110
半电波暗室 130
全电波暗室 150
周壁 10
吸波材料 16
尖锥部 162
底面 20
第一底面 22
第二底面 24
旋转台 30
测试桌 32
天线阵列 40
低频水平天线 42
低频垂直天线 44
高频水平天线 46
高频垂直天线 48
待测物 50
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1及图2,本发明较佳实施例的电波暗室100包括周壁10、底面20、旋转台30以及天线阵列40。所述电波暗室100的周壁10为一半球形状,底面20为一圆形。所述周壁10罩设于底面20上并与底面20共同围成一个大致为半球形状的封闭的容置空间110。所述旋转台30及天线阵列40均处于该容置空间110内部并置于底面20上,该旋转台30与天线阵列40之间相隔一定距离放置。该电波暗室100可用于对计算机或电视机等电磁辐射源进行电磁兼容测试。
所述周壁10内表面铺满吸波材料16,吸波材料16表面形成紧密排列的尖锥部162,用于吸收电磁波。该周壁10内表面的吸波材料16表面形成的尖锥部162顶端沿着该周壁10的径向延伸,从而都指向该容置空间110的中心位置。
所述底面20大致为圆形,该底面20沿该圆形的一直径分开为第一底面22及第二底面24,该第一底面22为反射接地平板,该第二底面24表面铺满吸波材料16,吸波材料16表面形成紧密排列的尖锥部162指向该容置空间110。这样,将该电波暗室100内部区分为两个不同类型的电波暗室,该第一底面22及其上方对应设置的部分周壁10形成一半电波暗室130,该第二底面24及其上方对应设置的部分周壁10形成一全电波暗室150。
所述旋转台30位于该圆形底面20的圆心位置。该旋转台30上承载一测试桌32,该测试桌32上放置一待测物50,该待测物50为电磁兼容测试中的电磁辐射源,可为计算机或电视机等。测试桌32支撑待测物50,使其距离底面20具有一定的高度。
请参阅图1及图3,所述天线阵列40包括低频水平天线42、低频垂直天线44、高频水平天线46及高频垂直天线48。该低频水平天线42、低频垂直天线44、高频水平天线46及高频垂直天线48等间距地放置于圆形底面20的边缘,即每两个相邻天线的角位置相隔九十度。其中,低频水平天线42与低频垂直天线44放置于第一底面22上,即处于半电波暗室130内;高频水平天线46及高频垂直天线48放置于第二底面24上,即处于全电波暗室150内。该等天线阵列40与待测物50之间均间隔一预定距离,且该等天线阵列40的接收部均对准该待测物50。
较佳地,该周壁10内表面铺设的吸波材料16的尖锥部162的顶端均垂直地指向该待测物50。当待测物50工作时,待测物50产生的杂讯及其他测试所不需要的电磁波辐射至周壁10时,可被吸波材料16可较大程度地吸收,从而避免被反射到天线阵列40而对测试造成干扰。
在该电波暗室100内进行电磁兼容测试时,需要对待测物50分别处于低频段(通常为30MHz~1GHz)及高频段(通常为1GHz~6GHz)进行测试,且在每一频段内需要分别将天线置于水平极性及垂直极性进行测试。本实施例中,可先选择在低频段中使用天线阵列40中的低频水平天线42进行测试。开启待测物50使其工作,接收机(图未示)连接至所述低频水平天线42,其接收该待测物50产生的工作信号并转换为电信号,供接收机读值,检测待测物50对空间辐射出的工作信号强度。其后,可使用接收机依次连接低频垂直天线44、高频水平天线46及高频垂直天线48以进行低频段天线阵列40处于垂直极性、高频段天线阵列40处于水平极性及高频段天线阵列40处于垂直极性的测试。
通常地,天线阵列40中每两个相邻天线之间的距离可设置为大于3米,这样可以尽量避免天线阵列40中每两个相邻天线之间产生互耦效应,从而进一步提高测试结果的准确性。
所述电波暗室100通过将圆形底面20划分为两个半圆场地,一个半圆底面为反射接地平板,另一半圆底面铺设吸波材料16,使该电波暗室100同时具有半电波暗室及全电波暗室的功能。且在该电波暗室100内同时放置低频水平天线42与低频垂直天线44于该半电波暗室130内,放置高频水平天线46及高频垂直天线48与全电波暗室150内,使该电波暗室100在进行电磁兼容测试时,可以分别完成低频段测试与高频段测试,不必待测物50在半电波暗室与全电波暗室之间转移。另外,由于天线阵列40中同时包含水平极性及垂直极性的天线,在每一频段的测试中,完成天线在一种极性下的测试后不必重新调整天线阵列40中每个天线的极性。由此,减少了测试过程中因调节测试天线的极性及更换测试场地所损耗的人力及时间,简化了测试过程,也避免了因调节测试天线的极性及更换测试场地而重新定位仪器而产生不必要的实验误差。
可以理解的是,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本发明的技术构思做出其它各种相应的改变与变形,而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (7)

1.一种电波暗室,包括周壁及底面,该周壁内表面铺设有吸波材料,其特征在于:所述底面为圆形,并沿其一直径划分为两个半圆场地,一个半圆底面为反射接地平板,另一个半圆底面铺设吸波材料。
2.如权利要求1所述的电波暗室,其特征在于:所述周壁为半球形状,该周壁连同该底面围成一半球形罩体状的密闭的容置空间。
3.如权利要求1所述的电波暗室,其特征在于:所述电波暗室内设置有旋转台、测试桌及天线列阵,该旋转台设置于圆形底面的圆心位置,测试桌放置于旋转台上且用于放置待测物,天线列阵分布在圆形底面的边缘。
4.如权利要求3所述的电波暗室,其特征在于:所述天线阵列包括低频水平天线、低频垂直天线、高频水平天线及高频垂直天线,其分别每相隔角位置九十度放置于圆形底面的边缘,该天线列阵的天线均对准待测物。
5.如权利要求4所述的电波暗室,其特征在于:所述低频水平天线与低频垂直天线放置于反射接地平板的半圆底面,高频水平天线及高频垂直天线放置于铺设吸波材料的半圆底面。
6.如权利要求4所述的电波暗室,其特征在于:所述周壁内表面铺设的吸波材料表面形成的尖锥部的顶端垂直指向所述待测物。
7.如权利要求1所述的电波暗室,其特征在于:所述底面反射接地平板的一个半圆底面与其对应设置的周壁围成半电波暗室,底面铺设吸波材料的一个半圆底面与其对应设置的周壁围成全电波暗室。
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