CN104655949A - 电波暗室及电磁干扰的测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种电波暗室,包括一暗室、一设于暗室内用来承载一待测物的转台、一高频水平天线、一高频垂直天线、一低频水平天线、一低频垂直天线、四个单向滤波器、四个继电器、一合路器及一接收器,高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线设置于转台的四周并分别电性连接于四个单向滤波器,每一继电器包括一连接于合路器的第一端及一连接对应单向滤波器的第二端,合路器的输出端连接接收器,合路器将这些单向滤波器传输来的信号合成一合成信号后传输给接收器来判断待测物是否合格并显示出测试结果,提高了测试效率,降低了测试成本。本发明涉及一种使用该电波暗室测试电磁干扰的测试方法。
Description
技术领域
本发明涉及一种电波暗室及使用该电波暗室测试电磁干扰的测试方法。
背景技术
手机、电脑等电子产品在开发过程中均需要利用电波暗室进行电磁场辐射抗扰度试验。常用的电波暗室会分别使用高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线进行测试,需要人工在各类天线之间更换,因此增加了设备、人力、时间,造成测试成本高,且测试效率低。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种测试效率高,测试成本低的电波暗室及使用该电波暗室测试电磁干扰的测试方法。
一种电波暗室,包括一暗室、一设于该暗室内用来承载一待测物的转台、一高频水平天线、一高频垂直天线、一低频水平天线、一低频垂直天线、四个单向滤波器、四个继电器、一合路器及一接收器,该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线设置于该转台的四周并分别电性连接于该四个单向滤波器,每一继电器包括一连接于该合路器的第一端及一连接对应单向滤波器的第二端,该合路器的输出端连接该接收器,该合路器将这些单向滤波器传输来的信号合成一合成信号后传输给接收器来判断该待测物是否合格并显示出测试结果。
一种电磁干扰的测试方法,包括如下步骤:
提供一电波暗室,该电波暗室内设置一转台及放置于暗室内且位于该转台的四周的高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线;
将一待测物放置于该转台上,并开启该待测物;
该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线同时接收该待测物的电磁场信号;
该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线将接收到的电磁场信号分别通过一单向滤波器传输给一合路器;
该合路器将信号进行合成一合路信号后传输给一接收器来判断该待测物是否合格并显示出测试结果。
所述电波暗室能同时使用高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线对待测物进行高频及低频的电磁干扰测试,从而提高了测试效率,降低了测试成本。
附图说明
图1为本发明较佳实施例的电波暗室的示意图。
图2为本发明较佳实施例的电波暗室的方框图。
图3及图4为本发明较佳实施例电波暗室进行电磁干扰的测试方法的流程图。
主要元件符号说明
电波暗室 | 100 |
待测物 | 300 |
暗室 | 20 |
底壁 | 21 |
侧壁 | 22 |
顶壁 | 23 |
测试转台 | 30 |
高频水平天线 | 41 |
高频垂直天线 | 42 |
低频水平天线 | 43 |
低频垂直天线 | 44 |
单向滤波器 | 50 |
负载 | 60 |
合路器 | 70 |
继电器 | 80 |
第一端 | 81 |
第二端 | 83 |
第三端 | 85 |
放大器 | 90 |
接收器 | 10 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1,本发明较佳实施例的电波暗室100用于测试一待测物300的电磁干扰,该电波暗室100包括一暗室20、一设于该暗室20内的测试转台30、一高频水平天线41、一高频垂直天线42、一低频水平天线43、一低频垂直天线44、四个单向滤波器50、四个负载60、一合路器70、四个继电器80、一放大器90及一接收器10。本实施方式中,该待测物300为如手机、电脑等电子产品。
该暗室20包括一底壁21、自该底壁21的四周边垂直向上延伸的一侧壁22及一顶壁23。该侧壁22及顶壁23的内表面贴设有吸波材料。该测试转台30设于该底壁21的中部,该高频水平天线41、高频垂直天线42、低频水平天线43及低频垂直天线44设于该测试转台30四周的底壁21上,且该高频水平天线41、高频垂直天线42、低频水平天线43及低频垂直天线44指向该测试转台30。
请一并参阅图1及图2,该高频水平天线41、高频垂直天线42、低频水平天线43及低频垂直天线44各电性连接一个单向滤波器50。每一继电器80包括一连接于该合路器70的输入端的第一端81、一连接于一个单向滤波器50的第二端83及一连接于一个负载60的第三端85。这些单向滤波器50使高频水平天线41、高频垂直天线42、低频水平天线43及低频垂直天线44接收到的电磁场信号经继电器80传输至合路器70内。该放大器90的输入端连接于该合路器70的输出端,该放大器90的输出端连接于该接收器10。每一负载60的电阻值与对应的单向滤波器50的电阻值相同,以使两者的阻抗匹配。本实施方式中,每一负载60的电阻值为50Ω。该合路器70将单向滤波器50传输来的信号合成一合成信号后传输给放大器90。该放大器90将接收到的合成信号放大,以增加系统的灵敏度。该接收器10将接收到该放大器90的合成信号进行分析处理,并与行业规定的电磁辐射的限制值比较及显示测试结果。
请参阅图3及图4,使用时,将待测物300放置于测试转台30上,并使该待测物300工作。将四个继电器80的第一端81连接第二端83,使该高频水平天线41、高频垂直天线42、低频水平天线43及低频垂直天线44电性连接于合路器70。该高频水平天线41、高频垂直天线42、低频水平天线43及低频垂直天线44同时接收该待测物300的电磁场信号,并将接收到的电磁场信号转换成电压信号。这些电压信号经单向滤波器50及继电器80后传输至该合路器70内。该合路器70将接收到的电压信号合成一合成信号,并将该合成信号传输给该放大器90。该放大器90将该合成信号放大后,传输给接收器10。该接收器10对该合成信号进行分析处理,并显示该合成信号的高频段量及低频段量是否在规定的限制值内。如果该合成信号的高频段量及低频段量均低于限制值,则该待测物300合格。
当该合成信号的高频段量高于限制值,且需进一步判断高频段量的极性(垂直方向的频率和水平方向的频率是否高于限制值)时,将与该低频水平天线43及低频垂直天线44连接的继电器80的第一端81连接第三端85,使该低频水平天线43及低频垂直天线44停止工作,并将与该高频垂直天线42连接的继电器80的第一端81连通第三端85,使该高频垂直天线42停止工作,仅用高频水平天线41接收待测物300的电磁场信号,并经该合路器70及放大器90,传输给接收器10,该接收器10能显示测试的结果是否高于限制值;将与该高频水平天线41连接的继电器80的第一端81连通第三端85,使该高频水平天线41停止工作,将与该高频垂直天线42连接的继电器80的第一端81连通第二端83,仅用高频垂直天线42接收待测物300的电磁场信号,并经该合路器70及放大器90,传输给接收器10,该接收器10能显示测试的结果是否高于限制值。从而可以得出待测物300的的高频电磁场信号的垂直方向的频率或水平方向的频率是否高于限制值,或两者均高于限制值。
当该合成信号的低频段量高于限制值,且需进一步判断低频段量的极性(垂直方向的频率和水平方向的频率是否高于限制值)时,将与该高频水平天线41及高频垂直天线42连接的继电器80的第一端81连通第三端85,使该高频水平天线41及高频垂直天线42停止工作,并将与该低频垂直天线44连接的继电器80的第一端81连通第三端85,使该低频垂直天线44停止工作,仅用低频水平天线43接收待测物300的电磁场信号,经该合路器70及放大器90后,传输给接收器10,该接收器10能显示测试的结果是否高于限制值;将与该低频水平天线43连接的继电器80的第一端81连通第三端85,使该低频水平天线43停止工作,将与该低频垂直天线44连接的继电器80的第一端81连通第二端83,仅用低频垂直天线44接收待测物300的电磁场信号,经该合路器70及放大器90,传输给接收器10,该接收器10能显示测试的结果是否高于限制值。从而可以得出是待测物300的低频电磁场信号的垂直方向或水平方向的频率是否高于限制值,或两者均高于限制值。
Claims (10)
1.一种电波暗室,包括一暗室、一设于该暗室内用来承载一待测物的转台、一高频水平天线、一高频垂直天线、一低频水平天线、一低频垂直天线、四个单向滤波器、四个继电器、一合路器及一接收器,该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线设置于该转台的四周并分别电性连接于该四个单向滤波器,每一继电器包括一连接于该合路器的第一端及一连接对应单向滤波器的第二端,该合路器的输出端连接该接收器,该合路器将这些单向滤波器传输来的信号合成一合成信号后传输给接收器来判断该待测物是否合格并显示出测试结果。
2.如权利要求1所述的电波暗室,其特征在于:该电波暗室还包括四个负载,每一继电器包括一连接一个负载的第三端。
3.如权利要求2所述的电波暗室,其特征在于:每一负载的电阻值与对应的单向滤波器的电阻值相同。
4.如权利要求1所述的电波暗室,其特征在于:该合路器与该接收器之间设有一放大器。
5.一种电磁干扰的测试方法,包括如下步骤:
提供一电波暗室,该电波暗室内设置一转台及放置于暗室内且位于该转台的四周的高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线;
将一待测物放置于该转台上,并开启该待测物;
该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线同时接收该待测物的电磁场信号;
该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线将接收到的电磁场信号分别通过一单向滤波器传输给一合路器;
该合路器将信号进行合成一合路信号后传输给一接收器来判断该待测物是否合格并显示出测试结果。
6.如权利要求5所述的测试方法,其特征在于:当合成信号的高频段量及低频段量均低于限制值,则待测物合格;否则待测物不合格。
7.如权利要求6所述的测试方法,其特征在于:当合成信号的高频段量高于限制值时,关闭与该低频水平天线、低频垂直天线及高频垂直天线连接的继电器,仅使高频水平天线接收待测物的电磁场信号,能判断高频段量的水平方向的频率是否高于限制值。
8.如权利要求6所述的测试方法,其特征在于:当合成信号的高频段量高于限制值,关闭与该低频水平天线、低频垂直天线及高频水平天线连接的继电器,仅使高频垂直天线接收待测物的电磁场信号,能判断高频段量的垂直方向的频率否高于限制值。
9.如权利要求6所述的测试方法,其特征在于:当合成信号的低频段量高于限制值时,关闭与该高频水平天线、高频垂直天线及低频垂直天线连接的继电器,仅使低频水平天线接收待测物的电磁场信号,能判断低频段量的水平方向的频率是否高于限制值。
10.如权利要求6所述的测试方法,其特征在于:当合成信号的低频段量高于限制值时,关闭与该高频水平天线、高频垂直天线及低频水平天线连接的继电器,仅使低频垂直天线接收待测物的电磁场信号,能判断低频段量的垂直方向的频率否高于限制值。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20150527 |
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |