CN2615674Y - 一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置,包括位于操作间内的控制器、具有显示器及一端连接到该显示器的显卡的计算机、测试仪器、接口卡和用于减少信号线电磁干扰的转换模块,以及位于包括金属高架地板的暗室内的转台、天线塔和显示器,其中,操作间内的控制器、计算机、测试仪器通过接口卡和转换模块与暗室内的转台、天线塔和显示器相连,其中所述显卡为双头显卡,该显卡的一端连接到操作间内计算机上的显示器,另一端通过操作间的转换模块连接到暗室内的显示器,该装置还包括位于暗室内的信息输入装置,该信息输入装置通过有线方式或无线方式连接到操作间的转换模块,并通过转换模块连接到操作间的计算机。
Description
技术领域
本实用新型涉及电磁兼容(EMC)测试技术领域,特别是指一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置。
背景技术
EMC暗室是进行电子产品电磁兼容设计以及测试的非常重要的测试场所,由于EMC暗室具有使用方便、经济的特点,因此大多数电子产品在设计期间的电磁兼容改进测试,以及最后的电磁兼容达标测试都是在EMC暗室中进行的。
图1所示为常规EMC暗室测试系统示意图。该暗室测试系统由暗室、仪器系统以及连接暗室与仪器系统的线缆所构成。暗室的外壳为具有良好屏蔽性能的金属壳体1,金属壳体1隔绝外界电磁波,使暗室内形成一个相对独立的电磁空间A;在该金属壳体1的内部墙面以及暗室地面上,根据需要放置电磁波吸收材料,用以吸收转台112上的受试设备所发射的电磁波。独立的电磁空间A中的110为天线塔,该天线塔110上装置的天线用来接收受试设备所辐射的电磁波,并转换为电信号,该信号经过信号线20传输到金属壳体1外面的测试仪器4上并显示测试结果,同时测试仪器4上的测试结果,通过信号线23,同时显示在暗室中的显示器13上。工程人员根据测试仪器4所显示的结果判断受试设备的电磁辐射能量强度是否超标。对于不合格的位置点,工程人员需进入暗室内对受试设备进行调整,调整完毕后再到暗室外操作控制台6,经控制信号线22以及控制信号线21,使转台112以及天线塔110变换位置,继续对受试设备进行测试。
图2所示为常规EMC暗室测试系统连线示意图。通常的暗室测试系统的测试装置主要由操作间内的计算机5、控制台6、测试仪器4,和暗室内的天线塔110、转台112以及显示器13等设备构成。天线塔110上装有用于测试的测试天线19,转台112通常位于测试桌113上。操作间的计算机5、控制台6以及测试仪器4通过接口卡10(如GPIB卡)和转换设备与暗室中的转台112、天线塔110以及显示器13连接起来,并可控制暗室中的转台112及天线塔110的位置。进入暗室1的所有信号线和控制线,如图中的11、12、14、18等,都分别需要经过转换模块115、转换模块116或光电转换模块114的滤波转换处理,其目的是不对暗室的测试背景造成影响。
操作间的计算机5可以通过测试软件以及控制台6对转台112、天线塔110进行控制,从而控制转台112的角度、测试天线19的高度以及极化方向。测试仪器4所显示的内容,通过信号线15、光电转换模块114转换为光信号后,进入暗室1,然后再经暗室内的转换设备(图未示)转换为电信号,同时显示在显示器13上。如果在某一个位置,测试仪器4所显示的数据表示受试设备辐射超标,则工程人员需进入暗室对受试设备进行调整,当调整完毕且显示器13所显示的数据表示测试合格时,工程人员再回到操作间继续测试工作,即对天线高度、极化方向以及转台角度进行调整,当再次出现不合格测试点时,工程人员还需进入暗室,对受试设备再次进行调整,直到受试设备在该位置合格后,工程人员再次返回操作间通过计算机或控制台对暗室内的天线高度、极化方向以及转台角度再次进行调整,继续对受试设备进行测试,如此反复,直到受试设备的所有位置均测试合格为止。由于通常情况下会有多个不合格的测试位置点,因此,工程人员必须反复进出暗室,工作起来很不方便,且工作效率低。
另外,当工程人员应用近场探头的方法对不合格问题进行诊断时,往往需要将受试设备置于暗室1的外面靠近测试仪器附近的位置进行测试。很多情况下测试仪器是放置在没有屏蔽的空间内,因此,不但将受试设备从暗室中搬出来需耗费时间,而且测试结果往往会受到外界背景电磁辐射的影响,使测试敏感度降低。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的是提供一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置,使工程人员在暗室内部便可完成全部操作工作而不需反复进出暗室,同时可使受试设备在暗室内完成近场测试,提高近场测试的敏感度。
为达到上述目的,本实用新型的技术方案是这样实现的:
一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置,包括位于暗室外的操作间内的控制器、具有显示器及一端连接到该显示器的显卡的计算机、测试仪器、接口卡和用于减少信号线电磁干扰的转换模块,以及位于包括金属高架地板的暗室内的转台、天线塔和显示器,其中,操作间内的控制器、计算机、测试仪器通过接口卡和转换模块与暗室内的转台、天线塔和显示器相连,
所述显卡为双头显卡,该双头显卡的一端连接到操作间内计算机上的显示器,另一端通过操作间内的转换模块连接到暗室内的显示器;
该装置进一步包括位于暗室内的信息输入装置,该信息输入装置通过有线方式或无线方式连接到操作间内的转换模块,并通过该转换模块连接到操作间内的计算机。
较佳地,所述有线方式为:信息输入装置通过穿过金属高架地板上的小孔的信号线连接到操作间内的转换模块。
较佳地,所述无线方式为:该装置进一步包括位于暗室金属高架地板下面并靠近金属高架地板上小孔的能和所述信息输入装置无线通信的无线收发装置,该无线收发装置通过信号线连接到操作间内的转换模块。
较佳地,所述无线通信是红外通信。
较佳地,所述信息输入装置是键盘或鼠标,或者同时包括键盘和鼠标。
较佳地,该装置进一步包括具有电磁屏蔽功能的近场测试线,所述近场测试线的一端位于暗室内部的转台附近,另一端连接到操作间内的测试仪器。
应用本实用新型,在暗室内设置一套用以控制操作间计算机的键盘、鼠标,并采用双头显卡使暗室内的显示器与操作间计算机上的显示器所显示的内容相同,从而在暗室内实现对测试仪器、转台、天线塔的控制,避免工程人员反复进出暗室,提高了测试效率。同时,本实用新型在操作间的测试仪器与暗室内的转台之间铺设一条具有屏蔽性能的信号线,使工程人员在暗室内便可进行近场测试,节约了因搬运受试设备到操作间的测试仪器旁搭建测试环境所耗费的时间,并且提高了测试灵敏度。
附图说明
图1所示为常规EMC暗室测试系统示意图;
图2所示为常规EMC暗室测试系统连线的示意图;
图3所示为应用本实用新型的暗室内的键盘鼠标与操作间的计算机的连接示意图;
图4所示为应用本实用新型的暗室内的显示器与操作间的计算机的连接示意图;
图5所示为应用本实用新型的为近场测试所铺设的信号线的示意图;
图6所示为应用本实用新型的EMC暗室测试系统连线的示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚,以下参照附图并举实施例,对本实用新型做进一步详细说明。
本实用新型的思路是:在暗室内设置一套用以控制操作间计算机的键盘、鼠标,且上述计算机采用双头显卡,使暗室内的显示器与计算机上的显示器所显示内容一样,这样,可以通过暗室内的键盘、鼠标实现对操作间计算机的控制。同时铺设从测试仪器到受试设备附近的信号线,使近场测试在暗室内进行。
图3所示为应用本实用新型的暗室内的键盘鼠标与操作间的计算机的连接示意图。暗室的屏蔽壳体1内有金属高架地板2,金属高架地板2上开有供接收无线或者红外发射头的小孔31,该小孔31的位置需要考虑使用方便,置于暗室内显示器13附近。本实施例采用红外或者无线键盘鼠标,与计算机的键盘鼠标信号相连的信号线25经电磁滤波处理,如绕扣铁氧体磁环后,穿入屏蔽壳体1,与红外或无线发射端相连,同时该信号线25置于金属高架地板2的下面,因此信号线25不会对暗室电磁环境造成污染。在需要使用键盘或者鼠标时,将其接收端置于小孔31的上方,由于没有线缆穿过小孔31,因此键盘、鼠标不会对暗室内的电磁测试环境造成污染。这样通过暗室内部的键盘、鼠标便可控制计算机5。16、17为暗室外面的键盘、鼠标,供暗室外对计算机5进行控制时使用。
当然也可使用有线的键盘和鼠标,此时,置于金属高架地板2下面的经电磁滤波处理的信号线25经金属高架地板上的小孔31穿入暗室1内,与暗室内的键盘鼠标直接相连,由于信号线25经过了电磁滤波处理,所以该信号线25不会对暗室内的电磁测试环境造成污染,同样地,可实现应用暗室内部的键盘、鼠标控制计算机5。
图4所示为应用本实用新型的暗室内的显示器与操作间的计算机的连接示意图。在暗室外的计算机5上设置双头显卡40,该双头显卡40的一头连接于暗室外的计算机上的显示器111,该双头显卡40的另一头通过穿入暗室屏蔽壳体1内的显示器信号线23连接于暗室内的显示器13上。由于该信号线23经过光电转换,所以其避免了可能对暗室环境造成的电磁污染。应用该连接方法使得显示器13和显示器111所显示内容一样,配合前面的键盘、鼠标,从而实现了在暗室内对测试仪器、转台、天线塔等进行控制的目的。
图5所示为应用本实用新型的为近场测试所铺设的信号线的示意图。信号线20连接暗室内的天线塔110与暗室外的测试仪器4,130为从测试仪器4到放置受试设备的转台112附近的本身具有屏蔽功能的信号线。通常测试时,天线塔110上面的天线接收到转台112上受试设备的电磁辐射后,将该辐射通过信号线20传到测试仪器4上得到测试结果。铺设从测试仪器4到转台112附近的信号线130后,在需要进行近场测试时,只需要将信号线130一端接到测试仪器4上,将信号线130另一端接上近场探头,配合暗室内的显示器,就可以非常方便在暗室内进行近场测试诊断,提高了测试灵敏度并节约了搭建测试环境的时间。
图6所示为应用本实用新型的EMC暗室测试系统连线的示意图。由于计算机所应用的显卡为双头显卡,该双头显卡一头的输出信号到操作间的显示器111上,其另一头的输出信号到暗室内的显示器13上,因此,暗室内的显示器13所显示的内容不再只是测试仪器上面的内容,而是与操作间计算机上的显示器111上所显示的内容一样。操作间的计算机上所引出的键盘信号线118、鼠标信号线119经转换模块117作滤波处理后,变为键盘信号线123、鼠标信号线122进入暗室,设置在暗室内的键盘121、鼠标120通过暗室内的显示器13对暗室外的计算机进行操作,由于暗室外计算机上的软件能够对测试仪器以及暗室内的转台、天线塔进行控制,因此通过暗室内的键盘121、鼠标120可实现对转台角度、天线塔的高度以及天线的极化方向和测试仪器的控制,从而大大提高测试速度以及辐射改进的灵活性。
另外,在进行近场测试时,由于设置了由操作间穿入暗室并到达受试设备附近的本身具有屏蔽功能的信号线130,只需将该信号线位于操作间的一端与测试仪器相连,将该信号线130位于受试设备的一端接上近场探头,即可实现在暗室内实现近场测试。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1、一种用于电磁兼容暗室测试系统的测试装置,包括位于暗室外的操作间内的控制器、具有显示器及一端连接到该显示器的显卡的计算机、测试仪器、接口卡和用于减少信号线电磁干扰的转换模块,以及位于包括金属高架地板的暗室内的转台、天线塔和显示器,其中,操作间内的控制器、计算机、测试仪器通过接口卡和转换模块与暗室内的转台、天线塔和显示器相连,其特征在于,
所述显卡为双头显卡,该双头显卡的一端连接到操作间内计算机上的显示器,另一端通过操作间内的转换模块连接到暗室内的显示器;
该装置进一步包括位于暗室内的信息输入装置,该信息输入装置通过有线方式或无线方式连接到操作间内的转换模块,并通过该转换模块连接到操作间内的计算机。
2、根据权利要求1所述的装置,其特征在于所述有线方式为:信息输入装置通过穿过金属高架地板上的小孔的信号线连接到操作间内的转换模块。
3、根据权利要求1所述的装置,其特征在于所述无线方式为:该装置进一步包括位于暗室金属高架地板下面并靠近金属高架地板上小孔的能和所述信息输入装置无线通信的无线收发装置,该无线收发装置通过信号线连接到操作间内的转换模块。
4、根据权利要求3所述的装置,其特征在于所述无线通信是红外通信。
5、根据权利要求1所述的装置,其特征在于所述信息输入装置是键盘或鼠标,或者同时包括键盘和鼠标。
6、根据权利要求1所述的装置,其特征在于该装置进一步包括具有电磁屏蔽功能的近场测试线,所述近场测试线的一端位于暗室内部的转台附近,另一端连接到操作间内的测试仪器。
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