CN106646045B - 用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统 - Google Patents
用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统 Download PDFInfo
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Abstract
本发明实施例提供了一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，该系统包括：第一转台；第二转台；第一天线支架的位置与第一转台边缘的距离的最小值为3米，第一天线支架上的天线接收第一转台上的待测试设备的测试信号，对第一转台上的待测试设备进行高频辐射骚扰测试；第二天线支架的位置与第二转台边缘的距离的最小值为10米，第二天线支架上的天线接收第二转台上的待测试设备的测试信号，对第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；测试切换设备接收第一天线支架上的天线的测试信号和第二天线支架上的天线的测试信号，将第一天线支架上的天线的测试信号或第二天线支架上的天线的测试信号输出。
Description
技术领域
本发明涉及电磁兼容测试技术领域，特别涉及一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统。
背景技术
对于10m(米)法半电波暗室主要用于辐射骚扰测试，最初只用于1GHz以下的辐射骚扰测试，随着标准要求的提升，辐射骚扰测试频率提升到了6GHz，要求在1GHz以上在全电波暗室或半电波暗室中铺设吸波材料进行测试。即30MHz-1GHz低频测试要求使用半电波暗室，测试距离为10m或3m；1GHz-6GHz高频测试要求使用全电波暗室或在半电波暗室中铺设吸波材料，测试距离为3m。当使用10m法半电波暗室进行辐射骚扰高低频测试时，传统的方法是在10m距离测试低频，当测试高频时，将天线移到3m测试距离，铺设吸波材料，变换测试系统，然后再进行高频测试。测试低频时再恢复到10m测试距离，将吸波材料取出，恢复到低频测试系统，这样不断变换测试场地的布置和测试系统进行测试。即存在高低频辐射测试不能同时兼顾的问题。
发明内容
本发明实施例提供了一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，以解决现有技术中10m法半电波暗室对高低频辐射测试不能同时兼顾的技术问题。该系统包括：第一转台，用于承载待测试设备；第二转台，用于承载待测试设备，其中，所述第一转台和所述第二转台的中心点位于同一条直线上，10米法半电波暗室为长方形，所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线平行于10米法半电波暗室的短边，所述第一转台的直径大于所述第二转台的直径；第一天线支架，所述第一天线支架的位置与所述第一转台边缘的距离的最小值为3米，所述第一天线支架用于承载天线，该天线接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行高频辐射骚扰测试，其中，所述第一天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第一测试轴线，在所述第一测试轴线上铺设吸波材料；第二天线支架，所述第二天线支架的位置与所述第二转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架用于承载天线，该天线接收所述第二转台上的待测试设备的测试信号，对所述第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；所述第二天线支架与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架所承载的天线还用于接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，其中，所述第二天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第四测试轴线，所述第二天线支架的位置与所述第二转台的中心点的连线形成第二测试轴线，所述第一测试轴线与所述第二测试轴线的夹角为40度，所述第一天线支架和所述第二天线支架均位于所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线的同一侧；测试切换设备，与所述第一天线支架上的天线和所述第二天线支架上的天线连接，用于接收所述第一天线支架上的天线的测试信号和所述第二天线支架上的天线的测试信号，将所述第一天线支架上的天线的测试信号或所述第二天线支架上的天线的测试信号输出。
在一个实施例中，所述第一转台的直径为3米，所述第二转台的直径为1.2米。
在一个实施例中，所述第一转台的中心点与所述第二转台的中心点之间的距离为2.3米，所述第一转台的边缘与所述第二转台的边缘之间距离的最小值为0.2米。
在一个实施例中，所述吸波材料关于所述第一测试轴线对称铺设。
在一个实施例中，在第一转台边缘上距离所述第二转台的中心最远的点做第一切线，半电波暗室内邻近该第一切线且和该第一切线平行的墙体上的吸波材料与所述第一切线之间的距离为4.2米；在第二转台边缘上距离所述第一转台的中心最远的点做第二切线，半电波暗室内邻近该第二切线且和该第二切线平行的墙体上的吸波材料与所述第二切线之间的距离为4.6米。
在一个实施例中，所述测试切换设备为射频开关。
在一个实施例中，还包括：第三天线支架，在所述第一测试轴线的远离所述第一转台方向的延长线上，所述第三天线支架的位置与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米，所述第三天线支架用于承载天线，该天线接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；所述测试切换设备，还用于与所述第三天线支架上的天线连接，用于接收所述第三天线支架上的天线的测试信号。
在一个实施例中，还包括：第四天线支架，所述第四天线支架的位置与所述第二转台边缘的距离的最小值为10米，所述第四天线支架用于承载天线，该天线接收所述第二转台上的待测试设备的测试信号，对所述第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，其中，所述第四天线支架的位置与所述第二转台的中心点的连线形成第三测试轴线；所述测试切换设备，还用于与所述第四天线支架上的天线连接，用于接收所述第四天线支架上的天线的测试信号。
在本发明实施例中，用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统通过同时设置第一转台和第二转台两个转台，并分别为两个转台匹配有天线支架，第一天线支架上的天线与第一转台实现对待测试设备的高频(例如，1GHz-6GHz)辐射骚扰测试，第二天线支架上的天线与第二转台实现对待测试设备的低频(例如，30MHz-1GHz)辐射骚扰测试。与现有技术相比，使得在10米法半电波暗室内可以同时兼顾高低频辐射骚扰测试，在低频辐射骚扰测试与高频辐射骚扰测试之间切换时，只需将待测试设备更换到不同的转台上即可，可以保持高低频辐射骚扰测试布置不用变化，减少了吸波材料不断搬运造成的损坏，也有助于提升暗室的利用效率。此外，由于第一测试轴线与第二测试轴线的夹角为40度，低频辐射骚扰测试布置与高频辐射骚扰测试布置同时存在，在分别进行低频辐射骚扰测试与高频辐射骚扰测试时，二者之间不会相互干扰，即在进行低频辐射骚扰测试时，高频辐射骚扰测试布置可以不用变化，避免吸波材料不断搬运造成的损坏，同样，在进行高频辐射骚扰测试时，低频辐射骚扰测试布置也可以不用变化。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明的限定。在附图中：
图1是本发明实施例提供的一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统的示意图；
图2是本发明实施例提供的一种吸波材料铺设的示意图；
图3是本发明实施例提供的一种具体的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统的示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施方式和附图，对本发明做进一步详细说明。在此，本发明的示意性实施方式及其说明用于解释本发明，但并不作为对本发明的限定。
发明人发现，现有的10m法半电波暗室设计主要是一个天线塔一个转台或两个天线塔一个转台，即一条测试轴线或两条测试轴线，这样无法避免在进行高低频辐射骚扰测试时要更换测试系统，低频辐射骚扰测试时吸波材料不能在暗室内，即存在高低频辐射骚扰测试不能兼顾的问题。因此，发明人提出上述用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，该系统实现在同一测试场地同时设置用于高频和低频辐射骚扰测试的布置，且可以在高频和低频辐射骚扰测试的布置不用变化的情况下，同时兼顾高频和低频辐射骚扰测试。
在本发明实施例中，提供了一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，如图1所示，该系统包括：
第一转台101，用于承载待测试设备；
第二转台102，用于承载待测试设备，其中，所述第一转台和所述第二转台的中心点位于同一条直线上，10米法半电波暗室为长方形，所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线平行于10米法半电波暗室的短边，所述第一转台的直径大于所述第二转台的直径；
第一天线支架103，所述第一天线支架的位置与所述第一转台边缘的距离的最小值为3米，所述第一天线支架用于承载天线，该天线接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行高频辐射骚扰测试，其中，所述第一天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第一测试轴线1，在所述第一测试轴线上铺设吸波材料；
第二天线支架104，所述第二天线支架的位置与所述第二转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架用于承载天线，该天线接收所述第二转台上的待测试设备的测试信号，对所述第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；所述第二天线支架与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架所承载的天线还用于接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，其中，所述第二天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第四测试轴线4，所述第二天线支架的位置与所述第二转台的中心点的连线形成第二测试轴线2，所述第一测试轴线与所述第二测试轴线的夹角为40度，所述第一天线支架和所述第二天线支架均位于所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线的同一侧；
测试切换设备(图中未示出)，与所述第一天线支架上的天线和所述第二天线支架上的天线连接，用于接收所述第一天线支架上的天线的测试信号和所述第二天线支架上的天线的测试信号，将所述第一天线支架上的天线的测试信号或所述第二天线支架上的天线的测试信号输出。
由图1所示可知，在本发明实施例中，用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统通过同时设置第一转台和第二转台两个转台，并分别为两个转台匹配有天线支架，第一天线支架上的天线与第一转台实现对待测试设备的高频(例如，1GHz-6GHz)辐射骚扰测试，第二天线支架上的天线与第二转台实现对待测试设备的低频(例如，30MHz-1GHz)辐射骚扰测试。与现有技术相比，使得在10米法半电波暗室内可以同时兼顾高低频辐射骚扰测试，在低频辐射骚扰测试与高频辐射骚扰测试之间切换时，只需将待测试设备更换到不同的转台上即可，可以保持高低频辐射骚扰测试布置不用变化，减少了吸波材料不断搬运造成的损坏，也有助于提升暗室的利用效率。此外，由于第一测试轴线与第二测试轴线的夹角为40度，低频辐射骚扰测试布置与高频辐射骚扰测试布置同时存在，在分别进行低频辐射骚扰测试与高频辐射骚扰测试时，二者之间不会相互干扰，即在进行低频辐射骚扰测试时，高频辐射骚扰测试布置可以不用变化，避免吸波材料不断搬运造成的损坏，同样，在进行高频辐射骚扰测试时，低频辐射骚扰测试布置也可以不用变化。
具体实施时，所述第一转台101的直径可以为3米，可承重3000kg，可360度旋转，可放置体积较大或重量较重的待测试设备。第一转台101，对应第一测试轴线1，测试距离为3米，通过第一天线支架所承载的天线实现对待测试设备进行高频(1GHz-6GHz)辐射骚扰测试；所述第二转台102的直径可以为1.2米，可承重1000kg，可360度旋转，可放置体积较小或重量较轻的待测试设备。第二转台102，对应第二测试轴线2，测试距离为10米，通过第二天线支架所承载的天线实现对待测试设备进行低频(30MHz-1GHz)辐射骚扰测试。
具体实施时，为了进一步避免高频和低频辐射骚扰测试之间的干扰，在本实施例中，所述第一转台101的中心点与所述第二转台102的中心点之间的距离为2.3米，所述第一转台的边缘与所述第二转台的边缘之间距离的最小值为0.2米。
具体实施时，用于设置上述用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统的半电波暗室的净宽度可以为13.2m，如图1所述，图1的实线边框表示半电波暗室的墙体，边框上的梯形块表示半电波暗室墙体上的吸波材料，在第一转台边缘上距离所述第二转台的中心最远的点做第一切线，半电波暗室内邻近该第一切线且和该第一切线平行的墙体上的吸波材料与所述第一切线之间的距离a为4.2米；在第二转台边缘上距离所述第一转台的中心最远的点做第二切线，半电波暗室内邻近该第二切线且和该第二切线平行的墙体上的吸波材料与所述第二切线之间的距离b为4.6米。
具体实施时，为了进一步避免高频辐射骚扰测试干扰低频辐射骚扰测试，在本实施例中，如图1、2所示，所述吸波材料关于所述第一测试轴线1对称铺设。具体的，在第一转台101与第一天线支架103的位置之间的测试区域作为高频辐射骚扰测试区域，第二转台102与第二天线支架104的位置之间的测试区域作为低频辐射骚扰测试区域，第一转台101的前边缘突出第二转台102的前边缘，吸波材料的铺设远离低频测试区域，避免对低频辐射骚扰测试区域产生干扰，使低频辐射骚扰测试区域的性能要求符合标准要求，第一天线支架103和第二天线支架104相距比较远，避免测试时相互干扰。如图2所示，上述吸波材料使用60cmx60cm，高30cm的吸波材料，在第一测试轴线1上且关于第一测试轴线1对称铺设吸波材料，可以使用27块吸波材料，交叉铺设。
具体实施时，上述测试切换设备可以为射频开关，例如，当需要进行高低频辐射骚扰测试时，一副天线位于第一天线支架103上，另一幅天线位于第二天线支架104上，测试切换设备同时与第一天线支架103上的天线和第二天线支架104上的天线连接，第一天线支架上的天线的测试信号和第二天线支架上的天线的测试信号作为测试切换设备的两路输入，测试切换设备在第一天线支架上的天线的测试信号和第二天线支架上的天线的测试信号之间进行切换，将第一天线支架上的天线的测试信号或第二天线支架上的天线的测试信号输出给测试接收机。测试软件能控制射频切换开关的切换。
具体实施时，为了增强上述用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统的使用灵活性，在本实施例中，如图3所示，上述用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统还包括：第三天线支架105，在所述第一测试轴线的远离所述第一转台方向的延长线上，所述第三天线支架的位置与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米，所述第三天线支架用于承载天线，该天线接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；所述测试切换设备，还用于与所述第三天线支架上的天线连接，用于接收所述第三天线支架上的天线的测试信号。具体的，在第一转台不进行高频辐射骚扰测试时，可以通过第一转台101对应的第三天线支架105上的天线对待测试设备进行低频辐射骚扰测试，另外，也可以通过第二天线支架104上的天线对第一转台101上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，即第三天线支架105上的天线和第二天线支架104上的天线同时完成对第一转台101上待测试设备的低频辐射骚扰测试。既能灵活使用第二天线支架104和第三天线支架105也能进行双天线同时测试，提升测试效率，降低由于天线支架问题而造成暗室停用的风险。
具体实施时，为了进一步增强上述用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统的使用灵活性，如图3所示，上述用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统还包括：第四天线支架106，所述第四天线支架的位置与所述第二转台边缘的距离的最小值为10米，所述第四天线支架用于承载天线，该天线接收所述第二转台上的待测试设备的测试信号，对所述第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，其中，所述第四天线支架的位置与所述第二转台的中心点的连线形成第三测试轴线3；所述测试切换设备，还用于与所述第四天线支架上的天线连接，用于接收所述第四天线支架上的天线的测试信号。具体的，在第一转台101或第二天线支架104出问题时，为了避免造成暗室停用的风险，可以通过第二转台102对应的第四天线支架106上的天线对待测试设备进行低频辐射骚扰测试。
具体实施时，如图3所示，所述第二天线支架104与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架所承载的天线还用于接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，其中，所述第二天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第四测试轴线4。具体的，在第二转台102故障或第二转台102对应的第四天线支架106上的天线正在进行低频辐射骚扰测试时，可以通过第一转台101对应的第二天线支架104上的天线对待测试设备进行低频辐射骚扰测试。
具体实施时，如图3所示，第一转台101对应第一天线支架103、第二天线支架104和第三天线支架105，即第一转台101对应第一测试轴线1和第四测试轴线4，可以进行高低和低频辐射骚扰测试；同时，第二转台102对应第二天线支架104和第四天线支架106，即第二转台102对应第二测试轴线2和第三测试轴线3，可以进行低频辐射骚扰测试。因此，可以根据具体需求将第一测试轴线1和第二测试轴线2组合，作为高低频辐射骚扰测试轴线的组合，这两条轴线的夹角达到了40度，避免在测试时相互干扰。另外，在单独进行低频辐射骚扰测试时，4条测试轴线可以使用任何一条，每条测试轴线都满足低频测试的要求。另外可以将第一测试轴线1和第四测试轴线4组合，或将第三测试轴线3和和第二测试轴线2组合，进行双天线同时低频辐射骚扰测试(在第一测试轴线1和第四测试轴线4组合进行双天线同时低频辐射骚扰测试时，可以不在第一测试轴线1上铺设吸波材料)，多条测试轴线的设计，既能灵活使用也能提升测试效率，降低由于转台或天线支架问题而造成暗室停用的风险。
在本发明实施例中，用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统通过同时设置第一转台和第二转台两个转台，并分别为两个转台匹配有天线支架，第一天线支架上的天线与第一转台实现对待测试设备的高频(例如，1GHz-6GHz)辐射骚扰测试，第二天线支架上的天线与第二转台实现对待测试设备的低频(例如，30MHz-1GHz)辐射骚扰测试。与现有技术相比，使得在10米法半电波暗室内可以同时兼顾高低频辐射骚扰测试，在低频辐射骚扰测试与高频辐射骚扰测试之间切换时，只需将待测试设备更换到不同的转台上即可，可以保持高低频辐射骚扰测试布置不用变化，减少了吸波材料不断搬运造成的损坏，也有助于提升暗室的利用效率。此外，由于第一测试轴线与第二测试轴线的夹角为40度，低频辐射骚扰测试布置与高频辐射骚扰测试布置同时存在，在分别进行低频辐射骚扰测试与高频辐射骚扰测试时，二者之间不会相互干扰，即在进行低频辐射骚扰测试时，高频辐射骚扰测试布置可以不用变化，避免吸波材料不断搬运造成的损坏，同样，在进行高频辐射骚扰测试时，低频辐射骚扰测试布置也可以不用变化。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明实施例可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，包括：
第一转台，用于承载待测试设备；
第二转台，用于承载待测试设备，其中，所述第一转台和所述第二转台的中心点位于同一条直线上，10米法半电波暗室为长方形，所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线平行于10米法半电波暗室的短边，所述第一转台的直径大于所述第二转台的直径；
第一天线支架，所述第一天线支架的位置与所述第一转台边缘的距离的最小值为3米，所述第一天线支架用于承载天线，该天线接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行高频辐射骚扰测试，其中，所述第一天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第一测试轴线，在所述第一测试轴线上铺设吸波材料；
第二天线支架，所述第二天线支架的位置与所述第二转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架用于承载天线，该天线接收所述第二转台上的待测试设备的测试信号，对所述第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；所述第二天线支架与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米，所述第二天线支架所承载的天线还用于接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，其中，所述第二天线支架的位置与所述第一转台的中心点的连线形成第四测试轴线，所述第二天线支架的位置与所述第二转台的中心点的连线形成第二测试轴线，所述第一测试轴线与所述第二测试轴线的夹角为40度，所述第一天线支架和所述第二天线支架均位于所述第一转台和所述第二转台的中心点的连线的同一侧；
测试切换设备，与所述第一天线支架上的天线和所述第二天线支架上的天线连接，用于接收所述第一天线支架上的天线的测试信号和所述第二天线支架上的天线的测试信号，将所述第一天线支架上的天线的测试信号或所述第二天线支架上的天线的测试信号输出。
2.如权利要求1所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，所述第一转台的直径为3米，所述第二转台的直径为1.2米。
3.如权利要求1所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，所述第一转台的中心点与所述第二转台的中心点之间的距离为2.3米，所述第一转台的边缘与所述第二转台的边缘之间距离的最小值为0.2米。
4.如权利要求1所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，所述吸波材料关于所述第一测试轴线对称铺设。
5.如权利要求1所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，在第一转台边缘上距离所述第二转台的中心最远的点做第一切线，半电波暗室内邻近该第一切线且和该第一切线平行的墙体上的吸波材料与所述第一切线之间的距离为4.2米；在第二转台边缘上距离所述第一转台的中心最远的点做第二切线，半电波暗室内邻近该第二切线且和该第二切线平行的墙体上的吸波材料与所述第二切线之间的距离为4.6米。
6.如权利要求1所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，所述测试切换设备为射频开关。
7.如权利要求1至6中任一项所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，还包括：
第三天线支架，在所述第一测试轴线的远离所述第一转台方向的延长线上，所述第三天线支架的位置与所述第一转台边缘的距离的最小值为10米，所述第三天线支架用于承载天线，该天线接收所述第一转台上的待测试设备的测试信号，对所述第一转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试；
所述测试切换设备，还用于与所述第三天线支架上的天线连接，用于接收所述第三天线支架上的天线的测试信号。
8.如权利要求1至6中任一项所述的用于10米法半电波暗室高频和低频辐射骚扰测试的系统，其特征在于，还包括：
第四天线支架，所述第四天线支架的位置与所述第二转台边缘的距离的最小值为10米，所述第四天线支架用于承载天线，该天线接收所述第二转台上的待测试设备的测试信号，对所述第二转台上的待测试设备进行低频辐射骚扰测试，其中，所述第四天线支架的位置与所述第二转台的中心点的连线形成第三测试轴线；
所述测试切换设备，还用于与所述第四天线支架上的天线连接，用于接收所述第四天线支架上的天线的测试信号。
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