TW201250017A - Method and apparatus for depositing selenium thin-film and plasma head thereof - Google Patents
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Description
201250017 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種石西薄膜沉積方法’特別是有關於 一種利用電聚將固態石西源游離化以沉積石西薄膜之方法及系 統及其電漿頭。 【先前技術】 薄膜太陽能電池(thin-film solar cell)為次世代太陽能 電池欲發展之方向;其中,CIGS(CuInl-xGaxSe2 ’銅銦硒化 鎵)因具高能源轉換效率而吸引產官學研的重視與投入。目 前CIGS欲產業化所遇到的瓶頸在於吸收層的薄膜品質, 例如,膜層成份比、結晶尺寸(grain size)、密度(dense)等等, 當中又以硒化為其關鍵製程。 現行製備吸收層的方式非常多,其中以濺鍍(sputter) 製程以及共蒸鐘(co-evaporation)補砸製程方式最常見,以 下分別說明。 濺鍍製程如美國專利公開公報第2009/0215224號 (Coating methods and apparatus for making a CIGS solar cell) 以及 S. J. Ahn et al.於 Current Applied Physics (2008)之第 766頁所提出的文章(名稱為Cu(In,Ga)Se2 layers from selenization of spray deposited nanoparticles)所述般,係在 兩腔室(chamber)中進行,且由於濺鍍技術成熟度高,吸收 層可應用二元或三元靶後再進行硒薄膜沉積,再進一步退 火製程’且相較共蒸鍍製程,可用於大面積處理。 共蒸鍍補硒製程如美國專利公開公報第2008/0072962 4 201250017 號(Method and apparatus for producing semiconductor films, photoelectric conversion devices and method for producing the devices)所述般,利用硒源直接參與鍍膜反應,且為了 提升吸收層薄膜品質,需第二道製程腔室進行補硒退火程 序;又’相較於濺鍍製程,硒源採用液化硒,並非採用危 險性Hje氣體’在現行CIGS中,能源轉換效率較高。 然而,不管上述何種方式,均須於昂貴的真空系統中 進行,且硒易於高溫製程中釋出而改變吸收層之組成份; 又,兩種方式之硒源使用率均不高,例如,在共蒸鍍製程 中,因硒分子反應性不高,需藉由高溫(>5〇〇〇c)增加反應 性,且大部份的硒沉積於腔室壁,造成污染,而影響製程 之再現性。 【發明内容】 為有效解決上述問題,本發明提出—種應用電衆游離 固態石西源以沉獅薄膜的方法及系統及其電漿頭。 在本發明其中一實施柄φ # 丄二 步驟:提供一電衆頭·於二缚膜沉積方法包括以下 將^ 電水頭’於吊壓下承载-基板;藉由電漿頭 也石西源游離化’以沉積㈣膜於基板上。 在本發明其中一實输办,士 丄 時,電彳中,在沉積硒薄膜於基板上 對移動係藉由移動電漿頌來進行。H“板之間的相 在本發明其中一實祐 石西薄膜於基板上時,在5〇〇以二包:以下步驟:在沉積 在本發明其中-實施例中二力 =基 】中*基板為非鈉鹼玻璃基板 201250017 時,上述硒薄膜沉積方法更包括··在沉積硒薄膜於基板上 後,於基板上進行補鈉製程,其中補鈉製程係藉由導入氟 化鈉於電漿頭中而進行。 在本發明其中一實施例中,更包括以下步驟:在沉積 石西薄膜於基板上時,於基板之兩相對側進行抽氣。 在本發明其中一實施例中,石西薄膜沉積系統包括一載 台以及一電漿頭,其中載台承載一基板,而電漿頭以與載 台可相對移動的方式被設置,且承載有一固態硒源,並藉 由將固態硒源游離化,以沉積硒薄膜於基板上。 在本發明其中一實施例中,載台包括一平台以及一加 熱裝置,其中平台承載基板,而加熱裝置設置於平台,且 用以於硒薄膜沉積時加熱基板。 在本發明其中一實施例中,電漿頭具有一導入口,而 硒薄膜沉積系統更包括與導入口連通的一氟化鈉源,其中 基板為非納驗玻璃基板’而鼠化納源之氣化納係經由導入 口被導入至電漿頭中。 在本發明其中一實施例中,石西薄膜沉積系統更包括一 傳動機構,與電漿頭連接,用以使電漿頭相對於載台移動。 在本發明其中一實施例中,電漿頭包括一電漿腔體以 及一殼體,其中電漿腔體產生一電漿,殼體以包圍電漿腔 體的方式與電漿腔體連接,且承載固態硒源;又,電漿腔 體具有一電漿出口,且固態硒源係位於電漿出口附近,而 殼體具有一喷出口,與電漿出口相對設置,且為狹縫狀。 在本發明其中一實施例中,石西薄膜沉積系統更包括一 抽氣裝置,設置於載台周邊,且對承載於载台上之基板之 6 201250017 兩相對侧進行抽氣。 如上述,應用電漿提高硒分子反應活性,並藉由在硒 薄膜沉積時進行熱處理,結合補硒裝置於單一系統;又, 硒源係以固態取代現行使用高危險性之液態(H2Se);另 外,藉由本發明之電漿頭於硒薄膜沉積時將氟化鈉導入, 而提供鈉來源以增加薄膜品質,進而提高能源轉換效率。 又,本發明之硒薄膜沉積方法及系統係可在常壓下進 行,不需昂貴真空設備;電漿頭之喷出口為狹缝式,有效 增加材料使用率,且藉由使電漿頭於系統中可來回傳動, 而使裝置模組化,可用於大面積處理,並可間接控制鍍膜 品質。 為使本發明之上述目的、特徵、和優點能更明顯易懂, 下文特舉實施例並配合所附圖式做詳細說明。 【實施方式】 本發明係提供一種應用電漿方式游離化硒(S e)分子而 進行硒薄膜製備之方法和系統,可應用於CIGS吸收層之 補石西或砸層沉積。 以下請參閱第la、lb、lc、Id、le、If、lg圖,說明 本發明之硒薄膜沉積系統之一實施例,應瞭解的是在本實 施例中,系統環境之壓力為500〜760托耳(Torr)。 在本實施例中,硒薄膜沉積系統1包括一系統本體 10、一載台100、一電漿頭200、以及一傳動機構300,其 中系統本體10係作為本實施例之硒薄膜沉積系統1之框架 和基底,用以承載設置載台100、電漿頭200、以及傳動機 201250017 構300於其中。 載台100設置於系統本體10中,且可承載一基板s(參 考第4a、4b圖)於其上’應瞭解的是在薄膜太陽能電池製 程中,基板S —般為玻璃基板(鈉[Na]鹼玻璃),但為發展軟 性太陽能電池’基板也可為非鈉鹼玻璃基板,例如,金屬 薄板(例如,不鏽鋼、鈦箔[Ti_foil]等)或高分子基材(例如, 聚醯亞胺[Polyimide、PI]等)。 如第la圖所示般,載台1〇〇包括一平台no以及一加 熱裝置120,其中平台110可承載基板S於其上,加熱裝 置120係以線圈的形式埋設於平台11 〇内,用以於砸薄膜 沉積時或成膜後加熱基板S ;又,應瞭解的是雖然在本實 施例中,加熱裝置120係以線圈的形式構成,但並不限於 此,任何可對設置於平台110上的基板S進行加熱的元件 均可,例如,加熱片或加熱棒等;又,雖然在本實施例中, 加熱裝置120係被埋設於平台中,但並不限於此,也 可獨立於平台110之外。 電漿頭200係以可相對於載台1〇〇移動的方式被設置 於載台100上’如第2a、2b圖所示般,電漿頭200包括〆 電漿腔體210、一殼體220、以及一固態硒源23(),其中電 槳腔體210由未圖示之電源供應器,使用惰性氣體產生電 漿’電源供應為可為直流(DC)、交流(AC)、或射頻(rf), 而惰性氣體可為氬(Ar)、鼠(N2)、或氦(He);又,電漿腔體 210具有一電漿出口 211。 殼體220以包圍電漿腔體21〇的方式與電漿腔體21〇 連接’且承載固態;6西源230 ;又,殼體220具有一喷出口 8 201250017 221 ’與電渡出口 211相對設置,且為狹缝狀’如第2b圖 所示般。 固態砸源230以位於電漿出口 211附近的方式被設置 於殼體220中,藉由來自電漿出口 211之電漿將固態硒源 230游離化’以沉積石西薄膜於基板S ;詳而言之,電聚 頭200應用電毁中之帶能量粒子(電子[e]、離子[ion]、激發 態等等)對固態硒源230進行激發,使固態硒源230之大分 子解離為具活性之小分子及自由基(radical)來增加反應 性,有效增加材料使用率。 又’由於固態硒源230並非設置於電漿腔體210内, 因此’可避免反應物沉積於電漿腔體210内之電極上。 應瞭解的是固態硒源230的形式並不特別限定,例如 在第2a、2b圖中,係將複數個硒錠設置於殼體22〇之内壁 上’但並不限於此’也可將固態硒以環狀的形式設置、或 疋被塗佈在殼體220的内壁上。 又’嘴出口 221與基板S之間的距離係可視製程條 而調整。
另外’應瞭解的是在本實施例中,電漿頭係用於CIGS 吸收層之補硒或硒層沉積,因此,電漿頭中係承载硒源, 但電聚頭中所承載的待鍍源並不限於此,也可視所需的勢 程’承載非硒源’例如,在表面改質製程中,也可乘护 源等。 反 又’對應於不同的製程條件,電漿頭的構成也可適卷 變化’例如,當基板S為非鈉鹼玻璃基板時,電漿項 可在殼體220之側邊更具有一導入口 222,其與一氟化納 201250017 (NaF)源240(參考第4b圖)連通,藉此氟化鈉源240之氟化 鈉係經由導入口 222被導入至電漿頭200中參與電漿反 應,以增加基板S上之鈉成份,藉以進行補鈉製程,增加 吸收層之薄膜品質,進而提高能源轉換效率。補鈉製程可 於硒沉積之製程中同時進行,或是硒沉積完成後再進行鈉 沉積的動作;應瞭解的是上述補鈉製程之鈉源並不限於氟 化納源,例如,鈉源可為ί西化納(Na2Se)源。 請再次參閱第la〜lg圖,傳動機構300係設置於系統 本體10上,且與電漿頭200連接,用以使電漿頭200可相 對於載台1〇〇移動;在本實施例中,傳動機構300包括一 輸送器320、與電漿頭200連接的一轉接頭330、以及未圖 示之馬達,藉由馬達驅動輸送器320運作,輸送器320可 帶動設置於轉接頭330上的電漿頭200來回移動,而達大 面積化之處理製程。應暸解的是輸送器320之構成並未特 別限定,只要是可帶動電漿頭來回移動的機構即可,例如, 可利用皮帶或齒輪等,在本實施例之圖示中,係以導執之 形式構成。 另外,應瞭解的是雖然在本實施例中,係利用傳動機 構來帶動電漿頭相對於載台移動,但並不限於此,也可將 載台設計為可移動式,以達到電漿頭與載台相對移動的目 的。 第3圖顯示本發明之硒薄膜沉積系統1’之一變形例, 在本變形例中,與第1圖中之硒薄膜沉積系統1之不同點 在於:電漿頭200’係以模組化的方式設置,詳而言之,電 漿頭200’係以三個並列的方式設置於載台100上,搭配傳 201250017 動機構300以達大面積化之處理;又,由於電槳 以複數個的方式設置,其殼體之喷出口並不被限200係 狀,可對應於電漿頭設置個數,而以點至線型狹縫狹縫 第4a〜4c圖顯示本發明之硒薄膜沉積系統。 例,在本變形例中,與第!圖中之石西薄膜沉積系 變形 同點在於:硒薄膜沉積系統丨,,更包括一抽氣裝置4之不 置於糸統本體10和載台100周邊,對於承载於裁A 1 π 之基板S之兩相對側進行抽氣,以提升氣流場° 100上 對應於抽氣裝置400之設置,系統本體料辛又’又’ 複數個抽纽U,#此純裝置 &上设置 承載於載台⑽上之基板8之兩相對側進^錢μ 另外’應瞭解的是在上述各實施例
It被開放於大氣環境下,但並不限於此,IS 王個糸統在密閉的環境中進行 也了將 則〜760托耳(㈣即可。 而”系騎^之壓力為 利用ΪΪ:㈣膜沉積系統係如上述般構成,以下說明 括以下ίΓ膜:積系,行之則膜沉積方法,其包 圖示)承載於於以下將—基板S利用機械手臂(未 所示般接寻膜沉積系統Γ,之載台_上,如第如圖 電聚將固t =裝頭之電衆腔請所產生之 D所示般;基:: 中之箭夕在此同時將電漿頭200朝第4a圖 動,直到電將=向移動’而使電默頭200與基板S相對移 可將達如第4c圖所示之位置為止,藉此 〆寻聘,几積於基板s上。 201250017 應瞭解的是雖然上述方法係以沉積系統之圖示進行 說明,但並不限於此,也可利用沉積系統1、γ來進行;另 外,雖然上述方法係以電漿頭單方向移動一次進行說明, 但並不限於此,也可視製程需要,藉由電漿頭來回一次來 進行薄膜沉積,或是來回兩次以上也可。 又,在沉積硒薄膜於基板S上時,加熱裝置120同時 在500°C以下的條件下加熱基板S,且抽氣裝置400也可同 時於基板S之兩相對側進行抽氣。 又,當基板S為非鈉鹼玻璃基板時,在沉積硒薄膜於 基板S後,將氟化鈉源240之氟化鈉係經由電漿頭200之 導入口 222被導入至電漿頭200中,以進行補鈉製程;應 瞭解的是補鈉製程可如上述硒薄膜沉積製程般,藉由電漿 頭移動來完成,在此不再贅述。 如上述,本發明之硒薄膜沉積方法及系統係可在常壓 下進行,不需昂貴真空設備,且藉由使電漿頭於系統中可 來回傳動,可用於大面積處理;又,硒源係以固態取代現 行使用高危險性之液態,並藉由在硒薄膜沉積時進行熱處 理,結合補硒裝置於單一系統;另外,於硒薄膜沉積時可 將敗化納導入,而提供納來源以增加薄膜品質。 雖然本發明已以諸項實施例揭露如上,然其並非用以 限定本發明,任何其所屬技術領域中具有通常知識者,在 不脫離本發明之精神和範圍内,當可作任意之更動與潤 飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界 定者為準。 12 201250017 【圖式簡單說明】 俯視=la圖係依據本發明之碼薄膜沉積系統之一實施例之 L :係為化著第1a圖中的A-A線所視的剖面圖; 第lc圖係為沿著第 , 後的立體圖; ·中的A-A線將糸統部份切開 Ϊ 為沿考第1&圖中的B_B線所視的剖面圖; 弟le圖係為沿著篦 u 後的立體圖; ® &圖中的B-B線將系統部份切開 ί係為沿t第1a圖中的c-c線所視的剖面圖; g圖係為沿著第1 a圖中 後的立體圖; 中的C-C線將糸統部份切開 f 2&圖係為第lb圖中之部分D1之放大圖; =2b圖係為第lc圖中之部分Μ之放大圖; 示意圖;3圖係依據本發明之㈣膜沉積系統之一變形例之 第乜圖係依據本發明之石西薄膜 之俯視示意圖; 價糸統之另一變形例 第4b圖係為第4a圖中之砸薄 圖;以及 L積系統之匈視示意 _立第4e圖係為第4a圖中之_薄膜沉積系 不意圖,其中電漿頭係位於基板上。'、、另—俯視 【主要元件符號說明】 】、Γ、〗’’〜硒薄膜沉積系統; 13 201250017 10、10’〜系統本體; Π〜抽氣孔; 100〜載台; 110〜平台; 120〜加熱裝置 200、200’〜電漿頭; 210〜電漿腔體; 211〜電漿出口; 220〜殼體; 221〜喷出口; 222〜導入口; 230〜固態硒源; 240〜氟化納源; 300〜傳動機構; 320〜輸送器; 330〜轉接頭; 400〜抽氣裝置; S〜基板。
Claims (1)
- 201250017 七、申請專利範圍: 1. 一種砸薄膜沉積方法,包括: 提供一電漿頭; 於常壓下承載一基板;以及 藉由該電漿頭將固態硒源游離化,以沉積硒薄膜於該 基板上。 2. 如申請專利範圍第1項所述之硒薄膜沉積方法,其中 在沉積該硒薄膜於該基板上時,該電漿頭與該基板係相對 移動。 3. 如申請專利範圍第2項所述之硒薄膜沉積方法,其中 該電漿頭與該基板之間的相對移動係藉由移動該電漿頭來 進行。 4. 如申請專利範圍第1項所述之硒薄膜沉積方法,更包 括: 在沉積該砸薄膜於該基板上時,加熱該基板。 5. 如申請專利範圍第4項所述之硒薄膜沉積方法,其中 該基板的加熱範圍係在500°C以下被加熱。 6. 如申請專利範圍第1項所述之硒薄膜沉積方法,其中 當該基板為非鈉鹼玻璃基板時,上述硒薄膜沉積方法更包 括: 在沉積該硒薄膜於該基板上後,於該基板上進行補鈉 製程。 7. 如申請專利範圍第6項所述之硒薄膜沉積方法,其中 該補鈉製程係藉由導入氟化鈉於該電漿頭中而進行。 8. 如申請專利範圍第1項所述之硒薄膜沉積方法,更包 35 201250017 括: 在沉積該石西薄膜於該基板上時,於該基板之兩相對側 進行抽氣。 9· 一種硒薄膜沉積系統,包括: 一載台,承載一基板;以及 、-電聚頭’以與該載台可相對移動的方式被設置,且 承載有m態石西源,其中該電毁頭藉由將該固態石西源游離 化,以沉積硒薄膜於該基板上。 ίο.如申請專利範圍第9項所述之石西薄膜沉積系統,並 中該載台包括: ” 一平台,承載該基板;以及 :加熱裝置,設置於該平台,用以於綱薄膜沉積時 加熱邊基板。 、 11. 如申請專利範圍第9項所述之硒薄膜沉積系統,盆 中該電漿頭具有一導入口。 12. 如申凊專利圍帛u項所述之㈣膜沉積系 導入口連通的一氣化納源’其中該基板為非納驗 玻璃基板,而該氟化_之氟化_經由該導人 至該電漿頭中。 做等入 13. 如申請專利範圍第9項所述之㈣膜沉積系统 包括-傳動機構’與該電_連接,用以使 於該載台移動。 “相對 14. 如申請專利範圍第9項所述之石西薄膜 中該電漿頭包括: 心統,其 一電漿腔體,產生一電漿;以及 16 201250017 一殼體,以包圍該電漿腔體的方式與該電漿腔體連 接’且承载該固態石西源。 15. 如申請專利範圍第14項所述之硒薄臈沉積系統,其 中該電聚腔體具有-電漿出口,且該固態石西源係位於該電 漿出口附近。 16. 如申請專利範圍第15項所述之硒薄膜沉積系統,其 中該殼體具有一喷出口,與該電漿出口相對設置,且為狹 縫狀。 17. 如申請專利範圍第9項所述之硒薄膜沉積系統,更 包括一抽氣裝置,設置於該載台周邊,且對承载於該载台 上之該基板之兩相對側進行抽氣。 18. —種電漿頭,包括: 一電漿腔體,產生一電漿; 一殼體,以包圍該電漿腔體的方式與該電漿腔體連 接,以及 一固態硒源,設置於該殼體上。 19. 如申請專利範圍第18項所述之電漿頭,其中該電漿 腔體具有一電漿出口,且該固態硒源係位於該電漿出口附 近。 20. 如申請專利範圍第19項所述之電漿頭,其中該殼體 具有-喷出口’與該電聚出口相對設置,且為狹縫狀。肢 21. 如申讀專利範圍第18項所述之電襞頭, :, 具有一導入口。 歧 17
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI480415B (zh) * | 2013-11-27 | 2015-04-11 | Ind Tech Res Inst | 多模式薄膜沉積設備以及薄膜沉積方法 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20150011025A1 (en) * | 2013-07-03 | 2015-01-08 | Tsmc Solar Ltd. | Enhanced selenium supply in copper indium gallium selenide processes |
US10153156B2 (en) * | 2016-12-15 | 2018-12-11 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Plasma enhanced atomic layer deposition |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2574752B2 (ja) * | 1986-01-22 | 1997-01-22 | 株式会社日立製作所 | 情報記録媒体および記録再生方法 |
CN1210775C (zh) * | 2001-04-12 | 2005-07-13 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种适于宽带半导体硫(硒)化锌-锰薄膜的生长方法 |
KR20080034022A (ko) * | 2005-08-05 | 2008-04-17 | 세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤 | 질화갈륨 등의 iii족 질화물의 성막 방법 |
CN101479403A (zh) * | 2006-04-14 | 2009-07-08 | 硅石技术责任有限公司 | 用于制作太阳能电池的等离子沉积设备和方法 |
US20090047439A1 (en) * | 2007-08-16 | 2009-02-19 | Withers James C | Method and apparatus for manufacturing porous articles |
TWI555864B (zh) * | 2007-09-11 | 2016-11-01 | 中心熱光電股份公司 | 提供硫屬元素之方法及裝置 |
JP4974986B2 (ja) * | 2007-09-28 | 2012-07-11 | 富士フイルム株式会社 | 太陽電池用基板および太陽電池 |
US20090325340A1 (en) * | 2008-06-30 | 2009-12-31 | Mohd Aslami | Plasma vapor deposition system and method for making multi-junction silicon thin film solar cell modules and panels |
JP2010135210A (ja) * | 2008-12-05 | 2010-06-17 | Sekisui Chem Co Ltd | プラズマ処理装置 |
TWI418047B (zh) * | 2009-01-07 | 2013-12-01 | Ind Tech Res Inst | Ib-iiia-via2化合物半導體薄膜之製造裝置 |
US20100267191A1 (en) * | 2009-04-20 | 2010-10-21 | Applied Materials, Inc. | Plasma enhanced thermal evaporator |
CN101956164B (zh) * | 2009-07-17 | 2011-12-14 | 何整风 | 基于硒等离子体制备铜铟镓硒薄膜及光伏薄膜电池的方法 |
CN101958360A (zh) * | 2009-07-17 | 2011-01-26 | 何整风 | 基于硒等离子体制备铜铟镓硒薄膜及光伏薄膜电池的设备 |
US8894826B2 (en) * | 2009-09-24 | 2014-11-25 | Jesse A. Frantz | Copper indium gallium selenide (CIGS) thin films with composition controlled by co-sputtering |
US7935558B1 (en) * | 2010-10-19 | 2011-05-03 | Miasole | Sodium salt containing CIG targets, methods of making and methods of use thereof |
-
2011
- 2011-06-08 TW TW100119931A patent/TW201250017A/zh unknown
- 2011-07-07 CN CN2011101950629A patent/CN102816999A/zh active Pending
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-
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- 2012-05-11 JP JP2012109612A patent/JP5519727B2/ja active Active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI480415B (zh) * | 2013-11-27 | 2015-04-11 | Ind Tech Res Inst | 多模式薄膜沉積設備以及薄膜沉積方法 |
US9023693B1 (en) | 2013-11-27 | 2015-05-05 | Industrial Technology Research Institute | Multi-mode thin film deposition apparatus and method of depositing a thin film |
Also Published As
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