TW201115443A - Electrostatic capacitive type touch panel and display device equipped with a touch detection function - Google Patents

Electrostatic capacitive type touch panel and display device equipped with a touch detection function Download PDF

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TW201115443A
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TW
Taiwan
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signal
sampling
detection
circuit
touch
Prior art date
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TW099120145A
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Yoshitoshi Kida
Koji Ishizaki
Kouji Noguchi
Takeya Takeuchi
Tsutomu Harada
Takayuki Nakanishi
Original Assignee
Sony Corp
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Description

201115443 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於藉由使用者以手指等接觸或接近而可輸入 資訊之觸控面板，尤其係關於根據靜電電容之變化來檢測 觸控之靜電電容式觸控面板、以及靜電電容式附觸控檢測 功能之顯示裝置。 【先前技術】 近年來如下之顯示裝置備受關注，其係將稱作所謂之觸 控面板之接觸檢測裝置安裝於液晶顯示裝置等顯示裝置 上並於5亥顯不裝置中顯不各種按紐圖像，藉此可代替通 常之機械式按鈕來輸入資訊。作為觸控面板之方式，存在 有光學式及電阻式等幾種方式，尤其於便攜終端等中，期 望具有比較簡單之結構且可實現低消耗電力之靜電電容式 觸控面板。然而，於靜電電容式觸控面板中存在有可能會 產生下述情況：人體對於由反相器螢光燈或AM(Ampiiwde Modulation，調幅）波、AC(Ahernating。心咖，交流電） 電源引起之雜訊（以下稱作干擾雜訊）起到天線之作用，從 而使得該雜訊傳播至觸控面板而引起故障。 «亥故&係起因於無法區分藉由使用者以手指等接觸或接 近觸控面板而產生之與觸控之有無相關的信號（以下稱作 ㈣信號m干擾iMfi 1此’例如於專利文獻^提出有 士下方法·當檢測與驅動靜雷雷交"V，總w 巧勒靜電電合式觸控面板之信號（以 下稱作驅動信號）同步之觸控信號時，使用頻率不同之複 數個驅動信號，選擇不受干擾雜訊影響之條件來進行檢 146323.doc 201115443 測。 [先前技術文獻] [專利文獻] 然而，於上述專利文獻旧揭示之靜電電容式觸控面板 之驅動及檢測方法中，必須依序切換驅動信號之頻率，且 必須選擇不受干擾雜訊影響之條件，因此有可能在選擇該 條件上花費時間。即有可能會導致檢測時間變長。進而， 必須準備複數個頻率之驅動信號並對該等之切換進行判斷 等，從而有可能導致電路構成變複雜且變大。 本發明係#於上述問題而完成者，其目的在於提供一種 可以比較料之電路構成降低干㈣訊之科並且可縮短
觸控檢測所需之時間之靜電電容式觸控面板、以及附觸控 檢測功能之顯示裝置。 I 本發明之-實施形態之靜電電容式觸控面板包括複數個 驅動電極、複數個觸控檢測電極、第〖及第2取樣電路、、慮 波電路、以及運算電路。此處，複數個驅動電極與複數; 觸控檢測電極係以交叉之方式配置，於該等之交又部八眾 成有靜電電容，且自各觸控檢測電極輸出與施加 / 令"動 電極之驅動信號同步之檢測信號。第〗取樣電路係從來 各觸控檢測電極之檢測信號中抽取包含第丨位 < k號成 分與雜訊成分的第丨系列之取樣信號者，第2取樣電路係" 來自於各觸控檢測電極之檢測信號中抽取包 U 3不同於第i 146323.doc 201115443 位準之第2位準之乜唬成分與雜訊成分的第2系列之取樣信 號者。濾波電路係所謂之低通濾波器，其對第丨系列及第2 系列之取樣信號進行將特定頻率以上之頻帶截止之高通截 止處理。it I电路係根據渡波電路之輸出❿求取觸控檢測 用信號。 本發明之一實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置係具 備上述本發明的-實施形態之靜電電容式觸控面板之顯示 裝置。此情形時’可構成為觸控檢測用之驅動信號兼為顯 示驅動信號之一部分。 於本發明之-實施形態之靜電電容式觸控面板及附觸控 檢測功能之顯示裝置中’係與施加至驅動電極之驅動信號 同步地，將對應於驅動電極與觸控檢測電極之間之靜電電 容之振幅波形的極性交替信號作為檢測信號而自觸控檢測 電極輸出此時’ 有手指等外部接近物體存在，則在與 該物體對應之部分中之驅動電極—觸控檢測電極間之靜電 電谷會發生變化，且該變化（觸控成分）將出現於檢測信號 中此時，干擾雜訊亦會經由人體而傳播至觸控面板，而 於觸控檢測電極出現該雜訊成分並與檢測信號重疊。該檢 測L號藉由第1及第2取樣電路而分別予以取樣而獲得第 1系列及第2系列之取樣信號。該等取樣信號會藉由遽波電 路而將頻率帶限制於低頻，且降低其中所含之雜訊成分。 使用該濾波電路之輸出以運算電路進行特定之運算藉此 、付觸扰檢測用信號。該觸控檢測用信號可供檢測外部接 近物體之有無及位置檢測之用。 146323.doc 201115443 本發明之一實施形態之靜電電容式觸控面板中，可藉由 系列之取樣彳5號與第2系列之取樣信號之差分而求取 觸控檢測用信號。此情形時，較好的是對藉由濾波電路予 以處理之第丨系列及第2系列之取樣信號中之至少一者之相 位進行調整而使兩相位相互一致，並且取該等2個取樣信 戒之差分。 a作為驅動信號，可使用包括第丨電壓之區間、及不同於 第1電壓之第2電壓之區間之週期性波形之信號。此情形 時，較好的是使第1及第2取樣電路之取樣週期相同，並且 以相互偏移半個週期之方式設定其等之時序。這可藉由使 驅動信號之工作比稍偏離開50%而實現。作為此情形時之 取樣方法之具體例，例如有如下方法：藉由第丨取樣電 路，以驅動信號中之一者之電壓變化點前後之相互接近之 複數個時序來對檢測信號進行&才策，並且藉由第2取樣電 路，以驅動信號中之另一者之電壓變化點之前一刻之相互 接近之複數個時序來對檢測信號進行取樣。此時，來自第 1取樣電路之第1系列之取樣信號包含第)位準之信號成分 與雜訊成分’而於第2系列之取樣信號中則僅包含雜訊成 分，第2位準之信號成分成為零位準。因此，若取兩者之 差，則可消除雜訊成分而抽取第1位準之信號成分。 作為取樣方法之另一具體例。例如亦有如下方法。即， 使用包括具有P振幅之P極性交替波形之區間、及具有 不同於第1振幅之第2振幅之第2極性交替波形之區間的週 期性波形之信號作為驅動信號’藉由第丨取樣電路，以第ι 146323.doc 201115443 極性交替波形巾之極性反轉前後之相1接近之複數個時序 來對檢測信號進行取樣，並且藉由第2取樣電路，以第2極 性交替波形中之極性反轉前後之相互接近之複數個時序來 對檢測信號進行取樣。此時，若取得第列之取樣信號 與第2系列之取樣信號之差，則可消除雜訊成分而僅抽取 第1位準之信號成分與第2位準之信號成分之差分。 又，亦可使用以下之取樣方法。即’使用包含相位相互 偏移之第1極性交替波形及第2極性交替波形之區間之週期 性波形的信號作為驅動信號，藉由第丨取樣電路，以第工極 性交替波形中之電壓變化點之任一者前後之相互接近之複 數個時序來對檢測信號進行取樣’並且藉由第2取樣電 路，以第2極性交替波形中之電壓變化點之任一者近前之 相互接近之複數個時序來對檢測信號進行取樣。此時，若 取得第1系列之取樣信號與第2系列之取樣信號之差，則可 消除雜訊成分而僅抽取第丨位準之信號成分與第2位準之信 號成分之差分。 根據本發明之-實施形態之靜電電容式觸控面板及附觸 控檢測功能之顯示裝置，當基於由觸控檢測電極根據靜電 電容之變化而獲得之檢測信號來檢測物體之接觸或接近位 置時，自檢測信號中抽取包含第…準之信號成分與雜訊 成分之第1系列之取樣信號、及包含不同於第丨位準之第2 位準之信號成分與雜訊成分之第2系列之取樣信號，且根 據該等取樣信號而進行觸控檢測’因此，電路構成變得簡 單，且可縮短觸控檢測所需之時間。進而，於其後段導入 146323.doc 201115443 濾波電路，因此其後段之運算電路變得更簡單，可以更小 之電路構成確實地進行觸控檢測。 【實施方式】 以下’參照圖式詳細地說明本發明之實施形態。此外， 按以下順序進行說明。 1.靜電電容式觸控檢測之基本原理 2 ·第1實施形態 3 ·第2貫施形態 4 _第3實施形態 5.適用例 <1.靜電電容式觸控檢測之基本原理> 首先，參照圖1〜圖3來說明本發明之靜電電容式觸控面 板之觸控檢測方式之基本原理。例如圖1 (A)所示，該觸控 心測方式中’使用隔著介電體D而相互對向配置之一對電 極（驅動電極E1及檢測電極E2)構成電容元件。該結構係作 為圖1 (B)所不之等效電路來表示。藉由驅動電極E1、檢測 電極E2及介電體D而構成電容元件c卜電容元件〇之一端 與交流信號源（驅動信號源）S連接，另一端p經由電阻器R 而接地並且與電壓檢測器（檢測電路）DET連接。若自交流 信號源s對驅動電極E1(電容元件C1之一端）施加特定頻率 (例如數kHz〜十幾kHz左右）之交流矩形波Sg(圖3(B))，則會 於檢測電極E2(電容元件C1之另一端p)出現圖3(A)所示之 輸出波形（檢測信號Vdet)。再者，該交流矩形波Sg係相當 於下述之驅動信號Vcom者。 146323.doc 201115443 士:圖1所示’於手指未接觸.(或接近)之狀態下，隨著對 電容π件ci進行充放電而流過與電容元件。之電容值對 應之電流IG。此時之電容元件〇之另—端p之電位波形會 成為例如圖3(A)之波形VO，甘# i & r- 、；反桫U其係藉由電壓檢測器DET而檢 測。 另一方面，如圖2所示，於手指接觸（或接近）之狀態 下’藉由手指而形成之電容元件。成為串聯追加於電容元 件ci之形式。於該狀態下，隨著對電容元件a、c2進行 充放電而分別絲電流II、12。此時之電容元件以之另一 端P之電位波形會成為例如圖3(A)之波形V1，其係藉由電 壓檢測器DET而檢測。此時，點p之電位成為由流過電容 兀件Cl、C2之電流II、12之值所規定之分壓電位。因此， 波形VI成為較非接觸狀態下之波形v〇小之值。電壓檢測 器DET將所檢測出之電壓與特定之閾值電壓進行比 較’若所檢測出之電壓為該閾值電壓以上，則判斷為非接 觸狀態，另一方面，若所檢測出之電壓低於閾值電壓，則 判斷為接觸狀態。如此’可進行觸控檢測。 < 2.苐1實施形態> [構成例] (全體構成例） 圖4係表示本發明之第1實施形態之靜電電容式觸控面板 40之一構成例者。靜電電容式觸控面板40包括Vc〇m產生 部41、解多工器42、觸控感測器43、多工器44、檢測部 45、時序控制部46及電阻R。 146323.doc 201115443
Vcom產生部41係產生用以驅動觸控感測器43之驅動信 號Vcom之電路。此處’如下所述，驅動信號vc〇m之工作 比稍偏離開50%。 解多工器42係於將自Vcom產生部41供給之驅動信號 Vc〇m依序供給至下述之觸控感測器43之複數個驅動電極 時切換其供給目的地之電路。 觸控感測器43係根據上述靜電電容式觸控檢測之基本原 理而檢測觸控之感測器。 圖5係於斜視狀態下表示觸控感測器43之一構成例者。 觸控感測器43包括複數個驅動電極53、驅動該驅動電極^ 之驅動電極驅動器54、及觸控檢測電極55。 驅動電極53被分割為於圖中左右方向延伸之複數個條紋 狀之電極圖案（此處，作為一例，包括11個（n : 2以上之整 數）驅動電極531〜53η)。藉由驅動電極驅動器54而依序對 各電極圖案供給驅動信號Vc〇m，從而分時進行逐行掃描 驅動。另一方面，觸控檢測電極55包含在與驅動電極53^ 電極圓案之延伸方向正交之方向延伸之複數個條紋狀的電 極圖案。於藉由驅動電極53與觸控檢測電極55而相互交叉 之電極圖案之交叉部分形成靜電電容。於圖5中，作為該 靜電電容之示例，表示有形成於觸控檢測電極55中所受關 注之1個電極與各驅動電極531〜53n之間之靜電電容 H6323.doc •10· 201115443 檢測電極55係對應於圖1及圖2所示之檢測電極£2者。夢 此，觸控感測器43可根據上述靜電電容式觸控檢測之基^ 原理而檢測觸控。進而，如上所述般相互交叉之電極圖案 、纟矩陣狀構成觸控感測器。由此，亦可進行觸控位置之檢 測。 /工器44係於由複數個觸控檢測電極55依序取出自觸控 感測器43輸出之檢測信號時切換該取出源之電路。 檢測部45係如下電路，其根據由多工器44切換之檢測信 號而檢測手指等是否接觸或接近於觸控感測器43，進而於 接觸或接近之情形時檢測該接觸或接近點之座標等。該檢 測部45包括類比LPF(L〇w pass Fi丨如，低通濾波器）62、 A/D(anal〇g/digital，類比/數位）轉換部μ、信號處理部 64、座標抽取部65。 類比LPF 62係將檢測信號Vdet之所具有之高頻率成分除 去並將6亥檢測信號Vdet作為檢測信號vdet2而輸出之低通 濾波器。A/D轉換部63係將檢測信號Vdet2轉換為數位信號 之電路，信號處理部64係根據A/D轉換部63之輸出信號來 判定有無觸控之邏輯電路。再者，A/D轉換部63及信號處 理部64之詳情將於下文敍述。座標抽取部65係檢測於信號 處理部64中進行了觸控判定之觸控面板座標之邏輯電路。 時序控制部46係控制Vcom產生部41、解多工器42、多 工器44及檢測部45之動作時序之電路。 圖6係表示驅動信號vcom之波形（a)及檢測信號vdet2之 波形（B)並且表示a/D轉換部63之取樣時序（C)者。 146323.doc 201115443 驅動信號Vcom之波形為極性交替（極性交替反轉）之週期 T之矩形波，且包含第1電壓（+Va)之區間與第2電壓（-Va)之 區間。然而，如上所述，該驅動信號Vcom之工作比稍偏 離開50°/。。檢測信號Vdet2之波形為與驅動信號Vcom同步 之波形，其具有對應於驅動電極53與觸控檢測電極55之間 之靜電電容之振幅。即’檢測信號Vdet2於手指等未接觸 或接近之狀態下成為振幅較大之波形W1，另一方面，於 手指寺接觸或接近之狀態下成為振幅較小之波形W 2。 圖6(C)所示之6個取樣時序Al、A2、A3、B1、B2、B3 與驅動信號Vcom同步，各取樣頻率fs與驅動信號vcom之 週期T之倒數相同。 該等取樣時序（以下，視需要僅簡單地稱作「時序」）於 驅動信號Vcom之上升附近與下降附近分別相互接近地存 在有3個。於驅動信號Vcom之上升附近，自時間較早者起 依序設定有3個取樣時序Al、A2、A3。另一方面，於驅動 信號Vcom之下降附近，自時間較早者起依序設定有3個取 樣時序Bl、B2、B3。 該等上升附近與下降附近之相互對應之取樣時序彼此之 時間差成為驅動信號Vcom之週期T之一半。即，取樣時序 A1與B1之時間差、取樣時序A2與B2之時間差、取樣時序 A3與B3之時間差分別為T/2。 驅動信號Vcom之上升附近之3個取樣時序A1〜A3之全部 係位於驅動信號Vcom之上升之前。另一方面，驅動信號 Vcom之下降附近之3個取樣時序中B 1與B2係存在於驅動信 146323.doc -12- 201115443 號Vcom之下降之前’ B3係位於驅動信號vcom之上升之 後。 再者’如上所述，驅動信號Vcom之工作比稍偏離開 50%，其原因在於取樣時序A1、A2 ' A3、Bl、B2、B3滿 足上述關係。 (A/D轉換部及信號處理部之電路構成例） 圖7係表示A/D轉換部63及信號處理部64之電路構成例 者。 A/D,換部63係對檢測信號Vdet2取樣並進行數位化之電 路，且包括以上述6個取樣時序（A1、A2、A3、Bl、B2、 B3)分別對檢測信號Vdet2進行取樣之a/D轉換電路71〜76。 如圖7所示，信號處理部64包括減法電路77〜80、88、 90、數位 LPF(Low Pass Fiher)81 〜84、乘法電路 85、偏移 電路86、相位差檢測電路87、及參考資料記憶體89。 減法電路77〜80係利用A/D轉換部63之6個A/D轉換電路 71〜76之輸出信號進行減法運算之邏輯電路。具體而言， 減法電路77自A/D轉換電路76(時序B3)之輸出信號中減去 A/D轉換電路75(時序B2)之輸出信號，減法電路冗自a/d轉 換電路73(時序A3)之輸出信號中減去A/D轉換電路72(時序 A2)之輸出信號。減法電路79自a/D轉換電路75(時序B2)之 輸出信號中減去A/D轉換電路74(時序B1)之輸出信號，減 法電路80自A/D轉換電路72(時序A2)之輸出信號中減去 A/D轉換電路71(時序A1)之輸出信號。 此處，首先關注減法電路77、78。於圖7中，減法電路 146323.doc 201115443 77係自以時序B3對檢測信號vdet2進行取樣之結果中減去 以時序B2對檢測信號Vdet2進行取樣之結果者，其檢測並 輸出由驅動信號Vc〇m之下降所引起之檢測信號V(Jet2之變 化。另一方面，減法電路78係自以時序A3對檢測信號 Vdet2進行取樣之結果中減去以時序A2對檢測信號vdet2進 行取樣之結果'者，其不檢測由驅動信號Vc〇m之上升及下 降所引起之檢測信號Vdet2之變化。即，減法電路77之輸 出中包括由觸控動作所引起之變化之部分，但減法電路78 之輸出中不包括由觸控動作所引起之變化之部分。此處， 進而考慮檢測信號Vdet2中包含外部雜訊之情形。此時， 減法電路77、78之輸出信號之雙方中包含雜訊成分。因 此，如下所述，可藉由取得減法電路77之輸出信號與減法 電路78之輸出信號之差分，而除去外部雜訊成分且求得觸 控檢測用信號。 其次，關注減法電路79、8〇。於圖7中，減法電路乃係 自以時序B2對檢測信號Vdet2進行取樣之結果中減去以時 序B1對檢測信號Vdet2進行取樣之結果者，其不檢測由驅 動L唬Vcom之上升及下降所引起之檢測信號vdet2之變 化:相同地，減法電路80係自以時序A2對檢測信號Vdet2 進仃取樣之結果中減去以取樣時序A1對檢測信號Vdet2進 行取樣之結果者，其不檢測由驅動信號Vc〇m之上升及下 降所引起之檢測信號Vdet2之變化。因此，減法電路79、 8〇之輪出中不包含由觸控動作所引起之變化之部分。此 處’考慮檢測k说Vdet2中包含外部雜訊之情形。此時， 146323.doc •14· 201115443 雜§fl成分。如下 響，僅檢測外部 減法電路79、80之輸出信號之雙方中包含 所述，減法電路79、80不受觸控動作之影 雜訊之變化量。 數位LPF 8 i〜84係使用減法電路77〜8〇之輪出信號之時間 序列資料進行低通it波器之運算之邏輯電路。具體而言1 數位孓F 8 i使用減法電路7 7之輸出信號之時間序列資二進 行運算’數位LPF 82使用減法電路78之輸出信號 列資料進行運算。又，數位LPF 83使用減法電路Μ之輸出 信，之時間序列資料進行運算，並將運算結果作為雜訊變 化量檢測信號ΔΒ加以輸出，數位LPF 84使用減法電路⑽之 輸出信號之時間序列資料進行運算，並將運算結果作為雜 訊變化量檢測信號AA加以輸出。 乘法電路85係將數位LPF 82之輸出信號與下述之相位差 檢測電路87之輸出信號即相位差檢測信號pdeU相乘之邏 輯電路。又，偏移電路86係根據下述之相位差檢測電路87 之輸出信號即相位差檢測信號卩心^，使乘法電路85之輸 出信號之時間序列資料在時間軸方向上偏移之邏輯電路。 相位差檢測電路87係將雜訊變化量檢測信號ΔΑ及ΔΒ設 為輸入來檢測該2個信號之時間序列資料之相位差，並將 其結果作為相位差檢測信號Pdetl及pdet2而輸出之邏輯電 路。 圖8係表示相位差檢測電路87之電路構成例者。該相位 差檢測電路87包括内插電路91、乘法電路92、傅立葉内插 電路93、第1相位差檢測電路94、及第2相位差檢測電路 146323.doc -15- 201115443 95 〇 内插電路91係對雜訊變化量檢測信號△△之時間序列資 料進订内插處理之邏輯電路。第】相位差檢測電路叫係對 雜訊變化量檢測信號之時間序列資料與内插電路以之 輸出信號之時間序列資料之相位關係進行檢測的邏輯電 /、檢別省相位關係為同相關係與反相關係中之哪一 種，並將其結果作為相位差檢測信號Pdetl而輸出。 乘法電路92係將雜訊變化量檢測信號从與第^位差檢 ’則電路94之輸出即相位差檢測信號_】相乘之邏輯電 傅立葉内插電路93係對乘法電路％之輸出信號之時間 列資料進行傅立葉内插處理之邏輯電路。第之相位差檢 測電路95係對雜訊變化量檢測信號λβ之時間序列資料與 傅立葉内插電路93之輸出信號之時間序列資料的相位差進 订檢測之邏輯電路。第2相位差檢測電路％可檢測之相位 差與第1相位差檢測電路94相比更詳細。第2相位差檢㈣ =95將該相位差之檢測結果作為相位差檢測信號以犯而 輸出。 減法電路88係自數位LPF 81之輪出信號中減去偏移電路 86之輸出信號之邏輯電路。參考資料記憶體89係預先記憶 數位㈣之記憶體，其記憶有手指等未接觸或接近觸控感 =43時之資料。減法電路9〇係自減法電㈣之輸出信號 中減去參考資料記憶體89之輸出信號之邏輯電路。該減法 電路9〇之輸出信號為信號處理部64之輪出，其供給至座標 抽取部65。 146323.doc 201115443 此處，以取樣時序B1〜B3進行取樣之A/D轉換電路”〜％ 及減法電路77對應於本發明中之「第！取樣電路」之一具 體例。即，減法電路77之輸出對應於包含第丨位準之信號 成分與雜訊成分的第1系列之取樣信號之一具體例。 另一方面，以取樣時序A1〜A3進行取樣之A/D轉換電路 71〜73及減法電路78對應於本發明中之「第2取樣電路」之 —具體例。即，減法電路78之輸出對應於包含不同於第i 位準之第2位準之信號成分與雜訊成分 號之-具體例。然而，於本實施形態中，減法轉= 出相當於將第2系列之取樣信號中之P位準之信號成分設 為〇(零）者。 數位LPF 81及82對應於本發明中之「渡波電路」之一具 體例。包括減法電路79、8〇、88、9〇、數位咖83、84、 乘法電路85、偏移電路86、相位差檢測電路87、及參考資 料記憶體89之電路部分’對應於本發明…運算電路」 之-具體例。言亥「運算電路」之輸出為本發明中之「觸控 核測用L號」’且與其一具體例對應者為下述減法電路 之輪出Dout。 [動作及作用] (全體之基本動作） 首先°兒明本實施形態之靜電電容式觸控面板4〇之全體 動作。
Vc〇m產生部41產生驅動信號Vc〇m並供給至解多工器 解多工器42藉由依序切換驅動信號之供給目的 146323.doc 201115443 地，而將驅動信號Vcom依序供給至觸控感㈣器43之複數 個驅動電極531〜53n°根據上述靜電電容式觸控檢測之基 本原理’自觸控感測器43之各觸控檢測電極55輪出與驅動 信號Vcom之電壓變化時序同步之具有上升及下降之波形 之檢測信號Vdet。多工器44藉由依序切換取出源而依序取 出自觸控感；則器43之各觸控檢測電極55輸出之檢測信號 Vdet並傳輸至檢測部45。於檢測部仏中，類比LpF a自檢 測L唬Vdet中除去咼頻率成分後作為檢測信號vdet2加以 輸出。A/D轉換部〇將來自類比LPF 62之檢測信號Vdet2轉 換為數位信號。信號處理部64根據A/D轉換部〇之輸出信 號，藉由邏輯運算而判定有無對觸控感測器43進行觸控。 座標抽取部65根據信號處理部64之觸控判定結果，檢測觸 控感測器上之觸控座標。如此，於使用者對觸控面板進行 了觸控時檢測其觸控位置。 其次，說明更詳細之動作。 (無干擾雜訊時之動作） 首先’說明無干擾雜訊時之動作及作用。 圖9係本發明之第1實施形態之靜電電容式觸控面板4 〇之 時序圖例’且係表示無干擾雜訊時之例者。 圖9(A)表示驅動信號Vc〇m之波形，圖9(B)表示方便起見 藉由波形表示觸控動作之有無之觸控狀態波形，圖9(c)表 示檢測彳5號Vdet2之波形。此處，於觸控狀態波形（B)中， 鬲位準之區間表示以手指等接觸或接近觸控面板之狀態， 低位準之區間表示手指等未接觸或接近之狀態。隨此，如 146323.doc -18· 201115443 圖（C)所示，關於檢測信號Vdet2，根據上述靜電電容式觸 控檢測之基本原理，觸控狀態波形於高位準時成為振幅較 小之波形，另一方面’觸控狀態波形於低位準時成為振幅 較大之波形。 圖9(D)表示A/D轉換部63中之6個取樣時序，圖9(E)表示 數位LPF 82之輸出’圊9(F)表示數位LPF 81之輸出。關於 圖9(E) ’自以時序A3對檢測信號vdet2進行取樣之結果中 減去以時序A2對檢測信號vdet2進行取樣之結果，因此數 位LPF 82之輸出成為〇(零）。另一方面，關於圖9(F)，自以 時序B3對檢測信號Vdet2進行取樣之結果中減去以時序^二 對檢測信號Vdet2進行取樣之結果，因此輸出亦包括因觸 控動作所引起之變化之部分（以下稱作「觸控成分」）之波 形。此係指該電路利用驅動信號Vc〇m之下降而取出觸控 成分。 圖9(G)表示偏移電路86之輸出，圖9(H)表示減法電路μ 之輸出。於圖7中，數位lPF 82之輸出被供給至乘法電路 85’但如上所述’數位LPF82之輸出成為G(零），因此乘法 電路85之輸出亦成為〇(零)。該輸出進而被供給至偏移電路 86 ’但相同地’偏移電路86之輸出⑼亦成為〇(零）。因 此’減法電路88之輸出（H)與數位LpF81之輸出（f)相同。 圖9(1)表示減法電路9〇之輸出。於圖7中在參考資 料^ It體89中記憶有手指等未接觸或接近觸控面板時之減 法電路89之輸出。減法電路9〇自減法電路89之輸出中減去 參考育料記憶體89之輸出，藉此僅抽取觸控成分。即，減 146323.doc 19 201115443 法電路9〇之輸出D〇Ut(圖9(1))與觸控狀態波形（圖9(B))同 等。 (有干擾雜訊時之動作） 其次，說明有干擾雜訊時之動作及作用。 於圖7中，數位LPF 81〜84係為了降低由a/d轉換部似 取樣所引起之摺疊雜訊之影響而導入者。一般而言，若以 取樣頻率_行取樣，則輸入信號之尼奎斯特（W)頻 率（响以上之頻率成分係作為&/2以下之頻率成分而出現 於輸出信號中（摺疊雜訊）。輸人信號中之尼奎斯特頻率以 上之成分通常為多餘者。數位LpF 81〜84具有縮小存在該 多餘信號之頻率範圍之效果。 圖1〇表示在A/轉換部63之輸入信號即檢測信號㈣以 哪一頻率成分中有數位LPF 81〜84之輸出信號之頻率成 刀藉由導入數位LPF 81〜84，使處於取樣頻率之整數倍 左右之多餘信號之頻率帶變窄。該多餘信號之頻帶寬係利 用數位LPF 81〜84之截止頻率fca2fc來表#。由此，較理 想的是截止頻率fc設定得較低。另一方面，觸控成分必須 通過數位LPF 81〜84。因此，截止頻率咕定為觸控成分 之頻率程度。 圖10係指具有A/D轉換部63之取樣頻率之整數倍左右之 頻率成分的干擾雜訊通過數位LPF 81〜84。本發明亦具有 防止由此所引起之故障之結構。 以下，分為干擾雜訊處於取樣頻率之奇數倍左右之情形 與干擾雜訊處於偶數倍左右之情形而詳細地說明。 146323.doc • 20· 201115443 ⑴於存在取樣頻率之奇數倍左右之干擾雜訊之情形時 圖11係本發明之第1實施形態之靜電電容式觸控面板4 0 之時序圖例，且表示存在具有A/D轉換部〇之取樣頻率之3 倍左右之頻率之干擾雜訊時之例。 ㈧表示驅動信號心⑽之㈣，圖剛表示觸控狀 〜波幵V圖11 (C)表不由干擾雜訊以外之信號所引起之檢 邊H4Vdet2之波形’圖u⑼表示由干擾雜訊所引起之檢 測U Vdet2之波形。此處，為了使說明變得簡單，將檢 測L唬Vdet2分開表示為(c)與(D)。實際之檢測信號μ。 之波开W系將』等合计而成者，以A/D轉換部Μ對該合計之 信號進行取樣。又，假定為整個期間中手指等未接觸或接 近觸控面板之狀態。 圖11(E)表示A/D轉換部63之6個取樣時序圖u(F)表示 數位LPF 82之輸出，圖11(G)表示數位[奸8ι之輸出。與 圖9(E)及圖9(F)相比而明白圖11(F)及圖u⑹中出現由干擾 雜訊所引起之波形之波動。又，圖11(F)與圖u⑹之波形 之相位關係為相互大致反相。其原因在於所假定之干擾雜 訊之頻率接近A/D轉換部63之取樣頻率之3倍。此外，數位 LPF 81之輸出（G)中包含觸控成分。因此，如下所述以 數位LPF 81之輪出與數位LPF 82之輸出之相位一致之方式 調整該相位。而且，可根據其等之差分而求得設為目標之 觸控檢測用信號。 圖11(H)表示數位LPF 84之輸出信號即雜訊變化量檢測 信號ΔΑ，圖11(1)表示數位LPF 83之輸出信號即雜訊變化 146323.doc 201115443 量檢測信號ΔΒ。圖11 (Η)與圖11 (I)之波形相比，相位關係 為相互大致反相。其原因亦在於所假定之干擾雜訊之頻率 接近A/D轉換部63之取樣頻率之3倍，與圖11(f)及圖"（g) 之情形相同。即，圖11(F)及圖11(G)之相位關係與圖11(印 及圖11 (I)之相位關係相同。另一方面，圖11(H)及圖11(工） 不同於圖11(F)及圖11(G)’基本上不受觸控成分之影響。 其係指為了以更高之精度檢測圖11 (F)與圖11 (G)之相位 差’可使用圖11(H)與圖11(1)。因此，相位差檢測電路87 檢測雜訊變化量檢測信號△A(H)與雜訊變化量檢測信號 △ B(I)之相位差，並根據其結果來調整（乘法電路85及偏移 電路86)數位LPF 82之輸出之相位。圖11(H)與圖u⑴之波 形之相位關係為相互大致反相，因此，如下所述，相位差 檢測信號Pdetl成為-1。再者’為了便於說明，相位差檢測 信號Pdet2成為使偏移電路86之相位偏移量為〇(零）之值。 圖1KJ)表示偏移電路86之輸出，圖11(κ)表示減法電路 88之輸出，圖11(L)表示減法電路9〇之輸出加。藉由上 述相位差檢測信號Pdeti及Pdet2，偏移電路86之輸出⑺成 為使數位LPF 82之輸出（F)反轉而成者。減法電路88之輸出 iK)係自數位^ 81之輸出⑹中減去偏移電路86之輸出⑺而 付者。藉由該減法運算而消除由外部雜訊所引起之波形之 波動。而且’減法電路9G之輸出（L)係自減法電路88之輸 出（K)中減去參考資料記憶體⑽之輸出而僅抽取觸控成 分。即，減法電路90之輸出(L)與觸控狀態波形(B)同等。 者圖U表不干擾雜訊之頻率接近A/D轉換部63之取 146323.doc -22- 201115443 樣頻率之3倍之情形’但並不限於該情形，於接近取樣頻 率之奇數L之情形下亦相同。此外，於干擾雜訊之頻率等 於取樣頻率之奇數倍之情形下亦相同。 (II)於取樣頻率之偶數倍左右存在干擾雜訊之情形時 圖12係本發明之第i實施形態之靜電電容式觸控面板 之時序圖例’且表示存在具有A/D轉換部63之取樣頻率之2 倍左右之頻率的干擾雜訊時之例。 ▲圖12(A)表示驅動信號Vc〇m之波形，圖i2(b)表示觸控狀 態波形，圖12(C)表示由干擾雜訊以外之信號所引起之檢 測信號Vdet2之波形，圖12(D)表示由干擾雜訊所引起之檢 測信號Vdet2之波形。為了使說明變得簡單且容易與圖n 進行比較’條件設為與圖11相同。 圖12(E)表示A/D轉換部63之6個取樣時序，圖i2(F)表示 數位LPF 82之輸出’圖12(G)表示數位LPF 81之輸出。與 圖11(F)及（G)相同地，於圖12(F)及圖12(G)中出現由干擾 雜訊所引起之波形之波動。另一方面，圖12(F)與圖12(G) 之相位關係不同於圖11而為相互大致同相。其原因在於所 假定之干擾雜訊之頻率接近A/D轉換部63之取樣頻率之2 倍。此外，數位LPF 8 1之輸出（G)中包含與觸控信號相關 之資訊。因此，如下所述，以使數位LPF 81之輸出與數位 LPF 82之輸出之相位一致之方式調整該相位。而且，可根 據其等之差分而求取目標所在之觸控檢測用信號。 圖12(H)表示數位LPF 84之輸出信號即雜訊變化量檢測 信號AA，圖1 2(1)表示數位LPF 83之輸出信號即雜訊變化 146323.doc -23· 201115443 量檢測信號ΔΒ。將圖12(H)與圖12(1)之波形相比，其相位 關係為相互大致同相。其原因亦在於所假定之干擾雜訊之 頻率接近A/D轉換部63之取樣頻率之2倍，與圖12(F)及圖 12(G)之情形相同。即，圖12(F)及圖12(G)之相位關係與圖 12(H)及圖12(1)之相位關係相同。另一方面，圖12(h)及圖 12(1)與圖12(F)及圖12(G)不同，基本上不受觸控成分之影 響。其係指為了以更咼之精度檢測圖12(f)與圖12(G)之相 位差而可使用圖12(H)與圖12(1)。因此，相位差檢測電路 87檢測雜訊變化量檢測信號ΔΑ(Η)與雜訊變化量檢測信號 △Β(Ι)之相位差，並根據其結果來調整（乘法電路85及偏移 電路86)數位LPF 82之輸出之相位。圖12(η)與圖12(1)之波 开> 之相位關係為相互大致同相，因此，如下所述，相位差
4號Pdet2成為使偏移電路86之相位偏移量為〇(零）之值。 圖12(J)表示偏移電路86之輸出，圖12(κ)表示減法電路 Μ之輸出，圖12(L)表示減法電路9〇之輸出D〇ut。藉由上 偏移電路86之輸出（J)成 。減法電路88之輸出（K) 述相位差檢測信號Pdetl及Pdet2， 為與數位LPF 82之輸出（ρ)同等者 係自數位LPF 81之輸出（G)中減去偏移電路％之輸出（j)而
興觸控狀態波形（B)同等。 再者圖12表不干擾雜訊之頻率接近轉換部之取 146323.doc -24· 201115443 =限於該情形’於接近取樣頻 於取㈣Γ 亦 此外’於干擾雜訊之頻率等 於取樣頻率之偶數倍之情形下亦相同。 ㈠目位差檢測電路87之動作） 其次，說明相位差檢測電路87之動作。 ^圖8中’相位差檢測電路87進行.段之相位差檢測。 於第1階段中，拾：目丨丨独π錢& 曰 艾化置檢測信號ΔΑ與ΔΒ之相位關 、為同相關係與反相關係中之哪-種。於第2階段 中，檢測雜m變化量檢測信號ΔΑ與ΔΒ之更詳細之相位 差。 .:插電路91對雜訊變化量檢測信號从之時間序列資料 •、丁内插處理。於圖i i中’雜訊變化量檢測信號△△⑻係 以取樣時序A2生成者’另一方面，雜訊變化量檢測信號 △B(I)係以取樣時序B2生成者。因此，根據雜訊變化量檢 測信號ΛΑ之時間序列資料，藉由内插處理而生成取樣時 序B2中之資料即雜訊變化量檢測信號△.第"目位差檢 測電路94係根據雜訊變化量檢測信號⑽之時間序列資料 及雜Λ .文化里檢測信號ΔΒ之時間序列資料，檢測雜訊變 化量檢測信號ΔΑ與Μ之相位關係。作為其檢測方法例如 可為如下方法：計算Σ(|ΔΑ2+ΔΒ|# Σ(丨△ALAB丨），並比 較其大小關係。即，當 ' Σ(| ΔΑ2 + ΔΒ | )>Σ(| ΔΑ2-ΔΒ | ) 成立時，雜訊變化量檢測信號△人與ΔΒ之相位關係處於 相互同相關係。另一方面，當 146323.doc 25· 201115443 Σ(|ΔΑ2+ΔΒ|)<Σ(|ΔΑ2-ΔΒ|) 成立時，雜訊變化量檢測信號ΔΑ與δβ之相位關係處於 相互反相關係。當雜訊變化量檢測信號ΔΑ與ΔΒ之相位關 係為相互同相關係時，第i相位差檢測電路94輸出+1作為 相位差檢測信號Pdetl，當雜訊變化量檢測信號△△與δβ之 相位關係為相互反相關係時，第【相位差檢測電路94輸出q 作為相位差檢測信號Pdet 1。 乘法電路92將上述相位差檢測信號pdetl與雜訊變化量 檢測信號ΔΑ相乘。藉此，其輸出信號具有與雜訊變化量 檢測信號ΔΒ大致同相之相位關係。傅立葉内插電路％係 根據乘法電路92之輸出之時間序列資料，進行例如1〇個點 之傅立葉内插處理。再者，作為内插處理，亦可使用傅立 葉内插以外者。第2相位差檢測電路95係根據雜訊變化量 檢測信號△ B之時間序列資料與傅立葉内插電路9 3之輸出 之時間序列㈣來檢敎詳細之相位差。作為其檢測^法 例如可為如下方法：使雜訊變化量檢測信號λβ之時間序 列資料與傅立葉内插電路93之輸出之時間序列資料相互錯 開而進行減法處理，並求得其減法結果成為最小之最佳^ 位:移量。第2相位差檢測電路95將與該相位偏移量相關 之資訊作為相位差檢測信號Pdet2加以輸出。 (G 3干擾雜訊與觸控成分之雙方時之動作） 圖⑽表示本實施形態之靜電電容式觸控面板4〇之時序 之一例者。此處，纟示檢測信號Vdet2包括觸控成分、及 具有A/D轉換部63之取樣頻率 。么石炙頸率的干擾雜訊. 146323.doc -26 - 201115443 時之例。 圖13(A)表示驅動信號Vcom之波形，圖13(B)表示觸控狀 態波形’圖13(C)表示由干擾雜訊以外之信號所引起之檢 測信號Vdet2之波形，圖13(D)表示由干擾雜訊所引起之檢 測信號Vdet2之波形。此處，為了方便說明，將檢測信號 Vdet2分開表示為（〇與（D)。實際之檢測信號vdet2之波形 係將該等重疊而成者，以A/D轉換部63對該重疊之信號進 行取樣。 圖13(E)表示A/D轉換部63之6個取樣時序，圖13(F)表示 數位LPF 82之輸出’圖13(G)表示數位LPF 81之輸出。於 圖13(F)中出現由干擾雜訊所引起之波形之波動。另一方 面，於圖13(G)中出現表示由干擾雜訊所引起之波形與由 觸控信號所引起之波形之和的波形。在圖13(F)與圖 中，由干擾雜訊所引起之波形之相位關係為相互大致同 相。其原因在於所假定之干擾雜訊之頻率接近A/D轉換部 63之取樣頻率之2倍。因此，雜訊變化量檢測信號^(未圖 示）與ΔΒ(未圖示）之相位關係亦為相互大致同相。藉此， 相位差檢測信號Pdetl成為+1。再者，為了方便說明，相 位差檢測信號Pdet2成為使偏移電路％之相位偏移量為 〇(零）之值。 圖剛表示偏移電路86之輸出，圖13⑴表示減法電路 88之輸出，圖13⑴表示減法f物之輸出d_。藉由上述 相位差檢測信號Pdetl及Pdet2，偏移電路％之輸出(Η)成為 與數位LPF 82之輸出（F)相同者。減法電㈣之輸出⑴係 146323.doc •27- 201115443 自數位LPF 81之輸出（G)中減 .堝移電路86之輸出（Η)而得 ^藉由該減法運算而消除由外部雜訊所引起之波形之波 減法電路9G之輸出⑺係自減法電路88之輸出（I) 中減去參考資料記憶體89之輸出而僅抽取觸控成分。即， 減法電路90之輸出波形⑺與觸控狀態波物同等。 (包含干擾雜訊與觸控成分之雙方時之實例） 圖14係表示靜電電容式觸控面板Μ之動作之實例者。圖 Η⑷表示干擾雜訊之波形，且表示自干擾雜訊及觸控成 分之波形中僅抽取觸控成分之情形，圖ΐ4(Β)表示對觸控 感測器之複數個觸控檢測電極之檢測信號進行之二值化之 例。圖14(C)表示利_14(Β)所示之二值化所進行之觸控 面板上之觸控位置的檢測例。 [效果] 如上所述，於本實施形態中，當對檢測信號vdet2進行 取樣時’如16所丨，關於驅動信號乂咖之上升附近之3 個取樣時序A1〜A3，將其全部設定於該上升之前，另一方 面，關於驅動信號Vcom之下降附近之3個取樣時序，使bi 與B2位於驅動信號Vcom之了降之前，且將b3設定於下降 之後，因此，A1〜A3中之取樣輸出包含干擾雜訊成分， B1〜B3中之取樣輸出包含觸控成分與干擾雜訊成分，從而 可藉由該差分而求得觸控檢測用信號。 此外，藉由將數位LPF導入至取樣電路之後段，可降低 干擾雜訊成分，同時可將信號之頻率帶限制於低頻。因 此’取得差分從而求得觸控檢測用信號之運算電路變得簡 146323.doc -28 - 201115443 早。因此， 度亦提高。 用於觸控檢測之電路構成 縮小，觸控檢測之精 又，無如先别般依序切換酿$ 〇 驅動化旒之頻率而選擇檢，丨 條件，因此，可縮短檢測時間。 w利 [第1實施形態之變形例] (變形例1-1) 於上述實施形態中’以驅動信號“之下降附 序取出觸控成分，㈣此，亦可以驅動信號Ve〇m之上升 附近之時序取出觸控成分。 (變形例1-2) 於上述實施形態中，驅動信號Vc〇m2波形係 比稍偏離開50%之極性交替波形，但並不限定於此，亦可 代替此而使用例如圖24所示般之包括相位相互偏移之2個_ 極性父替波形Y1、Y2之波形。此時，取樣時序可為例如 圖24(C)所示，亦可為如圖24(D)所示。於圖24(c)中，3個 取樣時序A1 ~A3全部位於極性交替波形γ丨之上升之前。另 一方面，關於3個取樣時序B1〜B3 ’⑴與…存在於極性交 替波形Y1之上升之前’ B3位於該上升之後。又，於圖 24(D)中’ 3個取樣時序A1〜A3全部位於極性交替波形γ 1之 下降之前。另一方面，關於3個取樣時序B 1〜B3，B 1與B2 存在於極性交替波形Y1之下降之前，B 3位於該上升之 後。於此種構成中亦可獲得與上述實施形態相同之效果。 又’與上述實施形態之情形（圖6)相比，可延長取樣週期， 因此，可降低A/D轉換部63等之消耗電流。又，本變形例 146323.doc -29- 201115443 之驅動信號VC〇m之波形（圖24(a))不同於上述實施形態之 情形（圖6(A))，可使極性交替波形¥1及丫2合於—起之週期 中之不同極性之時間㈣。因此，，訊框内之兩極性之 佔空不會變化’於奇數㈣框與偶㈣訊框中時間平均值 直流位準）變得相等，因此，例如於Vc〇m產生部41經由電 令並藉由AC驅動將驅動信號Vc〇m供給至解多工器π及觸 控感測器43時亦容易生成。 於圖24中，極性交替波形¥1、γ2分別設^週期之極性 交替波形，但並不限定於此，例如亦可為2週期以上之極 性父替波形。藉此，可進一步延長取樣週期，從而可進一 步降低A/D轉換部63等之消耗電流。 <3.第2實施形態〉 其次，說明本發明之第2實施形態之靜電電容式觸控面 板。再者，對與上述第丨實施形態之靜電電容式觸控面板 實質上相同之構成部分附上相同之符號，並適當省略說 明。 [構成例] (全體構成例） 圖1 5係表示本發明之第2實施形態之靜電電容式觸控面 板140之一構成例者。靜電電容式觸控面板14〇包括Vc〇rn 產生部141、解多工器42、觸控感測器43、多工器44、檢 測部45、時序控制部丨46、及電阻R。
Vcom產生部141係產生用以驅動觸控感測器43之驅動信 號Vcom之電路。 146323.doc •30- 201115443 時序控制部146係控制Vcom產生部141、解多工器42、 多工器44、及檢測部45之動作時序之電路。 關於該Vcom產生部141及時序控制部146，本實施形態 不同弟1貫施形態。具體而言’ Vcom產生部所產生之波形 及藉由時序控制部而控制之A/D轉換部63之取樣時序均不 同於第1實施形態者。 圖16表示驅動信號Vcom之波形（A)及檢測信號Vdet2之 波形（B)、A/D轉換部63(C)之取樣時序。 驅動信號Vcom之波形為具有第1振幅之第1極性交替波 形之區間、與具有不同於第1振幅之第2振幅之第2極性交 替波形之區間相連之週期T的重複信號。第1極性交替波形 自下降開始’其振幅（第1振幅）為2Va。相同地，第2極性 交替波形亦自下降開始，其振幅（第2振幅）為Va。 檢測信號Vdet2之波形為與驅動信號Vcom同步之波形， 且具有對應於驅動電極53與觸控檢測電極55之間之靜電電 容之振幅。即，檢測信號Vdet2於手指等未接觸或接近之 狀態下成為振幅較大之波形，另一方面，於手指等接觸或 接近之狀態下成為振幅較小之波形。 圖16(C)所示之6個取樣時序與驅動信號Vcom同步，各 取樣頻率fs與驅動信號Vcom之週期T之倒數相同。 該等取樣時序於驅動信號Vcom之第1極性交替波形之上 升附近與第2極性交替波形之上升附近分別相互接近地存 在有3個。於第1極性交替波形之上升附近，自時間較早者 起依序設定有3個取樣時序Al、A2、A3。另一方面，於第 146323.doc -31 - 201115443 2極性交替波形之上升附近，自時間較早者起依序設定有3 個取樣時序Bl、B2、B3。 該等第1極性交替波形與第2極性交替波形之各上升附近 之相互對應的取樣時序彼此之時間差成為驅動信號Vcom 之週期T之一半。即，取樣時序A1與B1之時間差、取樣時 序A2與B2之時間差、取樣時序A3與B3之時間差分別為 T/2。 第1極性交替波形之上升附近之3個¢1樣時序中，A1與 A2位於該上升之前，另一方面A3位於該上升之後。相同 地’第2極性交替波形之上升附近之3個取樣時序中，以與 B2位於該上升之前，另一方面，B3位於該上升之後。 此處’關注減法電路7 7、7 8。於圖16中，減法電路7 7係 自以時序B3對檢測信號Vdet2進行取樣之結果中減去以時 序B2對檢測信號Vdet2進行取樣之結果者，其檢測並輸出 由驅動信號Vcom之第2極性交替波形之上升所引起之檢測 信號Vdet2之變化。另一方面，減法電路78係自以時序A3 對檢測信號Vdet2進行取樣之結果中減去以時序A2對檢測 "is號Vdet2進行取樣之結果者’其檢測並輸出由驅動信號 Vcom之第1極性交替波形之上升所引起之檢測信號Vdet2 之變化。因此’減法電路77、78對應於驅動信號Vcom之 第1及第2極性交替波形之各上升邊沿之變化量而輸出大小 相異之信號。即，於減法電路77與78之輸出中均包含觸控 成分’但其彳5號之大小相異。此處’進而考慮於檢測信號 Vdet2中包含外部雜訊之情形。此時，減法電路77、78之 146323.doc •32· 201115443 輸出信號之雙方中包含雜訊成分。因&，如下所述，藉由 取得減法電路77之輸出信號與減法電路冗之輸出信號之差 刀可除去外部雜訊成分，從而可求得設為目標之觸控檢 測用信號。 此處，包括以取樣時序B1〜B3進行取樣之轉換電路 74〜76及減法電路77之電路部分對應於本發明中之「第丄取 樣電路」之一具體例。即，減法電路77之輸出對應於本發 月中之&含第1位帛之信號成分與雜訊成分之第丄系列之 取樣信號」之-具體例。另—方面，&括以取樣時序 Al A3進行取樣之A/D轉換電路71〜73及減法電路π之電路 部分對應於本發明中之「第2取樣電路」之一具體例。 即，減法電路78之輸出對應於本發明中之「包含不同於第 1位準之第2位準之號成分與雜訊成分之第2系列之取樣 信號」之一具體例。 [動作及作用] (包含干擾雜讯與觸控成分之雙方時之動作） 圖17係表示本實施形態之靜電電容式觸控面板14〇之時 序之-例者。此處’表示檢測信號Vdet2包括觸控成分、 及具有A/D轉換部63之取樣頻率的4倍左右之頻率之干擾雜 訊時之例。 圖17(A)表示驅動信號Vc〇m之波形，圖17(b)表示觸控狀 態波形，圖17(C)表示由干擾雜訊以外之信號所引起之檢 測信號Vdet2之波形，®17(D)表示由干擾雜訊所引起之檢 測信Mdet2之波形。此處’為了方便說明，將檢測信號 146323.doc •33· 201115443
Vdet2分開表示為（(：）與（D)。實際之檢測信號之波形 係將該等重疊而成者，以A/D轉換部63對該重疊之信號進 行取樣。 圖17(E)表示A/D轉換部63中之6個取樣時序，圖i7(f)表 示數位LPF 82之輸出，圖17(G)表示數位LpF以之輸出。 於圖剛與圖17(G)"句出現有表示由干擾雜訊所引起之 波形與由觸控信號所引起之波形之和的波形。然而，於圖 17(F)及圖17(G)中，由觸控信號所引起之波形之大小相互 不同。另一方面，關於由干擾雜訊所引起之波形，在圖 17(F)與圖17(G)中，相&關係為相互大致同相。其原因在 於所假定之干擾雜訊之頻率接近A/D轉換部63之取樣頻率 之4倍。因此，雜訊變化量檢測信號从（未圖與δβ(未圖 示）之相位關係亦為相互大致同相。藉&，相位差檢測信 號PdeU成為+1。再者，為了方便說明，相位差檢測信號 Pdet2成為使偏移電路86之相位偏移^為〇⑷之值。 圖表示偏移電路86之輸出’圖17⑴表示減法電路 似輸出’圖鳴示減法電路9〇之輸出D〇u卜藉由上述 之相位差檢測信號Pdet i及Pdet2 ’偏移電路％之輸出⑻成 為與數位LPF 82之輸出（F)相同者。減法電路88之輸出⑴係 自數位LPF 81之輸出（(3)中说.本 ’、 ()中減去偏私電路86之輸出（H)而得 者。藉由該減法運算而消除由外部雜訊所引起之波形之波 動。而且’減法電路90係自減法電路88之輸出⑴中減去參 考資料記憶體89之輸出而輸出僅包含觸控成分之輸出⑺： 即’減法電路90之輪出(j)與觸控狀態波形⑻同等。再 J46323.doc -34· 201115443 者，其他部分之動作與上述第1施形態相同 [效果] 如上所述’於本實施形態中，當對檢測信號^⑽進行 取樣時，如圖16所示，驅動信號ν_之第·性交替波形 之上升附近之3個取樣時序中八丨與八2設定於該上升之前， 另-方面A3設定於該上升之後，相同地，關於驅動信號 Vcom之第2極性交替波形之上升附近之3個取樣時序，μ 與B2亦設定於該上升之前，另-方面B3亦設定於該上升 之後，因此，A1〜A3中之取樣輸出包含特定大小之觸控成 分與干擾雜訊成分，B1〜B3中之取樣輸出包含大小與 A1〜A3中之取樣輸出中之觸控成分不同之觸控成分及干擾 雜訊成分。因此，藉由取得其等之差分，可消除干擾雜訊 成分，從而可求得設為目標之觸控檢測用信號。其他效果 與上述第1實施形態之情形相同。 [第2實施形態之變形例] (變形例2-1) 於上述實施形態中，在驅動信號Vcom之第1及第2極性 交替波形之任一者中，均以上升附近之時序取出觸控成 分’但亦可代替此而以驅動信號Vcom之下降附近之時序 取出觸控成分。此時，於圖16中，於第1及第2極性交替波 形之任一者中，驅動信號Vcom均設為自上升開始之波形 即可。 (變形例2-2) 又，例如於上述實施形態中，驅動信號Vcom之第1極性 146323.doc -35- 201115443 交替波形之振幅設為第2極性交替波形之振幅之2倍，代替 此，若為1倍以外則可設定為任意倍數。即，可大於丨倍， 亦可小於1倍。例如圖丨8及圖丨9所示，亦可將驅動信號
Vcom之第1極性交替波形之振幅設為第2極性交替波形之 振幅之0倍。 <4.第3實施形態〉 其次，說明本發明之第3實施形態之靜電電容式之附觸 控k測功自b之顯示裝置。再者，對與上述第丨及第2實施形 態之靜電電容式觸控面板實質上相同之構成部分附上相同 之符號，並適當省略說明。 [構成例] (全體構成例） 圖20係表示本發明之第3實施形態之靜電電容式之附觸 控檢測功能之顯示裝置240之一構成例者。靜電電容式觸 控面板240包括Vcom產生部41(141)、解多工器242、顯示 部243、多工器44、檢測部45、時序控制部46(146)、及電 阻R。此處’於使用Vcom產生部4.1之情形時使用時序控制 部46 ’或者於使用Vcom產生部141之情形時使用時序控制 部 146。 解多工器242係於將自Vcom產生部41或141供給之驅動 信號Vcom依序供給至下述之顯示部243之複數個驅動電極 時切換其供給目的地之電路。 顯示部243係包括觸控感測器43與液晶顯示器件244之器 件0 146323.doc -36- 201115443 閘極驅動器245係將用以選擇顯示於液晶顯示器件244令 之水平線之信號供給至液晶顯示器件244之電路。 源極驅動器246係將圖像信號供給至液晶顯示器件244之 電路。 (顯示部243之構成例） 圖21係表示本發明之第3實施形態之顯示部243之要部剖 面結構之例者。該顯示部243包括像素基板2、與該像素基 板2對向配置之對向基板5、及插設於像素基板2與對向基 板5之間之液晶層6。 像素基板2包括作為電路基板之TFT(Thin FUm
Transistor，薄膜電晶體）基板、及呈矩陣狀配設於該 TFT基板21上之複數個像素電極22。雖未圖示，但於tft 基板21上形成有各像素之TFT(薄膜電晶體）、及對各像素 電極供給圖像信號之源極線、驅動各TFT之閘極線等配 線。再者，除此以外，亦可包括圖2〇所示之電路之一部分 或全部而形成。
對向基板5包括玻璃基板51、形成於該玻璃基板5ι之一 個面上之衫色遽光片52、及形成於該彩色渡光片52上之驅 動電極53。彩色濾光片52係將例如紅（R)、綠⑴）、藍⑺）3 色之衫色濾光片層週期性地排列而構成，因此，R、gB
TFT基板21連結。 經由該接觸導電柱7，將交流矩形波形之 應於各顯示像素。驅動電極53亦被共用 作之觸控感測器43之驅動電極，其相當 s E1。驅動電極5 3藉由接觸導電柱7而與 146323.doc -37· 201115443 驅動信號Vcom自TFT基板2 1施加至驅動電極53。該驅動信 號Vcom係劃定施加至像素電極22之像素電壓、及各像素 之顯示電壓者’但亦可被共用作觸控感測器之驅動信號， 其相當於圖1之自驅動信號源S供給之交流矩形波。 於玻璃基板5 1之另一個面上形成有作為觸控感測器用之 檢測電極之觸控檢測電極5 5，此外，於該觸控檢測電極5 5 上配設有偏光板56。該觸控檢測電極55構成觸控感測器之 一部分’因此其相當於圖1中之檢測電極E2。 液晶層6係根據電場狀態來對通過該液晶層6之光進行調 變者’使用例如TN(Twisted Nematic，扭轉向列）、 VA(Vertical Alignment，垂直配向）、ECB(mectrica七
Controlled Birefringence，電場控制雙折射）等各種模式之 液晶。 再者，於液晶層6與像素基板2之間、及液晶層6與對向 基板5之間分別配設有配向膜，又，於像素基板2之下表面 側配置有入射側偏光板，但此處省略圖示。 作為用於圖21所示之顯示部中之觸控感測器之構成例， 可使用圖5所示者。 圖22係表示液晶顯示器件244中之像素結構之構成例 者。於液晶顯示器件244中呈矩陣狀配置有包括TFT元件η 與液晶元件LC之複數個顯示像素2〇。 顯不像素2G上連接有源極線25、閑極㈣、及驅動電極 53(53 ^允）。源極線25為用以將圖像信號供給至各顯示 像素20之信號線’且連接於源極驅動器粍。閘極線％為用 146323.doc -38- 201115443 以供給選擇要進行顯示之顯示像素2Q之信號的信號線，且 連接於閘極驅動器45。於該例中，各閘極線26與水平配置 之所有顯示像素20連接。即’該液晶顯示器件244係根據 各閘極線26之控制信號，針對每條水平線而顯示。驅動電 極53為施加用以驅動液晶之驅動信號之電極，且連接於驅 動電極驅動器54。於此例中，各驅動電極與水平配置之所 有顯示像素20連接。即，該液晶顯示器件244係根據各驅 動電極之驅動信號，針對每條水平線而進行驅動。 [動作及作用] 本實施形態之附觸控檢測功能之顯示裝置係一併形成有 液晶顯示器件與上述第1及第2實施形態中之觸控感測器之 所謂之一體式觸控面板，可進行液晶顯示，並且可進行觸 控檢測。於該例中，驅動電極53與觸控檢測電極55之間之 介電體層（玻璃基板51及彩色濾光片52)有助於電容山之形 成。與該裝置之觸控檢測相關之動作，與第丨及第2實施形 態中所說明者完全相同，因此省略其說明，此處僅對與顯 示相關之動作進行說明。 於該附觸控檢測功能之顯示裝置中，經由源極線25而供 給之像素信號，係經由藉由閘極線26而逐行選擇之顯示像 素20之TFT元件Tr而施加至液晶元件Lc之像素電極22，並 且對驅動電極53(53 1〜53η)施加有極性交替之驅動信號
Vcom。藉此，於液晶元件LC中寫入像素資料而進行圖像 顯示。 再者’亦可與顯示動作同步且針對各個驅動電極 146323.doc •39· 201115443 531〜53η逐行進行對驅動電極53(531〜53n)施加驅動信號 Vcom，但亦可以與顯示動作不同之時序進行對驅動電極 53(53 1 ~53η)施加驅動彳§戒Vcom。於後者之情形時，亦了 以複數個驅動電極群為單位逐行施加驅動信號vcom。 此外’亦可僅將驅動信號Vcom中之正區間之電壓波形 施加至驅動電極53 1〜53η ’而不將負區間之電壓波形施加 至驅動電極53 1〜53η。或者，亦可使暫時施加有驅動信號 Vcom中之正區間之電壓波形之驅動電極的個數與暫時施 加有負區間之電壓波形之驅動電極的個數相異。此時，觸 控檢測信號Vdet之波形成為正負非對稱，因此，藉由用以 除去雜訊而設置之類比低通濾波器62，亦可消除觸控檢測 4號Vdet中之正負之號波形，從而可避免阻礙觸控檢 測。 [效果] 如上所述，於本實施形態中，與液晶顯示器件一體地形 成有觸控感測器’兼用有用以顯示驅動之共通電極與用以 觸控檢測之驅動電極’並且亦將用以顯示之極性反轉驅動 中所使用之共通驅動信號作為用以觸控檢測之驅動信號而 使用’因此，可實現薄型且構成簡單之附觸控檢測功能之 顯示裝置。其他效果與上述第1及第2實施形態之情形相 同。 [第3實施形態之變形例] (變形例3-1) 於上述實施形態中，說明了使利用有TN(扭轉向列）、 146323.doc -40 * 201115443 VA(垂直配向）、ECB(電場控制雙折射)等各種模式之液晶 之液晶顯不益件244與觸控感測器43 一體化來構成顯示部 之不例但亦可代替此，使利用有FFS(Fringe Fieid
Sw滅ing’邊緣電場切換）或Ips(Inpl_⑽滅㈣，橫向 電場切換）等棒雷揚描4： ’、 、式之液bb之液晶顯示器件與觸控感 測器-體化。例如，於利用橫電場模式之液晶之情形時， 可如圖23所不般構成顯示部243b。該圖係表示顯示部 243B之要部剖面結構之—例者，且表示在像素基板㈣ 對向基板5B之間夾持有液晶層6B之狀態。其他各部之名 稱及功能等與圖21之情形相同，因此省略說明。此例中， 與圖21之情形不同，兼用於顯示用與觸控檢測用之雙方之 驅動電極53形成於TFT基板21之正上方而構成像素基板2b 之一部分。於驅動電極53之上方隔著絕緣層Μ而配置有像 素電極22。此時，驅動電極53與觸控檢測電極55之間之亦 包含液晶層6B之所有介電體有助於電容C1之形成。 <5.適用例> 其人參照圖25〜圖29 ’對上述實施形態及變形例中所 說明之靜電電容式觸控面板及靜電電容式之附觸控檢測功 能之顯示裝置之適用例進行說明。上述實施形態等之靜電 電容式觸控面板及靜電電容式之附觸控檢測功能之顯示裝 置可適用於電視裝置、數位相機、筆記型個人電腦、行動 電話等便攜終端裝置或攝影機等之所有領域之電子機器。 換S之’上述實施形態等之顯示裝置可適用於將自外部輸 入之影像信號或内部生成之影像信號作為圖像或影像而顯 I46323.doc 41 · 201115443 示之所有領域之電子機器。 (適用例1) 圖25係表示適用有上述實施形態等之靜電電容 控檢測功能之顯示褒置的電視裝置之外觀者。該電視裝置 具有包括例如前面板511及濾光玻璃512之影像顯示畫㈣ 5—1〇 ’该影像顯示晝面部別包括上述實施形態等之靜電電 谷式之附觸控檢測功能之顯示裝置。 (適用例2) 圖26係表示適用有上述實施形態等之靜電電容式之附觸 控檢測功能之顯示裝置的數位相機之外觀者 包括例如閃光用之發光部521、顯示部522、選單開關相:3 及快門按鈕524，該顯示部522包括上述實施形態等之靜電 電谷式之附觸控檢測功能之顯示裝置。 (適用例3) 圖27係表示適用有上述實施形態等之靜電電容式之附觸 控檢測功能之顯示裝置的筆記型個人電腦之外觀者。該筆 記型個人電腦包括例如本體531、用以文字等之輸入操作 之鍵盤532及顯示圖像之顯示部533，該顯示部533包括上 述實施形態等之靜電電容式之附觸控檢測功能之顯示裴 置。 ’ (適用例4) 圖2 8係表示適用有上述實施形態等之靜電電容式之附觸 控檢測功能之顯示裝置的攝影機之外觀者。該攝影機包括 例如本體部541、設置於該本體部541前侧面之拍攝被攝體 146323.doc • 42· 201115443 用之透鏡542、拍攝時之啟動/停止開關543及顯示部544。 而且，該顯示部544包括上述實施形態等之靜電電容式之 附觸控檢測功能之顯示褒置。 (適用例5) 圖29係表示適用有上述實施形態等之靜電電容式之附觸 控檢測功能之顯示裝置的行動電話機之外觀者。該行動電 話機為例如以連結部（鉸鏈部）73〇將上側框體71〇與下側框 體720加以連結者’且包括顯示器74〇、次顯示器75〇、圖 片燈760及相機770。該顯示器74〇或次顯示器75〇包括上述 實施形態等之靜電電容式之附觸控檢測功能之顯示裝置。 以上，5兒明了幾種貫施形態及變形例，但本發明並不限 疋於此，可進行各種變形。例如，於上述各實施形態中， 驅動信號Vcom為極性反轉之週期τ之矩形波，因此其中心 電位成為0 V，但亦可代替此，使其中心電位為〇 v以外之 電位。 【圖式簡單說明】 圖1(A)、圖1(B)係用以說明本發明之靜電電容式觸控面 板之觸控檢測方式之基本原理的圖，且係表示手指接觸或 接近之狀態之圖； 圖2㈧、圖2(B)係用以說明本發明之靜電電容式觸控面 板之觸控檢測方式之基本原理的圖’且係表示手指未接觸 或接近之狀態之圖； 圖3⑷、圖3(B)係、用以說明本發明之靜電電容式觸控面 板之觸控檢測方式之基本原理的圖，且係表示驅動信號及 146323.doc •43- 201115443 檢測化號之波形之—例之圖； 圖4係表示本發明之第1實施形態之靜電電容式觸控面板 之一構成例的方塊圖； 圖5係表示圖4所示之觸控感測器之一構成例之立體圖； 圖6(A)-圖6(C)係表示圖4所示之驅動信號及檢測信號之 波形與取樣時序之時序圖； 圖7係表示圖4所示之A/D轉換部及信號處理部之一構成 例的方塊圖； 圖8係表示圖7所示之相位差檢測電路之一構成例之方塊 圖； 圖9(A)-圖9(1)係表示於圖4所示之靜電電容式觸控面板 中無干擾雜訊之狀態下之時序之一例的圖； 圖係用以說明利用圖7所示之數位L p F降低外部雜訊之 頻譜之一例的示圖； 圖11⑷-圖11(L)係表示於圖4所示之靜電電容式觸控面 板中存在具有取樣頻率之3倍左右之頻率的干㈣訊之狀 態時之時序之一例的圖； 圖12(A)’12(L)係表示於圖4所示之靜電電容式觸控面 板中存在具有取樣頻率之2倍左右之頻率的干擾雜訊之狀 態時之時序之一例的圖； 圖"㈧-圖13⑴係表示於圖4所示之靜電電容式觸控面 板中存在觸控成分與干擾雜訊之狀態時之時序之一 圖； · 、 圖14(A)-圖14(C)係表示圖4所示之靜電電容式觸控面板 146323.doc -44 - 201115443 之動作例的圖； 圖15係表不本發明之第2實施形態之靜電電容式觸控面 板之一構成例的方塊圖； 圖16(A)-圖16(C)係表示圖15所示之A/D轉換部中之動作 時序之時序圖例； 圖17(A)-圖17⑺係表示於圖15所示之靜電電容式觸控面 板中存在觸控成分與干擾雜訊之狀態時之時序之-例的 圖； 圖18(A)-圖i8(C)係表示本發明之第2實施形態之變形例 之A/D轉換部之動作時序之時序圖； 圖19(八)-圖19(J)係表示於本發明之第2實施形態之變形 例之靜電電容式觸控面板中存在觸控成分與干擾雜訊之狀 態時之時序之一例的圖； 圖2 0係表示本發明之第3實施形態之附觸控檢測功能之 顯示裝置之一構成例的方塊圖； 圖21係表示圖20所示之顯示部之概略剖面結構之剖面 圖； 圖22係表示圖21所示之液晶顯示器件之像素結構之構成 例； 圖23係表示第3實施形態之變形例之顯示部之概略剖面 結構之剖面圖； 圖24(A)-圖24(D)係表示第i實施形態之變形例之驅動信 號及檢測信號之波形與取樣時序之時序圖； 圖25係表示適用上述各實施形態之靜電電容式之附觸控 146323.doc • 45- 201115443 檢測功能之顯示裝置中適用例1之外觀構成者，且係表示 自表側觀察之外觀之立體圖； 圖26係表示適用例2之外觀構成者，圖26(A)係表示自表 侧觀察之外觀之立體圖，圖26(B)係表示自背側觀察之外 觀之立體圖； 圖27係表示適用例3之外觀構成之立體圖； 圖28係表示適用例4之外觀構成之立體圖；及 圖29係表示適用例5之外觀構成者，圖29(A)為打開狀態 之前視圖，圖29(B)為打開狀態之側視圖，圖29(C)為關閉 狀態之前視圖，圖29(D)為關閉狀態之左側視圖，圖29(E) 為關閉狀態之右側視圖，圖29(F)為關閉狀態之頂視圖、 圖29(G)為關閉狀態之底視圖。 【主要元件符號說明】 2、2B 像素基板 5、5B 對向基板 6、6B 液晶層 7 接觸導電柱 20 顯示像素 21 TFT基板 22 像素電極 23 絕緣層 25 源極線 26 閘極線 40 、 140 靜電電容式觸控面板 146323.doc -46- 201115443 41 、141 Vcom產生部 42 解多工器 43 觸控感測Is 44 多工器 45 檢測部 46 、146 時序控制部 51 玻璃基板 52 彩色滤光片 53 、531~53n 驅動電極 54 驅動電極驅動器 55 觸控檢測電極 56 偏光板 62 類比LPF(低通濾波器） 63 A/D轉換部 64 信號處理部 65 座標抽取部 71 〜76 A/D轉換電路 77〜80 、 88 、 90 減法電路 81' 〜84 數位LPF 85 乘法電路 86 偏移電路 87 相位差檢測電路 89 參考資料記憶體 91 内插電路 146323.doc -47- 201115443 92 93 94 95 240 242 243 ' 243B 244 245 246 510 511 512 521 522 523 524 531 532 533 541 542 543 乘法電路 傅立葉内插電路 第1相位差檢測電路 第2相位差檢測電路 靜電電容式附觸控檢測功能 之顯示裝置 解多工器 顯示部 液晶顯不裔件 閘極驅動器 源極驅動器 影像顯示畫面部 前面板 濾光玻璃 發光部 數位相機之顯示部 選單開關 快門按鈕 本體 鍵盤 筆記型個人電腦之顯示部 本體部 透鏡 啟動/停止開關 146323.doc -48- 201115443 544 710 720 730 740 750 760 770
A1、A2、A3、B1、B2、 Cl、C2 Cll~Cln D
DET
Dout
El E2 fc fs
LC
P
Pdetl ' Pdet2
R
S
Sg 攝影機之顯示部 上側框體 下側框體 連結部（鉸鏈部） 顯示器 次顯示器 圖片燈 相機 取樣時序 電容元件 靜電電容 介電體 電壓檢測器 減法電路90之輸出 驅動電極 檢測電極 截止頻率 頻率 液晶元件 電容元件C1之另一端 相位差檢測信號 電阻 交流信號源 交流矩形波 146323.doc •49· 201115443 τ
Tr
Va
Vcom
Vdet ' Vdet2 Vth W1、W2 Y1、Y2 ΔΑ ΔΒ 週期 TFT元件 電壓 驅動信號 檢測信號 閾值電壓 波形 極性交替波形 A2-A1 B2-B1 146323.doc -50-

Claims (1)

  1. 201115443 七、申請專利範圍： 1. 一種靜電電容式觸控面板，其包括·· 號； 複數個驅動電極，其分別被施加觸控檢測用 之驅動信 複數個觸控檢測電極，其以與上述複數個驅動電極交 叉之方式配置’於該交叉部分形成靜電電容，並且分別 輸出與上述驅動信號同步之檢測信號； 第1取樣電路，其自分別從上述複數個觸控檢測電極 輸出之檢測信號中’抽取包含第1位準之信號成分與雜 讯成分之第1系列之取樣信號； 、第2取樣電路，其從自上述觸控檢測電極輸出之檢測 信號中，抽取包含不同於上述第⑽準之第2位準之传號 成分與雜訊成分之第2系列之取樣信號； 遽波電路，其對分別自上述第1及第2取樣電路輸出之 上述第1系列及第2系列之取樣信號，進行將特定頻率以 上之頻帶截止之高通截止處理；以及 、運算電路，其根據上述滤波電路之輸出而求取觸控檢 測用信號。 2. 如：求項1之靜電電容式觸控面板，其中上述運算電路 係猎由取得分別自上述第1及第2取樣電路輸出之上述第 i、糸列之取樣信號與上述第2系列之取樣信號之差分，而 求取上述觸控檢測用信號。 3. 士明求項1之靜電電容式觸控面板’其中上述驅動信號 係包括第！電麼之區間、與不同於上述第】電虔之第之電 146323.doc 201115443 壓之區間的週期性波形之信號，且 該靜電電容式觸控面板係以對上述複數個驅動電極之 各者依序分時施加上述驅動信號之方式進行掃描栌制。 4-如請求们之靜電電容式觸控面板，纟中上述第丄及第2 取樣電路之取樣週期相同，且其時序相互偏移半個週 期。 5.如請求机靜電電容式觸控面板，其中上述運算電路 係對藉由上述濾波電路予以處理之上述第丨系列及第2系 列之取樣信號中之至少-者之相位進行調整而使兩相位 相互一致，並且取該等2個取樣信號之差分，藉此求取 上述觸控檢測用信號。 6·如請求項1之靜電電容式觸控面板，其中上述第2位準之 信號成分為零位準。 7.如請求項6之靜電電容式觸控面板，其中上述驅動信號 之工作比偏離開50%。 士咕求項6之靜電電容式觸控面板，其中上述第1取樣電 路係以上述驅動信號中之一者之電壓變化點前後之相互 接近之複數個時序來對上述檢測信號進行取樣， 上述第2取樣電路係以上述驅動信號中之另一者之電 壓變化點之前一刻之相互接近之複數個時序來對上述檢 測信號進行取樣。 9·如請求項1之靜電電容式觸控面板，其中上述驅動信號 係匕括具有第1振幅之第1極性交替波形之區間、及具有 不同於上述第1振幅之第2振幅之第2極性交替波形之區 146323.doc 201115443 間的週期性波形之信號。 ι〇_如請求項9之靜電電容式觸控面板，其中上述第1取樣電 路係以上述第1極性交替波形中之極性反轉前後之相互 接近之複數個時序來對上述檢測信號進行取樣， 上述第2取樣電路係以上述第2極性交替波形中之極性 ' 反轉前後之相互接近之複數個時序來對上述檢測信號進 行取樣。 11 ·如請求項1之靜電電容式觸控面板，其中上述驅動信號 係包含相位相互偏移之第i極性交替波形及第2極性交替 波形之區間之週期性波形之信號。 12.如請求項11之靜電電容式觸控面板，其中上述第1取樣 電路係以上述第1極性交替波形中之電壓變化點之任一 者則後之相互接近的複數個時序來對上述檢測信號進行 取樣， 上述第2取樣電路係以上述第2極性交替波形中之電壓 變化點之任一者之前之相互接近的複數個時序來對上述 檢測信號進行取樣。 H —種附觸控檢測功能之顯示裝置，其包括： 複數個驅動電極，其分別施加有觸控檢測用之驅動信 . 號； 複數個觸控檢測電極，其以與上述複數個驅動電極交 又之方式配置，於該交叉部分形成靜電電容，並且分別 輸出與上述驅動信號同步之檢測信號； 第1取樣電路，其自分別從上述複數個觸控檢測電極 146323.doc 201115443 輸出之檢測信號中，抽取包含第丨位準之信號成分與雜 说成分之第1系列之取樣信號； 第2取樣電路，其從自上述觸控檢測電極輸出之檢測 信號中，抽取包含不同於上述第丨位準之第2位準之信號 成为與雜sfl成分之第2系列之取樣信號； 濾波電路，其對分別自上述第丨及第2取樣電路輸出之 上述第1系列及第2系列之取樣信號，進行將特定頻率以 上之頻帶截止之高通截止處理； 運算電路，其根據上述濾波電路之輸出而求取觸控檢 測用信號；以及 顯示部’其根據圖像信號顯示圖像。 14.如請求項13之附觸控檢測功能之顯示裝置，其中 上述顯示部係使用液晶元件構成， 上述觸控檢測用之驅動信號兼為驅動上述顯示部之顯 不驅動信號之一部分。 1 5.如請求項14之附觸控檢測功能之顯示裴置，其中 上述顯示驅動信號包括基於上述圖像信號之像素信號 與共通信號， 上述顯示部係藉由極性反轉驅動而進行顯示者，該極 性反轉驅動係使根據上述像素信號及上述共通信號而對 上述液晶元件施加之施加電壓之極性分時反轉， 上述觸控檢測用之驅動信號兼為上述共通信號。 146323.doc
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