TW201012986A - Systems and methods for growing monocrystalline silicon ingots by directional solidification - Google Patents

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Chandra P Khattak
Santhana Raghavan Parthasarathy
Bhuvaragasamy Ravi
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Chandra P Khattak
Santhana Raghavan Parthasarathy
Bhuvaragasamy Ravi
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Description

201012986 w 六、發明說明: [相關專利申請案之交叉參考] 本專利申請案係於2008年6月16日提出申請之美國 專利暫時申請案序號61/061,826之同時申請案,於此將其 完全併入本專利申請案以為參考。 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於用於產生單晶材料(monocrystal 1 ine material)之系統及方法。更具體而言,本發明有關於用於 ❹產生用於太陽能電池(solar cell)應用之單晶矽之系統及 方法。 【先前技術】 單晶結構能夠藉由整體結構之晶格(crystal lattice) 係連續且至該結構之邊緣均未損壞之固體材料而顯現出 來’且大致上少有瑕疵(defect)且沒有晶粒邊界(grain boundary )。由於在習知晶體結構中的瑕疵典型上發生於該 ❹晶粒邊界,所以這些瑕疵傾向於降低該材料之電性性質和 熱性質。因此,大部份晶粒邊界之高介面能量(interfacial energy)和相對較弱之鍵結(bonding)成為最可能發生問題 不想要的相(phase)。 的位置,並且促成該固體發生新的、 多晶結構-般而言係以許多小的、隨機定向的、晶體(或微 晶(叩tailite》形式所形成之晶體材料。這些微晶係以 晶粒邊界為界。以材料之微晶可為混和且散置的,但是 微晶或單晶結構之中的原子卻是對稱地排列。相對於形成 自單晶材料之裝置而言 許多位於多晶結構之晶粒邊界之 94701 3 201012986 瑕疵可能會降低任何裝置之效益。 如矽之單晶材料具有重要的工業應用面,例如,在半 導體和光伏打工業上。舉例而言,在微處理器操作於量子 等級(quantum scale)之半導體應用中,晶粒邊界之存在能 夠藉由修改局部電性性質而顯著地影響場效電晶體之功能 性。同樣地’當使用如矽之材料用於太陽能電池時,相較 於多晶矽太陽能電池而言,單晶矽太陽能電池一般顯現出 較高之效益。因為晶粒邊界一般顯現出較多之雜質 (impurity)和瑕疵(,所以相較於由多晶矽製成之太陽能電 ❹ 池而言,由單晶矽所製成之太陽能電池應該能夠增進效能。 商業上生產矽錠之常見技術包含:柴可斯基單晶生長 法(Czochralski method)、布里奇曼生長技術(Bridgman growth)及定向固化(directi〇nal s〇lidificati〇n)。柴可 斯基單曰曰曰生長法係商業上生產單晶石夕錠最普遍之缚旋技術 (ingot pUUing techni(lue)。根據柴可斯基單晶生長法, 能夠溶化高純度、半導體等級之料掛财,騎料㉟ 上由石英所製成。將接置於棒上之種晶(_ crm⑴沉❹ 入已溶解之石夕中’向上拉提並且同時轉動該種晶榛。藉由
而引進碎中;在柴可斯基單晶生長法中 柯轉動速度,能夠自該熔 晶體的、圓柱形的錠。雖 幾乎沒有瑕疫的碎鍵,但 由該坩堝所引進之雜質内 和已熔化的矽之間的反應 長法中可藉由轉動該錠和 94701 4 201012986 逆向轉動該坩堝來促進此反應。此外,當使用較低品質的 石夕原料時’可能形成各種二次相(secondary phase)並且漆 浮在該熔解物之表面上。於鑄錠期間,這些二次相可能造 成結構上的損壞,造成產品品質較差。因為柴可斯基單晶 生長法所增加之成本,所以用於光伏打應用之結晶矽晶圓 一般而言為多晶發。 布里奇曼生長技術儀另一種習知之石夕錠生長方法、布 里奇曼生長技術必須加熱晶體材料超過其熔點,並且接著 ❹以經過控制之生長速率和溫度梯度來固化該晶體材料。熱 交換器方法(heat exchanger method)係布里奇曼生長技術 的範例。根據此程序,種晶放置於掛堝之底部,而原料 (feedstock)係被載入作為進料(charge)。當該進料被炫解 時’藉由使冷卻氣體流過熱交換器(作用如同冷卻指 finger))來避免該種晶熔解。該進料之固化係藉由增加流 過該熱乂換器之冷卻氣體來達到,藉此在該固體中產生溫 ❹度梯度,而促進該進料之生長。也能夠在此生長期間降^ 該熔爐之溫度。因此’大致上在生長週期期間不會移動該 加熱區或該進料。在典型的布里奇曼熔爐中,在該加熱區 中建立梯度’並且移動裳有該進料之熔爐及/或掛禍以達到 經過控制之固化。 利用習知之定向固化系統,多晶生長已達到生產規 模。舉例而言,在定向固化系統中,裝有進料之掛禍能约 放置=熱父換器區塊上。溶解該進料並且將熱輻射至水冷 郃腔室,以產生溫度梯度並促進該進料之固化。在此案例 94701 5 201012986 © 中,熔解和固化係實施於相同之坩堝中。在將矽自溶解靖 堝倒入另一獨立坩堝之後(或者於大概相同之時間),也味 夠在另一獨立坩堝中實施定向固化。使用熔解坩堝和固化 坩堝之方法通常稱作為鑄造(casting)。然而,在工業上 經常可交替地使用定向固化和鑄造,以產生多晶錠。斜於 本發明之目的而言,定向固化係有關於在相同坩禍中實施 熔解和固化之晶矽錠形成方法。利用定向固化,不會轉動 該錠及/或該坩堝,因此在定向固化之矽錠中氧的濃度〜教 而言係低於柴可斯基單晶生長程序所產生之矽旋。定&胃 化程序中能夠使用感應加熱(induction heating)或電阻 加熱(resistance heating)。不同於柴可斯基單晶生長 法’定向固化係由該坩堝之底部往頂部達到固化,所以於 大部份之生長周期期間’該固體/液體介面係在液體中,、 一次相/沉殿物漂浮在該炼解物之表面而不會中斷生長 雖然定向固化在工業環境中最為普遍,但是仍可能有 某些缺點。如上所提及,典型上瑕疵伴隨多晶結構發=, 且能夠造成該石夕錠中非均勻之性質。此外,根據频用枯 堝之類型,與該坩堝接觸之材料中之雜質内容可能會很 阿’且有時該錠之底部部位、側邊部位及頂部表面部位必 須去除。因此,目前定向固化技術之主要權衡在於較低的 太陽能電池成本效益。舉例而言,多晶太陽能電池典型上 具有單晶太陽能電池85%至90%之效益。 有鑑於習知方法之缺點,雲盈·士 > A 需要可用於產生具單晶結構 之石夕錄:且具成本效益之程序。 94701 6 201012986 【發明内容】 本發明係關_於產生具有單晶結構之材料(如石夕) 的系驗方法。本發明能夠達到藉由習知之定向固化技術 來產生同印貝單曰曰產品的同時也維持成本效益和節省時間 之優點。 本發明能夠藉由整合用於受控制之排熱(heat extraction)之兩個或更多個機制而自放置在坩堝 (crucible)中之單一種晶(single此以crystal)產生單^ 結構。較佳係使用祕促較向固化之熔爐(furnace),且 為了促進該種日日於該生長程序(叮⑽让pr〇cess)期間之垂 直和水平生長,該溶爐包含能夠相對於所形成之錠(ingot) 而移動(亦即,上升或下降)之隔離件,其巾該隔離件造成 來自該掛禍底部邊緣之熱輻射(heat radiation)。 旋較佳係生長自放置於該坩堝中之單一種晶,使得該 種晶在該掛竭之垂直和水平方向上具有足夠的生長空間。 ❹該掛禍之形狀可選自一些幾何形狀設計,包含矩形、圓錐 形(conical)和錐形(tapered shape)。裝於該溶爐内之隔 離件包含沿著該熔爐之侧邊(side)裝設之隔離件、以及裝 設於熱交換器區塊(heat exchanger block)下方之隔離 無論是固定或可移動的, 件。隔離件之其他位置和組構, 均為本發明所思及。 才目較於形成自配置於共同基板上之複數個種晶或其 他以矩陣形式設置孓種晶,根據本發明之單晶結構較佳係 形成自放置於坩堝中之單一種晶,此有助於該錠之垂直和 7 94701 201012986 水平生長’並且能夠避免多個種晶之間的交叉污染⑽, contamination) ° 本發月了藉由併入氣體冷卻之熱交換器(gas-cooled heat exchanger)來提供額外的排熱’該氣體冷卻之熱交換 器係用於在生長和固化程序期間控制該種晶之溶回並且排 放熱能,以達到該旋之單晶生長。或者,該熱交換器可為 水冷卻或液體冷卻(liquid co〇ied),而不是氣體冷卻。能 约在固化期間藉由降低直接配置於該掛螞下方之隔離件來 達到額外的排熱,使得該隔離件移動遠離該坩堝,以求促 ❿ 進該坩堝底部之冷卻和熱散失(heat loss)。 在特定實施例中’為了促進該種晶之穩定擺放,該坩 堝可設置有種晶井(seed well)。 本發明所提供之進一步排熱和熱控制方法係使用擺 放於該坩堝和該熱交換器之間的多個支撐結構。該等支撐 結構亦提供該系統額外之結構完整性。 本發明因此具有將假晶粒之成核作用(nucleation of q spurious grain)最小化以達到單晶結構以及’之後,控制 定向固化以促進該錠之生長的優點。 用以產生太陽能電池之單晶晶圓之另一優勢係大致 上整個表面具有相同的定向(orientaion),並且能夠經過 處理以達到整個表面之均勻結果。舉例而5,如果該等晶 圓係經過形貌結構蝕刻(teXture etched)的,則能夠在該 整個表面之上方形成多個小角錐體(pyramid),使得入射在 該表面上之光經麇多重反射(refleCti〇n)並且藉此使得更 8 94701 201012986 多光被捕捉(trapped)在該太陽能電池中。此現象也能夠使 得單晶晶圓相較於多晶晶圓(multicrystalline wafer)而 言更加有效率。 對於太陽能電池應用而言,因為單晶晶圓一般在整個 表面上方具有大致上相同的定向,所以當蝕刻此類晶圓 時’能夠在該整個表面上方形成均勻的形貌結構。舉例而 s ’具有(100)定向之晶圓將形成角錐體,而具有(111)定 ❹向之晶圓將形成三角形,該等定向(100)和(111)均係熟習 員域者所習知。對於平順表面而言’反射至少部份之入 j光反之對於具形貌結構之表面(textured surface)而 °此夠重新定向至少某些反射光,並且因而最終由該表 =收设。因此,—般而言,具形貌結構之表面能夠捕捉 二 一般而言,角錐體結構之反射收復程度較高於 結構’而因此角錐體結構—般而言有較佳之定向。 ❹ 之ί向下且在多晶晶圓中,該等晶圓之不同區域形成不同 的。然而,貌結構一般而言係無效且無法重新產生 類晶圓戈 整個表面上方在早晶晶圓中,較宜在此 上方形成均句形貌結構。 本發明提供了用於產生單 . 促進配置在㈣中之種系統,其中包含用方 向固化來促進,:t 生長的熔爐,使得藉由哀 係組構心平額上之生長。該掛娟 炫解裝在—之熱和至少部份地 該種晶㈣原料之_之熱交換器(二:= 94701 9 201012986 器);以及’例如’沿著該溶爐之侧邊裝在該炫爐中之隔離 件’且該隔離件係為了形成單晶錠而組構成相對於用於冷 卻並固化該種晶之腔室(chamber)移動。該坩禍宜放置在該 熔爐之腔室中。根據本發明之内容,為了控制輻射熱散失, 能夠相對於該坩堝而上升或下降該隔離件。視需要地,能 夠在熱交換器區塊下方設置隔離件,此隔離件亦組構成用 以上、下移動。 本發明之熱交換器係可操作地於複數個階段中,以控 制該堆禍中該種晶之溶解速率。在一個階段中,將氣體通 ® 入該熱乂換器以避免大致上完成該種晶之溶解。在另一階 段中’增加流入該熱交換器之氣體以促進該單一個種晶之 定向固化。 本發明之系統可復包含探針(probe)或熱電偶 (thermocouple),以監測該原料之熔解和該種晶之熔回。 該原料典型上係多晶矽原料。本發明之系統可形成單晶 錠’使得該上侧表面具有輕微凸面(convex)或平面的形 狀。此外,根據本發明如果在單晶錠生長期間發生擾動, 如果形成晶粒邊界(grain boundary),則晶粒尺寸將大於 習知製程所產生之多晶錠。 本發明也提供用於產生單晶錠之方法。本發明之方法 包含下列步驟:設置組構成藉由定向固化促進單曰成長之 熔爐;在該烙爐之加熱區(heat zone)中放置耳有所期望么 何形狀且裝有單一個種晶和原料之單一個坩 口,,加熱和至 少部份地熔解該種晶,並且完全地熔解裝在該掛禍中之原 94701 10 201012986 料,操作熱交換器以控制該種晶和該原料之熔解,·以及為 ‘ 了促進該種晶之定向固化並形成該單晶旋,而在該炫爐中 和該掛堝下方設置可移動隔離件,使得該隔離件係組 相對於該腔室而上升或下降’心冷卻和固化被炫解的 石夕。本發明之方法可復包含監測該原料之熔解之步驟。 在操作過程中,能夠將氣體%入該熱交換器以避免大 致上完成該種晶之溶解。此外,能夠增加流入該熱交換器 ❾^體以促進該種晶之定㈣化。該熱交換器係可操作於 單晶生長和固化之複數個階段中。 本發明也提供了用於產生可用在光伏打應用之單晶 :錠:方法:該方法包含下列步驟:設置組構成藉由定南 右促進單3日生長之賴;在該軸之加熱區中放置裝 :::原料之坩堝;加熱和至少部份地熔解該種晶’ 以二二熔?裝在該坩堝中之原料;操作熱交換器藉由 該原::3===交換器來控制該種晶和 置可移動_牛,使得該隔二 用以冷卻和固化㈣a t ^構成可上升或下降’ 夠相對於該腔室上升明之系統,該隔離件能 在操作過程中,妒夠以兹士 _種晶之定向固化° 或者從擺放於該熱交;器㈣=原_^ 授,增加流入賴交抑之二換…體。回應於該回 加排熱因㈣由該熱交換器增 94701 11 201012986 本發明之這些和其他態樣和優點將藉由以下說明書 内容之較佳實施例配合附加圖式而變得更加明顯易懂。 【實施方式】 本發明之較佳實施例係參考附加圖式詳述於下文中, 其中相同的編號代表相同或類似的元件。 本發明係關於生長單晶材料之系統及方法。雖然本說 明書中討論了單晶矽之產生,但是本文中所描述之技術和 方法並不限定於產生單晶碎或僅產生梦。一些單晶;g夕材料 能夠利用本發明之方法產生,如半導體晶體(例如:鍺、碎 化鎵等)、氧化物(例如:藍寶石(sapphire)、鏡銘石梅石 (YAG)、氧氮化鋁(AL0N))以及氟化物(例如:氟化鎂、氟化 鈣)等。 目前商業上一般係利用輻射排熱來產生單晶材料(如 梦)。本發明之系統及方法能夠用以藉由修改該定向固化程 序來產生單晶錠,以產生大致上沒有晶粒邊界之產品,同 時維持低成本、大的錠尺寸、高良率、以及使用較低品質 和較便宜原料之能力。此外,根據本發明如果在單晶錠生 長期間發生擾動的情形,如果形成晶粒邊界,則晶粒尺寸 將大於習知製程所產生之多晶錠。為了達到這些結果,本 發明較佳宜使用至少兩個經過控制之排熱源(s〇urce 〇f controlled heat extration):氣體冷卻熱交換器和組構 成用以相對於坩堝進行移動之隔離件,且該坩堝係大致上 裝在定向固化熔爐内,以免干擾固體—液體介面 (solid-liquid interface)。該定向固化程序的這些和其 94701 12 201012986
Planar surface),使得能夠生長更大、 、更重的錠且大致上 他修改均能夠用以達到單 是,經過條故夕金A m ,, 没有殘留的應力(residual stress)。 鲁 I據本發明之内容,氣體冷卻熱交換器能夠用以達到 種晶(seeding)並且在定向固化程序中促進晶體生長,如下 之中所詳述者。較佳的是,控制定向固化以便在生長錠之 同時維持單晶結構並且將可能造成該固體-液體介面經歷 飯晶粒之成核作用的情況最小化。 參照第1圖,用以產生單晶錠之系統較佳宜包含定義 脸室之熔爐1〇,且該熔爐1〇係組構成用以促進該腔室中 之定向固化。單一種晶20較佳宜放置於擺放在該熔爐1〇 之加熱區(heat zone)(於本文中亦稱作為“熱區(hot 2〇ne)”。)中之坩堝50中。氣體冷卻熱交換器200(例如: 氦冷卻熱交換器)係裝設於大約該坩堝50之底部,藉此將 冷卻指(cold finger)作用於該種晶20上。或者是,能夠 使用水冷卻或者液體冷卻之熱交換器’而不是氣體冷卻熱 交換器。 容置於該熔爐10内之甜禍50和種晶20係裝在由該 綠爐10之内部所定義之腔室中’其中該腔室較佳係能夠於 其中維持經過控制之氣壓之水冷卻腔室。矩形坩禍5〇a能 94701 13 201012986 夠負載有原料90或者進料,例如多晶矽原料(如第3圖所 , 示)。該原料90係設成藉由至少一個固定於該熔爐1〇内之 加熱元件80而被加熱。該原料90之熔解較佳係藉由調節 送至該至少一個加熱元件80之功率(p〇wer)來控制,而該 種晶20之熔回(meltback)係藉由控制流過該熱交換器 之氣體來決定。較佳的是,調節送至該加熱元件8〇之功 率,以便完全熔解該原料90,並且僅部份地熔解該種晶 20 ’同時大致上避免完全熔解該種晶2〇。 在熔解該原料90並且至少部份地熔解該種晶2〇之 ❹ 後,增加流過該熱交換器2〇〇之氣流,以開始並維持生長。 在足夠的生長之後,藉由逐漸增加輻射熱散失來冷卻該坩 堝50以達到進一步的固化。此進一步的固化係藉由相對於 該坩堝50移動隔離件14而達成,以避免干擾生長錠之固 體至液體介面。該系統亦可提供用於監測該原料9〇之熔回 之機制,如探針或熱電偶(未顯示)或者其他習知之設備 (means)旦形成該早晶錠,該錠可繼續留在該炫爐丨〇 中,並且能夠在該坩堝50本身中退火(anneal)和冷卻該 鍵。 本發明亦提供形成單晶錠之方法。雖然本發明將以單 晶矽之形成和生長之觀點描述於下文中,但是本發明並非 限定於產切’也不限定於本文巾所描狀示範操作參數。 參照第1圖和第2圖,根據本發明之内容產生單晶 錠,該熔爐10應該能夠實施定向固化程序。在較佳實施例 中,該熔爐10具有圓柱形或方形的加熱區12,且該加熱 94701 14 201012986 區12係由位於設置在該溶爐1〇中之隔離件14之内部之區 域所定義。該加熱區12也包含該_5G以及^ : 持器(retainer)70,其中該保持器7〇 _ 塊25上並且組構成保持該加如― :成該=Γ以石英(_rtz)或二氧化偏㈣ 衣成’並且I夠為圓柱形或方形,並且可視需要地塗覆, ❺ 以避免該錠在固化之後破裂。該保持H 70和該熱交換器區 塊25典型上係由石墨(graphite)所製成。 該氣體冷卻熱交換器較佳係接置在該_ 中, 使得該氣體冷卻熱交換器大約位於該加熱區12中之至 少-個加熱元件80相對中央之位置。該熱交換器區塊烈 較佳係接附至該熱交換器·,使得該熱交換器之至 少-部份係容置於該熱交換器區塊25之凹處(以㈣。 ❺ 隔離件14係沿著該熔爐1〇之侧邊設置並且可視需要 地放置於該㈣50上方及/或下方,使得該隔離件14係組 構成相對於該坩堝50進行上升或下降。舉例而言,該隔離 件14犯夠包含側邊隔離件16和底部隔離件18,且該側邊 和底部隔離件係組構成可一起移動,或者是能依需要而分 別地移動。該熱交換器區塊25較佳宜包含設置為直接鄰接 並且位於該熱交換器區塊25下方之隔離件35,其中該隔 離件35係組構成上、下移動’如第1至3圖所示。本發明 之所有實施例均不需要該隔離件35。 第1圖顯示該加熱區12和該坩堝5〇以及一般而言為 封閉組構(closedconfiguration)之隔離件14,而第2圖 15 94701 201012986 描繪一般而言為開放組構(open c〇nfigurati〇n)之隔離件 ’ 14。此外,如第2圖中所示,裝設在該熱交換器區塊25 之下的隔離件35已經移動遠離該熱交換器區塊25。 在加熱和熔解該原料90之期間,使用第1圖中所示 之組構(封閉隔離件),使得此階段期間之熱散失能夠最小 化。在該生長階段期間,逐漸開放該隔離件以增加散失至 該水冷卻腔室(water-co〇ied chamber)之輻射熱散失,最 終造成第2圖中所示之隔離件組構。 現在將更詳細描述可使用於本申請案之熔爐1〇中之 坩堝50。根據本發明之内容,該坩堝5〇可具 此 霸 a +同 的幾何形狀組構。在一個實施例中,該坩堝5〇a係具有如 第3A圖中所示之矩形。在其他實施例中,坩堝5〇b係具 如第4A圖和第5A圖所示之圓錐形。在又一其他實施例中 坩堝50c係具有如第6A圖和第7A圖所示之錐形。為了、’ 免該種晶完全熔解,該坩堝50之形狀係基於所期望:熱, 佈(heat distribution pr0fi ie)而選定,藉以維持該二分 5〇之底部的溫度相對低於該坩堝5〇頂部部分之表面堝 ❹ 度。該坩堝之各種組構之每一者均可與第丨圖所示之2紙 平坦種日日放置(Hat seed placement) —起使用。戋者θ 該坩堝可在底部部位包含種晶井(seed wel 1)55,用於^=, 晶體生長程序期間將該種晶牢牢固定於位置上( 該 於第6A圖和第7A圖)。 示 該坩堝50較佳係塗覆有氮化矽並予以燒結,使7 形成之原料90和矽錠不會直接與石英、二氧化矽或者二: 9470] 16 201012986 禍50之其他材料接觸。該塗覆程序也能夠用以大致上避免 該石夕錠在固化之後破裂。該經㈣覆之_ 5()接著係較佳 f其大約底部中央載入單晶矽種晶20,且該種晶20係覆 蓋以矽原料90。在將該坩堝50载入該熔爐1〇之後,可排 空(evacuate)該熔爐1〇並且能夠藉由該加熱元件8〇加熱。 w曰根據本發明之示範實施例,能夠於該熔爐10中形成 單阳矽錠。該熔爐10係在真空中被加熱至大約1200¾, ❹並且以氬氣(argon gas)回填該腔室以及將溫度控制在大 約抑Ombar和1 〇〇〇mbar之間的固定值。或者是可使用如 氮氣或氦氣之其它氣體。該熔爐1〇之腔室内的壓力係藉由 調節供應至該腔室之氬氣來控制。接著持續加熱直到該溶 爐1〇到達約150(TC為止,並且保持在該温度以達到㈣ 料90之溶解。由於石夕在14耽熔解,所以該溶爐之溫度 係維持在大約Ul5t;和155(rc之間。#開麟解時,該溶 ^之溫度逐漸往1415tT降。於騎相(inelting的㈣) 功間,氦氣開始流過該熱交換器2〇〇,如同第3B_3E圖中 $上前頭所示者;分職控制壓力和氦氣流。由於氣氣的 兩度熱傳導性(thermal conductivity)和熱容量(heat capacity) ’所以較佳使用氦氣;也可使用其他氣體,如氬 氣、氮氣等。於該熔解階段期間,在大約5和2〇psi之間 的壓力下,氦氣流可為大約5Q至議娜卜此氦氣流係用 以避免該種晶20完全熔解。在該熔解已經穩定且達到種晶 2〇之溶回後’能夠逐漸地增加流過該熱交換器之氦氣,以 促進該經過熔回之種晶2〇之矽之生長。 17 94701 201012986 所J望的疋將由於該坩堝5〇和該加熱元件8〇之移動 ’ 而在生長期間所造成之假成核作用(聊*騰-—η) 最!化目此,根據本發明之系統及方法,該隔離件 係組構成相對於該㈣5Q和該加齡件而進行移動, 而不是移動該掛堝50本身。舉例而言,如第2圖之指向離 _,交換器區塊25的箭頭所示之輕射熱散失係用以在 广換器2〇〇已用於在該#瑪5〇之整個底部來種晶和生 長之後促進疋向固化。在較佳實施例中,該熔爐之腔室 係水冷卻腔室。 ❿ 參照第3A ® ’於載入階段期間,該單晶種晶2〇係載 入該矩形掛禍50a並且被覆蓋有該梦原料9〇。在此階段 中如第1圖中所示,該隔離件14 -般而言為封閉組構。 如第3B圖中所示’該加熱元件8〇加熱並且溶解該原料 90,同時,氣體開始流過該熱交換器2〇〇。 參照第3B至3D圖,當該石夕原料9〇開始熔解時,氦 氣通過該熱交換器_以避免該種晶20完全地熔解。在/ ❹ 實施例中,此夠監測該原料和該種晶之熔解。舉 龙。石英棒探棒(Quartz rod probe)或熱電偶能夠周 ’月生地反入該熔解物中。當該原料9〇和該種晶⑼的熔解 在進行時,逐漸地降低該熔爐1〇内部之溫度。當達到所期 ^結果使得所有石夕原料90均被熔解且溶回至少一些種 :20時’能夠逐漸地增加流過該熱交換器·之氮氣,以 /止該炼回並促進旋之生長。根據本發明之内容,為了促 進對於所有原料9G之經控制之定向1]化(⑽trolled 18 94701 201012986 directional solidification),該熔爐 1〇 之溫度較佳係 維持在剛好高於待產生之材料之熔點(mel ting叩㈣。在 另-貫施例中’除了移動上文中所討論之隔離件14以外, 也能夠以經過控制之速率下降該熱交換器和裝有原料 90之掛堝5Ga。再者’在特定實施例巾,能夠將該隔離件 35放置在該熱交換n區塊25下方,並且降低該隔離件% 以促進輕射熱散失及加強生長。
Ο 如第3E圖中所示’藉由降低該馳10之内部溫度至 正好低於待產生之材料之熔點來達到大致上完全固化該原 料90。在本文中所述之示範實施例中’由於正在產生石夕,、 所以降低溫度至大約14吹。此種作法係用以在 得到所期望之固體-液體介而# s 面形狀。猎由該熱交換器200 於該早日日硬錠11 〇之生县细 生長期間達到凸面之固體-液體介 面,並且達到早一晶體生具 長乂覆盍幾乎該錠110之整個底 部表面。在完成固化之後,所甚4 + π 11Λ ^ 内冷卻。 難生之錠110可在該加熱區 第4Α至4Ε圖係具有圓錐形 — 及單晶生絲序之剖面示意圖。。固化_ 爐J :A生至:ΓΓ;具有圓錐形_ 5°b之定_ 二:示意圖。第5A至5E圖亦描繪可 設置於該坩堝50b底部之支 描繪1 係擺放在該熱交換㈣塊25二構該支撐結構阶 堝50b相配之形狀,以便蛊 、且具有*計成與制 合。該支#簡_作以緊密配 袄供糸統之結構完整性,同時 94701 19 201012986 供可藉以控制熱流(heat fi〇w)之額外設備(means)。 第6A至6E圖係具有錐形坩堝5〇c之定向固化熔爐和 單晶生長程序之剖面示意圖,該錐形義具有用於 牢固定該種晶20之種晶井部位55。 第7A至7E圖根據本發明之實施例描纷 5〇C之定向固⑽爐和單晶生長程序,該錐形料t 有用於牢牢蚊該種晶2Q之種晶井部位55,i^〇c具 對應支撐結構_係設置於該_5〇。 類似之 入該種晶2G和進狀後增加結構完錄。_ =在栽 構60a,該支樓結構_係擺放在該熱交換巧區:切結 上,並且具有設計成與該圓錐形掛禍通相配^开/5之 便與該坩堝50b和保持器7〇緊密配合。 彤狀,以 雖然本發明已經針對較佳實施例進行插述 本領域者將咸了解上述-系列實施例可做各種改變:熟習 而不會背離如本發明所附加之巾請專職 或修改 與範疇。 4疋義之精神 [併入參考] 特此將所有專利和已公開之專利申請案 文 m 中所引用之其他參考的所有内容併入本文中做為2本 【圖式簡單說明】 ,兮。 =了使得熟習與本發明相關之領域者無須 即此夠清楚了解如何製作和使用本發明之方 Μ 發明讀佳實施例將於下文中參考特定圖式力。=置。,本 第1圖係根據本發明第—較佳實施例具有用於製備單 94701 20 201012986 晶錠之矩形坩堝之定向固化熔爐之剖面示意圖,其中侧邊 隔離件係以封閉組構設置; 第2圖係第1圖之熔爐之剖面示意圖,其中該側邊隔 離件係以一般的開放組構設置; 第3A圖係第1圖之熔爐之加熱區在載入種晶和進料 之後之剖面示意圖; 第3B圖係第3A圖之加熱區在該進料熔解且該經過熔 回之種晶係為固悲之後之剖面不意圖, ® 第3C圖係第3B圖之加熱區在該單晶錠之初始生長階 段之剖面示意圖; 第3D圖係第3C圖之加熱區在該單晶錠之第二生長階 段之剖面示意圖; 第3E圖係第3B圖之加熱區在該單晶錠之最終生長和 固化階段之剖面示意圖; 第4A至4E圖係根據本發明第二較佳實施例之具有圓 j-- ❹錐形掛禍之定向固化、溶爐之加熱區於載入、熔解及生長之 各種階段期間之剖面示意圖,其中描繪於第4A至4E圖之 各種階段分別對應於第3A至3E圖所描繪者; 第5A至5E圖係根據本發明第三較佳實施例之具有圓 錐形掛塌之定向固化溶爐之加熱區之剖面示意圖,其中相 對應之支撐結構係設置於該坩堝之底部,用於在載入、熔 解及生長之各種階段期間增加結構完整性和控制該熱流, 其中描繪於第5A至5E圖之各種階段分別對應於第3A至 3E圖所描繪者; 21 94701 201012986 第6A至6E圖係根據本發明第四較佳實施例之具有錐 形掛瑪之定向固化溶爐之加熱區在載入、炼解及生長之各 種階段期間之剖面示意圖,該錐形坩堝具有用於牢牢固定 該種晶之種晶井部位,其中描繪於第6A至6E圖之各種階 段分別對應於第3A至3E圖所描繪者;以及 第7A至7E圖係根據本發明第六較佳實施例之具有錐 形坩堝之定向固化熔爐之加熱區在載入、熔解及生長之各 種階段期間之剖面示意圖,該錐形坩堝具有用於牢牢固定 該種晶之種晶井部位,其中相對應之支撐結構係設置於該 坩堝之底部,用於在載入、熔解及生長之各種階段期間增 加結構完整性和控制該熱流,且其中描繪於第7A至7E圖 之各種階段分別對應於第3A至3E圖所描繪者。 【主要元件符號說明】 10 熔爐 12 加熱區 14、35 隔離件 16 側邊隔離件 18 底部隔離件 20 種晶 29 箭頭 25 熱交換器區塊 50 、 50a 、50b、50c 掛竭 55 種晶井 60a、 60b 支撐結構 70 保持器 80 加熱元件 90 原料 110 疑 200 熱交換器 22 94701

Claims (1)

  1. 201012986 ' 七、申請專利範圍: 1. 一種用於產生單晶錠之系統,包括: 坩堝,其係設置於熔爐中,且組構成容置單一個種 晶和原料, 至少一個加熱元件,其係用於加熱和至少部份地熔 解該種晶’並且將裝於該掛禍中之該原料完全地溶解; 熱交換器,其係用於控制來自該坩堝之排熱,以促 進來自該至少部份地熔解之種晶和該原料之該單晶錠 ❹ 之生長;以及 隔離件,其係裝於該熔爐中,並組構成相對於該坩 禍而移動,以促進該單晶鍵之冷卻和定向固化。 2. 如申請專利範圍第1項之系統,其中,該隔離件係相對 於該坩堝而上升或下降。 3. 如申請專利範圍第1項之系統,其中,該坩堝包含用於 保持該坩堝在該熔爐中之保持器。 ^ 4.如申請專利範圍第1項之系統,其中,該熱交換器係可 操作地於複數個階段中,以控制該坩堝中之該種晶之熔 解率。 5. 如申請專利範圍第4項之系統,其中,在一値階段中, 氣體流入該熱交換器,以避免大致上完成該種晶之熔 解。 6. 如申請專利範圍第5項之系統,其中,在另一階段中, 增加流入該熱交換器之該氣體,以促進該種晶之定向固 化0 23 94701 201012986 7·如申1專利範圍第1項之系統,復包括探針或熱電偶, 以測該原料之熔解和該種晶之熔回。 8. 如申明專利範圍帛1項之系統,其中,該原料係多晶石夕 原料。 9. 如申請專利範圍帛1項之系統,其中,該熱交換器係氣 體冷卻熱交換器。 10. 如申請專利範圍第1項之系統,復包括用於支撐該職 之熱交換器區塊。 11·如申請專利範圍第10項之系统’其中,該隔離件至少 包含侧邊隔離件和配置在該熱交換器區塊下方之隔離 件。 如申吻專利範圍第11項之系統,其中,該側邊隔離件 係組構成朝向相對於該熱交換器區塊之垂直方向而移 動。 13. =申請專利範圍第丨丨項之系統,其中,該配置在該熱 父換器區塊下方之該隔離件係組構成相對於該熱交換 器區塊而移動。 14. 如申請專利範圍第丨項之系統,其中’該坩堝之形狀係 矩形、圓錐形或錐形之其中一者。 15. 如申凊專利範圍第1項之系統,其中,該坩堝具有用於 在單晶生長期間牢牢固定該種晶之種晶井部位。 16. 如申請專利範圍第丨項之系統,復包括設置有該坩堝之 支撐結構,以用於控制熱流。 17'種猎由定向固化生長產生單晶錠之方法,該方法包括 94701 24 201012986 下列步驟: 放置種晶和原料於炫壚 加熱和至少部份地熔解 _之原料完全地熔解; 中之坩堝中; 孩種晶’並且將裝於該坩堝 ❹ ❹ 操作熱交換器以控制來自診 自該至少部份地熔解之 μ坩堝之排熱,以促進來 長;以及 曰曰和該原料之該單晶錠之生 於該熔爐中設置可移動之 相對於該坩堝而移動,以促進f件’該隔離件組構成 18. 如申請專利範圍第17項之方法〜,單晶錠之定向固化。 對於該坩堝而上升或下降,以’、其中,該隔離件係相 19. 如申請專利範圍第17項之方㈣種晶之定向固化。 氣體流入該熱== 2〇.=料利_第19項之料,復⑽增加流入該熱 乂換益之該氣體,以促進該種晶之定向固化。 2L如申請專利範圍第17項之方法,其中,該可移動之隔 離件至少包含側邊隔離件和配置在熱交換器區塊下方 之隔離件。 22. 如申請專利範圍第21項之方法,復包括以下步驟: 上升或下降配置在該熱交換器區塊下方之該隔離 件’以促進定向固化。 23. 種用於產生可使用在光伏打應用之單晶石夕銳之方 法’該方法包括下列步驟: 25 94701 201012986 放置種晶和矽原料在熔爐之坩堝中; 加熱和至少部份地熔解該種晶,並且將裝於該坩堝 中之該原料完全地熔解; 操作熱交換器,以藉由將氣體以經過控制之速率引 入該坩堝中而控制該種晶和該原料之該溶解;以及 在該熔爐中設置可移動之隔離件,該隔離件係組構 成相對於該坩堝而移動,以促進該單晶錠之定向固化。 24. 如申請專利範圍第23項之方法,其中,將該氣體引入 該熱交換器之該速率係以藉由監測該原料之熔解所得 到之回授而控制。 25. 如申請專利範圍第23項之方法,復包括以下步驟:增 加流入該熱交換器之該氣體,以促進該種晶之定向固 化0
    26 94701
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103649380A (zh) * 2011-03-15 2014-03-19 Gtat公司 用于晶体生长装置的自动检视系统
CN103703169A (zh) * 2011-05-02 2014-04-02 Gtat公司 制造具有大粒径的多晶材料的装置及方法
TWI460318B (zh) * 2012-02-22 2014-11-11 Sharp Kk Method for heat treatment of solid-phase raw material and device and method for manufacturing ingot, processing material and solar cell

Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201012988A (en) * 2008-08-27 2010-04-01 Bp Corp North America Inc Gas recirculation heat exchanger for casting silicon
DE102010014724B4 (de) * 2010-04-01 2012-12-06 Deutsche Solar Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von Silizium-Blöcken
DE102011006076B4 (de) 2010-04-01 2016-07-28 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von Silizium-Blöcken
CN102251288A (zh) * 2010-05-18 2011-11-23 上海普罗新能源有限公司 多晶硅铸锭生长方法、所用坩埚及其制造方法
DE102010030124B4 (de) * 2010-06-15 2016-07-28 Solarworld Innovations Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von Silizium-Blöcken sowie nach dem Verfahren hergestellter Silizium-Block
CN101906657B (zh) * 2010-07-08 2013-04-03 王敬 制造单晶锭的系统
US9611565B2 (en) 2010-08-26 2017-04-04 Gtat Corporation Crystal growth apparatus with ceramic coating and methods for preventing molten material breach in a crystal growth apparatus
CN102094232B (zh) * 2010-09-26 2012-06-06 常州天合光能有限公司 快速冷却的多晶炉热场及其使用方法
CN101967675B (zh) * 2010-11-01 2014-05-07 王楚雯 制造单晶锭的装置
US8562740B2 (en) * 2010-11-17 2013-10-22 Silicor Materials Inc. Apparatus for directional solidification of silicon including a refractory material
FR2968127B1 (fr) 2010-11-29 2013-11-22 Commissariat Energie Atomique Échangeur thermique d'un système de solidification et/ou de cristallisation d'un matériau semi-conducteur
US8821634B2 (en) * 2011-03-22 2014-09-02 Gtat Corporation High temperature furnace insulation
US9139931B2 (en) * 2011-05-11 2015-09-22 Memc Singapore Pte. Ltd. Directional solidification furnace heat exchanger
CN102797036B (zh) * 2011-05-26 2016-06-15 浙江昱辉阳光能源有限公司 多晶硅锭及其制造方法、太阳能电池
RU2560439C1 (ru) 2011-08-01 2015-08-20 ДжиТиЭйТи Корпорейшн Теплообменник жидкостного охлаждения
FR2979638A1 (fr) 2011-09-05 2013-03-08 Commissariat Energie Atomique Dispositif de fabrication de materiau cristallin a partir d'un creuset a resistance thermique non uniforme
CN103797164A (zh) * 2011-09-14 2014-05-14 Memc新加坡私人有限公司 具有可移动式热交换器的定向固化炉
EP2589687A1 (en) 2011-11-04 2013-05-08 Vesuvius France (S.A.) Crucible and method for the production of a (near ) monocrystalline semiconductor ingot
EP2604728A1 (en) 2011-12-12 2013-06-19 Vesuvius France S.A. Crucible for the production of crystalline semiconductor ingots and process for manufacturing the same
CN103160934B (zh) * 2011-12-18 2016-05-18 洛阳金诺机械工程有限公司 一种生长晶体材料时的温度梯度控制装置及其方法
CN103205807A (zh) * 2011-12-28 2013-07-17 江苏有能光电科技有限公司 一种制备准单晶硅的铸锭炉及制备准单晶硅的方法
US20150086464A1 (en) * 2012-01-27 2015-03-26 Gtat Corporation Method of producing monocrystalline silicon
CN103225110B (zh) * 2012-01-29 2016-07-06 北京京运通科技股份有限公司 一种生产单晶硅的方法
CN102586891B (zh) * 2012-02-28 2015-09-30 浙江上城科技有限公司 一种内衬复合式耐高温坩埚
CN103305901B (zh) * 2012-03-12 2016-10-05 洛阳金诺机械工程有限公司 一种晶体生长时下轴对坩埚的柔性降温结构
KR101306435B1 (ko) * 2012-03-13 2013-09-09 오씨아이 주식회사 방사형 온도구배를 이용한 단결정 성장 장치 및 방법
KR101216523B1 (ko) * 2012-03-20 2012-12-31 유호정 멀티-도가니 타입 실리콘 잉곳 성장 장치
KR101216522B1 (ko) * 2012-03-20 2012-12-31 유호정 탐침봉을 포함하는 실리콘 잉곳 성장 장치
KR101339377B1 (ko) * 2012-06-19 2013-12-09 주식회사 인솔텍 실리콘 잉곳 제조장치 및 이를 이용한 잉곳 제조방법
TWM448496U (zh) * 2012-09-04 2013-03-11 C Sun Mfg Ltd 晶體生長裝置
US9273411B2 (en) * 2012-11-02 2016-03-01 Gtat Corporation Growth determination in the solidification of a crystalline material
KR101483697B1 (ko) * 2013-03-20 2015-01-16 한국에너지기술연구원 실리콘 잉곳 제조 장치
KR101489383B1 (ko) * 2013-05-03 2015-02-04 (주)알파플러스 함몰형 도가니 구조의 역 냉각형 진공 증발원 장치
US9068275B2 (en) * 2013-05-08 2015-06-30 General Electric Company Composite geometrical design for a grain starter in a bridgman investment casting process
US10633759B2 (en) 2013-09-30 2020-04-28 Gtat Corporation Technique for controlling temperature uniformity in crystal growth apparatus
US20150090181A1 (en) * 2013-09-30 2015-04-02 Gt Crystal Systems, Llc Automated heat exchanger alignment
CN103526278B (zh) * 2013-10-10 2015-11-04 西华大学 一种铸造单晶硅锭的方法与装置
CN103726105A (zh) * 2013-10-11 2014-04-16 中国科学院上海光学精密机械研究所 钛宝石晶体生长装置及其生长方法
CN103741204A (zh) * 2013-12-19 2014-04-23 江苏吉星新材料有限公司 一种晶体生长装置
CN103741207A (zh) * 2013-12-19 2014-04-23 江苏吉星新材料有限公司 一种高质量晶体生长方法
CN103757689A (zh) * 2013-12-31 2014-04-30 浙江大学 一种利用单晶硅籽晶诱导生长铸造单晶硅的方法及产品
CN104195635A (zh) * 2014-09-28 2014-12-10 哈尔滨工业大学 一种籽晶法制备大宽度柱状晶硅锭的方法
CN105586635B (zh) * 2016-01-20 2018-07-17 西安交通大学 一种铸锭快速凝固的装置及方法
AT15319U1 (de) * 2016-06-01 2017-06-15 Plansee Se Hochtemperatur-Isoliersystem
US9988740B1 (en) 2016-08-16 2018-06-05 Northrop Grumman Systems Corporation Shaped induction field crystal printer
CN106868594A (zh) * 2017-01-13 2017-06-20 许昌天戈硅业科技有限公司 一种低能耗蓝宝石晶体生长炉
CN106835278A (zh) * 2017-01-13 2017-06-13 许昌天戈硅业科技有限公司 一种晶体生长炉加热器以及蓝宝石晶体生长炉
CN107022791A (zh) * 2017-05-24 2017-08-08 镇江仁德新能源科技有限公司 一种高效硅晶片热场长晶装置及方法
CN107794569B (zh) * 2017-10-26 2019-11-05 河北工业大学 一种多晶硅片直接成型的方法及其装置
US11326270B2 (en) * 2018-03-29 2022-05-10 Crystal Systems Corporation Single-crystal production equipment and single-crystal production method
US11713515B2 (en) * 2018-07-20 2023-08-01 Kyocera Corporation Silicon ingot, silicon block, silicon substrate, method for manufacturing silicon ingot, and solar cell
US11127572B2 (en) 2018-08-07 2021-09-21 Silfex, Inc. L-shaped plasma confinement ring for plasma chambers
CN109695057B (zh) * 2018-09-25 2024-03-01 中国科学院上海光学精密机械研究所 一种钛宝石晶体生长装置和方法
CN111778548A (zh) * 2019-04-04 2020-10-16 天合光能股份有限公司 一种铸造单晶硅用坩埚及铸造单晶硅的方法
JP6752464B1 (ja) * 2019-06-27 2020-09-09 Ftb研究所株式会社 ルツボ
CN110788302B (zh) * 2019-09-10 2023-11-28 浙江大学 适合超重力定向凝固使用的气冷系统
KR102326741B1 (ko) 2021-08-18 2021-11-16 주식회사 린텍 실리콘 파우더와 고주파 가열장치를 이용한 실리콘 부품의 접합 방법

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1025633C (zh) * 1992-06-19 1994-08-10 中国科学院固体物理研究所 金属双晶及三晶体的生长技术和装置
JP3520957B2 (ja) * 1997-06-23 2004-04-19 シャープ株式会社 多結晶半導体インゴットの製造方法および装置
JP3523986B2 (ja) * 1997-07-02 2004-04-26 シャープ株式会社 多結晶半導体の製造方法および製造装置
JP2002293526A (ja) * 2001-03-29 2002-10-09 Kawasaki Steel Corp 多結晶シリコンの製造装置
DE10124423A1 (de) * 2001-05-18 2003-01-02 Schott Glas Züchten von orientierten Einkristallen mit wiederverwendbaren Kristallkeimen
JP4777880B2 (ja) * 2004-03-29 2011-09-21 京セラ株式会社 シリコン鋳造装置およびシリコンインゴットの製造方法
CN1657658A (zh) * 2004-12-15 2005-08-24 中国科学院上海光学精密机械研究所 大尺寸氟化钙单晶的生长方法
US7344596B2 (en) * 2005-08-25 2008-03-18 Crystal Systems, Inc. System and method for crystal growing
KR100861412B1 (ko) * 2006-06-13 2008-10-07 조영상 다결정 실리콘 잉곳 제조장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103649380A (zh) * 2011-03-15 2014-03-19 Gtat公司 用于晶体生长装置的自动检视系统
CN103703169A (zh) * 2011-05-02 2014-04-02 Gtat公司 制造具有大粒径的多晶材料的装置及方法
TWI547603B (zh) * 2011-05-02 2016-09-01 Gtat公司 製造具有大粒徑之多晶材料的裝置及方法
TWI460318B (zh) * 2012-02-22 2014-11-11 Sharp Kk Method for heat treatment of solid-phase raw material and device and method for manufacturing ingot, processing material and solar cell

Also Published As

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WO2010005705A1 (en) 2010-01-14
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