TW200951789A - Touch panel device and method for detecting contact position - Google Patents

Description

200951789 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種觸控面板裝置（touch panel device) ’且特別是有關於一種具有少量的觸控感應器 (touch sensors)的觸控面板裝置，以及一種偵測觸控面板上 的接觸位置(contact position)的方法。 【先前技術】 銦錫氧化物(indium tin oxide，IT0)薄膜被廣泛使用作 為例如液晶顯示器（liquid crystal displays, LCD)之顯示裝 置的透明電極（薄膜）。銦錫氧化物(IT0)在例如液晶顯示器 (LCD)裝置、有機發光一極體（organic light emitting diodes)、太陽能電池（s〇lar ceus)、電槳顯示器（plasma displays)、電子紙(E-Papers)等等之數個領域已經被應用作 為裝置的電極材料’這是因為其高透明度及低片電阻(sheet resistance)適合作為透明的導電氧化物薄膜，並且容易繪製 圖案。它也已經被應用於降低陰極射線管(cath〇de ray tube， CRT)監視器的電磁干擾，以及用於姻錫氧化物(IT〇)墨水。 使用銦錫氧化物(ΙΤΟ)的觸控面板裝置在韓國專利申 請案第10-2007-0112750號中有說明。 圖1繪示習知之使用銦錫氧化物(ΙΤΟ)的觸控面板裝 置的結構。此觸控面板裝置包括銦錫氧化物(ΙΤ0)薄膜1〇 及觸控感應器單元20。銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜1〇具有成對 的棒狀觸控墊(rod-like touchpads)ll 及 12。 棒狀觸控墊11的一邊與棒狀觸控墊12的另一邊分別 200951789t 連接到觸減應器單元2G。每—觸控㈣根據隨物體的接 觸位置而變化之電阻來延遲一輸入時脈訊號（clock signal)CLK且輸出延遲時脈訊號（delayed clock signals)tsl—sigl及tsl一sig2。觸控感應器單元2〇從此對棒 狀觸控塾11及12接收各延遲時脈訊號tsl—邮及…—啦 且偵測該延遲時脈城tsl〜sigl及tsl」ig2 .的延遲時間以 獲得物體的接觸位置。

❿ 例如，若物體(例如，手指)_棒_㈣11及U 的接觸表面A ’則棒狀觸控塾u從時脈訊號clk到接觸 點A的距雜長’轉狀觸麵12從時脈城⑽到接 觸點A的距離脑。因此，就觸減絲單元2g與接觸 =之間的電阻而言’棒狀觸控塾u之電阻變成小於棒 12之阻而導致較長的延遲時間，而棒狀觸控墊 之電阻變成小於棒狀觸控墊u 遲時間。在這種情汧下，魅## A 守双牧姐的延 二感應器單元20將偵測此對棒 相對i 0、，的延遲時間，計算與所制之延遲時間 相對應之座標的平均值，以及_ γ軸接觸位置。 Η工發U及12的 數字將依序給與在銦錫氧化物(ΙΤ0)薄膜上 岭對應於接觸物體轉_控墊u及 的數子之座針以測定作為物體的X軸位置。 果，不作棒成的電容也可能導致延遲時間。結 不<_棒狀觸控墊u的電阻可 且物體的t容村。 驟職CLK，而 5 200951789 -----r.f 此外，連接棒狀觸控墊11及12與觸控感應器單元20 之導體可影響時脈訊號CLK的延遲時間。為了降低導體的 影響，從棒狀觸控墊11及12到觸控感應器單元2〇的延遲 時脈訊號tsl_sigl及tsl_sig2之導體長度最好相同。 圖2繪示使用圖1的觸控墊對之觸控感應器單元之例 子。觸控感應器單元20包括至少一觸控感應器。此觸控感 應器分別包括時脈訊號產生器(d〇ck signal generator)30、 第一訊號放大器（signal amplifier)31與第二訊號放大器 32、第一訊號比較器(啦的1(；01111)&加〇1>)41與第二訊號比較 器42、以及接觸位置資料產生器（c〇ntact州出〇11血说 generator；)51。 圖2的觸控感應器將參考圖1予以說明。 時脈訊號產生器30產生時脈訊號CLK且予以施加至 棒狀觸控墊對與第一訊號比較器41及第二訊號比較器42。 第一訊號放大器31接收在時脈訊號CLK通過棒狀觸 控墊11時獲得之第一延遲時脈訊號tsi_sigi，並且放大及 輸出第一延遲時脈訊號tsl_sigl。 第一訊號比較器41比較放大的第一延遲時脈訊號 tsl_sigi與時脈訊號Clk，並且產生對應於延遲時間之第 一訊號sigl。 第一訊號放大器32接收在時脈訊號CLK通過棒狀觸 控墊12時獲得之第二延遲時脈訊號tsi_sig2，並且放大及 輪出第二延遲時脈訊號tsl_sig2。 第二訊號比較器42比較放大的第二延遲時脈訊號 200951789 tsl_sig2與時脈訊號CLK，並且產生對應於延遲時間之第 二訊號sig2。 ❹ 蠡 一接觸位置資料產生器51接收第一及第二訊號sigl 及sig2，獲得對應於第一及第二訊號sigl及sig2之座標 值，=及平均所獲得的座標值以獲得γ轴座標值。該接觸 ，，資料產生器51也獲得在棒狀觸控墊對的依序給定數 字當中對應於接觸物體的棒狀觸控墊對的數字之座標作 ^軸座標值。該接觸位置資料產生器51輸出對應於所 侍t γ軸及X轴座標值之接觸位置資料TS_0UT。 當接觸物體的觸控墊對之一受到雜訊影響時，習知之 一面板裝置未輸出物體的精確接觸位置。並且，因為每 =的棒_控墊U及12具有隨物體的接觸位置而線性 1電阻，所以也對於雜訊高度敏感。 個觫：f析度觸控面板之觸控墊對數目增加導致需要多 縱!^應器’因㈣加觸控感剌單元的數目。此外， 批7=¾ L 了降低觸控感應器單S的數目的緣故而使用一個觸 ^接ί來依序檢查多個觸控塾對且獲得物體的接觸位 得觸位置偵測時間也將隨高解析度所加人的觸控 双S而增加。 【發明内容】 提供—種能夠只用―個具有職圖案(touch 置，此觞妖控感應器來感應物體的接觸之觸控面板裝 觸控圖案藉由連接線來串列連接多個觸控墊。 本發明也提供控面板裝置上的接觸位置 7 200951789 之方法。 本發明揭露一種觸控面板裝置，包括··觸控面板，包 括第一觸控圖案，第一觸控圖案具有串列連接的多個第一 觸控墊，以及觸控感應器，施加時脈訊號至第一觸控圖案 的一個端子，從第一觸控圖案的其他端子接收第一延遲時 脈訊號，以及_時脈訊號與第—輯時脈城之間的延 遲時間差來產生對應於物體的接觸位置之接觸位置資料。 觸控感應器可包括：時脈產生器卜化汰辟狀瓜切^’產 生時脈訊號且予以輸㈣第-觸朗㈣—個端子；延遲 訊號偵測器(delayed-signaldetector)，感應從第-觸控圖案 的其他端子輸出之第—延遲時脈訊號的準位且輸出第一脈 ^時脈訊號⑽以滅細亦比較器’計算時脈訊號與 第y脈衝時脈訊號之間的延遲時間差且輸出第一延遲時 間；以及接觸位置資料產生器，計算對應於第一延遲時間 之接觸位置且使接觸位置資料輸出。 、觸控感應器可包括：時脈產生器，產生時脈訊號且予 以交替地輸出到第一觸控圖案的一個端子與其他端子；延 f訊號偵測器，當延遲時脈訊號時感應從第一觸控圖案的 ^他端子輸出之第-延遲時脈訊號的準位，感應從第一觸 二圖案的一個端子輸出之第二延遲時脈訊號的準位，以及 3出第脈衝時脈訊號及第二脈衝時脈訊號·，比較器，計 時脈訊號與第-脈衝時脈訊號之間的延料間差且輸出 二以及計算時脈訊號與第二脈_脈訊號之 、k、、間差且輸出第二延遲時間；以及接觸位置資料 200951789 產生器，a十箅對應於第一延遲時間及第二延遲時間之接觸 • 位置且使接觸位置資料輸出。 &觸位置f料產生器可利用第一延遲時間與第二延 遲時間之間的差異來產生該接觸位置資料。 接觸位置資料產生器可利用第一延遲時間與第二延 * 遲時間之比例來產生該接觸位置資料。 接觸位置資料產生器可計算對應於第一延遲時間之 ❹ 第一接觸位置與對應於第二延遲時間之第二接觸位置，獲 得所計算之接觸位置之間的中央位置，以及由中央位置產 生一接觸位置資料。 觸控面板可包括第一銦錫氧化物(IT0)薄膜，其中第一 觸控圖案的多個第一觸控墊均勻地分佈於第一銦錫氧化物 (ΙΤΟ)薄膜的一整個表面上。 觸控面板可配置成第一觸控圖案的多個第一觸控墊 不會同時與物體接觸。 觸控面板可更包括至少第二觸控圖案。 ® 觸控面板可更包括至少第二觸控圖案，此至少第二觸 控圖案包括第一銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜的相同表面上之多 個第二觸控墊，其中每一個配置於第一觸控圖案的多個第 一觸控墊之間，並且包括串列連接多個第二觸控墊之多條 ' 第二連接線。 觸控面板可更包括至少第二觸控圖案，此至少第二觸 控圖案包括第一銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜的相同表面上之多 個第二觸控墊，其中每一個配置於第一觸控圖案的多個第 9 200951789 一觸控墊之間，並且包括串列連接多個第二觸控墊之多條 第二連接線。 ” 觸控面板可更包括至少第二觸控圖案，此至少第二觸 控圖案包括均勻地分佈於第一銦錫氧化物(IT〇)薄膜的整 個其他表面上之多個第二觸控墊，並且包括串列連接多個 第二觸控墊之多條第二連接線。 觸控面板可更包括至少第二銦錫氧化物(ΙΤ〇)薄膜，其 中至少第二觸控圖案包括均勻地分佈於至少第二銦錫氧化 物(ΙΤΟ)薄膜的一整個表面上之多個第二觸控墊，並且包括 串列連接多個第二觸控墊之多條第二連接線。 觸控面板可更包括至少第二銦錫氧化物(ΙΤ0)薄膜，其 中至^第二觸控圖案包括均勻地分佈於第二銦錫氧化物 (ΠΌ)薄膜的整個其他表面上之多個第二 串列連接多個第二觸控塾之多條第二連接線。 ^ 觸控面板可更包括絕緣構件’此絕緣構件絕緣第一觸 =圖案與第—觸控圖案以免在交叉點㈣pd⑽)彼此 =’並且此絕緣構件可配置於第一銦錫氧化物(IT〇)薄膜 的邊緣區域或第―銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜的外部。 本發明也揭露一種偵測觸控面板裝置上的接觸位置 牵A方法包括：配置第—觸控圖案，此第一觸控圖 笛、二串列連接的多個第一觸控墊；以及施加時脈訊號至 一控圖案的—個端子’從第—觸控圖案的其他端子接 延遲時脈訊號，以及利用時脈訊號與第一延遲時脈 δ ，之間的延遲時間差來產生對應於物體的接觸位置之接 200951789 觸位置資料。 . 配置第一觸控圖案之步驟可更包括配置多條第一連 接線以，串列連接多個第一觸控墊，多條第一連接線的形 成方式是在多個第一觸控墊之間利用導電材料來 - 於比多個第一觸控墊還窄的區域上。 案 • 產生上述接觸位置資料之步驟可包括：產生時脈訊號 且予以輸出到第-觸控圖案的一個端子；感應從第一觸控 ❹ 目案的其他端子輸出之第-延遲時脈訊號的準位，且輸^ 第一脈衝時脈訊號；計料脈訊號與第—脈衝時脈訊號之 間的延遲間差且輸出第一延遲時間；以及計算對應於 一延遲時間之接觸位置且使接觸位置資料輸出。 上述方法可更包括藉由觸控感應器··產生時脈訊號且 予以父替地輸出到第-觸控圖案的一個端子或其他端 當延遲時脈訊號時感應從第一觸控圖案的其他端子輪之 第一延遲時脈訊號的準位，感應從第一觸控圖案的 子輸出之第二延遲時脈訊號的準位，以及輸出第一脈』 ❿ 脈訊號及第二脈衝時脈訊號；計算時脈訊號與第一脱 脈訊號之間的延遲時間差以輸出第一延遲時間，$ 脈訊號與第二脈衝時脈訊號之間的延遲時間差°時 延遲時間；以及計算對應於第一延遲時間及第 t 之接觸位置且使接觸位置資料輸出。 延遲時間 树本發明之上料徵和優點能更卿聽 舉實施例’並配合所附圖式作詳細說明如下。 文特 f實施方式】 200951789 以下將參考繪示本發明的實施例之附圖更完整地說 明本發明。然而，本發明可能以許多不同的形式來實施， 因此不應視為侷限於在此所述之實施例。相反地，提供這 些實施例將使得本發明的揭露更完善，且將更完整地傳達 本發明的觀念給熟習此技藝者。 圖3繪示根據本發明的第一實施例之觸控面板裝置。 觸控面板裝置包括銦錫氧化物(ITO)薄膜120及觸控感應 器 100。 在圖3中，觸控圖案形成於銦錫氧化物(no)薄膜12〇 ❹ 的一整個表面上。觸控圖案包括多個觸控墊Pl_l至PI 及多條連接線CL1_1至CLl」n-l)，其中每一個具有預定 電阻。觸控墊P1J至Pl_(n)之每一個藉由連接線CL1_1 至CLl_(n-l)之相對應連接線來串列連接相鄰的觸控墊。 多條連接線CL1 j至CLl_(n-l)可由導體所構成。然而， 在此假設藉由銦錫氧化物(ITO)的圖案化來形成多條連接 線CL1_1至CLl_(n-l) ’類似於觸控墊ρι_ι至ρι—(η)。 在薄膜120上被繪製圖案之觸控墊pij至Ρ1_(η)及 ◎ 連接線CL1—1至CLl_(n-l)具有不同的大小以便使電阻不 同。如圖3所示，觸控墊P1_j至ρι_(η)的寬度較寬使物 體可輕易地接觸各觸控墊，因此其電阻小於較窄的連接線 CL1-1至CLl__(n-i)。因為多個觸控墊ρι」至pl_(n)的電 · 阻不同於多條連接線CUj至一的電阻，所以圖 3的觸控圖案可予以表示為隨物體的接觸位置而非線性地 變化之電阻。亦g卩，因為馳賴連接線具有不同的電阻 200951789 使得觸控圖案的電阻依接觸位置而报不相同，這導致债測 . 該物體的接觸位置之區域藉由多個觸控墊P1丨至pi (n) 及多條連接線CUJ至CUjiM)予以分割為預定的單位 區域。若使用預定的單位區域來偵測物體的接觸位置，則 ' 縱使在觸控圖案中產生雜訊也可輕易地偵測該物體所接觸 ' 料傾域，賴這種方式難—用高解析度㈣測物體 的接觸位置。物體的此種偵測與在精密度上不同於類比訊 ©號之數位訊號類似。 ° 例如，當具有預定電容的物體(例如手指)接觸圖3的 銦錫氧化物(ITO)薄膜120上的連接線cuj時，在這種 情況下電阻實質上等同於當物體接觸與連接線口^一〗相鄭 的觸控墊P1—2時，這是因為連接線CL1—J至CL1 具有大電阻而觸控墊Pi—丨至P1_(n)具有:、電阻。因為連 接線CL1_1至CLl_(n-l)具有小面積，所以接觸感應的電 容太小以致無法造成接觸式偵測。 觸控感應器1〇〇包括時脈輸出腳位（cl〇ck〇utput ❹ Pin)out及時脈輸入腳位(clock input Pin)in。時脈輪出腳位 out連接到在觸控圖案上串列連接的多個觸控墊pij至 PUn)之第一觸控墊PI—1，並且時脈輸入腳位in連&到最 後的觸控墊P1 一(η)。觸控感應器100產生時脈訊號(：1^且 . 經由時脈輸出腳位⑽予以輸出到第一觸控墊卩匕丨，以及 . 經由時脈輸入腳位出接收當時脈訊號通過多個觸控墊

Pl_l至Ρ1_(η)時所獲得之延遲時脈訊號D—CLK。觸控感 應器100利用經由時脈輪入腳位in接收的延遲時脈訊號 13 200951789 DCLK來計算接觸銦錫氧化物(IT〇)薄膜12〇之物體的位 置’並且輸出接觸位置資料TS_OUT。 圖4是解釋圖3的觸控感應器100的結構及偵測接觸 位置的方法之方塊圖。在圖4中’觸控感應器100包括時 脈訊號產生器110、延遲訊號偵測器130、比較器140以及 - 接觸位置資料產生器15〇。 圖4的觸控感應器的結構將參考圖3予以說明。 時脈訊號產生器110產生時脈訊號CLK且予以輸出 到時脈輪出腳位out。 ❹ 因為圖3的銦錫氧化物(IT0)薄膜12〇的觸控墊Ρ1_ι 如上所述連接到時脈輸出腳位out ’所以輸入到觸控墊 P1_J的時脈訊號CLK經由多個觸控墊ρι_ι至ρι_(η)而傳 送到時脈輸入腳位in。當時脈訊號CLK被輸入到觸控圖案 時’將因多個觸控墊Pl_l至Pl_(n)及多條連接線CL1J 至CLl_(n_i)的電阻與接觸了觸控，pij至ρι_⑻的物體 的電容而延遲及失真，由此產生延遲時脈訊號D_CLK。 延遲訊號偵測器130接收該延遲時脈訊號D_CLK， 〇 偵測該延遲時脈訊號D_CLK的準位，以及產生一脈衝時 脈訊號P__CLK。 比較器140比較該延遲訊號偵測器130之脈衝時脈訊 號P_CLK與時脈訊號產生器110之時脈訊號clk，並且 - 輪出與時脈訊號CLK有關之脈衝時脈訊號P_CLK的延遲 時間DT。 接觸位置資料產生器150從比較器140接收該延遲時 14 200951789 間DT’並且輸出對應於該延遲時間DT之座標作為物體的 接觸位置資料TS_OUT。 一種圖4的觸控感應器藉以偵測物體的接觸位置之方 法將參考圖3予以說明。 在此，假設串列連接的觸控墊Plj至Ρ1_(η)之觸控 墊Pl_2接觸到物體。 首先，時脈訊號產生器110產生時脈訊號CLK且經 由時脈輸出腳位out予以輸出到觸控圖案的觸控墊Ρΐ_ι， 並輸出到觸控感應器100之比較器140。 輸入到觸控圖案的時脈訊號CLK因多個觸控墊ρι_ι 至Ρ1_(η)及多條連接線CL1J至CLl_(n-l)的電阻與物體 的電容而轉換成延遲時脈訊號D—CLK’並且經由最後的觸 控墊Pl_(n)而輸出。 該延遲訊號偵測器130經由時脈輸入腳位in接收時脈 訊號CLK因多個觸控墊Pl_l至Pl_(n)而延遲及失真所獲 得的延遲時脈訊號D_CLK，感應該延遲時脈訊號D_CLK 的準位’以及輸出脈衝時脈訊號P_CLK。在此，延遲訊號 锁測器130可包括邏輯元件，例如偶數個反相器(inverters) 或緩衝器(buffers) ’或一個比較器。 比較器140比較該延遲訊號偵測器no之脈衝時脈訊 號P-CLK與時脈訊號產生器no之時脈訊號CLK以獲得 兩個訊號之間的延遲時間差，並且輸出一延遲時間DT。 接觸位置資料產生器150接著從比較器140接收該延 遲時間DT，獲得對應於該延遲時間dt之座標，以及輸出 200951789 此座標作為接觸位置資料TS OUT。 如上所述’利用根據本發明之偵測接觸位置之方 偵測物體的接觸位置，其方式為輸人時脈訊號CLK到崎 氧化物(ITO)薄膜120上的觸控圖案的一個端子，偵測受 觸控圖案之觸控墊P1—1至P1—⑻及多條連接、線CL1」至 CLl_(n-l)的電阻與物體的電容延遲之訊號的延遲—相 DT，以及獲得對應於延遲時間DT之座標。因此，能夠尸、 * 用一個配置於銦錫氧化物(IT〇)薄膜12〇的一整個表面^ 之觸控圖案及一個觸控感應器來感應物體的接觸位置。 ❹ 然而’在偵測-接觸位置之方法中，因為觸控感應器 100輸出時脈訊號CLK到觸控圖案的一個端子且從其他端 子接收延遲時脈訊號D_CLK，所以當產生雜訊時將無法偵 測物體的精確接觸位置。因為雜訊被測量以作為一種時序 抖動（timing jitter)，所以可藉由雜訊移除濾波器（n〇ise removal filter)或計算該接觸位置的精確偵測的平均值來予

以移除。例如，接觸位置資料產生器15〇可額外包括像是 用以移除雜訊之無限脈衝響應(jnfjnite lmpulse Resp〇nse， Q IIR)滤波器之類的數位濾、波器。另一方面，該接觸位置資 料產生器150可包括累積及儲存平均值之平均值儲存單 元，以便藉由將目前計算的接觸位置資料TS—〇UT加或減 所累積之平均值來移除雜訊。 . 圖5缘示根據本發明的第二實施例之觸控面板裝置。 在圖5中，形成於銦錫氧化物(IT〇)薄膜22〇上之觸控圖案 與圖3的觸控圖案相同。圖3的觸控感應器1〇〇包括時脈

I I200951789 輪出腳位out及時脈輸入腳位in，以便輸出時脈訊號CLK 到觸控圖案的一個端子且從其他端子接收延遲時脈訊號 D—CLK，而圖5的觸控感應器單元200則包括第一時脈輸 入/輸出腳位(clock input/output pin)outl/in2 及第二時脈 輸入/輸出腳位inl/out2，以便交替地輸出時脈訊號CLK 到觸控圖案的兩端子且從端子接收延遲時脈訊號D_CLK1 及D—CLK2。亦即’圖5的觸控感應器可交替地施加時脈 訊號CLK至相同的觸控圖案，且交替地接收第一及第二延 遲時脈訊號D—CLK1及D_CLK2。顯然可將第一時脈輸入 /輸出腳位outl/in2區分為第一輸入腳位與第一輸出腳位 (未緣示)且可將第二時脈輸入/輸出腳位inl/〇ut2區分為 第二輪入腳位與第二輸出腳位(未繪示)來輸出或接收第一 及第二延遲時脈訊號D_CLK1及D_CLK2，以便代替使用 第一時脈輸入/輸出腳位outl/in2及第二時脈輸入/輸出 腳位inl/〇ut2來輸入/輸出時脈訊號CLK。雖然連接線 CL1—1至CLl_(n-l)與觸控墊pi_i至ρι_(η)分開，但是顯 然能以一種例如單桿之連續結構來形成連接線及觸控墊。 圖6是解釋圖5的觸控感應器的結構及一種偵測接觸 位置的方法之方塊圖。在圖6中，觸控感應器包括時脈訊 號產生器210、延遲訊號偵測器230、比較器240以及接觸 位置資料產生器250，類似於圖3的觸控感應器。首先， 圖6的觸控感應器的結構將參考圖5予以說明。 時脈訊號產生器210產生時脈訊號CLK且經由時脈 輸入/輸出腳位〇utl/in2及inl/out2予以交替地輸出到觸 17 200951789t 控圖案的第一觸控墊Pl_l或最後的觸控墊Pl_(n)，並輸 出到觸控感應器單元200的比較器240。延遲訊號偵測器 230經由時脈輸入/輸出腳位outl/in2而從第一觸控墊 P1JL接收第二延遲時脈訊號〇_0^^2,或經由時脈輸入/ 輸出腳位inl/out2而從最後的觸控墊PIJn)接收第一延遲 時脈訊號D_CLK1。 延遲訊號偵測器230經由觸控圖案接收第一延遲時脈 訊號D—CLK1及第二延遲時脈訊號D_CLK2，感應第一延 遲時脈訊號D_CLK1及第二延遲時脈訊號D_CLK2的準 位，以及產生及輸出第一脈衝時脈訊號？_〇^1及第二脈 衝時脈訊號P_CLK2。 比較器240比較該延遲訊號偵測器230之第一脈衝時 脈訊號P—CLK1及第二脈衝時脈訊號P_CLK2與時脈訊號 產生器210之時脈訊號CLK，測量與時脈訊號CLK有關 的第一脈衝時脈訊號P_CLK1及第二脈衝時脈訊號 P—CLK2的延遲時間，以及輸出第一延遲時間DT1及第二 延遲時間DT2。 接觸位置資料產生器250從比較器240接收第一延遲 時間DT1及第二延遲時間DT2且輸出對應於第一延遲時 間DT1及第二延遲時間DT2之座標以作為物體的接觸位 置資料TSJ3UT。 一種圖6的觸控感應器藉以偵測物體的接觸位置之方 法將參考圖5予以說明。 假設串列連接的觸控墊P1—1至Pl-(n)之一個觸控塾 200951789.

Pl_2接觸到物體。 . 首先，時脈訊號產生器210產生時脈訊號CLK且經 由第一時脈輸入/輸出腳位outl/in2予以輸出到觸控圖案 的第一觸控墊Pl_l，並輸出到比較器240。 - 輸入到觸控圖案的時脈訊號CLK因多個觸控墊Pl_l 至Pl_(n)及多條連接線CL1_1至CLl_(n-l)的電阻與接觸 到觸控墊Pl_2的物體的電容而延遲及失真，並且第一延 遲時脈訊號D_CLK1經由最後的觸控墊Pl_(n)而輸出。 ® 延遲訊號偵測器230感應第一延遲時脈訊號0_0^1 的準位且輸出第一脈衝時脈訊號p_CLia。 比較器240比較該延遲訊號偵測器230之第一脈衝時 脈訊號P_CLK1與時脈訊號產生器210之時脈訊號CLK， 測量與時脈訊號CLK有關的第一脈衝時脈訊號P_CLK1 的延遲時間，以及輸出第一延遲時間DT1。 接觸位置資料產生器250從比較器240接收第一延遲 時間DT1且予以儲存。 ❹ 時脈訊號產生器210接著經由第二時脈輸入/輸出腳 位inl/〇ut2輸出所產生的時脈訊號CLK到觸控圖案的最後 觸控墊Pl_(n)，並輸出到比較器240。 輸入到觸控圖案的時脈訊號CLK因多個觸控墊ρι_ι 至pl一⑻及多條連接線CL1_1至CLl_(n-l)的電阻與接觸 . 了觸控墊P1J2的物體的電容而延遲及失真，並且第二延 遲時脈訊號D_CLK2經由第一觸控墊Pl_l而輸出。 延遲訊號偵測器230感應第二延遲時脈訊號D__CLK2 200951789 的準位且輸出第二脈衝時脈訊號P_CLK2。 比較器240比較該延遲訊號偵測器230之第二脈衝時 脈訊號P_CLK2與時脈訊號產生器210之時脈訊號CLK， 測量與時脈訊號CLK有關的第二脈衝時脈訊號p_CLK2 的延遲時間’以及輸出第二延遲時間DT2。 接觸位置資料產生器250從比較器240接收延遲時間 DT2，比較首先儲存的延遲時間DT1與其後輸入的延遲時 間DT2以獲得相對應的座標，以及輸出此座標來作為接觸 位置資料TS_OUT。在此，接觸位置資料產生器250可計 算對應於第一延遲時間DT1及第二延遲時間DT2之座標 且使用兩個座標的平均來獲得該接觸位置資料TS_0UT。 並且，接觸位置資料產生器250計算第一延遲時間DT1與 第二延遲時間DT2之間的差異以直接獲得該接觸位置資 料 TS一OUT。 如上所述，圖6的觸控感應器交替地輸出時脈訊號 CLK到銦錫氧化物(IT〇)薄膜22〇上的觸控圖案的兩端 子，並且偵測因多個觸控墊Pij至PlJn)及多條連接線 CL1_1至CL1一(n-1)的電阻與接觸各觸控墊pij至？1 (n) 的物體的電容而延遲之時脈訊號CLK的延遲時間兩次二因 為使用兩個延遲時間DT1及DT2來獲得座標，所以縱使 銦錫氧化物(ITO)薄膜220與顯示器面板之間有雜訊或偏 移(offset)電容也可獲得物體的精確接觸位置。 圖7繪示根據本發明的第三實施例之觸控面板裝置。 圖7的觸控感應器單元200與圖5的觸控感應器單元 20 200951789. ft“圖5的觸控圖案包括串列連接的多個觸控墊 π ^、一⑻及串列連接的多條連接線CL1_1至 …接線。亦即，在圖7的觸控圖案PP1中，多 墊直接串列連接且均勻地配置於銦錫氧化物(ιτο) 、、21的個表面上。雖然本發明已經針對多個觸控墊 I以說明’但是配置於銦踢氧化物(IT〇)薄膜221上的觸控 構成-根棒。只包括觸控墊*無連接線之觸控圖案的形 狀並未侷限於圖7所示之觸控圖案沖卜換言之，能以各 種形狀來實施觸控圖案的形狀。 圖8是根據利用圖6的觸控感應器所獲得之物體的接 觸位置來繪示延遲時間的曲線圖。 現在將參考圖5來說明圖8的曲線。 ❹ 在圖8的曲線中’X軸上的物體的接觸位置(亦即觸控 點)是指在形成於銦錫氧化物(ΙΤ〇)薄膜22〇上的觸控圖案 中串列連接的八個觸控墊1至8〇當物體接觸八個觸控塾j 至8之每一個時，交替地施加於觸控圖案的兩端子之時脈 訊號CLK的延遲時間將表示於γ轴上。因此，對於X軸 上的八個接觸位置1至8之每一個將獲得兩個延遲時間。 為了參考起見，X轴上的接觸位置NT表示無接觸。 在圖8中’將繪示當施加時脈訊號CLK於觸控圖案 的觸控墊1至8之第一觸控墊1且物體依序接觸各觸控塾 1至8時所測量的延遲時間之曲線301，當施加時脈訊號 200951789 « CLK於觸控圖案的觸控墊丨至8之最後的觸控墊8且物體 依序接觸各觸控墊1至8時所測量的延遲時間之曲線 302,以及利用電腦模擬程式以如同兩條曲線3〇1及3〇2 的設定來繪製之曲線311及312。曲線311是對應於曲線 301之模擬而曲線312則是對應於曲線302之模擬。測量 值(301及302)與模擬值(311及312)之間的差異主要是由外 部雜訊及偏移電容所引起。 現在將參考圖8來說明一種圖6的接觸位置資料產生 器藉以偵測物體的接觸位置之方法。 ❹ 在此’如圖6所示因為本發明的觸控感應器單元2〇〇 交替地輸出時脈訊號CLK到配置於觸控圖案的兩端子之 觸控墊1與觸控墊8，所以將經由觸控墊1至8來摘測兩 個延遲時間DT1及DT2且予以使用。 首先’一種利用兩個偵測的延遲時間之間的差異來偵 測接觸位置之方法將更詳細地予以說明。 例如，當物體接觸各觸控墊1至8之一時，第一延遲 時間DT1被測量為26·5奈秒(ns)且第二延遲時間dT2被測 〇 量為24.8奈秒(ns)，則觸控感應器單元2〇〇可計算第一延 遲時間DT1與第二延遲時間DT2之間的差異且獲得對應 於所計算的延遲時間差1.7奈秒(ns)之觸控墊的位置。在圖 8的曲線中’物髅接觸第二觸控墊2。觸控感應器單元2〇〇 接著利用對應於觸控墊1至8之已設定的物體的接觸位置 資料TS_OUT來輪出對應於第二觸控墊2之物體的接觸位 置資料TS一OUT。因此，因為對應於延遲時間之物體的接 22 200951789 觸位置資料TS_OUT已狀，所以該觸控感應器翠元· 可直接輸㈣應麟計算的賴_ h7奈秒(ns) 的接觸位置資料TS_OUT。 ❹

在此，第一延遲時間DT1與第二延遲時間DT2之 的差異在觸控圖案的中央觸控墊變成〇,並且在位於中^ 觸控墊兩邊的觸控墊上其正負號相反。在圖8的曲、 觸控塾⑴州她物嶋 與大約3奈秒(ns)之間的值。 使用延遲時間差可降低雜訊的影響，這是因為自動 除延遲時間的偏移。 其次，一種利用兩個偵測的延遲時間之比例來偵測接 觸位置之方法將予以說明。 例如，當物體接觸串列連接的觸控墊1至8時，第一 延遲時間DT1被測量為27奈秒(ns)且第二延遲時間DT2 被測量為24奈秒(ns)，則該觸控感應器單元2〇〇將計算第 一延遲時間DT1與第二延遲時間DT2之比例，如運算式i 所示。 運算式1 DT1/DT2 X 100 所計算的延遲時間是112.5。可獲得對應於Π2.5之觸 控墊的位置。在圖8的曲線中，物體被買入而接觸第一觸 200951789 .t 控墊l。在這種情況下，觸控感應器100可設定對應於所 計算的延遲時間比之物體的接觸位置資料TS_0UT，且直 接輪出對應於所計算的延遲時間比112.5之物體的接觸位 置資料TS_OUT。觸控感應器1〇〇接著利用對應於觸控墊 1至8之已設定的物體的接觸位置資料TS_〇UT來輸出對 應於第一觸控墊1之物體的接觸位置資料Ts_〇UT。 在此，第一延遲時間與第二延遲時間之比例在觸控墊 1至8的中央觸控墊變成1(在運算式〗中是1〇〇)，並且第 一觸控墊1至第八觸控墊8的延遲時間比依序遞減。在圖 〇 8的曲線中，所計算的觸控墊之延遲時間比(rati〇)變成介於 大約113與大約89之間的值。 使用延遲時間比來增加所計算的延遲時間值，因而可 更精確地獲得物體的接觸位置TS_〇UT。 在本發明的觸控圖案中，多個觸控墊的大小與多條連 接線的大小不同，以便利用預定的單位區域來偵測接觸位 置。因此，縱使如上所述使用延遲時間差或延遲時間比也 可精確地感應到接觸位置。雖然使用第一延遲時間與第二 ❹ 延遲時間之差異及比例(ratio)作為簡化的例子，但是自然 可使用差異與比例的組合或其他的數學方法(例如^ ^ 於對數運算）。 —个卩 圖9及圖10繪示根據本發明的另一實施例之配置於 銦錫氧化物(IT0)薄膜上的觸控圖案。 在圖3或圖5所示之銦錫氧化物(IT0)薄膜12〇或銦 氧化物(ΙΤΟ)薄膜220上的觸控圖案中，觸控墊之間的間隔 24

X 200951789 較窄可增加觸控面板的解析度，然而物體接觸多個觸控墊 Plj至Pl_(n)之兩個或更多個可能導致錯誤的接觸位置 資料TS一OUT。因此，多個觸控塾pi—i至pi-(n)最好具有 足夠的間隔以便物體不會同時接觸兩個或更多個觸控塾。 具有一個觸控圖案之圖3或圖5所示之銦錫氧化物(no) 薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220無法增加觸控面板的 解析度。 ❹ 圖9繪示並列配置於一個銦錫氧化物(ITO)薄膜120 或銦錫氧化物(ITO)薄膜220的相同表面上之兩個圖案P1 及P2。 因為並列配置第一觸控圖案P1與第二觸控圖案P2 ’ 所以第一觸控圖案P1及第二觸控圖案P2的多個觸控墊具 有足夠的間隔來避免物體同時接觸第一觸控圖案P1的多 個觸控墊Pl_l至Pl_(n)或第二觸控圖案P2的多個觸控墊 P2—1至P2_(n)。當並列配置兩個觸控圖案P1及P2時，第 一觸控圖案P1的連接線CL1__1至^1」11·1)與第二觸控圖 案P2的連接線CL2_1至CL2J)!-1)將彼此絕緣以便兩條連 接線的交叉點BP不會短路。炎且’第一觸控圖案與第 二觸控圖案P2之間的最小化間隔可增加觸控面板的解析 度。雖然只有兩個觸控圖案P1及P2繪示於圖9，但是顯 然可包括更多個觸控圖案。 因此’在圖9中，可避免物體同時接觸相同觸控圖案 的多個觸控墊，且可利用多個觸控圖案來獲得高解析度。 在此，CL1_1 至 CLl_(n-l)與 CL2_1 至 CL2_(n-l)的交 25 200951789 叉點BP可在銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO) 薄膜220之内絕緣。然而，顯然可配置連接線cl且在銦 錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫氧化物(ITO)薄膜220之外 部予以絕緣。縱使連接線CL在銦錫氧化物(ITO)薄膜120 或銦錫氧化物(ITO)薄膜220之内部被絕緣，此絕緣不應該 影響顯示器。一般而言，銦錫氧化物(ITO)薄膜120或銦錫 氧化物(ITO)薄膜220大於顯示裝置的視訊顯示器區域。因 此，在銦錫氧化物(ITO)薄膜120及銦錫氧化物(ITO)薄膜 220之外部的絕緣不影響顯示器。 ❹ 在圖10中’兩個觸控圖案逐一配置於銦錫氧化物(IT〇) 薄膜120或銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜22〇的兩表面上。在觸控 感應器當中，藉由偵測電容變化來偵測物體的接觸之電容 感應型觸控感應器在結構上類似於電容感應型趨近感應器 (proximity Sensor)。亦即，藉由將電容感應型觸控感應器的 感應度設定為高準位，則可使用電容感應型觸控感應器作 為趨近感應器。因此，雖然物體並未直接接觸該觸控感應 器，但是電容感應型觸控感應器可偵測物體的接觸。在圖 ❹ 10中，第一觸控圖案P1與第三觸控圖案P3配置於銦錫氧 化物(ιτο)薄膜12〇或銦錫氧化物(IT0)薄膜22〇的不同表 面上。亦即，第一觸控圖案P1配置於銦錫氧化物(ΙΤ〇)薄 膜120或銦錫氧化物(ΙΤ〇)薄膜22〇的上表面上，而第三觸 控圖案Ρ3則配置於銦錫氧化物(ΙΤ〇)薄膜12〇或銦錫氧化 物(ΙΤΟ)薄膜220的下表面上。如上所述當兩個觸控圖案 Ρ1及Ρ3配置於銦錫氧化物(ΙΤ〇)薄膜的不同表面上時，不 26 200951789 存在圖9的交又點BP且不需要絕緣。同樣地顯然多個 • 姻錫氧化物(IT0)薄膜之每-個可包括-觸控圖案。對於 非常南解析度的觸控面板而言，可同時應用圖9及圖1〇 的結構。亦即，可配置多個觸控圖案且用於至少一個銦錫 氧化物(ΙΤΟ)薄膜的一個或兩個表面上。 圖11及圖12是解釋根據本發明之觸控面板裝置的插 補(interpolation)的示意圖。 ❿一般而言，觸控面板附著在顯示視訊訊號於螢幕上之 顯示器的外部螢幕’或形成於顯示器的外部玻璃板上。然 而’因為觸控面板的解析度不同於顯示器的解析度，所以 觸控面板的接觸位置需要對應到(轉換成)顯示器螢幕的相 對應位置。在這種情況下’將使用插補以將觸控面板的位 置對應到顯示器螢幕的位置以便更平順地表示接觸位置變 化0 圖11繪示時域(time domain)之插補。 假設物體依序接觸串列連接的觸控墊P1的第三觸控 © 墊Pl_3、第九觸控墊Pl_9以及第二十三觸控墊Pl_23。 對應於個別的觸控墊Pl_3、Pl_9以及P1J23的位置之位 置將依序且不連續地顯示於顯示器螢幕上。最後，將只顯 示對應於第二十三觸控墊Pl_23之位置。 另一方面，根據包含觸控面板的裝置的用途可能存在 - 連續而非不連續地表示接觸位置之情況。例如’若是電腦 的指標(pointer)，則必須連續顯示一接觸位置的位移路 徑。在這種情況下，將依照時間來分割顯示器螢幕(而非銦 27 200951789 錫氧化物(ITO)薄膜120)上的多個觸控墊之間的位置， 第二觸控墊Pl_3與第九觸控墊Ρ1—9之間的位置以及第九 觸控墊Ρ1一9與第二十三觸控墊pl—23之間的位置，以產 生顯示器螢幕上的個別觸控墊之間的位置且予以輪出以作 為插補訊號。亦即，當物體接觸該觸控墊ρι_3且接 觸該觸控墊Pl_9時，指標在指示觸控墊ρι—3的位置之後 將不直示驗墊Ρ1_9雜置，岐指示—種依照時

間而從觸控墊Ρ1一3的位置到觸控墊ρι_9的位置之循序位 移。 圖12繪示空間域(spatial domain)之插補。 备並列配置第一觸控圖案pL1及第三觸控圖案朽之 銦錫氧化物(ιτο)薄膜120或銦錫氧化物(IT〇)薄膜22〇上 的第-觸控圖案Ρ1的第三觸控塾Pl—3及第二觸控圖案朽 的第三觸控墊Ρ3_3同時與物體接觸時，將輸出利用第一 觸控圖案Ρ1所計算的接觸位置朗㈣三觸控圖案朽所 計算的接觸位置之間的中央位置以作為物體的接觸位置資 料TS一OUT。雖然本發明已經針對圖1〇所示之觸控圖案予 以說明，但是顯然即使是圖9所示之觸控圖案也可執行空 間域之插補。

此外，上述之插補使用插補訊號輸出單元(未繪示)從 圖3或圖5的觸控感應器接收物體的接觸位置資料 TS一OUT且予以插補及輸出以便輪出插補訊號。 雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定 本發月*何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離 28 200951789 本發明之精神和範圍内’當可作些許之更動與潤飾，故本 發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 綜上所述，在根據本發明之觸控面板裝置及偵測接觸 位置之方法中，因為串列連接多個觸控墊以形成觸控圖 案，所以能夠只用一個觸控感應器來感應整個觸控面板的 接觸位置。並且，觸控墊的面積大於連接線的面積以便觸 控墊與連接線之間存在顯著的電阻差異，因而縱使有雜訊 φ 也可輕易地感應物體的接觸位置。此外，觸控感應器交替 地輸入時脈訊號到串列連接的觸控墊的兩端子，並且利用 輸出訊號的延遲時間來計算物體的接觸位置，藉以最小化 雜訊的影響。此外，使用多個觸控圖案可增加觸控面板的 解析度。 【圖式簡單說明】 圖1是習知之一種使用銦錫氧化物(ΙΤ〇)的觸控面板 裝置的結構的示意圖。 圖2是一種使用圖1的觸控墊對的觸控感應器單元之 例子的示意圖。 f3是依照本發明之第一實施例之一種觸控面板裝置 的示意圖。 圖4是用以解釋圖3之觸控感應器之結構及偵測接觸 位置之方法的方塊圖。 =讀照本㈣之第二實關之—種觸控面 的不意圖。 圖6是用以解釋圖5之觸控感應器之結構及痛測接觸 29 200951789 位置之方法的方塊圖。 圖7是依照本發明之第三實施例之一種觸控面板裝置 的不意圖。 圖8是根據利用圖6的觸控感應器所獲得之物體的接 觸位置來繪示延遲時間的曲線圖。 圖9及圖1〇是依照本發明之另一實施例之一種配置 於銦錫氧化物(ITO)薄膜上的觸控圖案的示意圖。 圖11及圖12是用以解釋依照本發明之觸控面板裝置 的插補的示意圖。 【主要元件符號說明】 10、 120、220、221 :銦錫氧化物(IT⑺薄膜 11、 12 :棒狀觸控墊 20、100、200 :觸控感應器單元 30、110、210 :時脈訊號產生器 31 :第一訊號放大器 32 ·第二訊號放大器 41 :第一訊號比較器 42 :第二訊號比較器 51、150、250 ·接觸位置資料產生器 130、230:延遲訊號偵測器 140、240:比較器 301、302、311、312:曲線 A :接觸點 BP :交叉點 200951789 CL1J、CL1_2、CLl_(n-l)、CL2J、CL3_1 :連接線 . CLK :時脈訊號 DT :延遲時間 DT1:第一延遲時間 DT2:第二延遲時間 . D_CLK :延遲時脈訊號 D_CLK1、tsl_sigl :第一延遲時脈訊號 D CLK2、tsl sig2 :第二延遲時脈訊號 in :時脈輸入腳位 inl/out2 :第二時脈輸入/輸出腳位 NT :接觸位置 out :時脈輸出腳位 outl/in2:第一時脈輸入/輸出腳位 P1 :第一觸控圖案 PI J、P1—2、Pl_3、P1—6、Pl_9、P1—23、Pl_(n-1)、 Pl_(n)、P2—1、P2_(n)、P3—1、P3_3、P3_(n):觸控墊 © P2 :第二觸控圖案 P3 :第三觸控圖案 PP1 :觸控圖案 P_CLK :脈衝時脈訊號 P_CLK1 :第一脈衝時脈訊號 P_CLK2 :第二脈衝時脈訊號 sigl :第一訊號 sig2 :第二訊號 31 200951789 TS_OUT :接觸位置資料 X : X軸 Y : Y轴

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Claims (1)

1. 200951789‘ 七、申請專利範圍： 1.一種觸控面板裝置，包括·· 觸控面板，包括第一觸控圖案，所述第一觸控圖案具 有串列連接的多個第一觸控墊；以及 觸控感應器，施加時脈訊號至所述第一觸控圖案的一 個端子，從所述第一觸控圖案的其他端子接收第一延遲時 脈訊號，以及利用所述時脈訊號與所述第一延遲時脈訊號

   之間的延遲時間差來產生對應於物體的接觸位置之接觸位 置資料。 2.如申請專利範圍第丨項所述之觸控面板 所述觸控感應器包括： It 時脈產生器，產生所述時脈訊號且予 一觸控圖案的一個端子； 攻第 訊 號 延遲訊號债測器，由所述第一觸控圖案的其他 感應所述第—延遲時脈訊號的準位且輪出第—脈衝^而 比較器，計算所述時脈訊號與所述第 之間的延遲時間差且輸出第—延遲時間第衝時脈訊說 接觸位置㈣產生_，計算制 之接觸位置且輸出所述接觸位置資料。 延遲時間 3. 如申請專利範圍第2項所述之 所述接觸位置資料產生器更包括雜訊移除器’其中 而錯誤地計算所述接觸位置資料。 °避免因雜訊 4. 如申請專利範圍第3項所述之觸控面板裝置，其中 33 200951789 所述雜訊移除器包括數位濾波器。 5. 如申凊專利犯圍第3項所述之觸控面板裝置，其中 所述雜訊移除聽括用以儲存所述接觸位置資料的累積平 均值且利麟述累積平均值來移雜訊之平均值儲存器。 6. 如申請專利範圍第丨項所述之觸控面板裝置，其中 所述觸控感應雜加所述時脈峨輯述第-觸控圖案的 其他端子，從所述第-觸控圖案的—個端子接收第二延遲

   時脈訊號，以及细所料觀賴所述第-延遲時脈訊 號及所述第二延遲時脈訊號之每―個之間的延遲時間差來 產生對應於所述物體的所述接觸位置之所述位置資 料。 7·如申請專職圍第6項所述之馳 所述觸控錢Μ括： 路十、”器/生所述時脈訊號且予以交替地輸出到 所述第一觸控圖案的一個端子與其他端子； 延遲訊號偵測器，當延遲所述時脈 ❹ ====子輪出之所述第1遲== :延一觸控圖案的一個端子輸出之所述 第-延遲雜喊的準位，以及輸出第— 第二脈衝時脈訊號； 可吟脈訊流及 比較器，計算所述時脈訊號與所述第 之間的延遲時㈣且輸出第—延遲時間，=== 脈訊號與所述第二脈鱗脈城之間的=所^ 第二延遲時間；以及 ㈣間差且輸出 34 200951789 接觸位置資料產生器，計算對應於所述第一延遲時間 . 及所述第二延遲時間之接觸位置且輸出所述接觸位置資 料。 8·如申請專利範圍第7項所述之觸控面板襞置，其中 所述接觸位置資料產生器利用所述第一延遲時間與所述第 二延遲時間之間的差異來產生所述接觸位置資料。 9. 如申請專利範圍第7項所述之觸控面板裝置，其中 φ 所述接觸位置資料產生器利用所述第一延遲時間與所述第 二延遲時間之比例來產生所述接觸位置資料。 10. 如申請專利範圍第7項所述之觸控面板裝置，其中 所述接觸位置資料產生器計算對應於所述第一延遲時間之 第一接觸位置且計算對應於所述第二延遲時間之第二接觸 位置，獲得所計算之所述接觸位置的中央位置，以及產生 對應於所述中央位置之接觸位置資料。 11. 如申請專利範圍第i項所述之觸控面板裝置，其中 所述觸控面板包括第一銦錫氧化物(IT0)薄膜，其中所述第 © —觸控圖案❹個所述第-馳塾均勻地分佈於所述第一 銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜的一整個表面上。 12. 如申請專利範圍第1〇項所述之觸控面板裝置，其 中所述第-觸控圖案更包括配置在多個所述第_觸控墊之 . 間用以串列連接多個所述第一觸控墊之多條第一連接德， 所述第-連接線的形成方式是利用導電材料來繪製圖案於 比多個所述第一觸控墊之每一個還窄的區域上。 13. 如申請專利範圍第12項所述之觸控面板裝置，其 35 200951789 中將所述觸控面板配置成所述第一觸控圖案的多個所述第 一觸控墊不會同時與物體接觸。 14. 如申請專利㈣第13項所述之觸控面板裝置，纟 中所述觸控面板更包括至少一第二觸控圖案。 15. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板裝置其 中所述至少-第二觸控圖案包括所述第一銦錫氧化物(ιτ〇) 薄膜的相同表面上之多個第二觸控塾，其中每一個第二觸 控墊配置於所述第-觸控圖案的多個所述第一觸控墊之 間’並且所述至少-第二觸控圖案包括串列連接多個所述 G 第二觸控墊之多條第二連接線。 16·如申明專利範圍第15項所述之觸控面板裝置，其 中所述觸控面板更包括絕緣所述第—觸控圖案麟述第二 觸控圖案以免在交叉點彼此短路之絕緣構件，並且所述絕 緣構件配置於所述第-銦錫氧化物(ΙΤ〇)薄膜的邊緣區域 或所述第一銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜的外部。 Π.如申請專利範圍第14項所述之觸控面板裝置，其 中所述至少第二觸控圖案包括均勻地分佈於所述第—賴 ❹ 氧化物(ΙΤΟ)薄膜的整個其他表面上之多個第二觸控墊，且 包括串列連接多個所述第二觸控墊之多條第二連接I 線。 18·如申請專利範圍第17項所述之觸控面板裝置，其 中所述觸控面板更包括絕緣所述第一觸控圖案與所述第^ 觸控圖案以免在交叉點彼此短路之絕緣構件’並且所述絕 緣構件配置於所述第一銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜的邊緣區域 或所述第一銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜的外部。 36 200951789 30995pif 19.如申請專利範圍第】4項所述之觸控面板裝置，1 • 中所述觸控面板更包括至少第二錮錫氧化物_)薄膜，並 赠述至少第二觸控_包括均勻地分佈於所述至少第二 銦錫氧化物(ITO)薄臈的—整個纟面上之多㈣第二觸控 . 塾，且包括串列連接多個所述第二觸控墊之多條第二連^ . 線。 20. 如申請專利範圍第19項所述之觸控面板裝置，其 參 中所述觸控面板更包括絕緣所述第一觸控圖案與所述第二 觸控圖案以免在交叉點彼此短路之絕緣構件，並且所述絕 緣構件配置於所述第一銦錫氧化物(IT〇)薄膜及所述第二 銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜的邊緣區域或所述第一銦錫氧化物 (ΙΤΟ)薄膜及所述第二銦錫氧化物(ΙΤ0)薄膜的外部。 21. 如申請專利範圍第丨4項所述之觸控面板裝置，其 中所述觸控面板更包括至少第二銦錫氧化物(ΙΤ〇)薄膜，並 且所述至少第二觸控圖案包括均勻地分佈於所述第二銦錫 ^ 氧化物(ΙΤ〇)薄膜的整個其他表面上之多個第二觸控墊，且 包括串列連接多個所述第二觸控墊之多條第二連接線。 22. 如申請專利範圍第21項所述之觸控面板裝置，其 - 中所述觸控面板更包括絕緣所述第一觸控圖案與所述第二 觸控圖案以免在交叉點彼此短路之絕緣構件，並且所述絕 緣構件配置於所述第一銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜及所述第二 銦錫氧化物(ΙΤΟ)薄膜的邊緣區域或所述第一銦錫氧化物 (ΙΤΟ)薄膜及所述第二銦錫氧化物(ΓΓΟ)薄膜的外部。 23. 如申請專利範圍第14項所述之任一種觸控面板裝 37 200951789 30995pif 置，其中所述觸控感應器包括： -觸：生所述時脈訊號且予以輪出到所述第 觸控圖术及所述条二觸控圖案的一個端子. 延遲訊號偵測器，感應從所述第一觸控圖 二觸控圖案的其他端子輸出之所述第一延遲時 位且輸出第一脈衝時脈訊號； 《儿、 比較器’計算所述時脈訊號與所述第一 ❹ 之每-個之間的延遲時間差且輸出多個第_延遲日 及 接觸位置資料產生器，計算對應於多個 時間之接觸位置且輪出所述接觸位置資料/第乂遲 24.如申請專利範圍第23項所述之觸控 中所述接觸位置資料產生器更包括雜訊衮置-訊而錯誤料算所述朗位置龍。’、W避免因雜 25·如申請專利範圍第24項所述之觸 中所述雜訊移除器包括數位濾波器。 表置- 26.如申請專利範圍第24項所述之觸控面板 平^雜訊移除器包括用來儲存所述接觸位置資^的累積 器。-且利用所述累積平均值來移除雜訊之平均值儲存 ^士如申請專利範圍第14項所述之任一種觸 置’其中所述觸控感應器包括： 板裝 時脈產生器’產生所述時脈訊號且予 所述第-觸控圖案及所述第二觸控圖案的 38 200951789 端子； __延遲訊號偵測器，感應從所述第-觸控圖案及所述第 -觸控圖_其他端子輸出之多個崎第一延遲時_號 的準位，且感應從所述第-驗圖案及所述第二觸控圖案 的個端子輸出之多個所述第二延遲時脈訊號的準位，以 及輸f多個第=衝時脈訊號及第二脈衝時脈訊號；

   •比較器，计异所述時脈訊號與多個所述第一脈衝時脈 ^號之每i之間的延遲時間差且輸出多個第一延遲時 F —以及s十算所述時脈訊號與多個所述第二脈衝時脈訊號 ^母-個之間的延遲時間差且輸出多個第二延遲時間；以 ’ &十算對應於多個所述第一延遲 之接觸位置且輸出所述接觸位置 接觸位置資料產生器 時間及所述第二延遲時間 資料。 中所4專利範^第27項所述之觸控面板裝置， 每-個與St置資料產生器利用多個所述[延遲時間 遲時間之每: = = 遲時間之多個所述第二 個間的差異來輸出所述接觸位置資料。 中^接H專Γ範圍第27項所述之觸控面板裝置， 對應於多個所述利用多個所述第-延遲時間 比例來輪出二多個所述第二延遲時間 中若叶彳域第27項所述之觸控面板裝置， 中右打對應於多個第—延遲時間及第二延遲時間之多 200951789 接觸位置，則所述接觸位置資料 觸位置之間的中央位置且輪將計算多個所述接 接觸位置資料。 所述中央位置之所述 後接觸的所物錄之接觸資f在輸㈣應於隨 置之接觸位置資料。後接觸的所述觸控塾之間的位 方法Γ括—控峰裝置上的_位置之綠，所述 配置第一觸控圖案，所 ^ 的多個第-觸控塾；I及所述第—觸控圖案具有串列連接 述第號至所述第—觸㈣案的—侧子，從所 利用#&二的其他端子接收第一延遲時脈訊號，以及 間差炎基號與所述第-延遲時脈訊號之間的延遲時 1·，於物體的接觸位置之接觸位置資料。 v沾妓=請專利範圍第32項所述之侧觸控面板裝置 . 置之方法，其中配置所述第一觸控圖案之步驟 觸 二，=多條第—連接線以便串列連接多個所述第一觸 夕所述第—連接線的形成方式是在多個所述第一 電材料來彻案於比多個所述第一 200951789 L 34·如申請專利範圍第33項所述之偵測觸控面板裝置 接觸位置之方法，其中產生所述接觸位置資料之步雜 包括： 產生所述時脈訊號且予以輸出到所述第一觸控圖案 的一個端子； e ❹ 感應從所述第—觸控圖案的其他端子輸出之所述第 脈訊號的準位，且輸出第—脈衝時脈訊號； 算所述時脈訊號與所述第一脈衝時脈訊號之間的 」間差且輪出第一延遲時間；以及 算對應於所述第一延遲時間之接觸位置且輸出所 述接觸位置資料。 上的如申清專利範圍第34項所述之债測觸控面板裝置 巧觸位置之方法，其中輸出所述接觸位置資料之步驟 更包括移除雜訊。 卜沾申請專利範圍第32項所述之偵測觸控面板裝置 、位置之方法，更包括藉由所述觸控感應器： 生所述時脈訊號且予以交替地輸出到所述第一觸 控圖^-個蠕子或其他端子； 其他遲所述時脈訊號時感應從所述第一觸控圖案的 筮一越t輪出之第一延遲時脈訊號的準位，且感應從所述 圖案的一個端子輸出之第二延遲時脈訊號的準 位^及輪出第-及第二脈衝時脈訊號； 所述時脈訊號與所述第一脈衝時脈訊號之間的 ，曰差以輪出第一延遲時間，且計算所述時脈訊號與 41 200951789 .t j第一脈衝時脈訊號之間的延遲時間差以輸出第二延遲 時間；以及 °十算對應於所述第一延遲時間及所述第二延遲時間 之接觸位置i輪出所述接觸位置資料。 37. 如申請專利範圍第36項所k之偵測觸控面板裝置 上的接觸也置之方法，其中輸出所述接觸位置資料之步驟 包括利用所述第—延遲時間與所述第二延遲時間之間'的差 異或比例來產生所述接觸位置資料。 38. 如申請專利範圍第％項所述之偵測觸控面板裝置 上的接觸位置之方法，其中輸出所述接觸位置資料之步驟 包括计算對應於所述第—延遲時間之接職置與對應於所 述第二延遲_之_位置，以及獲得所計算之所述接觸 位置之間的中央位置以便產生所述接觸位置資料。 〇 42